CN1605097A - 光学记录介质以及用于该记录介质的记录装置和记录方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及光学记录介质以及用于该记录介质的记录装置和记录方法，其中在光盘(1)的程序区的内、外圆周侧上分别设置PCA(功率校准区)、用于调节激光束记录功率的试写区，以便能在光盘(1)的内或外圆周记录位置上用最佳记录功率记录数据。当在光盘(1)的程序区中记录数据时，选择更靠近数据记录位置的一个PCA，在其中执行试写，并且基于试写数据而设定激光束写功率，从而能以最佳激光功率进行数据记录。

Description

光学记录介质以及用于 该记录介质的记录装置和记录方法
技术领域
本发明涉及一种可记录光学记录介质，如光盘等，并涉及适合用激光束在此光学记录介质上记录数据的记录装置和记录方法。
本发明要求对2001年11月29日提交的日本专利申请2001-364937的优先权，其内容在此引作参考。
背景技术
对于可记录数据的光盘，已知的有CD-R、CD-RW、DVD-R、DVD-RW、DVD+R、DVD+RW和/或DVD-RAM等。CD-R、DVD-R和DVD+R是所谓的一次写类型光盘，其中，记录层由有机系统的光反应染料组成，从而只可进行一次记录操作。在此种一次写类型光盘中，激光束照射到有机染料层上，借助激光束的能量而执行有机染料层的热反应，从而记录数据。CD-RW、DVD-RW、DVD+RW和DVD-RAM是相变型光盘，其中，记录层由相变材料组成，从而，可进行多次记录操作。在此种相变型光盘中，预定功率的激光束照射到相变层上，使相变层的晶体结构在晶态和非晶态之间转变，从而记录数据。
在对一次写类型或相变型光盘记录数据的情况下，如果照射(作用)到记录层上的激光束的照射能量太大或太小，所形成记录标记的形状或边缘就发生扭曲，从而，记录数据的再现特性下降。为此，在记录数据时，需要设定激光束的功率为适合进行写操作的值。在输出激光束的激光二极管中，例如波长或记录速度等的输出变化相对于温度变化而言非常大，并且每个光盘的记录层的灵敏特性都各有不同。在此种一次写类型或相变型光盘中，提供用于调节记录功率的试写区。在记录数据时，盘驱动器在试写区中执行一次数据试写操作，以确定能获得充分的数据再现特性的记录功率，随后进行数据记录操作。
在图1中示出在Orange Book 1.0版第二卷第二部分中指出的常规CD-R(CD-可记录)的物理格式。
如图1所示，CD-R形成为具有120mm直径的圆盘形状。在CD-R的信息记录区(信息区)中，从内圆周一侧开始，按顺序形成XAA(扩充ATIP区)、PCA(功率校准区)、PMA(程序存储区)、导入区、程序区和导出区。
在XAA中，记录附加信息，如记录层的染料信息、制作CD-R的盘制作者ID、和/或记录功率的初始值等。
在PCA中，记录用于调节激光束记录功率的试写数据。即，PCA是设定对程序区记录数据时的激光束记录功率的区域。
在PMA中，临时记录在数据一次写操作时需要的地址信息。
在导入区和导出区中，记录有TOC(目录)。
在程序区中记录真实数据。
如上所述，在常规CD-R中，在盘内圆周一侧上设置称作PCA的用于调节激光束记录功率的试写区。
在一次写类型或相变型光盘的可记录光盘中，数据例如通过CLV(恒定线速度)控制系统或区域CLV控制系统进行记录。CLV控制系统是通过恒定线速度把数据记录到盘全部表面上的系统。为此，在CLV控制系统中，如图2所示，盘径向位置上的盘转速(速度)随着移向外圆周一侧而线性变小。区域CLV控制系统是把盘的记录区沿径向划分为多个区域以便在各个区域内以恒定线速度记录或再现数据，从而，在各个区域之间线速度互不相同。在此区域CLV中，外圆周区域中的线速度一般较高。在区域CLV控制系统中，如图3所示，例如，在区域内，在盘径向位置上的盘转速(速度)随着移向外圆周一侧而线性变小。
此时，在数据记录到可记录光盘如CD-R或CD-RW等上的情况下，在盘全部表面上，记录灵敏度应该总是基本恒定的。为此，对于线速度而言，记录功率的最佳值理想地变得恒定，而与径向位置无关。
在通过CLV控制系统记录数据的情况下，如果在盘全部表面上记录灵敏度是恒定的，就可借助通过在PCA中写试写数据而确定的记录功率(Power[PCA])，从最内圆周向最外圆周记录数据，其中，PCA设置在图4所示内圆周一侧上。
在通过区域CLV控制系统记录数据的情况下，如果在盘全部表面上记录灵敏度是恒定的，就可借助通过在PCA中写试写数据而确定的记录功率(Power[PCA])，对图5所示的最内圆周区域(ZONE1)记录数据，其中，PCA设置在内圆周一侧上。对于其它区域，通过用各个区域的修正系数乘以记录功率(Power[PCA])而获得的记录功率来记录数据，其中，记录功率(Power[PCA])通过把试写数据写到设置在内圆周一侧上的PCA中而确定。例如，在存在三个区域(ZONE1、ZONE2、ZONE3)的情况下，当区域2的修正系数假设为WP_Coef_1并且区域3的修正系数假设为WP_Coef_1×WP_Coef_2时，可按下述方式确定各个区域的记录功率。
区域1的记录功率
Power[z1]＝Power[PCA]
区域2的记录功率
Power[z2]＝Power[PCA]×WP_Coef_1
区域3的记录功率
Power[z3]＝Power[PCA]×WP_Coef_1×WP_Coef_2
如上所述，在诸如CD-R或CD-RW等的可记录光盘中，如果获得在盘全部表面上记录灵敏度都是恒定的理想状态，数据就可基于以下记录功率进行记录，而与盘的径向位置(记录数据的地址位置)无关，其中，所述记录功率通过在设置于内圆周一侧上的PCA中写试写数据而确定。
实际上，由于下述因素，在盘径向位置(地址)上的记录灵敏度不是恒定的。为此，记录功率的最佳值因盘的径向位置(地址)而改变。
1)驱动器或光盘的机械特性，如歪斜、平面偏差或象差
2)聚碳酸酯的温度/湿度变化和/或老化
3)在自旋涂敷时有机染料的涂敷不均匀、或在淀积时相变材料的溅射不均匀
4)在盘模制时基础(基片)的收缩或膨胀
5)在集成型CD/DVD公共头中发生的相对倾角，在CD/DVD公共头中安装用于CD和DVD的两种激光二极管
6)激光的振荡波长变化
7)驱动器调节不均匀或连接误差
在这，5)中的相对倾角指DVD/CD公共光头中DVD光轴和CD光轴之间的相对角，所述光头称为组件头。使该组件头配置为：对于一个物镜包括DVD激光二极管和CD激光二极管的两个激光二极管。在此DVD/CD共用的组件头中，理想地说，光学系统设计为：从物镜照射到盘上的CD激光束的光轴和从物镜照射到盘上的DVD激光束的光轴与盘正交。即，设计为：在CD激光束的光轴和DVD激光束的光轴互相一致的状态下，激光束从物镜照射到盘上。然而，实际上，当CD激光束和DVD激光束通过物镜时，受光学部件个体差异和/或CD激光束和DVD激光束光轴的调节不均匀等的影响，CD激光束的光轴和DVD激光束的光轴具有相对角。此角称作相对倾角。在此相对倾角较大的情况下，光束不以CD、DVD激光束光轴中任一个或两个光轴与盘正交的方式照射。结果，在激光点处发生帧象差等。为此，激光束的记录功率对于盘全部表面不会变成是恒定的，从而，在盘的每个径向位置(地址)上激光功率发生改变。
