WO2021049725A1 - 발광 소자, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 표시 장치 - Google Patents

발광 소자, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 표시 장치 Download PDF

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WO2021049725A1
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light emitting
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contact
emitting device
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차형래
김동욱
김명희
김세영
조현민
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    • H01L25/167—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits comprising optoelectronic devices, e.g. LED, photodiodes

Definitions

  • the present invention relates to a light emitting device, a method of manufacturing the same, and a display device including the same.
  • OLED organic light emitting display
  • LCD liquid crystal display
  • a device that displays an image of a display device includes a display panel such as an organic light emitting display panel or a liquid crystal display panel.
  • a light emitting display panel may include a light emitting device.
  • a light emitting diode LED
  • OLED organic light emitting diode
  • an inorganic material as a fluorescent material Inorganic light-emitting diodes.
  • An inorganic light emitting diode using an inorganic semiconductor as a fluorescent material has durability even in a high temperature environment, and has an advantage in that the efficiency of blue light is higher than that of an organic light emitting diode.
  • a transfer method using a dielectrophoresis (DEP) method has been developed. Accordingly, research on inorganic light emitting diodes having superior durability and efficiency compared to organic light emitting diodes is ongoing.
  • An object to be solved by the present invention is to provide a light emitting device having different widths at both ends of a light emitting device manufactured by etching a semiconductor crystal, and a method of manufacturing the same.
  • an object to be solved by the present invention is to provide a display device including the light emitting device and having an increased contact area between the light emitting device and a contact electrode.
  • a light emitting device is a first semiconductor layer doped with a first polarity and including a first portion extending in a first direction and a second portion connected to one side of the first portion ;
  • a second semiconductor layer doped with a second polarity different from the first polarity;
  • An active layer disposed between the first semiconductor layer and the second semiconductor layer; It is disposed to surround at least an outer surface of the active layer and includes an insulating film extending in the first direction, and a diameter of the second portion measured in a second direction perpendicular to the first direction is the first portion of the first portion. It is larger than the diameter measured in two directions, and the side surface of the second portion has an inclined shape.
  • the insulating layer may surround an outer surface of the first portion of the first semiconductor layer, and a side surface of the second portion may be exposed without contacting the insulating layer.
  • the length of the second portion may have a range of about 10% of the length of the light emitting device.
  • the second portion includes an upper surface connected to the first portion and a lower surface facing the upper surface, and a diameter of a lower surface of the second portion may be larger than a diameter of the upper surface.
  • the lower surface of the second portion of the first semiconductor layer may have a diameter in a range of 1.25 to 1.8 times the diameter of the first portion of the first semiconductor layer.
  • the lower surface of the second portion may have a diameter in the range of 750 nm to 900 nm.
  • the diameter of the lower surface of the second portion may be greater than the sum of the diameter of the first portion and the thickness of the insulating layer.
  • At least a portion of the upper surface of the second portion may contact the insulating layer.
  • An angle between the lower surface and the side surface of the second portion may have a range of 65° to 80°.
  • It may further include an electrode layer disposed on the second semiconductor layer.
  • a portion of the side surface of the electrode layer may be exposed without contacting the insulating layer.
  • the insulating layer may have a curved outer surface such that a thickness decreases along the one direction.
  • a method of manufacturing a light emitting device may include preparing a substrate, forming a semiconductor structure disposed on the substrate and including a first semiconductor; Etching a portion of the semiconductor structure to form a semiconductor crystal including a plurality of holes exposing a portion of the first semiconductor and a portion of the first semiconductor and spaced apart from each other; And forming an insulating film disposed on the outer surface of the semiconductor crystal and the exposed portion of the first semiconductor, and separating the element rod formed by etching the insulating film and the first semiconductor overlapping the hole from the substrate.
  • the element rod is a first semiconductor layer including a first portion extending in one direction and a second portion connected to one side of the first portion and having a diameter greater than the first portion, and a first portion of the first semiconductor layer
  • An active layer disposed on a portion and a second semiconductor layer disposed on the active layer may be included.
  • the semiconductor crystal includes the first portion of the first semiconductor layer, and in the step of forming the device load, the first semiconductor exposed along the hole is etched to form a second portion of the first semiconductor layer. , The insulating film may be partially removed to expose an upper surface of the semiconductor crystal.
  • the device rod may further include an electrode layer disposed on the second semiconductor layer.
  • a display device for solving the above problem includes: a substrate; A first electrode disposed on the substrate and a second electrode spaced apart from the first electrode; And at least one light emitting device disposed between the first electrode and the second electrode and electrically connected to the first electrode and the second electrode, wherein the light emitting device has a shape extending in a first direction, A diameter measured in a second direction perpendicular to the first direction at one end is smaller than a diameter measured in the second direction at the other end.
  • the light emitting device may include a first semiconductor layer including a first portion extending in the first direction and a second portion connected to one side of the first portion; An active layer disposed on the first semiconductor layer; A second semiconductor layer disposed on the active layer; An electrode layer disposed on the second semiconductor layer and an insulating film disposed to surround at least an outer surface of the active layer and extending in the first direction, and the diameter measured in the second direction of the second portion is the first It is larger than the diameter measured in the second direction of the portion, and the side surface of the second portion may have an inclined shape.
  • a first contact electrode in contact with the first electrode and the one end of the light-emitting device, and a second contact electrode in contact with the second electrode and the other end of the light-emitting device may be further included.
  • the second contact electrode is in contact with a second portion of the first semiconductor layer, and forms a first contact surface in contact with a lower surface of the second portion and a second contact surface in contact with a side surface of the second portion, and the first The contact electrode may form a third contact surface by contacting the upper surface of the electrode layer.
  • An area of the first contact surface may be larger than an area of the third contact surface.
  • the first contact surface and the second contact surface may not be parallel to each other.
  • the insulating layer of the light emitting device is disposed to surround a part of the side surface of the electrode layer, and the first contact electrode may contact the exposed side surface of the electrode layer.
  • Each of the first contact electrode and the second contact electrode may partially contact the insulating layer of the light emitting device.
  • one end of the light emitting device may have a larger diameter than the other end, and a side surface of the semiconductor layer may be partially exposed at the one end.
  • the semiconductor layer of the light emitting device may include a lower surface and an inclined side surface to form a wide contact surface with a contact electrode of a display device.
  • the display device including the above-described light-emitting element may reduce contact resistance between the contact electrode and the light-emitting element, thereby improving electrical characteristics and luminous efficiency of the light-emitting element.
  • FIG. 1 is a schematic plan view of a display device according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 2 is a schematic plan view of one pixel of a display device according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 3 is a plan view illustrating one sub-pixel of FIG. 2.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view taken along lines Xa-Xa', Xb-Xb', and Xc-Xc' of FIG. 3.
  • FIG. 5 is a schematic diagram of a light emitting device according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 6 is a schematic cross-sectional view of a light emitting device according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 7 is an enlarged view of the QL portion of FIG. 6.
  • FIG. 8 is an enlarged view of the QA portion of FIG. 4.
  • FIG. 9 is a cross-sectional view illustrating a part of a display device according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 10 is a flowchart illustrating a method of manufacturing a light emitting device according to an exemplary embodiment.
  • 11 to 16 are cross-sectional views illustrating a manufacturing process of a light emitting device according to an exemplary embodiment.
  • 17 to 19 are cross-sectional views illustrating a part of a manufacturing process of a display device according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 20 is a cross-sectional view illustrating a part of a display device according to an exemplary embodiment.
  • 21 is a schematic cross-sectional view of a light emitting device according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 22 is a cross-sectional view illustrating a part of a display device including the light emitting element of FIG. 20.
  • 23 and 24 are cross-sectional views illustrating a part of a display device including a light emitting device according to an exemplary embodiment.
  • 25 is a plan view illustrating one sub-pixel of a display device according to an exemplary embodiment.
  • 26 is a plan view illustrating one pixel of a display device according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 1 is a schematic plan view of a display device according to an exemplary embodiment.
  • the display device 10 displays a moving picture or a still image.
  • the display device 10 may refer to all electronic devices that provide a display screen. For example, televisions, notebooks, monitors, billboards, Internet of Things, mobile phones, smart phones, tablet PCs (Personal Computers), electronic watches, smart watches, watch phones, head mounted displays, mobile communication terminals that provide display screens, An electronic notebook, an electronic book, a portable multimedia player (PMP), a navigation device, a game machine, a digital camera, a camcorder, and the like may be included in the display device 10.
  • PMP portable multimedia player
  • the display device 10 includes a display panel that provides a display screen.
  • Examples of the display panel include an LED display panel, an organic light emitting display panel, a quantum dot emission display panel, a plasma display panel, and a field emission display panel.
  • a display panel a case in which an LED display panel is applied is exemplified, but the present invention is not limited thereto, and the same technical idea may be applied to other display panels if applicable.
  • the shape of the display device 10 may be variously modified.
  • the display device 10 may have a shape such as a long horizontal rectangle, a long vertical rectangle, a square, a square with a round corner (vertex), other polygons, and circles.
  • the shape of the display area DA of the display device 10 may also be similar to the overall shape of the display device 10. In FIG. 1, a display device 10 and a display area DA having an elongated rectangular shape are illustrated.
  • the display device 10 may include a display area DA and a non-display area NDA.
  • the display area DA is an area in which a screen can be displayed
  • the non-display area NDA is an area in which the screen is not displayed.
  • the display area DA may be referred to as an active area
  • the non-display area NDA may be referred to as an inactive area.
  • the display area DA may generally occupy the center of the display device 10.
  • the display area DA may include a plurality of pixels PX.
  • the plurality of pixels PX may be arranged in a matrix direction.
  • the shape of each pixel PX may be a rectangle or a square in a plane, but is not limited thereto, and each side may have a rhombus shape in which each side is inclined in one direction.
  • Each of the pixels PX may include one or more light-emitting elements 300 that emit light of a specific wavelength band to display a specific color.
  • FIG. 2 is a schematic plan view of one pixel of a display device according to an exemplary embodiment.
  • 3 is a plan view illustrating one sub-pixel of FIG. 2.
  • each of the plurality of pixels PX may include a first sub-pixel PX1, a second sub-pixel PX2, and a third sub-pixel PX3.
  • the first sub-pixel PX1 emits light of a first color
  • the second sub-pixel PX2 emits light of a second color
  • the third sub-pixel PX3 emits light of a third color.
  • the first color may be blue
  • the second color may be green
  • the third color may be red.
  • each sub-pixel PXn may emit light of the same color.
  • FIG. 2 illustrates that the pixel PX includes three sub-pixels PXn, the present invention is not limited thereto, and the pixel PX may include a larger number of sub-pixels PXn.
  • Each sub-pixel PXn of the display device 10 may include an area defined as a light emitting area EMA.
  • the first sub-pixel PX1 is the first emission area EMA1
  • the second sub-pixel PX2 is the second emission area EMA2
  • the third sub-pixel PX3 is the third emission area EMA2.
  • the light-emitting area EMA may be defined as an area in which light of a specific wavelength band is emitted by disposing the light-emitting element 300 included in the display device 10.
  • the light emitting device 300 includes an active layer 330, and the active layer 330 may emit light of a specific wavelength band without direction.
  • Light emitted from the active layer 330 of the light-emitting device 300 may also be emitted in a lateral direction of the light-emitting device 300, including the direction of both ends of the light-emitting device 300.
  • the light-emitting area EMA of each sub-pixel PXn includes an area in which the light-emitting element 300 is disposed, and is an area adjacent to the light-emitting element 300 and includes a region in which light emitted from the light-emitting element 300 is emitted can do. Further, the present invention is not limited thereto, and the light emitting area EMA may also include a region in which light emitted from the light emitting device 300 is reflected or refracted by another member to be emitted.
  • the plurality of light-emitting devices 300 may be disposed in each sub-pixel PXn, and may form a light-emitting area EMA including an area in which they are disposed and an area adjacent thereto.
  • each sub-pixel PXn of the display device 10 may include a non-emission area defined as an area other than the emission area EMA.
  • the non-emission area may be a region in which the light emitting device 300 is not disposed and the light emitted from the light emitting device 300 does not reach and thus does not emit light.
  • Each sub-pixel PXn of the display device 10 may include a plurality of electrodes 210 and 220, a light emitting element 300, a plurality of contact electrodes 260, and a plurality of external banks 430.
  • the display device 10 includes a plurality of internal banks ('410' and '420' of FIG. 4) and a plurality of insulating layers ('510' and '520' of FIG. 4 ). , '530', '550') may be further included.
  • the plurality of electrodes 210 and 220 may include a first electrode 210 and a second electrode 220.
  • the first electrode 210 and the second electrode 220 extend in the first direction DR1 and are disposed in the first direction DR1 in the electrode stem portions 210S and 220S and the electrode stem portions 210S and 220S, respectively. It may include at least one electrode branch portion 210B and 220B extending and branching in the second direction DR2, which is a direction intersecting with each other.
  • the first electrode 210 extends in the first direction DR1 and is branched from the first electrode stem 210S and the first electrode stem 210S and extends in the second direction DR2. It may include a first electrode branch portion 210B.
  • Both ends of the first electrode stem 210S of an arbitrary pixel are spaced apart between each sub-pixel PXn and are terminated, but the adjacent sub-pixels in the same row (e.g., adjacent in the first direction DR1).
  • the first electrode stem portion 210S may be disposed on substantially the same straight line. Since both ends of the first electrode stem portions 210S disposed in each sub-pixel PXn are spaced apart from each other, different electric signals may be applied to each of the first electrode branch portions 210B.
  • the first electrode branch portion 210B is branched from at least a portion of the first electrode stem portion 210S and is disposed to extend in the second direction DR2, and the second electrode branch portion 210B is disposed to face the first electrode stem portion 210S. It may be terminated in a state spaced apart from the electrode stem part 220S.
  • the second electrode 220 extends in the first direction DR1 and is spaced apart from the first electrode stem portion 210S and in the second direction DR2 to face the second electrode stem portion 220S and the second electrode stem portion.
  • a second electrode branch 220B branched at 220S and extending in the second direction DR2 may be included.
  • the second electrode stem portion 220S may be connected to the second electrode stem portion 220S of another sub-pixel PXn whose other end portion is adjacent in the first direction DR1. That is, unlike the first electrode stem portion 210S, the second electrode stem portion 220S may extend in the first direction DR1 and may be disposed to cross each of the sub-pixels PXn.
  • the second electrode stem 220S crossing each sub-pixel PXn is formed at the outer portion of the display area DA where each pixel PX or the sub-pixels PXn is disposed, or in the non-display area NDA. It can be connected to a portion extending in the direction.
  • the second electrode branch portion 220B may be spaced apart from and opposite to the first electrode branch portion 210B, and may be terminated while being spaced apart from the first electrode stem portion 210S.
  • the second electrode branch portion 220B may be connected to the second electrode stem portion 220S, and an end portion in an extended direction may be disposed in the sub-pixel PXn in a state spaced apart from the first electrode stem portion 210S. .
  • the first electrode 210 and the second electrode 220 are each formed through a contact hole, for example, a first electrode contact hole CNTD and a second electrode contact hole CNTS. It may be electrically connected to the conductive layer of'PAL').
  • a first electrode contact hole CNTD is formed for each first electrode stem 210S of each sub-pixel PXn
  • a second electrode contact hole CNTS is It is shown that only one is formed in the second electrode stem portion 220S.
  • the present invention is not limited thereto, and in some cases, the second electrode contact hole CNTS may also be formed for each sub-pixel PXn.
  • the plurality of electrodes 210 and 220 may be electrically connected to the light emitting devices 300 and may receive a predetermined voltage so that the light emitting device 300 emits light of a specific wavelength range. In addition, at least a portion of each of the electrodes 210 and 220 may be used to form an electric field in the sub-pixel PXn to align the light emitting device 300.
  • the first electrode 210 may be a pixel electrode separated for each sub-pixel PXn, and the second electrode 220 may be a common electrode commonly connected along each sub-pixel PXn.
  • One of the first electrode 210 and the second electrode 220 may be an anode electrode of the light emitting device 300, and the other may be a cathode electrode of the light emitting device 300.
  • first electrode branch portions 210B are disposed in each sub-pixel PXn, and one second electrode branch portion 220B is disposed therebetween, but is not limited thereto.
  • the first electrode 210 and the second electrode 220 may have a shape extending in the second direction DR2 by omitting the electrode stem portions 210S and 220S.
  • the first electrode 210 and the second electrode 220 do not necessarily have only a shape extending in one direction, and may be disposed in various structures.
  • the first electrode 210 and the second electrode 220 may have a partially curved or bent shape, and one electrode may be disposed to surround the other electrode.
  • the first electrode 210 and the second electrode 220 are at least partially spaced apart from each other to face each other, so that if a space in which the light emitting element 300 is disposed is formed therebetween, the structure or shape in which they are disposed will not be particularly limited. I can.
  • the outer bank 430 may be disposed at a boundary between each sub-pixel PXn.
  • the outer bank 430 may extend in the second direction DR2 and may be disposed at the boundary of the sub-pixels PXn arranged in the first direction DR1.
  • Each end portion of the plurality of first electrode stem portions 210S may be spaced apart from each other with respect to the external bank 430 to end.
  • the present invention is not limited thereto, and the external bank 430 may be disposed at the boundary of the sub-pixels PXn extending in the first direction DR1 and arranged in the second direction DR2.
  • the outer bank 430 may be formed simultaneously in one process by including the same material as the inner banks 410 and 420 to be described later.
  • the light emitting device 300 may be disposed between the first electrode 210 and the second electrode 220. One end of the light emitting device 300 may be electrically connected to the first electrode 210 and the other end may be electrically connected to the second electrode 220. The light emitting device 300 may be electrically connected to the first electrode 210 and the second electrode 220 through the contact electrode 260, respectively.
  • the plurality of light emitting devices 300 are disposed to be spaced apart from each other and may be substantially aligned in parallel with each other.
  • the interval at which the light emitting devices 300 are separated is not particularly limited.
  • a plurality of light-emitting devices 300 may be arranged adjacent to each other to form a group, and other plurality of light-emitting devices 300 may be grouped in a state spaced apart at a predetermined interval, and have non-uniform density but oriented in one direction. Can also be aligned.
  • the light emitting device 300 has a shape extending in one direction, and the direction in which each electrode, for example, the first electrode branch portion 210B and the second electrode branch portion 220B, is extended and the light emitting element
  • the direction in which 300 extends may be substantially vertical.
  • the present invention is not limited thereto, and the light emitting device 300 may be disposed at an angle without being perpendicular to the direction in which the first electrode branch portion 210B and the second electrode branch portion 220B extend.
  • the light emitting device 300 may include an active layer 330 including different materials to emit light of different wavelength bands to the outside.
  • the display device 10 may include light-emitting elements 300 that emit light of different wavelength bands.
  • the light-emitting element 300 of the first sub-pixel PX1 has a center wavelength band.
  • the light emitting device 300 of the second sub-pixel PX2 emits a second light L2 having a second wavelength of the center wavelength band.
  • the light emitting device 300 of the third sub-pixel PX3 may include an active layer 330 that emits third light L3 having a third wavelength in a center wavelength band. .
  • the first light L1 is emitted from the first sub-pixel PX1
  • the second light L2 is emitted from the second sub-pixel PX2
  • the third light is emitted from the third sub-pixel PX3.
  • L3 can be emitted.
  • the first light L1 is blue light having a center wavelength band ranging from 450 nm to 495 nm
  • the second light L2 is green light having a center wavelength band ranging from 495 nm to 570 nm
  • the third light (L3) may be red light having a central wavelength band ranging from 620 nm to 752 nm.
  • each of the first sub-pixel PX1, the second sub-pixel PX2, and the third sub-pixel PX3 may include the same type of light emitting device 300 to emit light of substantially the same color. have.
  • the light emitting device 300 may include a semiconductor core and an insulating layer (“380” in FIG. 5) surrounding the semiconductor core.
  • the semiconductor core may include a plurality of semiconductor layers (“310” and “320” in FIG. 5) and an active layer (“330” in FIG. 5) disposed therebetween.
  • One end of the light-emitting element 300 is electrically connected to the first electrode 210, and the other end is electrically connected to the second electrode 220 to receive an electric signal, and light emission from the electric signal.
  • the device 300 may generate light in the active layer 330 and emit it to the outside.
  • both ends of the light-emitting element 300 are electrically connected to the respective electrodes 210 and 220 by contacting the contact electrode 260 to be described later.
  • the light-emitting element 300 In order to improve the luminous efficiency of the light-emitting element 300, the light-emitting element 300 ) And the contact electrode 260 may be required to be smoothly contacted.
  • the light emitting device 300 may further include an electrode layer (“370” in FIG. 5) disposed on at least one surface of the semiconductor layers 310 and 320.
  • the manufacturing process of the light emitting device 300 is a process of etching a semiconductor structure in which a plurality of layers are stacked in one direction. In the manufacturing process, the lower surface of the light emitting device 300, for example, the first semiconductor layer 310 A separate process may be further required to form the electrode layer 370 on the lower surface of ).
  • the light emitting device 300 may be smoothly contacted by increasing the contact area with the contact electrode 260.
  • a diameter of one end may be larger than a diameter of the other end.
  • One end of the light-emitting element 300 may have a larger contact area with the contact electrode 260 of the display device 10 even if the electrode layer 370 is not disposed, and the electrical characteristics of the light-emitting element 300 are improved to emit light. Efficiency can be improved. A detailed description of this will be described later with reference to other drawings.
  • the plurality of contact electrodes 260 may have at least a partial region extending in one direction.
  • the plurality of contact electrodes 260 may contact the light emitting device 300 and the electrodes 210 and 220, respectively, and the light emitting devices 300 may be connected to the first electrode 210 and the second electrode through the contact electrode 260.
  • An electric signal may be transmitted from the electrode 220.
  • the contact electrode 260 may include a first contact electrode 261 and a second contact electrode 262.
  • the first and second contact electrodes 261 and 262 may be disposed on the first and second electrode branches 210B and 220B, respectively.
  • the first contact electrode 261 is disposed on the first electrode 210 or the first electrode branch 210B to extend in the second direction DR2 and may contact one end of the light emitting element 300. have.
  • the second contact electrode 262 is spaced apart from the first contact electrode 261 in the first direction DR1 and is disposed on the second electrode 220 or the second electrode branch 220B to be disposed in the second direction ( DR2) and may contact the other end of the light emitting device 300.
  • the first contact electrode 261 and the second contact electrode 262 may contact the first electrode 210 and the second electrode 220 exposed through the opening of the second insulating layer 520.
  • the light emitting device 300 may be electrically connected to the first electrode 210 and the second electrode 220 through the first contact electrode 261 and the second contact electrode 262.
  • the first contact electrode 261 and the second contact electrode 262 have a width measured in one direction, respectively, the first electrode 210 and the second electrode 220, or the first electrode branch ( 210B) and the second electrode branch 220B may be larger than the measured width in the one direction.
  • the first and second contact electrodes 261 and 262 are side portions of the first and second electrodes 210 and 220, or the first and second electrode branches 210B and 220B. Can be arranged to cover them.
  • the present invention is not limited thereto, and in some cases, the first and second contact electrodes 261 and 262 are disposed to cover only one side of the first and second electrode branches 210B and 220B. It could be.
  • first contact electrodes 261 and one second contact electrode 262 are disposed in one sub-pixel PXn, but the present invention is not limited thereto.
  • the number of the first and second contact electrodes 261 and 262 is the first electrode 210 and the second electrode 220 disposed in each sub-pixel PXn, or the first electrode branch 210B. And the number of second electrode branches 220B.
  • the display device 10 further includes a circuit element layer PAL positioned under each of the electrodes 210 and 220 and a plurality of insulating layers disposed thereon. can do.
  • a stacked structure of the display device 10 will be described in detail with reference to FIG. 4.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view taken along lines Xa-Xa', Xb-Xb', and Xc-Xc' of FIG. 3.
  • 4 illustrates only a cross section of the first sub-pixel PX1, the same may be applied to the other pixel PX or the sub-pixel PXn.
  • 4 is a cross-sectional view illustrating one end and the other end of the light emitting device 300 disposed in the first sub-pixel PX1.
  • the display device 10 may include a circuit element layer PAL and an emission layer EML.
  • the circuit element layer PAL includes the substrate 110, the buffer layer 115, the light blocking layer BML, the conductive wirings 191 and 192, the first and second transistors 120 and 140, and the like, and the emission layer EML ) May include a plurality of electrodes 210 and 220, a light emitting element 300, a plurality of contact electrodes 261 and 262, and a plurality of insulating layers 510, 520, 530, 550, and the like described above.
  • the substrate 110 may be an insulating substrate.
  • the substrate 110 may be made of an insulating material such as glass, quartz, or polymer resin.
  • the substrate 110 may be a rigid substrate, but may be a flexible substrate capable of bending, folding, rolling, or the like.
  • the light blocking layer BML may be disposed on the substrate 110.
  • the light blocking layer BML may include a first light blocking layer BML1 and a second light blocking layer BML2.
  • the first light blocking layer BML1 may be electrically connected to the first source electrode 123 of the first transistor 120 to be described later.
  • the second light blocking layer BML2 may be electrically connected to the second source electrode 143 of the second transistor 140.
  • the first light blocking layer BML1 and the second light blocking layer BML2 overlap with the first active material layer 126 of the first transistor 120 and the second active material layer 146 of the second transistor 140, respectively Are arranged to be.
  • the first and second light blocking layers BML1 and BML2 may include a light blocking material to prevent light from entering the first and second active material layers 126 and 146.
  • the first and second light blocking layers BML1 and BML2 may be formed of an opaque metal material that blocks light transmission.
  • the present invention is not limited thereto, and in some cases, the light blocking layer BML may be omitted.
  • the buffer layer 115 is disposed on the light blocking layer BML and the substrate 110.
  • the buffer layer 115 may be disposed to cover the entire substrate 110 including the light blocking layer BML.
  • the buffer layer 115 may prevent diffusion of impurity ions, prevent penetration of moisture or outside air, and may perform a surface planarization function.
  • the buffer layer 115 may insulate the light blocking layer BML and the first and second active material layers 126 and 146 from each other.
  • a semiconductor layer is disposed on the buffer layer 115.
  • the semiconductor layer may include a first active material layer 126 of the first transistor 120, a second active material layer 146 of the second transistor 140, and an auxiliary layer 163.
  • the semiconductor layer may include polycrystalline silicon, single crystal silicon, oxide semiconductor, or the like.
  • the first active material layer 126 may include a first doped region 126a, a second doped region 126b, and a first channel region 126c.
  • the first channel region 126c may be disposed between the first doped region 126a and the second doped region 126b.
  • the second active material layer 146 may include a third doped region 146a, a fourth doped region 146b, and a second channel region 146c.
  • the second channel region 146c may be disposed between the third doped region 146a and the fourth doped region 146b.
  • the first active material layer 126 and the second active material layer 146 may include polycrystalline silicon. Polycrystalline silicon can be formed by crystallizing amorphous silicon.
  • the crystallization method examples include RTA (Rapid thermal annealing) method, SPC (Solid phase crystallization) method, ELA (Excimer laser annealing) method, MILC (Metal induced crystallization) method, SLS (Sequential lateral solidification) method, etc. , but is not limited thereto.
  • the first active material layer 126 and the second active material layer 146 may include single crystal silicon, low-temperature polycrystalline silicon, amorphous silicon, or the like.
  • the first doped region 126a, the second doped region 126b, the third doped region 146a, and the fourth doped region 146b are formed of the first active material layer 126 and the second active material layer 146. Some regions may be regions doped with impurities. However, it is not limited thereto.
  • the first active material layer 126 and the second active material layer 146 are not necessarily limited to those described above.
  • the first active material layer 126 and the second active material layer 146 may include an oxide semiconductor.
  • the first doped region 126a and the third doped region 146a may be a first conductive region
  • the second doped region 126b and the fourth doped region 146b are second conductive regions. I can.
  • the oxide semiconductor may be an oxide semiconductor containing indium (In).
  • the oxide semiconductor is Indium-Tin Oxide (ITO), Indium-Zinc Oxide (IZO), Indium-Gallium Oxide (IGO), Indium- Indium-Zinc-Tin Oxide (IZTO), Indium-Gallium-Tin Oxide (IGTO), Indium-Gallium-Zinc-Tin Oxide, IGZTO) or the like.
  • ITO Indium-Tin Oxide
  • IZO Indium-Zinc Oxide
  • IGO Indium-Gallium Oxide
  • IZTO Indium-Indium-Zinc-Tin Oxide
  • IGTO Indium-Gallium-Zinc-Tin Oxide
  • IGZTO Indium-Gallium-Zinc-Tin Oxide
  • a first gate insulating layer 150 is disposed on the semiconductor layer.
  • the first gate insulating layer 150 may be disposed to cover the buffer layer 115 entirely including a semiconductor layer.
  • the first gate insulating layer 150 may function as a gate insulating layer of the first and second transistors 120 and 140.
  • a first conductive layer is disposed on the first gate insulating layer 150.
  • the first conductive layer is a first gate electrode 121 disposed on the first active material layer 126 of the first transistor 120 on the first gate insulating layer 150 and a second active layer of the second transistor 140
  • a second gate electrode 141 disposed on the material layer 146 and a wiring pattern 161 disposed on the auxiliary layer 163 may be included.
  • the first gate electrode 121 overlaps the first channel region 126c of the first active material layer 126, and the second gate electrode 141 is the second channel region ( 146c).
  • An interlayer insulating layer 170 is disposed on the first conductive layer.
  • the interlayer insulating layer 170 may function as an insulating layer between the first conductive layer and other layers disposed thereon.
  • the interlayer insulating layer 170 may include an organic insulating material and may perform a surface planarization function.
  • a second conductive layer is disposed on the interlayer insulating layer 170.
  • the second conductive layer includes a first source electrode 123 and a first drain electrode 124 of the first transistor 120, and a second source electrode 143 and a second drain electrode 144 of the second transistor 140. , And a power electrode 162 disposed on the wiring pattern 161.
  • the first source electrode 123 and the first drain electrode 124 are formed in a first doped region of the first active material layer 126 through a contact hole penetrating the interlayer insulating layer 170 and the first gate insulating layer 150. 126a) and the second doped region 126b, respectively.
