DE10163274A1

DE10163274A1 - IC-Messvorrichtung

Info

Publication number: DE10163274A1
Application number: DE10163274A
Authority: DE
Inventors: Toshiyuki Ohtaki; Mitsuro Kondo
Original assignee: Ando Electric Co Ltd
Current assignee: Ando Electric Co Ltd
Priority date: 2000-12-27
Filing date: 2001-12-21
Publication date: 2003-05-15
Anticipated expiration: 2021-12-22
Also published as: JP2002196054A; US6892333B2; DE10163274B4; US20020079917A1

Abstract

Eine IC-Messvorrichtung, gebildet aus einem ersten Zeitgabegenerator zum Ausgeben eines Paars von Beurteilungsstrobeimpulsen; einem Flankendetektor zum Erfassen der Zustände eines Datenstrobesignals an zwei Zeitpunkten innerhalb eines Testzyklus auf der Grundlage des Paars von Beurteilungsstrobeimpulsen; einem zweiten Zeitgabegenerator zum Ausgeben eines Paars von Beurteilungsstrobeimpulsen; einem zweiten Flankendetektor zum Erfassen der Zustände von Daten an zwei Zeitpunkten innerhalb eines Testzyklus auf der Grundlage des Paars von Beurteilungsstrobeimpulsen; und einem Beurteilungsabschnitt zum Bestimmen einer Annahme/Ablehnung der Zeitgabe der Daten mit Bezug auf das Datenstrobesignal auf der Grundlage der Zustände der Daten und der Zustände des Datenstrobesignals.

Description

HINTERGRUND DER ERFINDUNG

1. Gebiet der Erfindung

Die vorliegende Erfindung betrifft eine IC-Messvorrichtung zum Testen eines IC (insbesondere eines IC mit einem Datenstrobesignal).

2. Beschreibung des Standes der Technik

Fig. 5 ist ein Blockdiagramm, welches den Aufbau einer IC- Messvorrichtung des Standes der Technik darstellt. Fig. 6 ist ein Impulsdiagramm, welches die Wirkungsweise der IC- Messvorrichtung darstellt. Zuerst liefert eine IC- Messvorrichtung (A1) ein Taktsignal (CK1) an ein IC (B1), welches zu messen ist. So wird das IC (B1), welches zu messen ist, in Synchronität mit einem Testzyklus (TC1) mit einer dem Taktsignal (CK1) entsprechenden Periode betrieben.

Die Ausgangszeitgabe, zu welcher ein Datenstrobesignal (DCK1) von dem zu messenden IC (B1) ausgegeben wird, wird einer Flankensuchschaltung (E11) in einem logischen Komparator (CMP11) über einen Spannungskomparator (V11) in der IC- Messvorrichtung (A1) zugeführt. Die Flankensuchschaltung (E11) speichert das Datenstrobesignal (DCK1) zu der Zeitgabe eines Beurteilungsstrobeimpulses (S11), welches von einem Zeitgabegenerator (TG11) ausgegeben wird, zwischen. Die Zeitgabe der Flanke des Beurteilungsstrobeimpulses (S11), ausgegeben von dem Zeitgabegenerator (TG11), wird in jedem Testzyklus (TC1) innerhalb eines Bereichs zwischen einem Zeitpunkt T21 und einem Zeitpunkt T22 n-mal geändert. Das heißt, es ist eine Zeit entsprechend n Zyklen des Testzyklus (TC1) erforderlich zum n-maligen Ändern der Zeitgabe.

Der logische Komparator (CMP11) speichert den Zustand des Datenstrobesignals (DCK1) zu einer Zeitgabe der Flanke des Beurteilungsstrobeimpulses (S11) zwischen und vergleicht den Zustand des Datenstrobesignals (DCK1) mit einem erwarteten Wert (K11). Das heißt, der Zustand des Datenstrobesignals (DCK1) wird zwischengespeichert und mit dem erwarteten Wert (K11) verglichen, während die Zeitgabe der Flanke des Beurteilungsstrobeimpulses (S11) n-mal geändert wird. So wird die Zeitgabe, zu welcher die Flanke des Datenstrobesignals (DCK1) ausgegeben wird, erfasst, das heißt, es wird ein Intervall zwischen einem Zeitpunkt T11, zu welchem die vordere Flanke des Taktimpulses (CK1) ausgegeben wird, und einem Zeitpunkt, zu welchem die Flanke des Datenstrobesignals (DCK1) ausgegeben wird, erfasst. In ähnlicher Weise wird, während die Zeitgabe der Flanke eines Beurteilungsstrobesignals (S12) geändert wird, die Zeitgabe, zu welcher die Flanke von Daten (D11) ausgegeben wird, erfasst, das heißt, es wird ein Intervall zwischen dem Zeitpunkt T11, zu welchem die vordere Flanke des Taktsignals (CK1) ausgegeben wird, und einem Zeitpunkt, zu welchem die Flanke der Daten (D11) ausgegeben wird, erfasst. Anschließend wird eine Differenz zwischen den beiden Intervallen erhalten, und es wird ein PASSIEREN/SCHEITERN des gemessenen IC (B1) beurteilt.

Bei dem oben beschriebenen Stand der Technik muß der Vorgang eines Zwischenspeicherns eines Zustands des Datenstrobesignals (DCK1) zu der Zeitgabe der Flanke des Beurteilungsstrobesignals (S11) und eines Vergleichens des Zustands des Datenstrobesignals (DCK1) mit dem erwarteten Wert (K11) n-mal wiederholt werden, um die Zeitgabe zu erfassen, zu welcher die Flanke des Datenstrobesignals (DCK1) ausgegeben wird.

In ähnlicher Weise muß der Vorgang eines Zwischenspeicherns des Zustands der Daten (D11) zu der Zeitgabe der Flanke des Beurteilungsstrobeimpulses (S12) und eines Vergleichens des Zustands der Daten (D11) mit einem erwarteten Wert (K12) n-mal wiederholt werden, um die Zeitgabe zu erfassen, zu welcher die Flanke der Daten (D11) ausgegeben wird.

Ferner muß, wenn Daten von dem IC (B1), welches zu messen ist, nicht nur die Daten (D11), sondern eine Vielzahl von Daten, beispielsweise Daten (D11), Daten (D12), . . ., enthalten, der oben erwähnte Vergleichsvorgang in Übereinstimmung mit der Anzahl von Daten n-mal wiederholt werden, um die jeweiligen Zeitgaben der Daten zu erfassen. Das heißt, wenn die Anzahl der Daten gleich k ist, so muß der oben erwähnte Vorgang eines Speicherns und Vergleichens kXn-mal wiederholt werden.

Das heißt, bei dem oben erwähnten Stand der Technik existiert das Problem, dass die Messung der Zeitgabe, zu welcher das zu messende IC (B1) zu messende Daten (Datenstrobesignal bzw. Daten), ausgibt, viel Zeit erfordert.

Außerdem kann bei dem Stand der Technik, wenn das Datenstrobesignal (DCK1) bzw. die Daten (D11) sich in jedem Testzyklus (TC11) ändern, eine Schlussfolgerung nur dann gezogen werden, wenn das Datenstrobesignal (DCK1) bzw. die Daten (D11) die langsamsten sind, und eine Schlussfolgerung kann nicht für jeden Testzyklus gezogen werden.

ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG

Die vorliegende Erfindung wurde gemacht, um die oben erwähnten Probleme zu lösen. Es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine IC-Messvorrichtung zu schaffen, bei welcher es nicht viel Zeit erfordert, die Zeitgabe zu messen, zu welcher ein zu messendes IC (B1) zu messende Daten (ein Datenstrobesignal bzw. Daten) ausgibt.

Gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung ist eine IC-Messvorrichtung zum Bestimmen einer Annahme/Ablehnung einer Zeitgabe zwischen einem Datenstrobesignal und Daten, welche von einem zu messenden IC ausgegeben werden, vorgesehen, umfassend:
einen ersten Zeitgabegenerator zum Ausgeben eines Paars von Beurteilungsstrobeimpulsen, welche hinsichtlich des Zeitpunkts verschieden sind, jedoch synchron mit einem Testzyklus der IC- Messvorrichtung sind; einen ersten Flankendetektor zum Erfassen von Zuständen des Datenstrobesignals an zwei Zeitpunkten innerhalb eines Testzyklus auf der Grundlage des Paars von Beurteilungsstrobeimpulsen, welche hinsichtlich des Zeitpunkts verschieden sind und durch den ersten Zeitgabegenerator geliefert werden; einen zweiten Zeitgabegenerator zum Ausgeben eines Paars von Beurteilungsstrobeimpulsen, welche hinsichtlich des Zeitpunkts verschieden sind, jedoch synchron mit einem Testzyklus der IC-Messvorrichtung sind; einen zweiten Flankendetektor zum Erfassen von Zuständen der Daten an zwei Zeitpunkten innerhalb eines Testzyklus auf der Grundlage des Paars von Beurteilungsstrobeimpulsen, welche hinsichtlich des Zeitpunkts verschieden sind und durch den zweiten Zeitgabegenerator geliefert werden; und einen Beurteilungsabschnitt zum Bestimmen einer Annahme/Ablehnung einer Zeitgabe der Daten mit Bezug auf das Datenstrobesignal auf der Grundlage der Zustände der durch den zweiten Flankendetektor erfassten Daten und der Zustände des durch den ersten Flankendetektor erfassten Datenstrobesignals.

