WO2013175987A1 - ダイシングシート - Google Patents

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WO2013175987A1
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dicing sheet
adhesive layer
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卓生 西田
道生 金井
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リンテック株式会社
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Definitions

  • the present invention relates to a dicing sheet used when dicing a semiconductor package in which a plurality of semiconductor chips are sealed with resin.
  • a semiconductor component in which a semiconductor chip is resin-sealed (referred to as “mold chip” in this specification) is usually manufactured as follows. First, a semiconductor chip is mounted on each base of an assembly formed by connecting a plurality of bases such as a TAB tape, and these semiconductor chips are collectively sealed with an electronic component assembly (this specification) (Referred to as “semiconductor package”). Next, the semiconductor package is fixed to the dicing sheet by attaching an adhesive sheet (referred to as a “dicing sheet” in this specification) including a base material and an adhesive layer on one surface of the semiconductor package. .
  • an adhesive sheet referred to as a “dicing sheet” in this specification
  • the semiconductor package fixed to the dicing sheet is cut and separated (diced) into individual pieces, and a member in which a plurality of mold chips are arranged close to each other on the dicing sheet is manufactured (dicing step).
  • the pressure-sensitive adhesive layer of the dicing sheet is designed so that the adhesiveness of the pressure-sensitive adhesive layer is reduced by a specific stimulus, and for example, energy ray irradiation is adopted as the specific stimulus. And the process of irradiating an energy beam to a dicing sheet before the following processes are performed and reducing the adhesiveness of an adhesive layer is included.
  • the dicing sheet in this member is expanded (extends in the main surface direction) to widen the interval between the mold chips arranged on the dicing sheet (expanding process).
  • the mold chips thus separated from each other on the dicing sheet are individually picked up, separated from the dicing sheet (pickup process), and transferred to the next process. Under the present circumstances, it becomes easy to pick up by including the process of reducing the adhesiveness of said adhesive layer.
  • the semiconductor package and the mold chip formed by dicing the semiconductor package are required to be maintained on a dicing sheet.
  • the pressure-sensitive adhesive layer of the dicing sheet has adhesiveness to the semiconductor package and the mold chip before irradiation with energy rays (in this specification, “adhesiveness” is not changed before irradiation with energy rays). It means that the adhesiveness is high).
  • the adherend of the dicing sheet is a semiconductor package and a mold chip, the unevenness of the adherend surface tends to be larger than when the semiconductor chip is an adherend.
  • a dicing sheet having a semiconductor chip as an adherend is diverted as a dicing sheet used in the above process for a semiconductor package, the adhesiveness to the adherend becomes insufficient and the semiconductor package is cut during the dicing process.
  • the separated mold chip is separated from the dicing sheet and scattered, or when the dicing sheet is expanded in the expanding process, the mold chip is separated from the dicing sheet and scattered.
  • these defects occurring in the dicing process and the expanding process are collectively referred to as “mold chip scattering”.
  • a resin material for imparting adhesiveness to the adhesive layer of a dicing sheet in this specification, "Tackifying resin" is included.
  • a general rosin-based material as a tackifying resin is a preferable material from the viewpoint of improving the tackiness of the pressure-sensitive adhesive layer.
  • the rosin-based tackifier resin may vary in adhesiveness in the adhesive layer or the adhesive layer unless the type and content thereof are appropriately controlled. It was revealed that the pick-up process could not be properly performed although the adhesive property of the film could be secured. Specifically, in the pickup process, there may be a problem that the mold chip cannot be picked up. Hereinafter, these defects are collectively referred to as “pickup defects”.
  • An object of the present invention is to provide a dicing sheet in which the possibility of occurrence of problems in any of the dicing process, the expanding process, and the pick-up process is reduced, and a mold chip manufacturing method using the dicing sheet.
  • a tackifying resin contained in the pressure-sensitive adhesive layer included in the dicing sheet is a polymerized rosin ester, a disproportionated rosin ester, or a petroleum resin.
  • the content of the polymerized rosin ester in these tackifying resins is not less than a predetermined amount, and the ratio of the adhesive strength before and after irradiation with energy rays (before / after) is not less than 3 by dicing. It has been found that the possibility of the above-mentioned problems can be reduced in any of the process, the expanding process, and the pickup process.
  • a dicing sheet comprising a base material and an adhesive layer laminated on at least one surface of the base material, the adhesive layer comprising: It is formed from a pressure-sensitive adhesive composition containing an acrylic polymer (A), an energy beam polymerizable compound (B) and a tackifying resin (C), and the tackifying resin (C) is a polymerized rosin ester.
  • the dicing sheet has an exposed surface opposite to the side facing the substrate in the pressure-sensitive adhesive layer as a measurement target surface, a semiconductor
  • the adhesive strength energy beam irradiation in the state before the energy beam irradiation Provided is a dicing sheet characterized in that the ratio to the adhesive strength in a later state is 3 or more (Invention 1).
  • Such a dicing sheet appropriately contains the tackifier resin (C) and has an adhesive force ratio of 3 or more, so that problems such as mold chip scattering and pickup failure are unlikely to occur.
  • content of the said polymerization rosin ester (C1) contained in the said adhesive composition is 5 to 20 mass parts with respect to 100 mass parts of said acrylic polymers (A).
  • Invention 2 By setting it as this range, the possibility of variation in adhesiveness or the decrease in the adhesive force ratio is reduced, and it becomes easy to obtain an adhesive layer with improved adhesiveness of the adhesive layer.
  • the sum total of content of the disproportionated rosin ester (C2) and petroleum resin (C3) contained in the said adhesive composition is the said acrylic polymer (A It is preferably 50 parts by mass or more with respect to 100 parts by mass (Invention 3).
  • the content of disproportionated rosin ester (C2) and petroleum resin (C3) increase the compatibility between the polymerized rosin ester (C1) and the acrylic polymer (A) in addition to the function as a tackifier resin. In addition, by satisfying the above content range, the function of improving such compatibility can be more stably exhibited.
  • the energy ray polymerizable compound (B) is a low molecular weight compound (B1) having a weight average molecular weight (Mw) of 100 or more and 30,000 or less and having an energy ray polymerizable group. It is preferable to contain (Invention 4).
  • the low molecular weight compound (B1) is composed of one or two or more kinds selected from the group consisting of monofunctional monomers and polyfunctional monomers having an energy ray polymerizable group and oligomers of these monomers.
  • the molecular weight compound (B1) By containing the molecular weight compound (B1), the possibility that the composition stability of the pressure-sensitive adhesive layer is lowered can be reduced, and the low molecular weight compound (B1) is the same as the tackifier resin (C). Since it can have a function, it becomes easier to increase the adhesiveness of the pressure-sensitive adhesive layer.
  • content of the low molecular compound (B1) which has an energy-beam polymeric group contained in the said adhesive composition is 50 mass with respect to 100 mass parts of said acrylic polymers (A). It is preferable that it is 150 parts by weight or more (Invention 5).
  • the pressure-sensitive adhesive composition preferably contains a crosslinking agent capable of undergoing a crosslinking reaction with the acrylic polymer (Invention 6).
  • the pressure-sensitive adhesive layer formed from the pressure-sensitive adhesive composition has a functional group that the acrylic polymer (A) has to react with the crosslinking agent (functional group that can react with the crosslinking agent in this specification). Is also referred to as a “reactive functional group”), and contains a cross-linked product obtained by a cross-linking reaction with a cross-linking agent. ))
  • the pressure-sensitive adhesive layer also referred to as “crosslinking density” in the present specification
  • the pressure-sensitive adhesive layer preferably has a thickness of 5 ⁇ m or more and 35 ⁇ m or less (Invention 7). By making the thickness within this range, the pressure-sensitive adhesive layer has a large variation in adhesiveness, and it becomes difficult to make the pressure-sensitive adhesive ratio within the above-mentioned range. It is possible to reduce the possibility of the occurrence of a problem.
  • the component which has 1 type, or 2 or more types chosen from the group which consists of a carboxyl group and its ion and salt exists in the surface at the side of the said adhesive layer of the said base material.
  • the surface of the pressure-sensitive adhesive layer opposite to the base material is attached to a resin sealing surface of a semiconductor package in which a semiconductor chip is resin-sealed (Invention 9). By sticking the surface of the pressure-sensitive adhesive layer on the side opposite to the base material to the adherend surface, it is realized that it functions appropriately as a dicing sheet.
  • the present invention secondly, a surface on the pressure-sensitive adhesive layer side of the dicing sheet according to any of the above inventions (Inventions 1 to 9) is attached to a resin sealing surface of a semiconductor package, and the above-mentioned dicing sheet Provided is a method for manufacturing a mold chip, in which a semiconductor package is cut into pieces to obtain a plurality of mold chips (Invention 10).
  • Such a manufacturing method makes it possible to manufacture a mold chip that is excellent in quality and advantageous in terms of cost because mold chip scattering and pick-up failure are unlikely to occur in the process.
  • a dicing sheet in which the possibility of problems occurring in any of the dicing process, the expanding process, and the pickup process is reduced. Further, by using such a dicing sheet, it is possible to manufacture a mold chip that is excellent in quality and advantageous in terms of cost.
  • a dicing sheet 1 includes a base material 2 and an adhesive layer 3.
  • Base material The base material 2 of the dicing sheet 1 according to the present embodiment is not particularly limited as long as it is not broken in the expanding process or the pick-up process, and is usually a film mainly composed of a resin-based material. Composed.
  • Specific examples of the film include polyethylene films such as low density polyethylene (LDPE) film, linear low density polyethylene (LLDPE) film, and high density polyethylene (HDPE) film, polypropylene film, polybutene film, polybutadiene film, and polymethylpentene film.
  • LDPE low density polyethylene
  • LLDPE linear low density polyethylene
  • HDPE high density polyethylene
  • Polyolefin films such as ethylene-norbornene copolymer film and norbornene resin film; polyvinyl chloride films such as polyvinyl chloride film and vinyl chloride copolymer film; polyester films such as polyethylene terephthalate film and polybutylene terephthalate film Polyurethane film; polyimide film; ionomer resin film; ethylene-vinyl acetate copolymer film; ) Ethylene copolymer films such as acrylic acid copolymer films and ethylene- (meth) acrylic acid ester copolymer films; polystyrene films, polycarbonate films; fluororesin films; and water additives and modified products of these resins Examples include films as main materials.
  • the substrate 2 may be a single type or a laminated film in which two or more types are combined.
  • (meth) acrylic acid in the present specification means both acrylic acid and methacrylic acid. The same applies to other similar terms.
  • the base material 2 may contain various additives such as pigments, flame retardants, plasticizers, antistatic agents, lubricants, fillers, etc. in a film mainly composed of the above-mentioned resin-based material.
  • the pigment include titanium dioxide and carbon black.
  • the filler include organic materials such as melamine resin, inorganic materials such as fumed silica, and metal materials such as nickel particles. The content of such additives is not particularly limited, but should be within a range where the base material 2 exhibits a desired function and does not lose desired smoothness and flexibility.
  • the base material 2 preferably has transparency to the ultraviolet rays.
  • the base material 2 has the transparency of an electron beam.
  • the surface of the base material 2 on the pressure-sensitive adhesive layer 3 side contains one or more selected from the group consisting of a carboxyl group and ions and salts thereof. It is preferable that the component which has is present.
  • Such a component in the substrate 2 and a component related to the pressure-sensitive adhesive layer 3 components used for forming the pressure-sensitive adhesive layer 3 such as a component constituting the pressure-sensitive adhesive layer 3 and a crosslinking agent are exemplified). By interacting with each other, the possibility of separation between them can be reduced.
  • the specific method for making such a component exist in a base-material adhesion surface is not specifically limited.
  • the base material 2 itself is such that, for example, a constituent monomer of a resin used as a material such as an ethylene- (meth) acrylic acid copolymer film or an ionomer resin film has a carboxyl group, and ions and salts thereof. May be.
  • the substrate 2 is, for example, a polyolefin film, and is subjected to corona treatment on the substrate-adhered surface side or provided with a primer layer. May be.
  • Various coating films may be provided on the surface of the substrate 2 opposite to the substrate-coated surface.
  • the thickness of the base material 2 is not limited as long as the dicing sheet 1 can function properly in each of the aforementioned steps.
  • the thickness is preferably 20 to 450 ⁇ m, more preferably 25 to 200 ⁇ m, and particularly preferably 50 to 150 ⁇ m.
  • the breaking elongation of the substrate 2 in this embodiment is preferably 100% or more as a value measured at 23 ° C. and a relative humidity of 50%, particularly preferably 200% or more and 1000% or less.
  • the base material 2 having a breaking elongation of 100% or more is not easily broken during the expanding process, and the mold chip formed by cutting the semiconductor package is easily separated.
  • the elongation at break is the rate of elongation relative to the original length of the test piece when the test piece is broken in a tensile test based on JIS K7161: 1994.
  • the tensile stress at 25% strain measured by a test based on JIS K7161: 1994 of the substrate 2 in this embodiment is preferably 5 N / 10 mm or more and 15 N / 10 mm or less, and the maximum tensile stress is 15 MPa or more and 50 MPa. The following is preferable.
  • the base material 2 is soft when the semiconductor package is attached to the dicing sheet 1 and then fixed to the ring frame. For this reason, slack may occur, which may cause a conveyance error.
  • the elongation at break, tensile stress at 25% strain, and maximum tensile stress in the present invention refer to values measured in the longitudinal direction of the substrate.
  • the adhesive layer 3 included in the dicing sheet 1 according to the present embodiment contains an acrylic polymer (A), an energy ray polymerizable compound (B), a tackifier resin (C), and the like described below. It is formed from an adhesive composition.
  • Acrylic polymer (A) The pressure-sensitive adhesive composition for forming the pressure-sensitive adhesive layer 3 according to this embodiment contains an acrylic polymer (A).
  • the acrylic polymer (A) may be contained as a cross-linked product by performing a cross-linking reaction with a cross-linking agent described later.
  • a functional group capable of performing a crosslinking reaction with a crosslinking agent is also referred to as a “reactive functional group”.
  • the acrylic polymer (A) has a reactive functional group
  • a cross-linking agent and a cross-linked product are formed as described above. This is preferable.
  • what is necessary is just to set the kind of reactive functional group according to the kind of crosslinking agent.
  • a conventionally known acrylic polymer can be used as the acrylic polymer (A).
  • the weight average molecular weight (Mw) of the acrylic polymer (A) is preferably from 10,000 to 2,000,000, and more preferably from 100,000 to 1,500,000.
  • the glass transition temperature Tg of the acrylic polymer (A) is preferably in the range of ⁇ 70 ° C. to 30 ° C., more preferably ⁇ 60 ° C. to 20 ° C.
  • the acrylic polymer (A) may be a homopolymer formed from one type of acrylic monomer, or may be a copolymer formed from a plurality of types of acrylic monomers, It may be a copolymer formed from one or more types of acrylic monomers and monomers other than acrylic monomers.
  • Specific types of the compound to be an acrylic monomer are not particularly limited, and specific examples include (meth) acrylic acid, (meth) acrylic acid ester, and derivatives thereof (acrylonitrile, etc.).
  • (meth) acrylic acid esters include chain skeletons such as methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, propyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, and 2-ethylhexyl (meth) acrylate.
  • (Meth) acrylates having the following: cycloalkyl (meth) acrylate, benzyl (meth) acrylate, isobornyl (meth) acrylate, dicyclopentanyl (meth) acrylate, dicyclopentenyl (meth) acrylate, dicyclopentenyloxyethyl (meth) ) (Meth) acrylates having a cyclic skeleton such as acrylate, tetrahydrofurfuryl (meth) acrylate, imide acrylate, etc .; 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate Having a hydroxyl group bets like (meth) acrylate; glycidyl (meth) acrylate, (meth) acrylates having a reactive functional group other than hydroxyl group such as N- methylaminoethyl (meth) acrylate.
  • monomers other than acrylic monomers include olefins such as ethylene and norbornene, vinyl acetate, and styrene.
  • the acrylic monomer is alkyl (meth) acrylate, the alkyl group preferably has 1 to 18 carbon atoms.
  • the acrylic polymer (A) contains a cross-linking agent that can cross-link the acrylic polymer (A) as will be described later
  • the acrylic polymer The type of the reactive functional group possessed by (A) is not particularly limited, and may be appropriately determined based on the type of the crosslinking agent.
  • the crosslinking agent is a polyisocyanate compound
  • examples of the reactive functional group that the acrylic polymer (A) has include a hydroxyl group, a carboxyl group, and an amino group. These polar functional groups have the effect of improving the compatibility between the acrylic polymer (A) and the tackifier resin (C) in addition to the function of reacting with the crosslinking agent.
