CN1178363A - 热粗糙检测方法,热粗糙消除方法,磁盘装置及其重试方法 - Google Patents

热粗糙检测方法,热粗糙消除方法,磁盘装置及其重试方法 Download PDF

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Abstract

一种热粗糙检测方法,包括下列步骤:(a)使用模数转换器(43)把从磁记录介质(1)再现的模拟信号转换成数字信号;(b)根据所述数字信号检测热粗糙;以及(c)利用固件自动地识别和管理热粗糙的检测。

Description

热粗糙检测方法，热粗糙消除方法， 磁盘装置及其重试方法
本发明一般涉及热粗糙(thermal asperity)检测方法，热粗糙消除方法，磁盘装置及其重试方法，更具体地说，涉及一种检测磁盘装置中的热粗糙的方法，消除所述热粗糙的方法，具有用于检测并消除所述热粗糙的装置的磁盘装置，和通过检测磁盘装置中的热粗糙进行重试的重试方法。
近来，已经提供了具有磁阻效应型(MR)磁头的磁盘装置，其中使用磁阻(MR)元件。此外，随着磁盘记录密度的增加，MR磁头和磁盘之间的浮动距离变小。因此，MR磁头可能和在磁盘上不可避免地存在的缺陷，即磁盘上的凸起相碰撞。当MR磁头和磁盘上的这种凸起碰撞时，由于摩擦便产生热，并使由MR磁头从磁盘上再现的信号波形由于所产生的热而波动。这种现象被叫作“热粗糙”。
在近年来磁盘装置的存储容量不断增加，而增加的存储容量主要是由于磁盘的记录密度的增加。为了增加磁盘的记录密度，一种方法是增加磁盘径向的数据磁道数量，另一种方法是增加磁盘周向的记录密度。
MR磁头适用于利用后一种方法增加记录密度的磁盘。此外，为了进一步增加记录密度，有一种方法是减小MR磁头和磁盘表面之间的浮动距离，从而使MR磁头输出的信噪(S/N)比增加。
MR磁头具有这样一种特性，即其电阻根据外部磁场的改变而改变。因此，MR磁头利用它的这一特性，通过对其MR元件加一恒定电流而以电压信号的形式读出磁盘上的磁化。此外，不象感应性磁头，MR磁头即使在磁盘以低速旋转时也能容易地读出信号，因而MR磁头适合用于既要增加存储容量又要减小磁盘装置的体积的磁盘装置中。
然而，为了增加磁盘的记录密度而减小MR磁头和磁盘表面之间的浮动距离时，MR磁头便和在磁盘上不可避免地存在的缺陷即磁盘上的凸起相碰撞。当MR磁头撞击这种凸起时，MR元件的热阻改变，即由于摩擦而产生的热使热阻增加。当MR元件的热阻增加时，由MR磁头从磁盘上再现的信号波形便波动，因而引起热粗糙。更具体地说，当热粗糙发生时，在从磁盘再现的信号波形的直流分量中便产生一个突然的变化，因而不能正确地再现磁盘上记录的数据。
在常规情况下，提出的用于抑制不希望的热粗糙的影响的方法是，检测热粗糙，并增加在数据读出部分内的模数(A/D)转换器的输入动态范围。按照这种常规的方法，在数据读出部分内的锁相环(PLL)和自动增益控制(AGC)环的操作被固定，并增加数据读出部分输入端的交流耦合的截止频率。这种方法例如在日本的专利申请公开No.6-28785中披露了。
然而，按照常规的对热粗糙采取的措施，不可能完全消除由磁盘再现的信号波形的直流分量的突然变化。此外，当在检测到热粗糙之后进行重试读出操作时，需要进行三种操作，即：固定PLL和AGC环的操作，增加A/D转换器的输入动态范围以及增加数据读出部分的输入的交流耦合的截止频率。结果，存在着需要复杂的控制的问题。
此外，当PLL和AGC的操作被固定时，在固定期间便不可能跟随数据。但是，因为信号电平和目标值之间的偏差以及采样相位中的误差将产生数据误差，所以需要使固定时间减到最小。在另一方面，当A/D转换器的输入的动态范围增加时，分辨率则变差。而且，当增加数据读出部分的输入端的交流耦合的截止频率时用来进行转换的模拟电路一般容易受到噪声的影响，因而采取措施克服噪声是重要的。
因而，本发明的总的目的在于提供一种新的且有用的热粗糙检测方法，热粗糙消除方法，和磁盘装置及其重试方法，其中使上述问题得以消除。
