DE10044429A1 - Elektronische Keramikkomponente - Google Patents
Elektronische KeramikkomponenteInfo
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- 239000000919 ceramic Substances 0.000 title claims abstract description 82
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 96
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 96
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 71
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 71
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims abstract description 8
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims description 21
- 239000003985 ceramic capacitor Substances 0.000 claims description 12
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 10
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 abstract description 18
- 238000000576 coating method Methods 0.000 abstract description 18
- 239000000306 component Substances 0.000 description 97
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 84
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 7
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 7
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 7
- 230000008569 process Effects 0.000 description 6
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 5
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N nickel Substances [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 5
- 238000007790 scraping Methods 0.000 description 5
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 3
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000006735 deficit Effects 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 2
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 2
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 2
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 2
- 229920005992 thermoplastic resin Polymers 0.000 description 2
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 2
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920001817 Agar Polymers 0.000 description 1
- 206010073261 Ovarian theca cell tumour Diseases 0.000 description 1
- 229910020220 Pb—Sn Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004695 Polyether sulfone Substances 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002113 barium titanate Inorganic materials 0.000 description 1
- JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N barium titanate Chemical compound [Ba+2].[Ba+2].[O-][Ti]([O-])([O-])[O-] JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229920001225 polyester resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004645 polyester resin Substances 0.000 description 1
- 229920006393 polyether sulfone Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 1
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 1
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/228—Terminals
- H01G4/232—Terminals electrically connecting two or more layers of a stacked or rolled capacitor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G2/00—Details of capacitors not covered by a single one of groups H01G4/00-H01G11/00
- H01G2/02—Mountings
- H01G2/06—Mountings specially adapted for mounting on a printed-circuit support
- H01G2/065—Mountings specially adapted for mounting on a printed-circuit support for surface mounting, e.g. chip capacitors
-
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- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G2/00—Details of capacitors not covered by a single one of groups H01G4/00-H01G11/00
- H01G2/14—Protection against electric or thermal overload
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/005—Electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3431—Leadless components
- H05K3/3442—Leadless components having edge contacts, e.g. leadless chip capacitors, chip carriers
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/10—Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
- H05K2201/10613—Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
- H05K2201/10621—Components characterised by their electrical contacts
- H05K2201/10636—Leadless chip, e.g. chip capacitor or resistor
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/10—Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
- H05K2201/10613—Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
- H05K2201/10742—Details of leads
- H05K2201/10886—Other details
- H05K2201/10909—Materials of terminal, e.g. of leads or electrodes of components
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Ceramic Capacitors (AREA)
- Coils Or Transformers For Communication (AREA)
Abstract
Eine elektronische Keramikkomponente umfaßt zumindest einen Komponentenkörper, der zwei einander gegenüberliegende Endflächen und Seitenflächen, die die Endflächen verbinden, aufweist, und Anschlußelektroden, die an bzw. auf dem Komponentenkörper ausgebildet sind. Jede der Anschlußelektroden erstreckt sich von jeder Endflächen zu Kantenabschnitten jeder Seitenfläche des Komponentenkörpers. Jede der Anschlußelektroden umfaßt eine Metallschicht, die an zumindest jeder Endfläche des Komponentenkörpers ausgebildet ist, eine leitfähige Harzschicht zum Bedecken von zumindest Abschnitten der Seitenflächen des Komponentenkörpers, und einen Metallüberzugsfilm, der die äußere Oberfläche der Anschlußelektrode bedeckt. Die leitfähige Harzschicht erstreckt sich von der Metallschicht einschließlich der Kante bzw. des Randes der Metallschicht zu den Abschnitten der Seitenflächen und umfaßt ein leitfähiges Harz, das ein Metallpulver und ein Harz enthält. Die Dicke der leitfähigen Harzschicht über den Seitenflächen beträgt zumindest ungefähr 10 mum.
Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf elektronische Ke
ramikkomponenten. Insbesondere bezieht sich die vorliegende
Erfindung auf die Struktur eines Anschlußabschnitts und eine
Verbesserung bezüglich des Materials einer elektronischen Ke
ramikkomponente, wie beispielsweise eines monolithischen Ke
ramikkondensators, die einen elektronischen Keramikkomponen
tenkörper (im folgenden als ein Komponentenkörper bezeichnet)
aufweist und oberflächenmontiert ist.
Fig. 1 zeigt eine Querschnittansicht einer oberflächenmon
tierten elektronischen Keramikkomponente 1, die eine Kompo
nente von Interesse bei der vorliegenden Erfindung ist. Die
elektronische Keramikkomponente 1 umfaßt einen Komponenten
körper 2 in Form eines rechteckigen Parallelepipeds, der zwei
einander gegenüberliegende Endflächen 3 und 4 und vier Sei
tenflächen 5 aufweist, die die Endflächen 3 und 4 verbinden.
Anschlußelektroden 6 und 7 sind jeweils an den Endflächen 3
und 4 ausgebildet. Die Anschlußelektroden 6 und 7 sind bei
spielsweise durch Beschichten und Brennen einer leitfähigen
Paste hergestellt und erstrecken sich über Kantenabschnitte
der Seitenflächen 5.
Der Komponentenkörper 2 ist ein Hauptbestandteil eines mono
lithischen Keramikkondensators und umfaßt eine Mehrzahl von
inneren Elektroden 8 und 9, die in dessen Innerem abwechselnd
angeordnet sind. Die inneren Elektroden 8 sind mit der An
schlußelektrode 6 elektrisch verbunden, wohingegen die inne
ren Elektroden 9 mit der Anschlußelektrode 7 elektrisch ver
bunden sind.
Eine Montageplatte 10 zum Montieren bzw. Anbringen der elek
tronischen Keramikkomponente 1 hat leitfähige Anschlußflächen
11 und 12 in Übereinstimmung mit den Anschlußelektroden 6
bzw. 7. Bei der Oberflächenmontage der elektronischen Ke
ramikkomponente 1 auf der Montageplatte 10 werden die An
schlußelektroden 6 und 7 bezüglich der leitfähigen Anschluß
flächen 11 bzw. 12 ausgerichtet, und die Anschlußelektroden 6
und 7 werden an die leitfähigen Anschlußflächen 11 bzw. 12
beispielsweise durch ein Lötmittelaufschmelzverfahren ("sol
der reflow process") gelötet. In der Zeichnung bezeichnen die
Bezugszeichen 13 und 14 ein Lötmittel bzw. Lötmetall, das
durch das Lötmittelaufschmelzverfahren vorgesehen wird. Das
Lötmittel 13 und 14 ist an den Endflächen 3 bzw. 4 vorgese
hen, einschließlich der Fortsätze bzw. Ausdehnungen, die sich
über die Kantenabschnitte der Seitenflächen 5 erstrecken.
