-
Die
vorliegende Erfindung betrifft eine IC-Messvorrichtung zum Testen eines IC
(insbesondere eines IC mit einem Datenstrobesignal).
-
DE 10101899 A1 beschreibt
eine Vorrichtung zum Testen von Halbleiterbauelementen, bei der
die Logikwerte des Referenztaktsignals und die Logikwerte der Datensignale
mittels Mehrfach-Strobe-Impulsen eines Mehrphasengenerators, die
innerhalb eines Taktzyklus zueinander versetzt sind, von Signalausleseschaltungen
abgetastet werden. Die von den Signalausleseschaltungen ausgelesenen
Signale werden Vergleichs/Ermittlungsteilen zugeführt, deren
Daten schließlich über Phasenvergleichsteilen an
Gut/Schlech-Ermittlungsanordnungen
anliegen.
-
Die
US 6016565 A beschreibt
eine Vorrichtung zum Testen von Halbleitern mit einem Mehrphasen-Strobe-Impulsgenerator
und einer Strobe-Steuerungseinrichtung, die in einem Modus innerhalb
eines Taktzyklus zeitlich versetzte Pulse erzeugen. Darüber hinaus
weist diese Vorrichtung Vergleichsschaltkreise, mit denen das Ausgangssignal
einer zu testenden Schaltung bezüglich
der Strobe-Signale abgetastet wird, auf. Fehlersignale werden von
den Vergleichsschaltkreisen über
einen Fehlerwahlschalter zu Fehlerspeichern ausgegeben und an der
jeweiligen Adresse abgespeichert.
-
5 ist ein Blockdiagramm,
welches den Aufbau einer IC-Messvorrichtung darstellt. 6 ist ein Impulsdiagramm,
welches die Wirkungsweise der IC-Messvorrichtung
darstellt. Zuerst liefert eine IC-Messvorrichtung (A1) ein Taktsignal
(CK1) an ein IC (B1), welches zu messen ist. So wird das IC (B1), welches
zu messen ist, in Synchronität
mit einem Testzyklus (TC1) mit einer dem Taktsignal (CK1) entsprechenden
Periode betrieben.
-
Die
Ausgangszeitgabe, zu welcher ein Datenstrobesignal (DCK1) von dem
zu messenden IC (B1) ausgegeben wird, wird einer Flankensuchschaltung
(E11) in einem logischen Komparator (CMP11) über einen Spannungskomparator
(V11) in der IC-Messvorrichtung
(A1) zugeführt.
Die Flankensuchschaltung (E11) speichert das Datenstrobesignal (DCK1)
zu der Zeitgabe eines Beurteilungsstrobeimpulses (S11), welches
von einem Zeitgabegenerator (TG11) ausgegeben wird, zwischen. Die
Zeitgabe der Flanke des Beurteilungsstrobeimpulses (S11), ausgegeben
von dem Zeitgabegenerator (TG11), wird in jedem Testzyklus (TC1)
innerhalb eines Bereichs zwischen einem Zeitpunkt T21 und einem
Zeitpunkt T22 n-mal geändert.
Das heißt,
es ist eine Zeit entsprechend n Zyklen des Testzyklus (TC1) erforderlich
zum n-maligen Ändern der
Zeitgabe.
-
Der
logische Komparator (CMP11) speichert den Zustand des Datenstrobesignals
(DCK1) zu einer Zeitgabe der Flanke des Beurteilungsstrobeimpulses
(S11) zwischen und vergleicht den Zustand des Datenstrobesignals
(DCK1) mit einem erwarteten Wert (K11). Das heißt, der Zustand des Datenstrobesignals
(DCK1) wird zwischengespeichert und mit dem erwarteten Wert (K11)
verglichen, während die
Zeitgabe der Flanke des Beurteilungsstrobeimpulses (S11) n-mal geändert wird.
