JPH07111042A - データ弁別回路 - Google Patents

データ弁別回路

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JPH07111042A
JPH07111042A JP5253336A JP25333693A JPH07111042A JP H07111042 A JPH07111042 A JP H07111042A JP 5253336 A JP5253336 A JP 5253336A JP 25333693 A JP25333693 A JP 25333693A JP H07111042 A JPH07111042 A JP H07111042A
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data
correction value
circuit
signal
input signal
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JP5253336A
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English (en)
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Yoshiteru Ishida
嘉輝 石田
Kazunori Iwabuchi
一則 岩渕
Hideyuki Yamakawa
秀之 山川
Hiromi Matsushige
博実 松重
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10Digital recording or reproducing
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10Digital recording or reproducing
    • G11B20/10009Improvement or modification of read or write signals

Abstract

(57)【要約】 【目的】 データパターンによる隣接ビット間の符号間
干渉量の違いにより起こる信号波形の振幅低下の度合
を、そのビット自体に補正を行うことができるデータ弁
別回路を提供する。 【構成】 疎密判定手段9は、等化回路7の出力データ
を仮判定し、シンボル”0”あるいは”1”のランレン
グスを求める。補正値出力手段11内の記憶手段は、ラ
ンレングスが取り得る全ての値に対応した補正値を格納
している。補正値出力手段11は、疎密判定手段9から
の結果に対応した補正値を記憶手段より出力する。遅延
手段10は、等化回路7の出力を補正値出力までにかか
る時間と同じ時間遅延させる。演算手段12は、遅延手
段10の出力と補正値を加算して、補正を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、高密度記録を行うディ
ジタルデータ記録再生装置に係り、特にデータパターン
の疎密(信号レベルの変化の頻度)により異なる隣接ビ
ット間の符号間干渉量の影響を受けている信号を補正す
るデータ弁別回路に関する。
【0002】
【従来の技術】高密度記録を行うディジタルデータ記録
再生装置、例えば、円板状の記録媒体を用いる磁気記録
装置(磁気ディスク装置)では、隣接ビット間でいわゆ
る符号間干渉が生じ、信号波形の非線形歪や振幅の低下
が起こる。この符号間干渉は高密度記録になるほど大き
くなる。従来、このような符号間干渉による信号波形の
非線形歪(信号波形が左右対称にならないこと等)、及
び振幅の低下を補うための技術として、適応型等化器や
判定帰還型等化器等の波形等化技術がある。 適応型等
化器の例として、特開平4−207708号公報に開示
された技術がある。これは、トランスバーサルフィルタ
の出力信号の符号が、直前あるいは直後の符号のいずれ
かと異なる場合に、出力信号中から判定誤差を取り出
し、等化器のタップ係数の更新を行う構成となってい
る。また判定帰還型等化器の例として、特開平3−28
4014号公報に開示された技術がある。これは、判定
器の入出力間の誤差信号と、前方及び後方等化器の各タ
ップ上の信号とから、LMS(least mean square)アル
ゴリズムにより各タップ係数を求めて修正する構成とな
っている。
【0003】
【発明が解決しようとする技術】かかる従来の方法で
は、以下のような課題がある。現状の記録密度(50k
fci程度、fci:1インチ当りの磁化反転間隔)で
は、データパターンに疎密があっても符号間干渉量の違
いを意識する必要があるほど、疎の部分と密の部分で符
号間干渉量の違いは、大きくなかった。しかし今後更に
高密度になると、データパターンが密の部分は符号間干
渉が大変大きくなり、疎の部分は小さいままとなる。従
ってデータパターンに依存して、隣接ビット間の符号間
干渉量が大きく変化し、信号波形の非線形歪や振幅低下
の度合が大きく異なることになる。これに対し、従来の
方法である特開平4−207708号公報等に開示され
た適応型波形等化器や、特開平3−284014号公報
等に開示された判定帰還型波形等化器では、判定結果と
等化器出力の誤差を最小にするように、タップ係数すな
わち等化特性を制御している。従って判定に使用したデ
ータすなわち、判定結果や等化器出力にはフィードバッ
クが行われず、ある時間経過した違うデータからフィー
ドバックがかかることになる。これではデータパターン
により異なる信号波形の非線形歪や振幅低下のビット毎
の変化を補正することはできない。本発明はこのような
従来の問題点に鑑みてなされたものであり、隣接ビット
間の符号間干渉量のデータパターンによる違いに応じ
て、かつ、そのビット自体に対して、符号間干渉量の補
正を行うことができるデータ弁別回路を提供するもので
ある。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は、予め定められた複数のデジタルデータの
いずれかに弁別されるべき入力信号を受付けて、上記入
力信号を補正し、補正された信号からデジタルデータを
弁別するデータ弁別回路において、上記入力信号のパタ
ーンに基づいて入力信号の各部に対して補正値を決定す
る決定手段と、上記入力信号を遅延させる遅延手段と、
上記遅延した信号を上記補正値にしたがって、対応する
入力信号部分ごとに補正する補正手段と、補正された上
記信号を、上記予め定められた複数のデジタルデータの
いずれかに弁別する弁別手段とを有することとしたもの
である。
【0005】
【作用】上記のように構成されているため、上記決定手
段は、入力信号のパターンに応じて補正値を決定し、補
正値を出力するものである。これにより、パターンに対
応した補正値を得ることが可能になる。また、遅延手段
は、決定手段で補正値を出力するまでにかかった時間と
同等の時間を遅延させるものである。更に、遅延手段の
出力を、決定手段の出力に従って補正する補正手段によ
り、補正値を求めるために使用したビット自体に補正を
かけることができ、目的を達成できる。
【0006】なお、弁別手段は、補正後の信号を、予め
定められた複数のデジタルデータのいずれかに弁別す
る。ここで、予め定められた複数のデジタルデータのい
ずれかに弁別するとは、デジタルデータが2値(例え
ば、0,1)を取る場合は、入力信号が0であるか1で
あるかを弁別することをいう。
【0007】
【実施例】以下、本発明の第1の実施例を図1を用いて
説明する。図1はディジタルデータ再生回路系の一実施
例を示すブロック図であり、1は記録媒体、2は磁気ヘ
ッド、3はプリアンプ、4は低域通過フィルタ(LP
F)、5はアナログ/ディジタルコンバータ(A/
D)、6はビタビ弁別回路13の前処理を行う(1+
D)回路、7は等化回路、8は可変周波数発振器(VF
O)、9は疎密判定手段、10は遅延手段、11は補正
値出力手段、12は演算手段、13はビタビ弁別回路、
14は従来の再生回路である。本実施例は、ビタビ弁別
回路を使用した磁気ディスク装置の再生回路に本発明を
適用したものであり、以下のような考えに基づき構成さ
れている。この磁気ディスク装置において、磁気ヘッド
2から出力されたアナログデータは、磁気ヘッド2の後
段に設けられたアナログ/ディジタルコンバータ5にお
いて所要のサンプリングクロック間隔でサンプリングさ
れ、弁別される前のディジタルデータとなる。アナログ
データに含まれる振幅の低下や非線形歪の影響は、この
ディジタルデータにおいては離散化されたサンプリング
点における値の中に含まれている。すなわちこのディジ
タルデータの振幅値を補正する手段を設ければ、非線形
歪を取り除くことが可能となる。そのため、まず、疎密
判定手段9を設けて、アナログ/ディジタルコンバータ
5の後段にある、従来技術に係る波形整形回路である等
化回路7の出力データを仮判定し、シンボル”0”(あ
るいは”1”)の連続数(ランレングス)を求める。次
に、補正値出力手段11内に、ランレングスが取り得る
全ての値に対応した補正値を格納する記憶手段51(図
5参照)を設け、補正値出力手段11は、疎密判定手段
9からのランレングス結果を用いて、この結果に対応し
た補正値を記憶手段51から読み出し出力する。また、
疎密判定手段9と補正値出力手段11での処理に要する
時間と同等の時間を遅延させる遅延手段10を設けた。
すなわち、遅延手段10は補正値を出力するまでにかか
った時間を遅延するものであり、等化回路7の出力デー
タと補正値のタイミングを取るものである。更に、遅延
手段10の出力と補正値出力手段11の出力を加算する
演算手段12を設けた。すなわち、演算手段12は遅延
後のデータと補正値を加算するものである。これらの手
段により、補正値を求めるために使用したビット自体に
補正をかけることが可能になり、目的を達成できる。以
下、図1を用いてさらに詳細に説明する。本実施例で
は、磁気ディスクには、データがNRZI(Non Return
To Zero Inverted)方式で記録されている。図1におい
て、磁気ヘッド2より再生した信号はプリアンプ3で増
幅され、LPF4で高帯域の雑音を除去する処理を行
い、A/D5へ入力される。A/D5ではVFO8によ
り作成されたVFOクロックでサンプリングされる。サ
ンプリングデータは1+D6において現在のサンプリン
グデータと1クロック前のサンプリングデータを加算す
る(1+D)処理され、等化回路7で波形等化される。
等化回路7の出力データはVFO8、疎密判定手段9、
遅延手段10に各々入力される。VFO8ではこの等化
後のデータからVFOクロックを作成する。疎密判定手
段9では等化後データを”1”、”0”の2値に(ある
いは”1”、”0”、”−1”の3値に)仮判定し、シ
ンボル((仮)判定結果をシンボルと呼ぶ)”0”の連
続する数(ランレングス)をカウントした値が出力され
る。補正値出力手段11には等化後のデータが取り得る
シンボル”0”の全てのランレングスに対応した補正値
が格納されており、疎密判定手段9の”0”のランレン
グスの結果に対応した補正値が出力される。このデータ
の疎密の判定と補正値出力に要する時間と等しい時間だ
け、遅延手段10により遅延された等化後データは、演
算手段12により補正値出力手段11の出力である補正
値と加算される。ビタビ弁別回路13では補正されたデ
ータを用いてデータの弁別が行われ、出力される。なお
各々の回路ではVFO8の出力であるVFOクロックに
より同期を取っている。この図1の実施例によれば、”
0”のランレングスに対応した補正値を、補正値を求め
るために使用したビットデータ自体に加えることがで
き、この補正後のデータを使用した弁別が行える。これ
により高密度記録時のデータパターンの疎密による、隣
接ビット間の符号間干渉量の違いを吸収することができ
る。また補正値を加えることで振幅データが大きくな
り、信号対雑音比(S/N)を向上できる。これにより
ビタビ弁別回路での弁別エラーを低減できる。ここで各
ブロックの機能、構成について、図2以降を用いて更に
詳細に説明する。なお以後、VFOクロックの信号線は
省略する。図2は疎密判定手段9(図1)の一具体例を
示すブロック図であり、20は振幅検出回路、21はカ
ウンタ回路である。図1の等化回路7の出力である等化
後のデータは、図2においてまず振幅検出回路20で”
1”、”0”に(あるいは”1”、”0”、”−1”
に)仮判定される。この振幅検出回路20でのデータの
仮判定方法の一具体例を図3を用いて説明する。図3で
は閾値電圧をa、−aとし、振幅データをx(nT)
(n:整数、T:サンプリング間隔)とし、時間軸Tか
ら5Tの間に、x(T)からx(5T)の黒丸で示した
振幅を持つ信号データが入力された場合を考える。ここ
で振幅データx(nT)と閾値電圧を比較し、x(n
T)>aまたはx(nT)<−aならばシンボル”
1”、−a≦x(nT)≦aならばシンボル”0”と仮
判定を行うと、この時の仮判定結果は”10001”で
ある。あるいはx(nT)>aならば”1”、−a≦x
(nT)≦aならば”0”、x(nT)<−aならば”
−1”と仮判定を行うと、仮判定結果は”1000−
1”である。図2のカウンタ回路21ではこの仮判定結
果を受け取り、”0”のランレングスをカウントする。
例えばカウント中のカウンタ回路21の出力はランレン
グスの範囲外の数値を出力し、ランレングスが確定して
から次のクロックが入力するまでの間、求まったランレ
ングス(図3の場合では”3”)を出力する。ランレン
グスとして取りうる値が例えば0から4までの場合は、
ランレングスの範囲外の数値としては、例えば、5であ
る。その後カウンタ回路21は”1”又は”−1”の入
力によりリセットされる。図4は図2のブロック図の一
実施例を示すブロック図であり、40はデータ入力端
子、41は閾値入力端子、42は補数回路、43は比較
器、44はNOR、45はカウンタ、46はホールド回
路、47はスイッチ回路である。補数回路42は閾値a
の補数−aを出力する。比較器43Aはx>a(x:デ
ータ振幅値)のときはHigh、それ以外のときはLo
wレベルの電圧を出力する。同様に比較器43Bはx<
−aのときはHigh、それ以外のときはLowレベル
の電圧を出力する。NOR44では比較器43の出力を
論理演算する。以上により振幅検出回路20の出力は、
入力データxが−a≦x≦aのときはHigh、x>a
またはx<−aのときはLowとなる。カウンタ45で
は入力がHighならばカウントアップし、結果を出力
する。また入力がLowならばリセットされる。ホール
ド回路46はカウンタ45の出力を保持し、クロックの
入力により保持した値を出力する。スイッチ回路47で
は振幅検出回路20の出力が、Highならば、”0”
のランレングスの範囲外の値”c”を、Lowならばホ
ールド回路46の出力を出力する。以上のようにデータ
の仮判定を行い、シンボル”0”のランレングスを出力
する。次に図5を用いて、図1に示した補正値出力手段
11について詳述する。図5は例えば等化後のデータが
取り得る”0”のランレングスが0から4である場合の
補正値出力手段11の一具体例を示すブロック図であ
り、50はデコード回路、51は記憶手段である。図5
において記憶手段51には”0”のランレングス毎に、
各々の補正値b0、b1、・・・b4がアドレス番号0
から4に格納されている。またランレングスの範囲外の
場合の補正値0もアドレス番号5に格納されている。補
正値b0、b1、・・・b4は、シンボル”1”と”−
1”を補正する値であり、”0”に対する補正は、本実
施例では、行わない。一般にシンボルの極性が反転する
場合、”0”のランレングスが大きい方が隣接ビットの
符号間干渉が小さく、等化後データの振幅は大きくな
り、ビタビ弁別回路13で弁別し易くなる。従って補正
値b0、b1、・・・b4には、b0>b1>b2>b
3>b4の大小関係がある。ただし等化後データには
(1+D)処理により同一シンボルが2回連続すること
があり、この場合のランレングスも0となるが、振幅デ
ータが大きくなりビタビ弁別回路13の弁別性能が向上
するため、補正値を加えることに問題は生じない。ここ
で”0”のランレングスに対応した、補正値b0、b
1、・・・b4の求め方を説明する。例えば、”0”の
ランレングスを0〜4であるとする。この時、”1”の
前方の”0”のランレングスを見て、補正値を決定す
る。そこで、製品出荷前に”0”のランレングスとして
とりうるすべての長さに関する複数のテストデータを実
際にとる。測定は、等化回路の出力波形について行われ
る。”1”、”−1”の等化回路の出力波形の電圧値が
±1(V)であるように設計されているとすると、測定
した出力波形の”1”、”−1”の電圧値と±1との差
が誤差である。この誤差に比例した量として補正値をそ
れぞれのランレングスについて求めることにより補正値
を決定できる。図13にこの例を示す。e0〜e4が測
定された誤差であり、これより、補正値b0、b1、・
・・b4を、b0=K0×e0、b1=K1×e1、・
・・b4=K4×e4として求める。ただし、K0=K
1=K2=K3=K4であるか、K0≠K1≠K2≠K
3≠K4であるかは、統計的に調べる必要がある。な
お、求めた補正値を、他の装置でも使用する、一台一
台、補正値を求める、円盤の内外周(シリンダ)ごと、
ヘッドごとに変える、等が考えられるが、これは、信頼
性をどこまで要求するか、メモリの大きさ等によって選
択する。デコード回路50には疎密判定手段9の出力で
あるランレングスのデータが入力される。デコード回路
50ではこのランレングスに対応するアドレスが選択さ
れる。例えば疎密判定手段9の出力が”3”であった場
合、記憶手段51のb3に対応したアドレス番号3が、
ランレングスの範囲外の値であった場合は0に対応した
アドレス番号5の信号が発生する。このアドレス信号を
受けて、記憶手段51から補正値b3や0が出力され
る。以上のように疎密判定手段9と補正値出力手段11
を組み合わせることで、データパターンの疎密をシンボ
ル”0”のランレングスで表し、このランレングスに応
じてシンボル”1”、”−1”のデータに対する補正値
を与えることができる。この補正値を利用すれば、デー
タパターンの疎密により生じる隣接ビット間の符号間干
渉量の違いが吸収できるようになる。次に図6を用い
て、図1に示した演算手段12について詳述する。図6
は演算手段12の一具体例を示すブロック図であり、6
0は遅延データ入力端子、61は補正値入力端子、62
は正負判定回路、63は補数回路、64はスイッチ回
路、65は加算器である。図6において入力端子60に
は、図1に示した遅延手段10の出力である遅延された
等化後データが入力される。正負判定回路62では、こ
の遅延データの正負が判定される。また入力端子61に
は、図1に示した補正値出力手段11の出力である補正
値が入力される。補数回路63はこの補正値の補数を取
り出力する。スイッチ回路64には補正値と補正値の補
数が入力され、正負判定回路62の出力結果により、正
ならば補正値が、負ならば補正値の補数が選択され、出
力される。加算器65では遅延データと、スイッチ回路
64の出力が加算され、その加算値が出力される。図7
は振幅データの補正に係わるデータのタイミングチャー
トの一具体例であり、70はVFOクロック、71は等
化回路7(図1)の出力、72は疎密判定手段9(図
1)中の振幅検出回路20(図2)の出力、73は疎密
判定手段9(図1)中のカウンタ回路21(図2)の出
力、74は補正値出力手段11(図1)の出力、75は
遅延手段10(図1)の出力、76は演算手段12(図
1)の出力である。図7において70はVFOクロック
であり、基準のクロックである。71は等化回路7の出
力である等化後データであり、等化誤差が含まれ、目標
の振幅値ではない。a、−aは閾値電圧である。72は
疎密判定手段9中の振幅検出回路20の出力であり、7
1の等化後データを仮判定したものであり、”1”、”
0”の2値を取る。73は疎密判定手段9中のカウンタ
回路21の出力であり、”0”のランレングスである。
出力値がcの時間は、カウンタ回路21が”0”をカウ
ントしている時間である。74は補正値出力手段11の
出力であり、73のランレングスのデータに対応した補
正値である。75は遅延手段10の出力であり、71の
等化後データに対して、データパターンに対応した補正
値が出力されるまでの時間分が遅延されている。76は
74の補正値と75の遅延した等化後データを演算手段
12に入力した場合の出力(黒丸で示す)であり、デー
タパターンの疎密に対応した補正値が、疎密を求めたビ
ットデータ自体に加算されている。以上のようにし
て、”0”のランレングスに対応してシンボル”1”及
び”−1”のデータに対する補正が行われる。ここで等
化回路7(図1)での等化誤差が大きい場合は、疎密判
定手段9(図1)で求めた”0”のランレングスが誤る
可能性がある。この場合の誤り方は”1”、”−1”デ
ータの振幅値が小さくなり、”0”と判定されてしまう
ことである。”1”、”−1”が”0”と誤判定された
場合は、本実施例ではシンボル”0”のデータに対する
補正は行わないので、補正による悪影響は生じない。以
上のように、データパターンの疎密を仮判定し、このデ
ータパターンの疎密により生じる隣接ビット間の符号間
干渉量の違いを吸収する補正値を、そのビット自体にフ
ィードバックしてやることで、データのS/Nを向上で
きる。これによりビタビ弁別回路でのビットエラーレー
トを小さくすることができる。以上の実施例では、疎密
判定手段9においてデータを仮判定してシンボル”0”
のランレングスを求め、このランレングスに対応した補
正値を補正値出力手段11より出力し、補正を行ってい
た。しかしこの方法はシンボル”1”及び”−1”のラ
ンレングスを求めても同様に実現できる。この場合、図
4に示したNOR44をORに変え、図5に示した記憶
手段51のアドレスを逆順(上から(格納データb0か
ら)4、3、2、1、0、5)に変えれば良い。以上に
よりシンボル”1”、”−1”のランレングスに対応し
た補正値を得ることが可能になり、遅延手段10におい
て対応する”1”または”−1”のビットに加算される
ように遅延時間を調整することにより、補正を行うこと
ができる。また以上の実施例では、ビタビ弁別回路を用
いてデータ弁別を行っているが、振幅レベルと閾値レベ
ルの大小関係よりビット判定を行うレベルスライス等の
データ弁別回路を用いても同様の効果が得られる。更に
以上の実施例では、パターンの疎密によりビタビ弁別回
路の入力信号を補正しているが、ビタビ弁別回路あるい
はレベルスライス等の弁別回路内の判定レベルを、パタ
ーンの疎密により変える方法も考えられる。以上の第1
の実施例では、シンボル”1”または”−1”に対して
対象ビットの時間軸の前方(時間的に過去のビットデー
タ)の”0”あるいは”1”のランレングスを用いて補
正値を求め、対象ビットデータの補正を行っていた。以
下にシンボル”1”または”−1”に対する対象ビット
の時間軸の前後(時間的に過去と未来のビットデータ)
の”0”のランレングスを用いて補正を行う第2の実施
例を図8を用いて示す。図8は疎密判定手段と補正値出
力手段の別の一実施例を示すブロック図であり、80は
データ入力端子、81は閾値入力端子、82はシフトレ
ジスタ、83はデコード回路、84は記憶手段であり、
42、43、44は図4で示したものと同じであるので
説明を省略する。図8は”0”のランレングスの取り得
る範囲が0、1、2の場合を示している。データ入力端
子80には等化回路7(図1)の出力xが入力され、閾
値入力端子81には閾値aが入力される。振幅検出回路
20(図2)では”0”(−a≦x≦a)のときはHi
gh、”1”または”−1”(x>aまたはx<−a)
のときはLowレベルが出力され、シフトレジスタ82
に入力され格納される。シフトレジスタ82は、過去の
2ビットと現在の1ビットと未来の2ビットの計5ビッ
トを格納できるようになっており、これは”0”のラン
レングスが最大2ビットまでであるためであり、ランレ
ングスの最大値が変わればシフトレジスタの段数もそれ
に伴い変化する。デコード回路83はシフトレジスタに
格納された判定結果を受け取り、この判定結果よりアド
レスを求め記憶手段84にアドレス番号を出力する。記
憶手段84にはアドレス0から4に対応した補正値b0
からb4(b0>b1>b2>b3>b4)と、アドレ
ス5に対応した補正値0が格納されており、デコード回
路83からのアドレス番号に格納された補正値を出力す
る。遅延手段10(図1)では等化回路7の出力xと、
シフトレジスタ82の中央のレジスタ0に格納されたデ
ータが等しくなるように遅延させ、演算手段12で遅延
データと補正値が加算され、補正が行われる。図9は図
8に示したデコード回路83でのアドレス番号の求め方
を示す図であり、シフトレジスタ84の全ての格納デー
タの組合せに対応したアドレス番号を記している。現在
のビット(0)がLowの場合は、過去のビット(−
1、−2)において−1、−2ともにHighのときは
2、−1がHighで−2がLowのときは1、−1が
Lowのときは0、また未来のビット(+1、+2)に
おいて+1、+2ともにHighのときは2、+1がH
ighで+2がLowのときは1、+1がLowのとき
は0とし、過去の値と未来の値の合計値をアドレス番号
として出力する。また現在のビット(0)がHighの
ときはアドレス番号を5として出力する。以上の実施例
では”0”のランレングスに対して補正を行っている
が、”1”のランレングスに対しても前述したように同
様の方法が使えるので、説明は省略する。ここで”0”
のランレングスに対応した、補正値b0、b1、・・・
b4の求め方を説明する。第2の実施例では、”1”の
前後の”0”のランレングスにより、補正値を決定する
ので、テストパターンもそれに対応したものとなり、図
13のテストデータの例よりは、いくぶんかは複雑にな
る。しかし、補正値の求め方の考え方は基本的に同じで
ある。
【0008】以上の第2の実施例によると、シンボル”
1”または”−1”に対する対象ビットの時間軸の前後
(時間的に過去と未来のビットデータ)のランレングス
を用いて補正を行うことが可能になる。これにより更に
的確な補正が行えるようになり、後段のビタビ弁別回路
あるいはレベルスライス等のデータ弁別回路での弁別エ
ラーを更に低減できる。またデコード回路83を、パタ
ーンマッチングを行い全パターンに対応したアドレスと
補正値を割り振るようにすることも可能であり、この場
合は更に的確な補正が行えるようになり、弁別エラーを
低減することが可能になる。以下、第1、第2の実施例
で示したデータパターンを予め仮判定する疎密判定機能
と、その疎密判定結果を用いて入力データを補正する補
正機能を持つビタビ弁別回路、あるいはレベルスライス
等のデータ弁別回路をLSI化した場合の第3の実施例
を図10、図11を用いて説明する。図10はデータパ
ターンを予め仮判定する疎密判定機能と、その疎密判定
結果を用いて入力データを補正する補正機能を持つビタ
ビ弁別回路を内蔵したLSIを示すブロック図であり、
100はLSI、101はデータ入力端子、102は疎
密判定手段、103は補正値出力手段、104は遅延手
段、105は演算手段、106は従来の一般的なビタビ
弁別回路、107はデータ出力端子である。図10にお
いて疎密判定手段102ではデータ入力端子101から
の入力データを仮判定し疎密を求める。補正値出力手段
103では疎密判定手段102で求まった疎密のデータ
に対応した補正値を出力する。一方、遅延手段104で
は補正値出力手段103からの補正値を対応するビット
との時刻を合わせるように、データ入力端子101から
の入力データを遅延させる。演算手段105では補正値
出力手段103からの補正値と遅延手段104からの遅
延したデータとの演算を行う。従来の一般的なビタビ弁
別回路106では演算手段105の補正後の出力データ
を弁別し、弁別結果をデータ出力端子107に出力す
る。102から105の各々のブロックの構成例は、第
1、第2の実施例で示したものと同じであり、説明は省
略する。図11はデータパターンを予め仮判定する疎密
判定機能と、その疎密判定結果を用いて入力データを補
正する補正機能を持つレベルスライス等のデータ弁別回
路を内蔵したLSIを示すブロック図であり、110は
LSI、111はデータ入力端子、112はレベルスラ
イス等のデータ弁別回路、113はデータ出力端子であ
り、図10に対応するブロックには同一符号を付けてい
る。図11においてデータ入力端子111に入力された
振幅データは、LSI110内部に構成されたディジタ
ルデータ再生回路によって、上記と同様に処理され、デ
ータ弁別回路112で弁別され、データ出力端子113
より出力される。この第3の実施例によれば、疎密判定
手段と補正値出力手段を一般的なビタビ弁別回路、もし
くはレベルスライス等のデータ弁別回路とともに内蔵す
るビタビ弁別LSI、もしくはデータ弁別LSIが提供
できる。これらのLSIは、外部での処理を変えること
なく弁別性能を向上したデータパターン疎密対応データ
弁別LSIである。図12は図10あるいは図11に示
したデータ弁別LSIを、例えば磁気ディスク装置に採
用した場合の装置の構成を示す一実施例であり、120
は磁気ディスク装置、121は記録媒体、122は磁気
ヘッド、123はスピンドルモータ、124はボイスコ
イルモータ(VCM)、125はリード/ライトアンプ
(R/W Amp)、126は自動利得制御回路(AG
C)、127は低域通過フィルタ(LPF)、128は
アナログ/ディジタルコンバータ(A/D)、129は
(1+D)回路、130は等化回路、131は可変周波
数発振器(VFO)、132はデータ弁別回路、133
はエラー訂正回路(ECC)、134は変調/復調器
(ENDEC)、135はハードディスクコントローラ
(HDC)、136はサーボプロセッサである。図12
においてホストコンピュータからリード命令を受けたH
DC135は、サーボプロセッサ136を通して、VC
M124を動作させ、磁気ヘッド122を目的のシリン
ダへ動かす。磁気ヘッド122は記録媒体121上のデ
ータを読み出す。信号データは125から131へ順に
信号処理され、データ弁別回路132でデータが弁別さ
れる。この弁別結果はECC133でエラー訂正され、
ENDEC134で復号され、HDC135に渡され
る。HDC135はこのデータをホストコンピュータへ
返す。以上の構成をとることにより図10あるいは図1
1に示したデータ弁別LSIが使用できるので、弁別エ
ラーが低減され、装置としてのデータの信頼性を向上で
きる。また本発明によるデータ弁別LSIは、等化回
路、ECC等の他の回路から見ると入出力の条件が変わ
らないので、新たに専用の等化回路、ECC等の回路を
開発する必要がなく、開発工数に影響を及ぼさない。な
お以上の実施例ではデータ弁別回路をLSI化したが、
LSI化はデータ弁別回路だけに限定されたものではな
く、1+D129、等化回路130、VFO131、E
CC133、データ弁別回路を内蔵したLSIも可能で
ある。
【0009】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、高密
度記録を行う磁気ディスク装置や光ディスク装置等のデ
ィジタルデータ記録再生装置において、等化回路の出力
データのパターンによりビット毎に異なる符号間干渉に
各々対応した補正値を得ることができる。またこの補正
値を求めるために使用したビットデータ自体にフィード
バックを行い、補正をかけることも可能である。以上の
結果、高密度記録時のデータパターンの疎密による符号
間干渉量の違いを吸収でき、補正によりデータの振幅値
が大きくなり、データのS/Nを向上できる。従って後
段のビタビ弁別回路あるいはレベルスライス等のデータ
弁別回路での弁別エラーを低減できる。また本発明で述
べた補正方法を実現する手段と、一般的なビタビ弁別回
路あるいはデータ弁別回路とを内蔵したLSIにより、
外部とのインタフェースを変えることなくデータの弁別
性能が向上する。
【0010】更に本発明で述べたデータ弁別LSIをデ
ィジタルデータ記録再生装置に採用すると、装置として
のデータの信頼性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】ディジタルデータ再生回路系の一実施例を示す
ブロック図。
【図2】疎密判定手段の一実施例を示すブロック図。
【図3】振幅検出回路でのデータの仮判定方法の説明
図。
【図4】図2の回路の一実施例を示すブロック図。
【図5】補正値出力手段の一実施例を示すブロック図。
【図6】演算手段の一実施例を示すブロック図。
【図7】振幅データの補正に係わるデータのタイミング
チャート。
【図8】疎密判定手段と補正値出力手段の別の一実施例
を示すブロック図。
【図9】図8のデコード回路でのアドレス番号の求め方
を示す説明図。
【図10】疎密判定機能と補正機能を持つビタビ弁別回
路を内蔵したLSIを示すブロック図。
【図11】疎密判定機能と補正機能を持つデータ弁別回
路を内蔵したLSIを示すブロック図。
【図12】図10あるいは図11のデータ弁別LSIを
採用した磁気ディスク装置のブロック図。
【図13】補正値の求め方の説明図。
【符号の説明】
1…記録媒体、2…磁気ヘッド、3…プリアンプ、4…
低域通過フィルタ(LPF)、5…アナログ/ディジタ
ルコンバータ(A/D)、6…(1+D)回路、7…等
化回路、8…可変周波数発振器(VFO)、9…疎密判
定手段、10…遅延手段、11…補正値出力手段、12
…演算手段、13…ビタビ弁別回路、14…従来の再生
回路、100…疎密判定・補正機能付きビタビ弁別LS
I、110…疎密判定・補正機能付きデータ弁別LS
I、120…磁気ディスク装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山川 秀之 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株 式会社日立製作所マイクロエレクトロニク ス機器開発研究所内 (72)発明者 松重 博実 神奈川県小田原市国府津2880番地 株式会 社日立製作所ストレージシステム事業部内

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】予め定められた複数のデジタルデータのい
    ずれかに弁別されるべき入力信号を受付けて、上記入力
    信号を補正し、補正された信号からデジタルデータを弁
    別するデータ弁別回路であって、 上記入力信号のパターンに基づいて入力信号の各部に対
    して補正値を決定する決定手段と、 上記入力信号を遅延させる遅延手段と、 上記遅延した信号を上記補正値にしたがって、対応する
    入力信号部分ごとに補正する補正手段と、 補正された上記信号を、上記予め定められた複数のデジ
    タルデータのいずれかに弁別する弁別手段とを有するこ
    とを特徴とするデータ弁別回路。
  2. 【請求項2】請求項1記載のデータ弁別回路において、 上記決定手段は、 上記入力信号を、上記予め定められた複数のデジタルデ
    ータのいずれかに仮弁別し、弁別結果のデジタルデータ
    の時間的変化が予め定められた複数のパターンのいずれ
    に該当するかを判定して分類する判定手段と、 上記判定結果に基づいて、補正値を決定して、出力する
    補正値出力手段とを有することを特徴とするデータ弁別
    回路。
  3. 【請求項3】請求項2記載のデータ弁別回路において、 上記判定手段は、 上記入力信号の各部の振幅を、複数の予め定められた振
    幅領域に分類する振幅検出手段と、 上記振幅領域のうちの予め定められた振幅領域に、時間
    的に連続して属する入力信号の長さをカウントするカウ
    ンタ手段とを有し、 上記カウント結果を上記判定結果として出力することを
    特徴とするデータ弁別回路。
  4. 【請求項4】請求項2または3記載のデータ弁別回路に
    おいて、 上記補正値出力手段は、上記判定結果に対応した補正値
    の記憶手段を有し、上記判定結果を入力されて、上記判
    定結果に対応した補正値を出力することを特徴とするデ
    ータ弁別回路。
  5. 【請求項5】請求項1、2、3または4記載のデータ弁
    別回路において、 上記補正手段は、 入力信号の極性判定手段と、 極性判定結果に基づき、補正値を修正する補正値修正手
    段と、 修正された補正値を入力信号に加算する加算手段とを有
    し、 入力信号の極性を考慮した補正を行うことを特徴とする
    データ弁別回路。
  6. 【請求項6】請求項1、2、3、4または5記載のデー
    タ弁別回路において、 上記決定手段は、補正対象の入力信号に対する補正値
    を、該入力信号および該入力信号に対して時間的に先行
    する入力信号に基づいて決定することを特徴とするデー
    タ弁別回路。
  7. 【請求項7】請求項1、2、3、4または5記載のデー
    タ弁別回路において、 上記決定手段は、補正対象の入力信号に対する補正値
    を、該入力信号および該入力信号に対して時間的に前後
    する入力信号に基づいて決定することを特徴とするデー
    タ弁別回路。
  8. 【請求項8】請求項1、2、3、4、5、6または7記
    載のデータ弁別回路において、 上記データ弁別回路は、1つの半導体集積回路内に集積
    されていることを特徴とするデータ弁別回路。
  9. 【請求項9】請求項1、2、3、4、5、6、7または
    8記載のデータ弁別回路において、 上記弁別手段は、ビタビ復号を行うビタビ弁別手段であ
    ることを特徴とするデータ弁別回路。
  10. 【請求項10】請求項1、2、3、4、5、6、7、8
    または9記載のデータ弁別回路と、 予め定められた複数のデジタルデータのいずれかに弁別
    されるべき信号が磁気記録されている記録媒体と、上記
    記録された信号を読み出す磁気ヘッドと、上記読み出さ
    れた信号を増幅するプリアンプと、上記増幅された信号
    をデジタル信号に変換するアナログ/ディジタルコンバ
    ータと、変換後の信号に対して、ビタビ復号の前処理を
    行う前処理回路と、前処理後の信号の波形整形を行う等
    化回路とを有し、 上記データ弁別回路は、上記波形整形された信号を入力
    され、 上記弁別手段は、ビタビ復号を行うビタビ弁別手段であ
    ることを特徴とする磁気ディスク装置。
  11. 【請求項11】請求項1、2、3、4、5、6、7また
    は8記載のデータ弁別回路において、 上記データ弁別手段は、振幅レベルから直接デジタルデ
    ータに弁別することを特徴とするデータ弁別回路。
  12. 【請求項12】請求項1、2、3、4、5、6、7、8
    または11記載のデータ弁別回路と、 予め定められた複数のデジタルデータのいずれかに弁別
    されるべき信号が磁気記録されている記録媒体と、上記
    記録された信号を読み出す磁気ヘッドと、上記読み出さ
    れた信号を増幅するプリアンプとを有し、 上記データ弁別回路は、上記増幅された信号を入力され
    ることを特徴とする磁気ディスク装置。
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