Bei der oben erwähnten Oberflächenmontage der elektronischen
Keramikkomponente 1 bewirken eine Verzerrung der Montage
platte 10 und Wärmestoßzyklen, die ein wiederholtes Ansteigen
und Fallen der Temperatur umfassen, eine relativ große Bela
stungen bzw. Spannungen in den Anschlußelektroden 6 und 7 und
dem Komponentenkörper 2. Als Folge davon bilden sich Sprünge
bzw. Risse 15 in dem Komponentenkörper 2, wie es in Fig. 1
gezeigt ist.
Wie es in Fig. 8 gezeigt ist, gibt es ferner einen Fall, bei
dem Lötmittel 13 und 14 nicht nur an den Endflächen 3 und 4
der Anschlußelektroden 6 und 7 vorgesehen sind, sondern auch
an einer Seitenfläche 5a. In einem derartigen Fall kann ein
Riß 15 an der Seite der Seitenfläche 5a vorgesehen sein.
Da die Belastungen, die die Risse 15 bewirken, insbesondere
auf dem Komponentenkörper 2 bei den Fortsätzen bzw. Ausdeh
nungen der Anschlußelektroden 6 und 7 über den Seitenflächen
5, 5a einwirken, bilden sich die Risse 15 leicht bzw. schnell
in der Nähe der Kanten bzw. Ränder 16 und 17 der Anschluße
lektroden 6 bzw. 7. Ferner verstärken die Lötmittel 13 und
14, die an den Fortsätzen der Anschlußelektroden 6 und 7 über
den Seitenflächen 5, 5a vorgesehen sind, die Belastung.
Wenn die Montageplatte 10 eine Metallkern-Montageplatte ist,
wie beispielsweise eine Aluminiumplatte, die aus einer Alu
miniumbasis besteht, welche mit einer isolierenden Beschich
tung bedeckt ist, bewirkt ein großer Unterschied bezüglich
der thermischen Ausdehnungskoeffizienten zwischen der Monta
geplatte 10 und dem Komponentenkörper 2 eine große Belastung
bzw. Spannung ("stress") während der Wärmestoßzyklen, und so
mit bilden sich schnell bzw. leicht Risse 15.
Wenn der Komponentenkörper 2 ein monolithischer Keramikkon
densator mit hoher Kapazität ist, der aus einem dielektri
schen Keramikmaterial auf Pb-Basis besteht, hat der Kompo
nentenkörper 2 eine relativ geringe Biegefestigkeit. Somit
bilden sich leichter bzw. schneller die Risse 15.
Die Risse 15 bewirken eine Verringerung bezüglich der Naßbe
ständigkeit bzw. des Feuchtigkeitswiderstands und eine Ver
ringerung bezüglich der Wärmestoßbeständigkeit der elektro
nischen Keramikkomponente 1. Ferner bewirken die Risse 15
verringerte elektrische Charakteristika bzw. Eigenschaften,
wie beispielsweise einen Isolationswiderstand. Als Folge da
von ist die elektronische Keramikkomponente 1 weniger ver
läßlich.
Um die oben beschriebenen Probleme zu lösen, wird ein leitfä
higes Harz, das aus einem Harz und einem Metallpulver be
steht, zur Ausbildung der Anschlußelektroden 6 und 7 verwen
det, so daß das verformbare leitfähige Harz die Belastung
bzw. die Spannung lockern bzw. ausgleichen ("relax") kann.
Jedoch verringert sich die Haftfestigkeit des leitfähigen
Harzes der Anschlußelektroden 6 und 7 an dem Komponentenkör
per 2, nachdem die elektronische Keramikkomponente 1 in einer
Hochtemperatur-Atmosphäre, wie beispielsweise von ungefähr
150°C, für eine lange Periode oder in einer Umgebung mit ho
her Temperatur und hoher Feuchtigkeit, wie beispielsweise bei
ungefähr 85°C und 86%-Feuchtigkeit, angeordnet wird. Als Fol
ge davon lösen sich die Anschlußelektroden 6 und 7 leicht von
dem Komponentenkörper 2.
Fig. 2 zeigt eine Querschnittansicht einer weiteren elek
tronischen Keramikkomponente 1a, die eine Komponente von In
teresse bei der vorliegenden Erfindung ist. In Fig. 2 werden
Elemente, die in Fig. 1 gezeigten Elementen entsprechen, mit
den gleichen Bezugszeichen bezeichnet und es wird eine wie
derholte Beschreibung weggelassen. Die elektronische Keramik
komponente 1a wird bereitgestellt, um die oben beschriebenen
Probleme bezüglich der Risse 15 zu lösen. Bei der elektroni
schen Keramikkomponente 1a ist eine Harzbeschichtung 18 über
den Fortsätzen der Anschlußelektroden 6 und 7 und den Seiten
flächen 5 aufgebracht. Somit ist das Lötmittel 13 und 14 nur
an den Endflächen 3 und 4 der Anschlußelektroden bzw. 7 vor
gesehen.
Wenn die elektronische Keramikkomponete 1a auf der Montage
platte 10 montiert bzw. angebracht ist, ist das Lötmittel 13
und 14 nicht an den Fortsätzen der Anschlußelektroden 6 und 7
an den Seitenflächen 5 vorgesehen. Somit trägt die Harzbe
schichtung 18 zu einer verringerten Belastung bzw. Spannung
bei und verhindert die Bildung der Risse 15.
Die Oberflächenmontage der elektronischen Keramikkomponente
1a, wie sie in Fig. 2 gezeigt ist, verhindert jedoch einen
direkten Kontakt der Anschlußelektroden 6 und 7 mit den leit
fähigen Anschlußflächen 11 bzw. 12, und bewirkt einen verrin
gerten Kontaktbereich der Anschlußelektroden 6 und 7 mit dem
Lötmittel 13 bzw. 14. Somit ist die Haftfestigkeit bzw. Bin
dungsstärke, insbesondere die Scherfestigkeit, der elektroni
schen Keramikkomponente 1a an der Montageplatte 10 nicht so
hoch. Als Folge davon kann die elektronische Ke
ramikkomponente 1a sich von der Montageplatte 10 lösen.
Es ist somit die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine
elektronische Keramikkomponente zu schaffen, die keine Bil
dung von Rissen und keine verringerte Scherfestigkeit be
wirkt.
Diese Aufgabe wird durch eine elektronische Keramikkomponente
gemäß den Merkmalen von Anspruch 1 gelöst. Vorteilhafte Aus
gestaltungen der Erfindung sind Gegenstand der Unteran
sprüche.
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine elektronische
Keramikkomponente, die zumindest aufweist: einen Kompo
nentenkörper mit zwei einander gegenüberliegenden Endflächen
und Seitenflächen, die die zwei Endflächen verbinden; und An
schlußelektroden, die an bzw. auf dem Komponentenkörper aus
gebildet sind, wobei sich jede Anschlußelektrode von jeder
Endfläche zu Kantenabschnitten von jeder Seitenfläche des
Komponentenkörpers erstreckt. Die Anschlußelektrode ist wie
folgt gekennzeichnet, um die oben beschriebenen Probleme zu
lösen.
Jede der Anschlußelektroden weist auf: eine Metallschicht,
die an zumindest jeder Endfläche des Komponentenkörpers aus
gebildet ist; und eine leitfähige Harzschicht zum Bedecken
von zumindest Abschnitten der Seitenflächen des Komponenten
körpers, wobei sich die leitfähige Harzschicht von der Me
tallschicht einschließlich der Kante bzw. des Rands der Me
tallschicht zu den Abschnitten der Seitenflächen erstreckt,
und wobei das leitfähige Harz ein Metallpulver und Harz ent
hält. Die Dicke der leitfähigen Harzschicht über den Seiten
flächen beträgt zumindest ungefähr 10 µm. Ein Metallüber
zugsfilm bzw. Metallplattierungsfilm bedeckt die äußere Ober
fläche der Anschlußelektrode.
Die Metallschicht gewährleistet eine hohe Haftfestigkeit bzw.
Bindungsstärke an dem Komponentenkörper und der Überzugsfilm
erleichtert ein Löten der Anschlußelektroden der elektroni
schen Keramikkomponente.
Die leitfähige Harzschicht lockert bzw. entspannt die Bela
stung aufgrund der Verzerrung einer Montageplatte und von
Wärmestößen, so daß sich Risse nicht in dem Komponentenkörper
bilden. Somit weist die elektronische Keramikkomponente in
hohem Maße verläßliche elektrische Charakteristika bzw. Ei
genschaften auf.
Vorzugsweise liegt die Dicke der leitfähigen Harzschicht über
den Seitenflächen in einem Bereich von ungefähr 20 bis 70 µm.
Wenn die Dicke der leitfähigen Harzschicht über den Seiten
flächen zumindest ungefähr 20 µm beträgt, ist die Belastung
wirksamer gelockert bzw. ausgeglichen. Auf der anderen Seite
bewirkt eine Dicke von nicht mehr als ungefähr 70 µm keine
bedeutende Verringerung bezüglich der Scherfestigkeit und
keine bedeutende Erhöhung bezüglich des ESR (ESR = equivalent
series resistance: äquivalenter Serienwiderstand) aufgrund
der unterdrückten Beeinträchtigung der leitfähigen Harz
schicht.
Vorzugsweise erstreckt sich die leitfähige Harzschicht über
jede Endfläche des Komponentenkörpers, und die Dicke der
leitfähigen Harzschicht über jeder Endfläche beträgt nicht
mehr als ungefähr 5 µm.
Bei einer derartigen Ausführung bzw. Konfiguration ist die
Belastung effektiver gelockert. Wenn die Dicke der leitfähi
gen Harzschicht über jeder Endfläche nicht mehr als ungefähr
5 µm beträgt, verringert sich die Scherfestigkeit nicht be
deutend und erhöht sich der ESR nicht bedeutend.
Bei der vorliegenden Erfindung kann die Metallschicht durch
Beschichten und Brennen einer leitfähigen Paste ausgebildet
werden, die beispielsweise Ag, Ag-Pd, Ni oder Cu enthält.
Diese Metallschicht verstärkt die Haftfestigkeit bzw. Bin
dungsstärke zwischen der Metallschicht und dem Komponenten
körper, und die Haftfestigkeit ist widerstandsfähig gegen ei
ne große Belastung bzw. Spannung aufgrund eines Wärmestoßes,
sogar wenn die Metallschicht dick ist.
Vorzugsweise weist der Metallüberzugsfilm einen darunterlie
genden bzw. unten liegenden Metallfilm, der eine Diffusion
eines Lötmittels in die leitfähige Harzschicht verhindert,
und einen Oberflächenmetallfilm auf, der eine gute bzw. hohe
Lötbarkeit aufweist.
Eine derartige Doppelschichtüberzugsfilmausführung verhindert
eine Beeinträchtigung der leitfähigen Harzschicht aufgrund
einer Diffusion des Lötmittels und stellt eine Lötbarkeit an
die Anschlußelektrode sicher.
Bei der vorliegenden Erfindung kann der Komponentenkörper ei
ne Mehrzahl von Keramikkörpern sein, und die Keramikkörper
sind derart geschichtet bzw. gestapelt, daß die Anschluße
lektroden in den gleichen Richtungen ausgerichtet sind.
Bei der vorliegenden Erfindung ist es wünschenswert, daß der
Komponentenkörper ein Bestandteil eines monolithischen Kera
mikkondensators ist.
Bevorzugte Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung wer
den nachfolgend bezugnehmend auf die beiliegenden Zeichnungen
näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 eine Querschnittansicht einer herkömmlichen ober
flächenmontierten elektronischen Keramikkomponente;
Fig. 2 eine Querschnittansicht einer weiteren herkömmlichen
elektronischen Keramikkomponente;
Fig. 3 eine geschnittene Teilansicht einer elektronischen
Keramikkomponente in Übereinstimmung mit einer ersten
Ausführungsform der vorliegenden Erfindung;
Fig. 4A bis 4E schematische Querschnittansichten, die ein
Verfahren zum Herstellen einer leitfähigen Harz
schicht der elektronischen Keramikkomponente, die in
Fig. 1 gezeigt ist, darstellt;
Fig. 5 eine Vorderansicht einer elektronischen Keramikkom
ponente in Übereinstimmung mit einer zweiten Ausfüh
rungsform der vorliegenden Erfindung;
Fig. 6 eine geschnittene Teilansicht einer elektronischen
Keramikkomponente in Übereinstimmung mit einer drit
ten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung;
Fig. 7 eine geschnittene Teilansicht einer elektronischen
Keramikkomponente in Übereinstimmung mit einer vier
ten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung; und
Fig. 8 eine Querschnittansicht einer weiteren herkömmlichen
elektronischen Keramikkomponente.
Fig. 3 zeigt eine geschnittene Teilansicht einer elektroni
schen Keramikkomponente 21 in Übereinstimmung mit einer er
sten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. In Fig. 3
sind nur ein Ende eines Komponentenkörpers 22 der elektroni
schen Keramikkomponente 21 und eine Anschlußelektrode 23 dar
gestellt. Da das andere Ende und die andere Anschlußelektrode
des Komponentenkörpers 22 im wesentlichen die gleichen Konfi
gurationen bzw. Ausführungen wie dieses Ende und diese An
schlußelektrode 23 haben, basiert die Beschreibung auf einem
Ende und der Anschlußelektrode 23.
Der Komponentenkörper 22 ist ein rechteckiger Parallelepiped,
hat zwei einander gegenüberliegende Endflächen, von denen ei
ne Endfläche 24 in der Zeichnung dargestellt ist, und hat
vier Seitenflächen 25, die diese zwei Endflächen verbinden.
Die Anschlußelektrode 23 ist an der Endfläche 24 ausgebildet.
Wenn der Komponentenkörper 22 einen monolithischen Keramik
kondensator darstellt, sind eine Mehrzahl von inneren Elek
troden 26 und 27 abwechselnd bzw. wechselweise ausgebildet
und sind darin einander zugewandt. Die inneren Elektroden 26
sind mit der Anschlußelektrode 23 elektrisch verbunden, wo
hingegen die inneren Elektroden 27 mit der anderen An
schlußelektrode elektrisch verbunden sind, die in der Zeich
nung nicht dargestellt ist.
Die Anschlußelektrode 23 besteht aus einer darunterliegenden
bzw. unten liegenden Metallschicht 28, einer leitfähigen
Harzschicht 29, die auf der unten liegenden Metallschicht 28
ausgebildet ist, und aus einem Überzugsfilm 30, der auf der
leitfähigen Harzschicht 29 ausgebildet ist. Die unten lie
gende Metallschicht 28 ist beispielsweise durch Beschichten
und Brennen ("coating and baking") einer leitfähigen Paste
ausgebildet, die Ag, Ag-Pd, Ni oder Cu enthält. Alternativ
dazu kann die unten liegende Metallschicht 28 durch ein
stromloses Überzugsverfahren, ein Vakuumabscheidungsverfahren
oder ein Spritzbeschichtungsverfahren ausgebildet werden.
Die unten liegende Metallschicht 28 ist zumindest an der End
fläche 24 des Komponentenkörpers 22 ausgebildet. Bei dieser
Ausführungsform erstreckt sich die unten liegende Me
tallschicht 28 über die Endfläche 24 und über Endabschnitte
der Seitenflächen 25 des Komponentenkörpers 22.
Die leitfähige Harzschicht 29 besteht aus einem leitfähigen
Harz, das ein Metallpulver und ein Harz enthält. Ein typi
sches Beispiel für das Metallpulver ist ein Aluminiumpulver.
Beispiele für Harze umfassen hitzehärtbare Harze, wie bei
spielsweise Epoxidharz, Polyimidharz und Silikonharz, und
thermoplastische Harze mit hohem Schmelzpunkt, wie beispiels
weise Polyesterharz und Polyethersulfonharz, und Gemische
daraus.
Die leitfähige Harzschicht 29 bedeckt die unten liegende Me
tallschicht 28 und zumindest die Endabschnitte der Seiten
flächen 25 des Komponentenkörpers 22 in der Nähe der Kanten
bzw. Ränder 31 der unten liegenden Metallschicht 28. Bei die
ser Ausführungsform hat die leitfähige Harzschicht 29 Seiten
flächenabschnitte 32, die über den Seitenflächen 25 ausgebil
det sind, und hat einen Endflächenabschnitt 33, der über der
Endfläche 24 ausgebildet ist.
Das Gemisch bzw. die Mischung des thermoplastischen Harzes
mit hohem Schmelzpunkt und des hitzehärtbaren Harzes ist
wirksam gegen die Bildung bzw. Erzeugung von Rissen bei hoher
Temperatur, da die Mischung beide guten Eigenschaften bzw.
Charakteristika von diesen aufweist.
Die vorliegende Erfindung ist gekennzeichnet durch die Dicke
der leitfähigen Harzschicht 29. Die Dicke der leitfähigen
Harzschicht 29 beträgt zumindest ungefähr 10 µm bei den Sei
tenflächenabschnitten 32, und liegt vorzugsweise in einem Be
reich von ungefähr 20 bis 70 µm. Wenn die leitfähige Harz
schicht 29 den Endflächenabschnitt 33 aufweist, beträgt die
Dicke des Endflächenabschnittes 33 nicht mehr als ungefähr 5
µm.
Der Überzugsfilm 30 wird durch Aufbringen eines gewünschten
Metalls ausgebildet. Es wird bevorzugt, daß der Überzugsfilm
30 eine überragende Lötbarkeit zeigt und eine Diffusion eines
Lötmittels in die leitfähige Harzschicht 29 verhindert, wenn
die Anschlußelektrode 23 mit einer leitfähigen Anschlußfläche
auf einer Montageplatte (nicht dargestellt in der Zeichnung)
durch das Lötmittel verbunden wird. Ein derartiger Überzugs
film 30 kann eine Beeinträchtigung der leitfähigen Harz
schicht 29 verhindern.
Somit umfaßt der Überzugsfilm 30 bei dieser Ausführungsform
vorzugsweise zumindest zwei Schichten, d. h., einen unten lie
genden Metallfilm 34 zum Verhindern einer Diffusion des Löt
mittels in die leitfähige Harzschicht 29 und einen Ober
flächenmetallfilm 35, der eine überragende Lötbarkeit auf
weist. Der darunterliegende bzw. unten liegende Metallfilm 34
besteht vorzugsweise aus beispielsweise Ni, und der Oberflä
chenfilm 35 besteht vorzugsweise aus beispielsweise Cu, Sn,
Pb-Sn, Ag oder Pd.
Wenn die elektronische Keramikkomponente 21 auf der Montage
platte angebracht bzw. montiert wird, breitet sich das Löt
mittel zum Verbinden einer leitfähigen Anschlußfläche auf der
Montageplatte mit der Anschlußelektrode 23 an der An
schlußelektrode 23 über die Endfläche 24 und die Endab
schnitte der Seitenflächen 25 aus. Ein derartiger ausreichend
großer gelöteter bzw. mit Lot versehener Bereich verstärkt
die Haftfestigkeit bzw. Bindungsstärke, insbesondere die
Scherfestigkeit, der montierten elektronischen Keramik
komponente 21.
Die leitfähige Harzschicht 29 lockert bzw. entspannt wirksam
die Belastung, die in der Anschlußelektrode 23 und dem Kom
ponentenkörper 22 durch die Verzerrung und die Wärmestoßzy
klen der Montageplatte erzeugt werden, und verhindert die
Bildung von Rissen in dem Komponentenkörper 22. Obwohl Risse
leicht bzw. schnell in dem Komponentenkörper 22 in der Nähe
der Kanten bzw. Ränder 31 der unten liegenden Metallschicht
28 gebildet werden, verstärkt die leitfähige Harzschicht 29,
die über der unten liegenden Metallschicht 28 und den Endab
schnitten der Seitenflächen 25 einschließlich der Kanten bzw.
Ränder 31 der unten liegenden Metallschicht 28 ausgebildet
ist, diese schwachen Abschnitte mechanisch. Bei dieser Aus
führungsform kann der Endflächenabschnitt 33 der leitfähigen
Harzschicht 29 die Belastung bzw. Spannung lockern.
Die Fig. 4A bis 4E zeigen ein Verfahren zum Ausbilden der
leitfähigen Harzschicht 29.
Es sei auf Fig. 4A verwiesen, in der der Komponentenkörper
22, der die Metallschicht 28 und die Metallschicht 36 an bei
den Enden aufweist, hergestellt wird.
Es sei auf Fig. 4B verwiesen, in der das Ende bei der Seite
der unten liegenden Metallschicht 28 in ein ungehärtetes
leitfähiges Harz 37 getaucht wird. Es sei auf Fig. 4C ver
wiesen, in der der Komponentenkörper 22 von dem ungehärteten
leitfähigen Harz 37 entfernt wird. Die unten liegende Me
tallschicht 28 ist von dem ungehärteten leitfähigen Harz 37
bedeckt.
Es sei auf Fig. 4D verwiesen, in der die unten liegende Me
tallschicht 28 auf eine Abstreifplatte bzw. Schabplatte
("scraping plate") 38 geklemmt wird. Es sei auf Fig. 4E ver
wiesen, in der der Komponentenkörper 22 von der Schabplatte
38 entfernt wird. Das ungehärtete leitfähige Harz 37 ver
bleibt an den Seitenflächen des Komponentenkörpers 22, wohin
gegen der Hauptteil des ungehärteten leitfähigen Harzes 37 an
der Endfläche auf die Schabplatte 38 übertragen wird und ein
kleiner Teil an der Endfläche verbleibt. Somit hat das unge
härtete leitfähige Harz 37 an dem Endflächenabschnitt 33 eine
Dicke von nicht mehr als ungefähr 5 µm.
Die gleichen Schritte werden an dem anderen Ende bei der Sei
te der Metallschicht 36 des Komponentenkörpers 22 durch
geführt. Das leitfähige Harz 37 wird durch Wärme gehärtet, um
die leitfähige Harzschicht 29 auszubilden, wie sie in Fig. 3
gezeigt ist.
Fig. 5 zeigt eine Vorderansicht einer elektronischen Kera
mikkomponente 41 in Übereinstimmung mit einer zweiten Aus
führungsform der vorliegenden Erfindung. In Fig. 5 werden
Elemente, die in Fig. 3 gezeigten Elementen entsprechen, mit
den gleichen Bezugszeichen bezeichnet und es wird eine wie
derholte Beschreibung weggelassen.
Die elektronische Keramikkomponente 41 umfaßt eine Mehrzahl
von Keramikkörpern 22. Diese zwei Keramikkörper 22 sind der
art aufgeschichtet bzw. gestapelt, daß jede Anschlußelektrode
23 und jede Anschlußelektrode 42 in der gleichen Richtung
ausgerichtet sind. Diese Keramikkörper 22 können unter Ver
wendung eines Klebemittels 43 miteinander verbunden werden,
falls es notwendig ist. Die Anschlußelektroden 23 und 42 wei
sen im wesentlichen die gleiche Konfiguration bzw. Ausführung
wie die der Anschlußelektrode 23 auf, welche in Fig. 3 ge
zeigt ist.
Die elektronische Keramikkomponente 41, die in Fig. 5 gezeigt
ist, kann durch Aufschichten bzw. Stapeln einer Mehrzahl von
Keramikkörpern 22 ausgebildet werden, von denen jeder An
schlußelektroden 23 und 42 aufweist, oder kann durch Stapeln
einer Mehrzahl von Keramikkörpern 22 ausgebildet werden, von
denen jeder nur eine Metallschicht 28 aufweist, wobei dann
die leitfähigen Harzschichten 29 und die Überzugsfilme 30
ausgebildet werden, wie es in Fig. 3 gezeigt ist.
Gemäß der elektronischen Keramikkomponente 41, die die Mehr
zahl von Keramikkörpern 22 umfaßt, hat der monolithische Ke
ramikkondensator ferner eine erhöhte bzw. gesteigerte elek
trostatische Kapazität, wenn jeder der Keramikkörper 22 ein
monolithischer Keramikkondensator ist.
Fig. 6 zeigt eine geschnittene Teilansicht einer elektroni
schen Keramikkomponente 44 gemäß einer dritten Ausführungs
form der Erfindung. In Fig. 6 werden Elemente, die in Fig. 3
gezeigten Elementen entsprechen, mit den gleichen Bezugszei
chen bezeichnet und es wird eine wiederholte Beschreibung
weggelassen.
Bei der elektronischen Keramikkomponente 44, die in Fig. 6
gezeigt ist, ist die Metallschicht 28 nur an der Endfläche 24
des Komponentenkörpers 22 ausgebildet. Die leitfähige Harz
schicht 29 umfaßt den Endflächenabschnitt 33, der auf der un
ten liegenden Metallschicht 28 ausgebildet ist, und die Sei
tenflächenabschnitte 32, die über der Kante bzw. dem Rand 31
der unten liegenden Metallschicht 28 und den Endabschnitten
der Seitenflächen 25 des Komponentenkörpers 22 ausgebildet
sind, und die Dicke der Seitenflächenabschnitte 32 beträgt
zumindest ungefähr 10 µm. Die Dicke des Endflächenabschnitts
33 beträgt nicht mehr als ungefähr 5 µm.
Ein Überzugsfilm 30 besteht aus einem unten liegenden Film 34
und einem Oberflächenfilm 35, die auf der leitfähigen Harz
schicht 29 ausgebildet sind.
Fig. 7 zeigt eine geschnittene Teilansicht einer elektroni
schen Keramikkomponente 45 in Übereinstimmung mit einer vier
ten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. In Fig. 7
werden Elemente, die in Fig. 3 gezeigten Elementen entspre
chen, mit den gleichen Bezugszeichen bezeichnet und wird eine
wiederholte Beschreibung weggelassen.
Bei der in Fig. 7 gezeigten elektronischen Keramikkomponente
45 hat die leitfähige Harzschicht 29 nur einen Seitenflä
chenabschnitt 32 und hat keinen Endflächenabschnitt. Die lei
tende Harzschicht 29 ist über der unten liegenden Metall
schicht 28, der Kante bzw. dem Rand der unten liegenden Me
tallschicht 28, und einem Teil der Seitenfläche 25 des Kom
ponentenkörpers 22 ausgebildet, und die Dicke der leitfähigen
Harzschicht 29 beträgt zumindest ungefähr 10 µm.
Der Überzugsfilm 30 umfaßt einen Abschnitt, der auf der Me
tallschicht 28 ausgebildet ist, und einen Abschnitt, der auf
der leitfähigen Harzschicht 29 ausgebildet ist, und umfaßt
einen unten liegenden Film 34 und einen Oberflächenfilm 35.
Der unten liegende Film 34 verhindert eine Diffusion von Löt
mittel, das auf die Anschlußelektrode 23 aufgebracht wird, in
die leitfähige Harzschicht 29, wie es oben beschrieben worden
ist. Wenn die leitfähige Harzschicht 29 nicht über der gesam
ten Anschlußelektrode 23 ausgebildet ist, wie es in Fig. 7
gezeigt ist, ist eine Diffusion von Lötmittel nicht so bedeu
tend. Somit kann der unten liegende Film 34 bei einer derar
tigen Konfiguration bzw. Ausführung weggelassen werden.
Beispiele zur Veranschaulichung der Vorteile der vorliegenden
Erfindung werden im folgenden beschrieben werden. Bei den
Beispielen wurde die Struktur der elektronischen Kera
mikkomponente 21, wie sie in Fig. 3 gezeigt ist, verwendet,
und Dicken der Seitenflächenabschnitte 32 und des Endflä
chenabschnitts 33 der leitfähigen Harzschicht 29 wurden va
riiert.
Es wurden keramische Körper 32 hergestellt. Jeder Komponen
tenkörper 22 ist als ein monolithischer Keramikkondensator
wirksam, der eine elektrostatische Kapazität von 1 µF auf
weist und aus einem auf Bariumtitanat basierenden dielektri
schen Keramikmaterial zusammengesetzt ist, das eine planare
Größe von 5,7 mm × 5,00 mm aufweist. Eine Cu-Paste mit einer
Dicke von 100 µm wurde auf jedes Ende des Komponentenkörpers
22 aufgebracht, wurde bei einer Temperatur von 150°C für 10
Minuten getrocknet und wurde bei einer Temperatur von 800°C
für 5 Minuten gebrannt, um eine Metallschicht 28 auszubilden.
Wie es in Tabelle 1 gezeigt ist, wurde eine leitfähige Harz
schicht 29 auf der Metallschicht 28 von jedem Komponenten
körper 22 ausgebildet. Es wurden Proben, die mit leitfähigen
Harzschichten 29 versehen sind, welche verschiedene Dicken
bei dem Seitenflächenabschnitt 32 und dem Endflächenabschnitt
33 aufweisen, dadurch bereitgestellt. In Tabelle 1 repräsen
tiert der Begriff "Seitenflächendicke" die Dicke des Seiten
flächenabschnitts 32 und repräsentiert der Begriff "Endflä
chendicke" die Dicke des Endflächenabschnitts 33.
Die leitfähige Harzschicht 23 wurde durch Aufbringen eines
leitfähigen Harzes 37, das ein Ag-Pulver und ein Epoxidharz
enthält, und durch Härten des leitenden Harzes 37 bei einer
Temperatur von 260°C für 30 Minuten ausgebildet. Die Seiten
flächendicke und die Endflächendicke wurden durch Einstellen
der Viskosität des leitfähigen Harzes 37 vor dem Beschichten
oder der Schabbedingungen der Schabplatte 38, wie es in
Fig. 4D gezeigt ist, variiert.
Ein unten liegender Film 34, der aus Nickel besteht und eine
Dicke von 1 µm aufweist, wurde auf der Metallschicht 28 für
die Probe 1 oder auf der leitfähigen Harzschicht 29 für jede
der Proben 2 bis 10 durch ein Naßplattierungsverfahren bzw.
Naßüberzugsverfahren ("wet plating process") ausgebildet, und
eine Oberflächenschicht 35, die aus Zinn besteht und eine
Dicke von 5 µm aufweist, wurde darauf ausgebildet, um einen
Überzugsfilm 30 auszubilden. Die elektronischen Keramikkompo
nenten der Proben 1 bis 10 wurden dadurch fertiggestellt.
Jede elektronische Keramikkomponente, d. h. ein monolithischer
Keramikkondensator, wurde auf einer Aluminiumplatte montiert.
Die Scherfestigkeit, der äquivalente Serienwiderstand (ESR),
die Ausfallrate während einem zyklischen Wärmestoßdurchlauf,
und die Ausfallrate während einer Feuchtigkeitsbelastung wur
den ausgewertet, wie es in Tabelle 1 gezeigt ist.
Die Scherfestigkeit wurde gemessen, nachdem es ermöglicht
wurde, daß die Probe bei einer Temperatur von 150°C für
500 Stunden steht.
Der ESR wurde durch Beaufschlagung mit einem Wechselstrom von
1 MHZ der Probe gemessen, der es ermöglicht war, bei einer
Temperatur von 150°C für 500 Stunden zu stehen.
Bei der Messung der Ausfallrate während des zyklischen Wär
mestoßdurchlaufs wurden, nachdem ein Wärmestoß - 500 Zyklen
von Temperaturänderungen zwischen -55°C und +125°C - auf die
Probe angewendet wurde, der Isolationswiderstand ("insulation
resistance") und die elektrostatische Kapazität gemessen. Ein
Ausfall bzw. ein Versagen wurde bei einer Probe mit einem
Isolationswiderstand außerhalb eines vorbestimmten Bereichs
oder einer Änderung bezüglich der Kapazität von zumindest 20%
definiert. In Tabelle 1 ist die Anzahl der ausgefallenen Pro
ben von 18 getesteten Proben gezeigt.
Bei der Messung der Ausfallrate während einer Feuchtigkeits
belastung wurden die Proben nach den oben dargestellten Wär
mestoßzyklen einem Feuchtigkeitsbelastungstest bei einer Tem
peratur von 85°C und einer relativen Feuchtigkeit ("relative
humidity") von 85% für 500 Stunden unterzogen. Der Ausfall
bzw. die Ausfallrate wurden definiert, wenn eine Probe einem
Isolationswiderstand außerhalb eines vorbestimmten Bereichs
aufwies. In Tabelle 1 ist die Anzahl der ausgefallenen Proben
von 18 getesteten Proben, die den zyklischen Wärmestoßdurch
lauf durchlaufen haben, gezeigt.