  • the second source electrode 143 and the second drain electrode 144 are formed in a third doped region of the second active material layer 146 through a contact hole penetrating through the interlayer insulating layer 170 and the first gate insulating layer 150. 146a) and the fourth doped region 146b, respectively.
  • the first source electrode 123 and the second source electrode 143 may be electrically connected to the first light blocking layer BML1 and the second light blocking layer BML2, respectively, through another contact hole.
  • a passivation layer 180 may be disposed on the second conductive layer.
  • the passivation layer 180 may be disposed to cover the second conductive layer and may be entirely disposed on the interlayer insulating layer 170. That is, the passivation layer 180 may be disposed to cover the first source electrode 123, the first drain electrode 124, the second source electrode 143, and the second drain electrode 144.
  • a conductive wiring layer may be disposed on the passivation layer 180.
  • the conductive wiring layer includes a first conductive wiring 191 and a second conductive wiring 192, which may be electrically connected to the first source electrode 123 and the power electrode 162 of the first transistor 120, respectively.
  • the conductive wiring layer is also electrically connected to the first electrode 210 and the second electrode 220 of the emission layer EML, and transmits electric signals applied from the first transistor 120 and the power electrode 162 to each electrode 210, 220).
  • a first insulating layer 510 is disposed on the conductive wiring layer.
  • the first insulating layer 510 may include an organic insulating material and may perform a surface planarization function.
  • a plurality of internal banks 410 and 420, an external bank (“430” in FIG. 4 ), a plurality of electrodes 210 and 220, and a light emitting element 300 may be disposed on the first insulating layer 510.
  • the outer bank 430 may extend in the first direction DR1 or the second direction DR2 and may be disposed at the boundary of the sub-pixels PXn. That is, the outer bank 430 may divide the boundary of each sub-pixel PXn.
  • the external bank 430 is applied to the boundary of the sub-pixel PXn. It can perform the function of preventing overrun.
  • the external bank 430 may separate the different light emitting devices 300 from different sub-pixels PXn so that the dispersed inks are not mixed with each other. However, it is not limited thereto.
  • the plurality of internal banks 410 and 420 may be disposed to be spaced apart from each other in each sub-pixel PXn.
  • the plurality of internal banks 410 and 420 may include a first internal bank 410 and a second internal bank 420 disposed adjacent to the center of each sub-pixel PXn.
  • the first internal bank 410 and the second internal bank 420 are disposed to face each other.
  • the first electrode 210 may be disposed on the first inner bank 410 and the second electrode 220 may be disposed on the second inner bank 420. 3 and 4, it will be understood that a first electrode branch 210B is disposed on the first internal bank 410 and a second electrode branch 220B is disposed on the second internal bank 420. I can.
  • the first internal bank 410 and the second internal bank 420 are disposed to extend in the second direction DR2 within each sub-pixel PXn like the first electrode 210 and the second electrode 220. I can. Although not shown in the drawing, the first internal bank 410 and the second internal bank 420 may extend in the second direction DR2 and extend toward the neighboring sub-pixel PXn in the second direction DR2. have. However, the present invention is not limited thereto, and the first internal bank 410 and the second internal bank 420 may be disposed for each sub-pixel PXn to form a pattern on the front surface of the display device 10.
  • the first inner bank 410 and the second inner bank 420 may have a structure in which at least a portion of the first insulating layer 510 protrudes.
  • the first inner bank 410 and the second inner bank 420 may protrude upward based on a plane on which the light emitting element 300 is disposed, and at least a portion of the protruded portion may have an inclined portion.
  • the protruding shapes of the first inner bank 410 and the second inner bank 420 are not particularly limited. Since the inner banks 410 and 420 protrude from the first insulating layer 510 and have an inclined side, the light emitted from the light emitting element 300 is reflected from the inclined side of the inner banks 410 and 420 Can be.
  • the electrodes 210 and 220 disposed on the inner banks 410 and 420 contain a material having a high reflectance, the light emitted from the light emitting device 300 is It may be reflected from the electrodes 210 and 220 positioned on the inclined side and proceed to the upper direction of the first insulating layer 510.
  • the outer bank 430 divides the adjacent sub-pixels PXn and at the same time performs a function of preventing ink from overflowing into the adjacent sub-pixels PXn in the inkjet process, while the inner banks 410 and 420
  • Each of the sub-pixels PXn may have a structure protruding from the sub-pixel PXn, thereby performing a function of a reflective partition wall reflecting light emitted from the light emitting device 300 toward the top of the first insulating layer 510.
  • the plurality of inner banks 410 and 420 and the outer bank 430 may include polyimide (PI), but are not limited thereto.
  • the plurality of electrodes 210 and 220 may be disposed on the first insulating layer 510 and the internal banks 410 and 420.
  • each of the electrodes 210 and 220 includes electrode stem portions 210S and 220S and electrode branch portions 210B and 220B.
  • Line Xa-Xa' of FIG. 3 represents the first electrode stem portion 210S
  • line Xb-Xb' of FIG. 3 represents the first electrode branch portion 210B and the second electrode branch portion 220B
  • the Xc-Xc' line is a line that crosses the second electrode stem 220S. That is, the first electrode 210 disposed in the area Xa-Xa′ of FIG.
  • each electrode stem portion 210S and 220S and each electrode branch portion 210B and 220B may form a first electrode 210 and a second electrode 220.
  • the first electrode 210 and the second electrode 220 are partially disposed on the first insulating layer 510 and some areas are disposed on the first inner bank 410 and the second inner bank 420 Can be. That is, the widths of the first electrode 210 and the second electrode 220 may be larger than the widths of the inner banks 410 and 420. A portion of the lower surfaces of the first electrode 210 and the second electrode 220 may contact the first insulating layer 510, and another portion may contact the internal banks 410 and 420.
  • first electrode stem 210S and the second electrode stem 220S extending in the first direction DR1 of the first electrode 210 and the second electrode 220 It may partially overlap with the bank 410 and the second internal bank 420.
  • the present invention is not limited thereto, and the first electrode stem portion 210S and the second electrode stem portion 220S may not overlap the first inner bank 410 and the second inner bank 420.
  • a first electrode contact hole CNDT may be formed in the first electrode stem 210S of the first electrode 210 to penetrate the first insulating layer 510 to expose a part of the first conductive wire 191. .
  • the first electrode 210 may contact the first conductive wiring 191 through the first electrode contact hole CNTD, and the first electrode 210 may be a first source electrode 123 of the first transistor 120. ) And can receive electrical signals.
  • a second electrode contact hole CNTS may be formed in the second electrode stem 220S of the second electrode 220 to penetrate the first insulating layer 510 and expose a part of the second conductive wire 192. .
  • the second electrode 220 may contact the second conductive wire 192 through the second electrode contact hole CNTS, and the second electrode 220 is electrically connected to the power electrode 162 to transmit an electric signal. You can receive it.
  • Partial regions of the first electrode 210 and the second electrode 220 for example, the first electrode branch portion 210B and the second electrode branch portion 220B, respectively, the first internal bank 410 and the second internal It may be disposed to cover the bank 420.
  • the first electrode 210 and the second electrode 220 may be spaced apart from each other and disposed to face each other, and a plurality of light emitting devices 300 may be disposed therebetween.
  • each of the electrodes 210 and 220 may include a transparent conductive material.
  • each of the electrodes 210 and 220 may include a material such as Indium Tin Oxide (ITO), Indium Zinc Oxide (IZO), and Indium Tin-Zinc Oxide (ITZO), but is not limited thereto.
  • each of the electrodes 210 and 220 may include a conductive material having high reflectivity.
  • each of the electrodes 210 and 220 may include a metal such as silver (Ag), copper (Cu), or aluminum (Al) as a material having a high reflectance. In this case, light incident on each of the electrodes 210 and 220 may be reflected to be emitted in the upper direction of each sub-pixel PXn.
  • the electrodes 210 and 220 may have a structure in which one or more layers of a transparent conductive material and a metal layer having a high reflectivity are stacked, respectively, or may be formed as a single layer including them.
  • each of the electrodes 210 and 220 has a stacked structure of ITO/silver (Ag)/ITO/IZO, or an alloy containing aluminum (Al), nickel (Ni), lanthanum (La), etc. Can be However, it is not limited thereto.
  • the second insulating layer 520 is disposed on the first insulating layer 510, the first electrode 210, and the second electrode 220.
  • the second insulating layer 520 is disposed to partially cover the first electrode 210 and the second electrode 220.
  • the second insulating layer 520 is disposed so as to cover most of the upper surfaces of the first electrode 210 and the second electrode 220, and an opening exposing a portion of the first electrode 210 and the second electrode 220 ( Not shown) may be formed.
  • the opening of the second insulating layer 520 may be positioned so that relatively flat top surfaces of the first electrode 210 and the second electrode 220 are exposed.
  • a step difference may be formed between the first electrode 210 and the second electrode 220 so that a portion of the upper surface of the second insulating layer 520 is depressed.
  • the second insulating layer 520 includes an inorganic insulating material, and the second insulating layer 520 disposed to cover the first electrode 210 and the second electrode 220 is disposed below. A portion of the upper surface may be depressed due to a step formed by the electrodes 210 and 220.
  • the light emitting device 300 disposed on the second insulating layer 520 between the first electrode 210 and the second electrode 220 may form an empty space between the recessed upper surface of the second insulating layer 520. I can.
  • the light emitting device 300 may be disposed to be partially spaced apart from the upper surface of the second insulating layer 520, and a material forming the third insulating layer 530 to be described later may be filled in the space.
  • the second insulating layer 520 may include a flat top surface such that the light emitting device 300 is disposed.
  • the upper surface may extend in one direction toward the first electrode 210 and the second electrode 220 and may end on the inclined side surfaces of the first electrode 210 and the second electrode 220. That is, the second insulating layer 520 may be disposed in a region where each of the electrodes 210 and 220 overlaps the inclined side surfaces of the first and second internal banks 410 and 420.
  • the contact electrode 260 to be described later makes contact with the exposed regions of the first electrode 210 and the second electrode 220 and smoothly with the end of the light emitting element 300 on the flat upper surface of the second insulating layer 520. I can contact you.
  • the second insulating layer 520 may protect the first electrode 210 and the second electrode 220 and insulate them from each other. In addition, it is possible to prevent the light emitting device 300 disposed on the second insulating layer 520 from being damaged by direct contact with other members.
  • the shape and structure of the second insulating layer 520 are not limited thereto.
  • the light emitting device 300 may be disposed on the second insulating layer 520 between the electrodes 210 and 220.
  • at least one light emitting device 300 may be disposed on the second insulating layer 520 disposed between the respective electrode branches 210B and 220B.
  • the present invention is not limited thereto, and although not shown in the drawing, at least some of the light emitting devices 300 disposed in each sub-pixel PXn may be disposed in a region other than between the respective electrode branches 210B and 220B.
  • the light emitting device 300 may be disposed so that a partial region overlaps the electrodes 210 and 220.
  • the light emitting device 300 may be disposed on each end of the first electrode branch portion 210B and the second electrode branch portion 220B facing each other.
  • a plurality of layers may be disposed in a horizontal direction on the first insulating layer 510.
  • the light emitting element 300 of the display device 10 may have a shape extending in one direction, and may have a structure in which a plurality of semiconductor layers are sequentially disposed in one direction.
  • a first semiconductor layer 310, an active layer 330, a second semiconductor layer 320, and an electrode layer 370 are sequentially disposed along one direction, and an insulating film 380 is formed on an outer surface thereof. I can surround it.
  • the light-emitting element 300 disposed in the display device 10 is disposed so that one extended direction is parallel to the first insulating layer 510, and a plurality of semiconductor layers included in the light-emitting element 300 is a first insulating layer ( It may be sequentially disposed along a direction parallel to the upper surface of the 510. However, it is not limited thereto. In some cases, when the light emitting device 300 has a different structure, a plurality of layers may be disposed in a direction perpendicular to the first insulating layer 510.
  • one end of the light emitting device 300 may contact the first contact electrode 261 and the other end may contact the second contact electrode 262.
  • the first contact electrode 261 and the second contact to be described later are in the exposed area. It may come into contact with the electrode 262.
  • at least a portion of the insulating layer 380 may be removed from the light emitting device 300, and the insulating layer 380 may be removed to partially expose both end surfaces of the light emitting device 300.
  • the insulating layer 380 may be partially removed.
  • the exposed side of the light emitting device 300 may contact the first contact electrode 261 and the second contact electrode 262.
  • the third insulating layer 530 may be partially disposed on the light emitting device 300 disposed between the first electrode 210 and the second electrode 220.
  • the third insulating layer 530 is disposed to partially cover the outer surface of the light emitting element 300 to protect the light emitting element 300 and at the same time fix the light emitting element 300 during the manufacturing process of the display device 10 You can also do
  • the third insulating layer 530 is disposed on the light emitting device 300, and one end and the other end of the light emitting device 300 may be exposed.
  • the light emitting device 300 may have one exposed end and the other end in contact with the contact electrode 260 and receive electrical signals from each of the electrodes 210 and 220.
  • the shape of the third insulating layer 530 may be formed by a patterning process using a material forming the third insulating layer 530 using a conventional mask process.
  • the mask for forming the third insulating layer 530 has a width narrower than the length of the light emitting device 300, and the material forming the third insulating layer 530 is patterned to expose both ends of the light emitting device 300. I can. However, it is not limited thereto.
  • the materials of the third insulating layer 530 may be disposed between the lower surface of the light emitting device 300 and the second insulating layer 520.
  • the third insulating layer 530 may be formed to fill a space between the second insulating layer 520 and the light emitting element 300 formed during the manufacturing process of the display device 10. Accordingly, the third insulating layer 530 may be formed to surround the outer surface of the light emitting device 300. However, it is not limited thereto.
  • the third insulating layer 530 may be disposed to extend in the second direction DR2 between the first electrode branch portion 210B and the second electrode branch portion 220B on a plane.
  • the third insulating layer 530 may have a planar island shape or a linear shape on the first insulating layer 510.
  • the first and second contact electrodes 261 and 262 are disposed on the electrodes 210 and 220 and the third insulating layer 530, respectively.
  • a third insulating layer 530 is disposed between the first contact electrode 261 and the second contact electrode 262, and the third insulating layer 530 includes the first contact electrode 261 and the second contact electrode 262. ) Can be insulated from each other to prevent direct contact.
  • the first contact electrode 261 and the second contact electrode 262 may contact at least one end of the light emitting element 300, and the first contact electrode 261 and the second contact electrode 262 ) May be electrically connected to the first electrode 210 or the second electrode 220 to receive an electric signal.
  • the first contact electrode 261 may contact the exposed area of the first electrode 210 on the first internal bank 410, and the second contact electrode 262 is formed on the second inner bank 420.
  • the exposed area of the electrode 220 may be in contact.
  • the first and second contact electrodes 261 and 262 may transmit electrical signals transmitted from the respective electrodes 210 and 220 to the light emitting device 300.
  • the contact electrode 260 may include a conductive material.
  • it may include ITO, IZO, ITZO, aluminum (Al), and the like. However, it is not limited thereto.
  • the passivation layer 550 may be disposed on the contact electrode 260 and the third insulating layer 530.
  • the passivation layer 550 may function to protect members disposed on the first insulating layer 510 from an external environment.
  • first insulating layer 510, second insulating layer 520, third insulating layer 530, and passivation layer 550 may include an inorganic insulating material or an organic insulating material.
  • first insulating layer 510, the second insulating layer 520, the third insulating layer 530, and the passivation layer 550 are silicon oxide (SiOx), silicon nitride (SiNx), and silicon acid.
  • Inorganic insulating materials such as nitride (SiOxNy), aluminum oxide (Al 2 O 3 ), aluminum nitride (AlN), and the like may be included.
  • the first insulating layer 510, the second insulating layer 520, the third insulating layer 530, and the passivation layer 550 are organic insulating materials, such as acrylic resin, epoxy resin, phenol resin, polyamide resin, Polyimide resin, unsaturated polyester resin, polyphenylene resin, polyphenylene sulfide resin, benzocyclobutene, cardo resin, siloxane resin, silsesquioxane resin, polymethyl methacrylate, polycarbonate, polymethyl methacrylate -It may contain polycarbonate synthetic resin, etc. However, it is not limited thereto.
  • the display device 10 may include a light emitting device 300 including an electrode layer 370 and an insulating layer 380 having a thickness of a predetermined level or higher.
  • the light emitting device 300 may prevent the active layer 330 from being damaged or the electrode layer 370 from being removed during the manufacturing process of the light emitting device 300 and the manufacturing process of the display device 10, and The luminous efficiency and luminous reliability of the device 300 may be improved.
  • a light emitting device 300 according to an exemplary embodiment will be described in detail with reference to other drawings.
  • 5 is a schematic diagram of a light emitting device according to an exemplary embodiment.
  • 6 is a schematic cross-sectional view of a light emitting device according to an exemplary embodiment.
  • the light-emitting device 300 may be a light-emitting diode, and specifically, the light-emitting device 300 has a size in a micrometer or nanometer unit, and is an inorganic material. It may be a light emitting diode. Inorganic light emitting diodes may be aligned between the two electrodes that form a polarity when an electric field is formed in a specific direction between two electrodes facing each other. The light emitting device 300 may be aligned between the electrodes by an electric field formed on the two electrodes.
  • the light emitting device 300 may have a shape extending in one direction.
  • the light emitting device 300 may have a shape such as a rod, a wire, or a tube.
  • the light emitting device 300 may be cylindrical or rod-shaped.
  • the shape of the light-emitting element 300 is not limited thereto, and has a shape of a polygonal column such as a regular cube, a rectangular parallelepiped, or a hexagonal column, or extends in one direction but has a partially inclined outer surface. 300) can have a variety of forms.
  • a plurality of semiconductors included in the light emitting device 300 to be described later may have a structure that is sequentially disposed or stacked along the one direction.
  • the light emitting device 300 may include a semiconductor layer doped with an arbitrary conductivity type (eg, p-type or n-type) impurity.
  • the semiconductor layer may receive an electric signal applied from an external power source and emit it as light in a specific wavelength band.
  • the light emitting device 300 may emit light in a specific wavelength band.
  • the active layer 330 may emit blue light having a central wavelength band ranging from 450 nm to 495 nm.
  • the center wavelength band of blue light is not limited to the above-described range, and includes all wavelength ranges that can be recognized as blue in the art.
  • light emitted from the active layer 330 of the light emitting device 300 is not limited thereto, and green light having a center wavelength band in the range of 495 nm to 570 nm or green light having a center wavelength band in the range of 620 nm to 750 nm. It may be red light.
  • a light emitting device 300 that emits blue light will be described as an example.
  • the light emitting device 300 may include a semiconductor core and an insulating layer 380 surrounding it, and the semiconductor core of the light emitting device 300 includes a first semiconductor layer 310, A second semiconductor layer 320 and an active layer 330 may be included.
  • the light emitting device 300 may further include an electrode layer 370 disposed on one surface of the first semiconductor layer 310 or the second semiconductor layer 320.
  • the first semiconductor layer 310 may be an n-type semiconductor.
  • the first semiconductor layer 310 when the light emitting device 300 emits light in a blue wavelength band, the first semiconductor layer 310 is AlxGayIn1-x-yN (0 ⁇ x ⁇ 1,0 ⁇ y ⁇ 1, 0 ⁇ x+y ⁇ It may include a semiconductor material having the formula 1).
  • it may be any one or more of n-type doped AlGaInN, GaN, AlGaN, InGaN, AlN, and InN.
  • the first semiconductor layer 310 may be doped with an n-type dopant.
  • the n-type dopant may be Si, Ge, Sn, or the like.
  • the first semiconductor layer 310 may be n-GaN doped with n-type Si.
  • the length of the first semiconductor layer 310 may range from 1.5 ⁇ m to 5 ⁇ m, but is not limited thereto.
  • the first semiconductor layer 310 may include a first portion 311 and a second portion 315.
  • the first semiconductor layer 310 is formed on a first portion 311 having a shape extending in one direction and a second portion 311 having a diameter greater than that of the first portion 311 ( 315).
  • the first portion 311 and the second portion 315 are referred to to define a portion of the first semiconductor layer 310, and they are formed integrally rather than separate layers, respectively, so that one first semiconductor layer ( 310) can be achieved.
  • both ends of the light emitting device 300 may have different diameters, and an area in contact with the contact electrodes 261 and 262 of the display device 10 at the ends having a larger diameter may be increased.
  • the light emitting device 300 includes a second portion 315 formed on one surface of the first semiconductor layer 310, and the second portion 315 includes the first portion 311 and another semiconductor layer or active layer 330 Can have a larger diameter. A more detailed description of this will be described later with reference to other drawings.
  • the second semiconductor layer 320 is disposed on the active layer 330 to be described later.
  • the second semiconductor layer 320 may be a p-type semiconductor.
  • the second semiconductor layer 320 when the light emitting device 300 emits light in a blue or green wavelength band, the second semiconductor layer 320 is AlxGayIn1-x-yN (0 ⁇ A semiconductor material having a formula of x ⁇ 1,0 ⁇ y ⁇ 1, 0 ⁇ x+y ⁇ 1) may be included.
  • it may be any one or more of AlGaInN, GaN, AlGaN, InGaN, AlN, and InN doped with p-type.
  • the second semiconductor layer 320 may be doped with a p-type dopant.
  • the p-type dopant may be Mg, Zn, Ca, Se, Ba, or the like.
  • the second semiconductor layer 320 may be p-GaN doped with p-type Mg.
  • the length of the second semiconductor layer 320 may range from 0.05 ⁇ m to 0.10 ⁇ m, but is not limited thereto.
  • the first semiconductor layer 310 and the second semiconductor layer 320 are configured as one layer, but the present invention is not limited thereto. According to some embodiments, depending on the material of the active layer 330, the first semiconductor layer 310 and the second semiconductor layer 320 may have a larger number of layers, such as a clad layer or a tensile strain barrier reducing (TSBR). It may further include a layer. This will be described later with reference to other drawings.
  • TSBR tensile strain barrier reducing
  • the active layer 330 is disposed between the first semiconductor layer 310 and the second semiconductor layer 320.
  • the active layer 330 may include a material having a single or multiple quantum well structure.
  • the active layer 330 includes a material having a multiple quantum well structure, a plurality of quantum layers and well layers may be alternately stacked with each other.
  • the active layer 330 may emit light by combining an electron-hole pair according to an electric signal applied through the first semiconductor layer 310 and the second semiconductor layer 320.
  • the active layer 330 when the active layer 330 emits light in a blue wavelength band, it may include a material such as AlGaN or AlGaInN.
  • the active layer 330 when the active layer 330 has a structure in which quantum layers and well layers are alternately stacked in a multiple quantum well structure, the quantum layer may include a material such as AlGaN or AlGaInN, and the well layer may include a material such as GaN or AlInN.
  • the active layer 330 includes AlGaInN as a quantum layer and AlInN as a well layer, and as described above, the active layer 330 is blue light having a center wavelength band in the range of 450 nm to 495 nm. Can emit
  • the active layer 330 may have a structure in which a semiconductor material having a large band gap energy and a semiconductor material having a small band gap energy are alternately stacked with each other, or a wavelength band of emitted light.
  • Other Group 3 to Group 5 semiconductor materials may be included according to the present invention.
  • the light emitted by the active layer 330 is not limited to light in the blue wavelength band, and in some cases, light in the red and green wavelength bands may be emitted.
  • the length of the active layer 330 may range from 0.05 ⁇ m to 0.10 ⁇ m, but is not limited thereto.
  • light emitted from the active layer 330 may be emitted not only to the outer surface of the light emitting device 300 in the longitudinal direction, but also to both side surfaces.
  • the light emitted from the active layer 330 is not limited in directionality in one direction.
  • the electrode layer 370 may be an ohmic contact electrode. However, the present invention is not limited thereto, and may be a Schottky contact electrode.
  • the light emitting device 300 may include at least one electrode layer 370. 6 illustrates that the light emitting device 300 includes one electrode layer 370, but is not limited thereto. In some cases, the light emitting device 300 may include or be omitted in a larger number of electrode layers 370. The description of the light emitting device 300 to be described later may be equally applied even if the number of electrode layers 370 is changed or other structures are further included.
  • the electrode layer 370 may reduce resistance between the light emitting element 300 and the electrode or contact electrode.
  • the electrode layer 370 may include a conductive metal.
  • the electrode layer 370 is aluminum (Al), titanium (Ti), indium (In), gold (Au), silver (Ag), ITO (Indium Tin Oxide), IZO (Indium Zinc Oxide), and ITZO ( Indium Tin-Zinc Oxide) may contain at least any one.
  • the electrode layer 370 may include a semiconductor material doped with n-type or p-type.
  • the electrode layer 370 may include the same material or different materials.
  • the length of the electrode layer 370 may range from 0.02 ⁇ m to 0.01 ⁇ m, but is not limited thereto.
  • the insulating layer 380 is disposed to surround a portion of the outer surface of the semiconductor core and electrode layer 370 described above.
  • the insulating layer 380 may be disposed to surround at least an outer surface of the active layer 330, and may extend in one direction in which the light emitting device 300 extends.
  • the insulating layer 380 may function to protect the members.
  • the insulating layer 380 may be formed to surround side surfaces of the members, and both ends of the light emitting device 300 in the longitudinal direction may be exposed.
  • the insulating layer 380 is formed to extend in the longitudinal direction of the light emitting device 300 and cover the first portion 311 of the first semiconductor layer 310 to the side surface of the electrode layer 370, but is limited thereto. It doesn't work.
  • the insulating layer 380 may cover only the outer surface of some of the semiconductor layers including the active layer 330, or may partially expose the outer surface of each electrode layer 370 by covering only a part of the outer surface of the electrode layer 370.
  • the insulating layer 380 may be formed to have a rounded top surface in cross section in a region adjacent to at least one end of the light emitting device 300.
  • the insulating layer 380 is a material having insulating properties, for example, silicon oxide (SiOx), silicon nitride (SiNx), silicon oxynitride (SiOxNy), aluminum nitride (AlN), It may include aluminum oxide (Aluminum oxide, Al 2 O 3 ), and the like. Accordingly, an electrical short that may occur when the active layer 330 directly contacts an electrode through which an electrical signal is transmitted to the light emitting device 300 may be prevented. In addition, since the insulating layer 380 protects the outer surface of the light emitting device 300 including the active layer 330, it is possible to prevent a decrease in luminous efficiency.
  • the outer surface of the insulating layer 380 may be surface-treated.
  • the light emitting device 300 may be sprayed onto the electrode in a state dispersed in a predetermined ink to be aligned.
  • the surface of the insulating layer 380 may be hydrophobic or hydrophilic.
  • the insulating layer 380 may include at least the active layer 330 to protect the semiconductor core of the light emitting device 300. As described above, during the manufacturing process of the light emitting device 300 and the manufacturing process of the display device 910, the insulating layer 380 may be partially etched to decrease the thickness. When the insulating layer 380 has a thin thickness, the insulating layer 380 may be etched away during the manufacturing process, or the semiconductor core, particularly the active layer 330 may be damaged. To prevent this, the insulating layer 380 of the light emitting device 300 according to an exemplary embodiment may have a thickness of a certain level or higher. In an exemplary embodiment, the thickness of the insulating layer 380 may range from 10 nm to 1.0 ⁇ m, but is not limited thereto. Preferably, the thickness of the insulating layer 380 may be about 40 nm.
  • the light emitting device 300 may have a length of 1 ⁇ m to 10 ⁇ m or 2 ⁇ m to 6 ⁇ m, and preferably 3 ⁇ m to 5 ⁇ m.
  • the diameter of the light emitting device 300 may be in the range of 300 nm to 700 nm, and the aspect ratio of the light emitting device 300 may be 1.2 to 100.
  • the present invention is not limited thereto, and the plurality of light emitting devices 300 included in the display device 10 may have different diameters according to a composition difference of the active layer 330.
  • the diameter of the light emitting device 300 may have a range of about 600 nm.
  • the first semiconductor layer 310 includes a first portion 311 and a second portion 315 having a larger diameter than the first portion 311, and the insulating layer 380 is a first It may be disposed only on the outer surface of the portion 311. Accordingly, the outer surface of the second part 315 may be exposed and may contact the contact electrodes 261 and 262 of the display device 10.
  • the first portion 311 and the second portion 315 of the first semiconductor layer 310 will be described in detail with further reference to other drawings.
  • FIG. 7 is an enlarged view of the QL portion of FIG. 6.
  • the first part 311 of the first semiconductor layer 310 may have a shape extending in the same direction as the one direction in which the light emitting device 300 extends.
  • the first portion 311 extending in one direction may have a flat outer surface in cross section, and in some embodiments, the first portion 311 may have a cylindrical shape or a rod shape. However, it is not limited thereto.
  • An insulating layer 380 to be described later may be disposed on the outer surface of the first part 311 so as not to contact the contact electrodes 261 and 262 of the display device 10.
  • the second portion 315 of the first semiconductor layer 310 may be connected to one surface of the first portion 311.
  • the second portion 315 may be disposed in a direction opposite to the active layer 330 disposed on the first semiconductor layer 310, so that an upper surface of the second portion 315 may be connected to the first portion 311.
  • the second portion 315 of the first semiconductor layer 310 may have a lower surface and a side surface exposed.
  • the insulating layer 380 of the light emitting device 300 is disposed so as to surround the side surface of the first portion 311 of the first semiconductor layer 310 including the active layer 330. May not be placed on the side.
  • the light emitting device 300 may include a region in which the first semiconductor layer 310 further includes the second portion 315 and the insulating layer 380 is not disposed and is exposed. Through this, the light emitting element 300 may contact the contact electrode of the display device 10, for example, the second contact electrode 262 and the first semiconductor layer 310 in a large area.
  • the light emitting device 300 may have a structure as described above by forming the second part 315 at the same time as or after the process of forming the insulating layer 380. This will be described later.
  • the first semiconductor layer 310 of the light emitting device 300 has a diameter of the second portion 315 larger than the diameter of the first portion 311, and the second portion 315 has an outer surface. It can have this inclined shape.
