DE19714752A1 - Verfahren zur Detektion thermischer Rauhheit, Verfahren zur Eliminierung thermischer Rauhheit, Magnetplatteneinheit und Wiederholungsverfahren dafür - Google Patents

Verfahren zur Detektion thermischer Rauhheit, Verfahren zur Eliminierung thermischer Rauhheit, Magnetplatteneinheit und Wiederholungsverfahren dafür

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DE19714752A1 DE19714752A DE19714752A DE19714752A1 DE 19714752 A1 DE19714752 A1 DE 19714752A1 DE 19714752 A DE19714752 A DE 19714752A DE 19714752 A DE19714752 A DE 19714752A DE 19714752 A1 DE19714752 A1 DE 19714752A1
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Description

ALLGEMEINER STAND DER TECHNIK
Die vorliegende Erfindung bezieht sich allgemein auf Ver­ fahren zur Detektion thermischer Rauhheit, Verfahren zur Elimi­ nierung thermischer Rauhheit, Magnetplatteneinheiten und Wie­ derholungsverfahren dafür und insbesondere auf ein Verfahren zum Detektieren thermischer Rauhheit in einer Magnetplattenein­ heit, ein Verfahren zum Eliminieren der thermischen Rauhheit, eine Magnetplatteneinheit mit einem Mittel zum Detektieren und Eliminieren der thermischen Rauhheit und ein Wiederholungsver­ fahren, welches eine Wiederholung durch Detektieren der thermi­ schen Rauhheit in der Magnetplatteneinheit ausführt.
Kürzlich ist eine Magnetplatteneinheit mit einem Kopf vom Magnetoresistenztyp (MR) vorgeschlagen worden, der ein Magneto­ resistenz (MR) -Element verwendet. Außerdem ist, während die Auf­ zeichnungsdichte einer Magnetplatte zunahm, die Schwebedistanz, um die der MR-Kopf von der Magnetplatte schwebt kleiner gewor­ den. Aus diesem Grund kann der MR-Kopf auf einen Vorsprung treffen, d. h. einen Defekt, der auf der Magnetplatte unvermeid­ lich existiert. Wenn der MR-Kopf auf solch einen Vorsprung auf der Magnetplatte trifft, wird durch Reibung Wärme erzeugt, und eine von der Magnetplatte durch den MR-Kopfreproduzierte Signalwellenform fluktuiert aufgrund der erzeugten Wärme. Auf solch ein Phänomen wird als "thermische Rauhheit" verwiesen.
Die Speicherkapazität der Magnetplatteneinheit hat sich in den letzten Jahren erhöht, und die erhöhte Speicherkapazität ist hauptsächlich der erhöhten Aufzeichnungsdichte der Magnet­ platte zuzuschreiben. Um die Aufzeichnungsdichte der Magnet­ platte zu erhöhen, gibt es ein Verfahren zum Erhöhen der Anzahl Datenspuren in einer radialen Richtung auf der Magnetplatte, und es gibt ein Verfahren zum Erhöhen der Aufzeichnungsdichte in einer Umfangsrichtung der Magnetplatte.
Der MR-Kopf ist zur Verwendung mit der Magnetplatte unter Verwendung des letztgenannten Verfahrens geeignet, um die Auf­ zeichnungsdichte zu erhöhen. Um die Aufzeichnungsdichte weiter zu erhöhen, gibt es außerdem Vorschläge, die Schwebedistanz des MR-Kopfes von der Oberfläche der Magnetplatte zu reduzieren, so daß das Signal-zu-Rausch(S/N)-Verhältnis einer Ausgabe des MR- Kopfes erhöht wird.
Der MR-Kopf hat eine Charakteristik derart, daß sich der elektrische Widerstand des MR-Kopfes in Abhängigkeit von Ände­ rungen in einem externen Magnetfeld ändert. Aus diesem Grund liest der MR-Kopf Magnetisierungen auf der Magnetplatte als Spannungssignale durch Anlegen eines konstanten Stroms an das MR-Element unter Ausnutzung dieser Charakteristik des MR- Kopfes. Im Gegensatz zu einem Kopf von induktivem Typ kann fer­ ner der MR-Kopf leicht Signale lesen, sogar während sich die Magnetplatte bei einer geringen Geschwindigkeit dreht, und der MR-Kopf ist somit für eine Verwendung in der Magnetplattenein­ heit geeignet, um die Speicherkapazität zu erhöhen und die Grö­ ße der Magnetplatte zu reduzieren.
Wenn jedoch die Schwebedistanz des MR-Kopfes von der Ober­ fläche der Magnetplatte reduziert wird, um die Aufzeichnungs­ dichte auf der Magnetplatte zu erhöhen, trifft der MR-Kopf auf Vorsprünge, d. h. Defekte, die auf der Magnetplatte unvermeid­ lich existieren. Wenn der MR-Kopf auf solch einen Vorsprung trifft, ändert sich der thermische Widerstand des MR-Elements, d. h. er nimmt aufgrund der durch die Reibung erzeugten Wärme zu. Wenn der thermische Widerstand des MR-Elements zunimmt, fluktuiert die von der Magnetplatte durch den MR-Kopf reprodu­ zierte Signalwellenform, wodurch die thermische Rauhheit verur­ sacht wird. Wenn die thermische Rauhheit auftritt, tritt insbe­ sondere eine plötzliche Änderung in einer Gleichstromkomponente der von der Magnetplatte reproduzierten Signalwellenform auf, und es wird unmöglich, auf der Magnetplatte aufgezeichnete Da­ ten korrekt zu reproduzieren.
Herkömmlicherweise war ein vorgeschlagenes Verfahren, wel­ ches Maßnahmen ergreift, um die unerwünschten Effekte der ther­ mischen Rauhheit zu unterdrücken, durch Detektieren der thermi­ schen Rauhheit und Erhöhen eines Eingangsdynamikbereichs eines Analog-Digital (A/D) -Wandlers innerhalb eines Datenleseteils. Gemäß diesem vorgeschlagenen Verfahren werden die Operationen eines Phasenregelkreises (PLL) und einer Automatik-Verstär­ kungsregel(AGC)-Schleife innerhalb des Datenleseteils gehalten, und eine Abschneidefrequenz einer Wechselstromkopplung des Ein­ gangs des Datenleseteils wird erhöht. Dieses vorgeschlagene Verfahren ist beispielsweise in einer offengelegten japanischen Patentanmeldung Nr. 6-28785 offenbart.
Gemäß den herkömmlichen, gegen die thermische Rauhheit er­ griffenen Maßnahmen gab es jedoch ein Problem insofern, als es unmöglich ist, die plötzliche Änderung in der Gleichstromkompo­ nente der von der Magnetplatte reproduzierten Signalwellenform komplett zu eliminieren. Wenn eine Wiederholung der Leseopera­ tion nach Detektieren der thermischen Rauhheit ausgeführt wur­ den, war es außerdem notwendig, 3 Operationen auszuführen, näm­ lich Halten der Operationen des PLL und der AGC-Schleife, Erhö­ hen des Eingangsdynamikbereichs des A/D-Wandlers und Erhöhen der Abschneidefrequenz der Wechselstromkopplung des Eingangs des Datenleseteils. Als Folge bestand auch ein Problem inso­ fern, als eine komplizierte Steuerung erforderlich ist.
Wenn die Operationen des PL- und der AGC gehalten werden, ist es überdies unmöglich, den Daten während der Haltezeit zu folgen. Weil aber eine Abweichung des Signalpegels von einem Zielwert und ein Fehler in der Abtastphase einen Datenfehler verursachen werden, war es notwendig, die Haltezeit zu minimie­ ren. Wenn der Eingangsdynamikbereich des A/D-Wandlers erhöht wird, verschlechterte sich andererseits die Auflösung. Außerdem wird eine analoge Schaltung, die verwendet wird, um ein Schal­ ten auszuführen, wenn die Abschneidefrequenz der Wechselstrom­ kopplung am Eingang des Datenleseteils erhöht wird, im allge­ meinen durch Rauschen leicht beeinflußt, und es war wichtig, Maßnahmen gegen das Rauschen zu ergreifen.
ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
Es ist demgemäß eine allgemeine Aufgabe der vorliegenden Erfindung ein neuartiges und nützliches Verfahren zur Detektion thermischer Rauhheit, ein Verfahren zur Eliminierung thermi­ scher Rauhheit, eine Magnetplatteneinheit und ein Wiederho­ lungsverfahren dafür zu schaffen, in denen die oben beschriebe­ nen Probleme eliminiert sind.