So wird die Zeitgabe, zu welcher die Flanke des Datenstrobesignals (DCK1)
ausgegeben wird, erfasst, das heißt, es wird ein Intervall zwischen
einem Zeitpunkt T11, zu welchem die vordere Flanke des Taktimpulses
(CK1) ausgegeben wird, und einem Zeitpunkt, zu welchem die Flanke
des Datenstrobesignals (DCK1) ausgegeben wird, erfasst. In ähnlicher
Weise wird, während die
Zeitgabe der Flanke eines Beurteilungsstrobesignals (S12) geändert wird,
die Zeitgabe, zu welcher die Flanke von Daten (D11) ausgegeben wird,
erfasst, das heißt,
es wird ein Intervall zwischen dem Zeitpunkt T11, zu welchem die
vordere Flanke des Taktsignals (CK1) ausgegeben wird, und einem
Zeitpunkt, zu welchem die Flanke der Daten (D11) ausgegeben wird,
erfasst. Anschließend
wird eine Differenz zwischen den beiden Intervallen erhalten, und es
wird ein PASSIEREN/SCHEITERN des gemessenen IC (B1) beurteilt.
-
Bei
der oben beschriebenen Wirkungsweise der IC-Messvorrichtung muß der Vorgang
eines Zwischenspeicherns eines Zustands des Datenstrobesignals (DCK1)
zu der Zeitgabe der Flanke des Beurteilungsstrobesignals (S11) und
eines Vergleichens des Zustands des Datenstrobesignals (DCK1) mit dem
erwarteten Wert (K11) n-mal wiederholt werden, um die Zeitgabe zu
erfassen, zu welcher die Flanke des Datenstrobesignals (DCK1) ausgegeben
wird.
-
In ähnlicher
Weise muß der
Vorgang eines Zwischenspeicherns des Zustands der Daten (D11) zu
der Zeitgabe der Flanke des Beurteilungsstrobeimpulses (S12) und
eines Vergleichens des Zustands der Daten (D11) mit einem erwarteten Wert (K12)
n-mal wiederholt werden, um die Zeitgabe zu erfassen, zu welcher
die Flanke der Daten (D11) ausgegeben wird.
-
Ferner
muß, wenn
Daten von dem IC (B1), welches zu messen ist, nicht nur die Daten.
(D11), sondern eine Vielzahl von Daten, beispielsweise Daten (D11),
Daten (D12), ..., enthalten, der oben erwähnte Vergleichsvorgang in Übereinstimmung
mit der Anzahl von Daten n-mal wiederholt werden, um die jeweiligen
Zeitgaben der Daten zu erfassen. Das heißt, wenn die Anzahl der Daten
gleich k ist, so muß der
oben erwähnte
Vorgang eines Speicherns und Vergleichens kXn-mal wiederholt werden.
-
Das
heißt,
bei der oben erwähnten
K-Messvorrichtung existiert das Problem, dass die Messung der Zeitgabe,
zu welcher das zu messende IC (B1) zu messende Daten (Datenstrobesignal
bzw. Daten), ausgibt, viel Zeit erfordert.
-
Außerdem kann
bei der K-Messvorrichtung, wenn das Datenstrobesignal (DCK1) bzw.
die Daten (D11) sich in jedem Testzyklus (TC11) ändern, eine Schlussfolgerung
nur dann gezogen werden, wenn das Datenstrobesignal (DCK1) bzw.
die Daten (D11) die langsamsten sind, und eine Schlussfolgerung kann
nicht für
jeden Testzyklus gezogen werden.
-
Ausgehend
daran liegt der vorliegenden Erfindung die Aufgabe zugrunde, eine
IC-Messvorrichtung
anzugeben, die schneller die Zeitgabe misst, zu welcher ein zu messendes
IC zu messende Daten ausgibt.
-
Diese
Aufgabe wird durch den Gegenstand des Patentanspruchs 1 gelöst. Eine
bevorzugte Ausgestaltung der Erfindung ist Gegenstand der Unteransprüche.
-
1 ist
ein Blockdiagramm, welches den Aufau einer IC-Messvorrichtung (A2)
gemäß einem Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung darstellt.
-
2 ist
eine Tabelle, welche die Beziehung zwischen einem Eingang und einem
Ausgang bei einer Beurteilungssteuerschaltung (J22) darstellt.
-
3 ist
ein Impulsdiagramm, welches die Wirkungsweise der IC-Messvorrichtung
(A2) gemäß dem Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung darstellt.
-
4 ist
eine Tabelle, welche die Beurteilungsergebnisse der Zeitgaben von
Daten (D21 und D22) mit Bezug auf ein Datenstrobesignal (DCK2) in Perioden
A und B, dargestellt in 3, darstellt.
-
5 ist
ein Blockdiagramm, welches den Aufbau einer IC-Messvorrichtung darstellt.
-
6 ist
ein Impulsdiagramm, welches die Wirkungsweise der IC-Messvorrichtung
von 5 darstellt.
-
1 ist
ein Blockdiagramm, welches den Aufbau einer IC-Messvorrichtung (A2)
gemäß einem Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung darstellt. Wenn die IC-Messvorrichtung
(A2) ein Taktsignals (CK2) an ein IC (B2), welches zu messen ist, sendet,
so gibt das IC (B2), welches zu messen ist, ein Datenstrobesignal
(DCK2), Daten (D21), Daten (D22), ..., und Daten (Dx) aus. Das Datenstrobesignal
(DCK2), die Daten (D21), die Daten (D22), ..., und die Daten (Dx),
ausgegeben von dem IC (B2), welches zu messen ist, werden wieder
der IC-Messvorrichtung
(A2) zugeführt.
-
Das
Datenstrobesignal (DCK2), ausgegeben von dem zu messenden IC (B2),
wird einer Flankensuchschaltung (E21) in einem logischen Komparator (CMP21) über einen
Spannungskomparator (V21) der IC-Messvorrichtung (A2) zugeführt. Zwei
Systeme von Beurteilungsstrobeimpulsen (S21), ausgegeben von einem
Zeitgabegenerator (TG21) werden ebenfalls der Flankensuchschaltung
(E21) zugeführt. Das
heißt,
die Beurteilungsstrobeimpulse (S21) sind gebildet aus zwei Systemen
eines Beurteilungsstrobeimpulses (S21-1) und eines Beurteilungsstrobimpulses
(S21-2). Ferner gibt die Flankensuchschaltung (E21) ein Zwei-Bit-Flankenbeurteilungsergebnis (R21)
aus. Das heißt,
das Flankenbeurteilungsergebnis (R21) ist gebildet aus einem Flankenbeurteilungsergebnis
(R21-1) und einem Flankenbeurteilungsergebnis (R21-2).
-
Die
Daten (D21), ausgegeben von dem zu messenden IC (B2) werden einer
Flankensuchschaltung (E22) in einem logischen Komparator (CMP22) über einen
Spannungskomparator (V22) in der IC-Messvorrichtung (A2) zugeführt. Zwei
Systeme von Beurteilungsstrobeimpulsen (S22), ausgegeben von einem
Zeitgabegenerator (TG22), werden ebenfalls der Flankensuchschaltung
(E22) zugeführt.
Das heißt,
die Beurteilungsstrobeimpulse (S22) sind gebildet aus zwei Systemen
eines Beurteilungsstrobeimpulses (S22-1) und eines Beurteilungsstrobeimpulses
(S22-2). Ferner gibt die Flankensuchschaltung (E22) ein Zwei-Bit-Flankenbeurteilungsergebnis (R22)
aus. Das heißt,
das Flankenbeurteilungsergebnis (R22) ist gebildet aus einem Flankenbeurteilungsergebnis
(R22-1) und einem Flankenbeurteilungsergebnis (R22-2).
-
Das
Flankenbeurteilungsergebnis (R22) wird einer Beurteilungssteuerschaltung
(J22) zugeführt. Das
Flankenbeurteilungsergebnis (R21) wird ebenfalls der Beurteilungssteuerschaltung
(J22) zugeführt.
Ferner gibt die Beurteilungssteuerschaltung (J22) eine PASSIEREN/SCHEITERN-Beurteilung (P22)
aus. Die ausgegebene PASSIEREN/SCHEITERN-Beurteilung wird einer CPU (C2) zugeführt.
-
Die
Daten (D22), ausgegeben von dem zu messenden IC (B2) werden einer
Flankensuchschaltung (E23) in einem logischen Komparator (CMP23) über einen
Spannungskomparator (V23) in der IC-Messvorrichtung (A2) zugeführt. Zwei
Systeme von Beurteilungsstrobeimpulsen (S23), ausgegeben von einem
Zeitgabegenerator (TG23), werden ebenfalls der Flankensuchschaltung
(E23) zugeführt.
Das heißt,
die Beurteilungsstrobeimpulse (S23) sind gebildet aus zwei Systemen
eines Beurteilungsstrobeimpulses (S23-1) und eines Beurteilungsstrobeimpulses
(S23-2). Ferner gibt die Flankensuchschaltung (E23) ein Zwei-Bit-Flankenbeurteilungsergebnis (R23)
aus. Das heißt,
das Flankenbeurteilungsergebnis (R23) ist gebildet aus einem Flankenbeurteilungsergebnis
(R23-1) und einem Flankenbeurteilungsergebnis (R23-2).
-
Das
Flankenbeurteilungsergebnis (R23) wird einer Beurteilungssteuerschaltung
(J23) zugeführt. Das
Flankenbeurteilungsergebnis (R21) wird ferner der Beurteilungssteuerschaltung
(J23) zugeführt. Ferner
gibt die Beuerteilungssteuerschaltung (J23) eine PASSIEREN/SCHEITERN-Beurteilung (P23) aus.
Die ausgegebene PASSIEREN/SCHEITERN-Beuerteilung (P23) wird einer CPU (C2)
zugeführt.
-
Die
gleichen Regeln werden auf die Daten (D23, D24, ..., Dx), ausgegeben
von dem zu messenden IC (B2), angewandt.
-
2 ist
eine Tabelle, welche die Beziehung zwischen einem Eingang und einem
Ausgang der Beurteilungssteuerschaltung (J22) darstellt. Ferner werden
die gleichen Regeln auf die Beziehungen zwischen Eingang und Ausgang
der Beurteilungssteuerschaltungen (J23, J24, ..., Jx) angewandt.
-
Die
Beurteilungssteuerschaltung (J22) empfängt die Flankenbeurteilungsergebnisse
(R21-1 und R21-2) des Datenstrobesignals (DCK2) und die Flankenbeurteilungsergebnisse
(R22-1 und R22-2) der Daten D21 und gibt die PASSIEREN/SCHEITERN-Beurteilung
(P22) aus. Beispielsweise ist, wenn das Flankenbeurteilungsergebnis
(R21-1) HIGH ist, das Flankenbeurteilungsergebnis (R21-2) LOW ist,
das Flankenbeurteilungsergebnis (R22-2) HIGH ist, die PASSIEREN/SCHEITERN-Beurteilung (P22)
SCHEITERN (HIGH).
-
3 ist
ein Impulsdiagramm, welches die Wirkungsweise der IC-Messvorrichtung
(A2) des vorliegenden Ausführungsbeispiels
darstellt. Wenn die IC-Messvorrichtung (A2) ein Taktsignal (CK2)
an das zu messende IC (B2) sendet, so gibt das zu messende IC (B2)
ein Datenstrobesignal (DCK2), Daten (D21), Daten (D22), ..., und
Daten (Dx) aus. Das Datenstrobesignal (DCK2), die Daten (D21), die
Daten (D22), ..., und die Daten (Dx), ausgegeben von dem zu messenden
IC (B2), werden wieder der IC-Messvorrichtung (A2) zugeführt. Die
Zeitgaben, zu welchen die vorderen Flanken des Datenstrobesignals (DCK2),
der Daten (D21), der Daten (D22), ..., und der Daten (Dx) ausgegeben
werden, ändern
sich innerhalb des Testzyklus (TC2).
-
Zuerst
wird der Vorgang eines Messens der Zeitgabe des Datenstrobesignals
(DCK2) beschrieben. Das Datenstrobesignal (DCK2), ausgeben von dem
zu messenden IC (B2), wird von der Flankensuchschaltung (E21) des
logischen Komparators (CMP21) über
dem Spannungskomparator (V21) in der IC-Messvorrichtung (A2) abgerufen.
-
Die
Zeitgaben der vorderen Flanken der Beurteilungsstrobeimpulse (S21-1
und S21-2), welche die beiden Systeme von Beurteilungsstrobeimpulsen (S21)
bilden, die von dem Zeitgabegenerator (TG21) an die Flankensuchschaltung
(E21) geliefert werden, sind auf Zeitpunkte T41 bzw. T42 innerhalb
des Testzyklus (TC2) in einer Periode A festgelegt. Die Zeitdifferenz
zwischen den Zeitpunkten T41 und T42 ist innerhalb eines zulässigen Bereichs
(Standard) der Zeitgabe der vorderen Flanke des Datenstrobesignals
(DCK2) festgelegt.
-
Ferner
sind die Zeitgaben der vorderen Flanken der Beurteilungsstrobeimpulse
(S21-1 und S21-2) in jedem Testzyklus (TC2) leicht gegeneinander
verschoben, während
die vordere Flanke des Datenstrobesignals (DCK2) zwischen den vorderen Flanken
des Paars der Beurteilungsstrobeimpulse (S21-1 und S21-2) eingeschlossen
ist. Die in 3 dargestellte Periode A liefert
einen Zustand, in welchem die vordere Flanke des Datenstrobesignals (DCK2)
zwischen den vorderen Flanken des Paars der Beurteilungsstrobeimpulse
(S21-1 und S21-2) eingeschlossen ist. Hingegen liefert eine Periode
B einen Zustand, in welchem die vordere Flanke des Datenstrobesignals
(DCK2) nicht eingeschlossen wurde.
-
Ein
spezifischer Vorgang eines derartigen Einschließens wird nachfolgend beschrieben.
Die Flankensuchschaltung (E21) empfängt eine Datenstrobesignal
(DCK2), welches ein Messgegenstand ist, und ein Paar von Beurteilungsstrobeimpulsen (S21-1
und S21-2). Ferner wird, wenn die vordere Flanke des Beurteilungsstrobeimpulses
(S21-1) erfasst wird, der Umkehrpegel des Datenstrobesignals (DCK2)
mit dem Beurteilungsstrobeimpuls (S21-1) abgetastet und als ein
Flankenbeurteilungsergebnis (R21-1) ausgegeben. Hingegen wird, wenn
die vordere Flanke des Beurteilungsstrobeimpulses (S21-2) erfasst
wird, der Umkehrpegel des Datenstrobesignals (DCK2) mit dem Beurteilungsstrobeimpuls (S21-2)
abgetastet und als ein Flankenbeurteilungsergebnis (R21-2) ausgegeben.
-
Beispielsweise
nimmt, da der Zustand des Datenstrobesignals (DCK2) einen LOW-Pegel
an der vorderen Flanke des Beurteilungsstrobeimpulses (S21-1) zu
einem Zeitpunkt T41 aufweist, das Flankenbeurteilungsergebnis (R21-1)
einen HIGH-Pegel an.
-
Ferner
nimmt, da der Zustand des Datenstrobesignals (DCK2) einen HIGH-Pegel
an der vorderen Flanke des Beurteilungsstrobeimpulses (S21-2) zu einem
Zeitpunkt (T42) aufweist, das Flankenbeurteilungsergebnis (R21-2)
einen LOW-Pegel
an.
-
Die
Flankensuchschaltung (E21) führt
den oben erwähnten
Vorgang aus, während
eine Verschiebung der Zeitgaben für die vorderen Flanken des
Paars von Beurteilungsstrobeimpulsen (S21-1 und S21-2) ohne Ändern der Zeitdifferenz zwischen den
vorderen Flanken der Beurteilungsstrobeimpulse (S21-1 und S21-2) erfolgt. Die Flankensuchschaltung (E21)
sucht eine Zeitgabe, zu welcher das Flankenbeurteilungsergebnis
(R21-1) einen HIGH-Pegel
annimmt und das Flankenbeurteilungsergebnis (R21-2) einen LOW-Pegel
annimmt.
-
Genauer
wird, wenn der logische Komparator (CMP21) die Flankenbeurteilungsergebnisse (R21-1
und R21-2) erfasst und die Flankenbeurteilungsergebnisse (R21-1
und R21-2) einen HIGH-Pegel
bzw. einen LOW-Pegel annehmen, die PASSIEREN/SCHEITERN-Beurteilung (P21),
welche der CPU (C2) zuzuführen
ist, auf PASSIEREN (LOW-Pegel) gesetzt. Ferner wird in anderen Fällen die
PASSIEREN/SCHEITERN-Beurteilung (P21) auf SCHEITERN (HIGH-Pegel) gesetzt.
-
Die
Wirkungsweise der Flankensuchschaltung (E22), welche die Daten (D21)
empfängt,
ist ähnlich
der Wirkungsweise der Flankensuchschaltung (E21). Jedoch ist eine
vorbestimmte Beziehung in Abhängigkeit
von den Standards des zu messenden IC (B2) zwischen der Zeitgabe
der Beurteilungsstrobeimpulse (S21), welche der Flankensuchschaltung
(E21) zugeführt
werden, und der Zeitgabe der Beurteilungsstrobeimpulse (S22), welche
der Flankensuchschaltung (E22) zugeführt werden, festgelegt.
-
Die
Flankenbeurteilungsergebnisse (R22-1 und R22-2), ausgegeben von
der Flankensuchschaltung (E22), werden der Beurteilungssteuerschaltung (J22)
zugeführt.
Die oben erwähnten
Flankenbeurteilungsergebnisse (R21-1 und R21-2) werden ebenfalls
der Beurteilungssteuerschaltung (J22) zugeführt. Auf der Grundlage dieser
vier Eingangssignale beurteilt die Beurteilungssteuerschaltung (J22),
ob die Zeitgabe der vorderen Flanke der Daten (D21) mit Bezug auf
die vordere Flanke des Datenstrobesignals (DCK2) innerhalb eines
zulässigen
Bereichs (Standard) liegt oder nicht. Ferner gibt die Beurteilungssteuerschaltung
(J22) eine PASSIEREN/SCHEITERN-Beurteilung
(P22) an die CPU (C2) aus. 2 zeigt
die Beziehung zwischen Eingang und Ausgang der Beurteilungssteuerschaltung (J22).
-
Wie
in 2 dargestellt, nimmt die PASSIEREN/SCHEITERN-Beurteilung (P22)
PASSIEREN (LOW-Pegel) an, wenn das Flankenbeurteilungsergebnis (R21-1)
einen HIGH-Pegel aufweist, das Flankenbeurteilungsergebnis (R21-2)
einen LOW-Pegel aufweist, das Flankenbeurteilungsergebnis (R22-1)
einen HIGH-Pegel
aufweist, und das Flankenbeurteilungsergebnis (R22-2) einen LOW-Pegel
aufweist.
-
In
dem Fall, in welchem beide Flankenbeurteilungsergebnisse (R21-1
und R21-2) einen HIGH-Pegel
aufweisen, bzw. in dem Fall, in welchem beide Flankenbeurteilungsergebnisse
(R21-1 und R21-2) einen LOW-Pegel aufweisen, nimmt die PASSIEREN/SCHEITERN-Beurteilung
(P22) PASSIEREN (LOW-Pegel) an, obwohl der Zustand auftritt, in welchem
das Datenstrobesignal (DCK2) nicht eingeschlossen wurde. Jedoch
nimmt in diesen beiden Fällen
die oben erwähnte
PASSIEREN/SCHEITERN-Beurteilung (P22) SCHEITERN (HIGH-Pegel) an.
Dementsprechend kann die CPU (C2) den Zustand erkennen, in welchem
das Datenstrobesignal (DCK2) nicht eingeschlossen wurde.
-
In
jedem beliebigen anderen Fall, welcher von den oben erwähnten drei
Fällen
verschieden ist, nimmt die PASSIEREN/SCHEITERN-Beurteilung (P22)
SCHEITERN (HIGH-Pegel) an. Das heißt, es sei angenommen, dass
der Fall, in welchem das Flankenbeurteilungsergebnis (R21-1) einen HIGH-Pegel
aufweist, das Flankenbeurteilungsergebnis (R21-2) einen LOW-Pegel
aufweist, das Flankenbeurteilungsergebnis (R22-1) einen HIGH-Pegel aufweist, und
das Flankenbeurteilungsergebnis (R22-2) einen LOW-Pegel aufweist,
ein erster Fall ist; der Fall, bei welchem beide Flankenbeurteilungsergebnisse
(R21-1 und R21-2) einen HIGH-Pegel aufweisen, ein zweiter Fall ist;
und der Fall, in welchem beide Flankenbeurteilungsergebnisse (R21-1
und R21-2) einen
LOW-Pegel aufweisen, ein dritter Fall ist. Dann nimmt in jedem beliebigen
Fall, welcher von dem ersten, zweiten und dritten Fall verschieden
ist, die PASSIEREN/SCHEITERN-Beurteilung
(P22) SCHEITERN (HIGH-Pegel) an.
-
Ferner
sind die Wirkungsweisen der Flankensuchschaltungen (E23, E24, ...,
Ex) und die Beurteilungssteuerschaltungen (J23, J24, ..., Jx) den
Wirkungsweisen der Flankensuchschaltung (E22) und der Beurteilungssteuerschaltung
(J22) ähnlich.
-
4 ist
eine Tabelle, welche die Beurteilungsergebnisse der Zeitgaben der
Daten (D21 und D22) mit Bezug auf das Datenstrobesignal (DCK2), das
heißt,
die PASSIEREN/SCHEITERN-Beurteilungen
(P22 und P23), in den Perioden A und B, dargestellt in 3,
darstellt.
-
Beispielsweise
nimmt, was die Daten (D21) in der Periode A anbelangt, die PASSIEREN/SCHEITERN-Beurteilung
(P22) PASSIEREN (LOW-Pegel) an, da das Flankenbeurteilungsergebnis
(R21-1) des Datenstrobesignals (DCK2) einen HIGH-Pegel aufweist,
das Flankenbeurteilungsergebnis (R21-2) des Datenstrobesignals (DCK2)
einen LOW-Pegel aufweist, das Flankenbeurteilungsergebnis (R22-1)
der Daten (D21) einen HIGH-Pegel
aufweist, und das Flankenbeurteilungsergebnis (R22-2) der Daten (D21)
einen LOW-Pegel aufweist.
-
Ferner
nimmt, was die Daten (D22) in der Periode A anbelangt, die PASSIEREN/SCHEITERN-Beurteilung
(P23) SCHEITERN (HIGH-Pegel) an, da das Flankenbeurteilungsergebnis
(R21-1) des Datenstrobesignals (DCK2) einen HIGH-Pegel aufweist,
das Flankenbeurteilungsergebnis (R21-2) des Datenstrobesignals (DCK2)
einen LOW-Pegel aufweist, das Flankenbeurteilungsergebnis (R23-1)
der Daten (D22) einen HIGH-Pegel
aufweist, und das Flankenbeurteilungsergebnis (R23-2) der Daten (D22)
einen HIGH-Pegel aufweist.
-
Gemäß der oben
erwähnten
Wirkungsweise erfolgt eine Beurteilung innerhalb eines Testzyklus dahingehend,
ob die Zeitgaben der Daten (D21, D22, , ..., Dx) mit Bezug auf das
Datenstrobesignal (DCK2) innerhalb eines zulässigen Bereichs (Standard)
liegen oder nicht.
-
Ferner
können
auch Zeitgaben, welche nicht in Bezug zu dem Datenstrobesignal (DCK2)
stehen, jedoch in Bezug zu dem Beurteilungsstrobeimpuls (S21-1 oder ähnlichem)
stehen, beurteilt werden. Beispielsweise können auch Zeitgaben, welche
in Bezug zu dem Zeitpunkt T41 der vorderen Flanke des Beurteilungsstrobeimpulses
(S21-1) stehen, beurteilt werden.
-
Außerdem können, wenn
die Zeitgaben der Beurteilungsstrobeimpulse (S22, S23, ..., Sx)
relativ zueinander derart festgelegt werden, dass sie eine vorbestimmte
Beziehung in Abhängigkeit
von den Standards des zu messenden IC (B2) aufweisen, die Zeitgaben
der Daten (D21, D22, ..., Dx) gleichzeitig beurteilt werden.
-
Erfindungsgemäß können, wenn
die Zeitgabe der zu messenden Daten (Datenstrobesignal bzw. Daten),
welche von einem zu messenden IC (insbesondere einem IC mit dem
Datenstrobesignal) ausgegeben werden, gemessen wird, die Zustände der gemessenen
Daten an zwei Zeitpunkten in einem Testzyklus innerhalb einer Periode
entsprechend einem Testzyklus erfasst werden. Daher kann die Zeitgabe
der gemessenen Daten mit hoher Geschwindigkeit gemessen werden,
so dass die Messzeit erheblich verkürzt werden kann.