In Tabelle 1 basieren die elektronischen Keramikkomponenten
der Proben mit den Nummern 4 bis 10 auf der vorliegenden Er
findung. Unter diesen sind die elektronischen Keramikkompo
nenten der Proben mit den Nummern 5, 6 und 8 bevorzugter bei
der vorliegenden Erfindung. Die elektronischen Keramikkompo
nenten der Proben mit den Nummern 1 bis 3 sind außerhalb der
vorliegenden Erfindung.
Die Proben mit den Nummern 4 bis 10 zeigen zufriedenstellende
Ergebnisse bezüglich der Ausfallrate während dem zyklischen
Wärmestoßdurchlauf und der Ausfallrate während der Feuchtig
keitsbelastung, im Vergleich zu den Ergebnissen der Proben
mit den Nummern 1 bis 3. Somit ist in den Proben mit den Num
mern 4 bis 10 die Bildung von Rissen in den Keramikkörpern 22
unterdrückt.
Bei den Proben mit den Nummern 5, 6 und 8, von denen jede ei
ne Seitenflächendicke von ungefähr 20 bis 70 µm und eine End
flächendicke von nicht mehr als ungefähr 5 µm aufweist, tre
ten keine Defekte während der Wärmestoßzyklen und während dem
Feuchtigkeitsbelastungstest auf. Bei diesen Proben nimmt die
Scherfestigkeit nicht ab und nimmt der ESR nicht im we
sentlichen zu, im Vergleich zu den Proben mit den Nummern 1
bis 3.
Bei der Probe mit der Nummer 10 gemäß der vorliegenden Erfin
dung, wurden zwei elektronische Keramikkomponenten während
der Wärmestoßzyklen beschädigt. Dieses Versagen bzw. dieser
Ausfall hat die Ursache in der Bildung von Rissen in der
leitfähigen Harzschicht während der Wärmestoßzyklen. Das Er
gebnis zeigt, daß eine Seitenflächendicke, die ungefähr 70 µm
übersteigt, die Bildung von Rissen aufgrund der Beein
trächtigung bzw. Verschlechterung des Harzes bewirkt.
Bei den Proben mit den Nummern 1 bis 3, die außerhalb der
vorliegenden Erfindung einzuordnen sind, wurden viele Proben
während der Wärmestoßzyklen und dem Feuchtigkeitsbelastungs
test beschädigt, obwohl die Scherfestigkeit und der ESR aus
reichend bzw. zufriedenstellend waren. Somit bilden sich in
den Proben mit den Nummern 1 bis 3 Risse in den Keramikkör
pern 22.
Offenbart ist eine elektronische Keramikkomponente, die zu
mindest einen Komponentenkörper, der zwei einander gegenüber
liegende Endflächen und Seitenflächen, die die Endflächen
verbinden, aufweist, und Anschlußelektroden, die an bzw. auf
dem Komponentenkörper ausgebildet sind, umfaßt. Jede der An
schlußelektroden erstreckt sich von jeder Endfläche zu Kan
tenabschnitten jeder Seitenfläche des Komponentenkörpers. Je
de der Anschlußelektroden umfaßt eine Metallschicht, die an
zumindest jeder Endfläche des Komponentenkörpers ausgebildet
ist, eine leitfähige Harzschicht zum Bedecken von zumindest
Abschnitten der Seitenflächen des Komponentenkörpers, und ei
nen Metallüberzugsfilm, der die äußere Oberfläche der An
schlußelektrode bedeckt. Die leitfähige Harzschicht erstreckt
sich von der Metallschicht einschließlich der Kante bzw. des
Randes der Metallschicht zu den Abschnitten der Seitenflä
chen, und umfaßt ein leitfähiges Harz, das ein Metallpulver
und ein Harz enthält. Die Dicke der leitfähigen Harzschicht
über den Seitenflächen beträgt zumindest ungefähr 10 µm.
Claims (20)
1. Elektronische Keramikkomponente mit folgenden Merkmalen:
einem Komponentenkörper (22), der zwei einander gegen überliegende Endflächen (24) und Seitenflächen (25), die die zwei Endflächen verbinden, aufweist; und
Anschlußelektroden (23) auf dem Komponentenkörper (22) auf jeder Endfläche (24), wobei sich jede Anschlußelek trode zu Kantenabschnitten (31) von jeder Seitenfläche (25) des Komponentenkörpers erstreckt,
wobei jede Anschlußelektrode (23) folgende Merkmale auf weist:
eine erste Metallschicht (28) auf der Endfläche (24) des Komponentenkörpers (22);
eine leitfähige Harzschicht (29), die zumindest einen Abschnitt der Seitenflächen (25) des Komponentenkörpers bedeckt, wobei die leitfähige Harzschicht (29) sich er streckt, um die Kanten der Metallschicht (28) bei den Seitenflächen zu bedecken, und wobei die leitfähige Harzschicht (29) ein leitfähiges Harz mit einem Metall pulver und einem Harz aufweist, wobei die Dicke der leitfähigen Harzschicht (29) über den Seitenflächen (25) zumindest ungefähr 10 µm beträgt; und
eine zweite Metallschicht (30), die die äußerste Ober fläche der Anschlußelektrode umfaßt.
einem Komponentenkörper (22), der zwei einander gegen überliegende Endflächen (24) und Seitenflächen (25), die die zwei Endflächen verbinden, aufweist; und
Anschlußelektroden (23) auf dem Komponentenkörper (22) auf jeder Endfläche (24), wobei sich jede Anschlußelek trode zu Kantenabschnitten (31) von jeder Seitenfläche (25) des Komponentenkörpers erstreckt,
wobei jede Anschlußelektrode (23) folgende Merkmale auf weist:
eine erste Metallschicht (28) auf der Endfläche (24) des Komponentenkörpers (22);
eine leitfähige Harzschicht (29), die zumindest einen Abschnitt der Seitenflächen (25) des Komponentenkörpers bedeckt, wobei die leitfähige Harzschicht (29) sich er streckt, um die Kanten der Metallschicht (28) bei den Seitenflächen zu bedecken, und wobei die leitfähige Harzschicht (29) ein leitfähiges Harz mit einem Metall pulver und einem Harz aufweist, wobei die Dicke der leitfähigen Harzschicht (29) über den Seitenflächen (25) zumindest ungefähr 10 µm beträgt; und
eine zweite Metallschicht (30), die die äußerste Ober fläche der Anschlußelektrode umfaßt.
2. Elektronische Keramikkomponente nach Anspruch 1, bei der
die Dicke der leitfähigen Harzschicht (29) über den Sei
tenflächen (25) in einem Bereich von ungefähr 20 bis
70 µm liegt.
3. Elektronische Keramikkomponente nach Anspruch 2, bei der
sich die leitfähige Harzschicht (29) erstreckt, um die
Endfläche (24) des Komponentenkörpers (22) zu bedecken,
und bei der die Dicke der leitfähigen Harzschicht (29)
über der Endfläche (24) nicht größer als ungefähr 5 µm
ist.
4. Elektronische Keramikkomponente nach Anspruch 3, bei der
die erste Metallschicht (28) eine gebrannte leitfähige
Paste aufweist.
5. Elektronische Keramikkomponente nach Anspruch 4, bei der
die zweite Metallschicht (30) einen unten liegenden Me
tallfilm (34), der angepaßt ist, eine Diffusion von Löt
mittel in die leitende Harzschicht (29) zu verhindern,
und einen oben liegenden Oberflächenmetallfilm (35) mit
einer hohen Lötbarkeit aufweist.
6. Elektronische Keramikkomponente, die eine Mehrzahl von
Komponentenkörpern (22) gemäß Anspruch 5 aufweist, die
derart aufgeschichtet sind, daß die Anschlußelektroden
(23, 42) in der gleichen Richtung ausgerichtet sind.
7. Elektronische Keramikkomponente nach Anspruch 6, bei der
jeder Komponentenkörper (22) ein monolithischer Ke
ramikkondensator ist.
8. Elektronische Keramikkomponente nach Anspruch 1, bei der
sich die leitfähige Harzschicht (29) erstreckt, um die
Endfläche (24) des Komponentenkörpers (22) zu bedecken,
und bei der die Dicke der leitfähigen Harzschicht (29)
über der Endfläche (24) nicht größer als ungefähr 5 µm
ist.
9. Elektronische Keramikkomponente nach Anspruch 8, bei der
die erste Metallschicht (28) eine gebrannte leitfähige
Paste aufweist.
10. Elektronische Keramikkomponente nach Anspruch 8, bei der
die zweite Metallschicht (30) einen unten liegenden Film
(34), der angepaßt ist, eine Diffusion eines Lötmittels
in die leitfähige Harzschicht (29) zu verhindern, und
einen oben liegenden Oberflächenmetallfilm (35) mit ei
ner hohen Lötbarkeit aufweist.
11. Elektronische Keramikkomponente, die eine Mehrzahl von
Komponentenkörpern (22) nach Anspruch 10 aufweist, die
derart aufgeschichtet sind, daß die Anschlußelektroden
(23, 42) in der gleichen Richtung ausgerichtet sind.
12. Elektronische Keramikkomponente nach Anspruch 11, bei
der jeder Komponentenkörper (22) ein monolithischer Ke
ramikkondensator ist.
13. Elektronische Keramikkomponente nach Anspruch 1, bei der
die zweite Metallschicht (30) einen unten liegenden Film
(34), der angepaßt ist, eine Diffusion eines Lötmittels
in die leitfähige Harzschicht (29) zu verhindern, und
einen oben liegenden Oberflächenfilm (35) mit einer ho
hen Lötbarkeit aufweist.
14. Elektronische Keramikkomponente, die eine Mehrzahl von
Komponentenkörpern (22) nach Anspruch 13 aufweist, die
derart aufgeschichtet sind, daß die Anschlußelektroden
(23, 42) in der gleichen Richtung ausgerichtet sind.
15. Elektronische Keramikkomponente nach Anspruch 14, bei
der jeder Komponentenkörper (22) ein monolithischer Ke
ramikkondensator ist.
16. Elektronische Keramikkomponente, die eine Mehrzahl von
Komponentenkörpern (22) nach Anspruch 1 aufweist, die
derart aufgeschichtet sind, daß die Anschlußelektroden
(23, 42) in der gleichen Richtung ausgerichtet sind.
17. Elektronische Keramikkomponente nach Anspruch 16, bei
der jeder Komponentenkörper (22) ein monolithischer Ke
ramikkondensator ist.
18. Elektronische Keramikkomponente nach Anspruch 16, bei
der jeder Komponentenkörper (22) eine Mehrzahl von Elek
troden in seinem Inneren aufweist, von denen einige in
elektrischem Kontakt mit einer Anschlußelektrode und die
anderen von diesen in elektrischem Kontakt mit der ande
ren Anschlußelektrode stehen; bei der sich die erste Me
tallschicht (28) erstreckt, um einen Abschnitt der Sei
tenflächen (25) zu bedecken, wobei die leitfähige Harz
schicht (29) die Endfläche (24) bei einer Dicke von
nicht mehr als 5 µm bedeckt und fortfährt, sich bei ei
ner Dicke von zumindest 10 µm zu erstrecken, um einen
Abschnitt der benachbarten Seitenflächen (25) bis zu ei
nem Punkt jenseits des Endes der ersten Metallschicht
(28) zu bedecken.
19. Elektronische Keramikkomponente nach Anspruch 18, bei
der die zweite Metallschicht (30) einen Film (34), der
angepaßt ist, eine Diffusion eines Lötmittels in die
leitfähige Harzschicht zu verhindern, auf der leitfähi
gen Harzschicht (29) und einen oben liegenden Oberflä
chenmetallfilm (35) mit einer hohen Lötbarkeit aufweist.
20. Elektronische Keramikkomponente nach Anspruch 19, bei
der die Dicke der leitfähigen Harzschicht (29), die ei
nen benachbarten Abschnitt der Seitenflächen (25) be
deckt, in einem Bereich von ungefähr 20 bis 70 µm liegt.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25387099A JP3376970B2 (ja) | 1999-09-08 | 1999-09-08 | セラミック電子部品 |
JP11-253870 | 1999-09-08 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10044429A1 true DE10044429A1 (de) | 2001-04-05 |
DE10044429B4 DE10044429B4 (de) | 2008-06-05 |
Family
ID=17257290
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10044429A Expired - Lifetime DE10044429B4 (de) | 1999-09-08 | 2000-09-08 | Elektrische Keramikkomponente |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6381117B1 (de) |
JP (1) | JP3376970B2 (de) |
DE (1) | DE10044429B4 (de) |
GB (1) | GB2354112B (de) |
Families Citing this family (66)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US7054136B2 (en) * | 2002-06-06 | 2006-05-30 | Avx Corporation | Controlled ESR low inductance multilayer ceramic capacitor |
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Legal Events
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OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R071 | Expiry of right |