KR101247499B1 - 상하 접점 구조를 갖는 스프링 타입 프로브 핀 및 그 제조 방법 - Google Patents

상하 접점 구조를 갖는 스프링 타입 프로브 핀 및 그 제조 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR101247499B1
KR101247499B1 KR1020120014900A KR20120014900A KR101247499B1 KR 101247499 B1 KR101247499 B1 KR 101247499B1 KR 1020120014900 A KR1020120014900 A KR 1020120014900A KR 20120014900 A KR20120014900 A KR 20120014900A KR 101247499 B1 KR101247499 B1 KR 101247499B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
spring
shock
shock absorbing
probe pin
sleeve
Prior art date
Application number
KR1020120014900A
Other languages
English (en)
Inventor
이홍대
이창훈
토시유키 나카무라
Original Assignee
주식회사 휴먼라이트
이창훈
토시유키 나카무라
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 휴먼라이트, 이창훈, 토시유키 나카무라 filed Critical 주식회사 휴먼라이트
Priority to KR1020120014900A priority Critical patent/KR101247499B1/ko
Priority to US13/413,077 priority patent/US20130207682A1/en
Priority to JP2012067739A priority patent/JP5619059B2/ja
Application granted granted Critical
Publication of KR101247499B1 publication Critical patent/KR101247499B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716Elastic
    • G01R1/06722Spring-loaded
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49204Contact or terminal manufacturing
    • Y10T29/49208Contact or terminal manufacturing by assembling plural parts

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

본 발명은 상하 접점 구조를 갖는 스프링 타입 프로브 핀 및 그 제조 방법에 관한 것으로서, 좀더 상세하게는 탄성력을 갖는 판 소재를 프레스 성형 방식에 의해 일체 성형 제조하여 제조 원가를 절감 및 제조 생산성을 우수하고, 또한 상기 프로브 핀은 상,하 접지부를 갖는 상,하 슬리브를 내외측 중첩 설치하여 상하로 일정하게 이동 안내함과 함께 상기 상,하 슬리브 사이의 스프링 타입 완충 작동부의 와이어 길이 및 완충 스트로크를 최대화하면서 초소형, 소형 제작이 가능함은 물론 압력(하중)에 대한 탄발 작동력 및 전기적 특성이 우수하고, 무엇보다 내구성을 장구히 제공하는데, 상기 완충 작동부는 상,하 슬리브 사이에 태엽형으로 권취되는 한 쌍의 상,하 완충 스프링 형태로 형성하되, 상기 상,하 완충 스프링의 태엽 궤도가 상호 어긋나 상하로 중첩 위치까지 완충 작동하므로 완충 작동부의 와이어 길이 및 완충 스트로크를 최대화하여 4mm 이하의 초소형 제작이 가능하게 되고, 또한 상기 완충 작동부는 나선형으로 권취되는 완충 스프링으로 형성하므로 완충 작동부의 와이어 길이 및 완충 스트로크를 최대화하여 4mm 이상의 소형 제작이 가능하도록 하는데 그 특징이 있다.

Description

상하 접점 구조를 갖는 스프링 타입 프로브 핀 및 그 제조 방법{probe pin and method of manufacturing the same background of the invention}
본 발명은 상하 접점 구조를 갖는 스프링 타입 프로브 핀 및 그 제조 방법에 관한 것으로서, 좀더 상세하게는 탄성력을 갖는 판 소재를 프레스 성형 방식에 의해 일체 성형 제조하여 제조 원가를 절감 및 제조 생산성이 우수하고, 상,하 접지부를 갖는 상,하 슬리브를 상하로 일정하게 이동 안내함과 함께 상기 상,하 슬리브 사이의 스프링 타입 완충 작동부의 와이어 길이 및 완충 스트로크를 최대화하면서 소형, 초소형 제작이 가능함은 물론 압력(하중)에 대한 탄발 작동력 및 전기적 특성이 우수하고, 무엇보다 내구성이 우수한 상하 접점 구조를 갖는 스프링 타입 프로브 핀에 관한 것이다.
일반적으로 웨이퍼에 형성된 소자와 반도체칩 패키지를 테스트하기 위한 테스트소켓 등과 같은 전기, 전자기계 부품에서 상하로 접점 구조를 갖는 스프링 타입의 프로브 핀을 사용하고 있다.
이와 같은 상하 접점 구조를 갖는 스프링 타입의 프로브 핀은 다양한 형태로 알려진 바 있는데, 본 출원인은 특허등록 제10-1031634호, 제10-82311호 등에 선 출원하여 등록받은바 있다.
이는 상,하 접지부 사이로 스프링을 연결 형성한 구조로 이루어져 상하로 압력(하중)이 인가될 때 탄발 완충 작동하는 것이다.
그러나 상기한 종래 기술 및 본 출원인의 선 출원 기술은 상기 상,하 접지부가 상하로 압력(하중)이 인가될 때 상하로 일정하게 완충 작동하지 못하므로 작동 신뢰성, 내구성이 떨어짐은 물론 전기적 특성이 저하되는 심각한 문제점이 있었다.
더우기, 상기한 종래 기술 및 본 출원인의 선 출원 기술은 상기 상,하 접지부 사이의 스프링이 동일 반경 사이즈를 갖는 나선형 스프링 형태로 형성되어 있기 때문에 상기 나선형 스프링 원리와 동일하게 스프링의 와이어가 이격된 간격(틈새) 만큼 상하 이동하면서 완충 작동하게 되는 것이다.
즉, 상기 상,하 접지부 사이의 스프링은 스프링 와이어가 이격된 간격의 스트로크 만큼 상하 이동하면서 완충 작동하기 때문에 프로프 핀을 초소형(길이 4mm 이하)으로 제작하는 경우에 스프링 와이어의 길이를 충분히 확보하지 못함과 완충 스트로크를 적어도 1mm 이상을 갖도록 충분히 확보하지 못하므로 인해 작동성은 물론 내구성이 현저히 떨어지는 문제점이 있었다.
따라서, 종래 기술로서는 4mm 이하의 초소형 프로프 핀은 작동성 및 내구성 문제로 제작이 곤란하였다.
본 발명은 상기한 종래 기술 및 본 출원인의 선 출원 기술이 갖는 제반 문제점을 해결하고자 발명된 것이다.
본 발명의 프로브 핀은 탄성력을 갖는 판 소재를 이용하여 프레스 성형 방식에 의해 일체 성형 제조하여 제조 원가를 절감 및 제조 생산성을 우수하게 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명의 프로브 핀은 상,하 접지부를 갖는 상,하 슬리브를 내외측 중첩 설치하여 상하로 일정하게 이동 안내함과 함께 상기 상,하 슬리브 사이에 태엽형으로 권취되는 한 쌍의 상,하 완충 스프링을 적어도 하나 이상 연결한 완충 작동부를 형성하되, 상기 상,하 완충 스프링은 태엽 궤도가 상호 어긋나 상하로 중첩되는 위치까지 탄발 완충 작동하므로 완충 작동부의 와이어 길이 및 완충 스트로크를 최대화하면서 초소형(길이 4mm 이하) 제작이 가능함은 물론 압력(하중)에 대한 탄발 작동력 및 전기적 특성이 우수하고, 무엇보다 내구성을 장구히 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명의 프로브 핀은 상,하 접지부를 갖는 상,하 슬리브를 내외측 중첩 설치하여 상하로 일정하게 이동 안내함과 함께 상기 상,하 슬리브 사이에 나선형으로 권취되는 완충 스프링을 복수 연결한 완충 작동부를 형성하므로 완충 작동부의 와이어 길이 및 완충 스트로크를 최대화하면서 소형(길이 4mm 이상) 제작이 가능함은 물론 압력(하중)에 대한 탄발 작동력 및 전기적 특성이 우수하고, 무엇보다 내구성을 장구히 제공하는데 그 목적이 있다.
이러한 본 발명은 상,하 접지부를 갖는 원통형의 상,하 슬리브을 상하 이동 안내 가능하도록 내외측으로 중첩 설치 구성하고, 상기 상,하 슬리브 사이에는 태엽형으로 권취된 한 쌍의 상,하 완충스프링을 적어도 하나 이상 상하로 연결 구성하되, 상기 상,하 완충스프링은 태엽 궤도가 상호 어긋나게 위치하도록 절곡되어 상하로 중첩 위치까지 탄발 완충 작동하는 완충 작동부를 형성하도록 프레스로 일체 성형 한 프로브 핀을 제공하는데 그 특징이 있다.
본 발명 상기 완충 작동부의 상,하 완충 스프링은 상,하 슬리브를 연결하되, 중심 축선에서 좌우로 지그 재그 연장되게 연속적으로 타발 형성된 좌우 연장 연결부를 중심 축선을 중심으로 태엽형으로 권취하되, 상부 완충스프링의 태엽형 궤도와 하부 완충스프링의 태엽형 궤도가 상호 어긋나게 위치하여 상하로 중첩되는 위치까지 탄발 완충 작동하도록 함에 그 특징이 있다.
본 발명 상기 상부 슬리브 내부에 하부 슬리브가 중첩되게 삽입되어 상하 이동 안내되되, 상기 상부 슬리브는 중앙 부위를 내측으로 절곡하여 하부 슬리브의 상하 완충 작동하는 스트로크를 제한하는 걸림턱을 형성하도록 함에 그 특징이 있다.
본 발명은 탄성력을 갖는 판소재를 타발하되, 프로브 핀의 상,하 접지부, 상,하 슬리브 및 상기 상,하 슬리브 사이로 설치되는 완충 작동부를 형성하기 위한 평면 형상의 타발 몸체를 성형하는 타발 몸체 성형단계와; 상기 완충작동부를 형성하기 위해 상,하 슬리브를 연결하도록 좌우로 지그 재그 연장되게 연속 형성된 좌우 연장 연결부를 적어도 하나 이상 연결 형성한 타발 몸체의 좌우 연장 연결부를 중심 축선을 중심으로 내측으로 태엽형으로 권취하도록 절곡하여 상,하 완충스프링을 형성하되, 상기 상,하 완충스프링의 태엽형 궤도가 상호 어긋나게 위치되어 상하로 중첩되게 탄발 완충 작동하도록 성형하는 완충 작동부 성형단계와; 상기 하부 슬리브를 형성하는 타발 몸체를 완충 작동부 상부로 중첩되게 절곡한 다음 상기 타발 몸체의 양단을 완충 작동부 외측으로 감아 성형하는 하부 슬리브 성형단계 및; 상기 하부 슬리브와 완충 작동부를 상부 슬리브를 형성하는 타발 몸체 상부로 중첩되게 절곡한 다음 상기 타발 몸체의 양단을 하부 슬리브 외측으로 중첩되게 감아 성형하는 상부 슬리브 성형단계에 의한 프로브 핀 제조방법을 제공함에 그 특징이 있다.
본 발명은 상,하 접지부를 갖는 원통형의 상,하 슬리브을 상하 이동 안내 가능하도록 내외측으로 중첩 설치 구성하고, 상기 상,하 슬리브 사이에는 나선형으로 권취된 완충스프링을 적어도 하나 이상 상하로 연결하여 상하로 탄발 완충 작동하는 완충 작동부를 형성하되, 상기 완충 작동부의 완충 스프링은 상부 슬리브 하부와 하부 슬리브 하부 측단으로 "〉" 형태의 연결부를 적어도 하나 이상 형성하고, 상기 연결부를 나선형으로 말아 형성하도록 프레스로 일체 성형한 프로브 핀을 제공하는데 그 특징이 있다.
이러한 본 발명은 탄성력을 갖는 판 소재를 프레스 성형 방식에 의해 일체 성형 제조하여 제조 원가를 절감 및 제조 생산성을 우수하게 제공하는 효과를 갖는 것이다.
또한, 본 발명의 프로브 핀은 상,하 접지부를 갖는 상,하 슬리브를 내외측 중첩 설치하여 상하로 일정하게 이동 안내함과 함께 상기 상,하 슬리브 사이의 스프링 타입 완충 작동부의 와이어 길이 및 완충 스트로크를 최대화하면서 초소형, 소형 제작이 가능함은 물론 압력(하중)에 대한 탄발 작동력 및 전기적 특성이 우수하고, 무엇보다 내구성을 장구히 제공하는데, 상기 완충 작동부는 상,하 슬리브 사이에 태엽형으로 권취되는 한 쌍의 상,하 완충 스프링 형태로 형성하되, 상기 상,하 완충 스프링의 태엽 궤도가 상호 어긋나 상하로 중첩 위치까지 완충 작동하므로 완충 작동부의 와이어 길이 및 완충 스트로크를 최대화하여 4mm 이하의 초소형 제작이 가능하게 되고, 또한 상기 완충 작동부는 나선형으로 권취되는 완충 스프링으로 형성하므로 완충 작동부의 와이어 길이 및 완충 스트로크를 최대화하여 4mm 이상의 소형 제작이 가능하게 되는 것이다.
즉, 본 발명의 프로프 핀은 상,하 슬리브 구조와 상기 상,하 슬리브를 내외측 중첩 설치하여 일정하게 이동 안내하는 구조와 상기 상,하 슬리브 내부에 완충 작동부를 설치하는 구조에 의해 완충 작동부의 와이어 길이 및 완충 스트로크를 최대화하면서 초소형, 소형 제작이 가능함은 물론 압력(하중)에 대한 탄발 작동력 및 전기적 특성이 우수하고, 무엇보다 내구성을 장구히 제공하는 효과를 갖는 것이다.
도 1은 본 발명의 프로브 핀을 보여주는 정면도.
도 2는 도 1의 평면도.
도 3은 본 발명의 프로브 핀을 보여주는 정 단면도.
도 4는 본 발명 프로브 핀의 완충 작동부를 보여주는 평 단면도.
도 5는 본 발명 프로브 핀의 타발 몸체를 보여주는 평면도.
도 6은 도 5의 타발 몸체에 의해 본 발명의 프로브 핀을 성형 제조하는 과정을 보여주는 공정도.
도 7은 도 6의 완충 작동부 성형 과정을 좀더 상세히 보여주는 공정도.
도 8은 본 발명 프로브 핀의 다른 실시 예로서, 전개 상태를 보여주는 정면도.
도 9는 도 8의 프로브 핀을 보여주는 정 단면도.
도 10은 본 발명 프로브 핀의 또 다른 실시 예로서, 전개 상태를 보여주는 정면도.
도 11은 도 10의 프로브 핀을 보여주는 정 단면도.
이하, 상기한 본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부도면을 참조하여 구체적으로 살펴보기로 한다.
먼저 본 발명 상하 접점 구조를 갖는 스프링 타입 프로브 핀(100)의 상하 길이가 초 소형(4mm 이하)으로 제작 가능한 실시 예를 중심으로 설명하기로 한다.
이는 도 1 내지 도 5에 도시된 바와 같이, 상,하 접지부(11)(21)를 갖는 원통형의 상,하 슬리브(10)(20)을 상하 이동 안내 가능하도록 내외측으로 중첩 설치 구성하고,
상기 상,하 슬리브(10)(20) 사이에는 태엽형으로 권취된 한 쌍의 상,하 완충스프링(31)(31')을 적어도 하나 이상 상하로 연결 구성하되, 상기 상,하 완충스프링(31)(31')은 태엽 궤도가 상호 어긋나게 위치하도록 절곡되어 상하로 중첩 위치까지 탄발 완충 작동하도록 완충 작동부(30)를 형성하여 이루어진다.
상기 완충 작동부(30)의 상,하 완충 스프링(31)(31')은 상,하 슬리브(10)(20)를 연결하되, 중심 축선(33)에서 좌우로 지그 재그 연장되게 연속적으로 타발 형성된 "〉","〈" 형상의 좌우 연장 연결부(32)(32')를 중심 축선(33)을 중심으로 태엽형으로 권취하되, 상부 완충스프링(31)의 태엽형 궤도와 하부 완충스프링(31')의 태엽형 궤도가 상호 어긋나게 위치하여 상하로 중첩 위치까지 탄발 완충 작동하도록 구성된다.
즉, 상기 상,하 완충스프링(31)(31') 사이 간격은 물론 상기 상,하 완충 스프링(31)(31')이 중첩되는 간격까지 상하로 탄발 완충 작동하도록 구성되는 것이다.
또한, 상기 상부 슬리브(10) 내부에 하부 슬리브(20)가 중첩되게 삽입되어 상하 이동 안내되되, 상기 상부 슬리브(10)는 중앙 부위를 내측으로 절곡하여 하부 슬리브(20)의 상하 완충 작동하는 스트로크를 제한하는 걸림턱(12)을 형성하도록 구성된다.
이와 같은 본 발명의 프로브 핀(100)은 탄성력을 갖는 판 소재를 타발하여 프레스 성형 공정에 의해 일체로 성형 제작하는 것이다.
이러한 본 발명의 프로브 핀 제조 방법에 대해 도 6 및 도 7을 참조하여 설명하기로 한다.
먼저, 탄성력을 갖는 판소재(1)를 타발하되, 프로브 핀(100)의 상,하 접지부(11)(21), 상,하 슬리브(10)(20) 및 상기 상,하 슬리브 사이로 설치되는 완충 작동부(30)를 형성하기 위한 평면 형상의 타발 몸체(A)를 형성하는 타발 몸체 성형단계를 행한다.
이때, 상기 완충 작동부(30)를 형성하는 타발 몸체(A-1)는 상,하 슬리브(10)(20)를 연결하도록 좌우로 지그 재그 연장되게 연속 형성된 "〉","〈" 형상의 좌우 연장 연결부(32)(32')를 적어도 하나 이상 연결 형성한 것이다.
이 상태에서 상기 완충작동부(30)를 형성하는 타발 몸체(A-1)의 좌우 연장 연결부(32)(32')를 중심 축선(33)을 중심으로 내측으로 태엽형으로 권취하도록 절곡하여 적어도 하나 이상의 상,하 완충스프링(31)(31')을 형성하되, 상기 상,하 완충스프링의 태엽형 궤도가 상호 어긋나게 위치되어 상하로 중첩되게 탄발 완충 작동하도록 성형하는 완충 작동부 성형단계를 행한다.
이 상태에서 상기 하부 슬리브(20)를 형성하는 타발 몸체(A-2)를 완충 작동부(30) 상부로 중첩되게 절곡한 다음 상기 타발 몸체(A-2)의 양단을 완충 작동부(30) 외측으로 감아 성형하는 하부 슬리브 성형단계를 행한다.
이때, 상기 하부 슬리브(20)를 형성하는 타발 몸체(A-2)는 양단을 일부 감아 절곡한 상태로 완충 작동부(30) 상부로 중첩되게 절곡하게 된다.
이 상태에서 상기 하부 슬리브(20)와 완충 작동부(30)를 상부 슬리브(10)를 형성하는 타발 몸체(A-3) 상부로 중첩되게 절곡한 다음 상기 타발 몸체(A-3)의 양단을 하부 슬리브(20) 외측으로 중첩되게 감아 성형하는 상부 슬리브 성형단계를 행한다.
이때에도 상기 상부 슬리브(10)를 형성하는 타발 몸체(A-3)는 양단을 일부 감아 절곡함과 함께 상기 상부 슬리브(10)는 타발 몸체(A-3)의 중앙을 내측으로 단차지게 절곡(전술한 프로브 핀의 구조에서 걸림턱(12) 형성을 위한 부분)한 상태로 하부 슬리브(20)와 완충 작동부(30)를 중첩되게 절곡하게 된다.
이와 같이하여 전술한 도 1 내지 도 4에 도시된 바와 같은 본 발명의 프로브 핀(100)을 프레스 성형 공정에 의해 일체로 성형 제작하기 때문에 제조 원가를 절감함은 물론 제조 생산성이 우수하게 제공되는 것이다.
이러한 본 발명의 프로브 핀(100)은 상,하 접지부(11)(21)에 외부 연결단자(미도시)를 연결 사용하게 되는데, 압력(하중)에 대해 상,하 슬리브(10)(20)가 상하 이동 안내되면서 완충 작동부(30)에 의해 탄발 완충 작동하게 되는 것이다.
특히, 상기 상,하 슬리브(10)(20)는 내외측으로 중첩되게 삽입되어 상하로 일정하게 이동 안내되고, 상기 완충 작동부(30)는 상,하 슬리브(10)(20) 사이에 태엽형으로 권취된 한 쌍의 상,하 완충스프링(31)(31')을 상하로 연결 구성하는데, 상기 상,하 완충 스프링(31)(31')은 상부 완충스프링(31)의 태엽 궤도와 하부 완충스프링(31')의 태엽 궤도가 상호 어긋나게 위치하기 때문에 상기 상부 완충 스프링(31)과 하부 완충 스프링(31')이 상호 이격된 간격 및 상,하 완충 스프링(31)(31')이 중첩되는 위치까지 탄발 완충 작동하기 때문에 완충 작동부(30)의 와이어 길이 및 완충 스트로크를 최대화하면서 초소형(길이 4mm 이하) 제작이 가능함은 물론 압력(하중)에 대한 탄발 작동력 및 전기적 특성이 우수하고, 무엇보다 프로프 핀(100)의 길이를 4mm 이하로 제작하여 1mm 이상의 상하 스트로크로 장시간(30만 스트로크 이상) 사용 가능하게 되는 것이다.
따라서, 상기한 실시 예의 프로프 핀(100)은 상,하 슬리브 구조와 상기 상,하 슬리브를 내외측 중첩 설치하여 일정하게 이동 안내하는 구조와 상기 상,하 슬리브 내부에 태엽형 스프링 형태의 완충 작동부를 설치하되 상기 완충 작동부의 와이어 길이 및 완충 스트로크를 최대화하면서 초소형 제작이 가능함은 물론 압력(하중)에 대한 탄발 작동력 및 전기적 특성이 우수하고, 무엇보다 내구성이 우수하게 제공되는 것이다.
다음은 본 발명 상하 접점 구조를 갖는 스프링 타입 프로브 핀의 상하 길이가 소형(4mm 이상)으로 제작 가능한 실시 예를 중심으로 설명하기로 한다.
이는 도 8 내지 도 11에 도시된 바와 같이, 상,하 접지부(111)(121)를 갖는 원통형의 상,하 슬리브(110)(120)을 상하 이동 안내 가능하도록 내외측으로 중첩 설치 구성하고, 상기 상,하 슬리브(110)(120) 사이에는 나선형으로 권취된 완충스프링(131)을 적어도 하나 이상 상하로 연결하여 상하로 탄발 완충 작동하는 완충 작동부(130)를 형성하도록 프레스로 일체 성형하여 이루어진 것이다.
이때, 상기 상,하 슬리브(110)(120)는 판 소재를 원통형으로 말아 형성하고, 상기 완충 작동부(130)는 상부 슬리브(110) 하부와 하부 슬리브(120) 하부 측단으로 "〉" 형태의 연결부(132)를 적어도 하나 이상 연결 형성하여 상기 연결부(132)를 나선형으로 말아 완충스프링(131)을 형성하게 되는 것이다.
이러한 본 발명의 실시 예는 전술한 실시 예와 동일하게 상,하 접지부를 갖는 상,하 슬리브(110)(120)를 상하로 일정하게 이동 안내함과 함께 상기 상,하 슬리브 내부에 설치되는 완충스프링(132)에 의해 탄발 완충 작동하기 때문에 완충 작동부(30)의 와이어 길이 및 완충 스트로크를 최대화하면서 소형(길이 4mm 이상) 제작이 가능함은 물론 압력(하중)에 대한 탄발 작동력 및 전기적 특성이 우수하고, 무엇보다 사용 내구성이 우수하게 되는 것이다.
11,21: 상,하 접지부
12: 걸림턱
10,20: 상,하 슬리브
31,31': 상,하 완충 스프링
30: 완충 작동부
32,32': 좌우 연장 연결부
33: 중심 축선

Claims (5)

  1. 상하로 가해지는 압력(하중)에 대해 탄발 완충 작동하는 상하 접점 구조를 갖는 스프링 타입 프로브 핀에 있어서,
    상,하 접지부(11)(21)를 갖는 원통형의 상,하 슬리브(10)(20)을 상하 이동 안내 가능하도록 내외측으로 중첩 설치 구성하고,
    상기 상,하 슬리브(10)(20) 사이에는 태엽형으로 권취된 한 쌍의 상,하 완충스프링(31)(31')을 적어도 하나 이상 상하로 연결 구성하되, 상기 상,하 완충스프링(31)(31')은 태엽 궤도가 상호 어긋나게 위치하도록 절곡되어 상하로 중첩 위치까지 탄발 완충 작동하는 완충 작동부(30)를 형성하도록 프레스로 일체 성형 한 것을 특징으로 하는 상하 접점 구조를 갖는 스프링 타입 프로브 핀.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 완충 작동부(30)의 상,하 완충 스프링(31)(31')은 상,하 슬리브(10)(20)를 연결하되, 중심 축선(33)에서 좌우로 지그 재그 연장되게 연속적으로 타발 형성된 "〉","〈" 형상의 좌우 연장 연결부(32)(32')를 중심 축선(33)을 중심으로 태엽형으로 권취하되, 상부 완충스프링(31)의 태엽형 궤도와 하부 완충스프링(31')의 태엽형 궤도가 상호 어긋나게 위치하여 상하로 중첩되는 위치까지 탄발 완충 작동하도록 이루어진 것을 특징으로 하는 상하 접점 구조를 갖는 스프링 타입 프로브 핀.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 상부 슬리브(10) 내부에 하부 슬리브(20)가 중첩되게 삽입되어 상하 이동 안내되되, 상기 상부 슬리브(10)는 중앙 부위를 내측으로 절곡하여 하부 슬리브(20)의 상하 완충 작동하는 스트로크를 제한하는 걸림턱(12)을 형성하도록 이루어진 것을 특징으로 하는 상하 접점 구조를 갖는 스프링 타입 프로브 핀.
  4. 상하로 가해지는 압력에 대해 탄발 완충 작동으로 충격을 흡수하는 상하 접점 구조를 갖는 스프링 타입 프로브 핀 제조 방법에 있어서,
    탄성력을 갖는 판소재를 타발하되, 프로브 핀의 상,하 접지부, 상,하 슬리브 및 상기 상,하 슬리브 사이로 설치되는 완충 작동부를 형성하기 위한 평면 형상의 타발 몸체를 형성하는 타발 몸체 성형단계와,
    상기 완충작동부를 형성하기 위해 상,하 슬리브를 연결하도록 좌우로 지그 재그 연장되게 연속 형성된 좌우 연장 연결부를 적어도 하나 이상 연결 형성한 타발 몸체의 좌우 연장 연결부를 중심 축선을 중심으로 내측으로 태엽형으로 권취하도록 절곡하여 상,하 완충스프링을 형성하되, 상기 상,하 완충스프링의 태엽형 궤도가 상호 어긋나게 위치되어 상하로 중첩되게 탄발 완충 작동하도록 성형하는 완충 작동부 성형단계와,
    상기 하부 슬리브를 형성하는 타발 몸체를 완충 작동부 상부로 중첩되게 절곡한 다음 상기 타발 몸체의 양단을 완충 작동부 외측으로 감아 성형하는 하부 슬리브 성형단계 및,
    상기 하부 슬리브와 완충 작동부를 상부 슬리브를 형성하는 타발 몸체 상부로 중첩되게 절곡한 다음 상기 타발 몸체의 양단을 하부 슬리브 외측으로 중첩되게 감아 성형하는 상부 슬리브 성형단계에 의해 제조하는 것을 특징으로 하는 상하 접점 구조를 갖는 스프링 타입 프로브 핀 제조방법.
  5. 상하로 가해지는 압력(하중)에 대해 탄발 완충 작동하는 상하 접점 구조를 갖는 스프링 타입 프로브 핀에 있어서,
    상,하 접지부(111)(121)를 갖는 원통형의 상,하 슬리브(110)(120)을 상하 이동 안내 가능하도록 내외측으로 중첩 설치 구성하고,
    상기 상,하 슬리브(110)(120) 사이에는 나선형으로 권취된 완충스프링(131)을 적어도 하나 이상 상하로 연결하여 상하로 탄발 완충 작동하는 완충 작동부(130)를 형성하되, 상기 완충 작동부(130)의 완충 스프링(131)은 상부 슬리브(110) 하부와 하부 슬리브 하부 측단으로 "〉" 형태의 연결부(132)를 적어도 하나 이상 형성하고, 상기 연결부(132)를 나선형으로 말아 형성하도록 프레스로 일체 성형한 것을 특징으로 하는 상하 접점 구조를 갖는 스프링 타입 프로브 핀.
KR1020120014900A 2012-02-14 2012-02-14 상하 접점 구조를 갖는 스프링 타입 프로브 핀 및 그 제조 방법 KR101247499B1 (ko)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120014900A KR101247499B1 (ko) 2012-02-14 2012-02-14 상하 접점 구조를 갖는 스프링 타입 프로브 핀 및 그 제조 방법
US13/413,077 US20130207682A1 (en) 2012-02-14 2012-03-06 Probe pin and method of manufacturing the same
JP2012067739A JP5619059B2 (ja) 2012-02-14 2012-03-23 上下接点構造を有するスプリングタイプのプローブピン、および上下接点構造を有するスプリングタイププローブピンの製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120014900A KR101247499B1 (ko) 2012-02-14 2012-02-14 상하 접점 구조를 갖는 스프링 타입 프로브 핀 및 그 제조 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101247499B1 true KR101247499B1 (ko) 2013-04-03

Family

ID=48441869

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020120014900A KR101247499B1 (ko) 2012-02-14 2012-02-14 상하 접점 구조를 갖는 스프링 타입 프로브 핀 및 그 제조 방법

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20130207682A1 (ko)
JP (1) JP5619059B2 (ko)
KR (1) KR101247499B1 (ko)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101388878B1 (ko) 2012-08-23 2014-04-28 율고핀 주식회사 논 배럴 구조를 갖는 스프링 타입 일체형 프로브 핀
CN105074475A (zh) * 2013-07-19 2015-11-18 黄东源 弹簧触头
KR20180090454A (ko) * 2017-02-03 2018-08-13 최두성 논 배럴 타입의 상하 분리형 반도체 테스트 소켓
KR101955273B1 (ko) * 2017-09-13 2019-03-08 최두성 반도체 번인 테스트용 프로브 핀
KR20190051335A (ko) * 2017-11-06 2019-05-15 주식회사 오킨스전자 S-타입 pion 핀, 및 이를 포함하는 테스트 소켓

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013205189A (ja) * 2012-03-28 2013-10-07 Nidai Seiko:Kk スプリングプローブ
JP2013205191A (ja) * 2012-03-28 2013-10-07 Nidai Seiko:Kk スプリングプローブおよびスプリングプローブの製造方法
US20140115891A1 (en) * 2012-10-25 2014-05-01 Po-Kai Hsu Connector terminal preparation method
JP6548463B2 (ja) * 2015-06-03 2019-07-24 中村 ゆりえ プローブピン
KR101869335B1 (ko) * 2016-01-29 2018-06-20 최선영 프로브 핀 및 그 제조방법
JP2018009790A (ja) * 2016-07-11 2018-01-18 アルプス電気株式会社 スプリングコンタクトおよびスプリングコンタクトを使用したソケット
JP2018009789A (ja) * 2016-07-11 2018-01-18 アルプス電気株式会社 スプリングコンタクトと、スプリングコンタクトを使用したソケット、およびスプリングコンタクトの製造方法
KR101860923B1 (ko) * 2017-05-30 2018-05-24 황동원 반도체 디바이스 테스트용 콘택트 및 테스트 소켓장치
CN107221774A (zh) * 2017-06-30 2017-09-29 昆山杰顺通精密组件有限公司 弹簧连接器
CN107243543A (zh) * 2017-06-30 2017-10-13 昆山杰顺通精密组件有限公司 弹性探针的制造方法
CN107219384A (zh) * 2017-06-30 2017-09-29 昆山杰顺通精密组件有限公司 弹性探针
CN107221826A (zh) * 2017-06-30 2017-09-29 昆山杰顺通精密组件有限公司 弹簧连接器的制造方法
KR101962644B1 (ko) * 2017-08-23 2019-03-28 리노공업주식회사 검사프로브 및 이를 사용한 검사장치
WO2019051421A1 (en) * 2017-09-11 2019-03-14 Smiths Interconnect Americas, Inc. SPRING PROBE CONNECTOR FOR INTERFACING PRINTED CIRCUIT BOARD WITH BASKET BASKET
KR101911496B1 (ko) * 2018-04-13 2018-12-28 황동원 반도체 디바이스 테스트 소켓장치

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002318246A (ja) 2001-04-24 2002-10-31 Yokogawa Electric Corp Icテスタのポゴピンブロック
JP2010020936A (ja) 2008-07-08 2010-01-28 Micronics Japan Co Ltd 接触子及び電気的接続装置
JP2010107434A (ja) 2008-10-31 2010-05-13 Micronics Japan Co Ltd 接触子
KR20110018245A (ko) * 2009-09-08 2011-02-23 주식회사 휴먼라이트 상하 전기 접점 구조를 갖는 스프링 타입의 접지단자

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0294696A3 (de) * 1987-06-10 1989-04-26 Feinmetall Gesellschaft mit beschrÀ¤nkter Haftung Federkontaktstift
JP2001235486A (ja) * 2000-02-21 2001-08-31 Seiken Co Ltd 検査用プローブ、及び該検査用プローブを備えた検査装置
TWI229188B (en) * 2004-01-08 2005-03-11 Asustek Comp Inc Testing probe and testing jig
US7556503B2 (en) * 2007-10-29 2009-07-07 Ardent Concepts, Inc. Compliant electrical contact and assembly
US20100285698A1 (en) * 2008-01-02 2010-11-11 Hong-Dae Lee Probe pin composed in one body and the method of making it
JP2011012992A (ja) * 2009-06-30 2011-01-20 Nidai Seiko:Kk スプリングプローブの製造方法
JP5724095B2 (ja) * 2010-11-17 2015-05-27 有限会社シーズ スプリングプローブ及びその製造方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002318246A (ja) 2001-04-24 2002-10-31 Yokogawa Electric Corp Icテスタのポゴピンブロック
JP2010020936A (ja) 2008-07-08 2010-01-28 Micronics Japan Co Ltd 接触子及び電気的接続装置
JP2010107434A (ja) 2008-10-31 2010-05-13 Micronics Japan Co Ltd 接触子
KR20110018245A (ko) * 2009-09-08 2011-02-23 주식회사 휴먼라이트 상하 전기 접점 구조를 갖는 스프링 타입의 접지단자

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101388878B1 (ko) 2012-08-23 2014-04-28 율고핀 주식회사 논 배럴 구조를 갖는 스프링 타입 일체형 프로브 핀
CN105074475A (zh) * 2013-07-19 2015-11-18 黄东源 弹簧触头
JP2016507751A (ja) * 2013-07-19 2016-03-10 ハイコン カンパニー リミテッド スプリングコンタクト
US10094852B2 (en) 2013-07-19 2018-10-09 Hicon Co., Ltd. Spring contact
KR20180090454A (ko) * 2017-02-03 2018-08-13 최두성 논 배럴 타입의 상하 분리형 반도체 테스트 소켓
KR101955271B1 (ko) 2017-02-03 2019-03-08 최두성 논 배럴 타입의 상하 분리형 반도체 테스트 소켓
KR101955273B1 (ko) * 2017-09-13 2019-03-08 최두성 반도체 번인 테스트용 프로브 핀
KR20190051335A (ko) * 2017-11-06 2019-05-15 주식회사 오킨스전자 S-타입 pion 핀, 및 이를 포함하는 테스트 소켓
KR101981522B1 (ko) 2017-11-06 2019-05-23 주식회사 오킨스전자 S-타입 pion 핀, 및 이를 포함하는 테스트 소켓

Also Published As

Publication number Publication date
US20130207682A1 (en) 2013-08-15
JP5619059B2 (ja) 2014-11-05
JP2013167616A (ja) 2013-08-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101247499B1 (ko) 상하 접점 구조를 갖는 스프링 타입 프로브 핀 및 그 제조 방법
CN102543588B (zh) 电磁切换设备
JP6308401B2 (ja) プローブピン及びその製造方法
KR102033135B1 (ko) 프로브 핀
CN110323107A (zh) 继电器
KR101388878B1 (ko) 논 배럴 구조를 갖는 스프링 타입 일체형 프로브 핀
CN209748804U (zh) 电声换能器
US9568388B2 (en) Small form factor pressure sensor
US20200393495A1 (en) Replaceable double-type probe pin
US20200393494A1 (en) Replaceable single-type probe pin
KR101125030B1 (ko) 상하 전기 접점 구조를 갖는 스프링 타입의 접지단자
JP6515516B2 (ja) プローブピン、および、これを備えた電子デバイス
CN103456528B (zh) 电子开关装置以及用于制造电子开关装置的方法
JP5984221B2 (ja) 改善されたダイナミクスを有する可動部位を含む開閉装置
US20180323526A1 (en) Electrical component socket
KR102267698B1 (ko) 전자기기용 보드 접속 커넥터
JP7442680B2 (ja) 高性能外筒形スプリングピン
JP4685694B2 (ja) コンタクトピン及び電気部品用ソケット
CN104584173B (zh) 电磁接触器
CN106716590B (zh) 电磁致动器和包括这种致动器的电接触器
KR101332764B1 (ko) 투 피스 구조를 갖는 스프링 타입 프로브 핀
CN111769389B (zh) 电连接组件、电路板组件和电子设备
JP5627449B2 (ja) 電気部品用ソケット
KR20100077831A (ko) 이동통신 단말기의 슬라이드 장치 및 이 장치에 사용되는 스프링
KR101331606B1 (ko) 리미트 스위치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee