WO2018221777A1 - 반도체 디바이스 테스트용 콘택트 및 테스트 소켓장치 - Google Patents

반도체 디바이스 테스트용 콘택트 및 테스트 소켓장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 반도체 디바이스를 테스트하기 위한 콘택트 및 소켓장치에 관한 것으로서, 본 발명의 콘택트는 금속 판재를 타발하고 벤딩하여 일체로 이루어진 스프링 콘택트로서, 일정 패턴의 다양한 스트립으로 이루어진 탄성부과, 탄성부의 양단에 각각 마련된 첨단부를 포함하며, 바람직하게는, 공간 체적 내에 도전성과 탄성을 갖는 필러가 충전됨으로써 내구성과 전기적 특성이 우수하다. 또한, 본 발명에 따른 테스트 소켓은 상술한 콘택트를 채용한 러버 타입으로서 미세 피치용 디바이스의 테스트에 적합한 효과가 있다.

Description

반도체 디바이스 테스트용 콘택트 및 테스트 소켓장치
본 발명은 반도체 디바이스를 테스트하기 위한 콘택트 및 소켓장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 IC를 테스트하기 위한 테스트 소켓에 내장되어 IC의 단자(lead)와 PCB의 패드(pad)를 전기적으로 연결하거나, 퍼스널 컴퓨터(PC), 모바일 폰 등의 전자제품의 내부에 있는 PCB와 CPU 등의 IC의 단자들을 전기적으로 연결시켜주는 것과 같이, 접점, 단자들 사이의 전기적인 연결을 위한 콘택트 및 소켓장치에 관한 것이다.
테스트 소켓은 반도체 후공정 단계에서 반도체 디바이스의 불량을 검사하기 위한 부품으로서, 제일 종단에서 디바이스와 접촉이 이루어져 테스트 공정 중에 테스트 장치와 테스트 보드를 통해 전달되는 신호를 디바이스에 전달하기 위한 부품이다.
테스트 소켓은 개별 디바이스가 정확한 위치로 이동하여 테스트 보드와의 정확히 접촉이 요구하는 기계적 접촉과 신호 전달 시에 접촉점에서 신호 왜곡 없이 전달 할 수 있도록 안정적인 전기적 접촉 특성이 요구한다.
이러한 테스트 소켓은 반복적인 테스트 공정에 의해 기계적, 전기적인 특성이 저하되는 소모성 부품이기 때문에 그 수명을 연장하여 사용 가능한 횟수를 늘림으로써 테스트 공정의 비용 절감이 절실히 요구된다.
한편 테스트 소켓의 수명을 결정하는 가장 큰 원인으로는 두 가지를 들 수 있다. 첫 번째 원인으로 기계적 부분에서 불안정한 접촉에 의해 소켓이 파손되는 문제와 두 번째 원인으로 지속적인 접촉으로 인해 접촉 부위의 오염이 접촉 저항을 상승시켜 전기적 특성을 불안정하게 하는 문제가 있다.
일반적으로 사용되는 테스트 소켓은 반도체 디바이스와 테스트 장치를 연결하는 도전성 수단의 형태에 따라서 핀(pin) 타입과 러버(rubber) 타입으로 구분될 수 있다.
도 1의 (a)(b)는 각각 일반적인 핀 타입과 러버 타입의 테스트 소켓의 단면 구성도이다.
도 1의 (a)를 참고하면, 핀 타입의 테스트 소켓(10)은 굴곡 형성되어 탄성을 갖는 다수의 콘택트 핀(12)이 마련된 소켓몸체(11)와, 소켓몸체(11) 상부에 상하 유동 가능한 커버(13)와, 커버(13)의 상하 이동과 연동되어 디바이스(20)를 고정 또는 고정 해제가 이루어지도록 소켓몸체(11)에 회동 가능하게 조립되는 래치(14)를 포함한다.
콘택트 핀(12)은 상하 방향으로 탄성을 갖고 디바이스의 단자와 테스트 장치의 패드를 전기적으로 연결하는 역할을 하며, 디바이스의 단자와 테스트 장치의 패드의 재질과 형태에 따라서 다양한 콘택트 핀이 나와 있으며, 예를 들어, 플런저, 배럴과 스프링으로 구성된 포고핀이 있다.
래치(14)는 가이드슬롯(14a)이 형성되며, 이 가이드슬롯(14a)에는 가이드핀(15a)이 체결되고 이 가이드핀(15a)은 일단이 커버(13)와 힌지 체결되는 구동링크(15)에 고정된다. 커버(13)는 코일스프링(16)에 의해 탄성 지지된다.
이와 같이 구성된 핀 타입의 테스트 소켓(10)은 커버(13)를 누르게 되면, 래치(14)가 바깥으로 벌어지면서 디바이스(20)의 로딩이 가능하며, 커버(13)를 놓게 되면 코일스프링(15)의 탄성 복원력에 의해 래치(14)가 디바이스(20) 상부를 눌러 고정이 이루어진다.
그러나 이러한 핀 타입의 테스트 소켓은 콘택트 핀(12)이 탄성을 갖기 위해 나선형 또는 곡선형 구조를 가짐으로써 전류 패스(current path)가 길어져서 신호 손실의 문제가 있으며, 또한, 초고주파 대역에서 불리한 구조이다. 또한, 미세 피치의 테스트 소켓에서는 콘택트 핀(12)이 수납되는 하우징 구조의 제조과정이 복잡해지고 비용이 크게 증가하는 문제점이 있다.
다음으로, 도 1의 (b)를 참고하면, 러버 타입의 테스트 소켓(30)은 절연성 실리콘 파우더가 고형화되어 신축성을 갖는 커넥터 몸체(31)와, 디바이스(20)의 솔더볼(단자)(21)과 대응되어 커넥터 몸체(31)에 수직으로 관통 형성되는 도전성 실리콘부(32)를 포함한다. 도전성 실리콘부(32)는 커넥터 몸체(31)를 수직으로 관통하여 대략 원통 형태를 갖는다.
이러한 러버 타입의 테스트 소켓의 제조 방법을 설명하면, 절연성 파우더와 도전성 파우더가 소정의 비율로 혼합된 실리콘 혼합물을 금형 내에 넣고 용융시킨 후에 도전성 실리콘부(32)가 형성될 위치에 통전을 시키면, 실리콘 혼합물의 도전성 파우더가 통전 위치로 모이게 되고 최종적으로 용융된 실리콘 혼합물을 고형화시켜 도전성 실리콘부(32)가 형성된 테스트 소켓(30)을 얻는다.
이와 같이 제작된 테스트 소켓(30)은 테스트 장치가 하부에 위치하여 도전성 실리콘부(32) 하단은 패드와 접촉되며, 도전성 실리콘부(32) 상단은 디바이스(20)가 상단에서 소정의 압력으로 가압되어 솔더볼(21)과 전기적으로 접촉이 이루어진다.
이러한 러버 타입의 테스트 소켓(30)은 소프트한 소재로 탄성을 갖기 때문에, 도전성 실리콘부(32)의 상부면은 솔더볼(21)을 감싸면서 안정적인 전기적 접촉이 이루어지며, 이때 도전성 실리콘부(32)는 중심 부분이 볼록하게 팽창된다.
그러나 이와 같은 러버 타입의 테스트 소켓(30)은 반복적인 테스트 과정에서 탄성력이 상실되어 사용 수명이 현저히 떨어지는 단점이 있으며, 따라서 사용횟수가 짧고 잦은 교체에 따른 비용 증가가 발생한다.
특히 러버 타입의 테스트 소켓은 미세피치의 디바이스에서 인접한 도전성 실리콘부(32) 사이의 충분한 절연 거리(L)의 확보가 용이하지 않아서 쇼트가 발생될 가능성이 높다.
구체적으로 미세피치의 디바이스용 테스트 소켓에서는 도전성 실리콘부(32) 사이의 거리가 매우 짧아지는 경우에 도전성 실리콘부(32) 사이의 충분한 절연 거리(L) 확보가 매우 중요하다.
그러나 앞서 설명한 것과 같이, 러버 타입의 테스트 소켓(30)은 절연성 파우더와 도전성 파우더가 혼합된 실리콘 혼합 용융물에 전압을 인가하여 통전로(current path)를 따라서 도전성 파우더가 모여서 도전성 실리콘부(32)를 형성하게 되며, 따라서 통전로를 따라서 모이게 되는 도전성 파우더는 정확히 정의된 사이즈(d) 내에 분포하지 못하며, 도전성 파우더의 밀도(D)는 연속적으로 감소하는 구간(δ)을 갖는다.
따라서 러버 타입의 테스트 소켓(30)은 도전성 실리콘부(32)가 정확히 정의된 직경(d)이 아닌 일정한 감쇄구간(δ)을 갖게 되어 인접한 도전성 실리콘부(32) 사이의 절연 거리(L)는 상당히 짧아지는 문제점이 있으며, 이는 미세 피치용 테스트 소켓으로는 사용하기에는 상당히 불리하다.
또한, 러버 타입의 테스트 소켓은 제조 과정 중에 실리콘 혼합 용융물에 전압을 인가하여 통전로를 따라서 충분한 도전성 파우더 밀도를 얻기 위해서는 상당한 시간 동안에 전압을 인가해야 하므로 제작 공정이 길어지는 단점이 있다.
이에 본 발명자는 종래기술의 핀(pin) 타입과 러버(rubber) 타입의 단점을 보완하고 장점을 결합할 수 있는 새로운 타입의 하이브리드 콘택트와 테스트 소켓장치를 개발하였으며, 이를 특허출원하고자 하는 것이다.
[선행기술문헌]
[특허문헌]
(특허문헌 1) 한국공개특허공보 제10-2006-0062824호(공개일자: 2006.06.12)
본 발명은 이러한 종래기술의 문제점을 개선하기 위한 것으로서, 특히 종래기술의 핀 타입과 러버 타입의 테스트 소켓장치의 단점을 보완하여 전기적 특성이 우수하고 사용 수명을 연장할 수 있는 미세 피치의 디바이스에 적합한 테스트 소켓장치를 제공하고자 하는 것이다.
또한, 본 발명은 이러한 미세 피치의 디바이스용 테스트 소켓장치에 적합한 구조를 갖는 콘택트를 제공하고자 한다.
본 발명에 일 형태에 따른 콘택트는, 금속 판재를 타발하고 원통 형상으로 롤링하여 일체로 이루어진 콘택트로서, 상방향으로 돌출 형성된 상측첨단부가 마련되어 원통 형상으로 이루어진 상측머리부와; 상기 상측머리부에서 측하방으로 경사를 갖고 연장되어 나선형의 원통 형상으로 벤딩된 스트립으로 이루어져 상기 상측머리부와 동일 축 상에 마련되는 탄성부와; 하방향으로 돌출 형성된 하측첨단부가 마련되며, 상기 탄성부의 하측 선단에서 수직하게 연장 형성되어 상기 탄성부와 동일 축 상에 마련되는 하측머리부를 포함한다.
본 발명의 다른 형태에 따른 콘택트는, 금속 판재를 타발하고 원통 형상으로 롤링하여 일체로 이루어진 콘택트로서, 복수의 동일 사이즈의 폐루프 스트립이 제1마디에 의해 직렬로 연결되어 원통 형상으로 벤딩된 제1탄성부와; 상기 폐루프 스트립과 동일 사이즈를 갖는 복수의 폐루프 스트립이 제2마디에 의해 직렬로 연결되어 원통 형상으로 벤딩된 제2탄성부와; 상기 제1마디와 상기 제2마디 보다 더 긴 폭과 길이를 갖고 상기 제1탄성부와 상기 제2탄성부 각각의 최하단과 최상단의 폐루프 스트립을 직렬로 연결하는 절곡 마디와; 상방향으로 돌출 형성된 상측첨단부가 마련되어 상기 제1탄성부의 최상단에서 연장되어 원통 형상으로 벤딩되는 상측머리부와; 하방향으로 돌출 형성된 하측첨단부가 마련되어 상기 제2탄성부의 최하단에서 연장되어 원통 형상으로 벤딩되는 하측머리부를 포함한다.
본 발명의 또 다른 형태에 따른 콘택트는, 금속 판재를 타발하고 원통 형상으로 롤링하여 일체로 이루어진 콘택트로서, 수평 스트립과, 상기 수평 스트립의 일단에서 수직 연장되고 상기 수평 스트립 보다는 길이가 짧은 수직 스트립으로 구성된 단위 스트립이 지그재그 형상으로 연결되어 원통 형상으로 벤딩되는 제1탄성부와; 상기 제1탄성부와 동일한 구조와 사이즈를 갖는 단위 스트립이 지그재그 형상으로 연결되어 원통 형상으로 벤딩되는 제2탄성부와; 상기 제1탄성부와 상기 제2탄성부를 구성하는 수직 스트립 보다 더 긴 폭과 길이를 갖고 상기 제1탄성부와 상기 제2탄성부 각각의 최하단과 최상단의 수평 스트립의 중앙을 수직으로 연결하는 절곡 마디와; 상방향으로 돌출 형성된 상측첨단부가 마련되어 상기 제1탄성부의 최상단에서 연장되어 원통 형상으로 벤딩되는 상측머리부와; 하방향으로 돌출 형성된 하측첨단부가 마련되어 상기 제2탄성부의 최하단에서 연장되어 원통 형상으로 벤딩되는 하측머리부를 포함한다.
바람직하게는, 적어도 상기 상측머리부와 상기 하측머리부 사이의 코일부 구간에 원통 형상으로 충전되어 도전성과 탄성을 갖는 필러를 더 포함한다.
또한, 본 발명에 따른 테스트 소켓은, 상술한 콘택트를 포함하는 테스트 소켓에 관한 것으로서, 디바이스의 단자와 대응되어 상기 콘택트가 수납 위치하게 되는 복수의 관통홀이 형성된 마운팅부와; 상기 콘택트를 상기 마운팅부와 일체로 고정하게 되는 탄성을 갖는 절연몸체부를 포함한다.
본 발명의 콘택트는, 금속 판재를 타발하고 벤딩하여 일체로 이루어진 스프링 콘택트로서, 일정 패턴의 단일 또는 폐루프 스트립으로 이루어진 탄성부과, 탄성부의 양단에 각각 마련된 첨단부를 포함하며, 바람직하게는, 공간 체적 내에 도전성과 탄성을 갖는 필러가 충전됨으로써 종래기술의 핀 타입과 러버 타입의 테스트 소켓장치 각각의 단점을 보완하고 전기적 특성이 우수하며, 사용 수명을 연장할 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명에 따른 테스트 소켓은 상술한 콘택트를 채용한 러버 타입으로서 종래기술의 러버 타입의 테스트 소켓장치의 단점을 보완하며, 특히 미세 피치용 디바이스의 테스트에 적합한 효과가 있다.