Gemäß einem weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung sind ein Zeitintervall zwischen dem Paar von Beurteilungsstrobeimpulsen, ausgegeben von dem ersten Zeitgabegenerator, und ein Zeitintervall zwischen dem Paar von Beurteilungsstrobeimpulsen, ausgegeben von dem zweiten Zeitgabegenerator, jeweils in Übereinstimmung mit Standards des zu messenden IC festgelegt.

Gemäß einem weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung ist eine Beziehung in Übereinstimmung mit den Standards des zu messenden IC zwischen einer Zeitgabe, zu welcher der erste Zeitgabegenerator jeden der Beurteilungsstrobeimpulse ausgibt, und einer Zeitgabe, zu welcher der zweite Zeitgabegenerator einen entsprechenden der Beurteilungsstrobeimpulse ausgibt, hergestellt.

Gemäß einem weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung umfasst die IC-Messvorrichtung: eine Vielzahl von Schaltungsblöcken, welche jeweils den zweiten Zeitgabegenerator, den zweiten Flankendetektor und den Beurteilungsabschnitt aufweisen.

Gemäß einem weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung ist eine Beziehung in Übereinstimmung mit den Standards des zu messenden IC unter Beurteilungsstrobeimpulsen, ausgegeben von dem zweiten Zeitgabegeneratoren, welche in den Schaltungsblöcken enthalten sind, hergestellt.

Gemäß der vorliegenden Erfindung werden, wenn ein Paar von Beurteilungsstrobeimpulsen von dem Zeitgabegenerator ausgegeben werden, die Zustände von Daten (Datenstrobesignal bzw. Daten), welche zu messen sind, zu zwei Zeitgaben erfasst.

KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNG

Fig. 1 ist ein Blockdiagramm, welches den Aufbau einer IC-Messvorrichtung (A2) gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung darstellt.
Fig. 2 ist eine Tabelle, welche die Beziehung zwischen einem Eingang und einem Ausgang bei einer Beurteilungssteuerschaltung (J22) darstellt.
Fig. 3 ist ein Impulsdiagramm, welches die Wirkungsweise der IC-Messvorrichtung (A2) gemäß dem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung darstellt.
Fig. 4 ist eine Tabelle, welche die Beurteilungsergebnisse der Zeitgaben von Daten (D21 und D22) mit Bezug auf ein Datenstrobesignal (DCK2) in Perioden A und B, dargestellt in Fig. 3, darstellt.
Fig. 5 ist ein Blockdiagramm, welches den Aufbau einer IC-Messvorrichtung des Standes der Technik darstellt.
Fig. 6 ist ein Impulsdiagramm, welches die Wirkungsweise der IC-Messvorrichtung des Standes der Technik darstellt.

KURZE BESCHREIBUNG DER VORLIEGENDEN ERFINDUNG

Fig. 1 ist ein Blockdiagramm, welches den Aufbau einer IC-Messvorrichtung (A2) gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung darstellt. Wenn die IC-Messvorrichtung (A2) ein Taktsignals (CK2) an ein IC (B2), welches zu messen ist, sendet, so gibt das IC (B2), welches zu messen ist, ein Datenstrobesignal (DCK2), Daten (D21), Daten (D22), . . ., und Daten (Dx) aus. Das Datenstrobesignal (DCK2), die Daten (D21), die Daten (D22), . . ., und die Daten (Dx), ausgegeben von dem IC (B2), welches zu messen ist, werden wieder der IC- Messvorrichtung (A2) zugeführt.
Das Datenstrobesignal (DCK2), ausgegeben von dem zu messenden IC (B2), wird einer Flankensuchschaltung (E21) in einem logischen Komparator (CMP21) über einen Spannungskomparator (V21) der IC-Messvorrichtung (A2) zugeführt. Zwei Systeme von Beurteilungsstrobeimpulsen (S21), ausgegeben von einem Zeitgabegenerator (TG21) werden ebenfalls der Flankensuchschaltung (E21) zugeführt. Das heißt, die Beurteilungsstrobeimpulse (S21) sind gebildet aus zwei Systemen eines Beurteilungsstrobeimpulses (S21-1) und eines Beurteilungsstrobimpulses (S21-2). Ferner gibt die Flankensuchschaltung (E21) ein Zwei-Bit- Flankenbeurteilungsergebnis (R21) aus. Das heißt, das Flankenbeurteilungsergebnis (R21) ist gebildet aus einem Flankenbeurteilungsergebnis (R21-1) und einem Flankenbeurteilungsergebnis (R21-2).
Die Daten (D21), ausgegeben von dem zu messenden IC (B2) werden einer Flankensuchschaltung (E22) in einem logischen Komparator (CMP22) über einen Spannungskomparator (V22) in der IC-Messvorrichtung (A2) zugeführt. Zwei Systeme von Beurteilungsstrobeimpulsen (522), ausgegeben von einem Zeitgabegenerator (TG22), werden ebenfalls der Flankensuchschaltung (E22) zugeführt. Das heißt, die Beurteilungsstrobeimpulse (S22) sind gebildet aus zwei Systemen eines Beurteilungsstrobeimpulses (S22-1) und eines Beurteilungsstrobeimpulses (S22-2). Ferner gibt die Flankensuchschaltung (E22) ein Zwei-Bit- Flankenbeurteilungsergebnis (R22) aus. Das heißt, das Flankenbeurteilungsergebnis (R22) ist gebildet aus einem Flankenbeurteilungsergebnis (R22-1) und einem Flankenbeurteilungsergebnis (R22-2).
Das Flankenbeurteilungsergebnis (R22) wird einer Beurteilungssteuerschaltung (J22) zugeführt. Das Flankenbeurteilungsergebnis (R21) wird ebenfalls der Beurteilungssteuerschaltung (J22) zugeführt. Ferner gibt die Beurteilungssteuerschaltung (J22) eine PASSIEREN/SCHEITERN- Beurteilung (P22) aus. Die ausgegebene PASSIEREN/SCHEITERN- Beurteilung wird einer CPU (C2) zugeführt.
Die Daten (D22), ausgegeben von dem zu messenden IC (B2) werden einer Flankensuchschaltung (E23) in einem logischen Komparator (CMP23) über einen Spannungskomparator (V23) in der IC-Messvorrichtung (A2) zugeführt. Zwei Systeme von Beurteilungsstrobeimpulsen (S23), ausgegeben von einem Zeitgabegenerator (TG23), werden ebenfalls der Flankensuchschaltung (E23) zugeführt. Das heißt, die Beurteilungsstrobeimpulse (S23) sind gebildet aus zwei Systemen eines Beurteilungsstrobeimpulses (S23-1) und eines Beurteilungsstrobeimpulses (S23-2). Ferner gibt die Flankensuchschaltung (E23) ein Zwei-Bit- Flankenbeurteilungsergebnis (R23) aus. Das heißt, das Flankenbeurteilungsergebnis (R23) ist gebildet aus einem Flankenbeurteilungsergebnis (R23-1) und einem Flankenbeurteilungsergebnis (R23-2).
Das Flankenbeurteilungsergebnis (R23) wird einer Beurteilungssteuerschaltung (J23) zugeführt. Das Flankenbeurteilungsergebnis (R21) wird ferner der Beurteilungssteuerschaltung (J23) zugeführt. Ferner gibt die Beuerteilungssteuerschaltung (J23) eine PASSIEREN/SCHEITERN- Beurteilung (P23) aus. Die ausgegebene PASSIEREN/SCHEITERN- Beuerteilung (P23) wird einer CPU (C2) zugeführt.
Die gleichen Regeln werden auf die Daten (D23, D24, . . ., Dx), ausgegeben von dem zu messenden IC (B2), angewandt.
Fig. 2 ist eine Tabelle, welche die Beziehung zwischen einem Eingang und einem Ausgang der Beurteilungssteuerschaltung (J22) darstellt. Ferner werden die gleichen Regeln auf die Beziehungen zwischen Eingang und Ausgang der Beurteilungssteuerschaltungen (J23, J24, . . ., Jx) angewandt.
Die Beurteilungssteuerschaltung (J22) empfängt die Flankenbeurteilungsergebnisse (R21-1 und R22-2) des Datenstrobesignals (DCK2) und die Flankenbeurteilungsergebnisse (R22-1 und R22-2) der Daten D21 und gibt die PASSIEREN- SCHEITERN-Beurteilung (P22) aus. Beispielsweise ist, wenn das Flankenbeurteilungsergebnis (R21-1) HIGH ist, das Flankenbeurteilungsergebnis (R21-2) LOW ist, das Flankenbeurteilungsergebnis (R22-2) HIGH ist, die PASSIEREN/SCHEITERN-Beurteilung (P22) SCHEITERN (HIGH).
Fig. 3 ist ein Impulsdiagramm, welches die Wirkungsweise der IC-Messvorrichtung (A2) des vorliegenden Ausführungsbeispiels darstellt. Wenn die IC-Messvorrichtung (A2) ein Taktsignal (CK2) an das zu messende IC (B2) sendet, so gibt das zu messende IC (B2) ein Datenstrobesignal (DCK2), Daten (D21), Daten (D22), . . ., und Daten (Dx) aus. Das Datenstrobesignal (DCK2), die Daten (D21), die Daten (D22), und die Daten (Dx), ausgegeben von dem zu messenden IC (B2), werden wieder der IC-Messvorrichtung (A2) zugeführt. Die Zeitgaben, zu welchen die vorderen Flanken des Datenstrobesignals (DCK2), der Daten (D21), der Daten (D22), . . ., und der Daten (Dx) ausgegeben werden, ändern sich innerhalb des Testzyklus (TC2).
Zuerst wird der Vorgang eines Messens der Zeitgabe des Datenstrobesignals (DCK2) beschrieben. Das Datenstrobesignal (DCK2), ausgeben von dem zu messenden IC (B2), wird von der Flankensuchschaltung (E21) des logischen Komparators (CMP21) über dem Spannungskomparator (V21) in der IC-Messvorrichtung (A2) abgerufen.
Die Zeitgaben der vorderen Flanken der Beurteilungsstrobeimpulse (S21-1 und S21-2), welche die beiden Systeme von Beurteilungsstrobeimpulsen (S21) bilden, die von dem Zeitgabegenerator (TG21) an die Flankensuchschaltung (E21) geliefert werden, sind auf Zeitpunkte T41 bzw. T42 innerhalb des Testzyklus (TC2) in einer Periode A festgelegt. Die Zeitdifferenz zwischen den Zeitpunkten T41 und T42 ist innerhalb eines zulässigen Bereichs (Standard) der Zeitgabe der vorderen Flanke des Datenstrobesignals (DCK2) festgelegt.
Ferner sind die Zeitgaben der vorderen Flanken der Beurteilungsstrobeimpulse (S21-1 und S21-2) in jedem Testzyklus (TC2) leicht gegeneinander verschoben, während die vordere Flanke des Datenstrobesignals (DCK2) zwischen den vorderen Flanken des Paars der Beurteilungsstrobeimpulse (S21-1 und S21- 2) eingeschlossen ist. Die in Fig. 3 dargestellte Periode A liefert einen Zustand, in welchem die vordere Flanke des Datenstrobesignals (DCK2) zwischen den vorderen Flanken des Paars der Beurteilungsstrobeimpulse (S21-1 und S21-2) eingeschlossen ist. Hingegen liefert eine Periode B einen Zustand, in welchem die vordere Flanke des Datenstrobesignals (DCK2) nicht eingeschlossen wurde.
Ein spezifischer Vorgang eines derartigen Einschließens wird nachfolgend beschrieben. Die Flankensuchschaltung (E21) empfängt eine Datenstrobesignal (DCK2), welches ein Messgegenstand ist, und ein Paar von Beurteilungsstrobeimpulsen (S21-1 und S21-2). Ferner wird, wenn die vordere Flanke des Beurteilungsstrobeimpulses (S21-1) erfasst wird, der Umkehrpegel des Datenstrobesignals (DCK2) mit dem Beurteilungsstrobeimpuls (S21-1) abgetastet und als ein Flankenbeurteilungsergebnis (R21-1) ausgegeben. Hingegen wird, wenn die vordere Flanke des Beurteilungsstrobeimpulses (S21-2) erfasst wird, der Umkehrpegel des Datenstrobesignals (DCK2) mit dem Beurteilungsstrobeimpuls (S21-2) abgetastet und als ein Flankenbeurteilungsergebnis (R21-2) ausgegeben.
Beispielsweise nimmt, da der Zustand des Datenstrobesignals (DCK2) einen LOW-Pegel an der vorderen Flanke des Beurteilungsstrobeimpulses (S21-1) zu einem Zeitpunkt T41 aufweist, das Flankenbeurteilungsergebnis (R21-1) einen HIGH-Pegel an.
Ferner nimmt, da der Zustand des Datenstrobesignals (DCK2) einen HIGH-Pegel an der vorderen Flanke des Beurteilungsstrobeimpulses (S21-2) zu einem Zeitpunkt T44 aufweist, das Flankenbeurteilungsergebnis (R21-2) einen LOW- Pegel an.
Die Flankensuchschaltung (E21) führt den oben erwähnten Vorgang aus, während eine Verschiebung der Zeitgaben für die vorderen Flanken des Paars von Beurteilungsstrobeimpulsen (S21- 1 und S21-2) ohne Ändern der Zeitdifferenz zwischen den vorderen Flanken der Beurteilungsstrobeimpulse (S21-1 und S21- 2) erfolgt. Die Flankensuchschaltung (E21) sucht eine Zeitgabe, zu welcher das Flankenbeurteilungsergebnis (R21-1) einen HIGH- Pegel annimmt und das Flankenbeurteilungsergebnis (R21-2) einen LOW-Pegel annimmt.
Genauer wird, wenn der logische Komparator (CMP21) die Flankenbeurteilungsergebnisse (R21-1 und R21-2) erfasst und die Flankenbeurteilungsergebnisse (R21-1 und R21-2) einen HIGH- Pegel bzw. einen LOW-Pegel annehmen, die PASSIEREN/SCHEITERN- Beurteilung (P21), welche der CPU (C2) zuzuführen ist, auf PASSIEREN (LOW-Pegel) gesetzt. Ferner wird in anderen Fällen die PASSIEREN/SCHEITERN-Beurteilung (P21) auf SCHEITERN (HIGH- Pegel) gesetzt.
Die Wirkungsweise der Flankensuchschaltung (E22), welche die Daten (D21) empfängt, ist ähnlich der Wirkungsweise der Flankensuchschaltung (E21). Jedoch ist eine vorbestimmte Beziehung in Abhängigkeit von den Standards des zu messenden IC (B2) zwischen der Zeitgabe der Beurteilungsstrobeimpulse (S21), welche der Flankensuchschaltung (E21) zugeführt werden, und der Zeitgabe der Beurteilungsstrobeimpulse (S22), welche der Flankensuchschaltung (E22) zugeführt werden, festgelegt.
Die Flankenbeurteilungsergebnisse (R22-1 und R22-2), ausgegeben von der Flankensuchschaltung (E22), werden der Beurteilungssteuerschaltung (J22) zugeführt. Die oben erwähnten Flankenbeurteilungsergebnisse (R21-1 und R21-2) werden ebenfalls der Beurteilungssteuerschaltung (J22) zugeführt. Auf der Grundlage dieser vier Eingangssignale beurteilt die Beurteilungssteuerschaltung (J22), ob die Zeitgabe der vorderen Flanke der Daten (D21) mit Bezug auf die vordere Flanke des Datenstrobesignals (DCK2) innerhalb eines zulässigen Bereichs (Standard) liegt oder nicht. Ferner gibt die Beurteilungssteuerschaltung (J22) eine PASSIEREN/SCHEITERN- Beurteilung (P22) an die CPU (C2) aus. Fig. 2 zeigt die Beziehung zwischen Eingang und Ausgang der Beurteilungssteuerschaltung (J22).
Wie in Fig. 2 dargestellt, nimmt die PASSIEREN/SCHEITERN- Beurteilung (P22) PASSIEREN (LOW-Pegel) an, wenn das Flankenbeurteilungsergebnis (R21-1) einen HIGH-Pegel aufweist, das Flankenbeurteilungsergebnis (R21-2) einen LOW-Pegel aufweist, das Flankenbeurteilungsergebnis (R22-1) einen HIGH- Pegel aufweist, und das Flankenbeurteilungsergebnis (R22-2) einen LOW-Pegel aufweist.
In dem Fall, in welchem beide Flankenbeurteilungsergebnisse (R21-1 und R21-2) einen HIGH- Pegel aufweisen, bzw. in dem Fall, in welchem beide Flankenbeurteilungsergebnisse (R21-1 und R21-2) einen LOW-Pegel aufweisen, nimmt die PASSIEREN/SCHEITERN-Beurteilung (P22) PASSIEREN (LOW-Pegel) an, obwohl der Zustand auftritt, in welchem das Datenstrobesignal (DCK2) nicht eingeschlossen wurde. Jedoch nimmt in diesen beiden Fällen die oben erwähnte PASSIEREN/SCHEITERN-Beurteilung (P22) SCHEITERN (HIGH-Pegel) an. Dementsprechend kann die CPU (C2) den Zustand erkennen, in welchem das Datenstrobesignal (DCK2) nicht eingeschlossen wurde.
