WO2011040442A1 - 導電接続材料、端子間の接続方法及び接続端子の製造方法 - Google Patents

導電接続材料、端子間の接続方法及び接続端子の製造方法 Download PDF

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conductive
metal foil
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resin
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中馬　敏秋
亘 岡田
奉広 鍵本
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住友ベークライト株式会社
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    • H01L2224/32225—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
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    • H01L2224/73201—Location after the connecting process on the same surface
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Definitions

  • the present invention relates to a conductive connection material used for electrically connecting an electronic member in an electric or electronic component, a connection method between terminals using the conductive connection material, and a method of manufacturing a connection terminal.
  • An anisotropic conductive adhesive or anisotropic conductive film is a film or paste in which conductive particles are dispersed in an adhesive mainly composed of a thermosetting resin (for example, JP-A-61-276873).
  • Patent Document 1 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-260131 (Patent Document 2)).
  • connection terminal on an electrode of an electronic member conventionally, a solder paste is printed on a substrate provided with a metal pad, and the connection terminal is formed by heating and melting the solder paste using a solder reflow device. It was. However, in this method, if the connection terminals have a narrow pitch, the cost of the mask used when printing the solder paste increases. Moreover, if the size of the connection terminal is too small, the solder paste may not be printed. There is also a method of manufacturing the connection terminal by mounting the solder ball on the connection terminal and heating and melting the solder ball using a solder reflow apparatus. However, in this method, if the connection terminal is too small, the manufacturing cost of the solder ball is high, and it may be technically difficult to manufacture a small-diameter solder ball.
  • connection terminals there is a need to provide a conductive connection material that can achieve good electrical connection between connection terminals and high insulation reliability between adjacent terminals. Moreover, provision of the method of manufacturing a connection terminal by the simple method on the electrode of an electronic member is desired.
  • the present inventor has intensively studied. As a result, by using a solder foil or a tin foil instead of the conductive particles, the solder or tin can be easily aggregated between the terminals, and the solder is contained in the resin. Or it discovered that it could control that tin remained. Furthermore, this inventor paid attention to the dynamic change of the viscosity of the resin composition in melting
  • the present inventors have monitored the viscosity change (that is, rheology) with respect to the temperature change of the resin composition by dielectric analysis, and examined the influence on the formation of the conductive region and the insulating region.
  • the minimum value of the ionic viscosity of the resin composition is within a certain range at the melting point of the metal foil, the solder or tin is easily aggregated between the terminals, and the solder or tin remains in the resin. It has been found that the conductive region and the insulating region can be formed with excellent electrical connection between the connection terminals and high insulation reliability between the adjacent terminals.
  • the resin composition when using a curable resin composition as the resin composition, if the maximum peak of the ionic viscosity slope of the resin composition appears after a certain period of time has elapsed after the start of measurement, the resin composition can be rapidly cured. It has been found that electrical connection and insulation reliability can be further improved.
  • the present inventor uses the resin composition exhibiting the above behavior at the melting point of the metal foil as the resin composition layer in the conductive connection material, thereby connecting between terminals in electric and electronic components and manufacturing the connection terminals. Has been found to be easier and more reliable in insulation, and the present invention has been completed. Furthermore, when the thermal weight reduction rate of the resin composition is within a certain range, it is possible to suppress the occurrence of contamination and voids due to outgas, prevent the occurrence of package cracks, and obtain high package reliability.
  • the present invention provides a conductive connection material, a connection method between terminals using the conductive connection material, a method of manufacturing a connection terminal, and electricity and electrons electrically connected using the conductive connection material shown below. Parts are provided.
  • a conductive connection material having a laminated structure composed of a resin composition and a metal foil selected from a solder foil or a tin foil, which conforms to ASTM standard E2039 and applies a frequency of 10,000 Hz at the melting point of the metal foil.
  • the conductive connecting material wherein the minimum value of the ionic viscosity of the resin composition measured in step 4 is 9-9.
  • the resin composition further includes a film-forming resin.
  • the film-forming resin includes at least one selected from the group consisting of a phenoxy resin, a (meth) acrylic resin, and a polyimide resin.
  • the resin composition contains 10 to 90% by weight of an epoxy resin, 0.1 to 50% by weight of a curing agent, and 5 to 50% by weight of a film-forming resin, based on the total weight of the resin composition.
  • the conductive connection material according to any one of [8]. [10] The conductive connection material according to any one of [1] to [9], wherein the resin composition includes a compound having a flux function.
  • the conductive connection material according to [10], wherein the compound having a flux function includes a compound having a phenolic hydroxyl group and / or a carboxyl group.
  • the conductive connection material according to [10] or [11], wherein the compound having a flux function includes a compound represented by the following general formula (1).
  • n is an integer of 1 to 20.
  • the conductive connection material according to [10] or [11], wherein the compound having a flux function includes a compound represented by the following general formula (2) and / or (3).
  • R 1 to R 5 are each independently a monovalent organic group, provided that at least one of R 1 to R 5 is a hydroxyl group.
  • R 6 to R 20 are each independently a monovalent organic group, provided that at least one of R 6 to R 20 is a hydroxyl group or a carboxyl group.
  • An arrangement step of disposing the conductive connecting material according to any one of [1] to [17] between opposing terminals, a melting point of the metal foil or higher, and curing of the resin composition A connection method between terminals, comprising: a heating step of heating the conductive connection material at a temperature that is not completed; and a curing step of curing the resin composition.
  • a connection method between terminals comprising: a heating step of heating the conductive connection material at a temperature; and a solidification step of solidifying the resin composition.
  • connection terminal An arrangement step of disposing the conductive connecting material according to any one of [1] to [17] on the electrode of the electronic member, a melting point of the metal foil or higher, and curing of the resin composition
  • the manufacturing method of the connection terminal including the heating process which heats the said conductive connection material at the temperature which is not completed.
  • the manufacturing method of the connection terminal including the heating process which heats the said conductive connection material at the temperature to perform, and the solidification process which solidifies the said resin composition.
  • the conductive connection material of the present invention By using the conductive connection material of the present invention, it becomes easy to agglomerate solder or tin between opposing terminals, and a good electrical connection can be obtained. Moreover, since metal foil is used, it can suppress that electroconductive particle remains in an insulating area
  • connection method between terminals of this invention it is sectional drawing which shows roughly an example of the state of the board
  • connection method between the terminals of this invention it is sectional drawing which shows roughly an example of the state of the board
  • connection method between terminals of this invention it is sectional drawing which shows roughly an example of the state of the board
  • manufacturing method of the connection terminal of this invention it is sectional drawing which shows roughly an example of the state of a board
  • manufacturing method of the connection terminal of this invention it is sectional drawing which shows roughly an example of the state of a board
  • connection terminal of this invention it is sectional drawing which shows roughly an example of the state of the board
  • the conductive connection material of the present invention the connection method between the terminals using the conductive connection material, the manufacturing method of the connection terminal, and the electrical and electronic parts that are electrically connected using the conductive connection material will be specifically described. I will explain it.
  • the conductive connecting material of the present invention comprises a resin composition and a metal foil selected from solder foil or tin foil.
  • the form is a laminate having a multilayer structure composed of a resin composition layer and a metal foil layer, and each of the resin composition layer and the metal foil layer may be a single layer or a plurality of layers.
  • the laminated structure of the conductive connecting material is not particularly limited, and may be a two-layer structure (resin composition layer / metal foil layer) of the resin composition layer and the metal foil layer, or either the resin composition layer or the metal foil layer. Alternatively, it may be a three-layer structure including a plurality of both or a multilayer structure having more. In addition, when using two or more resin composition layers or metal foil layers, the composition of each layer may be the same or different.
  • the upper and lower layers of the metal foil layer are preferably resin composition layers.
  • a three-layer structure (resin composition layer / metal foil layer / resin composition layer) is preferable.
  • the thickness of the resin composition layer on both sides of the metal foil layer may be the same or different.
  • the thickness of the resin composition layer may be appropriately adjusted depending on the conductor thickness of the terminal to be connected. For example, when manufacturing a connection terminal using the conductive connection material in which the thickness of the resin composition layer on both sides of the metal foil layer is different, it is preferable to arrange the thinner one on the connection terminal side (electrode side). By shortening the distance between the metal foil and the connection terminal, it becomes easy to control the aggregation of the solder or tin component to the connection terminal portion.
  • the conductive connection material when manufacturing a connection terminal on an electronic member such as a semiconductor wafer, has a resin composition layer only on one side of the metal foil layer. Part can be exposed, which is preferable.
  • the resin composition layer side When connecting opposing connection terminals using a conductive connection material having a two-layer structure, the resin composition layer side may be arranged in contact with the connection terminal, or the metal foil layer side may be arranged in contact with the connection terminal. May be.
  • the conductive connection material is attached to both of the opposing electronic members, and then the electronic member with the conductive connection material is attached. Is preferred.
  • the arrangement direction of the conductive connection material may be appropriately selected depending on the pattern shape of the metal foil.
  • Resin composition in the present invention, as the resin composition constituting the resin composition layer, the ionic viscosity of the resin composition measured in accordance with ASTM standard E2039 and applying a frequency of 10,000 Hz at the melting point of the metal foil.
  • the minimum value of 4 to 9 is used.
  • the minimum value of the ionic viscosity of the resin composition under the above measurement conditions is preferably 4.5 or more, more preferably 5 or more, still more preferably 5.5 or more, preferably 8.5 or less, more preferably 8. 2 or less, more preferably 8 or less.
  • the minimum value of the ionic viscosity at the melting point of the metal foil is within the above range, it is easy to agglomerate between the terminals of the solder or tin while suppressing the bleeding of the resin composition when mounting electrical and electronic parts, and the conductive region. Can be easily formed. On the other hand, it is possible to suppress the remaining of solder or tin in the insulating region and to obtain high insulation reliability.
  • the resin composition used in the conductive connection material exhibits a desirable behavior when the minimum value of the ionic viscosity of the resin composition determined by dielectric analysis is within the above range.
  • the composition is defined by the minimum value of ionic viscosity.
  • dielectric analysis means that the dipole in the resin composition is oriented with respect to the electric field, but the charged ions existing as impurities in the resin composition move to the opposite polarity electrode, The curing behavior or molten state behavior of the resin composition is analyzed from changes in dipole alignment and ion mobility.
  • the ionic viscosity is measured by applying a frequency of 10,000 Hz at the melting point of the metal foil in accordance with ASTM standard E2039.
  • the resin composition is solid at normal temperature, it is measured by using DEA231 / 1 cure analyzer manufactured by NETZSCH as the dielectric analyzer main body and MP235 Mini-Press manufactured by NETZSCH as the press.
  • DEA231 / 1 cure analyzer manufactured by NETZSCH is used as the dielectric analyzer body, and the resin composition is applied onto a dielectric measurement sensor (NETZSCH, 036S-IDEX) Measured by heating in an oven.
  • the minimum value of the ionic viscosity can be adjusted within the above range by appropriately adjusting the weight average molecular weight and blending amount of the polymer component (for example, film-forming resin, etc.) in the resin composition.
  • the film-forming resin used in the solid resin composition preferably has a weight average molecular weight of 8,000 to 1,000,000, and the blending amount is 5 to 50% by weight is desirable.
  • the ion of the curable resin composition measured in accordance with ASTM standard E2039 by applying a frequency of 10,000 Hz at the melting point of the metal foil. It is preferable to use the one in which the maximum peak of the viscosity slope appears after 10 seconds or more from the start of measurement. The maximum peak of the ionic viscosity slope indicates a region where the curing reaction of the curable resin composition is maximized.
  • the solder or tin can sufficiently move before the curing of the curable resin composition proceeds, and the insulating region It is possible to prevent solder or tin from remaining therein.
  • the maximum peak of the ionic viscosity slope appears more preferably after 15 seconds from the start of measurement, more preferably after 20 seconds, and particularly preferably after 30 seconds. . From the viewpoint of productivity, it preferably appears within 1000 seconds after the start of measurement, more preferably appears within 800 seconds, and even more preferably appears within 600 seconds.
  • the ionic viscosity slope is obtained from the differential value of the ionic viscosity.
  • the type and blending amount of the curing agent and curing accelerator in the resin composition is desirably 1 to 50% by weight with respect to the total weight of the resin composition.
  • the blending amount is desirably 0.001 to 1% by weight with respect to the total weight of the resin composition.
  • fusing point of the said metal foil at a temperature increase rate of 10 degree-C / min is 5 weight% or less. Those are preferred.
  • the thermal weight loss rate is preferably 4.5% by weight or less, more preferably 4% by weight or less, and still more preferably 3% by weight or less.
  • thermogravimetric reduction rate can be measured using a thermobalance (trade name: differential thermothermal gravimetric simultaneous measurement device, model number “TG / DTA 6200”, manufactured by Seiko Instruments Inc.).
  • the boiling point and content of the low molecular component (for example, a diluent or a coupling agent used for adjusting the viscosity) in the resin composition are adjusted to an appropriate range. It is preferable to adjust.
  • the boiling point of the low molecular component contained in the resin composition is preferably 120 ° C. or higher, more preferably 150 ° C. or higher, and further preferably 180 ° C. or higher.
  • the content of the low molecular component is preferably 20% by weight or less, more preferably 10% by weight or less, and still more preferably 5% by weight or less with respect to the total weight of the resin composition.
  • the resin composition used in the present invention may be in a liquid or solid form at room temperature.
  • liquid at normal temperature means a state where there is no fixed form at normal temperature (25 ° C.). Paste forms are also included in liquid form.
  • any of a curable resin composition and a thermoplastic resin composition may be used as the resin composition.
  • the curable resin composition used in the present invention include those that are cured by heating or irradiation with actinic radiation.
  • a thermosetting resin composition is preferable in that it is excellent in mechanical properties such as linear expansion coefficient and elastic modulus after curing.
  • the thermoplastic resin composition used in the present invention is not particularly limited as long as it is flexible enough to be molded by heating to a predetermined temperature.