Eine andere und speziellere Aufgabe der vorliegenden Erfin­ dung ist, ein Verfahren zur Detektion thermischer Rauhheit zu schaffen, das die thermische Rauhheit sicher detektieren kann, ein Verfahren zur Eliminierung thermischer Rauhheit, das die thermische Rauhheit sicher detektieren und eliminieren kann, eine Magnetplatteneinheit, welche die thermische Rauhheit si­ cher detektiert und eliminiert, und ein für solch eine Magnet­ platteneinheit verwendbares Wiederholungsverfahren.
Noch eine andere Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist, ein Verfahren zur Detektion thermischer Rauhheit zu schaffen mit den Schritten eines (a) Umwandelns eines von einem magneti­ schen Aufzeichnungsmedium reproduzierten analogen Signals in ein digitales Signal unter Verwendung eines Analog-Digital- Wandlers, (b) Detektierens thermischer Rauhheit, basierend auf dem digitalen Signal, und (c) automatischen Erkennens und Ver­ waltens einer Detektion der thermischen Rauhheit durch den Schritt (b) durch Firmware. Gemäß dem Verfahren zur Detektion thermischer Rauhheit der vorliegenden Erfindung ist es möglich, die thermische Rauhheit sicher zu detektieren.
Eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist, ein Verfahren zur Eliminierung thermischer Rauhheit zu schaffen mit den Schritten eines (a) Umwandelns eines von einem magnetischen Aufzeichnungsmedium reproduzierten analogen Signals in ein di­ gitales Signal unter Verwendung eines Analog-Digital-Wandlers, (b) Eliminierens einer Gleichstromkomponente, die durch in dem analogen Signal enthaltene thermische Rauhheit verursacht wird, wobei ein digitales Filter verwendet wird, das die Gleichstrom­ komponente nach dem Schritt (a) detektiert. Gemäß dem Verfahren zur Eliminierung thermischer Rauhheit der vorliegenden Erfin­ dung ist es möglich, die thermische Rauhheit sicher zu elimi­ nieren. Es ist außerdem möglich, unerwünschte Effekte eines Rauschens zu unterdrücken, weil eine digitale Signalverarbei­ tung ausgeführt wird.
Eine andere Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist, eine Magnetplatteneinheit zu schaffen, die ein Analog-Digital- Wandlermittel zum Umwandeln eines von einer Magnetplatte repro­ duzierten analogen Signals in ein digitales Signal und ein di­ gitales Filter umfaßt, das eine Gleichstromkomponente elimi­ niert, die durch in dem analogen Signal von einem Ausgang des Analog-Digital-Wandlermittels enthaltene thermische Rauhheit verursacht wird. Gemäß der Magnetplatteneinheit der vorliegen­ den Erfindung ist es möglich, die thermische Rauhheit sicher zu eliminieren. Es ist außerdem möglich, unerwünschte Effekte ei­ nes Rauschens zu unterdrücken, weil eine digitale Signalverar­ beitung ausgeführt wird.
Noch eine andere Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist, ein Wiederholungsverfahren für ein Gerät zu schaffen, welches ein Analog-Digital-Wandlermittel zum Umwandeln eines von einem magnetischen Aufzeichnungsmedium reproduzierten analogen Si­ gnals in ein digitales Signal und ein digitales Filter enthält, das eine Gleichstromkomponente eliminiert, die durch in dem analogen Signal von einem Ausgang des Analog-Digital-Wandler­ mittels enthaltene thermische Rauhheit verursacht wird, mit den Schritten eines (a) Detektierens eines Datenfehlers, basierend auf dem digitalen Signal, (b) Detektierens der thermischen Rauhheit, basierend auf dem digitalen Signal, und (c) Ausfüh­ rens eines Lesewiederholungsprozesses, basierend darauf, ob die thermische Rauhheit detektiert wird oder nicht, wenn der Daten­ fehler detektiert wird. Gemäß dem Wiederholungsverfahren der vorliegenden Erfindung ist es möglich, einen Wiederholungspro­ zeß und eine Eliminierung der thermischen Rauhheit gleichzei­ tig zu realisieren.
Andere Aufgaben und weitere Merkmale der vorliegenden Er­ findung werden aus der folgenden ausführlichen Beschreibung er­ sichtlich, wenn sie in Verbindung mit den beiliegenden Zeich­ nungen gelesen wird.
KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
Fig. 1 ist ein Systemblockdiagramm, das allgemein den Auf­ bau einer Ausführungsform einer Magnetplatteneinheit gemäß der vorliegenden Erfindung zeigt;
Fig. 2 ist ein Systemblockdiagramm, das einen wichtigen Teil der in Fig. 1 gezeigten Magnetplatteneinheit zeigt;
Fig. 3 ist ein Systemblockdiagramm, das eine Ausführungs­ form eines digitalen Hochpaßfilters zeigt;
Fig. 4 ist ein Systemblockdiagramm, das eine Ausführungs­ form einer Offset-Korrekturschaltung und eines A/D-Wandlers zeigt;
Fig. 5 ist ein Diagramm, das ein analoges Signal zeigt, das durch einen Kopf reproduziert und in einen spannungsgesteuerten Verstärker eingegeben wird;
Fig. 6 ist ein Diagramm, das ein Ausgangssignal des A/D- Wandlers zeigt, wenn keine Maßnahmen gegen thermische Rauhheit ergriffen werden und kein digitales Hochpaßfilter und keine Offset-Korrekturschaltung vorgesehen sind;
Fig. 7 ist ein Diagramm, das ein Ausgangssignal des A/D- Wandlers der Ausführungsform der Magnetplatteneinheit zeigt;
Fig. 8 ist ein Diagramm, das eine Gleichstromkomponente zeigt, die durch das digitale Hochpaßfilter erhalten wird;
Fig. 9 ist ein Diagramm, das ein Signal zeigt, das durch das digitale Hochpaßfilter von der Gleichstromkomponente be­ freit ist;
Fig. 10 ist ein Systemblockdiagramm, das eine Ausführungs­ form einer Schaltung zur Detektion thermischer Rauhheit zeigt;
Fig. 11 ist ein Systemblockdiagramm, daß eine Ausführungs­ form eines digitalen Entzerrers zusammen mit einem peripheren Teil davon zeigt;
Fig. 12 ist ein Systemblockdiagramm, das eine Ausführungs­ form des digitalen Hochpaßfilters und des digitalen Entzerrers mit einem Teil zeigt, der gemeinsam zwischen den beiden verwen­ det wird;
Fig. 13 ist ein Flußdiagramm zum Erläutern einer Operation einer Wirtsmikroprozessoreinheit, wenn eine Lesewiederholung ausgeführt wird; und
Fig. 14 ist ein Diagramm zum Erläutern eines Thermische- Rauhheit-Wiederholungsprozesses in Fig. 13.
BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
Es wird eine Beschreibung einer Ausführungsform einer Ma­ gnetplatteneinheit gemäß der vorliegenden Erfindung gegeben. Diese Ausführungsform der Magnetplatteneinheit verwendet eine Ausführungsform eines Verfahrens zur Detektion thermischer Rauhheit gemäß der vorliegenden Erfindung, eine Ausführungsform eines Verfahrens zur Eliminierung thermischer Rauhheit gemäß der vorliegenden Erfindung und eine Ausführungsform eines Wie­ derholungsverfahrens gemäß der vorliegenden Erfindung.
Fig. 1 zeigt den allgemeinen Aufbau dieser Ausführungsform der Magnetplatteneinheit. Die Magnetplatteneinheit enthält im allgemeinen einen Plattenmechanikteil 30, eine Vorverstärker­ schaltung 31, eine Wirtsmikroprozessoreinheit (MPU) 32, eine Lese/Schreib-Steuereinheit 33, eine Schnittstellenschaltung 34, eine Modulator/Demodulator (Modem) -Schaltung 35 und eine An­ steuer- oder Treiberschaltung 36, die wie in Fig. 1 gezeigt verbunden sind. Der Plattenmechanikteil 30 enthält im allgemei­ nen eine Spindel 11, die durch einen (nicht dargestellten) Spindelmotor gedreht wird, an der Spindel 11 befestigte Magnet­ platten 1, auf Kopfstellgliedern 20 getragene Köpfe 2 und einen Wagenteil 22, der einen (nicht dargestellten, VCM) Schwingspu­ lenmotor enthält. In dieser Ausführungsform nimmt man bequem­ lichkeitshalber an, daß innerhalb des Plattenmechanikteils 30 3 Magnetplatten 1 und 4 Köpfe 2 vorgesehen sind.
Der Grundaufbau der in Fig. 1 gezeigten Magnetplattenein­ heit selbst ist bekannt. Aus diesem Grund werden eine Veran­ schaulichung und ausführliche Beschreibung in bezug auf interne Strukturen der verschiedenen Teile der Magnetplatteneinheit in dieser Beschreibung weggelassen.
Unter der Vielzahl von Magnetplatten 1 wird beispielsweise Servoinformation auf einer Oberfläche 10 einer Magnetplatte 1 aufgezeichnet und werden Daten auf einer Oberfläche 10 einer anderen Magnetplatte 1 aufgezeichnet.
Die Wirts-MPU 32 steuert jeden Teil der Magnetplattenein­ heit und steuert Daten und Befehle, die zwischen der Wirts-MPU 32 und einem (nicht dargestellten) Computer in einer höheren Schicht oder Ebene ausgetauscht werden. Die Lese/Schreib- Steuereinheit 33 steuert das Lesen/Schreiben von Daten bezüg­ lich des Plattenmechanikteils 30 über die Vorverstärkerschal­ tung 31 basierend auf Instruktionen von der Wirts-MPU 32. Ein von der Lese/Schreib-Steuereinheit 33 ausgegebenes reproduzier­ tes Signal wird über die Modemschaltung 35 und die Schnittstel­ lenschaltung 34 an die Wirts-MPU 32 geliefert.
Die Treiberschaltung 36 treibt den Wagenteil 22 als Antwort auf einen Suchbefehl von der Wirts-MPU 32 an und steuert diesen und steuert ein Positionieren der Köpfe 2 innerhalb des Plat­ tenmechanikteils 30.
Fig. 2 zeigt einen wichtigen Teil der in Fig. 1 gezeigten Magnetplatteneinheit. Fig. 2 zeigt nur ein Reproduziersystem, welches direkt mit dem Gegenstand der vorliegenden Erfindung verbunden ist und innerhalb eines Schaltungsteils ist, der aus der Vorverstärkerschaltung 31, der Lese/Schreib-Steuereinheit 33 und der Modemschaltung 35 aufgebaut ist. Dieses Reproduzier­ system verwendet eine Teilantwort-Maximum-Likelihood (PRML)- Technik.
Das Reproduziersystem enthält einen spannungsgesteuerten Verstärker 41, ein analoges Filter 42, einen A/D-Wandler 43, ein digitales Hochpaßfilter 44, eine Offset-Korrekturschaltung 45, eine Zeitsteuerschaltung 46, einen digitalen Entzerrer 47, eine Verstärkungsregelschaltung 48, einen spannungsgesteuerten Oszillator 49, eine Maximum-Likelihood (Viterbi-Demodulator)- Schaltung 51, einen 9/8-Decodierer 52, eine Thermische-Rauh­ heit (TA)-Detektionsschaltung 55, ein TA-Detektion-Bit-Register 56, ein Stufeneinstellregister 58 und ein Freigaberegister 59, die wie in Fig. 2 gezeigt verbunden sind.
Ein analoges Signal, welches von der Magnetplatte 1 durch den Kopf 2 reproduziert wird, wird durch den spannungsgesteuer­ ten Verstärker 41 auf eine geeignetste Amplitude verstärkt. Ei­ ne Verstärkung dieses spannungsgesteuerten Verstärkers 41 wird durch eine Rückkopplung von der Verstärkungsregelschaltung 48 optimiert. Das analoge Filter 42 unterwirft das von dem span­ nungsgesteuerten Verstärker 41 ausgegebene analoge Signal einer Teilanwort-Wellenform-Entzerrung. Der A/D-Wandler 43 wandelt das von dem analogen Filter 42 ausgegebene analoge Signal durch Abtasten des analogen Signals bei einer optimierten Abtastperi­ ode, die durch die Zeitsteuerschaltung 46 und den spannungsge­ steuerten Oszillator 49 bestimmt ist, in ein digitales Signal um.
Das digitale Hochpaßfilter 44 erhält eine Gleichstromkompo­ nente von dem vom A/D-Wandler 43 ausgegebenen digitalen Signal und liefert die Gleichstromkomponente an die Offset-Korrektur­ schaltung 45. Das digitale Hochpaßfilter 44 gibt außerdem ein digitales Signal aus, welches von der Gleichstromkomponente be­ freit ist. Die Gleichstromkomponente entspricht der thermischen Rauhheit. Die Offset-Korrekturschaltung 45 wandelt die Gleich­ stromkomponente in eine Spannung um. Der A/D-Wandler 43 subtra­ hiert die Spannung, die von der Offset-Korrekturschaltung 45 empfangen wird, von dem analogen Signal, welches von dem analo­ gen Filter 42 empfangen wird, und führt die A/D-Umwandlung be­ züglich einer Differenz aus, die durch diese Subtraktion erhal­ ten wird. Es ist daher möglich, zu verhindern, daß die Eingabe des A/D-Wandlers 43 den Eingangsdynamikbereich des A/D-Wandlers 43 übersteigt und sättigt. Beispielsweise ist der Eingangsdyna­ mikbereich des A/D-Wandlers 43 400 mVpp, und von dem A/D- Wandler 43 wird ein 6-Bit-Komplement von zwei ausgegeben.
Das ausgegebene digitale Signal des digitalen Hochpaßfil­ ters 44 wird an die Zeitsteuerschaltung 46, die Verstärkungsre­ gelschaltung 48 und den digitalen Entzerrer 47 geliefert. Der digitale Entzerrer 47 ist vorgesehen, um die Wellenformentzer­ rung fein einzustellen. Das von dem digitalen Entzerrer 47 aus­ gegebene digitale Signal wird an die Zeitsteuerschaltung 46, die Verstärkungsregelschaltung 48 und die Maximum-Likelihood- (ML)-Decodiererschaltung 51 geliefert. Die Zeitsteuerschaltung 46 erzeugt ein Signal zum Steuern einer Abtastzeiteinstellung, d. h. einer Abtastperiode des A/D-Wandlers 43 über den span­ nungsgesteuerten Oszillator 49, basierend auf dem ausgegebenen digitalen Signal des digitalen Hochpaßfilters 44 und dem ausge­ gebenen digitalen Signal des digitalen Entzerrers 47. Die Ver­ stärkungsregelschaltung 48 erzeugt ein Signal zum Regeln der Verstärkung des spannungsgesteuerten Verstärkers 41 basierend auf dem ausgegebenen digitalen Signal des digitalen Hochpaßfil­ ters 44 und dem ausgegebenen digitalen Signal des digitalen Entzerrers 47. Beispielsweise kann ein in einer offengelegten japanischen Patentanmeldung Nr. 6-111478 vorgeschlagenes Ver­ fahren als das Verfahren zum Einstellen der Verstärkung unter Verwendung der Verstärkungsregelschaltung 48 verwendet werden.
Die ML-Decodiererschaltung 51 decodiert das ausgegebene di­ gitale Signal des digitalen Entzerrers 47 und erzeugt serielle Daten. Außerdem decodiert der 9/8-Decodierer 52 die seriellen Daten von der ML-Decodiererschaltung 51 und wandelt sie in pa­ rallele Daten um. Die parallelen Daten werden über die in Fig. 1 gezeigte Schnittstellenschaltung 34 als reproduzierte Daten an die Wirts-MPU 32 geliefert.
Die TA-Detektionsschaltung 55 detektiert die thermische Rauhheit durch Detektieren abnormer Amplituden der gleichen Po­ larität von dem ausgegebenen digitalen Signal des A/D-Wandlers 43. Eine Schaltung mit bekanntem Aufbau kann für diese TA- Detektionsschaltung 55 verwendet werden, und es ist z. B. mög­ lich, die in einer offengelegten japanischen Patentanmeldung Nr. 6-28785 vorgeschlagene Schaltung als die TA-Detektions- Schaltung 55 zu verwenden. Wenn die TA-Detektionsschaltung 55 die thermische Rauhheit detektiert, setzt die TA-Detektions­ schaltung 55 ein TA-Detektion-Bit in dem TA-Detektion-Bit- Register 56. Auf Inhalte des TA-Detektion-Bit-Registers 56 kann von der in Fig. 1 gezeigten Wirts-MPU 32 und dem Computer in der höheren Schicht Bezug genommen werden. Durch Prüfen des TA- Detektion-Bit-Registers 56 durch Firmware ist es möglich, zu bestätigen, ob die thermische Rauhheit erzeugt ist oder nicht.
Das Freigaberegister 59 speichert eine 1-Bit-Freigabeinfor­ mation, welche eingestellt wird, wenn es das digitale Hochpaß­ filter 44 freigibt. Das Freigaberegister 59 kann von der Wirts- MPU 32 und dem Computer in der höheren Schicht eingestellt und zurückgestellt werden. Weil das Freigaberegister 59 normaler­ weise zurückgestellt ist, ist das digitale Hochpaßfilter 44 normalerweise gesperrt, um so zu verhindern, daß sich das S/N- Verhältnis aufgrund der Operation des digitalen Hochpaßfilters 44 verschlechtert. Wenn andererseits ein Lesefehler auftritt, wie später beschrieben wird, und die thermische Rauhheit von dem TA-Detektion-Bit-Register 56 detektiert wird, wird das Freigaberegister 59 eingestellt, wodurch das digitale Hochpaß­ filter 44 freigegeben und es möglich gemacht wird, die Gleich­ stromkomponente zu eliminieren.
Das Stufeneinstellregister 58 speichert eine 3-Bit-Stufen­ einstellinformation, welche die Anzahl Stufen eines das digita­ le Hochpaßfilter 44 bildenden Schieberegisters einstellt. Das Stufeneinstellregister 58 kann von der Wirts-MPU 32 und dem Computer in der höheren Schicht eingestellt werden. In dieser Ausführungsform kann das Stufeneinstellregister 58 3 Arten von Stufen durch die 3-Bit-Stufeneinstellinformation einstellen, und es ist möglich, die Abschneidefrequenz des digitalen Hoch­ paßfilters 44 durch Ändern der eingestellten Anzahl Stufen zu ändern. Wenn ein Datenfehler auftritt und die thermische Rauh­ heit von dem TA-Detektion-Bit-Register 56 detektiert wird, wird eine Lesewiederholung ausgeführt. Falls ein Datenfehler während dieser Lesewiederholung wieder auftritt, wird die Stufenein­ stellinformation innerhalb des Stufeneinstellregisters 58 durch Firmware geändert.
Fig. 3 zeigt eine Ausführungsform des digitalen Hochpaßfil­ ters 44. Das digitale Hochpaßfilter 44 enthält ein Schieberegi­ ster 61, einen Selektor 62, einen Subtrahierer 63, einen Addie­ rer 64, ein Flip-Flop 65, einen 1/n-Teiler 66 und einen Subtra­ hierer 67, die wie in Fig. 3 gezeigt verbunden sind.
In Fig. 3 wird das von dem A/D-Wandler 43 ausgegebene digi­ tale 6-Bit-Signal in einen Eingangsanschluß 60 eingegeben und wird sukzessiv in dem Schieberegister 61 mit 32 Stufen gescho­ ben. Der Selektor 62 empfängt 3 Arten von Signalen, die durch das Schieberegister 61 um 8, 16 bzw. 32 Stufen verzögert wer­ den. Der Selektor 62 empfängt auch das 3-Bit-Auswahlsignal (Stufeneinstellinformation) von dem in Fig. 2 gezeigten Stufen­ einstellregister 58. Von den 3 Arten von Signalen, welche durch das Schieberegister 61 um 8, 16 bzw. 32 Stufen verzögert wer­ den, wird daher 1 Signal durch das Auswahlsignal ausgewählt und wird vom Selektor 62 ausgegeben. Das ausgegebene digitale Si­ gnal des Selektors 62 wird an den Subtrahierer 63 geliefert. Der Subtrahierer 63 subtrahiert das digitale Signal, welches von dem Selektor 62 empfangen wird, von dem ausgegebenen digi­ talen Signal des A/D-Wandlers 43, das direkt vom Eingangsan­ schluß 60 erhalten wird, und erhält die Differenz zwischen den beiden digitalen Signalen.
Der Addierer 64 und das Flip-Flop 65, welche wie in Fig. 3 dargestellt verbunden sind, bilden einen Akkumulator, der die durch den Subtrahierer 63 erhaltene Differenz akkumuliert. Das Flip-Flop 65 wird als Antwort auf ein Freigabesignal (Freigabe­ information) von dem in Fig. 2 gezeigten Freigaberegister 59 freigegeben. Ein durch den Akkumulator erhaltenes akkumuliertes Ergebnis wird an den 1/n-Teiler 66 geliefert.
Der 1/n-Teiler 66 empfängt auch das 3-Bit-Auswahlsignal von dem in Fig. 2 gezeigten Stufeneinstellregister 58. Falls durch den Selektor 62 n=8 ausgewählt wird, wird demgemäß das akkumu­ lierte 12-Bit-Ergebnis von dem Akkumulator einer Bitverschie­ bung von 3 Bits zum niederwertigsten Bit (LSB) hin unterzogen, und ein 6-Bit-Signal, das durch Multiplizieren von 1/8 an das akkumulierte 12-Bit-Ergebnis erhalten wird, wird von dem 1/n- Teiler 66 durch ein durch einen (nicht dargestellten) Selektor Innerhalb des 1/n-Teilers 66 ausgeführtes Schalten ausgegeben. Dieses 6-Bit-Signal von dem 1/n-Teiler 66 wird von einem Aus­ gangsanschluß 68 als eine Gleichstromkomponente der thermischen Rauhheit ausgegeben und wird an die in Fig. 2 gezeigte Offset- Korrekturschaltung 45 geliefert. Falls durch den Selektor 62 n=16 ausgewählt wird, wird andererseits das akkumulierte 12- Bit-Ergebnis von dem Akkumulator einer Bitverschiebung von 4 Bits zum LSB hin unterzogen, und ein 6-Bit-Signal, welches durch Multiplizieren von 1/16 an das akkumulierte 12-Bit- Ergebnis erhalten wird, wird von dem 1/n-Teiler 66 durch ein durch den Selektor innerhalb des 1/n-Teilers 66 ausgeführtes Schalten ausgegeben. Falls durch den Selektor 62 n=32 ausge­ wählt wird, wird ähnlich das akkumulierte 12-Bit-Ergebnis von dem Akkumulator einer Bitverschiebung von 5 Bits zum LSB hin unterzogen, und ein 6-Bit-Signal, welches durch Multiplizieren von 1/32 an das akkumulierte 12-Bit-Ergebnis erhalten wird, wird von dem 1/n-Teiler 66 durch ein durch den Selektor inner­ halb des 1/n-Teilers 66 ausgeführtes Schalten erhalten.
Das von dem 1/n-Teiler 66 ausgegebene 6-Bit-Signal wird auch an den Subtrahierer 67 geliefert. Dieser Subtrahierer 67 empfängt auch das ausgegebene digitale Signal des A/D-Wandlers 43, das direkt von dem Eingangsanschluß 60 erhalten wird. Somit subtrahiert der Subtrahierer 67 die Gleichstromkomponente der thermischen Rauhheit von dem ausgegebenen digitalen Signal des A/D-Wandlers 43, um so ein digitales Signal auszugeben, welches von der Gleichstromkomponente befreit ist. Das ausgegebene di­ gitale Signal des Subtrahierers 67 wird über einen Ausgangsan­ schluß 69 ausgegeben und an die Zeitsteuerschaltung 46, den di­ gitalen Entzerrer 47 und die Verstärkungsregelschaltung 48 ge­ liefert, die in Fig. 2 dargestellt sind.
Das an das Flip-Flop 65 gelieferte Freigabesignal wird in einen Löschanschluß des Flip-Flop 65 eingegeben. Wenn das Frei­ gabesignal AUS ist, wird demgemäß das Flip-Flop 65 gelöscht, und die von dem Ausgangsanschluß 68 ausgegebene Gleichstromkom­ ponente ist Null. In diesem Fall ist das digitale Hochpaßfilter 44 gesperrt, und nur das ausgegebene digitale Signal des A/D- Wandlers 43 wird von dem Ausgangsanschluß 69 ausgegeben.
Fig. 4 zeigt eine Ausführungsform der Offset-Korrektur­ schaltung 45 und des A/D-Wandlers 43. Die Offset-Korrektur­ schaltung 45 enthält eine Digital-Analog (D/A) -Wandlerschaltung 451 und eine Schleifenverstärkungsschaltung 452, die wie in Fig. 4 gezeigt verbunden sind. Die Schleifenverstärkungsschal­ tung 452 hat eine Schleifenverstärkung von 0,8. Andererseits enthält der A/D-Wandler 43 einen analogen Subtrahierer 431 und eine A/D-Wandlerschaltung 432, die wie in Fig. 4 gezeigt ver­ bunden sind. Natürlich ist die Schleifenverstärkung der Schlei­ fenverstärkungsschaltung 452 nicht auf 0,8 beschränkt, und die Schleifenverstärkung kann auf einen optimalen Wert eingestellt werden, der z. B. durch Simulation erhalten wird.
Die Gleichstromkomponente, die von dem Ausgangsanschluß 68 des digitalen Hochpaßfilters 44 erhalten wird, wird über einen Eingangsanschluß 450 an die D/A-Wandlerschaltung 451 geliefert und wird in eine analoge Spannung umgewandelt. Diese analoge Spannung wird über die Schleifenverstärkungsschaltung 452 an den analogen Subtrahierer 431 des A/D-Wandlers 43 geliefert. Der analoge Subtrahierer 431 empfängt auch das analoge Signal von dem analogen Filter 42, das in Fig. 2 dargestellt ist. Dem­ gemäß subtrahiert der analoge Subtrahierer 431 die analoge Spannung, welche von der Schleifenverstärkungsschaltung 452 empfangen wird, von dem analogen Signal, das von dem analogen Filter 42 empfangen wird, und liefert ein Subtraktionsergebnis an die A/D-Wandlerschaltung 432. Ein von der A/D-Wandlerschal­ tung 432 ausgegebenes digitales 6-Bit-Signal wird über einen Ausgangsanschluß 433 an das in Fig. 2 gezeigte digitale Hoch­ paßfilter 44 geliefert.
In dieser Ausführungsform ist der Eingangsdynamikbereich der A/D-Wandlerschaltung 432 400 mVpp und das Gewicht von 1 Bit der 6-Bit-Ausgabe, die durch die A/D-Wandlerschaltung 432 erzeugt wird, ist 6,25 mV. Außerdem erzeugt die D/A-Wandler­ schaltung 451 auch die Ausgabe von ±200 mV (500 mVpp) unter Verwendung des gleichen Gewichts wie die A/D-Wandlerschaltung 432. Die folgende Tabelle zeigt eine Beziehung der Eingabe und der Ausgabe der D/A-Wandlerschaltung 451.
Tabelle
Fig. 5 zeigt das analoge Signal, welches durch den Kopf 2 reproduziert und in den spannungsgesteuerten Verstärker 41 in Fig. 2 eingegeben wird. In Fig. 5 gibt die Ordinate die Ampli­ tude in willkürlichen Einheiten an, und die Abszisse gibt die Zeit in ns an. Fig. 5 zeigt einen Fall, wo die thermische Rauh­ heit von einer Umgebung von 1000 ns erzeugt wird.
Fig. 6 zeigt das Ausgangssignal des A/D-Wandlers 43 für ei­ nen Fall, wo keine Maßnahme gegen die thermische Rauhheit er­ griffen wird und das digitale Hochpaßfilter 44 und die Offset- Korrekturschaltung 45, die in Fig. 2 gezeigt sind, nicht vorge­ sehen sind. In Fig. 6 gibt die Ordinate die Amplitude in will­ kürlichen Einheiten an, und die Abszisse gibt die Zeit in ns an. In diesem Fall kann aus Fig. 6 ersehen werden, daß die A/D- Umwandlung während einer Zeit A sättigt, die Amplitude während einer Zeit B im Vergleich zu der während der Zeit A abnimmt, bevor die thermische Rauhheit auftritt, und ein Phasenfehler während einer Zeit C auftritt.
Wenn das digitale Hochpaßfilter 44 und die Offset-Korrek­ turschaltung 45, die in Fig. 2 gezeigt sind, wie in dieser Aus­ führungsform vorgesehen sind, wurde andererseits bestätigt, daß das Ausgangssignal des A/D-Wandlers 43 hinsichtlich des in Fig. 5 gezeigten analogen Signals wie in Fig. 7 dargestellt wird. Es wurde ferner bestätigt, daß die von dem digitalen Hochpaßfilter 44 erhaltene Gleichstromkomponente wie in Fig. 8 dargestellt wird und daß das von der Gleichstromkomponente durch das digi­ tale Hochpaßfilter 44 befreite Signal wie in Fig. 9 dargestellt wird. In Fig. 7 bis 9 gibt die Ordinate die Amplitude in will­ kürlichen Einheiten an, und die Abszisse gibt die Zeit in ns an.
Es kann berücksichtigt werden, daß die A/D-Umwandlung wäh­ rend einer Zeit D in Fig. 7 gesättigt ist und daß die Datenre­ produktion nicht während der Zeit D in Fig. 9 vorgenommen wer­ den kann. Nach der Zeit D sieht man jedoch keinen Amplitudenab­ fall und keinen Phasenfehler, und es wurde daher bestätigt, daß diese Ausführungsform bezüglich der thermischen Rauhheit außer­ ordentlich wirkungsvoll ist.
Fig. 10 zeigt eine Ausführungsform der in Fig. 2 gezeigten TA-Detektionsschaltung 55. Die TA-Detektionsschaltung 55 ent­ hält eine UND-Schaltung 551, eine Absolutwertschaltung 552, ei­ nen Pegelkomparator 553, Verriegelungsschaltungen 554 und 555, eine Exklusiv-ODER-Schaltung 556, ein N-Bit-Schieberegister 557 und eine Verriegelungsschaltung 558, welche wie in Fig. 10 dar­ gestellt verbunden sind.
Das ausgegebene digitale Signal des in Fig. 2 gezeigten A/D-Wandlers 43 wird in einen in Fig. 10 gezeigten Eingangsan­ schluß 560 eingegeben. Ein Steuersignal zum Freigeben/Sperren der Operation der TA-Detektionsschaltung 55 wird andererseits in einen Eingangsanschluß 561 eingegeben. Dieses Steuersignal kann von dem Computer in der höheren Schicht oder der Wirts-MPU 32 geliefert werden. Es ist alternativ ebenfalls möglich, die­ ses Steuersignal von einem (nicht dargestellten) Register zuzu­ führen, das durch den Computer in der höheren Schicht oder die Wirts-MPU 32 zugänglich ist und von diesen eingestellt werden kann. Die UND-Schaltung 551 erhält ein UND der Signale, die über die Eingangsanschlüsse 560 und 561 empfangen werden, und ein Ausgangssignal dieser UND-Schaltung 551 wird an die Abso­ lutwertschaltung 552 und die Verriegelungsschaltung 554 gelie­ fert. Die Absolutwertschaltung 552 erhält einen Absolutwert des Ausgangssignals der UND-Schaltung 551 und liefert den Absolut­ wert an den Pegelkomparator 553 Der Pegelkomparator 553 ver­ gleicht einen über einen Eingangsanschluß 562 eingegebenen TA- Schnittpegel (engl. TA slice level) und ein Ausgangssignal (Ab­ solutwert) der Absolutwertschaltung 552. Dieser TA-Scheiben­ pegel kann von dem Computer in der höheren Schicht oder der Wirts-MPU 32 geliefert werden. Alternativ ist es auch möglich, diesen TA-Scheibenpegel von einem (nicht dargestellten) Regi­ ster zuzuführen, welches durch den Computer in der höheren Schicht oder die Wirts-MPU 32 zugänglich ist und von diesen eingestellt werden kann. Ein Ausgangssignal des Pegelkompara­ tors 553 wird an das N-Bit-Schieberegister und an Takteingangs­ anschlüsse CLK der Verriegelungsschaltungen 554 und 555 gelie­ fert.
Die Verriegelungsschaltungen 554 und 555 und die Exklusiv- ODER-Schaltung 556 bilden einen Polaritätsprüfteil. Ein Aus­ gangssignal der Verriegelungsschaltung 554 wird an die Verrie­ gelungsschaltung 555 und die Exklusiv-ODER-Schaltung 556 gelie­ fert. Außerdem wird auch ein Ausgangssignal der Verriegelungs­ schaltung 555 an die Exklusiv-ODER-Schaltung 556 geliefert. Ein Ausgangssignal der Exklusiv-ODER-Schaltung 556 wird an ei­ nen Rückstellanschluß des N-Bit-Schieberegisters 557 als ein Rückstellimpuls geliefert. Das N-Bit-Schieberegister 557 wird zurückgestellt, wenn dieser Rückstellimpuls einen hohen Pegel (logischer Wert "1") aufweist.