In jedem beliebigen anderen Fall, welcher von den oben erwähnten drei Fällen verschieden ist, nimmt die PASSIEREN/SCHEITERN-Beurteilung (P22) SCHEITERN (HIGH-Pegel) an. Das heißt, es sei angenommen, dass der Fall, in welchem das Flankenbeurteilungsergebnis (R21-1) einen HIGH-Pegel aufweist, das Flankenbeurteilungsergebnis (R21-2) einen LOW-Pegel aufweist, das Flankenbeurteilungsergebnis (R22-1) einen HIGH- Pegel aufweist, und das Flankenbeurteilungsergebnis (R22-2) einen LOW-Pegel aufweist, ein erster Fall ist; der Fall, bei welchem beide Flankenbeurteilungsergebnisse (R21-1 und R21-2) einen HIGH-Pegel aufweisen, ein zweiter Fall ist; und der Fall, in welchem beide Flankenbeurteilungsergebnisse (R21-1 und R21- 2) einen LOW-Pegel aufweisen, ein dritter Fall ist. Dann nimmt in jedem beliebigen Fall, welcher von dem ersten, zweiten und dritten Fall verschieden ist, die PASSIEREN/SCHEITERN- Beurteilung (P22) SCHEITERN (HIGH-Pegel) an.
Ferner sind die Wirkungsweisen der Flankensuchschaltungen (E23, E24, . . ., Ex) und die Beurteilungssteuerschaltungen (J23, J24, . . ., Jx) den Wirkungsweisen der Flankensuchschaltung (E22) und der Beurteilungssteuerschaltung (J22) ähnlich.
Fig. 4 ist eine Tabelle, welche die Beurteilungsergebnisse der Zeitgaben der Daten (D21 und D22) mit Bezug auf das Datenstrobesignal (DCK2), das heißt, die PASSIEREN/SCHEITERN- Beurteilungen (P22 und P23), in den Perioden A und B, dargestellt in Fig. 3, darstellt.
Beispielsweise nimmt, was die Daten (D21) in der Periode A anbelangt, die PASSIEREN/SCHEITERN-Beurteilung (P22) PASSIEREN (LOW-Pegel) an, da das Flankenbeurteilungsergebnis (R21-1) des Datenstrobesignals (DCK2) einen HIGH-Pegel aufweist, das Flankenbeurteilungsergebnis (R21-2) des Datenstrobesignals (DCK2) einen LOW-Pegel aufweist, das Flankenbeurteilungsergebnis (R22-1) der Daten (D21) einen HIGH- Pegel aufweist, und das Flankenbeurteilungsergebnis (R22-2) der Daten (D21) einen LOW-Pegel aufweist.
Ferner nimmt, was die Daten (D22) in der Periode A anbelangt, die PASSIEREN/SCHEITERN-Beurteilung (P23) SCHEITERN (HIGH-Pegel) an, da das Flankenbeurteilungsergebnis (R21-1) des Datenstrobesignals (DCK2) einen HIGH-Pegel aufweist, das Flankenbeurteilungsergebnis (R21-2) des Datenstrobesignals (DCK2) einen LOW-Pegel aufweist, das Flankenbeurteilungsergebnis (R23-1) der Daten (D22) einen HIGH- Pegel aufweist, und das Flankenbeurteilungsergebnis (R23-2) der Daten (D22) einen HIGH-Pegel aufweist.
Gemäß der oben erwähnten Wirkungsweise erfolgt eine Beurteilung innerhalb eines Testzyklus dahingehend, ob die Zeitgaben der Daten (D21, D22,, . . ., Dx) mit Bezug auf das Datenstrobesignal (DCK2) innerhalb eines zulässigen Bereichs (Standard) liegen oder nicht.
Ferner können auch Zeitgaben, welche nicht in Bezug zu dem Datenstrobesignal (DCK2) stehen, jedoch in Bezug zu dem Beurteilungsstrobeimpuls (S21-1 oder ähnlichem) stehen, beurteilt werden. Beispielsweise können auch Zeitgaben, welche in Bezug zu dem Zeitpunkt T41 der vorderen Flanke des Beurteilungsstrobeimpulses (S21-1) stehen, beurteilt werden.
Außerdem können, wenn die Zeitgaben der Beurteilungsstrobeimpulse (S22, S23, . . ., Sx) relativ zueinander derart festgelegt werden, dass sie eine vorbestimmte Beziehung in Abhängigkeit von den Standards des zu messenden IC (B2) aufweisen, die Zeitgaben der Daten (D21, D22, . . ., Dx) gleichzeitig beurteilt werden.
Erfindungsgemäß können, wenn die Zeitgabe der zu messende Daten (Datenstrobesignal bzw. Daten), welche von einem zu messenden IC (insbesondere einem IC mit dem Datenstrobesignal) ausgegeben werden, gemessen wird, die Zustände der gemessenen Daten an zwei Zeitpunkten in einem Testzyklus innerhalb einer Periode entsprechend einem Testzyklus erfasst werden. Daher kann die Zeitgabe der gemessenen Daten mit hoher Geschwindigkeit gemessen werden, so dass die Messzeit erheblich verkürzt werden kann.