本发明的另一个并且更具体的目的在于提供一种可以可靠地检测热粗糙的热粗糙检测方法，一种可以可靠地检测并消除热粗糙的热粗糙消除方法，一种可以可靠地检测并消除热粗糙的磁盘装置，以及一种可用于这种磁盘装置的重试方法。
本发明的再一个目的在于提供一种热粗糙检测方法，包括下列步骤：(a)使用模数转换器把从磁记录介质再现的模拟信号转换成数字信号，(b)根据所述数字信号检测热粗糙，以及(c)利用固件自动地识别和管理在步骤(b)进行的热粗糙的检测。按照本发明的热粗糙检测方法，可以可靠地检测热粗糙。
本发明的另一个目的在于提供一种热粗糙消除方法，包括下列步骤：(a)使用模数转换器把从磁记录介质再现的模拟信号转换成数字信号，(b)使用检测在步骤(a)之后的直流分量的数字滤波器消除由包括在模拟信号中的热粗糙引起的直流分量。按照本发明的热粗糙消除方法，能够可靠地消除热粗糙。此外，能够抑制因进行数字信号处理而带来的不希望的噪声的影响。
本发明的另一个目的在于提供一种磁盘装置，其中包括用来把从磁盘再现的模拟信号转换成数字信号的模数转换器，以及数字滤波器，用来消除模数转换装置的输出中的由包括在模拟信号中的热粗糙引起的直流分量。按照本发明的磁盘装置，能够可靠地消除热粗糙。此外，能够抑制因进行数字信号处理而带来的不希望的噪声的影响。
本发明的另一个目的在于提供一种重试方法，该方法用于包括模数转换器和数字滤波器的装置，所述模数转换器用来把从磁记录介质再现的模拟信号转换成数字信号，所述数字滤波器用来消除由包括在来自所述模数转换装置的输出的模拟信号中的热粗糙引起的直流分量，该方法包括下列步骤：(a)根据数字信号检测数据误差，(b)根据数字信号检测热粗糙，以及(c)，当检测到数据误差时，根据是否检测到热粗糙进行读出重试处理。按照本发明的重试方法，能够同时实现重试处理和消除热粗糙。
本发明的其它目的和另外的特点通过结合附图阅读以下的详细说明可以更清楚地看出。
图1是总体表示按照本发明的磁盘装置的实施例的结构的系统方块图；
图2是表示图1所示的磁盘装置的重要部分的系统方块图；
图3是表示数字高通滤波器的实施例的系统方块图；
图4是表示偏移校正电路和A/D转换器的实施例的系统方块图；
图5表示由磁头再现的并被输入到电压控制的放大器的模拟信号；
图6表示没有采取措施克服热粗糙并且没有提供数字高通滤波器和偏移校正电路时，A/D转换器的输出信号；
图7表示磁盘装置的实施例的A/D转换器的输出信号；
图8表示由数字高通滤波器获得的直流分量线图；
图9是表示由数字高通滤波器消除直流分量之后的信号；
图10是热粗糙检测电路的实施例的系统方块图；
图11是数字均衡器的实施例及其外围部分的系统方块图；
图12是数字高通滤波器的实施例和数字均衡器的系统方块图，其中数字均衡器具有在两者之间公用的部分；
图13是用来说明当进行重试时主微处理器单元的操作的流程图；以及
图14是用来说明图13中的热粗糙重试处理的图。
下面说明按照本发明的磁盘装置的实施例。磁盘装置的这一实施例使用了按照本发明的热粗糙检测方法的实施例，按照本发明热粗糙消除方法的实施例和按照本发明的重试方法的实施例。
图1表示磁盘装置的这一实施例的总体结构。所述磁盘装置一般包括磁盘机械部分30，前置放大器电路31，主微处理器单元(MPU)32，读/写控制器33，接口电路34，调制器/解调器(modem)电路35，以及按图1所示连接的驱动电路36。磁盘机械部分30一般包括由主轴电机(未示出)旋转的主轴11，固定在主轴11上的磁盘1，由磁头致动器20支撑着的磁头2，以及包括音圈电机(Voice coil motor，VCM，未示出)的托架部分22。在本实施例中，为方便起见，假定在磁盘机械部分30内有3个磁盘1和4个磁头2。
图1所示的磁盘装置本身的基本结构是已知的，因此，在本说明中将省略关于磁盘装置的各个部件的内部结构的解释和详细说明。
在一组磁盘1当中，例如伺服信息被记录在一个磁盘1的表面10上，而在另一个磁盘1的表面10上记录数据。
主MPU32控制磁盘装置的每个部分，并控制在主MPU32和更高层或更高级的计算机之间进行交换的数据和命令。读/写控制器33根据来自主MPU32的指令，通过前置放大器电路31控制关于磁盘机械部分30的数据的读/写。从读/写控制器33输出的再现的信号通过调制解调器电路35和接口电路34被送到主MPU32。
驱动电路36响应来自主MPU32的查找命令，驱动并控制托架部分22，并控制在磁盘机械部分30内的磁头的位置。
图2表示图1所示的磁盘装置的重要部分，其中只示出和本发明的主题直接相关的并位于由前置放大器电路31，读/写控制器33和调制解调器电路35构成的电路部分内的再现系统。这再现系统使用部分响应最大似然(PRML)技术。
该再现系统包括电压控制的放大器41，模拟滤波器42，A/D转换器43，数字高通滤波器44，偏移校正电路45，定时控制电路46，数字均衡器47，增益控制电路48，电压控制的振荡器49，最大似然(Viterbi解调器)电路51，9/8译码器52，热粗糙(TA)检测电路55，TA检测位寄存器56，级设定寄存器58和启动寄存器59，它们按照图2所示相互连接。
由磁头2从磁盘1再现的模拟信号通过电压控制的放大器41被放大到一个最合适的幅值。这一电压控制的放大器41通过来自增益控制电路48的反馈被最佳化。模拟滤波器42对来自电压控制的放大器的模拟信号输出进行部分响应波形均衡。A/D转换器43把来自模似滤波器42的模拟信号输出转换成数字信号，通过以由定时控制电路46和电压控制的振荡器49决定的最佳采样周期对模拟信号进行采样完成所述转换。
数字高通滤波器44从来自A/D转换器43的数字信号输出获得直流分量，并把直流分量送到偏移校正电路45。此外，数字高通滤波器44输出消除掉直流分量的数字信号。所述直流分量相应于热粗糙。偏移校正电路45把直流分量转换成电压。A/O转换器43从由模拟滤波器42接收的模拟信号中减去从偏移校正电路45接收的电压，并对减得的差进行A/D转换。因而，能够阻止A/D转换器43的输入超过A/D转换器43的输入动态范围并且饱和。例如，A/D转换器43的输入动态范围是400mVpp’，从A/D转换器43输出6位二进制补码。
数字高通滤波器44的输出数字信号被送到定时控制电路46，增益控制电路48和数字均衡器47。数字均衡器47用来精细地调整波形均衡。来自数字均衡器47的数字信号输出被送到定时控制电路46，增益控制电路48和最大似然(ML)译码器电路51。定时控制电路46通过电压控制的振荡器49根据数字高通滤波器44的输出数字信号和数字均衡器47的输出数字信号，产生用于控制采样定时，即A/D转换器43的采样周期的信号。增益控制电路48根据数字高通滤波器44的输出数字信号和数字均衡器47的输出数字信号产生用于控制电压控制的放大器41的增益的信号。例如，可以使用在日本专利申请公开No.6-11478中提出的方法作为用增益控制电路48调整增益的方法。
ML译码器电路51对数字均衡器47的输出数字信号译码，并产生串行数据。此外，9/8译码器52对来自ML译码器电路51的串行数据译码并将其转换成并行数据。并行数据通过图1所示的接口电路34被送到主MPU32作为再现的数据。
TA检测电路55通过检测A/D转换器43的输出数字信号中相同极性的异常幅值来检测热粗糙。可以采用具有已知结构的电路作为TA检测电路55，例如，可以使用在日本专利申请公开No.6-28785中提出的电路作为TA检测电路55。当TA检测电路55检测到热粗糙时，TA检测电路55便在TA检测位寄存器56中设置TA检测位。图1所示的主MPU32和较高层次的计算机可以参考TA检测位寄存器56的内容。通过有固件检查TA检测位寄存器56，可以确认是否发生了热粗糙。
启动寄存器59存储当启动数字高通滤波器44时被设置的1位的启动信息。启动寄存器59可从主MPU32和较高层的计算机被置位与复位。因为启动寄存器59在正常时被复位，所以数字高通滤波器44在正常时被禁止，从而阻止由于数字高通滤波器44的操作而使S/N比变劣。在另一方面，当如下所述的读出误差发生，并从TA检测位寄存器56检测到热粗糙时，启动寄存器59被置位，借以启动数字高通滤波器44并使其能够消除直流分量。
级设置寄存器58存储3位的级设置信息，用来设置形成数字高通滤波器44的移位寄存器的级数。级设置寄存器58可从主MPU32和在较高层的计算机被设置。在本实施例中，级设置寄存器58通过3位级设置信息可以设置3种级，并能够通过改变所设置的级数改变数字高通滤波器44的截止频率。当发生数据误差并从TA检测位寄存器56检测到热粗糙时，进行读出重试。如果在此重试期间再次发生读出误差，则通过固件改变在级设定寄存器58内的级设置信息。
图3表示数字高通滤波器44的实施例。数字高通滤波器44包括移位寄存器61，选择器62，减法器63，加法器64，触发器65，1/n除法器66，和减法器67，其连接方式如图3所示。
在图3中，来自A/D转换器43的6位数字信号输出被输入到输入端60，并在具有32级的移位寄存器61中被连续地移位。选择器62接收分别被移位寄存器61延迟8，16和32级的3种信号。选择器62还接收来自图2所示的级设置寄存器58的3位选择信号(级设置信息)。因而，从分别由移位寄存器61延迟8，16和32级的3种信号当中通过选择信号选择1种信号，并从选择器62输出。选择器62输出的数字信号被送到减法器63，减法器63从由输入端60直接获得的A/D转换器43的输出数字信号中减去从选择器62接收的数字信号，并获得两个数字信号之差。
如图3所示的方式相连的加法器64和触发器65形成累加器，用来累加由减法器63获得的差。触发器65响应来自图2所示的启动寄存器59的启动信号(启动信息)被启动。由累加器获得的累加结果被送到1/n除法器66。
1/n除法器66也接收来自如图2所示的级设置寄存器58的3位选择信号。因而，如果由选择器62选择n＝8，则来自累加器的12位累加结果被向着最低有效位(LSB)移动3位，并且通过在1/n除法器66内的选择器(未示出)进行的转换，从1/n除法器输出通过对12位的累加结果乘以1/8而得到的6位信号。来自1/n除法器66的这一6位的信号作为热粗糙的直流分量从输出端68输出，并被送到如图2所示的偏移校正电路45。在另一方面，如果选择器62选择n＝16，则来自累加器的12位的累加结果向LSB移4位，并通过在1/n除法器66内的选择器进行的转换，从1/n除法器66输出通过对12位的累加结果乘以1/16而得到的6位信号。类似地如果选择器62选择n＝32，则来自累加器的12位的累加结果被向着LSB移5位，并通过在1/n除法器66内的选择器进行的转换，从1/n除法器66输出通过对12位的累加结果乘以1/32所得到的6位信号。
从1/n除法器66输出的6位信号也被送到减法器67。减法器67也接收从输入端60直接获得的A/D转换器43的输出数字信号。这样，减法器67便从A/D转换器43的输出数字信号中减去热粗糙的直流分量，从而输出被消除直流分量的数字信号。减法器67的输出数字信号通过输出端69被输出，并被送到如图2所示的定时控制电路46，数字均衡器47和增益控制电路48。
被送到触发器65的启动信号被输入到触发器65的清除端。因而，当启动信号为OFF时，触发器65被清除，并且从输出端68输出的直流分量为零。在这种情况下，数字高通滤波器被禁止，只有A/D转换器43的输出信号被从输出端69输出。
图4表示偏移校正电路45和A/D转换器43的实施例。偏移校正电路45包括按图4所示连接的数模(D/A)转换器电路451和环增益电路452。环增益电路452具有0.8环增益。在另一方面，A/D转换器43包括按图4所示连接的模拟减法器431和A/D转换器电路432。当然，环增多益电路452的环增益不限于0.8，环增益可被设为例如通过模拟所获得的最佳值。
从数字高通滤波器44的输出端68获得的直流分量通过输入端450被送到D/A转换器电路451，并被转换成模拟电压。这模拟电压通过环增益电路452被提供给A/D转换器43的模拟减法器431。模拟减法器431还接收来自图2所示的模拟滤波器42的模拟信号。因而，模拟减法器431从由模拟滤波器42接收的模拟信号中减去从环增益电路452收到的模拟电压，并把减得的结果送入A/D转换器电路432。从A/D转换器电路432输出的6位数字信号通过输出端433被送到如图2所示的数字高通滤波器44。
在本实施例中，A/D转换器电路432的输入动态范围为400mVpp’，并且由A/D转换器电路432产的6位输出的1位的加权为6.25mV。此外，D/A转换器电路451还使用和A/D转换器电路432相同的加权产生±200mV(500mVpp)的输出。下表表示D/A转换器电路451的输入和输出之间的关系。
表
输入 输出(mV)
011111000001000000111111100001 2006.250-6.25-200
图5表示由磁头2再现的并输入到图2所示的电压控制的放大器41的模拟信号。在图5中，纵坐标以任意单位表示幅值，横坐标以ns表示时间。图5表示从1000ns附近产生热粗糙的情况。
图6表示在不采取措施克服热粗糙的情况下，并且不提供图2所示的数字高通滤波器44和偏移校正电路45时A/D转换器43的输出信号。在图6中，纵坐标以任意单位表示辐值，横坐标以ns表示时间。在这种情况下，由图6可见，在时间A期间A/D转换饱和，在时间B期间的幅值和热粗糙发生以前在时间A期间的幅值相比，其幅值减小，并且在时间C期间发生3相位误差。
在另一方面，当在本实施例中提供如图2所示的数字高通滤波器44和偏移校正电路45时，已经证实图5所示的模拟信号的A/D转换器43的输出信号如图7所示。此外，已经证实从数字高通滤波器44获得的直流分量如图8所示，并且由数字高通滤波器44消除了直流分量的信号如图9所示。在图7到图9中，纵坐标以任意单位表示幅值，横坐标以ns表示时间。
可以认为在图7的时间D期间A/D转换饱和，并且在图9的时间D期间不能进行数据再现。然而，在时间D之后，没有发现幅值减小和相位误差，因此证明本实施例对于热粗糙是极其有效的。
图10表示图2所示的TA检测电路55的实施例。TA检测电路55包括按图10所示连接的AND电路551，绝对值电路552，电平比较器553，闭锁电路554和555，“异”电路556，n位移位寄存器557和闭锁电路558。
图2所示的A/D转换器43的输出数字信号被输入到图10所示的输入端560。在另一方面，用于启动/禁止TA检测电路的操作的控制信号被输入到输入端561。这控制信号可由在较高层中的计算机或主MPU32提供。另外，也可以从可由较高层中的计算机或主MPU32能够访问的寄存器(未示出)提供这控制信号。AND电路551通过输入端560和561获得收到的信号的“与”信号，并把这AND电路551的输出信号送到绝对值电路552和闭锁电路554。绝对值电路552获得AND电路551的输出信号的绝对值，并把其送到电平比较器553。电平比较器553比较通过输入端562输入的TA限幅电平和绝对值电路552的输出信号(绝对值)。所述TA限幅电平可由较高层的计算机或主MPU32提供。另外，也可以由可被较高层的计算机或主MPU32访问的寄存器(未示出)提供这一TA限幅电平。电平比较器553的输出信号被送到N位移位寄存器和闭锁电路554和555的时钟输入端CLK。
闭锁电路554和555和“异-或”电路556形成极性检查部分。闭锁电路554的输出信号被送到闭锁电路555和“异-或”电路556。此外，闭锁电路的输出信号也被送到“异-或”电路556。“异-或”电路556的输出信号作为复位脉冲被送到N位移位寄存器557的复位端。当这复位脉冲具有高电平(逻辑值为“1”)时，N位移位寄存器557被复位。
在另一方面，被输入到输入端563的N位置位信号被送到N位移位寄存器557的清除端。这N位置位信号可由较高层中的计算机或主MPU32提供。另外，也可以由可被较高层中的计算机或主MPU32访问的寄存器(未示出)提供所述N位置位信号。N位移位寄存器557的输出信号被送到闭锁电路558的置位端。闭锁电路558的输出信号作为TA检测位被送到图2所示的TA检测位寄存器56。被输入到输入端564的TA检测位清除信号被送到闭锁电路558的复位端。这TA检测位清除信号可以由较高层中的计算机或主MPU32提供。另外，也可以由可被较高层的计算机或主MPU32访问的寄存器(未示出)提供这个TA检测位清除信号。
图11表示带有外围部分的数字均衡器47的实施例。在图11中，和图2中相同的部分用相同的标号表示，并省略其说明。在本实施例中，为简便起见，假定A/D转换器43是6位的A/D转换器。
