KR101388878B1 - 논 배럴 구조를 갖는 스프링 타입 일체형 프로브 핀 - Google Patents

논 배럴 구조를 갖는 스프링 타입 일체형 프로브 핀 Download PDF

Info

Publication number
KR101388878B1
KR101388878B1 KR1020120092190A KR20120092190A KR101388878B1 KR 101388878 B1 KR101388878 B1 KR 101388878B1 KR 1020120092190 A KR1020120092190 A KR 1020120092190A KR 20120092190 A KR20120092190 A KR 20120092190A KR 101388878 B1 KR101388878 B1 KR 101388878B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
spring
spring buffer
guide
shape
guide pin
Prior art date
Application number
KR1020120092190A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20140026736A (ko
Inventor
이창훈
유리에 나카무라
Original Assignee
율고핀 주식회사
유리에 나카무라
이창훈
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 율고핀 주식회사, 유리에 나카무라, 이창훈 filed Critical 율고핀 주식회사
Priority to KR1020120092190A priority Critical patent/KR101388878B1/ko
Publication of KR20140026736A publication Critical patent/KR20140026736A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101388878B1 publication Critical patent/KR101388878B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716Elastic
    • G01R1/06722Spring-loaded
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06733Geometry aspects
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/2872Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation
    • G01R31/2879Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation related to electrical aspects, e.g. to voltage or current supply or stimuli or to electrical loads
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

본 발명은 논 배럴 구조를 갖는 스프링 타입 일체형 프로브 핀에 관한 것으로서, 좀더 상세하게는 상,하 플런저(10)(20)사이에 적어도 하나 이상 교번되게 연결 형성하는 "〉" 형상의 제1경사연결부(31)와 "〈" 형상의 제2경사연결부(32)를 각각 외측에서 중앙으로 원형 형태로 대향되게 성형하여 스프링 완충부(30)를 형성하는 논 배럴(Non Barrel) 구조로 직경 사이즈를 최소화하도록 제조하되, 상기 스프링 완충부(30)의 내부에 스프링 완충부의 상하 완충 작동시 스프링 완충부를 가이드 역할하는 가이드 핀(50)을 내장 설치하는 가이드 내장형과 상기 가이드 핀을 배제하여 초 소형 직경(0.08~0.15mm이하) 사이즈에 의해 프로브 카드용으로 사용되는 가이드 배제형을 제공하여 경제성과 함께 사용 효율성을 우수하게 제공하는데 그 특징이 있다.

