WO2021210254A1 - X線発生装置 - Google Patents

X線発生装置 Download PDF

Info

Publication number
WO2021210254A1
WO2021210254A1 PCT/JP2021/005317 JP2021005317W WO2021210254A1 WO 2021210254 A1 WO2021210254 A1 WO 2021210254A1 JP 2021005317 W JP2021005317 W JP 2021005317W WO 2021210254 A1 WO2021210254 A1 WO 2021210254A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
diameter
electron
internal space
target
housing
Prior art date
Application number
PCT/JP2021/005317
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
綾介 藪下
Original Assignee
浜松ホトニクス株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 浜松ホトニクス株式会社 filed Critical 浜松ホトニクス株式会社
Priority to EP21788610.0A priority Critical patent/EP4135000A4/en
Priority to KR1020227028253A priority patent/KR20220166783A/ko
Priority to JP2022515217A priority patent/JPWO2021210254A1/ja
Priority to CN202180024407.6A priority patent/CN115380352A/zh
Publication of WO2021210254A1 publication Critical patent/WO2021210254A1/ja

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/20Selection of substances for gas fillings; Means for obtaining or maintaining the desired pressure within the tube, e.g. by gettering
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/24Tubes wherein the point of impact of the cathode ray on the anode or anticathode is movable relative to the surface thereof
    • H01J35/26Tubes wherein the point of impact of the cathode ray on the anode or anticathode is movable relative to the surface thereof by rotation of the anode or anticathode
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/14Arrangements for concentrating, focusing, or directing the cathode ray
    • H01J35/147Spot size control
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/14Arrangements for concentrating, focusing, or directing the cathode ray
    • H01J35/153Spot position control
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/16Vessels; Containers; Shields associated therewith
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2235/00X-ray tubes
    • H01J2235/16Vessels
    • H01J2235/165Shielding arrangements
    • H01J2235/168Shielding arrangements against charged particles
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2235/00X-ray tubes
    • H01J2235/20Arrangements for controlling gases within the X-ray tube