  • a crosslinking agent is a polyisocyanate compound
  • the method for introducing a hydroxyl group as a reactive functional group into the acrylic polymer (A) is not particularly limited.
  • the energy beam polymerizable compound (B) contained in the pressure sensitive adhesive composition for forming the pressure sensitive adhesive layer 3 according to this embodiment has an energy ray polymerizable group and is irradiated with energy rays such as ultraviolet rays and electron beams.
  • the specific configuration is not particularly limited as long as the polymerization reaction can be received.
  • the type of energy beam polymerizable group is not particularly limited. Specific examples thereof include a functional group having an ethylenically unsaturated bond such as a vinyl group or a (meth) acryloyl group. From the viewpoint of excellent polymerization reactivity, the energy ray polymerizable group is preferably a functional group having an ethylenically unsaturated bond, and among them, from the viewpoint of high reactivity when irradiated with energy rays (meta) An acryloyl group is more preferred.
  • the energy beam polymerizable compound (B) includes a low molecular weight compound having an energy beam polymerizable group (abbreviated as “low molecular weight compound” in this specification) (B1) and energy beam polymerization in the main chain or side chain. It can be roughly classified into an energy ray curable polymer (B2) comprising a polymer having a functional group. Any of these can be used for the pressure-sensitive adhesive layer 3 according to the present embodiment, or can be used in combination.
  • Low molecular weight compound (B1) When the energy beam polymerizable compound (B) contains the low molecular weight compound (B1), the low molecular weight compound (B1) plasticizes the pressure-sensitive adhesive layer 3 in the same manner as the tackifier resin (C) described later. It becomes easy to improve the adhesiveness of the pressure-sensitive adhesive layer 3.
  • the low molecular weight compound (B1) may be composed of one type of compound or may be composed of a plurality of types of compounds.
  • the number of energy ray polymerizable groups that the low molecular weight compound (B1) has per molecule may be one (monofunctional) or plural (polyfunctional).
  • the low molecular weight compound (B1) may have a molecular weight of a so-called oligomer (a compound having about 10 to 100 structural units derived from monomers), and the molecular weight is 100 or more and 30,000 or less. It is preferable that When the molecular weight of the low molecular weight compound (B1) is excessively small, there is concern about volatilization during the production process, and at this time, the stability of the composition of the pressure-sensitive adhesive layer 3 is lowered. On the other hand, when the molecular weight of the low molecular weight compound (B1) is excessively large, there is a concern that the function of plasticizing the pressure-sensitive adhesive layer 3 becomes difficult to obtain.
  • oligomer a compound having about 10 to 100 structural units derived from monomers
  • the molecular weight of the low molecular weight compound (B1) is the weight average molecular weight (Mw) from the viewpoint of more stably achieving both the reduction of the possibility of volatilization during the production process and the enhancement of the plasticizing function of the pressure-sensitive adhesive layer 3.
  • Mw weight average molecular weight
  • the specific composition of the low molecular weight compound (B1) is not particularly limited. Specific examples include trimethylolpropane tri (meth) acrylate, tetramethylolmethanetetra (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, dipentaerythritol monohydroxypenta (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, Alkyl (meth) acrylates having a chain skeleton such as 1,4-butylene glycol di (meth) acrylate and 1,6-hexanediol di (meth) acrylate; dicyclopentadiene dimethoxydi (meth) acrylate, isobornyl (meth) Alkyl (meth) acrylates having a cyclic skeleton such as acrylate; polyethylene glycol di (meth) acrylate, oligoester (meth)
  • the low molecular weight compound (B1) preferably has 3 or more energy beam polymerizable groups in one molecule.
  • the pressure-sensitive adhesive layer 3 of the present invention contains a polymerized rosin ester (C1) as described later. However, since the polymerized rosin ester (C1) has an unsaturated carbon-carbon double bond, a low molecular weight compound ( B1) may inhibit the polymerization of the energy beam polymerizable group. However, when the low molecular weight compound (B1) has an energy ray polymerizable group in one molecule within the above range, the polymerization proceeds efficiently, and the adhesive strength ratio of the dicing sheet 1 described later Can be easily adjusted to a preferred range.
  • the polymerization can be performed even if the blending amount of the low molecular weight compound (B1) is not excessive. It is more preferable because it can efficiently proceed.
  • n / M obtained by dividing n by M, where n is the number of energy ray polymerizable groups in one molecule of the low molecular weight compound (B1), M is the weight average molecular weight of the low molecular weight compound (B1), It is preferably 1 ⁇ 10 ⁇ 4 or more.
  • n / M is in the above range, polymerization proceeds efficiently even if the pressure-sensitive adhesive layer 3 contains the polymerized rosin ester (C1), and the adhesive strength of the dicing sheet 1 described later. It becomes easy to adjust the ratio to a preferable range.
  • n / M is 1 ⁇ 10 ⁇ 3 or more because the polymerization can proceed efficiently even if the amount of the low molecular weight compound (B1) is not excessive.
  • the upper limit of the preferable range of n / M is about 5 ⁇ 10 ⁇ 2 .
  • the content of the low molecular weight compound (B1) in the pressure-sensitive adhesive composition for forming the pressure-sensitive adhesive layer 3 according to this embodiment is 50 parts by mass or more and 300 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the acrylic polymer (A). Preferably, the content is 75 parts by mass or more and 150 parts by mass or less. In the present specification, “part by mass” indicating the content of each component means an amount as a solid content.
  • the adhesive layer 3 While being able to reduce appropriately, the adhesive layer 3 is plasticized by this component, and the effect which the adhesiveness improves is exhibited more notably. On the other hand, the problem that compatibility with the acrylic polymer (A) and the tackifier resin (C) described later is reduced is less likely to occur. As a result, variation in the adhesiveness of the pressure-sensitive adhesive layer 3 occurs, or a portion having a low concentration of the energy ray polymerizable compound (B) is locally generated in the vicinity of the interface of the pressure-sensitive adhesive layer 3 with the adherend. It can prevent that the adhesive force ratio of the dicing sheet 1 mentioned later cannot fully rise.
  • content of the low molecular weight compound (B1) in the adhesive composition for forming the adhesive layer 3 which concerns on this embodiment is acrylic polymer (A). It is preferable to set the content of the content with respect to 100 parts by mass and the above n / M to a content of 1.0 ⁇ 10 ⁇ 1 or more and 15 or less, and 1.5 ⁇ 10 ⁇ 1 or more and 5 or less. A content of 3.0 ⁇ 10 ⁇ 1 or more and 1.0 or less is particularly preferable.
  • Energy ray curable polymer (B2) The specific structure of the energy beam curable polymer (B2) is not limited, but it is an acrylic polymer that has a structural unit having an energy beam polymerizable group in the main chain or side chain. , Having properties as an acrylic polymer (A). For this reason, the manufacturing process of the pressure-sensitive adhesive layer 3 is simplified, and there are advantages such as easy control of the density of energy ray polymerizable groups in the pressure-sensitive adhesive layer 3. In this case, the acrylic polymer (A) may not be contained separately.
  • the energy beam curable polymer (B2) has the properties as the acrylic polymer (A), the low molecular weight compound (B1) described above, a tackifier resin (C) described later, and the like
  • Mass part is 100 parts by mass as the total of the content of the acrylic polymer (A) and the content of the energy ray curable polymer (B2) having properties as the acrylic polymer (A). Means.
  • the energy ray curable polymer (B2) has the properties as the acrylic polymer (A), even if the acrylic polymer (A) is the total amount of the energy ray curable polymer (B2). Good.
  • the energy ray curable polymer (B2) may have a reactive functional group in addition to the energy ray polymerizable group. At least a part of the reactive functional group of the energy ray curable polymer (B2) may undergo a crosslinking reaction with a crosslinking agent.
  • the energy ray curable polymer (B2) is a polymer having an energy ray polymerizable group and has a weight average molecular weight (Mw) of more than 30,000.
  • Mw weight average molecular weight
  • Such an energy ray curable polymer (B2) like the acrylic polymer (A), produces an effect of maintaining the cohesiveness of the pressure-sensitive adhesive layer, which is a general function of the pressure-sensitive adhesive main component. The higher the molecular weight, the more effective.
  • the weight average molecular weight of the energy beam curable polymer (B2) is preferably about 100,000 to 2,000,000, more preferably about 150,000 to 1,500,000.
  • the energy ray-curable polymer (B2) has a structural unit based on (meth) acrylate in the skeleton, it can be prepared, for example, by the following method.
  • Acrylic copolymer which is a copolymer comprising a structural unit based on (meth) acrylate and a structural unit based on alkyl (meth) acrylate containing a functional group such as hydroxyl group, carboxyl group, amino group, substituted amino group, and epoxy group
  • a polymer with a compound having 1 to 5 substituents capable of reacting with the functional group and energy ray polymerizable group (for example, a group having an ethylenic double bond) per molecule, An energy ray polymerizable group can be added to the acrylic polymer.
  • Examples of the energy beam for curing the energy beam polymerizable compound (B) include ionizing radiation, that is, X-rays, ultraviolet rays, and electron beams. Among these, ultraviolet rays that are relatively easy to introduce irradiation equipment are preferable.
  • near ultraviolet rays including ultraviolet rays having a wavelength of about 200 to 380 nm may be used for ease of handling.
  • the amount of ultraviolet light may be appropriately selected according to the type of the energy beam polymerizable compound (B) and the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer 3, and is usually about 50 to 500 mJ / cm 2 , and is 100 to 450 mJ / cm 2. 200 to 400 mJ / cm 2 is more preferable.
  • the ultraviolet illumination is usually 50 ⁇ 500mW / cm 2 or so, preferably 100 ⁇ 450mW / cm 2, more preferably 200 ⁇ 400mW / cm 2.
  • an ultraviolet-ray source For example, a high pressure mercury lamp, a metal halide lamp, etc. are used.
  • the acceleration voltage may be appropriately selected according to the type of the energy beam polymerizable compound (B) and the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer 3, and usually an acceleration voltage of 10 to 1000 kV. It is preferable that it is a grade.
  • the irradiation dose may be set in a range where the energy beam polymerizable compound (B) is appropriately cured, and is usually selected in the range of 10 to 1000 krad.
  • the electron beam source is not particularly limited, and for example, various electron beam accelerators such as a Cockloft Walton type, a bandegraft type, a resonant transformer type, an insulated core transformer type, a linear type, a dynamitron type, and a high frequency type are used. be able to.
  • various electron beam accelerators such as a Cockloft Walton type, a bandegraft type, a resonant transformer type, an insulated core transformer type, a linear type, a dynamitron type, and a high frequency type are used. be able to.
  • the pressure-sensitive adhesive composition for forming the pressure-sensitive adhesive layer 3 contains a polymerized rosin ester (C1) as a tackifier resin (C), a disproportionated rosin ester (C2), and a petroleum-based resin. Contains at least one of resin (C3).
  • the tackiness of the pressure-sensitive adhesive layer 3 is increased by containing a tackifier resin (C) composed of an oligomer having a molecular weight of several hundred to several thousand.
  • the content of the tackifier resin (C) in the pressure-sensitive adhesive composition for forming the pressure-sensitive adhesive layer 3 according to this embodiment is appropriately set according to the tackiness required for the pressure-sensitive adhesive layer 3 and the like.
  • the content of the tackifying resin (C) is excessively small, it is difficult to increase the tackiness.
  • the acrylic polymer (A) or The compatibility with the energy beam polymerizable compound (B) is reduced, and the possibility that problems such as variations in the adhesiveness of the pressure-sensitive adhesive layer and the reduction in the adhesive force ratio of the dicing sheet 1 increases.
  • the content of the tackifier resin (C) in the pressure-sensitive adhesive composition for forming the pressure-sensitive adhesive layer 3 is 100 masses of the acrylic polymer (A). It is preferably 55 parts by mass or more and 200 parts by mass or less, and more preferably 100 parts by mass or more and 175 parts by mass or less with respect to parts.
  • the specific kind of polymerized rosin ester (C1) is not particularly limited. If the rosin mainly composed of a mixture of abietic acid and its isomer is polymerized (dimerized) and chemically stabilized by esterifying the carboxyl group, the alcohol for esterification
  • the type (such as glycerin or pentaerythritol is exemplified) is arbitrary.
  • Specific examples of the polymerized rosin ester (C1) include “Pencel D125”, “Pencel D135”, and “Pencel D160” manufactured by Arakawa Chemical Industries, Ltd.
  • Content of ester (C1) is 5 mass parts or more with respect to 100 mass parts of acrylic polymers (A). When this content is less than 5 parts by mass, there is a concern that the effect of improving the adhesiveness based on the inclusion of the polymerized rosin ester (C1) becomes difficult to obtain.
  • the content of the polymerized rosin ester (C1) in the pressure-sensitive adhesive composition for forming the pressure-sensitive adhesive layer 3 according to this embodiment is 20 parts by mass or less with respect to 100 parts by mass of the acrylic polymer (A). Preferably there is.
  • the content of the polymerized rosin ester (C1) in the pressure-sensitive adhesive composition for forming the pressure-sensitive adhesive layer 3 is from the viewpoint of more stably realizing the possibility of occurrence of variations in pressure-sensitive adhesiveness and the improvement of pressure-sensitive adhesiveness.
  • the amount is more preferably 8 parts by mass or more and 18 parts by mass or less, and particularly preferably 10 parts by mass or more and 15 parts by mass or less with respect to 100 parts by mass of the acrylic polymer (A).
  • Both the disproportionated rosin ester (C2) and the petroleum resin (C3) have a function of enhancing the compatibility between the polymerized rosin ester (C1) and the acrylic polymer (A) in addition to the function as a tackifier resin. Also have. Therefore, when the difference in SP value between the acrylic polymer (A) and the polymerized rosin ester (C1) is large, both the disproportionated rosin ester (C2) and the petroleum resin (C3) may be contained. From the viewpoint of reducing variation in adhesiveness in the adhesive layer 3 and increasing the adhesive force ratio of the dicing sheet 1.
  • the content of the disproportionated rosin ester (C2) and the content of the petroleum resin (C3) contained in the pressure-sensitive adhesive composition for forming the pressure-sensitive adhesive layer 3 Is preferably 50 parts by mass or more, more preferably 80 parts by mass or more, and particularly preferably 100 parts by mass or more with respect to 100 parts by mass of the acrylic polymer (A).
  • the upper limit of the total content of the disproportionated rosin ester (C2) and the petroleum resin (C3) contained in the pressure-sensitive adhesive composition for forming the pressure-sensitive adhesive layer 3 is the pressure-sensitive adhesive layer 3 such as pressure-sensitive adhesive.
  • the range of the content of each of the disproportionated rosin ester (C2) and the petroleum-based resin (C3) in the pressure-sensitive adhesive composition for forming the pressure-sensitive adhesive layer 3 is not particularly limited. It may be preferable to set it as 25 to 140 mass parts with respect to 100 mass parts of unification
  • the specific composition of the disproportionated rosin ester (C2) is not particularly limited. Specific examples thereof include “Superester A100” and “KE656” manufactured by Arakawa Chemical Industries, Ltd. On the other hand, the specific type is not particularly limited, C 5 petroleum resins, C 9 petroleum resins, C 5 / C 9 based petroleum resins and hydrogenated resins are exemplified petroleum resin (C3) . Specific examples include “FTR6100”, “FTR7100”, “FTR8100” and the like manufactured by Mitsui Chemicals.
  • the compound in the pressure-sensitive adhesive layer 3 formed from the pressure-sensitive adhesive composition May exhibit the same function as the tackifier resin (plasticization of the pressure-sensitive adhesive layer 3), so the content of the low molecular weight compound (B1) having an energy ray polymerizable group and the content of the tackifier resin (C)
  • the total amount with respect to 100 parts by mass of the acrylic polymer (A) is preferably 165 parts by mass or more and 400 parts by mass or less, more preferably 190 parts by mass or more and 300 parts by mass or less, and 200 parts by mass. More preferably, it is at least 275 parts by mass.
  • the adhesive composition for forming the adhesive layer 3 which concerns on this embodiment may contain the crosslinking agent which can react with an acrylic polymer (A) as mentioned above.
  • the pressure-sensitive adhesive layer 3 according to this embodiment contains a cross-linked product obtained by a cross-linking reaction between the acrylic polymer (A) and the cross-linking agent.
  • the crosslinking agent include polyimine compounds such as epoxy compounds, isocyanate compounds, metal chelate compounds, and aziridine compounds, melamine resins, urea resins, dialdehydes, methylol polymers, metal alkoxides, metal salts, and the like.
  • the cross-linking agent is preferably a polyisocyanate compound for the reason that the cross-linking reaction is easily controlled.
  • the polyisocyanate compound is a compound having two or more isocyanate groups per molecule, for example, aromatic polyisocyanate such as tolylene diisocyanate, diphenylmethane diisocyanate, xylylene diisocyanate; dicyclohexylmethane-4,4′-diisocyanate, bicycloheptane
  • aromatic polyisocyanate such as tolylene diisocyanate, diphenylmethane diisocyanate, xylylene diisocyanate
  • dicyclohexylmethane-4,4′-diisocyanate bicycloheptane
  • Alicyclic isocyanate compounds such as triisocyanate, cyclopentylene diisocyanate, cyclohexylene diisocyanate, methylcyclohexylene diisocyanate, and hydrogenated xylylene diisocyanate
  • acyclic aliphatic isocyanates such
  • a modified product of can also be used.
  • the polyisocyanate compound may be one type or a plurality of types.
  • the pressure-sensitive adhesive layer 3 When the pressure-sensitive adhesive layer 3 according to the present embodiment has a cross-linked product based on the acrylic polymer (A) and the cross-linking agent, the pressure-sensitive adhesive before the energy layer irradiation of the pressure-sensitive adhesive layer 3 is adjusted by adjusting the cross-linking density. Characteristics such as sex can be controlled. Therefore, this crosslink density should be appropriately set according to the characteristics required for the pressure-sensitive adhesive layer 3.
  • the adhesive composition for forming the adhesive layer 3 which concerns on this embodiment contains a crosslinking agent, according to the kind etc. of the crosslinking agent, it may contain an appropriate crosslinking accelerator. preferable.
  • the crosslinking agent is a polyisocyanate compound
  • the pressure-sensitive adhesive composition for forming the pressure-sensitive adhesive layer 3 preferably contains an organometallic compound-based crosslinking accelerator such as an organic tin compound.
  • the pressure-sensitive adhesive composition for forming the pressure-sensitive adhesive layer 3 included in the dicing sheet 1 according to this embodiment is a coloring material such as a photopolymerization initiator, a dye or a pigment.
  • Various additives such as flame retardants and fillers may be contained.
  • photopolymerization initiator examples include photoinitiators such as benzoin compounds, acetophenone compounds, acylphosphine oxide compounds, titanocene compounds, thioxanthone compounds and peroxide compounds, and photosensitizers such as amines and quinones.
  • photoinitiators such as benzoin compounds, acetophenone compounds, acylphosphine oxide compounds, titanocene compounds, thioxanthone compounds and peroxide compounds
  • photosensitizers such as amines and quinones.
  • 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone benzoin, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin isopropyl ether, benzyldiphenyl sulfide, tetramethylthiuram monosulfide, azobisisobutyronitrile, dibenzyl, diacetyl, ⁇ -chloranthraquinone Examples include 2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide.
  • ultraviolet rays When ultraviolet rays are used as energy rays, the irradiation time and irradiation amount can be reduced by blending a photopolymerization initiator.
  • Adhesive strength ratio is the exposure on the side opposite to the side facing the substrate 2 in the adhesive layer 3 provided in the dicing sheet 1 according to the present embodiment.
  • the adhesive strength of the dicing sheet 1 measured when a 180 ° peel test is performed in accordance with JIS Z0237: 2000, using the surface as the measurement target surface and the resin sealing surface of the semiconductor package as the adherend surface, Ratio (front / rear) of the adhesive strength before irradiation (hereinafter also referred to as “pre-irradiation adhesive strength”) to the adhesive strength after energy beam irradiation (hereinafter also referred to as “post-irradiation adhesive strength”). ).
  • the adhesive force ratio of the dicing sheet 1 according to this embodiment is 3 or more.
  • the adhesive force ratio is in such a range, it is possible to reduce the possibility of occurrence of pickup failure in the pickup process while reducing the possibility of occurrence of mold chip scattering in the dicing process or the expanding process.
  • the adhesive strength ratio is less than 3, it becomes difficult to keep the adhesive strength before irradiation high, so that it becomes difficult for mold chip scattering to occur or the adhesive strength after irradiation becomes difficult to maintain low. It is easy for pick-up defects to occur.
  • the adhesive force ratio is preferably 4.5 or more, and more preferably 8.0 or more.
  • the upper limit of the adhesive force ratio is not particularly set, but the adhesive layer 3 has an excessively high adhesive force ratio because the degree of volume shrinkage that occurs during curing by energy beam irradiation has a positive correlation with the adhesive force ratio. In such a case, there is a concern that a problem that the mold chip moves when the pressure-sensitive adhesive layer 3 is cured may occur. Therefore, usually, the adhesive strength ratio is preferably 20 or less, more preferably 13 or less, and particularly preferably 10 or less.
  • the suitable range of adhesive strength before irradiation and adhesive strength after irradiation depends on the specific conditions of the dicing process, expanding process and pick-up process, and the material and surface condition (such as the degree of unevenness) of the semiconductor package as the adherend. Should be set appropriately.
  • the adhesive strength before irradiation is preferably 2000 mN / 25 mm or more, and more preferably 2500 mN / 25 mm or more.
  • the post-irradiation adhesive strength is preferably 600 mN / 25 mm or less, more preferably 400 mN / 25 mm or less, and particularly preferably 300 mN / 25 mm or less.
  • the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer 3 included in the dicing sheet 1 according to this embodiment is not particularly limited. If it is excessively thin, there is a concern that the problem that the variation in the adhesiveness of the adhesive layer becomes large. If it is excessively thick, the adhesiveness is excessively increased and the adhesive force ratio of the dicing sheet 1 is within the above-mentioned range. There is a concern that it may be difficult to control, and the possibility of cohesive failure occurring inside the pressure-sensitive adhesive layer 3 at the time of pick-up increases, and the pressure-sensitive adhesive residual ratio (details such as the definition will be described later in the examples) is increased. Is done.
  • the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer 3 is preferably 2 ⁇ m or more and 50 ⁇ m or less, more preferably 5 ⁇ m or more and 35 ⁇ m or less, and 5 ⁇ m or more and 20 ⁇ m or less. More preferably, the thickness is 5 ⁇ m or more and 15 ⁇ m or less.
  • the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer 3 is 20 ⁇ m or less, it becomes possible to particularly reduce the pressure-sensitive adhesive residual rate.
  • the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer 3 is 15 ⁇ m or less, the pressure-sensitive adhesive residual rate is set to 20% or less. Is possible.
  • the dicing sheet 1 is a base material for the pressure-sensitive adhesive layer 3 for the purpose of protecting the pressure-sensitive adhesive layer 3 until the pressure-sensitive adhesive layer 3 is attached to a semiconductor package as an adherend.
  • the release surface of the release sheet may be bonded to a surface opposite to the side facing the adherend surface.
  • the configuration of the release sheet is arbitrary, and examples include a plastic film coated with a release agent.
  • Specific examples of the plastic film include polyester films such as polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, and polyethylene naphthalate, and polyolefin films such as polypropylene and polyethylene.
  • silicone-based, fluorine-based, long-chain alkyl-based, and the like can be used, and among these, a silicone-based material that is inexpensive and provides stable performance is preferable.
  • a paper base such as glassine paper, coated paper, and high-quality paper, or a laminated paper obtained by laminating a thermoplastic resin such as polyethylene on a paper base may be used.
  • a thermoplastic resin such as polyethylene on a paper base
  • the manufacturing method of the dicing sheet 1 is not particularly limited as long as the pressure-sensitive adhesive layer 3 formed from the above-described pressure-sensitive adhesive composition can be laminated on one surface of the substrate 2.
  • a coating liquid containing the above-mentioned pressure-sensitive adhesive composition and optionally further containing a solvent is prepared, and a die coater, curtain coater, spray coater, slit coater, knife is formed on one surface of the substrate 2.
  • the pressure-sensitive adhesive layer 3 can be formed by applying the coating solution with a coater or the like and drying the coating film on the one surface.
  • the properties of the coating liquid are not particularly limited as long as it can be applied, and it may contain a component for forming the pressure-sensitive adhesive layer 3 as a solute or a dispersoid. .
  • the acrylic system in the coating film can be prepared by adjusting the drying conditions (temperature, time, etc.) or by separately providing a heat treatment for crosslinking. What is necessary is just to advance the crosslinking reaction of a polymer (A) and a crosslinking agent, and to form a crosslinked structure in the adhesive layer 3 with desired presence density.
  • the obtained dicing sheet 1 is placed in an environment of, for example, 23 ° C. and a relative humidity of 50%. Curing may be performed such as standing for days.
  • a coating liquid is applied on the release surface of the release sheet to form a coating liquid layer, which is dried to form a laminate composed of the pressure-sensitive adhesive layer 3 and the release sheet.
  • a surface of the pressure-sensitive adhesive layer 3 opposite to the side facing the release sheet may be attached to the substrate-attached surface of the substrate 2 to obtain a laminate of the dicing sheet 1 and the release sheet.
  • the release sheet in this laminate may be peeled off as a process material, or may protect the pressure-sensitive adhesive layer 3 until being attached to the semiconductor package.
  • a method of manufacturing a mold chip from a semiconductor package using the dicing sheet 1 according to the present embodiment will be described below.
  • a semiconductor package is an electronic component assembly in which a semiconductor chip is mounted on each base of a base assembly as described above, and these semiconductor chips are collectively resin-sealed. And has a thickness of about 200 to 2000 ⁇ m.
  • the resin sealing surface has a rough arithmetic average roughness Ra of about 0.5 to 10 ⁇ m, and the sealing material contains a mold release component to facilitate removal from the mold of the sealing device. For this reason, when an adhesive sheet is affixed to the resin sealing surface, sufficient fixing performance tends not to be exhibited.
  • the dicing sheet 1 affixes the surface on the pressure-sensitive adhesive layer 3 side (that is, the surface opposite to the base material 2 of the pressure-sensitive adhesive layer 3) to the resin sealing surface of the semiconductor package.
  • a release sheet is attached to the surface of the dicing sheet 1 on the pressure-sensitive adhesive layer 3 side, the release sheet is peeled off to expose the surface of the pressure-sensitive adhesive layer 3 side, and the resin sealing of the semiconductor package is performed. What is necessary is just to stick the surface to a stop surface.
  • the outer peripheral portion of the dicing sheet 1 is usually attached to an annular jig called a ring frame for conveyance and fixing to the apparatus by an adhesive layer 3 provided in that portion.
  • the pressure-sensitive adhesive layer 3 contains an appropriate tackifying resin (C) in an appropriate amount, the adhesive strength before irradiation is sufficiently high. Therefore, even if the semiconductor package affixed to the dicing sheet 1 is subjected to a dicing process, the possibility that mold chips formed by dividing the semiconductor package into pieces will be reduced during processing.
  • the size of the mold chip formed by the dicing process is usually 5 mm ⁇ 5 mm or less, and in recent years it may be about 1 mm ⁇ 1 mm, but the pressure-sensitive adhesive layer 3 of the dicing sheet 1 according to this embodiment is irradiated. Since the pre-adhesive strength is sufficiently high, it can sufficiently cope with such fine pitch dicing.
  • a plurality of mold chips can be obtained from the semiconductor package.
  • an expanding process for extending the dicing sheet 1 in the main surface direction is usually performed so that a plurality of mold chips arranged close to each other on the dicing sheet 1 can be easily picked up.
  • the extent of this extension may be set as appropriate in consideration of the distance between adjacent mold chips and the tensile strength of the substrate 2.
  • the mold chips on the pressure-sensitive adhesive layer 3 are picked up by general means such as a suction collet.
  • the picked-up mold chip is used for the next process such as a transport process.
  • energy beam irradiation is performed from the base material 2 side of the dicing sheet 1 according to the present embodiment after the dicing process is finished and before the pickup process is started, it is contained in the adhesive layer 3 included in the dicing sheet 1.
  • the energy ray polymerizable compound (B) undergoes a polymerization reaction, and the post-irradiation adhesive strength becomes 1/3 or less of the pre-irradiation adhesive strength. Therefore, pick-up failure is unlikely to occur.
  • the implementation time of the energy beam irradiation is not particularly limited as long as it is after the dicing process is finished and before the pickup process is started. From the viewpoint of reducing the possibility of mold chip scattering during the expanding process, it is preferable to carry out after the expanding process. However, since the pressure sensitive adhesive layer 3 is cured by energy ray irradiation, the layer shrinks slightly. When misalignment due to shrinkage becomes a problem, energy beam irradiation may be performed before the expanding step.
  • mold chip scattering is less likely to occur, and pick-up defects are less likely to occur in subsequent processes. For this reason, the yield is unlikely to decrease in a series of steps from a dicing step, an expanding step, and a pickup step for dividing the semiconductor package into a plurality of mold chips to the next step. Therefore, the mold chip obtained by the manufacturing method according to this embodiment using the dicing sheet 1 according to this embodiment is likely to be cost-effective. In addition to mold chips that are directly related to these defects, mold chip scattering and pickup defects may cause problems such as chipping of mold chips manufactured in the same lot due to chip collisions. Therefore, the mold chip manufactured by the method for manufacturing a mold chip according to the present embodiment is less likely to have such a problem and is excellent in quality.
  • Example 1 Preparation of coating solution A coating solution having the following composition was prepared. i) A copolymer obtained by copolymerizing 100 parts by weight of butyl acrylate, 2 parts by weight of acrylic acid and 0.5 parts by weight of 2-hydroxyethyl acrylate (weight average) as the acrylic polymer (A).
  • a polyisocyanate compound (trimethylolpropane adduct of tolylene diisocyanate, 1 isocyanate group per molecule) composed of Coronate L manufactured by Nippon Polyurethane as a crosslinking agent for reacting with the acrylic polymer (A). 7 parts by mass, solid content concentration of 75% by mass), and vii) 7 g of solid content of Irgacure 184 (manufactured by Ciba Specialty Chemicals, solid content concentration of 100% by mass) as the photopolymerization initiator. 5 parts by weight.
  • a substrate composed of an ethylene-methacrylic acid copolymer (EMAA) film having a thickness of 140 ⁇ m (25% strain tensile stress: 10.8 N / 10 mm, maximum tensile stress: 25.5 MPa, elongation at break: 525%)
  • EVA ethylene-methacrylic acid copolymer
  • the surface on the pressure-sensitive adhesive layer side of the above laminate is affixed to the surface, and a dicing sheet comprising a substrate and a pressure-sensitive adhesive layer as shown in FIG. It was obtained in a state where a release sheet was further laminated on the surface on the pressure-sensitive adhesive layer side.
  • Example 2 In Example 1, the acrylic polymer (A) contained in the coating solution was copolymerized with 100 parts by mass of butyl acrylate, 5 parts by mass of acrylic acid, and 0.2 parts by mass of 2-hydroxyethyl acrylate. A dicing sheet was obtained in the same manner as in Example 1 except that the copolymer was changed to a copolymer (weight average molecular weight of 600,000, solid content concentration of 40% by mass).
  • Example 3 In Example 1, among the tackifying resin (C) contained in the coating liquid, the content of the disproportionated rosin ester (C2) is 125 parts by mass as the solid content, and the content of the petroleum resin (C3) The content of the tackifier resin (C) was changed to 132.5 parts by mass in Example 1 from 187.5 parts by mass. The same operation as in Example 1 was performed to obtain a dicing sheet.
  • Example 4 In Example 1, a dicing sheet was obtained by performing the same operation as in Example 1 except that the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer was changed from 10 ⁇ m to 15 ⁇ m.
  • Example 5 A dicing sheet was obtained in the same manner as in Example 1 except that the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer was changed from 10 ⁇ m to 30 ⁇ m in Example 1.
  • Example 6 In Example 1, in the tackifying resin (C) contained in the coating liquid, the petroleum resin (C3) is not contained, and the content of the tackifying resin (C) as a solid content in Example 1 is determined. Except having changed from 137.5 mass parts to 75 mass parts, operation similar to Example 1 was performed and the dicing sheet was obtained.
  • Example 7 In Example 1, among the tackifying resin (C) contained in the coating liquid, the disproportionated rosin ester (C2) is not contained, and the content of the petroleum-based resin (C3) is 75 parts by mass as a solid content. As the solid content of the tackifier resin (C), the same operation as in Example 1 was performed except that 137.5 parts by mass in Example 1 was changed to 87.5 parts by mass. Obtained.