Description

논 배럴 구조를 갖는 스프링 타입 일체형 프로브 핀{A probe pin}
본 발명은 스프링 타입 일체형 프로브 핀에 관한 것으로서, 좀더 상세하게는 별도의 외부 몸통이 없는 논 배럴(Non Barrel) 구조로, 상,하 플런저(Plunger) 사이에 "〉" 형상의 제1경사연결부와 "〈" 형상의 제2경사연결부를 다수 연결하여 상기 제1,2 경사연결부를 외측에서 중앙으로 원형 형태로 대향되게 성형하여 스프링 완충부를 형성하므로 직경 사이즈를 최소화하도록 제조하되, 상기 스프링 완충부 내부에 가이드 역할을 해주는 가이드 핀이 형성되는 가이드 내장형과 상기 가이드 핀을 배제하여 초 소형 직경(0.08~0.15mm이하) 사이즈에 의해 프로브 카드(Probe Card)용으로 사용되는 가이드 배제형을 제공하여 경제성과 함께 사용 효율성이 우수한 논 배럴 구조를 갖는 스프링 타입 일체형 프로브 핀에 관한 것이다.
일반적으로 웨이퍼에 형성된 소자와 반도체칩 패키지를 테스트하기 위한 테스트 소켓 등과 같은 전기, 전자기계 부품에서 상하로 접점 구조를 갖는 스프링 타입 프로브 핀을 사용하고 있다.
이와 같은 스프링 타입 프로브 핀은 다양한 형태로 알려진 바 있는데, 특히 특허출원 제2008-46631호, 제2008-0156호에서와 같이 외부 몸통 내부에 상,하 플런저 사이로 스프링 완충부를 형성하여 상기 상,하 플런저로 압력(하중)이 인가될 때 상,하 플런저가 몸통 내부에서 안내되면서 탄발 완충 작동하는 것이다.
그러나 상기한 종래 스프링 타입 프로브 핀은 상,하 플런저와 스프링 완충부 외부로 외부 몸통이 결합된 이중 구조로만 제작이 가능하여 직경 사이즈를 최소화할 수 없는 한계를 갖고 있었다.
더우기, 직경 사이즈를 초 소형 직경(0.08~0.15mm 이하) 사이즈로 요구하는 프로브 카드용으로 사용할 수 없는 한계를 갖고 있었다.
한편, 종래 프로브 카드용 프로브 핀은 외부 몸통과 완충 스프링을 전주(電鑄)방식으로 제작하고, 상,하 플런저는 CNC선반으로 가공하여 상호 조립하는 방식으로 제조하기 때문에 제조 과정이 복잡할 뿐만 아니라 제조 코스트가 엄청 비싸고 수율이 현저히 떨어지는 문제점으로 관련 시장 형성이 지연되고 있었다.
본 발명은 상기한 종래 기술이 갖는 제반 문제점을 해결하고자 발명된 것으로서, 별도의 외부 몸통이 없는 논 배럴(Non Barrel) 구조로, 상,하 플런저(Plunger) 사이에 다수 연결 형성된 "〉" 형상의 제1경사연결부와 "〈" 형상의 제2경사연결부를 외측에서 중앙으로 원형 형태로 대향되게 성형하여 스프링 완충부를 형성하므로 직경 사이즈를 최소화하도록 제조할 수 있어 경제성과 함께 사용 효율성을 우수하게 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명은 상기 스프링 완충부 내부에 가이드 역할을 해주는 가이드 핀이 형성되는 가이드 내장형으로 제조하거나 상기 스프링 완충부 내부에 가이드 핀을 배제하여 초 소형 직경(0.08~0.15mm이하) 사이즈에 의해 프로브 카드용으로 사용되는 가이드 배제형으로 제조할 수 있어 사용 효율성을 더 우수하게 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명은 상기 가이드 내장형의 경우, 가이드 핀이 상,하 플런저에 직접 접지되게 연결되어 가이드 역할 이외에 상,하 플런저를 전기적으로 연결하므로 고주파용으로 사용할 수 있어 사용 효율성을 더 우수하게 제공하는데 그 목적이 있다.
이러한 본 발명은 판 소재를 타발, 절곡 형성한 스프링 완충부에 의해 상하 완충 작동하되; 상,하 플런저사이에 적어도 하나 이상 교번되게 연결 형성하는 "〉" 형상의 제1경사연결부와 "〈" 형상의 제2경사연결부를 각각 외측에서 중앙으로 원형 형태로 대향되게 성형하여 스프링 완충부를 형성하고, 상기 스프링 완충부의 내부에 스프링 완충부의 상하 완충 작동시 스프링 완충부를 가이드 역할하는 가이드 핀을 내장 설치함에 그 특징이 있다.
본 발명 상기 가이드 핀은 상,하 플런저의 어느 일측에 수직으로 연결 형성하여 상기 스프링 완충부의 내부에 절곡 설치하도록 함에 그 특징이 있다.
본 발명 상기 가이드 핀은 끝단으로 중앙 요홈에 의해 양측이 서로 분리되는 지지편을 형성하고 상기 지지편을 외측으로 대향되게 만곡 돌출되게 절곡한 탄발 접지부에 의해 상,하 플런저를 직접 접지 연결하도록 함에 그 특징이 있다.
본 발명 상기 가이드 핀은 스프링 완충부의 적어도 어느 하나 이상의 제1,2 경사연결부 외측 중앙 꼭지점 위치에 수직 상방향이나 수직 하방향 또는 수직 상하 방향으로 연결 형성하여 스프링 완충부의 내부에 절곡 설치하도록 함에 그 특징이 있다.
본 발명은 판 소재를 타발, 절곡 형성한 스프링 완충부에 의해 상하 완충 작동하되; 상,하 플런저사이에 적어도 하나 이상 교번되게 연결 형성하는 "〉" 형상의 제1경사연결부와 "〈" 형상의 제2경사연결부를 각각 외측에서 중앙으로 원형 형태로 대향되게 성형하여 스프링 완충부를 형성함에 그 특징이 있다.
이러한 본 발명은 별도의 외부 몸통이 없는 논 배럴(Non Barrel) 구조로, 상,하 플런저(Plunger) 사이에 다수 연결 형성된 "〉" 형상의 제1경사연결부와 "〈" 형상의 제2경사연결부를 외측에서 중앙으로 원형 형태로 대향되게 성형하여 스프링 완충부를 형성하므로 직경 사이즈를 최소화하도록 제조하되; 상기 스프링 완충부 내부에 가이드 역할을 해주는 가이드 핀이 형성되는 가이드 내장형으로 제조하거나 상기 스프링 완충부 내부에 가이드 핀을 배제하여 초 소형 직경(0.08~0.15mm이하) 사이즈에 의해 프로브 카드용으로 사용되는 가이드 배제형으로 제조할 수 있어 경제성과 함께 사용 효율성을 우수하게 제공하는 효과를 갖는 것이다.
또한 상기 가이드 내장형의 경우, 가이드 핀이 상,하 플런저에 직접 접지되게 연결되어 가이드 역할 이외에 상,하 플런저를 전기적으로 연결하므로 고주파용으로 사용할 수 있어 사용 효율성을 더 우수하게 제공하는 효과를 갖는 것이다.
도 1은 본 발명의 프로브 핀을 보여주는 전개 상태 정면도.
도 2는 도 1의 절곡 상태 정면도.
도 3은 도 2의 요부 확대 단면도.
도 4는 도 2의 평면도.
도 5는 도 1의 다른 실시 예를 보여주는 전개 상태 정면도.
도 6은 도 5의 절곡 상태 정면도.
도 7은 도 1의 또 다른 실시 예를 보여주는 전개 상태 정면도.
도 8은 도 7의 절곡 상태 정면도.
도 9는 본 발명의 프로브 핀 다른 실시 예를 보여주는 전개 상태 정면도.
도 10은 도 9의 절곡 상태 정면도.
이하, 상기한 본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부 도면을 참조하여 구체적으로 살펴보기로 한다.
본 발명의 논 배럴(Non Barrel) 구조를 갖는 스프링 타입 일체형 프로브 핀은 별도의 외부 몸통이 없는 논 배럴(Non Barrel) 구조로, 상,하 플런저(Plunger) 사이에 "〉" 형상의 제1경사연결부와 "〈" 형상의 제2경사연결부를 다수 연결하여 상기 제1,2 경사연결부를 외측에서 중앙으로 원형 형태로 대향되게 성형하여 스프링 완충부를 형성하되, 상기 스프링 완충부 내부에 가이드 역할을 해주는 가이드 핀이 형성되는 가이드 내장형과 상기 가이드 핀을 배제하는 가이드 배제형을 제공하는 것이다.
즉, 상기 가이드 내장형은 도 1 내지 도 8에 도시된 바와 같이 판 소재를 타발 및 절곡하여 상,하 플런저(10)(20)사이에 적어도 하나 이상 교번되게 연결 형성하는 "〉" 형상의 제1경사연결부(31)와 "〈" 형상의 제2경사연결부(32)를 각각 외측에서 중앙으로 원형 형태로 대향되게 성형하여 스프링 완충부(30)를 형성하고,
상기 스프링 완충부(30)의 내부에 스프링 완충부의 상하 완충 작동시 스프링 완충부를 가이드 역할하는 가이드 핀(50)을 내장 설치하여 이루어진다.
상기 가이드 핀(50)은 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이 상,하 플런저(10)(20)의 어느 일측에 수직으로 연결 형성하여 상기 스프링 완충부(30)의 내부에 절곡 설치하도록 구성하거나, 도 5 및 도 6에 도시된 바와 같이 스프링 완충부(30)의 적어도 어느 하나 이상의 제1,2 경사연결부(31)(32) 외측 중앙 꼭지점 위치에 수직 상방향이나 수직 하방향으로 연결 형성하여 스프링 완충부(30)의 내부에 절곡 설치하도록 구성하거나, 도 7 및 도 8에 도시된 바와 같이 스프링 완충부(30)의 적어도 어느 하나 이상의 제1,2 경사연결부(31)(32) 외측 중앙 꼭지점 위치에 수직 상하 방향으로 연결 형성하여 스프링 완충부(30)의 내부에 절곡 설치하도록 구성하여 스프링 완충부의 상하 완충 작동시 스프링 완충부를 가이드 역할하도록 구성된다.
이때, 상기 상,하 플런저(10)(20)의 어느 일측에 수직으로 연결 형성되는 가이드 핀(50)은 상,하 플런저를 직접 접지 연결하도록 구성하되, 상기 가이드 핀의 끝단에 중앙 요홈(53)에 의해 양측이 서로 분리되는 지지편(52)(52')을 형성하고 상기 지지편을 외측으로 대향되게 만곡 돌출되게 절곡한 탄발 접지부(55)에 의해 타측 플런저에 탄발 접지 연결하도록 구성된다.
또한, 상기 스프링 완충부(30)의 제1,2 경사연결부(31)(32) 외측 중앙 꼭지점 위치에 수직 상방향이나 수직 하방향, 또는 수직 상,하방향으로 연결 형성하여 스프링 완충부(30)의 내부에 절곡 설치하는 가이드 핀(50)은 상,하 위치의 가이드핀이 스프링 완충부의 상하 완충 작동시 상하 접촉되지 않도록 스프링 완충부의 스트로크 간격 만큼 서로 이격되게 배열하여 형성하도록 구성된다.
미설명부호로서, 11,21은 상,하 플런저(10)(20)의 상,하단부에 형성되는 접점부를 각각 나타내는 것이다.