  • a plurality of semiconductor layers 310 and 320 and an active layer 330 may be stacked in a third direction DR3, and the first portion 311 of the first semiconductor layer 310 And the second portion 315 may have different diameters measured in the fourth direction DR4 perpendicular to the third direction DR3.
  • both ends of the light emitting device 300 may have different diameters measured in the fourth direction DR4.
  • the first portion 311 of the first semiconductor layer 310 has a first diameter W1 that is a diameter measured in the fourth direction DR4, and the upper surface of the second portion 315 is in the fourth direction DR4 It may have a second diameter (W2) that is the measured diameter.
  • an end of the light emitting device 300 at which the electrode layer 370 or the second semiconductor layer 320 is positioned has a third diameter W3 that is a diameter measured in the fourth direction DR4, and the light emitting device (
  • An end portion at which the second portion 315 of the first semiconductor layer 310 is positioned as the other end of 300 may have a fourth diameter W4 that is a diameter measured in the fourth direction DR4.
  • a first diameter W1 of the first portion 311 may be smaller than a second diameter W2 of an upper surface of the second portion 315.
  • a step may be formed at a portion to which they are connected.
  • the second diameter W2 of the upper surface of the second portion 315 of the first semiconductor layer 310 is between the first diameter W1 of the first portion 311 and the insulating layer 380. It can be equal to the sum of the thicknesses.
  • an insulating film 380 is formed on the outer surface of the first part 311 of the first semiconductor layer 310, and the lower surface of the insulating film 380 is the first part 311 and the second part ( The area to which 315) is connected may be contacted. Accordingly, in the first semiconductor layer 310 of the light emitting device 300, a step is formed between the first part 311 and the second part 315, but the outer surface of the light emitting device 300, that is, the insulating film 380 A step may not be formed between the and the outer surface of the second portion 315. This may be a structure obtained by forming the insulating layer 380 and the second portion 315 of the first semiconductor layer 310 in the same process during the manufacturing process of the light emitting device 300 as described above. A more detailed description will be described later with reference to other drawings.
  • the second portion 315 of the first semiconductor layer 310 has a second diameter W2 of the upper surface less than the fourth diameter W4 of the lower surface, and the second portion 315 May have sloped sides.
  • the second portion 315 of the first semiconductor layer 310 has a lower second diameter W2 than the upper second diameter W2 in order to secure a wide contact area between the light emitting element 300 and the contact electrodes 261 and 262. 4
  • the diameter (W4) may be larger.
  • the second portion 315 of the first semiconductor layer 310 may have an inclined side surface in cross section. As the side and bottom surfaces of the second portion 315 are exposed without the insulating layer 380 disposed thereon, the second portion 315 may contact the contact electrodes 261 and 262 of the display device 10 from the side and the bottom surface.
  • the diameters of one end and the other end of the light emitting device 300 may be adjusted according to a contact area with the contact electrodes 261 and 262 required for the light emitting device 300 to have high luminous efficiency.
  • the fourth diameter W4 of the lower surface of the second portion 315 may have a range of 1.25 to 1.8 times. have.
  • the first diameter W1 of the first portion 311 of the first semiconductor layer 310 has a range of 500 nm to 600 nm
  • the fourth diameter W4 of the lower surface of the second portion 315 May have a range of 750 nm to 900 nm.
  • the angle ⁇ between the lower surface and the side surface of the second portion 315 may have a value of 65° to 80°, preferably about 70°.
  • the height ha of the second portion 315 of the first semiconductor layer 310 may be adjusted by a fourth diameter W4 and an angle ⁇ between the lower surface and the side surface of the second portion 315. I can.
  • the height ha of the second portion 315 may have a range of about 10% of the length h of the light emitting device 300. For example, when the length h of the light emitting device 300 has a value of about 4 ⁇ m, the height ha of the second portion 315 may have a value of about 400 nm. However, it is not limited thereto.
  • the angle between the fourth diameter W4 of the lower surface of the second part 315 and the side surface ( ⁇ ), and the height ha of the second part 315 depend on the contact areas with the contact electrodes 261 and 262. Various modifications may be made by varying the manufacturing process of the light emitting device 300.
  • the fourth diameter W4 of the other end of the light emitting device 300 is a third diameter of one end. May be greater than (W3).
  • the light emitting device 300 has one end and the other end having different diameters, and the second portion 315 of the first semiconductor layer 310 on which the insulating layer 380 is not disposed is a contact electrode of the display device 10. 260) can be in contact with a large area.
  • FIG. 8 is an enlarged view of the QA portion of FIG. 4.
  • FIG. 8 is an enlarged cross-sectional view illustrating a light emitting element 300 disposed between the first electrode 210 and the second electrode 220 in the display device 10.
  • the light emitting device 300 may be disposed on the second insulating layer 520 between the first electrode 210 and the second electrode 220.
  • the light emitting device 300 may include one end where the second portion 315 of the first semiconductor layer 310 is positioned and the other end where the electrode layer 370 or the second semiconductor layer 320 is positioned.
  • the one end may contact the second contact electrode 262 and the other end may contact the first contact electrode 261.
  • the first contact electrode 261 and the second contact electrode 262 may contact the insulating layer 380, the electrode layer 370, and the first semiconductor layer 310 of the light emitting device 300.
  • the light emitting device 300 may include one side that is a lower surface and the other side that is an upper surface of the outer surface of the insulating layer 380.
  • the one side may be in contact with the second insulating layer 520 and the third insulating layer 530 disposed under the light emitting device 300, and the other side may be a second insulating layer disposed above the light emitting device 300.
  • the insulating layer 530 and the contact electrode 260 may be in contact.
  • One side of the lower surface of the light emitting device 300 is in contact with the second insulating layer 520, and in a space filled with the third insulating layer 530 by partially depressing the second insulating layer 520, the third insulating layer Can contact 530.
  • the one side surface is a lower surface of the light emitting device 300 in cross section and may not be etched during the manufacturing process of the display device 10. Accordingly, the surfaces where the second insulating layer 520 and the third insulating layer 530 contact each other may form a flat surface.
  • the other side of the light-emitting device 300 which is an upper surface of the cross-section, may contact the contact electrode 260 and the third insulating layer 530.
  • the insulating film 380 on the other side of the light emitting device 300 is illustrated to form a flat surface, but the present invention is not limited thereto.
  • the insulating layer 380 of the light emitting device 300 may be partially etched in an etching process performed before the process of forming the contact electrode 260.
  • the display device 10 may include a plurality of contact surfaces in which the light emitting element 300 and the contact electrodes 261 and 262 or the second insulating layer 520 contact each other.
  • the contact surface includes a first contact surface S1, a second contact electrode 262 and a second contact surface of the second contact electrode 262 and the lower surface of the second portion 315 of the first semiconductor layer 310.
  • a second contact surface S2 in which the side surfaces of the portion 315 contact, a third contact surface S3 in which the side surfaces of the second insulating layer 520 and the second portion 315 contact, and the first contact electrode 261
  • a fourth contact surface S4 contacting the upper surface of the electrode layer 370.
  • the light emitting device 300 may include a surface substantially perpendicular to the upper surface of the substrate or the first insulating layer 510 and surfaces that are not, among contact surfaces with the contact electrodes 261 and 262.
  • the first contact surface S1 and the fourth contact surface S4 are formed substantially perpendicular to the upper surface of the first insulating layer 510, while the second contact surface S2 is formed of the first insulating layer 510. It can be formed so as not to be perpendicular to the top surface.
  • the second portion 315 of the light emitting device 300 has an inclined side surface, the contact surfaces with the contact electrodes 261 and 262 may be formed to be inclined. However, it is not limited thereto.
  • contact surfaces of the second contact electrode 262 in contact with the first semiconductor layer 310 of the light emitting device 300 may not be parallel to each other.
  • the second contact electrode 262 and the first semiconductor layer 310 may form a first contact surface S1 and a second contact surface S2, and the first contact surface S1 is formed of the first semiconductor layer 310.
  • the lower surface of the second part 315 is a surface formed
  • the second contact surface S2 is a surface formed by the side surface of the second part 315.
  • the second contact surface S2 since the second portion 315 of the first semiconductor layer 310 has an inclined side surface, it is not parallel or perpendicular to the lower surface. Accordingly, in the second portion 315 in contact with the second contact electrode 262, the second contact surface S2 may be formed to be inclined with respect to the first contact surface S1.
  • a contact area between one end surface of the light emitting device 300 and the second contact electrode 262 is the other end surface of the light emitting device 300 and the first contact electrode. It may be larger than the contact area with (261).
  • One end surface of the light emitting device 300 is a lower surface of the second portion 315 of the first semiconductor layer 310 and may have a fourth diameter W4 shown in FIG. 6.
  • the other end surface of the light emitting device 300 is an upper surface of the electrode layer 370 and may have a first diameter W1 like the first part 311 of the first semiconductor layer 310 as shown in FIG. 6. .
  • the fourth diameter W4 may be larger than the first diameter W1, and the first contact surface S1 which is a contact surface between one end surface of the light emitting element 300 and the second contact electrode 262 Silver may have a larger area than the fourth contact surface S4 which is a contact surface between the other end surface and the first contact electrode 261.
  • the light emitting device 300 may receive an electric signal through a surface in contact with the semiconductor core and the first and second contact electrodes 261 and 262. That is, among both ends of the light-emitting element 300, a surface in which the first semiconductor layer 310 and the electrode layer 370 constituting the semiconductor core contact the contact electrodes 261 and 262, that is, the first contact surface S1, Electrical signals may be transmitted through the second contact surface S2 and the fourth contact surface S4.
  • an electrode layer 370 is disposed at the other end that contacts the light emitting element 300 and the first contact electrode 261 to reduce contact resistance
  • the second contact electrode One end in contact with the 262 may include the second portion 315 having a large diameter to reduce contact resistance as the contact area increases.
  • one end of the light emitting device 300 may be in contact with the side surface of the second portion 315 and the second contact electrode 262, and a contact area between the light emitting device 300 and the second contact electrode 262 This may increase and contact resistance may decrease. Through this, electrical characteristics and luminous efficiency of the light emitting device 300 may be improved.
  • the second contact electrode 262 may contact the insulating layer 380 of the light emitting device 300 ('SE' in FIG. 8).
  • the present invention is not limited thereto, and the second contact electrode 262 may not contact the insulating layer 380 according to the shape of the third insulating layer 530.
  • the display device 10 may include a greater number of insulating layers. According to an embodiment, the display device 10 may further include a fourth insulating layer 540 disposed to protect the first contact electrode 261.
  • FIG. 9 is a cross-sectional view illustrating a part of a display device according to an exemplary embodiment.
  • the display device 10 may further include a fourth insulating layer 540 disposed on the first contact electrode 261.
  • the display device 10 according to the present exemplary embodiment further includes a fourth insulating layer 540 and at least a part of the second contact electrode 262 is disposed on the fourth insulating layer 540.
  • overlapping descriptions will be omitted, and descriptions will be made focusing on differences.
  • the display device 10 of FIG. 9 is disposed on the first contact electrode 261 and includes a fourth insulating layer 540 that electrically insulates the first contact electrode 261 and the second contact electrode 262 from each other.
  • Can include.
  • the fourth insulating layer 540 is disposed to cover the first contact electrode 261, but does not overlap with a partial area of the light emitting device 300 so that the light emitting device 300 can be connected to the second contact electrode 262.
  • the fourth insulating layer 540 may partially contact the first contact electrode 261 and the third insulating layer 530 on the upper surface of the third insulating layer 530.
  • the fourth insulating layer 540 may be disposed on the third insulating layer 530 to cover one end of the first contact electrode 261. Accordingly, the fourth insulating layer 540 may protect the first contact electrode 261 and electrically insulate it from the second contact electrode 262.
  • a side surface of the fourth insulating layer 540 in a direction in which the second contact electrode 262 is disposed may be aligned with one side surface of the third insulating layer 530.
  • the fourth insulating layer 540 may include an inorganic insulating material like the second insulating layer 520.
  • the first contact electrode 261 may be disposed between the first electrode 210 and the fourth insulating layer 540, and the second contact electrode 262 may be disposed on the fourth insulating layer 540.
  • the second contact electrode 262 may partially contact the second insulating layer 520, the third insulating layer 530, the fourth insulating layer 540, the second electrode 220, and the light emitting element 300. have.
  • One end of the second contact electrode 262 in the direction in which the first electrode 210 is disposed may be disposed on the fourth insulating layer 540.
  • the passivation layer 550 may be disposed on the fourth insulating layer 540 and the second contact electrode 262 and may be disposed to protect them. Hereinafter, redundant descriptions will be omitted.
  • FIG. 10 is a flowchart illustrating a method of manufacturing a light emitting device according to an exemplary embodiment.
  • a method of manufacturing a light emitting device 300 includes preparing a substrate, forming a semiconductor structure disposed on the substrate, and including a first semiconductor (S100). Etching a portion to form a semiconductor crystal including the first semiconductor and a plurality of holes exposing a portion of the first semiconductor (S200), and a surface of the semiconductor crystal and the exposed portion of the first semiconductor Forming an insulating film on the insulating film, and separating the element rod formed by etching the insulating film and the first semiconductor overlapping the hole from the substrate (S300).
  • S100 first semiconductor
  • Etching a portion to form a semiconductor crystal including the first semiconductor and a plurality of holes exposing a portion of the first semiconductor (S200), and a surface of the semiconductor crystal and the exposed portion of the first semiconductor Forming an insulating film on the insulating film, and separating the element rod formed by etching the insulating film and the first semiconductor overlapping the hole from the substrate (S300).
  • the light emitting device 300 forms a semiconductor structure ('3000' in FIG. 12) and partially etched it to form a semiconductor crystal including the first portion 311 of the first semiconductor layer 310 (Fig. 13 of '3000'') is formed first. Thereafter, after forming an insulating film ('3800' in FIG. 14) surrounding the outer surface of the semiconductor crystal 3000', the insulating film 380 and the first semiconductor layer are etched by etching the insulating film 3800 and the lower semiconductor layer. The second portion 315 of the layer 310 may be formed. In the process of forming the insulating layer 380 and the second portion 315 of the first semiconductor layer 310 at the same time, the second portion 315 has a larger diameter than the first portion 311. Can be.
  • a method of manufacturing the light emitting device 300 will be described in detail with reference to other drawings.
  • 11 to 16 are cross-sectional views illustrating a manufacturing process of a light emitting device according to an exemplary embodiment.
  • the base substrate 1100 may include a sapphire substrate (Al 2 O 3 ) and a transparent substrate such as glass.
  • the present invention is not limited thereto, and may be formed of a conductive substrate such as GaN, SiC, ZnO, Si, GaP, and GaAs.
  • a case where the base substrate 1100 is a sapphire substrate (Al 2 O 3 ) will be described.
  • the thickness of the base substrate 1100 is not particularly limited, but for example, the base substrate 1100 may have a thickness ranging from 400 ⁇ m to 1500 ⁇ m.
  • a plurality of semiconductor layers are formed on the base substrate 1100.
  • a plurality of semiconductor layers grown by an epitaxial method may be formed by growing a seed crystal.
  • the method of forming the semiconductor layer includes electron beam deposition, physical vapor deposition (PVD), chemical vapor deposition (CVD), plasma laser deposition (PLD), and dual thermal evaporation (Dual -type thermal evaporation), sputtering, metal-organic chemical vapor deposition (Metal organic chemical vapor deposition, MOCVD), and the like, and preferably, metal-organic chemical vapor deposition (MOCVD).
  • PVD physical vapor deposition
  • CVD chemical vapor deposition
  • PLD plasma laser deposition
  • dual thermal evaporation Dual evaporation
  • sputtering metal-organic chemical vapor deposition
  • MOCVD metal-organic chemical vapor deposition
  • MOCVD metal-organic chemical vapor deposition
  • MOCVD metal-organic chemical vapor deposition
  • the precursor material for forming a plurality of semiconductor layers is not particularly limited within a range that can be normally selected to form a target material.
  • the precursor material may be a metal precursor including an alkyl group such as a methyl group or an ethyl group.
  • it may be a compound such as trimethyl gallium (Ga(CH 3 ) 3 ), trimethyl aluminum (Al(CH 3 ) 3 ), triethyl phosphate ((C 2 H 5 ) 3 PO 4 ), but is not limited thereto. Does not.
  • a method of forming a plurality of semiconductor layers, a process condition, etc. will be omitted and described, and a sequence of a method of manufacturing the light emitting device 300 and a stacked structure will be described in detail.
  • a buffer material layer 1200 is formed on the base substrate 1100. Although the drawing shows that one layer of the buffer material layer 1200 is stacked, it is not limited thereto, and a plurality of layers may be formed.
  • the buffer material layer 1200 may be disposed to reduce a difference in lattice constant between the first semiconductor 3100 and the base substrate 1100.
  • the buffer material layer 1200 may include an undoped semiconductor, and may include substantially the same material as the first semiconductor 3100, but may be a material that is not doped with n-type or p-type. .
  • the buffer material layer 1200 may be at least one of undoped InAlGaN, GaN, AlGaN, InGaN, AlN, and InN, but is not limited thereto.
  • the buffer material layer 1200 may be omitted depending on the base substrate 1100.
  • the buffer material layer 1200 including an undoped semiconductor is formed on the base substrate 1100 will be described.
  • the semiconductor structure 3000 may include a first semiconductor 3100, an active layer 3300, a second semiconductor 3200, and an electrode material layer 3700.
  • the plurality of material layers included in the semiconductor structure 3000 may be formed by performing a conventional process as described above, and the plurality of layers included in the semiconductor structure 3000 may be the light emitting device 300 according to an exemplary embodiment. It may correspond to each of the layers included in the. That is, these may include the same materials as the first semiconductor layer 310, the active layer 330, the second semiconductor layer 320, and the electrode layer 370 of the light emitting device 300, respectively.
  • a first etching process (1 st etch) of etching a part of the semiconductor structure 3000 is performed to form a hole, and semiconductor crystals spaced apart from each other based on the hole ( 3000').
  • the semiconductor structure 3000 may be etched by a conventional method.
  • the semiconductor structure 3000 may be etched by forming an etching mask layer thereon and etching the semiconductor structure 3000 along the etching mask layer in a direction perpendicular to the lower substrate 1000. .
  • the process of etching the semiconductor structure 3000 is dry etching, wet etching, reactive ion etching (RIE), inductively coupled plasma reactive ion etching (ICP). -RIE), etc.
  • RIE reactive ion etching
  • ICP inductively coupled plasma reactive ion etching
  • -RIE inductively coupled plasma reactive ion etching
  • anisotropic etching is possible, so it may be suitable for vertical etching.
  • the etching etchant may be Cl 2 or O 2. However, it is not limited thereto.
  • the semiconductor structure 3000 may be etched by using a dry etching method and a wet etching method. For example, first, etching in the depth direction may be performed by a dry etching method, and then a sidewall may be etched through a wet etching method, which is an isotropic etching method, to lie on a plane perpendicular to the surface.
  • the semiconductor crystal 3000 ′ may include an electrode layer 370 of the light emitting device 300, a second semiconductor layer 320, an active layer 330, and a first portion 311 of the first semiconductor layer 310. .
  • a hole formed by etching the semiconductor structure 3000 may be formed from the electrode layer 370 to a partial region of the first semiconductor 3100.
  • the first semiconductor 3100 ′ left without being etched may be further etched in a subsequent process to form the second portion 315 of the first semiconductor layer 310.
  • an insulating film 3800 surrounding the outer surface of the semiconductor crystal 3000 ′ is formed.
  • the insulating film 3800 may also be formed on the side surface and the top surface of the semiconductor crystal 3000 ′, and on the first semiconductor 3100 left unetched.
  • the insulating film 3800 is an insulating material constituting the insulating film 390 of the light emitting device 300 and may be formed by applying or immersing an insulating material on the outer surface of the semiconductor crystal 3000 ′.
  • the insulating film 3800 may be formed by atomic layer deposition (ALD).
  • a second etching process (2 nd etch) is performed in which the insulating film 3800 is partially removed and the remaining first semiconductor 3100 that has not been etched is further etched.
  • the second portion 315 of 310 and the insulating layer 380 are formed.
  • a device rod ROD including a semiconductor core including the first semiconductor layer 310 and the active layer 330 and an insulating layer 380 surrounding the semiconductor core may be formed.
  • a process such as dry etching or etchback, which is anisotropic etching may be performed.
  • the upper surface of the insulating film 3800 is removed to expose the electrode layer 370, and the first semiconductor 3100 ′ remaining without etching may also be partially etched.
  • the insulating film 3800 and the first semiconductor 3100 ′ have different etch selectivity and are etched at different rates.
  • the insulating film 3800 is partially removed to expose the top surface of the electrode layer 370, only a portion of the first semiconductor 3100 ′ may be etched so that the side surface thereof may be formed to be inclined. Accordingly, the second part 315 of the first semiconductor layer 310 may be formed in the semiconductor core of the device rod ROD.
  • the device load ROD includes a first etching process (1 st etch) for etching the semiconductor structure 3000 and a second etching process (2 nd etch) for etching the insulating film 3800 and the first semiconductor 3100 ′. It can be formed by performing.
  • the first etching process (1 st etch) and the second etching process (2 nd etch) may be performed under different process conditions, and the first semiconductor 3100 formed by the processes may have different shapes.
  • the first semiconductor 3100 etched by the first etching process (1 st etch) forms the first portion 311 of the first semiconductor layer 310 and is etched by the second etching process (2 nd etch).
  • the formed first semiconductor 3100 ′ may form the second portion 315 of the first semiconductor layer 310.
  • an outer surface of the insulating layer 380 may be formed to be partially curved in a region surrounding the electrode layer 370.
  • the process of partially removing the insulating film 3800 not only the top surface but also the side surfaces of the insulating film 3800 are partially removed, so that the insulating film 380 surrounding the plurality of layers is formed with the end surface partially etched. Can be.
  • the outer surface of the insulating film 380 adjacent to the electrode layer 370 in the light emitting device 300 may be partially removed.
  • the device rod ROD on which the second portion 315 of the first semiconductor layer 310 is formed is separated from the lower substrate 1000 to manufacture the light emitting device 300.
  • the light emitting device 300 may be manufactured through the process described above.
  • the light emitting device 300 manufactured in this way is disposed between the first electrode 210 and the second electrode 220, and a third insulating layer 530 and a contact electrode 260 are disposed thereon to provide a display device ( 10) can be prepared.
  • a manufacturing process of the display device 10 will be described with further reference to other drawings.
  • 17 to 19 are cross-sectional views illustrating a part of a manufacturing process of a display device according to an exemplary embodiment.
  • the first electrode 210 and the second electrode 220 disposed on the 410 and the second internal bank 420, respectively, and a second insulating material layer covering the first electrode 210 and the second electrode 220 Prepare (520').
  • the second insulating layer 520 ′ may be partially patterned in a subsequent process to form the second insulating layer 520 of the display device 10.
  • the above members may be formed by performing a conventional mask process and patterning a metal, inorganic material, or organic material.
  • the ink 900 including the light emitting element 300 is sprayed onto the first electrode 210 and the second electrode 220.
  • the ink 900 may include a solvent 910 and a light emitting device 300 dispersed in the solvent 910.
  • the light emitting device 300 may be sprayed onto the electrodes 210 and 220 in a state dispersed in the solvent 910, and the first electrode 210 and the second electrode 220 are applied by an electric signal applied in a subsequent process. Can be arranged in between.
  • an electric field IEL is generated on the ink 900 including the light emitting element 300 by applying an electric signal to the first electrode 210 and the second electrode 220.
  • the light emitting device 300 may receive a dielectrophoretic force by an electric field IEL, and may be seated between the first electrode 210 and the second electrode 220 while the orientation direction and position are changed.
  • the solvent 910 of the ink 900 is removed.
  • the light emitting device 300 is disposed between the first electrode 210 and the second electrode 220, and a plurality of light emitting devices 300 are seated between the first electrode 210 and the second electrode 220 As they become, they can be aligned with a specific orientation direction.
  • the third insulating layer 530 is formed on the light emitting device 300 and the second insulating layer 520 is formed by patterning the second insulating layer 520'. Thereafter, the display device 10 may be manufactured by forming the first contact electrode 261, the second contact electrode 262, and the passivation layer 550.
  • the light emitting device 300 and the display device 10 according to the exemplary embodiment may be manufactured.
  • the light emitting device 300 according to an embodiment includes a first semiconductor layer 310 having a first portion 311 and a second portion 315 having different diameters, and both ends have different diameters. I can.
  • the second portion 315 of the first semiconductor layer 310 may have a larger diameter than the electrode layer 370, and the contact electrodes 261 and 262 and the first semiconductor layer 310 of the display device 10 And can be in contact with a large area. Accordingly, in the light emitting device 300 according to an exemplary embodiment, contact resistance with the contact electrodes 261 and 262 may be reduced, and luminous efficiency may be improved.
  • the light emitting device 300 and the display device 10 according to various embodiments will be described.
  • FIG. 20 is a cross-sectional view illustrating a part of a display device according to an exemplary embodiment.
  • the insulating layer 380_1 of the light emitting element 300_1 may not contact the second contact electrode 262_1.
  • the contact electrodes 261_1 and 262_1 may contact both ends of the light emitting device 300_1.
  • the second contact electrode 262_1 may contact the first semiconductor layer 310_1 of the light emitting device 300_1, and a portion of the insulating layer 380_1 surrounding the first semiconductor layer 310_1 is third insulated.
  • the second contact electrode 262_1 may not be in contact.
  • the second contact electrode 262_1 of the display device 10 does not contact the insulating layer 380_1 of the light emitting element 300_1, but only the second part 315_1 of the first semiconductor layer 310_1. I can contact you.
  • This embodiment is different from the embodiment of FIG. 8 in that the second contact electrode 262_1 does not contact the insulating layer 380_1. Descriptions of other members are substantially the same, and detailed descriptions will be omitted.
  • the insulating layer 380 may include a surface having a partially curved top surface.
  • the insulating film 3800 is partially etched on the upper and side surfaces of the insulating film 380. This can have a partially curved shape.
  • 21 is a schematic cross-sectional view of a light emitting device according to an exemplary embodiment.
  • 22 is a cross-sectional view illustrating a part of a display device including the light emitting element of FIG. 20.
  • the light emitting device 300_2 may include a region in which an upper surface or an upper cross section of the insulating layer 380_2 is partially inclined and partially has a different thickness.
  • the light emitting device 300_2 of FIG. 21 is different from the light emitting device 300 of FIG. 6 in that the end surface of the insulating layer 380_2 has an inclined shape.
  • the arrangement and structure of the electrode layer 370, the first semiconductor layer 310, the active layer 330, and the second semiconductor layer 320 are the same as in FIG. It will be described as.
  • the insulating layer 380_2 is disposed so that a portion of the semiconductor core, for example, a side surface of the electrode layer 370_2 is exposed, and an end surface of a portion of the upper surface of the insulating layer 380_2 to which the electrode layer 370_2 is exposed is It may have a partially inclined shape.
  • the electrode layer 370_2 may be exposed in a process of etching the insulating film 3800 during the manufacturing process of the light emitting device 300_2 without the insulating film 380_2 disposed on the outer surface of the electrode layer 370_2. In the case of the light-emitting device 300 of FIG.
  • the first contact electrode 261_2 of the display device 10 is formed as the electrode layer 370_2 It can also come in contact with some of the sides. As shown in FIG. 22, the first contact electrode 261_2 may also contact a part of the side surface of the electrode layer 370_2 of the light emitting device 300_2 to form a fifth contact surface S5. Unlike the embodiment of FIG. 7, the first contact electrode 261 may contact the top and side surfaces of the electrode layer 370_2 in addition to the insulating layer 380_2 of the light emitting device 300_2, and contact the insulating layer 380_2. The contact surface thus formed may have a partially inclined shape according to the curved outer surface of the insulating layer 380_2.
  • the insulating layer 380 of the light emitting device 300 may be partially etched during the manufacturing process of the display device 10 to decrease the thickness.
  • the thickness of the insulating layer 380 may vary depending on the location, and the diameter of the light emitting device 300 may also vary.
  • 23 and 24 are cross-sectional views illustrating a part of a display device including a light emitting device according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 23 shows that the insulating layer 380_3 of the light-emitting element 300_3 is partially etched in the display device 10 including the light-emitting element 300 of FIG. 6, and FIG. 24 is a light-emitting element 300_2 of FIG. 21.
  • the insulating layer 380_4 of the light emitting element 300_4 is partially etched.
  • the insulating layer 380_3 that does not contact the third insulating layer 530 may be partially etched.
  • the light emitting device 300_3 may include one side that is a lower surface in cross section and the other side that is an upper surface of the outer surface. Since the one side is in contact with the second insulating layer 520 and the third insulating layer 530 disposed under the light emitting element 300_3, the lower surface of the light emitting element 300_3 during the manufacturing process of the display device 10_3
  • the insulating layer 380_3 located at may not be etched.
  • the other side surface of the light emitting device 300_3, which is an upper surface of the cross-section, may be partially etched in an etching process performed before the process of forming the contact electrodes 261 and 262.
  • the insulating layer 380_3 may be etched on the other side of the area in contact with the contact electrodes 261 and 262 except for a portion in contact with the third insulating layer 530. Accordingly, the display device 10_3 may have different thicknesses depending on the location of the insulating layer 380_3 of the light emitting element 300_3.
  • the insulating layer 380_3 may have a thickness at a surface contacting the first contact electrode 261 and a surface contacting the second contact electrode 262 than a thickness at a surface contacting the second insulating layer 520. .
  • the thickness of the surface in contact with the third insulating layer 530 is It may be thicker than the surface and the surface in contact with the second contact electrode 262.
  • the light emitting device 300_3 may have different diameters depending on the location.
  • a first diameter Da which is a diameter measured in a region in contact with the third insulating layer 530, is a second diameter in a region in contact with the second contact electrode 262 ( Db) and the third diameter Dc of the region in contact with the first contact electrode 261 may be larger.
  • the insulating layer 380_3 of the light emitting device 300_3 has a thickness of a certain level or higher to protect the active layer 330_3 and is disposed to surround at least the active layer 330_3.
  • the insulating layer 380_3 may have a minimum thickness to protect the active layer 330_3.
  • the insulating layer 380_3 of the light emitting element 300_3 disposed on the display device 10_3 may have a thickness in a range of about 10 nm to 20 nm. The insulating layer 380_3 in the above-described range may prevent the active layer 330_3 from contacting other members, thereby preventing an electrical short circuit of the light emitting device 300_3.
  • FIG. 24 may illustrate that the insulating layer 380_4 is partially etched during the manufacturing process of the display device 10_4 including the light emitting device 300_2 of FIG. 21. A description of this is the same as described above with reference to FIGS. 22 and 23, and a detailed description thereof will be omitted.
  • the electrode stem portions 210S and 220S extending in the first direction DR1 may be omitted for the first electrode 210 and the second electrode 220.
  • 25 is a plan view illustrating one sub-pixel of a display device according to an exemplary embodiment.
  • a first electrode 210_5 and a second electrode 220_5 may extend in one direction, that is, a second direction DR2.
  • electrode stem portions 210S and 220S extending in the first direction DR1 may be omitted.
  • the display device 10_5 of FIG. 25 is different from the display device 10 of FIG. 3 in that the electrode stem portions 210S and 220S are omitted and one second electrode 220_5 is further included.
  • Sections taken along lines Xa-Xa', Xb-Xb', and Xc-Xc' of FIG. 25 may be substantially the same as those of FIG. 4.
  • overlapping descriptions will be omitted and descriptions will be made focusing on differences.
  • a plurality of first electrodes 210_5 and second electrodes 220_5 may extend in a second direction DR2 within each sub-pixel PXn.
  • the external bank 430 may also extend in the second direction DR2.
  • the second electrode 220_5 and the external bank 430 may also extend to other sub-pixels PXn adjacent in the second direction DR2. Accordingly, each of the sub-pixels PXn adjacent in the second direction DR2 may receive the same electric signal from the second electrode 220_5.
  • a second electrode contact hole CNTS may be disposed for each second electrode 220_5.
  • the second electrode 220 may be electrically connected to the power electrode 162 of the circuit element layer PAL through the second electrode contact hole CNTS positioned for each sub-pixel PXn.
  • a second electrode contact hole CNTS is formed in each of the two second electrodes 220_5, but is not limited thereto.
  • the first electrode 210_5 may extend in the second direction DR2 but may end at the boundary of each sub-pixel PXn.
  • Each of the sub-pixels PXn adjacent in the second direction DR2 includes a first electrode 210_5 spaced apart from each other, and they may receive different electrical signals through the first electrode contact hole CNTD. .
  • the shape of the first electrode 210_5 may be formed by extending and disposing in the second direction DR2 and then disconnecting at the boundary of the adjacent sub-pixel PXn during the manufacturing process of the display device 10. In the embodiment of FIG. 25, between the light emitting elements 300 between one first electrode 210_5 and one second electrode 220_5, and between the other first electrode 210_5 and another second electrode 220_5.
  • the light emitting devices 300 may be connected in parallel.
  • some electrodes 210_5 and 220_5 are not electrically connected to the circuit element layer PAL through electrode contact holes CNTD and CNTS, but are disposed as a floating electrode. It could be.
  • only electrodes located on the outer side can receive electric signals through the electrode contact holes CNTD and CNTS, and the electrodes 210_5 and 220_5 disposed between them are They may not receive electrical signals directly.
  • the second electrodes 220_5 for example, the second electrode 220_5 disposed between the different first electrodes 210_5 extend in the second direction DR2, but other sub-pixels PXn Like the first electrode 210_5, it may be terminated at the boundary of each sub-pixel PXn so that it is not disposed at ).
  • the light emitting elements 300 disposed therebetween may be partially connected in series in addition to parallel connection.
  • the outer bank 430 may be disposed at the boundary of the sub-pixels PXn adjacent in the first direction DR1 to extend in the second direction DR2.
  • the external bank 430 may be disposed at the boundary of the sub-pixels PXn adjacent in the second direction DR2 and may extend in the first direction DR1.
  • the description of the external bank 430 is the same as described above with reference to FIG. 3.
  • the first contact electrode 261_5 and the second contact electrode 262_5 included in the display device 10_5 of FIG. 25 are substantially the same as the display device 10 of FIG. 3.
  • FIG. 25 it is shown that two first electrodes 210_5 and two second electrodes 220_5 are disposed, and they are alternately spaced apart from each other.
  • the present invention is not limited thereto, and some electrodes may be omitted or a larger number of electrodes may be disposed in the display device 10_5.
  • the display device 10 may not have a shape in which the first electrode 210 and the second electrode 220 necessarily extend in one direction.
  • the shape of the first electrode 210 and the second electrode 220 of the display device 10 is not particularly limited as long as they are spaced apart from each other so as to provide a space in which the light emitting elements 300 are disposed.
  • 26 is a plan view illustrating one pixel of a display device according to an exemplary embodiment.
  • At least a portion of the first electrode 210_6 and the second electrode 220_6 of the display device 10_6 has a curved shape, and the curvature of the first electrode 210_6 The region may be spaced apart from and opposite to the curved region of the second electrode 220_6.
  • the display device 10_6 of FIG. 26 is different from the display device 10 of FIG. 2 in that the first electrode 210_6 and the second electrode 220_6 have different shapes.
  • overlapping descriptions will be omitted and descriptions will be made focusing on differences.
  • the first electrode 210_6 of the display device 10_6 of FIG. 26 may include a plurality of holes HOL.
  • the first electrode 210_6 may include a first hole HOL1, a second hole HOL2, and a third hole HOL3 arranged along the second direction DR2. have.
  • the present invention is not limited thereto, and the first electrode 210_6 may include a larger number of holes HOL, a smaller number, or only one hole HOL.
  • a description will be made by illustrating that the first electrode 210_6 includes the first hole HOL1, the second hole HOL2, and the third hole HOL3.
  • each of the first hole HOL1, the second hole HOL2, and the third hole HOL3 may have a circular planar shape.
  • the first electrode 210_6 may include a curved region formed by each of the holes HOL, and may face the second electrode 220_6 in the curved region.
  • this is exemplary and is not limited thereto.
  • Each of the first hole HOL1, the second hole HOL2, and the third hole HOL3 is not limited in shape as long as it can provide a space in which the second electrode 220_6 is disposed, as described later, For example, it may have a planar shape such as an ellipse, a polygon of a rectangle or more.
  • a plurality of second electrodes 220_6 may be disposed in each sub-pixel PXn.
  • three second electrodes 220_6 may be disposed corresponding to the first to third holes HOL1, HOL2, and HOL3 of the first electrode 210_6.
  • the second electrode 220_6 may be positioned in each of the first to third holes HOL1, HOL2, and HOL3, and may be surrounded by the first electrode 210_6.
  • the holes HOL of the first electrode 210_6 have a curved outer surface
  • the second electrodes 220_6 correspondingly disposed within the hole HOL of the first electrode 210_6 are external surfaces. It may have this curved shape and may face the first electrode 210_6 while being spaced apart.
  • the first electrode 210_6 may include holes HOL having a circular shape in plan view
  • the second electrode 220_6 may have a circular shape in plan view.
  • the first electrode 210_6 may face the curved surface of the region in which the hole HOL is formed is spaced apart from the curved outer surface of the second electrode 220_6.
  • the first electrode 210_6 may be disposed to surround the outer surface of the second electrode 220_6.
  • the light emitting devices 300 may be disposed between the first electrode 210_6 and the second electrode 220_6.
  • the display device 10_6 according to the present exemplary embodiment includes a second electrode 220_6 having a circular shape and a first electrode 210_6 disposed to surround the second electrode 220_6, and the plurality of light emitting devices 300 are second electrodes. It can be arranged along the curved outer surface of (220_6).
  • the light-emitting elements 300 have a shape extending in one direction, the light-emitting elements 300 arranged along the curved outer surface of the second electrode 220_6 in each sub-pixel PXn are extended. The directions may be arranged to face different directions.
  • Each of the sub-pixels PXn may have various emission directions depending on the direction in which the extended direction of the light emitting device 300 is directed.
  • the first electrode 210_6 and the second electrode 220_6 are arranged to have a curved shape, so that the light emitting elements 300 disposed therebetween face different directions. It is disposed, and the side visibility of the display device 10_6 may be improved.

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Abstract

발광 소자, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 표시 장치가 제공된다. 발광 소자는 제1 극성으로 도핑되고, 제1 방향으로 연장된 제1 부분 및 상기 제1 부분의 일 측에 연결된 제2 부분을 포함하는 제1 반도체층, 기 제1 극성과 다른 제2 극성으로 도핑된 제2 반도체층, 상기 제1 반도체층과 상기 제2 반도체층 사이에 배치된 활성층, 적어도 상기 활성층의 외면을 둘러싸도록 배치되고, 상기 제1 방향으로 연장된 절연막을 포함하고, 상기 제2 부분의 상기 제1 방향에 수직인 제2 방향으로 측정된 직경은 상기 제1 부분의 상기 제2 방향으로 측정된 직경보다 크고, 상기 제2 부분의 측면은 경사진 형상을 갖는다.

Description

발광 소자, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 표시 장치
본 발명은 발광 소자, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 표시 장치에 관한 것이다.
표시 장치는 멀티미디어의 발달과 함께 그 중요성이 증대되고 있다. 이에 부응하여 유기발광 표시 장치(Organic Light Emitting Display, OLED), 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display, LCD) 등과 같은 여러 종류의 표시 장치가 사용되고 있다.
표시 장치의 화상을 표시하는 장치로서 유기 발광 표시 패널이나 액정 표시 패널과 같은 표시 패널을 포함한다. 그 중, 발광 표시 패널로써, 발광 소자를 포함할 수 있는데, 예를 들어 발광 다이오드(Light Emitting Diode, LED)의 경우, 유기물을 형광 물질로 이용하는 유기 발광 다이오드(OLED), 무기물을 형광물질로 이용하는 무기 발광 다이오드 등이 있다.
형광물질로 무기물 반도체를 이용하는 무기 발광 다이오드는 고온의 환경에서도 내구성을 가지며, 유기 발광 다이오드에 비해 청색 광의 효율이 높은 장점이 있다. 또한, 기존의 무기 발광 다이오드 소자의 한계로 지적되었던 제조 공정에 있어서도, 유전영동(Dielectrophoresis, DEP)법을 이용한 전사방법이 개발되었다. 이에 유기 발광 다이오드에 비해 내구성 및 효율이 우수한 무기 발광 다이오드에 대한 연구가 지속되고 있다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 반도체 결정을 식각하여 제조된 발광 소자에 있어서, 양 단부가 서로 다른 폭을 갖는 발광 소자 및 이의 제조 방법을 제공하고자 하는 것이다.
또한, 본 발명이 해결하고자 하는 과제는 상기 발광 소자를 포함하여 발광 소자와 접촉 전극 간의 접촉 면적이 증가된 표시 장치를 제공하고자 하는 것이다.
본 발명의 과제들은 이상에서 언급한 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기 과제를 해결하기 위한 일 실시예에 따른 발광 소자는 제1 극성으로 도핑되고, 제1 방향으로 연장된 제1 부분 및 상기 제1 부분의 일 측에 연결된 제2 부분을 포함하는 제1 반도체층; 상기 제1 극성과 다른 제2 극성으로 도핑된 제2 반도체층; 상기 제1 반도체층과 상기 제2 반도체층 사이에 배치된 활성층; 적어도 상기 활성층의 외면을 둘러싸도록 배치되고, 상기 제1 방향으로 연장된 절연막을 포함하고, 상기 제2 부분의 상기 제1 방향에 수직인 제2 방향으로 측정된 직경은 상기 제1 부분의 상기 제2 방향으로 측정된 직경보다 크고, 상기 제2 부분의 측면은 경사진 형상을 갖는다.
상기 절연막은 상기 제1 반도체층의 상기 제1 부분 외면을 둘러싸고, 상기 제2 부분은 측면이 상기 절연막과 접촉하지 않고 노출될 수 있다.
상기 제2 부분의 길이는 상기 발광 소자의 길이 대비 10% 내외의 범위를 가질 수 있다.
상기 제2 부분은 상기 제1 부분과 연결되는 상면 및 상기 상면과 대향하는 하면을 포함하고, 상기 제2 부분의 하면의 직경은 상기 상면은 직경보다 클 수 있다.
상기 제1 반도체층의 제2 부분 하면은 직경이 상기 제1 반도체층 제1 부분이 갖는 직경의 1.25배 내지 1.8배의 범위를 가질 수 있다.
상기 제2 부분의 하면은 직경이 750nm 내지 900nm의 범위를 가질 수 있다.
상기 제2 부분의 하면의 직경은 상기 제1 부분의 직경 및 상기 절연막의 두께의 합보다 클 수 있다.
상기 제2 부분의 상면은 적어도 일부 영역이 상기 절연막과 접촉할 수 있다.
상기 제2 부분의 하면과 측면이 이루는 사이각은 65° 내지 80°의 범위를 가질 수 있다.
상기 제2 반도체층 상에 배치된 전극층을 더 포함할 수 있다.
상기 전극층은 측면 중 일부 영역이 상기 절연막과 접촉하지 않고 노출될 수 있다.
상기 절연막은 상기 일 방향에 따라 두께가 감소하도록 외면이 곡률진 형상을 가질 수 있다.
상기 과제를 해결하기 위한 일 실시예에 따른 발광 소자의 제조 방법은 기판을 준비하고, 상기 기판 상에 배치되며 제1 반도체를 포함하는 반도체 구조물을 형성하는 단계; 상기 반도체 구조물의 일부를 식각하여 상기 제1 반도체 일부를 노출시키는 복수의 홀 및 상기 제1 반도체 일부를 포함하고 서로 이격된 반도체 결정을 형성하는 단계; 및 상기 반도체 결정의 외면 및 상기 제1 반도체의 노출된 부분에 배치되는 절연피막을 형성하고, 상기 절연피막 및 상기 홀과 중첩된 제1 반도체를 식각하여 형성된 소자 로드를 상기 기판으로부터 분리하는 단계를 포함한다.
상기 소자 로드는 일 방향으로 연장된 제1 부분 및 상기 제1 부분의 일 측에 연결되고 직경이 상기 제1 부분보다 큰 제2 부분을 포함하는 제1 반도체층, 상기 제1 반도체층의 제1 부분 상에 배치된 활성층 및 상기 활성층 상에 배치된 제2 반도체층을 포함할 수 있다.
상기 반도체 결정은 상기 제1 반도체층의 상기 제1 부분을 포함하고, 상기 소자 로드를 형성하는 단계에서 상기 홀을 따라 노출된 제1 반도체가 식각되어 상기 제1 반도체층의 제2 부분이 형성되고, 상기 절연피막이 일부 제거되어 상기 반도체 결정의 상면이 노출될 수 있다.
상기 소자 로드는 상기 제2 반도체층 상에 배치된 전극층을 더 포함할 수 있다.
상기 과제를 해결하기 위한 일 실시예에 따른 표시 장치는 기판; 상기 기판 상에 배치된 제1 전극 및 상기 제1 전극과 이격된 제2 전극; 및 상기 제1 전극과 상기 제2 전극 사이에 배치되어 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극과 전기적으로 연결된 적어도 하나의 발광 소자를 포함하고, 상기 발광 소자는 제1 방향으로 연장된 형상을 갖고, 일 단부의 상기 제1 방향에 수직인 제2 방향으로 측정된 직경이 타 단부의 상기 제2 방향으로 측정된 직경보다 작다.
상기 발광 소자는 상기 제1 방향으로 연장된 제1 부분 및 상기 제1 부분의 일 측에 연결된 제2 부분을 포함하는 제1 반도체층; 상기 제1 반도체층 상에 배치된 활성층; 상기 활성층 상에 배치된 제2 반도체층; 상기 제2 반도체층 상에 배치된 전극층 및 적어도 상기 활성층의 외면을 둘러싸도록 배치되고 상기 제1 방향으로 연장된 절연막을 포함하고, 상기 제2 부분의 상기 제2 방향으로 측정된 직경은 상기 제1 부분의 상기 제2 방향으로 측정된 직경보다 크고, 상기 제2 부분의 측면은 경사진 형상을 가질 수 있다.
상기 제1 전극 및 상기 발광 소자의 상기 일 단부와 접촉하는 제1 접촉 전극 및 상기 제2 전극 및 상기 발광 소자의 상기 타 단부와 접촉하는 제2 접촉 전극을 더 포함할 수 있다.
상기 제2 접촉 전극은 상기 제1 반도체층 제2 부분과 접촉하되, 상기 제2 부분의 하면과 접촉하는 제1 접촉면 및 상기 제2 부분의 측면과 접촉하는 제2 접촉면을 형성하고, 상기 제1 접촉 전극은 상기 전극층 상면과 접촉하여 제3 접촉면을 형성할 수 있다.
상기 제1 접촉면의 면적은 상기 제3 접촉면의 면적보다 클 수 있다.
상기 제1 접촉면과 상기 제2 접촉면은 상호 평행하지 않을 수 있다.
상기 발광 소자의 상기 절연막은 상기 전극층의 측면 일부를 둘러싸도록 배치되고, 상기 제1 접촉 전극은 상기 전극층의 노출된 측면과 접촉할 수 있다.
상기 제1 접촉 전극 및 상기 제2 접촉 전극은 각각 상기 발광 소자의 상기 절연막과 부분적으로 접촉할 수 있다.
기타 실시예의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
일 실시예에 따른 발광 소자는 일 단부가 타 단부보다 직경이 크고, 상기 일 단부는 반도체층의 측면이 부분적으로 노출될 수 있다. 발광 소자의 상기 반도체층은 하면 및 경사진 측면을 포함하여, 표시 장치의 접촉 전극과 넓은 접촉면을 형성할 수 있다.
이에 따라, 표시 장치는 상술한 발광 소자를 포함하여 접촉 전극과 발광 소자 사이의 접촉 저항을 감소시켜 발광 소자의 전기적 특성 및 발광 효율을 향상시킬 수 있다.
실시예들에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 명세서 내에 포함되어 있다.
도 1은 일 실시예에 따른 표시 장치의 개략적인 평면도이다.
도 2는 일 실시예에 따른 표시 장치의 일 화소의 개략적인 평면도이다.
도 3은 도 2의 일 서브 화소를 나타내는 평면도이다.
도 4는 도 3의 Xa-Xa’선, Xb-Xb’선 및 Xc-Xc’선을 따라 자른 단면도이다.
도 5는 일 실시예에 따른 발광 소자의 개략도이다.
도 6은 일 실시예에 따른 발광 소자의 개략적인 단면도이다.
도 7은 도 6의 QL 부분의 확대도이다.
도 8은 도 4의 QA 부분의 확대도이다.
도 9는 일 실시예에 따른 표시 장치의 일부를 나타내는 단면도이다.
도 10은 일 실시예에 따른 발광 소자의 제조 방법을 나타내는 순서도이다.
도 11 내지 도 16은 일 실시예에 따른 발광 소자의 제조 공정을 나타내는 단면도들이다.
도 17 내지 도 19는 일 실시예에 따른 표시 장치의 제조 공정 중 일부를 나타내는 단면도들이다.
도 20은 일 실시예에 따른 표시 장치의 일부를 나타내는 단면도이다.
도 21은 일 실시예에 따른 발광 소자의 개략적인 단면도이다.
도 22는 도 20의 발광 소자를 포함하는 표시 장치의 일부를 나타내는 단면도이다.
도 23 및 도 24는 일 실시예에 발광 소자를 포함하는 표시 장치의 일부를 나타내는 단면도이다.
도 25는 일 실시예에 따른 표시 장치의 일 서브 화소를 나타내는 평면도이다.
도 26은 일 실시예에 따른 표시 장치의 일 화소를 나타내는 평면도이다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
소자(Elements) 또는 층이 다른 소자 또는 층의 "상(on)"으로 지칭되는 것은 다른 소자 바로 위에 또는 중간에 다른 층 또는 다른 소자를 개재한 경우를 모두 포함한다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
비록 제1, 제2 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않음은 물론이다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있음은 물론이다.
이하, 첨부된 도면을 참고로 하여 실시예들에 대해 설명한다.
도 1은 일 실시예에 따른 표시 장치의 개략적인 평면도이다.
도 1을 참조하면, 표시 장치(10)는 동영상이나 정지영상을 표시한다. 표시 장치(10)는 표시 화면을 제공하는 모든 전자 장치를 지칭할 수 있다. 예를 들어, 표시 화면을 제공하는 텔레비전, 노트북, 모니터, 광고판, 사물 인터넷, 모바일 폰, 스마트 폰, 태블릿 PC(Personal Computer), 전자 시계, 스마트 워치, 워치 폰, 헤드 마운트 디스플레이, 이동 통신 단말기, 전자 수첩, 전자 책, PMP(Portable Multimedia Player), 내비게이션, 게임기, 디지털 카메라, 캠코더 등이 표시 장치(10)에 포함될 수 있다.
표시 장치(10)는 표시 화면을 제공하는 표시 패널을 포함한다. 표시 패널의 예로는 LED 표시 패널, 유기발광 표시 패널, 양자점 발광 표시 패널, 플라즈마 표시 패널, 전계방출 표시 패널 등을 들 수 있다. 이하에서는 표시 패널의 일 예로서, LED 표시 패널이 적용된 경우를 예시하지만, 그에 제한되는 것은 아니며, 동일한 기술적 사상이 적용 가능하다면 다른 표시 패널에도 적용될 수 있다.
표시 장치(10)의 형상은 다양하게 변형될 수 있다. 예를 들어, 표시 장치(10)는 가로가 긴 직사각형, 세로가 긴 직사각형, 정사각형, 코너부(꼭지점)가 둥근 사각형, 기타 다각형, 원형 등의 형상을 가질 수 있다. 표시 장치(10)의 표시 영역(DA)의 형상 또한 표시 장치(10)의 전반적인 형상과 유사할 수 있다. 도 1에서는 가로가 긴 직사각형 형상의 표시 장치(10) 및 표시 영역(DA)이 예시되어 있다.
표시 장치(10)는 표시 영역(DA)과 비표시 영역(NDA)을 포함할 수 있다. 표시 영역(DA)은 화면이 표시될 수 있는 영역이고, 비표시 영역(NDA)은 화면이 표시되지 않는 영역이다. 표시 영역(DA)은 활성 영역으로, 비표시 영역(NDA)은 비활성 영역으로도 지칭될 수 있다.
표시 영역(DA)은 대체로 표시 장치(10)의 중앙을 차지할 수 있다. 표시 영역(DA)은 복수의 화소(PX)를 포함할 수 있다. 복수의 화소(PX)는 행렬 방향으로 배열될 수 있다. 각 화소(PX)의 형상은 평면상 직사각형 또는 정사각형일 수 있지만, 이에 제한되는 것은 아니고 각 변이 일 방향에 대해 기울어진 마름모 형상일 수도 있다. 화소(PX)들 각각은 특정 파장대의 광을 방출하는 발광 소자(300)를 하나 이상 포함하여 특정 색을 표시할 수 있다.
도 2는 일 실시예에 따른 표시 장치의 일 화소의 개략적인 평면도이다. 도 3은 도 2의 일 서브 화소를 나타내는 평면도이다.
도 2 및 도 3을 참조하면, 복수의 화소(PX)들 각각은 제1 서브 화소(PX1), 제2 서브 화소(PX2) 및 제3 서브 화소(PX3)를 포함할 수 있다. 제1 서브 화소(PX1)는 제1 색의 광을 발광하고, 제2 서브 화소(PX2)는 제2 색의 광을 발광하며, 제3 서브 화소(PX3)는 제3 색의 광을 발광할 수 있다. 제1 색은 청색, 제2 색은 녹색, 제3 색은 적색일 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않고, 각 서브 화소(PXn)들은 동일한 색의 광을 발광할 수도 있다. 또한, 도 2에서는 화소(PX)가 3개의 서브 화소(PXn)들을 포함하는 것을 예시하였으나, 이에 제한되지 않고, 화소(PX)는 더 많은 수의 서브 화소(PXn)들을 포함할 수 있다.
표시 장치(10)의 각 서브 화소(PXn)들은 발광 영역(EMA)으로 정의되는 영역을 포함할 수 있다. 제1 서브 화소(PX1)는 제1 발광 영역(EMA1)을, 제2 서브 화소(PX2)는 제2 발광 영역(EMA2)을, 제3 서브 화소(PX3)는 제3 발광 영역(EMA2)을 포함할 수 있다. 발광 영역(EMA)은 표시 장치(10)에 포함되는 발광 소자(300)가 배치되어 특정 파장대의 광이 출사되는 영역으로 정의될 수 있다. 발광 소자(300)는 활성층(330)을 포함하고, 활성층(330)은 특정 파장대의 광을 방향성 없이 방출할 수 있다. 발광 소자(300)의 활성층(330)에서 방출된 광들은 발광 소자(300)의 양 단부 방향을 포함하여, 발광 소자(300)의 측면 방향으로도 방출될 수 있다. 각 서브 화소(PXn)의 발광 영역(EMA)은 발광 소자(300)가 배치된 영역을 포함하여, 발광 소자(300)와 인접한 영역으로 발광 소자(300)에서 방출된 광들이 출사되는 영역을 포함할 수 있다. 또한, 이에 제한되지 않고, 발광 영역(EMA)은 발광 소자(300)에서 방출된 광이 다른 부재에 의해 반사되거나 굴절되어 출사되는 영역도 포함할 수 있다. 복수의 발광 소자(300)들은 각 서브 화소(PXn)에 배치되고, 이들이 배치된 영역과 이에 인접한 영역을 포함하여 발광 영역(EMA)을 형성할 수 있다.
도면에 도시되지 않았으나, 표시 장치(10)의 각 서브 화소(PXn)들은 발광 영역(EMA) 이외의 영역으로 정의된 비발광 영역을 포함할 수 있다. 비발광 영역은 발광 소자(300)가 배치되지 않고, 발광 소자(300)에서 방출된 광들이 도달하지 않아 광이 출사되지 않는 영역일 수 있다.
표시 장치(10)의 각 서브 화소(PXn)는 복수의 전극(210, 220), 발광 소자(300), 복수의 접촉 전극(260), 및 복수의 외부 뱅크(430)를 포함할 수 있다. 또한, 도 2 및 도 3에 도시되지 않았으나, 표시 장치(10)는 복수의 내부 뱅크(도 4의 '410', '420') 및 복수의 절연층(도 4의 '510', '520', '530', '550')을 더 포함할 수 있다.
복수의 전극(210, 220)은 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)을 포함할 수 있다. 제1 전극(210)과 제2 전극(220)은 각각 제1 방향(DR1)으로 연장되어 배치되는 전극 줄기부(210S, 220S)와 전극 줄기부(210S, 220S)에서 제1 방향(DR1)과 교차하는 방향인 제2 방향(DR2)으로 연장되어 분지되는 적어도 하나의 전극 가지부(210B, 220B)를 포함할 수 있다.
제1 전극(210)은 제1 방향(DR1)으로 연장되어 배치되는 제1 전극 줄기부(210S)와 제1 전극 줄기부(210S)에서 분지되어 제2 방향(DR2)으로 연장된 적어도 하나의 제1 전극 가지부(210B)를 포함할 수 있다.
임의의 일 화소의 제1 전극 줄기부(210S)는 양 단이 각 서브 화소(PXn) 사이에서 이격되어 종지하되, 동일 행(예컨대, 제1 방향(DR1)으로 인접한)에서 이웃하는 서브 화소의 제1 전극 줄기부(210S)와 실질적으로 동일 직선 상에 놓일 수 있다. 각 서브 화소(PXn)에 배치되는 제1 전극 줄기부(210S)들은 양 단이 상호 이격됨으로써 각 제1 전극 가지부(210B)에 서로 다른 전기 신호를 인가할 수 있다.
제1 전극 가지부(210B)는 제1 전극 줄기부(210S)의 적어도 일부에서 분지되고 제2 방향(DR2)으로 연장되어 배치되되, 제1 전극 줄기부(210S)와 대향하여 배치된 제2 전극 줄기부(220S)와 이격된 상태에서 종지할 수 있다.
제2 전극(220)은 제1 방향(DR1)으로 연장되어 제1 전극 줄기부(210S)와 제2 방향(DR2)으로 이격되어 대향하는 제2 전극 줄기부(220S)와 제2 전극 줄기부(220S)에서 분지되고 제2 방향(DR2)으로 연장된 제2 전극 가지부(220B)를 포함할 수 있다. 제2 전극 줄기부(220S)는 타 단부가 제1 방향(DR1)으로 인접한 다른 서브 화소(PXn)의 제2 전극 줄기부(220S)와 연결될 수 있다. 즉, 제2 전극 줄기부(220S)는 제1 전극 줄기부(210S)와 달리 제1 방향(DR1)으로 연장되어 각 서브 화소(PXn)들을 가로지르도록 배치될 수 있다. 각 서브 화소(PXn)를 가로지르는 제2 전극 줄기부(220S)는 각 화소(PX) 또는 서브 화소(PXn)들이 배치된 표시 영역(DA)의 외곽부, 또는 비표시 영역(NDA)에서 일 방향으로 연장된 부분과 연결될 수 있다.
제2 전극 가지부(220B)는 제1 전극 가지부(210B)와 이격되어 대향하고, 제1 전극 줄기부(210S)와 이격된 상태에서 종지될 수 있다. 제2 전극 가지부(220B)는 제2 전극 줄기부(220S)와 연결되고, 연장된 방향의 단부는 제1 전극 줄기부(210S)와 이격된 상태로 서브 화소(PXn) 내에 배치될 수 있다.
제1 전극(210)과 제2 전극(220)은 각각 컨택홀, 예컨대 제1 전극 컨택홀(CNTD) 및 제2 전극 컨택홀(CNTS)을 통해 표시 장치(10)의 회로소자층(도 4의 'PAL')의 도전층과 전기적으로 연결될 수 있다. 도면에는 제1 전극 컨택홀(CNTD)은 각 서브 화소(PXn)의 제1 전극 줄기부(210S)마다 형성되고, 제2 전극 컨택홀(CNTS)은 각 서브 화소(PXn)들을 가로지르는 하나의 제2 전극 줄기부(220S)에 하나만이 형성된 것을 도시하고 있다. 다만, 이에 제한되지 않으며, 경우에 따라서는 제2 전극 컨택홀(CNTS)의 경우에도 각 서브 화소(PXn) 마다 형성될 수 있다.