Andererseits wird ein in einen Eingangsanschluß 563 einge­ gebenes N-Bit-Einstellsignal an einen Löschanschluß des N-Bit- Schieberegisters 557 geliefert. Dieses N-Bit-Einstellsignal kann von dem Computer in der höheren Schicht oder der Wirts-MPU 32 geliefert werden. Alternativ ist es auch möglich, dieses N- Bit-Einstellsignal von einem (nicht dargestellten) Register zu­ zuführen, das durch den Computer in der höheren Schicht oder die Wirts-MPU 32 zugänglich ist und von diesen eingestellt wer­ den kann. Ein Ausgangssignal des N-Bit-Schieberegisters 557 wird an einen Einstellanschluß der Verriegelungsschaltung 558 geliefert. Ein Ausgangssignal der Verriegelungsschaltung 558 wird an das in Fig. 2 gezeigte TA-Detektion-Bit-Register 56 als ein TA-Detektion-Bit geliefert. Ein in einen Eingangsanschluß 564 eingegebenes TA-Detektion-Bit-Löschsignal wird an einen Rückstellanschluß der Verriegelungsschaltung 558 geliefert. Dieses TA-Detektion-Bit-Löschsignal kann von dem Computer in der höheren Schicht oder der Wirts-MPU 32 geliefert werden. Al­ ternativ ist es auch möglich, dieses TA-Detektion-Bit-Lösch­ signal von einem (nicht dargestellten) Register zu liefern, welches durch den Computer in der höheren Schicht oder die Wirts-MPU 32 zugänglich ist und von diesen eingestellt werden kann.
Fig. 11 zeigt eine Ausführungsform des digitalen Entzerrers 47 zusammen mit einem peripheren Teil davon. In Fig. 11 sind diejenigen Teile, welche die gleichen wie die entsprechenden Teile in Fig. 2 sind, durch die gleichen Bezugszahlen bezeich­ net, und deren Beschreibung wird weggelassen. In dieser Ausfüh­ rungsform wird aus Gründen der Bequemlichkeit angenommen, daß der A/D-Wandler 43 ein 6-Bit-A/D-Wandler ist.
Der digitale Entzerrer 47 enthält Verzögerungs(D)-Flip- Flops 471 bis 474, Koeffizientenmultiplizierer 481 bis 484 und einen Addierer 491, die wie in Fig. 11 dargestellt verbunden sind. Ein Ausgangssignal des Addierers 491 wird an die in Fig. 2 gezeigte ML-Decodiererschaltung 51 geliefert. In Fig. 11 be­ zeichnen durch fette (oder doppelte) Linien angegebene Signal­ leitungen Busse.
Weil die D-Flip-Flops 471 bis 474 ein Schieberegister bil­ den, wäre es zweckmäßig, falls zumindest ein Teil des Schiebe­ registers innerhalb des digitalen Hochpaßfilters 44 gemeinsam mit dem Schieberegister des digitalen Entzerrers 47 verwendet werden kann. Demgemäß wird als nächstes eine Beschreibung einer Ausführungsform gegeben, in der zumindest ein Teil des Schiebe­ registers innerhalb des digitalen Hochpaßfilters 44 gemeinsam mit dem digitalen Entzerrer 47 verwendet wird.
Fig. 12 zeigt die Ausführungsform des digitalen Hochpaßfil­ ters 44 und des digitalen Entzerrers 47 mit einem Teil, der ge­ meinsam zwischen den beiden verwendet wird. In Fig. 12 sind diejenigen Teile, welche die gleichen wie die entsprechenden Teile in Fig. 11 sind, durch die gleichen Bezugszahlen bezeich­ net, und deren Beschreibung wird weggelassen. In dieser Ausfüh­ rungsform sind die Schaltungsskala und die Anzahl Stufen der Rückkopplungsschleife durch Verwenden eines Teils des Schiebe­ registers des digitalen Hochpaßfilters 44 gemeinsam mit dem Schieberegister des digitalen Entzerrers 47 reduziert. Es wird außerdem in dieser Ausführungsform aus Gründen der Bequemlich­ keit auch angenommen, daß der A/D-Wandler 43 ein 6-Bit-A/D- Wandler ist.
Von den Flip-Flops 471 bis 475, welche das Schieberegister des digitalen Hochpaßfilters 44 bilden, werden in Fig. 12 die Flip-Flops 471 bis 474 gemeinsam mit dem Schieberegister des digitalen Entzerrers 47 verwendet. Aus diesem Grund ist es mög­ lich, weil der 6-Bit-A/D-Wandler 43 in dieser Ausführungsform verwendet wird, 6 × 4 = 24 Flip-Flops im Vergleich zu dem Fall wegzulassen, wo das Schieberegister des digitalen Hochpaßfil­ ters 44 und das Schieberegister des digitalen Entzerrers 47 un­ abhängig vorgesehen sind.
Die Reduzierung der Schaltungsskala, die durch Verwenden der Flip-Flops gemeinsam zwischen dem digitalen Hochpaßfilter 44 und dem digitalen Entzerrer 47 realisiert wird, hängt von der Anzahl Abzweigungen des digitalen Entzerrers 47 und der An­ zahl Stufen des Schieberegisters innerhalb des digitalen Hoch­ paßfilters 44 ab.
Als nächstes wird eine Beschreibung der Ausführungsform des Wiederholungsverfahrens gemäß der vorliegenden Erfindung durch Verweisen auf Fig. 13 und 14 gegeben. Fig. 13 zeigt ein Fluß­ diagramm zum Erläutern der Operation der in Fig. 1 gezeigten Wirts-MPU 32, wenn eine Lesewiederholung ausgeführt wird. Au­ ßerdem ist Fig. 14 ein Diagramm zum Erläutern eines TA-Wieder­ holungsprozesses in Fig. 13.
In Fig. 13 startet ein Schritt S101 die Operation der in Fig. 1 gezeigten Magnetplatteneinheit. In diesem Startzustand sperrt ein Schritt S114 das in Fig. 2 gezeigte digitale Hoch­ paßfilter 44 durch das Freigaberegister 59 und setzt Le­ se/Schreibparameter auf Standardwerte oder eingestellte Werte. Ein Schritt S102 liest die durch den Kopf 2 reproduzierten Da­ ten. Ein Schritt S103 entscheidet, ob ein Datenfehler aufgetre­ ten ist oder nicht. Falls das Entscheidungsergebnis in dem Schritt S103 NEIN ist, beurteilt ein Schritt S105, daß das Da­ tenlesen normal geendet hat, und ein Schritt 109 beendet den Prozeß.
Falls andererseits das Entscheidungsergebnis in Schritt S103 JA ist, entscheidet ein Schritt S104, ob der Datenfehler durch einen Fehlerkorrekturcode (ECC) korrigierbar ist. Falls das Entscheidungsergebnis in dem Schritt S104 JA ist, berichtet ein Schritt S107 den korrigierbaren Fehler dem Computer in der höheren Schicht, und der Schritt S106 beendet den Prozeß.
Falls das Entscheidungsergebnis in dem Schritt S104 NEIN ist, entscheidet ein Schritt S108, ob ein Wiederholungsschritt geendet hat oder nicht. Falls das Entscheidungsergebnis in dem Schritt S108 JA ist, berichtet ein Schritt S109 den nicht kor­ rigierbaren Fehler dem Computer in der höheren Schicht, und der Schritt S106 beendet den Prozeß.
Falls andererseits das Entscheidungsergebnis in dem Schritt S108 NEIN ist, verweist ein Schritt S110 auf das in Fig. 2 ge­ zeigte TA-Detektion-Bit-Register 56 und entscheidet, ob das TA- Detektion-Bit AN, d. h. gesetzt ist oder nicht. Falls das Ent­ scheidungsergebnis in dem Schritt S110 NEIN ist, führt ein Schritt S111 einen normalen Lesewiederholungsprozeß aus. Insbe­ sondere variiert der Schritt S111 nur die Lese/Schreibpara­ meter, wie z. B. einen Lesestrom des in Fig. 14 gezeigten Kopfes 2 und sperrt das digitale Hochpaßfilter 44 basierend auf den Inhalten des Freigaberegisters 59. Während des normalen Lese­ wiederholungsprozesses wird die Einstellung des digitalen Hoch­ paßfilters 44 nicht geändert. Nach dem Schritt S111 kehrt der Prozeß zu Schritt S102 zurück.
Falls das Entscheidungsergebnis in dem Schritt S110 JA ist, führt außerdem ein Schritt S112 einen TA-Wiederholungsprozeß aus. Insbesondere ändert der Schritt S112 die Anzahl Stufen des Schieberegisters innerhalb des digitalen Hochpaßfilters 44 ba­ sierend auf den Inhalten des Stufeneinstellregisters 58. Der Schritt S112 ändert außerdem die Lese/Schreibparameter ähnlich dem Fall, wenn der normale Lesewiederholungsprozeß ausgeführt wird. Ferner gibt der Schritt S112 das digitale Hochpaßfilter basierend auf den Inhalten des Freigaberegisters 59 frei. Nach dem Schritt S112 kehrt der Prozeß zu dem Schritt S102 zurück.
Mit anderen Worten wird, wenn der TA-Wiederholungsprozeß ausgeführt wird, die in Fig. 14 gezeigte Einstellung des digi­ talen Hochpaßfilters 44 ebenfalls zusätzlich zum Ändern der in Fig. 14 gezeigten Lese/Schreibparameter geändert. In dieser Ausführungsform enthält die Einstellung des digitalen Hochpaß­ filters 44 die Anzahl Stufen des Schieberegisters und den frei­ gegebenen/gesperrten Zustand des digitalen Hochpaßfilters 44. Außerdem enthalten die Lese/Schreibparameter den Lesestrom des Kopfes 2, einen Offsetbetrag des Kopfes 2, eine Mittenfrequenz Fc des analogen Filters 42, eine Verstärkung des analogen Fil­ ters 42 und einen Viterbi-Scheibenpegel der ML-Decodiererschal­ tung 51. Die Kombination der Parameter ist auf eine effektive innerhalb eines Bereichs von 63 Stufen eingestellt die in Fig. 14 gezeigt sind.
Die vorliegende Erfindung ist ferner nicht auf diese Aus­ führungsformen beschränkt, sondern verschiedene Variationen und Modifikationen können vorgenommen werden, ohne von dem Umfang der vorliegenden Erfindung abzuweichen.

Claims (15)

1. Ein Verfahren zur Detektion thermischer Rauhheit, ge­ kennzeichnet durch die Schritte eines:
  • (a) Umwandelns eines von einem magnetischen Aufzeichnungs­ medium (1) reproduzierten analogen Signals in ein digitales Si­ gnal unter Verwendung eines Analog-Digital-Wandlers (43);
  • (b) Detektierens thermischer Rauhheit basierend auf dem di­ gitalen Signal; und
  • (c) automatischen Erkennens und Verwaltens einer Detektion der thermischen Rauhheit durch den Schritt (b) durch Firmware.
2. Ein Verfahren zur Eliminierung thermischer Rauhheit, ge­ kennzeichnet durch die Schritte eines:
  • (a) Umwandelns eines von einem magnetischen Aufzeichnungs­ medium (1) reproduzierten analogen Signals in ein digitales Si­ gnal unter Verwendung eines Analog-Digital-Wandlers (43);
  • (b) Eliminierens einer Gleichstromkomponente, die durch thermische Rauhheit verursacht wird, die in dem analogen Signal enthalten ist, unter Verwendung eines digitalen Filters (44), welches die Gleichstromkomponente nach dem Schritt (a) detek­ tiert.
3. Das Verfahren zur Eliminierung thermischer Rauhheit nach Anspruch 2, gekennzeichnet durch die weiteren Schritte eines:
  • (c) Ausführens einer Offsetkorrektur durch Bilden einer ne­ gativen Rückkopplung bezüglich des Analog-Digital-Wandlers ba­ sierend auf der durch das digitale Filter detektierten Gleich­ stromkomponente und Subtrahieren eines der Gleichstromkomponen­ te entsprechenden Signals von einer Eingabe des Analog-Digital- Wandlers.
4. Das Verfahren zur Eliminierung thermischer Rauhheit nach Anspruch 2 oder 3, gekennzeichnet durch die weiteren Schritte eines:
  • (c) Detektierens der thermischen Rauhheit, wobei der Schritt (b) die Gleichstromkomponente nur eliminiert, wenn der Schritt (c) die thermische Rauhheit detektiert.
5. Eine Magnetplatteneinheit, gekennzeichnet durch:
Analog-Digital-Wandlermittel (43) zum Umwandeln eines von einer Magnetplatte (1) reproduzierten analogen Signals in ein digitales Signal; und
ein digitales Filter (44), das eine Gleichstromkomponente, die durch in dem analogen Signal enthaltene Rauhheit verursacht wird, von einer Ausgabe des Analog-Digital-Wandlermittels eli­ miniert.
6. Die Magnetplatteneinheit nach Anspruch 5, ferner gekenn­ zeichnet durch:
Korrekturmittel (45) zum Ausführen einer Offsetkorrektur durch Bilden einer negativen Rückkopplung bezüglich des Analog- Digital-Wandlermittels basierend auf der durch das digitale Filter detektierten Gleichstromkomponente und Subtrahieren ei­ nes der Gleichstromkomponente entsprechenden Signals von einer Eingabe des Analog-Digital-Wandlermittels.
7. Die Magnetplatteneinheit nach Anspruch 5 oder 6, ferner gekennzeichnet durch:
Detektionsmittel (55) zum Detektieren der thermischen Rauh­ heit basierend auf dem digitalen Signal,
wobei das digitale Filter die Gleichstromkomponente nur eliminiert, wenn das Detektionsmittel die thermische Rauhheit detektiert.
8. Die Magnetplatteneinheit nach einem der Ansprüche 5 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß das digitale Filter umfaßt:
ein Schieberegister (61), das n Stufen hat und das digitale Signal empfängt, wo n eine ganze Zahl ist;
Subtrahierermittel (63) zum Erhalten einer Differenz zwi­ schen einer Ausgabe des Schieberegisters und dem digitalen Si­ gnal;
einen Akkumulator (64, 65), der die von dem Subtrahierer­ mittel ausgegebene Differenz akkumuliert; und
ein Teilermittel (66), das ein von dem Akkumulator ausgege­ benes akkumuliertes Ergebnis durch n teilt.
9. Die Magnetplatteneinheit nach Anspruch 8, ferner gekenn­ zeichnet durch:
Mittel zum variablen Einstellen des n bezüglich des Schie­ beregisters und des Teilermittels.
10. Die Magnetplatteneinheit nach einem der Ansprüche 5 bis 9, ferner gekennzeichnet durch:
eine Automatik-Verstärkungsregelschleife, die eine automa­ tische Verstärkungsregelung basierend auf einer Ausgabe des di­ gitalen Filters ausführt;
einen Phasenregelkreis, der eine phasenverriegelte Steue­ rung basierend auf der Ausgabe des digitalen Filters ausführt;
einen digitalen Entzerrer (47), der einen Entzerrprozeß ba­ sierend auf der Ausgabe des digitalen Filters ausführt; und
Decodierermittel (51, 52) zum Decodieren des digitalen Si­ gnals basierend auf Ausgaben der Automatik-Verstärkungsregel­ schleife, des Phasenregelkreises und des digitalen Entzerrers.
11. Die Magnetplatteneinheit nach Anspruch 10, dadurch ge­ kennzeichnet, daß das digitale Filter ein erstes Schieberegi­ ster aufweist, der digitale Entzerrer ein zweites Schieberegi­ ster aufweist und zumindest ein Teil des ersten Schieberegi­ sters gemeinsam mit dem zweiten Schieberegister verwendet wird.
12. Die Magnetplatteneinheit nach einem der Ansprüche 5, 6, 8, 9, 10 und 11, ferner gekennzeichnet durch:
erstes Detektionsmittel zum Detektieren eines Datenfehlers basierend auf dem digitalen Signal; und
zweites Detektionsmittel zum Detektieren der thermischen Rauhheit basierend auf dem digitalen Signal,
wobei das digitale Filter die Gleichstromkomponente nur eliminiert, wenn das erste Detektionsmittel den Datenfehler de­ tektiert und das zweite Detektionsmittel die thermische Rauh­ heit detektiert.
13. Die Magnetplatteneinheit nach Anspruch 12, ferner ge­ kennzeichnet durch:
Wiederholungsmittel zum Ausführen eines Lesewiederholungs­ prozesses basierend darauf, ob das zweite Detektionsmittel die thermische Rauhheit detektiert oder nicht, wenn das erste De­ tektionsmittel den Datenfehler detektiert.
14. Ein Wiederholungsverfahren für ein Gerät, welches ein Analog-Digital-Wandlermittel zum Umwandeln eines von einem ma­ gnetischen Aufzeichnungsmedium (1) reproduzierten analogen Si­ gnals in ein digitales Signal und ein digitales Filter (44) enthält, das eine Gleichstromkomponente, die durch in dem ana­ logen Signal enthaltene thermische Rauhheit verursacht wird, von einer Ausgabe des Analog-Digital-Wandlermittels (43) elimi­ niert, gekennzeichnet durch die Schritte eines:
  • (a) Detektierens eines Datenfehlers basierend auf dem digi­ talen Signal;
  • (b) Detektierens der thermischen Rauhheit basierend auf dem digitalen Signal; und
  • (c) Ausführens eines Lesewiederholungsprozesses basierend darauf, ob die thermische Rauhheit detektiert wird oder nicht, wenn der Datenfehler detektiert wird.
15. Das Wiederholungsverfahren nach Anspruch 14, gekenn­ zeichnet durch die weiteren Schritte eines:
  • (d) Steuerns des digitalen Filters, um die Gleichstromkom­ ponente nur zu eliminieren, wenn der Datenfehler durch den schritt (a) detektiert wird und die thermische Rauhheit durch den Schritt (b) detektiert wird.
DE19714752A 1996-09-30 1997-04-10 Verfahren zur Detektion thermischer Rauhheit, Verfahren zur Eliminierung thermischer Rauhheit, Magnetplatteneinheit und Wiederholungsverfahren dafür Withdrawn DE19714752A1 (de)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100498427B1 (ko) * 1998-02-20 2005-09-02 삼성전자주식회사 자기 저항 헤드의 서멀 애스퍼리티 보상 장치
US6094316A (en) * 1998-03-27 2000-07-25 Samsung Electronics Co., Ltd. Method and apparatus for providing thermal asperity compensation in a fixed delay tree search detector
US6563889B1 (en) * 1998-10-01 2003-05-13 Lsi Logic Corporation Method and apparatus for adapting the boost of a read channel filter
US6397173B1 (en) * 1999-05-03 2002-05-28 Astec International Llc Application specific waveform generator
US6452735B1 (en) * 1999-07-19 2002-09-17 Maxtor Corporation Disk drive that monitors the flying height of a dual element transducer using a thermally induced signal during write operations
TW466474B (en) * 1999-08-06 2001-12-01 Fujitsu Ltd Semiconductor device with decision feedback equalizer
US6307719B1 (en) * 1999-11-17 2001-10-23 Maxtor Corporation Suspension assembly with adjustable gramload
WO2001091115A2 (en) * 2000-05-25 2001-11-29 Seagate Technology Llc Improved lapping sensor for recording heads
US6975467B1 (en) 2000-10-11 2005-12-13 Maxtor Corporation Method and apparatus for high fly write detection in a disk drive
US6724550B2 (en) 2001-01-23 2004-04-20 Seagate Technology Llc Adaptive dampening of thermal asperity events in disc drives
US7286311B1 (en) 2001-05-07 2007-10-23 Marvell International Ltd. Thermal asperity compensation in perpendicular recording
US6995932B1 (en) 2001-05-07 2006-02-07 Marvell International Ltd. Thermal asperity compensation in perpendicular recording system
DE10124177A1 (de) * 2001-05-17 2002-11-28 Infineon Technologies Ag Verfahren zur Rekonstruktion von mit einer Symbolrate getakteten Daten aus einem analogen, verzerrten Signal
US6654191B2 (en) 2001-07-12 2003-11-25 International Business Machines Corporation Restoration of hard disk drive readback signal in the presence of thermal modulation
US20030030934A1 (en) * 2001-08-09 2003-02-13 Seagate Technology Llc In-situ detection of transducer magnetic instability in a disc drive
DE10141597B4 (de) * 2001-08-24 2017-11-09 Lantiq Deutschland Gmbh Verfahren zum Rekonstruieren von über eine Übertragungsstrecke übertragenen Daten in einem Empfänger und entsprechende Vorrichtung
KR100442864B1 (ko) * 2001-09-04 2004-08-02 삼성전자주식회사 데이터 저장 시스템에서의 불안정성 헤드 판단에 의한회복 방법 및 장치
US6754015B2 (en) 2002-03-29 2004-06-22 Seagate Technology Llc MR heads thermal asperity cancellation
US7231001B2 (en) * 2003-03-24 2007-06-12 Agere Systems Inc. Processing servo data having DC level shifts
US7440209B1 (en) 2005-02-15 2008-10-21 Marvell International Ltd. Communications channel with programmable coupling
JP2007087537A (ja) * 2005-09-22 2007-04-05 Rohm Co Ltd 信号処理装置、信号処理方法、および記憶システム
JP4652939B2 (ja) * 2005-09-22 2011-03-16 ローム株式会社 信号処理装置および記憶システム
JP4916692B2 (ja) 2005-09-22 2012-04-18 ローム株式会社 信号処理装置、信号処理方法、および記憶システム
JP4916691B2 (ja) * 2005-09-22 2012-04-18 ローム株式会社 信号処理装置および記憶システム
JP4652310B2 (ja) * 2006-10-31 2011-03-16 富士通株式会社 復号器及び再生装置
JP2008146803A (ja) * 2006-11-13 2008-06-26 Showa Denko Kk 磁気記録媒体の検査方法、およびその検査工程を有する磁気記録媒体の製造方法
JP4926738B2 (ja) 2007-02-02 2012-05-09 昭和電工株式会社 磁気記録媒体の検査装置及び磁気記録媒体の検査方法
JP2008204504A (ja) 2007-02-16 2008-09-04 Showa Denko Kk サーティファイ検査装置およびサーティファイ検査方法
JP5182866B2 (ja) * 2008-04-14 2013-04-17 昭和電工株式会社 磁気記録媒体のシーク評価方法およびシーク評価装置
JP5438917B2 (ja) 2008-05-21 2014-03-12 昭和電工株式会社 磁気記録媒体の評価方法および製造方法
JP5042140B2 (ja) 2008-06-20 2012-10-03 昭和電工株式会社 磁気記録媒体の検査方法および磁気記録媒体の製造方法
JP2010027102A (ja) * 2008-07-15 2010-02-04 Showa Denko Kk 磁気記録媒体およびその製造方法、磁気記録再生装置
JP5536548B2 (ja) 2010-06-09 2014-07-02 昭和電工株式会社 磁気記録再生装置の制御方法、磁気記録再生装置、磁気記録媒体の検査方法および磁気記録媒体の製造方法
US8797667B1 (en) 2012-10-15 2014-08-05 Western Digital Technologies, Inc. Disk drive calibrating bias signal for touchdown sensor
US8773791B1 (en) * 2013-01-14 2014-07-08 Lsi Corporation Systems and methods for X-sample based noise cancellation
US8941941B1 (en) 2013-02-28 2015-01-27 Western Digital Technologies, Inc. Disk drive calibrating touchdown sensor
US8902533B1 (en) 2013-08-30 2014-12-02 Western Digital Technologies, Inc. Disk drive detecting different asperities on a disk using different sensor bias settings
US9378083B2 (en) 2013-12-04 2016-06-28 Seagate Technology Llc Adaptive read error recovery for memory devices
US9397703B2 (en) * 2013-12-04 2016-07-19 Seagate Technology Llc Adaptive read error recovery for memory devices

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4041418A (en) * 1973-01-05 1977-08-09 Siemens Aktiengesellschaft Equalizer for partial response signals
US5057785A (en) * 1990-01-23 1991-10-15 International Business Machines Corporation Method and circuitry to suppress additive disturbances in data channels
US5233482A (en) * 1991-07-31 1993-08-03 International Business Machines Corporation Thermal asperity compensation for PRML data detection
US5418660A (en) * 1991-12-09 1995-05-23 Hitachi, Ltd. Information processing apparatus for processing reproduction signal having nonlinear characteristics
US5258940A (en) * 1992-03-16 1993-11-02 International Business Machines Corporation Distributed arithmetic digital filter in a partial-response maximum-likelihood disk drive system
JPH05314165A (ja) * 1992-05-12 1993-11-26 Fujitsu Ltd 擬似移動平均回路
JP2648554B2 (ja) * 1992-08-13 1997-09-03 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション Prmlディスク駆動システムの非同期ゲイン調整方法および装置
JP3175415B2 (ja) * 1993-08-09 2001-06-11 株式会社日立製作所 磁気記録再生装置
EP0750306B1 (de) * 1995-06-22 2002-06-05 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Verfahren zur Maximalwahrscheinlichkeitsdekodierung und Gerät zur Wiedergabe von Digitalinformationen
US5862007A (en) * 1996-04-18 1999-01-19 Samsung Electronics Co., Ltd. Method and apparatus for removing baseline shifts in a read signal using filters
US5917670A (en) * 1996-10-15 1999-06-29 Quantum Corporation Method for recovering data from disk with magneto-resistive head in presence of thermal asperities

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
IBM TDB, Vol. 43, Nr. 8, Jan. 1992, S. 307,308 *

Also Published As

Publication number Publication date
JP3553292B2 (ja) 2004-08-11
CN1123883C (zh) 2003-10-08
KR19980023989A (ko) 1998-07-06
US6130793A (en) 2000-10-10
CN1178363A (zh) 1998-04-08
KR100299083B1 (ko) 2001-10-26
JPH10105908A (ja) 1998-04-24

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