DE10085092B4 - Aufbereitungsvorrichtung für eine Polierscheibe und Verfahren zum Herstellen derselben - Google Patents

Aufbereitungsvorrichtung für eine Polierscheibe und Verfahren zum Herstellen derselben Download PDF

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Abstract

Eine Aufbereitungsvorrichtung für Polierscheiben, umfassend:
ein Substrat, welches ausgebildet wurde mit einer Vielzahl von regelmäßigen Vorsprüngen mit einer gleichförmigen Höhe auf wenigstens einer seiner Seiten, wobei die regelmäßigen Vorsprünge eine zylindrische oder rechtwinklige Form aufweisen und auf ihren oberen Oberflächen mit einer Vielzahl von gekreuzten Kerben, welche U- oder V-Formen aufweisen, ausgebildet sind, um kleinere regelmäßige Vorsprünge mit einer gleichförmigen Höhe auf den oberen Oberflächen der regelmäßigen Vorsprünge auszubilden; und
eine Diamantschicht mit einer gleichförmigen Dicke, welche durch Gasphasenabscheidung nach chemischem Verfahren auf der gesamten Oberfläche der Seite des Substrates geformt ist, welche die regelmäßigen Vorsprünge aufweist.

Description

  • Technisches Gebiet
  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Aufbereitungsvorrichtung für eine Polierscheibe (Schwabbelscheibe) und ein Verfahren zur Herstellung derselben und insbesondere auf eine Aufbereitungsvorrichtung für eine Polierscheibe, die verwendet wird in einem chemisch-mechanischen Polierverfahren (CMP), und ein Verfahren zum Herstellen derselben.
  • Technischer Hintergrund
  • Im allgemeinen wird chemisch-mechanisches Polieren weit verbreitet verwendet bei den Herstellungsverfahren von Halbleitervorrichtungen, um Wafer (Halbleiterscheiben) mit glatten und ebenen Oberflächen zu erhalten.
  • Typischerweise wird ein Wafer, der poliert werden soll, durch einen Träger gehalten, welcher auf einer Polierscheibe positioniert ist, angeschlossen über einer rotierenden Platte (nicht gezeigt). Dann wird durch Aufbringen von Schlamm auf die Scheibe und Druck auf den Träger der Wafer poliert durch relative Bewegungen der Platte und des Trägers. Eine herkömmliche Polierscheibe, die verwendet wird für ein chemisch-mechanisches Polierverfahren, umfasst im allgemeinen eine Vielzahl von feinen Bohrungen mit einem Durchmesser von 30 bis 70 m zum Erzeugen eines Pumpeffektes, wenn Druck auf die Polierscheibe angewendet wird, um eine hohe Abtragrate zu erreichen. Nach einem längeren Gebrauch nutzen sich die Bohrungen jedoch ab und werden abgelagert mit Politurrückständen, was eine unebene Oberfläche der Polierscheibe verursacht. Als ein Ergebnis nimmt ihre Fähigkeit Wafer zu polieren, mit der Zeit ab und die Effektivität des CMP-Verfahrens des Erreichens einer gleichförmigen ebenen Wafer-Oberfläche wird verkleinert.
  • Um die Polierleistung wiederzugewinnen und um die unebene Oberfläche der Polierscheiben zu kompensieren, wird ein Aufbereitungsverfahren, welches eine Aufbereitungsvorrichtung zum Entfernen der unebenen Oberfläche von den Polierscheiben verwendet, gewöhnlich implementiert durch ein CMP-Verfahren.
  • Die 1A bis 1C zeigen eine Struktur von einer Diamantaufbereitungsvorrichtung, welche verwendet wird für die Aufbereitung von Polierscheiben, welche hergestellt wird durch konventionelle galvanische Metallabscheidungsverfahren (electro-deposition). Solch eine Diamantaufbereitungsvorrichtung wird typischerweise hergestellt aus einer galvanisch behandelten (electro-plated) Diamantscheibe, in welcher Diamantpartikel 16 verstreut sind auf einen Körperbereich 10 aus rostfreiem Stahl und abgeschieden sind durch galvanische Metallabscheidung durch ein Verbindungsmetall 18, wie zum Beispiel Nickel, oder hergestellt aus einer hartgelöteten Diamantscheibe, in welcher Diamantpartikel 18 befestigt sind auf dem Körperbereich 10 durch Aufschmelzen des Verbindungsmetalls 18.
  • Die Aufbereitungseinrichtungen, welche hergestellt sind durch solch eine galvanische Metallabscheidung und Hartlötverfahren weisen jedoch Schneidoberflächen auf mit einer unebenen Höhe, welche verursacht wird durch unregelmäßige Verteilung und variierende Größen der Diamantpartikel 16, wie dargestellt durch einen Schneidbereich 12 in 1C. Insbesondere das Vorhandensein von Diamantpartikeln mit einer Durchmessergröße über dem Bereich von 150–250 m in der Schneidoberfläche der Aufbereitungsvorrichtung verursacht eine unwünschenswerte Oberflächenrauhigkeit.
  • Weiterhin ist, weil die Aufbereitungsvorrichtungen mit der obigen Struktur die Wafer polieren durch Herstellen eines Teilpunktkontaktes und wegen der stumpfen Schneidwinkel von Diamantpartikeln, die Schneideffizienz, welche durch solche Aufbereitungsvorrichtungen erreicht wird, niedrig. Daher ist es notwendig, um die Schneideffizienz zu verbessern, hohe Drücke anzuwenden in den herkömmlichen Aufbereitungsverfahren. Bei herkömmlichen Polierscheiben mit einer Dualscheibenstruktur, welche gewöhnlicherweise hergestellt sind aus einem Polyurethanmaterial, wird CMP ausgeführt in der Oberscheibe, während die Unterscheibe den Druck herstellt, welcher gefordert ist für das Aufbereitungsverfahren. Wenn der hohe Druck angewendet wird auf die Oberscheibe mittels der Aufbereitungsvorrichtung während des Aufbereitungsverfahrens, kann die Aufbereitung, aufgrund der Kompressiblität der Oberscheibe, nicht gleichmäßig ausgeführt werden. Daher wird das Erreichen einer flachen und geebneten Polierscheibenoberfläche zu einer schwierigen Aufgabe.
  • Weiterhin stellen die Aufbereitungsvorrichtungen, welche hergestellt sind durch galvanische Metallabscheidungs- und Hartlötverfahren, keine Kerben oder Rinnen zur Verfügung, zum Abführen von Partikeln von den Polierscheiben. Als Ergebnis lagern sich verbleibende Partikel ab und sammeln sich an auf der Oberfläche der Aufbereitungsvorrichtung, was weiterhin zu einer Verschlechterung der Aufbereitungseffektivität führt.
  • Gewöhnlicherweise kann das Aufbereitungsverfahren gleichzeitig mit dem CMP-Verfahren ausgeführt werden. Solche An-Ort-und-Stelle-Aufbereitungsverfahren (in situ) werden klassifiziert in Oxide oder Metall-CMP-Verfahren, anhand des Typs von Schlamm der verwendet wird für das Polierverfahren, welcher typischerweise zusammengesetzt ist aus Silika-, Aluminium- oder Zerdioxid(ceria)-Poliermaterialien. Der Schlamm, welcher für Oxide CMP verwendet wird, hat im allgemeinen einen pH-Wert von 10–12, während der Schlamm, welcher für Metall-CMP verwendet wird, einen pH-Wert von weniger als 4 aufweist, und das Verbindungsmetall 18, welches verwendet wird zum Befestigen der Diamantpartikel 16 auf der Schneidoberfläche der Aufbereitungsvorrichtung, ist Nickel, Chrom oder ein ähnliches Metall. Beim Implementieren eines in situ Verfahrens mit entweder Oxid- oder Metall-CMP-Aufbereitung, weil das Polierverfahren gleichzeitig ausgeführt wird mit dem Aufbereitungsverfahren, wird das Verbindungsmetall 18, welches die Diamantpartikel 16 hält, ebenso beeinflusst durch Schlamm, was in einer häufigen Ablösung von Diamantpartikeln 16 von der Oberfläche der Aufbereitungsvorrichtung resultiert. Weiterhin weist, in Metall-CMP-an-Ort-und-Stelle-Aufbereitungsverfahren, die stark saure Eigenschaft des Schlammes, welcher verwendet wird für das Verfahren, eine Tendenz zum Korrodieren des Verbindungsmetalls 18 auf, um seine Bindungswirkung zu schwächen, was letztendlich die Ablösung der Diamantpartikel 16 verursacht.
  • Die abgelösten Diamantpartikel 18 haften sich gewöhnlich an die Oberfläche der Polierscheiben und verursachen fatale Kratzer auf den Waferoberflächen während des Polierverfahrens, was hohe Fehlerraten bei dem Herstellungsprozess der Halbleiter verursacht. Konsequenterweise müssen die Polierscheiben häufig ausgetauscht werden.
  • Weiterhin hängen sich die Metallionen von dem erodierten Verbindungsmetall 18 beim Metall-CMP-an-Ort-und-Stelle-Aufbereitungsverfahren oft an die Metallleitungen der Wafer-Schaltkreise an, was Kurzschlüsse verursacht. Zusätzlich tragen die Metallionen von dem An-Ort-und-Stelle-Aufbereitungsverfahren wesentlich zu der Metallionen-Verunreinigung der Wafer bei, und, weil der resultierende Halbleiterschaden, welcher durch die Verunreinigung verursacht wird, in späteren Herstellungsstufen festgestellt wird, ist seine Auswirkung auf den Verlust, welcher durch die Fehler hervorgerufen wird, in der Industrie beachtlich.
  • US 5 536 202 beschreibt eine Aufbereitungsvorrichtung für Polierscheiben, die regelmäßige Profile auf der jeweiligen Arbeitsoberfläche des Werkzeuges besitzen. Jedes Substrat weist bestimmte geometrische Formen auf, zwischen denen V-förmige oder U-förmige Kerben vorgesehen sind. Die strukturierte Oberfläche ist dabei mit Siliziumcarbit oder mit einer Diamantschicht versehen.
  • JP 073 28 937 A beschreibt eine Aufbereitungsvorrichtung für Polierscheiben mit einer Vielzahl von Rillen, zwischen denen gleichmäßige Erhebungen vorliegen. Diese Arbeitsoberfläche läuft mittels CVD mit einer Siliziumcarbitschicht beziehungsweise mit einer Diamantschicht überzogen.
  • US 5 152 917 A beschreibt ebenfalls eine Aufbereitungsvorrichtung für Polierscheiben mit regelmäßigen Profilen auf der jeweiligen Arbeitsoberfläche des Werkzeuges.
  • JP 100 15 819 A beschreibt eine Aufbereitungsvorrichtung, bei der die Ränder des Substrates gegenüber dem Innenteil erhöht sind. Auf den Erhöhungen ist Schleifmaterial vorgesehen.
  • Offenbarung der Erfindung
  • Im Hinblick auf das Vorhergehende ist es eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Aufbereitungsvorrichtung für eine Polierscheibe zur Verfügung zu stellen, welche einen exzellenten und gleichförmigen Grad an Oberflächenrauhigkeit aufweist zum Verhindern von Defekten, welche verursacht werden durch die Ablösung von Diamantpartikeln und Metallionen- Verunreinigungen, und zum effektiven Aufbereiten der Polierscheiben ohne hohen Druck in chemisch-mechanischen Polierverfahren für die Halbleiter-Wafer.
  • Es ist eine zweite Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren zum Herstellen einer Aufbereitungseinrichtung für Polierscheiben darzustellen, welche die Charakteristiken und Funktionen der oben beschriebenen Aufbereitungseinrichtung aufweist.
  • Gemäß der vorliegenden Erfindung wird eine Aufbereitungsvorrichtung für Polierscheiben dargestellt, welche ein Substrat umfasst, das integral geformt wurde mit einer Vielzahl von regelmäßigen geometrischen Vorsprüngen in einer gleichförmigen Höhe auf wenigstens einer Seite des Substrates und einer Diamantschicht mit einer gleichförmigen Dicke, geformt im wesentlichen auf einer vollständigen Oberfläche der Substratseite, welche die regelmäßigen Vorsprünge aufweist.
  • Es ist bevorzugt, dass die obigen regelmäßigen Vorsprünge eine rechtwinklige oder zylindrische Form aufweisen und flache und ebene obere Oberflächen aufweisen. Optional können die oberen Oberflächen der regelmäßigen Vorsprünge eine Vielzahl von kleineren regelmäßigen Vorsprüngen aufweisen, die geformt sind durch ein Paar von diagonal gekreuzten Kerben mit U- oder V-Querschnittsformen oder durch eine Anzahl von gekreuzten Streifen von Kerben mit U- oder V-Querschnittsformen. Die kleineren regelmäßigen Vorsprünge, welche geformt sind auf der oberen Oberfläche der regelmäßigen Vorsprünge, weisen in der Sichtebene eine Form eines Dreiecks, Rechtwinkels oder einer rechtwinkligen Pyramide auf.
  • Die Vielzahl von regelmäßigen Vorsprüngen, welche integral geformt sind auf der Oberfläche des Substrates weist ein Muster aus gekreuzten Streifen auf, das realisiert ist durch kreuzende Streifen von Rinnen mit U- oder V-Querschnittsformen, wobei die U- oder V-Querschnittsformen gebildet werden durch einen Seitenbereich der regelmäßigen Vorsprünge und einen Bodenbereich der Rinnen. Die kreuzenden Streifen der Rinnen haben alle dieselbe Breite und/oder Tiefe, oder alternativ kann eine Rinne mit einer größeren Breite und/oder Tiefe geformt werden in einem Intervall von einer bestimmten Anzahl an Rinnen auf dem Muster aus gekreuzten Streifen als eine bereichsunterteilende Rinne.
  • Das Substrat ist nicht begrenzt durch irgendwelche Formen, solange eine Vielzahl von regelmäßigen Vorsprüngen auf seiner Oberfläche realisiert werden können. Zum Beispiel kann das Substrat die Form einer Scheibe aufweisen, einer Ringröhre (Doughnut) oder eine Platte mit vielfachen Ecken, oder auf einer Seite des Substrates kann ein äußerer Ringbereich geformt werden, emporgehoben über einen Mittelbereich, um ein Substrat zu erreichen, welches ein Querschnittsprofil eines Bechers aufweist. Alternativ kann das Substrat mit einer Ringröhrenform einen äußeren Gürtelbereich aufweisen, der ausgebildet wurde mit einer Anzahl von segmentierten Bereichen, welche getrennt sind durch Täler, die sich radial erstrecken von einem Zentrum des Substrates, auf welchem eine Vielzahl von regelmäßigen Vorsprüngen ausgebildet werden können.
  • Die Diamantschicht ist dünn und gleichmäßig abgeschieden auf der Substratoberfläche mittels Gasphasenabscheidung nach chemischem Verfahren (chemical vapor deposition CVD).
  • Es ist vorzuziehen, dass das Substrat aus einem keramischen oder zementierten Karbidmaterial hergestellt ist.
  • Die Aufbereitungsvorrichtung der vorliegenden Erfindung umfasst weiterhin einen Körperbereich, der geformt ist an einer Seite entgegengesetzt zu der Seite, welche geformt wurde mit den regelmäßigen Vorsprüngen, welcher dazu dient, die Aufbereitungsvorrichtung mit Aufbereitungsequipment zu verbinden. Es ist vorzuziehen, dass der Körperbereich hergestellt ist aus einem rostfreien Stahl, technischem Plastik oder Keramik.
  • Gemäß eines anderen vorzugsweisen Merkmals der vorliegenden Erfindung weist die Aufbereitungsvorrichtung eine segmentierte Form auf, in welchem der Körperbereich eine Querschnittsform von einer Ringröhre mit abgeflachten oberen und unteren Oberflächen aufweist oder eine Querschnittsform von einem Becher. Die Aufbereitungsvorrichtung umfasst außerdem eine Anzahl von unabhängig segmentierten Schneidbereichen, welche getrennt sind durch eine bestimmte Distanz und fest angeschlossen sind an eine der Oberflächen des Körperbereiches, um die Form von einem Gürtel anzunehmen, wobei die unabhängig segmentierten Schneidbereiche realisiert sind auf ihren jeweiligen Substraten, welche hergestellt sind aus keramischen oder zementierten Karbidmaterialien. Weiterhin ist eine Diamantschicht mit einer gleichförmigen Dicke im Wesentlichen auf der gesamten Oberfläche des Substrates ausgebildet.
  • Die Aufbereitungsvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung weist eine Struktur von verschiedenen Formtypen auf, welche hergestellt ist durch ein Verfahren, umfassend die Schritte a) Bilden von gekreuzten Streifen von Rinnen auf einem Substrat mit einer bestimmten Form, um eine Vielzahl von regelmäßigen Vorsprüngen in einer gleichförmigen Höhe auf einer Oberfläche des Substrates zu formen, durch Verwenden eines starken Schneidrades, wie ein Diamantrad, und b) Bilden einer Diamantschicht einer gleichförmigen Dicke, welche aufgetragen (coated) ist im Wesentlichen auf die gesamte Oberfläche des Substrates, welches hergestellt wurde durch Schritt a) mittels Gasphasenabscheidung nach chemischem Verfahren (chemical vapor deposition CVD).
  • Vor dem Ausführen des Schrittes b) kann das Verfahren optional die Schritte des Bildens einer bestimmten Anzahl von Kerben in vorbestimmten kreuzenden Richtungen umfassen, um eine Vielzahl von kleineren regelmäßigen Vorsprüngen in einer gleichförmigen Höhe auf den Oberflächen der regelmäßigen Vorsprünge zu bilden, durch Schleif- oder Schneidverfahren.
  • Das Substrat, welches geformt werden soll mit Rinnen, kann eine Vielzahl von Formen aufweisen, wie bereits vorher beschrieben wurde und die regelmäßigen Vorsprünge werden realisiert durch eingelassene Vertiefungen von Rinnen, welche gebildet werden durch Schleif- und/oder Schneidverfahren. Die Rinnen, welche gebildet werden in einem Layout von gekreuzten Streifen, geben den resultierenden regelmäßigen Vorsprüngen ein Muster von gekreuzten Streifen auf der Substratoberfläche.
  • Vor dem Ausführen des Schrittes a) ist es vorzuziehen, dass das Verfahren weiterhin die Schritte des Aussetzens des Substrates einem Feinschleif- und Läpp-Verfahrens umfasst, um eine gleichförmige Oberfläche auf wenigstens einer Seite des Substrates zu erzielen und um im wesentlichen parallele Substratoberflächen zu erzielen.
  • Alternativ kann der Schritt des Formens der regelmäßigen Vorsprünge auf der Substratoberfläche, wie beschrieben wurde in Schritt a), implementiert werden durch ein Formgebungsverfahren, in welchem eine vorbestimmte Formteilzusammensetzung eingespritzt wird und gekühlt wird in einer Form mit der Gestalt eines Substrates mit regelmäßigen Vorsprüngen.
  • Das Verfahren kann weiterhin die Schritte des Anschließens eines Körperbereiches an das Substrat umfassen, an einer Seite entgegengesetzt zu der Seite, die ausgebildet wurde mit regelmäßigen Vorsprüngen, zum Anbinden der Aufbereitungsvorrichtung an eine Aufbereitungseinrichtung.
  • Es ist vorzuziehen, dass das Substrat hergestellt ist aus keramischen oder zementierten Karbidmaterialien oder der Körperbereich hergestellt ist aus rostfreiem Stahl, technischem Kunststoff, Keramik oder ähnlichem Material.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • Die obigen Aufgaben und andere Vorteile der vorliegenden Erfindung werden näher gebracht durch eine detaillierte Beschreibung einer vorzugsweisen Ausführung von dieser mit Bezug auf die beigefügten Zeichnungen, in welchen:
  • die 1A bis 1C eine herkömmliche Aufbereitungsvorrichtung für Polierscheiben zeigen, wobei die 1A eine Draufsicht ist, die 1B eine Querschnittsansicht ist, gezogen entlang der Linie A-A' aus der 1A und die 1C eine vergrößerte Querschnittsansicht ist, welche einen Bereich der herkömmlichen Aufbereitungsvorrichtung zeigt;
  • die 2A bis 2D eine Aufbereitungsvorrichtung für Polierscheiben zeigen, hergestellt aus einem Substrat mit einer Scheibenform, gemäß einer ersten vorzugsweisen Ausführung der vorliegenden Erfindung, wobei die 2A eine Draufsicht ist, die 2B eine Querschnittsansicht ist, gezogen entlang der Linie B-B' aus 2A, und die 2C und 2D jeweils eine vergrößerte Draufsicht und Querschnittsansicht sind, welche den Körper und die Schneidbereiche der Aufbereitungsvorrichtung zeigen;
  • die 2E eine Draufsicht auf eine Aufbereitungsvorrichtung ist, welche hergestellt ist aus einem Substrat mit einer Scheibenform gemäß einer anderen vorzugsweisen Ausführung der vorliegenden Erfindung;
  • die 2F eine vergrößerte Draufsicht ist und einen Körper und Schneidbereiche von einer Aufbereitungsvorrichtung zeigt, welche hergestellt ist aus einem Substrat mit einer Scheibenform gemäß noch einer anderen vorzugsweisen Ausführung der vorliegenden Erfindung;
  • die 3A und 3B eine Aufbereitungsvorrichtung zeigen, welche hergestellt ist aus einem Substrat mit einer Ringröhrenform gemäß der vorliegenden Erfindung, wobei die 3A eine Draufsicht ist, und die 3B eine Querschnittsansicht ist, gezogen entlang der Linie C-C' aus der 3A;
  • die 4A und 4B eine Aufbereitungsvorrichtung zeigen, hergestellt aus einem ringröhrenförmigen Substrat, welches eine Anzahl von segmentierten Bereichen aufweist, die getrennt sind durch Täler auf einer von seinen Oberflächen gemäß noch einer weiteren vorzugsweisen Ausführung der vorliegenden Erfindung, wobei die 4A eine Draufsicht ist und die 4B eine Querschnittsansicht, gezogen entlang der Linie D-D' aus der 4A;
  • die 5A und 5B eine Aufbereitungsvorrichtung zeigen, welche eine Becherform aufweist, hergestellt durch Anschließen eines Körperbereiches an ein ringröhrenförmiges Substrat, gemäß noch einer anderen vorzugsweisen Ausführung der vorliegenden Erfindung, wobei die 5A eine Draufsicht und die 5B eine Querschnittsansicht ist, gezogen entlang der Linie E-E' aus der 5A;
  • die 6A und 6B eine Aufbereitungsvorrichtung zeigen, welche hergestellt ist durch Formen eines segmentierten Schneidbereiches mit einer Form eines Gürtels auf einer Oberfläche von einem ringröhrenförmigen Substrat, gemäß noch einer anderen vorzugsweisen Ausführung der vorliegenden Erfindung, wobei die 6A eine Draufsicht und die 6B eine Querschnittsansicht ist, gezogen entlang der Linie F-F' aus der 6A;
  • die 7A und 7B eine vergrößerte perspektivische und Querschnittsansicht der Aufbereitungsvorrichtung, welche in 2E dargestellt ist, sind, welche eine Oberflächenstruktur von einem Schneidbereich zeigen, welcher ein gleichförmiges Layout aus einer Vielzahl von rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprüngen aufweist;
  • die 8A und 8B eine vergrößerte perspektivische und Querschnittsansicht der Aufbereitungsvorrichtung, welche in der 2A dargestellt ist, sind, welche eine Oberflächenstruktur von einem Schneidbereich zeigen, der regional gruppierte rechtwinklige regelmäßige Vorsprünge aufweist;
  • die 10A und 10B eine vergrößerte perspektivische und Querschnittsansicht von rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprüngen von einer Aufbereitungsvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung sind, welche eine Oberflächenstruktur von den regelmäßigen Vorsprüngen zeigen, die gebildet wurden mit einer Vielzahl von kleineren rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprüngen;
  • die 11A und 11B eine vergrößerte perspektivische und eine Querschnittsansicht von rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprüngen von einer Aufbereitungsvorrichtung der vorliegenden Erfindung sind, welche eine Oberflächenstruktur der regelmäßigen Vorsprünge zeigen, die gebildet wurden mit einer Vielzahl von kleineren regelmäßigen Vorsprüngen, die eine Form einer rechtwinkligen Pyramide aufweisen;
  • die 12A und 12B eine vergrößerte perspektivische und Querschnittsansicht von rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprüngen von einer Aufbereitungsvorrichtung der vorliegenden Erfindung sind, welche eine Oberflächenstruktur von den regelmäßigen Vorsprüngen zeigen, die ausgebildet wurden mit kleineren dreieckigen regelmäßigen Vorsprüngen durch ein Paar von diagonal gekreuzten Kerben;
  • die 13A bis 13D Querschnittsansichten sind, welche ein Verfahren zum Herstellen eines Schneidbereichs einer Aufbereitungsvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung darstellen;
  • die 14 eine Ansicht ist, welche ein Diamantrad zeigt, das angeschlossen ist an ein Polierequipment zum Herstellen eines Substrats;
  • 15 eine aktuelle Fotografie ist, welche einen Schneidbereich von einer Aufbereitungsvorrichtung zeigt, die hergestellt wurde durch das Verfahren der vorliegenden Erfindung;
  • die 16A und 16B Elektronenmikroskop-Fotografien sind, welche eine Seitenansicht und Draufsicht von einem rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprung zeigen, der gebildet wurde auf einem Schneidbereich von einer Aufbereitungsvorrichtung, die hergestellt wurde durch das Verfahren der vorliegenden Erfindung; und
  • die 16C eine Elektronenmikroskop-Fotografie ist, welche eine Seitenansicht von einem rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprung zeigt, auf welchem ein Bereich ausgebrochen wurde, um eine Diamantschicht zu unterscheiden und darzustellen, welche auf einem Substrat gebildet wurde, welches hergestellt wurde durch das Verfahren der vorliegenden Erfindung.
  • Best Mode zum Ausführen der Erfindung
  • Die vorzuziehende Ausführung der vorliegenden Erfindung wird nun detailliert nachfolgend beschrieben werden. Die nachfolgende Ausführung wird zur Verfügung gestellt, um die Erfindung weitergehend darzustellen und dient nicht dazu, den Schutzumfang der vorliegenden Erfindung zu begrenzen.
  • Zunächst kann eine Aufbereitungsvorrichtung der vorliegenden Erfindung realisiert werden mit einer Struktur, die ausgewählt wurde, aus einem Bereich von diversen Formen und Anordnungen, und die vorzuziehenden Ausführungen einer Aufbereitungsvorrichtung mit verschiedenen strukturellen Formen, die hergestellt wurden gemäß der vorliegenden Erfindung, werden nun detailliert im Nachfolgenden beschrieben werden.
  • Mit Bezug auf die 2A wird ein Körperbereich 20, hergestellt aus einem Material mit antikorrosiven und chemisch stabilen Eigenschaften, wie zum Beispiel – aber nicht begrenzt auf – Teflon oder rostfreier Stahl, und eine Form des Körperbereiches 20 wird erzielt durch ein Dreh- oder Schleifverfahren oder durch ein Formgebungsverfahren.
  • Der Körperbereich 20, der fest gekoppelt oder angeschlossen ist an einen Schneidbereich 22, dient dazu, eine Aufbereitungsvorrichtung der vorliegenden Erfindung mit einem Motor-Drehbereich (nicht gezeigt) einer Aufbereitungseinrichtung zu verbinden. Der Körperbereich 20 kann einen weiten Bereich von Formen aufweisen. Wenn beispielsweise der Körperbereich 20 an den Schneidbereich 22, welcher regelmäßige Vorsprünge aufweist, die über die Oberfläche des Körperbereiches 20 angehoben sind, angeschlossen ist, nimmt der Körperbereich 20 die Form eines Bechers oder einer Ringröhre mit abgeflachten oberen und unteren Oberflächen ein. Der Körperbereich 20 und seine Funktionen sind jedoch nicht notwendigerweise erfordert, um die vorliegende Erfindung auszuführen. Statt dessen kann in einer der vorzugsweisen Ausführungen der Schneidbereich 22 direkt verbunden sein mit der Aufbereitungseinrichtung, ohne den Körperbereich 20 aufzuweisen. Demgemäß sind die vorzugsweisen Ausführungen der vorliegenden Erfindung ausgeführt worden im Hinblick auf die Struktur des Schneidbereiches 22 und insbesondere im Hinblick auf die Formen und Anordnungen der Oberflächenstruktur.
  • (1) Vorzuziehende Ausführung 1
  • Die 2A bis 2F zeigen eine Aufbereitungsvorrichtung, welche eine Scheibenform aufweist, gemäß einer ersten vorzugsweisen Ausführung der vorliegenden Erfindung.
  • Die Aufbereitungsvorrichtung umfasst einen Körperbereich 20, einen Schneidbereich 22 und ein Substrat 50.
  • Wie in den 2A bis 2D gezeigt ist, weist der Schneidbereich 22 eine Vielzahl von rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprüngen 28 auf, die in regionalen Einheiten von quergestreiften Mustern auf einer Oberfläche des Substrates 50 ausgebildet sind. Die 8A und 8B sind vergrößerte perspektivische und Querschnittsansichten, welche genau das quergestreifte Muster der rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge 28 des Schneidbereiches 22 zeigen.
  • Das Substrat 50 ist vorzugsweise hergestellt aus einem Keramikmaterial, wie zum Beispiel Si oder Si3N4 oder aus wenigstens einem Keramikmaterial, ausgewählt aus der Gruppe, welche besteht aus Al2O3, AlN, TiO2, ZrOx, SiO2, SiC, SiOxNy, WNx, Wox, DLC (diamantähnliche Beschichtung), BN und Cr2O3. Alternativ kann das Substrat 50 hergestellt sein aus einem zementierten Karbidmaterial, wie zum Beispiel Wolframkarbid (WC), ausgewählt aus der Gruppe, die besteht aus Wolfram-Karbonid-Kobald (WC-Co), Wolfram-Karbonid-Karbon-Titan-Kobald (WC-TiC-Co) und Wolfram-Karbonid-Karbon-Titan-Karbon-Tantal-Kobald (WC-TiC-TaC-Co). Das Substrat 50 kann ebenso hergestellt sein aus einem anderen zementierten Karbidmaterial, wie zum Beispiel TiCN, B4C oder TiB2.
  • Das Substrat 50 weist vorzugsweise eine Scheibenform auf, aber es kann die Form einer Platte mit vielen Ecken haben und es ist wichtig, dass das Substrat 50 eine glatte Oberfläche aufweist, welche einen gleichförmigen Grad an Rauhigkeit aufweist, weil die Form der rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge 28 erhalten bleiben muss, nachdem eine Diamantschicht 52 geformt wurde, auf einer gesamten Oberfläche des Substrates 50, um eine Aufbereitungsvorrichtung zu erreichen, welche eine hocheffektive Schneidfähigkeit aufweist.
  • Die rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge 28, welche eine gleichförmige Höhe aufweisen, sind auf einer Seite des Substrates 50 ausgebildet durch eingelassene gekreuzte Streifen von Rinnen 24 und 26, welche ein Querschnittsprofil einer U-Form aufweisen. Insbesondere weisen die Seiten- und Bodenbereiche der eingelassenen Rinnen 24 und 26 eine abgerundete Form auf und ihre Breite nimmt schrittweise ab in Richtung des Bodenbereiches, um den rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprüngen 28 eine größere und dickere Basis zu geben. Als ein Ergebnis verstärken die rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge 28, die solch eine Struktur aufweisen, eine starre und spröde Natur, die gewünscht ist für die Substratoberfläche. Alternativ weisen die Rinnen 24 und 26 eine Querschnittsansicht einer V-Form auf.
  • Die Rinne 24 ist eine bereichsunterteilende Rinne und die Rinne 26 ist eine zellenunterteilende Rinne, welche alle rechtwinkligen geometrischen Vorsprünge 28 auf der Substratoberfläche unterteilt oder trennt. Wie durch die 2A bis 2D gezeigt wird, ist die bereichsunterteilende Rinne 24, welche eine größere Breite oder Tiefe hat als die der zellenunterteilenden Rinne 26, auf einem regelmäßigen Intervall von einer bestimmten Anzahl von zellenunterteilenden Rinnen 28 angeordnet. Wie durch die 2A bis 2D gezeigt wird, kann die Rinne 24 beispielsweise an jeder vierten Rinne angeordnet sein, in beiden kreuzenden Richtungen, um die rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge in eine Gruppe von 4 × 4 regional zu unterteilen. Hier weisen die Rinnen 24 und 26 die Funktion auf, dass sie Partikel ableiten, welche zurückbleiben von Polierscheiben während des Aufbereitungsverfahrens.
  • Wie durch die 2A gezeigt wird, kann eine bereichsunterteilende Rinne 25, welche sogar eine größere Breite und/oder Tiefe als die Rinnen 24 und 26 aufweist, angeordnet werden in einem Zentrum der Substratoberfläche in gekreuzten Streifen, um noch effektiver die verbleibenden Partikel abzuführen.
  • Die Diamantschicht 52, welche die gesamte Oberfläche des Substrates 50 überdeckt, ist dünn und gleichförmig gebildet auf den Oberflächen der rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge 28 und der Rinnen 24, 25 und 26 des Schneidbereiches 22.
  • Die 15 ist eine aktuelle Fotografie, welche den Schneidbereich 22 zeigt, der hergestellt wurde durch das gerade oben beschriebene Verfahren. Der Schneidbereich 22 hat einen Durchmesser und eine Dicke von 100 × 4t. Die 16A bis 16C sind Elektronenmikroskop-Fotografien, welche die rechtwinkligen Vorsprünge 28 zeigen, die überdeckt wurden mit der Diamantschicht 52 des Schneidbereiches 22 der vorliegenden vorzugsweisen Ausführung. Die 16A und 16B zeigen Seiten- und Draufsichten auf die rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge 28, während die 16C eine andere Seitenansicht von dem rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprung 28 zeigt, auf welchem ein Bereich ausgebrochen wurde, um visuell zu unterscheiden und die Diamantschicht 52 darzustellen, welche auf der Oberfläche des Schneidbereiches 22 des Substrates 50 ausgebildet wurde. Wie aus den Elektronenmikroskop-Fotografien entnommen werden kann, weist die Diamantschicht 52, welche abgeschieden wurde auf den Oberflächen der rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge 28 und den Rinnen 24 und 26 des Substrates 50, eine dünne und gleichförmige Dicke auf.
  • (2) Vorzugsweise Ausführung 2
  • In der vorliegenden Ausführung werden verschiedene und alternative Anordnungen, die die regelmäßigen Vorsprünge auf der Substratoberfläche haben können, realisiert durch Variieren des Layouts und der Struktur der Rinnen. Wie in der 2E gezeigt wird, können die Rinnen einer selben Form gebildet werden auf einem Schneidbereich 22A in der Substratoberfläche, durch Aufweisen einer selben Breite und/oder Tiefe. Die 7A und 7B zeigen vergrößerte perspektivische und Querschnittsansichten von einer Anordnung der regelmäßigen Vorsprünge, welche geformt werden durch die Rinnen der 2E. Für diese Anordnung wird vorgezogen, dass die Rinnen 26a eine größere Breite und/oder Tiefe aufweisen als die der Rinnen 26, welche in 2A gezeigt ist, zum effektiven Ableiten der Rückstände der Polierscheibe von der Oberfläche des Schneidbereiches 22a.
  • (3) Vorzugsweise Ausführung 3
  • In den vorliegenden Ausführungen werden verschiedene Formen der regelmäßigen Vorsprünge realisiert. Die Form der regelmäßigen Vorsprünge 28 ist nicht begrenzt auf rechtwinklige Form und alternativ, wie in der 2F gezeigt ist, weisen die regelmäßigen Vorsprünge 28b, welche auf einem Schneidbereich 22b gebildet sind, eine zylindrische Form auf. Die 9A und 9B zeigen vergrößerte perspektivische und Querschnittsansichten des Schneidbereiches 22b, welcher geformt wurde mit zylindrischen regelmäßigen Vorsprüngen 28b. Ähnlich zu dem Substrat mit rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprüngen weist das Substrat, welches gebildet wurde mit zylindrischen regelmäßigen Vorsprüngen 28b, auf seinem Schneidbereich 22b eine Diamantschicht 52 auf, die Layoutanordnung der zylindrischen regelmäßigen Vorsprünge 28b kann dasselbe Muster haben wie dargestellt wurde in der ersten und zweiten vorzugsweisen Ausführung oder es kann realisiert werden durch Aufweisen eines radial gestreiften Musters, welches sich von dem Zentrum des Substrates aus erstreckt.
  • (4) Vorzugsweise Ausführung 4
  • Die regelmäßigen Vorsprünge der vorhergehenden vorzugsweisen Ausführungen weisen eine flache und ebene obere Oberfläche auf, aber in der vorliegenden Ausführung sind die oberen Oberflächen der regelmäßigen Vorsprünge ausgebildet mit einer Vielzahl von kleineren rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge 40 mit einem Muster aus gekreuzten Streifen. Die 10a und 10b zeigen perspektivische und Querschnittsansichten der rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge 28a, welche ausgebildet wurden mit kleineren rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprüngen 40 auf ihren Oberflächen. Wie gezeigt, sind die Rinnen 26 dieselben, wie dargestellt in den vorhergehenden Ausführungen, und eine Diamantschicht 52 ist ebenso beschichtet auf der Oberfläche des Substrates 50.
  • Die kleineren rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge 40 sind geformt auf den oberen Oberflächen der rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge 28a des Substrates 50 durch Bilden von gekreuzten Streifen von eingelassenen Nuten 42. Ähnlich zu den Rinnen weisen die Nuten 42, welche rund sind in ihren Seiten- und Bodenbereichen, ein Querschnittsprofil von einer U-Form auf. Eine Breite der Nuten 42 nimmt ab in Richtung ihres Bodenbereiches, um den kleineren rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprüngen 40 eine größere und dickere Basis zu geben. Die rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge 28a und die kleineren rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge 40 weisen beide eine solche breitere Basisstruktur auf, welche dazu beiträgt, eine steife Natur zu verstärken, die gewünscht ist für die Substratoberfläche. Alternativ können die Nuten 42 eine Querschnittsansicht einer V-Form aufweisen. Das Vorhandensein der kleineren rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge 40 wird effektiver die Rückstände der Polierscheibe abführen von der Oberfläche der resultierenden Aufbereitungsvorrichtung, um die Effizienz des Aufbereitungsverfahrens zu steigern.
  • Es wird vorgezogen, dass die Rinnen und die Nuten ein U-förmiges Querschnittsprofil aufweisen im Gegensatz zur V-Form. Im allgemeinen sind Rinnen und Nuten, welche das U-förmige Querschnittsprofil aufweisen, effizienter beim Ableiten von Aufbereitungsrückständen von der Substratoberfläche, einfach aufgrund ihrer breiteren Bodenbereiche. Weiterhin, zusätzlich zu den Querschnittsformen der Rinnen und Nuten, wird die Ableitungseffizienz ebenso beeinträchtigt durch die Größe und das Layoutmuster der Rinnen und Nuten. Daher können verschiedene Kombinationen der obigen Faktoren realisiert werden, um eine gewünschte Ableitungseffizienz zu erreichen.
  • (5) Vorzugsweise Ausführung 5
  • In der vorliegenden Ausführung ist eine Vielzahl von kleineren regelmäßigen Vorsprüngen 44, welche eine Form einer rechtwinkligen Pyramide aufweisen, auf oberen Oberflächen der rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge 28b des Substrates 50 ausgebildet. Wie durch die 11A und 11B gezeigt wird, werden die punktförmigen oberen Enden der kleineren rechtwinkligen pyramidischen regelmäßigen Vorsprünge 44 erreicht, durch Formen von Kerben 42a benachbart zueinander in einem Muster aus gekreuzten Streifen. Hier stellen die punktförmigen oberen Enden der kleineren rechtwinkligen pyramidischen regelmäßigen Vorsprünge 44 einen punktförmigen Kontakt mit der Polierscheibenoberfläche während des Aufbereitungsverfahrens her.
  • Die Schneideffizienz von einer Aufbereitungseinrichtung, welche rechtwinklige regelmäßige Vorsprünge mit flachen oberen Oberflächen aufweist, ist höher durch Herstellen von Linien- oder Flächenkontakten mit der Polierscheibenoberfläche, im Gegensatz zu einer Aufbereitungseinrichtung, die einen Punktkontakt herstellt. Wegen einer gleichförmigen Höhe und Größe der kleineren rechtwinkligen pyramidischen regelmäßigen Vorsprünge 44, welche auf den oberen Oberflächen der rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge ausgebildet sind, was unterschiedlich ist zu der unregelmäßigen Höhe der Schneidoberfläche von herkömmlichen Aufbereitungsvorrichtungen, wie sie in 1C gezeigt werden, ist jedoch die Schneideffizienz von einer Aufbereitungsvorrichtung, welche durch die vorliegende Erfindung ausgeführt ist und welche einen Punktkontakt mit der Polierscheibenoberfläche herstellt, nicht wesentlich kleiner als die der Aufbereitungsvorrichtungen, welche Linien- oder Flächenkontakte herstellen.
  • (6) Vorzugsweise Ausführung 6
  • In der vorliegenden Ausführung sind vier kleinere regelmäßige Vorsprünge 46, welche eine dreieckige Form aufweisen, auf den oberen Oberflächen von allen rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprüngen 28c des Substrates 50 ausgebildet, durch diagonal gekreuzte Kerben 42b und 42c. Die 12A und 12B sind perspektivische und Querschnittsansichten, welche die vorliegende Ausführung zeigen. Im Sinne der Abführeffektivität und des Herstellens eines Kontaktes mit der Polierscheibenoberfläche führt die vorliegende Ausführung, welche die rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge 28c mit kleineren dreieckigen regelmäßigen Vorsprüngen 46 auf ihren Oberflächen ausgebildet hat, eine bessere Abführung als die rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge 28, welche flache obere Oberflächen aufweisen, aus und stellt mehr Kontakt her mit der Polierscheibenoberfläche als die rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge 28a und 28b, welche jeweils ausgebildet wurden mit kleineren rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprüngen 40 und kleineren rechtwinkligen pyramidischen regelmäßigen Vorsprüngen 44.
  • (7) Vorzugsweise Ausführung 7
  • In den vorhergehenden Ausführungen wurden die regelmäßigen Vorsprünge 28, 28a, 28b und 28c auf einer Oberflächenseite des Substrates 50, welches die Form einer Scheibe oder einer Platte mit vielfachen Ecken aufweist, ausgebildet. Die vorliegende Erfindung kann jedoch auch realisiert werden durch Implementieren von Substraten, welche unterschiedliche Formen aufweisen. In der vorliegenden Ausführung weist ein Substrat 50a eine Form von einer Ringröhre mit abgeflachten oberen und unteren Oberflächen auf.
  • Die 3A und 3B zeigen Drauf- und Querschnittsansichten von dem Substrat 50a, welches einen ringförmigen Schneidbereich 22c aufweist, auf welchem die vorher beschriebenen regelmäßigen Vorsprünge 28, 28a, 28b oder 28c ausgebildet sind. Alternativ kann ein Substrat die Form einer Ringröhre aufweisen, wobei eine ihrer offenen Oberflächen umschlossen ist, um die Form eines Bechers einzunehmen. Die 5A und 5B sind Draufsicht- und Querschnittsansichten, welche eine Aufbereitungsvorrichtung zeigen, die die Form eines Bechers aufweist, in welchem ein Substrat 50c, welches die Form einer Ringröhre mit abgeflachten oberen und unteren Oberflächen aufweist, und ausgebildet ist mit einer Diamantschicht 52c auf einer Oberfläche von einem Schneidbereich 22e, angeschlossen ist an eine obere Oberfläche von einem Körperbereich 20e, welcher die Form eines Bechers aufweist.
  • (8) Vorzugsweise Ausführung 8
  • In der vorliegenden Ausführung wird eine Aufbereitungsvorrichtung, welche segmentierte Schneidbereiche aufweist, realisiert. Wie in den 4A und 4B gezeigt ist, weist ein Substrat 52b, welches eine Form einer Ringröhre mit abgeflachten oberen und unteren Oberflächen aufweist oder einer Ringröhre mit einer ihrer geöffneten Oberflächen umschlossen, eine Anzahl von segmentierten Schneidbereichen 22d auf, die ausgebildet sind durch eingelassene Täler, welche sich radial erstrecken von einem Zentrum des Substrates 52b. Die segmentierten Schneidbereiche 22d sind ausgebildet mit den regelmäßigen Vorsprüngen 28, 28a, 28b oder 28c, und das Substrat 52b umfasst weiterhin eine Diamantschicht 52d.
  • Die 6a und 6b zeigen andere Variationen von segmentierten Schneidbereichen. Eine Anzahl von unabhängig segmentierten Schneidbereichen 22f, welche hergestellt sind von ihren jeweiligen Substraten 50d und getrennt sind voneinander in einem bestimmten Abstand, sind fest angeschlossen an eine Oberfläche von einem Körperbereich 20b, um die Form eines Gürtels einzunehmen. Der Körperbereich 20b weist eine Form einer Ringröhre mit abgeflachten oberen und unteren Oberflächen auf oder eine Form einer Ringröhre mit einer ihrer geöffneten Oberflächen umschlossen, und die Substrate 50d, welche alte segmentierte Schneidbereiche 22f aufweisen, sind beschichtet mit einer Diamantschicht 52d.
  • In den obigen vorzugsweisen Ausführungen wurden die regelmäßigen Vorsprünge, welche rechtwinklige oder zylindrische Formen aufweisen, als Beispiel beschrieben. Die regelmäßigen Vorsprünge können jedoch realisiert werden mit einem weiten Bereich an Formen, wie zum Beispiel Dreieck- oder Sechseck-Formen. Ähnlich wurden in den vorzugsweisen Ausführungen die rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge als Beispiel beschrieben, dass sie eine rechteckige Form aufweisen, die regelmäßigen Vorsprünge können jedoch realisiert werden mit verschiedenen Formen von vierseitigen Figuren, wie zum Beispiel ein Rhombus. Weiter unten wird nun ein Verfahren zum Herstellen der vorzugsweisen Ausführungen von einer Aufbereitungsvorrichtung für Polierscheiben gemäß der vorliegenden Erfindung detailliert beschrieben werden, mit Bezug auf die beigefügten Zeichnungen.
  • Zuerst wird ein Verfahren zum Herstellen einer ersten vorzugsweisen Ausführung von einer Aufbereitungsvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung unten beschrieben werden.
  • Die 13A bis 13D sind Querschnittsansichten, welche ein Verfahren zum Herstellen eines Schneidbereiches 22 darstellen, welcher in den 10A und 10B gezeigt wurde, und welcher die rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge 28a ausgebildet mit kleineren rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprüngen 40 auf ihren Oberflächen aufweist.
  • Zuerst wird ein Substrat 50, welches die Form einer Scheibe aufweist, hergestellt aus den Keramik- oder zementierten Karbidmaterialien, welche vorhergehend beschrieben wurden, dann wird das Substrat 50 einem Fabrikationsprozess ausgesetzt, um einen Durchmesser und eine Dicke von 100 × 40 zu erreichen.
  • Danach wird eine der Seiten des Substrates 50, welche mit einem Schneidbereich ausgebildet werden soll, oberflächenbearbeitet durch Grob- und Feinschleifverfahren, bei Verwendung einer Diamantradeinrichtung, um einen gleichförmigen und hohen Grad an Oberflächenrauhigkeit, Flachheit und Parallelität zu erzielen. Dann wird das Substrat einem doppelseitigen Läppungsverfahren ausgesetzt, durch Verwendung einer Läppungseinrichtung (nicht gezeigt). Hier wird eine Schneidoberfläche des Substrates 50, welches mit rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprüngen ausgebildet werden soll, fein geschliffen, bis ein hoher Grad an Flachheit von 1 m erreicht wird.
  • Dann, wie gezeigt in der 13B, werden gekreuzte Streifen von bereichsunterteilenden Rinnen 24' und zellenunterteilenden Rinnen 26' ausgebildet auf der Schneidoberfläche des Substrates 50, durch Verwendung einer Diamantradeinrichtung, welche in 14 gezeigt ist. Die Diamantradeinrichtung umfasst einen Motor 152, Wellen 154a und 154b und einen Radaufbau 156, umfassend Diamanträder 156a, Abstandhalter 156b, welche zwischen die Diamanträder 156a eingebracht sind, und Flansche 157a und 157b, welche platziert sind an beiden Enden des Radaufbaues 156. Die Dicke der Diamanträder 156a wird bestimmt durch die Breite der Rinnen 24' und 26', welche gebildet werden sollen, und die Form der Diamanträder 156a sollte rund sein, um den Rinnen 24' und 26' einen U-förmigen Querschnitt zu verleihen. Die Breite der Rinnen 24' und 26' nimmt ab in Richtung ihres Bodenbereiches und gibt den resultierenden regelmäßigen Vorsprüngen 28a eine dickere und größere Basis, was darin resultiert, dass die steife und spröde Natur des Substrates 50, welches hergestellt ist aus Keramik- oder zementierten Karbidmaterialien, verstärkt wird. Weiterhin stellen die runden U-förmigen Querschnitte der Rinnen 24' und 26' eine zusätzliche Funktion des Abführens von Polierscheibenrückständen von der Schneidoberfläche der Aufbereitungsvorrichtung dar.
  • Typischerweise weisen die Diamanträder 156a einen Diamantschneidbereich mit Diamantpartikeln auf, angebunden an ein Ende seines Scheibentypkörpers durch Metall- oder Kunstharzbindung, und eine gewünschte runde Krümmung in der Diamantschicht der Diamanträder 156a wird besser erzielt, wenn ein kunstharzgebundenes Diamantrad verwendet wird, weil eine runde Krümmung effektiver erreicht wird durch Entfernen von kunstharzgebundenen Materialien und Diamantpartikeln während eines Drehprozesses, bei Verwendung eines Schleifsteines.
  • Die Rinnen 24' und 26' sind ausgebildet durch festes Platzieren des Substrates 50 auf eine Verarbeitungsplattform 164, dann wird die Verarbeitungsplattform, welche das Substrat 50 aufweist, nach oben bewegt in Richtung der rotierenden Diamanträder 156a, um geschnitten zu werden. Nach dem Schleifen wird das Substrat um 90 Grad gedreht und wiederum auf der Verarbeitungsplattform 164 befestigt, um den vorhergehenden Schneidprozess zu wiederholen, zum Formen der gekreuzten Streifen der 24' und 26'. Hier wird zum Ausbilden der bereichsunterteilenden Rinne 24' ein Diamantrad 156a verwendet, das eine größere Dicke aufweist als das Diamantrad 156a, welches benutzt wird zum Formen der zellenunterteilenden Rinne 26'. Die Breiten der resultierenden rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge 28a werden eingestellt durch eine Lücke zwischen den Diamanträdern 156a. Insbesondere, wenn die Lücke zwischen den Diamanträdern 156a zunimmt, können schmalere rechtwinklige regelmäßige Vorsprünge 28a ausgebildet werden. Es ist jedoch vorzuziehen, dass ein Abstand der Lücken nicht kleiner sein sollte als die Dicke der Diamanträder 156a, um ein Abbrechen der rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge 28 während des Herstellungsverfahrens zu verhindern. Die 10A zeigt gleichförmig angeordnete rechtwinklige regelmäßige Vorsprünge 28a (vor dem Ausbilden mit einer Diamantschicht), welche durch das obige Verfahren ausgebildet wurden. Die 15 ist eine aktuelle Fotografie, welche die rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge zeigt, die ausgebildet wurden auf einem Schneidbereich. Die rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge weisen eine Dimension von 190μ (Länge) × 190μ (Breite) × 200μ (Höhe) auf.
  • Mit Bezug auf die 13C werden gekreuzte Streifen von Kerben 42' ausgebildet auf Oberflächen der rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge 28', um eine Vielzahl von kleineren rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprüngen 40' auszubilden, wobei letztere jede eine Dimension von 30μ × 30μ × 30μ aufweist, durch Verwendung eines Diamantrades 156a mit einer kleineren Dicke. Hier weisen die Länge, Breite und Höhe der kleineren rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprüngen 28' haben die kleineren rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprunge 24' eine dickere und breitere Basis, um die schwache Sprödigkeit des Substrates, welches aus einem Keramikmaterial hergestellt ist, zu verstärken und zu kompensieren.
  • Ecken der kleineren rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge 40' mit gleichförmiger Höhe, hergestellt durch das obige Verfahren, vergrößern weiterhin die Schneidmöglichkeit der resultierenden Aufbereitungsvorrichtung, durch Herstellen eines Linienkontaktes mit der Polierscheibenoberfläche, und zu gleicher Zeit vergrößern die kleineren rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge 40' auch die Abführeffizienz der Aufbereitungsvorrichtung, durch Helfen bei der Ableitung von Schlamm und Partikelrückständen von der Schneidoberfläche. Weiterhin sind die rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge 28' mit solchen kleineren rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprüngen 40' effektiv beim gleichmäßigen Verteilen von Schlamm während des An-Ort-und-Stelle-(in-situ)-Aufbereitungsverfahrens.
  • Wie durch die 13D gezeigt wird, wird das Substrat, nachdem es ausgebildet wurde mit kleineren rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprüngen 40', einer Gasphasenabscheidung nach chemischem Verfahren (chemical vapor deposition CVD) ausgesetzt, um eine Diamantschicht 52 auszubilden. Eine weit verbreitet verwendete herkömmliche CVD-Einrichtung wird verwendet für das CVD-Verfahren, welches die folgenden Eigenschaften, welche in der Tabelle 1 aufgelistet sind, aufweist. Ein 4 inch Si3N4-Substrat wurde verwendet, um die Diamantschicht 52 abzuscheiden. Tabelle 1: Bedingungen für das CVD-Verfahren
    Figure 00270001
  • Eine Diamantschicht 52 mit einer dünnen und gleichförmigen Dicke, welche stark an der Oberfläche des Substrates 50 anhaftet, wurde erzielt. Wegen der dünnen und gleichförmigen Dicke der Diamantschicht 52 wurde die Oberflächenstruktur des Substrates 50 erhalten nach dem Abscheidungsverfahren. Die obigen Bedingungen, welche die Gasphasenabscheidung nach chemischem Verfahren begleiteten, stellen eine von vielen geeigneten Bedingungen dar, welche angewendet werden können für das CVD-Verfahren in der vorliegenden Erfindung.
  • Nach dem Ausbilden der Diamantschicht 52 auf der Substratoberfläche wird ein vorgefertigter Körperbereich 20 fest angeschlossen an das Substrat 50. Der Körperbereich 20 arbeitet, um die resultierende Aufbereitungsvorrichtung mit der Aufbereitungseinrichtung zu verbinden, zum besseren Steuern des Verfahrens des Schneidens der Polierscheibe. Alternativ kann eine Aufbereitungsvorrichtung, ohne die Funktion des Körperbereiches 20 zu kompensieren, realisiert werden ohne den Körperbereich 20, wie dargestellt durch die vorzugsweisen Ausführungen.
  • Das obige Verfahren zum Herstellen einer Aufbereitungsvorrichtung wurde beschrieben für die erste vorzugsweise Ausführung der vorliegenden Erfindung. Der Fachmann kann jedoch andere vorzugsweise Ausführungen von einer Aufbereitungsvorrichtung herstellen, durch das oben beschriebene Verfahren, wie zum Beispiel die vorzugsweisen Ausführungen, welche gezeigt wurden und dargestellt wurden durch die 2E, 3A, 4A und 5A. Insbesondere kann die vorzugsweise Ausführung einer Aufbereitungsvorrichtung mit segmentierten Schneidbereichen, wie in 6A gezeigt wird, realisiert werden, durch Aussetzen eines Substrates 50 einem Feinschleifverfahren, um hochebene Oberflächen zu erreichen, welche die gewünschte gleichförmige Rauhigkeit aufweisen, gefolgt durch das Beschichten einer Diamantschicht auf das Substrat 50 mittels eines CVD-Verfahrens. Dann wird das Substrat 50, welches die Diamantschicht aufweist, in unabhängige segmentierte Schneidbereiche geschnitten, welche fest angeschlossen sind an der Oberfläche des Körperbereiches 20 in einer Anordnung, wie sie durch die 6A gezeigt wird.
  • Weiterhin können die kleineren rechtwinkligen pyramidischen regelmäßigen Vorsprünge 44, wie sie in den 11A und 11B gezeigt werden, erreicht werden durch Auswählen des Diamantrades 156a, das eine geeignete Dicke und abgerundete Krümmung an seiner äußeren Diamantschicht aufweist. Ähnlich können die kleineren dreieckigen regelmäßigen Vorsprünge 46 wie sie in den 12A und 12B gezeigt werden, erreicht werden, durch Verwenden eines geeigneten Diamantrades 156a. Die rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprünge, welche eine flache Oberfläche aufweisen, wie in den 7A, 7B, 8A und 8B gezeigt wird, können direkt mit der Diamantschicht 52 beschichtet werden, ohne einem Verfahren ausgesetzt zu werden, wie es in der 13C dargestellt ist.
  • Auf der anderen Seite können die zylindrischen regelmäßigen Vorsprünge 28b, welche in den 9A und 9B gezeigt sind, effektiver erreicht werden, durch ein Formgebungsverfahren, in welchem ein Substrat, welches schon integral ausgebildet wird mit den zylindrischen regelmäßigen Vorsprüngen 28b, erzielt wird durch Formen/Gießen (molding). Die zylindrischen regelmäßigen Vorsprünge 28b des Substrates werden dann einem Feinschleifverfahren ausgesetzt, direkt gefolgt durch ein chemisches Gasphasenabscheidungsverfahren, um beschichtet zu werden mit einer Diamantschicht. Ähnlich kann ein Substrat mit den rechtwinkligen regelmäßigen Vorsprüngen erzielt werden durch ein Formgebungsverfahren (molding process).
  • Zudem können die Rinnen und Kerben der vorliegenden Erfindung, welche eine V-Querschnittsform aufweisen, realisiert werden durch Verwenden eines Diamantrades mit einem rechtwinkligen Ende und durch Drehen des Substrates, welches bearbeitet werden soll um 45 Grad von seiner horizontalen Position aus.
  • Eine Aufbereitungsvorrichtung, die zur Verfügung gestellt wird durch die vorliegende Erfindung, stellt Ausnahmeschneidfähigkeiten zur Verfügung, und weil ihre Anti-Verschleiß- und Anti-Korrosionseigenschaften ähnlich denen von Diamanten sind, wird der Aufbereitungsvorrichtung eine verlängerte Lebensdauer verliehen. Die regelmäßigen Vorsprünge des Schneidbereiches arbeiten als Schneidmesser und erlauben, dass die Aufbereitungsvorrichtung in Punkt- und Flächenkontakt mit den Polierscheiben kommt, zusätzlich zu ihrer primären Funktion des Herstellens eines Linienkontaktes. Die Diamantschicht, welche auf der Schneidoberfläche ausgebildet wird, versieht die Aufbereitungsvorrichtung mit Ausnahmesteifigkeits- und Sprödeigenschaften. Insbesondere verstärkt die Diamantschicht die strukturelle Integrität der Schneidoberfläche, um den Verschleiß der scharten Ecken der Schneidmesser durch Polierpartikel, wie zum Beispiel Aluminium, Silika und Zerdioxid (Ceria) vom Schlamm, zu vermindern. Weiterhin, kann durch das Vorsehen der Diamantschicht auf der Schneidoberfläche das Ablösen von Diamantpartikeln von der Schneidoberfläche, wie es in den herkömmlichen Aufbereitungsvorrichtungen auftrat, eliminiert werden, und die Metallionen-Verunreinigung der Wafer-Schaltkreise, welche verursacht wird durch korrodierte Bindungsmetalle von der Oberfläche der herkömmlichen Aufbereitungsvorrichtungen in Metall-CMP-Verfahren, kann verhindert werden. Zusätzlich stellt die Diamantschicht, welche eine dünne und gleichförmige Dicke aufweist, eine andauernde Schneidperformance zur Verfügung, während sie gleichzeitig die Schleiffähigkeit der Aufbereitungsvorrichtung vergrößert. Zudem vergrößern die Rinnen und Kerben mit U- oder V-Querschnittsformen weiterhin die Schneideffizienz der Aufbereitungsvorrichtung durch effektives Abführen der zurückbleibenden Partikel von der Schneidoberfläche.
  • Industrielle Anwendbarkeit
  • Die Aufbereitungsvorrichtung, welche durch die vorliegende Erfindung dargestellt wird, macht es möglich, eine gewünschte Schneidperformance zu erreichen und zu steuern, und stellt einen Vorteil des Ausführens einer hocheffektiven Aufbereitung ohne das Vorhandensein von einem hohen Druck zur Verfügung. Als ein Ergebnis kann eine Polierscheibe mit einer gleichförmig aufbereiteten Oberfläche erzielt werden, um das Auftreten von begleitenden Mikrokratzern auf den Wafer-Oberflächen zu vermindern, so dass die Mengenleistung an Halbleiterscheiben vergrößert werden kann, während die Produktionskosten vermindert werden können durch eine vergrößerte Lebenszeit der Polierscheiben, welche aufbereitet werden durch die Aufbereitungsvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung.
  • Ein Verfahren des Herstellens einer Aufbereitungsvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung ist relativ einfach und hat einen ausgeprägten Vorteil, nicht eingeschränkt oder begrenzt zu sein bei der Herstellung von Aufbereitungsvorrichtungen, welche Schneidbereiche von verschiedenen Formen und Größen aufweisen. Im Hinblick auf unterschiedliche Grade an Oberflächenrauhigkeit der Polierscheiben, welche gefordert werden, um Wafer-Schaltkreise und Wafer, die aus unterschiedlichen Typen an Material hergestellt sind, zu polieren, ermöglicht das Verfahren, welches zur Verfügung gestellt wird durch die vorliegende Erfindung, die Herstellung von Aufbereitungsvorrichtungen, geeignet für die Polierscheiben mit unterschiedlichen Graden an Oberflächenrauhigkeit, durch Einstellen und Steuern der Größe der regelmäßigen Vorsprünge, des Abstandes zwischen den Rinnen, des Abstandes zwischen den Kerben und der Dicke der Diamantschicht. Das Verfahren zur Herstellung einer Aufbereitungsvorrichtung für Polierscheiben gemäß der vorliegenden Erfindung ist viel flexibler und anpassbarer als die herkömmlichen Elektroabscheid- und Hartlötverfahren.
  • Während die vorliegende Erfindung insbesondere gezeigt wurde und beschrieben wurde mit Bezug auf besondere Ausführungen derselben, soll verstanden werden, dass die vorliegende Erfindung nicht begrenzt ist auf diese vorzugsweisen Ausführungen, sondern verschiedene Änderungen und Modifikationen durch den Fachmann ausgeführt werden können innerhalb des Erfindungsgedankens und der Offenbarung der Erfindung, wie sie nachfolgend beansprucht wird.

Claims (16)

  1. Eine Aufbereitungsvorrichtung für Polierscheiben, umfassend: ein Substrat, welches ausgebildet wurde mit einer Vielzahl von regelmäßigen Vorsprüngen mit einer gleichförmigen Höhe auf wenigstens einer seiner Seiten, wobei die regelmäßigen Vorsprünge eine zylindrische oder rechtwinklige Form aufweisen und auf ihren oberen Oberflächen mit einer Vielzahl von gekreuzten Kerben, welche U- oder V-Formen aufweisen, ausgebildet sind, um kleinere regelmäßige Vorsprünge mit einer gleichförmigen Höhe auf den oberen Oberflächen der regelmäßigen Vorsprünge auszubilden; und eine Diamantschicht mit einer gleichförmigen Dicke, welche durch Gasphasenabscheidung nach chemischem Verfahren auf der gesamten Oberfläche der Seite des Substrates geformt ist, welche die regelmäßigen Vorsprünge aufweist.
  2. Eine Aufbereitungsvorrichtung für Polierscheiben, wie beansprucht in Anspruch 1, wobei die regelmäßigen Vorsprünge, welche auf der Oberfläche des Substrates ausgebildet sind, ein Muster aus gekreuzten Streifen aufweisen, welches realisiert ist durch kreuzende ersten Rinnen und durch kreuzende Streifen aus zweiten Rinnen, welche eine größere Bodenbreite als die der ersten Rinnen aufweisen, wobei die zweite Rinne ausgebildet ist in einem Intervall von einer bestimmten Anzahl aus ersten Rinnen, und beide – die ersten und die zweiten Rinnen – U- oder V-Querschnittsformen aufweisen.
  3. Eine Aufbereitungsvorrichtung für Polierscheiben, wie beansprucht in Anspruch 1, wobei das Substrat hergestellt ist aus Keramik oder aus zementierten Karbid-Materialien.
  4. Eine Aufbereitungsvorrichtung für Polierscheiben, wie beansprucht in Anspruch 1, wobei die Aufbereitungsvorrichtung weiterhin einen Körperbereich umfasst, welcher fest angeschlossen ist an das Substrat an einer Seite, entgegengesetzt zu der Seite, welche mit den regelmäßigen Vorsprüngen ausgebildet wurde.
  5. Eine Aufbereitungsvorrichtung für Polierscheiben, wie beansprucht in Anspruch 4, wobei der Körperbereich ein Querschnittsprofil einer Ringröhre mit flachen oberen und unteren Oberflächen aufweist oder einer Ringröhre mit einer von ihren geöffneten Oberflächen eingeschlossen, und eine Anzahl von unabhängig segmentierten Bereichen aufweist, die zueinander beabstandet sind in einer bestimmten Distanz und fest angeschlossen sind an eine der Oberflächen des Körperbereiches, um die Form eines Gürtels einzunehmen.
  6. Eine Aufbereitungsvorrichtung für Polierscheiben, wie beansprucht in Anspruch 4, wobei der Körperbereich hergestellt ist aus wenigstens einem Material, ausgewählt von der Gruppe, welche besteht aus rostfreiem Stahl, technischem Plastik und Keramik.
  7. Eine Aufbereitungsvorrichtung für Polierscheiben, wie beansprucht in Anspruch 1, wobei die regelmäßigen Vorsprünge ausgebildet sind auf a) einer Oberfläche von wenigstens einer Seite des Substrates, welches eine Form von einer Scheibe oder Platte mit mehreren Ecken aufweist, b) einer Oberfläche eines Ringbereiches, der emporgehoben ist über einen inneren Bereich eines Substrates mit einer Becherform, c) einer Oberfläche von wenigstens einer Seite eines Substrates mit einer Form einer Ringröhre mit flachen oberen und unteren Oberflächen oder d) einer Oberfläche von segmentierten Bereichen, die ausgebildet sind auf dem Ringbereich des Substrates mit einer Becherform oder auf einer Oberfläche der segmentierten Bereiche, die ausgebildet sind auf einer der Seiten des ringröhrenförmigen Substrates.
  8. Ein Verfahren zum Herstellen einer Aufbereitungsvorrichtung für Polierscheiben, umfassend die folgenden Schritte: a) das Ausbilden von gekreuzten Streifen aus Rinnen auf einem Substrat mit einer bestimmten Form, um eine Vielzahl von regelmäßigen Vorsprüngen, welche eine zylindrische oder rechtwinklige Form aufweisen, in einer gleichförmigen Höhe auf einer Oberfläche des Substrates zu bilden, und ferner das Ausbilden einer Vielzahl von Kerben in vorbestimmten gekreuzten Richtungen, um eine Vielzahl von kleineren regelmäßigen Vorsprüngen in einer gleichförmigen Höhe auf den Oberflächen der regelmäßigen Vorsprünge auszubilden; und b) das Ausbilden einer Diamantschicht mit einer gleichförmigen Dicke, beschichtet im wesentlichen auf einer gesamten Oberfläche des Substrates, hergestellt durch Schritt a) durch Gasphasenabscheidung nach chemischem Verfahren (CVD).
  9. Ein Verfahren zum Herstellen einer Aufbereitungsvorrichtung für Polierscheiben, wie beansprucht in Anspruch 8, wobei die regelmäßigen Vorsprünge ausgebildet sind auf a) einer Oberfläche von wenigstens einer Seite eines Substrates mit einer Form einer Scheibe (disk) oder einer Platte mit mehreren Ecken, b) eine Oberfläche von einem Ringbereich, der emporgehoben ist über einen inneren Bereich eines Substrates mit einer Becherform, c) einer Oberfläche von wenigstens einer Seite eines Substrates mit einer Form einer Ringröhre mit flachen oberen und unteren Oberflächen oder d) Oberflächen von segmentierten Bereichen, die ausgebildet sind auf dem Ringbereich des Substrates mit einer Becherform oder auf Oberflächen der segmentierten Bereiche, welche ausgebildet sind auf einer der Seiten des ringröhrenförmigen Substrates.
  10. Ein Verfahren zum Herstellen einer Aufbereitungsvorrichtung für Polierscheiben, wie beansprucht in Anspruch 8, wobei die regelmäßigen Vorsprünge eine Form von Rechtwinkeln aufweisen und angeordnet sind in einem Muster aus gekreuzten Streifen.
  11. Ein Verfahren zum Herstellen einer Aufbereitungsvorrichtung für Polierscheiben, wie beansprucht in Anspruch 8, wobei die Rinnen auf der Oberfläche des Substrates und die Kerben auf den Oberflächen der regelmäßigen Vorsprünge ausgebildet sind durch Schleif- und/oder Schneidverfahren, bei Verwendung eine starken Schneidrades, wie ein Diamantrad.
  12. Ein Verfahren zum Herstellen einer Aufbereitungsvorrichtung für Polierscheiben, wie beansprucht in Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass das Substrat zum erzielen einer gleichförmigen Oberfläche auf wenigstens einer Seite sowie zum erzielen paralleler Substrat-Oberflächen einem Feinschleif- und Läppverfahren unterworfen wird.
  13. Ein Verfahren zum Herstellen einer Aufbereitungsvorrichtung für Polierscheiben, wie beansprucht in Anspruch 8, wobei Schritt a) ausgeführt wird durch einen Formgebungsprozess, in welchem eine vorbestimmte Formmassenzusammensetzung eingespritzt und gekühlt wird in einer Form, welche die Form eines Substrates mit regelmäßigen Vorsprüngen aufweist.
  14. Ein Verfahren zum Herstellen einer Aufbereitungsvorrichtung für Polierscheiben, wie beansprucht in Anspruch 8, wobei das Substrat hergestellt ist aus Keramik oder zementierten Karbid-Materialien.
  15. Ein Verfahren zum Herstellen einer Aufbereitungsvorrichtung für Polierscheiben, wie beansprucht in Anspruch 8, wobei das Verfahren weiterhin die Schritte umfasst des Anschließens eines Körperbereiches an das Substrat an einer Seite entgegengesetzt zu der Seite, welche ausgebildet wurde mit regelmäßigen Vorsprüngen, zum Verbinden der Aufbereitungsvorrichtung mit einer Aufbereitungseinrichtung.
  16. Ein Verfahren zum Herstellen einer Aufbereitungsvorrichtung für Polierscheiben, wie beansprucht in Anspruch 9, wobei das Verfahren weiterhin die Schritte umfasst des Anschließens eines Körperbereiches an das Substrat an einer Seite entgegengesetzt zu der Seite, welche ausgebildet wurde mit regelmäßigen Vorsprüngen, zum Verbinden der Aufbereitungsvorrichtung mit einer Aufbereitungseinrichtung.
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US09/521,035 US6439986B1 (en) 1999-10-12 2000-03-08 Conditioner for polishing pad and method for manufacturing the same
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TW (1) TW467802B (de)
WO (1) WO2001026862A1 (de)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2025457A3 (de) * 2007-08-16 2014-08-20 Rohm and Haas Electronic Materials CMP Holdings, Inc. Polierkissen mit Gitter aus mehreren verbundenen Elementen
WO2014158892A1 (en) * 2013-03-14 2014-10-02 Nexplanar Corporation Polishing pad having polishing surface with continuous protrusions having tapered sidewalls
WO2017030873A1 (en) * 2015-08-14 2017-02-23 M Cubed Technologies, Inc. Wafer chuck featuring reduced friction support surface
US9941148B2 (en) 2014-11-23 2018-04-10 M Cubed Technologies, Inc. Wafer pin chuck fabrication and repair
US10702968B2 (en) 2015-08-14 2020-07-07 M Cubed Technologies, Inc. Machine for finishing a work piece, and having a highly controllable treatment tool
US10792778B2 (en) 2015-08-14 2020-10-06 M Cubed Technologies, Inc. Method for removing contamination from a chuck surface
US10953513B2 (en) 2015-08-14 2021-03-23 M Cubed Technologies, Inc. Method for deterministic finishing of a chuck surface

Families Citing this family (123)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9238207B2 (en) 1997-04-04 2016-01-19 Chien-Min Sung Brazed diamond tools and methods for making the same
US9199357B2 (en) 1997-04-04 2015-12-01 Chien-Min Sung Brazed diamond tools and methods for making the same
US9463552B2 (en) 1997-04-04 2016-10-11 Chien-Min Sung Superbrasvie tools containing uniformly leveled superabrasive particles and associated methods
US9868100B2 (en) 1997-04-04 2018-01-16 Chien-Min Sung Brazed diamond tools and methods for making the same
US9409280B2 (en) 1997-04-04 2016-08-09 Chien-Min Sung Brazed diamond tools and methods for making the same
US9221154B2 (en) 1997-04-04 2015-12-29 Chien-Min Sung Diamond tools and methods for making the same
FR2786118B1 (fr) * 1998-11-19 2000-12-22 Lam Plan Sa Dispositif de rodage ou polissage
JP3555844B2 (ja) 1999-04-09 2004-08-18 三宅 正二郎 摺動部材およびその製造方法
TW467802B (en) * 1999-10-12 2001-12-11 Hunatech Co Ltd Conditioner for polishing pad and method for manufacturing the same
JP2002226290A (ja) * 2000-11-29 2002-08-14 Japan Fine Ceramics Center ダイヤモンド加工体の製造方法、及び、ダイヤモンド加工体
US20040072510A1 (en) * 2000-12-21 2004-04-15 Toshiya Kinoshita Cmp conditioner, method for arranging rigid grains used for cmp conditioner, and method for manufacturing cmp conditioner
JP2003039322A (ja) * 2001-07-31 2003-02-13 Allied Material Corp ポリシングパッドの修正用工具
US6887131B2 (en) * 2002-08-27 2005-05-03 Intel Corporation Polishing pad design
US6866566B2 (en) * 2001-08-24 2005-03-15 Micron Technology, Inc. Apparatus and method for conditioning a contact surface of a processing pad used in processing microelectronic workpieces
US7070480B2 (en) * 2001-10-11 2006-07-04 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for polishing substrates
JP2003117833A (ja) * 2001-10-15 2003-04-23 Shin Etsu Chem Co Ltd 研磨加工板
KR100447255B1 (ko) * 2001-12-31 2004-09-07 주식회사 하이닉스반도체 입자 함침층 조성물 및 이를 이용한 연마 패드
DE10206098A1 (de) * 2002-02-13 2003-08-28 Fraunhofer Ges Forschung Konditionierwerkzeug
US6872127B2 (en) * 2002-07-11 2005-03-29 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd Polishing pad conditioning disks for chemical mechanical polisher
US6852016B2 (en) * 2002-09-18 2005-02-08 Micron Technology, Inc. End effectors and methods for manufacturing end effectors with contact elements to condition polishing pads used in polishing micro-device workpieces
US6969198B2 (en) * 2002-11-06 2005-11-29 Nissan Motor Co., Ltd. Low-friction sliding mechanism
TWI238753B (en) * 2002-12-19 2005-09-01 Miyanaga Kk Diamond disk for grinding
KR20050092743A (ko) * 2003-01-15 2005-09-22 미츠비시 마테리알 가부시키가이샤 연질재 가공용 절삭 공구
JP2006520273A (ja) * 2003-03-14 2006-09-07 株式会社荏原製作所 研磨工具および研磨装置
US6802761B1 (en) 2003-03-20 2004-10-12 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Pattern-electroplated lapping plates for reduced loads during single slider lapping and process for their fabrication
JP3891433B2 (ja) * 2003-04-15 2007-03-14 日産自動車株式会社 燃料噴射弁
US8025808B2 (en) * 2003-04-25 2011-09-27 Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. Methods for machine ceramics
US7306748B2 (en) * 2003-04-25 2007-12-11 Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. Methods for machining ceramics
EP1479946B1 (de) * 2003-05-23 2012-12-19 Nissan Motor Co., Ltd. Kolben für eine Brennkraftmaschine
CN100521191C (zh) * 2003-05-26 2009-07-29 Nxp股份有限公司 半导体器件、鉴别方法和系统
EP1482190B1 (de) * 2003-05-27 2012-12-05 Nissan Motor Company Limited Wälzkörper
JP2005008851A (ja) * 2003-05-29 2005-01-13 Nissan Motor Co Ltd 硬質炭素薄膜付き機械加工工具用切削油及び硬質炭素薄膜付き機械加工工具
US7435161B2 (en) * 2003-06-17 2008-10-14 Cabot Microelectronics Corporation Multi-layer polishing pad material for CMP
US20050025973A1 (en) * 2003-07-25 2005-02-03 Slutz David E. CVD diamond-coated composite substrate containing a carbide-forming material and ceramic phases and method for making same
JP4863152B2 (ja) 2003-07-31 2012-01-25 日産自動車株式会社 歯車
US8206035B2 (en) 2003-08-06 2012-06-26 Nissan Motor Co., Ltd. Low-friction sliding mechanism, low-friction agent composition and method of friction reduction
JP2005054617A (ja) * 2003-08-08 2005-03-03 Nissan Motor Co Ltd 動弁機構
JP4973971B2 (ja) * 2003-08-08 2012-07-11 日産自動車株式会社 摺動部材
JP4117553B2 (ja) * 2003-08-13 2008-07-16 日産自動車株式会社 チェーン駆動装置
US7771821B2 (en) 2003-08-21 2010-08-10 Nissan Motor Co., Ltd. Low-friction sliding member and low-friction sliding mechanism using same
EP1508611B1 (de) 2003-08-22 2019-04-17 Nissan Motor Co., Ltd. Getriebe enthaltend eine getriebeölzusammensetzung
US20050076577A1 (en) * 2003-10-10 2005-04-14 Hall Richard W.J. Abrasive tools made with a self-avoiding abrasive grain array
US20070060026A1 (en) * 2005-09-09 2007-03-15 Chien-Min Sung Methods of bonding superabrasive particles in an organic matrix
US20060258276A1 (en) * 2005-05-16 2006-11-16 Chien-Min Sung Superhard cutters and associated methods
US7658666B2 (en) * 2004-08-24 2010-02-09 Chien-Min Sung Superhard cutters and associated methods
US7762872B2 (en) * 2004-08-24 2010-07-27 Chien-Min Sung Superhard cutters and associated methods
US7384436B2 (en) * 2004-08-24 2008-06-10 Chien-Min Sung Polycrystalline grits and associated methods
US7066795B2 (en) * 2004-10-12 2006-06-27 Applied Materials, Inc. Polishing pad conditioner with shaped abrasive patterns and channels
US8393934B2 (en) 2006-11-16 2013-03-12 Chien-Min Sung CMP pad dressers with hybridized abrasive surface and related methods
US8678878B2 (en) 2009-09-29 2014-03-25 Chien-Min Sung System for evaluating and/or improving performance of a CMP pad dresser
US8398466B2 (en) 2006-11-16 2013-03-19 Chien-Min Sung CMP pad conditioners with mosaic abrasive segments and associated methods
US9138862B2 (en) 2011-05-23 2015-09-22 Chien-Min Sung CMP pad dresser having leveled tips and associated methods
US8622787B2 (en) 2006-11-16 2014-01-07 Chien-Min Sung CMP pad dressers with hybridized abrasive surface and related methods
US9724802B2 (en) 2005-05-16 2017-08-08 Chien-Min Sung CMP pad dressers having leveled tips and associated methods
TWI290337B (en) * 2005-08-09 2007-11-21 Princo Corp Pad conditioner for conditioning a CMP pad and method of making the same
WO2007023949A1 (ja) * 2005-08-25 2007-03-01 Hiroshi Ishizuka 焼結体研磨部を持つ工具およびその製造方法
TW200726582A (en) * 2005-10-04 2007-07-16 Mitsubishi Materials Corp Rotary tool for processing flexible materials
US7410410B2 (en) * 2005-10-13 2008-08-12 Sae Magnetics (H.K.) Ltd. Method and apparatus to produce a GRM lapping plate with fixed diamond using electro-deposition techniques
US7494404B2 (en) * 2006-02-17 2009-02-24 Chien-Min Sung Tools for polishing and associated methods
US7241206B1 (en) * 2006-02-17 2007-07-10 Chien-Min Sung Tools for polishing and associated methods
US20080014845A1 (en) * 2006-07-11 2008-01-17 Alpay Yilmaz Conditioning disk having uniform structures
US20080271384A1 (en) * 2006-09-22 2008-11-06 Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. Conditioning tools and techniques for chemical mechanical planarization
US20080153398A1 (en) * 2006-11-16 2008-06-26 Chien-Min Sung Cmp pad conditioners and associated methods
US8168075B2 (en) * 2006-12-20 2012-05-01 Laconto Ronald W Methods for machining inorganic, non-metallic workpieces
JP2008229820A (ja) * 2007-03-23 2008-10-02 Elpida Memory Inc Cmp加工用のドレッサ及びcmp加工装置並びにcmp加工用の研磨パッドのドレッシング処理方法
MY159601A (en) 2007-08-23 2017-01-13 Saint Gobain Abrasifs Sa Optimized cmp conditioner design for next generation oxide/metal cmp
CN101903131B (zh) * 2007-11-13 2013-01-02 宋健民 Cmp垫修整器
US8382557B2 (en) 2007-11-14 2013-02-26 Saint-Gobain Abrasives, Inc. Chemical mechanical planarization pad conditioner and methods of forming thereof
US9011563B2 (en) * 2007-12-06 2015-04-21 Chien-Min Sung Methods for orienting superabrasive particles on a surface and associated tools
WO2009114413A1 (en) * 2008-03-10 2009-09-17 Morgan Advanced Ceramics, Inc. Non-planar cvd diamond-coated cmp pad conditioner and method for manufacturing
US8182315B2 (en) * 2008-03-24 2012-05-22 Phuong Van Nguyen Chemical mechanical polishing pad and dresser
CN102341215B (zh) * 2009-03-24 2014-06-18 圣戈班磨料磨具有限公司 用作化学机械平坦化垫修整器的研磨工具
JP5453526B2 (ja) 2009-06-02 2014-03-26 サンーゴバン アブレイシブズ,インコーポレイティド 耐腐食性cmpコンディショニング工具並びにその作製および使用法
US20110097977A1 (en) * 2009-08-07 2011-04-28 Abrasive Technology, Inc. Multiple-sided cmp pad conditioning disk
CH701596B1 (de) * 2009-08-11 2013-08-15 Meister Abrasives Ag Abrichtwerkzeug.
US8701211B2 (en) * 2009-08-26 2014-04-15 Advanced Diamond Technologies, Inc. Method to reduce wedge effects in molded trigonal tips
EP2474025A2 (de) * 2009-09-01 2012-07-11 Saint-Gobain Abrasives, Inc. Spülung für chemisch-mechanisches polieren
WO2011087653A1 (en) * 2009-12-22 2011-07-21 3M Innovative Properties Company Flexible abrasive article and methods of making
KR101091030B1 (ko) * 2010-04-08 2011-12-09 이화다이아몬드공업 주식회사 감소된 마찰력을 갖는 패드 컨디셔너 제조방법
KR101161015B1 (ko) * 2010-09-10 2012-07-02 신한다이아몬드공업 주식회사 Cmp 패드 컨디셔너 및 그 제조방법
CN103221180A (zh) 2010-09-21 2013-07-24 铼钻科技股份有限公司 具有基本平坦颗粒尖端的超研磨工具及其相关方法
KR101674058B1 (ko) * 2010-10-05 2016-11-09 삼성전자 주식회사 패드 컨디셔닝 디스크, 및 프리 컨디셔너 유닛을 포함하는 cmp 장치
US20120171935A1 (en) * 2010-12-20 2012-07-05 Diamond Innovations, Inc. CMP PAD Conditioning Tool
KR101211138B1 (ko) * 2011-03-07 2012-12-11 이화다이아몬드공업 주식회사 연약패드용 컨디셔너 및 그 제조방법
US9132526B2 (en) * 2011-03-07 2015-09-15 Entegris, Inc. Chemical mechanical planarization conditioner
KR101144981B1 (ko) 2011-05-17 2012-05-11 삼성전자주식회사 Cmp 패드 컨디셔너 및 상기 cmp 패드 컨디셔너 제조방법
CN103329253B (zh) 2011-05-23 2016-03-30 宋健民 具有平坦化尖端的化学机械研磨垫修整器
KR101339722B1 (ko) 2011-07-18 2013-12-10 이화다이아몬드공업 주식회사 Cmp 패드 컨디셔너
CA2773197A1 (en) * 2012-03-27 2013-09-27 Yundong Li Electroplated super abrasive tools with the abrasive particles chemically bonded and deliberately placed, and methods for making the same
US9254548B2 (en) 2012-04-25 2016-02-09 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Method of forming diamond conditioners for CMP process
CN110328616A (zh) * 2012-05-04 2019-10-15 恩特格里斯公司 具有超硬磨料增强的化学机械平坦化修整器衬垫
JP6188286B2 (ja) 2012-07-13 2017-08-30 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 研磨パッド及びガラス、セラミックス、及び金属材料の研磨方法
EP2879837B1 (de) 2012-08-02 2018-09-19 3M Innovative Properties Company Schleifelementvorläufer mit formgenauen komponenten und herstellungsverfahren dafür
EP2879836B1 (de) * 2012-08-02 2019-11-13 3M Innovative Properties Company Schleifelement mit formgenauen Merkmalen, daraus hergestellte Schleifartikel und Herstellungsverfahren dafür
JP6715006B2 (ja) * 2012-08-02 2020-07-01 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 精密に成形された構造部を有する研磨物品及びその作製方法
KR101392401B1 (ko) * 2012-11-30 2014-05-07 이화다이아몬드공업 주식회사 컨디셔너 겸용 웨이퍼 리테이너링 및 상기 리테이너링 제조방법
US9649742B2 (en) * 2013-01-22 2017-05-16 Nexplanar Corporation Polishing pad having polishing surface with continuous protrusions
KR102008782B1 (ko) * 2013-01-30 2019-08-08 새솔다이아몬드공업 주식회사 패드 컨디셔너 및 그의 제조방법
US9457450B2 (en) 2013-03-08 2016-10-04 Tera Xtal Technology Corporation Pad conditioning tool
TWI583496B (zh) * 2013-05-09 2017-05-21 中國砂輪企業股份有限公司 化學機械研磨修整器之尖點檢測方法及裝置
SG11201509933QA (en) 2013-06-06 2016-01-28 Advanced Tech Materials Compositions and methods for selectively etching titanium nitride
US20150044783A1 (en) * 2013-08-12 2015-02-12 Micron Technology, Inc. Methods of alleviating adverse stress effects on a wafer, and methods of forming a semiconductor device
US10293463B2 (en) 2014-03-21 2019-05-21 Entegris, Inc. Chemical mechanical planarization pad conditioner with elongated cutting edges
TW201600242A (zh) * 2014-06-18 2016-01-01 Kinik Co 拋光墊修整器
CN104070467B (zh) * 2014-06-20 2016-08-17 广东工业大学 微刃磨削制品及其制备方法和应用
US10173300B1 (en) * 2014-10-06 2019-01-08 Us Synthetic Corporation Polycrystalline diamond compact, drill bit incorporating same, and methods of manufacture
TWI616278B (zh) * 2015-02-16 2018-03-01 China Grinding Wheel Corp 化學機械研磨修整器
JP6453666B2 (ja) 2015-02-20 2019-01-16 東芝メモリ株式会社 研磨パッドドレッサの作製方法
USD793971S1 (en) 2015-03-27 2017-08-08 Veeco Instruments Inc. Wafer carrier with a 14-pocket configuration
USD793972S1 (en) * 2015-03-27 2017-08-08 Veeco Instruments Inc. Wafer carrier with a 31-pocket configuration
USD778247S1 (en) 2015-04-16 2017-02-07 Veeco Instruments Inc. Wafer carrier with a multi-pocket configuration
TWI623382B (zh) * 2015-10-27 2018-05-11 中國砂輪企業股份有限公司 Hybrid chemical mechanical polishing dresser
CN107405755B (zh) * 2015-12-10 2019-03-22 联合材料公司 超硬磨料砂轮
US9849562B2 (en) * 2015-12-28 2017-12-26 Shine-File Llc And manufacture of an abrasive polishing tool
JP6754519B2 (ja) * 2016-02-15 2020-09-16 国立研究開発法人海洋研究開発機構 研磨方法
KR102581481B1 (ko) 2016-10-18 2023-09-21 삼성전자주식회사 화학적 기계적 연마 방법, 반도체 소자의 제조 방법, 및 반도체 제조 장치
TWI621503B (zh) * 2017-05-12 2018-04-21 Kinik Company Ltd. 化學機械研磨拋光墊修整器及其製造方法
TWI654049B (zh) * 2017-05-16 2019-03-21 中國砂輪企業股份有限公司 研磨工具及其製造方法
CN111032284B (zh) * 2017-08-04 2022-11-04 3M创新有限公司 具有增强的共平面性的微复制型抛光表面
US10654150B2 (en) 2017-12-26 2020-05-19 Industrial Technology Research Institute Grinding disk and method of manufacturing the same
US20210299816A1 (en) * 2020-03-25 2021-09-30 Rohm And Haas Electronic Materials Cmp Holdings, Inc. Cmp polishing pad with protruding structures having engineered open void space
USD1004393S1 (en) * 2021-11-09 2023-11-14 Ehwa Diamond Industrial Co., Ltd. Grinding pad
USD1000928S1 (en) * 2022-06-03 2023-10-10 Beng Youl Cho Polishing pad

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5152917A (en) * 1991-02-06 1992-10-06 Minnesota Mining And Manufacturing Company Structured abrasive article
JPH07328937A (ja) * 1994-06-09 1995-12-19 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> パッドコンディショナー及びその製造方法
US5536202A (en) * 1994-07-27 1996-07-16 Texas Instruments Incorporated Semiconductor substrate conditioning head having a plurality of geometries formed in a surface thereof for pad conditioning during chemical-mechanical polish
JPH106218A (ja) * 1996-06-27 1998-01-13 Minnesota Mining & Mfg Co <3M> ドレッシング用研磨材製品
JPH1015819A (ja) * 1996-06-28 1998-01-20 Asahi Daiyamondo Kogyo Kk ドレッサ及びその製造方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5489233A (en) 1994-04-08 1996-02-06 Rodel, Inc. Polishing pads and methods for their use
JPH1110530A (ja) 1997-06-25 1999-01-19 Shin Etsu Handotai Co Ltd 両面研磨用キャリア
JPH1133911A (ja) * 1997-07-16 1999-02-09 Asahi Diamond Ind Co Ltd コンディショナ及びその製造方法
JPH11133911A (ja) 1997-10-24 1999-05-21 Canon Inc 画像形成方法及び装置
US6027659A (en) * 1997-12-03 2000-02-22 Intel Corporation Polishing pad conditioning surface having integral conditioning points
US5997597A (en) * 1998-02-24 1999-12-07 Norton Company Abrasive tool with knurled surface
JP3295888B2 (ja) * 1998-04-22 2002-06-24 株式会社藤森技術研究所 ケミカルマシンポリッシャの研磨盤用研磨ドレッサ
KR19990081117A (ko) * 1998-04-25 1999-11-15 윤종용 씨엠피 패드 컨디셔닝 디스크 및 컨디셔너, 그 디스크의 제조방법, 재생방법 및 세정방법
US6299508B1 (en) * 1998-08-05 2001-10-09 3M Innovative Properties Company Abrasive article with integrally molded front surface protrusions containing a grinding aid and methods of making and using
TW467802B (en) * 1999-10-12 2001-12-11 Hunatech Co Ltd Conditioner for polishing pad and method for manufacturing the same

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5152917A (en) * 1991-02-06 1992-10-06 Minnesota Mining And Manufacturing Company Structured abrasive article
US5152917B1 (en) * 1991-02-06 1998-01-13 Minnesota Mining & Mfg Structured abrasive article
JPH07328937A (ja) * 1994-06-09 1995-12-19 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> パッドコンディショナー及びその製造方法
US5536202A (en) * 1994-07-27 1996-07-16 Texas Instruments Incorporated Semiconductor substrate conditioning head having a plurality of geometries formed in a surface thereof for pad conditioning during chemical-mechanical polish
JPH106218A (ja) * 1996-06-27 1998-01-13 Minnesota Mining & Mfg Co <3M> ドレッシング用研磨材製品
JPH1015819A (ja) * 1996-06-28 1998-01-20 Asahi Daiyamondo Kogyo Kk ドレッサ及びその製造方法

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2025457A3 (de) * 2007-08-16 2014-08-20 Rohm and Haas Electronic Materials CMP Holdings, Inc. Polierkissen mit Gitter aus mehreren verbundenen Elementen
WO2014158892A1 (en) * 2013-03-14 2014-10-02 Nexplanar Corporation Polishing pad having polishing surface with continuous protrusions having tapered sidewalls
KR20150127181A (ko) * 2013-03-14 2015-11-16 넥스플래너 코퍼레이션 테이퍼형 측벽을 가지고 있는 연속적인 돌출부를 가진 폴리싱면을 가지고 있는 폴리싱 패드
KR101669848B1 (ko) 2013-03-14 2016-10-27 넥스플래너 코퍼레이션 테이퍼형 측벽을 가지고 있는 연속적인 돌출부를 가진 폴리싱면을 가지고 있는 폴리싱 패드
US10160092B2 (en) 2013-03-14 2018-12-25 Cabot Microelectronics Corporation Polishing pad having polishing surface with continuous protrusions having tapered sidewalls
US9941148B2 (en) 2014-11-23 2018-04-10 M Cubed Technologies, Inc. Wafer pin chuck fabrication and repair
US10242905B2 (en) 2014-11-23 2019-03-26 M Cubed Technologies, Inc. Wafer pin chuck fabrication and repair
WO2017030873A1 (en) * 2015-08-14 2017-02-23 M Cubed Technologies, Inc. Wafer chuck featuring reduced friction support surface
US10702968B2 (en) 2015-08-14 2020-07-07 M Cubed Technologies, Inc. Machine for finishing a work piece, and having a highly controllable treatment tool
US10790181B2 (en) 2015-08-14 2020-09-29 M Cubed Technologies, Inc. Wafer chuck featuring reduced friction support surface
US10792778B2 (en) 2015-08-14 2020-10-06 M Cubed Technologies, Inc. Method for removing contamination from a chuck surface
US10953513B2 (en) 2015-08-14 2021-03-23 M Cubed Technologies, Inc. Method for deterministic finishing of a chuck surface

Also Published As

Publication number Publication date
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WO2001026862A8 (en) 2002-06-06

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