도 1의 (a)(b)는 각각 일반적인 핀 타입과 러버 타입의 테스트 소켓의 단면 구성도,
도 2, 3은 본 발명의 제1실시예에 따른 콘택트를 보여주는 도면,
도 4, 5는 본 발명의 제2실시예에 따른 콘택트를 보여주는 도면,
도 6, 7은 본 발명의 제3실시예에 따른 콘택트를 보여주는 도면,
도 8, 9는 본 발명의 제4실시예에 따른 콘택트를 보여주는 도면,
도 10, 11은 본 발명의 제5실시예에 따른 콘택트를 보여주는 도면,
도 12, 13은 본 발명의 제6실시예에 따른 콘택트를 보여주는 도면,
도 14, 15는 본 발명의 제7실시예에 따른 콘택트를 보여주는 도면,
도 16, 17은 본 발명의 제8실시예에 따른 콘택트를 보여주는 도면,
도 18, 19는 본 발명의 제9실시예에 따른 콘택트를 보여주는 도면,
도 20, 21은 본 발명의 제10실시예에 따른 콘택트를 보여주는 도면,
도 22는 본 발명의 제1실시예에 따른 테스트 소켓을 보여주는 도면,
도 23은 본 발명의 제2실시예에 다른 테스트 소켓을 보여주는 도면.
먼저 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.
따라서 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 하나의 실시예에 불과할 뿐이고, 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형 예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.
본 발명은 금속 판재를 타발하여 형성된 스트립을 원통 형상으로 롤링하여 일체로 구성된 콘택트와, 이 콘택트를 기재로 하여 원통형 구조 내에 충전되는 도전성의 탄성충전부로 이루어진 하이브리드 타입의 콘택트를 기술상의 특징으로 하며,
이하, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 콘택트를 첨부한 도면을 참고하여 상세하게 설명한다.
제1실시예
도 2, 3은 본 발명의 제1실시예에 따른 콘택트를 보여주는 도면으로서, 도 2의 (a)는 좌측부터 판상 패턴의 전개된 상태의 좌측면도 및 평면도이며, (b)는 상단부터 롤링 가공된 콘택트의 평면도 및 정면도이며, 도 3의 (a)는 롤링하여 가공된 콘택트의 사시도이며, (b)는 상단부터 필러가 충전된 하이브리드 타입의 콘택트의 평면도 및 정면도이다.
도 2의 (a)(b) 및 도 3의 (a)를 참고하면, 본 실시예에 따른 콘택트(100)의 판상 패턴은 상방향으로 돌출 형성된 상측첨단부(111)가 마련된 상측머리부(110)와, 상측머리부(110)에서 측하방으로 경사를 갖고 연장되는 스트립 형태의 탄성부(120)와, 하방향으로 돌출 형성된 하측첨단부(131)가 마련되어 탄성부(120)의 하측 선단에서 연장 형성된 하측머리부(130)를 포함한다.
콘택트는 주로 베릴륨동(BeCu), 동합금, 또는 스테인레스스틸(SUS) 등을 소재로 하는 판재를 타발하여 일정 패턴으로 제작하고 이를 원통 형상으로 벤딩하여 콘택트로 제작될 수 있으며, 표면에 금, 팔라듐(Pd), 팔라듐(PdNi), 팔라듐니켈(PdNi) 또는 팔라튬코발트(PdCo) 등이 도금될 수 있다.
상측머리부(110)는 판상의 패턴을 원통 형상으로 롤링하여 구성되며, 이때 상측첨단부(111)는 복수 개의 치형으로 구성될 수 있으며, 상측머리부(110)의 테두리를 따라서 상측으로 돌출 형성된다.
탄성부(120)는 일정한 폭을 갖는 스트립으로서, 나선형의 원통 형상으로 벤딩되어 상측머리부(110)와 동일 축(C) 상에 마련된다. 본 실시예에서 탄성부(120)는 연장 구간 중에 절곡 마디(123)를 가지며, 이때 절곡 마디(123)는 서로 다른 방향을 갖는 스트립이 연결되는 구간을 의미하여 이러한 절곡 마디(123)는 스트립의 일부 구간 중에 폭이 커지거나 작아지는 형태로 제공되어 원통 형상으로 롤(roll) 가공 시에 롤링의 중심이 되는 작용점 역할을 한다.
본 실시예에서 탄성부(120)는 절곡 마디(123)를 기준으로 상측머리부(110)에서 연장되는 제1탄성부(121)와, 마디(123)를 기준으로 하여 하측머리부(130)에서 연장되는 제2탄성부(122)를 포함하며, 제1탄성부(121)와 제2탄성부(122)는 절곡 마디(123)를 기준으로 하여 상하 대칭되어 서로 반대 방향으로 연장되어 제1탄성부(121)와 제2탄성부(122)의 권취 방향은 서로 반대 방향이다.
하측머리부(130)는 상측머리부(110)와 동일 축(C)에 마련되어 상측머리부(110), 탄성부(120) 및 하측머리부(130)는 하나의 축(C) 상에 위치한다.
다음으로 도 3의 (b)에 예시된 것과 같이, 이와 같이 구성된 콘택트(100)는 원통 형상의 내부에 도전성과 탄성을 갖는 필러(140)가 충전될 수 있다. 참고로, 본 발명에서 필러가 충전된 콘택트를 특히 하이브리드 콘택트로 구분하여 지칭하도록 한다.
본 실시예에서 필러(140)는 도전성을 갖는 입자가 혼입된 절연부재일 수 있으며, 예를 들어, 도전성의 파우더와 절연성의 실리콘 파우더의 혼합물을 원통 형상의 콘택트 내에 충전하며, 이를 용융한 후에 고형화함으로써 도전성과 탄성을 갖는 필러(140)가 구비된 하이브리드 콘택트를 얻을 수 있다.
한편, 혼합물의 용융, 고형화 과정에서 몰드가 사용될 수 있다. 몰드는 수납홀이 형성되어 벤딩 가공된 콘택트가 삽입 위치하며, 콘택트가 삽입된 수납홀 내에 혼합물을 넣고 이를 용융, 고형화한 후에 몰드에서 분리하여 하이브리드 콘택트를 얻을 수 있다.
도전성을 갖는 입자는 금속물질의 입자일 수 있으며, 또는 금속 또는 비금속 입자의 표면에 금, 은, 팔라듐(Pd), 팔라듐니켈(PdNi), 또는 팔라튬코발트(PdCo) 등을 도금한 입자일 수 있으며, 또는 탄소나노튜브 등의 혼입될 수 있다.
필러(140)를 구성하는 절연성을 갖는 주 기재로는 탄성 고분자 물질이 사용될 수 있으며, 대표적으로 실리콘이 사용될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.
또한, 본 실시예에서 필러(140)는 상측첨단부(111)에서 하측첨단부(131)까지 원통 형상으로 충전이 이루어지는 것을 예시하고 있으나, 필요에 따라서 상측머리부(110)와 하측머리부(130) 구간을 제외하고 상대적으로 큰 전기적 저항이 발생되는 코일부(120) 구간에만 원통 형상으로 충전이 이루어질 수 있다.
제2실시예
도 4, 5는 본 발명의 제2실시예에 따른 콘택트를 보여주는 도면으로서, 도 4의 (a)는 좌측부터 판상 패턴의 전개된 상태의 좌측면도 및 평면도이며, (b)는 상단부터 롤링 가공된 콘택트의 평면도 및 정면도이며, 도 5는 상단부터 필러가 충전된 하이브리드 타입의 콘택트의 평면도 및 정면도이다.
도 4의 (a)(b)를 참고하면, 본 실시예에 따른 콘택트(200)의 판상 패턴은 상방향으로 돌출 형성된 상측첨단부(211)가 마련된 상측머리부(210)와, 상측머리부(210)에서 측하방으로 경사를 갖고 연장되는 스트립 형태의 탄성부(220)와, 하방향으로 돌출 형성된 하측첨단부(231)가 마련되어 탄성부(220)의 하측 선단에서 연장 형성된 하측머리부(230)를 포함한다.
상측머리부(210)는 판상의 패턴을 원통 형상으로 롤링하여 구성되며, 상측첨단부(211)는 복수 개로 구성되어 상측머리부(210)의 테두리를 따라서 상측으로 돌출 형성된다.
탄성부(220)는 일정한 폭을 갖는 스트립으로서, 나선형으로 원통 형상으로 벤딩되어 상측머리부(210)와 동일 축(C) 상에 마련된다. 특히 본 실시예에서 탄성부(220)는 연장 구간 중에 이음 마디(223)를 가지며, 이러한 이음 마디(223)는 스트립의 일부 구간 중에 폭이 커지거나 작아지는 형태로 제공되며 원통 형상으로 롤(roll) 가공 시에 작용점 역할을 한다.
본 실시예에서 탄성부(220)는 이음 마디(223)를 기준으로 상측머리부(210)에서 연장되는 제1탄성부(221)와, 이음 마디(223)를 기준으로 하여 하측머리부(230)에서 연장되는 제2탄성부(222)를 포함하며, 제1탄성부(221)와 제2탄성부(222)는 동일한 경사각을 갖고 연장되어 제1탄성부(221)와 제2탄성부(222)의 권취 방향은 같은 방향이다.
하측머리부(230)는 상측머리부(210)와 동일 축(C)에 마련되어 상측머리부(210), 탄성부(220) 및 하측머리부(230)는 하나의 축(C) 상에 위치한다.
다음으로 도 5에 예시된 것과 같이, 이와 같이 구성된 콘택트(200)는 원통 형상의 내부에 도전성과 탄성을 갖는 필러(240)가 충전되어 하이브리드 콘택트를 얻을 수 있다.
필러(240)는 앞서 제1실시예에서 설명한 것과 같이, 도전성의 파우더와 절연성의 실리콘 파우더의 혼합물을 콘택트(200) 내에 충전하여 고형화하여 제작될 수 있으며, 또한, 본 발명의 실시예들에서 콘택트와 필러의 소재와 충전 구간은 앞서 제1실시예와 동일하므로 이하 중복되는 설명은 생략하도록 한다.
제3실시예
도 6, 7은 본 발명의 제3실시예에 따른 콘택트를 보여주는 도면으로서, 도 6의 (a)는 좌측부터 판상 패턴의 평면도와 좌측면도이며, (b)는 상단부터 롤링 가공된 콘택트이며, 도 7은 상단부터 필러가 충전된 하이브리드 타입의 콘택트의 정면도와 평면도이다.
도 6의 (a)(b)를 참고하면, 본 실시예에 따른 콘택트(300)의 판상 패턴은 상방향으로 돌출 형성된 상측첨단부(311)가 마련된 상측머리부(310)와, 상측머리부(310)에서 측하방으로 경사를 갖고 연장되는 스트립 형태의 탄성부(320)와, 하방향으로 돌출 형성된 하측첨단부(331)가 마련되어 탄성부(320)의 하측 선단에서 연장 형성된 하측머리부(330)를 포함한다.
상측머리부(310)는 판상의 패턴을 원통 형상으로 롤링하여 구성되며, 상측첨단부(311)는 복수 개로 구성되어 상측머리부(310)의 테두리를 따라서 상측으로 돌출 형성된다.
탄성부(320)는 일정한 폭을 갖는 스트립으로서, 나선형으로 원통 형상으로 벤딩되어 상측머리부(310)와 동일 축(C) 상에 마련되어 상측머리부(310)와 탄성부(320)는 동일한 사이즈의 원통 형상을 갖는다.
한편, 도 6의 (b)에 예시된 것과 같이, 본 실시예에서 원통 형상으로 벤딩된 상측머리부(310)와 탄성부(320)는 동일한 사이즈의 원통 형상임을 예시하고 있으나, 상측머리부(310)와 탄성부(320)의 사이즈는 서로 다를 수 있다.
본 실시예에서 탄성부(320)는 앞서의 실시예들과는 다르게 별도의 마디가 없이 일정한 폭과 경사각을 갖고 연장되어 하나의 권취 방향을 갖고 나선형으로 벤딩 가공된다.
하측머리부(330)는 상측머리부(310)와 동일 축(C)에 마련되어 상측머리부(210), 탄성부(220) 및 하측머리부(230)는 하나의 축(C) 상에 위치한다.
특히 본 실시예에서 하측머리부(330)는 앞서의 실시예들과는 다르게 원통 형상이 아닌 판상일 수 있으며, 이때 하측머리부(330)는 탄성부(320)의 폭 보다는 다소 크게 설정되어 판재 패턴을 갖는 탄성부를 원통 형상으로 롤(roll) 가공 시에 하측머리부(330)는 작용점 역할을 한다.
도 7에 예시된 것과 같이, 이와 같이 구성된 콘택트(300)는 원통 형상의 내부에 도전성과 탄성을 갖는 필러(340)가 충전되어 하이브리드 콘택트를 얻을 수 있다. 바람직하게는, 필러(340) 하단은 하측첨단부(331)와 같은 높이까지 위치하게 되며, 동일하게 필러(240) 상단은 상측첨단부와 같은 높이까지 위치하여 콘택트(300)에 의해 정의되는 공간 체적에는 필러(340)가 충전된다.
제4실시예
도 8, 9는 본 발명의 제4실시예에 따른 콘택트를 보여주는 도면으로서, 도 8의 (a)는 판상 패턴의 평면도와 좌측면도이며, (b)는 상단부터 롤링 가공된 형태의 콘택트의 평면도 및 정면도이며, 도 9의 (a)는 롤링하여 가공된 콘택트의 사시도이며, (b)는 상단부터 필러가 충전된 하이브리드 타입의 콘택트의 정면도와 평면도이다.
도 8의 (a)(b) 및 도 9의 (a)를 참고하면, 본 실시예에 따른 콘택트(400)의 판상 패턴은 상방향으로 돌출 형성된 상측첨단부(411)가 마련된 상측머리부(410)와, 상측머리부(410)에서 지그재그 형상으로 연장되는 스트립 형태의 탄성부(420)와, 하방향으로 돌출 형성된 하측첨단부(431)가 마련되어 탄성부(420)의 하측 선단에서 연장 형성된 하측머리부(430)를 포함한다.
상측머리부(410)는 판상의 패턴을 원통 형상으로 롤링하여 구성되며, 상측첨단부(411)는 복수 개로 구성되어 상측머리부(410)의 테두리를 따라서 상측으로 돌출 형성된다.
본 실시예에서 탄성부(420)는 상측머리부(410)에서 지그재그 형상으로 연장되는 스트립으로서, 상측머리부(410)에서 측하방으로 경사를 갖고 연장되는 제1탄성부(411)와, 제1탄성부(411) 선단에서 상하 대칭되게 경사를 갖고 연장되는 제2탄성부(412)와, 제2탄성부(412)와 절곡 마디(415)를 갖고 연장되어 제2탄성부(412) 및 제1탄성부(411)와 상하 대칭되게 마련된 제3탄성부(413) 및 제4탄성부(414)를 포함한다.
바람직하게는, 제1탄성부(411)와 제2탄성부(411)는 곡선 형태의 제1곡선 마디(416a)에 의해 연결되며, 제3탄성부(413)와 제4탄성부(414) 역시도 제2곡선 마디(416b)에 의해 연결된다.
따라서 원통 형상으로 벤딩 가공된 탄성부(420)에서 제1탄성부(411)와 제3탄성부(413)는 동일 방향으로 권취되며, 또한, 제2탄성부(412)와 제4탄성부(414) 역시도 동일 방향으로 권취된다. 반면에, 제1탄성부(411) 및 제3탄성부(413)와, 제2탄성부(412) 및 제4탄성부(414)의 권취 방향은 서로 반대 방향이다.
참고로, 본 발명에서는 스트립 형태의 탄성부는 구간 중에 다양한 형태의 마디가 형성될 수 있으며, 마디의 형태에 따라서 스트립의 구간 중에 국소적으로 각도 변화가 연속적으로 변하는 것은 "곡선 마디"라고 하며, 스트립의 각도 변화가 불연속적으로 변하는 것을 "절곡 마디"라고 하며, 스트립이 동일 각도로 연장되되 소정의 단차를 갖는 것을 "이음 마디"로 구분할 수 있다.
이러한 마디는 앞서도 설명한 것과 같이, 스트립의 길이 방향으로 폭의 차이를 가질 수 있으며, 판재 패턴을 갖는 탄성부를 원통 형상으로 롤 가공 시에 힘이 작용하게 되는 작용점 역할을 할 수 있으며, 또는 마디를 기준으로 인접한 탄성부의 권취 방향을 바꿀 수 있으며, 또는 코일 형상의 탄성부 구간 중에 피치 변화를 줄 수 있다. 따라서 본 발명에서 탄성부는 이러한 마디에 의해 다양한 변형예들이 가능하여 콘택트에 요구되는 다양한 스트링 특성을 구현할 수 있다.
하측머리부(430)는 상측머리부(410)와 동일 축(C)에 마련되어 상측머리부(410), 탄성부(420) 및 하측머리부(430)는 하나의 축(C) 상에 위치한다.
도 9의 (b)에 예시된 것과 같이, 이와 같이 구성된 콘택트(400)는 원통 형상의 내부에 도전성과 탄성을 갖는 필러(440)가 충전되어 하이브리드 콘택트를 얻을 수 있다.
제5실시예
도 10, 11은 본 발명의 제5실시예에 따른 콘택트를 보여주는 도면으로서, 도 10의 (a)는 좌측부터 판상 패턴의 평면도와 좌측면도이며, (b)는 상단부터 롤링 가공된 형태의 콘택트의 평면도 및 정면도이며, 도 11은 필러가 충전된 하이브리드 타입의 콘택트의 정면도와 평면도이다.
도 10의 (a)(b)를 참고하면, 본 실시예에 따른 콘택트(500)의 판상 패턴은 상방향으로 돌출 형성된 상측첨단부(511)가 마련된 상측머리부(510)와, 상측머리부(510)에서 지그재그 형상으로 연장되는 스트립 형태의 탄성부(520)와, 하방향으로 돌출 형성된 하측첨단부(531)가 마련되어 탄성부(520)의 하측 선단에서 연장 형성된 하측머리부(530)를 포함한다.
특히 본 실시에서 탄성부(520)는 직선의 스트립의 일부 구간 중에 폭이 상이한 이음 마디(521a)를 포함하며, 이러한 이음 마디(521a)는 원통 형상으로 벤딩 가공 시에 코일 형상의 탄성부(520)에서 피치(pitch)가 상이한 구간(a1≠a2)을 갖도록 하여 보다 다양한 스프링 특성을 구현할 수 있다.
또한, 탄성부(520)는 앞서 실시예에서 언급된 것과 같이, 연장되는 스트립의 방향 전환이 이루어지는 구간 중에 절곡 마디(522)를 가질 수 있다.
하측머리부(530)는 상측머리부(510)와 동일 축(C)에 마련되어 상측머리부(510), 탄성부(520) 및 하측머리부(530)는 하나의 축(C) 상에 위치한다.
도 11에 예시된 것과 같이, 이와 같이 구성된 콘택트(500)는 원통 형상의 내부에 도전성과 탄성을 갖는 필러(540)가 충전되어 하이브리드 콘택트를 얻을 수 있다.
제6실시예
도 12, 13은 본 발명의 제6실시예에 따른 콘택트를 보여주는 도면으로서, 도 12의 (a)는 좌측부터 판상 패턴의 전개된 상태의 좌측면도 및 평면도이며, (b)는 상단부터 롤링 가공된 콘택트의 평면도, 정면도 및 저면도이며, 도 13은 상단부터 필러가 충전된 하이브리드 타입의 콘택트의 평면도, 정면도 및 저면도이다.
도 12의 (a)(b)를 참고하면, 본 실시예에 따른 콘택트(600)의 판상 패턴은 상방향으로 돌출 형성된 상측첨단부(611)가 마련된 상측머리부(610)와, 상측머리부(610)에서 측하방으로 경사를 갖고 연장되는 스트립 형태의 탄성부(620)와, 하방향으로 돌출 형성된 하측첨단부(631)가 마련되어 탄성부(620)의 하측 선단에서 연장 형성된 하측머리부(630)를 포함한다.
상측머리부(610)는 판상의 패턴을 원통 형상으로 롤링하여 구성되며, 이때 상측첨단부(111)는 복수 개로 구성되어 상측머리부(110)의 테두리를 따라서 상측으로 돌출 형성된다.
탄성부(620)는 일정한 폭을 갖는 스트립으로서, 나선형으로 원통 형상으로 벤딩되어 상측머리부(610)와 동일 축(C) 상에 마련된다.
특히 본 실시예에서 하측머리부(630)는 판상 패턴의 평면(P)에 대해 일정 각도(θ1)의 경사를 가지며, 원통형 중심으로 벤딩 가공되어 하측머리부(630)는 원뿔 형상을 갖는 것을 특징으로 한다.
도 13을 참고하면, 이와 같이 구성된 콘택트(600)는 원통 형상의 내부에 도전성과 탄성을 갖는 필러(640)가 충전될 수 있다.
제7실시예
도 14, 15는 본 발명의 제7실시예에 따른 콘택트를 보여주는 도면으로서, 도 14의 (a)는 좌측부터 판상 패턴의 전개된 상태의 좌측면도 및 평면도이며, (b)는 상단부터 롤링 가공된 콘택트의 평면도 및 정면도이며, 도 15는 상단부터 필러가 충전된 하이브리드 타입의 콘택트의 평면도 및 정면도이다.
도 14의 (a)(b)를 참고하면, 본 실시예에 따른 콘택트(700)의 판상 패턴은 상방향으로 돌출 형성된 상측첨단부(711)가 마련된 상측머리부(710)와, 상측머리부(710)에서 측하방으로 경사를 갖고 연장되는 스트립 형태의 탄성부(720)와, 하방향으로 돌출 형성된 하측첨단부(731)가 마련되어 탄성부(720)의 하측 선단에서 연장 형성된 하측머리부(730)를 포함한다.
특히, 본 실시예에서 상측첨단부(711)는 복수 개의 치형으로 구성되어 판상의 패턴의 평면(P)에 대해 일정 각도(θ2)의 경사를 가지며, 따라서 원통형 중심으로 벤딩되어 상측첨단부(711)는 원뿔 형상을 갖는다. 또한, 하측첨단부(731) 역시도 복수 개의 치형으로 구성되어 판상 패턴의 평면(P)에 대해 일정 각도(θ3)의 경사를 가지며, 원통형 중심으로 벤딩되어 원뿔 형상을 갖는다.
도 15를 참고하면, 이와 같이 구성된 콘택트(700)는 원통 형상의 내부에 도전성과 탄성을 갖는 필러(740)가 충전될 수 있다.
제8실시예
도 16, 17은 본 발명의 제8실시예에 따른 콘택트를 보여주는 도면으로서, 도 16의 (a)는 좌측부터 판상 패턴의 전개된 상태의 좌측면도 및 평면도이며, (b)는 상단부터 롤링 가공된 콘택트의 평면도 및 정면도이며, 도 17의 (a)는 필러가 충전된 하이브리드 타입의 콘택트의 사시도이며, (b)는 상단부터 차례로 평면도 및 정면도를 보여주고 있다.
도 16의 (a)(b)와 도 17의 (a)를 참고하면, 본 실시예에 따른 콘택트(800)의 판상 패턴은 상방향으로 돌출 형성된 상측첨단부(811)가 마련된 상측머리부(810)와, 상측머리부(810)에서 측하방으로 경사를 갖고 연장되는 스트립 형태의 탄성부(820)와, 하방향으로 돌출 형성된 하측첨단부(831)가 마련되어 탄성부(820)의 하측 선단에서 연장 형성된 하측머리부(830)를 포함한다.
특히, 본 실시예에서 상측첨단부(811)와 하측첨단부(831)는 복수 개의 치형으로 구성되며, 이때 상측머리부(810)와 하측머리부(830)는 일회전 이상 태엽형(spiral)으로 권취되어 평면도 상으로 상측첨단부(811)와 하측첨단부(831)는 태엽형으로 권취된 구조를 갖는다.
도 17을 참고하면, 이와 같이 구성된 콘택트(800)는 원통 형상의 내부에 도전성과 탄성을 갖는 필러(840)가 충전될 수 있다.
제9실시예
도 18, 19는 본 발명의 제9실시예에 따른 콘택트를 보여주는 도면으로서, 도 18의 (a)는 좌측부터 판상 패턴의 전개된 상태의 좌측면도 및 평면도이며, (b)는 상단부터 롤링 가공된 콘택트의 평면도 및 정면도이며, 도 19는 상단부터 필러가 충전된 하이브리드 타입의 콘택트의 평면도 및 정면도를 보여주고 있다.
도 18의 (a)(b)를 참고하면, 본 실시예에 따른 콘택트(900)의 판상 패턴은 복수의 동일 사이즈의 폐루프 스트립(911)이 제1마디(912)에 의해 직렬로 연결되는 제1탄성부(910)와, 폐루프 스트립(911)과 동일 사이즈를 갖는 복수의 폐루프 스트립(921)이 제2마디(922)에 의해 직렬로 연결되는 제2탄성부(920)와, 제1마디(912) 및 제2마디(922) 보다 더 긴 폭과 길이를 갖고 제1탄성부(910)와 제2탄성부(920) 각각의 최하단과 최상단의 폐루프 스트립을 직렬로 연결하는 절곡마디(930)와, 상방향으로 돌출 형성된 상측첨단부(941)가 마련되어 제1탄성부(910)의 최상단에서 연장되어 원통 형상으로 벤딩되는 상측머리부(942)와, 하방향으로 돌출 형성된 하측첨단부(951)가 마련되어 제2탄성부(920)의 최하단에서 연장되어 원통 형상으로 벤딩되는 하측머리부(952)를 포함한다.
본 실시예에서 제1탄성부(910)와 제2탄성부(920)를 구성하는 폐루프 스트립(911)(921)은 모두 동일한 사이즈로서 대략 사각형(rectangular) 형상을 가지며, 이웃하는 폐루프 스트립(911)(921)은 단일 마디(912)(922)에 의해 직렬 형태로 연결된다. 본 실시예에서 제1마디(912)와 제2마디(922)는 동일한 길이의 폭을 갖는 것을 예시하고 있으나, 그 길이와 폭은 서로 다를 수 있다.
또한, 본 실시예에서 제1탄성부(910)와 제2탄성부(920)를 구성하는 폐루프 스트립의 개수는 동일하여 절곡 마디(930)를 기준으로 상하 대칭된 구조를 예시하고 있으나, 각 탄성부를 구성하는 폐루프 스트립의 개수는 서로 상이할 수 있다.
본 실시예에서 상측머리부(942)와 하측머리부(952)는 탄성부(910)(920)와 동일한 단위 스트립(폐루프 스트립) 구조를 갖는 것으로 예시하고 있으나, 이에 한정되는 것은 아니고 폐루프 스트립이 아닌 사각의 스트립과 같이 그 형상은 다양할 수 있다.
상측첨단부(941)와 하측첨단부(951)는 복수의 치형으로 구성될 수 있으며, 또한, 상측첨단부와 하측첨단부는 복수의 치형이 원뿔 형상을 가질 수 있다(제6실시예, 도 12 참고).
제1탄성부(910)와 제2탄성부(920)는 절곡 마디(930)를 기준 작용점으로 원통 형상으로 벤딩이 이루어지며, 이때 상측머리부(942)와 하측머리부(952)는 탄성부(910)(920)의 폭보다 더 길고 일회전 이상 권취되어 태엽형으로 권취된 구조일 수 있다(제8실시예, 도 16 참고)
도 19를 참고하면, 이와 같이 구성된 콘택트(900)는 원통 형상의 내부에 도전성과 탄성을 갖는 필러(960)가 충전될 수 있다.
제10실시예
도 20, 21은 본 발명의 제10실시예에 따른 콘택트를 보여주는 도면으로서, 도 20의 (a)는 좌측부터 판상 패턴의 전개된 상태의 좌측면도 및 평면도이며, (b)는 상단부터 롤링 가공된 콘택트의 평면도 및 정면도이며, 도 21은 상단부터 필러가 충전된 하이브리드 타입의 콘택트의 평면도 및 정면도를 보여준다.
도 20의 (a)(b)를 참고하면, 본 실시예에 따른 콘택트(1100)의 판상 패턴은 수평 스트립(1111)과 수직 스트립(1112)으로 구성된 단위 스트립(1111)(1112)이 지그재그 형태로 연결되는 제1탄성부(1110)와, 제1탄성부(1110)와 동일한 구조와 사이즈를 갖는 단위 스트립(1121)(1122)이 지그재그 형상으로 연결되는 제2탄성부(1120)와, 제1탄성부(1110)와 제2탄성부(1120)를 구성하는 수직 스트립(1112)(1122) 보다 더 긴 폭과 길이를 갖고 제1탄성부(1110)와 제2탄성부(1120) 각각의 최하단과 최상단의 수평 스트립의 중앙을 수직으로 연결하는 절곡 마디(1130)와, 상방향으로 돌출 형성된 상측첨단부(1141)가 마련되어 상기 제1탄성부(1110)의 최상단에서 연장되어 원통 형상으로 벤딩되는 상측머리부(1142)와, 하방향으로 돌출 형성된 하측첨단부(1151)가 마련되어 상기 제2탄성부(1120)의 최하단에서 연장되어 원통 형상으로 벤딩되는 하측머리부(1152)를 포함한다.
제1탄성부(1110)는 수평 스트립(1111)과, 수평 스트립(1111)의 일단에서 수직 연장되어 수평 스트립(1111) 보다는 길이가 짧은 수직 스트립(1112)으로 구성된 단위 스트립(1111)(1112)을 포함하며, 복수의 단위 스트립(1111)(1112)은 지그재그 형태로 연결된다.
제2탄성부(1120) 역시도 제1탄성부(1110)와 동일한 구조와 사이즈를 갖고 지그재그 형태를 갖는다.
절곡 마디(1130)는 제1탄성부(1110)와 제2탄성부(1120)를 구성하는 수직 스트립(1112)(1122) 보다 더 긴 폭과 길이를 갖고 제1탄성부(1110)와 제2탄성부(1120) 각각의 최하단과 최상단의 수평 스트립의 중앙을 수직으로 연결하며, 이러한 절곡 마디(1130)는 탄성부(1110)(1120)의 롤(roll) 가공 시에 기준 작용점 역할을 한다.
본 실시예에서 상측머리부(1142)와 하측머리부(1152)는 탄성부(1110)(1120)의 수평 스트립(1111)(1121)과 동일한 것으로 예시하고 있으나, 이에 한정되는 것은 아니고 폭과 길이가 다를 수 있다.
상측첨단부(941)와 하측첨단부(951)는 복수의 치형으로 구성될 수 있으며, 또한, 상측첨단부와 하측첨단부는 복수의 치형이 원뿔 형상을 가질 수 있다(제6실시예, 도 12 참고).
제1탄성부(1110)와 제2탄성부(1120)는 절곡 마디(1130)를 기준 작용점으로 원통 형상으로 벤딩이 이루어지며, 이때 상측머리부(1142)와 하측머리부(1152)는 탄성부(1110)(1120)의 폭보다 더 길고 일회전 이상 권취되어 태엽형으로 권취된 구조일 수 있다(제8실시예, 도 16 참고)
도 20을 참고하면, 이와 같이 구성된 콘택트(11000)는 원통 형상의 내부에 도전성과 탄성을 갖는 필러(1160)가 충전될 수 있다.
이하, 이러한 콘택트를 채용한 테스트 소켓에 대하여 상세히 설명한다.
제1실시예
도 22는 본 발명의 제1실시예에 따른 테스트 소켓을 보여주는 도면으로서, (a)는 평면도이며, (b)는 A-A선의 단면도이다.
도 22를 참고하면, 본 실시예에 따른 테스트 소켓(2100)은 디바이스(20)의 단자(21)와 대응되어 콘택트(2110)가 수납 위치하게 되는 복수의 관통홀(2121)이 형성된 마운팅부(2120)와, 콘택트(2110)를 마운팅부(2120)와 일체로 고정하게 되는 탄성을 갖는 절연몸체부(2130)를 포함한다.
마운팅부(2120)는 절연성의 플레이트로서, 디바이스(20)의 단자(21)와 대응되는 복수의 관통홀(2121)이 형성되어 콘택트(2110)의 하단 일부가 삽입되며, 상부면에 절연몸체부(2130)를 구비된다.
도면부호 2122는 가이드홀로서 테스트 소켓의 조립 위치를 안내하는 역할을 하며, 도면부호 2123은 테스트 소켓을 장착하기 위한 스크류 홀이다.
본 실시예에서 콘택트(2110)는 앞서 예시한 원통 형상으로 롤링하여 일체로 구성된 콘택트가 사용된다.
절연몸체부(2130)는 탄성을 갖는 절연성 부재로서, 콘택트(2110)와 마운팅부(2120)를 일체로 고정하며, 상면에 디바이스(20)가 안착된다.
이러한 절연몸체부(2130)는 절연성의 실리콘액에 의해 제공될 수 있으며, 예를 들어, 마운팅부(2120)의 관통홀(2121)에 콘택트(2110)가 가조립되며, 절연몸체부(2130)를 성형하기 위한 몰드를 사용하여 실리콘액을 몰드 내에 투입한 후에 이를 경화시키고 몰드를 제거함으로써 마운팅부(2120)와 콘택트(2110)를 일체로 고정하게 되는 절연몸체부(2130)가 완성될 수 있다.
바람직하게는, 콘택트(2110)는 하측첨단부가 일정 길이(b1) 만큼 관통홀(2121) 바깥으로 돌출 위치하여 테스트 장치의 패드와 접촉성을 높일 수 있다. 한편, 콘택트(2110)의 상측첨단부 역시도 디바이스(20)와 대면하게 되는 절연몸체부(2130)의 상부면 바깥으로 일정 길이만큼 돌출되어 디바이스(20)의 단자(21)와의 접촉성을 높일 수 있다.
제2실시예
도 23은 본 발명의 제2실시예에 따른 테스트 소켓을 보여주는 도면으로서, (a)는 평면도이며, (b)는 B-B선의 단면도이다.
도 23을 참고하면, 본 실시예에 따른 테스트 소켓(2200)은 디바이스(20)의 단자(21)와 대응되어 하이브리드 콘택트(2210)가 수납 위치하게 되는 복수의 관통홀(2121)이 형성된 마운팅부(2220)와, 하이브리드 콘택트(2210)를 마운팅부(2220)와 일체로 고정하게 되는 탄성을 갖는 절연몸체부(2230)를 포함한다.
마운팅부(2220)는 절연성의 플레이트로서, 디바이스(20)의 단자(21)와 대응되는 복수의 관통홀(2221)이 형성되어 하이브리드 콘택트(2210)의 하단 일부가 삽입되며, 상부면에 절연몸체부(2230)를 마련된다.
특히 본 실시예에서 하이브리드 콘택트(2210)는 앞서 예시한 원통 형상으로 롤링하여 일체로 구성된 콘택트 내에 도전성과 탄성을 갖는 필러가 충전된 콘택트가 사용됨을 특징으로 한다.
절연몸체부(2230)는 탄성을 갖는 절연성 부재로서, 하이브리드 콘택트(2210)와 마운팅부(2220)를 일체로 고정하며, 상면에 디바이스(20)가 안착된다.
앞서 실시예에서 설명한 것과 같이, 절연몸체부(2230)는 절연성의 실리콘액을 경화하여 마운팅부(2120)와 하이브리드 콘택트(2110)를 일체로 고정하게 된다.
바람직하게는, 콘택트(2110)는 하측첨단부가 일정 길이(b1) 만큼 관통홀(2121) 바깥으로 돌출 위치하여 테스트 장치의 패드와 접촉성을 높일 수 있다. 한편, 콘택트(2110)의 상측첨단부 역시도 디바이스(20)와 대면하게 되는 절연몸체부(2130)의 상부면 바깥으로 일정 길이만큼 돌출되어 디바이스(20)의 단자(21)와의 접촉성을 높일 수 있다.
이상과 같이, 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 이것에 의해 한정되지 않으며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 발명의 기술 사상과 아래에 기재될 청구범위의 균등 범위 내에서 다양한 수정 및 변형이 가능함은 물론이다.
[부호의 설명]
100, 200, 300, 400, 500, 600, 700, 800, 900, 1100, 2110 : 콘택트
110, 210, 310, 410, 510, 610, 710, 810 : 상측머리부
120, 220, 320, 420, 520, 620, 720, 820, 910, 920, 1110, 1120 : 탄성부
130, 230, 330, 430, 530, 630, 730, 830 : 하측머리부
상측첨단부 : 111, 211, 311, 411, 511, 611, 711, 811, 941, 1141
하측첨단부 : 131, 231, 331, 431, 531, 631, 731, 831, 951, 1151
절곡 마디 : 절곡 마디 : 123, 415, 522, 930, 1130
2100, 2200 : 테스트 소켓 2210 : 하이브리드 콘택트
2120, 2220 : 마운팅부 2130, 2230 : 절연몸체부

Claims (34)

  1. 금속 판재를 타발하고 원통 형상으로 롤링하여 일체로 이루어진 콘택트로서,
    상방향으로 돌출 형성된 상측첨단부가 마련되어 원통 형상으로 이루어진 상측머리부와;
    상기 상측머리부에서 측하방으로 경사를 갖고 연장되어 나선형의 원통 형상으로 벤딩된 스트립으로 이루어져 상기 상측머리부와 동일 축 상에 마련되는 탄성부와;
    하방향으로 돌출 형성된 하측첨단부가 마련되며, 상기 탄성부의 하측 선단에서 수직하게 연장 형성되어 상기 탄성부와 동일 축 상에 마련되는 하측머리부;를 포함하는 콘택트.
  2. 제1항에 있어서, 상기 탄성부는 연장 구간 중에 적어도 하나 이상의 마디를 갖는 것을 특징으로 하는 콘택트.
  3. 제2항에 있어서, 상기 탄성부는,
    상기 마디를 기준으로 상기 상측머리부에서 연장되는 제1탄성부와;
    상기 마디를 기준으로 상기 하측머리부에서 연장되는 제2탄성부;를 포함하는 콘택트.
  4. 제3항에 있어서, 상기 제1탄성부와 상기 제2탄성부는 동일 방향으로 연장되어 상기 제1탄성부와 상기 제2탄성부의 권취 방향은 동일한 방향을 갖는 것을 특징으로 하는 콘택트.
  5. 제3항에 있어서, 상기 제1탄성부와 상기 제2탄성부는 서로 다른 방향으로 연장되어 상기 제1탄성부와 상기 제2탄성부의 권취 방향은 서로 반대 방향인 것을 특징으로 하는 콘택트.
  6. 제1항에 있어서, 상기 탄성부는 스트립의 구간 중에 국소적으로 각도 변화가 불연속적으로 변하면서 스트립의 길이 방향을 따라서 폭의 차이를 갖는 절곡 마디를 포함하는 콘택트.
  7. 제1항에 있어서, 상기 탄성부는 스트립의 구간 중에 국소적으로 각도 변화가 연속적으로 변하는 곡선 마디를 포함하는 콘택트.
  8. 제1항에 있어서, 상기 탄성부는 스트립이 동일 방향으로 연장되는 구간 중에 단차를 갖고 스트립의 길이 방향을 따라서 폭의 차이를 갖는 이음 마디를 포함하는 콘택트.
  9. 제1항에 있어서, 상기 하측머리부는,
    상기 탄성부의 하측 선단에서 일체로 연장 형성되어 원통 형상인 것을 특징으로 하는 콘택트.
  10. 제1항에 있어서, 상기 상측첨단부는 상부로 돌출 형성된 복수의 치형인 것을 특징으로 하는 콘택트.
  11. 제10항에 있어서, 상기 상측첨단부는 복수의 치형이 원뿔 형상을 구성하는 것을 특징으로 하는 콘택트.
  12. 제10항에 있어서, 상기 상측첨단부는 태엽형으로 일 회전 이상 권취된 원통 형상인 것을 특징으로 하는 콘택트.
  13. 제9항에 있어서, 상기 하측첨단부는 하부로 돌출 형성된 복수의 치형인 것을 특징으로 하는 콘택트.
  14. 제13항에 있어서, 상기 하측첨단부는 복수의 치형이 원뿔 형상을 구성하는 것을 특징으로 하는 콘택트.
  15. 제14항에 있어서, 상기 하측첨단부는 태엽형으로 일 회전 이상 권취된 원통 형상인 것을 특징으로 하는 콘택트.
  16. 금속 판재를 타발하고 원통 형상으로 롤링하여 일체로 이루어진 콘택트로서,
    복수의 동일 사이즈의 폐루프 스트립이 제1마디에 의해 직렬로 연결되어 원통 형상으로 벤딩된 제1탄성부와;
    상기 폐루프 스트립과 동일 사이즈를 갖는 복수의 폐루프 스트립이 제2마디에 의해 직렬로 연결되어 원통 형상으로 벤딩된 제2탄성부와;
    상기 제1마디와 상기 제2마디 보다 더 긴 폭과 길이를 갖고 상기 제1탄성부와 상기 제2탄성부 각각의 최하단과 최상단의 폐루프 스트립을 직렬로 연결하는 절곡 마디와;
    상방향으로 돌출 형성된 상측첨단부가 마련되어 상기 제1탄성부의 최상단에서 연장되어 원통 형상으로 벤딩되는 상측머리부와;
    하방향으로 돌출 형성된 하측첨단부가 마련되어 상기 제2탄성부의 최하단에서 연장되어 원통 형상으로 벤딩되는 하측머리부;를 포함하는 콘택트.
  17. 제16항에 있어서, 상기 상측첨단부는 상부로 돌출 형성된 복수의 치형인 것을 특징으로 하는 콘택트.
  18. 제17항에 있어서, 상기 상측첨단부는 복수의 치형이 원뿔 형상을 구성하는 것을 특징으로 하는 콘택트.
  19. 제16항에 있어서, 상기 상측머리부는 태엽형으로 일 회전 이상 권취된 원통 형상인 것을 특징으로 하는 콘택트.
  20. 제16항에 있어서, 상기 하측첨단부는 하부로 돌출 형성된 복수의 치형인 것을 특징으로 하는 콘택트.
  21. 제20항에 있어서, 상기 하측첨단부는 복수의 치형이 원뿔 형상을 구성하는 것을 특징으로 하는 콘택트.
  22. 제16항에 있어서, 상기 하측머리부는 태엽형으로 일 회전 이상 권취된 원통 형상인 것을 특징으로 하는 콘택트.
  23. 금속 판재를 타발하고 원통 형상으로 롤링하여 일체로 이루어진 콘택트로서,
    수평 스트립과, 상기 수평 스트립의 일단에서 수직 연장되고 상기 수평 스트립 보다는 길이가 짧은 수직 스트립으로 구성된 단위 스트립이 지그재그 형상으로 연결되어 원통 형상으로 벤딩되는 제1탄성부와;
    상기 제1탄성부와 동일한 구조와 사이즈를 갖는 단위 스트립이 지그재그 형상으로 연결되어 원통 형상으로 벤딩되는 제2탄성부와;
    상기 제1탄성부와 상기 제2탄성부를 구성하는 수직 스트립 보다 더 긴 폭과 길이를 갖고 상기 제1탄성부와 상기 제2탄성부 각각의 최하단과 최상단의 수평 스트립의 중앙을 수직으로 연결하는 절곡 마디와;
    상방향으로 돌출 형성된 상측첨단부가 마련되어 상기 제1탄성부의 최상단에서 연장되어 원통 형상으로 벤딩되는 상측머리부와;
    하방향으로 돌출 형성된 하측첨단부가 마련되어 상기 제2탄성부의 최하단에서 연장되어 원통 형상으로 벤딩되는 하측머리부;를 포함하는 콘택트.
  24. 제23항에 있어서, 상기 상측첨단부는 상부로 돌출 형성된 복수의 치형인 것을 특징으로 하는 콘택트.
  25. 제24항에 있어서, 상기 상측첨단부는 복수의 치형이 원뿔 형상을 구성하는 것을 특징으로 하는 콘택트.
  26. 제23항에 있어서, 상기 상측머리부는 태엽형으로 일 회전 이상 권취된 원통 형상인 것을 특징으로 하는 콘택트.
  27. 제23항에 있어서, 상기 하측첨단부는 하부로 돌출 형성된 복수의 치형인 것을 특징으로 하는 콘택트.
  28. 제27항에 있어서, 상기 하측첨단부는 복수의 치형이 원뿔 형상을 구성하는 것을 특징으로 하는 콘택트.
  29. 제23항에 있어서, 상기 하측머리부는 태엽형으로 일 회전 이상 권취된 원통 형상인 것을 특징으로 하는 콘택트.
  30. 제1항 내지 제29항 중의 어느 한 항에 있어서, 적어도 상기 상측머리부와 상기 하측머리부 사이의 코일부 구간에 원통 형상으로 충전되어 도전성과 탄성을 갖는 필러를 더 포함하는 콘택트.
  31. 제1항 내지 제29항 중의 어느 하나에 따른 콘택트를 포함하는 테스트 소켓에 관한 것으로서,
    디바이스의 단자와 대응되어 상기 콘택트가 수납 위치하게 되는 복수의 관통홀이 형성된 마운팅부와;
    상기 콘택트를 상기 마운팅부와 일체로 고정하게 되는 탄성을 갖는 절연몸체부를 포함하는 테스트 소켓.
  32. 제31항에 있어서, 상기 콘택트는 하측첨단부가 상기 관통홀 바깥으로 돌출 위치하고 상측첨단부가 상기 디바이스와 대면하게 되는 상기 절연몸체부의 상부면 바깥으로 돌출 위치하는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓.
  33. 제30항에 따른 콘택트를 포함하는 테스트 소켓에 관한 것으로서,
    디바이스의 단자와 대응되어 상기 콘택트가 수납 위치하게 되는 복수의 관통홀이 형성된 마운팅부와;
    상기 콘택트를 상기 마운팅부와 일체로 고정하게 되는 탄성을 갖는 절연몸체부를 포함하는 테스트 소켓.
  34. 제33항에 있어서, 상기 콘택트는 하측첨단부가 상기 관통홀 바깥으로 돌출 위치하고 상측첨단부가 상기 디바이스와 대면하게 되는 상기 절연몸체부의 상부면 바깥으로 돌출 위치하는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓.
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