  • Example 8 In Example 1, the type of the energy beam polymerizable compound (B) contained in the coating solution is changed from hexafunctional urethane acrylate to trifunctional urethane acrylate oligomer (Seika Beam EXL-810TL, manufactured by Dainichi Seika Kogyo Co., Ltd., weight average molecular weight 5000).
  • Example 1 In Example 1, among the tackifying resin (C) contained in the coating liquid, the polymerized rosin ester (C1) is not contained, and the content of the tackifying resin (C) as a solid content in Example 1 is determined. Except having changed from 137.5 mass parts to 125 mass parts, operation similar to Example 1 was performed and the dicing sheet was obtained.
  • Example 2 In Example 1, out of the tackifying resin (C) contained in the coating liquid, both the polymerized rosin ester (C1) and the disproportionated rosin ester (C2) were not contained, and the tackifying resin (C) Except having changed content as solid content from 137.5 mass parts in Example 1 to 62.5 mass parts, operation similar to Example 1 was performed and the dicing sheet was obtained.
  • Example 3 In Example 1, among the tackifier resin (C) contained in the coating liquid, the content of any of the polymerized rosin ester (C1), the disproportionated rosin ester (C2), and the petroleum resin (C3) Is the same as in Example 1 except that the solid content of the tackifier resin (C) is changed from 137.5 parts by mass to 375 parts by mass in Example 1. And a dicing sheet was obtained.
  • Example 4 a dicing sheet was obtained by performing the same operation as in Example 1, except that both the energy beam polymerizable compound (B) and the photopolymerization initiator were not included in the coating solution.
  • Example 5 the content of the tackifier resin (C) contained in the coating solution is as follows, and the content of the tackifier resin (C) as a solid content is 137.5 parts by mass in Example 1.
  • a dicing sheet was obtained by performing the same operation as in Example 1 except that the amount was changed from 5 to 52.5 parts by mass.
  • Disproportionated rosin ester (C2) 25 parts by mass as solid content
  • petroleum-based resin (C3) 25 parts by mass as solid content.
  • Example 6 In Example 1, among the tackifier resin (C) contained in the coating liquid, the content of the polymerized rosin ester (C1) is 50 parts by mass as the solid content, and the content of the petroleum resin (C3) is solid. The same operation as in Example 1 except that the content of the tackifier resin (C) as a solid content was changed from 137.5 parts by mass to 187.5 parts by mass in Example 1 as 75 parts by mass. And a dicing sheet was obtained.
  • Example 7 In Example 1, among the tackifier resin (C) contained in the coating liquid, the content of the polymerized rosin ester (C1) is 50 parts by mass as a solid content, and the disproportionated rosin ester (C2) and petroleum system Both the resin (C3) was not contained, and the content of the tackifier resin (C) as a solid content was changed from 137.5 parts by mass in Example 1 to 50 parts by mass. Except for these changes, the same operation as in Example 1 was performed to obtain a dicing sheet.
  • Example 8 the type of the energy beam polymerizable compound (B) contained in the coating solution is changed from hexafunctional urethane acrylate to trifunctional urethane acrylate oligomer (Seika Beam EXL-810TL, manufactured by Dainichi Seika Kogyo Co., Ltd., weight average molecular weight 5000).
  • Table 1 summarizes the composition of the coating solution prepared for producing the dicing sheets according to the above Examples and Comparative Examples, and the thickness of the obtained dicing sheet.
  • energy beam polymeric compound (B) which the coating liquid which concerns on an Example and a comparative example contains was all urethane acrylate oligomers, in Table 1, the kind of energy beam polymeric compound (B) is shown.
  • the column shows the number of functional groups.
  • Another laminate comprising the above sheet-like member and the adhesive force measurement sheet was prepared and left for 20 minutes in an atmosphere of 23 ° C. and 50% relative humidity. Thereafter, using a UV irradiation device (RAD-2000m / 12, manufactured by Lintec), UV irradiation was performed from the dicing sheet side under a nitrogen atmosphere (illuminance 230 mW / cm 2 , UV amount 190 mJ / cm 2 ), and the above lamination was performed.
  • the energy beam polymerizable compound (B) contained in the pressure-sensitive adhesive layer in the body was polymerized.
  • the laminated body of the dicing sheet and the simulated semiconductor package thus obtained is mounted on a dicing ring frame (2-6-1 manufactured by Disco Corporation), and the simulated semiconductor package is used using a dicing apparatus (DFD651 manufactured by Disco Corporation).
  • disconnected from the side was performed, and it divided
  • the dicing conditions were as follows.
  • Dicing blade ZBT-5074 (Z1110LS3) manufactured by DISCO Corporation Blade thickness: 0.17mm Blade length: 3.3 mm Blade rotation speed: 30000 rpm
  • Cutting speed 50 mm / min Cutting depth of the dicing sheet into the substrate: 50 ⁇ m
  • Cutting water amount 1.0 L / min
  • Cutting water temperature 20 ° C
  • the member obtained by the dicing process, where the mold chip is attached to the surface of the dicing sheet on the pressure-sensitive adhesive layer side, is visually observed, and the number of mold chips that have dropped from the dicing sheet during the dicing process is counted. The number was divided by the number of divisions 2500 in the dicing process to obtain the mold chip scattering rate (unit:%). The results are shown in Table 2.
  • the laminated body of the dicing sheet and the simulated semiconductor package thus obtained is mounted on a dicing ring frame (2-6-1 manufactured by Disco Corporation), and the simulated semiconductor package is used using a dicing apparatus (DFD651 manufactured by Disco Corporation).
  • disconnected from the side was performed, and it divided
  • the dicing conditions were the same as the dicing conditions in Test Example 3.
  • the dicing sheet in the member in which the mold chip is adhered to the surface on the pressure-sensitive adhesive layer side of the dicing sheet obtained by the dicing step is used, using an expanding device (ME-300B type manufactured by JCM Co., Ltd.), at a speed of 300 mm / min.
  • the expanding step of extending 20 mm in the main surface direction of the sheet was carried out.
  • ultraviolet irradiation device (RAD-2000m / 12 manufactured by Lintec Co., Ltd.) for the above-mentioned member after the expanding process, ultraviolet irradiation from the dicing sheet side under an atmosphere of nitrogen (illuminance 230 mW / cm 2 , ultraviolet amount 190 mJ / cm) 2 ) was performed, and the energy ray polymerizable compound (B) contained in the pressure-sensitive adhesive layer included in the dicing sheet was polymerized.
  • a pick-up test was performed on 100 mold chips located near the center of the main surface of the dicing sheet. That is, the part in contact with the mold chip to be picked up in the dicing sheet is pushed up by 1.5 mm from the substrate side with a needle, and a vacuum collet is attached to the surface of the protruding mold chip opposite to the side facing the dicing sheet, The mold chip attached to the vacuum collet was lifted. At this time, the number of mold chips that could be picked up by the vacuum collet was measured, and the number was divided by the test number (100) to obtain the pickup rate (unit:%). The results are shown in Table 2.
  • the dicing sheet of the example satisfying the conditions of the present invention is less likely to cause defects in any of the dicing process, the expanding process, and the pickup process.
  • the dicing sheet according to the present invention is suitably used as a dicing sheet for a semiconductor package having a large uneven surface.

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Abstract

 ダイシング工程、エキスパンド工程およびピックアップ工程のいずれの工程についても不具合が生じる可能性が低減されたダイシングシートとして、基材2と、基材2の少なくとも一方の面に積層された粘着剤層3とを備えたダイシングシート1であって、粘着剤層は、アクリル系重合体に基づく成分アクリル系重合体(A)、エネルギー線重合性化合物(B)および粘着付与樹脂(C)を含有する粘着剤組成物から形成され、粘着付与樹脂(C)は重合ロジンエステル(C1)を含有するとともに、不均化ロジンエステル(C2)および石油系樹脂(C3)の少なくとも一方を含有し、粘着剤組成物に含まれる前記重合ロジンエステル(C1)の含有量は、アクリル系重合体(A)100質量部に対して5質量部以上であり、ダイシングシートは、粘着剤層における基材に対向する側と反対側の露出面を測定対象面、半導体パッケージの樹脂封止面を被着面として、JIS Z0237:2000に準拠して180°引き剥がし試験を行ったときに測定される粘着力について、エネルギー線照射前の状態における粘着力のエネルギー線照射後の状態における粘着力に対する比が3以上であるダイシングシートが提供される。

Description

ダイシングシート
 本発明は、複数の半導体チップが樹脂封止されてなる半導体パッケージをダイシングする際に用いられるダイシングシートに関する。
 半導体チップが樹脂封止された半導体部品(本明細書において「モールドチップ」という。)は、通常次のようにして作製される。まず、TABテープのような複数の基台が連接してなる集合体の各基台上に半導体チップを搭載し、これらの半導体チップを一括して樹脂封止して電子部品集合体(本明細書において「半導体パッケージ」という。)を得る。次に、半導体パッケージの一方の面に、基材と粘着剤層とを備えた粘着シート(本明細書において「ダイシングシート」という。)を貼付することによって半導体パッケージをダイシングシートに対して固定する。このダイシングシートに対して固定された半導体パッケージを切断分離(ダイシング)して個片化し、ダイシングシート上に複数のモールドチップが近接配置された部材を作製する(ダイシング工程)。通常ダイシングシートの粘着剤層は、特定の刺激により粘着剤層の粘着性が低下するように設計されており、特定の刺激としてはたとえばエネルギー線照射が採用される。そして、以下の工程が行われる前にダイシングシートにエネルギー線を照射し、粘着剤層の粘着性を低下させる工程が含まれる。続いて、この部材におけるダイシングシートをエキスパンド(主面内方向に伸張)して、ダイシングシート上に配置されたモールドチップの間隔を広げる(エキスパンド工程)。こうしてダイシングシート上で互いに離間した状態とされたモールドチップを、個別にピックアップしてダイシングシートから分離させ(ピックアップ工程)、次の工程に移送する。この際、上記の粘着剤層の粘着性を低下させる工程を含むことにより、ピックアップを行うことが容易化される。
 この一連の工程のうち、ダイシング工程およびその後のエキスパンド工程では、半導体パッケージおよびこれがダイシングされてなるモールドチップは、ダイシングシート上に固定された状態を維持することが求められる。この目的を達成する観点からは、ダイシングシートの粘着剤層は、その半導体パッケージおよびモールドチップに対するエネルギー線照射前の粘着性(本明細書において、ことわりのない「粘着性」はエネルギー線照射前の粘着性を意味する。)が高いことが好ましい。ここで、ダイシングシートの被着体が半導体パッケージおよびモールドチップである場合には、半導体チップを被着体とする場合に比べて、被着面の凹凸が大きくなる傾向がある。このため、半導体チップを被着体とするダイシングシートを半導体パッケージに対する上記工程に使用されるダイシングシートとして転用すると、被着体に対する粘着性が不十分となり、ダイシング工程において半導体パッケージを切断中に個片化されたモールドチップがダイシングシートから剥離して飛散したり、エキスパンド工程においてダイシングシートを伸張させたときにモールドチップがダイシングシートから剥離して飛散したりする不具合が生じる。以下、ダイシング工程やエキスパンド工程において生じるこれらの不具合を「モールドチップ飛散」と総称する。このモールドチップ飛散の発生の可能性を低減させることを目的として、例えば引用文献1に記載されるように、ダイシングシートの粘着剤層に粘着性を付与するための樹脂材料(本明細書において、「粘着付与樹脂」という。)を含有させることが行われている。
特開2005-229040号公報
 粘着付与樹脂として一般的なロジン系材料は粘着剤層の粘着性を向上させる観点からは好ましい材料である。しかしながら、本発明者らが詳細に検討したところ、ロジン系の粘着付与樹脂は、その種類や含有量を適切に制御しなければ、粘着剤層における粘着性にばらつきが発生したり、粘着剤層の粘着性は確保できるもののピックアップ工程を適切に行うことができなくなったりすることが明らかになった。具体的には、ピックアップ工程において、モールドチップをピックアップできない不具合が発生する場合があった。以下、これらの不具合を総称して「ピックアップ不良」という。
 本発明は、ダイシング工程、エキスパンド工程およびピックアップ工程のいずれの工程についても不具合が生じる可能性が低減されたダイシングシートを提供すること、およびそのダイシングシートを用いるモールドチップの製造方法を課題とする。
 上記目的を達成するために、本発明者らが検討したところ、ダイシングシートが備える粘着剤層に含有される粘着付与樹脂を、重合ロジンエステルと、不均化ロジンエステルおよび石油系樹脂の少なくとも一方とからなる組成とし、これらの粘着付与樹脂のうち重合ロジンエステルの含有量を所定量以上とするとともに、エネルギー線照射前後の粘着力の比率(前/後)を3以上とすることによって、ダイシング工程、エキスパンド工程およびピックアップ工程のいずれの工程についても、上記の不具合が生じる可能性を低減させることができるとの知見を得た。
 かかる知見に基づき完成された本発明は、第1に、基材と、前記基材の少なくとも一方の面に積層された粘着剤層とを備えたダイシングシートであって、前記粘着剤層は、アクリル系重合体(A)、エネルギー線重合性化合物(B)および粘着付与樹脂(C)を含有する粘着剤組成物から形成されたものであって、前記粘着付与樹脂(C)は重合ロジンエステル(C1)を含有するとともに、不均化ロジンエステル(C2)および石油系樹脂(C3)の少なくとも一方を含有し、前記粘着剤組成物に含まれる前記重合ロジンエステル(C1)の含有量は、前記アクリル系重合体(A)100質量部に対して5質量部以上であり、前記ダイシングシートは、前記粘着剤層における前記基材に対向する側と反対側の露出面を測定対象面、半導体パッケージの樹脂封止面を被着面として、JIS Z0237:2000に準拠して180°引き剥がし試験を行ったときに測定される粘着力について、エネルギー線照射前の状態における粘着力のエネルギー線照射後の状態における粘着力に対する比が3以上であることを特徴とするダイシングシートを提供する(発明1)。
 かかるダイシングシートは、粘着付与樹脂(C)を適切に含有し、粘着力比が3以上であるため、モールドチップ飛散やピックアップ不良といった不具合が発生しにくい。
 上記発明(発明1)において、前記粘着剤組成物に含まれる前記重合ロジンエステル(C1)の含有量は、前記アクリル系重合体(A)100質量部に対して5質量部以上20質量部以下であることが好ましい(発明2)。この範囲とすることで、粘着性のばらつき発生や粘着力比の低下の可能性が低減され、また、粘着剤層の粘着性が向上した粘着剤層を得ることが容易となる。
 上記発明(発明1,2)において、前記粘着剤組成物に含まれる不均化ロジンエステル(C2)の含有量および石油系樹脂(C3)の含有量の総和は、前記アクリル系重合体(A)100質量部に対して50質量部以上であることが好ましい(発明3)。不均化ロジンエステル(C2)の含有量および石油系樹脂(C3)は粘着付与樹脂としての機能に加えて、重合ロジンエステル(C1)とアクリル系重合体(A)との相溶性を高める機能も有し、上記の含有量の範囲を満足することで、このような相溶性を向上させる機能をより安定的に発揮させることができる。
 上記発明(発明1から3)において、エネルギー線重合性化合物(B)は、重量平均分子量(Mw)が100以上30,000以下であってエネルギー線重合性基を有する低分子量化合物(B1)を含有することが好ましい(発明4)。かかる低分子量化合物(B1)は、エネルギー線重合性基を有する単官能モノマーおよび多官能のモノマーならびにこれらのモノマーのオリゴマーからなる群から選ばれる一種または二種以上からなるものであって、この低分子量化合物(B1)を含有することにより、粘着剤層の組成の安定性が低下する可能性を低減させることができ、かつ上記の低分子量化合物(B1)が粘着付与樹脂(C)と同様の機能を有することができるため粘着剤層の粘着性を高めることがより容易となる。
 上記発明(発明4)において、前記粘着剤組成物に含まれるエネルギー線重合性基を有する低分子化合物(B1)の含有量は、前記アクリル系重合体(A)100質量部に対して50質量部以上150質量部以下であることが好ましい(発明5)。エネルギー線重合性基を有する低分子化合物(B1)の含有量を上記の範囲内とすることで、エネルギー線を照射して粘着剤層の粘着性を適切に低下させることができるとともに、粘着剤層が可塑化され、その粘着性が向上する効果がより顕著に発揮される。また、粘着剤層中の各成分の相溶性が低下することに起因した不具合が発生することを防止できる。
 上記発明(発明1から5)において、前記粘着剤組成物は、前記アクリル系重合体と架橋反応しうる架橋剤を含有することが好ましい(発明6)。この場合には、粘着剤組成物から形成される粘着剤層には、アクリル系重合体(A)が架橋剤と反応すべきものとして有する官能基(本明細書において架橋剤と反応しうる官能基を「反応性官能基」ともいう。)において架橋剤と架橋反応してなる架橋物が含有され、その架橋物が有する架橋構造(反応性官能基-架橋剤-反応性官能基によって構成される。)の、粘着剤層内の存在密度(本明細書において「架橋密度」ともいう。)を調整することによって、粘着剤層のエネルギー線照射前の粘着性などの特性を制御することができる。
 上記発明(発明1から6)において、前記粘着剤層の厚さが5μm以上35μm以下であることが好ましい(発明7)。当該厚さをこの範囲内とすることにより、粘着剤層の粘着性にばらつきが大きくなる、粘着力比を前述の範囲とすることが困難となる、ピックアップ時に粘着剤層の内部で凝集破壊が生じるといった問題が発生する可能性を低減させることができる。
 上記発明(発明1から7)において、前記基材の前記粘着剤層側の面には、カルボキシル基、ならびにそのイオンおよび塩からなる群から選ばれる一種または二種以上を有する成分が存在することが好ましい(発明8)。かかる成分が粘着剤層に係る成分と化学的に相互作用することにより、基材と粘着剤層との間で剥離が生じる可能性を低減させることができる。
 前記粘着剤層の前記基材と反対側の面を、半導体チップを樹脂封止した半導体パッケージの樹脂封止面に貼付することが好ましい(発明9)。粘着剤層の基材と反対側の面が上記の被着面に貼付されることにより、ダイシングシートとして適切に機能することが実現される。
 本発明は、第2に、上記発明(発明1から9)のいずれかに係るダイシングシートの前記粘着剤層側の面を、半導体パッケージの樹脂封止面に貼付し、前記ダイシングシート上の前記半導体パッケージを切断して個片化し、複数のモールドチップを得る、モールドチップの製造方法を提供する(発明10)。
 かかる製造方法は、その過程においてモールドチップ飛散やピックアップ不良が生じにくいため、品質に優れコスト的にも有利なモールドチップを製造することができる。
 本発明によれば、ダイシング工程、エキスパンド工程およびピックアップ工程のいずれの工程についても不具合が生じる可能性が低減されたダイシングシートが提供される。また、かかるダイシングシートを用いることで、品質に優れコスト的にも有利なモールドチップを製造することができる。
本発明の一実施形態に係るダイシングシートの概略断面図である。
 以下、本発明の実施形態について説明する。
 図1に示されるように、本発明の一実施形態に係るダイシングシート1は、基材2および粘着剤層3を備える。
1.基材
 本実施形態に係るダイシングシート1の基材2は、エキスパンド工程やピックアップ工程において破断しない限り、その構成材料は、特に限定はされず、通常は樹脂系の材料を主材とするフィルムから構成される。そのフィルムの具体例として、低密度ポリエチレン(LDPE)フィルム、直鎖低密度ポリエチレン(LLDPE)フィルム、高密度ポリエチレン(HDPE)フィルム等のポリエチレンフィルム、ポリプロピレンフィルム、ポリブテンフィルム、ポリブタジエンフィルム、ポリメチルペンテンフィルム、エチレン-ノルボルネン共重合体フィルム、ノルボルネン樹脂フィルム等のポリオレフィン系フィルム;ポリ塩化ビニルフィルム、塩化ビニル共重合体フィルム等のポリ塩化ビニル系フィルム;ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリブチレンテレフタレートフィルム等のポリエステル系フィルム;ポリウレタンフィルム;ポリイミドフィルム;アイオノマー樹脂フィルム;エチレン-酢酸ビニル共重合体フィルム、エチレン-(メタ)アクリル酸共重合体フィルム、エチレン-(メタ)アクリル酸エステル共重合体フィルム等のエチレン系共重合フィルム;ポリスチレンフィルム、ポリカーボネートフィルム;フッ素樹脂フィルム;ならびにこれらの樹脂の水添加物および変性物を主材とするフィルムなどが挙げられる。またこれらの架橋フィルム、共重合体フィルムも用いられる。上記の基材2は1種単独でもよいし、さらにこれらを2種類以上組み合わせた積層フィルムであってもよい。なお、本明細書における「(メタ)アクリル酸」は、アクリル酸およびメタクリル酸の両方を意味する。他の類似用語についても同様である。
 基材2は、上記の樹脂系材料を主材とするフィルム内に、顔料、難燃剤、可塑剤、帯電防止剤、滑剤、フィラー等の各種添加剤が含まれていてもよい。顔料としては、例えば、二酸化チタン、カーボンブラック等が挙げられる。また、フィラーとして、メラミン樹脂のような有機系材料、ヒュームドシリカのような無機系材料およびニッケル粒子のような金属系材料が例示される。こうした添加剤の含有量は特に限定されないが、基材2が所望の機能を発揮し、所望の平滑性や柔軟性を失わない範囲に留めるべきである。
 粘着剤層3を硬化するために照射するエネルギー線として紫外線を用いる場合には、基材2は紫外線に対して透過性を有することが好ましい。なお、エネルギー線として電子線を用いる場合には基材2は電子線の透過性を有していることが好ましい。
 また、基材2の粘着剤層3側の面(以下、「基材被着面」ともいう。)には、カルボキシル基、ならびにそのイオンおよび塩からなる群から選ばれる一種または二種以上を有する成分が存在することが好ましい。基材2におけるかかる成分と粘着剤層3に係る成分(粘着剤層3を構成する成分および架橋剤などの粘着剤層3を形成するにあたり使用される成分が例示される。)とが化学的に相互作用することにより、これらの間で剥離が生じる可能性を低減させることができる。基材被着面にそのような成分を存在させるための具体的な手法は特に限定されない。たとえば、基材2自体を例えばエチレン-(メタ)アクリル酸共重合体フィルム、アイオノマー樹脂フィルム等の材料となる樹脂の構成単量体がカルボキシル基、ならびにそのイオンおよび塩を有するものとするのであってもよい。基材被着面に上記成分を発生させる他の手法として、基材2は例えばポリオレフィン系フィルムであって、基材被着面側にコロナ処理が施されていたり、プライマー層が設けられていたりしてもよい。また、基材2の基材被着面と反対側の面には各種の塗膜が設けられていてもよい。
 基材2の厚さはダイシングシート1が前述の各工程において適切に機能できる限り、限定されない。好ましくは20~450μm、より好ましくは25~200μm、特に好ましくは50~150μmの範囲にある。
 本実施形態における基材2の破断伸度は、23℃、相対湿度50%のときに測定した値として100%以上であることが好ましく、特に200%以上1000%以下であることが好ましい。上記の破断伸度が100%以上である基材2は、エキスパンド工程の際に破断しにくく、半導体パッケージを切断して形成したモールドチップを離間し易いものとなる。なお、破断伸度はJIS K7161:1994に準拠した引張り試験における、試験片破壊時の試験片の長さの元の長さに対する伸び率である。
 また、本実施形態における基材2のJIS K7161:1994に準拠した試験により測定される25%ひずみ時引張応力は5N/10mm以上15N/10mm以下であることが好ましく、最大引張応力は15MPa以上50MPa以下であることが好ましい。25%ひずみ時引張応力が5N/10mm未満であったり、最大引張応力が15MPa未満であったりすると、ダイシングシート1に半導体パッケージを貼着した後、リングフレームに固定した際、基材2が柔らかいために弛みが発生し、搬送エラーの原因となることがある。一方、25%ひずみ時引張応力が15N/10mmを超えたり、最大引張応力が50MPa未満であったりすると、エキスパンド工程時に加わる荷重が大きくなるため、リングフレームからダイシングシート1自体が剥がれたりするなどの問題が発生するおそれがある。本発明における破断伸度、25%ひずみ時引張応力、最大引張応力は基材の長尺方向について測定した値を指す。
2.粘着剤層
 本実施形態に係るダイシングシート1が備える粘着剤層3は、次に説明するアクリル系重合体(A)、エネルギー線重合性化合物(B)および粘着付与樹脂(C)などを含有する粘着剤組成物から形成されたものである。
(1)アクリル系重合体(A)
 本実施形態に係る粘着剤層3を形成するための粘着剤組成物はアクリル系重合体(A)を含有する。この粘着剤組成物から形成された粘着剤層3において、アクリル系重合体(A)は少なくともその一部が後述する架橋剤と架橋反応を行って架橋物として含有される場合もある。本明細書において、架橋剤と架橋反応を行うことが可能な官能基を「反応性官能基」ともいう。アクリル系重合体(A)が反応性官能基を有することは必須とされないが、アクリル系重合体(A)が反応性官能基を有する場合には、上記のとおり架橋剤と架橋物を形成することができるため、好ましい。なお、反応性官能基の種類は、架橋剤の種類に応じて設定すればよい。
 アクリル系重合体(A)としては、従来公知のアクリル系の重合体を用いることができる。アクリル系重合体(A)の重量平均分子量(Mw)は、1万以上200万以下であることが好ましく、10万以上150万以下であることがより好ましい。また、アクリル系重合体(A)のガラス転移温度Tgは、好ましくは-70℃以上30℃以下、さらに好ましくは-60℃以上20℃以下の範囲にある。
 上記アクリル系重合体(A)は、一種類のアクリル系モノマーから形成された単独重合体であってもよいし、複数種類のアクリル系モノマーから形成された共重合体であってもよいし、一種類または複数種類のアクリル系モノマーとアクリル系モノマー以外のモノマーとから形成された共重合体であってもよい。アクリル系モノマーとなる化合物の具体的な種類は特に限定されず、(メタ)アクリル酸、(メタ)アクリル酸エステル、その誘導体(アクリロニトリルなど)が具体例として挙げられる。(メタ)アクリル酸エステルについてさらに具体例を示せば、メチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレート、プロピル(メタ)アクリレート、ブチル(メタ)アクリレート、2-エチルヘキシル(メタ)アクリレート等の鎖状骨格を有する(メタ)アクリレート;シクロアルキル(メタ)アクリレート、ベンジル(メタ)アクリレート、イソボルニル(メタ)アクリレート、ジシクロペンタニル(メタ)アクリレート、ジシクロペンテニル(メタ)アクリレート、ジシクロペンテニルオキシエチル(メタ)アクリレート、テトラヒドロフルフリル(メタ)アクリレート、イミドアクリレート等の環状骨格を有する(メタ)アクリレート;2-ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2-ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート等の水酸基を有する(メタ)アクリレート;グリシジル(メタ)アクリレート、N-メチルアミノエチル(メタ)アクリレート等の水酸基以外の反応性官能基を有する(メタ)アクリレートが挙げられる。また、アクリル系モノマー以外のモノマーとして、エチレン、ノルボルネン等のオレフィン、酢酸ビニル、スチレンなどが例示される。なお、アクリル系モノマーがアルキル(メタ)アクリレートである場合には、そのアルキル基の炭素数は1から18の範囲であることが好ましい。
