WO2019139168A1 - 熱電変換材料、熱電変換モジュールおよび熱電変換材料の製造方法 - Google Patents
熱電変換材料、熱電変換モジュールおよび熱電変換材料の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- WO2019139168A1 WO2019139168A1 PCT/JP2019/000945 JP2019000945W WO2019139168A1 WO 2019139168 A1 WO2019139168 A1 WO 2019139168A1 JP 2019000945 W JP2019000945 W JP 2019000945W WO 2019139168 A1 WO2019139168 A1 WO 2019139168A1
- Authority
- WO
- WIPO (PCT)
- Prior art keywords
- thermoelectric conversion
- conversion material
- heat treatment
- pressure sintering
- heat
- Prior art date
Links
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 title claims abstract description 157
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims abstract description 140
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 47
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 40
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 87
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims abstract description 68
- 238000005245 sintering Methods 0.000 claims abstract description 63
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 claims abstract description 58
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 47
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 38
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims abstract description 38
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims abstract description 30
- 229910052769 Ytterbium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 29
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 claims abstract description 29
- 238000005303 weighing Methods 0.000 claims abstract description 16
- 238000002156 mixing Methods 0.000 claims abstract description 10
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 6
- 238000007712 rapid solidification Methods 0.000 claims abstract description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 23
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical group [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 16
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 15
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 14
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 10
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 claims description 9
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 7
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 6
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 3
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 3
- 239000000155 melt Substances 0.000 abstract 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 48
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 39
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 22
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 21
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 19
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 15
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 15
- 238000004453 electron probe microanalysis Methods 0.000 description 14
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 14
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 12
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 11
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 11
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 10
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 10
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 8
- 238000002524 electron diffraction data Methods 0.000 description 8
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 8
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 8
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 7
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 description 7
- 238000010791 quenching Methods 0.000 description 7
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 7
- 229910018989 CoSb Inorganic materials 0.000 description 6
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 6
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 6
- 230000000171 quenching effect Effects 0.000 description 6
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 6
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 5
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 5
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 5
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000011149 active material Substances 0.000 description 4
- 239000003708 ampul Substances 0.000 description 4
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 4
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 4
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 4
- 238000010079 rubber tapping Methods 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000002918 waste heat Substances 0.000 description 4
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 3
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 3
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 3
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 3
- 239000004570 mortar (masonry) Substances 0.000 description 3
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Substances [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 3
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 3
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005678 Seebeck effect Effects 0.000 description 2
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 2
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000002149 energy-dispersive X-ray emission spectroscopy Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 2
- 238000009616 inductively coupled plasma Methods 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 2
- 239000000047 product Substances 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N Aluminum nitride Chemical compound [Al]#N PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007088 Archimedes method Methods 0.000 description 1
- 229910052693 Europium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052777 Praseodymium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052772 Samarium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012300 argon atmosphere Substances 0.000 description 1
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000007806 chemical reaction intermediate Substances 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 239000002772 conduction electron Substances 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000000635 electron micrograph Methods 0.000 description 1
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 1
- NBVXSUQYWXRMNV-UHFFFAOYSA-N fluoromethane Chemical compound FC NBVXSUQYWXRMNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002803 fossil fuel Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 239000005300 metallic glass Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000006911 nucleation Effects 0.000 description 1
- 238000010899 nucleation Methods 0.000 description 1
- 230000008520 organization Effects 0.000 description 1
- 229910052762 osmium Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000004430 oxygen atom Chemical group O* 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 238000000634 powder X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 1
- 238000002203 pretreatment Methods 0.000 description 1
- 239000012264 purified product Substances 0.000 description 1
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002910 rare earth metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000004064 recycling Methods 0.000 description 1
- 239000003507 refrigerant Substances 0.000 description 1
- 238000003303 reheating Methods 0.000 description 1
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 238000010583 slow cooling Methods 0.000 description 1
- 238000007711 solidification Methods 0.000 description 1
- 230000008023 solidification Effects 0.000 description 1
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 1
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 230000036962 time dependent Effects 0.000 description 1
- 229910052723 transition metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000003624 transition metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000010792 warming Methods 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
- 239000012856 weighed raw material Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
- B22F9/00—Making metallic powder or suspensions thereof
- B22F9/02—Making metallic powder or suspensions thereof using physical processes
- B22F9/04—Making metallic powder or suspensions thereof using physical processes starting from solid material, e.g. by crushing, grinding or milling
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
- B22F3/00—Manufacture of workpieces or articles from metallic powder characterised by the manner of compacting or sintering; Apparatus specially adapted therefor ; Presses and furnaces
- B22F3/10—Sintering only
- B22F3/1003—Use of special medium during sintering, e.g. sintering aid
- B22F3/1007—Atmosphere
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
- B22F3/00—Manufacture of workpieces or articles from metallic powder characterised by the manner of compacting or sintering; Apparatus specially adapted therefor ; Presses and furnaces
- B22F3/12—Both compacting and sintering
- B22F3/14—Both compacting and sintering simultaneously
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01G—COMPOUNDS CONTAINING METALS NOT COVERED BY SUBCLASSES C01D OR C01F
- C01G51/00—Compounds of cobalt
- C01G51/006—Compounds containing, besides cobalt, two or more other elements, with the exception of oxygen or hydrogen
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
- C22C—ALLOYS
- C22C1/00—Making non-ferrous alloys
- C22C1/04—Making non-ferrous alloys by powder metallurgy
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
- C22C—ALLOYS
- C22C12/00—Alloys based on antimony or bismuth
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
- C22C—ALLOYS
- C22C32/00—Non-ferrous alloys containing at least 5% by weight but less than 50% by weight of oxides, carbides, borides, nitrides, silicides or other metal compounds, e.g. oxynitrides, sulfides, whether added as such or formed in situ
- C22C32/001—Non-ferrous alloys containing at least 5% by weight but less than 50% by weight of oxides, carbides, borides, nitrides, silicides or other metal compounds, e.g. oxynitrides, sulfides, whether added as such or formed in situ with only oxides
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N10/00—Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects
- H10N10/01—Manufacture or treatment
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N10/00—Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects
- H10N10/10—Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects operating with only the Peltier or Seebeck effects
- H10N10/17—Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects operating with only the Peltier or Seebeck effects characterised by the structure or configuration of the cell or thermocouple forming the device
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N10/00—Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects
- H10N10/80—Constructional details
- H10N10/85—Thermoelectric active materials
- H10N10/851—Thermoelectric active materials comprising inorganic compositions
- H10N10/853—Thermoelectric active materials comprising inorganic compositions comprising arsenic, antimony or bismuth
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N10/00—Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects
- H10N10/80—Constructional details
- H10N10/85—Thermoelectric active materials
- H10N10/857—Thermoelectric active materials comprising compositions changing continuously or discontinuously inside the material
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
- B22F9/00—Making metallic powder or suspensions thereof
- B22F9/02—Making metallic powder or suspensions thereof using physical processes
- B22F9/04—Making metallic powder or suspensions thereof using physical processes starting from solid material, e.g. by crushing, grinding or milling
- B22F2009/048—Making metallic powder or suspensions thereof using physical processes starting from solid material, e.g. by crushing, grinding or milling by pulverising a quenched ribbon
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
- B22F2998/00—Supplementary information concerning processes or compositions relating to powder metallurgy
- B22F2998/10—Processes characterised by the sequence of their steps
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
- B22F2999/00—Aspects linked to processes or compositions used in powder metallurgy
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y30/00—Nanotechnology for materials or surface science, e.g. nanocomposites
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01P—INDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
- C01P2002/00—Crystal-structural characteristics
- C01P2002/01—Crystal-structural characteristics depicted by a TEM-image
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01P—INDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
- C01P2002/00—Crystal-structural characteristics
- C01P2002/70—Crystal-structural characteristics defined by measured X-ray, neutron or electron diffraction data
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01P—INDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
- C01P2004/00—Particle morphology
- C01P2004/01—Particle morphology depicted by an image
- C01P2004/03—Particle morphology depicted by an image obtained by SEM
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01P—INDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
- C01P2004/00—Particle morphology
- C01P2004/01—Particle morphology depicted by an image
- C01P2004/04—Particle morphology depicted by an image obtained by TEM, STEM, STM or AFM
Definitions
- waste heat energy that is discarded without being used is called unused waste heat energy or the like. If unused waste heat energy can be efficiently used and recovered, it will reduce the energy consumption of the entire social system, and will greatly contribute to the solution of environmental problems such as energy problems and global warming.
- Thermoelectric power generation systems that convert thermal energy into electrical energy have attracted attention in the sense of recycling unused waste heat energy.
- the thermoelectric generation system includes a thermoelectric conversion module having a plurality of elements in which an n-type thermoelectric conversion material having electrons as carriers and a p-type thermoelectric conversion material having holes (holes) as carriers are connected via a conductive material. Power generation system using When a temperature gradient is generated between one of the thermoelectric conversion modules and the other, electrons in the high temperature region are activated (the kinetic energy is increased) in the n-type thermoelectric conversion material, and electrons are conducted to the low temperature region to cause heat generation. Electric power is generated, and the high temperature side has a high potential.
- thermoelectric conversion material filled with only Ba described in Non-Patent Document 1 has a problem that the dimensionless performance index ZT is low because the electrical conductivity ⁇ is low and the thermal conductivity ⁇ is high. Also, even if a high ZT is obtained as in Non Patent Literatures 1 and 2 and Patent Literature 1, introducing active materials such as Ba, La, and Sr significantly reduces the reliability. It occurs. In addition, in order to obtain the product of nonpatent literature 3 as mentioned above, long-time annealing is required, and it is not suitable for mass production.
- thermoelectric conversion module which concerns on this embodiment.
- FIG. 4 shows the state before the upper substrate is attached.
- FIG. 5 shows the state after the upper substrate is attached.
- FIG. 5 shows the state after the upper substrate is attached.
- FIG. 5 shows the state after the upper substrate is attached.
- FIG. 5 shows the state after the upper substrate is attached.
- FIG. 5 shows the state after the upper substrate is attached.
- FIG. 5 shows the state after the upper substrate is attached.
- FIG. 5 shows the state after the upper substrate is attached.
- FIG. 5 shows the state after the upper substrate is attached.
- FIG. 5 shows the state after the upper substrate is attached.
- FIG. 5 shows the state after the upper substrate is attached.
- FIG. 5 shows the state after the upper substrate is attached.
- FIG. 5 shows the state after the upper substrate is attached.
- FIG. 5 shows the state after the upper substrate is attached.
- FIG. 5 shows the state after the upper substrate is attached.
- FIG. 5 shows the state after the upper substrate is attached.
- FIG. 5 shows the state after the upper substrate is attached.
- FIG. 5 shows the state after the upper substrate is attached.
- 16 is an EPMA image of a sample pertaining to 16;
- (a) is an EPMA image, and (b) to (e) show the results of element mapping performed for Yb, Co, Sb, and O, respectively.
- Each scale bar below (a) to (e) shows 50 ⁇ m.
- No. 1 which is a comparative example.
- 10 is an EPMA image of a sample according to No. 3;
- (a) is an EPMA image, and (b) to (e) show the results of element mapping performed for Yb, Co, Sb, and O, respectively.
- Each scale bar below (a) to (e) shows 50 ⁇ m. No. which is an Example.
- the skutterudite-type crystal structure comprising Yb, Co and Sb has a crystal structure (cubic crystal) in which Co is surrounded by an octahedral structure of Sb sharing a vertex, and a gap of the crystal structure And Yb-filled (referred to as filled skutterudite structure etc.).
- a crystal structure of skutterudite type comprising Yb, Co and Sb
- one represented by the composition formula Yb x Co 4 Sb 12 (where x is more than 0 and not more than 0.3) is preferable. It can be used.
- 0.1 or more are preferable and 0.2 or more are more preferable.
- x is preferably less than 0.3.
- a polycrystalline grain 11 composed of crystal grains having such a crystal structure, preferably a polycrystalline grain 11 composed of crystal grains of the crystal structure represented by the composition formula described above is a thermoelectric conversion material It functions suitably as 1.
- the size of the polycrystalline grain 11 is preferably, for example, 10 to 500 ⁇ m in maximum length.
- the maximum length refers to, for example, the length between the most distant two points that can be taken in one polycrystalline grain 11 in an image taken by an electron micrograph or the like.
- the size of the polycrystalline grains 11 can be controlled, for example, by appropriately changing the grinding time or the like at the time of grinding the ribbon.
- the polycrystalline grains 11 are formed including, as a metallographic structure, a large number of crystal grains having a skutterudite-type crystal structure containing Yb, Co and Sb described above.
- each crystal grain has a different atomic orientation in each other, a region in which the atomic structure of the crystal structure is disordered between adjacent crystal grains, that is, a grain boundary (grain boundary) is formed.
- the size of the crystal grains constituting the polycrystalline grains 11 is preferably, for example, 1 to 50 ⁇ m, but is not limited to this range. When the grain size is in this range, high compactness can be obtained.
- the size of the crystal grains can be controlled, for example, by appropriately changing the quenching rate in the ribbon manufacturing process, and the heat treatment temperature in the first heat treatment process, the second heat treatment process, and the pressure sintering process.
- thermoelectric conversion material 1 is present between the plurality of polycrystalline grains 11 and the adjacent polycrystalline grains 11, and the atomic ratio of O to Yb is greater than 0.4 and less than 1.5. And the intergranular layer 12.
- the atomic ratio of O to Yb of the crystals 13 precipitated in the intergranular layer 12 is preferably 1 or less, more preferably 0.7 or less, and still more preferably 0.67 or less.
- crystals 13 having a high ratio of metal Yb are obtained while containing oxides of Yb.
- the reason for this is, for example, the stable oxidation with oxygen defects due to the fact that oxygen is released from the bonding of a very stable Yb oxide having a low electrical conductivity ⁇ and thermal conductivity ⁇ such as Yb 2 O 3. It is thought that it is because a thing is produced. Furthermore, in order to ensure electrical neutrality, the Yb oxide having this defect needs to generate electrons, which is considered to necessarily increase the electrical conductivity.
- thermoelectric conversion material 1 includes a large number of polycrystalline grains 11 having a skutterudite-type crystal structure including Yb, Co and Sb, and adjacent polycrystalline grains 11. And an intergranular layer 12 having crystals 13 having an atomic ratio of O to Yb of more than 0.4 and less than 1.5. Further, in the thermoelectric conversion material 1 according to the present embodiment, no active material such as Ba, La, or Sr is introduced. Therefore, the thermoelectric conversion material 1 according to the present embodiment has a high dimensionless figure of merit ZT and a high reliability.
- thermoelectric conversion module 10 generates a temperature gradient in the same direction with respect to the thermoelectric conversion material 1 and the thermoelectric conversion material 2 of the negative phase, for example, by bringing the upper substrate 6 into contact with heating or high heat. It can be done. Thereby, the thermoelectric conversion material 2 and the thermoelectric conversion material 2 of the reverse phase generate a thermoelectromotive force by the Seebeck effect. At this time, in the thermoelectric conversion material 2 having a phase opposite to that of the thermoelectric conversion material 1, a thermoelectromotive force is generated in the opposite direction to the temperature gradient, and the thermoelectromotive force is added without being canceled. Therefore, the thermoelectric conversion module 10 can generate a large thermoelectromotive force.
- FIG. 6 is a flowchart showing the contents of the method for producing a thermoelectric conversion material (hereinafter simply referred to as the present production method) according to the present embodiment.
- This manufacturing method is, for example, a manufacturing method for manufacturing the thermoelectric conversion material 1 according to the above-described embodiment.
- the weighing step S1 is a step of weighing each of a raw material containing Yb, a raw material containing Co, and a raw material containing Sb.
- the weighing of these raw materials can be performed using a general weighing machine.
- the form of the raw material may be any. That is, the raw material may be, for example, ore, scrap material, etc., or it may be a previously purified product of high purity.