在激光束记录功率的最佳值按上述方式根据盘的径向位置而改变的情况下，即使借助通过在内圆周一侧PCA中写试写数据而确定的记录功率把数据记录到盘全部表面上，在远离PCA的记录位置上，即在外圆周一侧的记录位置上，记录数据的再现特性会降低。例如，在CLV控制系统的情况下，随着位置接近外圆周一侧，上述各个因素有较大的影响。结果，通过在内圆周一侧PCA中写试写数据而确定的记录功率与各个实际记录位置上的最佳记录功率之间的差异变大。在区域CLV控制系统的情况下，由于记录速度在每个区域中变高，内圆周一侧上的记录功率最佳值与外圆周一侧上的记录功率之间的差异由许多区域累积起来。结果，记录数据的再现特性进一步下降。
具体地，近年来，正在实现高数据写速度。在尝试实现此高速写操作的情况下，在常规低写速度下不引起问题的此记录灵敏度误差也变大得影响数据的记录特性。结果，当只用设置于内圆周一侧上的一个PCA计算记录功率时，有可能不能准确地对盘全部表面进行记录。
发明内容
本发明的目的是提供一种新型光学记录介质、以及针对此光学记录介质的记录装置和记录方法，所述介质、装置和方法可在光学记录介质的全部表面上使数据记录实现满意的记录特性。
本发明的另一目的是提供一种光学记录介质、以及针对此光学记录介质的记录装置和记录方法，所述介质、装置和方法甚至可在内和外圆周记录位置上用最佳记录功率来记录数据。
为获得上述目的而提出的光学记录介质至少包括被照射激光束而写数据的数据记录区以及多个试写区，在试写区中写用于调节激光束写功率的试写数据。
根据本发明的记录装置包括：用于把激光束照射到光学记录介质上以便写入数据的记录部件，其中，光学记录介质至少包括被照射激光束而写数据的数据记录区以及多个试写区，在试写区中写用于调节激光束写功率的试写数据；以及控制部件，在向光学记录介质的数据记录区中写数据时，控制部件按以下方式控制记录部件，所述方式为在多个试写区中的最靠近数据记录区中数据写位置的试写区中写试写数据。
根据本发明的另一记录装置包括：用于把激光束照射到光学记录介质上以便写入数据的记录部件，其中，光学记录介质至少包括被照射激光束而记录数据的数据记录区以及多个试写区，在试写区中写用于调节激光束写功率的试写数据；以及控制部件，在向光学记录介质的数据记录区中写数据时，控制部件按以下方式控制记录部件，所述方式为在多个试写区中的最靠近数据写位置的试写区中写试写数据。
根据本发明的又一记录装置包括：用于把激光束照射到光学记录介质上的记录部件，其中，光学记录介质至少包括被照射激光束而写数据的数据记录区以及多个试写区，在试写区中写用于调节激光束写功率的试写数据；以及控制部件，在向光学记录介质的数据记录区中写数据时，控制部件按以下方式控制记录部件，所述方式为在多个试写区的至少两个或更多个试写区中写试写数据。
根据本发明的还一记录装置包括：用于照射激光束以在光学记录介质上记录数据的记录部件；以及用于控制记录部件的控制部件，其中，在对光学记录介质记录数据时，随着移向光学记录介质的外圆周，在使用于调节激光束记录功率的试写速度较高的状态下，执行试写操作，其中，光学记录介质包括被照射激光束而写数据的数据记录区以及多个试写区，在试写区中写用于调节激光束写功率的试写数据。
根据本发明的记录方法致力于一种照射激光束而向光学记录介质上记录数据的数据记录方法，其中，在对光学记录介质记录数据时，在最靠近数据记录位置的试写区内执行用于调节激光束记录功率的试写操作，其中，光学记录介质包括被照射激光束而写数据的数据记录区以及多个试写区，在试写区中写用于调节激光束写功率的试写数据。
根据本发明的另一记录方法致力于一种照射激光束而向光学记录介质上记录数据的数据记录方法，其中，在对光学记录介质记录数据时，在两个或更多个试写区内执行用于调节激光束记录功率的试写操作，其中，光学记录介质包括被照射激光束而写数据的数据记录区以及多个试写区，在试写区中写用于调节激光束写功率的试写数据。
根据本发明的又一记录方法致力于一种照射激光束而向光学记录介质上记录数据的数据记录方法，其中，在对光学记录介质记录数据时，在随着移向光学记录介质的外圆周而使用于调节激光束记录功率的试写速度较高的状态下，执行试写操作，其中，光学记录介质包括被照射激光束而写数据的数据记录区以及多个试写区，在试写区中写用于调节激光束写功率的试写数据。
从以下结合附图给出的实施例描述中，本发明更进一步的目的以及本发明所获得的实用优点将变得更清楚。
附图说明
图1为示出常规CD-R的物理格式的视图。
图2为示出在CLV控制系统的情况下转速与盘径向位置之间关系的视图。
图3为示出在区域CLV控制系统的情况下转速与盘径向位置之间关系的视图。
图4为示出在CLV控制系统的情况下激光束记录功率与盘径向位置之间关系的视图。
图5为示出在区域CLV控制系统的情况下激光束记录功率与盘径向位置之间关系的视图。
图6为示出应用本发明的光盘的物理格式的视图。
图7为示出光盘的XAA的格式的视图。
图8为示出光盘的内圆周一侧PCA和PMA的格式的视图。
图9为示出光盘的外圆周一侧PCA的格式的视图。
图10为示出用于本发明光盘的记录/再现装置的框图。
图11为示出记录/再现装置的第一功率校准处理实例的流程图。
图12为示出记录/再现装置的第二功率校准处理实例的流程图。
图13为示出在通过第二功率校准处理执行计算的CLV控制系统的情况下的记录功率修正函数的视图。
图14为示出在通过第三功率校准处理执行计算的区域CLV控制系统的情况下的记录功率修正函数的视图。
图15为示出记录/再现装置的第三功率校准处理实例的流程图。
图16为示出记录/再现装置的第四功率校准处理实例的流程图。
具体实施方式
现在结合本发明应用到进行一次写记录的光盘和适于对此光盘执行数据记录/再现的光盘记录/再现装置中的实例进行解释。
<光盘格式>
应用本发明的光盘致力于对Orange Book 3.1版第1.1卷第二部分和Orange Book 1.0版第1.2卷第二部分中所示常规CD-R(CD-可记录)进行改进的光盘。
应用本发明的光盘是厚度1.2mm和直径120mm的圆盘形光学记录介质。以螺旋形式形成记录轨道，并且其记录方向是从内圆周一侧向着外圆周一侧的方向。记录容量最大有680M字节。应用本发明的光盘包括四层：如聚碳酸酯基础(基片)、有机染料层、反射层和外涂层。在此光盘中，预定功率的激光束照射到有机染料层上，从而，使染料经历热反应。结果，反射系数改变。因而记录数据。在光盘中，称作预刻槽的激光点引导槽设置在聚碳酸酯基础上，从而形成记录轨道。记录轨道根据具有预定频率的正弦(正弦)波在径向方向上弯曲。此弯曲称作摆动。在摆动分量中，对称作ATIP(预刻槽中绝对时间)的地址信息进行调制。上述内容与Orange Book 3.1版第1.1卷第二部分和Orange Book 1.0版第1.2卷第二部分中所示常规CD-R(CD-可记录)相同。
在图6中示出应用本发明的光盘1的物理格式。
在光盘1上，事先通过预刻槽形成记录轨道。形成记录轨道的区域称作信息区。
如图6所示，在信息区中，从内圆周一侧开始，按顺序设置XAA(扩充ATIP区)、PCA1(功率校准区1，以下在必要时称作内圆周侧PCA)、PMA(程序存储区)、导入区、程序区、附加容量&导出区、以及PCA2(功率校准区2，以下在必要时称作外圆周侧PCA)。
在XAA中记录附加信息，如记录层的染料信息、制作CD-R的盘制作者ID、以及记录功率的初始值等。
在内圆周侧PCA和外圆周侧PCA上，记录用于调节激光束记录功率的试写数据。即，PCA是设定对程序区记录数据时的激光束记录功率的区域。
在PMA中临时记录在数据一次写操作时需要的地址信息。
在导入区中记录TOC(目录)。
在程序区中记录真实数据。
附加容量&导出区包括附加容量区和导出区。在附加容量区中记录附加信息。在导出区中记录TOC。
信息区的外圆周一侧边界导致直径最大118mm的位置。内圆周侧PCA的内圆周一侧边界导致直径45mm(误差范围+0.3mm至-0.3mm)的位置。导入区的内圆周一侧边界导致直径46mm(误差范围+0.2mm至-0.2mm)的位置。导入区的外圆周一侧边界导致直径50mm(误差范围+0.0mm至-0.4mm)的位置。程序区的内圆周一侧边界导致直径50mm(误差范围+0.0mm至-0.4mm)的位置。即，该边界导致导入区的外圆周一侧的边界位置。程序区的外圆周一侧边界导致直径最大116mm的位置。附加容量&导出区的内圆周一侧边界导致直径最大116mm的位置。即，该边界与程序区的外圆周一侧的边界位置一致。
对信息区的记录轨道实施摆动，从而包含ATIP。在ATIP中，包括用时间信息表示盘径向位置的地址信息。在此地址信息中，在起点时间(00:00:00)上设定程序区的起始位置，并用起点时间作为基准来规定各个轨道的时间，其中，该起始位置是程序区的内圆周一侧的边界位置。在ATIP内，包括指示导入区开始时间(TSL1)的信息和指示附加容量&导出区的开始时间(TSAL)的信息，作为附加信息。
在图7中示出XAA的格式。
XAA由XIA(扩充信息区)和缓冲区形成。在XIA中记录有附加信息，如记录层的染料信息、制作CD-R的盘制作者ID、和/或记录功率的初始值等。XIA的开始时间为TSL1-01:00:00。XIA的结束时间(缓冲区的开始时间)为TSL1-00:37:00。缓冲区的结束时间为TSL1-00:35:65。
在图8中示出内圆周侧PCA和PMA的格式。
内圆周侧PCA(PCA1)由内圆周侧测试区(测试区1)和内圆周侧计数区(计数区1)形成。内圆周侧测试区是写试写数据的区域。内圆周侧计数区是用于识别内圆周侧测试区内的试写分区的区域。内圆周侧测试区和内圆周侧计数区分别划分为100个分区。在内圆周侧测试区中，基于分区执行试写操作。另外，在内圆周侧计数区中，对与试写分区相应的分区写EFM数据。内圆周侧测试区的开始时间为TSL1-00:35:65。内圆周侧测试区的结束时间(计数区的开始时间)为TSL1-00:15:05。内圆周侧计数区的结束时间为TSL1-00:13:25。
PMA由记录在数据一次写操作时所需地址信息的区域和空白区形成。PMA的开始时间为TSL1-00:13:25。空白区的开始时间为TSL1-00:12:50。
在图9中示出外圆周侧PCA部分的格式。
外圆周侧PCA(PCA2)由外圆周侧测试区(测试区2)和外圆周侧计数区(计数区2)形成。外圆周侧测试区是写试写数据的区域。外圆周侧计数区是用于识别外圆周侧测试区内的试写分区的区域。外圆周侧测试区和外圆周侧计数区分别划分为100个分区。在外圆周侧测试区中，基于分区执行试写操作。在外圆周侧计数区中，对与试写分区相应的分区写EFM数据。外圆周侧测试区的开始时间为TSAL+ADC。在此情况下，ADC是与记录在附加容量区中的附加信息容量相对应的时间。外圆周侧测试区的结束时间(计数区的开始时间)为TSAL+ADC+00:20:60。外圆周侧计数区的结束时间为TSAL+ADC+00:22:40。
如上所述，在根据本发明的光盘1中，设置未在常规CD-R中形成的外圆周侧PCA。即，在根据本发明的光盘1中，在内圆周侧和外圆周侧之间布置程序区的状态下，在内、外圆周两侧上设置用于调节激光功率的试写区。
在根据本发明的光盘1中，由于以此方式在内圆周侧和外圆周侧的两侧上设置PCA，因此，在记录数据时选择一个靠近数据记录位置的PCA，因而有可能执行试写操作。为此，在根据本发明的光盘1中，即使在数据记录于程序区的外圆周一侧上的情况下，也有可能在外圆周侧PCA上写试写数据，以计算记录功率。相应地，实际数据的记录位置和将要写试写数据的位置之间的距离变短，因而有可能减小在PCA所确定记录功率和数据写位置上最佳记录功率之间的误差。进而，如果选择一个靠近数据记录位置的PCA以执行试写操作，可减小数据记录位置和PCA之间的距离。为此，可缩短试写操作中的寻找时间。
在根据本发明的光盘1中，由于PCA以此方式设置在内圆周侧和外圆周侧的两侧上，因此，在读取数据时，变得有可能对内圆周侧和外圆周侧的两个PCA执行试写操作。为此，基于预定的函数，通过插值，有可能从已经从内圆周侧和外圆周侧的两侧PCA确定的记录功率来确定光盘每个径向位置(地址)的记录功率。相应地，即使径向位置(地址)上的记录灵敏度因诸如歪斜或平面偏差的机械特性、或有机染料的涂敷不均匀等而改变的情况下，可在数据写位置上以最接近最佳记录功率的记录功率记录数据。
除了用于外圆周侧PCA和附加容量的区域之外，根据本发明的光盘1具有与Orange Book 3.1版第1.1卷第二部分和Orange Book1.0版第1.2卷第二部分中所示常规CD-R(CD-可记录)相同的配置。相应地，变得有可能用常规CD-R驱动器在光盘1上记录数据。应该指出，在通过用常规CD-R驱动器把数据记录到光盘1上的情况下，只在内圆周侧PCA中执行试写操作。
在根据本发明的光盘1中，在ATIP中包括用于在Orange Book3.1版第1.1卷第二部分和Orange Book 1.0版第1.2卷第二部分中所示常规CD-R与本光盘之间执行识别的识别信息。实际上，在ATIP内的“附加信息1”的H1-H4(最高测试速度)中记录该识别信息。例如，记录以下识别信息，其中，从H1到H4的位是“0111”、“1000”、“1001”、“1010”和“1011”的情况下，相应的光盘是其中存在外圆周侧PCA的光盘1，并且在这些位是除以上之外的位的情况下，相应的光盘是其中不存在外圆周侧PCA的光盘1。当采用此途径以此方式在ATIP中记录识别信息时，即使在驱动器(单元)中装入未设置外圆周侧PCA的常规CD-R的情况下，也有可能防止在与外圆周侧PCA相应的位置上错误地执行试写操作。
应指出，虽然以上用对光盘应用本发明的实例进行解释，其中，内圆周侧PCA和外圆周侧PCA的两个试写区形成为本发明的应用实例，但是，在根据本发明的光盘中不仅可形成两个这样的试写区而且可形成三个或更多个试写区。试写区可插入到将要记录数据的程序区中，而不局限于内圆周侧或外圆周侧。
虽然用一次写类型光盘实例作为应用本发明的光盘进行解释，但本发明也可应用到任何形成试写区的光盘中，如相变盘，其中，试写区用于调节记录功率。例如，可在CD-RW中设置外圆周侧PCA。
本发明也可应用到形成两个或更多个记录层的光盘。在此情况下，对各个层形成至少两个或更多个试写区就足矣。另外，介质的种类不局限于容量680MB的CD类型介质，也可应用于DVD或GB单元的光卡等。
<光盘记录/再现装置>
接着，解释适合在应用本发明的光盘上记录数据的光盘记录/再现装置。
如图10所示，光盘记录/再现装置10包括光头11、矩阵放大器12、RF信号处理电路13、CD编码/解码电路14、记录补偿电路15、ATIP解调电路16、伺服电路17、主轴电机18、旋转控制电路19和系统控制器20。
光头11包括：用作光源的激光二极管31；用于把从激光二极管31发射的激光束引导到物镜的光学系统32；用于检测从光盘反射的返回激光束的光电检测器33；以及双轴执行器34等，其中，双轴执行器34包括用于把激光束聚敛到光盘上以照射它们的物镜。光头11通过光学系统32和物镜把从激光二极管31发射的激光束照射到光盘的记录轨道上，以便用光电检测器33检测照射激光束从光盘反射的返回光。光头11的双轴执行器34允许物镜经历位移驱动，从而，由物镜聚敛并照射到光盘上的激光束相对光盘的信号记录表面处于聚焦状态，并定位在光盘的记录轨道上。此光头11通过滑橇机构而支撑在装置壳体内。滑橇机构例如使用导轨而具有使光头11在光盘径向上移动的能力，其中，导轨使盘的径向为移动方向。
矩阵放大器12把光电检测器33的检测信号转变为电压值，以产生再现(RF)信号、聚焦误差(FE)信号、跟踪误差(TE)信号和摆动信号。RF信号是其中包括记录在光盘上的信息的信号。FE信号是包括聚焦误差数量信息的信号，该信息表示激光束的聚焦位置在盘垂直方向上相对于光盘记录层的偏差。TE信号是其中包括跟踪误差数量信息的信号，该信息表示激光点的照射位置在盘径向上相对于光盘记录轨道中心的偏差。摆动信号是其中包括地址信息等的信号，所述地址信息包含在预刻槽的弯曲分量中。从预刻槽两侧边缘返射光的差异信号来检测此摆动信号。
RF信号从此矩阵放大器12传送到RF信号处理电路13，并且FE信号和TE信号传送到伺服电路17，并且摆动信号传送到ATIP解调电路16。
在再现时，RF信号处理电路13对RF信号执行波形均衡处理、二进制化处理和EFM解调处理等，以再现记录在光盘上的数据。再现数据传送到CD编码/解码电路14。另外，在记录时，RF信号处理电路13对从CD编码/解码电路14传送的记录数据执行EFM调制处理等，把因此处理的记录数据传送到记录补偿电路15。
在再现时，CD编码/解码电路14用增加到再现数据上的奇偶校验码(8，C2)执行纠错处理。纠错数据通过接口(未示出)等发送到外部。另外，在记录时，从外部通过接口(未示出)等向CD编码/解码电路14提供记录数据，以便在记录数据上增加奇偶校验码(8，C2)，并把该数据传送到RF信号处理电路13。
在进行功率控制以在光盘中写记录数据的同时，从RF信号处理电路13向记录补偿电路15提供记录数据，以根据此记录数据来驱动激光二极管31。
从矩阵放大器12向ATIP解调电路16提供摆动信号，以提取包含在摆动信号调制分量中的ATIP。ATIP解调电路16把此ATIP传送到系统控制器20。
伺服电路17基于从矩阵放大器12传送的FE信号和TE信号而驱动光头11的双轴执行器34进行控制，以使照射到光盘上的激光束处于精确聚焦状态和精确跟踪状态。即，伺服电路17移动物镜，使激光束的聚焦位置与光盘的记录层一致。伺服电路17移动物镜，使TE信号等于零以进行控制，从而，照射到光盘上的激光点与记录轨道的中心一致。伺服电路17根据系统控制器20的滑橇控制信号而驱动滑橇机构，以使光头11在盘径向上运动。
主轴电机18旋转地驱动例如由转盘或卡盘机构保持的光盘。
旋转控制电路19用于根据系统控制器20的控制而对主轴电机18执行驱动控制。
系统控制器20对整个系统执行控制，如：控制记录/再现的开始或停止；控制各个伺服电路的开始和停止；和/或到目标记录轨道上的跟踪跳跃控制；等等。系统控制器20执行向和从主计算机等传送/接收控制数据，以便如上所述地基于此控制数据而执行对整个系统的控制。
另外，在数据记录时，系统控制器20执行功率校准(PCAL)控制，其中，功率校准(PCAL)用于调节激光二极管31的记录功率。此功率校准按下述方式进行。
首先，系统控制器20设定记录速度和与该记录速度相应的激光束功率初始值。记录速度是用于记录数据的线速度(速度)。在CLV记录的情况下，此线速度(速度)可设定为普通记录速度的倍数，如8倍速、16倍速或24倍速。在CLV记录的情况下，此线速度(速度)可设定为除倍数如7.3倍速、14.5倍速或31.9倍速之外的其它记录速度。其次，系统控制器20以已经设定的线速度(速度)和初始功率而对光盘1的试写区(内圆周侧PCA或外圆周侧PCA)写试写数据。其次，系统控制器20读出该试写数据，以检测表示记录和/或再现特性的参数，如该再现二极管的错误率、抖动数量和/或信号振幅等。其次，判断表示记录和/或再现特性的参数，以判断激光束功率是否为适合执行记录操作的功率。如果相应的功率为适合记录的功率，此时激光束的功率就设定为记录功率。而且，如果相应功率为不适合记录的功率，就改变激光束的功率而重复执行上述处理，直到可获得适合记录的功率为止。
如上所述，系统控制器20通过使用内圆周侧PCA或外圆周侧PCA而执行功率校准控制，以确定数据记录时的激光束功率。
<记录功率的设定处理>
接着，用流程图来解释利用内圆周侧PCA和外圆周侧PCA的记录功率实用设定方法。
(第一设定方法)
首先，结合图11的流程图来解释第一设定方法。
当装入光盘(步骤S11)时，系统控制器20识别所装入的盘(步骤S12)。系统控制器20基于已经执行的盘识别的结果而判断装入的盘是可记录盘或只再现(重放)盘(步骤S13)。可记录盘例如为可进行数据一次写操作的CD-RW或CD-R盘等。在系统控制器20判断装入的盘是只再现盘时，它结束记录功率的设定处理。在系统控制器20判断装入的盘是可记录盘的情况下，它从主计算机接收记录命令等(步骤S14)。
随后，系统控制器20接收PCAL的设定条件，如记录速度(记录双倍速度)和/或记录系统(TAO：轨道一次记录；DAO：整盘一次记录，数据包写)等(步骤S15)。
随后，系统控制器20参照ATIP的“附加信息1”的H1-H4来判断在装入的光盘中是否存在外圆周侧PCA(步骤S16)。在判断外圆周侧PCA存在的情况下，系统控制器20的处理前进到步骤S17。在判断外圆周侧PCA不存在的情况下，系统控制器20的处理前进到步骤S19。
随后，在判断外圆周侧PCA存在的情况下，系统控制器20判断记录开始地址靠近外圆周侧PCA或靠近内圆周侧PCA(步骤S17)。
随后，在判断记录开始地址靠近外圆周侧PCA的情况下，系统控制器20在外圆周侧PCA上执行PCAL，以计算记录功率(步骤S18)。
随后，在判断记录开始地址靠近内圆周侧PCA或判断外圆周侧PCA不存在的情况下，系统控制器20在内圆周侧PCA上执行PCAL，以计算记录功率(步骤S19)。
系统控制器20设定激光束记录功率为在内圆周侧或外圆周侧上计算的记录功率，以开始数据记录操作(步骤S20)。
如上所述，在第一设定方法中，从内圆周侧PCA和外圆周侧PCA两个PCA中选择靠近记录开始地址的一个PCA，以执行试写操作。为此，在第一设定方法中，即使在数据记录在程序区外圆周一侧上的情况下，也在外圆周侧PCA上写试写数据，以具有计算记录功率的能力。相应地，实际数据记录位置和写试写数据的位置之间的距离缩短。因而，PCA确定的记录功率和写位置上的最佳记录功率之间的误差可减小。进而，如果选择靠近数据记录位置的一个PCA以执行试写操作，数据记录位置和PCA之间的距离就可缩短。为此，可缩短试写操作中的寻找时间。
(第二设定方法)
接着，结合图12的流程图来解释该设定方法。
当装入光盘(步骤S21)时，系统控制器20识别所装入的盘(步骤S22)。系统控制器20基于已经执行的盘识别的结果而判断装入的盘是可记录盘或只再现盘(步骤S23)。可记录盘例如为可进行数据一次写操作的CD-RW或CD-R盘等。在系统控制器20判断装入的盘是只再现盘时，它结束记录功率的设定处理。在系统控制器20判断装入的盘是可记录盘的情况下，它从主计算机接收记录命令等(步骤S24)。
随后，系统控制器20接收PCAL的设定条件，如记录速度(记录双倍速度)和/或记录系统(TAO：轨道一次记录；DAO：整盘一次记录，数据包写)等(步骤S25)。
随后，系统控制器20参照ATIP的“附加信息1”的H1-H4来判断在装入的光盘中是否存在外圆周侧PCA(步骤S26)。在判断外圆周侧PCA存在的情况下，系统控制器20的处理前进到步骤S29。在判断外圆周侧PCA不存在的情况下，系统控制器20的处理前进到步骤S27。
随后，在判断外圆周侧PCA不存在的情况下，系统控制器20在内圆周侧PCA上执行PCAL以计算记录功率(步骤S27)，把激光束记录功率设定为在内圆周侧PCA上计算的记录功率，以开始数据记录操作(步骤S28)。
另一方面，在判断外圆周侧PCA存在的情况下，系统控制器20在内圆周侧PCA执行PCAL以计算记录功率(步骤S29)，随后在外圆周侧PCA上执行PCAL以计算记录功率(步骤S30)。应指出，步骤S29和步骤S30的处理顺序可以是从靠近数据记录位置的PCA执行PCAL的顺序。
随后，系统控制器20基于在内圆周侧PCA确定的记录功率和在外圆周侧PCA确定的记录功率而计算表示盘径向位置(地址)上记录功率的记录功率修正函数(步骤S31)。
系统控制器20在根据盘径向位置而改变记录功率的同时，基于记录功率修正函数而记录数据(步骤S32)。
在这，解释在步骤S31中计算的记录功率修正函数计算方法。
在内圆周侧记录速度(速度)和外圆周侧记录速度(速度)相同的CLV控制系统的情况下，按下述方式计算记录功率修正函数f(x)。
通过以记录速度(速度)v在内圆周侧PCA写试写数据而确定的记录功率假设为Power[inner_pca，v]，并且，通过以记录速度(速度)v在外圆周侧PCA写试写数据而确定的记录功率假设为Power[outer_pca，v]
首先，Power[inner_pca，v]和Power[outer_pca，v]互相比较。
在比较结果是Power[inner_pca，v]Power[outer_pca，v]的情况下，产生记录功率修正函数f(x)，其中，记录功率相对于盘径向位置(x)是常数，为(Power[inner_pca，v]+Power[outer_pca，v])/2。
即，在Power[inner_pca，v]Power[outer_pca，v]的情况下，判断在内圆周和外圆周之间没有记录灵敏度差异。例如，如图13中A所示，通过在内圆周侧PCA确定的记录功率和在外圆周侧PCA确定的记录功率的平均值而对盘全部表面执行数据记录。
在比较结果是|Power[inner_pca，v]|＜＜|Power[outer_pca，v]|或|Power[inner_pca，v]|＞＞|Power[outer_pca，v]|的情况下，从盘的外圆周侧到内圆周侧的记录功率，基于内圆周侧PCA和外圆周侧PCA的径向位置关系以及Power[inner_pca，v]和Power[outer_pca，v]，用预定的函数如线性或二次曲线等进行插值，而确定记录功率修正函数f(x)。
即在Power[inner_pca，v]Power[outer_pca，v]的情况下，判断在内圆周和外圆周之间有记录灵敏度差异，在根据例如基于图13中B所示二次函数产生的记录功率修正函数f(x)而改变记录功率的同时，记录数据。
在内圆周侧记录速度(速度)和外圆周侧记录速度(速度)互不相同的区域CLV控制系统的情况下，按下述方式计算记录功率修正函数f(x)。
在这，盘内的区域划分为三个区域(ZONE1，ZONE2，ZONE3)，并且，以各个区域的记录速度(速度)为v1，v2，v3(v1＜v2＜v3)的情况作为实例进行解释。另外，在记录灵敏度恒定并与盘径向位置(x)无关的理想状态下，记录速度v2时的记录功率(Power[x，v2])和记录速度v3时的记录功率(Power[x，v3])相对于记录速度v1时的记录功率(Power[x，v1])之间的关系假设为下述关系。
Power[x，v2]＝WP_Coef_1×Power[x，v1]
Power[x，v3]＝WP_Coef_2×Power[x，v2]
          ＝WP_Coef_2×WP_Coef_1×Power[x，v1]
首先，考虑到记录速度(速度)v1和记录速度(速度)v3之间的修正系数(WP_Coef_2×WP_Coef_1)，通过以记录速度(速度)v1对内圆周侧PCA写试写数据而确定的记录功率Power[inner_pca，v1]和通过以记录速度(速度)v3对外圆周侧PCA写试写数据而确定的记录功率Power[outer_pca，v3]互相比较。
在WP_Coef_1×WP_Coef_2Power[inner_pca，v1]/Power[outer_pca，v3]的情况下，按下述方式计算速度(速度)v1时的最佳记录功率。
Power[x，v1]＝{(Power[outer_pca，v3]/(WP_Coef_2×WP_Coef_1))+Power[inner_pca，v1]}/2
随后，按下述方式基于Power[x，v1]而确定各个区域的记录功率(Power[z1，v1]，Power[z2，v2]，Power[z3，v3])。
Power[z1，v1]＝Power[x，v1]
Power[z2，v2]＝WP_Coef_1×Power[x，v1]
Power[z3，v3]＝WP_Coef_2×WP_Coef_1×Power[x，v1]
这些记录功率在径向方向上合成，以确定各个区域记录功率恒定的记录功率修正函数f(x)，其中，各个区域的记录功率分别为Power[z1，v1]、Power[z2，v2]、Power[z3，v3]。即，在WP_Coef_1×WP_Coef_2Power[inner_pca，v1]/Power[outer_pca，v3]的情况下，判断在内圆周和外圆周之间没有记录灵敏度差异。例如，如图14中A所示，根据在每个区域中记录功率都为恒定的记录功率修正函数f(x)而记录数据。
在比较结果是WP_Coef_2×WP_Coef_1Power[inner_pca，v1]/Power[outer_pca，v3]的情况下，以恒定记录速度(速度)v1从盘的外圆周侧到内圆周侧执行记录时的记录功率，基于内圆周侧PCA和外圆周侧PCA的径向位置之间的关系以及Power[inner_pca，v1]和(Power[outer_pca，v3]/WP_Coef_1×WP_Coef_2)，用预定的函数如线性或二次曲线等进行插值，以确定记录速度(速度)v1时的记录功率修正函数f′(x)。
随后，按下述方式，从各个区域的记录功率修正函数f′(x)确定在各个区域中的记录功率函数fz1(x)、fz2(x)和fz3(x)。
fz1(x)＝f′(x)
fz2＝WP_Coef_1×f′(x)
fz3＝WP_Coef_2×WP_Coef_1×f′(x)
这些各个函数被合成，以产生各个区域中记录功率为fz1(x)、fz2(x)和fz3(x)的记录功率修正函数f(x)。即，在Power[inner_pca，v]Power[outer_pca，v]的情况下，判断在内圆周和外圆周之间有记录灵敏度差异。因而，在根据例如基于图14中B所示二次函数产生的记录功率修正函数f(x)而改变记录功率的同时，记录数据。
如上所述，在第二设定方法中，对内圆周侧和外圆周侧的两个PCA执行试写操作，从而，通过插值，基于预定的函数而从在内圆周侧和外圆周侧两个PCA中确定的记录功率而确定盘上每个径向位置(地址)的记录功率。相应地，即使在盘径向位置(地址)上的记录灵敏度例如因机械特性如歪斜或平面偏差和/或有机染料涂敷不均匀等而改变的情况下，也能以接近数据写位置上最佳记录功率的记录功率而记录数据。因而，提高记录功率的设定准确度。结果，有可能记录具有更少噪音和良好再现特性的数据。
(第三设定方法)
接着，结合图15的流程图来解释第三设定方法。
当装入光盘(步骤S41)时，系统控制器20识别所装入的盘(步骤S42)。系统控制器20基于已经执行的盘识别的结果而判断装入的盘是可记录盘或只再现盘(步骤S43)。可记录盘例如为可进行数据一次写操作的CD-RW或CD-R盘等。在系统控制器20判断装入的盘是只再现盘时，它结束记录功率的设定处理。在系统控制器20判断装入的盘是可记录盘的情况下，它从主计算机接收记录命令等(步骤S44)。
随后，系统控制器20接收PCAL的设定条件，如记录速度(记录双倍速度)和/或记录系统(TAO：轨道一次记录；DAO：整盘一次记录，数据包写)等(步骤S45)。
随后，系统控制器20参照ATIP的“附加信息1”的H1-H4来判断在装入的光盘中是否存在外圆周侧PCA(步骤S46)。在判断外圆周侧PCA存在的情况下，系统控制器20的处理前进到步骤S49。在判断外圆周侧PCA不存在的情况下，系统控制器20的处理前进到步骤S47。
随后，在判断外圆周侧PCA不存在的情况下，系统控制器20在内圆周侧PCA上执行PCAL以计算记录功率(步骤S47)，把激光束记录功率设定为在内圆周侧PCA上计算的记录功率，以开始数据记录操作(步骤S48)。
另一方面，在判断外圆周侧PCA存在的情况下，系统控制器20在内圆周侧PCA上执行PCAL以计算记录功率(步骤S49)，随后在外圆周侧PCA上执行PCAL以计算记录功率(步骤S50)。应指出，步骤S49和步骤S50的记录顺序可以是从靠近数据记录位置的PCA执行PCAL的顺序。
随后，系统控制器20基于在内圆周侧PCA确定的记录功率和在外圆周侧PCA确定的记录功率而计算表示盘径向位置(地址)上记录功率的记录功率修正函数(步骤S51)。计算记录功率修正函数的方法与第二设定方法相同。
随后，系统控制器20进行操作，从而，在记录功率修正函数设定的记录功率比预定阈值(如激光二极管31所能输出的最大记录功率)更大的情况下，系统控制器20改变从主计算机给出的记录速度设定条件，以允许该设定条件为使速度(速度)较低以便第二次计算记录功率修正函数的条件(步骤S52)。例如，在区域CLV系统中，外圆周侧上的记录速度比内圆周侧上的更高。随后，记录功率也变大。这是因为外圆周侧区域中的记录功率有可能设定为激光二极管的记录功率额定值或更大。
随后，在参照最初从主计算机给出的速度(速度)条件下的记录功率修正函数的同时，系统控制器20开始数据的记录操作(步骤S53)。
随后，当系统控制器20执行记录操作直到记录功率高于预定阈值的位置为止时，它中断数据记录操作(步骤S54)。
随后，系统控制器20把记录速度(速度)和记录功率修正函数改变为在重置条件下的数量(步骤S55)，重新开始记录操作(步骤S56)。
如上所述，在第三设定方法中，对内圆周侧和外圆周侧的两个PCA执行试写操作，从而，通过插值，基于预定的函数而从在内圆周侧和外圆周侧两个PCA中确定的记录功率而确定盘上每个径向位置(地址)的记录功率。另外，在第三设定方法中，在从插值结果确定的记录功率比预定阈值更大的情况下，在记录速度(速度)较低的状态下，在其中记录功率是比预定阈值更大的记录功率的记录位置上记录数据。为此，例如，即使在因记录灵敏度较低而不能实现高速记录的情况下，如在区域CLV系统的情况下，在内圆周侧上记录速度保持额定双倍速度而外圆周侧区域仅为更低记录速度(速度)的状态下，也可进行执行记录操作的处理，但在从内圆周到外圆周记录速度一律较低的状态下，则不执行记录操作。
(第四设定方法)
接着，结合图16的流程图来解释第四设定方法。
当装入光盘(步骤S61)时，系统控制器20识别所装入的盘(步骤S62)。系统控制器20基于已经执行的盘识别的结果而判断装入的盘是可记录盘或只再现盘(步骤S63)。可记录盘例如为可进行数据一次写操作的CD-RW或CD-R盘等。在系统控制器20判断装入的盘是只再现盘时，它结束记录功率的设定处理。在系统控制器20判断装入的盘是可记录盘的情况下，它从主计算机接收记录命令等(步骤S64)。
随后，系统控制器20接收PCAL的设定条件，如记录速度(记录双倍速度)和/或记录系统(TAO：轨道一次记录；DAO：整盘一次记录，数据包写)等(步骤S65)。
随后，系统控制器20参照ATIP的“附加信息1”的H1-H4来判断在装入的光盘中是否存在外圆周侧PCA(步骤S66)。在判断外圆周侧PCA存在的情况下，系统控制器20的处理前进到步骤S68。在判断外圆周侧PCA不存在的情况下，系统控制器20的处理前进到步骤S67。
随后，在判断外圆周侧PCA不存在的情况下，系统控制器20在内圆周侧PCA上执行PCAL以计算记录功率(步骤S67)。
另一方面，在判断外圆周侧PCA存在的情况下，系统控制器20在内圆周侧PCA上执行PCAL以计算记录功率(步骤S68)，随后在外圆周侧PCA上执行PCAL以计算记录功率(步骤S69)。应指出，步骤S68和步骤S69的记录顺序可以是从靠近数据记录位置的PCA执行PCAL的顺序。
随后，当PCAL结束时，系统控制器20判断与记录速度相应的PCAL是否已经结束(步骤S70)。例如，在24倍速区域CLV系统的情况下，一般使用诸如12倍速、16倍速、20倍速或24倍速的记录速度，从而，在盘表面内执行记录。为此，在这，记录到PCA中的试写数据的记录速度也准确地改变为12倍速、16倍速、20倍速或24倍速。为此，在此步骤S70中，判断所有记录速度的PCAL操作是否结束。如果所有记录速度的PCAL已经结束，处理就前进到步骤S72，以开始记录操作。而且，如果所有记录速度的PCAL还未结束，就在步骤S71中改变PCAL的记录速度，以重复从步骤S66开始的处理。
如上所述，在第四设定方法中，对内圆周侧和外圆周侧的两个PCA执行试写操作，从而，通过插值，基于预定的函数而从在内圆周侧和外圆周侧两个PCA中确定的记录功率而确定盘上每个径向位置(地址)的记录功率。另外，在第四设定方法中，例如，在区域CLV系统的情况下，记录到PCA中的试写数据的记录速度设定为执行PCAL的实际记录速度。为此，有可能计算更准确的记录功率。
虽然以上结合第一至第四实施例进行解释，但是，不仅在开始数据记录时执行上述处理，而且在记录过程中处理被中断的状态下也可执行上述处理。
应该指出，虽然本发明根据附图中示出的其优选实施例而进行详细描述，但本领域中技术人员应该理解，本发明不局限于这些实施例，只要不偏离在后附权利要求中提出和定义的本发明范围和精神，就可实施各种变更、替代结构或等效物。
工业应用
在根据本发明的光学记录介质中，在最靠近数据记录位置的试写区中执行用于调节激光束记录功率的试写操作，或者在两个或更多个试写区中执行用于调节激光束记录功率的试写操作。为此，即使在任何记录位置上，数据也可以最佳激光功率进行记录。因而，可提高记录特性。在此光学记录介质中，在最靠近数据记录位置的试写区中执行试写操作，由此有可能缩短在记录开始之前的时间。
在根据本发明的记录装置和记录方法中，在对包括数据记录区和多个试写区的光学记录介质记录数据时，在最靠近数据记录位置的试写区中执行用于调节激光束记录功率的试写操作，其中，激光束照射到数据记录区上而写数据，在试写区中写用于调节激光束记录功率的试写数据。相应地，即使在记录介质的任何记录位置上，数据也可以最佳激光功率进行记录。因而，可提高记录特性并且缩短在记录开始之前的时间。
在根据本发明的记录装置和记录方法中，在对包括数据记录区和多个试写区的光学记录介质记录数据时，在两个或更多个试写区中执行用于调节激光束记录功率的试写操作，其中，激光束照射到数据记录区上而写数据，在试写区中写用于调节激光束记录功率的试写数据。相应地，即使在记录介质的任何记录位置上，数据也可以最佳激光功率进行记录。因而，可提高记录特性。

Claims (41)

1.一种光学记录介质，至少包括：
数据记录区，在该区上照射激光束而写数据；
多个试写区，在该区中写用于调节激光束写功率的试写数据。
2.如权利要求1所述的光学记录介质，
其中，在表示至少数据记录区开始位置的地址之前的地址所指定的位置上，以及在表示数据记录区结束位置的地址之前的地址所指定的位置上分别逐个设置试写区。
3.如权利要求1所述的光学记录介质，
其中，数据记录区和试写区由同心或螺旋记录轨道形成，以及
其中，在数据记录区的内圆周侧和外圆周侧上分别逐个设置试写区。
4.如权利要求1所述的光学记录介质，
其中，记录有用于在以下圆盘形记录介质和所述光学记录介质之间进行判别的标识信息，其中，所述圆盘形记录介质只设置有一个试写区，在试写区中写用于调节激光束写功率的试写数据。
5.如权利要求4所述的光学记录介质，
其中，修改数据记录区和试写区，从而，在平面和槽的至少一个上形成记录轨道，并且，平面和槽的至少一个在根据摆动信号而弯曲的状态下形成，以及
其中，在摆动信号中包括标识信息。
6.一种记录装置，包括：
用于把激光束照射到光学记录介质上以便写入数据的记录部件，其中，光学记录介质至少包括被照射激光束而写数据的数据记录区以及多个试写区，在试写区中写用于调节激光束写功率的试写数据；以及
控制部件，在向数据记录区中写数据时，控制部件按以下方式控制记录部件，所述方式为在多个试写区中的最靠近数据记录区中数据写位置的试写区中写试写数据。
7.如权利要求6所述的记录装置，
其中，控制部件基于已从试写区读出的试写数据而设定记录部件照射到数据记录区中的激光束的写功率。
8.一种记录装置，包括：
用于把激光束照射到光学记录介质上以便写入数据的记录部件，其中，光学记录介质至少包括被照射激光束而写数据的数据记录区以及多个试写区，在试写区中写用于调节激光束写功率的试写数据；以及
控制部件，在向数据记录区中写数据时，控制部件按以下方式控制记录部件，所述方式为在多个试写区的至少两个或更多个试写区中写试写数据。
9.如权利要求8所述的记录装置，
其中，控制部件基于已从至少两个或更多个试写区读出的试写数据而设定记录部件照射到数据记录区中的激光束的写功率。
10.如权利要求9所述的记录装置，
其中，在数据记录区的内圆周侧和外圆周侧上分别逐个设置试写区，以及
其中，控制部件从已经基于从内圆周侧试写区读出的试写数据而设定的激光束写功率和已经基于从外圆周侧试写区读出的试写数据而设定的激光束写功率，计算与数据记录区中数据记录位置相应的激光束写功率，基于计算结果而改变照射到数据记录区中的激光束的写功率。
11.如权利要求10所述的记录装置，
其中，通过从已经基于从内圆周侧试写区读出的试写数据而设定的激光束写功率和已经基于从外圆周侧试写区读出的试写数据而设定的激光束写功率，内插与数据记录区中数据记录位置相应的激光束写功率而确定所述计算结果。
12.如权利要求11所述的记录装置，
其中，控制部件进行操作，从而，在数据记录区中激光束写功率比预定值更大的情况下，控制部件设定用于写数据的速度，以使它低于事先写数据时设定的速度。
13.如权利要求12所述的记录装置，
其中，预定值是输出激光束的激光二极管的额定值。
14.如权利要求8所述的记录装置，
其中，控制部件进行操作，从而，在以至少两个或更多个不同的速度把数据写到数据记录区中时，控制部件以至少两个或更多个不同的速度把试写数据写到试写区中，基于从试写区读出的各个试写数据而设定用于以写试写数据时的速度把数据写到数据记录区中的激光束写功率。
15.如权利要求14所述的记录装置，
其中，控制部件按以下方式控制记录部件，所述方式为在至少两个或更多个试写区中的最靠近数据记录区中数据写位置的试写区中写试写数据。
16.如权利要求8所述的记录装置，
其中，控制部件进行操作，从而，在向数据记录区中写数据时，控制部件设定用于向试写区中写试写数据的速度，从而，随着移向光学记录介质的外圆周，写速度变得更高，以便在至少两个或更多个试写区中写数据。
17.如权利要求16所述的记录装置，
其中，控制部件基于从试写区读出的试写数据而设定照射到数据记录区中的激光束的写功率。
18.如权利要求17所述的记录装置，
其中，在数据记录区的内圆周侧和外圆周侧逐个设置试写区，以及
其中，控制部件从已经基于从内圆周侧试写区读出的试写数据而设定的激光束写功率和已经基于从外圆周侧试写区读出的试写数据而设定的激光束写功率，计算与数据记录区中数据记录位置相应的激光束写功率，基于计算结果而改变照射到数据记录区中的激光束的写功率。
19.如权利要求18所述的记录装置，
其中，通过从已经基于从内圆周侧试写区读出的试写数据而设定的激光束写功率和已经基于从外圆周侧试写区读出的试写数据而设定的激光束写功率，内插与数据记录区中数据记录位置相应的激光束写功率而确定所述计算结果。
20.如权利要求19所述的记录装置，
其中，控制部件进行操作，从而，在数据记录区中激光束写功率比预定值更大的情况下，控制部件设定用于写数据的速度，以使它低于事先写数据时设定的速度。
21.如权利要求20所述的记录装置，
其中，预定值是输出激光束的激光二极管的额定值。
22.如权利要求16所述的记录装置，
其中，控制部件进行操作，从而，当以至少两个或更多个不同的速度把数据写到数据记录区中时，控制部件以至少两个或更多个不同的速度把试写数据写到试写区中，以设定用于以写试写数据时的速度把数据写到数据记录区中的激光束写功率。
23.如权利要求22所述的记录装置，
其中，控制部件控制记录部件，从而在至少两个或更多个试写区中的最靠近数据记录区中数据写位置的试写区中写试写数据。
24.一种记录方法，其中，在向光学记录介质上照射激光束时，在多个试写区中的最靠近数据记录区中数据写位置的试写区中写试写数据，其中，光学记录介质至少包括被照射激光束而写数据的数据记录区以及多个试写区，在试写区中写用于调节激光束写功率的试写数据。
25.如权利要求24所述的记录方法，
其中，基于已从试写区读出的试写数据而设定记录部件照射到数据记录区中的激光束的写功率。
26.一种记录方法，其中，在向光学记录介质上照射激光束时，在多个试写区中的至少两个或更多个试写区中写试写数据，其中，光学记录介质至少包括被照射激光束而写数据的数据记录区以及多个试写区，在试写区中写用于调节激光束写功率的试写数据。
27.如权利要求26所述的记录方法，
其中，基于已从至少两个或更多个试写区读出的试写数据而设定记录部件照射到数据记录区中的激光束的写功率。
28.如权利要求27所述的记录方法，
其中，在数据记录区的内圆周侧和外圆周侧上分别逐个设置试写区，以及
其中，从已经基于从内圆周侧试写区读出的试写数据而设定的激光束写功率和已经基于从外圆周侧试写区读出的试写数据而设定的激光束写功率，计算与数据记录区中数据记录位置相应的激光束写功率，基于计算结果而改变照射到数据记录区中的激光束的写功率。
29.如权利要求28所述的记录方法，
其中，通过从已经基于从内圆周侧试写区读出的试写数据而设定的激光束写功率和已经基于从外圆周侧试写区读出的试写数据而设定的激光束写功率，内插与数据记录区中数据记录位置相应的激光束写功率而确定所述计算结果。
30.如权利要求29所述的记录方法，
其中，在数据记录区中激光束写功率比预定值更大的情况下，设定用于写数据的速度，以使它低于事先写数据时设定的速度。
31.如权利要求30所述的记录方法，
其中，预定值是输出激光束的激光二极管的额定值。
32.如权利要求26所述的记录方法，
其中，控制部件进行操作，从而，在以至少两个或更多个不同的速度把数据写到数据记录区中时，以至少两个或更多个不同的速度把试写数据写到试写区中，基于从试写区读出的各个试写数据而设定用于以写试写数据时的速度把数据写到数据记录区中的激光束写功率。
33.如权利要求32所述的记录方法，
其中，在至少两个或更多个试写区中的最靠近数据记录区中数据写位置的试写区中写试写数据。
34.如权利要求26所述的记录方法，
其中，按以下方式进行设定，随着移向光学记录介质的外圆周，使向试写区中写试写数据的速度较高，以便在至少两个或更多个试写区中写数据。
35.如权利要求34所述的记录方法，
其中，基于从试写区读出试写数据而设定照射到数据记录区中的激光束的写功率。
36.如权利要求35所述的记录方法，
其中，在数据记录区的内圆周侧和外圆周侧逐个设置试写区，以及
其中，从已经基于从内圆周侧试写区读出的试写数据而设定的激光束写功率和已经基于从外圆周侧试写区读出的试写数据而设定的激光束写功率，计算与数据记录区中数据记录位置相应的激光束写功率，基于计算结果而改变照射到数据记录区中的激光束的写功率。
37.如权利要求36所述的记录方法，
其中，通过从已经基于从内圆周侧试写区读出的试写数据而设定的激光束写功率和已经基于从外圆周侧试写区读出的试写数据而设定的激光束写功率，内插与数据记录区中数据记录位置相应的激光束写功率而确定所述计算结果。
38.如权利要求37所述的记录方法，
其中，在数据记录区中激光束写功率比预定值更大的情况下，设定用于写数据的速度，以使它低于事先写数据时设定的速度。
39.如权利要求38所述的记录方法，
其中，预定值是输出激光束的激光二极管的额定值。
40.如权利要求34所述的记录方法，
其中，当以至少两个或更多个不同的速度把数据写到数据记录区中时，以至少两个或更多个不同的速度把试写数据写到试写区中，基于从试写区读出的各个试写数据而设定用于以写试写数据时的速度把数据写到数据记录区中的激光束写功率。
41.如权利要求40所述的记录方法，
其中，在至少两个或更多个试写区中的最靠近数据记录区中数据写位置的试写区中写试写数据。
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