 本実施形態に係る粘着剤層3を形成するための粘着剤組成物が、後述するようにアクリル系重合体(A)を架橋しうる架橋剤を含有している場合には、アクリル系重合体(A)が有する反応性官能基の種類は特に限定されず、架橋剤の種類などに基づいて適宜決定すればよい。例えば、架橋剤がポリイソシアネート化合物である場合には、アクリル系重合体(A)が有する反応性官能基として、水酸基、カルボキシル基、アミノ基などが例示される。これらの極性的な官能基は、架橋剤と反応する機能のほか、アクリル系重合体(A)と粘着付与樹脂(C)との相溶性を向上させる効果がある。これらのうちでも、架橋剤がポリイソシアネート化合物である場合には、イソシアネート基との反応性の高い水酸基を反応性官能基として採用することが好ましい。アクリル系重合体(A)に反応性官能基として水酸基を導入する方法は特に限定されない。一例として、アクリル系重合体(A)が2-ヒドロキシエチル(メタ)アクリレートなどの水酸基を有するアクリレートに基づく構成単位を骨格に含有する場合が挙げられる。
(2)エネルギー線重合性化合物(B)
 本実施形態に係る粘着剤層3を形成するための粘着剤組成物が含有するエネルギー線重合性化合物(B)は、エネルギー線重合性基を有し、紫外線、電子線等のエネルギー線の照射を受けて重合反応することができる限り、具体的な構成は特に限定されない。エネルギー線重合性化合物(B)が重合することによって粘着剤層3の粘着性が低下してピックアップ工程の作業性が向上する。
 エネルギー線重合性基の種類は特に限定されない。その具体例として、ビニル基、(メタ)アクリロイル基等のエチレン性不飽和結合を有する官能基などが挙げられる。重合反応性に優れる観点から、エネルギー線重合性基はエチレン性不飽和結合を有する官能基であることが好ましく、その中でもエネルギー線が照射されたときの反応性の高さの観点から(メタ)アクリロイル基がより好ましい。
 エネルギー線重合性化合物(B)は、エネルギー線重合性基を有する低分子量化合物(本明細書において、「低分子量化合物」と略記する。)(B1)と、主鎖または側鎖にエネルギー線重合性基を有するポリマーからなるエネルギー線硬化型重合体(B2)とに大別することができる。本実施形態に係る粘着剤層3には、これらのいずれかを用い、又は併用することができる。
i)低分子量化合物(B1)
 エネルギー線重合性化合物(B)が低分子量化合物(B1)を含有する場合には、低分子量化合物(B1)が後述する粘着付与樹脂(C)と同様に、粘着剤層3を可塑化させるため、粘着剤層3の粘着性を向上させることが容易となる。低分子量化合物(B1)は1種類の化合物から構成されていてもよいし、複数種類の化合物から構成されていてもよい。低分子量化合物(B1)が分子あたりで有するエネルギー線重合性基数は1つ(単官能)であってもよいし、複数(多官能)であってもよい。また、低分子量化合物(B1)はいわゆるオリゴマー(モノマーに由来する構成単位を10から100程度有する化合物)と称される程度の分子量を有していてもよく、その分子量は100以上30,000以下であることが好ましい。低分子量化合物(B1)の分子量が過度に小さい場合には、製造過程において揮発することが懸念され、このとき粘着剤層3の組成の安定性が低下する。一方、低分子量化合物(B1)の分子量が過度に大きい場合には、粘着剤層3の可塑化させる機能が得られにくくなることが懸念される。製造過程において揮発する可能性を低減させることと粘着剤層3の可塑化させる機能を高めることとをより安定的に両立させる観点から、低分子量化合物(B1)の分子量は、重量平均分子量(Mw)として200以上20,000以下とすることが好ましく、300以上10,000以下程度とすることがより好ましく、300以上4,000以下とすることが特に好ましい。
 低分子量化合物(B1)の具体的な組成は特に限定されない。具体例として、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、テトラメチロールメタンテトラ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールモノヒドロキシペンタ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、1,4-ブチレングリコールジ(メタ)アクリレート、1,6-ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレートなどの鎖状骨格を有するアルキル(メタ)アクリレート;ジシクロペンタジエンジメトキシジ(メタ)アクリレート、イソボルニル(メタ)アクリレートなどの環状骨格を有するアルキル(メタ)アクリレート;ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、オリゴエステル(メタ)アクリレート、ウレタン(メタ)アクリレートオリゴマー、エポキシ変性(メタ)アクリレート、ポリエーテル(メタ)アクリレート等のアクリレート系化合物などが挙げられる。これらの中でも、アクリレート系化合物が、アクリル系重合体(A)への相溶性が高いため好ましい。
 低分子量化合物(B1)は、一分子中に有するエネルギー線重合性基が3つ以上であるものが好ましい。本発明の粘着剤層3は、後述のとおり重合ロジンエステル(C1)を含有するものであるが、重合ロジンエステル(C1)は不飽和炭素-炭素二重結合を有するために、低分子量化合物(B1)の有するエネルギー線重合性基の重合を阻害することがある。しかしながら、低分子量化合物(B1)が、一分子中に有するエネルギー線重合性基が上記のような範囲にあるものであると、重合が効率的に進行し、後述するダイシングシート1の粘着力比を好ましい範囲に調整することが容易となる。特に、低分子量化合物(B1)が、一分子中に有するエネルギー線重合性基が5つ以上であるものであると、低分子量化合物(B1)の配合量を過大な量としなくても重合を効率的に進行させることができるため、より好ましい。
 また、低分子量化合物(B1)が一分子中に有するエネルギー線重合性基の数をnとし、低分子量化合物(B1)の重量平均分子量をMとして、nをMで除した値n/Mは、1×10-4以上であることが好ましい。n/Mが上記のような範囲にあるものであると、粘着剤層3が重合ロジンエステル(C1)を含有していたとしても重合が効率的に進行し、後述するダイシングシート1の粘着力比を好ましい範囲に調整することが容易となる。特に、n/Mが1×10-3以上であると、低分子量化合物(B1)の配合量を過大な量としなくても効率的に重合を進行させることができるため、より好ましい。粘着剤層3の保管中の硬化を抑制するなどの取扱い上の観点から、n/Mの好ましい範囲の上限は、5×10-2程度である。
 本実施形態に係る粘着剤層3を形成するための粘着剤組成物における低分子量化合物(B1)の含有量は、アクリル系重合体(A)100質量部に対して50質量部以上300質量部以下とすることが好ましく、75質量部以上150質量部以下とすることがより好ましい。なお、本明細書において、各成分の含有量を示す「質量部」は固形分としての量を意味する。低分子量化合物(B1)の含有量をこのような範囲とすることで、エネルギー線重合性基の粘着剤層3における存在密度が適当となり、エネルギー線を照射して粘着剤層3の粘着性を適切に低下させることができるとともに、本成分により粘着剤層3が可塑化され、その粘着性が向上する効果がより顕著に発揮される。一方で、アクリル系重合体(A)および後述する粘着付与樹脂(C)との相溶性が低下するという不具合も生じにくい。その結果、粘着剤層3の粘着性にばらつきが発生したり、粘着剤層3の被着体との界面付近に、局所的にエネルギー線重合性化合物(B)の濃度の低い部分が生じ、後述するダイシングシート1の粘着力比が十分に上がらなくなったりすることが防止できる。なお、上記のn/Mも考慮に入れれば、本実施形態に係る粘着剤層3を形成するための粘着剤組成物における低分子量化合物(B1)の含有量は、アクリル系重合体(A)100質量部に対するその含有量と上記のn/Mとの積の値が1.0×10-1以上15以下となる含有量とすることが好ましく、1.5×10-1以上5以下となる含有量がより好ましく、3.0×10-1以上1.0以下となる含有量が特に好ましい。
ii)エネルギー線硬化型重合体(B2)
 エネルギー線硬化型重合体(B2)の具体的な構造は限定されないが、アクリル系重合体であって、エネルギー線重合性基を有する構成単位を主鎖または側鎖に有するものである場合には、アクリル系重合体(A)としての性質を有する。このため、粘着剤層3の製造工程が簡素化される、粘着剤層3におけるエネルギー線重合性基の存在密度を制御しやすいなどの利点を有する。また、この場合は、別途アクリル系重合体(A)を含有していなくてもよい。なお、このようにエネルギー線硬化型重合体(B2)がアクリル系重合体(A)としての性質を有する場合には、上述した低分子量化合物(B1)や、後述する粘着付与樹脂(C)など、粘着剤層3を形成するための粘着剤組成物に含有されるアクリル系重合体(A)以外の成分の含有量の好適範囲を特定する際に用いられる「アクリル系重合体(A)100質量部」とは、アクリル系重合体(A)の含有量およびアクリル系重合体(A)としての性質を有するエネルギー線硬化型重合体(B2)の含有量の総和として100質量部であることを意味する。なお、エネルギー線硬化型重合体(B2)がアクリル系重合体(A)としての性質を有する場合には、アクリル系重合体(A)が全量エネルギー線硬化型重合体(B2)であってもよい。このとき、エネルギー線硬化型重合体(B2)はエネルギー線重合性基に加えて反応性官能基を有してもよい。エネルギー線硬化型重合体(B2)が有する反応性官能基の少なくとも一部は、架橋剤と架橋反応してもよい。
 エネルギー線硬化型重合体(B2)はエネルギー線重合性基を有する重合体であって、重量平均分子量(Mw)が30,000よりも大きい。かかるエネルギー線硬化型重合体(B2)は、アクリル系重合体(A)同様に粘着剤主剤の一般的な機能である粘着剤層の凝集性を維持する効果を生じさせるものであり、このような効果は分子量が高いほど、より発揮される。一方で、エネルギー線硬化型重合体(B2)の分子量が過度に大きい場合には、粘着剤層3を製造するにあたり薄層化することが困難となるなどの問題が発生する可能性が高まる。したがって、エネルギー線硬化型重合体(B2)の重量平均分子量は、10万以上200万以下程度であることが好ましく、15万以上150万以下程度であることがより好ましい。
 エネルギー線硬化型重合体(B2)が(メタ)アクリレートに基づく構成単位を骨格に有するものである場合には、例えば次のような方法で調製することができる。水酸基、カルボキシル基、アミノ基、置換アミノ基、エポキシ基等の官能基を含有する(メタ)アクリレートに基づく構成単位およびアルキル(メタ)アクリレートに基づく構成単位を含んでなる共重合体であるアクリル系重合体と、上記の官能基と反応しうる置換基およびエネルギー線重合性基(例えばエチレン性二重結合を有する基)を1分子毎に1~5個を有する化合物とを反応させることにより、上記のアクリル系重合体にエネルギー線重合性基を付加させることができる。
 エネルギー線重合性化合物(B)を硬化させるためのエネルギー線としては、電離放射線、すなわち、X線、紫外線、電子線などが挙げられる。これらのうちでも、比較的照射設備の導入の容易な紫外線が好ましい。
 電離放射線として紫外線を用いる場合には、取り扱いのしやすさから波長200~380nm程度の紫外線を含む近紫外線を用いればよい。紫外線量としては、エネルギー線重合性化合物(B)の種類や粘着剤層3の厚さに応じて適宜選択すればよく、通常50~500mJ/cm程度であり、100~450mJ/cmが好ましく、200~400mJ/cmがより好ましい。また、紫外線照度は、通常50~500mW/cm程度であり、100~450mW/cmが好ましく、200~400mW/cmがより好ましい。紫外線源としては特に制限はなく、例えば高圧水銀ランプ、メタルハライドランプなどが用いられる。
 電離放射線として電子線を用いる場合には、その加速電圧については、エネルギー線重合性化合物(B)の種類や粘着剤層3の厚さに応じて適宜選定すればよく、通常加速電圧10~1000kV程度であることが好ましい。また、照射線量は、エネルギー線重合性化合物(B)が適切に硬化する範囲に設定すればよく、通常10~1000kradの範囲で選定される。電子線源としては、特に制限はなく、例えばコックロフトワルトン型、バンデグラフト型、共振変圧器型、絶縁コア変圧器型、あるいは直線型、ダイナミトロン型、高周波型などの各種電子線加速器を用いることができる。
(3)粘着付与樹脂(C)
 本実施形態に係る粘着剤層3を形成するための粘着剤組成物は、粘着付与樹脂(C)として、重合ロジンエステル(C1)を含有するとともに、不均化ロジンエステル(C2)および石油系樹脂(C3)の少なくとも一方を含有する。分子量が数百から数千程度のオリゴマーからなる粘着付与樹脂(C)を含有することにより粘着剤層3の粘着性は増加する。
 本実施形態に係る粘着剤層3を形成するための粘着剤組成物における粘着付与樹脂(C)の含有量は、粘着剤層3に求められる粘着性などに応じて適宜設定される。基本的な傾向として、粘着付与樹脂(C)の含有量が過度に少ない場合には粘着性を高めることが困難となり、逆に含有量が過度に多い場合にはアクリル系重合体(A)やエネルギー線重合性化合物(B)との相溶性が低下し、粘着剤層の粘着性にばらつきが生じたり、ダイシングシート1の粘着力比が低下したりするなどの不具合が生じる可能性が高まる。粘着性を適切な範囲にすることを容易にする観点から、粘着剤層3を形成するための粘着剤組成物における粘着付与樹脂(C)の含有量は、アクリル系重合体(A)100質量部に対して55質量部以上200質量部以下であることが好ましく、100質量部以上175質量部以下であることがより好ましい。
 重合ロジンエステル(C1)の具体的な種類は特に限定されない。アビエチン酸とその異性体の混合物を主成分とするロジンを重合(二量化)させ、カルボキシル基部分をエステル化することで化学的に安定化させたものであれば、エステル化のためのアルコールの種類(グリセリン、ペンタエリスリトールなどが例示される。)などは任意である。重合ロジンエステル(C1)の具体例として、荒川化学工業社製「ペンセルD125」、「ペンセルD135」、「ペンセルD160」等が挙げられる。
 粘着付与樹脂(C)を含有させたことに基づく粘着剤層の粘着性の増加を安定的に得る観点から、本実施形態に係る粘着剤層3を形成するための粘着剤組成物における重合ロジンエステル(C1)の含有量は、アクリル系重合体(A)100質量部に対して5質量部以上である。この含有量が5質量部未満の場合には、重合ロジンエステル(C1)を含有させたことに基づく粘着性の向上の効果が得られにくくなることが懸念される。一方、重合ロジンエステル(C1)の含有量が過度に多い場合には、重合ロジンエステル(C1)とアクリル系重合体(A)との相溶性が低下しやすくなり、粘着剤層3の粘着性にばらつきが発生したり、ダイシングシート1の粘着力比が低下したりしやすくなることが懸念される。したがって、本実施形態に係る粘着剤層3を形成するための粘着剤組成物における重合ロジンエステル(C1)の含有量は、アクリル系重合体(A)100質量部に対して20質量部以下であることが好ましい。粘着性のばらつき発生の可能性の低減と粘着性の向上とをより安定的に実現させる観点から、粘着剤層3を形成するための粘着剤組成物における重合ロジンエステル(C1)の含有量は、アクリル系重合体(A)100質量部に対して8質量部以上18質量部以下であることがより好ましく、10質量部以上15質量部以下であることが特に好ましい。
 不均化ロジンエステル(C2)および石油系樹脂(C3)はいずれも、粘着付与樹脂としての機能に加えて、重合ロジンエステル(C1)とアクリル系重合体(A)との相溶性を高める機能も有する。したがって、アクリル系重合体(A)と重合ロジンエステル(C1)とのSP値の差が大きい場合には、不均化ロジンエステル(C2)および石油系樹脂(C3)の双方を含有することが、粘着剤層3における粘着性のばらつきを少なくし、またダイシングシート1の粘着力比を高くする観点から好ましい。
 上記の機能をより安定的に発揮させる観点から、粘着剤層3を形成するための粘着剤組成物に含まれる不均化ロジンエステル(C2)の含有量および石油系樹脂(C3)の含有量の総和は、アクリル系重合体(A)100質量部に対して50質量部以上とすることが好ましく、80質量部以上であることがより好ましく、100質量部以上であることが特に好ましい。粘着剤層3を形成するための粘着剤組成物に含まれる不均化ロジンエステル(C2)の含有量および石油系樹脂(C3)の含有量の総和の上限は、粘着性など粘着剤層3が満たすべき他の事項に基づき決定されるものであるが、通常、アクリル系重合体(A)100質量部に対して200質量部以下とすることが好ましく、170質量部以下とすることが好ましい。粘着剤層3を形成するための粘着剤組成物における不均化ロジンエステル(C2)および石油系樹脂(C3)のそれぞれについての含有量の範囲は特に限定されないが、いずれについても、アクリル系重合体(A)100質量部に対して25質量部以上140質量部以下とすることが好ましい場合がある。
 不均化ロジンエステル(C2)の具体的な組成等は特に限定されない。その具体例としては、荒川化学工業社製「スーパーエステルA100」、「KE656」等が挙げられる。一方、石油系樹脂(C3)の具体的な種類も特に限定されず、C系石油樹脂、C系石油樹脂、C/C系石油樹脂およびこれらの水素添加樹脂等が例示される。また、具体例としては、三井化学社製「FTR6100」、「FTR7100」、「FTR8100」等が挙げられる。
 粘着剤層3を形成するための粘着剤組成物がエネルギー線重合性基を有する低分子量化合物(B1)を含有する場合には、その粘着剤組成物から形成された粘着剤層3において当該化合物が粘着付与樹脂と同様の機能(粘着剤層3の可塑化)を発揮する場合があるため、エネルギー線重合性基を有する低分子量化合物(B1)の含有量と粘着付与樹脂(C)の含有量との総和を、アクリル系重合体(A)100質量部に対して165質量部以上400質量部以下とすることが好ましく、190質量部以上300質量部以下とすることがより好ましく、200質量部以上275質量部以下とすることがさらに好ましい。
(4)架橋剤
 本実施形態に係る粘着剤層3を形成するための粘着剤組成物は、前述のように、アクリル系重合体(A)と反応しうる架橋剤を含有してもよい。この場合には、本実施形態に係る粘着剤層3は、アクリル系重合体(A)と架橋剤との架橋反応により得られた架橋物を含有する。架橋剤としては、例えば、エポキシ系化合物、イソシアネート系化合物、金属キレート系化合物、アジリジン系化合物等のポリイミン化合物、メラミン樹脂、尿素樹脂、ジアルデヒド類、メチロールポリマー、金属アルコキシド、金属塩等が挙げられる。これらの中でも、架橋反応を制御しやすいことなどの理由により、架橋剤がポリイソシアネート化合物であることが好ましい。
 ここで、ポリイソシアネート化合物についてやや詳しく説明する。ポリイソシアネート化合物は1分子当たりイソシアネート基を2個以上有する化合物であって、例えば、トリレンジイソシアネート、ジフェニルメタンジイソシアネート、キシリレンジイソシアネートなどの芳香族ポリイソシアネート;ジシクロヘキシルメタン-4,4'-ジイソシアネート、ビシクロヘプタントリイソシアネート、シクロペンチレンジイソシアネート、シクロヘキシレンジイソシアネート、メチルシクロヘキシレンジイソシアネート、水添キシリレンジイソシアネートなどの脂環式イソシアネート化合物;ヘキサメチレンジイソシアネート、トリメチルヘキサメチレンジイソシアネート、リジンジイソシアネートなどの非環式脂肪族イソシアネートが挙げられる。
 また、これらの化合物の、ビウレット体、イソシアヌレート体や、これらの化合物と、エチレングリコール、トリメチロールプロパン、ヒマシ油等の非芳香族性低分子活性水素含有化合物との反応物であるアダクト体などの変性体も用いることができる。上記のポリイソシアネート化合物は一種類であってもよいし、複数種類であってもよい。
 本実施形態に係る粘着剤層3がアクリル系重合体(A)と架橋剤とに基づく架橋物を有する場合には、架橋密度を調整することによって、粘着剤層3のエネルギー線照射前の粘着性などの特性を制御することができる。したがって、この架橋密度は、粘着剤層3に求められる特性に応じて適宜設定されるべきものである。なお、本実施形態に係る粘着剤層3を形成するための粘着剤組成物が架橋剤を含有する場合には、その架橋剤の種類などに応じて、適切な架橋促進剤を含有することが好ましい。例えば、架橋剤がポリイソシアネート化合物である場合には、粘着剤層3を形成するための粘着剤組成物は有機スズ化合物などの有機金属化合物系の架橋促進剤を含有することが好ましい。
(5)その他の成分
 本実施形態に係るダイシングシート1が備える粘着剤層3を形成するための粘着剤組成物は、上記の成分に加えて、光重合開始剤、染料や顔料などの着色材料、難燃剤、フィラー等の各種添加剤を含有してもよい。
 ここで、光重合開始剤についてやや詳しく説明する。光重合開始剤としては、ベンゾイン化合物、アセトフェノン化合物、アシルフォスフィンオキサイド化合物、チタノセン化合物、チオキサントン化合物、パーオキサイド化合物等の光開始剤、アミンやキノン等の光増感剤などが挙げられ、具体的には、1-ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、ベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインイソプロピルエーテル、ベンジルジフェニルサルファイド、テトラメチルチウラムモノサルファイド、アゾビスイソブチロニトリル、ジベンジル、ジアセチル、β-クロールアンスラキノン、2,4,6-トリメチルベンゾイルジフェニルフォスフィンオキサイドなどが例示できる。エネルギー線として紫外線を用いる場合には、光重合開始剤を配合することにより照射時間、照射量を少なくすることができる。
(6)物性、形状等
i)粘着力比
 本明細書において、粘着力比とは、本実施形態に係るダイシングシート1が備える粘着剤層3における基材2に対向する側と反対側の露出面を測定対象面、半導体パッケージの樹脂封止面を被着面として、JIS Z0237:2000に準拠して180°引き剥がし試験を行ったときに測定されるダイシングシート1の粘着力について、エネルギー線照射前の状態における粘着力(以下、「照射前粘着力」ともいう。)の、エネルギー線照射後の状態における粘着力(以下、「照射後粘着力」ともいう。)に対する比(前/後)を意味する。本実施形態に係るダイシングシート1の粘着力比は3以上である。粘着力比がかかる範囲であることにより、ダイシング工程やエキスパンド工程におけるモールドチップ飛散の発生の可能性を低減させつつ、ピックアップ工程におけるピックアップ不良の発生の可能性を低減させることが実現される。粘着力比が3未満の場合には、照射前粘着力を高く維持することが困難となるためにモールドチップ飛散が発生しやすくなったり、照射後粘着力を低く維持することが困難となるためにピックアップ不良が発生しやすくなったりする。モールドチップ飛散および/またはピックアップ不良が生じる可能性をより安定的に低減させる観点から、粘着力比は、4.5以上であることが好ましく、8.0以上であることがより好ましい。粘着力比の上限は特に設定されないが、粘着剤層3はエネルギー線照射による硬化の際に生じる体積収縮の程度は、粘着力比と正の相関関係にあるため、粘着力比が過度に高い場合には、モールドチップが粘着剤層3の硬化時に移動する不具合が発生することが懸念される。したがって、通常は、粘着力比は20以下とすることが好ましく、13以下とすることがより好ましく、10以下とすることが特に好ましい。
 なお、照射前粘着力および照射後粘着力の好適範囲は、ダイシング工程、エキスパンド工程およびピックアップ工程の具体的条件や、被着体である半導体パッケージの材質や表面状態(凹凸の程度など)に応じて適宜設定されるべきものである。通常は、照射前粘着力は2000mN/25mm以上であることが好ましく、2500mN/25mm以上であることがより好ましい。また、照射後粘着力は600mN/25mm以下であることが好ましく、400mN/25mm以下であることがより好ましく、300mN/25mm以下であることが特に好ましい。
ii)厚さ
 本実施形態に係るダイシングシート1が備える粘着剤層3の厚さは特に限定されない。過度に薄い場合には粘着剤層の粘着性のばらつきが大きくなるといった問題が生じることが懸念され、過度に厚い場合には粘着性が過度に高まってダイシングシート1の粘着力比を前述の範囲に制御することが困難となったり、ピックアップ時に粘着剤層3内部で凝集破壊が生じる可能性が高まって、粘着剤残留率(その定義など詳細は実施例において後述する。)が高まることが懸念される。こうした問題が発生する可能性を安定的に低減させる観点から、粘着剤層3の厚さは、2μm以上50μm以下とすることが好ましく、5μm以上35μm以下とすることがより好ましく、5μm以上20μm以下とすることがより好ましく、5μm以上15μm以下とすることが特に好ましい。粘着剤層3の厚さが20μm以下となると、粘着剤残留率を特に低くすることが可能となり、粘着剤層3の厚さが15μm以下となると、粘着剤残留率を20%以下にすることが可能となる。
iii)剥離シート
 本実施形態に係るダイシングシート1は、粘着剤層3を被着体である半導体パッケージに貼付するまでの間において粘着剤層3を保護する目的で、粘着剤層3の基材被着面に対向する側と反対側の面に、剥離シートの剥離面が貼合されていてもよい。剥離シートの構成は任意であり、プラスチックフィルムに剥離剤を塗布したものが例示される。プラスチックフィルムの具体例として、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレートなどのポリエステルフィルム、およびポリプロピレンやポリエチレンなどのポリオレフィンフィルムが挙げられる。剥離剤としては、シリコーン系、フッ素系、長鎖アルキル系などを用いることができるが、これらの中で、安価で安定した性能が得られるシリコーン系が好ましい。上記の剥離シートのプラスチックフィルムに代えて、グラシン紙、コート紙、上質紙などの紙基材または紙基材にポリエチレンなどの熱可塑性樹脂をラミネートしたラミネート紙を用いてもよい。該剥離シートの厚さについては特に制限はないが、通常20μm以上250μm以下程度である。
3.ダイシングシートの製造方法
 ダイシングシート1の製造方法は、前述の粘着剤組成物から形成される粘着剤層3を基材2の一の面に積層できれば、詳細な方法は特に限定されない。一例を挙げれば、前述の粘着剤組成物、および所望によりさらに溶媒を含有する塗工液を調製し、基材2の一の面上に、ダイコーター、カーテンコーター、スプレーコーター、スリットコーター、ナイフコーター等によりその塗工液を塗布し、当該一の面上の塗膜を乾燥させることにより、粘着剤層3を形成することができる。塗工液は、塗布を行うことが可能であればその性状は特に限定されず、粘着剤層3を形成するための成分を溶質として含有する場合もあれば、分散質として含有する場合もある。
 粘着剤組成物が架橋剤を含有する場合には、上記の乾燥の条件(温度、時間など)を調整することにより、または別途架橋のための加熱処理を設けることにより、塗膜内のアクリル系重合体(A)と架橋剤との架橋反応を進行させ、粘着剤層3内に所望の存在密度で架橋構造を形成させればよい。この架橋反応を十分に進行させるために、上記の方法などによって基材2に粘着剤層3を積層させた後、得られたダイシングシート1を、例えば23℃、相対湿度50%の環境に数日間静置するといった養生を行ってもよい。
 あるいは、上記の剥離シートの剥離面上に塗工液を塗布して塗液層を形成し、これを乾燥させて粘着剤層3と剥離シートとからなる積層体を形成し、この積層体の粘着剤層3における剥離シートに対向する側と反対側の面を基材2の基材被着面に貼付して、ダイシングシート1と剥離シートとの積層体を得てもよい。この積層体における剥離シートは工程材料として剥離してもよいし、半導体パッケージに貼付するまでの間粘着剤層3を保護していてもよい。
4.モールドチップの製造方法
 本実施形態に係るダイシングシート1を用いて半導体パッケージからモールドチップを製造する方法を以下に説明する。
 半導体パッケージは上述のとおり基台の集合体の各基台上に半導体チップを搭載し、これらの半導体チップを一括して樹脂封止した電子部品集合体であるが、通常基板面と樹脂封止面を有し、その厚さは200~2000μm程度である。樹脂封止面は表面の算術平均粗さRaが0.5~10μm程度と粗く、また、封止装置の型からの取り出しを容易とするため、封止材料が離型成分を含有していることがあるために、樹脂封止面に粘着シートを貼付した場合、十分な固定性能が発揮されない傾向がある。本実施形態に係るダイシングシート1は、使用にあたり、粘着剤層3側の面(すなわち、粘着剤層3の基材2と反対側の面)を半導体パッケージの樹脂封止面に貼付する。なお、ダイシングシート1の粘着剤層3側の面に剥離シートが貼付されている場合には、その剥離シートを剥離して粘着剤層3側の面を表出させて、半導体パッケージの樹脂封止面にその面を貼付すればよい。ダイシングシート1の外周部は、通常その部分に設けられた粘着剤層3により、リングフレームと呼ばれる搬送や装置への固定のための環状の治具に貼付される。粘着剤層3は適切な粘着付与樹脂(C)を適切な量で含有しているため、照射前粘着力は十分に高い。それゆえ、ダイシングシート1に貼付された半導体パッケージをダイシング工程に供しても、半導体パッケージが個片化されてなるモールドチップが加工中に飛散する可能性は低減されている。なお、ダイシング工程により形成されるモールドチップのサイズは通常5mm×5mm以下であり、近年は1mm×1mm程度とされる場合もあるが、本実施形態に係るダイシングシート1の粘着剤層3は照射前粘着力が十分に高いため、そのようなファインピッチのダイシングにも十分に対応することができる。
 以上のダイシング工程を実施することによって半導体パッケージから複数のモールドチップを得ることができる。ダイシング工程終了後、ダイシングシート1上に近接配置された複数のモールドチップをピックアップしやすいように、通常は、ダイシングシート1を主面内方向に伸張するエキスパンド工程が行われる。この伸長の程度は、隣接するモールドチップが有すべき間隔、基材2の引張強度などを考慮して適宜設定すればよい。
 エキスパンド工程の実施により隣接配置されたモールドチップ同士が適切に離間したら、吸引コレット等の汎用手段により、粘着剤層3上のモールドチップのピックアップを行う。ピックアップされたモールドチップは、搬送工程など次の工程へと供される。
 ダイシング工程の終了後、ピックアップ工程の開始までに、本実施形態に係るダイシングシート1の基材2側からエネルギー線照射を行えば、ダイシングシート1が備える粘着剤層3内部において、これに含有されるエネルギー線重合性化合物(B)の重合反応が進行し、照射後粘着力が照射前粘着力の1/3以下となる。したがって、ピックアップ不良が発生しにくい。このエネルギー線照射の実施時期は、ダイシング工程の終了後、ピックアップ工程の開始前であれば特に限定されない。エキスパンド工程時のモールドチップ飛散の可能性を低減する観点からはエキスパンド工程後に実施することが好ましいが、エネルギー線照射により粘着剤層3が硬化することに伴って当該層は若干収縮するため、この収縮に基づく位置ずれが問題となる場合などは、エキスパンド工程の実施前にエネルギー線照射を実施してもよい。
 上記のように、本実施形態に係るモールドチップの製造方法はモールドチップ飛散が生じにくく、その後工程においても、ピックアップ不良が発生しにくい。このため、半導体パッケージを複数のモールドチップに分割するダイシング工程、エキスパンド工程、およびピックアップ工程を経て次の工程に至るまでの一連の工程で、歩留まりが低下しにくい。それゆえ、本実施形態に係るダイシングシート1を用いる本実施形態に係る製造方法により得られたモールドチップは、コスト的に有利なものとなりやすい。また、モールドチップ飛散やピックアップ不良は、これらの不具合に直接的に関連するモールドチップ以外に、チップの衝突などによって、同ロットで製造されたモールドチップに欠けなどの問題を発生させる場合がある。したがって、本実施形態に係るモールドチップの製造方法により製造されたモールドチップは、そのような問題を有する可能性が低減され、品質に優れる。
 以上説明した実施形態は、本発明の理解を容易にするために記載されたものであって、本発明を限定するために記載されたものではない。したがって、上記実施形態に開示された各要素は、本発明の技術的範囲に属する全ての設計変更や均等物をも含む趣旨である。
 以下、実施例等により本発明をさらに具体的に説明するが、本発明の範囲はこれらの実施例等に限定されるものではない。
〔実施例1〕
(1)塗工液の調製
 次の組成を有する塗工液を調製した。
 i)アクリル系重合体(A)として、100質量部のブチルアクリレートと2質量部のアクリル酸と0.5質量部の2-ヒドロキシエチルアクリレートとを共重合して得た共重合体(重量平均分子量60万、固形分濃度40質量%)を固形分として100質量部、
 ii)エネルギー線重合性化合物(B)として、6官能ウレタンアクリレートオリゴマー(大日精化工業社製セイカビーム14-29B、重量平均分子量2000、固形分濃度80質量%、n/M=3×10-3)からなるアクリレート系化合物を固形分として100重量部、
 iii)粘着付与樹脂(C)のうち重合ロジンエステル(C1)として、荒川化学工業社製ペンセルD125(固形分濃度100質量%)を固形分として12.5質量部、
 iv)粘着付与樹脂(C)のうち不均化ロジンエステル(C2)として、荒川化学工業社製スーパーエステルA100(固形分濃度100質量%)を固形分として62.5質量部、
 v)粘着付与樹脂(C)のうち石油系樹脂(C3)として、三井化学社製FTR6100(固形分濃度100質量%)を固形分として62.5質量部、
 vi)アクリル系重合体(A)と反応するための架橋剤として、日本ポリウレタン社製コロネートLからなるポリイソシアネート化合物(トリレンジイソシアネ-トのトリメチロールプロパン付加物、1分子中のイソシアネート基数3個、固形分濃度75質量%)を固形分として9質量部、および
 vii)光重合開始剤として、イルガキュア184(チバ・スペシャリティ・ケミカルズ社製、固形分濃度100質量%)を固形分として7.5質量部。
(2)ダイシングシートの作製
 厚さ38μmのポリエチレンテレフタレート製基材フィルムの一方の主面上にシリコーン系の剥離剤層が形成されてなる剥離シート(リンテック社製SP-PET381031)を用意した。この剥離シートの剥離面上に、前述の塗工液を、ナイフコーターにて、最終的に得られる粘着剤層の厚さが10μmとなるように塗布した。得られた塗液層を剥離シートごと80℃の環境を1分間経過させることにより塗液層を乾燥するとともに架橋反応を進行させて、剥離シートと粘着剤層(厚さ10μm)とからなる積層体を得た。
 厚さ140μmのエチレン-メタクリル酸共重合体(EMAA)フィルム(25%ひずみ時引張応力:10.8N/10mm、最大引張応力:25.5MPa、破断伸度:525%)からなる基材の一方の面を基材被着面として、その面に、上記の積層体の粘着剤層側の面を貼付して、図1に示されるような基材と粘着剤層とからなるダイシングシートを、粘着剤層側の面に剥離シートがさらに積層された状態で得た。
〔実施例2〕
 実施例1において、塗工液に含有されるアクリル系重合体(A)を、100質量部のブチルアクリレートと5質量部のアクリル酸と0.2質量部の2-ヒドロキシエチルアクリレートとを共重合して得た共重合体(重量平均分子量60万、固形分濃度40質量%)に変更した以外は、実施例1と同様の操作を行い、ダイシングシートを得た。
〔実施例3〕
 実施例1において、塗工液に含有される粘着付与樹脂(C)のうち、不均化ロジンエステル(C2)の含有量を固形分として125質量部とし、石油系樹脂(C3)の含有量を固形分として50質量部とする変更を行って、粘着付与樹脂(C)の固形分としての含有量を実施例1における137.5質量部から182.5質量部に変更した以外は、実施例1と同様の操作を行い、ダイシングシートを得た。
〔実施例4〕
 実施例1において、粘着剤層の厚さを10μmから15μmに変更した以外は、実施例1と同様の操作を行い、ダイシングシートを得た。
〔実施例5〕
 実施例1において、粘着剤層の厚さを10μmから30μmに変更した以外は、実施例1と同様の操作を行い、ダイシングシートを得た。
〔実施例6〕
 実施例1において、塗工液に含有される粘着付与樹脂(C)のうち、石油系樹脂(C3)を含有させず、粘着付与樹脂(C)の固形分としての含有量を実施例1における137.5質量部から75質量部に変更した以外は、実施例1と同様の操作を行い、ダイシングシートを得た。
〔実施例7〕
 実施例1において、塗工液に含有される粘着付与樹脂(C)のうち、不均化ロジンエステル(C2)を含有させず、石油系樹脂(C3)の含有量を固形分として75質量部として、粘着付与樹脂(C)の固形分としての含有量を実施例1における137.5質量部から87.5質量部に変更した以外は、実施例1と同様の操作を行い、ダイシングシートを得た。
〔実施例8〕
 実施例1において、塗工液に含有されるエネルギー線重合性化合物(B)の種類を、6官能ウレタンアクリレートから3官能ウレタンアクリレートオリゴマー(大日精化工業社製セイカビームEXL-810TL、重量平均分子量5000、固形分濃度60質量%、n/M=6×10-4)に変更し、含有量を250質量部に変更した以外は、実施例1と同様の操作を行い、ダイシングシートを得た。
〔比較例1〕
 実施例1において、塗工液に含有される粘着付与樹脂(C)のうち、重合ロジンエステル(C1)を含有させず、粘着付与樹脂(C)の固形分としての含有量を実施例1における137.5質量部から125質量部に変更した以外は、実施例1と同様の操作を行い、ダイシングシートを得た。
〔比較例2〕
 実施例1において、塗工液に含有される粘着付与樹脂(C)のうち、重合ロジンエステル(C1)および不均化ロジンエステル(C2)の双方を含有させず、粘着付与樹脂(C)の固形分としての含有量を実施例1における137.5質量部から62.5質量部に変更した以外は、実施例1と同様の操作を行い、ダイシングシートを得た。
〔比較例3〕
 実施例1において、塗工液に含有される粘着付与樹脂(C)のうち、重合ロジンエステル(C1)、不均化ロジンエステル(C2)および石油系樹脂(C3)のいずれについても、含有量を固形分として125質量部として、粘着付与樹脂(C)の固形分としての含有量を実施例1における137.5質量部から375質量部に変更した以外は、実施例1と同様の操作を行い、ダイシングシートを得た。
〔比較例4〕
 実施例1において、塗工液にエネルギー線重合性化合物(B)および光重合開始剤の双方について含有させなかった以外は、実施例1と同様の操作を行い、ダイシングシートを得た。
〔比較例5〕
 実施例1において、塗工液に含有される粘着付与樹脂(C)の含有量を下記のとおりとして、粘着付与樹脂(C)の固形分としての含有量を実施例1における137.5質量部から52.5質量部に変更した以外は、実施例1と同様の操作を行い、ダイシングシートを得た。
  重合ロジンエステル(C1):固形分として2.5質量部、
  不均化ロジンエステル(C2):固形分として25質量部、および
  石油系樹脂(C3):固形分として25質量部。
〔比較例6〕
 実施例1において、塗工液に含有される粘着付与樹脂(C)のうち、重合ロジンエステル(C1)の含有量を固形分として50質量部とし、石油系樹脂(C3)の含有量を固形分として75質量部として、粘着付与樹脂(C)の固形分としての含有量を実施例1における137.5質量部から187.5質量部に変更した以外は、実施例1と同様の操作を行い、ダイシングシートを得た。
〔比較例7〕
 実施例1において、塗工液に含有される粘着付与樹脂(C)のうち、重合ロジンエステル(C1)の含有量を固形分として50質量部とし、不均化ロジンエステル(C2)および石油系樹脂(C3)の双方を含有させず、粘着付与樹脂(C)の固形分としての含有量を実施例1における137.5質量部から50質量部に変更した。これらの変更以外は、実施例1と同様の操作を行い、ダイシングシートを得た。
〔比較例8〕
 実施例1において、塗工液に含有されるエネルギー線重合性化合物(B)の種類を、6官能ウレタンアクリレートから3官能ウレタンアクリレートオリゴマー(大日精化工業社製セイカビームEXL-810TL、重量平均分子量5000、固形分濃度60質量%、n/M=6×10-4)に変更した以外は、実施例1と同様の操作を行い、ダイシングシートを得た。
 以上の実施例および比較例に係るダイシングシートを製造するために調製した塗工液の組成等および得られたダイシングシートの厚さを表1にまとめて示した。なお、実施例および比較例に係る塗工液が含有するエネルギー線重合性化合物(B)はいずれもウレタンアクリレートオリゴマーであったことから、表1では、エネルギー線重合性化合物(B)の種類の欄には官能基数について示した。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
〔試験例1〕<粘着力比の測定>
 上記の実施例および比較例により製造したダイシングシートを切断して幅25mmの粘着力測定用シートを得た。半導体パッケージ用樹脂(京セラケミカル社製KE-G1250)を用いて、厚さが600μm、一方の主面の算術平均粗さRaが2μmのシート状の部材を製造した。このシート状部材の上記の一方の主面に粘着力測定用シートの粘着剤層側の面を貼付して、シート状部材と粘着力測定用シートとからなる積層体を得た。得られた積層体を23℃、相対湿度50%の雰囲気下に20分間放置した。放置後の積層体について、万能型引張試験機(株式会社オリエンテック製、TENSILON/UTM-4-100)を用いて、JIS Z0237:2000に準拠して180°引き剥がし試験(粘着力測定用シートを引き剥がされる側の部材とした。)を行い、照射前粘着力を測定した(単位:mN/25mm)。
 上記のシート状部材と粘着力測定用シートとからなる積層体をもう一つ作製し、23℃、相対湿度50%の雰囲気下に20分間放置した。その後、紫外線照射装置(リンテック社製、RAD-2000m/12)を用い、窒素雰囲気下にてダイシングシート側から紫外線照射(照度230mW/cm、紫外線量190mJ/cm)して、上記の積層体における粘着剤層に含有されるエネルギー線重合性化合物(B)を重合させた。この紫外線照射後の積層体について、上記の照射前粘着力を測定するための引き剥がし試験と同一の条件での引き剥がし試験を行い、照射後粘着力を測定した(単位:mN/25mm)。
 こうして得られた照射前粘着力および照射後粘着力から、粘着力比を求めた。これらの結果を表2に示す。
〔試験例2〕<ダイシング工程におけるモールドチップ飛散率の測定>
 半導体パッケージ用樹脂(京セラケミカル製KE-G1250)を用いて、50mm×50mm、厚さ600μmであって、一方の主面の算術平均粗さRaが2μmである模擬半導体パッケージを作製した。上記の実施例および比較例により製造したダイシングシートを直径207mmの円形に切断し、得られた円形のダイシングシートの粘着剤層側の面を、テープマウンター(リンテック社製Adwill RAD2500)を用いて、上述の作製した模擬半導体パッケージの上記の一方の面に貼付した。こうして得られたダイシングシートと模擬半導体パッケージとの積層体をダイシング用リングフレーム(ディスコ社製2-6-1)に装着し、ダイシング装置(株式会社ディスコ社製DFD651)を用いて、模擬半導体パッケージ側から切断するダイシング工程を行い、1mm×1mmの大きさのモールドチップに分割した(分割数2500)。なお、ダイシング条件は下記のとおりであった。
  ダイシングブレード:株式会社ディスコ社製ZBT-5074(Z1110LS3)
  ブレード厚さ:0.17mm
  刃出し量:3.3mm
  ブレード回転数:30000rpm
  切断速度:50mm/分
  ダイシングシートの基材への切り込み深さ:50μm
  切削水量:1.0L/min
  切削水温度:20℃
 ダイシング工程により得られた、ダイシングシートの粘着剤層側の面にモールドチップが付着してなる部材を目視で観察して、ダイシング工程中にダイシングシートから脱落していたモールドチップの個数を数え、その個数をダイシング工程における分割数2500で除して、モールドチップ飛散率(単位:%)を求めた。結果を表2に示す。
〔試験例3〕<ピックアップ試験>
 半導体パッケージ用樹脂(京セラケミカル製KE-G1250)を用いて、50mm×50mm、厚さ600μmであって、一方の主面の算術平均粗さRaが2μmである模擬半導体パッケージを作製した。上記の実施例および比較例により製造したダイシングシートを直径207mmに切断し、得られたダイシングシートの粘着剤層側の面を、テープマウンター(リンテック社製Adwill RAD2500)を用いて、上述の作製した模擬半導体パッケージの上記の一方の面に貼付した。こうして得られたダイシングシートと模擬半導体パッケージとの積層体をダイシング用リングフレーム(ディスコ社製2-6-1)に装着し、ダイシング装置(株式会社ディスコ社製DFD651)を用いて、模擬半導体パッケージ側から切断するダイシング工程を行い、1mm×1mmの大きさのモールドチップに分割した(分割数2500)。なお、ダイシング条件は試験例3におけるダイシング条件と同一とした。
 ダイシング工程により得られた、ダイシングシートの粘着剤層側の面にモールドチップが付着してなる部材におけるダイシングシートを、エキスパンド装置(ジェイシーエム社製ME-300Bタイプ)を用いて、速度300mm/分で当該シートの主面内方向に20mm伸張させるエキスパンド工程を実施した。
 エキスパンド工程後の上記の部材に対して、紫外線照射装置(リンテック社製RAD-2000m/12)を用い、窒素雰囲気下にてダイシングシート側から紫外線照射(照度230mW/cm、紫外線量190mJ/cm)を行って、ダイシングシートが備える粘着剤層に含有されるエネルギー線重合性化合物(B)を重合させた。
 続いて、ダイシングシートの主面の中心近傍上に位置する100個のモールドチップについてピックアップ試験を行った。すなわち、ダイシングシートにおけるピックアップ対象とするモールドチップに接する部分を、基材側からニードルで1.5mm突き上げ、突出したモールドチップのダイシングシートに対向する側と反対側の面に真空コレットを付着させ、真空コレットに付着したモールドチップを持ち上げた。このとき、真空コレットによりピックアップできたモールドチップの個数を測定し、その個数を試験個数(100)で除してピックアップ率(単位:%)を求めた。その結果を表2に示す。
 また、ピックアップしたモールドチップにおけるダイシングシートに対向していた側の面を光学顕微鏡で観察し、粘着剤層を構成する材料が残留しているか否かについて確認し、残留しているモールドチップの個数を試験個数(100)で除して粘着剤残留率(単位:%)を求めた。その結果を表2に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
 表2から分かるように、本発明の条件を満たす実施例のダイシングシートは、ダイシング工程、エキスパンド工程およびピックアップ工程のいずれにおいても不具合が発生しにくいといえるものであった。
 本発明に係るダイシングシートは、被着面の凹凸が大きい半導体パッケージのダイシングシートとして好適に用いられる。
1…ダイシングシート
2…基材
3…粘着剤層

Claims (10)

  1.  基材と、前記基材の少なくとも一方の面に積層された粘着剤層とを備えたダイシングシートであって、
     前記粘着剤層は、アクリル系重合体(A)、エネルギー線重合性化合物(B)および粘着付与樹脂(C)を含有する粘着剤組成物から形成されたものであって、
     前記粘着付与樹脂(C)は重合ロジンエステル(C1)を含有するとともに、不均化ロジンエステル(C2)および石油系樹脂(C3)の少なくとも一方を含有し、
     前記粘着剤組成物に含まれる前記重合ロジンエステル(C1)の含有量は、前記アクリル系重合体(A)100質量部に対して5質量部以上であり、
     前記ダイシングシートは、前記粘着剤層における前記基材に対向する側と反対側の露出面を測定対象面、半導体パッケージの樹脂封止面を被着面として、JIS Z0237:2000に準拠して180°引き剥がし試験を行ったときに測定される粘着力について、エネルギー線照射前の状態における粘着力のエネルギー線照射後の状態における粘着力に対する比が3以上であること
    を特徴とするダイシングシート。
  2.  前記粘着剤組成物に含まれる前記重合ロジンエステル(C1)の含有量は、前記アクリル系重合体(A)100質量部に対して5質量部以上20質量部以下である請求項1に記載のダイシングシート。
  3.  前記粘着剤組成物に含まれる不均化ロジンエステル(C2)の含有量および石油系樹脂(C3)の含有量の総和は、前記アクリル系重合体(A)100質量部に対して50質量部以上である請求項1または2に記載のダイシングシート。
  4.  エネルギー線重合性化合物(B)は、重量平均分子量が100以上30,000以下であってエネルギー線重合性基を有する低分子量化合物(B1)を含有する請求項1から3のいずれか一項に記載のダイシングシート。
  5.  前記粘着剤組成物に含まれるエネルギー線重合性基を有する低分子化合物(B1)の含有量は、前記アクリル系重合体(A)100質量部に対して50質量部以上300質量部以下である請求項4に記載のダイシングシート。
  6.  前記粘着剤組成物は、前記アクリル系重合体と架橋反応しうる架橋剤を含有する請求項1から5のいずれか一項に記載のダイシングシート。
  7.  前記粘着剤層の厚さが5μm以上35μm以下である請求項1から6のいずれか一項に記載のダイシングシート。
  8.  前記基材の前記粘着剤層側の面には、カルボキシル基、ならびにそのイオンおよび塩からなる群から選ばれる一種または二種以上を有する成分が存在する請求項1から7のいずれか一項に記載のダイシングシート。
  9.  前記粘着剤層の前記基材と反対側の面を、半導体チップを樹脂封止した半導体パッケージの樹脂封止面に貼付する請求項1から8のいずれか一項に記載のダイシングシート。
  10.  請求項1から9のいずれか一項に記載されるダイシングシートの前記粘着剤層側の面を、半導体パッケージの樹脂封止面に貼付し、前記ダイシングシート上の前記半導体パッケージを切断して個片化し、複数のモールドチップを得る、モールドチップの製造方法。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016009879A1 (ja) * 2014-07-14 2016-01-21 電気化学工業株式会社 粘着シート、電子部品の製造方法
JP2016089021A (ja) * 2014-11-04 2016-05-23 リンテック株式会社 導電性粘着剤組成物及び導電性粘着シート
WO2017018270A1 (ja) * 2015-07-24 2017-02-02 デンカ株式会社 半導体加工用粘着テープ及びそれを用いた半導体チップ又は半導体部品の製造方法
JP2017520918A (ja) * 2014-06-04 2017-07-27 ダウ コーニング コーポレーションDow Corning Corporation 光学デバイスに関するホットメルト型硬化性シリコーン組成物のインプリントプロセス
JP2017150060A (ja) * 2016-02-26 2017-08-31 株式会社村田製作所 真空装置
WO2018003565A1 (ja) * 2016-06-28 2018-01-04 日本ゼオン株式会社 半導体パッケージ製造用支持体、半導体パッケージ製造用支持体の使用、及び半導体パッケージの製造方法
JP2020043150A (ja) * 2018-09-06 2020-03-19 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6561115B2 (ja) * 2015-03-26 2019-08-14 リンテック株式会社 ダイシングシート、ダイシングシートの製造方法、およびモールドチップの製造方法
KR102549654B1 (ko) * 2015-09-01 2023-06-29 린텍 가부시키가이샤 점착 시트
SG11201807656WA (en) * 2016-09-20 2019-04-29 Lintec Corp Adhesive sheet for semiconductor processing
JP7254669B2 (ja) * 2019-09-20 2023-04-10 リンテック株式会社 ワーク加工用シートおよび半導体装置の製法方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009246216A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 Sumitomo Bakelite Co Ltd 半導体加工用粘着テープ
JP2010083939A (ja) * 2008-09-30 2010-04-15 Arakawa Chem Ind Co Ltd 活性エネルギー線硬化型粘着剤組成物
JP2010258408A (ja) * 2009-03-31 2010-11-11 Sumitomo Bakelite Co Ltd 半導体加工用粘着フィルム、半導体ウエハ、半導体素子および半導体装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4461359B2 (ja) * 2003-09-24 2010-05-12 Dic株式会社 Lcdモジュール用粘着テープ
JP4994429B2 (ja) * 2008-08-04 2012-08-08 日東電工株式会社 ダイシング・ダイボンドフィルム

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009246216A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 Sumitomo Bakelite Co Ltd 半導体加工用粘着テープ
JP2010083939A (ja) * 2008-09-30 2010-04-15 Arakawa Chem Ind Co Ltd 活性エネルギー線硬化型粘着剤組成物
JP2010258408A (ja) * 2009-03-31 2010-11-11 Sumitomo Bakelite Co Ltd 半導体加工用粘着フィルム、半導体ウエハ、半導体素子および半導体装置

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017520918A (ja) * 2014-06-04 2017-07-27 ダウ コーニング コーポレーションDow Corning Corporation 光学デバイスに関するホットメルト型硬化性シリコーン組成物のインプリントプロセス
JPWO2016009879A1 (ja) * 2014-07-14 2017-06-01 デンカ株式会社 粘着シート、電子部品の製造方法
WO2016009879A1 (ja) * 2014-07-14 2016-01-21 電気化学工業株式会社 粘着シート、電子部品の製造方法
US9934997B2 (en) 2014-07-14 2018-04-03 Denka Company Limited Adhesive sheet and method of manufacturing electronic component
JP2016089021A (ja) * 2014-11-04 2016-05-23 リンテック株式会社 導電性粘着剤組成物及び導電性粘着シート
WO2017018270A1 (ja) * 2015-07-24 2017-02-02 デンカ株式会社 半導体加工用粘着テープ及びそれを用いた半導体チップ又は半導体部品の製造方法
JPWO2017018270A1 (ja) * 2015-07-24 2018-05-10 デンカ株式会社 半導体加工用粘着テープ及びそれを用いた半導体チップ又は半導体部品の製造方法
US10861683B2 (en) 2016-02-26 2020-12-08 Murata Manufacturing Co., Ltd. Vacuum device
JP2017150060A (ja) * 2016-02-26 2017-08-31 株式会社村田製作所 真空装置
WO2018003565A1 (ja) * 2016-06-28 2018-01-04 日本ゼオン株式会社 半導体パッケージ製造用支持体、半導体パッケージ製造用支持体の使用、及び半導体パッケージの製造方法
JPWO2018003565A1 (ja) * 2016-06-28 2019-04-18 日本ゼオン株式会社 半導体パッケージ製造用支持体、半導体パッケージ製造用支持体の使用、及び半導体パッケージの製造方法
US10896827B2 (en) 2016-06-28 2021-01-19 Zeon Corporation Support for manufacturing semiconductor packages, use of support for manufacturing semiconductor packages, and method for manufacturing semiconductor packages
JP6992751B2 (ja) 2016-06-28 2022-01-13 日本ゼオン株式会社 半導体パッケージ製造用支持体、半導体パッケージ製造用支持体の使用、及び半導体パッケージの製造方法
JP2020043150A (ja) * 2018-09-06 2020-03-19 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法

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