- the contents of Yb, Co and Sb are analyzed in advance, and the composition formula of the raw material after weighing is Yb x Co 4 Sb 12 (based on the analysis. However, it is preferable to measure so that x becomes more than 0 and 0.3 or less.
- any one of these embodiments can prevent excessive (more than necessary) oxidation of the raw material, it is preferable to carry out all of them. As described later, in the present embodiment, excessive oxidation is not preferable, but after oxidizing the surface of the ribbon only to a slight degree of oxidation, heat treatment is performed in the second heat treatment step S5 to form an intergranular layer. The electric resistance can be reduced by reducing a part of the oxide of Yb of the crystal 13 deposited on 12.
- the mixing step S2 is a step of dissolving and mixing the above-described raw materials.
- the dissolution of the raw material is performed, for example, at 1020 ° C. or higher, preferably at 1050 ° C. or higher.
- the melting of the raw material is performed at 1300 ° C. or less, more preferably at 1100 ° C. or less, from the viewpoint of cost and maintenance of the heating device.
- Dissolution of the raw material is preferably carried out by holding at the above temperature for several hours to several tens of hours, and then quenching. For example, after dissolution of the raw material is maintained at the above temperature for 20 hours, it is preferable to place it in water cooled to 20 ° C. or lower for rapid cooling.
- the ribbon manufacturing step S3 is a step of rapidly solidifying the molten metal of the raw material described above by a liquid rapid solidification method to produce a ribbon.
- the liquid rapid solidification method is a method in which a molten metal (molten metal) is dropped onto a rotating metal roll and cooled rapidly from the nucleation rate of crystals to produce a ribbon of amorphous metal.
- the thickness of the ribbon obtained in the ribbon preparation step S3 is preferably 10 to 200 ⁇ m. When the thickness of the ribbon is in this range, the uniformity of the structure is high, and the degree of oxidation is easy to control.
- the ribbon preparation step S3 is also performed in an inert atmosphere as described above.
- a heat resistant container such as a graphite crucible in a closed work apparatus (oxygen concentration 0.1 to 100 ppm by volume).
- oxygen concentration in a heat resistant container can be made low, it is preferable to use a thing of deep depth dimension of a heat resistant container.
- the depth dimension of the lid of the heat-resistant container is preferably, for example, 5 to 10 cm.
- a getter material such as metal Ti.
- the atomic ratio of O to Yb of the crystal 13 precipitated in the intergranular layer 12 can be made more than 0.4 and less than 1.5. Accordingly, the electric conductivity ⁇ can be increased while the thermal conductivity ⁇ of the thermoelectric conversion material 1 is decreased, and the dimensionless performance index ZT can be increased.
- the inert atmosphere may include, for example, an atmosphere of at least one of nitrogen and argon, but is not limited thereto.
- the adjustment of the oxygen concentration in the inert atmosphere can be performed, for example, by using a mixed gas of hydrogen and argon, a mixed gas of hydrogen and nitrogen, or hydrogen alone.
- the inert atmosphere may contain water vapor. The presence of water vapor promotes oxidation slightly.
- the polycrystalline grains 11 obtained by grinding preferably have a median diameter (d50) of 10 to 100 ⁇ m.
- d50 median diameter
- the ribbon can be ground, for example, by using a mortar and pestle, or by using a ball mill, a rod mill, a high pressure grinding roll, a vertical axis impactor mill, a jet mill or the like.
- the ratio can be increased.
- oxygen is released from bonding of a very stable Yb oxide having low electrical conductivity ⁇ and thermal conductivity ⁇ such as Yb 2 O 3 It is considered that this is because a stable oxide having oxygen defects is formed. Furthermore, in order to ensure electrical neutrality, the Yb oxide having this defect needs to generate electrons, which is considered to necessarily increase the electrical conductivity. Therefore, the electric conductivity ⁇ can be increased while reducing the thermal conductivity ⁇ of the thermoelectric conversion material 1 heat-treated in the second heat treatment step S5, and as a result, when the dimensionless performance index ZT becomes high. Conceivable.
- part or all of the crystalline Yb suboxide produced on the surface of the polycrystalline grains 11 in the first heat treatment step S4 is kept electrically neutral. It can be said that this is a step of heat treatment to the extent that conduction electrons are generated.
- the second heat treatment step S5 is also preferably performed in a closed work apparatus (oxygen concentration 0.1 to 100 ppm).
- the second heat treatment step S5 is preferably performed by a pressure sintering apparatus that performs pressure sintering.
- the second heat treatment step S5 and the pressure sintering step S6 can be performed continuously in the same furnace. Therefore, the oxidation reaction of the polycrystalline grain 11 heat-treated in the second heat treatment step S5 can be suppressed.
- the atmosphere of at least one of nitrogen and argon can be mentioned, for example, it is not limited to this.
- This operation is repeated twice or more, and it is preferable to set the hydrogen concentration to 3% by volume or 100% by volume as described above after finishing the final evacuation. Then, when the gas pressure in the pressure sintering apparatus reaches 0.1 to 0.6 MPa (1 to 6 atm) in gauge pressure, heat treatment is performed at about 400 to 600 ° C. for 1 to 6 hours, and then cooling is performed.
- the pressure sintering process S6 is a process of manufacturing the thermoelectric conversion material 1 according to the present embodiment described above by pressure sintering the polycrystalline grains 11 subjected to the heat treatment in the second heat treatment process S5 in an inert atmosphere. . That is, after the second heat treatment step S5, the pressure sintering step S6 is subjected to pressure sintering without being exposed to the oxidizing atmosphere (for example, the atmosphere) until the pressure sintering step S6 is finished. It is a process of manufacturing the thermoelectric conversion material 1 which concerns. Inert means that it is not oxidative. Such an inert atmosphere can be suitably embodied, for example, by discharging oxygen in the atmosphere from the inside of the furnace by repeating vacuum evacuation to 10 Pa or less and substituting Ar gas three times.
- the pressure sintering step S6 it is preferable to replace the reducing atmosphere with an inert atmosphere before performing the pressure sintering.
- the reducing atmosphere in the pressure sintering apparatus is evacuated to about 10 Pa and then replaced with an inert atmosphere. At this time, it is preferable to operate the pressure sintering apparatus without opening it to the atmosphere.
- the inert atmosphere may include, for example, an atmosphere of at least one of nitrogen and argon, but is not limited thereto.
- the inert atmosphere is preferably an argon atmosphere.
- a pressure sintering apparatus for example, a hot press can be used.
- the inside of the pressure sintering apparatus is heated, for example, at a temperature rising rate of 300 to 600 ° C./h and held at 600 to 800 ° C. for 1 hour. At this time, pressure is applied at the same temperature as the temperature rising rate so that the pressure at the keeping temperature is, for example, 50 to 70 MPa, specifically, for example, 68 MPa.
- cooling is performed at a cooling rate of 500 ° C./h or less, and depressurization is performed. Cooling is preferably performed by natural cooling in a pressure sintering apparatus.
- the thermoelectric conversion material 1 according to the present embodiment described above can be suitably manufactured by the operation up to this point.
- thermoelectric conversion material 1 manufactured from the pressure sintering apparatus is taken out together with the carbon mold, and the thermoelectric conversion material 1 (sintered body) is taken out from the heat resistant container. After removing debris on the surface of the thermoelectric conversion material 1, it is cut into an arbitrary size and shape by a precision processing machine. These tasks can be done in the air. It is preferable to use a precision processing machine equipped with a diamond blade. In addition, the Seebeck coefficient, the electrical conductivity, the specific heat, the thermal conductivity, and the like can be measured by a conventional method as necessary.
- thermoelectric conversion material 1 which has 12 and can be manufactured.
- the method for producing a thermoelectric conversion material according to this embodiment does not introduce an active material such as Ba, La, or Sr in the production process.
- the method for producing a thermoelectric conversion material according to the present embodiment can produce a thermoelectric conversion material 1 having a high dimensionless figure of merit ZT and a high reliability. Then, in the method of manufacturing the thermoelectric conversion material according to the present embodiment, the second heat treatment is performed because the atomic ratio of O to Yb of the crystal 13 contained in the intergranular layer 12 is greater than 0.4 and less than 1.5. Since step S5 is performed, the heat treatment time (annealing time) in the first heat treatment step S4 can be shortened. Therefore, the method of manufacturing the thermoelectric conversion material according to the present embodiment is superior in mass productivity to the conventional method.
- composition was analyzed by an ICP inductively coupled plasma analyzer (ICPS-8100 manufactured by Shimadzu Corporation).
- the structure was analyzed by an electron beam microanalyzer (EPMA 1610 manufactured by Shimadzu Corporation).
- the acceleration voltage was 15 kV
- the current was 100 nA
- the beam diameter was 10 ⁇ m
- the average value of five points was determined.
- the resistance distribution was observed with a scanning probe microscope (NanoScope IVa AFM manufactured by Bruker AXS Digital Instruments). The scanning probe microscope was used to simultaneously measure the contact mode and the spreading resistance. The probe of the scanning probe microscope employed a diamond-coated silicon cantilever. The samples were cross-sectioned by mechanical polishing, and each layer of the device was shorted so that a common bias voltage could be applied. The measurement was performed at room temperature in the air.
- the Seebeck coefficient and the electrical conductivity were measured by Advance Riko ZEM-3. The measurement conditions of the Seebeck coefficient and the electrical conductivity were measured under standard measurement conditions recommended by the device manufacturer.
- the sample is processed into a shape having two end faces, and the Seebeck coefficient heats the end face of the sample with a differential temperature heater to make a temperature difference between both ends of the sample and the temperature difference between the probe thermocouples pressed against the side of the sample
- the electromotive force was measured.
- the electrical resistance was measured by the DC four-terminal method.
- the thermal conductivity was calculated from the specific heat, the thermal diffusivity and the density.
- the specific heat was measured by an input-compensated differential scanning calorimeter, Pyris 1, manufactured by Perkin-Elmer, the thermal diffusivity was measured by LFA 467, manufactured by NETZSCH, which performs a laser flash method, and the density was measured by the Archimedes method.
- the dimensionless performance index ZT was calculated from the Seebeck coefficient, the thermal conductivity, and the electrical conductivity obtained by measurement according to the above-mentioned equation (1).
- Table 1 shows the atmosphere in the furnace for heat treatment, the oxygen concentration, and the shape of the graphite crucible used in the annealing furnace and the shape of the lid thereof. Then, the quenched ribbon subjected to the heat treatment was taken out in a glove box, and crushed with a mortar and pestle to produce a ground powder (polycrystalline particles) having a d50 of 10 to 100 ⁇ m. The resulting polycrystalline grains were weighed in a glove box, loaded into a carbon mold in a draft, and introduced into a hot press.
- Oxygen concentration volume ppm
- Seebeck coefficient S absolute value
- W / mK thermal conductivity
- S / m electrical conductivity
- No. 1 as a comparative example.
- the samples according to 1 to 9 were not subjected to pressure sintering pretreatment (second heat treatment step S5) in the operation [3], and Ar gas substitution was not performed in the pressure sintering step. . Therefore, as shown in Table 2, these samples had a dimensionless figure of merit ZT of less than 1.05, resulting in poor results.
- No. 1 which is a comparative example.
- the sample according to No. 7 may not have successfully replaced the air in the graphite crucible with argon, which is presumed to have caused the oxygen concentration of the sintered body to be extremely high.
- the samples according to 10 to 34 had good results of the dimensionless figure of merit ZT. From these facts, these samples have a crystal structure of skutterudite type, and a thermoelectric conversion module having a plurality of elements in which a sample having a reverse phase to these samples is connected via a conductive material If manufactured, the dimensionless performance index ZT can be high (the thermoelectric conversion efficiency is good).
- FIG. 7 shows No. 1 as an example.
- 10 is an EPMA image of a sample according to 10;
- (a) is an EPMA image, and (b) to (e) show the results of element mapping performed for Yb, Co, Sb, and O, respectively.
- FIG. 8 shows No. 1 as an example.
- 16 is an EPMA image of a sample pertaining to 16;
- (a) is an EPMA image, and (b) to (e) show the results of element mapping performed for Yb, Co, Sb, and O, respectively.
- FIG. 9 shows No. 1 as a comparative example.
- 10 is an EPMA image of a sample according to No. 3;
- (a) is an EPMA image, and (b) to (e) show the results of element mapping performed for Yb, Co, Sb, and O, respectively.
- Yb and Sb are distributed at high concentration at the outer edge of each polycrystalline grain, and the contour can be clearly confirmed.
- FIG. 7 and FIG. 8 in the example, Yb and Sb are uniformly distributed inside the polycrystalline grain, and the contour can not be clearly confirmed.
- Such a state in the example is obtained by performing predetermined heat treatment (first heat treatment step S4 and second heat treatment step S5) before pressure sintering.
- first heat treatment step S4 and second heat treatment step S5 before pressure sintering.
- the point of pressure sintering of polycrystalline grains is the same, it is considered that the shape and distribution are similar to those of the comparative example. Further, as shown in FIGS. 7-9, the individual shapes of the polycrystalline grains are elongated and oriented in a substantially constant direction. This is considered to be obtained by pressure sintering. And since the shape of the polycrystalline grain is long and thin in this way, it is considered that the electrical conductivity, the thermal conductivity, etc. have anisotropy.
- FIG. 10 shows an example No. 1 as an example. It is a figure which shows the transmission electron microscope (TEM) photograph of the sample which concerns on 10, and the result of element mapping.
- FIG. 10 is a TEM photograph of a sample according to 10, and (b) to (e) show the results of elemental mapping performed for Co, Sb, Yb, and O, respectively.
- the white part indicates that the concentration of the element to be mapped is high
- the black part indicates that the concentration of the element to be mapped is low.
- FIGS. 10 (a) to 10 (e) intergranular layers extending in a certain direction (vertical direction) from the surface of the thermoelectric conversion material can be confirmed in the vicinity of the center of each photograph.
- FIG. 11A shows an example No. 1A. It is a figure which shows the TEM photograph of the sample which concerns on 29, and the electron-beam-diffraction pattern of the part circled with a dotted line in the same figure.
- analysis was performed by the energy dispersive X-ray analyzer (EDX) at positions 1 to 5.
- EDX energy dispersive X-ray analyzer
- FIGS. 11A and 11B positions 1 to 3 were Yb ⁇ O rich, and the atomic ratio of O to Yb was about 0.5. That is, positions 1 to 3 were Yb 2 O.
- position 5 was considered to be the main phase, and contained a large amount of Sb and Co.
- position 5 was a skutterudite-type crystal structure (predetermined crystal grain) including Yb, Co and Sb.
- position 4 since the amount of Yb is slightly smaller than position 5, the phase formed by taking Yb from the precipitated Yb phase (main phase) (that is, Yb having Yb defects) Phase) is considered to be.
- FIG. 12A is a comparative example of No. 1 and FIG. It is a figure which shows the TEM photograph of the sample which concerns on 7, and the electron-beam-diffraction pattern of the part circled with a dotted line in the same figure.
- FIG. 12B is a comparative example of No. 1 and FIG. It is a figure which shows the TEM photograph of the sample which concerns on 7, and the electron-beam-diffraction pattern of the part circled with a dotted line in the same figure.
- the analysis by EDX was performed at positions 1 to 4 in FIGS. 12A and 12B. The results are shown in the table of FIG. 12C. As shown in FIGS.
- position 1 was Yb-rich and the atomic ratio of O to Yb was about 0.1.
- Position 2 is a portion (predetermined crystal grain) considered to be the main phase, and contains a large amount of Sb and Co.
- Positions 3 and 4 were Yb ⁇ O-rich, but the atomic ratio of O to Yb was 0.4 (rounded down to the second decimal place). That is, positions 3 and 4 were Yb 2.5 O.
- FIG. 13 is an example of No. 1 embodiment. It is a figure which shows the TEM photograph and electron beam diffraction pattern of a sample which concern on (10).
- (a) is a TEM photograph.
- (B) is an electron beam diffraction pattern concerning a portion (predetermined crystal grain) of position 1 in (a).
- (C) is an electron diffraction pattern concerning a portion (intergranular layer) at position 2 in (a).
- (D) is an electron diffraction pattern relating to the portion at position 3 in (a) (the interface -a of the intergranular layer).
- E is an electron diffraction pattern of the portion at position 3 in (a) (the interface -b of the intergranular layer).
- FIG. 14 (a) to 14 (c) are diagrams showing electron diffraction patterns and identification results from simulation.
- the electron beam diffraction pattern of FIG. 14 (b) is slightly deviated in surface spacing, and the electron beam diffraction pattern of FIG. Not.
- thermoelectric conversion material Since the coincidence between the electron beam diffraction pattern of FIG. 13 (b) and the electron beam diffraction pattern of FIG. 14 (a) is high, predetermined crystal grains constituting polycrystalline grains of the thermoelectric conversion material according to the embodiment are It turned out that it is equivalent to CoSb 3 . Further, since the electron beam diffraction patterns of FIG. 13C and FIG. 13D have high coincidence with the electron beam diffraction pattern of FIG. 14B, in the thermoelectric conversion material according to the example, adjacent polycrystalline grains are some of the intergranular layer between have been found to be equivalent to Yb 2 O 3. That is, it was found that the atomic ratio of O to Yb was 1.5 or a value close to this (for example, less than 1.5).
- FIG. 15A shows No. 1 as a comparative example. It is a SEM photograph of the high resistance part of the sample which concerns on 7.
- FIG. And FIG. 15B is a graph which shows the result of the high sensitivity line analysis performed about the line analysis position shown to FIG. 15A. These results are observed for the purpose of analyzing the component composition of the high resistance phase shown in FIG. 3 with high sensitivity. As shown in FIG. 15B, it can be confirmed from the comparison of the detected X-ray peak intensities that the component composition of the high resistance phase, that is, the high oxygen concentration precipitate (see FIG. 15A) is Yb 2 O 3 .
- CoSb 2 (which is also the main phase) changed from Co 4 Sb 12 which is the main phase was present in the vicinity of Yb (specifically, Yb oxide) .
- CoSb 2 is, Co 4 Sb 12 not only mechanical damage caused by the stress generated from such movement changes and oxygen atoms in the crystal structure for easily oxidized than, compared to Co 4 Sb 12 as the active material having a high Since it can work, the electric conductivity also changes with the time-dependent change of the oxidation amount of CoSb 2 or the like, and the reliability is considered to be lowered.
- thermoelectric conversion material concerning the present invention, the thermoelectric conversion module, and the thermoelectric conversion material was explained in detail by the embodiment and the example, the present invention is not limited to the above-mentioned embodiment and the example , Various modifications are included.
- thermoelectric conversion material 11 polycrystal grain 12 intergranular layer 13 crystal 2 reverse phase thermoelectric conversion material 3 electroconductive material 3a 1st electroconductive material 3b 2nd electroconductive material 4 element 5 lower substrate 6 upper substrate 7 1st wiring 8 Second wiring
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Powder Metallurgy (AREA)
- Continuous Casting (AREA)
- Manufacture Of Metal Powder And Suspensions Thereof (AREA)
Abstract
無次元性能指数ZTが高い熱電変換材料、熱電変換モジュールおよび熱電変換材料の製造方法を提供する。本発明に係る熱電変換材料(1)は、Yb、CoおよびSbを含んでなるスクッテルダイト型の結晶構造を有する多数の多結晶体粒(11)と、隣り合う前記多結晶体粒(11)の間に存在し、Ybに対するOの原子比が0.4を超え1.5未満の結晶(13)を有する粒間層(12)と、を有することとしている。本発明に係る熱電変換材料の製造方法は、秤量工程(S1)と、混合工程(S2)と、前記素原料の溶湯を液体急冷凝固法により急冷凝固してリボンを作製するリボン作製工程(S3)と、酸素濃度を調節した不活性雰囲気中で熱処理する第1熱処理工程(S4)と、還元雰囲気中で熱処理する第2熱処理工程(S5)と、不活性雰囲気中で加圧焼結して前記熱電変換材料(1)を製造する加圧焼結工程(S6)と、を含む。
Description
本発明は、熱電変換材料、熱電変換モジュールおよび熱電変換材料の製造方法に関する。
現在、火力発電所などの大型発電システム、鉄鋼関連炉、ごみ焼却場、化石燃料エンジンで走行する自動車などから膨大な量の熱エネルギーが排出されている。排出される熱エネルギーの一部は給湯や暖房の熱源などとして利用されているが、殆どが利用されずに捨てられている。利用されずに捨てられている排熱エネルギーは、未利用排熱エネルギーなどと呼称されている。未利用排熱エネルギーを効率的に利用・回収等できれば、社会システム全体のエネルギー消費の低減に繋がり、エネルギー問題や地球温暖化などの環境問題の解決に大きく貢献できる。
熱エネルギーを電気エネルギーに変換する熱電発電システムは、未利用排熱エネルギーの再資源化という意味で注目されてきた。熱電発電システムは、電子をキャリアとして持つn型の熱電変換材料と、ホール(正孔)をキャリアとして持つp型の熱電変換材料とを、導電材を介して接続した素子を複数有する熱電変換モジュールを用いた発電システムである。熱電変換モジュールの一方と他方との間に温度勾配が生じると、n型の熱電変換材料では高温領域の電子が活性化され(運動エネルギーが増え)、低温度領域へ電子が伝導して熱起電力が発生し、高温側が高電位になる。一方、p型の熱電変換材料では高温領域の正孔が活性化され、低温領域に正孔が移動して熱起電力を発生し、低温側が高電位となる。n型の熱電変換材料とp型の熱電変換材料とを導電材を介して接続すると、これらの間に電流が流れ(ゼーベック効果と呼ばれている)、一種の電池のようにふるまう。熱電発電システムはこのようにして得た電気エネルギーを供給するものである。
つまり、熱電変換モジュールに用いられる熱電変換材料は、固体による直接エネルギー交換を行うものであり、炭酸ガスの排出がなく、フルオロカーボンガスなどの冷媒を用いて冷却する必要もない。したがって、環境と共生するエネルギー技術として、近年、その価値が見直されている。
熱電変換材料に関する技術が、例えば、非特許文献1~3や特許文献1に掲載されている。
非特許文献1には、BaxRyCo4Sb12(R=La、Ce、およびSr)の多結晶二成分充填スクッテルダイトの低温輸送特性が報告されている。
非特許文献2には、複数の共充填材Ba、La、およびYbを有するスクッテルダイトCoSb3が合成され、850Kで非常に高い熱電性能指数(無次元性能指数)ZT=1.7が実現されたと報告されている。
非特許文献3には、高性能n型YbxCo4Sb12(x=0.2~0.6)充填スクッテルダイトについて研究したところ、Yb0.3Co4Sb12の850Kでの最大ZTは1.5であったと報告されている。なお、非特許文献3には、前記生成物を得るため、750℃で168h(7日間)ものアニーリングを行った旨の記載がある。また、非特許文献3には、アニーリング後に粉末X線回折分析(Powder X-ray diffraction;XRD)を行った結果、Yb2O3やYbSb2が生成されていた旨の記載がある。
非特許文献1には、BaxRyCo4Sb12(R=La、Ce、およびSr)の多結晶二成分充填スクッテルダイトの低温輸送特性が報告されている。
非特許文献2には、複数の共充填材Ba、La、およびYbを有するスクッテルダイトCoSb3が合成され、850Kで非常に高い熱電性能指数(無次元性能指数)ZT=1.7が実現されたと報告されている。
非特許文献3には、高性能n型YbxCo4Sb12(x=0.2~0.6)充填スクッテルダイトについて研究したところ、Yb0.3Co4Sb12の850Kでの最大ZTは1.5であったと報告されている。なお、非特許文献3には、前記生成物を得るため、750℃で168h(7日間)ものアニーリングを行った旨の記載がある。また、非特許文献3には、アニーリング後に粉末X線回折分析(Powder X-ray diffraction;XRD)を行った結果、Yb2O3やYbSb2が生成されていた旨の記載がある。
また、特許文献1には、希土類金属R(ただし、RはLa、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Ybのうちの少なくとも1種)、遷移金属T(ただし、TはFe、Co、Ni、Os、Ru、Pd、Pt、Agのうちの少なくとも1種)、金属アンチモン(Sb)からなる合金原料を溶解し、その溶湯をストリップキャスト法により急冷凝固することを特徴とするフィルドスクッテルダイト系合金の製造方法が記載されている。
この特許文献1には、ほぼ均一なフィルド(充填)スクッテルダイト系合金が、ストリップキャスト法を用いた鋳造法により大量に簡便に生産できる、と記載されている。また、この特許文献1には、製造されたフィルドスクッテルダイト系合金は、粉砕および焼結の工程を省略してそのまま熱電変換素子に用いることができるために、熱電変換素子の生産コストが大幅に低減できる、と記載されている。
この特許文献1には、ほぼ均一なフィルド(充填)スクッテルダイト系合金が、ストリップキャスト法を用いた鋳造法により大量に簡便に生産できる、と記載されている。また、この特許文献1には、製造されたフィルドスクッテルダイト系合金は、粉砕および焼結の工程を省略してそのまま熱電変換素子に用いることができるために、熱電変換素子の生産コストが大幅に低減できる、と記載されている。
J. Yang, et al., "Dual-frequency resonant phonon scatteringin BaxRyCo4Sb12(R=La, Ce and Sr)", Applied Physics Letters 90, 192111, (2007)
Xun Shi, et al., "Multiple-filled Skutterudites: High Thermoelectric Figure of Merit through Separately Optimizing Electrical and Thermal Transports", J. Am. Chem. Soc., 133 (2011), p7837-7846
Shanyu Wang, et al., "High-performance n-type YbxCo4Sb12: from partially filled skutterudite towards composite thermoelectrics", NPG Asia Materials (2016) 8, e285, p1-11
熱電変換材料の性能は、無次元性能指数ZTと呼ばれる量で評価されており、ZTが1よりも大きいことが実用化の目安とされている。なお、ZT≒1の熱電変換材料では理論発電効率は約9%であると言われている。
ZT=S2σT/κ …(1)
ここで、前記式(1)において、S:ゼーベック係数、σ:電気伝導率、κ:熱伝導率、T:絶対温度である。
ここで、前記式(1)において、S:ゼーベック係数、σ:電気伝導率、κ:熱伝導率、T:絶対温度である。
前記式(1)に示されているように、性能の良い、すなわち、高効率の熱電変換材料とは、電気伝導率σおよびゼーベック係数Sが大きく、熱伝導率κが小さい材料である。しかし、一般的に、熱電変換材料は、電気伝導率σが高い材料ほど熱伝導率κが高く、電気伝導率σが低い材料ほど熱伝導率κが低くなる相関関係があるため、無次元性能指数ZTを高くするのは困難なことである。
非特許文献1に記載のBaのみを充填した熱電変換材料には、電気伝導率σが低く、熱伝導率κが高いため、無次元性能指数ZTが低いという問題がある。また、非特許文献1、2および特許文献1のようにして仮に高いZTが得られたとしても、BaやLa、Srのような活性な材料を導入することは信頼性を著しく低下させる問題も生じる。なお、非特許文献3に記載の生成物を得るには、前記したように長時間のアニーリングが必要であり、量産には向かない。
本発明は前記状況に鑑みてなされたものであり、無次元性能指数ZTが高く、かつ信頼性も高い熱電変換材料、熱電変換モジュールおよび熱電変換材料の製造方法を提供することを課題とする。
本発明の課題は以下の手段によって達成される。
本発明に係る熱電変換材料は、Yb、CoおよびSbを含んでなるスクッテルダイト型の結晶構造を有する多数の多結晶体粒と、隣り合う前記多結晶体粒の間に存在し、Ybに対するOの原子比が0.4を超え1.5未満の結晶を有する粒間層と、を有するものとしている。
本発明に係る熱電変換材料は、Yb、CoおよびSbを含んでなるスクッテルダイト型の結晶構造を有する多数の多結晶体粒と、隣り合う前記多結晶体粒の間に存在し、Ybに対するOの原子比が0.4を超え1.5未満の結晶を有する粒間層と、を有するものとしている。
本発明に係る熱電変換モジュールは、前記した本発明に係る熱電変換材料と、スクッテルダイト型の結晶構造を有し、前記熱電変換材料とは逆相の熱電変換材料とを、導電材を介して接続した素子を複数有する。
本発明に係る熱電変換材料の製造方法は、Ybを含む素原料、Coを含む素原料およびSbを含む素原料をそれぞれ秤量する秤量工程と、前記素原料を溶解して混合する混合工程と、前記素原料の溶湯を液体急冷凝固法により急冷凝固してリボンを作製するリボン作製工程と、作製した前記リボンに対して、酸素濃度を調節した不活性雰囲気中で熱処理を行う工程と、粉砕する工程と、を有し、多結晶体粒とする第1熱処理工程と、前記第1熱処理工程で熱処理した多結晶体粒を還元雰囲気中で熱処理する第2熱処理工程と、前記第2熱処理工程で熱処理した多結晶体粒を不活性雰囲気中で加圧焼結して熱電変換材料を製造する加圧焼結工程と、を含むこととしている。
本発明によれば、無次元性能指数ZTが高く、かつ信頼性も高い熱電変換材料、熱電変換モジュールおよび熱電変換材料の製造方法を提供できる。
次に、適宜図面を参照して本発明に係る熱電変換材料、熱電変換モジュールおよび熱電変換材料の製造方法の一実施形態について詳細に説明する。
[熱電変換材料]
図1Aは、本実施形態に係る熱電変換材料の組織を模式的に図示した模式図である。図1Bは、図1AのB部拡大図である。なお、図1Aおよび図1Bは、電子線マイクロアナライザ(EPMA)像から模式的に図示したものである。
図1Aに示すように、本実施形態に係る熱電変換材料1(図1には図示せず。図4参照。)は、Yb、CoおよびSbを含んでなるスクッテルダイト型の結晶構造を有する多数の多結晶体粒11と、隣り合う多結晶体粒11の間に存在し、Ybに対するOの原子比が0.4を超え1.5未満の結晶13(図1B参照)を有する粒間層12と、を有する構造を有することとしている。後述するように、多結晶体粒11は、製造過程で製造された粉砕粒であり、本実施形態に係る熱電変換材料1は、当該多結晶体粒11を加圧焼結して得られた焼結体である。なお、前記した粒間層12には、多結晶体粒11と析出結晶粒(図示せず)との反応中間生成物(図示せず)が共存し得る。この熱電変換材料1は、後述する熱電変換材料の製造方法によって好適に得られる。
図1Aは、本実施形態に係る熱電変換材料の組織を模式的に図示した模式図である。図1Bは、図1AのB部拡大図である。なお、図1Aおよび図1Bは、電子線マイクロアナライザ(EPMA)像から模式的に図示したものである。
図1Aに示すように、本実施形態に係る熱電変換材料1(図1には図示せず。図4参照。)は、Yb、CoおよびSbを含んでなるスクッテルダイト型の結晶構造を有する多数の多結晶体粒11と、隣り合う多結晶体粒11の間に存在し、Ybに対するOの原子比が0.4を超え1.5未満の結晶13(図1B参照)を有する粒間層12と、を有する構造を有することとしている。後述するように、多結晶体粒11は、製造過程で製造された粉砕粒であり、本実施形態に係る熱電変換材料1は、当該多結晶体粒11を加圧焼結して得られた焼結体である。なお、前記した粒間層12には、多結晶体粒11と析出結晶粒(図示せず)との反応中間生成物(図示せず)が共存し得る。この熱電変換材料1は、後述する熱電変換材料の製造方法によって好適に得られる。
Yb、CoおよびSbを含んでなるスクッテルダイト型の結晶構造とは、頂点を共有したSbの八面構造体にCoが囲まれた結晶構造(立方晶)を有し、当該結晶構造の隙間にYbを充填したものをいう(充填スクッテルダイト構造などと呼称されている)。このようなYb、CoおよびSbを含んでなるスクッテルダイト型の結晶構造として、好ましくは組成式YbxCo4Sb12(ただし、xは0を超え0.3以下)で表されるものを用いることができる。なお、xは0.1以上が好ましく、0.2以上がより好ましい。また、xは、0.3未満が好ましい。このような結晶構造の結晶粒を含んで構成される多結晶体粒11、好ましくは前記組成式で表される結晶構造の結晶粒を含んで構成される多結晶体粒11は、熱電変換材料1として好適に機能する。
この熱電変換材料1は、熱伝導率および電気伝導率のうちの少なくとも一方が異方性を有しているのが好ましい。このような異方性は、図1Aに示すように、熱電変換材料1を構成するアスペクト比が異なる多結晶体粒11が、ほぼ一定の方向に向かって並んでいることによって得られる。すなわち、電気伝導率や熱伝導率の異方性は、アスペクト比が異なる多結晶体粒11の形状の異方性により、単位経路あたりに通過する前記粒間層12の数が異なるために生じると考えられる。
アスペクト比が異なる多結晶体粒11は、例えば、後述する製造方法で説明するように、液体急冷凝固法でリボンを作製した後、当該リボンを粉砕して粉砕粒である多結晶体粒11を得、当該多結晶体粒11をタッピングした後、加圧焼結して製造されることによって得ることができる。つまり、このような異方性は、タッピングした後、加圧焼結されることによって多結晶体粒11の形状をアスペクト比が異なるものにすることができるとともに、その形状がほぼ一定の方向に向かって並んだ状態となる。熱伝導率と電気伝導率とは、タッピングの後、加圧焼結されてなる多結晶体粒11の形状とこれにともなって形成される粒間層12によって付与されるものであるため、多くの場合、熱伝導率と電気伝導率の異方性の向きは一致する。異方性を得易くするため、前記したようにタッピングするなどして多結晶体粒11に振動を与えて据わりを良くした後、加圧焼結するのが好ましい。
多結晶体粒11の大きさは、例えば、最大長さが10~500μmであるのが好ましい。なお、最大長さとは、例えば、電子顕微鏡写真などで撮影した画像における1つの多結晶体粒11において取り得る最も離れた二点間の長さをいう。多結晶体粒11の大きさがこの範囲にあると、加圧焼結後における焼結体中の酸素濃度を制御し易くなる。多結晶体粒11の大きさは、例えば、リボンを粉砕する際の粉砕時間等を適宜変更することで制御できる。
多結晶体粒11は、金属組織として、前記したYb、CoおよびSbを含んでなるスクッテルダイト型の結晶構造で構成された多数の結晶粒を含んで形成されている。1つ1つの結晶粒は互いに原子配列の向きが異なっているため、隣り合う結晶粒との間に結晶構造の原子配列が乱れた領域、すなわち、粒界(結晶粒界)を形成している。多結晶体粒11を構成する結晶粒の大きさは、例えば、1~50μmであるのが好ましいが、この範囲に限定されるものではない。結晶粒の大きさがこの範囲にあると、高い緻密性を得ることができる。結晶粒の大きさは、例えば、リボン作製工程における急冷速度や、第1熱処理工程、第2熱処理工程、加圧焼結工程における熱処理温度を適宜変更することで制御できる。
多結晶体粒11は、金属組織として、前記したYb、CoおよびSbを含んでなるスクッテルダイト型の結晶構造で構成された多数の結晶粒を含んで形成されている。1つ1つの結晶粒は互いに原子配列の向きが異なっているため、隣り合う結晶粒との間に結晶構造の原子配列が乱れた領域、すなわち、粒界(結晶粒界)を形成している。多結晶体粒11を構成する結晶粒の大きさは、例えば、1~50μmであるのが好ましいが、この範囲に限定されるものではない。結晶粒の大きさがこの範囲にあると、高い緻密性を得ることができる。結晶粒の大きさは、例えば、リボン作製工程における急冷速度や、第1熱処理工程、第2熱処理工程、加圧焼結工程における熱処理温度を適宜変更することで制御できる。
熱電変換材料1は、前記した多数の多結晶体粒11と、隣り合う多結晶体粒11の間に存在し、Ybに対するOの原子比が0.4を超え1.5未満の結晶13を有する粒間層12と、を有している。粒間層12に析出した結晶13は、Ybに対するOの原子比が1以下であることが好ましく、0.7以下であることがより好ましく、0.67以下であることがさらに好ましい。
なお、本実施形態においては、Ybに対するOの原子比が0.4を超え1.5未満の結晶13を有する粒間層12を有していればよい。つまり、粒間層12に含まれている結晶13のYbに対するOの原子比が全て前記した範囲になくともよい。熱電変換材料1は、粒間層12に析出した結晶に、Ybに対するOの原子比が0.4以下の結晶が混在して含まれていてもよく、1.5以上の結晶が混在して含まれていてもよい。
粒間層12に析出した結晶13のYbに対するOの原子比が前記した範囲内にあると、Ybの酸化物を含みながら、金属Ybの比率が高い結晶13となる。このようになる理由としては、例えば、Yb2O3などの電気伝導率σおよび熱伝導率κが低く極めて安定なYb酸化物の結合中から酸素が外れることによって、酸素欠陥を有する安定な酸化物が生成されるためであると考えられる。さらに、電気的中性を確保するため、この欠陥を有するYb酸化物は電子を生成する必要があるので、必然的に電気伝導率が高くなっていると考えられる。そのため、熱電変換材料1の熱伝導率κを小さくしつつ、電気伝導率σを高くすることができ、無次元性能指数ZTを高くすることができると考えられる。前述した電気伝導率や熱伝導率の異方性は、アスペクト比が異なる多結晶体粒11の形状の異方性により、単位経路あたりに通過する前記粒間層12(すなわち、Ybに対するOの原子比が前記した範囲内にある結晶13を含む粒間層12)の数が異なるために生じると考えられる。
ここで、図2は、本実施形態に係る熱電変換材料の電気抵抗をマッピングした説明図(観察範囲20μm×20μm)である。この図2は、加圧焼結前処理の雰囲気を3%水素とした後、アルゴン0.1MPaで加圧し、焼結体の酸素濃度を470容積ppmとした熱電変換材料の電気抵抗を走査型プローブ顕微鏡で観察したものである。図3は、従来例に係る熱電変換材料の電気抵抗をマッピングした説明図(観察範囲20μm×20μm)である。この図3は、加圧焼結前処理の雰囲気について何ら処理しない熱電変換材料の電気抵抗を走査型プローブ顕微鏡で観察したものである。
図2に示す本実施形態に係る熱電変換材料1(図4参照)は、図3に示す従来例に係る熱電変換材料と比較して電気抵抗の高い黒い部分がなく、電気抵抗が低い(電気伝導率σが高い)ことが分かる。なお、図2に示す単位面積当たりの電気抵抗は6.3μΩmであり、図3に示す単位面積当たりの電気抵抗は32.2μΩmであった。
図2に示す本実施形態に係る熱電変換材料1(図4参照)は、図3に示す従来例に係る熱電変換材料と比較して電気抵抗の高い黒い部分がなく、電気抵抗が低い(電気伝導率σが高い)ことが分かる。なお、図2に示す単位面積当たりの電気抵抗は6.3μΩmであり、図3に示す単位面積当たりの電気抵抗は32.2μΩmであった。
粒間層12に析出した結晶13のYbに対するOの前記原子比は0.5(すなわち、Yb2O)や0.67(すなわち、Yb3O2)であるのが好ましい。このようにすると、安定して酸素欠陥を有する安定な酸化物を粒間層12に維持することができる。
粒間層12に析出した結晶13のYbに対するOの前記原子比は、後述する製造方法における第1熱処理工程と第2熱処理工程と加圧焼結工程とを行うことで得ることができる。
粒間層12に析出した結晶13のYbに対するOの前記原子比は、後述する製造方法における第1熱処理工程と第2熱処理工程と加圧焼結工程とを行うことで得ることができる。
本実施形態に係る熱電変換材料1は、酸素濃度が1200容積ppm以下であるのが好ましく、700容積ppm以下であるのがより好ましく、510容積ppm以下であるのがさらに好ましい。このようにすると、容易に、つまり、後記する第2熱処理工程S5を水素濃度100%で行わなくても、Ybに対するOの原子比が0.4を超え1.5未満の結晶13を有する粒間層12を得ることができる。その結果、熱電変換材料1の電気抵抗を低くできる。一方、酸素濃度の下限は低ければ低いほど望ましく、0容積ppmであるのが好ましいが、現実的には測定精度などを考慮して、例えば50容積ppm以上であるのが好ましい。
前記した粒間層12の厚みは5nm以上1μm以下であるのが好ましい。粒間層12の厚みがこの範囲にあると、粒間層12の中に存在する結晶13が多くなり、また、高抵抗の酸化物を少なくすることができる。したがって、熱電変換材料1の熱伝導率κが小さくなるとともに、電気伝導率σも高くなるので、無次元性能指数ZTをより高くすることができる。この効果をさらに確実に得る観点から、前記した粒間層12の厚みは5nm以上100nm以下であるのがさらに好ましい。
なお、前記した粒間層12の厚みは、例えば、リボン作製工程における急冷速度や加圧焼結工程における熱処理温度を適宜変更することで制御できる。
粒間層12の厚みは、例えば、走査型電子顕微鏡(SEM)や透過型電子顕微鏡(TEM)などで観察・測定することができる。粒間層12の厚みの測定は、例えば、粒間層12を含む範囲を観察した際に、隣り合う多結晶体粒11間の距離が最短となる任意の2点間を測定することで行うことができる。
なお、前記した粒間層12の厚みは、例えば、リボン作製工程における急冷速度や加圧焼結工程における熱処理温度を適宜変更することで制御できる。
粒間層12の厚みは、例えば、走査型電子顕微鏡(SEM)や透過型電子顕微鏡(TEM)などで観察・測定することができる。粒間層12の厚みの測定は、例えば、粒間層12を含む範囲を観察した際に、隣り合う多結晶体粒11間の距離が最短となる任意の2点間を測定することで行うことができる。
なお、本実施形態に係る熱電変換材料1は、熱電変換に悪影響を及ぼさない範囲であれば不純物が含まれていてもよい。
以上に説明した本実施形態に係る熱電変換材料1は、Yb、CoおよびSbを含んでなるスクッテルダイト型の結晶構造を有する多数の多結晶体粒11と、隣り合う多結晶体粒11の間に存在し、Ybに対するOの原子比が0.4を超え1.5未満の結晶13を有する粒間層12と、を有している。また、本実施形態に係る熱電変換材料1は、BaやLa、Srのような活性な材料が導入されていない。そのため、本実施形態に係る熱電変換材料1は、無次元性能指数ZTが高く、かつ信頼性も高い。
[熱電変換モジュール]
次に、本実施形態に係る熱電変換モジュールについて説明する。
図4および図5は、本実施形態に係る熱電変換モジュールの構成を示す斜視図である。図4は、上部基板6を取り付ける前の状態を示し、図5は、上部基板6を取り付けた後の状態を示している。
次に、本実施形態に係る熱電変換モジュールについて説明する。
図4および図5は、本実施形態に係る熱電変換モジュールの構成を示す斜視図である。図4は、上部基板6を取り付ける前の状態を示し、図5は、上部基板6を取り付けた後の状態を示している。
図4および図5に示すように、前述した本実施形態に係る熱電変換材料1は、熱電変換モジュール10に搭載することができる。熱電変換モジュール10は、柱状の熱電変換材料1と、この熱電変換材料1とは逆相の柱状の熱電変換材料2とを、導電材3を介して端部同士を接続した素子4を複数有してなる。特に限定されるものではないが、素子4は、図4および図5に示すように、導電材3を介して熱電変換材料1と逆相の熱電変換材料2とを交互に、かつ電気的に直列に接続することができる。熱電変換材料1と逆相の熱電変換材料2と導電材3とが接続してなる素子4は、下部基板5と上部基板6(図5参照)との間に配置されている。なお、導電材3のうち、第1の導電材3aは熱電変換材料1と接続されており、第2の導電材3bは熱電変換材料2と接続されている。そして、第1の導電材3aは電圧引き出し用の第1の配線7と接続され、第2の導電材3bは電圧引き出し用の第2の配線8と接続されている。
ここで、逆相の熱電変換材料2は、例えば、熱電変換材料1がp型である場合はn型とし、熱電変換材料1がn型である場合はp型とするものである。
導電材3としては、例えば、銅、銀、金、白金、アルミニウムまたはこれらの中から選択されたいずれか1つの金属の合金を用いた薄板材、フィルム、薄膜などを挙げることができる。導電材3は導電性を有していればよく、前記した金属や形態などに限定されるものではない。例えば、低温側に配置されるのであれば、導電材3として、導電性ポリマーで形成したフィルムなどを用いることができる。
下部基板5および上部基板6は、例えば、窒化アルミニウム(AlN)や窒化シリコン(Si3N4)、酸化アルミナ(Al2O3)などで形成された板材を用いることができる。
導電材3としては、例えば、銅、銀、金、白金、アルミニウムまたはこれらの中から選択されたいずれか1つの金属の合金を用いた薄板材、フィルム、薄膜などを挙げることができる。導電材3は導電性を有していればよく、前記した金属や形態などに限定されるものではない。例えば、低温側に配置されるのであれば、導電材3として、導電性ポリマーで形成したフィルムなどを用いることができる。
下部基板5および上部基板6は、例えば、窒化アルミニウム(AlN)や窒化シリコン(Si3N4)、酸化アルミナ(Al2O3)などで形成された板材を用いることができる。
以上に述べた態様の熱電変換モジュール10は、例えば、上部基板6を加熱または高熱部に接触させることで、熱電変換材料1および逆相の熱電変換材料2に対して同一方向に温度勾配を発生させることができる。これにより、熱電変換材料1と逆相の熱電変換材料2はゼーベック効果によって熱起電力が発生する。このとき、熱電変換材料1と逆相の熱電変換材料2では温度勾配に対して逆向きに熱起電力が発生することになり、熱起電力は打ち消されずに足し合わされる。そのため、熱電変換モジュール10は、大きな熱起電力を発生させることができる。温度勾配の付け方は、前記した態様のほかに下部基板5を冷却または低温部に接触させてもよい。また、上部基板6を加熱または高熱部に接触させつつ、下部基板5を冷却または低温部に接触させてもよい。
以上に説明した本実施形態に係る熱電変換モジュールは、前述した本実施形態に係る熱電変換材料1を用いている。そのため、本実施形態に係る熱電変換モジュールは、本実施形態に係る熱電変換材料1について説明した理由と同様の理由により、無次元性能指数ZTが高く、かつ信頼性も高い。
[熱電変換材料の製造方法]
次に、本実施形態に係る熱電変換材料の製造方法について説明する。
図6は、本実施形態に係る熱電変換材料の製造方法(以下、単に本製造方法という)の内容を示すフローチャートである。本製造方法は、例えば、前述した本実施形態に係る熱電変換材料1を製造する製造方法である。
次に、本実施形態に係る熱電変換材料の製造方法について説明する。
図6は、本実施形態に係る熱電変換材料の製造方法(以下、単に本製造方法という)の内容を示すフローチャートである。本製造方法は、例えば、前述した本実施形態に係る熱電変換材料1を製造する製造方法である。
図6に示すように、本製造方法は、秤量工程S1と、混合工程S2と、リボン作製工程S3と、第1熱処理工程S4と、第2熱処理工程S5と、加圧焼結工程S6とを含む。本製造方法では、加圧焼結工程S6の前に行う第1熱処理工程S4および第2熱処理工程S5の間や、第2熱処理工程S5および加圧焼結工程S6の間において、酸化雰囲気(例えば、大気)に触れさせないようにすると、酸化量を抑制し、還元量を低減できるため望ましい。また、第2熱処理工程S5後も酸化雰囲気(例えば、大気)に触れさせずに加圧焼結工程S6を行うのが望ましい。好ましくは、第2熱処理工程S5と加圧焼結工程S6は、気密を保てる炉を用いて行う。
以下、これらの工程について順に説明する。
以下、これらの工程について順に説明する。
(秤量工程S1)
秤量工程S1は、Ybを含む素原料、Coを含む素原料およびSbを含む素原料をそれぞれ秤量する工程である。これらの素原料の秤量は、一般的な秤量機を用いて行うことができる。素原料の形態はどのようなものであってもよい。すなわち、素原料は、例えば、鉱石であってもよいし、スクラップ材などであってもよいし、予め精製された純度の高い精製品であってもよい。ここで、Yb、CoおよびSbは、それぞれの素原料中に含まれている含有率を予め分析しておき、その分析を基に、秤量後の原料の組成式がYbxCo4Sb12(ただし、xは0を超え0.3以下)となるように秤量するのが好ましい。
秤量工程S1は、Ybを含む素原料、Coを含む素原料およびSbを含む素原料をそれぞれ秤量する工程である。これらの素原料の秤量は、一般的な秤量機を用いて行うことができる。素原料の形態はどのようなものであってもよい。すなわち、素原料は、例えば、鉱石であってもよいし、スクラップ材などであってもよいし、予め精製された純度の高い精製品であってもよい。ここで、Yb、CoおよびSbは、それぞれの素原料中に含まれている含有率を予め分析しておき、その分析を基に、秤量後の原料の組成式がYbxCo4Sb12(ただし、xは0を超え0.3以下)となるように秤量するのが好ましい。
また、秤量は、グローブボックスのような外気と遮断された状況下で作業が可能な密閉作業装置で行うのが好ましい。密閉作業装置は、内部に窒素やアルゴンなどの不活性ガスを供給できるものを用いるのが好ましい。秤量は、酸素濃度が0.1~100容積ppmである密閉作業装置内で行うのが好ましい。密閉作業装置内で秤量した素原料は、例えば、黒鉛るつぼなどの耐熱性容器に入れるのが好ましい。また、密閉作業装置内で秤量した素原料は石英製の容器などに入れて真空封入するのが好ましい。これらの態様はいずれか1つのみでも素原料の過度の(必要以上の)酸化を防止できるが、全てを行うのが好ましい。なお、後述するように、本実施形態においては、過度の酸化は好ましくないが、リボンの表面のみを僅かに酸化させる程度に酸化させた後、第2熱処理工程S5で熱処理を行って粒間層12に析出した結晶13のYbの酸化物の一部を還元することにより、電気抵抗を低減させることができる。
(混合工程S2)
混合工程S2は、前記した素原料を溶解して混合する工程である。素原料の溶解は、例えば、1020℃以上、好ましくは1050℃以上で行う。なお、コストや加熱装置の保全などの観点から、素原料の溶解は1300℃以下、より好ましくは1100℃以下で行う。
素原料の溶解は前記温度で数時間から数十時間保持して行い、その後、急冷するのが好ましい。例えば、素原料の溶解を前記温度で20時間保持して行った後、20℃以下に冷却された水中に入れて急冷するのが好ましい。なお、原料が多い場合は、徐冷であってもよい。急冷後、石英製の容器から不活性雰囲気中でインゴットを取り出し、黒鉛るつぼなどの耐熱性容器に装荷するのが好ましい。なお、1時間以内の短時間であれば空気中でインゴットを取り出し、耐熱性容器に装荷することができる。その後、例えば、高周波加熱炉で1100℃まで昇温して再加熱し、溶湯にする。
混合工程S2は、前記した素原料を溶解して混合する工程である。素原料の溶解は、例えば、1020℃以上、好ましくは1050℃以上で行う。なお、コストや加熱装置の保全などの観点から、素原料の溶解は1300℃以下、より好ましくは1100℃以下で行う。
素原料の溶解は前記温度で数時間から数十時間保持して行い、その後、急冷するのが好ましい。例えば、素原料の溶解を前記温度で20時間保持して行った後、20℃以下に冷却された水中に入れて急冷するのが好ましい。なお、原料が多い場合は、徐冷であってもよい。急冷後、石英製の容器から不活性雰囲気中でインゴットを取り出し、黒鉛るつぼなどの耐熱性容器に装荷するのが好ましい。なお、1時間以内の短時間であれば空気中でインゴットを取り出し、耐熱性容器に装荷することができる。その後、例えば、高周波加熱炉で1100℃まで昇温して再加熱し、溶湯にする。
(リボン作製工程S3)
リボン作製工程S3は、前記した素原料の溶湯を液体急冷凝固法により急冷凝固してリボンを作製する工程である。液体急冷凝固法とは、溶解した金属(溶湯)を回転する金属ロールに滴下し、結晶の核形成速度より急速に冷却することで非晶質金属のリボンを作製する方法である。
リボン作製工程S3で得られるリボンの厚さは10~200μmであるのが好ましい。リボンの厚さがこの範囲にあると、組織の均一性が高くなり、また、酸化の程度がコントロールし易い。リボン作製工程S3も前記同様、不活性雰囲気中で行う。
リボン作製工程S3は、前記した素原料の溶湯を液体急冷凝固法により急冷凝固してリボンを作製する工程である。液体急冷凝固法とは、溶解した金属(溶湯)を回転する金属ロールに滴下し、結晶の核形成速度より急速に冷却することで非晶質金属のリボンを作製する方法である。
リボン作製工程S3で得られるリボンの厚さは10~200μmであるのが好ましい。リボンの厚さがこの範囲にあると、組織の均一性が高くなり、また、酸化の程度がコントロールし易い。リボン作製工程S3も前記同様、不活性雰囲気中で行う。
(第1熱処理工程S4)
第1熱処理工程S4は、作製した前記リボンに対して、酸素濃度を調節した不活性雰囲気中で熱処理を行う工程(図6において図示せず)と、粉砕する工程(図6において図示せず)と、を有し、粉砕粒である多結晶体粒11を得る工程である。すなわち、第1熱処理工程S4は、酸素濃度を調節した不活性雰囲気中でリボンを熱処理した後に当該リボンを粉砕して粉砕粉である多結晶体粒11としてもよい。また、第1熱処理工程S4は、前記したリボンを粉砕して粉砕粉である多結晶体粒11を得た後に酸素濃度を調節した不活性雰囲気中で当該多結晶体粒11を熱処理してもよい。
第1熱処理工程S4は、作製した前記リボンに対して、酸素濃度を調節した不活性雰囲気中で熱処理を行う工程(図6において図示せず)と、粉砕する工程(図6において図示せず)と、を有し、粉砕粒である多結晶体粒11を得る工程である。すなわち、第1熱処理工程S4は、酸素濃度を調節した不活性雰囲気中でリボンを熱処理した後に当該リボンを粉砕して粉砕粉である多結晶体粒11としてもよい。また、第1熱処理工程S4は、前記したリボンを粉砕して粉砕粉である多結晶体粒11を得た後に酸素濃度を調節した不活性雰囲気中で当該多結晶体粒11を熱処理してもよい。
熱処理を行う前に、密閉作業装置(酸素濃度0.1~100容積ppm)内で黒鉛るつぼなどの耐熱性容器に再装荷して蓋をするのが好ましい。なお、耐熱性容器内の酸素濃度を低くすることができるため、耐熱性容器の蓋は深さ寸法が深いものを用いるのが好ましい。耐熱性容器の蓋の深さ寸法は、例えば、5~10cmなどとするのが好ましい。また、耐熱性容器内の酸素濃度を低くするため、金属Tiなどのゲッター材を装荷するのが好ましい。
第1熱処理工程S4における不活性雰囲気中の酸素濃度は、例えば、10容積ppm以下とするのが好ましく、5容積ppm以下とするのがより好ましい。このようにすると、リボンの表面のみを僅かに酸化させた状態とすることができる。本実施形態においては、過度の酸化は好ましくないが、このような雰囲気中で処理することによってリボンの表面または多結晶体粒11の表面のみを僅かに酸化させることができる。そして、後ほど行う第2熱処理工程S5で熱処理を行って粒間層12に析出した結晶13のYbの酸化物の一部を還元することにより、電気抵抗を低減させることができる。また、このようにすると、粒間層12に析出した結晶13のYbに対するOの原子比を0.4を超え1.5未満にすることができる。したがって、熱電変換材料1の熱伝導率κを小さくしつつ、電気伝導率σを高くすることができ、無次元性能指数ZTを高くすることができる。
不活性雰囲気としては、例えば、窒素およびアルゴンのうちの少なくとも一方の雰囲気を挙げることができるが、これに限定されない。不活性雰囲気の酸素濃度の調節は、例えば、水素とアルゴンの混合気体、水素と窒素の混合気体、または水素を単独で用いることで行うことができる。なお、不活性雰囲気には、水蒸気が含まれていてもよい。水蒸気が含まれていると酸化が少し促進される。
第1熱処理工程S4の熱処理条件としては、例えば、熱処理温度を500~800℃とすることができる。また、第1熱処理工程S4の熱処理条件としては、例えば、熱処理温度を700℃とした場合、3時間以上168時間未満とすることができる。熱処理時間は、リボンまたは多結晶体粒11の極端な酸化を防止する観点から、48時間以下とするのが好ましい。
リボンの粉砕は、密閉作業装置(酸素濃度0.1~100ppm)内で行うのが好ましい。粉砕して得られた多結晶体粒11はメディアン径(d50)が10~100μmであるのが好ましい。このようにすると、酸素と接触して酸素濃度制御が行い易くなり、後述する加圧焼結で緻密な焼結体を得ることが容易となる。
リボンの粉砕は、例えば、乳鉢および乳棒を用いたり、ボールミル、ロッドミル、高圧粉砕ロール、縦軸インパクタミル、ジェットミルなどを用いたりすることによって行うことができる。
リボンの粉砕は、例えば、乳鉢および乳棒を用いたり、ボールミル、ロッドミル、高圧粉砕ロール、縦軸インパクタミル、ジェットミルなどを用いたりすることによって行うことができる。
第1熱処理工程S4で得られた多結晶体粒11は、密閉作業装置内で秤量した後、ドラフト内でカーボン型(カーボン製のダイス)に装荷し、ホットプレス機などの加圧焼結装置内に導入する。
(第2熱処理工程S5)
第2熱処理工程S5は、第1熱処理工程S4で熱処理した多結晶体粒11を還元雰囲気中で熱処理する工程である。この第2熱処理工程S5を行うことによって、粒間層12に析出した結晶13のYbの酸化物の一部を還元する。この工程を行った後に後記する加圧焼結工程S6を行うことで、最終的に、粒間層12に析出した結晶13のYbに対するOの原子比を0.4を超え1.5未満にすることができる。本実施形態では、この第2熱処理工程S5を行うことによって、粒間層12に析出した結晶13のYbに対するOの原子比を前記範囲にできるため、Ybの酸化物を含みながら、金属Ybの比率を高めることができる。このようになる理由は定かではないが、前述したように、例えば、Yb2O3などの電気伝導率σおよび熱伝導率κが低い極めて安定なYb酸化物の結合中から酸素が外れることによって、酸素欠陥を有する安定な酸化物が生成されるためであると考えられる。さらに、電気的中性を確保するため、この欠陥を有するYb酸化物は電子を生成する必要があるので、必然的に電気伝導率が高くなっていると考えられる。そのため、この第2熱処理工程S5で熱処理された熱電変換材料1の熱伝導率κを小さくしつつ、電気伝導率σを高くすることができるので、その結果として、無次元性能指数ZTが高くなると考えられる。言い換えると、第2熱処理工程S5は、第1熱処理工程S4で多結晶体粒11の表面に生成した結晶性Yb亜酸化物を焼結する直前でその一部または全部を電気的中性を保つべく伝導電子が生成する程度まで熱処理を行う工程であるということができる。
第2熱処理工程S5は、第1熱処理工程S4で熱処理した多結晶体粒11を還元雰囲気中で熱処理する工程である。この第2熱処理工程S5を行うことによって、粒間層12に析出した結晶13のYbの酸化物の一部を還元する。この工程を行った後に後記する加圧焼結工程S6を行うことで、最終的に、粒間層12に析出した結晶13のYbに対するOの原子比を0.4を超え1.5未満にすることができる。本実施形態では、この第2熱処理工程S5を行うことによって、粒間層12に析出した結晶13のYbに対するOの原子比を前記範囲にできるため、Ybの酸化物を含みながら、金属Ybの比率を高めることができる。このようになる理由は定かではないが、前述したように、例えば、Yb2O3などの電気伝導率σおよび熱伝導率κが低い極めて安定なYb酸化物の結合中から酸素が外れることによって、酸素欠陥を有する安定な酸化物が生成されるためであると考えられる。さらに、電気的中性を確保するため、この欠陥を有するYb酸化物は電子を生成する必要があるので、必然的に電気伝導率が高くなっていると考えられる。そのため、この第2熱処理工程S5で熱処理された熱電変換材料1の熱伝導率κを小さくしつつ、電気伝導率σを高くすることができるので、その結果として、無次元性能指数ZTが高くなると考えられる。言い換えると、第2熱処理工程S5は、第1熱処理工程S4で多結晶体粒11の表面に生成した結晶性Yb亜酸化物を焼結する直前でその一部または全部を電気的中性を保つべく伝導電子が生成する程度まで熱処理を行う工程であるということができる。
第2熱処理工程S5における還元雰囲気としては、例えば、水素濃度3容量%または100容量%とすることを挙げることができる。この第2熱処理工程S5も密閉作業装置(酸素濃度0.1~100ppm)内で行うのが好ましい。
第2熱処理工程S5は、加圧焼結を行う加圧焼結装置で行うのが好ましい。このようにすると、第2熱処理工程S5と加圧焼結工程S6とを同一炉内で連続して行うことができる。そのため、第2熱処理工程S5で熱処理した多結晶体粒11の酸化反応を抑制できる。本実施形態においては、加圧焼結装置内を真空引きし、例えば10Pa程度とした後、不活性雰囲気に置換するのが好ましい。なお、不活性雰囲気としては、例えば、窒素およびアルゴンのうちの少なくとも一方の雰囲気を挙げることができるが、これに限定されない。この操作を2回以上繰り返し、最後の真空引きを終えた後に、前記したように水素濃度を3容量%または100容量%とするのが好ましい。そして、加圧焼結装置内のガス圧力がゲージ圧で0.1~0.6MPa(1~6気圧)になったら、約400~600℃で1~6時間熱処理し、その後冷却する。
第2熱処理工程S5は、加圧焼結を行う加圧焼結装置で行うのが好ましい。このようにすると、第2熱処理工程S5と加圧焼結工程S6とを同一炉内で連続して行うことができる。そのため、第2熱処理工程S5で熱処理した多結晶体粒11の酸化反応を抑制できる。本実施形態においては、加圧焼結装置内を真空引きし、例えば10Pa程度とした後、不活性雰囲気に置換するのが好ましい。なお、不活性雰囲気としては、例えば、窒素およびアルゴンのうちの少なくとも一方の雰囲気を挙げることができるが、これに限定されない。この操作を2回以上繰り返し、最後の真空引きを終えた後に、前記したように水素濃度を3容量%または100容量%とするのが好ましい。そして、加圧焼結装置内のガス圧力がゲージ圧で0.1~0.6MPa(1~6気圧)になったら、約400~600℃で1~6時間熱処理し、その後冷却する。
(加圧焼結工程S6)
加圧焼結工程S6は、第2熱処理工程S5で熱処理した多結晶体粒11を不活性雰囲気中で加圧焼結して前述した本実施形態に係る熱電変換材料1を製造する工程である。つまり、加圧焼結工程S6は、第2熱処理工程S5後、加圧焼結工程S6を終えるまで酸化雰囲気(例えば、大気)に触れさせずに加圧焼結して前述した本実施形態に係る熱電変換材料1を製造する工程である。なお、不活性とは、酸化性でないことをいう。このような不活性雰囲気は、例えば、10Pa以下まで真空引きして、Arガスで置換することを3回繰り返すなどして、大気中の酸素を炉内から排出することにより、好適に具現できる。
加圧焼結工程S6は、第2熱処理工程S5で熱処理した多結晶体粒11を不活性雰囲気中で加圧焼結して前述した本実施形態に係る熱電変換材料1を製造する工程である。つまり、加圧焼結工程S6は、第2熱処理工程S5後、加圧焼結工程S6を終えるまで酸化雰囲気(例えば、大気)に触れさせずに加圧焼結して前述した本実施形態に係る熱電変換材料1を製造する工程である。なお、不活性とは、酸化性でないことをいう。このような不活性雰囲気は、例えば、10Pa以下まで真空引きして、Arガスで置換することを3回繰り返すなどして、大気中の酸素を炉内から排出することにより、好適に具現できる。
この加圧焼結工程S6では、加圧焼結を行う前に、還元雰囲気を不活性雰囲気に置換するのが好ましい。例えば、前記したように、加圧焼結装置内の還元雰囲気を真空引きして10Pa程度とした後、不活性雰囲気に置換する。このとき、加圧焼結装置を大気開放することなく操作するのが好ましい。不活性雰囲気としては、例えば、窒素およびアルゴンのうちの少なくとも一方の雰囲気を挙げることができるが、これに限定されない。なお、不活性雰囲気としては、アルゴン雰囲気であるのが好ましい。また、還元雰囲気を不活性雰囲気に置換するにあたって、前記した置換操作を2回以上行うのが好ましく、3回以上行うのがより好ましい。加圧焼結装置としては、例えば、ホットプレス機を用いることができる。なお、この工程では、真空引きの前に2時間程度の短時間であれば大気開放することも可能である。
不活性雰囲気に置換した後、加圧焼結装置内を、例えば、300~600℃/hの昇温速度で昇温し、600~800℃で1時間保持する。このとき、キープ温度で加圧圧力が例えば50~70MPa、具体的には例えば68MPaになるよう、昇温速度と同等の速度で加圧する。保持が終わった後、500℃/h以下の冷却速度で冷却し、減圧を行う。なお、冷却は、加圧焼結装置内で自然放冷することによって行うのが好ましい。ここまでの操作で前述した本実施形態に係る熱電変換材料1を好適に製造することができる。
(後処理)
加圧焼結装置から製造した熱電変換材料1をカーボン型ごと取り出し、熱電変換材料1(焼結体)を耐熱性容器から取り出す。熱電変換材料1の表面のデブリを取り除いた後、精密加工機で任意の寸法・形状に切り出す。これらの作業は空気中で行うことができる。精密加工機は、ダイヤモンドブレードを備えたものを用いるのが好ましい。また、必要に応じて常法により、ゼーベック係数、電気伝導率、比熱、熱伝導率などを測定することができる。
加圧焼結装置から製造した熱電変換材料1をカーボン型ごと取り出し、熱電変換材料1(焼結体)を耐熱性容器から取り出す。熱電変換材料1の表面のデブリを取り除いた後、精密加工機で任意の寸法・形状に切り出す。これらの作業は空気中で行うことができる。精密加工機は、ダイヤモンドブレードを備えたものを用いるのが好ましい。また、必要に応じて常法により、ゼーベック係数、電気伝導率、比熱、熱伝導率などを測定することができる。
以上に説明した本実施形態に係る熱電変換材料の製造方法は、前記したように、秤量工程S1から加圧焼結工程S6を行うので、Yb、CoおよびSbを含んでなるスクッテルダイト型の結晶構造を有する多数の多結晶体粒11と、隣り合う多結晶体粒11の間に存在し、Ybに対するOの原子比が0.4を超え1.5未満の結晶13を有する粒間層12と、を有する熱電変換材料1を製造することができる。本実施形態に係る熱電変換材料の製造方法は、その製造過程においてBaやLa、Srのような活性な材料を導入していない。そのため、本実施形態に係る熱電変換材料の製造方法は、無次元性能指数ZTが高く、かつ信頼性も高い熱電変換材料1を製造することができる。そして、本実施形態に係る熱電変換材料の製造方法は、粒間層12に含まれている結晶13のYbに対するOの原子比を0.4を超え1.5未満とするため、第2熱処理工程S5を行うので、第1熱処理工程S4における熱処理時間(アニーリング時間)を短くすることができる。したがって、本実施形態に係る熱電変換材料の製造方法は、従来法と比較して量産性に優れている。
次に、本発明に係る熱電変換材料、熱電変換モジュールおよび熱電変換材料の製造方法について、本発明の効果を奏する実施例と、そうでない比較例とにより、さらに詳細に説明する。
(比較例に係るNo.1~9に係るサンプルの製造)
比較例に係るNo.1~9に係るサンプルを次のようにして製造した。
比較例に係るNo.1~9に係るサンプルを次のようにして製造した。
〔1〕(秤量工程、混合工程、リボン作製工程)
Sb、Co、Ybの原料を準備し、Yb0.2~0.3Co4Sb12になるように酸素濃度0.1~100ppm以下のグローブボックス中で秤量した。秤量した原料を黒鉛るつぼ中に装荷し、石英管に入れた後、石英管を真空封入してアンプルを得た。アンプルを1080℃まで昇温し、20時間保持した後、20℃以下に冷却された水中に入れ、急冷した。急冷後のアンプルから不活性雰囲気中でインゴットを取り出し、急冷用黒鉛るつぼに装荷した。そして、高周波加熱炉で1100℃まで昇温し、再溶解した。溶解した溶湯を液体急冷凝固法により銅ロール上に滴下し、急冷リボンを作製した。
Sb、Co、Ybの原料を準備し、Yb0.2~0.3Co4Sb12になるように酸素濃度0.1~100ppm以下のグローブボックス中で秤量した。秤量した原料を黒鉛るつぼ中に装荷し、石英管に入れた後、石英管を真空封入してアンプルを得た。アンプルを1080℃まで昇温し、20時間保持した後、20℃以下に冷却された水中に入れ、急冷した。急冷後のアンプルから不活性雰囲気中でインゴットを取り出し、急冷用黒鉛るつぼに装荷した。そして、高周波加熱炉で1100℃まで昇温し、再溶解した。溶解した溶湯を液体急冷凝固法により銅ロール上に滴下し、急冷リボンを作製した。
〔2〕(第1熱処理工程)
グローブボックス内で急冷リボンを黒鉛るつぼに再装荷し、アンプル中に真空封入した。アンプルをアニーリング炉にて700℃で表1に示すように3~168時間熱処理した。炉内の雰囲気、酸素濃度およびアニーリング炉で用いた黒鉛るつぼの形状とその蓋の形状を表1に示した。そして、熱処理を行った急冷リボンをグローブボックス中で取り出し、乳鉢と乳棒で粉砕してd50が10~100μmの粉砕粉(多結晶体粒)を作製した。得られた多結晶体粒はグローブボックス内で秤量した後、ドラフト内でカーボン型(カーボン製のダイス)に装荷し、ホットプレス機内に導入した。
グローブボックス内で急冷リボンを黒鉛るつぼに再装荷し、アンプル中に真空封入した。アンプルをアニーリング炉にて700℃で表1に示すように3~168時間熱処理した。炉内の雰囲気、酸素濃度およびアニーリング炉で用いた黒鉛るつぼの形状とその蓋の形状を表1に示した。そして、熱処理を行った急冷リボンをグローブボックス中で取り出し、乳鉢と乳棒で粉砕してd50が10~100μmの粉砕粉(多結晶体粒)を作製した。得られた多結晶体粒はグローブボックス内で秤量した後、ドラフト内でカーボン型(カーボン製のダイス)に装荷し、ホットプレス機内に導入した。
〔3〕(加圧焼結工程)
ホットプレス機で300~600℃/hの昇温速度で昇温し、700~750℃で1時間保持した。このとき、キープ温度でプレス圧力(加圧圧力)が68MPaになるよう昇温速度と同等の速度で加圧した。なお、ホットプレス機での昇温は、キープ温度が低温(700℃)の場合、600℃/hで行い、キープ温度が高温(750℃)の場合、300℃/hで行った。保持が終わった後、500℃/h程度で冷却し、減圧を行った。
ホットプレス機で300~600℃/hの昇温速度で昇温し、700~750℃で1時間保持した。このとき、キープ温度でプレス圧力(加圧圧力)が68MPaになるよう昇温速度と同等の速度で加圧した。なお、ホットプレス機での昇温は、キープ温度が低温(700℃)の場合、600℃/hで行い、キープ温度が高温(750℃)の場合、300℃/hで行った。保持が終わった後、500℃/h程度で冷却し、減圧を行った。
〔4〕(後処理)
ホットプレス機からカーボン型を取り出し、空気中で焼結体を取り出した。焼結体表面のデブリを取り除いた後、ダイヤモンドブレードを使った精密加工機で3mm角×10mm長の直方体を切り出し、ゼーベック係数、電気伝導率を測定した。また、同焼結体から2~3mm角×2mm厚の小片と10mm角×1mm厚の角板を切り出し、それぞれ比熱、熱拡散率を測定し、熱伝導率を算出した。
ホットプレス機からカーボン型を取り出し、空気中で焼結体を取り出した。焼結体表面のデブリを取り除いた後、ダイヤモンドブレードを使った精密加工機で3mm角×10mm長の直方体を切り出し、ゼーベック係数、電気伝導率を測定した。また、同焼結体から2~3mm角×2mm厚の小片と10mm角×1mm厚の角板を切り出し、それぞれ比熱、熱拡散率を測定し、熱伝導率を算出した。
〔5〕(分析)
(酸素濃度の測定)
融解酸素濃度分析装置(HORIBA社製EMGA-920)で焼結体の酸素濃度を測定した。
(酸素濃度の測定)
融解酸素濃度分析装置(HORIBA社製EMGA-920)で焼結体の酸素濃度を測定した。
(組成の分析)
ICP誘導結合プラズマ分析装置(島津製作所社製ICPS-8100)で組成を分析した。
ICP誘導結合プラズマ分析装置(島津製作所社製ICPS-8100)で組成を分析した。
(組織、結晶構造の同定)
走査型電子顕微鏡(SEM)(日立製作所社製S-2300)、透過型電子顕微鏡(TEM)(日立ハイテクノロジーズ社製HF-2100)およびエックス線回折装置(Bruker AXS社製D8 Advance)を併用して組織、結晶構造の同定を行った。なお、SEMおよびTEMでの測定は、粒間層を含む範囲を観察した際に、隣り合う多結晶体粒間の距離が最短となる任意の2点間を測定することで行った。
走査型電子顕微鏡(SEM)(日立製作所社製S-2300)、透過型電子顕微鏡(TEM)(日立ハイテクノロジーズ社製HF-2100)およびエックス線回折装置(Bruker AXS社製D8 Advance)を併用して組織、結晶構造の同定を行った。なお、SEMおよびTEMでの測定は、粒間層を含む範囲を観察した際に、隣り合う多結晶体粒間の距離が最短となる任意の2点間を測定することで行った。
(組織の分析)
電子線マイクロアナライザ(島津製作所社製EPMA1610)で組織を分析した。なお、電子線マイクロアナライザの測定条件として加速電圧を15kV、電流を100nA、ビーム径を10μmとし、5点の平均値を求めた。
電子線マイクロアナライザ(島津製作所社製EPMA1610)で組織を分析した。なお、電子線マイクロアナライザの測定条件として加速電圧を15kV、電流を100nA、ビーム径を10μmとし、5点の平均値を求めた。
(抵抗分布の観察)
走査型プローブ顕微鏡(Bruker AXS社Digital Instruments製NanoScope IVa AFM)で抵抗分布を観察した。なお、走査型プローブ顕微鏡は、コンタクトモードと拡がり抵抗の同時測定とした。走査型プローブ顕微鏡の探針は、ダイヤモンドコートシリコンカンチレバーを採用した。試料は、機械研磨により断面を作製し、素子の各層を短絡して共通のバイアス電圧を加えられるようにした。測定は、大気中、室温で行った。
走査型プローブ顕微鏡(Bruker AXS社Digital Instruments製NanoScope IVa AFM)で抵抗分布を観察した。なお、走査型プローブ顕微鏡は、コンタクトモードと拡がり抵抗の同時測定とした。走査型プローブ顕微鏡の探針は、ダイヤモンドコートシリコンカンチレバーを採用した。試料は、機械研磨により断面を作製し、素子の各層を短絡して共通のバイアス電圧を加えられるようにした。測定は、大気中、室温で行った。
(熱電変換材料の性能)
ゼーベック係数及び電気伝導率は、アドバンス理工社製ZEM-3で測定した。ゼーベック係数及び電気伝導率の測定条件は、装置メーカーの推奨する標準的な測定条件で測定した。試料を2つの端面を有する形状に加工し、ゼーベック係数は、差温ヒータで試料端面を加熱して、試料の両端に温度差をつけ、試料側面に押し当てたプローブ熱電対間の温度差と起電力を計測した。電気抵抗は直流四端子法で測定した。
熱伝導率は、比熱と熱拡散率と密度とから算出した。比熱測定は入力補償型示差走査熱量計であるPerkin-Elmer社製Pyris1で測定し、熱拡散率はレーザーフラッシュ法を行うNETZSCH社製LFA467で測定し、密度はアルキメデス法で測定した。
無次元性能指数ZTは、測定して得られたゼーベック係数、熱伝導率、電気伝導率から前述した式(1)で算出した。
ゼーベック係数及び電気伝導率は、アドバンス理工社製ZEM-3で測定した。ゼーベック係数及び電気伝導率の測定条件は、装置メーカーの推奨する標準的な測定条件で測定した。試料を2つの端面を有する形状に加工し、ゼーベック係数は、差温ヒータで試料端面を加熱して、試料の両端に温度差をつけ、試料側面に押し当てたプローブ熱電対間の温度差と起電力を計測した。電気抵抗は直流四端子法で測定した。
熱伝導率は、比熱と熱拡散率と密度とから算出した。比熱測定は入力補償型示差走査熱量計であるPerkin-Elmer社製Pyris1で測定し、熱拡散率はレーザーフラッシュ法を行うNETZSCH社製LFA467で測定し、密度はアルキメデス法で測定した。
無次元性能指数ZTは、測定して得られたゼーベック係数、熱伝導率、電気伝導率から前述した式(1)で算出した。
(実施例に係るNo.10~34に係るサンプルの製造)
実施例に係るNo.10~34に係るサンプルは、前記〔2〕および〔3〕をそれぞれ次の〔2A〕および〔3A〕のようにした以外は、比較例と同様にして製造した。
実施例に係るNo.10~34に係るサンプルは、前記〔2〕および〔3〕をそれぞれ次の〔2A〕および〔3A〕のようにした以外は、比較例と同様にして製造した。
〔2A〕(第1熱処理工程S4)
グローブボックス内で急冷リボンを黒鉛るつぼに再装荷し、そのまま(アンプル中に真空封入しないで)アニーリング炉にセットした。黒鉛るつぼの酸素濃度を低くするため、表1に示すように、黒鉛るつぼの蓋は深さ寸法が深いもの(深さ12cm)を用いた。さらに、表1に示すように、ゲッター材(金属Ti)を黒鉛るつぼの内部に装荷したものもあった。
黒鉛るつぼに再装荷した急冷リボンを700℃で表1に示すように3~48時間熱処理した。熱処理を行う炉内の雰囲気、酸素濃度およびアニーリング炉で用いた黒鉛るつぼの形状とその蓋の形状を表1に示した。そして、熱処理を行った急冷リボンをグローブボックス中で取り出し、乳鉢と乳棒で粉砕してd50が10~100μmの粉砕粉(多結晶体粒)を作製した。得られた多結晶体粒はグローブボックス内で秤量した後、ドラフト内でカーボン型に装荷し、ホットプレス機内に導入した。
グローブボックス内で急冷リボンを黒鉛るつぼに再装荷し、そのまま(アンプル中に真空封入しないで)アニーリング炉にセットした。黒鉛るつぼの酸素濃度を低くするため、表1に示すように、黒鉛るつぼの蓋は深さ寸法が深いもの(深さ12cm)を用いた。さらに、表1に示すように、ゲッター材(金属Ti)を黒鉛るつぼの内部に装荷したものもあった。
黒鉛るつぼに再装荷した急冷リボンを700℃で表1に示すように3~48時間熱処理した。熱処理を行う炉内の雰囲気、酸素濃度およびアニーリング炉で用いた黒鉛るつぼの形状とその蓋の形状を表1に示した。そして、熱処理を行った急冷リボンをグローブボックス中で取り出し、乳鉢と乳棒で粉砕してd50が10~100μmの粉砕粉(多結晶体粒)を作製した。得られた多結晶体粒はグローブボックス内で秤量した後、ドラフト内でカーボン型に装荷し、ホットプレス機内に導入した。
〔3A〕(第2熱処理工程S5、加圧焼結工程S6)
ホットプレス機内を10Paになるまで真空引きし、Arガスで置換した。これを2回以上繰り返し、最後の真空引き後、表1に示すように、3容量%または100容量%水素を導入した。そして、ホットプレス機内のガス圧力がゲージ圧で0.1~0.6MPa(1~6気圧)になった後、表1に示すように、400~600℃で1~6時間熱処理した。このとき、プレス圧力(加圧圧力)は加えなかった。
冷却後、ホットプレス機を大気開放することなく10Pa以下になるまで再び真空引きし、Arガスを導入した(ゲージ圧で0MPa(この場合、表1に圧力を示す数値は示さず))。なお、このArガスを導入した際、表1に示すように、ゲージ圧で0.1MPaまたは0.6MPaで加圧したものもあった。
Arガスによる置換が完了した後、再び300~600℃/hの昇温速度で昇温し、表1に示すように、750℃で1時間保持した。このとき、キープ温度750℃でプレス圧力(加圧圧力)が68MPaになるよう昇温速度と同等の速度で加圧した。保持が終わった後、500℃/h程度で冷却し、減圧を行った。
ホットプレス機内を10Paになるまで真空引きし、Arガスで置換した。これを2回以上繰り返し、最後の真空引き後、表1に示すように、3容量%または100容量%水素を導入した。そして、ホットプレス機内のガス圧力がゲージ圧で0.1~0.6MPa(1~6気圧)になった後、表1に示すように、400~600℃で1~6時間熱処理した。このとき、プレス圧力(加圧圧力)は加えなかった。
冷却後、ホットプレス機を大気開放することなく10Pa以下になるまで再び真空引きし、Arガスを導入した(ゲージ圧で0MPa(この場合、表1に圧力を示す数値は示さず))。なお、このArガスを導入した際、表1に示すように、ゲージ圧で0.1MPaまたは0.6MPaで加圧したものもあった。
Arガスによる置換が完了した後、再び300~600℃/hの昇温速度で昇温し、表1に示すように、750℃で1時間保持した。このとき、キープ温度750℃でプレス圧力(加圧圧力)が68MPaになるよう昇温速度と同等の速度で加圧した。保持が終わった後、500℃/h程度で冷却し、減圧を行った。
そして、比較例と同様に〔4〕、〔5〕を行った。
表1に、No.1~34に係るサンプルの熱処理の時間(h)、熱処理時の雰囲気、熱処理時のO2濃度(容積ppm)、熱処理時の黒鉛るつぼの形状、加圧焼結前処理の雰囲気、加圧焼結前処理の温度(℃)、加圧焼結前処理の時間(h)、加圧焼結温度(℃)を示す。なお、表1において、空白の欄は、真空であったため測定できなかったことを示しており、「-」は、実施していないことを示している。「加圧焼結前処理の雰囲気」における「%」は「容積%」を示している。
また、表2に、No.1~34に係るサンプルの焼結体の酸素濃度(容積ppm)、ゼーベック係数S(絶対値)(×102μV/K)、熱伝導率(W/mK)、電気伝導率(S/m)、及び無次元性能指数ZT(at 500℃)を示す。
また、表2に、No.1~34に係るサンプルの焼結体の酸素濃度(容積ppm)、ゼーベック係数S(絶対値)(×102μV/K)、熱伝導率(W/mK)、電気伝導率(S/m)、及び無次元性能指数ZT(at 500℃)を示す。
表1に示すように、比較例であるNo.1~9に係るサンプルは、〔3〕の操作で加圧焼結前処理(第2熱処理工程S5)を行っておらず、また、加圧焼結工程でArガス置換などを行っていなかった。そのため、これらのサンプルは、表2に示すように、無次元性能指数ZTが1.05未満となり、良好でない結果となった。なお、比較例であるNo.7に係るサンプルは、黒鉛るつぼ内の空気のアルゴンへの置換がうまく行われなかった可能性があり、これにより焼結体の酸素濃度が著しく高くなったと推察される。
これに対し、実施例であるNo.10~34に係るサンプルは、〔3A〕の操作で加圧焼結前処理(第2熱処理工程S5)を行っており、また、加圧焼結工程S6でArガス置換などを行っていた(表1参照)。そのため、これらのサンプルは、表2に示すように、無次元性能指数ZTが1.05以上となり、良好な結果となった。
実施例に係るNo.10~34に係るサンプルは、無次元性能指数ZTが良好な結果であった。このことから、これらのサンプルは、スクッテルダイト型の結晶構造を有するものであって、かつこれらのサンプルとは逆相のサンプルを、導電材を介して接続した素子を複数有する熱電変換モジュールを作製すれば、無次元性能指数ZTが高い(熱電変換効率の良い)ものとすることができる。
図7は、実施例であるNo.10に係るサンプルのEPMA像である。同図中、(a)は、EPMA像であり、(b)~(e)はそれぞれ、Yb、Co、Sb、Oについて行った元素マッピングの結果を示す図である。
図8は、実施例であるNo.16に係るサンプルのEPMA像である。同図中、(a)は、EPMA像であり、(b)~(e)はそれぞれ、Yb、Co、Sb、Oについて行った元素マッピングの結果を示す図である。
図9は、比較例であるNo.3に係るサンプルのEPMA像である。同図中、(a)は、EPMA像であり、(b)~(e)はそれぞれ、Yb、Co、Sb、Oについて行った元素マッピングの結果を示す図である。
図8は、実施例であるNo.16に係るサンプルのEPMA像である。同図中、(a)は、EPMA像であり、(b)~(e)はそれぞれ、Yb、Co、Sb、Oについて行った元素マッピングの結果を示す図である。
図9は、比較例であるNo.3に係るサンプルのEPMA像である。同図中、(a)は、EPMA像であり、(b)~(e)はそれぞれ、Yb、Co、Sb、Oについて行った元素マッピングの結果を示す図である。
図9に示すように、比較例では、個々の多結晶体粒の外縁にYbやSbが高い濃度で分布し、輪郭を明確に確認することができる。
これに対し、図7および図8に示すように、実施例では、多結晶体粒の内部にYbやSbが均一に分布しており、輪郭を明確に確認することができない。実施例におけるこのような状態は、加圧焼結前に所定の熱処理(第1熱処理工程S4および第2熱処理工程S5)を行ったことによって得られたものである。なお、実施例における個々の多結晶体粒の形状は、図7、8ではYbなどが均一に分布しているため明確に確認できるものは少ない。しかしながら、多結晶体粒を加圧焼結している点は同じであるので、比較例と同じような形状・分布であると考えられる。
また、図7~9に示すように、多結晶体粒の個々の形状は、長細く、ほぼ一定の方向に配向している。これは、加圧焼結することによって得られたものであると考えられる。そして、このように、多結晶体粒の形状が長細いことから、電気伝導率や熱伝導率などが異方性を有していると考えられる。
これに対し、図7および図8に示すように、実施例では、多結晶体粒の内部にYbやSbが均一に分布しており、輪郭を明確に確認することができない。実施例におけるこのような状態は、加圧焼結前に所定の熱処理(第1熱処理工程S4および第2熱処理工程S5)を行ったことによって得られたものである。なお、実施例における個々の多結晶体粒の形状は、図7、8ではYbなどが均一に分布しているため明確に確認できるものは少ない。しかしながら、多結晶体粒を加圧焼結している点は同じであるので、比較例と同じような形状・分布であると考えられる。
また、図7~9に示すように、多結晶体粒の個々の形状は、長細く、ほぼ一定の方向に配向している。これは、加圧焼結することによって得られたものであると考えられる。そして、このように、多結晶体粒の形状が長細いことから、電気伝導率や熱伝導率などが異方性を有していると考えられる。
図10は、実施例であるNo.10に係るサンプルの透過型電子顕微鏡(TEM)写真と元素マッピングの結果とを示す図である。同図中、(a)は、No.10に係るサンプルのTEM写真であり、(b)~(e)はそれぞれ、Co、Sb、Yb、Oについて行った元素マッピングの結果を示す図である。(b)~(e)において、白い部分がマッピング対象となる元素の濃度が高いことを示し、黒い部分がマッピング対象となる元素の濃度が低いことを示す。
図10(a)~(e)に示すように、各写真中央付近に、熱電変換材料の表面から一定の方向(垂直方向)に伸びる粒間層が確認でき、当該粒間層を挟むようにして多結晶体粒が存在していることが確認できた。
そして、図10(b)、(c)に示すように、多結晶体粒にCoとSbが分布していることが確認できた。
また、図10(d)、(e)に示すように、粒間層の中の小さい結晶にYbとOが分布(偏在)していることが確認できた。
図10(a)~(e)に示すように、各写真中央付近に、熱電変換材料の表面から一定の方向(垂直方向)に伸びる粒間層が確認でき、当該粒間層を挟むようにして多結晶体粒が存在していることが確認できた。
そして、図10(b)、(c)に示すように、多結晶体粒にCoとSbが分布していることが確認できた。
また、図10(d)、(e)に示すように、粒間層の中の小さい結晶にYbとOが分布(偏在)していることが確認できた。
図11Aは、実施例であるNo.29に係るサンプルのTEM写真と、同図中、点線の丸で囲った箇所の電子線回折パターンとを示す図である。同図中、位置1~5でエネルギー分散型X線分析装置(EDX)による分析を行った。その結果を図11Bの表に示す。
図11Aおよび図11Bに示すように、位置1~3はYb・Oリッチであり、Ybに対するOの原子比は約0.5であった。すなわち、位置1~3はYb2Oであった。一方、位置5は、主相と考えられる部分であり、SbとCoを多く含んでいた。すなわち、位置5は、Yb、CoおよびSbを含んでなるスクッテルダイト型の結晶構造(所定の結晶粒)であった。なお、位置4は、位置5と比較してYbの量がやや少ないことから、析出したYbの相(主相)からYbが取られて形成された相(つまり、Ybの欠陥のあるYbの相)であると考えられる。
図11Aおよび図11Bに示すように、位置1~3はYb・Oリッチであり、Ybに対するOの原子比は約0.5であった。すなわち、位置1~3はYb2Oであった。一方、位置5は、主相と考えられる部分であり、SbとCoを多く含んでいた。すなわち、位置5は、Yb、CoおよびSbを含んでなるスクッテルダイト型の結晶構造(所定の結晶粒)であった。なお、位置4は、位置5と比較してYbの量がやや少ないことから、析出したYbの相(主相)からYbが取られて形成された相(つまり、Ybの欠陥のあるYbの相)であると考えられる。
図12Aは、比較例であるNo.7に係るサンプルのTEM写真と、同図中、点線の丸で囲った箇所の電子線回折パターンとを示す図である。図12Bは、比較例であるNo.7に係るサンプルのTEM写真と、同図中、点線の丸で囲った箇所の電子線回折パターンとを示す図である。図12Aおよび図12B中、位置1~4でEDXによる分析を行った。その結果を図12Cの表に示す。
図12A、図12Bおよび図12Cに示すように、位置1はYbリッチであり、Ybに対するOの原子比は約0.1であった。位置2は、主相と考えられる部分(所定の結晶粒)であり、SbとCoを多く含んでいた。位置3、4は、Yb・Oリッチであったが、Ybに対するOの原子比は0.4(小数第2位以下切り捨て)であった。すなわち、位置3、4はYb2.5Oであった。
図12A、図12Bおよび図12Cに示すように、位置1はYbリッチであり、Ybに対するOの原子比は約0.1であった。位置2は、主相と考えられる部分(所定の結晶粒)であり、SbとCoを多く含んでいた。位置3、4は、Yb・Oリッチであったが、Ybに対するOの原子比は0.4(小数第2位以下切り捨て)であった。すなわち、位置3、4はYb2.5Oであった。
図11Aと、図11Bに示した表と、図12Aおよび図12Bと、図12Cに示した表とを比較して分かるように、加圧焼結前に所定の熱処理(第1熱処理工程S4および第2熱処理工程S5)を行うことにより、Ybに対するOの原子比を0.4を超え1.5未満という所定の範囲にすることができる。
図13は、実施例であるNo.10に係るサンプルのTEM写真と電子線回折パターンを示す図である。同図中、(a)は、TEM写真である。(b)は、(a)中の位置1の部分(所定の結晶粒)に係る電子線回折パターンである。(c)は、(a)中の位置2の部分(粒間層)に係る電子線回折パターンである。(d)は、(a)中の位置3の部分(粒間層の界面-a)に係る電子線回折パターンである。(e)は、(a)中の位置3の部分(粒間層の界面-b)に係る電子線回折パターンである。
また、図14(a)~(c)は、電子線回折パターンとシミュレーションからの同定結果を示す図である。なお、同図中、(a)は、CoSb3(空間群:Im-3、a=9.08Å)に対して電子線を[011]方位に沿って入射させたものである。(b)は、Yb2O3(空間群:C2/m、a=13.73Å、b=3.42Å、c=8.45Å)に対して電子線を[101]方位に沿って入射させたものである。(c)は、YbO(空間群:Fm-3m、a=10.434Å)に対して電子線を[112]方位に沿って入射させたものである。図14(a)の電子線回折パターンと比較して、図14(b)の電子線回折パターンは面間隔が若干ずれており、図14(c)の電子線回折パターンは面間隔が一致していない。
また、図14(a)~(c)は、電子線回折パターンとシミュレーションからの同定結果を示す図である。なお、同図中、(a)は、CoSb3(空間群:Im-3、a=9.08Å)に対して電子線を[011]方位に沿って入射させたものである。(b)は、Yb2O3(空間群:C2/m、a=13.73Å、b=3.42Å、c=8.45Å)に対して電子線を[101]方位に沿って入射させたものである。(c)は、YbO(空間群:Fm-3m、a=10.434Å)に対して電子線を[112]方位に沿って入射させたものである。図14(a)の電子線回折パターンと比較して、図14(b)の電子線回折パターンは面間隔が若干ずれており、図14(c)の電子線回折パターンは面間隔が一致していない。
図13(b)の電子線回折パターンと図14(a)の電子線回折パターンの一致性が高いことから、実施例に係る熱電変換材料の多結晶体粒を構成する所定の結晶粒は、CoSb3に相当するものであることが分かった。
また、図13(c)、(d)の電子線回折パターンと図14(b)の電子線回折パターンの一致性が高いことから、実施例に係る熱電変換材料において隣り合う多結晶体粒の間に存在する粒間層の一部は、Yb2O3に相当するものであることが分かった。つまり、Ybに対するOの原子比が1.5であるか、またはこれに近い値(例えば、1.5未満)であることが分かった。
そして、図13(e)の電子線回折パターンと図14(c)の電子線回折パターンの一致性が高いことから、実施例に係る熱電変換材料において隣り合う多結晶体粒の間に存在する粒間層の一部は、YbOに相当するものであることが分かった。つまり、Ybに対するOの原子比が1であることが分かった。
図13に示す内容から、実施例に係る熱電変換材料は、Yb、CoおよびSbを含んでなるスクッテルダイト型の結晶構造(すなわち、結晶粒)を有する多数の多結晶体粒と、隣り合う多結晶体粒の間に存在し、Ybに対するOの原子比が0.4を超え1.5未満の結晶を有する粒間層と、を有していることが分かった。
また、図13(c)、(d)の電子線回折パターンと図14(b)の電子線回折パターンの一致性が高いことから、実施例に係る熱電変換材料において隣り合う多結晶体粒の間に存在する粒間層の一部は、Yb2O3に相当するものであることが分かった。つまり、Ybに対するOの原子比が1.5であるか、またはこれに近い値(例えば、1.5未満)であることが分かった。
そして、図13(e)の電子線回折パターンと図14(c)の電子線回折パターンの一致性が高いことから、実施例に係る熱電変換材料において隣り合う多結晶体粒の間に存在する粒間層の一部は、YbOに相当するものであることが分かった。つまり、Ybに対するOの原子比が1であることが分かった。
図13に示す内容から、実施例に係る熱電変換材料は、Yb、CoおよびSbを含んでなるスクッテルダイト型の結晶構造(すなわち、結晶粒)を有する多数の多結晶体粒と、隣り合う多結晶体粒の間に存在し、Ybに対するOの原子比が0.4を超え1.5未満の結晶を有する粒間層と、を有していることが分かった。
図7、図8、図10、図11A、図11Bおよび図13に示した結果は、他の実施例に係るサンプルについても同様であった(図示等省略)。
実施例であるNo.29に係るサンプルの電気抵抗をマッピングした。その図が、図2に示す観察図(観察範囲20μm×20μm)である。
また、比較例であるNo.7に係るサンプルの電気抵抗をマッピングした。その図が、図3に示す観察図(観察範囲20μm×20μm)である。
図2に示すように、実施例であるNo.29に係るサンプルは、Yb、CoおよびSbを含んでなるスクッテルダイト型の結晶構造を有する多数の多結晶体粒と、隣り合う多結晶体粒の間に存在し、Ybに対するOの原子比が0.4を超え1.5未満の結晶を有する粒間層と、を有しているので、電気抵抗が高抵抗である箇所が殆どなく、電気伝導率が高いことが確認された。一方、図3に示すように、比較例であるNo.7に係るサンプルは、電気抵抗が高抵抗である箇所が点在し、電気伝導率が低いことが確認された。
また、比較例であるNo.7に係るサンプルの電気抵抗をマッピングした。その図が、図3に示す観察図(観察範囲20μm×20μm)である。
図2に示すように、実施例であるNo.29に係るサンプルは、Yb、CoおよびSbを含んでなるスクッテルダイト型の結晶構造を有する多数の多結晶体粒と、隣り合う多結晶体粒の間に存在し、Ybに対するOの原子比が0.4を超え1.5未満の結晶を有する粒間層と、を有しているので、電気抵抗が高抵抗である箇所が殆どなく、電気伝導率が高いことが確認された。一方、図3に示すように、比較例であるNo.7に係るサンプルは、電気抵抗が高抵抗である箇所が点在し、電気伝導率が低いことが確認された。
図15Aは、比較例であるNo.7に係るサンプルの高抵抗部分のSEM写真である。そして、図15Bは、図15Aに示すライン分析位置について行った高感度ライン分析の結果を示すグラフである。これらは、図3に示した高抵抗相の成分組成を高感度で分析する目的で観察した結果となる。図15Bに示すように、検出したX線のピーク強度の比較から高抵抗相、すなわち高酸素濃度析出物(図15A参照)の成分組成はYb2O3であることが確認できる。
図16は、比較例であるNo.7に係るサンプルの多結晶体粒の境界線付近の断面SEM写真である。図16は、比較例であるNo.7に係るサンプルの信頼性低下を確認するために撮像したものである。図16に示すように、リボン粒界(急冷リボン作製の際に形成された粒界)で酸化物として存在しているYbが徐々に結晶粒界に沿って結晶粒の内部に侵入していくこと(リボン表面から粒界侵入し、材料を侵食すること)が確認された。さらに、図16にあるように、Yb(具体的にはYb酸化物)の近傍には、主相であるCo4Sb12から変化したCoSb2(これも主相である)が存在していた。CoSb2は、Co4Sb12よりも酸化し易いため結晶構造の変化や酸素原子の移動などから発生する応力で生じる機械的損傷のみならず、Co4Sb12と比較して活性が高い材料として働き得るためCoSb2などの酸化量の経時変化により電気伝導率も変化し、信頼性が低下すると考えられる。
以上、本発明に係る熱電変換材料、熱電変換モジュールおよび熱電変換材料の製造方法について実施形態および実施例により詳細に説明したが、本発明は前記した実施形態および実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。
1 熱電変換材料
11 多結晶体粒
12 粒間層
13 結晶
2 逆相の熱電変換材料
3 導電材
3a 第1の導電材
3b 第2の導電材
4 素子
5 下部基板
6 上部基板
7 第1の配線
8 第2の配線
11 多結晶体粒
12 粒間層
13 結晶
2 逆相の熱電変換材料
3 導電材
3a 第1の導電材
3b 第2の導電材
4 素子
5 下部基板
6 上部基板
7 第1の配線
8 第2の配線
Claims (10)
- Yb、CoおよびSbを含んでなるスクッテルダイト型の結晶構造を有する多数の多結晶体粒と、
隣り合う前記多結晶体粒の間に存在し、Ybに対するOの原子比が0.4を超え1.5未満の結晶を有する粒間層と、
を有することを特徴とする熱電変換材料。 - 前記Yb、CoおよびSbを含んでなるスクッテルダイト型の結晶構造が、組成式YbxCo4Sb12(ただし、xは0を超え0.3以下)であることを特徴とする請求項1に記載の熱電変換材料。
- 酸素濃度が1200容積ppm以下であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の熱電変換材料。
- 前記粒間層の厚みが5nm以上1μm以下であることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の熱電変換材料。
- 熱伝導率および電気伝導率のうちの少なくとも一方が異方性を有していることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の熱電変換材料。
- 請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の熱電変換材料と、スクッテルダイト型の結晶構造を有し、前記熱電変換材料とは逆相の熱電変換材料とを、導電材を介して接続した素子を複数有することを特徴とする熱電変換モジュール。
- Ybを含む素原料、Coを含む素原料およびSbを含む素原料をそれぞれ秤量する秤量工程と、
前記素原料を溶解して混合する混合工程と、
前記素原料の溶湯を液体急冷凝固法により急冷凝固してリボンを作製するリボン作製工程と、
作製した前記リボンに対して、酸素濃度を調節した不活性雰囲気中で熱処理を行う工程と、粉砕する工程と、を有し、多結晶体粒を得る第1熱処理工程と、
前記第1熱処理工程で熱処理した多結晶体粒を還元雰囲気中で熱処理する第2熱処理工程と、
前記第2熱処理工程で熱処理した多結晶体粒を不活性雰囲気中で加圧焼結して熱電変換材料を製造する加圧焼結工程と、
を含むことを特徴とする熱電変換材料の製造方法。 - 前記加圧焼結工程は、還元雰囲気中で前記多結晶体粒を熱処理した後、アルゴンガスで置換した雰囲気中で加圧焼結することを特徴とする請求項7に記載の熱電変換材料の製造方法。
- 前記加圧焼結工程における熱処理温度が600℃以上800℃以下であることを特徴とする請求項7または請求項8に記載の熱電変換材料の製造方法。
- 前記第1熱処理工程における前記酸素濃度が10容積ppm以下であることを特徴とする請求項7から請求項9のいずれか1項に記載の熱電変換材料の製造方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US16/962,461 US11171278B2 (en) | 2018-01-15 | 2019-01-15 | Thermoelectric conversion material, thermoelectric conversion module, and method for manufacturing thermoelectric conversion material |
JP2019565129A JP7283396B2 (ja) | 2018-01-15 | 2019-01-15 | 熱電変換材料、熱電変換モジュールおよび熱電変換材料の製造方法 |
EP19738268.2A EP3742504A4 (en) | 2018-01-15 | 2019-01-15 | THERMOELECTRIC CONVERSION MATERIAL, THERMOELECTRIC CONVERSION MODULE, AND PROCESS FOR MANUFACTURING THERMOELECTRIC CONVERSION MATERIAL |
CN201980008399.9A CN111602257B (zh) | 2018-01-15 | 2019-01-15 | 热电转换材料、热电转换组件和热电转换材料的制造方法 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018004538 | 2018-01-15 | ||
JP2018-004538 | 2018-01-15 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
WO2019139168A1 true WO2019139168A1 (ja) | 2019-07-18 |
Family
ID=67218343
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PCT/JP2019/000945 WO2019139168A1 (ja) | 2018-01-15 | 2019-01-15 | 熱電変換材料、熱電変換モジュールおよび熱電変換材料の製造方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11171278B2 (ja) |
EP (1) | EP3742504A4 (ja) |
JP (1) | JP7283396B2 (ja) |
CN (1) | CN111602257B (ja) |
WO (1) | WO2019139168A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2024202793A1 (ja) * | 2023-03-31 | 2024-10-03 | 株式会社プロテリアル | 熱電変換材料および熱電変換材料の製造方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001135865A (ja) * | 1999-11-04 | 2001-05-18 | Yamaguchi Industrial Promotion Foundation | 熱電変換材料およびその製造方法 |
JP2001185767A (ja) * | 1999-12-22 | 2001-07-06 | Yamaguchi Industrial Promotion Foundation | 熱電変換材料およびその熱電特性の制御方法 |
JP2004076046A (ja) | 2002-08-13 | 2004-03-11 | Showa Denko Kk | フィルドスクッテルダイト系合金、その製造方法および熱電変換素子 |
JP2013506312A (ja) * | 2009-09-28 | 2013-02-21 | コーニング インコーポレイテッド | Gasb充填スクッテルダイト複合材料、およびその製造方法 |
JP2013219095A (ja) * | 2012-04-05 | 2013-10-24 | Toyota Industries Corp | 熱電材料及びその製造方法 |
JP2016058558A (ja) * | 2014-09-10 | 2016-04-21 | 本田技研工業株式会社 | 熱電変換材料、熱電変換材料の製造方法および熱電変換モジュール |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2300160C2 (ru) * | 2002-08-13 | 2007-05-27 | Сова Денко К.К. | Сплав внедрения на основе скуттерудита, способ его получения и термоэлектрическое преобразовательное устройство, изготовленное с использованием такого сплава |
JP4885648B2 (ja) * | 2006-08-18 | 2012-02-29 | 古河機械金属株式会社 | n−型スクッテルダイト系Yb−Co−Sb熱電変換材料の製造方法 |
KR20090107491A (ko) * | 2006-12-20 | 2009-10-13 | 소와 케이디이 가부시키가이샤 | 열전변환 재료, 그 제조 방법 및 열전변환 소자 |
JP4486163B1 (ja) * | 2008-12-08 | 2010-06-23 | 株式会社アライドマテリアル | タングステン電極材料およびタングステン電極材料の製造方法 |
-
2019
- 2019-01-15 CN CN201980008399.9A patent/CN111602257B/zh active Active
- 2019-01-15 WO PCT/JP2019/000945 patent/WO2019139168A1/ja unknown
- 2019-01-15 EP EP19738268.2A patent/EP3742504A4/en active Pending
- 2019-01-15 JP JP2019565129A patent/JP7283396B2/ja active Active
- 2019-01-15 US US16/962,461 patent/US11171278B2/en active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001135865A (ja) * | 1999-11-04 | 2001-05-18 | Yamaguchi Industrial Promotion Foundation | 熱電変換材料およびその製造方法 |
JP2001185767A (ja) * | 1999-12-22 | 2001-07-06 | Yamaguchi Industrial Promotion Foundation | 熱電変換材料およびその熱電特性の制御方法 |
JP2004076046A (ja) | 2002-08-13 | 2004-03-11 | Showa Denko Kk | フィルドスクッテルダイト系合金、その製造方法および熱電変換素子 |
JP2013506312A (ja) * | 2009-09-28 | 2013-02-21 | コーニング インコーポレイテッド | Gasb充填スクッテルダイト複合材料、およびその製造方法 |
JP2013219095A (ja) * | 2012-04-05 | 2013-10-24 | Toyota Industries Corp | 熱電材料及びその製造方法 |
JP2016058558A (ja) * | 2014-09-10 | 2016-04-21 | 本田技研工業株式会社 | 熱電変換材料、熱電変換材料の製造方法および熱電変換モジュール |
Non-Patent Citations (4)
Title |
---|
J. YANG ET AL.: "Dual-frequency resonant phonon scattering in BaxRyCo4Sbl2 (R=La, Ce and Sr", APPLIED PHYSICS LETTERS, vol. 90, 2007, pages 192111 |
See also references of EP3742504A4 |
SHANYU WANG ET AL.: "High-performance n-type YbxCo4Sbl2: from partially filled skutterudite towards composite thermoelectrics", NPG ASIA MATERIALS, vol. 8, 2016, pages l-11 |
XUN SHI ET AL.: "Multiple-filled Skutterudites: High Thermoelectric Figure of Merit through Separately Optimizing Electrical and Thermal Transports", J. AM. CHEM. SOC., vol. 133, 2011, pages 7837 - 7846 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2024202793A1 (ja) * | 2023-03-31 | 2024-10-03 | 株式会社プロテリアル | 熱電変換材料および熱電変換材料の製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP7283396B2 (ja) | 2023-05-30 |
EP3742504A4 (en) | 2021-10-20 |
CN111602257A (zh) | 2020-08-28 |
US20210074898A1 (en) | 2021-03-11 |
JPWO2019139168A1 (ja) | 2021-02-04 |
US11171278B2 (en) | 2021-11-09 |
EP3742504A1 (en) | 2020-11-25 |
CN111602257B (zh) | 2023-04-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5480258B2 (ja) | 熱電材料およびカルコゲナイド化合物 | |
US20110120517A1 (en) | Synthesis of High-Efficiency Thermoelectric Materials | |
JP6401436B2 (ja) | 歪み電子状態密度を有する熱電素材及びその製造方法、並びにこれを含む熱電モジュール及び熱電装置 | |
JP6879435B2 (ja) | 熱電変換材料、およびそれを用いた熱電変換モジュール、並びに熱電変換材料の製造方法 | |
JP4854215B2 (ja) | 熱電材料とその製造方法 | |
JP6058668B2 (ja) | 熱電変換材料およびそれを用いた熱電変換モジュール並びに熱電変換材料の製造方法 | |
WO2019139168A1 (ja) | 熱電変換材料、熱電変換モジュールおよび熱電変換材料の製造方法 | |
JP5281308B2 (ja) | 熱電材料及びその製造方法 | |
Zybała et al. | Characterization of nanostructured bulk cobalt triantimonide doped with tellurium and indium prepared by pulsed plasma in liquid method | |
JP2019149523A (ja) | ストロンチウムを含む薄膜及びその製造方法 | |
JP7343853B2 (ja) | 熱電変換材料、熱電変換材料の焼結方法および熱電変換材料の製造方法 | |
Pham et al. | Oxygen vacancy-activated thermoelectric properties of ZnO ceramics | |
WO2024202793A1 (ja) | 熱電変換材料および熱電変換材料の製造方法 | |
KR102340065B1 (ko) | 비정질 상을 이용한 호이슬러계 열전재료 제조방법 및 이를 이용한 소자 | |
JP7394374B2 (ja) | 熱電変換材料 | |
WO2021193481A1 (ja) | 熱電変換素子の製造方法 | |
US11839158B2 (en) | Silicide alloy material and thermoelectric conversion device in which same is used | |
JP5653654B2 (ja) | 熱電材料の製造方法 | |
JP7562093B2 (ja) | 珪化物系合金薄膜及びその製造方法 | |
JP6858044B2 (ja) | 熱電変換材料及びその製造方法、並びに、熱電変換素子、熱電変換モジュール、移動体 | |
Mishra | Half-Heusler based multicomponent alloys for high temperature thermoelectric applications |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
Ref document number: 19738268 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |
|
ENP | Entry into the national phase |
Ref document number: 2019565129 Country of ref document: JP Kind code of ref document: A |
|
NENP | Non-entry into the national phase |
Ref country code: DE |
|
ENP | Entry into the national phase |
Ref document number: 2019738268 Country of ref document: EP Effective date: 20200817 |