  • (A) Curable resin composition In addition to the curable resin, the curable resin composition used in the present invention, if necessary, a film-forming resin, a curing agent, a curing accelerator, a compound having a flux function, silane Coupling agents and the like are included.
  • curable resin used in the present invention is not particularly limited as long as it can be used as an adhesive component for manufacturing a semiconductor device.
  • epoxy resin phenoxy resin, silicone resin, oxetane resin, phenol resin, (meth) acrylate resin, polyester resin (unsaturated polyester resin), diallyl phthalate resin, maleimide resin, polyimide resin (polyimide precursor resin), bismaleimide -Triazine resins and the like.
  • thermosetting resin containing at least one selected from the group consisting of epoxy resins, (meth) acrylate resins, phenoxy resins, polyester resins, polyimide resins, silicone resins, maleimide resins, and bismaleimide-triazine resins.
  • epoxy resin from a viewpoint that it is excellent in sclerosis
  • curable resins may be used alone or in combination of two or more.
  • Content of curable resin can be suitably set according to the form of curable resin composition.
  • the content of the curable resin is preferably 10% by weight or more, more preferably 15% by weight or more, and more preferably 20% by weight with respect to the total weight of the curable resin composition.
  • the above is more preferable, 25% by weight or more is further more preferable, 30% by weight or more is still more preferable, and 35% by weight or more is particularly preferable.
  • it is preferably less than 100% by weight, more preferably 95% by weight or less, still more preferably 90% by weight or less, still more preferably 75% by weight or less, still more preferably 65% by weight or less, and particularly preferably 55% by weight or less.
  • the content of the curable resin is preferably 5% by weight or more, more preferably 10% by weight or more, and more preferably 15% by weight with respect to the total weight of the curable resin composition.
  • the above is more preferable, and 20% by weight or more is particularly preferable.
  • 90 weight% or less is preferable, 85 weight% or less is more preferable, 80 weight% or less is further more preferable, 75 weight% or less is still more preferable, 65 weight% or less is still more preferable, 55 weight% or less is especially preferable.
  • the content of the curable resin is within the above range, the electrical connection strength and the mechanical adhesive strength between the terminals can be sufficiently secured.
  • any epoxy resin that is liquid at room temperature and solid at room temperature may be used.
  • An epoxy resin that is liquid at room temperature and an epoxy resin that is solid at room temperature may be used in combination.
  • the curable resin composition is liquid, it is preferable to use a liquid epoxy resin at room temperature, and when the curable resin composition is solid, use either a liquid or solid epoxy resin.
  • a solid epoxy resin it is preferable to use a film-forming resin in combination.
  • Preferred examples of the epoxy resin that is liquid at room temperature include bisphenol A type epoxy resins and bisphenol F type epoxy resins.
  • a bisphenol A type epoxy resin and a bisphenol F type epoxy resin may be used in combination.
  • the epoxy equivalent of the epoxy resin that is liquid at room temperature is preferably 150 to 300 g / eq, more preferably 160 to 250 g / eq, and particularly preferably 170 to 220 g / eq. If the epoxy equivalent is less than the above lower limit, the shrinkage of the cured product tends to increase, and warping may occur. On the other hand, when the upper limit is exceeded, when a film-forming resin is used in combination, the reactivity with a film-forming resin, particularly a polyimide resin, tends to decrease.
  • solid epoxy resins at room temperature examples include bisphenol A type epoxy resins, bisphenol S type epoxy resins, phenol novolac type epoxy resins, cresol novolac type epoxy resins, glycidyl amine type epoxy resins, and glycidyl ester type epoxies. Resin, trifunctional epoxy resin, tetrafunctional epoxy resin, etc. are mentioned. Among these, solid trifunctional epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin and the like are preferable. These epoxy resins may be used alone or in combination of two or more.
  • the epoxy equivalent of the epoxy resin solid at room temperature is preferably 150 to 3000 g / eq, more preferably 160 to 2500 g / eq, and particularly preferably 170 to 2000 g / eq.
  • the softening point of the epoxy resin solid at room temperature is preferably 40 to 120 ° C, more preferably 50 to 110 ° C, and particularly preferably 60 to 100 ° C. When the softening point is within the above range, tackiness can be suppressed and handling can be easily performed.
  • the content can be appropriately set according to the form of the curable resin composition.
  • the content of the epoxy resin is preferably 10% by weight or more, more preferably 15% by weight or more, further preferably 20% by weight or more, and more preferably 25% by weight or more with respect to the total weight of the curable resin composition. More preferably, 30% by weight or more is still more preferable, and 35% by weight or more is particularly preferable.
  • 90 weight% or less is preferable, 85 weight% or less is more preferable, 80 weight% or less is further more preferable, 75 weight% or less is still more preferable, 65 weight% or less is still more preferable, 55 weight% or less is especially preferable.
  • the content of the epoxy resin is within the above range, the electrical connection strength between the terminals and the mechanical adhesive strength can be sufficiently secured.
  • (Ii) Film-forming resin When a solid curable resin composition is used, it is preferable to use the curable resin and the film-forming resin in combination.
  • the film-forming resin used in the present invention is not particularly limited as long as it is soluble in an organic solvent and has film-forming properties alone. Either a thermoplastic resin or a thermosetting resin can be used, and these can be used in combination.
  • (meth) acrylic resin refers to a polymer of (meth) acrylic acid and its derivatives, or a copolymer of (meth) acrylic acid and its derivatives and other monomers. Means. When expressed as “(meth) acrylic acid” or the like, it means “acrylic acid or methacrylic acid” or the like.
  • Examples of the (meth) acrylic resin used in the present invention include polyacrylic acid such as polyacrylic acid, polymethacrylic acid, polymethyl acrylate, polyethyl acrylate, polybutyl acrylate, and poly-2-ethylhexyl acrylate.
  • esters such as polymethyl methacrylate, polyethyl methacrylate, polybutyl methacrylate, polyacrylonitrile, polymethacrylonitrile, polyacrylamide, butyl acrylate-ethyl acrylate-acrylonitrile copolymer, acrylonitrile-butadiene Copolymer, acrylonitrile-butadiene-acrylic acid copolymer, acrylonitrile-butadiene-styrene copolymer, acrylonitrile-styrene copolymer, methyl methacrylate-styrene copolymer, Methyl lurate-acrylonitrile copolymer, methyl methacrylate- ⁇ -methylstyrene copolymer, butyl acrylate-ethyl acrylate-acrylonitrile-2-hydroxyethyl methacrylate-methacrylic acid copolymer, butyl acrylate-ethy
  • butyl acrylate-ethyl acrylate-acrylonitrile copolymer and ethyl acrylate-acrylonitrile-N, N-dimethylacrylamide copolymer are preferable.
  • These (meth) acrylic resins may be used alone or in combination of two or more.
  • (meth) acrylic resins adhesion to the adherend and compatibility with other resin components can be improved, so functional groups such as nitrile group, epoxy group, hydroxyl group and carboxyl group can be added.
  • a (meth) acrylic resin obtained by copolymerizing a monomer having the same is preferred.
  • the content of the monomer having the functional group is not particularly limited, but is 0.1% with respect to 100 mol% of all monomers during the synthesis of the (meth) acrylic resin. ⁇ 50 mol% is preferable, 0.5 to 45 mol% is more preferable, and 1 to 40 mol% is particularly preferable.
  • the content of the monomer having the functional group is less than the lower limit, the adhesion tends not to be sufficiently improved, and when it exceeds the upper limit, the adhesive force is too strong and the workability is not sufficiently improved. It is in.
  • the skeleton of the phenoxy resin used in the present invention is not particularly limited, bisphenol A type, bisphenol F type, biphenyl type, and the like are preferable.
  • a phenoxy resin having a saturated water absorption of 1% or less is preferable because it can suppress the occurrence of foaming or peeling at high temperatures during bonding or solder mounting.
  • the saturated water absorption rate is obtained by processing a phenoxy resin into a film having a thickness of 25 ⁇ m, drying it in a 100 ° C. atmosphere for 1 hour (an absolutely dry state), and further heating the film at a constant temperature and humidity chamber at 40 ° C. and 90% RH atmosphere.
  • the mass change is measured every 24 hours, and the mass at the time when the mass change is saturated can be calculated by the following formula.
  • Saturated water absorption (%) ⁇ (mass when saturated) ⁇ (mass when absolutely dry) ⁇ / (mass when absolutely dry) ⁇ 100
  • the polyimide resin used in the present invention is not particularly limited as long as the resin has an imide bond in the repeating unit.
  • the resin has an imide bond in the repeating unit.
  • diamine and acid dianhydride react heating the obtained polyamic acid, and carrying out dehydration ring closure is mentioned.
  • diamine examples include aromatic diamines such as 3,3′-dimethyl-4,4′-diaminodiphenyl, 4,6-dimethyl-m-phenylenediamine, and 2,5-dimethyl-p-phenylenediamine.
  • siloxane diamines such as 3-bis (3-aminopropyl) -1,1,3,3-tetramethyldisiloxane.
  • a diamine may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together.
  • Examples of the acid dianhydride include 3,3 ′, 4,4′-biphenyltetracarboxylic acid, pyromellitic dianhydride, 4,4′-oxydiphthalic dianhydride, and the like.
  • An acid dianhydride may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together.
  • the polyimide resin may be soluble or insoluble in a solvent, but is preferably a solvent-soluble one because it is easily varnished when mixed with other components and has excellent handleability.
  • a siloxane-modified polyimide resin is preferably used because it can be dissolved in various organic solvents.
  • the weight average molecular weight of the film-forming resin used in the present invention is preferably 8,000 to 1,000,000, more preferably 8,500 to 950,000, and further preferably 9,000 to 900,000.
  • the weight average molecular weight of the film-forming resin can be measured by GPC (gel permeation chromatography).
  • a commercially available product can be used as such a film-forming resin.
  • a film-forming resin may be used in which various additives such as a plasticizer, a stabilizer, an inorganic filler, an antistatic agent and a pigment are blended.
  • the content of the film-forming resin can be appropriately set according to the form of the curable resin composition to be used.
  • the content of the film-forming resin is preferably 5% by weight or more with respect to the total weight of the curable resin composition, and is 10% by weight or more. It is more preferable that the content is 15% by weight or more. Further, it is preferably 50% by weight or less, more preferably 45% by weight or less, and particularly preferably 40% by weight or less.
  • the content of the film-forming resin is within the above range, the fluidity of the curable resin composition before melting can be suppressed, and the conductive connecting material can be easily handled.
  • (Iii) Curing Agent Preferred examples of the curing agent used in the present invention include phenols, acid anhydrides, and amine compounds.
  • curing agent can be suitably selected according to the kind etc. of curable resin. For example, when an epoxy resin is used as the curable resin, good reactivity with the epoxy resin, low dimensional change during curing, and appropriate physical properties after curing (for example, heat resistance, moisture resistance, etc.) are obtained. Phenols are preferably used as the curing agent, and bifunctional or higher functional phenols are more preferable in terms of excellent physical properties after curing of the curable resin. Moreover, such a hardening
  • phenols examples include bisphenol A, tetramethylbisphenol A, diallyl bisphenol A, biphenol, bisphenol F, diallyl bisphenol F, trisphenol, tetrakisphenol, phenol novolac resin, cresol novolac resin, and the like.
  • phenol novolac resins and cresol novolac resins are preferable because they have good reactivity with epoxy resins and excellent physical properties after curing.
  • the content of the curing agent has a functional group that functions as a curing agent when the compound having a flux function described below and the type of the curable resin or the curing agent to be used have a functional group
  • the content should be selected as appropriate. Can do.
  • the content of the curing agent is preferably 0.1 to 50% by weight based on the total weight of the curable resin composition. 40% by weight is more preferable, and 0.5 to 30% by weight is particularly preferable.
  • the content of the curing agent is within the above range, the electrical connection strength between the terminals and the mechanical adhesive strength can be sufficiently secured.
  • a phenol novolac resin as a curing agent.
  • the content thereof is preferably 1% by weight or more, more preferably 3% by weight or more, particularly preferably 5% by weight or more, based on the total weight of the curable resin composition.
  • 50 weight% or less is preferable, 40 weight% or less is more preferable, and 30 weight% or less is especially preferable.
  • the content of the phenol novolak resin is less than the lower limit, the curable resin tends to be not sufficiently cured, and when the content exceeds the upper limit, the unreacted phenol novolak resin tends to remain and ion migration tends to occur. .
  • the content of the phenol novolac resin may be defined by an equivalent ratio with respect to the epoxy resin.
  • the equivalent ratio of phenol novolac resin to epoxy resin is preferably 0.5 to 1.2, more preferably 0.6 to 1.1, and preferably 0.7 to 0.98. Particularly preferred.
  • the equivalent ratio is less than the lower limit, the heat resistance and moisture resistance after curing of the epoxy resin tend to decrease, and when the upper limit is exceeded, unreacted phenol novolac resin remains and ion migration occurs. It tends to be easy to do.
  • the curing accelerator used in the present invention includes imidazole, 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole.
  • an imidazole compound having a melting point of 150 ° C. or higher is preferable from the viewpoint that solder or tin can move to the surface of the terminal before the curing of the curable resin composition is completed.
  • 2-phenylimidazole 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 2,4-diamino-6- [2′-methylimidazolyl (1 ')]-Ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-undecylimidazolyl (1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-ethyl -4-methylimidazolyl (1 ')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl (1')]-ethyl-s-triazine isocyanuric acid adduct, 2- Isocyanuric acid adduct of phenylimidazole, 2-phenyl-4,5-dihydroxydimethylimidazole, 2-phenylimid
  • Content of a hardening accelerator can be suitably set according to the kind of hardening accelerator to be used.
  • the content of the imidazole compound is preferably 0.001% by weight or more, more preferably 0.003% by weight or more, based on the total weight of the curable resin composition. 0.005% by weight or more is particularly preferable.
  • 1.0 weight% or less is preferable, 0.7 weight% or less is more preferable, and 0.5 weight% or less is especially preferable.
  • the content of the imidazole compound is less than the lower limit, the effect as a curing accelerator is not sufficiently exhibited, and the curable resin composition may not be sufficiently cured.
  • the content of the imidazole compound exceeds the above upper limit, the solder or tin does not move sufficiently to the terminal surface before the curing of the curable resin composition is completed, and the solder or tin remains in the insulating region and is insulative. May not be sufficient. In addition, the storage stability of the conductive connection material may be reduced.
  • the compound having a flux function used in the present invention has a function of reducing a metal oxide film such as a surface oxide film of a terminal and a metal foil.
  • the compound having a flux function is preferably a compound having a phenolic hydroxyl group and / or a carboxyl group.
  • Examples of the compound having a phenolic hydroxyl group include phenol, o-cresol, 2,6-xylenol, p-cresol, m-cresol, o-ethylphenol, 2,4-xylenol, 2,5-xylenol, m- Ethylphenol, 2,3-xylenol, mesitol, 3,5-xylenol, p-tert-butylphenol, catechol, p-tert-amylphenol, resorcinol, p-octylphenol, p-phenylphenol, bisphenol F, bisphenol AF, biphenol Monomers containing phenolic hydroxyl groups such as diallyl bisphenol F, diallyl bisphenol A, trisphenol, tetrakisphenol, phenol novolac resins, o-cresol novolac resins, bisphenols Nord F novolak resins, resins containing a phenolic hydroxyl group such as
  • Examples of the compound having a carboxyl group include aliphatic acid anhydrides, alicyclic acid anhydrides, aromatic acid anhydrides, aliphatic carboxylic acids, and aromatic carboxylic acids.
  • Examples of the aliphatic acid anhydride include succinic anhydride, polyadipic acid anhydride, polyazeline acid anhydride, and polysebacic acid anhydride.
  • Examples of the alicyclic acid anhydride include methyltetrahydrophthalic anhydride, methylhexahydrophthalic anhydride, methylhymic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, trialkyltetrahydrophthalic anhydride, methylcyclohexene dicarboxylic acid. An anhydride etc. are mentioned.
  • Examples of the aromatic acid anhydride include phthalic anhydride, trimellitic anhydride, pyromellitic anhydride, benzophenone tetracarboxylic anhydride, ethylene glycol bistrimellitate, and glycerol tris trimellitate.
  • Examples of the aliphatic carboxylic acid include formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid, valeric acid, pivalic acid, caproic acid, caprylic acid, lauric acid, myristic acid, palmitic acid, stearic acid, acrylic acid, methacrylic acid, crotonic acid, Examples include oleic acid, fumaric acid, maleic acid, oxalic acid, malonic acid, succinic acid, glutaric acid, adipic acid, sebacic acid, dodecanedioic acid, and pimelic acid.
  • n is an integer of 1 to 20
  • adipic acid, sebacic acid, and dodecanedioic acid are more preferable.
  • the structure of the aromatic carboxylic acid is not particularly limited, but a compound represented by the following formula (2) or (3) is preferable.
  • R 1 to R 5 are each independently a monovalent organic group, and at least one of R 1 to R 5 is a hydroxyl group.
  • R 6 to R 20 are each independently a monovalent organic group, and at least one of R 6 to R 20 is a hydroxyl group or a carboxyl group.
  • Aromatic carboxylic acids include benzoic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, hemimellitic acid, trimellitic acid, trimesic acid, merophanic acid, planitic acid, pyromellitic acid, merit acid, xylyl acid, hemelitonic acid, mesitylene Acid, prenylic acid, toluic acid, cinnamic acid, salicylic acid, 2,3-dihydroxybenzoic acid, 2,4-dihydroxybenzoic acid, gentisic acid (2,5-dihydroxybenzoic acid), 2,6-dihydroxybenzoic acid, Benzoic acid derivatives such as 3,5-dihydroxybenzoic acid and gallic acid (3,4,5-trihydroxybenzoic acid); 4-dihydroxy-2-naphthoic acid, 3,5-dihydroxy-2-naphthoic acid, 3, Naphthoic acid derivatives such as 5-dihydroxy-2-naphthoic
  • a compound that not only has a flux function but also acts as a curing agent for the curable resin is preferable. That is, as the compound having a flux function used in the present invention, a compound having a functional group capable of reacting with a curable resin and exhibiting an action of reducing a metal surface oxide film such as a metal foil and a terminal is used. preferable.
  • the functional group is appropriately selected depending on the type of curable resin. For example, when an epoxy resin is used as the curable resin, the functional group is preferably a functional group capable of reacting with an epoxy group such as a carboxyl group, a hydroxyl group, and an amino group.
  • a compound having a flux function also acts as a curing agent, thereby reducing metal surface oxide films such as metal foils and terminals to increase the wettability of the metal surface, facilitating the formation of conductive regions, After forming the property region, it can be added to the curable resin to increase the elastic modulus or Tg of the resin.
  • the compound having a flux function acts as a curing agent, there is an advantage that flux cleaning is not required and the occurrence of ion migration due to the remaining flux component can be suppressed.
  • the compound having such a flux function preferably has at least one carboxyl group.
  • examples of the compound include aliphatic dicarboxylic acids or compounds having a carboxyl group and a phenolic hydroxyl group.
  • Preferred examples of the aliphatic dicarboxylic acid include compounds in which two carboxyl groups are bonded to an aliphatic hydrocarbon group.
  • the aliphatic hydrocarbon group may be saturated or unsaturated acyclic, or may be saturated or unsaturated cyclic. Further, when the aliphatic hydrocarbon group is acyclic, it may be linear or branched.
  • n in the formula (1) is preferably exemplified.
  • n in the formula (1) is within the above range, the balance between the flux activity, the outgas at the time of bonding, the elastic modulus after the conductive connecting material is cured, and the glass transition temperature becomes good.
  • n is preferably 3 or more because an increase in the elastic modulus after curing of the conductive connecting material can be suppressed and the adhesion to the adherend can be improved.
  • n is preferably 10 or less because it is possible to suppress a decrease in elastic modulus and further improve connection reliability.
  • Examples of the aliphatic dicarboxylic acid represented by the formula (1) include glutaric acid, adipic acid, pimelic acid, suberic acid, azelaic acid, sebacic acid, undecanedioic acid, dodecanedioic acid, tridecanedioic acid, tetradecanedioic acid, and pentadecane.
  • Examples include diacid, octadecanedioic acid, nonadecanedioic acid, and eicosanedioic acid.
  • adipic acid, suberic acid, sebacic acid and dodencandioic acid are preferable, and sebacic acid is particularly preferable.
  • Examples of the compound having a carboxyl group and a phenolic hydroxyl group include salicylic acid, 2,3-dihydroxybenzoic acid, 2,4-dihydroxybenzoic acid, gentisic acid (2,5-dihydroxybenzoic acid), and 2,6-dihydroxybenzoic acid.
  • Benzoic acid derivatives such as acid, 3,4-dihydroxybenzoic acid, gallic acid (3,4,5-trihydroxybenzoic acid); 1,4-dihydroxy-2-naphthoic acid, 3,5-dihydroxy-2-naphthoic acid
  • naphthoic acid derivatives such as acids; phenolphthaline; diphenolic acid and the like. Of these, phenolphthaline, gentisic acid, 2,4-dihydroxybenzoic acid, and 2,6-dihydroxybenzoic acid are preferable, and phenolphthalin and gentisic acid are particularly preferable.
  • a compound having a flux function may be used alone or in combination of two or more. Moreover, since any compound easily absorbs moisture and causes voids, it is preferable to dry the compound having a flux function in advance before use.
  • Content of the compound which has a flux function can be suitably set according to the form of the resin composition to be used.
  • the content of the compound having a flux function is preferably 1% by weight or more, more preferably 2% by weight or more, and more preferably 3% by weight with respect to the total weight of the curable resin composition.
  • the above is particularly preferable.
  • 50 weight% or less is preferable, 40 weight% or less is more preferable, 30 weight% or less is further more preferable, and 25 weight% or less is especially preferable.
  • the content of the compound having a flux function is preferably 1% by weight or more, more preferably 2% by weight or more, more preferably 3% by weight with respect to the total weight of the curable resin composition. % Or more is particularly preferable. Moreover, 50 weight% or less is preferable, 40 weight% or less is more preferable, 30 weight% or less is further more preferable, and 25 weight% or less is especially preferable.
  • the content of the compound having the flux function is within the above range, the metal foil and the surface oxide film of the terminal can be removed to such an extent that they can be electrically joined.
  • the resin composition when the resin composition is a curable resin, it can be efficiently added to the resin at the time of curing to increase the elastic modulus or Tg of the resin. Moreover, generation
  • silane coupling agent examples include an epoxy silane coupling agent and an aromatic-containing aminosilane coupling agent. By adding the silane coupling agent, the adhesion between the bonding member and the conductive connecting material can be enhanced.
  • a silane coupling agent may be used individually by 1 type, and may use 2 or more types together.
  • the content of the silane coupling agent can be appropriately selected according to the type of the joining member, the curable resin, and the like.
  • the content of the silane coupling agent is preferably 0.01% by weight or more, more preferably 0.05% by weight or more, and particularly preferably 0.1% by weight or more with respect to the total weight of the curable resin composition. It is preferably 2% by weight or less, more preferably 1.5% by weight or less, and particularly preferably 1% by weight or less.
  • a plasticizer, a stabilizer, a tackifier, a lubricant, an antioxidant, an inorganic filler, a filler, an antistatic agent, a pigment, and the like as long as the effects of the present invention are not impaired. May be blended.
  • the curable resin composition can be prepared by mixing and dispersing the above components.
  • the mixing method and dispersion method of each component are not specifically limited, It can mix and disperse
  • a liquid curable resin composition may be prepared by mixing the above components in a solvent or without a solvent.
  • the solvent used at this time is not particularly limited as long as it is inert to each component.
  • acetone, methyl ethyl ketone (MEK), methyl isobutyl ketone (MIBK), diisobutyl ketone (DIBK), cyclohexanone Ketones such as diacetone alcohol (DAA); aromatic hydrocarbons such as benzene, xylene and toluene; alcohols such as methyl alcohol, ethyl alcohol, isopropyl alcohol and n-butyl alcohol; methyl cellosolve, ethyl cellosolve, butyl cellosolve; Cellosolves such as methyl cellosolve acetate and ethyl cellosolve acetate, N-methyl-2-pyrrolidone (NMP), tetrahydrofuran (THMP), t
  • thermoplastic resin composition in this invention, can also be used as a resin composition.
  • the thermoplastic resin composition used in the present invention includes, in addition to the thermoplastic resin, a compound having a flux function, a silane coupling agent, and the like as necessary.
  • thermoplastic resin used in the present invention examples include vinyl acetate, polyvinyl alcohol resin, polyvinyl butyral resin, vinyl chloride resin, (meth) acrylic resin, phenoxy resin, polyester resin, polyimide resin, and polyamide.
  • the softening point of the thermoplastic resin is not particularly limited, but is preferably 10 ° C. or more lower than the melting point of the metal foil constituting the conductive connection material, particularly preferably 20 ° C. or more, and more preferably 30 ° C. or more. .
  • the decomposition temperature of the thermoplastic resin is not particularly limited, but is preferably 10 ° C. or higher, particularly preferably 20 ° C. or higher, and more preferably 30 ° C. or higher than the melting point of the metal foil constituting the conductive connecting material. More preferred.
  • thermoplastic resin composition can be suitably set according to the form of the thermoplastic resin composition to be used.
  • the content of the thermoplastic resin is preferably 10% by weight or more, more preferably 15% by weight or more, and more preferably 20% by weight with respect to the total weight of the thermoplastic resin composition.
  • the above is more preferable, 25% by weight or more is further more preferable, 30% by weight or more is still more preferable, and 35% by weight or more is particularly preferable.
  • 100 weight% or less is preferable, 95 weight% or less is more preferable, 90 weight% or less is more preferable, 75 weight% or less is still more preferable, 65 weight% or less is still more preferable, 55 weight% or less is especially preferable.
  • the content of the thermoplastic resin is preferably 5% by weight or more, more preferably 10% by weight or more, and more preferably 15% by weight with respect to the total weight of the thermoplastic resin composition.
  • the above is more preferable, and 20% by weight or more is particularly preferable.
  • 90 weight% or less is preferable, 85 weight% or less is more preferable, 80 weight% or less is further more preferable, 75 weight% or less is still more preferable, 65 weight% or less is still more preferable, 55 weight% or less is especially preferable.
  • the content of the thermoplastic resin is within the above range, the electrical connection strength between the terminals and the mechanical adhesive strength can be sufficiently secured.
  • thermoplastic resin composition of the present invention is the same as those described in the above “(a) Curable resin composition”. The same can be used. The content of each component, preferred compounds and preparation methods are also the same as those described for the curable resin composition.
  • the epoxy resin is 10 to 90% by weight
  • the curing agent is 0.1 to 50% by weight
  • the film-forming resin is 5 to 50% by weight
  • the compound having a flux function is 1 to 50% by weight with respect to the total weight of the resin composition. More preferably, it contains The epoxy resin is 20 to 80% by weight
  • the curing agent is 0.2 to 40% by weight
  • the film-forming resin is 10 to 45% by weight
  • the compound having a flux function is 2 to 40% by weight with respect to the total weight of the resin composition.
  • the epoxy resin is 35 to 55% by weight
  • the curing agent is 0.5 to 30% by weight
  • the film-forming resin is 15 to 40% by weight
  • the compound having a flux function is 3 to 25% by weight with respect to the total weight of the resin composition.
  • Those containing are particularly preferred.
  • the content of the resin composition in the conductive connecting material of the present invention can be appropriately set according to the form of the resin composition.
  • the content of the resin composition is preferably 10% by weight or more, more preferably 20% by weight or more, and particularly preferably 25% by weight or more based on the total weight of the conductive connecting material. .
  • 95 weight% or less is preferable, 80 weight% or less is more preferable, and 75 weight% or less is especially preferable.
  • the content of the resin composition is preferably 10% by weight or more, more preferably 15% by weight or more, and particularly preferably 20% by weight or more based on the total weight of the conductive connecting material.
  • 95 weight% or less is preferable, 80 weight% or less is more preferable, and 75 weight% or less is especially preferable.
  • the thickness of each resin composition layer is not particularly limited, but is preferably 1 ⁇ m or more, more preferably 3 ⁇ m or more, and particularly preferably 5 ⁇ m or more. Further, the thickness of the resin composition layer is preferably 200 ⁇ m or less, more preferably 150 ⁇ m or less, and particularly preferably 100 ⁇ m or less. When the thickness of the resin composition layer is within the above range, the gap between adjacent terminals can be sufficiently filled with the resin composition, and after the resin composition is cured, the mechanical adhesive strength after solidification and the opposite are opposed. A sufficient electrical connection between the terminals can be ensured, and the connection terminals can be manufactured.
  • the composition of each resin composition layer may be the same, or may be different depending on the type of resin component used, the difference in formulation, and the like.
  • the physical properties such as melt viscosity and softening temperature of the resin composition layer may be the same or different.
  • a liquid resin composition layer and a solid resin composition layer may be used in combination.
  • a metal foil layer is a layer comprised with the metal foil chosen from solder foil or tin foil.
  • the metal foil layer should just be formed in at least one part of the resin composition layer by planar view, and may be formed in the whole surface of the resin composition layer.
  • the shape of the metal foil layer is not particularly limited, and a certain shape may be repeatedly formed in a pattern shape, or the shape may be irregular. Regular shapes and irregular shapes may be mixed.
  • FIG. 1 is a schematic plan view showing an example of the shape of the metal foil layer.
  • Metal foil layers 110 having various shapes are formed on the resin composition layer 120.
  • As the shape of the metal foil layer for example, a dotted pattern (a), a striped pattern (b), a polka dot pattern (c), a rectangular pattern (d), or a checkered pattern as shown in FIG. Examples include (e), a frame shape (f), a lattice pattern shape (g), and a multiple frame shape (h). These shapes are examples, and these shapes can be combined or deformed depending on the purpose and application.
  • a sheet-like metal is formed on the entire surface of the resin composition. It is preferable to form a foil.
  • a peripheral type adherend in which the electrode to be connected is arranged in the periphery of the connection surface of the adherend, from the viewpoint of effectively using the metal foil, and between adjacent electrodes From the viewpoint of not leaving the metal foil, it is preferable to form a patterned metal foil repeatedly on at least a part of the resin composition.
  • the shape of the metal foil can be appropriately selected depending on the pitch and form of the electrodes.
  • the metal foil used in the present invention is not particularly limited, but tin (Sn), lead (Pb), silver (Ag), bismuth (Bi), indium (In), zinc (Zn), nickel (Ni), An alloy of at least two metals selected from the group consisting of antimony (Sb), iron (Fe), aluminum (Al), gold (Au), germanium (Ge), and copper (Cu), or a simple substance of tin It is preferable.
  • the metal foil is composed of Sn—Pb alloy, Sn—Bi alloy which is lead-free solder, Sn—Ag—Cu alloy, Sn—In alloy, Sn A solder foil made of an alloy containing Sn such as an alloy of -Ag is more preferable.
  • Sn—Pb alloy the content of tin is preferably 30% by weight or more and less than 100% by weight, more preferably 35% by weight or more and less than 100% by weight, and more preferably 40% by weight or more and less than 100% by weight.
  • the content of tin is preferably 15% by weight or more and less than 100% by weight, more preferably 20% by weight or more and less than 100% by weight, and particularly preferably 25% by weight or more and less than 100% by weight.
  • Sn-Pb alloy is Sn63-Pb (melting point 183 ° C)
  • lead-free solder is Sn-3.0Ag-0.5Cu (melting point 217 ° C), Sn-3.5Ag (melting point 221 ° C) Sn-58Bi (melting point 139 ° C.), Sn-9.0Zn (melting point 199 ° C.), Sn-3.5Ag-0.5Bi-3.0In (melting point 193 ° C.), Au-20Sn (melting point 280 ° C.), etc. Is preferred.
  • the metal foil may be appropriately selected according to the heat resistance of the electronic member or semiconductor device to be connected.
  • the melting point is 330 ° C. or lower (more preferably 300 ° C. or lower, particularly preferably 280 ° C. or lower, more preferably, in order to prevent the members of the semiconductor device from being damaged by thermal history. It is preferable to use a metal foil that is 260 ° C. or lower.
  • a metal foil having a melting point of 100 ° C. or higher more preferably 110 ° C. or higher, particularly preferably 120 ° C. or higher.
  • fusing point of metal foil can be measured with a differential scanning calorimeter (DSC).
  • DSC differential scanning calorimeter
  • the thickness of the metal foil can be appropriately selected according to the gap between the facing terminals, the separation distance between adjacent terminals, and the like.
  • the thickness of the metal foil is preferably 0.5 ⁇ m or more, more preferably 3 ⁇ m or more, particularly preferably 5 ⁇ m or more, 100 micrometers or less are preferable, 50 micrometers or less are more preferable, and 20 micrometers or less are especially preferable. If the thickness of the metal foil is less than the lower limit, the number of unconnected terminals tends to increase due to insufficient solder or tin. On the other hand, if the thickness exceeds the upper limit, bridging occurs between adjacent terminals due to excessive solder or tin, and shorting easily occurs. There is a tendency.
  • Examples of the method for producing the metal foil include a method of producing from a lump such as an ingot by rolling, and a method of forming the metal foil layer directly on the resin composition layer by vapor deposition, sputtering, plating, or the like.
  • a method for producing a metal foil having a repetitive pattern for example, a method of punching a metal foil into a predetermined pattern, a method of forming a predetermined pattern by etching, etc., or using a shielding plate or a mask
  • a method of forming by vapor deposition, sputtering, plating or the like can be mentioned.
  • the content of the metal foil is preferably 5% by weight or more, more preferably 20% by weight or more, and particularly preferably 30% by weight or more based on the total weight of the conductive connection material. Moreover, less than 100 weight% is preferable, 80 weight% or less is more preferable, and 70 weight% or less is especially preferable. If the content of the metal foil is less than the above lower limit, unconnected terminals may increase due to insufficient solder or tin. On the other hand, if the content of the metal foil exceeds the above upper limit, bridging is likely to occur between adjacent terminals due to excessive solder or tin.
  • the content of the metal foil may be defined as a volume ratio with respect to the conductive connection material.
  • the content of the metal foil is preferably 1% by volume or more, more preferably 5% by volume or more, and particularly preferably 10% by volume or more with respect to the conductive connection material.
  • 90 volume% or less is preferable, 80 volume% or less is more preferable, and 70 volume% or less is especially preferable. If the content of the metal foil is less than the above lower limit, unconnected terminals may increase due to insufficient solder or tin. On the other hand, if the content of the metal foil exceeds the above upper limit, bridging is likely to occur between adjacent terminals due to excessive solder or tin.
  • the form of the conductive connection material can be appropriately selected according to the form of the resin composition.
  • the resin composition when the resin composition is liquid, the resin composition is applied on both sides of a metal foil, or the resin composition is applied on a release substrate such as a polyester sheet, and semi-cured at a predetermined temperature (B-stage)
  • a film obtained by drying and forming a film and pasting metal foils together to form a film can be used as the conductive connection material.
  • the resin composition is solid, the resin composition varnish dissolved in an organic solvent is applied onto a release substrate such as a polyester sheet and dried at a predetermined temperature, and then bonded to a metal foil or vapor deposition, etc.
  • a film formed using the above method can be used as a conductive connection material.
  • the conductive connection material of the present invention and the metal foil used therefor can be embossed to enhance the contact with the terminal.
  • the thickness of the conductive connecting material of the present invention is not particularly limited, but is preferably 1 ⁇ m or more, more preferably 3 ⁇ m or more, particularly preferably 5 ⁇ m or more, preferably 200 ⁇ m or less, more preferably 150 ⁇ m or less, and particularly preferably 100 ⁇ m or less. .
  • the resin composition can be sufficiently filled in the gap between adjacent terminals.
  • the mechanical adhesive strength after the resin component is cured or solidified and the electrical connection between the opposing terminals can be sufficiently ensured.
  • the resin composition used in the present invention is liquid at 25 ° C., for example, the metal foil is dipped in the liquid resin composition, and the liquid resin composition is adhered to both surfaces of the metal foil, so that the conductive connecting material of the present invention is used. Can be manufactured.
  • the thickness of the resin composition needs to be controlled, it is prepared by a method in which a metal foil immersed in a liquid resin composition is passed through a bar coater having a certain gap or a method in which a liquid resin composition is sprayed with a spray coater or the like. can do.
  • the conductive connecting material can be produced as follows. First, a varnish of a resin composition dissolved in an organic solvent is applied on a release substrate such as a polyester sheet, dried at a predetermined temperature to form a film, and a film-like resin composition is produced. Next, two resin compositions formed on the release substrate were prepared, and the resin composition was placed on top and bottom of the metal foil by laminating with a hot roll with the metal foil sandwiched between the resin composition / metal. A three-layer conductive connecting material made of a foil / resin composition can be produced. In addition, a two-layer conductive connecting material composed of a resin composition / metal foil can be produced by arranging the resin composition on one side of the metal foil by the above-described laminating method.
  • the film-shaped resin composition When using a wound metal foil, the film-shaped resin composition is laminated on the upper and lower sides or one side of the metal foil with a hot roll using the metal foil as a base substrate, so that a wound conductive film is used. A connection material can also be obtained. Furthermore, when using a wound metal foil, it is possible to produce a wound conductive connection material by directly applying a varnish-like resin composition to the upper or lower side or one side of the metal foil and volatilizing the solvent. it can.
  • a patterned metal foil is prepared, and the film-like resin composition may be laminated with a hot roll.
  • the resin composition is provided on both surfaces of the patterned metal foil, the release substrate is peeled off, and the film-shaped resin composition is formed on the surface of the patterned metal foil opposite to the surface on which the resin composition is formed. What is necessary is just to laminate the thing further.
  • the manufacturing method of a conductive connection material is not restrict
  • connection method of the present invention relates to a method of connecting terminals using the conductive connection material, an arrangement step of arranging the conductive connection material between opposing terminals, and a heating step of heating the conductive connection material, And a curing / solidifying step for curing or solidifying the resin composition.
  • the connection method of the present invention can be used, for example, when connecting terminals formed on a semiconductor wafer, a semiconductor chip, a rigid substrate, a flexible substrate, and other electrical and electronic components.
  • connection method of the present invention the steps of the connection method are slightly different depending on whether the resin composition of the conductive connection material is a curable resin composition or a thermoplastic resin composition.
  • the resin composition of the conductive connecting material is a curable resin composition
  • thermoplastic resin composition will be described as a second embodiment.
  • connection method between the terminals of the 1st embodiment of this invention is the arrangement
  • connection method heat-melted solder or tin is selectively aggregated between terminals to form a conductive region, and an insulating region made of a curable resin composition can be formed around the conductive region.
  • insulation between adjacent terminals can be ensured and leakage current can be prevented, so that connection reliability of connection between terminals can be improved.
  • electrical connection between a large number of terminals can be performed collectively.
  • the mechanical strength of the conductive region or the insulating region can be increased by curing the curable resin composition.
  • connection method between terminals of the first embodiment of the present invention is not limited to these drawings.
  • the conductive connection material 30 composed of the metal foil 110 and the curable resin composition 120 provided on both surfaces of the metal foil 110 is disposed between the terminals.
  • the conductive connecting material 30 is thermocompression bonded to one side of the substrate 10 or the substrate 20 or both of the substrate 10 and the substrate 20 as shown in FIG. 4 using an apparatus such as a roll laminator or a press. Also good.
  • the surfaces of the terminals 11 and 21 may be subjected to treatments such as cleaning, polishing, plating, and surface activation as necessary in order to improve electrical connection.
  • the conductive connecting material arranged between the terminals in the arranging step is heated at a temperature equal to or higher than the melting point of the metal foil.
  • the heating temperature only needs to be equal to or higher than the melting point of the metal foil.
  • the heating time is not particularly limited as long as it is in a range where “curing is not completed”.
  • the heating temperature is preferably 5 ° C. or more higher than the melting point of the metal foil, more preferably 10 ° C. or more, more preferably 20 ° C. or more, and particularly preferably 30 ° C. or more.
  • the heating temperature can be appropriately selected depending on the metal foil to be used and the composition of the curable resin composition, but preferably 1 ⁇ BR> O 0 ° C. or higher, more preferably 130 ° C. or higher, particularly preferably 140 ° C. or higher, Most preferred is 150 ° C. or higher.
  • the heating temperature is preferably 260 ° C. or lower, more preferably 250 ° C. or lower, and particularly preferably 240 ° C. or lower.
  • the metal foil 110 is melted, and the melted solder or tin can move in the curable resin composition 120.
  • the curable resin composition contains a compound having a flux function
  • the solder or tin surface oxide film is removed by the reducing action of the compound having the flux function contained in the curable resin composition. This is a state in which the wettability is enhanced, and metal bonding is promoted to easily aggregate between opposing terminals.
  • the surface oxide films of the terminals 11 and 21 are also removed by the reducing action of the compound having a flux function and the wettability is enhanced, metal bonding with solder or tin is facilitated. As a result, as shown in FIG.
  • a conductive region 130 is formed between the terminals, and the terminals 11 and 21 are electrically connected.
  • the insulating region 140 is formed by filling the periphery of the conductive region with the curable resin composition. As a result, insulation between adjacent terminals is ensured, and a short circuit between adjacent terminals can be prevented.
  • heating may be performed by applying pressure so as to reduce the distance between the opposing terminals.
  • the distance between the terminals facing each other can be controlled to be constant by heating and pressurizing using means such as a known thermocompression bonding apparatus in the direction in which the substrates 10 and 20 in FIG. 2 face each other. It is possible to increase the reliability of electrical connection between the terminals to be performed.
  • an ultrasonic wave or an electric field may be applied, or special heating such as laser or electromagnetic induction may be applied.
  • connection method of the present invention after forming the conductive region 130 and the insulating region 140 in the heating step, the curable resin composition is cured and the insulating region 140 is fixed. Thereby, electrical reliability and mechanical connection strength between the terminals can be sufficiently ensured.
  • the connection method of the present invention since a curable resin composition having a high insulation resistance value is used, the insulation of the insulating region can be more sufficiently ensured.
  • Curing of the curable resin composition can be performed by heating the conductive connecting material.
  • the curing temperature of the conductive connecting material can be appropriately set according to the composition of the curable resin composition, but is preferably at least 5 ° C. lower than the heating temperature in the heating step, and at least 10 ° C. lower temperature. It is particularly preferred that Specifically, it is preferably 100 ° C. or higher, more preferably 120 ° C. or higher, particularly preferably 130 ° C. or higher, and most preferably 150 ° C. or higher. Further, it is preferably 300 ° C. or lower, more preferably 260 ° C. or lower, particularly preferably 250 ° C. or lower, and most preferably 240 ° C. or lower. When the curing temperature is within the above range, the conductive connecting material is not thermally decomposed, and the curable resin composition can be sufficiently cured.
  • connection method between the terminals of the second embodiment of the present invention is an arrangement step of arranging a conductive connection material including the thermoplastic resin composition and the metal foil between the opposing terminals, and a melting point of the metal foil or higher. And a heating step of heating the conductive connecting material at a temperature at which the thermoplastic resin composition is softened, and a solidification step of solidifying the thermoplastic resin composition.
  • each step will be described.
  • positioning process is heated more than melting
  • the heating temperature is preferably 5 ° C. or more higher than the melting point of the metal foil, more preferably 10 ° C. or more, more preferably 20 ° C. or more, and particularly preferably 30 ° C. or more. If the heating temperature is equal to or higher than the melting point of the metal foil and the thermoplastic resin composition is softened and the solder or tin can move in the thermoplastic resin, that is, the "thermoplastic resin composition is softened"
  • the upper limit is not particularly limited.
  • the heating temperature can be appropriately selected depending on the metal foil used and the composition of the thermoplastic resin composition. For example, it can be heated at the same heating temperature as that of a conductive connecting material containing a curable resin composition and a metal foil.
  • thermoplastic resin composition 120 contains a compound having a flux function
  • the solder or tin surface oxide film is removed by the reducing action of the compound having the flux function contained in the thermoplastic resin composition. This is a state in which the wettability is enhanced, and metal bonding is promoted to easily aggregate between opposing terminals.
  • the surface oxide films of the terminals 11 and 21 are also removed by the reducing action of the compound having a flux function and the wettability is enhanced, metal bonding with solder or tin is facilitated. As a result, as shown in FIG.
  • a conductive region 130 is formed between the terminals, and the terminals 11 and 21 are electrically connected.
  • the insulating region 140 is formed by filling the periphery of the conductive region with the thermoplastic resin composition. As a result, insulation between adjacent terminals is ensured, and a short circuit between adjacent terminals can be prevented.
  • thermoplastic resin composition is solidified to fix the insulating region 140 region.
  • the thermoplastic resin composition can be solidified by cooling and solidifying the conductive connecting material heated and melted in the heating step. Cooling and solidification of the conductive connecting material can be appropriately set according to the composition of the thermoplastic resin composition, and is not particularly limited, but may be a method by natural cooling, or a method such as blowing cold air But you can.
  • the solidification temperature of the thermoplastic resin composition is not particularly limited, but is preferably lower than the melting point of the metal foil. More specifically, the solidification temperature of the thermoplastic resin composition is preferably 10 ° C. or more lower than the melting point of the metal foil, and particularly preferably 20 ° C. or lower. The solidification temperature of the thermoplastic resin composition is preferably 50 ° C. or higher, particularly preferably 60 ° C. or higher, and further preferably 100 ° C. or higher. When the solidification temperature of the thermoplastic resin composition is within the above range, the conductive region 130 can be reliably formed, and the insulating region 140 can have a desired heat resistance. For this reason, the insulation between adjacent terminals is ensured, and a short circuit between adjacent terminals can be more reliably prevented.
  • a conductive connecting material comprising a resin composition containing a specific resin component and a compound having a flux function and a metal foil, between terminals which are selectively opposed to solder or tin.
  • the terminals can be aggregated together, and the terminals can be electrically connected and insulation between adjacent terminals can be ensured. Furthermore, it is possible to conduct a large number of terminals in a lump, and it is possible to implement a connection between terminals with excellent reliability.
  • the manufacturing method of the connection terminal of the present invention is related to a method of manufacturing the connection terminal on the electrode of the electronic member using the conductive connection material, and an arrangement step of arranging the conductive connection material on the electrode of the electronic member; And a heating step for heating the conductive connection material, and a solidification step for solidifying the resin composition as necessary.
  • the method for manufacturing a connection terminal of the present invention can be used, for example, when manufacturing a connection terminal on an electrode of a semiconductor wafer, a semiconductor chip, a rigid substrate, a flexible substrate, or other electrical and electronic components.
  • the production process of the connection terminal is slightly different depending on whether the resin composition of the conductive connection material is a curable resin composition or a thermoplastic resin composition.
  • the resin composition of the conductive connecting material is a curable resin composition
  • a thermoplastic resin composition will be described as a second embodiment.
  • connection terminal of the 1st embodiment of the present invention arranges the conductive connection material containing the curable resin composition and metal foil on the electrode of the electronic member, A heating step of heating the conductive connecting material at a temperature that is equal to or higher than the melting point of the metal foil and does not complete the curing of the curable resin composition, and a solidification step of solidifying the resin composition as necessary.
  • heat-melted solder or tin is selectively agglomerated on electrodes on a substrate to form connection terminals, and an insulating region made of a curable resin composition can be formed around the connection terminals. .
  • connection terminal since the periphery of the connection terminal can be covered with the curable resin composition, the conductive region is fixed. Moreover, since the insulation between adjacent connection terminals is ensured by the insulating region, the connection reliability can be improved. According to this method, a large number of connection terminals can be manufactured at once even in a fine wiring circuit.
  • a conductive connection material having a curable resin composition 120 and a metal foil 110 is arranged on a substrate 40 on which an electrode 41 is provided. At this time, when a patterned metal foil is used, it is necessary to align the conductive connection material 50 and the electrode 41 on the substrate.
  • the curable resin composition 120 formed on one side of the metal foil 110 is used. However, the curable resin composition 120 may be formed on both sides of the metal foil 110. .
  • the curable resin composition 120 is arrange
  • the conductive connection material 50 may be thermocompression bonded to the substrate 40 using an apparatus such as a roll laminator or a press.
  • the curable resin composition 120 covers the electrode 41, but the thickness of the curable resin composition 120 may be thinner than the electrode 41 or thicker than the electrode 41. It can be appropriately adjusted according to the purpose and application. Further, the surface of the electrode 41 may be subjected to treatments such as cleaning, polishing, plating, and surface activation as necessary in order to improve electrical connection or to improve the bondability with the metal foil. May be applied.
  • connection terminal 150 can be formed on the electrode 41 as shown in FIG.
  • a curable resin composition is filled around the connection terminal 150 to form an insulating region 140. As a result, insulation between the adjacent connection terminals 150 is ensured, and a short circuit between the adjacent connection terminals 150 can be prevented.
  • the heating temperature and pressurizing condition of the curable resin composition can be performed under the same conditions as in the case of connecting between terminals using the conductive connecting material having the curable resin composition and the metal foil. .
  • (C) Solidification step In the solidification step, after forming the connection terminal and the insulating region in the heating step, the curable resin composition is cooled and solidified, and the insulating region is fixed. Can be reinforced.
  • the method for cooling the curable resin composition is not particularly limited, and may be a natural cooling method or a method of blowing cool air.
  • the solidification temperature is preferably 10 ° C. or more lower than the melting point of the metal foil, and particularly preferably 20 ° C. or more lower.
  • the solidification temperature is preferably 50 ° C. or higher, more preferably 60 ° C. or higher, and further preferably 100 ° C. or higher.
  • the manufacturing method of the connection terminal of the second embodiment of the present invention includes an arrangement step of disposing a conductive connection material including the thermoplastic resin composition and a metal foil on an electrode of an electronic member, and a melting point of the metal foil or higher. And a heating step of heating the conductive connecting material at a temperature at which the thermoplastic resin composition is softened, and a solidification step of solidifying the thermoplastic resin composition as necessary.
  • the solder or tin heated and melted is selectively agglomerated on the electrodes on the substrate to form connection terminals, and an insulating region made of the thermoplastic resin composition is formed around the connection terminals. it can.
  • the conductive region is fixed.
  • the insulation between adjacent connection terminals is ensured by the insulating region, the connection reliability can be improved. According to this method, a large number of connection terminals can be manufactured at once even in a fine wiring circuit.
  • a conductive connection material including a thermoplastic resin composition and a metal foil is used
  • a conductive connection material including the curable resin composition of the first embodiment and a metal foil is used.
  • the conductive connection material can be disposed on a substrate provided with electrodes.
  • the conductive connecting material 50 placed on the electrode provided on the substrate in the placing step is at a temperature equal to or higher than the melting point of the metal foil and the thermoplastic resin composition is softened. Heat. Thereby, a connection terminal can be manufactured on an electrode similarly to the 1st embodiment. On the other hand, a thermoplastic resin composition is filled around the connection terminal to form an insulating region. As a result, insulation between adjacent connection terminals is ensured, and a short circuit between adjacent connection terminals can be prevented.
  • thermoplastic resin composition should be the same as the case where the connection between terminals is performed using the conductive connection material having the thermoplastic resin composition and the metal foil. Can do.
  • thermoplastic resin composition is cooled and solidified, and the insulating region is fixed. Can be reinforced.
  • the cooling method and preferable solidification temperature of a thermoplastic resin composition it is the same as that of the case where the connection between terminals is performed using the conductive connection material which has the said thermoplastic resin composition and metal foil.
  • connection terminal manufacturing method of the present invention not only can a plurality of connection terminals be manufactured in a lump, but also an insulating region can be formed around the connection terminals, so that the connection terminals are fixed and adjacent to each other. It is possible to ensure insulation between connecting terminals. Thereby, the connection terminal excellent in connection reliability can be manufactured.
  • the present invention also includes an electronic member with a conductive connection material formed by adhering the conductive connection material of the present invention to an electrical connection surface of an electronic member.
  • the adhesive surface of the conductive connection material with the electrical connection surface of the electronic member is preferably a resin composition layer.
  • the resin composition layer may be directly bonded to the electrical connection surface of the electronic member, or may be bonded via an adhesive layer.
  • the electronic members with the conductive connection material of the present invention are bonded to each other, or the electronic members with the conductive connection material of the present invention are bonded to the electrical connection surfaces of the other electronic members and thermocompression bonded so that the electronic members are electrically connected. Can be connected.
  • a semiconductor wafer, a semiconductor chip, a rigid substrate, a flexible substrate, and other electrical and electronic components in which electronic members are electrically connected using the conductive connection material of the present invention thus obtained are provided. Is also included.
  • Examples 1 to 9 (1) Preparation of curable resin composition Each component shown in Table 1 was dissolved in methyl ethyl ketone (MEK) to obtain a resin composition varnish having a resin solid content of 40%. The obtained varnish was applied to a polyester sheet using a comma coater and dried at 90 ° C. for 5 minutes to obtain a curable resin composition having a film thickness of 30 ⁇ m.
  • MEK methyl ethyl ketone
  • connection terminal (terminal diameter) made of a FR-4 base material (thickness 0.1 mm) and a circuit layer (copper circuit, thickness 12 ⁇ m) as a substrate, and Ni / Au plating (thickness 3 ⁇ m) formed on the copper circuit.
  • the one having 100 ⁇ m and a center distance of 300 ⁇ m between adjacent terminals was used.
  • the conductive connection material is disposed between the substrates having such connection terminals, and thermocompression bonding (between the substrates) using the thermocompression bonding apparatus (“TMV1-200ASB” manufactured by Tsukuba Mechanics Co., Ltd.) under the conditions shown in Table 1.
  • TMV1-200ASB manufactured by Tsukuba Mechanics Co., Ltd.
  • Example 10 and 11 Each component shown in Table 1 was stirred, and a liquid curable resin composition was prepared at 25 ° C.
  • the solder foil shown in Table 1 was immersed in the liquid curable resin composition obtained at 25 ° C., and the liquid curable resin composition was adhered to both surfaces of the solder foil to produce a conductive connecting material. Further, the terminals of the substrates were connected using the obtained conductive connection material by the same method as in Examples 1 to 9 (method described in “(3) Connection between terminals”).
  • [Comparative Example 1] A curable resin composition was prepared in the same manner as in Examples 1 to 9, and the obtained curable resin composition having a thickness of 30 ⁇ m was laminated on both surfaces of the solder foil shown in Table 2 to produce a conductive connecting material. Further, the terminals of the substrates were connected using the obtained conductive connection material by the same method as in Examples 1 to 9 (method described in “(3) Connection between terminals”).
  • [Comparative Example 2] A curable resin composition was prepared in the same manner as in Examples 10 and 11, and the obtained curable resin composition was adhered to both surfaces of the solder foil shown in Table 2 to produce a conductive connecting material. Further, the terminals of the substrates were connected using the obtained conductive connection material by the same method as in Examples 1 to 9 (method described in “(3) Connection between terminals”).
  • the ionic viscosity of the resin compositions prepared in Examples and Comparative Examples, the time when the maximum peak of the ionic viscosity slope appears, and the thermal weight loss rate were measured by the following methods. Further, in the obtained laminate, the connection resistance between terminals facing each other, the conduction path forming property, the presence / absence of solder particles remaining in a region other than the conduction path, and voids were evaluated by the method described later.
  • the minimum value of the obtained ionic viscosity was taken as the measured value. Moreover, the ion viscosity slope was calculated from the obtained differential value of the ion viscosity, and the time when the maximum peak appeared was taken as the measured value.