Definitions

  • One aspect of this disclosure relates to an X-ray generator.
  • Patent Document 1 An X-ray generator that generates X-rays by incidenting an electron beam emitted from a cathode onto a target is known.
  • Patent Document 1 describes that a part of an electron beam incident on a target is emitted from the target as reflected electrons.
  • some X-ray generators use a magnetic field generator that deflects reflected electrons by Lorentz force to re-enter the target.
  • a relatively large space is required to accommodate the magnetic field generator. This may increase the manufacturing cost.
  • This specification discloses an example of an X-ray generator capable of suppressing the deterioration of the cathode caused by the reflected electrons emitted from the target.
  • An exemplary X-ray generator houses an electron gun having a cathode that emits an electron beam, a first housing that houses the electron gun, a target that receives the electron beam emitted from the electron gun, and a target.
  • a second housing may be provided.
  • the electron gun may be mounted in a first housing, or at least partially located in the first housing
  • the target may be mounted in a second housing, or at least partially second. It may be arranged in the housing.
  • the X-ray generator is provided over the first housing and the second housing, and allows the electron beam to pass from the first internal space of the first housing to the second internal space of the second housing.
  • the electron passage has a reduced diameter portion that is reduced in diameter toward the target.
  • the first housing is provided with a first exhaust flow path for vacuum exhausting the first internal space in the first housing.
  • the second housing is provided with a second exhaust flow path for vacuum exhausting the second internal space in the second housing.
  • the number of reflected electrons generated by the electron beam incident on the target in the second housing and reaching the inside of the first housing via the electron passage path can be reduced.
  • gas may be generated due to the collision of electrons with the target.
  • the second housing since the entrance of the electron passage path on the target side is narrow, the gas is sucked into the first housing side through the electron passage path, and the gas is sucked from the first exhaust flow path provided in the first housing. It is difficult to exhaust the above gas. Therefore, the second housing itself is provided with the gas discharge path (second exhaust flow path). As a result, deterioration of the cathode due to reflected electrons can be suppressed or prevented while performing vacuum exhaust in each housing.
  • the exemplary X-ray generator may further include a magnetic focusing lens that surrounds the electron passage and focuses the electron beam after the electron gun.
  • a part of the electron passage is located between the electron gun and the pole piece of the magnetically focused lens and has a diameter-expanded portion that expands in diameter toward the target. According to this, even if the reflected electrons enter the electron passage from the end of the electron passage on the target side, the diameter is expanded toward the target (that is, the diameter is reduced toward the cathode side). It is possible to suppress or prevent the movement of reflected electrons to the cathode side through the electron passage path).
  • the enlarged diameter portion may change discontinuously from the first diameter to the second diameter larger than the first diameter. According to this, even if there are reflected electrons traveling from the target side to the electron gun side in the electron passage path, the reflected electrons are made to collide with a portion that discontinuously changes from the first diameter to the second diameter. Can be done.
  • the enlarged diameter portion that changes from the first diameter to the second diameter includes an annular wall having the first diameter as the inner diameter and the second diameter as the outer diameter. Thereby, the movement of the reflected electrons to the cathode side can be suppressed or prevented more effectively.
  • the exemplary X-ray generator may further include a magnetic focusing lens that surrounds the electron passage and focuses the electron beam after the electron gun.
  • the diameter of the region of the electron passage path surrounded by the pole piece of the magnetic focusing lens may be equal to the maximum diameter of the electron passage path.
  • the diameter of the region of the electron path surrounded by the pole piece is equal to the maximum diameter of the electron path, which has the effect of causing the electron beam toward the target to collide with the inner wall of the electron path. Can be suppressed or prevented.
  • the region of the electron path surrounded by the pole piece may include a region where the spread of the electron beam emitted from the electron gun increases.
  • An exemplary X-ray generator evacuates the first internal space of the first housing through the first exhaust flow path and evacuates the second internal space of the second housing through the second exhaust flow path.
  • An exhaust unit for vacuum exhaust may be further provided.
  • the first exhaust flow path and the second exhaust flow path may communicate with each other.
  • the common exhaust unit can evacuate both the first internal space in the first housing and the second internal space in the second housing, so that the device can be miniaturized. can.
  • FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an exemplary X-ray generator.
  • FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing a configuration example of a magnetic lens of an X-ray generator.
  • FIG. 3 is a front view of an exemplary magnetic quadrupole lens.
  • FIG. 4 is a schematic diagram of a configuration (doublet) of Examples and Comparative Examples including a magnetic focusing lens and a magnetic quadrupole lens.
  • FIG. 5 is a diagram showing an example of the relationship between the cross-sectional shape of the electron beam and the shape of the effective focal point of the X-ray.
  • FIG. 6 is a diagram showing a first modification of the cylindrical tube.
  • FIG. 7 is a diagram showing a second modification of the cylindrical tube.
  • FIG. 8 is a schematic configuration diagram of an X-ray generator according to a modified example.
  • an exemplary X-ray generator 1 defines an electron gun 2, a rotating anode unit 3, a magnetic lens 4, an exhaust section 5, and an internal space S1 that houses the electron gun 2.
  • a housing 6 (first housing) and a housing 7 (second housing) that defines an internal space S2 for accommodating the rotating anode unit 3 are provided.
  • the housing 6 and the housing 7 may be configured to be removable from each other, may be integrally connected in a non-removable manner, or may be integrally formed from the beginning. May be good.
  • the electron gun 2 emits an electron beam EB.
  • the electron gun 2 has a cathode C that emits an electron beam EB.
  • the cathode C is a circular planar cathode that emits an electron beam EB having a circular cross-sectional shape.
  • the cross-sectional shape of the electron beam EB is a cross-sectional shape in a direction perpendicular to the X-axis direction (first direction), which is a direction parallel to the traveling direction of the electron beam EB, which will be described later. That is, the cross-sectional shape of the electron beam EB is a shape in the YZ plane.
  • the electron emission surface of the cathode C itself is viewed from a position facing the electron emission surface of the cathode C (the electron emission surface of the cathode C is oriented in the X-axis direction). (Seen from), it may have a circular shape.
  • the rotary anode unit 3 has a target 31, a rotary support 32, and a drive unit 33 that rotationally drives the rotary support 32 around the rotation axis A.
  • the target 31 is provided along the peripheral edge of the rotary support 32 formed in a flat truncated cone shape with the rotary shaft A as the central axis.
  • the rotation axis A is the central axis of the rotation support 32, and the side surface of the truncated cone-shaped rotation support 32 has a surface inclined with respect to the rotation axis A.
  • the rotation support 32 may be formed in an annular shape with the rotation axis A as the central axis.
  • the material constituting the target 31 is, for example, a heavy metal such as tungsten, silver, rhodium, molybdenum, and an alloy thereof.
  • the rotation support 32 is rotatable around the rotation axis A.
  • the material constituting the rotary support 32 is, for example, a metal such as copper or a copper alloy.
  • the drive unit 33 has a drive source such as a motor, and drives the rotation support 32 to rotate around the rotation axis A.
  • the target 31 receives the electron beam EB while rotating with the rotation of the rotation support 32, and generates X-ray XR.
  • the X-ray XR is emitted to the outside of the housing 7 from the X-ray passing hole 7a formed in the housing 7.
  • the X-ray passage hole 7a is airtightly closed by the window member 8.
  • the axial direction of the rotation axis A is parallel to the incident direction of the electron beam EB on the target 31.
  • the rotation axis A may be inclined so as to extend in a direction intersecting the incident direction with respect to the incident direction of the electron beam EB on the target 31.
  • the target 31 may be of a so-called reflection type, and emits X-ray XR in a direction intersecting the traveling direction of the electron beam EB (the direction of incidence on the target 31).
  • the emission direction of the X-ray XR is a direction orthogonal to the traveling direction of the electron beam EB.
  • the direction parallel to the traveling direction of the electron beam EB is the X-axis direction (first direction)
  • the direction parallel to the emission direction of the X-ray XR from the target 31 is the Z-axis direction (second direction).
  • the direction orthogonal to the direction and the Z-axis direction is defined as the Y-axis direction (third direction).
  • the magnetic lens 4 controls the electron beam EB.
  • the magnetic lens 4 includes a deflection coil 41, a magnetic focusing lens 42, a magnetic quadrupole lens 43, and a housing 44.
  • the housing 44 houses the deflection coil 41, the magnetic focusing lens 42, and the magnetic quadrupole lens 43.
  • the deflection coil 41, the magnetic focusing lens 42, and the magnetic quadrupole lens 43 are arranged in this order from the electron gun 2 side toward the target 31 side along the X-axis direction.
  • An electron passage P through which the electron beam EB passes is formed between the electron gun 2 and the target 31.
  • the electron passage P may be formed by a cylindrical tube 9 (cylindrical portion).
  • the cylindrical tube 9 is a non-magnetic metal member extending along the X-axis direction between the electron gun 2 and the target 31. Details of the additional exemplary configuration of the cylindrical tube 9 will be described later.
  • the deflection coil 41, the magnetic focusing lens 42, and the magnetic quadrupole lens 43 are directly or indirectly connected to the cylindrical tube 9.
  • the deflection coil 41, the magnetic focusing lens 42, and the magnetic quadrupole lens 43 are assembled with reference to the cylindrical tube 9, so that their central axes are arranged coaxially with high accuracy.
  • the central axes of the deflection coil 41, the magnetic focusing lens 42, and the magnetic quadrupole lens 43 coincide with the central axis of the cylindrical tube 9 (the axis parallel to the X axis).
  • the deflection coil 41 is arranged between the electron gun 2 and the magnetic focusing lens 42.
  • the deflection coil 41 is arranged so as to surround the electron passage path P.
  • the deflection coil 41 is indirectly connected to the cylindrical tube 9 via the tubular member 10.
  • the tubular member 10 is a non-magnetic metal member extending coaxially with the cylindrical tube 9.
  • the tubular member 10 is provided so as to cover the outer periphery of the cylindrical tube 9.
  • the deflection coil 41 is positioned by a surface of the wall portion 44a on the target 31 side and an outer peripheral surface of the tubular member 10.
  • the wall portion 44a is a part of the housing 44 provided at a position facing the internal space S1 and is made of a non-magnetic material.
  • the deflection coil 41 adjusts the traveling direction of the electron beam EB emitted from the electron gun 2.
  • the deflection coil 41 may be composed of one (one set) of deflection coils or two (two sets) of deflection coils. In the former case where the deflection coil 41 includes one deflection coil, the deflection coil 41 is the emission axis of the electron beam EB emitted from the electron gun 2 and the central axis of the magnetic focusing lens 42 and the magnetic quadrupole lens 43. It may be configured to correct the angular deviation from the axis parallel to the X axis). For example, the angular deviation can occur when the exit axis and the central axis intersect at a predetermined angle.
  • the angular deviation can be eliminated by changing the traveling direction of the electron beam EB in the direction along the central axis with the deflection coil 41.
  • the deflection coil 41 can perform two-dimensional deflection, so that not only the above-mentioned angle deviation but also the above-mentioned exit axis and the above-mentioned central axis can be performed.
  • Lateral deviations (for example, when the emission axis and the central axis are parallel to each other in the X-axis direction and are separated from each other in one or both of the Y-axis direction and the Z-axis direction) are also appropriately corrected. be able to.
  • the magnetic focusing lens 42 is arranged after the electron gun 2 and the deflection coil 41.
  • the magnetic focusing lens 42 focuses the electron beam EB while rotating the electron beam EB around an axis along the X-axis direction.
  • the electron beam EB passing through the magnetic focusing lens 42 focuses while rotating in a spiral manner.
  • the magnetic focusing lens 42 has a coil 42a arranged so as to surround the electron passage P, a pole piece 42b, a yoke 42c, and a yoke 42d.
  • the yoke 42c also functions as a wall portion 44b of the housing 44 provided so as to connect a part of the outside of the coil 42a and the tubular member 10.
  • the yoke 42d is a tubular member provided so as to cover the outer periphery of the cylindrical member 10.
  • the coil 42a is indirectly connected to the cylindrical tube 9 via the tubular member 10 and the yoke 42d.
  • the pole piece 42b is composed of a yoke 42c and a yoke 42d.
  • the yoke 42c and the yoke 42d are ferromagnets such as iron.
  • the pole piece 42b may be composed of a notch (gap) provided between the yoke 42c and the yoke 42d, and a part of the yoke 42c and the yoke 42d located in the vicinity of the notch.
  • the inner diameter D of the pole piece 42b is equal to the inner diameter of the gap adjacent region in the yoke 42c or the yoke 42d.
  • the magnetic focusing lens 42 may be configured so that the magnetic field of the coil 42a leaks from the pole piece 42b to the cylindrical tube 9 side.
  • the magnetic quadrupole lens 43 is arranged after the magnetic focusing lens 42.
  • the magnetic quadrupole lens 43 deforms the cross-sectional shape of the electron beam EB into an elliptical shape having a major axis along the Z-axis direction and a minor axis along the Y-axis direction.
  • the magnetic quadrupole lens 43 is arranged so as to surround the electron passage path P.
  • the magnetic quadrupole lens 43 is indirectly connected to the cylindrical tube 9 via the wall portion 44c of the housing 44.
  • the wall portion 44c is provided so as to be connected to the wall portion 44b and to cover the outer periphery of the cylindrical tube 9.