이러한 본 발명의 실시 예는 논 배럴(Non Barrel) 구조로 판 소재를 타발 및 절곡하여 상,하 플런저(10)(20)사이에 교번되게 연결 형성하는 "〉" 형상의 제1경사연결부(31)와 "〈" 형상의 제2경사연결부(32)를 각각 외측에서 중앙으로 원형 형태로 대향되게 성형한 스프링 완충부(30) 내부에 가이드 핀(50)을 내장 설치하여 제조하기 때문에 별도의 외부 몸통이 없고 스프링 완충부(30)를 종래와 같이 나선형이 아닌 원형 형태로 성형하여 그 직경을 최소화하여 제작할 수 있음은 물론 상기 스프링 완충부(30) 내부의 가이드 핀이 상하 완충 작동시 가이드 역할을 해주므로 작동 신뢰성도 확보하게 되는 것이다.
이때, 상기 가이드 핀(50)은 다양한 형태로 형성할 수 있는데, 도 1 및 도 2에서와 같이 상,하 플런저(10)(20)의 어느 일측에 수직으로 연결 형성한 가이드 핀(50)을 스프링 완충부(30)의 내부에 절곡 설치하므로 하나의 가이드 핀에 의해 전체적으로 가이드 역할을 행할 수 있는 것이고, 도 5 내지 도 8에서와 같이 스프링 완충부(30)의 적어도 어느 하나 이상의 제1,2 경사연결부(31)(32) 외측 중앙 꼭지점의 다수 위치에 수직 상방향이나 수직 하방향, 또는 수직 상하 방향으로 연결 형성한 가이드 핀(50)을 스프링 완충부(30)의 내부에 절곡 설치하므로 다수의 가이드 핀에 의해 전체적으로 가이드 역할을 행할 수 있는 것이다.
특히, 상기 가이드 핀(50)을 도 1 및 도 2에서와 같이 상,하 플런저(10)(20)의 어느 일측에 수직으로 연결 형성하는 경우에 상기 가이드 핀의 끝단에 중앙 요홈(53)에 의해 양측이 서로 분리되는 지지편(52)(52')을 외측으로 대향되게 만곡 돌출되게 절곡한 탄발 접지부(55)를 형성하여 상기 탄발 접지부에 의해 타측 플런저를 탄발 접지 연결하므로 상,하 플런저(10)(20)가 전기적으로 직접 연결되어 통전성을 개선하므로 고주파 용도로 효과적으로 사용하게 되는 것이다.
또한, 본 발명의 가이드 배제형은 도 9 내지 도 10에 도시된 바와 같이 판 소재를 타발 및 절곡하여 상,하 플런저(10')(20')사이에 적어도 하나 이상 교번되게 연결 형성하는 "〉" 형상의 제1경사연결부(31')와 "〈" 형상의 제2경사연결부(32')를 각각 외측에서 중앙으로 원형 형태로 대향되게 성형하여 스프링 완충부(30')를 형성하되, 상기 스프링 완충부(30')의 내부에 전술한 가이드 핀을 배제하여 스프링 완충부의 직경을 더욱 초 소형 직경(0.08~0.15mm이하) 사이즈로 제조하도록 이루어지는 것이다.
이러한 본 발명의 실시 예는 전술한 바와 동일하게 논 배럴(Non Barrel) 구조로 제조하되, 스프링 완충부(30') 내부에 전술한 가이드 핀을 배제하여 스프링 완충부의 직경을 더욱 초 소형 직경(0.08~0.15mm이하) 사이즈로 제조할 수 있기 때문에 종래 전주(電鑄)방식이 아닌 순송형 금형 방식에 의해 초 소형 직경 사이즈로 경제적으로 제조하여 프로브 카드(Probl Card)용으로 사용하게 되는 것이다.
10,10',20,20': 상,하 플런저
30,30': 스프링 완충부
31,31',32,32': 제1,2 경사연결부
50: 가이드 핀
52,52': 지지편
55: 탄발 접지부

Claims (6)

  1. 삭제
  2. 삭제
  3. 판 소재를 타발, 절곡 형성한 스프링 완충부에 의해 상하 완충 작동하는 스프링 타입 프로브 핀의 상,하 플런저(10)(20)사이에 적어도 하나 이상 교번되게 연결 형성하는 "〉" 형상의 제1경사연결부(31)와 "〈" 형상의 제2경사연결부(32)를 각각 외측에서 중앙으로 원형 형태로 대향되게 성형하여 스프링 완충부(30)를 형성하고,
    상기 스프링 완충부(30)의 내부에 스프링 완충부의 상하 완충 작동시 스프링 완충부를 가이드 역할하는 가이드 핀(50)을 내장 설치하며,
    상기 가이드 핀(50)은 상,하 플런저(10)(20) 중의 어느 일측에 수직으로 연결 형성하여 상기 스프링 완충부(30)의 내부로 절곡 설치되는 논 배럴 구조를 갖는 스프링 타입 일체형 프로브 핀에 있어서,
    상기 가이드 핀(50)이 중앙 요홈(53)에 의해 양측이 서로 분리되는 지지편(52)(52')을 형성하고 상기 지지편(52)(52')을 외측으로 만곡 돌출되도록 대향되게 절곡한 탄발 접지부(55)에 의해 상,하 플런저를 직접 접지 연결하도록 이루어진 것을 특징으로 하는 논 배럴 구조를 갖는 스프링 타입 일체형 프로브 핀.
  4. 판 소재를 타발, 절곡 형성한 스프링 완충부에 의해 상하 완충 작동하는 스프링 타입 프로브 핀의 상,하 플런저(10)(20)사이에 적어도 하나 이상 교번되게 연결 형성하는 "〉" 형상의 제1경사연결부(31)와 "〈" 형상의 제2경사연결부(32)를 각각 외측에서 중앙으로 원형 형태로 대향되게 성형하여 스프링 완충부(30)를 형성하고,
    상기 스프링 완충부(30)의 내부에 스프링 완충부의 상하 완충 작동시 스프링 완충부를 가이드 역할하는 가이드 핀(50)을 내장 설치한 논 배럴 구조를 갖는 스프링 타입 일체형 프로브 핀에 있어서,
    상기 가이드 핀(50)이 스프링 완충부(30)의 적어도 어느 하나 이상의 제1,2 경사연결부(31)(32) 외측 중앙 꼭지점 위치에서 수직 상방향이나 수직 하방향으로 연결 형성하여 스프링 완충부(30)의 내부에 절곡 설치하도록 이루어진 것을 특징으로 하는 논 배럴 구조를 갖는 스프링 타입 일체형 프로브 핀.
  5. 판 소재를 타발, 절곡 형성한 스프링 완충부에 의해 상하 완충 작동하는 스프링 타입 프로브 핀의 상,하 플런저(10)(20)사이에 적어도 하나 이상 교번되게 연결 형성하는 "〉" 형상의 제1경사연결부(31)와 "〈" 형상의 제2경사연결부(32)를 각각 외측에서 중앙으로 원형 형태로 대향되게 성형하여 스프링 완충부(30)를 형성하고,
    상기 스프링 완충부(30)의 내부에 스프링 완충부의 상하 완충 작동시 스프링 완충부를 가이드 역할하는 가이드 핀(50)을 내장 설치한 논 배럴 구조를 갖는 스프링 타입 일체형 프로브 핀에 있어서,
    상기 가이드 핀(50)이 스프링 완충부(30)의 적어도 어느 하나 이상의 제1,2 경사연결부(31)(32) 외측 중앙 꼭지점 위치에 수직 상하 방향으로 연결 형성하여 스프링 완충부(30)의 내부에 절곡 설치하도록 이루어진 것을 특징으로 하는 논 배럴 구조를 갖는 스프링 타입 일체형 프로브 핀.
  6. 삭제
KR1020120092190A 2012-08-23 2012-08-23 논 배럴 구조를 갖는 스프링 타입 일체형 프로브 핀 KR101388878B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120092190A KR101388878B1 (ko) 2012-08-23 2012-08-23 논 배럴 구조를 갖는 스프링 타입 일체형 프로브 핀

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120092190A KR101388878B1 (ko) 2012-08-23 2012-08-23 논 배럴 구조를 갖는 스프링 타입 일체형 프로브 핀

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20140026736A KR20140026736A (ko) 2014-03-06
KR101388878B1 true KR101388878B1 (ko) 2014-04-28

Family

ID=50641136

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020120092190A KR101388878B1 (ko) 2012-08-23 2012-08-23 논 배럴 구조를 갖는 스프링 타입 일체형 프로브 핀

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101388878B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023200094A1 (ko) * 2022-04-13 2023-10-19 퀄맥스 주식회사 검사장치용 프로브 핀

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6107234B2 (ja) * 2013-03-01 2017-04-05 山一電機株式会社 検査用プローブ、および、それを備えるicソケット
KR101869335B1 (ko) * 2016-01-29 2018-06-20 최선영 프로브 핀 및 그 제조방법
KR101955273B1 (ko) * 2017-09-13 2019-03-08 최두성 반도체 번인 테스트용 프로브 핀
KR102046808B1 (ko) * 2018-06-05 2019-11-22 주식회사 이노글로벌 양방향 도전성 핀, 이를 이용한 양방향 도전성 모듈 및 그 제조방법
KR101974811B1 (ko) * 2018-06-07 2019-05-03 박상량 일체형 하우징이 가능한 일체형 포고 핀

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20100047994A (ko) * 2008-10-30 2010-05-11 주식회사 휴먼라이트 프로브핀 및 그 제조방법
KR20100105360A (ko) * 2009-03-18 2010-09-29 이홍대 반도체 제조장비용 포고핀
KR20110018245A (ko) * 2009-09-08 2011-02-23 주식회사 휴먼라이트 상하 전기 접점 구조를 갖는 스프링 타입의 접지단자
KR101247499B1 (ko) 2012-02-14 2013-04-03 주식회사 휴먼라이트 상하 접점 구조를 갖는 스프링 타입 프로브 핀 및 그 제조 방법

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20100047994A (ko) * 2008-10-30 2010-05-11 주식회사 휴먼라이트 프로브핀 및 그 제조방법
KR20100105360A (ko) * 2009-03-18 2010-09-29 이홍대 반도체 제조장비용 포고핀
KR20110018245A (ko) * 2009-09-08 2011-02-23 주식회사 휴먼라이트 상하 전기 접점 구조를 갖는 스프링 타입의 접지단자
KR101247499B1 (ko) 2012-02-14 2013-04-03 주식회사 휴먼라이트 상하 접점 구조를 갖는 스프링 타입 프로브 핀 및 그 제조 방법

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023200094A1 (ko) * 2022-04-13 2023-10-19 퀄맥스 주식회사 검사장치용 프로브 핀

Also Published As

Publication number Publication date
KR20140026736A (ko) 2014-03-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101388878B1 (ko) 논 배럴 구조를 갖는 스프링 타입 일체형 프로브 핀
KR101247499B1 (ko) 상하 접점 구조를 갖는 스프링 타입 프로브 핀 및 그 제조 방법
US10559905B2 (en) Flexible press fit pins for semiconductor packages and related methods
CN102213727B (zh) 探针以及具备它的ic插座
JP6308401B2 (ja) プローブピン及びその製造方法
CN104380533A (zh) 电连接器及阴型端子
CN103311709A (zh) 用于电子装置的触头
CN103985991B (zh) 同轴连接器
CN201230087Y (zh) 电连接器
US20170256876A1 (en) "8"-shaped elastic contact element and electrical connector using said contact element
US20150229057A1 (en) Electrical connector with one-piece terminals
JP6532877B2 (ja) バッテリコネクタおよびその製造方法
CN104037026A (zh) 一种磁保持继电器
KR101125030B1 (ko) 상하 전기 접점 구조를 갖는 스프링 타입의 접지단자
TWI427863B (zh) 具備上下電觸點結構之彈簧式接地端子
CN105576414B (zh) 接触件和连接器
KR101955271B1 (ko) 논 배럴 타입의 상하 분리형 반도체 테스트 소켓
TWI403039B (zh) 連接器模組和伸縮式連接器裝置
CN207644314U (zh) 一种新能源牵引车高压线束布置装置
KR100947281B1 (ko) 테스트 소켓용 프로브 접촉자 및 이를 포함하는 테스트소켓
CN206540261U (zh) 冷冻循环装置的室外机的保护构件
JP2016031819A (ja) コネクタの製造方法およびコネクタ
CN203850499U (zh) Rf连接器端子
JP6024802B2 (ja) 同軸コネクタ
KR101005767B1 (ko) 전기적 접속을 위한 핀

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E90F Notification of reason for final refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee