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Die
vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Jittermessvorrichtung
und ein Jittermessverfahren zum Messen von Jitter in einem Messsignal
und eine Prüfvorrichtung
zum Prüfen
einer geprüften
Vorrichtung.
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Herkömmlich war
als ein Verfahren zum Messen von Jitter in einem Messsignal ein
Verfahren zum Vergleichen der Phase des Messsignals mit der Phase
des beispielsweise um eine Periode verzögerten Messsignals bekannt
(T. Yamaguchi, "A
Real-Time Jitter Measurement Board for High Performance Computer
and Communication System",
ITC2004). Periodenjitter in dem Messsignal kann gemessen werden
durch Verzögern
des Messsignals um eine Periode und durch Vergleichen der Phasen
von benachbarten ansteigenden Flanken in dem Messsignal.
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Gemäß diesem
Verfahren werden das Messsignal und das verzögerte Messsignal zu einem Phasenkomparator
geführt,
um ein Spannungssignal gemäß einem
Wert des Periodenjitters in jedem Zyklus auszugeben. Zeitjitter
in dem Messsignal kann auch in Echtzeit gemessen werden durch Integrieren
des von dem Phasenkomparator ausgegebenen Spannungssignals unter
Verwendung eines Integrators oder dergleichen.
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Jedoch
hat das herkömmliche
Jittermessverfahren erfordert, das gemessene Signal genau zu verzögern. Beispielsweise
ist es erforderlich, das Messsignal bei der Messung des Periodenjitters
in dem Messsignal genau um eine Periode zu verzögern. Wenn jedoch ein Fehler
in der Verzögerungszeit
besteht, wird der von dem Phasenkomparator erfasste Wert des Periodenjitters
ein Wert, bei dem das tatsächliche
Periodenjitter zu dem Verzögerungsfehler
als eine Versetzung addiert wird. Weiterhin wird der gemessene Fehler
durch den Integrator akkumuliert und das von dem Integrator ausgegebene
Zeitjitter wird früher
oder später
gesättigt.
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Demgemäß hat das
herkömmliche
Jittermessverfahren eine Verzögerungsschaltung
benötigt,
die eine genaue Verzögerungszeit
erzeugt. Jedoch war es schwierig, eine genaue Verzögerungsschaltung
herzustellen, und es war schwierig, Jitter in dem Messsignal durch
das herkömmliche
Jittermessverfahren genau zu messen, da der Verzögerungsfehler den Jittermessfehler
beeinflusst.
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Weiterhin
wird bei dem herkömmlichen
Jittermessverfahren die Phase des Messsignals auch mit der Phase
des verzögerten
Signals verglichen. Daher bestand die Möglichkeit, wenn die Jitteramplitude in
dem Messsig nal größer als
eine Periode des Messsignals ist, dass Phasen von nicht entsprechenden
Flanken verglichen werden, und daher konnte das Jitter nicht genau
gemessen werden.
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Es
war auch nicht möglich,
mit dem herkömmlichen
Jittermessverfahren das Zeitjitter in einem Signal genau zu messen,
in welchem logische Werte wie in einem Datensignal zufällig erscheinen. Beispielsweise
ist es erforderlich, ein Auslösesignal zum
Messen der Phase von Flanken des gemessenen Datensignals beim Messen
des Zeitjitters zu erzeugen durch Anwendung eines von herkömmlichen Verfahren,
d.h., durch Verwendung eines Abtastoszilloskops, eines digitalen
Oszilloskops und dergleichen. Da jedoch die Position der Flanken
in dem Datensignal unregelmäßig ist,
ist es erforderlich, Auslösesignale
zu verschiedenen Zeiten zu erzeugen. Daher wird das Zeitjitter der
Auslösesignale
selbst groß, wodurch
die Genauigkeit des Messens von Jitter in dem gemessenen Datensignal
verschlechtert wird.
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Die
Messkosten für
die Erzeugung von Auslösesignalen
mit geringem Zeitjitter nehmen auch zu, da eine hochgenaue Schaltung
erforderlich ist.
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Daher
war es nicht möglich,
mit den herkömmlichen
Messverfahren das Zeitjitter in dem Datensignal, dessen Muster unregelmäßig ist,
unter geringen Kosten und genau zu messen. Weiterhin wurden bisher
weder ein Verfahren noch eine Schaltung zum Messen von Jitter in
dem Datensignal in Echtzeit gefunden.
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Demgemäß ist es
eine Aufgabe der Erfindung, eine Jittermessvorrichtung, ein Jittermessverfahren
und eine Prüfvorrichtung
anzugeben, die in der Lage sind, die vorgenannten Probleme zu lösen. Diese
Aufgabe kann gelöst
werden durch die Kombination von in den unabhängigen Ansprüchen der
Erfindung beschriebenen Merkmalen. Von diesen abhängige Ansprüche spezifizieren
bevorzugte Ausführungsbeispiele
der Erfindung.
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Um
das vorgenannte Problem zu lösen,
ist gemäß einem
ersten Aspekt der Erfindung eine Jittermessvorrichtung zum Messen
von Jitter in einem gemessenen Signal vorgesehen, mit einem ersten
Impulsgenerator zum Erfassen von Flanken des gemessenen Datensignals,
um ein erstes Impulssignal mit einer Impulsbreite, die vorher entsprechend
den Flanken gesetzt wurde, auszugeben, einem zweiten Impulsgenerator
zum Erfassen von Grenzen von Datenabschnitten, in denen Datenwerte
sich in dem gemessenen Datensignal nicht ändern, um ein zweites Impulssignal
mit einer Impulsbreite, die vorher entsprechend der Zeiten der Grenzen
der erfassten Datenabschnitte gesetzt wurde, auszugeben, einem Filter
zum Entfernen von Trägerfrequenzkomponenten des
gemessenen Datensignals aus dem ersten und dem zweiten Impuls, und
einer Jitterberechnungsvorrichtung zum Berechnen des Jitters in
dem gemessenen Signal auf der Grundlage der von dem Filter ausgegebenen
Signale.
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Die
Jittermessvorrichtung kann weiterhin einen Erzeugungsabschnitt für ein komplementäres Datensignal
zum Erzeugen eines komplementären Datensignals
mit Flanken an jeder Grenze der Datenabschnitte des gemessenen Signals, über die
sich die Datenwerte des gemessenen Datensignals nicht ändern, zu
erzeugen, und der zweite Impulsgenerator kann das zweite Impulssignal
entsprechend der Flanke des komplementären Datensignals ausgeben.
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Der
Erzeugungsabschnitt für
das komplementäre
Datensignal kann das komplementäre
Datensignal erzeugen, durch das die Flanken des gemessenen Datensignals
und des komplementären Datensignals
in nahezu gleichen Abständen
angeordnet sind, wenn sie auf derselben Zeitachse ausgerichtet sind.
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Das
Filter kann ein Tiefpassfilter sein, das Komponenten, die niedriger
als eine vorbestimmte Grenzfrequenz, die kleiner als die Trägerfrequenz des
gemessenen Datensignals ist, aus den Frequenzkomponenten des Impulssignals
durchlässt.
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Die
Jitterberechnungsvorrichtung kann Periodenjitter in dem gemessenen
Datensignal auf der Grundlage eines von dem Filter ausgegebenen
Signals berechnen.
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Die
Jittermessvorrichtung kann weiterhin eine Pegelverschiebungsschaltung
zum Ausgeben des von dem ersten und dem zweiten Impulsgenerator
erzeugten ersten und zweiten Impulssignals zu dem Filter durch Verschieben
ihrer Signalpegel auf einen Signalpegel entsprechend den Charakteristiken
des Filters enthalten.
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Die
Jittermessvorrichtung kann weiterhin einen Integrator zum Integrieren
des von dem Filter ausgegebenen Signals enthalten.
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Die
Jitterberechnungsvorrichtung kann das Zeitjitter in dem gemessenen
Datensignals auf der Grundlage des durch Integrieren mittels des
Integrators erhaltenen Signals berechnen.
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Die
Jittermessvorrichtung kann weiterhin eine Pegelverschiebungsschaltung
zur Eingabe des von dem Filter ausgegebenen Signals in den Integrator
durch Ver schieben seines Signalpegels auf einen Signalpegel entsprechend
den Charakteristiken des Integrators enthalten.
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Gemäß einem
zweiten Aspekt der Erfindung ist ein Jittermessverfahren zum Messen
des Jitters in einem gemessenen Datensignal vorgesehen, mit einem
ersten Impulserzeugungsschritt zum Erfassen von Flanken des gemessenen
Datensignals zur Ausgabe eines ersten Impulssignals mit einer Impulsbreite,
die vorher entsprechend den Flanken gesetzt wurde, einem zweiten
Impulserzeugungsschritt zum Erfassen von Grenzen von Datenabschnitten,
in denen sich Datenwerte in dem gemessenen Datensignal nicht ändern, zur
Ausgabe eines zweiten Impulssignals mit einer Impulsbreite, die
vorher entsprechend den Zeiten der Grenze der erfassten Datenabschnitte gesetzt
wurde, einem Filterschritt von Entfernen von Trägerfrequenzkomponenten des
gemessenen Datensignals aus dem ersten und dem zweiten Impulssignal,
und einem Jitterberechnungsschritt zum Berechnen des Zeitjitters
in dem gemessenen Datensignal auf der Grundlage der in dem Filterschritt
ausgegebenen Impulssignale.
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Gemäß einem
dritten Aspekt der Erfindung ist eine Prüfvorrichtung zum Prüfen einer
geprüften Vorrichtung
vorgesehen, mit einer Jittermessvorrichtung zum Messen von Jitter
in einem von der geprüften
Vorrichtung ausgegebenen, gemessenen Signal, und einem Beurteilungsabschnitt
zum Beurteilen, ob die geprüfte
Vorrichtung fehlerfrei ist oder nicht, auf der Grundlage des von
der Jittermessvorrichtung gemessenen Jitters in dem gemessenen Signal,
wobei die Jittermessvorrichtung einen ersten Impulsgenerator zum
Erfassen von Flanken des gemessenen Datensignals zur Ausgabe eines
ersten Impulssignals mit einer Impuls breite, die vorher entsprechend der
Flanke gesetzt wurde, einen zweiten Impulsgenerator zum Erfassen
von Grenzen von Datenabschnitten, in denen sich die Datenwerte in
dem gemessenen Datensignal nicht ändern, zur Ausgabe eines zweiten
Impulssignals mit einer Impulsbreite, die vorher entsprechend den
Zeiten der Grenzen der erfassten Datenabschnitte gesetzt wurde,
ein Filter zum Entfernen von Trägerfrequenzkomponenten
des gemessenen Datensignals aus dem ersten und dem zweiten Impulssignal,
und einen Jitterberechnungsabschnitt zum Berechnen des Zeitjitters
in dem gemessenen Datensignals auf der Grundlage des ersten und
des zweiten Impulssignals aufweist.
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Gemäß dem vierten
Aspekt der Erfindung ist eine elektronische Vorrichtung vorgesehen,
mit einer internen Schaltung zur Ausgabe eines Datensignals und
einer Jittermessschaltung zum Messen von Jitter in dem von der internen
Schaltung ausgegebenen Datensignal, wobei die Jittermessschaltung
einen Impulsgenerator zur Ausgabe eines Impulssignals mit einer
vorbestimmten Impulsbreite entsprechend gemessenen Flanken zum Messen
des Jitters in dem Datensignal und ein Filter zum Entfernen von
Trägerfrequenzkomponenten
des Datensignals aus dem Impulssignal aufweist.
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Die
Jittermessschaltung kann weiterhin eine Jitterberechnungsvorrichtung
zum Berechnen von Jitter in den Daten auf der Grundlage des von
dem Filter ausgegebenen Signals aufweisen. Es ist festzustellen,
dass die vorstehende Zusammenfassung der Erfindung nicht notwendigerweise
alle erforderlichen Merkmale der Erfindung beschreibt. Die Erfindung
kann auch eine Unterkombination der vorbeschriebenen Merkmale sein.
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1 ist
ein Diagramm, das eine beispielhafte Konfiguration einer Prüfvorrichtung
zum Prüfen einer
geprüften
Vorrichtung zeigt.
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2 ist
ein Diagramm, das eine beispielhafte Wellenform eines von einem
Integrator ausgegebenen Jittermesssignals zeigt, wenn ein gemessenes
Signal jitterfrei ist (das Jitter einer ansteigenden Taktflanke
ist null).
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3 ist
ein Diagramm, das eine beispielhafte Wellenform eines von dem Integrator
ausgegebenen Jittermesssignals zeigt, wenn das gemessene Datensignal
Jitter enthält
(Jitter der ansteigenden Taktflanke ist nicht null).
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4 ist
ein Diagramm, das eine beispielhafte Konfiguration der Prüfvorrichtung
gemäß einem Ausführungsbeispiel
der Erfindung zeigt.
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5 ist
ein Diagramm zum Erläutern
von von einem Filter ausgegebenen Signalen.
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6 ist
ein Diagramm, das ein beispielhaftes, von dem Integrator ausgegebenes
Jittermesssignal zeigt.
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7 ist
ein Diagramm, das eine beispielhafte vergrößerte Ansicht eines Spektrums
eines von dem Impulsgenerator ausgegebenen Impulssignals zeigt.
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8 ist
ein Diagramm, das eine beispielhafte vergrößerte Ansicht eines Spektrums
eines von dem Integrator ausgegebenen Signals zeigt.
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9 ist
ein Diagramm, das eine andere beispielhafte Konfiguration einer
Jittermessvorrichtung zeigt.
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10 ist
ein Diagramm, das eine Konfiguration einer Pegelverschiebungsschaltung,
des Filters und des Integrators zeigt.
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11 ist
ein Flussdiagramm, das eine beispielhafte Operation der Jittermessvorrichtung
zeigt.
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12 ist
ein Diagramm, das eine beispielhafte Konfiguration der Jittermessvorrichtung
zeigt.
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13 ist
ein Zeitdiagramm, das eine beispielhafte Operation eines Erzeugungsabschnitts
für ein
komplementäres
Datensignal und eines Impulsgenerators zeigt.
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14 ist
ein Diagramm, das eine beispielhafte Konfiguration des Erzeugungsabschnitts
für ein komplementäres Datensignal
zeigt.
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15A und 15B sind
Zeitdiagramme, die eine beispielhafte Operation des Erzeugungsabschnitts
für ein
komplementäres
Datensignal zeigen.
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16 ist
ein Diagramm, das eine andere beispielhafte Konfiguration des Erzeugungsabschnitts
für ein
komplementäres
Daten signal zeigt.
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17 ist
ein Zeitdiagramm, das eine beispielhafte Operation des in 16 gezeigten
Erzeugungsabschnitts für
ein komplementäres
Datensignal zeigt.
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18 ist
ein Diagramm, das eine andere beispielhafte Konfiguration des Erzeugungsabschnitts
für ein
komplementäres
Datensignal zeigt.
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19 ist
ein Zeitdiagramm, das eine beispielhafte Operation einer geprüften Vorrichtung
und des in 18 gezeigten Erzeugungsabschnitts
für ein
komplementäres
Datensignal zeigt.
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20 ist
ein Flussdiagramm, das eine beispielhafte Operation der in Verbindung
mit 12 erläuterten
Jittermessvorrichtung zeigt.
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21 ist
ein Diagramm, das eine beispielhafte Konfiguration der geprüften Vorrichtung
zeigt.
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Die
Erfindung wird nun auf der Grundlage von bevorzugten Ausführungsbeispielen
beschrieben, die den Bereich der Erfindung nicht beschränken, sondern
die Erfindung veranschaulichen sollen. Alle in den Ausführungsbeispielen
beschriebenen Merkmale und deren Kombinationen sind nicht notwendigerweise
wesentlich für
die Erfindung.
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1 ist
ein Diagramm, das eine beispielhafte Kon figuration einer Prüfvorrichtung 200 zum Prüfen einer
geprüften
Vorrichtung zeigt. Die Prüfvorrichtung 200 ist
eine Vorrichtung zum Beurteilen, ob eine geprüften Vorrichtung fehlerfrei
ist oder nicht, auf der Grundlage von Jitter in einem von der geprüften Vorrichtung
ausgegebenen gemessenen Signal, und sie ist mit einer Jittermessvorrichtung 140 und
einem Beurteilungsabschnitt 50 versehen. Das gemessene
Signal ist beispielsweise ein Taktsignal mit einer voreingestellten
Periode.
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Die
Jittermessvorrichtung 140 ist eine Vorrichtung zum Messen
von Zeitjitter in dem gemessenen Signal. Auf der Grundlage des von
der Jittermessvorrichtung 140 gemessenen Zeitjitters beurteilt der
Beurteilungsabschnitt 50, ob die geprüfte Vorrichtung fehlerfrei
ist oder nicht. Beispielsweise beurteilt der Beurteilungsabschnitt 50,
ob die geprüfte
Vorrichtung fehlerfrei ist oder nicht, auf der Grundlage des Umstands,
ob ein von der Jittermessvorrichtung 140 gemessener Zeitjitterwert
größer als
ein voreingestellter Bezugswert ist oder nicht.
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Die
Jittermessvorrichtung 140 hat einen Impulsgenerator 10,
einen Integrator 20 und eine Jitterberechnungsvorrichtung 30.
Der Impulsgenerator 10 empfängt ein gemessenes Signal und
gibt ein Impulssignal mit einer voreingestellten Impulsbreite entsprechend
gemessenen Flanken, anhand derer das Zeitjitter in dem gemessenen
Signal zu messen ist, aus.
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Beim
Messen des Zeitjitters beispielsweise bei jeder Flanke des gemessenen
Signals gibt der Impulsgenerator 10 ein Impulssignal mit
einer voreingestellten Impulsbreite entsprechend allen Flanken des
gemessenen Signals aus. In diesem Fall kann der Impulsgene rator 10 eine
Verzögerungsschaltung 12 und
ein exklusives ODER-Glied 14 haben, wie in 1 gezeigt
ist. Die Verzögerungsschaltung 12 gibt das
gemessene Signal durch Verzögern
um einen bestimmten Verzögerungsbetrag
aus. Dann gibt das Exklusiv-ODER-Glied 14 eine Exklusiv-ODER-Verknüpfung des
gemessenen Signals und des von der Verzögerungsschaltung 12 ausgegebenen
Verzögerungssignals
aus. Eine derartige Konfiguration ermöglicht, dass das Impulssignal
die durch den Verzögerungsbetrag
in der Verzögerungsschaltung 12 bestimmte
Impulsbreite entsprechend allen Flanken des gemessenen Signals hat.
Hier ist die Verzögerungsschaltung 12 wirksam,
wenn sie eine konstante Verzögerung
kontinuierlich innerhalb einer Messperiode erzeugen kann, und eine
tatsächliche
Verzögerung
kann einen Fehler von einem voreingestellten Verzögerungswert
haben.
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Weiterhin
kann der Impulsgenerator 10 das Impulssignal entsprechend
entweder der ansteigenden Flanke oder der abfallenden Flanke des
gemessenen Signals ausgeben. In diesem Fall kann das Periodenjitter
zwischen den ansteigenden Flanken und zwischen den abfallenden Flanken
leicht gemessen werden. Weiterhin hat der Impulsgenerator 10 eine
Schaltungskonfiguration, die in diesem Fall von der in 1 gezeigten
verschieden ist. Es ist auf einfache Weise möglich, die Erzeugung des Impulssignals
entsprechend den ansteigenden Flanken oder den abfallenden Flanken
des gemessenen Signals durch adäquate Änderung
der Schaltungskonfiguration des Impulsgenerators 10. Ein
Fall, in welchem der Impulsgenerator 10 das Impulssignal
entsprechend den gesamten Flanken des gemessenen Signals erzeugt,
wird nachfolgend erläutert.
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Die
Jitterberechnungsvorrichtung 30 berechnet das Zeitjitter
in dem gemessenen Signal auf der Grundlage des Ergebnisses der Integration
des von dem Integrator 20 integrierten Impulssignals. Der
Integrator 20 gibt ein Jittermesssignal mit dreieckiger Wellenform
aus, das durch Integrieren des von dem Impulsgenerator 10 ausgegebenen
Impulssignals erhalten wurde. Bei diesem Beispiel gibt der Integrator 20 ein
Jittermesssignal aus, dessen Signalpegel mit einer vorbestimmten
Zunahmerate ansteigt, während das
von dem Impulsgenerator 10 ausgegebene Signal den logischen
Wert H anzeigt, und dessen Signalpegel mit einer vorbestimmten Abnahmerate
verringert wird, während
das von dem Impulsgenerator 10 ausgegebene Signal den logischen
Wert L anzeigt.
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Der
Integrator 20 hat in diesem Beispiel eine Stromquelle 22,
eine Stromsenke 26, einen Kondensator 28 und einen
Lade/Entlade-Steuerabschnitt 24. Die Stromquelle 22 erzeugt
einen Quellenstrom, der die Zunahmerate des Jittermesssignals bestimmt, und
die Stromsenke 26 erzeugt einen Senkenstrom, der die Abnahmerate
des Jittermesssignals bestimmt. Der Kondensator 28 erzeugt
einen Spannungspegel des Jittermesssignals, indem er durch die Stromquelle 52 und
die Stromsenke 56 geladen/entladen wird. Weiterhin lädt der Lade/Entlade-Steuerabschnitt 24 den
Kondensator auf der Grundlage des Quellenstroms, während das
Impulssignal den logischen Wert H anzeigt, und entlädt den Kondensator
auf der Grundlage eines Stroms, der durch Subtrahieren des Senkenstroms
von dem Quellenstrom erhalten wurde, während das Impulssignal des
logischen Wert H anzeigt.
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2 zeigt
eine beispielhafte Wellenform des von dem Integrator 20 ausgegebenen
Jittermesssignals, wenn das gemessene Signal jitterfrei ist. Wenn
das gemessene Signal zeitjitterfrei ist, stimmen die Zeiten der
jeweiligen Flanken des gemessenen Signals mit Halbperioden (0, T,
2T, ...) des gemessenen Signals überein.
Der Impulsgenerator 10 erzeugt ein Impulssignal mit einer
vorbestimmten Impulsbreite entsprechend den jeweiligen Flanken.
Daher wird ein Tastverhältnis
von jeweiligen Zyklen des von dem Impulsgenerator 10 ausgegebenen
Signals ein konstanter Wert.
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Dann
gibt der Integrator 20 das Jittermesssignal mit dreieckiger
Wellenform wie vorbeschrieben aus. Wenn das gemessene Signal zeitjitterfrei
ist, erzeugt der Integrator 20 das Jittermesssignal mit
den Raten der Zunahme und Abnahme, durch die die jeweiligen Extremwerte
des Jittermesssignals vorher eingestellte Signalpegel werden. Daher
zeigen, wenn das gemessene Signal zeitjitterfrei ist, maximale und minimale
Werte des Jittermesssignals jeweils konstante Pegel.
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3 ist
ein Diagramm, das eine beispielhafte Wellenform des von dem Integrator 20 ausgegebenen
Jittermesssignals ist, wenn das gemessene Signal Jitter enthält. Wenn
das gemessene Signal in seinem Zeitverlauf Jitter enthält, stimmen
die Zeiten der Flanken des gemessenen Signal nicht mit Mehrfachem
der Halbperiode (0, T, 2T, ...) des gemessenen Signals überein und
das Tastverhältnis
der jeweiligen Zyklen des von dem Impulsgenerator 10 ausgegebenen
Signals wird kein konstanter Wert.
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Daher
zeigen die Extremwerte des von dem Integrator 20 ausgegebenen
Jittermesssignals nicht die vorbestimmten Werte, wie in 3 illustriert
ist. Eine Pegeldifferenz (ΔV1,
..., ΔV3,
...) zwischen dem vorbestimmten Wert und dem Extremwert in der Änderung
der Amplitude des Jittermesssignals ist proportional zu einem Jitterwert
an den Flanken des gemessenen Signals entsprechend dem Extremwert.
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Das
Zeitjitter in dem gemessenen Signal kann auf einfache Weise berechnet
werden auf der Grundlage dieser Pegeldifferenz. Weiterhin kann, selbst
wenn ein Verzögerungsfehler
aufgrund des in der Verzögerungsschaltung 12 voreingestellten
Verzögerungsbetrags
auftritt, das Zeitjitter in dem gemessenen Signal gemessen werden,
ohne durch den Verzögerungsfehler
beeinflusst zu werden, soweit wie die Verzögerungsschaltung 12 die
konstante Verzögerung
erzeugt.
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Jedoch
enthält
das von dem Integrator 20 ausgegebene Jittermesssignal
die Komponente der Dreieckwelle zusätzlich zu der Jitterkomponente.
Daher muss der Integrator 20 einen Ausgangsbereich haben,
durch den er das Signal ausgeben kann, in welchem die Dreieckwellenkomponente
zu der Jitterkomponente addiert ist. Weiterhin muss die Jitterberechnungsvorrichtung 30 einen
Messbereich haben, durch den sie das Signal messen kann, in welchem die
Dreieckwellenkomponente zu der Jitterkomponente addiert ist. Daher
liegt der Fall vor, dass die Jittermessvorrichtung 140 bei
diesem Beispiel nicht in der Lage ist, sehr kleine Jitter zu messen,
da ein Störabstand
bei der Messung des Jitter klein wird.
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4 ist
ein Diagramm, das eine beispielhafte Konfiguration der Prüfvorrichtung 100 gemäß einem
Ausführungsbeispiel
der Erfindung zeigt. Die Prüfvorrichtung 100 nach
diesem Ausführungsbeispiel
hat eine Jittermessvorrichtung 40 und den Beurteilungsabschnitt 50.
Der Beurteilungsabschnitt 50 ist derselbe wie der in 1 erläuterte Beurteilungsabschnitt 50,
so dass seine Erläuterung
hier weggelassen wird.
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Die
Jittermessvorrichtung 40 hat den Impulsgenerator 10,
ein Filter 60, den Integrator 20 und die Jitterberechnungsvorrichtung 30.
Der Impulsgenerator 10 ist derselbe wie der in 1 erläuterte Impulsgenerator 10,
so dass seine Erläuterung
hier weggelassen wird.
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Das
Filter 60 entfernt eine Trägerfrequenzkomponente des gemessenen
Signals aus dem von dem Impulsgenerator 10 ausgegebenen
Impulssignal. Der hier verwendete Begriff, d.h., die Trägerfrequenzkomponente
des gemessenen Signals, enthält eine
Komponente einer höheren
Harmonischen der Trägerfrequenzkomponente.
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Das
Filter 60 kann ein Tiefpassfilter sein, das von einer Komponente,
deren Frequenz null ist, bis zu einer Komponente einer vorbestimmten
Frequenz, die kleiner als die Trägerfrequenz
des gemessenen Signals ist, unter den Frequenzkomponenten des Impulssignals
durchlässt.
Eine Grenzfrequenz in dem Filter 60 ist vorzugsweise größer als
die Frequenz einer in dem gemessenen Signal enthalten Jitterkomponenten.
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Wenn
beispielsweise die Trägerfrequenz
des gemessenen Signals gleich 1 GHz ist und die Frequenz der Jitterkomponente
gleich 1 MHz ist, ist die Grenzfrequenz des Filters 60 vorzugsweise
ausreichend größer als
1 MHz und ausreichend kleiner als 1 GHz. Beispielsweise kann die
Grenzfrequenz des Filters 60 400 MHz betragen.
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Der
Integrator 20 integriert das von dem Filter 60 ausgegebene
Signal. Der Integrator 20 kann dieselbe Konfiguration wie
der in 1 gezeigte Integrator 20 haben. Der Integrator 20 kann
auch eine Integrationsschaltung sein, die einen Spannungs-/Strom-Wandler (Transkonduktanz-Verstärker) und
einen Kondensator verwendet. Der Spannungs-/Strom-Wandler wandelt
ein von dem Filter 60 ausgegebenes Spannungssignal in ein
Stromsignal um. Der Kondensator gibt einen Spannungswert aus, der
durch Integrieren des Stromsignals erhalten wurde, indem er durch
das Stromsignal geladen/entladen wird. Wenn ein Spannungs-/Strom-Umwandlungsverhältnis des
Spannungs-/Strom-Wandlers gleich K [A/V] ist und eine Kapazität des Kondensators
gleich C [F] ist, kann ein Integrationskoeffizient des Integrators 20 als
K/C ausgedrückt
werden. Der Spannungs-/Strom-Wandler kann eine Ladungspumpe sein.
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Der
Integrator 20 kann auch eine Verstärkungsschaltung zum Verstärken und
Ausgeben des integrierten Wertes in einem vorbestimmten dynamischen
Bereich enthalten. Bei diesem Beispiel wurde die Trägerfrequenzkomponente
des zu dem Integrator 20 zu führenden Signals durch das Filter 60 entfernt.
Daher gibt der Integrator 20 nur die Jitterkomponente aus,
wodurch ermöglicht
wird, dass ein Jitterausgangssignal mit einem hohen Störabstand
erhalten wird im Vergleich zu dem in Verbindung mit 1 erläuterten
Integrator 20.
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Die
Jitterberechnungsvorrichtung 30 misst das Jitter in dem
gemessenen Signal auf der Grundlage des von dem Filter 60 oder
dem Integrator 20 ausgegebenen Signals. Beim Messen des
Jitters in dem gemessenen Signal auf der Grundlage beispielsweise
des von dem Integrator 20 ausgegebenen Signals kann sie
das Zeitjitter in dem gemessenen Signal in derselben Weise wie die
in Verbindung mit 1 erläuterte Jitterberechnungsvorrichtung 30 messen.
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Das
von dem Filter 60 ausgegebene Signal entspricht dem, was
durch Differenzi9eren des von dem Integrator 20 ausgegebenen
Signals erhalten wird. D.h., beim Messen des Jitters in dem gemessenen
Signals auf der Grundlage des von dem Filter 60 ausgegebenen
Signals kann das Periodenjitter in dem gemessenen Signal direkt
gemessen werden. Die Jitterberechnungsvorrichtung 30 kann
entweder eines oder beide von dem Zeitjitter und dem Periodenjitter
in dem gemessenen Signal messen. Beim Messen des Zeitjitters in
dem gemessenen Signal braucht die Jittermessvorrichtung 40 den
Integrator 20 nicht zu enthalten. Weiterhin kann die Jitterberechnungsvorrichtung 30 eine
Vorrichtung zum Messen der Wellenform des von dem Filter 60 ausgegebenen
Signals oder des von dem Integrator 20 ausgegebenen Signals
sein.
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Die
Trägerfrequenzkomponente
wurde aus beiden von dem Filter 60 oder dem Integrator 20 ausgegebenen
Signalen entfernt. Daher kann die Jitterberechnungsvorrichtung 30 die
Jitterkomponente ohne Messen unnötiger
Komponenten wie Dreieckwellenkomponenten messen. Demgemäß kann sie das
Jitter genau berechnen.
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5 ist
ein Diagramm zum Erläutern
des von dem Filter 60 ausgegebenen Signals. Bei diesem Beispiel
erfolgt eine Erläuterung
unter der Annahme, dass die Grenzfrequenz des gemessenen Signals gleich
1 GHz ist, die Frequenz des Jitters gleich 1 MHz ist und die Grenzfrequenz
des Filters 60 gleich 400 MHz ist. 5 zeigt
nur Spektren von Träger- und
Jitterkomponenten.
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Wenn
die Trägerfrequenz
des gemessenen Signals gleich 1 GHz ist, erscheinen Spektren der Trägerkomponente
bei jeder Frequenz von 1 GHz, 2 GHz, ..., wie in 5 in
dem Spektrum des Impulssignals gezeigt ist. Wei terhin erscheinen
Spektren der Jitterkomponenten bei Frequenzen von (der Frequenz
jeder Trägerkomponente
+/–1 MHz)
und (null Hz +/–1
MHz).
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Das
Filter 60 entfernt die Frequenzkomponenten, die höher als
die Grenzfrequenz sind, d.h. 400 MHz, aus den Frequenzkomponenten
des Impulssignals. Es ermöglicht,
dass die Trägerfrequenzkomponente
entfernt wird und nur die Jitterkomponente ausgegeben wird.
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6 ist
ein Diagramm, das ein beispielhaftes, von dem Integrator 20 ausgegebenes
Jittermesssignal zeigt. Der Integrator 20 gibt das Jittermesssignal
aus, von dem die Trägerfrequenzkomponente
durch das Filter 60 entfernt wurde, wie vorstehend beschrieben
ist. Die Amplitude des Jittermesssignals nach diesem Beispiel ist
kleiner als die des in 3 gezeigten Jittermesssignals.
Daher kann der Integrator 20 ein Signal mit einem großen Störabstand
ausgeben durch effektive Ausnutzung des dynamischen Bereichs der
in der Ausgangsstufe vorgesehenen Verstärkungsschaltung.
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7 zeigt
eine beispielhafte vergrößerte Ansicht
des Spektrums des von dem Impulsgenerator 10 ausgegebenen
Impulssignals. Dieses Beispiel zeigt das Spektrum des Impulssignals,
wenn Jitter von 1 MHz dem gemessenen Signal beigefügt ist. Wenn
das Jitter von 1 MHz dem gemessenen Signal beigefügt ist,
erscheinen Komponenten höherer
Harmonischer der Jitterkomponente bei Frequenzen von ganzzahligen
Vielfachen von 1 MHz, wie in 7 gezeigt
ist. Unter derartigen Spektren lässt
das Filter 60 Komponenten durch, deren Frequenzen kleiner
als die Grenzfrequenz sind.
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8 zeigt
eine beispielhafte vergrößerte Ansicht
des Spektrums des von dem Integrator 20 ausgegebenen Signals.
Bei diesem Beispiel sind die Komponenten der höheren Harmonischen nahezu flach.
Die Spektralkomponenten der höheren
Harmonischen der Wellenform des Zeitjitters von 1 MHz werden nahezu
flach, ähnlich
dem in 8 gezeigten Spektrum. Demgemäß ist ersichtlich, dass das
von dem Integrator 20 ausgegebene Signal die Wellenform
des Zeitjitters ist.
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9 ist
ein Diagramm, das eine andere beispielhafte Konfiguration der Jittermessvorrichtung 40 zeigt.
Zusätzlich
zu der Konfiguration der in Verbindung mit 4 erläuterten
Jittermessvorrichtung 40 enthält die Jittermessvorrichtung 40 nach
diesem Beispiel eine Pegelverschiebungsschaltung 70.
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Die
Pegelverschiebungsschaltung 70 legt das von dem Impulsgenerator 10 ausgegebene
Impulssignal an das Filter 60 an durch Verschieben seines
Signalpegels auf einen Eingangssignalpegel, der den Charakteristiken
des Filters 60 entspricht. Hier können die Charakteristiken des
Filters 60 beispielsweise der Signaleingabebereich des
Filters 60 sein. Die Reihenfolge kann so geändert werden,
dass das Ausgangssignal des Filters 60 an die Pegelverschiebungsschaltung 70 angelegt
wird.
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Wenn
das Filter 60 ein RC-Filter ist, ist das an das Filter 60 angelegte
Signal vorzugsweise innerhalb eines Spannungsbereichs entsprechend
einem Kapazitivwert eines in dem Filter 60 vorgesehenen
Kondensators. Die Pegelverschiebungsschaltung 70 kann den
Signalpegel so verschieben, dass eine Gleichspannungskomponente
des an den Integrator 20 angelegten Signals nahezu null
wird.
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10 ist
ein Diagramm, das eine beispielhafte Kon figuration der Pegelverschiebungsschaltung 70,
des Filters 60 und des Integrators 20 zeigt. Bei
diesem Beispiel ist das Filter 60 ein RC-Filter und hat
Widerstände 62 und
Kondensatoren 64, die in mehreren Stufen verbunden sind.
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Die
Pegelverschiebungsschaltung 70 hat einen Kondensator 72 und
einen Widerstand 74. Der Kondensator 72 ist in
einer Übertragungsleitung
zum Übertragen
des Impulssignals zu dem Filter 60 zur Entfernung einer
Gleichstromkomponente des Impulssignals vorgesehen. Der Widerstand 74 ist
zwischen der Übertragungsleitung
und einem vorbestimmten Potential vorgesehen, um das Bezugspotential
des durch den Kondensator 72 hindurchgehenden Signals entsprechend
der vorbestimmten Spannung zu spezifizieren. Der Signalpegel des
Impulssignals wird durch eine derartige Konfiguration wie vorstehend
beschrieben auf den vorbestimmten Pegel verschoben. Bei diesem Beispiel
wird der Signalpegel auf den Erdpegel (0V) verschoben. Die vorbestimmte
Spannung kann entsprechend dem kapazitiven Wert des Kondensators 64 bestimmt
werden.
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Der
Integrator 20 hat einen Widerstand 66, einen Kondensator 68 und
eine Verstärkungsschaltung 71.
Der Kondensator 68 wird durch das von dem Filter 60 ausgegebene
Stromsignal über
den Widerstand 66 geladen/entladen. Hierdurch gibt der
Kondensator 68 einen Spannungswert aus, der durch Integrieren
des Stromsignals erhalten wurde. Die Verstärkungsschaltung 71 gibt
den von dem Kondensator 68 ausgegebenen Spannungswert durch
Multiplizieren mit einem vorbestimmten Verstärkungsfaktor aus.
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Eine
derartige Konfiguration ermöglicht, dass
ein für
die Charakteristiken des Filters 60 geeignetes Im pulssignal
an das Filter 60 angelegt wird. Obgleich die Pegelverschiebungsschaltung 70 in
diesem Fall an der Eingangsstufe des Filters 60 vorgesehen
ist, kann die Pegelverschiebungsschaltung 70 in einem anderen
Fall an der Eingangsstufe des Integrators 20 vorgesehen
sein. In diesem Fall kann die Pegelverschiebungsschaltung 70 den
Pegel des von dem Filter 60 ausgegebenen Signals entsprechend dem
kapazitiven Wert des Kondensators 68 verschieben.
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11 ist
ein Flussdiagramm, das eine beispielhafte Operation der Jittermessvorrichtung 40 zeigt.
Zuerst erzeugt der Impulsgenerator 10 ein Impulssignal
mit einer vorbestimmten Impulsbreite entsprechend Flanken des gemessenen
Signals in einem Pulserzeugungsschritt S300. Als Nächstes verschiebt
die Pegelverschiebungsschaltung 70 den Signalpegel des
Impulssignals auf einen vorbestimmten Pegel in einem Pegelverschiebungsschritt
S302.
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Das
Filter 60 entfernt die Trägerfrequenzkomponenten des
gemessenen Signals aus dem Impulssignal in einem Filterschritt S304.
Dann integriert der Integrator 20 das Ausgangssignal des
Filters 60 in einem Integrationsschritt S306. Die Jitterberechnungsvorrichtung 30 berechnet
das Jitter in dem gemessenen Signal in einem Jitterberechnungsschritt S308.
In dem Schritt S308 kann die Jitterberechnungsvorrichtung 30 das
Periodenjitter oder das Zeitjitter in dem gemessenen Signal berechnen.
Der Integrationsschritt S306 kann bei der Berechnung des Periodenjitters
weggelassen werden. Weiterhin kann der Pegelverschiebungsschritt
S302 als ein nach dem Filterschritt S304 ausgeführter Vorgang gesetzt werden.
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Die
in 9 gezeigte Jittermessvorrichtung 40 kann durch
ein lineares Modell dargestellt werden, das durch die folgende Gleichung
ausgedrückt
wird: Worin X(s) die Laplace-Transformation des von dem Impulsgenerator 10 ausgegebenen
Impulssignals x(t) ist, Xo/s eine durch
die Pegelverschiebungsschaltung 70 zugeführte Pegelverschiebungskomponente ist,
G(s) eine Übertragungsfunktion
des Filters 60 ist, Kc/s eine Übertragungsfunktion des Integrators 20 ist und ΔΦ(s) die
Laplace-Transformation der in dem gemessenen Signal enthaltenen
Jitterkomponente ΔΦ(t) ist.
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Es
ist aus der vorstehenden Gleichung ersichtlich, dass sich das Jitter
Ausgangssignal nicht ändert,
selbst wenn das Filter 60 und der Integrator 20 in
der Jittermessvorrichtung 40 gegeneinander ausgetauscht
werden. Aufgrund dessen kann die in 9 gezeigte
Jittermessvorrichtung 40 das Jitterausgangssignal gleich
dem der in 1 gezeigten Jittermessvorrichtung 140 erhalten.
Weiterhin kann die in 9 gezeigte Jittermessvorrichtung 40 mit dem
großen
Störabstand
messen, wie vorstehend beschrieben ist.
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Weiterhin
kann die Messung in derselben Weise durchgeführt werden, selbst wenn die
Pegelverschiebungsschaltung 70 und das Filter 60 in
der in 9 gezeigten Jittermessvorrichtung gegeneinander
ausgetauscht werden. Da die von der Pegelverschiebungsschaltung 70 zugeführte Pegelverschiebungskomponente
Xo ein konstanter Wert ist, hat sie nur
die Gleichstromkomponente. Wenn daher eine Verstärkung des Filters 60 gleich
Go ist, wird eine von dem Filter 60 ausgegebene
Vorspannungsverschiebungskomponente gleich GoXo [V], d.h., ein konstanter Wert. Demgemäß kann die
Messung auch in derselben Weise durch Einfügen der Pegelverschiebungsschaltung 70,
die in der Vorstufe des Filters 60 angeordnet war, zwischen
dem Filter 60 und dem Integrator 20 und durch
Setzen eines Pegelverschiebungswertes auf GoXo durchgeführt werden.
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12 ist
ein Diagramm, das eine beispielhafte Konfiguration der Jittermessvorrichtung 40 zeigt.
Die Jittermessvorrichtung 40 nach diesem Beispiel ist eine
Vorrichtung zum Messen von Jitter in einem gemessenen Datensignal
mit einer nahezu konstanten Datenrate, und hat einen Erzeugungsabschnitt 80 für ein komplementäres Datensignal,
einen ersten Impulsgenerator 10-1, einen zweiten Impulsgenerator 10-2,
eine erste Pegelverschiebungsschaltung 70-1, eine zweite
Pegelverschiebungsschaltung 70-2, ein erstes Filter 60-1,
ein zweites Filter 60-2, einen Synthetisierungsabschnitt 60,
den Integrator 20 und die Jitterberechnungsvorrichtung 30.
Die Jittermessvorrichtung 40 braucht nicht die erste und
die zweite Pegelverschiebungsschaltung 70-1 und 70-2 zu
enthalten. Die erste und die zweite Pegelverschiebungsschaltung 70-1 und 70-2 können auch
hinter dem ersten und dem zweiten Filter 60-1 und 60-2 oder
hinter dem Synthetisierungsabschnitt 90 angeordnet sein.
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Der
erste und der zweite Impulsgenerator 10-1 und 10-2 können dieselbe
Funktion und Struktur wie der in Verbindung mit den 4 bis 10 erläuterte Impulsgenerator 10 haben.
Weiterhin können
die erste und die zweite Pegelverschiebungsschaltung 70-1 und 70-2 dieselbe
Funktion und Struktur wie die in Verbindung mit den 4 bis 10 erläuterte Pegelverschiebungsschaltung 70 haben.
Weiterhin können
das erste und zweite Filter 60-1 und 60-2 dieselbe
Funktion und Struktur wie das in Verbindung mit den 4 bis 10 erläuterte Filter 60 haben.
Der Integrator 20 und die Jitterberechnungsvorrichtung 30 können auch
dieselbe Funktion und Struktur wie der/die in Verbindung mit den 4 bis 10 erläuterte Integrator 20 und
Jitterberechnungsvorrichtung 30 haben.
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Der
Erzeugungsabschnitt 80 für ein komplementäres Datensignal
erzeugt ein komplementäres Datensignal
mit Flanken an jeder Grenze von Datenabschnitten, über die,
da Datenwerte des gemessenen Datensignals sich nicht ändern, das
gemessene Datensignal keine Flanke hat. Wenn beispielsweise die
Flanken des gemessenen Datensignals und die des komplementären Datensignals
auf derselben Zeitachse ausgerichtet sind, kann das komplementäre Datensignal
das sein, was die ausgerichteten Flanken sowohl des gemessenen Datensignals
als auch des komplementären
Datensignals zu den nahezu gleichen Zeitintervallen angeordnet sind.
Der Datenabschnitt des gemessenen Datensignals ist ein Zeitintervall,
während
dessen nicht wiederholende einzelne Daten beispielsweise in dem
seriell übertragenen
gemessenen Datensignal gehalten sind. Es kann auch eine Zeit sein,
während
der Symboldaten in einem übertragenen
mehrwertigen gemessenen Datensignal gehalten werden. D.h., der Datenabschnitt
kann ein Bitintervall oder ein Symbolintervall des gemessenen Datensignals
sein.
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Der
erste Impulsgenerator 10-1 erfasst Flanken des gemessenen
Datensignals und gibt ein erstes Impulssignal mit einer vorbestimmten
Impulsbreite entsprechend den Flanken aus. Der zweite Impulsgenerator 10-2 erfasst
die Grenzen des Datenabschnitts, bei dem sich der Datenwert nicht ändert, und
gibt ein zweites Impulssignal mit einer vorbestimmten Impulsbreite
entsprechend der Zeit der erfassten Grenzen des Datenabschnitts
aus. Bei diesem Beispiel erfasst der zweite Impulsgenerator 10-2 Flanken
des von dem Er zeugungsabschnitt 80 für ein komplementäres Datensignal
ausgegebenen komplementären
Datensignals und gibt das zweite Impulssignal mit einer voreingestellten
Impulsbreite entsprechend den Flanken aus.
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Die
erste Pegelverschiebungsschaltung 70-1 verschiebt einen
Signalpegel des von dem ersten Impulsgenerator 10-1 ausgegebenen
ersten Impulssignals. Die zweite Pegelverschiebungsschaltung 70-2 verschiebt
einen Signalpegel des von dem zweiten Impulsgenerator 10-2 ausgegebenen
zweiten Impulssignals. Vorzugsweise sind die Pegelverschiebungswerte
in der ersten und der zweiten Pegelverschiebungsschaltung 70-1 und 70-2 nahezu
gleich.
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Das
erste Filter 60-1 entfernt die Trägerfrequenzkomponenten des
gemessenen Datensignals aus dem ersten Impulssignal. Das zweite
Filter 60-2 entfernt die Trägerfrequenzkomponente des gemessenen
Datensignals aus dem zweiten Impulssignal. Vorzugsweise sind die
durch das erste und das zweite Filter 60-1 und 60-2 durchgelassenen
Frequenzbänder
nahezu gleich.
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Der
Synthetisierungsabschnitt 90 gibt ein Impulssignal aus,
das durch Synthetisieren des Signals, das durch das erste Filter 60-1 hindurchgegangen
ist, und des Signals, das durch das zweite Filter 60-2 hindurchgegangen
ist, erhalten wurde. Beispielsweise kann der Synthetisierungsabschnitt 90 das
Signal, das durch das erste Filter 60-1 hindurchgegangen
ist, und das Signal, das durch das zweite Filter 60-2 hindurchgegangen
ist, addieren.
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Der
Integrator 20 integriert das von dem Synthetisierungsabschnitt
ausgegebene Signal. Die Jitterberechnungsvorrichtung 30 berechnet
Jitter in dem gemessenen Datensignal auf der Grundlage des von dem
Synthetisierungsabschnitt 90 ausgegebenen Signals oder
des von dem Integrator 20 ausgegebenen Signals.
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Wenn
Flanken sowohl des gemessenen Datensignals als auch des komplementären Datensignals
berücksichtigt
werden, sind die Flanken in nahezu konstanten Intervallen angeordnet.
Eine derartige Operation ermöglicht
dem Integrator 20 und der Jitterberechnungsvorrichtung 30 in
nahezu konstanten Intervallen zu messen und zu operieren und das
Jitter genau zu messen durch Verringerung der Varianz von gemessenen
Werten, die anderenfalls durch Differenz von Messintervallen und
anderen bewirkt wird.
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13 ist
ein Zeitdiagramm, das eine beispielhafte Operation des Erzeugungsabschnitts 80 für ein komplementäres Datensignal
und des Impulsgenerators 10 zeigt. In Verbindung mit dem
Erzeugungsabschnitt 80 für ein komplementäres Datensignal
zeigt 13 einen Fall, in welchem das
Zeitintervall des Datenabschnitts des gemessenen Signals gleich
T ist und sein Datenmuster während
einer Zeit (0 – 6T)
gleich 110001 ist.
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Bei
dem in 2 gezeigten Beispiel entsprechen die Abschnitte
(0-T, T-2T, 2T-3T, usw.) den Datenabschnitten (D1, D2, D3, usw.).
(0, T, 2T, 3T, usw.) sind die Grenzen von jeweiligen Datenabschnitten. Bei
diesem Beispiel ändern
sich die Datenwerte des gemessenen Datensignals an den Grenzen (0,
2T und 5T) der Datenabschnitte und ändern sich nicht an den Grenzen
(T, 3T und 4T) der Datenabschnitte. Demgemäß erzeugt der Erzeugungsabschnitt 80 für ein komplementäres Datensignal
das komplementäre
Datensignal mit Flanken an den Grenzen (T, 3T und 4T) der Datenabschnitte,
wo keine Flanke des gemessenen Datensignals existiert.
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Da
das gemessene Datensignal die nahezu konstanten Datenabschnitte
hat, stimmt die Zeit der Flanke des gemessenen Datensignals nahezu
mit einer der Zeiten (0, T, 2T, usw.) überein. In einem derartigen
Fall erzeugt der Erzeugungsabschnitt 80 für ein komplementäres Datensignal
das komplementäre
Datensignal mit Flanken an den Grenzen der Datenabschnitte, an denen
keine Flanke des gemessenen Datensignals existiert. Hierdurch sind
in Bezug auf die Flanken sowohl des gemessenen Datensignals als
auch des komplementären
Datensignals die Flanken in nahezu konstanten Intervallen angeordnet.
Durch derartige Operationen können
der Integrator 20 und die Jittermessvorrichtung 30 mit
nahezu konstanten Intervallen messen und operieren, und sie können das
Jitter genau messen durch Herabsetzen der Varianz von gemessenen
Werten, die anderenfalls durch die unterschiedlichen Zeitintervalle
bewirkt wird.
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14 ist
ein Diagramm, das eine beispielhafte Konfiguration des Erzeugungsabschnitts 80 für ein komplementäres Datensignal
zeigt. Der Erzeugungsabschnitt 80 für ein komplementäres Datensignal
hat einen Taktregenerator 81, ein erstes D-Flipflop 82,
ein zweites D-Flipflop 83, einen Koinzidenzdetektor 84,
ein drittes D-Flipflop 85 und einen Frequenzteiler 86.
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Die 15A und 15B sind
Zeitdiagramme zum Erläutern
einer beispielhaften Operation des Erzeugungsabschnitts 80 für ein komplementäres Datensignal.
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15A zeigt die Operation von dem Taktregenerator 81 zu
dem Koinzidenzdetektor 84, und 15B zeigt die
Operation von dem Koinzidenzdetektor 84 zu dem Frequenzteiler 86.
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Auf
der Grundlage des gemessenen Datensignals erzeugt der Taktregenerator 81 ein
Taktsignal mit einer nahezu gleichen Periode wie der des Datenabschnitts
des gemessenen Datensignals. Das erste D-Flipflop 82 nimmt
das gemessene Datensignal mit jedem Taktsignal auf und gibt es aus.
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Das
zweite D-Flipflop 83 nimmt das von dem ersten D-Flipflop 82 ausgegebene
Signal entsprechend dem Taktsignal auf und gibt es aus. D.h., das zweite
D-Flipflop 83 gibt
das von dem ersten D-Flipflop 82 ausgegebene Signal durch
Verzögern
um eine Periode des Datenabschnitts des gemessenen Datensignals
aus.
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Der
Koinzidenzdetektor 84 gibt ein Koinzidenzsignal aus, das
den logischen Wert H anzeigt, wenn der Wert des von dem ersten D-Flipflop 82 ausgegebenen
Signals gleich dem Wert des von dem zweiten D-Flipflop 83 ausgegebenen
Signals ist.
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Das
dritte D-Flipflop 85 nimmt das von dem Koinzidenzdetektor 84 ausgegebene
Signal entsprechend dem Taktsignal auf und gibt es aus. Die internen
Daten werden durch sein Ausgangssignal zurückgesetzt. D.h., wenn das dritte
D-Flipflop 85 die ansteigende Flanke des Taktsignals empfängt, gibt es
einen Impuls mit einer sehr kleinen Impulsbreite, die kürzer als
das Zeitintervall des Datenabschnitts in dem gemessenen Datensignal
ist, aus, unter der Bedingung, dass das von dem Koinzidenzdetektor 84 empfangene
Signal den logischen Wert H anzeigt.
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Der
Frequenzteiler 86 teilt das von dem dritten D- Flipflop 85 ausgegebene
Signal durch zwei, um das das komplementäre Datensignal zu erzeugen. Hier
bedeutet "teilen
durch zwei" die
Erzeugung eines Signals, dessen logischer Wert sich entsprechend
entweder der ansteigenden Flanke oder der abfallenden Flanke des
von dem dritten D-Flipflop 85 ausgegebenen Signals ändert, wie
in 15B gezeigt ist. Das komplementäre Datensignal
des gemessenen Datensignals kann einfach durch die vorbeschriebene
Konfiguration erzeugt werden.
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16 ist
ein Diagramm, das eine andere beispielhafte Konfiguration des Erzeugungsabschnitts 80 für ein komplementäres Datensignal zeigt.
Der Erzeugungsabschnitt 80 für ein komplementäres Datensignal
nach diesem Beispiel hat den Taktregenerator 81, ein viertes
D-Flipflop 87, ein fünftes
D-Flipflop 88 und ein Exklusiv-ODER-Glied 89.
-
17 ist
ein Zeitdiagramm, das eine beispielhafte Operation des in 16 gezeigten
Erzeugungsabschnitts 80 für ein komplementäres Datensignal
zeigt. Auf der Grundlage des gemessenen Datensignals erzeugt der
Taktregenerator 81 das Taktsignal mit nahezu derselben
Periode wie der des Datenabschnitts des gemessenen Datensignals.
Das fünfte
D-Flipflop 88 nimmt das gemessene Datensignal mit jedem
Taktsignal auf und gibt es aus. Das Taktsignal wird an einen Takteingangsanschluss
des vierten D-Flipflops 87 angelegt und ein invertierender Ausgangsanschluss
und ein Dateneingangsanschluss hiervon sind verbunden. D.h., das
vierte D-Flipflop 87 erzeugt ein Signal, dessen logischer Wert
entsprechend dem Taktsignal invertiert ist.
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Das
Exklusiv-ODER-Glied 89 gibt eine Exklusiv-ODER- Verknüpfung des
von dem vierten D-Flipflop 87 ausgegebenen Signals und
des von dem fünften
D-Flipflop 88 ausgegebenen Signals als das komplementäre Datensignal
aus.
-
Eine
derartige Konfiguration ermöglicht
die Erzeugung des komplementären
Datensignals mit einer einfachen Struktur. Weiterhin ermöglicht diese Konfiguration,
obgleich der Anfangswert des von dem vierten D-Flipflop 87 zu der Zeit 0 ausgegebenen
Signals in 17 als der logische Wert H gesetzt wurde,
das das komplementäre
Datensignal die auszugebende Datenübergangszeit nur durch Invertieren
des Musters des von dem Exklusiv-ODER-Glied 89 ausgegebenen
Signals hält,
selbst wenn der Anfangswert der logische Wert L ist.
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18 ist
ein Diagramm, das eine andere beispielhafte Konfiguration des Erzeugungsabschnitts 80 für das komplementäre Datensignal
zeigt. Bei diesem Beispiel empfängt
die Jittermessvorrichtung 40 eine Pseudozufalls-Musterfolge,
die von einer geprüften
Vorrichtung 400 ausgegeben wird, als ein gemessenes Datensignal.
-
19 ist
ein Zeitdiagramm, das eine beispielhafte Operation der geprüften Vorrichtung 400 und
des in 18 gezeigten Erzeugungsabschnitts 80 für ein komplementäres Datensignal
zeigt.
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Die
geprüfte
Vorrichtung 400 hat N in Kaskade verbundene D-Flipflops
(402-0 bis 402-(N-1), die nachfolgend allgemein
als 402 bezeichnet werden) und ein Exklusiv-ODER-Glied 404.
Jedes der D-Flipflops 402 nimmt ein von einem positiven
Ausgangsanschluss Q des vorhergehenden D-Flipflops 402 ausgegebenes
Signal entsprechend einem gegebenen Takt auf und gibt es aus. Das
Exklusiv-ODER-Glied 404 gibt eine Exklusiv-ODER-Verknüpfung eines
von dem letzten D-Flipflop 402-0 ausgegebenen Signals und
eines von seinem vorhergehenden D-Flipflop 402-1 ausgegebnen
Signals aus. Ein von dem Exklusiv-ODER-Glied 404 ausgegebenes
Signal wird an das vorderste D-Flipflop 402-(N-1) angelegt.
D.h., das Exklusiv-ODER-Glied 404 gibt einen logischen
Wert 0 in das vorderste D-Flipflop 402-(N-1) ein, wenn der logische Wert
des von dem letzten D-Flipflop 402-0 ausgegebenen
Signals kontinuierlich einen selben Wert hält, und gibt einen logischen
Wert 1 ein, wenn der Wert verschieden ist. Durch eine derartige
Konfiguration gibt das letzte D-Flipflop 402-0 die Pseudozufalls-Musterfolge
als das gemessene Datensignal aus.
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Die
von den N D-Flipflops 402 erzeugte Pseudozufalls-Musterfolge wird
nachfolgend als N Bit-Pseudozufalls-Musterfolge bezeichnet. Die N Bit-Pseudozufalls-Musterfolge ist ein
Signal, bei dem eine Anzahl von Datenstücken in einer einzelnen Musterfolge
gleich (2^N)-1 ist und das ein derartiges Muster wiederholt. Eine
Anzahl von Datenübergängen in
einer einzelnen Musterfolge ist bestimmt durch 2^(N-1) in der N
Bit-Pseudozufalls-Musterfolge.
Beispielsweise ist in einer Pseudozufalls-Musterfolge aus drei Bits
eine Anzahl von Datenstücken
in einer einzelnen Musterfolge gleich 7 und eine Anzahl von Datenübergängen in
einer einzelnen Musterfolge ist vier. 19 zeigt
einen Fall, in welchem die geprüfte Vorrichtung 400 die
Dreibit-Pseudozufalls-Musterfolge erzeugt und Daten in einem einzelnen
Muster der Pseudozufalls-Musterfolge gleich 0100011 sind. Da das
Exklusiv-ODER-Glied 404 den logischen Wert 0 ausgibt, wenn
die aufeinander folgenden logischen Werte der Pseudozufalls- Musterfolge einander
identisch sind, und den logischen Wert 1 ausgibt, wenn die aufeinander
folgenden logischen Werte einander unterschiedlich sind, wie vorstehend
beschrieben ist, ergibt sich das Muster als 1100101.
-
Der
Erzeugungsabschnitt 80 für das komplementäre Datensignal
nach diesem Beispiel hat einen Koinzidenzdetektor 91 und
ein D-Flipflop 92. Der Koinzidenzdetektor 91 ist
eine Schaltung, die einen logischen Wert H ausgibt, wenn das von
dem Exklusiv-ODER-Glied 404 der geprüften Vorrichtung 400 ausgegebene
Signal mit dem von dem positiven Ausgangsanschluss Q des D-Flipflops 92 ausgegebenen Signal übereinstimmt.
Der Koinzidenzdetektor 91 kann ein so genanntes exklusives
NOR-Glied sein.
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Das
D-Flipflop 92 nimmt das von dem Koinzidenzdetektor 91 entsprechend
dem zu der geprüften
Vorrichtung 400 gegebenen Takt auf und gibt es aus. Der
Koinzidenzdetektor 91 invertiert das von dem D-Flipflop 92 ausgegebene
Signal und gibt es in das D-Flipflop 92 ein, wenn derselbe
logische Wert der Pseudozufalls-Musterfolge
erscheint. Daher hat das von dem D-Flipflop 13 ausgegeben Signal
Flanken zu Zeiten, zu denen der logische Wert der Pseudozufalls-Musterfolge
sich nicht ändert.
In dem in 19 gezeigten Beispiel wird das
Muster des komplementären
Datensignals 0001001.
-
Eine
derartige Konfiguration ermöglicht, dass
das komplementäre
Datensignal der Pseudozufalls-Musterfolge auf einfache Weise erzeugt
wird. Es hat auch den Vorteil, dass das komplementäre Datensignal
bereits mit der Pseudozufalls-Musterfolge synchronisiert ist.
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20 ist
ein Flussdiagramm, das eine beispielhafte Operation der Jittermessvorrichtung 40, die
in Verbindung mit 12 erläutert wurde, zeigt. Zuerst
gibt der erste Impulsgenerator 10-1 ein erstes Impulssignal
mit einer vorbestimmten Impulsbreite entsprechend Flanken des gemessenen
Datensignals in einem Erzeugungsschritt S310 für einen ersten Impuls aus.
Weiterhin erzeugt der zweite Impulsgenerator 10-2 ein zweites
Impulssignal mit einer vorbestimmten Impulsbreite entsprechend Flanken
des komplementären
Datensignals in einem Erzeugungsschritt S312 für einen zweiten Impuls. Hier
können der
erste und der zweite Impulserzeugungsschritt S310 und S312 nahezu
gleichzeitig durchgeführt werden.
Weiterhin kann in dem Erzeugungsschritt S312 für den zweiten Impuls der Erzeugungsabschnitt 80 für das komplementäre Datensignal
das komplementäre
Datensignal auf der Grundlage des gemessenen Datensignals erzeugen,
wie in Verbindung mit den 13 bis 19 erläutert ist.
-
Als
Nächstes
verschieben die erste und zweite Pegelverschiebungsschaltung 70-1 und 70-2 den
Signalpegel des ersten und des zweiten Impulssignals auf vorbestimmte
Pegel in einem Pegelverschiebungsschritt S314.
-
Dann
entfernen das erste und das zweite Filter 60-1 und 60-2 die
Trägerfrequenzkomponenten des
gemessenen Datensignals aus dem ersten und dem zweiten Impulssignal
in einem Filterschritt S316.
-
Als
Nächstes
integriert der Integrator 20 das erste und das zweite Impulssignal,
die jeweils von dem ersten und dem zweiten Filter 60-1 und 60-2 ausgegeben
wurden, in einem Integrationsschritt S318. In dem In tegrationsschritt
S318 kann der Synthetisierungsabschnitt 90 das erste und
das zweite Impulssignal synthetisieren und zu dem Integrator 20 ausgeben.
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Die
Jitterberechnungsvorrichtung 30 berechnet das Jitter in
dem gemessenen Datensignal in einem Jitterberechnungsschritt S320.
In dem Schritt S320 kann die Jitterberechnungsvorrichtung 30 Periodenjitter
oder Zeitjitter in dem gemessenen Signal berechnen. Der Integrationsschritt
S318 kann für
die Berechnung des Periodenjitters weggelassen werden. Weiterhin
kann der Pegelverschiebungsschritt S314 als ein Nachvorgang, der
hinter dem Filterschritt S316 durchgeführt wird, gesetzt werden.
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21 ist
ein Diagramm, das eine beispielhafte Konfiguration der gemessenen
Vorrichtung 400 zeigt. Die gemessene Vorrichtung 400 bei
diesem Beispiel ist eine Halbleiterschaltung oder dergleichen, die
beispielsweise für
die Datenkommunikation verwendet wird, und hat eine interne Schaltung 410 und
eine Jittermessschaltung 40.
-
Die
interne Schaltung 410 ist eine Schaltung, die arbeitet,
während
die gemessene Vorrichtung 400 normalerweise arbeitet, und
gibt ein Taktsignal, ein Datensignal oder dergleichen nach außen aus. Die
Jittermessschaltung 40 kann dieselbe oder eine ähnliche
Funktion und Struktur wie die in Verbindung mit den 4 bis 20 erläuterte Jittermessvorrichtung 40 haben.
Weiterhin braucht die Jittermessschaltung 40 nicht notwendigerweise
die Jitterberechnungsvorrichtung 30 aufzuweisen.
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Die
Jittermessschaltung 40 misst das Taktsignal oder Datensignal,
das von der internen Schaltung 410 aus gegeben wurde, d.h.
eine In-situ-Messung wird durchgeführt. Weiterhin kann die Jittermessschaltung 40 das
gemessene Ergebnis nach außen
wie zu einer Prüfvorrichtung
ausgeben. Wenn die Jittermessschaltung 40 die Jitterberechnungsvorrichtung 30 nicht
aufweist, kann die externe Prüfvorrichtung
oder dergleichen die Jitterberechnungsvorrichtung 30 aufweisen.
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Obgleich
die Erfindung im Wege der Ausführungsbeispiele
beschrieben wurde, ist darauf hinzuweisen, dass der Fachmann viele Änderungen
und Substitutionen durchführen
kann, ohne den Geist und den Bereich der Erfindung zu verlassen.
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Es
ist aus der Definition der angefügten
Ansprüche
offensichtlich, dass die Ausführungsbeispiele
mit derartigen Modifikationen ebenfalls zu dem Bereich der Erfindung
gehören.
-
Wie
aus der vorstehenden Beschreibung ersichtlich ist, kann gemäß der Erfindung
die Jitterkomponente gemessen werden, ohne die unnötigen Komponenten
wie die Dreieckwellenkomponente zu messen. Demgemäß ermöglicht die
Erfindung, dass das Jitter genau berechnet werden kann.