CN1147180A - 用于光记录介质的记录和/或再现设备及方法 - Google Patents

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Abstract

一种记录和/或再现设备及其方法，可使信息记录在光盘的任意多个记录层上或再现该信息。在该方法中，可检索光盘一预定记录层的最佳聚焦偏置位置，一步一步地改变偏置值及检索跟踪误差信号幅度呈现最大值的偏置值。在检索出一最佳聚焦偏置位置后，存储这个值。对其他任一记录层也执行相同的处理。当产生再现一预定记录层的指令时，聚焦跳跃到该记录层。之后，读出检索出的和提前存储的最佳聚焦偏置值并将其加到聚焦误差信号上。

Description

用于光记录介质的记录和 /或再现设备及方法
本发明涉及记录和/或再现设备以及记录和/或再现方法，特别涉及这样一种记录和/或再现设备和记录和/或再现方法，其中在具有两个或多个记录层的光盘的情况下，能快速而可靠地执行聚焦控制。
以高密盘为代表的一种光盘只具有一个信息记录层。近年来要求增加记录容量。这是能够达到的，例如通过减小轨道间距或者减小凹坑的尺寸。还推荐出一种不同类型的光盘，在其中形成多个记录层，以便进一步增加其容量。
图21作为例子表示刚刚述及的一种光盘的结构，参照图21，在所示的光盘中，记录层A在光盘基板101上形成，而另外一记录层B在该记录层A上形成。而在该记录层B上形成保护层102。
光盘基板101由例如透明材料聚碳酸酯做成。记录层A由半透膜做成，而记录层B是由例如铝或类似金属的金反射薄膜做成。
为了从记录层A再现信息，如标符L1所示，一激光束聚焦在记录层A上，然后检测从该记录层A的反射光。
另一方面，为了再现记录在记录层B上的信息，则如标符L2所示，一激光束通过由半透膜做成的记录层A聚焦在记录层B上。然后接收并检测从记录层B反射并通过记录层A的反射光。按此方式，由于记录层A由半透膜做成，记录层B的信息能通过记录层A读出。
当一激光束聚焦在记录层A(或记录层B)上时，为使作为再现客体的记录层改变到记录层B(或记录层A)，应将跳变脉冲加到聚焦伺服环路，以便使光学头跳向新的记录层，然后应施加聚焦伺服，以使在新的记录上能将聚焦误差信号减至最小。
但是，由于光学头或光盘在生产中或其他原因形成的分散性，聚焦误差信号呈现最小值的位置未必是准确的聚焦位置。因此，通常是将一个偏置信号加到该聚焦误差信号上，从而得到最佳聚焦条件。
然而，在相关的技术设备中，该偏置值是固定的，不管是从哪一个记录层再现信息。因此，该相关的技术设备有一个待解决的问题，那就是从多个记录层稳定地再现信息是困难的。
本发明的一个目的在于提供一种记录和/或再现设备以及一种记录和/或再现方法，通过这种设备和/或方法，信息能精确地记录到一个光盘的任意多个记录层上，或从它准确地再现。
为达到上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种用于光记录介质的记录和/或再现设备，它包括一光学装置，用于在记录介质上记录信息或从该介质再现信息，一聚焦控制装置，用于响应一聚焦误差信号来控制光学装置的聚焦状态，一发生装置，用于根据由光学装置再现的一信号产生光学装置的聚焦偏置信号，以及一附加装置，用于将该聚焦偏置信号附加到该聚焦误差信号。最好，该发生装置包括一检索装置，用于根据由该光学装置再现的信号来检索一最佳聚焦偏置位置。
在该记录和/或再现设备中，光学装置在该记录介质上记录信息和/或从该记录介质再现信息，聚焦控制装置响应一聚焦误差信号控制光学装置的聚焦状态。之后，发生装置根据由光学装置再现的一信号产生该光学装置的一聚焦偏置信号，而附加装置将该聚焦偏置信号附加到聚焦误差信号上。为了使该发生装置产生一聚焦偏置信号，其检索装置根据由该光学装置再现的信号检索一最佳聚焦偏置位置。
对于这种记录和/或再现设备，由于检索了用于在记录介质上记录信息或从它再现信息的光的最佳聚焦偏置位置，以及响应该检索结果，光学装置的一聚焦偏置信号被附加到聚焦误差信号，因而信息无论被记录或再现到/从记录介质的多个记录层的哪一层，都能正常实现最佳聚焦状态，而不管记录介质的分散或随时间的变化。
按本发明的另一方面，提供了用于一种记录介质的记录和/或再现方法，它包括以下步骤：用光学装置将信息记录到记录介质上和/或从记录介质再现信息，产生一聚焦误差信号，根据由光学装置再现的信号产生该光学装置的一聚焦偏置信号，将该聚焦偏置信号附加到聚焦误差信号，以及根据附加了聚焦偏置信号的聚焦误差信号控制光学装置聚焦状态。最好，产生聚焦偏置信号的步骤包括根据由光学装置再现的信号检索最佳聚焦偏置位置的步骤。
在该记录和/或再现方法中，通过光学装置，将信息记录到记录介质和/或从该介质再现信息，并产生一聚焦误差信号。然后，根据由该光学装置再现的信号产生光学装置的一聚焦偏置信号，且该聚焦偏置信号被附加到该聚焦误差信号上。之后，根据附加了聚焦偏置信号的聚焦误差信号，控制光学装置的聚焦状态。为了控制光学装置的聚焦状态，根据由光学装置再现的信号检索最佳聚焦偏置位置。
对于该记录和/或再现方法，由于检搜索了用于在记录介质上记录信息或从它再现信息的最佳聚焦偏置位置，以及响应检索结果，光学装置的一聚焦偏置信号被附加到聚焦误差信号上，因而信息在记录介质的多个记录层的无论哪一层上记录或再现，都能正常实现最佳聚焦状态，而不管记录介质的分散或随时间的变化。
根据以下说明以及所附的权利要求，结合附图，本发明以上的和其他的目的，特征和优点将更为明显，在附图中，相同的部分或元件用相同的符号表示。
图1是表示一种光盘再现设备的方块图，其中包括按本发明的一种记录和/或再现设备；
图2是说明聚焦偏置和跟踪误差信号之间的关系的曲线；
图3是说明图1的光盘再现设备的操作的流程图；
图4是根据图1的光盘再现设备的初始操作而表示的一跟踪误差信号波形的波形图；
图5是用爬山方法说明检测聚焦偏置的一最佳位置的原理的曲线；
图6是按图5所示原理说明检测一最佳位置的处理的流程图；
图7是根据上升突然变化点和下降突然变化点说明检测一最佳位置的原理；
图8是按图7所示原理说明检测最佳位置处理的流程图；
图9是说明用于光盘再现的可替换的操作的流程图；
图10是另一光盘再现设备的方块图，它执行图9的处理，其中包括本发明的另一种记录和/或再现设备；
图11是说明图1光盘再现设备的不同操作的流程图；
图12是说明再一个光盘再现设备，其中包括本发明的再一个记录和/或再现设备；
图13是说明又一个光盘再现设备，其中包括本发明的又一个记录和/或再现设备；
图14是说明又再一个光盘再现设备，其中包括本发明的又再一个记录和/或再现设备；
图15是说明聚焦偏置和跳动之间的关系的曲线；
图16是说明用爬山法检测一最佳点的原理的曲线；
图17是说明按图16原理检测一最佳位置的处理流程图；
图18是说明根据一下降突然变化点和一上升突然变化点检测一最佳位置的原理的曲线；
图19是说明按图18原理检测一最佳点的处理的流程图；
图20是表示又另一个光盘再现设备的方块图，其中包括本发明的又另一个记录和/或再现设备；以及
图21是表示两层光盘示意结构的截面图。
首先参照图1，这里表示一种用于光盘的再现设备，其中包括本发明的记录和/或再现设备。参照图1，光盘具有多个(2个或更多个)记录(正在记录的/可记录的/已记录的)层，这里光盘1具有两层，它具有以上结合图21描述的结构。
该光盘1通过主轴电机2以一预定的速度旋转。光学头3将一激光束照射在该光盘1上并从该光盘1接收其反射光。
一PLL(锁相环)电路5对由记录在光盘1上的信号所再现的并由光学头3输出的RF(无线电频率)信号进行二进制数字化，以便产生一二进制RF信号，并提取该RF信号中的时钟信号，以便产生一同步用时钟信号。一CLV(固定线性速度)电路6接收由PLL电路5输出的二进制RF信号和同步用时钟信号，并输出一个代表它们之间相位误差的误差信号。开关8由一控制电路17控制来选择CLV电路6的一个输出和一初始驱动电路7的输出，并将所选的输出输出给主轴电机2。
一数据解码器4接收由PLL电路5输出的二进制RF信号和同步用时钟信号，并参照该同步用时钟信号解码该二进制RF信号。
光学头3根据例如象散方法的原理产生一聚焦误差信号，并根据例如推挽方法的原理进而产生一跟踪误差信号。一聚焦伺服电路9接收由光学头3输出的聚焦误差信号，并响应该聚焦误差信号驱动聚焦线圈12，以便按垂直于(朝向或离开)该光盘1的方向执行光学头3的聚焦控制。一跟踪伺服电路10接收由光学头3输出的跟踪误差信号，并响应该跟踪误差信号驱动一跟踪线圈13，以便按垂直于光盘1的光道方向执行光学头3的跟踪控制。
由跟踪伺服电路10输出的信号加到滑动伺服电路(Thread ServoCircuit)15。该滑动伺服电路15响应接收到的这个信号驱动滑动电机(Thread Motor)16，以使光学头3在光盘1的径向移动。控制电路17控制聚焦伺服电路9、跟踪伺服电路10以及滑动伺服电路15，还有开关8。
再现设备还包括一跟踪误差信号最大幅度检索电路31。该跟踪误差信号最大幅度检索电路31包括用来检测由光学头3输出的跟踪误差信号的电平并将该检测结果送到一控制电路42的电平检测电路41。控制电路42根据该电平检测电路41的输出来检测光学头3的最佳聚焦位置。
当光学头3的相对光盘1的记录层的聚焦偏置位置变化时，跟踪误差信号按图2所示方式变化。具体说，当光学头3的位置被调整到最佳聚焦偏置位置(最佳点)时，跟踪误差信号呈现最大幅度，但是如果光学头3的位置偏离最佳点，则跟踪误差信号的幅度下降。控制电路42按此原理检测最佳点。
为检测一最佳点，控制电路42控制偏置产生电路43，以便产生具有一预定值的偏置信号。该偏置信号由加法器32附加到由光学头3输出的聚焦误差信号上，加法器32的输出输出到聚焦伺服电路9。
一最佳聚焦偏置位置储存电路33连接到跟踪误差信号最大幅度检索电路31的控制电路42。由检索跟踪误差信号最大幅度检索电路31而得到的最佳聚焦偏置位置的数据被存储在最佳聚焦偏置位置存储电路33中。
图3说明图1再现设备的操作。参照图3，首先在步骤S1，执行光盘的启动处理。具体说，当光盘1按位置在再现设备中装入到位时，控制电路17控制滑动伺服电路15去驱动滑动电机16，以便将光头3移动到光盘1的预定参考位置，例如移动到最内周光道位置。此外，控制电路17将开关8变到初始驱动电路7一侧，使由初始驱动电路7输出的初始驱动信号通过开关8加到主轴电机2，因此该主轴电机2响应该初始驱动信号而被驱动旋转。
此外，控制电路17控制聚焦伺服电路9执行聚焦伺服操作。光头3将一激光束发射到该光盘1的默认记录层(例如，图21中的记录层A)并接收由该光盘1反射的激光束以产生聚焦误差信号和跟踪误差信号。聚焦误差信号通过加法器32提供给聚焦伺服电路9。聚焦伺服电路9响应聚焦误差信号驱动聚焦线圈12，以便在聚焦方向上控制光学头3的位置。
当光学头3再现记录在光盘1的记录层A上的信号时，PLL电路5从该光学头3接收一RF信号。PLL电路5对接收的RF信号进行二进制数字化，以便产生一二进制RF信号以及产生与包括在该RF信号中的同步信号同步的一同步用时钟信号。CLV电路6将该同步时钟信号与该二进制RF信号进行相位比较并输出代表它们之间误差的一个误差信号。当主轴电机2起动了一预定时间后，或当主轴电机2的转速达到一预定速度时，控制电路17将开关8变到CLV电路6这一侧。因此，由CLV电路6输出的误差信号提供给主轴电机2，并用该误差信号执行CLV伺服。结果，光盘1被驱动按一固定线性速度旋转。
之后，控制顺序推进到步骤S2，在其中执行最佳聚焦检索处理。以下描述该最佳聚焦检索处理，跟踪误差信号最大幅度检索电路31的控制电路42控制偏置产生电路43，由此一预定偏置信号通过加法器32附加给聚焦误差信号。当聚焦状态不合适时，从光学头3输出的跟踪误差的幅度是小的，而当聚焦状态处于最佳状态时，跟踪误差的幅度呈现一最大值。因此，跟踪误差信号的幅度由电平检测电路41检测，并由控制电路42识别是否已经取得一最大幅度的跟踪误差信号。如果识别已得到最大幅度的跟踪误差信号，则检测到由偏置产生电路43产生的一偏置值。
之后，控制顺序推进到步骤S3，其中，在步骤S2中得到的最佳聚焦偏置值被存储到最佳聚焦偏置位置存储电路33。
当检测3在一记录层(例如，在图21中的记录层A)的一最佳聚焦偏置位置之后，控制顺序推进到步骤S4，其中识别是否对光盘1的所有记录层都进行了类似的检索。如果尚未对所有记录层执行检索，控制顺序推进到步骤S5，其中执行改变记录层的处理。具体说，控制电路17控制聚焦伺服电路9，使得跳跃脉冲附加到聚焦误差信号(或产生跳跃脉冲替代聚焦误差信号)，结果，聚焦线圈12响应该跳跃脉冲按聚焦方向移动光学头3，使得已聚焦在记录层A上的激光束现在被聚焦在记录层B上。在停止提供跳跃脉冲之后，平常的聚焦伺服环再次进入闭合状态以施加伺服，使得聚焦误差可以减到最小，由此将由光学头3产生的激光束现在聚焦在记录层B上。
此后，控制顺序返回到步骤S2，对记录层B执行最佳聚焦检索处理。之后，在步骤S3，由最佳聚焦检索处理得到的最佳聚焦偏置值被存储到最佳聚焦偏置位置存储电路33中。
对于在光盘1中形成N个记录层的情况，N个最佳聚焦偏置值按上述方式记录在最佳聚焦偏置位置存储电路33中。
在所有的光盘1的记录层的最佳聚焦偏置值(位置)被存储之后，控制顺序由步骤S4推进到步骤S6，其中，聚焦位置改变到预先设定的默认的记录层。例如，控制电路17控制聚焦伺服电路9产生所要求的跳跃脉冲数量，以便将激光束聚焦在最接近光盘基板101的记录层A上。
在本例中，在步骤S7中，跟踪误差信号最大幅度检索电路31的控制电路42读出存储在最佳聚焦偏置位置存储电路33中的记录层A的聚焦偏置值，并将它提供到偏置产生电路43。该偏置产生电路43对应于该偏置值产生一偏置信号。该偏置信号由加法器32附加到该聚焦误差信号并提供到聚焦伺服电路9。聚焦线圈12由聚焦伺服电路9用附加了最佳偏置值的聚焦误差信号驱动。因此，最佳聚焦状态在记录层A实现。
之后，控制顺序推进到步骤S8，在其中，等待改变再现记录层的指令。当指令改变记录层时，控制顺序推进到步骤S9，其中，聚焦位置改变到指定的记录层。具体说，对于这种情况，控制电路17控制聚焦伺服电路9产生一预定数量的跳跃脉冲，以便例如将聚焦位置从记录层A改变到记录层B那样改变聚焦位置。
之后，在步骤S10，执行指定记录层的一最佳偏置值的读出处理，具体说，跟踪误差信号最大值幅度检索电路31的控制电路42读出用于记录层B的存储在最佳聚焦偏置位置存储电路33中的偏置值，并将它输出到偏置产生电路43。偏置产生电路43相应于该偏置值产生一偏置信号。该偏置信号由加法器32附加到聚焦误差信号。聚焦伺服电路9响应加法器32的输出，驱动该聚焦线圈12，使得在记录层B中实现最佳聚焦状态(实现一聚焦状态，其中，跟踪误差信号的幅度呈现出一最大值)。
之后，控制顺序返回到步骤S8，使得在步骤S8等中的连续处理重复执行。
下文将描述最佳聚焦检索。如上所述，根据这样的检索，还未启动跟踪伺服。因此，光学头3周期性地跨越光盘1的多个光道。具体说，由于光盘1和主轴电机2的旋转中心彼此错位，这是由于两者之间的偏心所致，光学头3的信息再现位置(激光束的一个光点)周期性地跨越多个光道。结果，光学头3输出例如图4所示的跟踪误差信号，如在图4中所示，该跟踪误差信号呈现出周期性的变化。
跟踪误差信号最大幅度检索电路31的电平检测电路41检测该跟踪误差信号的上保持值和下保持值，并检测它们之间的差作为跟踪误差信号的幅度。将该幅度检测信号提供给控制电路42。如图2所示，该跟踪误差信号的幅度随光学头3的聚焦偏置值而变化。控制电路42检测聚焦偏置的一最佳点，同时，采用所谓的爬山方法得到跟踪误差信号的一最大幅度。
具体说，参照图5，将由偏置产生电路43输出的偏置信号逐次递增一值α，如S0、S1、S2，……。之后，跟踪误差信号的幅度值Ri-1、Ri和Ri＋1在每三个连续的取样点Si-1、Si和Si+1彼此相比较。
当幅值Ri在它们之中呈现最大值(Ri-1＜Ri＞Ri+1)时，该取样点Si被确定为一最佳点。为此，控制电路42控制偏置产生电路43以输出一首先呈现一预定初始值、之后连续地改变α的偏置值。该偏置信号由加法器32附加到聚焦误差信号并输出到聚焦伺服电路9。
图6说明当调整聚焦偏置值时借助爬山法的示范性处理。参照图6，首先在步骤S21中，将一初始值S0置入Sn。之后，聚焦偏置位置设置为Sn(在本例中，Sn＝S0)，并且测量此时跟踪误差信号的幅值。之后，测量结果设置为Rn(在本例中，Rn＝R0)。
具体说，控制电路42控制偏置产生电路43以产生一偏置信号S0。聚焦伺服电路9响应由加法器32附加了偏置信号S0的聚焦误差信号来控制聚焦线圈12，以便调整光学头3的聚焦偏置。
电平检测电路41检测由光学头3输出的跟踪误差信号的幅度，并将它输出到控制电路42。控制电路42设置当时检测的跟踪误差信号的幅值为Rn(在本例中，Rn＝R0)。
之后，控制顺序推进到步骤S22，其中，将由S0和α相加而得到的值置入Sn +。换言之，计算下列方程式：
Sn +＝S0+α
之后，控制电路42控制偏置产生电路43产生这样的偏置信号Sn +(＝S1)。具体说，控制电路42控制该偏置产生电路43产生比在步骤S21中产生的偏移信号Sn大α的一偏置值。由于聚焦伺服电路9响应附加了偏置值的聚焦误差信号控制聚焦线圈12，因此，光学头3进一步改变其聚焦偏置一相应的偏置值α。
之后，电平检测电路41检测由光学头3输出的跟踪误差信号的幅度，然后，控制电路42将由电平检测电路41检测的跟踪误差信号的幅度设置为Rn +(在本例中，Rn +＝R0 +＝R1)。
之后，控制顺序推进到步骤S23，其中，将比S0低α的一值置入Sn -。换言之，计算下列方程式：
Sn -＝S0-α
具体说，控制电路42控制偏置产生电路43产生比在步骤S21中产生的偏置信号Sn(在本例中，Sn＝S0)低α的一值。由于附加了偏信号Sn -的聚焦误差信号通过聚焦伺服电路9加到聚焦线圈12上，光学头3的聚焦偏置离开过去产生的偏置值S0，变化了相应于偏置值-α的一个值。
之后，电平检测电路41检测由光学头3输出的跟踪误差信号的幅度，并将其输出到控制电路42。之后控制电路42将跟踪误差信号的幅度置入Rn -(在本例中，Rn -＝R0 -)。
通过上述步骤S21至S23的处理，当附加到聚焦误差信号的偏置值设置为初始值S0时得到跟踪误差信号的幅值Rn(＝R0)，当偏置信号增加α时得到跟踪误差信号的幅值Rn +(＝R0 +＝R1)，以及当偏置信号减小α时得到幅值Rn -(＝R0 -)如图5所示。
之后，控制顺序推进到步骤S24，在其中识别Rn是否等于Rn +，或Rn是否大于Rn +和等于Rn -，或Rn是否大于Rn -。换言之，识别Rn是否大于Rn -和Rn +(即，Rn是否最大值)。
通常，如图5所示，偏置信号为S0时的跟踪误差信号的幅度Rn(＝R0)高于偏置信号降低α时的幅值Rn -(＝R0 -)，但是它低于偏置信号增高α时的跟踪误差信号的幅度Rn +(＝R0 +＝R1)。因此，在本例中，控制顺序推进到步骤S25，在其中识别Rn +是否大于Rn -。在本例中，由于Rn +(＝R0 +＝R1)是大于Rn -(＝R0 -)(因为这些值都在图5的曲线段上，其中该曲线呈现向右上升倾斜)，控制顺序推进到步骤S26。
在步骤S26中，Sn(＝S0)直到此时才置入Sn -。之后，Sn +(＝S1)直到此时才置入新的Sn，Rn(＝R0)直到此时才置入Rn -，以及之后Rn +(＝R1)直到此时才置入Rn。之后，将α加到新Sn(＝S0+α＝S1)而得到的一值(＝S0+2α＝S2)被置入Sn +。换言之，计算下列方程式：
Sn +＝Sn+α
控制电路42控制偏置产生电路43，以便产生Sn +(＝S2)作为一偏置信号。换言之，控制电路42控制偏置产生电路43产生比在步骤S22中产生的Sn +(＝S0＋α)大α的偏置Sn +(＝S0+2α＝S2)。之后，检测的跟踪误差信号的幅度被置入Rn +(＝R1 +＝R2)。
换言之，作为结果，在已经将图5所示的状态向右位移α的三个取样位置S0，S1和S2上的跟踪误差信号的幅值被置入Rn -(＝R0)，Rn(＝R1)和Rn +(＝R2)。
之后，控制顺序返回到步骤S24，在其中识别Rn是否大于Rn -和Rn +。当Rn不是最大值时，控制顺序推向步骤S25，在其中再次识别Rn +是否大于Rn -。当Rn +大于Rn -时，控制顺序推向步骤S26，在其中重复同样的处理。
之后，如果用于取样的部分按图5中右向位移直到Sn到达一最佳位置，则所得到的幅值Rn大于Rn -，并且还大于Rn +。换言之，Rn呈现最大值。这样，在这种情况下，控制顺序推进到步骤S28，在其中，Sn值被设置为最佳值，此时跟踪误差信号的幅度Rn呈现最大值。换言之，控制电路42此后控制偏置产生电路43以便连续地产生偏置信号Sn作为最佳值。
另一方面，当取样在图5中的曲线呈现向右下降倾斜的部分中进行时，Rn +的值呈现一低于Rn -的值。这样，在此情况下，控制顺序推向频骤S25-S27，其中，Sn直到这时才被置入Sn +，Sn -直到此时才被置入Sn，Rn直到此时才被置入Rn +，以及Rn -直到此时才被置入Rn。之后，将比新的Sn低α的一值置入Sn -。换言之，计算下列等式：
Sn -＝Sn-α
具体说，参照图5，在左侧的取样点用Sn -进行取样。之后，当偏置信号Sn -由偏置产生电路43产生时，跟踪误差信号的幅值被进行检测。这样检测到的幅值被置入Rn -。
之后，控制顺序返回步骤S24，在其中识别Rn是否大于Rn -和Rn +。由于在图5中的向右下降倾斜的特性曲线段中Rn仍然低于Rn -，所以控制顺序推进到步骤S25，并且之后由步骤S25-S27重复类似的处理。当该取样位置连续地按图5向左(向一最佳位置)推进直到Sn到达一最佳位置时，Rn呈现大于Rn +和大于Rn -的值。在此情况下，控制顺序从步骤S24推进到步骤S28，其中偏置信号的值被确定为一最佳值。之后，控制电路42控制偏置产生电路43以便连续地产生该最佳值。
在以上的描述中，最佳位置(最大值)是由所谓爬山方法进行检测的，但是该最佳位置也可以按例如图7所说明的另外的方式来确定。具体说，在图7所示的方法中，首先对于S0到Sn的整个时间周期，将偏置信号连续地变化α以便对跟踪误差信号取样。之后，在本例中，与通过取样得到的跟踪误差信号的上升突然变化位置相对应的偏置信号被检测作为Sm1，而与跟踪误差信号的下降突然变化的位置相对应的偏置信号被检测作为Sm2。之后，介于变化位置Sm1和Sm2之间的中间位置被确定作为一个最佳位置(调整位置)。
图8说明当最佳位置基于图7所示的方法被检测时的处理例子。在图8中说明的处理中，首先在步骤S31中，一变量n被初始设置为0，而在步骤S32中，计算下列方程式：
S[n]＝SMIN+α×n这里SMIN为偏置调整值的最小值，而α为宽度或步幅(step size)，通过它偏置信号一步一步地变化。
在目前的情况下，由于n＝0、S[0]被置入SMIN。
控制电路42控制偏置产生电路43去产生值S[n](对于目前情况，S[0]＝SMIN)。之后，跟踪误差信号的幅度由电平检测电路41检测，该检测值被置入为R[n](＝R[0])。
之后，控制顺序推进到步骤S33，其中可变量n递增1(n设置为n＝1)。在步骤S34中，识别递增后的可变量n是否小于NUM。字符NUM代表由(SMAX-SMIN)/α给定的值，在这里，偏置值的一最大值由SMAX表示。换言之，NUM代表在偏置扫描范围中的一取样数。
对于n小于NUM的情况，由于意味着并未对于所有取样位置完成取样，所以控制顺序返回到步骤S32，在其中计算下列方程式：
S[n]＝SMIN+α×n
换言之，在此情况下，比SMIN大α的一值被设置作为一偏置信号S[1]。之后，当产生该偏置信号S[1]时测量跟踪误差信号的幅度，而将该被测值设置为R[1]。
之后，控制顺序推进到步骤S33，其中该可变量n递增1，在此情况下，递增到n＝2。当在步骤S34中识别出可变量n(＝2)小于NUM时，控制顺序返回到步骤S32，以便重复执行同样的处理。按这种方式在图7所示的取样位置S0至Sn上得到跟踪误差信号的幅值R0至Rn。
当按上述方式完成在检索范围内的取样时，该可变量n变成等于NUM。因此，现在控制顺序从步骤S34推进到步骤S35，其中，可变量n被初始化为1。之后，在步骤S36中识别在当前参考位置的幅值R[n]和上一幅值R[n-1]之间的差是否大于预先设置的参考值Th。在目前情况下，识别R[1]-R[0]的值是否大于Th。由于在图7中所示的取样范围的第一时间周期中图7中的曲线呈现向右下降特性，R[1]充分大于R[0](它们之差(R[1]-R[0])大于Th)。因此，控制顺序推进到步骤S37，其中，在取样位置S[n]和S[n-1]之间的中间值被设置作为一变化位置Sm1。换言之，计算下列方程式：
Sm1＝(S[n]+S[n-1])/2
对于目前情况，在S[1]和S[0]之间的中间位置被设置为Sm1。
之后，控制顺序推进到步骤S38，其中可变量n递增1(到n＝2)，然后推进到步骤S39，其中识别可变量n是否小于NUM。当该可变量n小于NUM时，控制顺序返回到步骤S36，其中识别R[2]-R[1]的值是否大于Th。如在图7所见，在跟踪误差信号呈现大变化的时间周期内，两个取样值之间的差大于参考值Th。这样，控制顺序再次推进到步骤S37，其中Sm1被设置到值(S[2]+S[1])/2。换言之，在这上一取样位置向右间隔α的取样位置的值被设置为Sm1。
之后，在步骤S38，可变量n再次递增1，成为n＝3，之后控制顺序从步骤S39返回到步骤S36以便重复执行同样的处理。
之后，随着图7中取样位置向右移动，跟踪误差信号的变化率逐步下降。之后，当识别出值R[n]-R[n-1]小于Th时，控制顺序从步骤S36推进到步骤S40。换言之，在此情况下，在跟踪误差信号的幅度变化率由高的部分改变到低的另外一部分的变化位置(上升突然变化位置)被设置为Sm1。
在步骤S40及以下等等中。在跟踪误差信号的幅度的变化率由呈现逐步下降部分到呈现突然下降的另一部分的一变化位置被检测作为下降突然变化位置Sm2。
为此，在步骤S40中识别值R[n-1]-R[n]是否小于参考值Th。由图7看出，在左侧的取样值R[n-1]小于右侧的取样值R[n]的时期内(在此期间内曲线呈现向右上升倾斜)以及在右侧的取样值R[n]小于左侧的取样值R[n-1]的时期内它们之间的差别是小的，值R[n-1]-R[n]小于参考值Th。因此，控制顺序从步骤S40推进到步骤S41，其中S[n]和S[n-1]之间的中间值被设置为Sm2。换言之，计算下列方程式：
Sm2＝(S[n]+S[n-1])/2
之后，在步骤S42中n递增1，而在步骤S43中识别可变量n是否小于NUM-1(检索范围是否已达到图7的右端)。当可变量n小于NUM-1时，控制顺序返回到步骤S40，其中对在图7中位移一个取样距离的右侧两个取样值重复作同样的处理。之后，当该两取样值之间的差小于参考值Th时，控制顺序再次推进到步骤S41，其中将在该两取样位置之间的中间值设置为Sm2。
当取样位置连续地如此按图7向右位移，直到图7右侧的取样值R[n]呈现从左侧的取样值R[n-1]急速下降时，它们之间的差(R[n-1]-R[n])变成等于或大于参考值Th。在此情况下，在取样位置S[n-1]和S[n-2]之间的中间值被设置为Sm2。这样该值被确定作为一下降突然变化位置Sm2。
由于上升突然变化位置Sm1已在步骤S37中确定以及下降突然变化位置已在步骤S41中按上述方式确定，控制顺序现在推进到步骤S44，其中在变化位置Sm1和Sm2之间的中间位置被确定作为一最佳位置。换言之，值(Sm1+Sm2)/2被设置作为一最佳位置。
要注意的是，当在步骤S39中识别可变量n等于或大于NUM时，控制顺序由步骤S39推进到步骤S40。另一方面，当在步骤S43中识别可变量n等于或大于NUM-1时，控制顺序由步骤S43推进到步骤S44。
虽然，在图3中说明的再现设备的操作中，当光盘1装进再现设备中到位时，光盘1的所有记录层的最佳偏置位置被检索出来并提前储存，但是也有可能在每次改变要聚焦的目标记录层时检索一最佳聚焦偏置位置。
图9说明刚刚描述的这种处理。参照图9，首先在步骤S51，再现设备等待改变目标记录层的指令发生，在该目标记录层上的光需要聚焦。当一改变指令发生时，控制顺序推进到步骤S52，其中使聚焦位置将要跳跃到指定记录层的跳跃脉冲由聚焦伺服电路9产生。因此，光学头3按聚焦方向跳到它能被聚焦在指定记录层的位置上。
之后，控制顺序推进到步骤S53，其中执行在光学头3刚跳到的记录层中检索一最佳聚焦位置的处理。在此情况下的最佳聚焦检索处理与图3中步骤S2的处理相同。
当最佳聚焦检索处理进行步骤S53结束时，控制顺序返回到步骤S51，以便重复执行同样的处理。换言之，每次目标记录层改变时，执行上述这种处理。
因此，在此情况下，当用于光盘1的再现设备的跟踪误差信号最大幅度检索电路31的控制电路42控制偏置产生电路43产生一偏置信号、有了该偏置信号由电平检测电路41检测的跟踪误差信号便呈现一最大幅度时，该控制电路42控制偏置产生电路43在此后连续地产生偏置信号。结果，如果采用本处理方法，在图1中所示的最佳聚焦偏置位置存储电路33就不必要了。
图11是说明用于光盘的再现设备的另一操作例。虽然在图9说明的最佳聚焦检索处理中，每次目标记录层改变时执行该处理，但是每次改变记录层时它要求很长的时间，才可能实际地再现数据。在图11中说明的处理能减少处理时间。
参照图11，首先在步骤S61，再现设备等待着，直到一改变目标记录层的指令产生。当改变目标记录层的指令产生时控制顺序推进到步骤S62，其中跳跃脉冲由聚焦伺服电路9产生，以移动光学头3朝向该目标记录层。
之后，控制顺序推进到步骤S63，在其中执行检测跟踪误差信号幅度的处理，具体说，跟踪误差信号最大幅度检索电路31的控制电路42读出从电平检测电路41输出的跟踪误差信号的幅值，并将如此读出的值置入Rn。
在使用本处理的地方，再现设备是按图1所示的方式构制的。检测值Rn被加到并储存到最佳聚焦偏置位置储存电路33中，在该最佳聚焦偏置位置存储电路33中，在先前再现记录层的再现期间检测的跟踪误差的幅度也被存储作为Rp。这样，在步骤S64中识别值Rp-Rn是否大于提前设置的参考值T。
具体说，当目前得到的幅度Rn大于在先前操作过程得到的幅度Rp，或者幅度Rn小于幅度Rp但它们之间的差小于参考值T，则该聚焦值被维持，因为它确定数据能以足够的稳定性被再现，而不必特别地改变聚焦偏置值。换言之，与先前记录层再现时相同的偏置值被连续地产生。之后，控制顺序返回到步骤S61，为的是重复执行在步骤S61等中的处理。
另一方面，当目前的幅度Rn小于先前的幅度Rp，而且它们之间的差大于参考值T时，控制顺序由步骤S64推进到步骤S65，其中执行最佳聚焦检索处理。该最佳聚焦检索处理和图3步骤S2中的或图9步骤S53中的处理相同。之后，当最佳聚焦检索处理结束时，控制顺序返回到步骤S61，以便重复执行在步骤S61等中的处理。
简而言之，在本处理中，由于仅当跟踪误差信号的幅度不呈现起源于聚焦偏置改变的一足够的幅度时才执行聚焦检索处理，所以执行聚焦检索处理的次数与图9中说明的处理相比能够减少。因此，能更快地启动从记录层再现数据。
图12表示更进一步的光盘再现设备的另一实施例，其中包括本发明的更进一步的记录和/或再现设备。在本实施例中，图1的跟踪误差信号最大幅度检索电路31由一RF信号最大幅度检索电路51所取代。光学头3输出的RF信号被输入到该RF信号最大幅度检索电路51。
RF信号最大幅度检索电路51包括类似于图1中所示的跟踪误差信号最大幅度检索电路31的一电平检测电路，一控制电路，以及一偏置产生电路(未示出)。其他结构与图1所示的再现设备的相同。
具体说，在图12的实施例中，当启动再现操作的指令发生时，首先控制电路17馈送光学头3到光盘1的最内周光道位置，然后驱动主轴电机2去旋转光盘1。之后，聚焦伺服电路9和跟踪伺服电路10两者都进入操作状态。由此施加了聚焦伺服和跟踪伺服。
图2、5和7的曲线说明在此状态下聚焦偏置和RF信号幅度之间的关系。具体说，当相对于光盘1的一记录层的光学头3的聚焦偏置被设置到最佳值时，RF信号呈现一最大幅度。因此，如同检测跟踪误差信号的幅度的最大值时那样，通过借助RF信号最大幅度检索电路51检测该RF信号的幅度的最大值，能检索并设置一最佳位置。由于这种处理类似于上述参照图1的光盘再现设备，因此这里省略了对其描述。
另一方面，如图9所示，当每次因改变目标记录层而使用RF信号执行最佳聚焦检索处理时，图12中所示的最佳聚焦偏置位置存储电路33是不必要的，因此再现设备结构如图13所示那样除去了最佳聚焦偏置位置存储电路33。
此外，当使用一RF信号执行检索最大幅度时，在使用图3或11中说明的处理的地方，则如在图12中所见，再现设备需要最佳聚焦偏置位置存储电路33。
图14表示实施本发明的又再一个光盘再现设备。在本实施例中，提供一最小跳动(jitters)检索电路61替代图1实施例的跟踪误差信号最大幅度检索电路31。一跳动测量电路62根据PLL电路5的输出检测跳动并输出检测出的跳动到最小跳动检索电路61。类似于图1所示的跟踪误差信号最大幅度检索电路31，最小跳动检索电路61包括一电平检测电路，一控制电路和一偏移产生电路(未示出)。
图14的光盘再现设备的其他结构与图1的光盘再现设备相同。
跳动测量电路62检测出由PLL电路5输出的二进制RF信号和同步用时钟信号之间的相位差的绝对值，并将该相差的绝对值作为跳动输出到最小跳动检索电路61。跳动和聚焦之间的关系如图15所示。
具体说，如从图15所见到的那样，当相对于光盘1的光学头3的聚焦偏置为最佳时，跳动最小，而如果聚焦偏置偏离该最佳位置，则跳动增大。通过检测跳动的最小值就可确定相对于光盘1的光学头3的聚焦偏置的最佳位置。
该跳动的最小值可用图16所示的爬山方法来进行计算。参照图16，取样位置在增加方向上连续地位移α。当中心取样值小于左右取样值时，在其上得到该中心取样值的一取样位置被设置作为一最佳位置。
图17说明借助爬山法确定最小跳动值处理的一个例子。
参照图17，首先在步骤S71，将一初始值S0置入Sn。之后，将聚焦偏置位置设置为Sn(在本例中，Sn＝S0)。此外，测量本例中跳动的幅值(幅度)，将测量结果置入Rn(在本例中，Rn＝R0)。
具体说，控制电路42控制偏置产生电路43产生一偏置信号S0。聚焦伺服电路9响应由加法器32附加了偏置信号S0的聚焦误差信号去控制聚焦线圈12。以便调整光学头3的聚焦偏置位置。
于是，电平检测电路41检测由跳动测量电路62输出的跳动的幅度，并将它输出到控制电路42。控制电路42将检测的幅值置入Rn(在本例中，Rn＝R0)。
之后，控制顺序推进到步骤S72，其中，由S0和α相加而得到的一个值被置入Sn +。具体说，计算下列方程式：
Sn +＝S0+α
之后，控制电路42控制偏置产生电路43产生偏置信号Sn +(＝S1)。具体说，控制电路42控制偏置产生电路43产生一个比在步骤S71中产生的偏置值大α的偏置值。由于聚焦伺服电路9响应附加了偏置值的聚焦误差信号而控制聚焦线圈12，光学头3进一步使光学头3的聚焦偏置位置改变一对应于偏置值α的量。
本例中电平检测电路41检测由跳动测量电路62输出的跳动的幅度。控制电路42将由电平检测电路41此时检测的跳动幅度置入Rn +(在本例中，R0 +＝R1)。
接着，控制顺序推进到步骤S73，其中，比S0小α的一个值被置入Sn -。换言之，计算下列方程式：
Sn -＝S0-α
具体说，控制电路42控制偏置产生电路43产生一个比在步骤S71中产生的偏置信号Sn(在本例中，Sn＝S0)小α的值。由于附加了偏置信号Sn -的聚焦误差信号通过聚焦伺服电路9被加到聚焦线圈12。所以光学头3的聚焦偏置位置从以前产生偏置值S0的位置改变了一对应于-α的量。
之后电平检测电路41检测由跳动测量电路62输出的跳动幅度并将它输出到控制电路42，控制电路42将跳动的幅值置入Rn -(在本例中，Rn -＝R0 -)。
通过上述步骤S71至S73的处理，得到了待附加到聚焦误差信号的偏置值被设置为初始值S0时的跳动幅值Rn(＝R0)偏置信号增加α时的跳动幅度值Rn +(＝R0+＝R1)以及偏移值减小α时的跳动幅度值Rn -(＝R0 -)，如图16所示。
这样，控制顺序推进到步骤S74，其中识别Rn是否等于或小于Rn +以及Rn是否等于或小于Rn -。换言之，识别Rn是否小于Rn -和Rn +(Rn是否为最小值)。
通常，如在图16中所见那样，虽然偏置信号为S0时的跳动幅度Rn(＝R0)小于偏置信号减小α时的幅值Rn -(＝R0 -)，它却大于偏置信号，增大α时的跳动幅度Rn +(＝R0+＝R1)。这样，在本例中，控制顺序推进到步骤S75，其中识别Rn +是否小于Rn -。在本例中，由于Rn +(＝R0 +＝R1)小于Rn -(＝R0 -)(由于在图16中曲线段处在向右下降部分)，控制顺序推进到步骤S76。
在步骤S76中，Sn(＝S0)直到此时才被置入Sn -。之后Sn +(＝S1)直到此时才被置入新的Sn，Rn(＝R0)直到此时才被置入Rn -，而Rn +(＝R1)直到此时才被置入Rn。此外，由附加α到新Sn(＝S0+α＝S1)而得到的一个值(＝S0+2α＝S2)被置入Sn +。换言之，计算下列方程式：
Sn +＝Sn+α
控制电路42控制该偏置产生电路43去产生Sn -(＝S2)作为偏置信号。具体说，控制电路42控制偏置产生电路43去产生比在步骤S72中产生的Sn +(＝S0+α)大α的偏置Sn +(＝S0+2α＝S2)。然后，将检测的跳动幅度置入Rn +(＝R1 +＝R2)。
换言之，作为结果，在三个从先前扫描中的那些取样位置向右位移α的取样位置S0、S1和S2上的跳动的幅值分别被设置为Rn -(＝R0)，Rn(＝R1)和Rn +(＝R2)。
之后，控制顺序返回到步骤S74，其中识别Rn是否小于Rn -和Rn +。当Rn不是一最小值时，控制顺序推进到步骤S75，其中再次识别Rn +是否小于Rn -。当Rn +小于Rn -时，控制顺序推进到步骤S76，以便重复同样的处理。
之后，当用于取样的部分连续地按图16向右位移，直到Sn到达一最佳位置时，得到的幅值Rn便小于Rn -和Rn +。换言之，Rn是一最小值。这样，在此情况下，控制顺序从步骤S74推进到S78，其中该值Sn被设置为一最佳值，与此同时跳动值呈现最大值。换言之，控制电路42控制偏置产生电路43连续地产生偏置信号Sn作为一最佳值。
另一方面，当取样按图16中的向右上升部分进行处理时，值Rn +大于Rn -。这样，在此情况下，控制顺序从步骤S75推进到步骤S77，其中Sn直到此时才被置入Sn +，Sn -直到此时才被置入Sn -，Rn直到此时才被置入Rn +，以及Rn -直到此时才被置入Rn。之后，比新的Sn小α的一值被置入Sn -。换言之，计算下列方程式：
Sn -＝Sn-α
具体说，在图16的左侧的取样位置用Sn -进行取样。之后检测由偏移产生电路43产生偏置信号Sn -时的跳动的幅度，检测的幅度值被置入Rn -。
之后，控制顺序返回到步骤S74，其中识别Rn是否小于Rn -和Rn +。在图16中向右上升部分中，由于Rn仍大于Rn -，控制顺序推进到步骤S75，然后从步骤S75推进到步骤S77以便重复相同的处理。当取样位置连续地向左(朝向最佳位置)推进直到Sn到达最佳位置时，Rn小于Rn +和Rn -。在此情况下，控制顺序从步骤S74推进到步骤S78，其中确定偏移信号Sn的值作为最佳值。之后，控制电路42控制偏置产生电路43以便连续地产生最佳值。
此外，和图7中说明的处理类似，计算一下降突然变化位置Sm2和上升突然变化位置Sm1。这样，就可确定它们之间的一中间位置为一最佳位置，与此同时，跳动呈现最小值。
具体说，在本例中，如在图18中所见那样，在取样位置S0至Sn的部分中，取样值R0至Rn被事先计算出来。之后，根据这些取样值确定变化位置Sm1和Sm2，并确定在它们之间的一中间位置。
图19说明在此情况下处理的一个例子。参照图19，在所示的处理中，首先在步骤S91中，0被初始地置入可变量n，之后在步骤S92，计算下列方程式：
S[n]＝SMIN+α×n这里SMIN是偏置调整值的一最小值，而α是宽度或步幅，偏置值用它一步一步地变化。
在目前情况下，由于n＝0，S[0]被设置为SMIN。
控制电路42控制偏置产生电路43产生信号S[n](在此情况下，S[0]＝SMIN)。之后，跳动幅度由电平检测电路41检测，其检测值被置入R[n](＝R[0])。
之后，控制顺序推进到步骤S93，其中可变量n递增1(到n＝1)。在步骤S94中识别递增后的可变量是否小于NUM。设偏置值的一最大值由SMAX表示，则字符NUM表示由(SMAX-SMIN)/α给出的一个值。换言之，NUM表示在聚焦偏置扫描范围内的取样数。
当n小于NUM时，由于这意味着取样位置还未全部取样，控制顺序返回到步骤S92，其中计算下列方程式：
S[n]＝SMIN+α×n
具体说，在本处理中，比SMIN大α的值被设置作为一偏置信号S[1]。之后，当产生偏置信号S[1]时测量跳动的幅度，其值被设置为R[1]。
之后，控制顺序推进到步骤S93，其中可变量n递增1，在此情况下，递增到n＝2。之后，当在步骤S94中识别该可变量n(＝2)小于NUM时，控制顺序返回到步骤S92，以便重复执行同样的处理。按此方式，得到在图18中所示的取样位置S0至Sn上的跳动的幅值R0至Rn。
当按上述方式如此地完成在检索范围中的取样时，可变量n变成等于NUM。这样，控制顺序现在从步骤S94推进到步骤S95，其中可变量n被初始地设置到1。之后在步骤S96识别在目前参考位置的幅值R[n]和先前幅值R[n-1]之间的差是否小于事先设置的一参考值Th。具体说，识别值R[0]-R[1]是否小于Th。由于向右下降特性出现在取样范围的第一部分，R[0]比R[1]足够地大(它们之间的差(R[0]-R[1])大于Th)。这样，控制顺序就推进到步骤S97，其中介于取样位置S[n]和S[n-1]之间的一中间值被设置为可变位置Sm2。换言之，计算下列方程式：
Sm2＝(S[n]+S[n-1])/2
在此情况下，介于S[1]和S[0]之间的一中间位置被设置为Sm2。
之后，控制顺序推进到步骤S98，其中可变量n递增1(到达n＝2)，之后推进到步骤S99，其中识别可变量n是否小于NUM。当可变量n小于NUM时，控制顺序返回到步骤S96，在其中识别值R[1]-R[2]是否小于Th。如图18中所见那样，在跳动变化相当大的时期内，两个取样值之间的差大于该参考值Th。因此，控制顺序再次推进到步骤S97，其中值(S[2]+S[1])/2被置入Sm2，换言之，在先前操作位置向右间隔α的位置上的值被置入Sm2。
之后在步骤S98，可变量n再次递增1到达n＝3，控制顺序由步骤S99返回到步骤S96，以便重复执行同样的处理。
之后，当在图18中的取样位置连续地向右位移时，跳动的变化率逐步地下降。因此，当识别出值R[n-1]-R[n]小于Th时，控制顺序由步骤S96推进到步骤S100。换言之，在此情况下，从跳动幅度变化率高的一部分到变化率低的另一部分的一变化位置(下降突然变化位置)被设置为Sm2。
在步骤S100等中，这样一个变化位置被检测作为上升突然变化位置Sm1，即，在该变化位置上，从变化率逐步增加的一时期到变化率突然增加的另一时期跳动幅度的变化率突然增加。
为此，在步骤S100中识别值R[n]-R[n-1]是否大于参考值Th。在左侧的取样值R[n-1]大于右侧的取样值R[n]的时期中(在向右下降时期中)，以及在右侧的取样值R[n]大于在左侧的取样值R[n-1]时期中，但它们之间的差是小的，值R[n]-R[n-1]小于参考值Th。这样，控制顺序从步骤S100推进到步骤S101，其中在S[n]和S[n-1]之间的一值被置入Sm1。换言之，计算以下方程式：
Sm1＝(S[n]+S[n-1])/2
之后，在步骤S102中n递增1，并在步骤S103中识别可变量n是否小于NUM-1(检索范围是否到达图18中的右端)。当可变量n小于NUM-1时，控制顺序返回到步骤S100，其中，对于在图18右侧相距一个取样距离的两个取样值重复执行同样的处理。之后，当该两取样值之间的差小于参考值Th时，控制顺序再次推进到步骤S101，其中在该两取样值之间的一中间值被置入Sm1。
当如此地连续按图18向右位移取样位置直到图18中右侧的取样值R[n]呈现从左侧的取样值R[n-1]突然增加时，它们之间的差(R[n]-R[n-1])等于或大于参考值Th。在此情况下，取样位置S[n-1]和S[n]之间的一中间值被置入Sm1。之后，该值被确定为上升突然变化位置Sm1。
由于下降突然变化位置Sm2已在步骤S97中计算，而上升突然变化位置Sm1已在步骤S101中按此方式计算，控制顺序现在推进到步骤S104。其中，变化位置Sm1和Sm2之间的一中间位置被确定为一最佳位置。换言之，值(Sm1+Sm2)/2被设置为一最佳点。
要注意的是，当在步骤S99识别可变量n等于或大于NUM时，控制顺序从步骤S99推进到步骤S100，另一方面，当在步骤S103识别可变量n等于或大于NUM-1时，控制顺序从步骤S103推进到步骤S104。
对于一最佳位置由图7或图18的方法检测的场合，即使噪声和跟踪误差信号，RF信号或跳动叠加，噪声的影响也能被减弱。
再有，对于使用跳动检索最佳聚焦偏置位置的场合，可以应用图3或图9中说明的处理或图11中说明的处理。对于最佳聚焦偏置位置由图3或图9所示的处理进行检索的场合，再现设备按图14所示的方式来构造。具体说，在此情况下。需要最佳聚焦偏置位置存储电路33。相反，对于应用图11所示的处理的场合，如在图20中所见那样，不必设置最佳聚焦偏置位置存储电路33。
虽然在以上实施例中，作为例子将本发明的一种记录和/或再现设备应用到一种光盘再现设备上，本发明也可应用于将信息记录到一个光盘上。
现在已经充分描述了本发明，本专业普通技术人员能够明白，能对此做许多变化和更改而不脱离本发明阐明的精神和范围。

Claims (21)

1、一种用于光记录介质的记录和/或再现设备，包括：
一光学装置，用于记录信息到记录介质和/或由记录介质再现信息；
一聚焦控制装置，用于响应聚焦误差信号控制所述光学装置的聚焦状态；
一产生装置，用于根据由所述光学装置再现的信号产生所述光学装置的聚焦偏置信号；以及
一相加装置，用于将该聚焦偏置信号加到该聚焦误差信号。
2、按权利要求1的一种记录和/或再现设备，其中所述产生装置包括一检索装置，用于根据由所述光学装置再现的信号检索一最佳聚焦偏置位置。
3、按权利要求2的一种记录和/或再现设备，其中所述检索装置还包括一检测装置，用于根据由所述光学装置再现的信号检测聚焦偏置量，以及一识别装置，用于根据所述检测装置的检测输出识别最佳聚焦偏置位置。
4、按权利要求3的一种记录和/或再现设备，其中所述检测装置根据一跟踪误差信号检测聚焦偏置量。
5、按权利要求3的一种记录和/或再现设备，其中所述检测装置根据一再现RF信号检测聚焦偏置量。
6、按权利要求3的一种记录和/或再现设备，其中所述检测装置根据一跳动信号检测聚焦偏置量。
7、按权利要求2的一种记录和/或再现设备，其中所述检索装置包括一存储装置，用于存储对应于最佳聚焦偏置位置的聚焦偏置量。
8、按权利要求2的一种记录和/或再现设备，其中该光学记录介质是一种盘式的记录介质。
9、按权利要求8的一种记录和/或再现设备，其中该光学记录介质具有多个记录层。
10、按权利要求9的一种记录和/或再现设备，其中所述检索装置对每个记录层检索一最佳聚焦偏置位置。
11、按权利要求10的一种记录和/或再现设备，其中所述检索装置包括一存储装置，用于存储相应于每个记录层的最佳聚焦偏置位置的聚焦偏置量。
12、一种用于光记录介质的记录和/或再现方法，包括如下步骤：
用光学装置记录信息到记录介质和/或从该记录介质再现信息；
产生一聚焦误差信号；
根据由所述光学装置再现的一信号产生所述光学装置的一聚焦偏置信号；
将该聚焦偏置信号加到聚焦误差信号；以及根据附加了聚焦偏置信号的聚焦误差信号控制所述光学装置的聚焦状态。
13、按权利要求12的一种记录和/或再现方法，其中产生一聚焦偏置信号的步骤包括根据由所述光学装置再现的信号检索一最佳聚焦偏置位置的步骤。
14、按权利要求13的一种记录和/或再现方法，其中检索步骤包括根据由所述光学装置再现的信号检测一聚焦偏置量的步骤，以及根据该检测的输出识别最佳聚焦偏置位置的步骤。
15、按权利要求14的一种记录和/或再现方法，其中检测一聚焦偏置量的步骤包括根据一跟踪误差信号检测一聚焦偏置量的步骤。
16、按权利要求14的一种记录和/或再现方法，其中检测一聚焦偏置量的步骤包括根据一再现RF信号检测聚焦偏置量的步骤。
17、按权利要求14的一种记录和/或再现方法，其中检测一聚焦偏置量的步骤包括根据一跳动信号检测聚焦偏置量的步骤。
18、按权利要求13的一种记录和/或再现方法，其中检索步骤包括存储相应于最佳聚焦偏置位置的聚焦偏置量的步骤。
19、按权利要求13的一种记录和/或再现方法，其中记录介质具有多个记录层，以及检索步骤包括检索多个记录层每一层的一最佳聚焦偏置位置的步骤。
20、按权利要求19的一种记录和/或再现方法，其中检索步骤包括存储相应于多个记录层每层的最佳聚焦偏置位置的聚焦偏置量的步骤。
21、按权利要求20的一种记录和/或再现方法，其中检索步骤包括在启动时存储相应于多个记录层每层的最佳聚焦偏置位置的聚焦偏置量的步骤。
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