복수의 전극(210, 220)은 발광 소자(300)들과 전기적으로 연결되고, 발광 소자(300)가 특정 파장대의 광을 방출하도록 소정의 전압을 인가 받을 수 있다. 또한, 각 전극(210, 220)의 적어도 일부는 발광 소자(300)를 정렬하기 위해 서브 화소(PXn) 내에 전기장을 형성하는 데에 활용될 수 있다.
예시적인 실시예에서, 제1 전극(210)은 각 서브 화소(PXn) 마다 분리된 화소 전극이고, 제2 전극(220)은 각 서브 화소(PXn)를 따라 공통으로 연결된 공통 전극일 수 있다. 제1 전극(210)과 제2 전극(220) 중 어느 하나는 발광 소자(300)의 애노드(Anode) 전극이고, 다른 하나는 발광 소자(300)의 캐소드(Cathode) 전극일 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않으며 그 반대의 경우일 수도 있다.
도면에서는 각 서브 화소(PXn)에 두 개의 제1 전극 가지부(210B)가 배치되고, 그 사이에 하나의 제2 전극 가지부(220B)가 배치된 것을 도시하고 있으나, 이에 제한되지 않는다. 제1 전극(210)과 제2 전극(220)은 경우에 따라서 전극 줄기부(210S, 220S)가 생략되고 제2 방향(DR2)으로 연장된 형상을 가질 수도 있다. 또한, 제1 전극(210)과 제2 전극(220)은 반드시 일 방향으로 연장된 형상만을 갖지 않고, 다양한 구조로 배치될 수 있다. 예를 들어, 제1 전극(210)과 제2 전극(220)은 부분적으로 곡률지거나, 절곡된 형상을 가질 수 있고, 어느 한 전극이 다른 전극을 둘러싸도록 배치될 수도 있다. 제1 전극(210)과 제2 전극(220)은 적어도 일부 영역이 서로 이격되어 대향함으로써, 그 사이에 발광 소자(300)가 배치될 공간이 형성된다면 이들이 배치되는 구조나 형상은 특별히 제한되지 않을 수 있다.
외부 뱅크(430)는 각 서브 화소(PXn)간의 경계에 배치될 수 있다. 외부 뱅크(430)는 제2 방향(DR2)으로 연장되어 제1 방향(DR1)으로 배열된 서브 화소(PXn)들의 경계에 배치될 수 있다. 복수의 제1 전극 줄기부(210S)는 각 단부가 외부 뱅크(430)를 기준으로 서로 이격되어 종지할 수 있다. 다만 이에 제한되지 않으며, 외부 뱅크(430)는 제1 방향(DR1)으로 연장되어 제2 방향(DR2)으로 배열된 서브 화소(PXn)들의 경계에도 배치될 수 있다. 외부 뱅크(430)는 후술할 내부 뱅크(410, 420)들과 동일한 재료를 포함하여 하나의 공정에서 동시에 형성될 수 있다.
발광 소자(300)는 제1 전극(210)과 제2 전극(220) 사이에 배치될 수 있다. 발광 소자(300)는 일 단부가 제1 전극(210)과 전기적으로 연결되고, 타 단부가 제2 전극(220)과 전기적으로 연결될 수 있다. 발광 소자(300)는 접촉 전극(260)을 통해 각각 제1 전극(210)과 제2 전극(220)에 전기적으로 연결될 수 있다.
복수의 발광 소자(300)들은 서로 이격되어 배치되며 실질적으로 상호 평행하게 정렬될 수 있다. 발광 소자(300)들이 이격되는 간격은 특별히 제한되지 않는다. 경우에 따라서 복수의 발광 소자(300)들이 인접하게 배치되어 무리를 이루고, 다른 복수의 발광 소자(300)들은 일정 간격 이격된 상태로 무리를 이룰 수도 있으며, 불균일한 밀집도를 가지되 일 방향으로 배향되어 정렬될 수도 있다. 또한, 예시적인 실시예에서 발광 소자(300)는 일 방향으로 연장된 형상을 가지며, 각 전극, 예컨대 제1 전극 가지부(210B)와 제2 전극 가지부(220B)가 연장된 방향과 발광 소자(300)가 연장된 방향은 실질적으로 수직을 이룰 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않으며, 발광 소자(300)는 제1 전극 가지부(210B)와 제2 전극 가지부(220B)가 연장된 방향에 수직하지 않고 비스듬히 배치될 수도 있다.
일 실시예에 따른 발광 소자(300)는 서로 다른 물질을 포함하는 활성층(330)을 포함하여 서로 다른 파장대의 광을 외부로 방출할 수 있다. 일 실시예에 따른 표시 장치(10)는 서로 다른 파장대의 광을 방출하는 발광 소자(300)들을 포함할 수 있다.. 제1 서브 화소(PX1)의 발광 소자(300)는 중심 파장대역이 제1 파장인 제1 광(L1)을 방출하는 활성층(330)을 포함하고, 제2 서브 화소(PX2)의 발광 소자(300)는 중심 파장대역이 제2 파장인 제2 광(L2)을 방출하는 활성층(330)을 포함하고, 제3 서브 화소(PX3)의 발광 소자(300)는 는 중심 파장대역이 제3 파장인 제3 광(L3)을 방출하는 활성층(330)을 포함할 수 있다.
이에 따라 제1 서브 화소(PX1)에서는 제1 광(L1)이 출사되고, 제2 서브 화소(PX2)에서는 제2 광(L2)이 출사되고, 제3 서브 화소(PX3)에서는 제3 광(L3)이 출사될 수 있다. 몇몇 실시예에서, 제1 광(L1)은 중심 파장대역이 450nm 내지 495nm의 범위를 갖는 청색광이고, 제2 광(L2)은 중심 파장대역이 495nm 내지 570nm의 범위를 갖는 녹색광이고, 제3 광(L3)은 중심 파장대역이 620nm 내지 752nm의 범위를 갖는 적색광 일 수 있다.
다만, 이에 제한되지 않는다. 경우에 따라서는 제1 서브 화소(PX1), 제2 서브 화소(PX2) 및 제3 서브 화소(PX3) 각각은 동일한 종류의 발광 소자(300)를 포함하여 실질적으로 동일한 색의 광을 방출할 수도 있다.
한편, 일 실시예에 따른 발광 소자(300)는 반도체 코어와, 이를 둘러싸는 절연막(도 5의 '380')을 포함할 수 있다. 반도체 코어는 복수의 반도체층(도 5의 '310', '320')과 이들 사이에 배치된 활성층(도 5의 '330')을 포함할 수 있다. 발광 소자(300)는 일 단부는 제1 전극(210)과 전기적으로 연결되고, 타 단부는 제2 전극(220)과 전기적으로 연결되어 전기 신호를 전달 받을 수 있고, 상기 전기 신호를 전달 받은 발광 소자(300)는 활성층(330)에서 광이 생성되어 이를 외부로 방출시킬 수 있다.
여기서, 발광 소자(300)의 양 단부는 후술하는 접촉 전극(260)과 접촉함으로써 각 전극(210, 220)과 전기적으로 연결되는데, 발광 소자(300)의 발광 효율을 개선하기 위해 발광 소자(300)와 접촉 전극(260) 간의 접촉이 원활하게 이루어질 것이 요구될 수 있다. 이를 위해 발광 소자(300)는 반도체층(310, 320)의 적어도 일 면 상에 배치되는 전극층(도 5의 '370')을 더 포함할 수 있다. 다만, 발광 소자(300)의 제조 공정은 복수의 층들이 적층된 반도체 구조물을 일 방향으로 식각하는 공정이 수행되는데, 제조 공정 상 발광 소자(300)의 하면, 예를 들어 제1 반도체층(310)의 하면에는 전극층(370)을 형성하기 위해 별도의 공정이 더 요구될 수 있다.
한편, 발광 소자(300)는 접촉 전극(260)과의 접촉 면적을 증가시킴으로써 이들간 원활한 접촉이 이루어질 수 있다. 이를 위해, 일 실시예에 따른 발광 소자(300)는 일 단부의 직경이 타 단부의 직경보다 클 수 있다. 발광 소자(300)의 일 단부는 전극층(370)이 배치되지 않더라도 표시 장치(10)의 접촉 전극(260)과의 접촉 면적이 더 클 수 있고, 발광 소자(300)의 전기적 특성이 향상되어 발광 효율이 개선될 수 있다. 이에 대한 자세한 설명은 다른 도면을 참조하여 후술하기로 한다.
복수의 접촉 전극(260)들은 적어도 일부 영역이 일 방향으로 연장된 형상을 가질 수 있다. 복수의 접촉 전극(260)들은 각각 발광 소자(300) 및 전극(210, 220)들과 접촉할 수 있고, 발광 소자(300)들은 접촉 전극(260)을 통해 제1 전극(210)과 제2 전극(220)으로부터 전기 신호를 전달 받을 수 있다.
접촉 전극(260)은 제1 접촉 전극(261) 및 제2 접촉 전극(262)을 포함할 수 있다. 제1 접촉 전극(261)과 제2 접촉 전극(262)은 각각 제1 전극 가지부(210B)와 제2 전극 가지부(220B) 상에 배치될 수 있다.
제1 접촉 전극(261)은 제1 전극(210), 또는 제1 전극 가지부(210B) 상에 배치되어 제2 방향(DR2)으로 연장되고, 발광 소자(300)의 일 단부와 접촉할 수 있다. 제2 접촉 전극(262)은 제1 접촉 전극(261)과 제1 방향(DR1)으로 이격되고, 제2 전극(220), 또는 제2 전극 가지부(220B) 상에 배치되어 제2 방향(DR2)으로 연장되며, 발광 소자(300)의 타 단부와 접촉할 수 있다. 제1 접촉 전극(261)과 제2 접촉 전극(262)은 제2 절연층(520)의 개구부를 통해 노출된 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)과 접촉할 수 있다. 발광 소자(300)는 제1 접촉 전극(261) 및 제2 접촉 전극(262)을 통해 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)과 전기적으로 연결될 수 있다.
몇몇 실시예에서, 제1 접촉 전극(261)과 제2 접촉 전극(262)은 일 방향으로 측정된 폭이 각각 제1 전극(210)과 제2 전극(220), 또는 제1 전극 가지부(210B)와 제2 전극 가지부(220B)의 상기 일 방향으로 측정된 폭보다 클 수 있다. 제1 접촉 전극(261)과 제2 접촉 전극(262)은 제1 전극(210)과 제2 전극(220), 또는 제1 전극 가지부(210B)와 제2 전극 가지부(220B)의 측부들을 덮도록 배치될 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않고, 경우에 따라서 제1 접촉 전극(261) 및 제2 접촉 전극(262)은 제1 전극 가지부(210B)와 제2 전극 가지부(220B)의 일 측부만을 덮도록 배치될 수도 있다.
도면에서는 하나의 서브 화소(PXn)에 2개의 제1 접촉 전극(261)과 하나의 제2 접촉 전극(262)이 배치된 것이 도시되어 있으나, 이에 제한되지 않는다. 제1 접촉 전극(261)과 제2 접촉 전극(262)의 개수는 각 서브 화소(PXn)에 배치된 제1 전극(210)과 제2 전극(220), 또는 제1 전극 가지부(210B)와 제2 전극 가지부(220B)의 수에 따라 달라질 수 있다.
한편, 도 2 및 도 3에 도시되지 않았으나, 표시 장치(10)는 각 전극(210, 220)의 하부에 위치하는 회로소자층(PAL)과, 그 상부에 배치되는 복수의 절연층들을 더 포함할 수 있다. 이하에서는 도 4를 참조하여 표시 장치(10)의 적층 구조에 대하여 자세히 설명하도록 한다.
도 4는 도 3의 Xa-Xa'선, Xb-Xb'선 및 Xc-Xc'선을 따라 자른 단면도이다.
도 4는 제1 서브 화소(PX1)의 단면만을 도시하고 있으나, 다른 화소(PX) 또는 서브 화소(PXn)의 경우에도 동일하게 적용될 수 있다. 도 4는 제1 서브 화소(PX1)에 배치된 발광 소자(300)의 일 단부와 타 단부를 가로지르는 단면을 도시하고 있다.
도 2 및 도 3을 결부하여 도 4를 참조하면, 표시 장치(10)는 회로소자층(PAL)과 발광층(EML)을 포함할 수 있다. 회로소자층(PAL)은 기판(110), 버퍼층(115), 차광층(BML), 도전 배선(191, 192), 제1 및 제2 트랜지스터(120, 140) 등을 포함하고, 발광층(EML)은 상술한 복수의 전극(210, 220), 발광 소자(300), 복수의 접촉 전극(261, 262) 및 복수의 절연층(510, 520, 530, 550) 등을 포함할 수 있다.
구체적으로 설명하면, 기판(110)은 절연 기판일 수 있다. 기판(110)은 유리, 석영, 또는 고분자 수지 등의 절연 물질로 이루어질 수 있다. 또한, 기판(110)은 리지드 기판일 수 있지만, 벤딩(bending), 폴딩(folding), 롤링(rolling) 등이 가능한 플렉시블(flexible) 기판일 수도 있다.
차광층(BML)은 기판(110) 상에 배치될 수 있다. 차광층(BML)은 제1 차광층(BML1) 및 제2 차광층(BML2)을 포함할 수 있다. 제1 차광층(BML1)은 후술하는 제1 트랜지스터(120)의 제1 소스 전극(123)과 전기적으로 연결될 수 있다. 제2 차광층(BML2)은 제2 트랜지스터(140)의 제2 소스 전극(143)과 전기적으로 연결될 수 있다.
제1 차광층(BML1)과 제2 차광층(BML2)은 각각 제1 트랜지스터(120)의 제1 활성물질층(126) 및 제2 트랜지스터(140)의 제2 활성물질층(146)과 중첩하도록 배치된다. 제1 및 제2 차광층(BML1, BML2)은 광을 차단하는 재료를 포함하여, 제1 및 제2 활성물질층(126, 146)에 광이 입사되는 것을 방지할 수 있다. 일 예로, 제1 및 제2 차광층(BML1, BML2)은 광의 투과를 차단하는 불투명한 금속 물질로 형성될 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않으며 경우에 따라서 차광층(BML)은 생략될 수 있다.
버퍼층(115)은 차광층(BML)과 기판(110) 상에 배치된다. 버퍼층(115)은 차광층(BML)을 포함하여 기판(110)을 전면적으로 덮도록 배치될 수 있다. 버퍼층(115)은 불순물 이온이 확산되는 것을 방지하고 수분이나 외기의 침투를 방지하며, 표면 평탄화 기능을 수행할 수 있다. 또한, 버퍼층(115)은 차광층(BML)과 제1 및 제2 활성물질층(126, 146)을 상호 절연시킬 수 있다.
버퍼층(115) 상에는 반도체층이 배치된다. 반도체층은 제1 트랜지스터(120)의 제1 활성물질층(126), 제2 트랜지스터(140)의 제2 활성물질층(146) 및 보조층(163)을 포함할 수 있다. 반도체층은 다결정 실리콘, 단결정 실리콘, 산화물 반도체 등을 포함할 수 있다.
제1 활성물질층(126)은 제1 도핑 영역(126a), 제2 도핑 영역(126b) 및 제1 채널 영역(126c)을 포함할 수 있다. 제1 채널 영역(126c)은 제1 도핑 영역(126a)과 제2 도핑 영역(126b) 사이에 배치될 수 있다. 제2 활성물질층(146)은 제3 도핑 영역(146a), 제4 도핑 영역(146b) 및 제2 채널 영역(146c)을 포함할 수 있다. 제2 채널 영역(146c)은 제3 도핑 영역(146a)과 제4 도핑 영역(146b) 사이에 배치될 수 있다. 제1 활성물질층(126) 및 제2 활성물질층(146)은 다결정 실리콘을 포함할 수 있다. 다결정 실리콘은 비정질 실리콘을 결정화하여 형성될 수 있다. 상기 결정화 방법의 예로는 RTA(Rapid thermal annealing)법, SPC(Solid phase crystallization)법, ELA(Excimer laser annealing)법, MILC(Metal induced crystallization)법, SLS(Sequential lateral solidification)법 등을 들 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다. 다른 예로, 제1 활성물질층(126) 및 제2 활성물질층(146)은 단결정 실리콘, 저온 다결정 실리콘, 비정질 실리콘 등을 포함할 수도 있다. 제1 도핑 영역(126a), 제2 도핑 영역(126b), 제3 도핑 영역(146a) 및 제4 도핑 영역(146b)은 제1 활성물질층(126) 및 제2 활성물질층(146)의 일부 영역이 불순물로 도핑된 영역일 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않는다.
다만, 제1 활성물질층(126) 및 제2 활성물질층(146)이 반드시 상술한 바에 제한되는 것은 아니다. 예시적인 실시예에서, 제1 활성물질층(126) 및 제2 활성물질층(146)은 산화물 반도체를 포함할 수도 있다. 이 경우, 제1 도핑 영역(126a)과 제3 도핑 영역(146a)은 제1 도체화 영역일 수 있고, 제2 도핑 영역(126b)과 제4 도핑 영역(146b)은 제2 도체화 영역일 수 있다. 제1 활성물질층(126) 및 제2 활성물질층(146)이 산화물 반도체를 포함하는 경우, 상기 산화물 반도체는 인듐(In)을 함유하는 산화물 반도체일 수 있다. 몇몇 실시예에서, 상기 산화물 반도체는 인듐-주석 산화물(Indium-Tin Oxide, ITO), 인듐-아연 산화물(Indium-Zinc Oxide, IZO), 인듐-갈륨 산화물(Indium-Gallium Oxide, IGO), 인듐-아연-주석 산화물(Indium-Zinc-Tin Oxide, IZTO), 인듐-갈륨-주석 산화물(Indium-Gallium-Tin Oxide, IGTO), 인듐-갈륨-아연-주석 산화물(Indium-Gallium-Zinc-Tin Oxide, IGZTO) 등일 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않는다.
반도체층 상에는 제1 게이트 절연막(150)이 배치된다. 제1 게이트 절연막(150)은 반도체층을 포함하여 버퍼층(115)을 전면적으로 덮도록 배치될 수 있다. 제1 게이트 절연막(150)은 제1 및 제2 트랜지스터(120, 140)의 게이트 절연막으로 기능할 수 있다.
제1 게이트 절연막(150) 상에는 제1 도전층이 배치된다. 제1 도전층은 제1 게이트 절연막(150) 상에서 제1 트랜지스터(120)의 제1 활성물질층(126) 상에 배치된 제1 게이트 전극(121), 제2 트랜지스터(140)의 제2 활성물질층(146) 상에 배치된 제2 게이트 전극(141) 및 보조층(163) 상에 배치된 배선 패턴(161)을 포함할 수 있다. 제1 게이트 전극(121)은 제1 활성물질층(126)의 제1 채널 영역(126c)과 중첩하고, 제2 게이트 전극(141)은 제2 활성물질층(146)의 제2 채널 영역(146c)과 중첩할 수 있다.
제1 도전층 상에는 층간절연막(170)이 배치된다. 층간절연막(170)은 제1 도전층과 그 위에 배치되는 다른 층들 사이에서 절연막의 기능을 수행할 수 있다. 또한, 층간절연막(170)은 유기 절연 물질을 포함하고 표면 평탄화 기능을 수행할 수도 있다.
층간절연막(170) 상에는 제2 도전층이 배치된다. 제2 도전층은 제1 트랜지스터(120)의 제1 소스 전극(123)과 제1 드레인 전극(124), 제2 트랜지스터(140)의 제2 소스 전극(143)과 제2 드레인 전극(144), 및 배선 패턴(161) 상부에 배치된 전원 전극(162)을 포함한다.
제1 소스 전극(123)과 제1 드레인 전극(124)은 층간절연막(170)과 제1 게이트 절연막(150)을 관통하는 컨택홀을 통해 제1 활성물질층(126)의 제1 도핑 영역(126a) 및 제2 도핑 영역(126b)과 각각 접촉될 수 있다. 제2 소스 전극(143)과 제2 드레인 전극(144)은 층간절연막(170)과 제1 게이트 절연막(150)을 관통하는 컨택홀을 통해 제2 활성물질층(146)의 제3 도핑 영역(146a) 및 제4 도핑 영역(146b)과 각각 접촉될 수 있다. 또한, 제1 소스 전극(123)과 제2 소스 전극(143)은 또 다른 컨택홀을 통해 각각 제1 차광층(BML1) 및 제2 차광층(BML2)과 전기적으로 연결될 수 있다.
제2 도전층 상에는 보호막(180)이 배치될 수 있다. 보호막(180)은 제2 도전층을 덮도록 배치되어 층간절연막(170) 상에 전면적으로 배치될 수 있다. 즉, 보호막(180)은 제1 소스 전극(123), 제1 드레인 전극(124), 제2 소스 전극(143) 및 제2 드레인 전극(144)을 덮도록 배치될 수 있다.
보호막(180) 상에는 도전 배선층이 배치될 수 있다. 도전 배선층은 제1 도전 배선(191) 및 제2 도전 배선(192)을 포함하고, 이들은 각각 제1 트랜지스터(120)의 제1 소스 전극(123) 및 전원 전극(162)과 전기적으로 연결될 수 있다. 도전 배선층은 발광층(EML)의 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)과도 전기적으로 연결되고, 제1 트랜지스터(120) 및 전원 전극(162)으로부터 인가되는 전기 신호를 각 전극(210, 220)에 전달할 수 있다.
도전 배선층 상에는 제1 절연층(510)이 배치된다. 제1 절연층(510)은 유기 절연 물질을 포함하여, 표면 평탄화 기능을 수행할 수 있다.
제1 절연층(510) 상에는 복수의 내부 뱅크(410, 420) 및 외부 뱅크(도 4의 '430'), 복수의 전극(210, 220) 및 발광 소자(300)가 배치될 수 있다.
상술한 바와 같이, 외부 뱅크(430)는 제1 방향(DR1) 또는 제2 방향(DR2)으로 연장되어 서브 화소(PXn)들의 경계에 배치될 수 있다. 즉, 외부 뱅크(430)는 각 서브 화소(PXn)의 경계를 구분할 수 있다.
도면에 도시되지 않았으나, 외부 뱅크(430)는 표시 장치(10)의 제조 시, 잉크젯 프린팅 장치를 이용하여 발광 소자(300)가 분산된 잉크를 분사할 때 잉크가 서브 화소(PXn)의 경계를 넘는 것을 방지하는 기능을 수행할 수 있다. 외부 뱅크(430)는 서로 다른 서브 화소(PXn)마다 다른 발광 소자(300)들이 분산된 잉크가 서로 혼합되지 않도록 이들을 분리시킬 수 있다. 다만, 이에 제한되는 것은 아니다.
복수의 내부 뱅크(410, 420)는 각 서브 화소(PXn) 내에서 서로 이격되어 배치될 수 있다. 복수의 내부 뱅크(410, 420)는 각 서브 화소(PXn)의 중심부에 인접하여 배치된 제1 내부 뱅크(410) 및 제2 내부 뱅크(420)를 포함할 수 있다.
제1 내부 뱅크(410) 및 제2 내부 뱅크(420)는 서로 대향하도록 배치된다. 제1 내부 뱅크(410) 상에는 제1 전극(210)이, 제2 내부 뱅크(420) 상에는 제2 전극(220)이 배치될 수 있다. 도 3 및 도 4를 결부하여 참조하면 제1 내부 뱅크(410) 상에는 제1 전극 가지부(210B)가, 제2 내부 뱅크(420) 상에는 제2 전극 가지부(220B)가 배치된 것으로 이해될 수 있다.
제1 내부 뱅크(410)와 제2 내부 뱅크(420)는 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)과 같이 각 서브 화소(PXn) 내에서 제2 방향(DR2)으로 연장되어 배치될 수 있다. 도면으로 도시하지 않았으나, 제1 내부 뱅크(410) 및 제2 내부 뱅크(420)는 제2 방향(DR2)으로 연장되어 제2 방향(DR2)으로 이웃하는 서브 화소(PXn)를 향해 연장될 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않으며, 제1 내부 뱅크(410)와 제2 내부 뱅크(420)는 각 서브 화소(PXn) 마다 배치되어 표시 장치(10) 전면에 있어서 패턴을 이룰 수 있다.
제1 내부 뱅크(410) 및 제2 내부 뱅크(420)는 제1 절연층(510)을 기준으로 적어도 일부가 돌출된 구조를 가질 수 있다. 제1 내부 뱅크(410) 및 제2 내부 뱅크(420)는 발광 소자(300)가 배치된 평면을 기준으로 상부로 돌출될 수 있고, 상기 돌출된 부분은 적어도 일부가 경사를 가질 수 있다. 제1 내부 뱅크(410) 및 제2 내부 뱅크(420)의 돌출된 형상은 특별히 제한되지 않는다. 내부 뱅크(410, 420)는 제1 절연층(510)을 기준으로 돌출되어 경사진 측면을 갖기 때문에, 발광 소자(300)에서 방출된 광이 내부 뱅크(410, 420)의 경사진 측면에서 반사될 수 있다. 후술할 바와 같이, 내부 뱅크(410, 420) 상에 배치되는 전극(210, 220)들이 반사율이 높은 재료를 포함하는 경우, 발광 소자(300)에서 방출된 광은 내부 뱅크(410, 420)의 경사진 측면 상에 위치하는 전극(210, 220)에서 반사되어 제1 절연층(510)의 상부 방향으로 진행할 수 있다.
다시 말해, 외부 뱅크(430)는 이웃하는 서브 화소(PXn)들을 구분함과 동시에 잉크젯 공정에서 잉크가 인접한 서브 화소(PXn)로 넘치는 것을 방지하는 기능을 수행하는 반면, 내부 뱅크(410, 420)들은 각 서브 화소(PXn) 내에서 돌출된 구조를 가짐으로써 발광 소자(300)에서 방출된 광을 제1 절연층(510)의 상부 방향으로 반사시키는 반사격벽의 기능을 수행할 수 있다. 다만, 이에 제한되는 것은 아니다. 한편, 복수의 내부 뱅크(410, 420) 및 외부 뱅크(430)들은 폴리이미드(Polyimide, PI)를 포함할 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.
복수의 전극(210, 220)은 제1 절연층(510) 및 내부 뱅크(410, 420) 상에 배치될 수 있다. 상술한 바와 같이, 각 전극(210, 220)은 전극 줄기부(210S, 220S)와 전극 가지부(210B, 220B)를 포함한다. 도 3의 Xa-Xa'선은 제1 전극 줄기부(210S)를, 도 3의 Xb-Xb'선은 제1 전극 가지부(210B)와 제2 전극 가지부(220B)를, 도 3의 Xc-Xc'선은 제2 전극 줄기부(220S)를 가로지르는 선이다. 즉, 도 4의 Xa-Xa' 영역에 배치된 제1 전극(210)은 제1 전극 줄기부(210S)이고, 도 4의 Xb-Xb' 영역에 배치된 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)은 각각 제1 전극 가지부(210B) 및 제2 전극 가지부(220B)이고, 도 4의 Xc-Xc' 영역에 배치된 제2 전극(220)은 제2 전극 줄기부(220S)인 것으로 이해될 수 있다. 각 전극 줄기부(210S, 220S)와 각 전극 가지부(210B, 220B)는 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)을 이룰 수 있다.
제1 전극(210)과 제2 전극(220)은 일부 영역은 제1 절연층(510) 상에 배치되고, 일부 영역은 제1 내부 뱅크(410) 및 제2 내부 뱅크(420) 상에 배치될 수 있다. 즉, 제1 전극(210)과 제2 전극(220)의 폭은 내부 뱅크(410, 420)의 폭보다 클 수 있다. 제1 전극(210)과 제2 전극(220)의 하면의 일부는 제1 절연층(510)과 접촉하고, 다른 일부는 내부 뱅크(410, 420)와 접촉할 수 있다.
도면으로 도시하지 않았으나, 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)의 제1 방향(DR1)으로 연장된 제1 전극 줄기부(210S)와 제2 전극 줄기부(220S)는 제1 내부 뱅크(410) 및 제2 내부 뱅크(420)와 부분적으로 중첩할 수 있다. 다만, 이에 제한되는 것은 아니며, 제1 전극 줄기부(210S)와 제2 전극 줄기부(220S)는 제1 내부 뱅크(410) 및 제2 내부 뱅크(420)와 중첩하지 않을 수도 있다.
제1 전극(210)의 제1 전극 줄기부(210S)에는 제1 절연층(510)을 관통하여 제1 도전 배선(191) 일부를 노출하는 제1 전극 컨택홀(CNDT)이 형성될 수 있다. 제1 전극(210)은 제1 전극 컨택홀(CNTD)을 통해 제1 도전 배선(191)과 접촉할 수 있고, 제1 전극(210)은 제1 트랜지스터(120)의 제1 소스 전극(123)과 전기적으로 연결되어 전기 신호를 전달 받을 수 있다.
제2 전극(220)의 제2 전극 줄기부(220S)에는 제1 절연층(510)을 관통하여 제2 도전 배선(192) 일부를 노출하는 제2 전극 컨택홀(CNTS)이 형성될 수 있다. 제2 전극(220)은 제2 전극 컨택홀(CNTS)을 통해 제2 도전 배선(192)과 접촉할 수 있고, 제2 전극(220)은 전원 전극(162)과 전기적으로 연결되어 전기 신호를 전달 받을 수 있다.
제1 전극(210)과 제2 전극(220)의 일부 영역, 예를 들어 제1 전극 가지부(210B)와 제2 전극 가지부(220B)는 각각 제1 내부 뱅크(410) 및 제2 내부 뱅크(420)를 덮도록 배치될 수 있다. 제1 전극(210)과 제2 전극(220)은 서로 이격되어 대향하도록 배치되고, 이들 사이에는 복수의 발광 소자(300)들이 배치될 수 있다.
각 전극(210, 220)은 투명성 전도성 물질을 포함할 수 있다. 일 예로, 각 전극(210, 220)은 ITO(Indium Tin Oxide), IZO(Indium Zinc Oxide), ITZO(Indium Tin-Zinc Oxide) 등과 같은 물질을 포함할 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다. 몇몇 실시예에서, 각 전극(210, 220)은 반사율이 높은 전도성 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 각 전극(210, 220)은 반사율이 높은 물질로 은(Ag), 구리(Cu), 알루미늄(Al) 등과 같은 금속을 포함할 수 있다. 이 경우, 각 전극(210, 220)으로 입사되는 광을 반사시켜 각 서브 화소(PXn)의 상부 방향으로 출사시킬 수도 있다.
또한, 전극(210, 220)은 투명성 전도성 물질과 반사율이 높은 금속층이 각각 한층 이상 적층된 구조를 이루거나, 이들을 포함하여 하나의 층으로 형성될 수도 있다. 예시적인 실시예에서, 각 전극(210, 220)은 ITO/은(Ag)/ITO/IZO의 적층구조를 갖거나, 알루미늄(Al), 니켈(Ni), 란타늄(La) 등을 포함하는 합금일 수 있다. 다만, 이에 제한되는 것은 아니다.
제2 절연층(520)은 제1 절연층(510), 제1 전극(210) 및 제2 전극(220) 상에 배치된다. 제2 절연층(520)은 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)을 부분적으로 덮도록 배치된다. 제2 절연층(520)은 제1 전극(210)과 제2 전극(220)의 상면을 대부분 덮도록 배치되되, 제1 전극(210)과 제2 전극(220)의 일부를 노출시키는 개구부(미도시)가 형성될 수 있다. 제2 절연층(520)의 개구부는 제1 전극(210)과 제2 전극(220)의 비교적 평탄한 상면이 노출되도록 위치할 수 있다.
예시적인 실시예에서, 제2 절연층(520)은 제1 전극(210)과 제2 전극(220) 사이에서 상면의 일부가 함몰되도록 단차가 형성될 수 있다. 몇몇 실시예에서, 제2 절연층(520)은 무기물 절연성 물질을 포함하고, 제1 전극(210)과 제2 전극(220)을 덮도록 배치된 제2 절연층(520)은 하부에 배치되는 전극(210, 220)이 형성하는 단차에 의해 상면의 일부가 함몰될 수 있다. 제1 전극(210)과 제2 전극(220) 사이에서 제2 절연층(520) 상에 배치되는 발광 소자(300)는 제2 절연층(520)의 함몰된 상면 사이에서 빈 공간을 형성할 수 있다. 발광 소자(300)는 제2 절연층(520)의 상면과 부분적으로 이격된 상태로 배치될 수 있고, 후술하는 제3 절연층(530)을 이루는 재료가 상기 공간에 채워질 수도 있다.
다만, 이에 제한되지 않는다. 제2 절연층(520)은 발광 소자(300)가 배치되도록 평탄한 상면을 포함할 수 있다. 상기 상면은 제1 전극(210)과 제2 전극(220)을 향해 일 방향으로 연장되어 제1 전극(210)과 제2 전극(220)의 경사진 측면 상에서 종지할 수 있다. 즉, 제2 절연층(520)은 각 전극(210, 220)이 제1 내부 뱅크(410)와 제2 내부 뱅크(420)의 경사진 측면과 중첩하는 영역에 배치될 수 있다. 후술하는 접촉 전극(260)은 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)의 노출된 영역과 접촉하고, 제2 절연층(520)의 평탄한 상면에서 발광 소자(300)의 단부와 원활하게 접촉할 수 있다.
제2 절연층(520)은 제1 전극(210)과 제2 전극(220)을 보호함과 동시에 이들을 상호 절연시킬 수 있다. 또한, 제2 절연층(520) 상에 배치되는 발광 소자(300)가 다른 부재들과 직접 접촉하여 손상되는 것을 방지할 수도 있다. 다만, 제2 절연층(520)의 형상 및 구조는 이에 제한되지 않는다.
발광 소자(300)는 각 전극(210, 220) 사이에서 제2 절연층(520) 상에 배치될 수 있다. 예시적으로, 발광 소자(300)는 각 전극 가지부(210B, 220B) 사이에 배치된 제2 절연층(520) 상에 적어도 하나 배치될 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않으며, 도면에 도시되지 않았으나 각 서브 화소(PXn) 내에 배치된 발광 소자(300)들 중 적어도 일부는 각 전극 가지부(210B, 220B) 사이 이외의 영역에 배치될 수도 있다. 또한 발광 소자(300)는 일부 영역이 전극(210, 220)과 중첩하도록 배치될 수 있다. 발광 소자(300)는 제1 전극 가지부(210B)와 제2 전극 가지부(220B)가 서로 대향하는 각 단부 상에 배치될 수 있다.
발광 소자(300)는 제1 절연층(510)에 수평한 방향으로 복수의 층들이 배치될 수 있다. 일 실시예에 따른 표시 장치(10)의 발광 소자(300)는 일 방향으로 연장된 형상을 갖고, 복수의 반도체층들이 일 방향으로 순차적으로 배치된 구조를 가질 수 있다. 발광 소자(300)는 제1 반도체층(310), 활성층(330), 제2 반도체층(320) 및 전극층(370)이 일 방향을 따라 순차적으로 배치되고, 이들의 외면을 절연막(380)이 둘러쌀 수 있다. 표시 장치(10)에 배치된 발광 소자(300)는 연장된 일 방향이 제1 절연층(510)과 평행하도록 배치되고, 발광 소자(300)에 포함된 복수의 반도체층들은 제1 절연층(510)의 상면과 평행한 방향을 따라 순차적으로 배치될 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않는다. 경우에 따라서는 발광 소자(300)가 다른 구조를 갖는 경우, 복수의 층들은 제1 절연층(510)에 수직한 방향으로 배치될 수도 있다.
또한, 발광 소자(300)의 일 단부는 제1 접촉 전극(261)과 접촉하고, 타 단부는 제2 접촉 전극(262)과 접촉할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 발광 소자(300)는 연장된 일 방향측 단부면에는 절연막(380)이 형성되지 않고 노출되기 때문에, 상기 노출된 영역에서 후술하는 제1 접촉 전극(261) 및 제2 접촉 전극(262)과 접촉할 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않는다. 경우에 따라서 발광 소자(300)는 절연막(380) 중 적어도 일부 영역이 제거되고, 절연막(380)이 제거되어 발광 소자(300)의 양 단부 측면이 부분적으로 노출될 수 있다. 표시 장치(10)의 제조 공정 중, 발광 소자(300)의 외면을 덮는 제3 절연층(530)을 형성하는 단계에서 절연막(380)은 부분적으로 제거될 수 있다. 발광 소자(300)의 노출된 측면은 제1 접촉 전극(261) 및 제2 접촉 전극(262)과 접촉할 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않는다.
제3 절연층(530)은 제1 전극(210)과 제2 전극(220) 사이에 배치된 발광 소자(300) 상에 부분적으로 배치될 수 있다. 제3 절연층(530)은 발광 소자(300)의 외면을 부분적으로 감싸도록 배치되어 발광 소자(300)를 보호함과 동시에 표시 장치(10)의 제조 공정 중 발광 소자(300)를 고정시키는 기능을 수행할 수도 있다. 일 실시예에 따르면, 제3 절연층(530)은 발광 소자(300) 상에 배치되되, 발광 소자(300)의 일 단부 및 타 단부를 노출할 수 있다. 발광 소자(300)는 노출된 일 단부 및 타 단부가 접촉 전극(260)과 접촉하며, 각 전극(210, 220)으로부터 전기 신호를 전달 받을 수 있다. 이러한 제3 절연층(530)의 형상은 통상적인 마스크 공정을 이용하여 제3 절연층(530)을 이루는 재료를 이용한 패터닝 공정으로 형성된 것일 수 있다. 제3 절연층(530)을 형성하기 위한 마스크는 발광 소자(300)의 길이보다 좁은 폭을 갖고, 제3 절연층(530)을 이루는 재료가 패터닝되어 발광 소자(300)의 양 단부가 노출될 수 있다. 다만, 이에 제한되는 것은 아니다.
또한, 예시적인 실시예에서, 제3 절연층(530)의 재료 중 일부는 발광 소자(300)의 하면과 제2 절연층(520) 사이에 배치될 수도 있다. 제3 절연층(530)은 표시 장치(10)의 제조 공정 중에 형성된 제2 절연층(520)과 발광 소자(300) 사이의 공간을 채우도록 형성될 수도 있다. 이에 따라 제3 절연층(530)은 발광 소자(300)의 외면을 감싸도록 형성될 수도 있다. 다만, 이에 제한되지 않는다.
제3 절연층(530)은 평면상 제1 전극 가지부(210B)와 제2 전극 가지부(220B) 사이에서 제2 방향(DR2)으로 연장되어 배치될 수 있다. 일 예로, 제3 절연층(530)은 제1 절연층(510) 상에서 평면상 섬형 또는 선형의 형상을 가질 수 있다.
제1 접촉 전극(261)과 제2 접촉 전극(262)은 각각 전극(210, 220) 및 제3 절연층(530) 상에 배치된다. 제1 접촉 전극(261)과 제2 접촉 전극(262) 사이에는 제3 절연층(530)이 배치되고, 제3 절연층(530)은 제1 접촉 전극(261)과 제2 접촉 전극(262)이 직접 접촉하지 않도록 상호 절연시킬 수 있다.
상술한 바와 같이, 제1 접촉 전극(261)과 제2 접촉 전극(262)은 발광 소자(300)의 적어도 일 단부와 접촉할 수 있으며, 제1 접촉 전극(261)과 제2 접촉 전극(262)은 제1 전극(210) 또는 제2 전극(220)과 전기적으로 연결되어 전기 신호를 인가 받을 수 있다.
제1 접촉 전극(261)은 제1 내부 뱅크(410) 상에서 제1 전극(210)의 노출된 영역과 접촉할 수 있고, 제2 접촉 전극(262)은 제2 내부 뱅크(420) 상에서 제2 전극(220)의 노출된 영역과 접촉할 수 있다. 제1 접촉 전극(261)과 제2 접촉 전극(262)은 각 전극(210, 220)으로부터 전달되는 전기 신호를 발광 소자(300)에 전달할 수 있다.
접촉 전극(260)은 전도성 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, ITO, IZO, ITZO, 알루미늄(Al) 등을 포함할 수 있다. 다만, 이에 제한되는 것은 아니다.
패시베이션층(550)은 접촉 전극(260) 및 제3 절연층(530) 상에 배치될 수 있다. 패시베이션층(550)은 제1 절연층(510) 상에 배치되는 부재들을 외부 환경에 대하여 보호하는 기능을 할 수 있다.
상술한 제1 절연층(510), 제2 절연층(520), 제3 절연층(530) 및 패시베이션층(550) 각각은 무기물 절연성 물질 또는 유기물 절연성 물질을 포함할 수 있다. 예시적인 실시예에서, 제1 절연층(510), 제2 절연층(520), 제3 절연층(530) 및 패시베이션층(550)은 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 질화물(SiNx), 실리콘 산질화물(SiOxNy), 산화 알루미늄(Al 2O 3), 질화 알루미늄(AlN)등과 같은 무기물 절연성 물질을 포함할 수 있다. 또한, 제1 절연층(510), 제2 절연층(520), 제3 절연층(530) 및 패시베이션층(550)은 유기물 절연성 물질로써, 아크릴 수지, 에폭시 수지, 페놀 수지, 폴리아마이드 수지, 폴리이미드 수지, 불포화 폴리에스테르 수지, 폴리페닐렌 수지, 폴리페닐렌설파이드 수지, 벤조사이클로부텐, 카도 수지, 실록산 수지, 실세스퀴옥산 수지, 폴리메틸메타크릴레이트, 폴리카보네이트, 폴리메틸메타크릴레이트-폴리카보네이트 합성수지 등을 포함할 수 있다. 다만, 이에 제한되는 것은 아니다.
한편, 일 실시예에 따른 표시 장치(10)는 일정 수준 이상의 두께를 갖는 전극층(370) 및 절연막(380)을 포함하는 발광 소자(300)를 포함할 수 있다. 일 실시예에 따른 발광 소자(300)는 발광 소자(300)의 제조 공정 및 표시 장치(10)의 제조 공정 중 활성층(330)이 손상되거나 전극층(370)이 제거되는 것을 방지할 수 있고, 발광 소자(300)의 발광 효율 및 발광 신뢰도를 향상시킬 수 있다. 이하에서는 다른 도면을 참조하여 일 실시예에 따른 발광 소자(300)에 대하여 구체적으로 설명하기로 한다.
도 5는 일 실시예에 따른 발광 소자의 개략도이다. 도 6은 일 실시예에 따른 발광 소자의 개략적인 단면도이다.
발광 소자(300)는 발광 다이오드(Light Emitting diode)일 수 있으며, 구체적으로 발광 소자(300)는 마이크로 미터(micro-meter) 또는 나노미터(nano-meter) 단위의 크기를 가지고, 무기물로 이루어진 무기 발광 다이오드일 수 있다. 무기 발광 다이오드는 서로 대향하는 두 전극들 사이에 특정 방향으로 전계를 형성하면 극성이 형성되는 상기 두 전극 사이에 정렬될 수 있다. 발광 소자(300)는 두 전극 상에 형성된 전계에 의해 전극 사이에 정렬될 수 있다.
일 실시예에 따른 발광 소자(300)는 일 방향으로 연장된 형상을 가질 수 있다. 발광 소자(300)는 로드, 와이어, 튜브 등의 형상을 가질 수 있다. 예시적인 실시예에서, 발광 소자(300)는 원통형 또는 로드형(rod)일 수 있다. 다만, 발광 소자(300)의 형태가 이에 제한되는 것은 아니며, 정육면체, 직육면체, 육각기둥형 등 다각기둥의 형상을 갖거나, 일 방향으로 연장되되 외면이 부분적으로 경사진 형상을 갖는 등 발광 소자(300)는 다양한 형태를 가질 수 있다. 후술하는 발광 소자(300)에 포함되는 복수의 반도체들은 상기 일 방향을 따라 순차적으로 배치되거나 적층된 구조를 가질 수 있다.
발광 소자(300)는 임의의 도전형(예컨대, p형 또는 n형) 불순물로 도핑된 반도체층을 포함할 수 있다. 반도체층은 외부의 전원으로부터 인가되는 전기 신호를 전달 받고, 이를 특정 파장대의 광으로 방출할 수 있다.
일 실시예에 따른 발광 소자(300)는 특정 파장대의 광을 방출할 수 있다. 예시적인 실시예에서, 활성층(330)은 중심 파장대역이 450nm 내지 495nm의 범위를 갖는 청색(Blue)광을 방출할 수 있다. 다만, 청색(Blue) 광의 중심 파장대역이 상술한 범위에 제한되는 것은 아니며, 본 기술분야에서 청색으로 인식될 수 있는 파장 범위를 모두 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 또한, 발광 소자(300)의 활성층(330)에서 방출되는 광은 이에 제한되지 않고, 중심 파장대역이 495nm 내지 570nm의 범위를 갖는 녹색(Green)광 또는 중심 파장대역이 620nm 내지 750nm의 범위를 갖는 적색(Red)광일 수도 있다. 이하에서는 청색(blue)광을 방출하는 발광 소자(300)를 예시하여 설명하기로 한다.
도 5 및 도 6을 참조하면 참조하면, 발광 소자(300)는 반도체 코어와 이를 둘러싸는 절연막(380)을 포함할 수 있고, 발광 소자(300)의 반도체 코어는 제1 반도체층(310), 제2 반도체층(320) 및 활성층(330)을 포함할 수 있다. 또한, 일 실시예에 따른 발광 소자(300)는 제1 반도체층(310) 또는 제2 반도체층(320)의 일 면 상에 배치되는 전극층(370)을 더 포함할 수 있다.
제1 반도체층(310)은 n형 반도체일 수 있다. 일 예로, 발광 소자(300)가 청색 파장대의 광을 방출하는 경우, 제1 반도체층(310)은 AlxGayIn1-x-yN(0≤x≤1,0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 화학식을 갖는 반도체 재료를 포함할 수 있다. 예를 들어, n형으로 도핑된 AlGaInN, GaN, AlGaN, InGaN, AlN 및 InN 중에서 어느 하나 이상일 수 있다. 제1 반도체층(310)은 n형 도펀트가 도핑될 수 있으며, 일 예로 n형 도펀트는 Si, Ge, Sn 등일 수 있다. 예시적인 실시예에서, 제1 반도체층(310)은 n형 Si로 도핑된 n-GaN일 수 있다. 제1 반도체층(310)의 길이는 1.5㎛ 내지 5㎛의 범위를 가질 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
한편, 일 실시예에 따른 제1 반도체층(310)은 제1 부분(311) 및 제2 부분(315)을 포함할 수 있다. 제1 반도체층(310)은 일 방향으로 연장된 형상을 갖는 제1 부분(311)과, 제1 부분(311)의 일 면에 형성되어 직경이 제1 부분(311)보다 큰 제2 부분(315)을 포함할 수 있다. 제1 부분(311)과 제2 부분(315)은 제1 반도체층(310)의 일 부분을 정의하기 위해 지칭된 것이며, 이들은 각각 분리되는 층이 아닌 일체로 형성되어 하나의 제1 반도체층(310)을 이룰 수 있다. 상술한 바와 같이, 발광 소자(300)는 양 단부가 서로 다른 직경을 갖고, 더 큰 직경을 갖는 단부에서 표시 장치(10)의 접촉 전극(261, 262)과 접촉하는 면적이 커질 수 있다. 발광 소자(300)는 제1 반도체층(310)의 일 면에 형성된 제2 부분(315)을 포함하고, 제2 부분(315)은 제1 부분(311) 및 다른 반도체층이나 활성층(330)보다 큰 직경을 가질 수 있다. 이에 대한 보다 자세한 설명은 다른 도면을 참조하여 후술하기로 한다.
제2 반도체층(320)은 후술하는 활성층(330) 상에 배치된다. 제2 반도체층(320)은 p형 반도체일 수 있으며 일 예로, 발광 소자(300)가 청색 또는 녹색 파장대의 광을 방출하는 경우, 제2 반도체층(320)은 AlxGayIn1-x-yN(0≤x≤1,0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 화학식을 갖는 반도체 재료를 포함할 수 있다. 예를 들어, p형으로 도핑된 AlGaInN, GaN, AlGaN, InGaN, AlN 및 InN 중에서 어느 하나 이상일 수 있다. 제2 반도체층(320)은 p형 도펀트가 도핑될 수 있으며, 일 예로 p형 도펀트는 Mg, Zn, Ca, Se, Ba 등일 수 있다. 예시적인 실시예에서, 제2 반도체층(320)은 p형 Mg로 도핑된 p-GaN일 수 있다. 제2 반도체층(320)의 길이는 0.05㎛ 내지 0.10㎛의 범위를 가질 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
한편, 도면에서는 제1 반도체층(310)과 제2 반도체층(320)이 하나의 층으로 구성된 것을 도시하고 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다. 몇몇 실시예에 따르면 활성층(330)의 물질에 따라 제1 반도체층(310)과 제2 반도체층(320)은 더 많은 수의 층, 예컨대 클래드층(clad layer) 또는 TSBR(Tensile strain barrier reducing)층을 더 포함할 수도 있다. 이에 대한 설명은 다른 도면을 참조하여 후술하기로 한다.
활성층(330)은 제1 반도체층(310)과 제2 반도체층(320) 사이에 배치된다. 활성층(330)은 단일 또는 다중 양자 우물 구조의 물질을 포함할 수 있다. 활성층(330)이 다중 양자 우물 구조의 물질을 포함하는 경우, 양자층(Quantum layer)과 우물층(Well layer)이 서로 교번적으로 복수개 적층된 구조일 수도 있다. 활성층(330)은 제1 반도체층(310) 및 제2 반도체층(320)을 통해 인가되는 전기 신호에 따라 전자-정공 쌍의 결합에 의해 광을 발광할 수 있다. 일 예로, 활성층(330)이 청색 파장대의 광을 방출하는 경우, AlGaN, AlGaInN 등의 물질을 포함할 수 있다. 특히, 활성층(330)이 다중 양자 우물 구조로 양자층과 우물층이 교번적으로 적층된 구조인 경우, 양자층은 AlGaN 또는 AlGaInN, 우물층은 GaN 또는 AlInN 등과 같은 물질을 포함할 수 있다. 예시적인 실시예에서, 활성층(330)은 양자층으로 AlGaInN를, 우물층으로 AlInN를 포함하여 상술한 바와 같이, 활성층(330)은 중심 파장대역이 450nm 내지 495nm의 범위를 갖는 청색(Blue)광을 방출할 수 있다.
다만, 이에 제한되는 것은 아니며, 활성층(330)은 밴드갭(Band gap) 에너지가 큰 종류의 반도체 물질과 밴드갭 에너지가 작은 반도체 물질들이 서로 교번적으로 적층된 구조일 수도 있고, 발광하는 광의 파장대에 따라 다른 3족 내지 5족 반도체 물질들을 포함할 수도 있다. 활성층(330)이 방출하는 광은 청색 파장대의 광으로 제한되지 않고, 경우에 따라 적색, 녹색 파장대의 광을 방출할 수도 있다. 활성층(330)의 길이는 0.05㎛ 내지 0.10㎛의 범위를 가질 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
한편, 활성층(330)에서 방출되는 광은 발광 소자(300)의 길이방향 외부면뿐만 아니라, 양 측면으로 방출될 수 있다. 활성층(330)에서 방출되는 광은 하나의 방향으로 방향성이 제한되지 않는다.
전극층(370)은 오믹(Ohmic) 접촉 전극일 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않고, 쇼트키(Schottky) 접촉 전극일 수도 있다. 발광 소자(300)는 적어도 하나의 전극층(370)을 포함할 수 있다. 도 6에서는 발광 소자(300)가 하나의 전극층(370)을 포함하는 것을 도시하고 있으나, 이에 제한되지 않는다. 경우에 따라서 발광 소자(300)는 더 많은 수의 전극층(370)을 포함하거나, 생략될 수도 있다. 후술하는 발광 소자(300)에 대한 설명은 전극층(370)의 수가 달라지거나 다른 구조를 더 포함하더라도 동일하게 적용될 수 있다.
전극층(370)은 일 실시예에 따른 표시 장치(10)에서 발광 소자(300)가 전극 또는 접촉 전극과 전기적으로 연결될 때, 발광 소자(300)와 전극 또는 접촉 전극 사이의 저항을 감소시킬 수 있다. 전극층(370)은 전도성이 있는 금속을 포함할 수 있다. 예를 들어, 전극층(370)은 알루미늄(Al), 티타늄(Ti), 인듐(In), 금(Au), 은(Ag), ITO(Indium Tin Oxide), IZO(Indium Zinc Oxide) 및 ITZO(Indium Tin-Zinc Oxide) 중에서 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. 또한 전극층(370)은 n형 또는 p형으로 도핑된 반도체 물질을 포함할 수도 있다. 전극층(370)은 동일한 물질을 포함할 수 있고, 서로 다른 물질을 포함할 수도 있다. 전극층(370)의 길이는 0.02㎛ 내지 0.01㎛의 범위를 가질 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
절연막(380)은 상술한 반도체 코어 및 전극층(370)의 외면 일부를 둘러싸도록 배치된다. 예시적인 실시예에서, 절연막(380)은 적어도 활성층(330)의 외면을 둘러싸도록 배치되고, 발광 소자(300)가 연장된 일 방향으로 연장될 수 있다. 절연막(380)은 상기 부재들을 보호하는 기능을 수행할 수 있다. 일 예로, 절연막(380)은 상기 부재들의 측면부를 둘러싸도록 형성되되, 발광 소자(300)의 길이방향의 양 단부는 노출되도록 형성될 수 있다.
도면에서는 절연막(380)이 발광 소자(300)의 길이방향으로 연장되어 제1 반도체층(310)의 제1 부분(311)으로부터 전극층(370)의 측면까지 커버하도록 형성된 것을 도시하고 있으나, 이에 제한되지 않는다. 절연막(380)은 활성층(330)을 포함하여 일부의 반도체층의 외면만을 커버하거나, 전극층(370) 외면의 일부만 커버하여 각 전극층(370)의 외면이 부분적으로 노출될 수도 있다. 또한, 절연막(380)은 발광 소자(300)의 적어도 일 단부와 인접한 영역에서 단면상 상면이 라운드지게 형성될 수도 있다.
절연막(380)은 절연특성을 가진 물질들, 예를 들어, 실리콘 산화물(Silicon oxide, SiOx), 실리콘 질화물(Silicon nitride, SiNx), 산질화 실리콘(SiOxNy), 질화알루미늄(Aluminum nitride, AlN), 산화알루미늄(Aluminum oxide, Al 2O 3) 등을 포함할 수 있다. 이에 따라 활성층(330)이 발광 소자(300)에 전기 신호가 전달되는 전극과 직접 접촉하는 경우 발생할 수 있는 전기적 단락을 방지할 수 있다. 또한, 절연막(380)은 활성층(330)을 포함하여 발광 소자(300)의 외면을 보호하기 때문에, 발광 효율의 저하를 방지할 수 있다.
또한, 몇몇 실시예에서, 절연막(380)은 외면이 표면처리될 수 있다. 발광 소자(300)는 표시 장치(10)의 제조 시, 소정의 잉크 내에서 분산된 상태로 전극 상에 분사되어 정렬될 수 있다. 여기서, 발광 소자(300)가 잉크 내에서 인접한 다른 발광 소자(300)와 응집되지 않고 분산된 상태를 유지하기 위해, 절연막(380)은 표면이 소수성 또는 친수성 처리될 수 있다.
절연막(380)은 적어도 활성층(330)을 포함하여 발광 소자(300)의 반도체 코어를 보호하는 기능을 수행할 수 있다. 상술한 바와 같이, 발광 소자(300)의 제조 공정 및 표시 장치910)의 제조 공정 중 절연막(380)은 부분적으로 식각되어 두께가 얇아질 수 있다. 절연막(380)이 얇은 두께를 갖는 경우, 절연막(380)이 제조 공정 중에 식각되어 제거되거나 반도체 코어, 특히 활성층(330)이 손상될 수도 있다. 이를 방지하기 위해, 일 실시예에 따른 발광 소자(300)의 절연막(380)은 일정 수준 이상의 두께를 가질 수 있다. 예시적인 실시예에서, 절연막(380)의 두께는 10nm 내지 1.0㎛의 범위를 가질 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다. 바람직하게는 절연막(380)의 두께는 40nm 내외일 수 있다.
발광 소자(300)는 길이가 1㎛ 내지 10㎛ 또는 2㎛ 내지 6㎛의 범위를 가질 수 있으며, 바람직하게는 3㎛ 내지 5㎛의 길이를 가질 수 있다. 또한, 발광 소자(300)의 직경은 300nm 내지 700nm의 범위를 갖고, 발광 소자(300)의 종횡비(Aspect ratio)는 1.2 내지 100일 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않고, 표시 장치(10)에 포함되는 복수의 발광 소자(300)들은 활성층(330)의 조성 차이에 따라 서로 다른 직경을 가질 수도 있다. 바람직하게는 발광 소자(300)의 직경은 600nm 내외의 범위를 가질 수 있다.
한편, 상술한 바와 같이, 제1 반도체층(310)은 제1 부분(311) 및 제1 부분(311)보다 큰 직경을 갖는 제2 부분(315)을 포함하고, 절연막(380)은 제1 부분(311)의 외면에만 배치될 수 있다. 이에 따라 제2 부분(315)은 외면이 노출될 수 있고, 표시 장치(10)의 접촉 전극(261, 262)과 접촉할 수 있다. 이하, 다른 도면을 더 참조하여 제1 반도체층(310)의 제1 부분(311) 및 제2 부분(315)에 대하여 자세히 설명하기로 한다.
도 7은 도 6의 QL 부분의 확대도이다.
도 5 내지 도 7을 참조하면, 제1 반도체층(310)의 제1 부분(311)은 발광 소자(300)가 연장된 일 방향과 동일하게 연장된 형상을 가질 수 있다. 일 방향으로 연장된 제1 부분(311)은 외면이 단면상 평탄하게 형성될 수 있으며, 몇몇 실시예에서 제1 부분(311)은 원통형, 로드형의 형상을 가질 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않는다. 제1 부분(311)의 외면에는 후술하는 절연막(380)이 배치되어 표시 장치(10)의 접촉 전극(261, 262)과는 접촉하지 않을 수 있다.
제1 반도체층(310)의 제2 부분(315)은 제1 부분(311)의 일 면과 연결될 수 있다. 제2 부분(315)은 제1 반도체층(310) 상에 배치된 활성층(330)과 반대 방향에 배치되어 제2 부분(315)의 상면은 제1 부분(311)과 연결될 수 있다. 제1 반도체층(310)의 제2 부분(315)는 제1 부분(311)과 달리 하면 및 측면이 노출될 수 있다. 상술한 바와 같이 발광 소자(300)의 절연막(380)은 활성층(330)을 포함하여 제1 반도체층(310)의 제1 부분(311) 측면을 둘러싸도록 배치되되, 제2 부분(315)의 측면에는 배치되지 않을 수 있다. 발광 소자(300)는 제1 반도체층(310)이 제2 부분(315)을 더 포함하여 절연막(380)이 배치되지 않고 노출된 영역을 포함할 수 있다. 이를 통해 발광 소자(300)는 표시 장치(10)의 접촉 전극, 예를 들어 제2 접촉 전극(262)과 제1 반도체층(310)이 넓은 면적에서 상호 접촉할 수 있다. 발광 소자(300)는 절연막(380)을 형성하는 공정과 동시에, 또는 그 이후에 제2 부분(315)을 형성하여, 상술한 바와 같은 구조를 갖게 된 것일 수 있다. 이에 대한 설명은 후술하기로 한다.
한편, 일 실시예에 따르면, 발광 소자(300)의 제1 반도체층(310)은 제2 부분(315)의 직경이 제1 부분(311)의 직경보다 크고, 제2 부분(315)은 외면이 경사진 형상을 가질 수 있다. 발광 소자(300)의 반도체 코어는 제3 방향(DR3)으로 복수의 반도체층(310, 320) 및 활성층(330)이 적층될 수 있고, 제1 반도체층(310)의 제1 부분(311) 및 제2 부분(315)은 제3 방향(DR3)과 수직인 제4 방향(DR4)으로 측정된 직경이 서로 다를 수 있다. 또한, 발광 소자(300)의 양 단부도 제4 방향(DR4)으로 측정된 직경이 서로 다를 수 있다.
제1 반도체층(310)의 제1 부분(311)은 제4 방향(DR4)으로 측정된 직경인 제1 직경(W1)을 갖고, 제2 부분(315)의 상면은 제4 방향(DR4)으로 측정된 직경인 제2 직경(W2)을 가질 수 있다. 또한, 발광 소자(300)의 일 단부로 전극층(370) 또는 제2 반도체층(320)이 위치한 단부는 제4 방향(DR4)으로 측정된 직경인 제3 직경(W3)을 갖고, 발광 소자(300)의 타 단부로 제1 반도체층(310)의 제2 부분(315)이 위치한 단부는 제4 방향(DR4)으로 측정된 직경인 제4 직경(W4)을 가질 수 있다.
일 실시예에 따르면, 제1 반도체층(310)은 제1 부분(311)의 제1 직경(W1)이 제2 부분(315)의 상면이 갖는 제2 직경(W2)보다 작을 수 있다. 제1 반도체층(310)은 제1 부분(311) 및 이와 연결되는 제2 부분(315)의 상면이 서로 다른 직경을 가짐에 따라 이들이 연결되는 부분에서 단차가 형성될 수 있다. 예시적인 실시예에서, 제1 반도체층(310)의 제2 부분(315) 상면이 갖는 제2 직경(W2)은 제1 부분(311)이 갖는 제1 직경(W1)과 절연막(380)의 두께의 합과 동일할 수 있다.
도 7에 도시된 바와 같이, 제1 반도체층(310)의 제1 부분(311) 외면에는 절연막(380)이 형성되고, 절연막(380)의 하면은 제1 부분(311)과 제2 부분(315)이 연결되는 영역에 접촉할 수 있다. 이에 따라, 발광 소자(300)의 제1 반도체층(310)은 제1 부분(311)과 제2 부분(315) 사이에서 단차가 형성되나, 발광 소자(300)의 외면, 즉 절연막(380)과 제2 부분(315)의 외면 사이에는 단차가 형성되지 않을 수 있다. 이는 상술한 바와 같이 발광 소자(300)의 제조 공정 중 절연막(380)과 제1 반도체층(310)의 제2 부분(315)이 동일한 공정에서 형성됨으로써 갖게 된 구조일 수 있다. 보다 자세한 설명은 다른 도면을 참조하여 후술하기로 한다.
또한, 일 실시예에 따르면 제1 반도체층(310)의 제2 부분(315)은 상면이 갖는 제2 직경(W2)이 하면이 갖는 제4 직경(W4)보다 작고, 제2 부분(315)은 경사진 측면을 가질 수 있다. 제1 반도체층(310)의 제2 부분(315)은 발광 소자(300)와 접촉 전극(261, 262) 사이의 넓은 접촉 면적을 확보하기 위해, 상부의 제2 직경(W2)보다 하부의 제4 직경(W4)이 더 클 수 있다. 이에 따라 제1 반도체층(310)의 제2 부분(315)은 단면상 측면이 경사진 형상을 가질 수 있다. 제2 부분(315)은 측면 및 하면이 절연막(380)이 배치되지 않고 노출됨에 따라, 측면과 하면에서 표시 장치(10)의 접촉 전극(261, 262)과 접촉할 수 있다.
발광 소자(300)의 일 단부 및 타 단부의 직경은 발광 소자(300)가 높은 발광 효율을 갖기 위해 요구되는 접촉 전극(261, 262)과의 접촉 면적에 따라 조절될 수 있다. 일 예로, 제1 반도체층(310) 제1 부분(311)의 제1 직경(W1) 대비, 제2 부분(315) 하면의 제4 직경(W4)은 1.25배 내지 1.8배의 범위를 가질 수 있다. 예시적인 실시예에서, 제1 반도체층(310) 제1 부분(311)의 제1 직경(W1)은 500 nm 내지 600nm의 범위를 갖고, 제2 부분(315) 하면의 제4 직경(W4)은 750 nm 내지 900nm의 범위를 가질 수 있다. 이에 따라, 제2 부분(315)의 하면과 측면이 이루는 사이각(θ)은 65° 내지 80°, 바람직하게는 약 70° 내외의 값을 가질 수 있다.
또한, 제1 반도체층(310) 제2 부분(315)이 갖는 높이(ha)는 제4 직경(W4) 및 제2 부분(315)의 하면과 측면 사이의 사이각(θ)에 의해 조절될 수 있다. 몇몇 실시예에서, 제2 부분(315)의 높이(ha)는 발광 소자(300)의 길이(h) 대비 10% 내외의 범위를 가질 수 있다. 예를 들어, 발광 소자(300)의 길이(h)가 4㎛ 내외의 값을 갖는 경우, 제2 부분(315)의 높이(ha)는 400nm 내외의 값을 가질 수 있다. 다만, 이에 제한되지는 않는다. 제2 부분(315) 하면의 제4 직경(W4)과 측면과의 사이각(θ), 및 제2 부분(315)의 높이(ha)는 접촉 전극(261, 262)과의 접촉 면적에 따라 발광 소자(300)의 제조 공정을 달리함으로써 다양하게 변형 가능하다.
발광 소자(300)의 제1 반도체층(310)이 더 넓은 직경을 가짐으로써, 일 실시예에 따른 발광 소자(300)는 타 단부가 갖는 제4 직경(W4)이 일 단부가 갖는 제3 직경(W3)보다 클 수 있다. 발광 소자(300)는 일 단부와 타 단부가 서로 다른 직경을 갖고, 절연막(380)이 배치되지 않은 제1 반도체층(310)의 제2 부분(315)은 표시 장치(10)의 접촉 전극(260)과 넓은 면적에서 접촉할 수 있다.
도 8은 도 4의 QA 부분의 확대도이다.
도 8은 표시 장치(10)에서 제1 전극(210)과 제2 전극(220) 사이에 배치된 발광 소자(300)를 나타내는 단면을 확대한 도면이다. 도 8을 참조하면, 발광 소자(300)는 제1 전극(210)과 제2 전극(220) 사이에서 제2 절연층(520) 상에 배치될 수 있다. 발광 소자(300)는 제1 반도체층(310)의 제2 부분(315)이 위치하는 일 단부와 전극층(370) 또는 제2 반도체층(320)이 위치하는 타 단부를 포함할 수 있다. 상기 일 단부는 제2 접촉 전극(262)과 접촉하고, 상기 타 단부는 제1 접촉 전극(261)과 접촉할 수 있다. 제1 접촉 전극(261)과 제2 접촉 전극(262)은 발광 소자(300)의 절연막(380), 전극층(370) 및 제1 반도체층(310)과 접촉할 수 있다.
한편, 발광 소자(300)는 절연막(380)의 외면 중, 단면상 하부면인 일 측면과 상부면인 타 측면을 포함할 수 있다. 상기 일 측면은 발광 소자(300)의 하부에 배치된 제2 절연층(520) 및 제3 절연층(530)과 접촉할 수 있고, 상기 타 측면은 발광 소자(300)의 상부에 배치된 제3 절연층(530) 및 접촉 전극(260)과 접촉할 수 있다.
발광 소자(300)의 하부면인 일 측면은 제2 절연층(520)과 접촉하고, 제2 절연층(520)이 부분적으로 함몰되어 제3 절연층(530)이 채워진 공간에서는 제3 절연층(530)과 접촉할 수 있다. 상기 일 측면은 단면 상 발광 소자(300)의 하부 면으로 표시 장치(10)의 제조 공정 중 식각되지 않을 수 있다. 이에 따라 제2 절연층(520) 및 제3 절연층(530)이 접촉하는 면은 평탄한 면을 형성할 수 있다.
발광 소자(300)는 단면 상 상부면인 타 측면은 접촉 전극(260) 및 제3 절연층(530)과 접촉할 수 있다. 도면에서는 발광 소자(300)의 타 측면의 절연막(380)이 평탄한 면을 형성하는 것이 도시되어 있으나, 이에 제한되지 않는다. 몇몇 실시예에서 발광 소자(300)의 절연막(380)은 접촉 전극(260)을 형성하는 공정 전에 수행되는 식각 공정에서 부분적으로 식각될 수도 있다.
표시 장치(10)는 발광 소자(300)와 접촉 전극(261, 262) 또는 제2 절연층(520)이 접촉하는 복수의 접촉면을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 접촉면은 제2 접촉 전극(262)과 제1 반도체층(310) 제2 부분(315)의 하면이 접촉하는 제1 접촉면(S1), 제2 접촉 전극(262)과 제2 부분(315)의 측면이 접촉하는 제2 접촉면(S2), 제2 절연층(520)과 제2 부분(315)의 측면이 접촉하는 제3 접촉면(S3), 및 제1 접촉 전극(261)과 전극층(370) 상면이 접촉하는 제4 접촉면(S4)을 포함할 수 있다.
발광 소자(300)는 접촉 전극(261, 262)과의 접촉면들 중, 기판 또는 제1 절연층(510)의 상면에 실질적으로 수직한 면과 그렇지 않는 면들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 접촉면(S1) 및 제4 접촉면(S4) 실질적으로 제1 절연층(510)의 상면과 수직하게 형성되는 반면, 제2 접촉면(S2)은 제1 절연층(510)의 상면과 수직하지 않도록 형성될 수 있다. 이는 발광 소자(300)의 제2 부분(315)이 경사진 측면을 가짐에 따라 접촉 전극(261, 262)과의 접촉면이 경사지게 형성될 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않는다.
또한, 제2 접촉 전극(262)은 발광 소자(300)의 제1 반도체층(310)과 접촉하는 접촉면들이 상호 평행하지 않을 수 있다. 제2 접촉 전극(262)과 제1 반도체층(310)은 제1 접촉면(S1) 및 제2 접촉면(S2)을 형성할 수 있는데, 제1 접촉면(S1)은 제1 반도체층(310) 제2 부분(315)의 하면이 형성하는 면이고, 제2 접촉면(S2)은 제2 부분(315)의 측면이 형성하는 면이다. 일 실시예에 따른 발광 소자(300)는 제1 반도체층(310)의 제2 부분(315)이 측면이 경사진 형상을 가짐에 따라 하면과 평행하거나 수직하지 않는다. 이에 따라 제2 접촉 전극(262)과 접촉하는 제2 부분(315)은 제1 접촉면(S1)을 기준으로 제2 접촉면(S2)이 경사지게 형성될 수 있다.
한편, 일 실시예에 따르면, 표시 장치(10)는 발광 소자(300)의 일 단부면과 제2 접촉 전극(262)과의 접촉 면적은 발광 소자(300)의 타 단부면과 제1 접촉 전극(261)과의 접촉 면적보다 클 수 있다. 발광 소자(300)의 일 단부면은 제1 반도체층(310) 제2 부분(315)의 하면으로, 도 6에 도시된 제4 직경(W4)을 가질 수 있다. 발광 소자(300)의 타 단부면은 전극층(370)의 상면으로, 도 6에 도시된 바와 같이 제1 반도체층(310) 제1 부분(311)과 같이 제1 직경(W1)을 가질 수 있다. 상술한 바와 같이, 제4 직경(W4)은 제1 직경(W1)보다 클 수 있고, 발광 소자(300)의 일 단부면과 제2 접촉 전극(262)과의 접촉면인 제1 접촉면(S1)은 타 단부면과 제1 접촉 전극(261)과의 접촉면인 제4 접촉면(S4)보다 큰 면적을 가질 수 있다.
발광 소자(300)는 반도체 코어와 제1 접촉 전극(261) 및 제2 접촉 전극(262)과 접촉하는 면을 통해 전기 신호를 전달 받을 수 있다. 즉, 발광 소자(300)의 양 단부 중, 반도체 코어를 구성하는 제1 반도체층(310)과 전극층(370)이 접촉 전극(261, 262)과 접촉하는 면, 즉 제1 접촉면(S1), 제2 접촉면(S2) 및 제4 접촉면(S4)을 통해 전기 신호가 전달될 수 있다. 일 실시예에 따른 표시 장치(10)는 발광 소자(300)와 제1 접촉 전극(261)과 접촉하는 타 단부에는 전극층(370)이 배치되어 접촉 저항을 감소시킬 수 있고, 제2 접촉 전극(262)과 접촉하는 일 단부는 직경이 큰 제2 부분(315)을 포함하여 접촉 면적 증가에 따라 접촉 저항을 감소시킬 수 있다. 나아가, 발광 소자(300)의 일 단부는 제2 부분(315)의 측면과 제2 접촉 전극(262)이 접촉할 수 있고, 발광 소자(300)와 제2 접촉 전극(262) 사이의 접촉 면적이 증가하고 접촉 저항이 감소할 수 있다. 이를 통해 발광 소자(300)의 전기적 특성 및 발광 효율이 향상될 수 있다.
한편, 제2 접촉 전극(262)은 발광 소자(300)의 절연막(380)과 접촉할 수 있다(도 8의 'SE'). 다만, 이에 제한되지 않고, 제3 절연층(530)의 형상에 따라 제2 접촉 전극(262)은 절연막(380)과 접촉하지 않을 수도 있다. 이에 대한 설명은 다른 실시예가 참조된다.
한편, 표시 장치(10)는 더 많은 수의 절연층을 포함할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 표시 장치(10)는 제1 접촉 전극(261)을 보호하도록 배치되는 제4 절연층(540)을 더 포함할 수 있다.
도 9는 일 실시예에 따른 표시 장치의 일부를 나타내는 단면도이다.
도 9를 참조하면, 일 실시예에 따른 표시 장치(10)는 제1 접촉 전극(261) 상에 배치된 제4 절연층(540)을 더 포함할 수 있다. 본 실시예에 따른 표시 장치(10)는 제4 절연층(540)을 더 포함하여 제2 접촉 전극(262)의 적어도 일부가 제4 절연층(540) 상에 배치된 점에서 도 4의 표시 장치(10)와 차이점이 있다. 이하에서는 중복되는 설명은 생략하고, 차이점을 중심으로 서술하기로 한다.
도 9의 표시 장치(10)는 제1 접촉 전극(261) 상에 배치되고, 제1 접촉 전극(261)과 제2 접촉 전극(262)을 전기적으로 상호 절연시키는 제4 절연층(540)을 포함할 수 있다. 제4 절연층(540)은 제1 접촉 전극(261)을 덮도록 배치되되, 발광 소자(300)가 제2 접촉 전극(262)과 연결될 수 있도록 발광 소자(300)의 일부 영역에는 중첩되지 않도록 배치될 수 있다. 제4 절연층(540)은 제3 절연층(530)의 상면에서 제1 접촉 전극(261) 및 제3 절연층(530)과 부분적으로 접촉할 수 있다. 제4 절연층(540)은 제3 절연층(530)의 상에서 제1 접촉 전극(261)의 일 단부를 커버하도록 배치될 수 있다. 이에 따라 제4 절연층(540)은 제1 접촉 전극(261)을 보호함과 동시에, 이를 제2 접촉 전극(262)과 전기적으로 절연시킬 수 있다.
제4 절연층(540)의 제2 접촉 전극(262)이 배치된 방향의 측면은 제3 절연층(530)의 일 측면과 정렬될 수 있다. 다만, 이에 제한되는 것은 아니다. 몇몇 실시예에서, 제4 절연층(540)은 제2 절연층(520)과 같이 무기물 절연성 물질을 포함할 수 있다.
제1 접촉 전극(261)은 제1 전극(210)과 제4 절연층(540) 사이에 배치되고, 제2 접촉 전극(262)은 제4 절연층(540) 상에 배치될 수 있다. 제2 접촉 전극(262)은 부분적으로 제2 절연층(520), 제3 절연층(530), 제4 절연층(540), 제2 전극(220) 및 발광 소자(300)와 접촉할 수 있다. 제2 접촉 전극(262)의 제1 전극(210)이 배치된 방향의 일 단부는 제4 절연층(540) 상에 배치될 수 있다.
패시베이션층(550)은 제4 절연층(540) 및 제2 접촉 전극(262) 상에 배치되어, 이들을 보호하도록 배치될 수 있다. 이하, 중복되는 설명은 생략한다.
이하에서는 일 실시예에 따른 발광 소자(300)의 제조 공정에 대하여 설명하기로 한다.
도 10은 일 실시예에 따른 발광 소자의 제조 방법을 나타내는 순서도이다.
도 10을 참조하면, 일 실시예에 따른 발광 소자(300)의 제조 방법은 기판을 준비하고 상기 기판 상에 배치되며 제1 반도체를 포함하는 반도체 구조물을 형성하는 단계(S100), 상기 반도체 구조물의 일부를 식각하여 상기 제1 반도체 일부를 노출시키는 복수의 홀 및 상기 제1 반도체를 포함하고 서로 이격된 반도체 결정을 형성하는 단계(S200) 및 상기 반도체 결정의 뫼면 및 상기 제1 반도체의 노출된 부분에 절연피막을 형성하고, 상기 절연피막 및 상기 홀과 중첩된 제1 반도체를 식각하여 형성된 소자 로드를 상기 기판으로부터 분리하는 단계(S300)를 포함한다.
일 실시예에 따른 발광 소자(300)는 반도체 구조물(도 12의 '3000')을 형성하고, 이를 일부 식각하여 제1 반도체층(310)의 제1 부분(311)을 포함하는 반도체 결정(도 13의 '3000'')을 먼저 형성한다. 그 이후, 반도체 결정(3000')의 외면을 둘러싸는 절연 피막(도 14의 '3800')을 형성한 뒤, 절연 피막(3800)과 하부의 반도체층을 식각함으로써 절연막(380)과 제1 반도체층(310)의 제2 부분(315)을 형성할 수 있다. 발광 소자(300)는 절연막(380)과 제1 반도체층(310)의 제2 부분(315)을 동시에 형성하는 공정에서 제2 부분(315)이 제1 부분(311)보다 더 큰 직경을 갖게 될 수 있다. 이하, 다른 도면들을 더 참조하여 발광 소자(300)의 제조 방법에 대하여 상세히 설명하기로 한다.
도 11 내지 도 16은 일 실시예에 따른 발광 소자의 제조 공정을 나타내는 단면도들이다.
먼저, 도 11을 참조하면, 베이스 기판(1100) 및 베이스 기판(1100) 상에 형성된 버퍼 물질층(1200)을 포함하는 하부기판(1000)을 준비한다. 베이스 기판(1100)은 사파이어 기판(Al 2O 3) 및 유리와 같은 투명성 기판을 포함할 수 있다. 다만, 이에 제한되는 것은 아니며, GaN, SiC, ZnO, Si, GaP 및 GaAs 등과 같은 도전성 기판으로 이루어질 수도 있다. 이하에서는, 베이스 기판(1100)이 사파이어 기판(Al 2O 3)인 경우를 예시하여 설명한다. 베이스 기판(1100)의 두께는 특별히 제한되지 않으나, 일 예로 베이스 기판(1100)은 두께가 400㎛ 내지 1500㎛의 범위를 가질 수 있다.
베이스 기판(1100) 상에는 복수의 반도체층들이 형성된다. 에피택셜법에 의해 성장되는 복수의 반도체층들은 시드 결정을 성장시켜 형성될 수 있다. 여기서, 반도체층을 형성하는 방법은 전자빔 증착법, 물리적 기상 증착법(Physical vapor deposition, PVD), 화학적 기상 증착법(Chemical vapor deposition, CVD), 플라즈마 레이저 증착법(Plasma laser deposition, PLD), 이중형 열증착법(Dual-type thermal evaporation), 스퍼터링(Sputtering), 금속-유기물 화학기상 증착법(Metal organic chemical vapor deposition, MOCVD) 등일 수 있으며, 바람직하게는, 금속-유기물 화학기상 증착법(MOCVD)에 의해 형성될 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않는다.
복수의 반도체층을 형성하기 위한 전구체 물질은 대상 물질을 형성하기 위해 통상적으로 선택될 수 있는 범위 내에서 특별히 제한되지 않는다. 일 예로, 전구체 물질은 메틸기 또는 에틸기와 같은 알킬기를 포함하는 금속 전구체일 수 있다. 예를 들어, 트리메틸 갈륨(Ga(CH 3) 3), 트리메틸 알루미늄(Al(CH 3) 3), 트리에틸 인산염((C 2H 5) 3PO 4)과 같은 화합물일 수 있으나, 이에 제한되지 않는다. 이하에서는, 복수의 반도체층을 형성하는 방법이나 공정 조건 등에 대하여는 생략하여 설명하며, 발광 소자(300)의 제조방법의 순서나 적층 구조에 대하여 상세히 설명하기로 한다.
베이스 기판(1100) 상에는 버퍼 물질층(1200)이 형성된다. 도면에서는 버퍼 물질층(1200)이 한층 적층된 것을 도시하고 있으나, 이에 제한되지 않으며, 복수의 층을 형성할 수도 있다. 버퍼 물질층(1200)은 제1 반도체(3100)와 베이스 기판(1100)의 격자 상수 차이를 줄이기 위해 배치될 수 있다.
일 예로, 버퍼 물질층(1200)은 언도프드(Undoped) 반도체를 포함할 수 있으며, 실질적으로 제1 반도체(3100)와 동일한 물질을 포함하되, n형 또는 p형으로 도핑되지 않은 물질일 수 있다. 예시적인 실시예에서, 버퍼 물질층(1200)은 도핑되지 않은 InAlGaN, GaN, AlGaN, InGaN, AlN 및 InN 중 적어도 어느 하나일 수 있으나, 이에 제한되지 않는다. 또한, 버퍼 물질층(1200)은 베이스 기판(1100)에 따라 생략될 수도 있다. 이하에서는, 베이스 기판(1100) 상에 언도프드 반도체를 포함하는 버퍼 물질층(1200)이 형성된 경우를 예시하여 설명하기로 한다.
다음으로, 도 12를 참조하면, 하부 기판(1000) 상에 반도체 구조물(3000)을 형성한다. 반도체 구조물(3000)은 제1 반도체(3100), 활성층(3300), 제2 반도체(3200) 및 전극물질층(3700)을 포함할 수 있다. 반도체 구조물(3000)에 포함되는 복수의 물질층들은 상술한 바와 같이 통상적인 공정을 수행하여 형성될 수 있고, 반도체 구조물(3000)에 포함된 복수의 층들은 일 실시예에 따른 발광 소자(300)에 포함된 각 층들에 대응될 수 있다. 즉, 이들은 각각 발광 소자(300)의 제1 반도체층(310), 활성층(330), 제2 반도체층(320) 및 전극층(370)과 동일한 물질들을 포함할 수 있다.
이어, 도 13을 참조하면, 반도체 구조물(3000) 일부를 식각하는 제1 식각 공정(1 st etch)을 수행하여 홀(hole)을 형성하고, 홀(hole)을 기준으로 서로 이격된 반도체 결정(3000')들을 형성한다. 반도체 구조물(3000)은 통상적인 방법에 의해 식각될 수 있다. 예를 들어, 반도체 구조물(3000)은 그 상부에 식각 마스크층을 형성하고, 반도체 구조물(3000)을 식각 마스크층을 따라 하부 기판(1000)에 수직한 방향으로 식각하는 방법에 의해 식각될 수 있다.
예를 들어, 반도체 구조물(3000)을 식각하는 공정은 건식식각법, 습식식각법, 반응성 이온 에칭법(Reactive ion etching, RIE), 유도 결합 플라즈마 반응성 이온 에칭법(Inductively coupled plasma reactive ion etching, ICP-RIE) 등일 수 있다. 건식 식각법의 경우 이방성 식각이 가능하여 수직 식각에 적합할 수 있다. 상술한 방법의 식각법을 이용할 경우, 식각 에천트(Etchant)는 Cl 2 또는 O 2 등일 수 있다. 다만, 이에 제한되는 것은 아니다.
몇몇 실시예에서, 반도체 구조물(3000)의 식각은 건식 식각법과 습식 식각법을 혼용하여 이루어질 수 있다. 예를 들어, 먼저 건식 식각법에 의해 깊이 방향의 식각을 한 후, 등방성 식각인 습식 식각법을 통해 식각된 측벽이 표면과 수직한 평면에 놓이도록 할 수 있다.
반도체 결정(3000')은 발광 소자(300)의 전극층(370), 제2 반도체층(320), 활성층(330) 및 제1 반도체층(310)의 제1 부분(311)을 포함할 수 있다. 반도체 구조물(3000)을 식각하여 형성된 홀(hole)은 전극층(370)으로부터 제1 반도체(3100)의 일부 영역까지 형성될 수 있다. 식각되지 않고 남게된 제1 반도체(3100')는 후속 공정에서 더 식각되어 제1 반도체층(310)의 제2 부분(315)을 형성할 수 있다.
다음으로, 반도체 결정(3000')의 외면을 둘러싸는 절연피막(3800)을 형성한다.
도 14를 참조하면, 절연피막(3800)은 반도체 결정(3000')의 측면, 상면 및 식각되지 않고 남게된 제1 반도체(3100) 상에도 형성될 수 있다. 절연피막(3800)은 발광 소자(300)의 절연막(390)을 이루는 절연물질로서, 반도체 결정(3000')의 외면에 절연물질을 도포하거나 침지시키는 방법 등을 이용하여 형성될 수 있다. 다만, 이에 제한되는 것은 아니다. 일 예로, 절연피막(3800)은 원자층 증착법(Atomic layer deposition, ALD)으로 형성될 수 있다.
이어, 도 14를 참조하면, 절연피막(3800)을 부분적으로 제거하고, 식각되지 않고 남은 제1 반도체(3100)를 더 식각하는 제2 식각 공정(2 nd etch)을 수행하여 제1 반도체층(310)의 제2 부분(315) 및 절연막(380)을 형성한다. 이를 통해 제1 반도체층(310), 활성층(330) 등을 포함하는 반도체 코어와 이를 둘러싸는 절연막(380)을 포함하는 소자 로드(ROD)가 형성될 수 있다.
절연피막(3800)을 부분적으로 제거하는 공정은 이방성 식각인 건식 식각이나 에치백 등의 공정이 수행될 수 있다. 도면에 도시된 바와 같이, 절연피막(3800)의 상부면이 제거되어 전극층(370)이 노출되고, 식각되지 않고 남은 제1 반도체(3100')도 부분적으로 식각될 수 있다. 다만, 절연피막(3800)과 제1 반도체(3100')는 서로 다른 식각 선택비를 갖고, 다른 속도로 식각된다. 절연피막(3800)이 일부 제거되어 전극층(370) 상면이 노출되는 동안, 제1 반도체(3100')는 일부 만이 식각되어 측면이 경사지게 형성될 수 있다. 이에 따라, 소자 로드(ROD)의 반도체 코어는 제1 반도체층(310)의 제2 부분(315)이 형성될 수 있다.
소자 로드(ROD)는 반도체 구조물(3000)을 식각하는 제1 식각 공정(1 st etch)과, 절연피막(3800) 및 제1 반도체(3100')를 식각하는 제2 식각 공정(2 nd etch)을 수행하여 형성될 수 있다. 제1 식각 공정(1 st etch)과 제2 식각 공정(2 nd etch)은 서로 다른 공정 조건으로 수행될 수 있고, 상기 공정들에 의해 형성된 제1 반도체(3100)는 다른 형상을 가질 수 있다. 제1 식각 공정(1 st etch)에 의해 식각된 제1 반도체(3100)는 제1 반도체층(310)의 제1 부분(311)을 형성하고, 제2 식각 공정(2 nd etch)에 의해 식각된 제1 반도체(3100')는 제1 반도체층(310)의 제2 부분(315)을 형성할 수 있다.
한편, 도면에서는 전극층(370)의 상면이 노출되고, 절연막(380)의 상부면이 평탄한 것으로 도시되어 있으나, 이에 제한되지 않는다. 몇몇 실시예에서, 절연막(380)은 전극층(370)을 둘러싸는 영역에서 외면이 부분적으로 곡률지게 형성될 수 있다. 절연피막(3800)을 부분적으로 제거하는 공정에서, 절연피막(3800)의 상부면 뿐만 아니라 측면도 부분적으로 제거됨에 따라, 복수의 층들을 둘러싸는 절연막(380)은 단부면이 일부 식각된 상태로 형성될 수 있다. 특히, 절연피막(3800)의 상부면을 제거함에 따라 발광 소자(300)에서 전극층(370)과 인접한 절연막(380)의 외면이 부분적으로 제거된 상태로 형성될 수 있다.
마지막으로, 도 18에 도시된 바와 같이, 제1 반도체층(310)의 제2 부분(315)이 형성된 소자 로드(ROD)를 하부 기판(1000)으로부터 분리하여 발광 소자(300)를 제조한다.
이상에서 설명한 공정을 통해 일 실시예에 따른 발광 소자(300)를 제조할 수 있다. 이렇게 제조된 발광 소자(300)는 제1 전극(210)과 제2 전극(220) 사이에 배치되고, 그 상부에 제3 절연층(530) 및 접촉 전극(260) 등을 배치하여 표시 장치(10)를 제조할 수 있다. 이어, 다른 도면을 더 참조하여 표시 장치(10)의 제조 공정에 대하여 설명하기로 한다.
도 17 내지 도 19는 일 실시예에 따른 표시 장치의 제조 공정 중 일부를 나타내는 단면도들이다.
먼저, 도 17을 참조하면, 제1 절연층(510), 제1 절연층(510) 상에 서로 이격되어 배치되는 제1 내부 뱅크(410) 및 제2 내부 뱅크(420), 제1 내부 뱅크(410) 및 제2 내부 뱅크(420) 상에 각각 배치되는 제1 전극(210) 및 제2 전극(220), 및 제1 전극(210)과 제2 전극(220)을 덮는 제2 절연물층(520’)을 준비한다. 제2 절연물층(520’)은 후속 공정에서 일부 패터닝되어 표시 장치(10)의 제2 절연층(520)을 이룰 수 있다. 상기의 부재들은 통상적인 마스크 공정을 수행하여 금속, 무기물 또는 유기물 등을 패터닝함으로써 형성될 수 있다.
이어, 제1 전극(210)과 제2 전극(220) 상에 발광 소자(300)를 포함하는 잉크(900)를 분사한다. 잉크(900)는 용매(910) 및 용매(910) 내에 분산된 발광 소자(300)를 포함할 수 있다. 발광 소자(300)는 용매(910) 내에 분산된 상태로 전극(210, 220) 상에 분사될 수 있고, 후속 공정에서 인가되는 전기 신호에 의해 제1 전극(210)과 제2 전극(220) 사이에 정렬될 수 있다.
다음으로 도 18을 참조하면, 제1 전극(210)과 제2 전극(220)에 전기 신호를 인가하여 발광 소자(300)를 포함하는 잉크(900) 상에 전계(IEL)를 생성한다. 발광 소자(300)는 전계(IEL)에 의해 유전영동힘을 전달 받고, 배향 방향 및 위치가 바뀌면서 제1 전극(210)과 제2 전극(220) 사이에 안착될 수 있다.
이어, 도 19를 참조하면, 잉크(900)의 용매(910)를 제거한다. 이를 통해 발광 소자(300)는 제1 전극(210)과 제2 전극(220) 사이에 배치되고, 복수의 발광 소자(300)들이 제1 전극(210)과 제2 전극(220) 사이에 안착됨에 따라 이들은 특정 배향 방향을 갖고 정렬될 수 있다.
도면으로 도시하지 않았으나 이후의 공정에서 발광 소자(300) 상에 제3 절연층(530)을 형성하고, 제2 절연물층(520’)을 패터닝하여 제2 절연층(520)을 형성한다. 이후, 제1 접촉 전극(261) 및 제2 접촉 전극(262), 및 패시베이션층(550)을 형성함으로써 표시 장치(10)를 제조할 수 있다.
이상에서 설명한 바에 따라 일 실시예에 따른 발광 소자(300) 및 표시 장치(10)를 제조할 수 있다. 일 실시예에 따른 발광 소자(300)는 서로 다른 직경을 갖는 제1 부분(311)과 제2 부분(315)을 갖는 제1 반도체층(310)을 포함하고, 양 단부가 서로 다른 직경을 가질 수 있다. 특히, 제1 반도체층(310)의 제2 부분(315)은 전극층(370)보다 큰 직경을 가질 수 있고, 표시 장치(10)의 접촉 전극(261, 262)과 제1 반도체층(310)과 넓은 면적에서 접촉할 수 있다. 이에 따라, 일 실시예에 따른 발광 소자(300)는 접촉 전극(261, 262)과의 접촉 저항을 감소시킬 수 있고, 발광 효율이 향상될 수 있다.
이하에서는 다양한 실시예에 따른 발광 소자(300) 및 표시 장치(10)에 대하여 설명하기로 한다.
도 20은 일 실시예에 따른 표시 장치의 일부를 나타내는 단면도이다.
도 20을 참조하면, 일 실시예에 따른 표시 장치(10)는 발광 소자(300_1)의 절연막(380_1)이 제2 접촉 전극(262_1)과 접촉하지 않을 수 있다. 상술한 바와 같이, 접촉 전극(261_1, 262_1)은 발광 소자(300_1)의 양 단부와 접촉할 수 있다. 그 중, 제2 접촉 전극(262_1)은 발광 소자(300_1)의 제1 반도체층(310_1)과 접촉할 수 있는데, 절연막(380_1) 중 제1 반도체층(310_1)을 둘러싸는 부분은 제3 절연층(530_3)의 폭에 따라 제2 접촉 전극(262_1)과 접촉하지 않을 수도 있다. 일 실시예에 따르면, 표시 장치(10)의 제2 접촉 전극(262_1)은 발광 소자(300_1)의 절연막(380_1)과 접촉하지 않고, 제1 반도체층(310_1)의 제2 부분(315_1)에만 접촉할 수 있다. 본 실시예는 제2 접촉 전극(262_1)이 절연막(380_1)과 접촉하지 않는 점에서 도 8의 실시예와 차이가 있다. 그 외 다른 부재들에 대한 설명은 실질적으로 동일한 바, 자세한 설명은 생략하기로 한다.
한편, 상술한 바와 같이 절연막(380)은 상면이 부분적으로 곡률진 면을 포함할 수 있다. 발광 소자(300)의 제조 공정 중, 절연피막(3800)을 제거하는 제1 식각 공정(1 st etch)에서, 절연피막(3800)은 상면과 측면이 부분적으로 식각됨에 따라 절연막(380)은 외면이 부분적으로 곡률진 형상을 가질 수 있다.
도 21은 일 실시예에 따른 발광 소자의 개략적인 단면도이다. 도 22는 도 20의 발광 소자를 포함하는 표시 장치의 일부를 나타내는 단면도이다.
도 21 및 도 22를 참조하면, 일 실시예에 따른 발광 소자(300_2)는 절연막(380_2)의 상면 또는 상부 단면이 부분적으로 경사진 형상을 갖고, 부분적으로 두께가 다른 영역을 포함할 수 있다. 도 21의 발광 소자(300_2)는 절연막(380_2)의 단부면이 경사진 형상을 갖는 점에서 도 6의 발광 소자(300)와 차이가 있다. 그 외에 전극층(370), 제1 반도체층(310), 활성층(330), 제2 반도체층(320) 등의 배치 및 구조는 도 6과 동일하므로, 이하에서는 중복되는 설명은 생략하고 차이점을 중심으로 서술하기로 한다.
일 실시예에 따르면, 절연막(380_2)은 반도체 코어 중 일부, 예를 들어 전극층(370_2)의 측면이 노출되도록 배치되고, 절연막(380_2)의 상면 중 전극층(370_2)이 노출된 부분의 단부면은 부분적으로 경사진 형상을 가질 수 있다. 전극층(370_2)은 외면 중 절연막(380_2)이 배치되지 않고 노출된 면은 발광 소자(300_2)의 제조 공정 중 절연피막(3800)을 식각하는 공정에서 노출될 수 있다. 도 6의 발광 소자(300)의 경우, 절연피막(3800)을 식각하는 공정에서 전극층(370)의 상면만이 노출되는 반면, 도 21의 발광 소자(300_2)는 전극층(370_2)의 상면과 함께 측면도 부분적으로 노출될 수 있다. 한편, 도면에 도시된 바와 같이, 전극층(370_2)은 측면이 모두 노출되지는 않으며, 부분적으로 노출됨에 따라 일부 영역은 절연막(380_2)과 접촉할 수 있다.
한편, 발광 소자(300_2)의 절연막(380_2)이 부분적으로 곡률진 외면을 갖고, 전극층(370_2)의 외면이 일부 노출됨에 따라 표시 장치(10)의 제1 접촉 전극(261_2)은 전극층(370_2)의 측면 일부와도 접촉할 수 있다. 도 22에 도시된 바와 같이, 제1 접촉 전극(261_2)은 발광 소자(300_2)의 전극층(370_2)의 측면 일부와도 접촉하여 제5 접촉면(S5)을 형성할 수 있다. 도 7의 실시예와 달리, 제1 접촉 전극(261)은 발광 소자(300_2)의 절연막(380_2)에 더하여 전극층(370_2)의 상부면 및 측면과도 접촉할 수 있으며, 절연막(380_2)과 접촉하여 형성된 접촉면은 절연막(380_2)의 곡률진 외면에 따라 부분적으로 경사진 형상을 가질 수 있다.
한편, 상술한 바와 같이 발광 소자(300)의 절연막(380)은 표시 장치(10)의 제조 공정 중 부분적으로 식각되어 두께가 얇아질 수 있다. 이 경우, 표시 장치(10)에 포함된 발광 소자(300)는 절연막(380)의 두께가 위치에 따라 달라지고, 발광 소자(300)의 직경도 달라질 수 있다.
도 23 및 도 24는 일 실시예에 발광 소자를 포함하는 표시 장치의 일부를 나타내는 단면도이다.
도 23은 도 6의 발광 소자(300)를 포함하는 표시 장치(10)에서, 발광 소자(300_3)의 절연막(380_3)이 일부 식각된 것을 도시하고 있고, 도 24는 도 21의 발광 소자(300_2)를 포함하는 표시 장치(10)에서, 발광 소자(300_4)의 절연막(380_4)이 일부 식각된 것을 도시하고 있다.
도 23을 참조하면, 표시 장치(10)의 제조 공정 중, 제3 절연층(530)을 형성하는 공정에서 제3 절연층(530)과 접촉하지 않는 절연막(380_3)은 부분적으로 식각될 수 있다. 발광 소자(300_3)는 외면 중 단면상 하부면인 일 측면과 상부면인 타 측면을 포함할 수 있다. 상기 일 측면은 발광 소자(300_3)의 하부에 배치된 제2 절연층(520) 및 제3 절연층(530)과 접촉하므로, 표시 장치(10_3)의 제조 공정 중 발광 소자(300_3)의 하부면에 위치한 절연막(380_3)은 식각되지 않을 수 있다.
반면, 발광 소자(300_3)의 단면 상 상부면인 타 측면은 접촉 전극(261, 262)을 형성하는 공정 전에 수행되는 식각 공정에서 부분적으로 식각될 수 있다. 상기 타 측면은 제3 절연층(530)과 접촉하는 부분을 제외하고 접촉 전극(261, 262)과 접촉하는 영역에서는 절연막(380_3)이 식각될 수 있다. 이에 따라, 표시 장치(10_3)는 발광 소자(300_3)의 절연막(380_3)이 위치에 따라 서로 다른 두께를 가질 수 있다.
절연막(380_3)은 제1 접촉 전극(261)과 접촉하는 면 및 제2 접촉 전극(262)과 접촉하는 면에서의 두께가 제2 절연층(520)과 접촉하는 면에서의 두께보다 얇을 수 있다. 반면, 절연막(380_3)이 제3 절연층(530)과 접촉하는 부분에서는 제조 공정 중 식각되지 않으므로, 제3 절연층(530)과 접촉하는 면의 두께는 제1 접촉 전극(261)과 접촉하는 면 및 제2 접촉 전극(262)과 접촉하는 면보다 두꺼울 수 있다.
이에 따라, 발광 소자(300_3)는 위치에 따라 서로 다른 직경을 가질 수 있다. 예를 들어, 발광 소자(300_3)는 제3 절연층(530)과 접촉하는 영역에서 측정된 직경인 제1 직경(Da)이, 제2 접촉 전극(262)과 접촉하는 영역의 제2 직경(Db) 및 제1 접촉 전극(261)과 접촉하는 영역의 제3 직경(Dc)보다 클 수 있다. 다만, 상술한 바와 같이, 발광 소자(300_3)의 절연막(380_3)은 활성층(330_3)을 보호하기 위해 일정 수준 이상의 두께를 갖고 적어도 활성층(330_3)을 둘러싸도록 배치된다. 절연막(380_3)은 표시 장치(10_3)의 제조 공정 중 일부 식각되더라도 활성층(330_3)을 보호하기 위해 최소한의 두께를 갖게 될 수 있다. 예시적인 실시예에서, 표시 장치(10_3)에 배치된 발광 소자(300_3)의 절연막(380_3)은 두께가 약 10nm 내지 20nm의 범위를 가질 수 있다. 상술한 범위의 절연막(380_3)은 활성층(330_3)이 다른 부재와 접촉하지 않도록 하여 발광 소자(300_3)의 전기적 단락을 방지할 수 있다.
도 24의 실시예는 도 21의 발광 소자(300_2)를 포함하여 표시 장치(10_4)의 제조 공정 중 절연막(380_4)이 부분적으로 식각된 것을 도시하고 수 있다. 이에 대한 설명은 도 22 및 도 23을 참조하여 상술한 바와 동일한 바, 이에 대한 자세한 설명은 생략하기로 한다.
한편, 몇몇 실시예에 따르면 제1 전극(210)과 제2 전극(220)은 제1 방향(DR1)으로 연장된 전극 줄기부(210S, 220S)가 생략될 수 있다.
도 25는 일 실시예에 따른 표시 장치의 일 서브 화소를 나타내는 평면도이다.
도 25를 참조하면, 표시 장치(10_5)는 제1 전극(210_5)과 제2 전극(220_5)이 일 방향, 즉 제2 방향(DR2)으로 연장되어 배치될 수 있다. 제1 전극(210_5)과 제2 전극(220_5)은 제1 방향(DR1)으로 연장된 전극 줄기부(210S, 220S)들이 생략될 수 있다. 도 25의 표시 장치(10_5)는 전극 줄기부(210S, 220S)가 생략되고 하나의 제2 전극(220_5)을 더 포함하는 점에서 도 3의 표시 장치(10)와 차이가 있다. 도 25의 Xa-Xa’선, Xb-Xb’선 및 Xc-Xc’선을 따라 자른 단면은 도 4와 실질적으로 동일할 수 있다. 이하에서는 중복되는 설명은 생략하고 차이점을 중심으로 설명하기로 한다.
도 25에 도시된 바와 같이, 복수의 제1 전극(210_5)과 제2 전극(220_5)은 각 서브 화소(PXn) 내에서 제2 방향(DR2)으로 연장될 수 있다. 외부 뱅크(430)의 경우에도 제2 방향(DR2)으로 연장될 수 있다. 제2 전극(220_5)과 외부 뱅크(430)는 제2 방향(DR2)으로 이웃하는 다른 서브 화소(PXn)에도 연장될 수 있다. 이에 따라 제2 방향(DR2)으로 이웃하는 각 서브 화소(PXn)들은 제2 전극(220_5)으로부터 동일한 전기 신호를 전달 받을 수 있다.
도 3의 표시 장치(10)와 달리, 도 25의 표시 장치(10_5)는 제2 전극(220_5) 마다 제2 전극 컨택홀(CNTS)이 배치될 수 있다. 각 서브 화소(PXn) 마다 위치하는 제2 전극 컨택홀(CNTS)을 통해 제2 전극(220)은 회로소자층(PAL)의 전원 전극(162)과 전기적으로 연결될 수 있다. 도면에서는 2개의 제2 전극(220_5) 각각 제2 전극 컨택홀(CNTS)이 형성된 것이 도시되어 있으나, 이에 제한되지 않는다.
반면에, 제1 전극(210_5)은 제2 방향(DR2)으로 연장되되 각 서브 화소(PXn)의 경계에서 종지할 수 있다. 제2 방향(DR2)으로 이웃하는 각 서브 화소(PXn)들은 서로 이격된 제1 전극(210_5)을 각각 포함하고, 이들은 제1 전극 컨택홀(CNTD)을 통해 서로 다른 전기 신호를 전달 받을 수 있다. 이러한 제1 전극(210_5)의 형상은 제2 방향(DR2)으로 연장되어 배치되었다가 표시 장치(10)의 제조 공정 중 이웃하는 서브 화소(PXn)의 경계에서 단선됨으로써 형성된 것일 수 있다. 도 25의 실시예는 하나의 제1 전극(210_5)과 하나의 제2 전극(220_5) 사이의 발광 소자(300)들과, 다른 제1 전극(210_5)과 다른 제2 전극(220_5) 사이의 발광 소자(300)들이 병렬 연결을 이룰 수 있다.
한편, 도 25의 표시 장치(10_5)는 일부 전극(210_5, 220_5)이 전극 컨택홀(CNTD, CNTS)을 통해 회로소자층(PAL)과 전기적으로 연결되지 않고, 플로팅 전극(Floating electrode)으로 배치될 수도 있다. 예를 들어, 복수의 전극(210_5, 220_5)들 중 외곽부에 위치한 전극들만 전극 컨택홀(CNTD, CNTS)을 통해 전기 신호를 전달 받을 수 있고, 이들 사이에 배치된 전극(210_5, 220_5)들은 전기 신호를 직접 전달받지 않을 수도 있다. 이 경우, 제2 전극(220_5)들 중 일부, 예를 들어 서로 다른 제1 전극(210_5) 사이에 배치된 제2 전극(220_5)은 제2 방향(DR2)으로 연장되되, 다른 서브 화소(PXn)에 배치되지 않도록 제1 전극(210_5)과 같이 각 서브 화소(PXn)의 경계에서 종지할 수 있다. 복수의 전극(210_5, 220_5)들 중 일부가 플로팅 전극인 경우, 이들 사이에 배치된 발광 소자(300)들은 병렬 연결에 더하여 부분적으로 직렬 연결을 이룰 수도 있다. 외부 뱅크(430)는 제1 방향(DR1)으로 이웃한 서브 화소(PXn)들의 경계에 배치되어 제2 방향(DR2)으로 연장될 수 있다. 도면에 도시하지 않았으나, 외부 뱅크(430)는 제2 방향(DR2)으로 이웃한 서브 화소(PXn)들의 경계에 배치되어 제1 방향(DR1)으로 연장될 수도 있다. 외부 뱅크(430)에 대한 설명은 도 3을 참조하여 상술한 바와 동일하다. 또한, 도 25의 표시 장치(10_5)에 포함된 제1 접촉 전극(261_5) 및 제2 접촉 전극(262_5)은 실질적으로 도 3의 표시 장치(10)와 동일하다.
도 25에서는 2개의 제1 전극(210_5)과 2개의 제2 전극(220_5)이 배치되고, 이들이 서로 교번적으로 이격된 것이 도시되어 있다. 다만, 이에 제한되지 않고 표시 장치(10_5)는 일부 전극들이 생략되거나 더 많은 수의 전극이 배치될 수 있다.
한편, 표시 장치(10)는 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)이 반드시 일 방향으로 연장된 형상을 갖지 않을 수도 있다. 표시 장치(10)의 제1 전극(210) 및 제2 전극(220)은 발광 소자(300)들이 배치되는 공간을 제공하도록 서로 이격되어 배치된다면 그 형상은 특별히 제한되지 않는다.
도 26은 일 실시예에 따른 표시 장치의 일 화소를 나타내는 평면도이다.
도 26을 참조하면, 일 실시예에 따른 표시 장치(10_6)의 제1 전극(210_6) 및 제2 전극(220_6)은 적어도 일부 영역이 곡률진 형상을 갖고, 제1 전극(210_6)의 곡률진 영역은 제2 전극(220_6)의 곡률진 영역과 서로 이격되어 대향할 수 있다. 도 26의 따른 표시 장치(10_6)는 제1 전극(210_6)과 제2 전극(220_6)의 형상이 다른 점에서 도 2의 표시 장치(10)와 차이점이 있다. 이하에서는 중복되는 설명은 생략하고 차이점을 중심으로 설명하기로 한다.
도 26의 표시 장치(10_6)의 제1 전극(210_6)은 복수의 홀(HOL)들을 포함할 수 있다. 일 예로, 도면에 도시된 바와 같이 제1 전극(210_6)은 제2 방향(DR2)을 따라 배열된 제1 홀(HOL1), 제2 홀(HOL2) 및 제3 홀(HOL3)을 포함할 수 있다. 다만, 이에 제한되는 것은 아니며 제1 전극(210_6)은 더 많은 수의 홀(HOL)을 포함하거나 더 적은 수, 또는 하나의 홀(HOL)만을 포함할 수도 있다. 이하에서는 제1 전극(210_6)이 제1 홀(HOL1), 제2 홀(HOL2) 및 제3 홀(HOL3)을 포함하는 것을 예시하여 설명하기로 한다.
예시적인 실시예에서, 제1 홀(HOL1), 제2 홀(HOL2) 및 제3 홀(HOL3) 각각은 원형의 평면 형상을 가질 수 있다. 이에 따라, 제1 전극(210_6)은 각 홀(HOL)들에 의해 형성된 곡률진 영역을 포함할 수 있고, 상기 곡률진 영역에서 제2 전극(220_6)과 대향할 수 있다. 다만, 이는 예시적인 것으로 이에 제한되는 것은 아니다. 제1 홀(HOL1), 제2 홀(HOL2) 및 제3 홀(HOL3) 각각은 후술할 바와 같이 제2 전극(220_6)이 배치되는 공간을 제공할 수 있다면, 그 형상이 제한되는 것은 아니며, 예를 들어, 타원, 사각형 이상의 다각형 등의 평면 형상을 가질 수도 있다.
제2 전극(220_6)은 각 서브 화소(PXn) 내에 복수 개가 배치될 수 있다. 예를 들어, 각 서브 화소(PXn)에서는 제1 전극(210_6)의 제1 내지 제3 홀들(HOL1, HOL2, HOL3)에 대응하여 3개의 제2 전극(220_6)이 배치될 수 있다. 제2 전극(220_6)은 제1 내지 제3 홀들(HOL1, HOL2, HOL3) 내에 각각 위치하여 제1 전극(210_6)에 의해 둘러싸일 수 있다.
예시적인 실시예에서, 제1 전극(210_6)의 홀(HOL)들은 외면이 곡률진 형상을 갖고, 제1 전극(210_6)의 홀(HOL) 내에 대응하여 배치된 제2 전극(220_6)들은 외면이 곡률진 형상을 갖고 제1 전극(210_6)과 이격되어 대향할 수 있다. 도 26에 도시된 바와 같이, 제1 전극(210_6)은 평면상 원형의 형상을 갖는 홀(HOL)들을 포함하고, 제2 전극(220_6)은 평면상 원형의 형상을 가질 수 있다. 제1 전극(210_6)은 홀(HOL)이 형성된 영역의 곡률진 면이 제2 전극(220_6)의 곡률진 외면과 이격되어 대향할 수 있다. 일 예로, 제1 전극(210_6)은 제2 전극(220_6)의 외면을 둘러싸도록 배치될 수 있다.
상술한 바와 같이, 발광 소자(300)들은 제1 전극(210_6)과 제2 전극(220_6) 사이에 배치될 수 있다. 본 실시예에 따른 표시 장치(10_6)는 원형의 형상을 갖는 제2 전극(220_6)과, 이를 둘러싸도록 배치된 제1 전극(210_6)을 포함하고, 복수의 발광 소자(300)들은 제2 전극(220_6)의 곡률진 외면을 따라 배열될 수 있다. 상술한 바와 같이 발광 소자(300)들은 일 방향으로 연장된 형상을 가지므로, 각 서브 화소(PXn) 내에서 제2 전극(220_6)의 곡률진 외면을 따라 배열되는 발광 소자(300)들은 연장된 방향이 서로 다른 방향을 향하도록 배치될 수 있다. 각 서브 화소(PXn)들은 발광 소자(300)의 연장된 방향이 향하는 방향에 따라 다양한 출광 방향을 가질 수 있다. 본 실시예에 따른 표시 장치(10_6)는 제1 전극(210_6)과 제2 전극(220_6)이 곡률진 형상을 갖도록 배치됨으로써, 이들 사이에 배치된 발광 소자(300)들은 서로 다른 방향을 향하도록 배치되고, 표시 장치(10_6)의 측면 시인성을 향상시킬 수도 있다.
이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.

Claims (24)

  1. 제1 극성으로 도핑되고, 제1 방향으로 연장된 제1 부분 및 상기 제1 부분의 일 측에 연결된 제2 부분을 포함하는 제1 반도체층;
    상기 제1 극성과 다른 제2 극성으로 도핑된 제2 반도체층;
    상기 제1 반도체층과 상기 제2 반도체층 사이에 배치된 활성층;
    적어도 상기 활성층의 외면을 둘러싸도록 배치되고, 상기 제1 방향으로 연장된 절연막을 포함하고,
    상기 제2 부분의 상기 제1 방향에 수직인 제2 방향으로 측정된 직경은 상기 제1 부분의 상기 제2 방향으로 측정된 직경보다 크고, 상기 제2 부분의 측면은 경사진 형상을 갖는 발광 소자.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 절연막은 상기 제1 반도체층의 상기 제1 부분 외면을 둘러싸고, 상기 제2 부분은 측면이 상기 절연막과 접촉하지 않고 노출되는 발광 소자.
  3. 제2 항에 있어서,
    상기 제2 부분의 길이는 상기 발광 소자의 길이 대비 10% 내외의 범위를 갖는 발광 소자.
  4. 제2 항에 있어서,
    상기 제2 부분은 상기 제1 부분과 연결되는 상면 및 상기 상면과 대향하는 하면을 포함하고, 상기 제2 부분의 하면의 직경은 상기 상면은 직경보다 큰 발광 소자.
  5. 제4 항에 있어서,
    상기 제1 반도체층의 제2 부분 하면은 직경이 상기 제1 반도체층 제1 부분이 갖는 직경의 1.25배 내지 1.8배의 범위를 갖는 발광 소자.
  6. 제5 항에 있어서,
    상기 제2 부분의 하면은 직경이 750nm 내지 900nm의 범위를 갖는 발광 소자.
  7. 제6 항에 있어서,
    상기 제2 부분의 하면의 직경은 상기 제1 부분의 직경 및 상기 절연막의 두께의 합보다 큰 발광 소자.
  8. 제4 항에 있어서,
    상기 제2 부분의 상면은 적어도 일부 영역이 상기 절연막과 접촉하는 발광 소자.
  9. 제4 항에 있어서,
    상기 제2 부분의 하면과 측면이 이루는 사이각은 65° 내지 80°의 범위를 갖는 발광 소자.
  10. 제1 항에 있어서,
    상기 제2 반도체층 상에 배치된 전극층을 더 포함하는 발광 소자.
  11. 제10 항에 있어서,
    상기 전극층은 측면 중 일부 영역이 상기 절연막과 접촉하지 않고 노출된 발광 소자.
  12. 제11 항에 있어서,
    상기 절연막은 상기 일 방향에 따라 두께가 감소하도록 외면이 곡률진 형상을 갖는 발광 소자.
  13. 기판을 준비하고, 상기 기판 상에 배치되며 제1 반도체를 포함하는 반도체 구조물을 형성하는 단계;
    상기 반도체 구조물의 일부를 식각하여 상기 제1 반도체 일부를 노출시키는 복수의 홀 및 상기 제1 반도체 일부를 포함하고 서로 이격된 반도체 결정을 형성하는 단계; 및
    상기 반도체 결정의 외면 및 상기 제1 반도체의 노출된 부분에 배치되는 절연피막을 형성하고, 상기 절연피막 및 상기 홀과 중첩된 제1 반도체를 식각하여 형성된 소자 로드를 상기 기판으로부터 분리하는 단계를 포함하는 발광 소자의 제조 방법.
  14. 제13 항에 있어서,
    상기 소자 로드는 일 방향으로 연장된 제1 부분 및 상기 제1 부분의 일 측에 연결되고 직경이 상기 제1 부분보다 큰 제2 부분을 포함하는 제1 반도체층, 상기 제1 반도체층의 제1 부분 상에 배치된 활성층 및 상기 활성층 상에 배치된 제2 반도체층을 포함하는 발광 소자의 제조 방법.
  15. 제14 항에 있어서,
    상기 반도체 결정은 상기 제1 반도체층의 상기 제1 부분을 포함하고,
    상기 소자 로드를 형성하는 단계에서 상기 홀을 따라 노출된 제1 반도체가 식각되어 상기 제1 반도체층의 제2 부분이 형성되고, 상기 절연피막이 일부 제거되어 상기 반도체 결정의 상면이 노출되는 발광 소자의 제조 방법.
  16. 제15 항에 있어서,
    상기 소자 로드는 상기 제2 반도체층 상에 배치된 전극층을 더 포함하는 발광 소자의 제조 방법.
  17. 기판;
    상기 기판 상에 배치된 제1 전극 및 상기 제1 전극과 이격된 제2 전극; 및
    상기 제1 전극과 상기 제2 전극 사이에 배치되어 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극과 전기적으로 연결된 적어도 하나의 발광 소자를 포함하고,
    상기 발광 소자는 제1 방향으로 연장된 형상을 갖고, 일 단부의 상기 제1 방향에 수직인 제2 방향으로 측정된 직경이 타 단부의 상기 제2 방향으로 측정된 직경보다 작은 표시 장치.
  18. 제17 항에 있어서,
    상기 발광 소자는 상기 제1 방향으로 연장된 제1 부분 및 상기 제1 부분의 일 측에 연결된 제2 부분을 포함하는 제1 반도체층;
    상기 제1 반도체층 상에 배치된 활성층;
    상기 활성층 상에 배치된 제2 반도체층;
    상기 제2 반도체층 상에 배치된 전극층 및
    적어도 상기 활성층의 외면을 둘러싸도록 배치되고 상기 제1 방향으로 연장된 절연막을 포함하고,
    상기 제2 부분의 상기 제2 방향으로 측정된 직경은 상기 제1 부분의 상기 제2 방향으로 측정된 직경보다 크고, 상기 제2 부분의 측면은 경사진 형상을 갖는 표시 장치.
  19. 제18 항에 있어서,
    상기 제1 전극 및 상기 발광 소자의 상기 일 단부와 접촉하는 제1 접촉 전극 및
    상기 제2 전극 및 상기 발광 소자의 상기 타 단부와 접촉하는 제2 접촉 전극을 더 포함하는 표시 장치.
  20. 제19 항에 있어서,
    상기 제2 접촉 전극은 상기 제1 반도체층 제2 부분과 접촉하되, 상기 제2 부분의 하면과 접촉하는 제1 접촉면 및 상기 제2 부분의 측면과 접촉하는 제2 접촉면을 형성하고,
    상기 제1 접촉 전극은 상기 전극층 상면과 접촉하여 제3 접촉면을 형성하는 표시 장치.
  21. 제20 항에 있어서,
    상기 제1 접촉면의 면적은 상기 제3 접촉면의 면적보다 큰 표시 장치.
  22. 제20 항에 있어서,
    상기 제1 접촉면과 상기 제2 접촉면은 상호 평행하지 않는 표시 장치.
  23. 제20 항에 있어서,
    상기 발광 소자의 상기 절연막은 상기 전극층의 측면 일부를 둘러싸도록 배치되고,
    상기 제1 접촉 전극은 상기 전극층의 노출된 측면과 접촉하는 표시 장치.
  24. 제19 항에 있어서,
    상기 제1 접촉 전극 및 상기 제2 접촉 전극은 각각 상기 발광 소자의 상기 절연막과 부분적으로 접촉하는 표시 장치.
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