  • the resin composition is liquid at normal temperature (Examples 10 and 11, Comparative Example 2)
  • DEA231 / 1 cure analyzer manufactured by NETZSCH is used as the dielectric analyzer main body
  • 036S-IDEX manufactured by NETZSCH is used as the dielectric measurement sensor. It was used.
  • the resin composition is applied to the dielectric measurement sensor at a thickness of about 0.5 mm at the melting point of the solder foil shown in Tables 1 and 2 at a frequency of 10000 Hz, And measured with heating.
  • the minimum value of the obtained ionic viscosity was taken as the measured value.
  • the ion viscosity slope was calculated from the obtained differential value of the ion viscosity, and the time when the maximum peak appeared was taken as the measured value.
  • connection resistance is the resistance between the terminals facing each other in the laminate (resistance meter: “Digital Multimeter VOA7510” manufactured by Iwasaki Tsushinki Co., Ltd.), measurement probe: “manufactured by Hioki Electric Co., Ltd.” 12 points were measured with a pin-type lead 9771 ").
  • the case where the average value was less than 30 m ⁇ was determined as “A”, and the case where the average value was 30 m ⁇ or more was determined as “B”.
  • Epoxy resin 1 bisphenol A type epoxy resin, “EPICLON-840S” manufactured by Dainippon Ink and Chemicals, epoxy equivalent of 185 g / eq
  • Epoxy resin 2 cresyl glycidyl ether, “m, p-CGE” manufactured by Sakamoto Pharmaceutical Co., Ltd., epoxy equivalent 185 g / eq
  • Epoxy resin 3 bisphenol F type epoxy resin, “RE-403S” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent of 165 g / eq Hardener 1: Phenol novolak, “PR-53647” manufactured by Sumitomo Bakelite Co., Ltd.
  • Film-forming resin 1 modified biphenol type phenoxy resin, “YX-6654” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., weight average molecular weight 39,000
  • Film-forming resin 2 modified bisphenol F-type phenoxy resin, “4256H40” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., weight average molecular weight 62,000
  • Film-forming resin 3 acrylate copolymer, “SG-P3” manufactured by Nagase ChemteX Corporation, weight average molecular weight 850,000
  • Compound having flux function 1 Sebacic acid, “Sebacic acid” manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.
  • Compound 2 having flux function gentisic acid, “gentisic acid” manufactured by Midori Chemical Co., Ltd.
  • Compound 3 having flux function Phenolphthalene, “Phenolphthalin” manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.
  • Silane coupling agent 1 2- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, “KBM-303” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., boiling point 310 ° C.
  • Imidazole 1 2-Phenyl-4-methylimidazole, “Cureazole 2P4MZ” manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd.
  • a resin composition having a minimum value of ionic viscosity within the range of 4 to 9 is used as a resin composition layer of a conductive connecting material, thereby causing a short circuit with an adjacent terminal. It was shown that a good electrical connection was obtained.
  • the solder or tin can move sufficiently before the resin composition cures. Thus, it was possible to prevent the solder from remaining in the insulating region.
  • the use of a resin composition having a thermal weight reduction rate of 5% by weight can prevent the generation of voids.
  • the conductive connecting material of the present invention can be suitably used when electrically connecting electronic members in electric and electronic parts or manufacturing a connecting terminal on a substrate.
  • By using the conductive connection material of the present invention it is possible to achieve both good electrical connection between electronic members and high insulation reliability.
  • connection between terminals in a fine wiring circuit is also possible.
  • By using the conductive connection material of the present invention it is possible to meet the demand for higher functionality and downsizing of electronic devices.

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Abstract

　本発明は、樹脂組成物と半田箔又は錫箔から選ばれる金属箔とから構成される積層構造を有する導電接続材料であって、ＡＳＴＭ規格Ｅ２０３９に準拠し、金属箔の融点において周波数１００００Ｈｚを印加して測定した樹脂組成物のイオン粘度の最小値が４～９である導電接続材料を提供する。本発明はまた、該導電接続材料を用いた端子間の接続方法及び接続端子の製造方法を提供する。本発明の導電接続材料を用いることにより、接続端子間において良好な電気的接続と隣接端子間において高い絶縁信頼性を得ることができる。

Description

導電接続材料、端子間の接続方法及び接続端子の製造方法
　本発明は、電気、電子部品において電子部材を電気的に接続するために用いられる導電接続材料及び該導電接続材料を用いた端子間の接続方法ならびに接続端子の製造方法に関する。
　近年、電子機器の高機能化及び小型化の要求に伴い、電子材料における接続端子間の狭ピッチ化がますます進む方向にある。これに伴い、微細な配線回路における端子間接続も高度化している。端子間の接続方法としては、例えば、ＩＣチップを回路基板に電気的に接続する際に異方性導電接着剤又は異方性導電フィルムを用いて多数の端子間を一括で接続するフリップチップ接続技術が知られている。異方性導電接着剤又は異方性導電フィルムは、熱硬化性樹脂を主成分とする接着剤に導電性粒子を分散させたフィルム又はペーストである（例えば、特開昭６１－２７６８７３号公報（特許文献１）及び特開２００４－２６０１３１号公報（特許文献２）参照）。これを接続すべき電子部材の間に配置して熱圧着することにより、対向する多数の端子間を一括で接続することができ、接着剤中の樹脂により隣接する端子間の絶縁性を確保することを可能にする。
　しかし、導電性粒子の凝集を制御することは非常に難しく、（１）導電性粒子と端子、或いは、導電性粒子同士が十分に接触せずに対向する端子間の一部が導通しない場合や、（２）対向する端子間（導通性領域）以外の樹脂中（絶縁性領域）に導電性粒子が残存してリーク電流が発生し、隣接端子間の絶縁性が十分に確保できない場合があった。このため、従来の異方性導電接着剤や異方性導電フィルムでは、端子間の更なる狭ピッチ化に対応することが困難な状況である。
　他方、電子部材の電極上に接続端子を製造する場合、従来は金属パッドが設けられた基板上に半田ペーストを印刷し、半田リフロー装置を用いて半田ペーストを加熱溶融させて接続端子を形成していた。しかし、この方法では、接続端子が狭ピッチであると半田ペーストを印刷するときに使用するマスクのコストが高くなる。また、接続端子のサイズが小さすぎると、半田ペーストを印刷できない場合もある。
　半田ボールを接続端子に搭載し、半田リフロー装置を用いて半田ボールを加熱溶融させることで、接続端子を製造する方法もある。しかし、この方法では、接続端子が小さすぎると、半田ボールの作製コストが高く、また、小径の半田ボールを作製することが技術的に困難な場合があった。
特開昭６１－２７６８７３号公報 特開２００４－２６０１３１号公報
　このような状況の下、接続端子間において良好な電気的接続と隣接端子間において高い絶縁信頼性を得ることを可能にする導電接続材料の提供が求められている。また、電子部材の電極上に簡便な方法で接続端子を製造する方法の提供が望まれている。
　上記の課題を解決するべく、本発明者は鋭意検討した結果、導電性粒子に代えて半田箔又は錫箔を用いることで、半田又は錫の端子間への凝集が容易になり、樹脂中に半田又は錫が残存することを抑制できることを見出した。
　さらに、本発明者は、金属箔の融点における樹脂組成物の粘度の動的変化に着目した。例えば半導体装置を基板上に実装する際には、ＩＲリフロー装置により２５０℃以上の高温に瞬時にさらされる場合もあり、使用時の温度プロファイルを考慮して樹脂組成物の組成を検討することが重要である。
　そこで、本発明者らは、誘電分析により樹脂組成物の温度変化に対する粘度変化（すなわちレオロジー）をモニタリングし、導電性領域及び絶縁性領域の形成に与える影響について検討した。その結果、金属箔の融点において樹脂組成物のイオン粘度の最小値が一定の範囲内であると、半田又は錫の端子間への凝集が容易になり、樹脂中に半田又は錫が残存することを抑制でき、導電性領域及び絶縁性領域形成性が優れ、接続端子間における良好な電気的接続と隣接端子間における高い絶縁信頼性が実現できることを見出した。また、樹脂組成物として硬化性樹脂組成物を用いる場合、樹脂組成物のイオン粘度スロープの最大ピークが測定開始後一定時間経過してから出現するものを用いると、樹脂組成物の急激な硬化を抑制でき、電気的接続及び絶縁信頼性がさらに良好なものとなることが判明した。
　こうして、本発明者は、導電接続材料における樹脂組成物層として金属箔の融点において上記のような挙動を示す樹脂組成物を用いることで、電気、電子部品における端子間の接続及び接続端子の製造がより容易で、絶縁信頼性の高いものになることを見い出し、本発明を完成させるに至った。さらに、樹脂組成物の熱重量減少率が一定の範囲内であると、アウトガスによる汚染やボイドの発生を抑え、パッケージクラックの発生を防ぐことができ、高いパッケージ信頼性を得ることができる。
　すなわち、本発明は、以下に示した導電接続材料、該導電接続材料を用いた端子間の接続方法、接続端子の製造方法及び該導電接続材料を用いて電気的に接続されてなる電気、電子部品等を提供するものである。
［１］樹脂組成物と半田箔又は錫箔から選ばれる金属箔とから構成される積層構造を有する導電接続材料であって、ＡＳＴＭ規格Ｅ２０３９に準拠し、前記金属箔の融点において周波数１００００Ｈｚを印加して測定した前記樹脂組成物のイオン粘度の最小値が４～９である、導電接続材料。