Claims

1. IC-Messvorrichtung zum Bestimmen einer Annahme/Ablehnung einer Zeitgabe zwischen einem Datenstrobesignal und Daten, welche von einem zu messenden IC ausgegeben werden, wobei die IC-Messvorrichtung umfasst:
einen ersten Zeitgabegenerator zum Ausgeben eines Paars von Beurteilungsstrobeimpulsen, welche hinsichtlich des Zeitpunkts verschieden sind, jedoch synchron mit einem Testzyklus der IC-Messvorrichtung sind;
einen ersten Flankendetektor zum Erfassen von Zuständen des Datenstrobesignals an zwei Zeitpunkten innerhalb eines Testzyklus auf der Grundlage des Paars von Beurteilungsstrobeimpulsen, welche hinsichtlich des Zeitpunkts verschieden sind und durch den ersten Zeitgabegenerator geliefert werden;
einen zweiten Zeitgabegenerator zum Ausgeben eines Paars von Beurteilungsstrobeimpulsen, welche hinsichtlich des Zeitpunkts verschieden sind, jedoch synchron mit einem Testzyklus der IC-Messvorrichtung sind;
einen zweiten Flankendetektor zum Erfassen von Zuständen der Daten an zwei Zeitpunkten innerhalb eines Testzyklus auf der Grundlage des Paars von Beurteilungsstrobeimpulsen, welche hinsichtlich des Zeitpunkts verschieden sind und durch den zweiten Zeitgabegenerator geliefert werden; und
einen Beurteilungsabschnitt zum Bestimmen einer Annahme/Ablehnung einer Zeitgabe der Daten mit Bezug auf das Datenstrobesignal auf der Grundlage der Zustände der durch den zweiten Flankendetektor erfassten Daten und der Zustände des durch den ersten Flankendetektor erfassten Datenstrobesignals.

2. IC-Messvorrichtung nach Anspruch 1, wobei ein Zeitintervall zwischen dem Paar von Beurteilungsstrobeimpulsen, ausgegeben von dem ersten Zeitgabegenerator, und ein Zeitintervall zwischen dem Paar von Beurteilungsstrobeimpulsen, ausgegeben durch den zweiten Zeitgabegenerator, jeweils in Übereinstimmung mit den Standards des zu messenden IC festgelegt sind.

3. IC-Messvorrichtung nach Anspruch 1, wobei eine Beziehung in Übereinstimmung mit den Standards des zu messenden IC zwischen einer Zeitgabe, zu welcher der erste Zeitgabegenerator jeden der Beurteilungsstrobeimpulse ausgibt, und einer Zeitgabe, zu welcher der zweite Zeitgabegenerator einen entsprechenden der Beurteilungsstrobeimpulse ausgibt, festgelegt ist.

4. IC-Messvorrichtung nach Anspruch 1, umfassend:
eine Vielzahl von Schaltungsblöcken, welche jeweils den zweiten Zeitgabegenerator, den zweiten Flankendetektor und den Beurteilungsabschnitt aufweisen.

5. IC-Messvorrichtung nach Anspruch 4, wobei eine Beziehung in Übereinstimmung mit den Standards des zu messenden IC unter Beurteilungsstrobeimpulsen, ausgegeben von den zweiten Zeitgabegeneratoren, welche in den Schaltungsblöcken enthalten sind, festgelegt ist.