数字均衡器47包括按图11所示连接的延迟(D)触发器471到474，系数乘法器481到484，以及加法器491。加法器491的输出信号被送到图2所示的ML译码器电路51。在图11中，由粗线(或双线)表示的信号线是总线。
因为D触发器471到474形成移位寄存器，所以如果在数字高通滤波器44内的移位寄存器的至少一部分可以和数字均衡器47的移位寄存器共同被使用将是方便的。因而，下面的说明将针对这样一种实施例给出，即其中在数字高通滤波器44内的移位寄存器的至少一部分被和数字均衡器47共同使用。
图12表示数字高通滤波器44和数字均衡器47的实施例，在两者之间有一公用部分。在图12中，和图11相同的部分用相同的符号表示，并省略其说明。在这一实施例中，通过使数字高通滤波器44的移位寄存器的一部分和数字均衡器47的移位寄存器公用而使电路大小和反馈环的级数减少了。此外，为简便起见，在本实施例中也假定A/D转换器43是6位的A/D转换器。
在图12中，形成数字高通滤波器44的触发器471到475当中，触发器471到474和数字均衡器47的移位寄存器公用。为此，因为在本实施例中使用了6位A/D转换器43，所以和数字高通滤波器44的移位寄存器和数字均衡器47的移位寄存器被单独提供的情况相比，可以省去6×4＝24个触发器。
通过使数字高通滤波器44和数字均衡器47之间公共使用触发器而实现的电路大小的减小取决于数字均衡器47抽头的数量和数字高通滤波器44内移位寄存器的级数。
下面参照图13和14说明按照本发明的重试方法的实施例。图13表示当进行读出重试时图1所示的主MPU32的操作流程图。此外，图14用于说明图13中的TA重试处理。
在图13中，在步S101开始进行图1所示的磁盘单元的操作。在这开始状态下，步S114通过启动寄存器59禁止图2所示的数字高通滤波器44，并把读/写参数设定为缺省值或调准值。在步S102，读出由磁头2再现的数据。在步S103确定是否发生了数据错误。如果步S103确定的结果是NO，则在步S105判断数据读取已正常结束，并在步S106结束处理。
在另一方面，如果在步S103的判断结果是YES，则在步S104就确定数据错误是否可由错误校正码(ECC)校正。如果在步S104的确定结果为YES，则在步S107向较高层的计算机报告这一可校正的错误，并在步S106结束处理。
如果在步S104的确定结果是NO，则步S108确定是否重试步骤已经结束。如果步S108中的确定结果是YES，则步S109就向较高层的计算机报告不能校正的错误，并在步S106结束处理。
在另一方面，如果在步S108确定结果是NO，则步S110访问图2所示的TA检测位寄存器56，并确定TA检测位是否是ON，即是否被设置。如果在步S110确定的结果是NO，则在步S111进行正常的读出重试处理。更具体地说，步S111只改变读/写参数，例如图14所示的磁头2的检测电流，并根据启动寄存器59的内容禁止数字高通滤波器44。在正常读出重试处理期间，数字高通滤波器44的设置不改变。在步S111之后，处理返回步S102。
此外，如果在步S110确定结果是YES，则在步S112进行TA重试处理。更具体地说，步S112根据级设置寄存器58的内容改变在数字高通滤波器44内的移位寄存器的级数。此外，和进行正常读重试处理时的情况类似，步S112改变读/写参数。另外，步S112根据启动寄存器59的内容启动数字高通滤波器。在步S112之后，处理转到步S102。
换句话说，当进行TA重试处理时，除去改变图14所示的读/写参数之外，还改变图14所示的数字高通滤波器44的设置。在本实施例中，数字高通滤波器44的设置包括移位寄存器的级数和数字高通滤波器44的启动/禁止状态。此外，读/写参数包括磁头2的检测电流，磁头2的偏移量，模拟滤波器42的中心频率Fc，模拟滤波器42的放大系数以及ML译码器电路51的维特比(Viterbi)限制电平。设定这些参数的组合为图14所示的63级范围内的有效的一个。
此外，本发明不限于这些实施例，不脱离本发明的范围可以作出各种改变和改型。

Claims (15)

1.一种热粗糙检测方法，其特征在于包括下列步骤：
(a)使用模数转换器(43)把从磁记录介质(1)再现的模拟信号转换成数字信号；
(b)根据所述数字信号检测热粗糙；
(c)由固件自动地识别和管理通过所述步骤(b)进行的所述热粗糙的检测。
2.一种热粗糙消除方法，其特征在于，包括下列步骤：
(a)使用模数转换器(43)把从磁记录介质(1)再现的模拟信号转换成数字信号；
(b)使用用来检测在所述步(a)之后的直流分量的数字滤波器(44)消除由包括在模拟信号中的热粗糙引起的直流分量。
3.如权利要求2所述的热粗糙消除方法，其特征在于还包括下列步骤：
(c)通过根据由数字滤波器检测到的直流分量形成对于模数转换器的负反馈，并从模数转换器的输入中减去相当于直流分量的信号来进行偏移校正。
4.如权利要求2或3所述的热粗糙消除方法，其特征在于还包括以下步骤：
(c)检测所述热粗糙，
只有当所述步骤(c)检测到热粗糙时，所述步骤(b)才消除所述直流分量。
5.一种磁盘装置，其特征在于包括：
模数转换装置(43)，用于把从磁记录介质(1)再现的模拟信号转换成数字信号；以及
数字滤波器(44)，用于消除所述模数转换装置的输出中的包括在模拟信号中的由热粗糙产生的直流分量。
6.如权利要求5所述的磁盘装置，其特征在于还包括：
校正装置(45)，用于通过根据由所述数字滤波器检测到的直流分量对所述模数转换装置形成负反馈并从所述模数转换装置的输入中减去相当于直流分量的信号来进行偏移校正。
7.如权利要求5或6所述的磁盘装置，其特征在于还包括：
检测装置(55)，用于根据数字信号检测热粗糙；
所述数字滤波器只有当所述检测装置检测到热粗糙时才消除直流分量。
8.如权利要求5至7中任一个所述的磁盘装置，其特征在于所述数字滤波器包括：
具有n级的并用于接收数字信号的移位寄存器(61)，其中n是整数；
减法装置(63)，用于获得所述移位寄存器的输出和数字信号之间的差；
累加器(64，65)，用于累加从所述减法装置输出的差；以及
除法装置(66)，用于用n除从所述累加器输出的累加结果。
9.如权利要求8所述的磁盘装置，其特征在于还包括：
用于对所述移位寄存器和所述除法器装置可变地设置所述n的装置。
10.如权利要求5至9任一个所述的磁盘装置，其特征在于还包括：
自动增益控制环，用于根据所述数字滤波器的输出进行自动增益控制；
锁相环，用于根据所述数字滤波器的输出进行相位锁定控制；
数字均衡器(47)，用于根据所述数字滤波器的输出进行均衡处理；以及
译码器装置(51，52)，用于根据所述自动增益控制环，所述锁相环和所述数字均衡器的输出对数字信号进行译码。
11.如权利要求10所述的磁盘装置，其特征在于，所述数字滤波器具有第一移位寄存器，所述数字均衡器具有第二移位寄存器，并且至少第一移位寄存器的一部分和第二移位寄存器共用。
12.如权利要求5，6，8，9，10和11任一个所述的磁盘装置，其特征在于还包括：
第一检测装置，用于根据所述数字信号检测数据错误；以及
第二检测装置，用于根据所述数字信号检测热粗糙；
只有当所述第一检测装置检测到数据错误并且所述第二检测装置检测到热粗糙时，所述数字滤波器才消除直流分量。
13.如权利要求12所述的磁盘装置，其特征在于还包括：
重试装置，用于当所述第一检测装置检测到所述数据错误时，根据第二检测装置是否检测到热粗糙来进行读出重试处理。
14.一种用于一种装置的重试方法，所述装置包括模数转换器装置，用于把从磁记录介质(1)再现的模拟信号转换成数字信号，以及数字滤波器(44)，用于消除所述模数转换器装置(43)的输出中的由包含在模拟信号中的热粗糙引起的直流分量，其特征在于，所述方法包括下列步骤：
(a)根据所述数字信号检测数据错误；
(b)根据所述数字信号检测热粗糙；以及
(c)当检测到数据错误时，根据是否检测到热粗糙进行读出重试处理。
15.如权利要求14所述的重试方法，其特征在于还包括下述步骤：
(d)只有当在所述步骤(a)检测到数据错误且在所述步骤(b)检测到热粗糙时，才控制所述数字滤波器消除直流分量。
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