［２］ＡＳＴＭ規格Ｅ２０３９に準拠し、前記金属箔の融点において周波数１００００Ｈｚを印加して測定した前記樹脂組成物のイオン粘度スロープの最大ピークが測定開始から１０秒以上経過した後で出現するものである、［１］記載の導電接続材料。
［３］３０℃から昇温速度１０℃／分で前記金属箔の融点まで加熱して測定した前記樹脂組成物の熱重量減少率が５重量％以下である、［１］又は［２］記載の導電接続材料。
［４］前記樹脂組成物が、エポキシ樹脂及び硬化剤を含むものである、［１］～［３］のいずれか１項記載の導電接続材料。
［５］前記硬化剤が、フェノール類、酸無水物及びアミン化合物からなる群より選ばれる少なくとも１種を含む、［４］記載の導電接続材料。
［６］前記樹脂組成物が、フィルム形成性樹脂をさらに含む、［１］～［５］のいずれか１項記載の導電接続材料。
［７］前記フィルム形成性樹脂の重量平均分子量が８，０００～１，０００，０００である、［６］記載の導電接続材料。
［８］前記フィルム形成性樹脂が、フェノキシ樹脂、（メタ）アクリル系樹脂及びポリイミド樹脂からなる群より選ばれる少なくとも１種を含む、［６］又は［７］記載の導電接続材料。
［９］前記樹脂組成物が、樹脂組成物の全重量に対し、エポキシ樹脂１０～９０重量％、硬化剤０．１～５０重量％及びフィルム形成性樹脂５～５０重量％を含むものである、［１］～［８］のいずれか１項記載の導電接続材料。
［１０］前記樹脂組成物が、フラックス機能を有する化合物を含む、［１］～［９］のいずれか１項記載の導電接続材料。
［１１］前記フラックス機能を有する化合物が、フェノール性水酸基及び／又はカルボキシル基を有する化合物を含む、［１０］記載の導電接続材料。
［１２］前記フラックス機能を有する化合物が、下記一般式（１）で示される化合物を含む、［１０］又は［１１］記載の導電接続材料。
　　ＨＯＯＣ－（ＣＨ2）ｎ－ＣＯＯＨ　　　（１）
［式中、ｎは、１～２０の整数である。］
［１３］前記フラックス機能を有する化合物が、下記一般式（２）及び／又は（３）で示される化合物を含む、［１０］又は［１１］記載の導電接続材料。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000003
 ［式中、Ｒ1～Ｒ5は、それぞれ独立して、１価の有機基であり、但し、Ｒ1～Ｒ5の少なくとも一つは水酸基である。］
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000004
 ［式中、Ｒ6～Ｒ20は、それぞれ独立して、１価の有機基であり、但し、Ｒ6～Ｒ20の少なくとも一つは水酸基又はカルボキシル基である。］
［１４］前記樹脂組成物が、樹脂組成物の全重量に対し、前記フラックス機能を有する化合物を合計で１～５０重量％含むものである、［１０］～［１３］のいずれか１項に記載の導電接続材料。
［１５］前記金属箔の融点が１００℃～３３０℃である、［１］～［１４］のいずれか１項に記載の導電接続材料。
［１６］樹脂組成物層／金属箔層／樹脂組成物層からなる積層構造を含む、［１］～［１５］のいずれか１項記載の導電接続材料。
［１７］樹脂組成物層／金属箔層からなる積層構造を含む、［１］～［１５］のいずれか１項記載の導電接続材料。
［１８］［１］～［１７］のいずれか１項記載の導電接続材料を対向する端子間に配置する配置工程と、前記金属箔の融点以上であり、且つ、前記樹脂組成物の硬化が完了しない温度で前記導電接続材料を加熱する加熱工程と、前記樹脂組成物を硬化させる硬化工程と、を含む端子間の接続方法。
［１９］［１］～［１７］のいずれか１項記載の導電接続材料を対向する端子間に配置する配置工程と、前記金属箔の融点以上であり、且つ、前記樹脂組成物が軟化する温度で前記導電接続材料を加熱する加熱工程と、前記樹脂組成物を固化させる固化工程と、を含む端子間の接続方法。
［２０］［１］～［１７］のいずれか１項記載の導電接続材料を電子部材の電極上に配置する配置工程と、前記金属箔の融点以上であり、且つ、前記樹脂組成物の硬化が完了しない温度で前記導電接続材料を加熱する加熱工程を含む接続端子の製造方法。
［２１］［１］～［１７］のいずれか１項記載の導電接続材料を電子部材の電極上に配置する配置工程と、前記金属箔の融点以上であり、且つ、前記樹脂組成物が軟化する温度で前記導電接続材料を加熱する加熱工程と、前記樹脂組成物を固化させる固化工程と、を含む接続端子の製造方法。
［２２］電子部材の電気的接続面に、［１］～［１７］のいずれか１項記載の導電接続材料が接着してなる、導電接続材料付き電子部材。
［２３］電子部材間が、［１］～［１７］のいずれか１項記載の導電接続材料を用いて電気的に接続されてなる、電気、電子部品。
　本発明の導電接続材料を用いることで、対向する端子間に半田又は錫を凝集させることが容易になり、良好な電気的接続を得ることができる。また、金属箔を用いるため、絶縁性領域に導電性粒子が残存することを抑制することができ、高い絶縁信頼性を得ることができる。本発明の好ましい態様によれば、半導体装置などの微細な配線回路における多数の端子間を一括で接続することも可能である。また、本発明の導電接続材料を用いることで、電子部材の電極上に簡便な方法で接続端子を製造することができる。
本発明に用いる金属箔層の形状の一例を示す平面模式図である。 本発明の端子間の接続方法において、端子間に導電接続材料を配置した後の基板及び導電接続材料の状態の一例を概略的に示す断面図である。 本発明の端子間の接続方法において、端子間に配置した導電接続材料を加熱、硬化／固化した後の基板、導電性領域及び絶縁性領域の状態の一例を概略的に示す断面図である。 本発明の端子間の接続方法において、端子間に導電接続材料を配置した後の基板及び導電接続材料の状態の一例を概略的に示す断面図である。 本発明の接続端子の製造方法において、基板上に設けられた電極上に導電接続材料を配置した後の基板及び導電接続材料の状態の一例を概略的に示す断面図である。 本発明の接続端子の製造方法において、基板上に設けられた電極上に導電接続材料を配置した後の基板及び導電接続材料の状態の一例を概略的に示す断面図である。 本発明の接続端子の製造方法において、基板の電極上に配置した導電接続材料を加熱、硬化／固化した後の基板、導電性領域及び絶縁性領域の状態の一例を概略的に示す断面図である。 本発明の実施例１における樹脂組成物のイオン粘度及びイオン粘度スロープの測定結果を示したグラフである。 本発明の実施例２における樹脂組成物のイオン粘度及びイオン粘度スロープの測定結果を示したグラフである。 本発明の実施例３における樹脂組成物のイオン粘度及びイオン粘度スロープの測定結果を示したグラフである。
　以下、本発明の導電接続材料、該導電接続材料を用いた端子間の接続方法、接続端子の製造方法及び該導電接続材料を用いて電気的に接続されてなる電気、電子部品等についてそれぞれ具体的に説明する。
　１．導電接続材料
　本発明の導電接続材料は、樹脂組成物と半田箔又は錫箔から選ばれる金属箔とから構成される。その形態は、樹脂組成物層と金属箔層とからなる多層構造を有する積層体であり、樹脂組成物層及び金属箔層は各々一層であっても複数層であってもよい。導電接続材料の積層構造は特に制限されなく、樹脂組成物層と金属箔層との二層構造（樹脂組成物層／金属箔層）でもよいし、樹脂組成物層あるいは金属箔層の何れか又は両方を複数含む三層構造又はそれ以上の多層構造でもよい。なお、樹脂組成物層又は金属箔層を複数用いる場合、各層の組成は同一でもよく、異なっていてもよい。
　本発明の一実施形態では、金属箔の表面酸化膜を、フラックス機能を有する化合物で還元する観点から、金属箔層の上下層は樹脂組成物層であることが好ましい。例えば、三層構造（樹脂組成物層／金属箔層／樹脂組成物層）が好ましい。この場合、金属箔層の両側にある樹脂組成物層の厚みは、同一でもよく、異なっていてもよい。樹脂組成物層の厚みは、接続しようとする端子の導体厚みなどによって適宜調整すればよい。例えば、金属箔層の両側にある樹脂組成物層の厚みが異なる導電接続材料を用いて接続端子を製造する場合、厚みが薄い方を接続端子側（電極側）に配置することが好ましい。金属箔と接続端子との距離を短くすることで、接続端子部分への半田又は錫成分の凝集を制御しやすくなる。
　本発明の他の実施形態において、例えば半導体ウエハ等の電子部材に接続端子を製造する場合、導電接続材料が金属箔層の片側にのみ樹脂組成物層を有していると、金属箔の一部を露出させることができ好ましい。二層構造の導電接続材料を用いて対向する接続端子同士を接続する場合、樹脂組成物層側が接続端子と接するように配置してもよいし、金属箔層側が接続端子と接するように配置してもよい。二層構造の導電接続材料を用いて対向する電子部材の接続端子同士を接続する場合、対向する電子部材の双方に該導電接続材料を貼り付け、その後、導電接続材料付き電子部材を貼り合わせることが好ましい。導電接続材料の配置方向は、金属箔のパターン形状によって適宜選択すればよい。
　次に、本発明で用いる樹脂組成物及び金属箔についてそれぞれ説明する。
（１）樹脂組成物
　本発明では、樹脂組成物層を構成する樹脂組成物として、ＡＳＴＭ規格Ｅ２０３９に準拠し、前記金属箔の融点において周波数１００００Ｈｚを印加して測定した前記樹脂組成物のイオン粘度の最小値が４～９であるものを用いる。樹脂組成物の上記測定条件におけるイオン粘度の最小値は、好ましくは４．５以上、より好ましくは５以上、さらに好ましくは５．５以上であり、好ましくは８．５以下、より好ましくは８．２以下、さらに好ましくは８以下である。金属箔の融点においてイオン粘度の最小値が上記範囲であると、電気、電子部品の実装時に、樹脂組成物のブリードを抑えながら、半田又は錫の端子間への凝集を容易にし、導電性領域の形成を容易にすることができる。他方、絶縁性領域中に半田又は錫が残存することを抑制し、高い絶縁信頼性を得ることができる。
　本発明では、誘電分析により求めた樹脂組成物のイオン粘度の最小値が上記の範囲内であると、導電接続材料に用いる樹脂組成物として望ましい挙動を示すとの知見に基づき、上記のとおり樹脂組成物をイオン粘度の最小値で規定する。ここで「誘電分析」とは、樹脂組成物中のダイポールは電場に対して配向するが、樹脂組成物中に不純物として存在する電荷イオンは反対の極性電極に移動するという性質を利用して、ダイポールのアライメントとイオン移動度の変化から樹脂組成物の硬化挙動又は溶融状態の挙動を分析するものである。
　本発明において、イオン粘度は、ＡＳＴＭ規格Ｅ２０３９に準拠し、金属箔の融点において周波数１００００Ｈｚを印加して測定される。具体的には、樹脂組成物が常温で固形状の場合、誘電分析装置本体としてＮＥＴＺＳＣＨ社製のＤＥＡ２３１／１　ｃｕｒｅ　ａｎａｌｙｚｅｒを、プレスとしてＮＥＴＺＳＣＨ社製のＭＰ２３５　Ｍｉｎｉ－Ｐｒｅｓｓを使用することで測定される。樹脂組成物が常温で液状の場合は、誘電分析装置本体としてＮＥＴＺＳＣＨ社製のＤＥＡ２３１／１　ｃｕｒｅ　ａｎａｌｙｚｅｒを使用し、誘電測定センサー（ＮＥＴＺＳＣＨ社製、０３６Ｓ－ＩＤＥＸ）上に樹脂組成物を塗布し、オーブンで加熱して測定される。
　樹脂組成物中の高分子成分（例えばフィルム形成性樹脂など）の重量平均分子量や配合量を適宜調整することで、イオン粘度の最小値を上記の範囲内に調整することができる。例えば、固形状の樹脂組成物に用いられるフィルム形成性樹脂の重量平均分子量を８，０００～１，０００，０００とすることが望ましく、配合量を樹脂組成物の全重量に対して、５～５０重量％とすることが望ましい。
　本発明の一実施形態において、樹脂組成物として硬化性樹脂組成物を用いる場合、ＡＳＴＭ規格Ｅ２０３９に準拠し、前記金属箔の融点において周波数１００００Ｈｚを印加して測定した前記硬化性樹脂組成物のイオン粘度スロープの最大ピークが測定開始から１０秒以上経過した後で出現するものを用いることが好ましい。
　イオン粘度スロープの最大ピークは、硬化性樹脂組成物の硬化反応が最大となる領域を示すものである。金属箔の融点においてこの最大ピークが１０秒以上経過した後で出現するものであると、硬化性樹脂組成物の硬化が進行する前に半田又は錫が十分に移動することができ、絶縁性領域中に半田又は錫が残存することを防ぐことができる。イオン粘度スロープの最大ピークは、測定開始後、１５秒経過した後で出現することがより好ましく、２０秒経過した後で出現することがさらに好ましく、３０秒経過した後で出現することが特に好ましい。また、生産性の観点から、測定開始後、１０００秒以内で出現することが好ましく、８００秒以内で出現することがより好ましく、６００秒以内で出現することがさらに好ましい。
　本発明において、イオン粘度スロープは、イオン粘度の微分値により求められる。
　イオン粘度スロープの最大ピークを上記の範囲内に調整するためには、樹脂組成物中の硬化剤や硬化促進剤の種類と配合量を適宜調整することが好ましい。例えば、硬化剤としてフェノールノボラック樹脂を用いる場合、配合量を樹脂組成物の全重量に対して、１～５０重量％とすることが望ましい。また、例えば、硬化促進剤としてイミダゾール化合物を用いる場合、配合量を樹脂組成物の全重量に対して、０．００１～１重量％とすることが望ましい。
　また、本発明で用いる樹脂組成物としては、３０℃から昇温速度１０℃／分で前記金属箔の融点まで加熱して測定した前記樹脂組成物の熱重量減少率が５重量％以下であるものが好ましい。熱重量減少率は好ましくは４．５重量％以下、より好ましくは４重量％以下、さらに好ましくは３重量％以下である。樹脂組成物の熱重量減少率を５重量％以下に抑えることで、アウトガスによる汚染やボイドの発生を抑え、パッケージクラックの発生を防ぐことができる。
　本発明において、熱重量減少率は、熱天秤（商品名：示差熱熱重量同時測定装置、型番「ＴＧ／ＤＴＡ　６２００」、セイコーインスツル（株）製）を用いて測定することができる。
　熱重量減少率を上記範囲内に調整するためには、樹脂組成物中の低分子成分（例えば、粘度を調整するために用いる希釈剤やカップリング剤）の沸点及び含有量を適切な範囲に調整することが好ましい。樹脂組成物に含有させる低分子成分の沸点は、１２０℃以上が好ましく、１５０℃以上がより好ましく、１８０℃以上がさらに好ましい。また、低分子成分の含有量は、樹脂組成物の全重量に対して２０重量％以下が好ましく、１０重量％以下がより好ましく、５重量％以下がさらに好ましい。
　本発明で用いる樹脂組成物は、常温で液状又は固形状のいずれの形態であってもよい。ここで「常温で液状」とは、常温（２５℃）で一定の形態を持たない状態を意味する。ペースト状も液状に含まれる。
　本発明では、樹脂組成物として、硬化性樹脂組成物及び熱可塑性樹脂組成物のいずれを用いてもよい。本発明で用いる硬化性樹脂組成物としては、加熱又は化学線を照射することにより硬化するものなどが挙げられる。硬化後の線膨張率や弾性率等の機械特性に優れるという点では、熱硬化性樹脂組成物が好ましい。本発明で用いる熱可塑性樹脂組成物としては、所定の温度に加熱することにより、成形が可能な程度に柔軟性を有するものであれば、特に制限されない。
　（ａ）硬化性樹脂組成物
　本発明で用いる硬化性樹脂組成物には、硬化性樹脂のほか、必要に応じて、フィルム形成性樹脂、硬化剤、硬化促進剤、フラックス機能を有する化合物、シランカップリング剤などが含まれる。