  • the wall portion 44c is made of a non-magnetic metal material.
  • an exemplary magnetic quadrupole lens 43 includes an annular yoke 43a, four columnar yokes 43b provided on the inner peripheral surface of the yoke 43a, and a tip of each yoke 43b. It has a yoke 43c provided in the. A coil 43d is wound around the yoke 43b. Each yoke 43c has a substantially semicircular cross-sectional shape in the YZ plane. The inner diameter d of the magnetic quadrupole lens 43 is the diameter of the inscribed circle passing through the innermost end of each yoke 43c.
  • the magnetic quadrupole lens 43 functions as a concave lens on the XZ plane (plane orthogonal to the Y-axis direction) and as a convex lens on the XY plane (plane orthogonal to the Z-axis direction). Due to the function of the magnetic quadrupole lens 43, the length of the electron beam EB along the Z-axis direction is larger than the length along the Y-axis direction along the Z-axis direction of the electron beam EB.
  • the aspect ratio between the diameter (major axis X1) and the diameter along the Y-axis direction (minor axis X2) is adjusted. Therefore, the aspect ratio can be selectively adjusted by adjusting the amount of current flowing through the coil 43d. As an example, the aspect ratio of the major axis X1 and the minor axis X2 is adjusted to "10: 1".
  • the exhaust unit 5 includes a vacuum pump 5a (first vacuum pump) and a vacuum pump 5b (second vacuum pump).
  • the housing 6 has an exhaust flow path E1 (first exhaust flow path) for vacuum exhausting the space inside the housing 6 (that is, the internal space S1 defined by the housing 6 and the housing 44 of the magnetic lens 4). ) Is provided.
  • the vacuum pump 5b and the internal space S1 communicate with each other via the exhaust flow path E1.
  • the housing 7 is provided with an exhaust flow path E2 (second exhaust flow path) for vacuum exhausting the space inside the housing 7 (that is, the internal space S2 defined by the housing 7).
  • the vacuum pump 5a and the internal space S2 communicate with each other via the exhaust flow path E2.
  • the vacuum pump 5b evacuates the internal space S1 via the exhaust flow path E1.
  • the vacuum pump 5a evacuates the internal space S2 through the exhaust flow path E2.
  • the internal space S1 and the internal space S2 are maintained in a vacuum state or a partial vacuum state in order to remove the gas generated by the electron gun or the target, for example.
  • the internal pressure of the internal space S1 may be preferably maintained in a partial vacuum of 10 -4 Pa or less, and more preferably maintained in a partial vacuum of 10 -5 Pa or less.
  • the internal pressure of the interior space S2 may be preferably maintained in a partial vacuum between 10-6 Pa and 10-3 Pa.
  • the internal space of the cylindrical tube 9 (the space in the electron passage P) is also evacuated by the exhaust unit 5 via the internal space S1 or the internal space S2.
  • one exhaust pump (here, as an example, the vacuum pump 5b) is used as shown in FIG. 8 without using the vacuum pump 5a and the vacuum pump 5b and the two exhaust pumps as shown in FIG.
  • a structure (X-ray generator 1A) capable of evacuating both the internal space S1 and the internal space S2 may be adopted.
  • the exhaust flow path E1 and the exhaust flow path E2 may be connected by a connecting path E3 located outside the housing 6 and the housing 7.
  • the connecting path E3 has a through hole continuously provided from the inside of the wall portion of the housing 7 to the inside of the wall portion of the housing 6 so as to connect the exhaust flow path E1 and the exhaust flow path E2. It may be included.
  • Either the vacuum pump 5a or the vacuum pump 5b may be used as one exhaust pump, but by using the vacuum pump 5b coupled to the exhaust flow path E1 as the exhaust pump, more efficient vacuum exhaust can be achieved. It will be possible.
  • a voltage is applied to the electron gun 2 in a state where the internal spaces S1 and S2 and the electron passage P are evacuated.
  • the electron beam EB having a circular cross section is emitted from the electron gun 2.
  • the electron beam EB is focused on the target 31 by the magnetic lens 4, deformed into an elliptical cross-sectional shape, and incident on the rotating target 31.
  • X-ray XR is generated at the target 31, and X-ray XR having a substantially circular effective focal shape is emitted from the X-ray passing hole 7a to the outside of the housing 7.
  • the configuration example of the cylindrical tube 9 has a shape in which the size of the diameter changes stepwise along the X-axis direction.
  • the cylindrical tube 9 has six cylindrical portions 91 to 96 arranged along the X-axis direction. Each of the cylindrical portions 91 to 96 has a constant diameter along the X-axis direction.
  • the outer diameter of the cylindrical tube 9 does not have to change in synchronization with the inner diameter of the cylindrical tube 9. That is, the outer diameter of the cylindrical tube 9 may be constant.
  • the cylindrical portion 91 (first cylindrical portion) includes the first end portion 9a of the cylindrical tube 9 on the electron gun 2 side.
  • the cylindrical portion 91 extends from the first end portion 9a to the second end portion 91a surrounded by the electron gun 2 side portion of the coil 42a at the boundary portion 9c.
  • the first end portion 92a of the cylindrical portion 92 (second cylindrical portion) is connected to the second end portion 91a of the cylindrical portion 91 on the target 31 side.
  • the cylindrical portion 92 extends from the second end portion 91a of the cylindrical portion 91 to the second end portion 92b of the second cylindrical portion 92 that is slightly closer to the target 31 than the pole piece 42b.
  • the second end portion 92b of the second cylindrical portion 92 may be located between the pole piece 42b and the target 31 along the X-axis direction. Further, the first end portion 93a of the cylindrical portion 93 (third cylindrical portion) is connected to the second end portion 92b of the cylindrical portion 92 on the target 31 side.
  • the cylindrical portion 93 extends from the second end portion 92b of the cylindrical portion 92 to the second end portion 93b of the cylindrical portion 93 surrounded by the magnetic quadrupole lens 43.
  • the first end portion of the cylindrical portion 94 (fourth cylindrical portion) is connected to the second end portion 93b of the cylindrical portion 93 on the target 31 side.
  • the cylindrical portion 94 extends from the second end portion 93b of the cylindrical portion 93 to the housing 7 side of the wall portion 44c.
  • the cylindrical portion 95 (fifth cylindrical portion) and the cylindrical portion 96 (sixth cylindrical portion) pass through the inside of the wall portion 71 of the housing 7.
  • the wall portion 71 is arranged at a position facing the target 31, and extends so as to intersect in the X-axis direction.
  • the cylindrical portion 95 is connected to the second end portion of the cylindrical portion 94 on the target 31 side.
  • the cylindrical portion 95 extends from the end portion of the cylindrical portion 94 to an intermediate portion inside the wall portion 71.
  • the cylindrical portion 96 is connected to the end portion of the cylindrical portion 95 on the target 31 side in the middle portion inside the wall portion 71.
  • the cylindrical portion 96 extends from the end portion of the cylindrical portion 95 to the second end portion 9b of the cylindrical tube 9 on the target 31 side. As shown in FIG.
  • an exemplary X-ray passage hole 7a is provided in the wall portion 72 which is connected to the wall portion 71 and extends so as to intersect in the Z-axis direction.
  • the X-ray passage hole 7a penetrates the wall portion 72 along the Z-axis direction.
  • the diameters of the cylindrical portions 91 to 96 are expressed as d1 to d6, the relationship of "d2> d3> d1> d4> d5> d6" is established.
  • the diameter d1 is 6 to 12 mm
  • the diameter d2 is 10 to 14 mm
  • the diameter d3 is 8 to 12 mm
  • the diameter d4 is 4 to 6 mm
  • the diameter d5 is 4 to 6 mm
  • the diameter d6 Is 0.5 to 4 mm.
  • At least a part of the cylindrical portion 91 and the cylindrical portion 92 is the electron gun 2 rather than the portion of the electron passage P surrounded by the pole piece 42b (particularly the gap between the yoke 42c and the yoke 42d) of the magnetic focusing lens 42.
  • at least a portion of the cylindrical portion 91 and the cylindrical portion 92 is "a portion of the electron passage P that is closer to the electron gun 2 than the portion of the magnetic focusing lens 42 surrounded by the pole piece 42b" ( Hereinafter, it is referred to as a "first cylindrical portion").
  • the diameter d2 of the cylindrical portion 92 is larger than the diameter d1 of the cylindrical portion 91 (d2> d1).
  • the diameter of the cylindrical portion 92 is larger than that of the cylindrical portion 91 adjacent to the electron gun 2 side.
  • at least a part of the cylindrical portion 92 constitutes a diameter-expanded portion that expands in diameter toward the target 31 side.
  • the cylindrical portion 96 includes an end portion 9b of the electron passage P on the target 31 side.
  • the diameter d6 of the cylindrical portion 96 is smaller than the diameter d5 of the cylindrical portion 95 (d6 ⁇ d5). That is, the cylindrical portion 96 has a smaller diameter than the cylindrical portion 95 adjacent to the electron gun 2 side, and the cylindrical portion 96 constitutes a reduced diameter portion whose diameter decreases toward the target 31 side.
  • the diameter d2 of the cylindrical portion 92 is the maximum diameter of the cylindrical tube 9, and the diameter is sequentially reduced from the cylindrical portion 92 toward the target 31 side. Therefore, it can be considered that the portion including the cylindrical portions 93 to 96 constitutes the reduced diameter portion.
  • the magnetic focusing lens 42 located after the electron gun 2 adjusts the size of the electron beam EB and the magnetic quadrupole magnet placed after the magnetic focusing lens 42.
  • the lens 43 deforms the cross-sectional shape of the electron beam EB into an elliptical shape. Therefore, the size of the electron beam EB and the cross-sectional shape can be adjusted independently.
  • FIG. 4A is a schematic diagram of a configuration example including the magnetic focusing lens 42 and the magnetic quadrupole lens 43 shown in FIGS. 1 and 2.
  • FIG. 4B is a schematic diagram of a configuration (doublet) of a comparative example.
  • FIGS. 4A and 4B are diagrams schematically showing an example of an optical system that acts on the electron beam EB between the cathode C (electron gun 2) and the target 31.
  • the cross-sectional shape of the electron beam is formed by a combination of two-stage magnetic quadrupole lenses in which a surface acting as a concave lens and a surface acting as a convex lens are interchanged with each other. The size and aspect ratio are adjusted.
  • the lens that determines the size of the cross-sectional shape of the electron beam and the lens that determines the aspect ratio are not independent of each other. Therefore, it is necessary to adjust the size and aspect ratio at the same time by combining two-stage magnetic quadrupole lenses. Therefore, the adjustment of the focal dimension and the focal shape becomes complicated.
  • the size of the cross-sectional shape of the electron beam EB is adjusted by the magnetic focusing lens 42 in the previous stage. That is, the magnetic focusing lens 42 narrows the cross-sectional shape of the electron beam EB to a certain size.
  • the aspect ratio of the cross-sectional shape of the electron beam EB is adjusted by the magnetic quadrupole lens 43 in the subsequent stage.
  • a lens (magnetic focusing lens 42) for determining the size of the cross-sectional shape of the electron beam EB and a lens (magnetic quadrupole lens 43) for determining the aspect ratio are used.
  • the focal dimension and the focal shape can be easily and flexibly adjusted.
  • the electron beam EB passing through the magnetic focusing lens 42 rotates around an axis along the X-axis direction, but the electron beam EB emitted by the electron gun 2 has a circular cross-sectional shape, so that the electron beam EB is magnetic.
  • the cross-sectional shape of the electron beam from the focusing lens 42 to the magnetic quadrupole lens 43 is constant (circular shape) regardless of the amount of rotation of the electron beam EB in the magnetic focusing lens 42.
  • the cross-sectional shape F1 (cross-sectional shape along the YZ plane) of the electron beam EB is consistently and surely, the major axis X1 along the Z direction and the short axis along the Y-axis direction. It can be formed into an elliptical shape having a diameter X2.
  • the aspect ratio and the size of the cross-sectional shape of the electron beam EB can be easily and flexibly adjusted.
  • the performance of the X-ray generator 1 according to the embodiment provided with the electron gun 2 and the magnetic lens 4 was evaluated experimentally. At that time, a high voltage was applied to the electron gun 2 to set the target 31 as the ground potential. An X-ray XR having an effective focal dimension of "40 ⁇ m ⁇ 40 ⁇ m" was obtained at a desired output (voltage applied to the cathode C). When the focal dimension changes in 1000 hours of operation, the above effective focal dimension can be achieved again by simply adjusting the current amount of the coil 43d of the magnetic quadrupole lens 43 without changing the operating conditions on the cathode C side. Was easily obtained. As described above, according to the X-ray generator 1, it has been confirmed that the effective focal dimension of the X-ray XR can be easily corrected according to the dynamic change only by adjusting the current amount of the coil 43d. rice field.
  • the target 31 has an electron incident surface 31a on which the electron beam EB is incident.
  • the electron incident surface 31a is inclined with respect to the X-axis direction and the Z-axis direction.
  • the cross-sectional shape F1 that is, the ratio of the major axis X1 and the minor axis X2
  • the electron incident surface with respect to the X-axis direction and the Y-axis direction.
  • the inclination angle of 31a is adjusted so that the focal shape F2 of the X-ray XR viewed from the X-ray XR extraction direction (Z-axis direction) has a substantially circular shape.
  • the shape of the focal point (effective focal point) of the X-ray XR taken out by adjusting the tilt angle of the electron incident surface 31a of the target 31 and the molding conditions (aspect ratio) by the magnetic quadrupole lens 43. can have a substantially circular shape.
  • the length of the magnetic condensing lens 42 along the X-axis direction is longer than the length of the magnetic quadrupole lens 43 along the X-axis direction.
  • the length of the magnetic focusing lens 42 along the X-axis direction means the total length of the yoke 42c surrounding the coil 42a. In some embodiments, it becomes easier to secure the number of turns of the coil 42a of the magnetic focusing lens 42. As a result, by generating a relatively large magnetic field in the magnetic focusing lens 42, the electron beam EB can be effectively focused small in order to further increase the reduction ratio. Further, in order to reduce the size of the electron beam EB incident on the electron incident surface 31a of the target 31, the distance from the electron gun 2 to the lens center (the portion provided with the pole piece 42b) formed by the magnetic focusing lens 42. The distance can be increased.
  • the inner diameter D of the pole piece 42b of the magnetic focusing lens 42 is larger than the inner diameter d of the magnetic quadrupole lens 43 (see FIG. 3).
  • the spherical aberration of the lens configured by the magnetic focusing lens 42 can be reduced by relatively increasing the inner diameter D of the pole piece 42b of the magnetic focusing lens 42.
  • the inner diameter d of the magnetic quadrupole lens 43 relatively small, the number of turns of the coil 43d in the magnetic quadrupole lens 43 and the amount of current flowing through the coil 43d can be reduced. As a result, the amount of heat generated by the magnetic quadrupole lens 43 can be suppressed.
  • the X-ray generator 1 includes a cylindrical tube 9 extending along the X-axis direction and forming an electron passage P through which the electron beam EB passes.
  • the magnetic focusing lens 42 and the magnetic quadrupole lens 43 are directly or indirectly connected to the cylindrical tube 9.
  • the magnetic focusing lens 42 and the magnetic quadrupole lens 43 can be arranged or attached with reference to the cylindrical tube 9, and thus the central axis of the magnetic focusing lens 42 and the magnetic quadrupole lens 43. Can be placed coaxially with high accuracy. As a result, it is possible to suppress the occurrence of distortion in the profile (cross-sectional shape) of the electron beam EB after passing through the inside of the magnetic focusing lens 42 and the inside of the magnetic quadrupole lens 43.
  • the X-ray generator 1 includes a deflection coil 41.
  • the angular deviation generated between the emission axis of the electron beam EB emitted from the electron gun 2 and the central axis of the magnetic focusing lens 42 and the magnetic quadrupole lens 43 is determined. , Can be corrected appropriately.
  • the deflection coil 41 is arranged between the electron gun 2 and the magnetic focusing lens 42.
  • the traveling direction of the electron beam EB can be appropriately adjusted before the electron beam EB passes through the magnetic focusing lens 42 and the magnetic quadrupole lens 43. As a result, the cross-sectional shape of the electron beam EB incident on the target 31 can be maintained in the intended elliptical shape.
  • an electron passage P is formed so as to extend between the housing 6 accommodating the cathode C (electron gun 2) and the housing 7 accommodating the target 31.
  • the portion of the electron passage P including the end portion on the target 31 side (end portion 9b of the cylindrical tube 9) is reduced in diameter toward the target 31 side.
  • the cylindrical portion 96 (or cylindrical portion 93-96) constitutes a reduced diameter portion that reduces in diameter toward the target 31 side.
  • the reflected electrons are electrons of the electron beam EB incident on the target 31 that are reflected without being absorbed by the target 31.
  • gas is generated by the electron gun 2.
  • the gas may remain in the space in which the cathode C is housed.
  • gas for example, gas by-products such as H 2 , H 2 O, N 2 , CO, CO 2 , CH 4 , Ar and the like
  • gas can be generated in the housing 7 due to the collision of electrons with the target 31.
  • electrons may be reflected from the surface of the target 31.
  • the entrance (that is, the end 9b) of the electron passage P on the target 31 side is narrowed, so that the electron passage P goes to the housing 6 side (that is, the internal space S1) via the electron passage P.
  • the amount of gas sucked is small, and the amount of gas discharged from the exhaust flow path E1 provided in the housing 6 is small. Therefore, in the X-ray generator 1, the housing 7 itself is provided with the gas discharge path (exhaust flow path E2). As a result, deterioration of the cathode C due to reflected electrons can be suppressed or prevented while appropriately performing vacuum exhaust in each of the housings 6 and 7.
  • the portion of the electron passage P on the electron gun 2 side (the first cylindrical portion described above) with respect to the portion of the magnetic focusing lens 42 surrounded by the pole piece 42b has an enlarged diameter that increases toward the target 31 side. It has a portion (at least a part of the cylindrical portion 92).
  • the diameter-expanded portion (that is, the diameter-expanded portion) expands toward the target 31 side.
  • the portion whose diameter is reduced toward the cathode C side) can suppress the movement of the reflected electrons to the cathode C side through the electron passage path P. Further, it is possible to effectively prevent the electron beam EB toward the target 31 from colliding with the inner wall (inner surface of the cylindrical tube 9) of the electron passage P.
  • the diameter-expanded portion has a diameter d2 (second diameter) larger than the diameter d1 from the portion having the diameter d1 (first diameter) (that is, the cylindrical portion 91) from the electron gun 2 side to the target 31 side of the cylindrical tube 9.
  • a portion that is, a boundary portion between the cylindrical portion 91 and the cylindrical portion 92) that changes discontinuously to a portion having a diameter) (that is, the cylindrical portion 92) is included.
  • the diameter of the cylindrical tube 9 changes in a stepped manner at the boundary between the cylindrical portion 91 and the cylindrical portion 92.
  • the boundary portion 9c is formed by an annular wall having a diameter d1 as an inner diameter and a diameter d2 as an outer diameter (see FIG. 2).
  • the reflected electrons can collide with the boundary portion 9c. As a result, the movement of the reflected electrons toward the cathode C side can be suppressed or prevented even more effectively.
  • the diameter of the portion of the electron passage P surrounded by the pole piece 42b of the magnetic focusing lens 42 is equal to or larger than the diameter of the other portion of the electron passage P. That is, the electron passage P has the maximum diameter in the portion of the magnetic focusing lens 42 surrounded by the pole piece 42b.
  • the target is made by increasing the diameter of the portion of the electron beam EB emitted from the electron gun 2 where the spread is large (that is, the portion surrounded by the pole piece 42b) to be larger than the diameter of the other portion. It is possible to effectively prevent the electron beam EB heading toward 31 from colliding with the inner wall (inner surface of the cylindrical tube 9) of the electron passage P.
  • the exhaust flow path E1 and the exhaust flow path E2 communicate with each other. Then, the exhaust unit 5 evacuates the inside of the housing 6 through the exhaust flow path E1 and evacuates the inside of the housing 7 through the exhaust flow path E2. In some embodiments, the common exhaust unit 5 can evacuate both the internal space S1 in the housing 6 and the internal space S2 in the housing 7, so that the X-ray generator 1 can be miniaturized. Can be planned.
  • the deflection coil 41 may be omitted when the emission axis of the electron beam EB from the electron gun 2 and the central axis of the magnetic focusing lens 42 are aligned with high accuracy. Further, the deflection coil 41 may be arranged between the magnetic focusing lens 42 and the magnetic quadrupole lens 43, or may be arranged between the magnetic quadrupole lens 43 and the target 31.
  • the shape of the electron passage P may have a single diameter over the entire area. Further, the electron passage P may be formed by a single cylindrical tube 9. In another example, the cylindrical tube 9 is provided only in the housing 6, and the electron passage P passing through the housing 7 may be formed by a through hole provided in the wall portion 71 of the housing 7. .. Further, the electron passage P may be formed by the through hole of the tubular member 10 and the through hole provided in the housing 44 and the housing 7 without separately providing the cylindrical tube 9.
  • FIG. 6 shows a first modification of the cylindrical tube (cylindrical tube 9A).
  • the cylindrical tube 9A differs from the cylindrical tube 9 shown in FIG. 2 in that it has cylindrical portions 91A-93A instead of cylindrical portions 91-96.
  • the cylindrical portion 91A extends from the end portion 9a of the cylindrical tube 9 to a position surrounded by the electron gun 2 side of the coil 42a.
  • the cylindrical portion 91A has a tapered shape.
  • the diameter of the cylindrical portion 91A gradually increases from the diameter d1 to the diameter d2 from the end portion 9a toward the target 31 side.
  • the cylindrical portion 92A extends from the end of the cylindrical portion 91A on the target 31 side to a position slightly closer to the target 31 than the pole piece 42b.
  • the cylindrical portion 92A has a constant diameter (diameter d2).
  • the cylindrical portion 93A extends from the end portion of the cylindrical portion 92A on the target 31 side to the end portion 9b of the cylindrical tube 9.
  • the cylindrical portion 93A has a tapered shape.
  • the diameter of the cylindrical portion 93A gradually decreases from the diameter d2 to the diameter d6 from the end portion of the cylindrical portion 92A toward the target 31 side.
  • the cylindrical portion 91A corresponds to the enlarged diameter portion
  • the cylindrical portion 93A corresponds to the reduced diameter portion.
  • FIG. 7 shows a second modification of the cylindrical tube (cylindrical tube 9B).
  • the cylindrical tube 9B differs from the cylindrical tube 9 shown in FIG. 2 in that it has cylindrical portions 91B, 92B instead of cylindrical portions 91-96.
  • the cylindrical portion 91B extends from the end portion 9a of the cylindrical tube 9 to a position surrounded by the pole piece 42b.
  • the cylindrical portion 91B has a tapered shape.
  • the diameter of the cylindrical portion 91B gradually increases from the diameter d1 to the diameter d2 from the end portion 9a toward the target 31 side.
  • the cylindrical portion 92B extends from the end portion of the cylindrical portion 91B on the target 31 side to the end portion 9b of the cylindrical tube 9.
  • the cylindrical portion 92B has a tapered shape. In some embodiments, the diameter of the cylindrical portion 92B gradually decreases from diameter d2 to diameter d6 from the end of the cylindrical portion 91B toward the target 31 side. In the cylindrical tube 9B, the cylindrical portion 91B corresponds to the enlarged diameter portion, and the cylindrical portion 92B corresponds to the reduced diameter portion.
  • the reduced diameter portion and the expanded diameter portion of the cylindrical tube do not have to be formed in a stepped shape (discontinuous) as in the cylindrical tube 9, and the cylindrical tubes 9A and 9B It may be formed in a tapered shape as in. Further, like the cylindrical tube 9B, the cylindrical tube may be composed of only the tapered portion. Further, the cylindrical tube may have both a portion whose diameter is changed in a stepped shape and a portion whose diameter is changed in a tapered shape. For example, the enlarged diameter portion may be formed in a tapered shape like the cylindrical tube 9A, while the reduced diameter portion may be formed in a stepped shape like the cylindrical tube 9.
  • the target does not have to be a rotating anode.
  • the target may be configured to not rotate and the electron beam EB may be configured to always incident at the same position on the target.
  • the target by using the target as a rotating anode, the local load due to the electron beam EB on the target can be reduced. As a result, it is possible to increase the amount of electron beam EB and increase the dose of X-ray XR emitted from the target.
  • the electron gun 2 may be configured to emit an electron beam EB having a circular cross-sectional shape. In another example, the electron gun 2 may be configured to emit an electron beam having a cross-sectional shape other than the circular shape.
  • the exhaust system includes a first vacuum exhaust pump (vacuum pump 5b) communicated with a first exhaust flow path (exhaust flow path E1) and a second vacuum exhaust system communicated with a second exhaust flow path (exhaust flow path E2). Includes a pump (vacuum pump 5a).
  • the exhaust system has one or more pumps (vacuum pumps 5a, 5b) communicated with a first exhaust flow path (exhaust flow path E1) and a second exhaust flow path (exhaust flow path E2).
  • the exhaust system is configured to remove gas by-products from the first internal space (internal space S1) and the second internal space (internal space S2).
  • At least a part of the electron gun 2 is located in the first internal space (internal space S1), and at least a part of the target 31 is located in the second internal space (internal space S2).
  • the X-ray generator 1 is an electron gun 2 configured to emit an electron beam EB, and is at least partially contained in a first internal space (internal space S1) in a first housing (housing 6).
  • the electron gun 2 arranged in, the target 31 of the electron beam EB, which is at least partially arranged in the second internal space (internal space S2) in the second housing (housing 7), and the first inside.
  • An electron passage P passing between a space (internal space S1) and a second internal space (internal space S2), and a first end portion 9a located in the first internal space (internal space S1) and a second.
  • It has a second end portion 9b located in an internal space (internal space S2), and the second end portion 9b has a reduced diameter portion (for example, a cylindrical portion 93 to 96) whose diameter is reduced toward the target 31. It includes an electron passage P and an exhaust system that evacuates both the first internal space and the second internal space.
  • a reduced diameter portion for example, a cylindrical portion 93 to 96
  • the first end portion 9a of the electron passage P has a diameter-expanded portion (for example, an end portion of the cylindrical portion 92 on the cylindrical portion 91 side) that expands in diameter toward the target 31.
  • the diameter-expanded portion is gradually expanded from the first diameter (for example, the diameter d1 of the cylindrical portion 91) to the second diameter larger than the first diameter (for example, the diameter d2 of the cylindrical portion 92).
  • the annular wall (boundary 9c) faces the target 31 and in order to reduce the number of reflected electrons that pass through the electron passage P and reach the electron gun 2 in the first internal space (internal space S1). , The electron beam EB is configured to collide with the reflected electrons emitted from the second internal space (internal space S2) when it enters the target 31.
  • the minimum diameter of the enlarged diameter portion at the first end 9a of the electron passage P (for example, the diameter d1 of the cylindrical portion 91) is the minimum diameter of the reduced diameter portion at the second end 9b of the electron passage P (for example, the cylinder). It is larger than the diameter d6) of the part 96.
  • the electron passage P includes an intermediate portion (for example, a cylindrical portion 92) located between the first end portion 9a and the second end portion 9b.
  • the portion having the maximum diameter of the electron passage P is located in the intermediate portion.
  • the electron passage P has a first cylindrical portion (for example, a cylindrical portion 91) having a first diameter at the first end portion 9a and a reduced diameter portion having a diameter reduced toward the second diameter at the second end portion 9b.
  • 3 includes a second cylindrical portion (for example, cylindrical portions 93 to 96) and an intermediate cylindrical portion (for example, cylindrical portion 92) located between the first cylindrical portion and the second cylindrical portion and having an intermediate diameter. It has the above cylindrical portion.
  • the first diameter (for example, the diameter d1 of the cylindrical portion 91) is larger than the second diameter (for example, the diameter d6 of the cylindrical portion 96), and the intermediate diameter (for example, the diameter d2 of the cylindrical portion 92) is larger than the first diameter. ..

Landscapes

  • X-Ray Techniques (AREA)

Abstract

X線発生装置は、電子ビームを出射するカソードを有する電子銃と、電子銃を収容する第1筐体と、電子銃から出射された電子ビームが入射されるターゲットと、ターゲットを収容する第2筐体と、第1筐体と第2筐体とにわたって設けられ、電子ビームを第1筐体の第1内部空間から第2筐体の第2内部空間内へと通過させる電子通過路と、を備える。電子通過路は、ターゲットに向かって縮径する縮径部を有する。第1筐体には、第1筐体内の第1内部空間を真空排気するための第1排気流路が設けられている。第2筐体には、第2筐体内の第2内部空間を真空排気するための第2排気流路が設けられている。

Description

X線発生装置
 本開示の一側面は、X線発生装置に関する。
 カソードから出射された電子ビームをターゲットに入射させることによりX線を発生させるX線発生装置が知られている。例えば、特許文献1には、ターゲットに入射した電子ビームの一部が反射電子としてターゲットから放出することが記載されている。
特開11-144653号公報
 ターゲットから放出された反射電子がカソードに到達してしまうと、当該反射電子によってカソードの劣化が生じるおそれがある。そのため、一部のX線発生装置は、反射電子をローレンツ力により偏向させてターゲットに再入射させる磁場発生装置を用いている。しかし、反射電子を十分に偏向させるためには、磁場発生装置を収容するのに比較的大きい空間が必要となる。これにより、製造コストが増大するおそれがある。
 本明細書では、ターゲットから放出された反射電子に起因するカソードの劣化を抑制することが可能なX線発生装置の一例が開示される。
 例示的なX線発生装置は、電子ビームを出射するカソードを有する電子銃と、電子銃を収容する第1筐体と、電子銃から出射された電子ビームが入射されるターゲットと、ターゲットを収容する第2筐体と、を備え得る。例えば、電子銃は、第1筐体に取り付けられるか、又は少なくとも部分的に第1筐体内に配置されてもよく、ターゲットは、第2筐体に取り付けられるか、又は少なくとも部分的に第2筐体内に配置されてもよい。また、X線発生装置は、第1筐体と第2筐体とにわたって設けられ、電子ビームを第1筐体の第1内部空間から第2筐体の第2内部空間へと通過させる電子通過路を備え得る。電子通過路は、ターゲットに向かって縮径する縮径部を有する。第1筐体には、第1筐体内の第1内部空間を真空排気するための第1排気流路が設けられている。第2筐体には、第2筐体内の第2内部空間を真空排気するための第2排気流路が設けられている。
 カソードの劣化を抑制又は防止するために、第2筐体内で電子ビームがターゲットに入射することにより生じ、電子通過路を介して第1筐体内へと到達する反射電子の数が低減され得る。また、第2筐体内では、ターゲットへの電子の衝突により、ガスが発生し得る。しかし、電子通過路のターゲット側の入口が狭くなっているため、電子通過路を介して第1筐体側へと上記ガスを吸引して、第1筐体に設けられた第1排気流路から上記ガスを排出することは困難である。そこで、第2筐体自体に、上記ガスの排出経路(第2排気流路)が設けられている。これにより、各筐体内の真空排気を行いつつ、反射電子に起因するカソードの劣化を抑制又は防止することができる。
 例示的なX線発生装置は、電子銃よりも後段において電子通過路を囲み、電子ビームを集束させる磁気集束レンズを更に備えてもよい。電子通過路の一部は、電子銃と磁気集束レンズのポールピースとの間に位置し、ターゲットに向かって拡径する拡径部を有する。これによれば、電子通過路のターゲット側の端部から電子通過路内へと反射電子が進入したとしても、ターゲット側に向かって拡径する拡径部(すなわち、カソード側に向かって縮径する部分)により、電子通過路を介した反射電子のカソード側への移動を抑制又は防止することができる。
 拡径部は、第1径から第1径よりも大きい第2径へと非連続に変化してもよい。これによれば、電子通過路内をターゲット側から電子銃側へと進む反射電子が存在したとしても、当該反射電子を第1径から第2径へと非連続に変化する部分に衝突させることができる。いくつかの例では、第1径から第2径へと変化する拡径部は、第1径を内径とし、第2径を外径とする環状壁を含む。これにより、当該反射電子のカソード側への移動をより一層効果的に抑制又は防止することができる。
 例示的なX線発生装置は、電子銃よりも後段において電子通過路を囲み、電子ビームを集束させる磁気集束レンズを更に備えてもよい。電子通過路のうち磁気集束レンズのポールピースに囲まれた領域の径は、電子通過路の最大径と等しくてもよい。いくつかの例では、ポールピースに囲まれた電子通過路の領域の径が電子通過路の最大径と等しいことにより、ターゲットに向かう電子ビームが電子通過路の内壁に衝突してしまうことを効果的に抑制又は防止することができる。ポールピースに囲まれた電子通過路の領域は、電子銃から放出された電子ビームの広がりが増加する領域を含んでもよい。
 例示的なX線発生装置は、第1排気流路を介して第1筐体の第1内部空間を真空排気すると共に、第2排気流路を介して第2筐体の第2内部空間を真空排気する排気部を更に備えてもよい。第1排気流路と第2排気流路とは、互いに連通していてもよい。いくつかの例では、共通の排気部によって、第1筐体内の第1内部空間及び第2筐体内の第2内部空間の両方を真空排気することができるため、装置の小型化を図ることができる。
 以上により、ターゲットから放出された反射電子に起因するカソードの劣化を抑制又は防止することが可能となる。
図1は、例示的なX線発生装置の概略構成図である。 図2は、X線発生装置の磁気レンズの構成例を示す概略断面図である。 図3は、例示的な磁気四重極レンズの正面図である。 図4は、磁気集束レンズ及び磁気四重極レンズを含む実施例及び比較例の構成(ダブレット)の模式図である。 図5は、電子ビームの断面形状とX線の実効焦点の形状との関係の一例を示す図である。 図6は、円筒管の第1変形例を示す図である。 図7は、円筒管の第2変形例を示す図である。 図8は、変形例に係るX線発生装置の概略構成図である。
 以下の説明において、図面を参照しつつ、同一又は相当要素には同一符号を用い、重複する説明を省略する。
 図1に示されるように、例示的なX線発生装置1は、電子銃2と、回転陽極ユニット3と、磁気レンズ4と、排気部5と、電子銃2を収容する内部空間S1を画定する筐体6(第1筐体)と、回転陽極ユニット3を収容する内部空間S2を画定する筐体7(第2筐体)と、を備えている。筐体6及び筐体7は、互いに取り外すことが可能なように構成されていてもよいし、取り外すことができない態様で一体的に結合されていてもよいし、最初から一体に形成されていてもよい。
 電子銃2は、電子ビームEBを出射する。電子銃2は、電子ビームEBを放出するカソードCを有している。カソードCは、円形状の断面形状を有する電子ビームEBを放出する円形平面カソードである。電子ビームEBの断面形状とは、後述する電子ビームEBの走行方向に平行な方向であるX軸方向(第1方向)に対して垂直な方向における断面形状である。すなわち、電子ビームEBの断面形状は、YZ平面における形状である。円形断面形状を有する電子ビームEBを形成するためには、例えば、カソードCの電子放出面自体が、カソードCの電子放出面と対向する位置から見て(カソードCの電子放出面をX軸方向から見て)、円形状を有していてもよい。
 回転陽極ユニット3は、ターゲット31と、回転支持体32と、回転支持体32を回転軸A周りに回転駆動させる駆動部33と、を有している。ターゲット31は、回転軸Aを中心軸とした平たい円錐台状に形成された回転支持体32の周縁部に沿って設けられている。回転軸Aは、回転支持体32の中心軸であり、円錐台状の回転支持体32の側面は、回転軸Aに対して傾斜した表面を有する。また、回転支持体32は、回転軸Aを中心軸とした円環状に形成されていてもよい。ターゲット31を構成する材料は、例えば、タングステン、銀、ロジウム、モリブデン、及びそれらの合金等の重金属である。回転支持体32は、回転軸A周りに回転可能とされている。回転支持体32を構成する材料は、例えば、銅、銅合金等の金属である。駆動部33は、例えばモータ等の駆動源を有しており、回転支持体32を回転軸A周りに回転駆動させる。ターゲット31は、回転支持体32の回転に伴って回転しながら電子ビームEBを受け、X線XRを発生させる。X線XRは、筐体7に形成されたX線通過孔7aから筐体7の外部に出射される。X線通過孔7aは、窓部材8によって気密に塞がれている。回転軸Aの軸方向は、ターゲット31への電子ビームEBの入射方向と平行である。ただし、回転軸Aは、ターゲット31への電子ビームEBの入射方向に対して、上記入射方向に交差する方向に延びるように傾斜していてもよい。ターゲット31は、いわゆる反射型であってもよく、電子ビームEBの走行方向(ターゲット31への入射方向)に対して交差する方向にX線XRを放出する。いくつかの実施例では、X線XRの出射方向は、電子ビームEBの走行方向に直交する方向である。従って、電子ビームEBの走行方向に平行な方向をX軸方向(第1方向)とし、ターゲット31からのX線XRの出射方向に平行な方向をZ軸方向(第2方向)とし、X軸方向及びZ軸方向に直交する方向をY軸方向(第3方向)とする。
 磁気レンズ4は、電子ビームEBを制御する。磁気レンズ4は、偏向コイル41と、磁気集束レンズ42と、磁気四重極レンズ43と、筐体44と、を有している。筐体44は、偏向コイル41、磁気集束レンズ42、及び磁気四重極レンズ43を収容する。偏向コイル41、磁気集束レンズ42、及び磁気四重極レンズ43は、X軸方向に沿って、電子銃2側からターゲット31側に向かって、この順に配置されている。電子銃2とターゲット31との間には、電子ビームEBが通過する電子通過路Pが形成されている。図2に示されるように、電子通過路Pは、円筒管9(筒状部)によって形成されてもよい。円筒管9は、電子銃2とターゲット31との間において、X軸方向に沿って延在する、非磁性体の金属部材である。円筒管9の追加の例示的な構成の詳細については後述する。
 偏向コイル41、磁気集束レンズ42、及び磁気四重極レンズ43は、円筒管9に直接的又は間接的に接続されている。例えば、偏向コイル41、磁気集束レンズ42、及び磁気四重極レンズ43は、円筒管9を基準として組み立てられることにより、それぞれの中心軸が精度良く同軸上に配置されている。これにより、偏向コイル41、磁気集束レンズ42、及び磁気四重極レンズ43のそれぞれの中心軸は、円筒管9の中心軸(X軸に平行な軸)と一致している。
 偏向コイル41は、電子銃2と磁気集束レンズ42との間に配置されている。偏向コイル41は、電子通過路Pを囲むように配置されている。例えば、偏向コイル41は、筒部材10を介して、円筒管9に間接的に接続されている。筒部材10は、円筒管9と同軸に延在する、非磁性体の金属部材である。筒部材10は、円筒管9の外周を覆うように設けられている。偏向コイル41は、壁部44aのターゲット31側の面と、筒部材10の外周面と、によって位置決めされている。壁部44aは、内部空間S1に対向する位置に設けられた筐体44の一部であって非磁性体からなる。偏向コイル41は、電子銃2から出射された電子ビームEBの走行方向を調整する。偏向コイル41は、1つ(1組)の偏向コイルによって構成されてもよいし、2つ(2組)の偏向コイルによって構成されてもよい。偏向コイル41が1つの偏向コイルを含む前者の場合には、偏向コイル41は、電子銃2から出射される電子ビームEBの出射軸と磁気集束レンズ42及び磁気四重極レンズ43の中心軸(X軸に平行な軸)との間の角度ずれを補正するように構成されてもよい。例えば、角度ずれは、上記出射軸と上記中心軸とが所定の角度で交差している場合に生じ得る。そこで、偏向コイル41で電子ビームEBの走行方向を上記中心軸に沿った方向に変化させることにより、上記角度ずれを解消することができる。偏向コイル41が2つの偏向コイルを含む後者の場合には、偏向コイル41によって二次元的な偏向を行うことができるため、上記角度ずれだけでなく、上記出射軸と上記中心軸との間の横方向のずれ(例えば、上記出射軸と上記中心軸とがX軸方向において互いに平行であり、Y軸方向及びZ軸方向の一方又は両方において離間している場合等)についても適切に補正することができる。
 磁気集束レンズ42は、電子銃2及び偏向コイル41よりも後段に配置されている。磁気集束レンズ42は、X軸方向に沿った軸周りに電子ビームEBを回転させながら電子ビームEBを集束させる。例えば、磁気集束レンズ42内を通過する電子ビームEBは、螺旋を描くように回転しながら集束する。磁気集束レンズ42は、電子通過路Pを囲むように配置されたコイル42aと、ポールピース42b、ヨーク42c、ヨーク42dと、を有している。ヨーク42cは、コイル42aの外側の一部と筒部材10とを接続するように設けられた筐体44の壁部44bとしても機能する。ヨーク42dは、筒部材10の外周を覆うように設けられた筒状部材である。例えば、コイル42aは、筒部材10とヨーク42dとを介して、円筒管9に間接的に接続されている。ポールピース42bは、ヨーク42cとヨーク42dとによって構成されている。ヨーク42c及びヨーク42dは、鉄等の強磁性体である。また、ポールピース42bは、ヨーク42cとヨーク42dとの間に設けられた切り欠き(ギャップ)と、切り欠き近傍に位置するヨーク42cとヨーク42dの一部分と、によって構成されてもよい。ポールピース42bの内径Dは、ヨーク42c又はヨーク42dにおけるギャップ隣接領域の内径と等しい。これにより、磁気集束レンズ42は、ポールピース42bから円筒管9側にコイル42aの磁場が漏れるように構成されてもよい。
 磁気四重極レンズ43は、磁気集束レンズ42よりも後段に配置されている。磁気四重極レンズ43は、電子ビームEBの断面形状を、Z軸方向に沿った長径とY軸方向に沿った短径とを有する楕円形状に変形させる。磁気四重極レンズ43は、電子通過路Pを囲むように配置されている。例えば、磁気四重極レンズ43は、筐体44の壁部44cを介して、円筒管9に間接的に接続されている。壁部44cは、壁部44bに接続されると共に円筒管9の外周を覆うように設けられている。壁部44cは、非磁性体の金属材料からなる。
 図3に示されるように、例示的な磁気四重極レンズ43は、円環状のヨーク43aと、ヨーク43aの内周面に設けられた4つの円柱状のヨーク43bと、各ヨーク43bの先端に設けられたヨーク43cと、を有している。ヨーク43bには、コイル43dが巻かれている。各ヨーク43cは、YZ平面において略半円形状の断面形状を有する。磁気四重極レンズ43の内径dは、各ヨーク43cの最内端を通る内接円の径である。磁気四重極レンズ43は、XZ面(Y軸方向に直交する平面)においては凹レンズとして機能し、XY面(Z軸方向に直交する平面)においては凸レンズとして機能する。このような磁気四重極レンズ43の機能により、電子ビームEBのZ軸方向に沿った長さがY軸方向に沿った長さよりも大きくなるように、電子ビームEBのZ軸方向に沿った径(長径X1)とY軸方向に沿った径(短径X2)とのアスペクト比が調整される。従って、コイル43dに流す電流量を調整することにより、アスペクト比を選択的に調整することができる。一例として、長径X1と短径X2とのアスペクト比は「10:1」に調整される。
 排気部5は、真空ポンプ5a(第1真空ポンプ)と、真空ポンプ5b(第2真空ポンプ)と、を有している。筐体6には、筐体6内の空間(すなわち、筐体6及び磁気レンズ4の筐体44により画定される内部空間S1)を真空排気するための排気流路E1(第1排気流路)が設けられている。排気流路E1を介して、真空ポンプ5bと内部空間S1とが連通している。筐体7には、筐体7内の空間(すなわち、筐体7により画定される内部空間S2)を真空排気するための排気流路E2(第2排気流路)が設けられている。排気流路E2を介して、真空ポンプ5aと内部空間S2とが連通している。真空ポンプ5bは、排気流路E1を介して内部空間S1を真空排気する。真空ポンプ5aは、が排気流路E2を介して、内部空間S2を真空排気する。これにより、内部空間S1及び内部空間S2は、例えば、電子銃又はターゲットで発生するガスを除去するために、真空状態又は部分真空状態に維持される。内部空間S1の内圧は、好ましくは10-4Pa以下の部分真空に維持されてもよく、より好ましくは10-5Pa以下の部分真空に維持されてもよい。内部空間S2の内圧は、好ましくは10-6Pa~10-3Paの間の部分真空に維持されてもよい。円筒管9の内部空間(電子通過路P内の空間)についても、内部空間S1又は内部空間S2を介して、排気部5によって真空排気される。
 なお、図1に示される形態のように真空ポンプ5a及び真空ポンプ5bと2つの排気ポンプを使用することなく、図8に示されるように、1つの排気ポンプ(ここでは一例として真空ポンプ5b)で内部空間S1及び内部空間S2の両方を真空排気可能な構造(X線発生装置1A)が採用されてもよい。いくつかの実施例では、筐体6及び筐体7の外部に位置する連絡路E3によって、排気流路E1及び排気流路E2を連結してもよい。他の例では、連絡路E3は、排気流路E1と排気流路E2とを結合するように、筐体7の壁部内から筐体6の壁部内へと連続して設けられた貫通孔を含んでもよい。なお、1つの排気ポンプは、真空ポンプ5a及び真空ポンプ5bのいずれを用いてもよいが、排気流路E1と結合された真空ポンプ5bを排気ポンプとすることにより、より効率のよい真空排気が可能となる。
 いくつかの実施例では、内部空間S1,S2及び電子通過路Pが真空引きされた状態で、電子銃2に電圧が印加される。その結果、電子銃2から円形断面形状の電子ビームEBが出射される。電子ビームEBは、磁気レンズ4によってターゲット31に集束させられると共に楕円形断面形状に変形させられ、回転するターゲット31に入射する。電子ビームEBがターゲット31に入射すると、ターゲット31においてX線XRが発生し、略円形状の実効焦点形状を有するX線XRがX線通過孔7aから筐体7の外部に出射される。
 図2に示されるように、円筒管9の構成例は、X軸方向に沿って径の大きさが段階的に変化する形状を有している。例えば、円筒管9は、X軸方向に沿って配置された6つの円筒部91~96を有している。円筒部91~96のそれぞれは、X軸方向に沿って一定の径を有している。円筒管9の外径は、円筒管9の内径に同調して変化しなくてもよい。すなわち、円筒管9の外径は、一定であってもよい。
 円筒部91(第1円筒部)は、円筒管9の電子銃2側の第1端部9aを含む。円筒部91は、第1端部9aから、境界部9cにおけるコイル42aの電子銃2側の部分に囲まれた第2端部91aまで延びている。円筒部92(第2円筒部)の第1端部92aは、円筒部91のターゲット31側の第2端部91aに接続されている。いくつかの実施例では、円筒部92は、円筒部91の第2端部91aからポールピース42bよりも若干ターゲット31側にある第2円筒部92の第2端部92bまで延びている。例えば、第2円筒部92の第2端部92bは、X軸方向に沿ってポールピース42bとターゲット31との間に位置してもよい。また、円筒部93(第3円筒部)の第1端部93aは、円筒部92のターゲット31側の第2端部92bに接続されている。
 円筒部93は、円筒部92の第2端部92bから磁気四重極レンズ43に囲まれた円筒部93の第2端部93bまで延びている。円筒部94(第4円筒部)の第1端部は、円筒部93のターゲット31側の第2端部93bに接続されている。円筒部94は、円筒部93の第2端部93bから壁部44cの筐体7側まで延びている。
 円筒部95(第5円筒部)及び円筒部96(第6円筒部)は、筐体7の壁部71の内部を通る。壁部71は、ターゲット31に対向する位置に配置されており、X軸方向に交差するように延在している。円筒部95は、円筒部94のターゲット31側の第2端部に接続されている。円筒部95は、円筒部94の当該端部から壁部71の内部の途中部まで延びている。円筒部96は、壁部71の内部の途中部において、円筒部95のターゲット31側の端部に接続されている。円筒部96は、円筒部95の当該端部から円筒管9のターゲット31側の第2端部9bまで延びている。なお、図2に示されるように、例示的なX線通過孔7aは、壁部71と接続されてZ軸方向に交差するように延在する壁部72に設けられている。X線通過孔7aは、Z軸方向に沿って壁部72を貫通している。
 いくつかの実施例では、各円筒部91~96の径をd1~d6と表すと、「d2>d3>d1>d4>d5>d6」の関係が成立している。一例として、径d1は6~12mmであり、径d2は10~14mmであり、径d3は8~12mmであり、径d4は4~6mmであり、径d5は4~6mmであり、径d6は0.5~4mmである。
 円筒部91と円筒部92の少なくとも一部は、電子通過路Pのうち磁気集束レンズ42のポールピース42b(特にヨーク42cとヨーク42dとの間のギャップ)に囲まれた部分よりも電子銃2側に位置している。いくつかの実施例では、円筒部91と円筒部92の少なくとも一部は、「電子通過路Pのうち磁気集束レンズ42のポールピース42bに囲まれた部分よりも電子銃2側の部分」(以下「第1円筒部分」という。)を構成している。そして、上述したように、円筒部91の径d1よりも円筒部92の径d2の方が大きい(d2>d1)。つまり、円筒部92は、電子銃2側に隣接する円筒部91よりも拡径されている。換言すれば、第1円筒部分において、円筒部92の少なくとも一部は、ターゲット31側に向かって拡径する拡径部を構成している。
 円筒部96は、電子通過路Pのターゲット31側の端部9bを含む。そして、円筒部95の径d5よりも円筒部96の径d6の方が小さい(d6<d5)。つまり、円筒部96は、電子銃2側に隣接する円筒部95よりも縮径されており、円筒部96は、ターゲット31側に向かって縮径する縮径部を構成している。いくつかの実施例では、円筒部92の径d2が円筒管9の最大径であり、円筒部92からターゲット31側に向かって、順次縮径されている。従って、円筒部93~96を含む部分が上記縮径部を構成していると捉えることもできる。
 いくつかの実施例では、電子銃2よりも後段に配置された磁気集束レンズ42によって、電子ビームEBの大きさが調整されると共に、磁気集束レンズ42よりも後段に配置された磁気四重極レンズ43によって、電子ビームEBの断面形状が楕円形状に変形させられる。従って、電子ビームEBの大きさの調整と断面形状の調整とをそれぞれ独立して行うことができる。
 図4の(A)は、図1及び図2に示される磁気集束レンズ42及び磁気四重極レンズ43を含む構成例の模式図である。図4の(B)は、比較例の構成(ダブレット)の模式図である。図4の(A)及び(B)は、カソードC(電子銃2)からターゲット31までの間に電子ビームEBに作用する光学系の一例を模式的に表した図である。図4の(B)に示される比較例の構成では、凹レンズとして作用する面と凸レンズとして作用する面とを相互に入れ替えた2段の磁気四重極レンズの組み合わせによって、電子ビームの断面形状の大きさ及びアスペクト比の調整が行われる。図4の(B)の比較例では、電子ビームの断面形状の大きさを決定するレンズとアスペクト比を決定するレンズとが互いに独立していない。従って、2段の磁気四重極レンズの組み合わせによって、大きさ及びアスペクト比を同時に調整する必要がある。このため、焦点寸法及び焦点形状の調整が煩雑となる。これに対して、図4の(A)に示される実施例の構成では、前段の磁気集束レンズ42によって、電子ビームEBの断面形状の大きさが調整される。すなわち、磁気集束レンズ42によって、電子ビームEBの断面形状は、一定の大きさまで絞られる。その後、後段の磁気四重極レンズ43により、電子ビームEBの断面形状のアスペクト比が調整される。このように、図4の(A)の実施例の構成では、電子ビームEBの断面形状の大きさを決定するレンズ(磁気集束レンズ42)とアスペクト比を決定するレンズ(磁気四重極レンズ43)とが互いに独立している。このため、焦点寸法及び焦点形状の調整を容易且つ柔軟に行うことができる。
 また、磁気集束レンズ42内を通過する電子ビームEBは、X軸方向に沿った軸周りに回転するが、電子銃2により出射される電子ビームEBの断面形状が円形状であることにより、磁気集束レンズ42を経て磁気四重極レンズ43へと至る電子ビームの断面形状は、磁気集束レンズ42内における電子ビームEBの回転量によらずに一定(円形状)となる。これにより、磁気四重極レンズ43において、電子ビームEBの断面形状F1(YZ面に沿った断面形状)を、一貫して確実に、Z方向に沿った長径X1とY軸方向に沿った短径X2とを有する楕円形状に成形することができる。以上により、電子ビームEBの断面形状のアスペクト比及び大きさを容易且つ柔軟に調整することができる。
 電子銃2及び磁気レンズ4を備える実施例に係るX線発生装置1の性能を実験により評価した。その際、電子銃2に高電圧を印加し、ターゲット31を接地電位とした。所望の出力(カソードCへの印加電圧)において、「40μm×40μm」の実効焦点寸法を持つX線XRが得られた。1000時間の動作において、焦点寸法が変化した場合に、カソードC側の動作条件を変更することなく、磁気四重極レンズ43のコイル43dの電流量を調整するだけで、再度上記の実効焦点寸法が容易に得られた。以上のように、X線発生装置1によれば、コイル43dの電流量の調整を行うだけでX線XRの実効焦点寸法を動的な変化に応じて容易に修正可能であることが確認された。
 いくつかの実施例では、図5に示されるように、ターゲット31は、電子ビームEBが入射される電子入射面31aを有している。電子入射面31aは、X軸方向及びZ軸方向に対して傾斜している。そして、磁気四重極レンズ43により楕円形状に変形させられた後の電子ビームEBの断面形状F1(すなわち、長径X1及び短径X2の比)と、X軸方向及びY軸方向に対する電子入射面31aの傾斜角度とは、X線XRの取り出し方向(Z軸方向)から見たX線XRの焦点形状F2が略円形状となるように調整されている。いくつかの実施例では、ターゲット31の電子入射面31aの傾斜角度及び磁気四重極レンズ43による成形条件(アスペクト比)を調整することにより、取り出されるX線XRの焦点(実効焦点)の形状を略円形状とすることができる。その結果、X線発生装置1により発生したX線XRを用いたX線検査等において、適切な検査画像を得ることができる。
 いくつかの実施例では、図2に示されるように、X軸方向に沿った磁気集束レンズ42の長さは、X軸方向に沿った磁気四重極レンズ43の長さよりも長い。ここで、「X軸方向に沿った磁気集束レンズ42の長さ」は、コイル42aを包囲するヨーク42cの全長を意味する。いくつかの実施例では、磁気集束レンズ42のコイル42aの巻数を確保し易くなる。その結果、磁気集束レンズ42に比較的大きい磁場を生じさせることにより、縮小率をより高めるために、電子ビームEBを効果的に小さく集束させることができる。さらに、ターゲット31の電子入射面31aに入射する電子ビームEBの大きさを小さくするために、電子銃2から磁気集束レンズ42により構成されるレンズ中心(ポールピース42bが設けられた部分)までの距離を長くすることができる。
 また、磁気集束レンズ42のポールピース42bの内径Dは、磁気四重極レンズ43の内径d(図3参照)よりも大きい。いくつかの実施例では、磁気集束レンズ42のポールピース42bの内径Dを比較的大きくすることにより、磁気集束レンズ42により構成されるレンズの球面収差を小さくすることができる。また、磁気四重極レンズ43の内径dを比較的小さくすることにより、磁気四重極レンズ43におけるコイル43dの巻数及び当該コイル43dを流れる電流量を少なくすることができる。その結果、磁気四重極レンズ43における発熱量を抑制することもできる。
 また、X線発生装置1は、X軸方向に沿って延在し、電子ビームEBが通過する電子通過路Pを形成する円筒管9を備えている。そして、磁気集束レンズ42及び磁気四重極レンズ43は、円筒管9に直接的又は間接的に接続されている。いくつかの実施例では、円筒管9を基準として、磁気集束レンズ42及び磁気四重極レンズ43の配置又は取付を行うことができるため、磁気集束レンズ42及び磁気四重極レンズ43の中心軸を精度良く同軸上に配置することができる。その結果、磁気集束レンズ42内及び磁気四重極レンズ43内を通過した後の電子ビームEBのプロファイル(断面形状)に歪みが生じることを抑制することができる。
 また、X線発生装置1は、偏向コイル41を備えている。いくつかの実施例では、上述したように、電子銃2から出射される電子ビームEBの出射軸と磁気集束レンズ42及び磁気四重極レンズ43の中心軸との間に生じた角度ずれ等を、適切に補正することができる。また、偏向コイル41は、電子銃2と磁気集束レンズ42との間に配置されている。いくつかの実施例では、電子ビームEBが磁気集束レンズ42及び磁気四重極レンズ43を通過する前に電子ビームEBの走行方向を適切に調整することができる。その結果、ターゲット31に入射される電子ビームEBの断面形状を意図された楕円形状に維持することができる。
 X線発生装置1では、カソードC(電子銃2)を収容する筐体6とターゲット31を収容する筐体7とにわたって設けられる電子通過路Pが形成されている。そして、電子通過路Pのターゲット31側の端部(円筒管9の端部9b)を含む部分は、ターゲット31側に向かって縮径している。いくつかの実施例では、円筒部96(或いは、円筒部93~96)が、ターゲット31側に向かって縮径する縮径部を構成している。これにより、筐体7内で電子ビームEBがターゲット31に入射することにより生じた反射電子が、電子通過路Pを介して筐体6内へと到達し難くなっている。その結果、ターゲット31から放出された反射電子に起因するカソードCの劣化が抑制又は防止され得る。なお、反射電子とは、ターゲット31に入射した電子ビームEBのうちターゲット31に吸収されずに反射する電子である。
 カソードCから電子ビームEBが放出される際に、電子銃2によりガスが発生する。ガスは、カソードCが収容されている空間に残留し得る。また、ガス(例えば、H、HO、N、CO、CO、CH、Ar等のガス副産物)が、ターゲット31への電子の衝突により、筐体7内において発生し得る。これにより、電子がターゲット31の表面から反射されることもある。いくつかの実施例では、電子通過路Pのターゲット31側の入口(すなわち、端部9b)が狭くなっているため、電子通過路Pを介して筐体6側(すなわち、内部空間S1)へと吸引されるガスが少なく、筐体6に設けられた排気流路E1から排出されるガスは少ない。そこで、X線発生装置1では、筐体7自体に、上記ガスの排出経路(排気流路E2)が設けられている。これにより、各筐体6,7内の真空排気を適切に行いつつ、反射電子に起因するカソードCの劣化を抑制又は防止することができる。
 また、電子通過路Pのうち磁気集束レンズ42のポールピース42bに囲まれた部分よりも電子銃2側の部分(上述した第1円筒部分)は、ターゲット31側に向かって拡径する拡径部(円筒部92の少なくとも一部)を有する。いくつかの実施例では、電子通過路Pのターゲット31側の端部9bから電子通過路P内へと反射電子が進入したとしても、ターゲット31側に向かって拡径する拡径部(すなわち、カソードC側に向かって縮径する部分)により、電子通過路Pを介した反射電子のカソードC側への移動を抑制することができる。また、ターゲット31に向かう電子ビームEBが電子通過路Pの内壁(円筒管9の内面)に衝突してしまうことを効果的に抑制することができる。
 また、拡径部は、円筒管9の電子銃2側からターゲット31側に向かって、径d1(第1径)を有する部分(すなわち円筒部91)から径d1よりも大きい径d2(第2径)を有する部分(すなわち円筒部92)へと非連続に変化する部分(すなわち、円筒部91と円筒部92との境界部分)を含む。いくつかの実施例では、円筒部91と円筒部92との境界部分において、円筒管9の径は、段差状に変化している。境界部9cが、径d1を内径とし、径d2を外径とする円環状の壁によって形成されている(図2参照)。いくつかの実施例では、電子通過路P内をターゲット31側から電子銃2側へと進む反射電子が存在したとしても、当該反射電子を当該境界部9cに衝突させることができる。これにより、当該反射電子のカソードC側への移動をより一層効果的に抑制又は防止することができる。
 また、電子通過路Pのうち磁気集束レンズ42のポールピース42bに囲まれた部分の径(円筒部92の径d2)は、電子通過路Pの他の部分の径以上である。つまり、電子通過路Pは、磁気集束レンズ42のポールピース42bに囲まれた部分において、最大径を有している。いくつかの実施例では、電子銃2から出射した電子ビームEBの拡がりが大きくなる部分(すなわち、ポールピース42bに囲まれた部分)の径を他の部分の径以上に大きくすることにより、ターゲット31に向かう電子ビームEBが電子通過路Pの内壁(円筒管9の内面)に衝突してしまうことを効果的に抑制することができる。
 また、排気流路E1と排気流路E2とは連通している。そして、排気部5が、排気流路E1を介して筐体6内を真空排気すると共に、排気流路E2を介して筐体7内を真空排気する。いくつかの実施例では、共通の排気部5によって、筐体6内の内部空間S1及び筐体7内の内部空間S2の両方を真空排気することができるため、X線発生装置1の小型化を図ることができる。
 本明細書に記載される全ての態様、利点及び特徴は、任意の特定の実施例によって必ずしも達成されないこと、或いは任意の特定の実施例に必ずしも含まれないことを理解されたい。本明細書では様々な実施例を説明したが、異なる材料及び形状を有するものを含む他の実施例を採用することができることは明らかである。
 例えば、電子銃2からの電子ビームEBの出射軸と磁気集束レンズ42の中心軸とが精度良く揃う場合には、偏向コイル41は省略されてもよい。また、偏向コイル41は、磁気集束レンズ42と磁気四重極レンズ43との間に配置されてもよいし、磁気四重極レンズ43とターゲット31との間に配置されてもよい。
 電子通過路P(円筒管9)の形状は、全域に亘って単一の径を有していてもよい。また、電子通過路Pは、単一の円筒管9によって形成されてもよい。他の例では、円筒管9は、筐体6内にのみ設けられ、筐体7内を通る電子通過路Pは、筐体7の壁部71に設けられた貫通孔によって形成されてもよい。また、別途に円筒管9を設けることなく、筒部材10の貫通孔と筐体44及び筐体7に設けられた貫通孔とによって、電子通過路Pを構成してもよい。
 図6は、円筒管の第1変形例(円筒管9A)を示している。いくつかの実施例では、円筒管9Aは、円筒部91~96の代わりに円筒部91A~93Aを有する点で、図2に示される円筒管9と相違している。円筒部91Aは、円筒管9の端部9aからコイル42aの電子銃2側に囲まれた位置まで延びている。円筒部91Aはテーパ形状を有している。例えば、円筒部91Aの径は、端部9aからターゲット31側に向かって、径d1から径d2まで漸増している。円筒部92Aは、円筒部91Aのターゲット31側の端部からポールピース42bよりも若干ターゲット31側の位置まで延びている。円筒部92Aは一定の径(径d2)を有している。円筒部93Aは、円筒部92Aのターゲット31側の端部から円筒管9の端部9bまで延びている。円筒部93Aはテーパ形状を有している。例えば、円筒部93Aの径は、円筒部92Aの当該端部からターゲット31側に向かって、径d2から径d6まで漸減している。円筒管9Aにおいては、円筒部91Aが拡径部に相当し、円筒部93Aが縮径部に相当する。
 図7は、円筒管の第2変形例(円筒管9B)を示している。いくつかの実施例では、円筒管9Bは、円筒部91~96の代わりに円筒部91B,92Bを有する点で、図2に示される円筒管9と相違している。円筒部91Bは、円筒管9の端部9aからポールピース42bに囲まれた位置まで延びている。円筒部91Bはテーパ形状を有している。例えば、円筒部91Bの径は、端部9aからターゲット31側に向かって、径d1から径d2まで漸増している。円筒部92Bは、円筒部91Bのターゲット31側の端部から円筒管9の端部9bまで延びている。円筒部92Bはテーパ形状を有している。いくつかの実施例では、円筒部92Bの径は、円筒部91Bの当該端部からターゲット31側に向かって、径d2から径d6まで漸減している。円筒管9Bにおいては、円筒部91Bが拡径部に相当し、円筒部92Bが縮径部に相当する。
 いくつかの実施例では、円筒管(電子通過路)の縮径部及び拡径部は、円筒管9のように段差状(非連続)に形成されていなくてもよく、円筒管9A,9Bのようにテーパ状に形成されてもよい。また、円筒管9Bのように、円筒管は、テーパ状に形成された部分のみによって構成されてもよい。また、円筒管は、段差状に径を変化させる部分とテーパ状に径を変化させる部分との両方を有していてもよい。例えば、拡径部が円筒管9Aのようにテーパ状に形成される一方で、縮径部が円筒管9のように段差状に形成されてもよい。
 また、ターゲットは、回転陽極でなくてもよい。いくつかの実施例では、ターゲットが回転しないように構成され、電子ビームEBが常にターゲット上の同じ位置に入射するように構成されてもよい。ただし、ターゲットを回転陽極とすることにより、ターゲットに対する電子ビームEBによる局所的な負荷を減少させることができる。その結果、電子ビームEBの量を増大させ、ターゲットから出射されるX線XRの線量を増大させることが可能となる。
 いくつかの実施例では、電子銃2は、円形状の断面形状を有する電子ビームEBを出射するように構成されてもよい。他の例では、電子銃2は、円形状以外の断面形状を有する電子ビームを出射するように構成されてもよい。
[付記]
 本開示は、下記の構成を含んでいる。
[構成1]
 第1排気流路(排気流路E1)と第2排気流路(排気流路E2)とは、連通している。
[構成2]
 排気システムは、第1排気流路(排気流路E1)に連通された第1真空排気ポンプ(真空ポンプ5b)と、第2排気流路(排気流路E2)に連通された第2真空排気ポンプ(真空ポンプ5a)と、を含む。
[構成3]
 排気システムは、第1排気流路(排気流路E1)及び第2排気流路(排気流路E2)に連通された一以上のポンプ(真空ポンプ5a,5b)を有する。排気システムは、第1内部空間(内部空間S1)及び第2内部空間(内部空間S2)からガス副産物を除去するように構成されている。
[構成4]
 電子銃2が電子ビームEBを放出している間に、排気システムによって第1内部空間(内部空間S1)及び第2内部空間(内部空間S2)内のガス副産物が除去される。
[構成5]
 電子銃2の少なくとも一部は、第1内部空間(内部空間S1)内に位置し、ターゲット31の少なくとも一部は、第2内部空間(内部空間S2)内に位置する。
[構成6]
 X線発生装置1は、電子ビームEBを放出するように構成された電子銃2であって、第1筐体(筐体6)内の第1内部空間(内部空間S1)内に少なくとも部分的に配置された電子銃2と、第2筐体(筐体7)内の第2内部空間(内部空間S2)内に少なくとも部分的に配置された、電子ビームEBのターゲット31と、第1内部空間(内部空間S1)と第2内部空間(内部空間S2)との間を通る電子通過路Pであって、第1内部空間(内部空間S1)に位置する第1端部9aと、第2内部空間(内部空間S2)に位置する第2端部9bとを有し、第2端部9bは、ターゲット31に向かって縮径する縮径部(例えば、円筒部93~96)を有する、電子通過路Pと、第1内部空間及び第2内部空間の両方を真空排気する排気システムと、を備える。
[構成7]
 電子通過路Pの第1端部9aは、ターゲット31に向かって拡径する拡径部(例えば、円筒部92における円筒部91側の端部)を有する。拡径部は、第1径(例えば、円筒部91の径d1)から第1径よりも大きい第2径(例えば、円筒部92の径d2まで段階的に拡径している。拡径部は、第1径を内径とし、第2径を外径とする環状壁(境界部9c)を形成している。
[構成8]
 環状壁(境界部9c)は、ターゲット31に対向しており、電子通過路Pを通過して第1内部空間(内部空間S1)の電子銃2に到達する反射電子の数を減少させるために、電子ビームEBがターゲット31に入射したときに第2内部空間(内部空間S2)から放出される反射電子と衝突するように構成されている。
[構成9]
 電子通過路Pの第1端部9aにおける拡径部の最小径(例えば、円筒部91の径d1)は、電子通過路Pの第2端部9bにおける縮径部の最小径(例えば、円筒部96の径d6)よりも大きい。
[構成10]
 電子通過路Pは、第1端部9aと第2端部9bとの間に位置する中間部(例えば、円筒部92)を含む。電子通過路Pの最大径を有する部分は、中間部に位置する。
[構成11]
 電子通過路Pは、第1端部9aにおいて第1径を有する第1円筒部(例えば、円筒部91)と、第2端部9bにおいて第2径に向かって縮径する縮径部を有する第2円筒部(例えば、円筒部93~96)と、第1円筒部と第2円筒部との間に位置し、中間径を有する中間円筒部(例えば、円筒部92)と、を含む3以上の円筒部を有する。第1径(例えば、円筒部91の径d1)は第2径(例えば、円筒部96の径d6)よりも大きく、中間径(例えば、円筒部92の径d2)は第1径よりも大きい。

Claims (20)

  1.  電子ビームを出射するカソードを有する電子銃と、
     前記電子銃を収容する第1筐体と、
     前記電子銃から出射された前記電子ビームが入射されるターゲットと、
     前記ターゲットを収容する第2筐体と、
     前記第1筐体と前記第2筐体とにわたって設けられ、前記電子ビームを前記第1筐体の第1内部空間から前記第2筐体の第2内部空間へと通過させる電子通過路であって、前記ターゲットに向かって縮径する縮径部を有する前記電子通過路と、
     前記第1筐体内の前記第1内部空間を真空排気するための第1排気流路と、
     前記第2筐体内の前記第2内部空間を真空排気するための第2排気流路と、を備える、X線発生装置。
  2.  前記電子銃よりも後段において前記電子通過路を囲み、前記電子ビームを集束させる磁気集束レンズを更に備え、
     前記電子通過路は、前記電子銃と前記磁気集束レンズのポールピースとの間に位置し、前記ターゲットに向かって拡径する拡径部を有する、請求項1に記載のX線発生装置。
  3.  前記拡径部は、第1径から前記第1径よりも大きい第2径へと非連続に変化する、請求項2に記載のX線発生装置。
  4.  前記電子銃よりも後段において前記電子通過路を囲み、前記電子ビームを集束させる磁気集束レンズを更に備え、
     前記電子通過路のうち前記磁気集束レンズのポールピースに囲まれた領域の径は、前記電子通過路の最大径に等しい、請求項1に記載のX線発生装置。
  5.  前記第1排気流路を介して前記第1筐体の前記第1内部空間を真空排気すると共に、前記第2排気流路を介して前記第2筐体の前記第2内部空間を真空排気する排気システムを更に備える、請求項1に記載のX線発生装置。
  6.  前記第1排気流路と前記第2排気流路とは、連通している、請求項5に記載のX線発生装置。
  7.  前記排気システムは、前記第1排気流路に連通された第1真空排気ポンプと、前記第2排気流路に連通された第2真空排気ポンプと、を含む、請求項5に記載のX線発生装置。
  8.  前記排気システムは、前記第1排気流路及び前記第2排気流路に連通された一以上のポンプを有し、
     前記排気システムは、前記第1内部空間及び前記第2内部空間からガス副産物を除去するように構成されている、請求項5に記載のX線発生装置。
  9.  前記電子銃が前記電子ビームを放出している間に、前記排気システムによって前記第1内部空間及び前記第2内部空間内の前記ガス副産物が除去される、請求項8に記載のX線発生装置。
  10.  前記電子銃の少なくとも一部は、前記第1内部空間内に位置し、
     前記ターゲットの少なくとも一部は、前記第2内部空間内に位置する、請求項1に記載のX線発生装置。
  11.  電子ビームを放出するように構成された電子銃であって、第1筐体内の第1内部空間内に少なくとも部分的に配置された前記電子銃と、
     第2筐体内の第2内部空間内に少なくとも部分的に配置された、前記電子ビームのターゲットと、
     前記第1内部空間と前記第2内部空間との間を通る電子通過路であって、前記第1内部空間に位置する第1端部と、前記第2内部空間に位置する第2端部とを有し、前記第2端部は、前記ターゲットに向かって縮径する縮径部を有する、前記電子通過路と、
     前記第1内部空間及び前記第2内部空間の両方を真空排気する排気システムと、を備えるX線発生装置。
  12.  前記第1内部空間を真空排気する第1排気流路と、
     前記第2内部空間を真空排気する第2排気流路と、を更に備える、請求項11に記載のX線発生装置。
  13.  前記第1排気流路と前記第2排気流路とは、連通している、請求項12に記載のX線発生装置。
  14.  前記排気システムは、前記第1排気流路及び前記第2排気流路に連通された一以上のポンプを有し、
     前記排気システムは、前記第1内部空間及び前記第2内部空間からガス副産物を除去するように構成されている、請求項12に記載のX線発生装置。
  15.  前記電子銃が前記電子ビームを放出している間に、前記排気システムによって前記第1内部空間及び前記第2内部空間内の前記ガス副産物が除去される、請求項14に記載のX線発生装置。
  16.  前記電子通過路の前記第1端部は、前記ターゲットに向かって拡径する拡径部を有し、
     前記拡径部は、第1径から前記第1径よりも大きい第2径まで段階的に拡径しており、
     前記拡径部は、前記第1径を内径とし、前記第2径を外径とする環状壁を形成している、請求項11に記載のX線発生装置。
  17.  前記環状壁は、前記ターゲットに対向しており、前記電子通過路を通過して前記第1内部空間の前記電子銃に到達する反射電子の数を減少させるために、前記電子ビームが前記ターゲットに入射したときに前記第2内部空間から放出される前記反射電子と衝突するように構成されている、請求項16に記載のX線発生装置。
  18.  前記電子通過路の前記第1端部における前記拡径部の最小径は、前記電子通過路の前記第2端部における前記縮径部の最小径よりも大きい、請求項16に記載のX線発生装置。
  19.  前記電子通過路は、前記第1端部と前記第2端部との間に位置する中間部を含み、
     前記電子通過路の最大径を有する部分は、前記中間部に位置する、請求項16に記載のX線発生装置。
  20.  前記電子通過路は、前記第1端部において第1径を有する第1円筒部と、前記第2端部において第2径に向かって縮径する前記縮径部を有する第2円筒部と、前記第1円筒部と前記第2円筒部との間に位置し、中間径を有する中間円筒部と、を含む3以上の円筒部を有し、
     前記第1径は前記第2径よりも大きく、
     前記中間径は前記第1径よりも大きい、請求項11に記載のX線発生装置。
PCT/JP2021/005317 2020-04-13 2021-02-12 X線発生装置 WO2021210254A1 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP21788610.0A EP4135000A4 (en) 2020-04-13 2021-02-12 X-RAY GENERATION DEVICE
KR1020227028253A KR20220166783A (ko) 2020-04-13 2021-02-12 X선 발생 장치
JP2022515217A JPWO2021210254A1 (ja) 2020-04-13 2021-02-12
CN202180024407.6A CN115380352A (zh) 2020-04-13 2021-02-12 X射线产生装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US16/846,403 2020-04-13
US16/846,403 US11101098B1 (en) 2020-04-13 2020-04-13 X-ray generation apparatus with electron passage

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2021210254A1 true WO2021210254A1 (ja) 2021-10-21

Family

ID=77389939

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2021/005317 WO2021210254A1 (ja) 2020-04-13 2021-02-12 X線発生装置

Country Status (7)

Country Link
US (1) US11101098B1 (ja)
EP (1) EP4135000A4 (ja)
JP (1) JPWO2021210254A1 (ja)
KR (1) KR20220166783A (ja)
CN (1) CN115380352A (ja)
TW (1) TW202145277A (ja)
WO (1) WO2021210254A1 (ja)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11144653A (ja) 1997-11-06 1999-05-28 Mitsubishi Heavy Ind Ltd X線発生装置
JP2017022054A (ja) * 2015-07-14 2017-01-26 株式会社ニコン X線発生装置、x線装置、構造物の製造方法、及び構造物製造システム
WO2018066135A1 (ja) * 2016-10-07 2018-04-12 株式会社ニコン 荷電粒子線装置、電子線発生装置、x線源、x線装置および構造物の製造方法
US20180144902A1 (en) * 2016-11-23 2018-05-24 General Electric Company X-ray tube ion barrier

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5248254B2 (ja) 1972-12-12 1977-12-08
US4130759A (en) 1977-03-17 1978-12-19 Haimson Research Corporation Method and apparatus incorporating no moving parts, for producing and selectively directing x-rays to different points on an object
JPS5619855A (en) * 1979-07-27 1981-02-24 Nippon Hoso Kyokai <Nhk> X-ray generator
JPS60142352U (ja) 1984-02-29 1985-09-20 ダイハツ工業株式会社 タイミングギヤトレイン用歯車
DE19639920C2 (de) 1996-09-27 1999-08-26 Siemens Ag Röntgenröhre mit variablem Fokus
GB9906886D0 (en) * 1999-03-26 1999-05-19 Bede Scient Instr Ltd Method and apparatus for prolonging the life of an X-ray target
JP4762436B2 (ja) 2001-05-16 2011-08-31 浜松ホトニクス株式会社 カソードユニット及び開放型x線発生装置
JP2006164819A (ja) 2004-12-09 2006-06-22 Hitachi Medical Corp マイクロフォーカスx線管およびそれを用いたx線装置
JP4238245B2 (ja) * 2005-09-14 2009-03-18 知平 坂部 X線発生方法及びx線発生装置
US7881436B2 (en) * 2008-05-12 2011-02-01 General Electric Company Method and apparatus of differential pumping in an x-ray tube
JP5248254B2 (ja) 2008-09-29 2013-07-31 知平 坂部 X線発生方法及びx線発生装置
US8542801B2 (en) * 2011-01-07 2013-09-24 General Electric Company X-ray tube with secondary discharge attenuation
JP5711007B2 (ja) * 2011-03-02 2015-04-30 浜松ホトニクス株式会社 開放型x線源用冷却構造及び開放型x線源
EP2690645A1 (en) 2012-07-26 2014-01-29 Agilent Technologies, Inc. Tensioned flat electron emitter tape
EP2690646A1 (en) 2012-07-26 2014-01-29 Agilent Technologies, Inc. Gradient vacuum for high-flux x-ray source
JP2015041585A (ja) 2013-08-23 2015-03-02 株式会社ニコン X線源、x線装置、及び構造物の製造方法
US10008359B2 (en) 2015-03-09 2018-06-26 Varex Imaging Corporation X-ray tube having magnetic quadrupoles for focusing and magnetic dipoles for steering
CN106206223B (zh) * 2013-10-29 2019-06-14 万睿视影像有限公司 发射特点可调节以及磁性操控和聚焦的具有平面发射器的x射线管
JP6377572B2 (ja) 2015-05-11 2018-08-22 株式会社リガク X線発生装置、及びその調整方法
WO2017019782A1 (en) 2015-07-27 2017-02-02 Rensselaer Polytechnic Institute Combination of an x-ray tube and a source grating with electron beam manipulation
JP6796480B2 (ja) 2016-12-26 2020-12-09 日本電子株式会社 電子銃用の取外し工具

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11144653A (ja) 1997-11-06 1999-05-28 Mitsubishi Heavy Ind Ltd X線発生装置
JP2017022054A (ja) * 2015-07-14 2017-01-26 株式会社ニコン X線発生装置、x線装置、構造物の製造方法、及び構造物製造システム
WO2018066135A1 (ja) * 2016-10-07 2018-04-12 株式会社ニコン 荷電粒子線装置、電子線発生装置、x線源、x線装置および構造物の製造方法
US20180144902A1 (en) * 2016-11-23 2018-05-24 General Electric Company X-ray tube ion barrier

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP4135000A4

Also Published As

Publication number Publication date
TW202145277A (zh) 2021-12-01
CN115380352A (zh) 2022-11-22
US11101098B1 (en) 2021-08-24
JPWO2021210254A1 (ja) 2021-10-21
KR20220166783A (ko) 2022-12-19
EP4135000A1 (en) 2023-02-15
EP4135000A4 (en) 2024-04-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2021210255A1 (ja) 電子ビーム発生器及びx線発生装置
JP2732961B2 (ja) 荷電粒子線装置
JP2007066694A (ja) X線管
JP6619916B1 (ja) X線発生管、x線発生装置およびx線撮像装置
JP4954525B2 (ja) X線管
JP2004087460A (ja) 収差補正装置を備えた荷電粒子ビーム装置
WO2021210254A1 (ja) X線発生装置
EP2838106B1 (en) X-ray tube
WO2021210256A1 (ja) X線発生装置及びx線発生方法
JP4357530B2 (ja) 荷電粒子ビーム系用の2段式荷電粒子ビームエネルギー幅低減系
EP3474306B1 (en) X-ray tube
JP5458472B2 (ja) X線管
US20070075262A1 (en) Electrostatic deflection system with low aberrations and vertical beam incidence
JP7196046B2 (ja) X線管
JP4375110B2 (ja) X線発生装置
JPWO2020136912A1 (ja) 電子銃、x線発生装置およびx線撮像装置
WO2023119689A1 (ja) X線管
JP2746573B2 (ja) 荷電粒子線装置
JP2002008572A (ja) X線管
JP2008034137A (ja) X線管

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 21788610

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2022515217

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2021788610

Country of ref document: EP

Effective date: 20221109