　（i）硬化性樹脂
　本発明で用いる硬化性樹脂は、通常、半導体装置製造用の接着剤成分として使用できるものであれば特に限定されない。例えば、エポキシ樹脂、フェノキシ樹脂、シリコーン樹脂、オキセタン樹脂、フェノール樹脂、（メタ）アクリレート樹脂、ポリエステル樹脂（不飽和ポリエステル樹脂）、ジアリルフタレート樹脂、マレイミド樹脂、ポリイミド樹脂（ポリイミド前駆体樹脂）、ビスマレイミド－トリアジン樹脂などが挙げられる。特に、エポキシ樹脂、（メタ）アクリレート樹脂、フェノキシ樹脂、ポリエステル樹脂、ポリイミド樹脂、シリコーン樹脂、マレイミド樹脂、ビスマレイミド－トリアジン樹脂からなる群より選ばれる少なくとも１種を含む熱硬化性樹脂を用いることが好ましい。中でも、硬化性と保存性、硬化物の耐熱性、耐湿性、耐薬品性に優れるという観点からエポキシ樹脂を用いることが好ましい。これらの硬化性樹脂は１種単独で用いても、２種以上を併用してもよい。
　硬化性樹脂の含有量は硬化性樹脂組成物の形態に応じて適宜設定することができる。
　例えば、硬化性樹脂組成物が液状の場合、硬化性樹脂の含有量は、硬化性樹脂組成物の全重量に対して、１０重量％以上が好ましく、１５重量％以上がより好ましく、２０重量％以上がさらに好ましく、２５重量％以上がさらにより好ましく、３０重量％以上がなお好ましく、３５重量％以上が特に好ましい。また、１００重量％未満が好ましく、９５重量％以下がより好ましく、９０重量％以下がさらに好ましく、７５重量％以下がさらにより好ましく、６５重量％以下がなお好ましく、５５重量％以下が特に好ましい。
　硬化性樹脂組成物が固形状の場合は、硬化性樹脂の含有量は、硬化性樹脂組成物の全重量に対して、５重量％以上が好ましく、１０重量％以上がより好ましく、１５重量％以上がさらに好ましく、２０重量％以上が特に好ましい。また、９０重量％以下が好ましく、８５重量％以下がより好ましく、８０重量％以下がさらに好ましく、７５重量％以下がさらにより好ましく、６５重量％以下がなお好ましく、５５重量％以下が特に好ましい。
　硬化性樹脂の含有量が前記範囲内にあると端子間の電気的接続強度及び機械的接着強度を十分に確保することができる。
　本発明では、室温で液状及び室温で固形状のいずれのエポキシ樹脂を使用してもよい。室温で液状のエポキシ樹脂と室温で固形状のエポキシ樹脂とを併用してもよい。硬化性樹脂組成物が液状の場合には、室温で液状のエポキシ樹脂を用いることが好ましく、硬化性樹脂組成物が固形状の場合には、液状及び固形状のいずれのエポキシ樹脂を使用してもよいが、固形状のエポキシ樹脂を使用する場合はフィルム形成性樹脂を適宜併用することが好ましい。
　室温（２５℃）で液状のエポキシ樹脂としては、ビスフェノールＡ型エポキシ樹脂、ビスフェノールＦ型エポキシ樹脂などが好ましく挙げられる。ビスフェノールＡ型エポキシ樹脂とビスフェノールＦ型エポキシ樹脂とを併用してもよい。
　室温で液状のエポキシ樹脂のエポキシ当量は、１５０～３００ｇ／ｅｑが好ましく、１６０～２５０ｇ／ｅｑがより好ましく、１７０～２２０ｇ／ｅｑが特に好ましい。前記エポキシ当量が上記下限未満になると硬化物の収縮率が大きくなる傾向があり、反りが生じることがある。他方、前記上限を超えると、フィルム形成性樹脂を併用した場合に、フィルム形成性樹脂、特にポリイミド樹脂との反応性が低下する傾向にある。
　室温（２５℃）で固形状のエポキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールＡ型エポキシ樹脂、ビスフェノールＳ型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、３官能エポキシ樹脂、４官能エポキシ樹脂などが挙げられる。中でも、固形３官能エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂などが好ましい。これらのエポキシ樹脂は１種単独で用いても、２種以上を併用してもよい。
　室温で固形状のエポキシ樹脂のエポキシ当量は、１５０～３０００ｇ／ｅｑが好ましく、１６０～２５００ｇ／ｅｑがより好ましく、１７０～２０００ｇ／ｅｑが特に好ましい。
　室温で固形状のエポキシ樹脂の軟化点は、４０～１２０℃が好ましく、５０～１１０℃がより好ましく、６０～１００℃が特に好ましい。前記軟化点が前記範囲内にあると、タック性を抑えることができ、容易に取り扱うことが可能となる。
　硬化性樹脂としてエポキシ樹脂を使用する場合、その含有量は硬化性樹脂組成物の形態に応じて適宜設定することができる。
　例えば、エポキシ樹脂の含有量は、硬化性樹脂組成物の全重量に対して、１０重量％以上が好ましく、１５重量％以上がより好ましく、２０重量％以上がさらに好ましく、２５重量％以上がさらにより好ましく、３０重量％以上がなお好ましく、３５重量％以上が特に好ましい。また、９０重量％以下が好ましく、８５重量％以下がより好ましく、８０重量％以下がさらに好ましく、７５重量％以下がさらにより好ましく、６５重量％以下がなお好ましく、５５重量％以下が特に好ましい。
　エポキシ樹脂の含有量が前記範囲内にあると端子間の電気的接続強度及び機械的接着強度を十分に確保することができる。
　（ii）フィルム形成性樹脂
　固形状の硬化性樹脂組成物を使用する場合、前記硬化性樹脂とフィルム形成性樹脂とを併用することが好ましい。本発明で用いるフィルム形成性樹脂としては、有機溶媒に可溶であり、単独で製膜性を有するものであれば特に制限はない。熱可塑性樹脂又は熱硬化性樹脂のいずれのものも使用することができ、また、これらを併用することもできる。具体的に、フィルム形成性樹脂としては、（メタ）アクリル系樹脂、フェノキシ樹脂、ポリエステル樹脂（飽和ポリエステル樹脂）、ポリウレタン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、シロキサン変性ポリイミド樹脂、ポリブタジエン樹脂、ポリプロピレン樹脂、スチレン－ブタジエン－スチレン共重合体、スチレン－エチレン－ブチレン－スチレン共重合体、ポリアセタール樹脂、ポリビニルブチラール樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、ブチルゴム、クロロプレンゴム、ポリアミド樹脂、アクリロニトリル－ブタジエン共重合体、アクリロニトリル－ブタジエン－アクリル酸共重合体、アクリロニトリル－ブタジエン－スチレン共重合体、ポリ酢酸ビニル、ナイロンなどが挙げられる。中でも、（メタ）アクリル系樹脂、フェノキシ樹脂、ポリエステル樹脂及びポリイミド樹脂が好ましい。フィルム形成性樹脂は１種単独で用いても、２種以上を併用してもよい。
　なお、本明細書において、「（メタ）アクリル系樹脂」とは、（メタ）アクリル酸及びその誘導体の重合体、又は（メタ）アクリル酸及びその誘導体と他の単量体との共重合体を意味する。「（メタ）アクリル酸」などと表記するときは、「アクリル酸又はメタクリル酸」などを意味する。
　本発明で用いる（メタ）アクリル系樹脂としては、例えば、ポリアクリル酸、ポリメタクリル酸、ポリアクリル酸メチル、ポリアクリル酸エチル、ポリアクリル酸ブチル、ポリアクリル酸－２－エチルヘキシルなどのポリアクリル酸エステル、ポリメタクリル酸メチル、ポリメタクリル酸エチル、ポリメタクリル酸ブチルなどのポリメタクリル酸エステル、ポリアクリロニトリル、ポリメタクリロニトリル、ポリアクリルアミド、アクリル酸ブチル－アクリル酸エチル－アクリロニトリル共重合体、アクリロニトリル－ブタジエン共重合体、アクリロニトリル－ブタジエン－アクリル酸共重合体、アクリロニトリル－ブタジエン－スチレン共重合体、アクリロニトリル－スチレン共重合体、メタクリル酸メチル－スチレン共重合体、メタクリル酸メチル－アクリロニトリル共重合体、メタクリル酸メチル－α－メチルスチレン共重合体、アクリル酸ブチル－アクリル酸エチル－アクリロニトリル－２－ヒドロキシエチルメタクリレート－メタクリル酸共重合体、アクリル酸ブチル－アクリル酸エチル－アクリロニトリル－２－ヒドロキシエチルメタクリレート－アクリル酸共重合体、アクリル酸ブチル－アクリロニトリル－２－ヒドロキシエチルメタクリレート共重合体、アクリル酸ブチル－アクリロニトリル－アクリル酸共重合体、アクリル酸エチル－アクリロニトリル－Ｎ，Ｎ－ジメチルアクリルアミド共重合体などが挙げられる。中でも、アクリル酸ブチル－アクリル酸エチル－アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エチル－アクリロニトリル－Ｎ，Ｎ－ジメチルアクリルアミド共重合体が好ましい。これらの（メタ）アクリル系樹脂は１種単独で用いても、２種以上を併用してもよい。
　これらの（メタ）アクリル系樹脂の中でも、被着体への密着性及び他の樹脂成分との相溶性を向上させることができることから、ニトリル基、エポキシ基、水酸基、カルボキシル基などの官能基を有する単量体を共重合させて得られた（メタ）アクリル系樹脂が好ましい。このような（メタ）アクリル系樹脂において、前記官能基を有する単量体の含有量は特に限定されないが、（メタ）アクリル系樹脂合成時の全単量体１００モル％に対して０．１～５０モル％が好ましく、０．５～４５モル％がより好ましく、１～４０モル％が特に好ましい。前記官能基を有する単量体の含有量が前記下限値未満になると密着性が十分に向上しない傾向にあり、他方、前記上限を超えると粘着力が強すぎて作業性が十分に向上しない傾向にある。
　本発明で用いるフェノキシ樹脂の骨格は、特に制限されないが、ビスフェノールＡタイプ、ビスフェノールＦタイプ、ビフェニルタイプなどが好ましく挙げられる。飽和吸水率が１％以下であるフェノキシ樹脂は、接着時や半田実装時の高温下において、発泡又は剥離などの発生を抑えることができるため好ましい。なお、飽和吸水率は、フェノキシ樹脂を２５μｍ厚のフィルムに加工し、１００℃雰囲気中で１時間乾燥（絶乾状態）し、さらに、そのフィルムを４０℃、９０％ＲＨ雰囲気の恒温恒湿槽に放置し、質量変化を２４時間おきに測定し、質量変化が飽和した時点の質量を用いて、下記式により算出することができる。
　　飽和吸水率（％）＝｛（飽和した時点の質量）－（絶乾時点の質量）｝／（絶乾時点の質量）×１００
　本発明で用いるポリイミド樹脂としては、繰り返し単位中にイミド結合を持つ樹脂であれば特に制限されない。例えば、ジアミンと酸二無水物を反応させ、得られたポリアミド酸を加熱、脱水閉環することにより得られるものが挙げられる。
　前記ジアミンとしては、例えば、３，３'－ジメチル－４，４'－ジアミノジフェニル、４，６－ジメチル－ｍ－フェニレンジアミン、２，５－ジメチル－ｐ－フェニレンジアミンなどの芳香族ジアミン、１，３－ビス（３－アミノプロピル）―１，１，３，３―テトラメチルジシロキサンなどのシロキサンジアミンが挙げられる。ジアミンは１種単独で用いても、２種以上を併用してもよい。
　また、前記酸二無水物としては、３，３'，４，４'－ビフェニルテトラカルボン酸、ピロメリット酸二無水物、４，４'－オキシジフタル酸二無水物などが挙げられる。酸二無水物は１種単独で用いても、２種以上を併用してもよい。
　ポリイミド樹脂は、溶剤に可溶なものでも、不溶なものでもよいが、他の成分と混合する際のワニス化が容易であり、取扱性に優れている点で溶剤可溶性のものが好ましい。特に、様々な有機溶媒に溶解できる点でシロキサン変性ポリイミド樹脂を用いることが好ましい。
　本発明で用いるフィルム形成性樹脂の重量平均分子量は８，０００～１，０００，０００が好ましく、８，５００～９５０，０００がより好ましく、９，０００～９００，０００がさらに好ましい。フィルム形成性樹脂の重量平均分子量が上記の範囲であると、製膜性を向上させることが可能で、且つ、硬化前の導電接続材料の流動性を抑制することができる。なお、フィルム形成性樹脂の重量平均分子量は、ＧＰＣ（ゲル浸透クロマトグラフィー）により測定することができる。
　本発明においては、このようなフィルム形成性樹脂として市販品を使用することができる。さらに、本発明の効果を損ねない範囲で、フィルム形成性樹脂に、可塑剤、安定剤、無機フィラー、帯電防止剤や顔料などの各種添加剤を配合したものを使用してもよい。
　本発明に用いられる導電接続材料において、前記フィルム形成性樹脂の含有量は、使用する硬化性樹脂組成物の形態に応じて適宜設定することができる。
　例えば、固形状の硬化性樹脂組成物の場合には、フィルム形成性樹脂の含有量は、硬化性樹脂組成物の全重量に対して、５重量％以上であることが好ましく、１０重量％以上であることがより好ましく、１５重量％以上であることが特に好ましい。また、５０重量％以下であることが好ましく、４５重量％以下であることがより好ましく、４０重量％以下であることが特に好ましい。フィルム形成性樹脂の含有量が前記範囲内にあると溶融前の硬化性樹脂組成物の流動性を抑制することができ、導電接続材料を容易に取り扱うことが可能となる。
　（iii）硬化剤
　本発明で用いる硬化剤としては、フェノール類、酸無水物及びアミン化合物が好ましく挙げられる。硬化剤は、硬化性樹脂の種類などに応じて適宜選択することができる。例えば、硬化性樹脂としてエポキシ樹脂を使用する場合、エポキシ樹脂との良好な反応性、硬化時の低寸法変化及び硬化後の適切な物性（例えば、耐熱性、耐湿性など）が得られる点で硬化剤としてフェノール類を用いることが好ましく、硬化性樹脂の硬化後の物性が優れている点で２官能以上のフェノール類がより好ましい。また、このような硬化剤は１種単独で用いてもよいし、２種以上を併用してもよい。
　フェノール類としては、例えば、ビスフェノールＡ、テトラメチルビスフェノールＡ、ジアリルビスフェノールＡ、ビフェノール、ビスフェノールＦ、ジアリルビスフェノールＦ、トリスフェノール、テトラキスフェノール、フェノールノボラック樹脂、クレゾールノボラック樹脂などが挙げられる。中でも、エポキシ樹脂との反応性が良好であり、硬化後の物性が優れている点でフェノールノボラック樹脂及びクレゾールノボラック樹脂が好ましい。
　硬化剤の含有量は、使用する硬化性樹脂や硬化剤の種類及び後述するフラックス機能を有する化合物が硬化剤として機能する官能基を有する場合、その官能基の種類や使用量によって適宜選択することができる。
　例えば、硬化性樹脂としてエポキシ樹脂を用いた場合、硬化剤の含有量は硬化性樹脂組成物の全重量に対して、０．１～５０重量％が好ま・BR>オく、０．２～４０重量％がより好ましく、０．５～３０重量％が特に好ましい。硬化剤の含有量が前記範囲内にあると端子間の電気的接続強度及び機械的接着強度を十分に確保することができる。
　本発明では、硬化剤としてフェノールノボラック樹脂を使用することが好ましい。例えば、フェノールノボラック樹脂を使用する場合、その含有量は、硬化性樹脂組成物の全重量に対して、１重量％以上が好ましく、３重量％以上がより好ましく、５重量％以上が特に好ましく、また、５０重量％以下が好ましく、４０重量％以下がより好ましく、３０重量％以下が特に好ましい。フェノールノボラック樹脂の含有量が前記下限未満になると硬化性樹脂が十分に硬化しない傾向にあり、他方、前記上限を超えると未反応のフェノールノボラック樹脂が残存してイオンマイグレーションが発生しやすい傾向にある。
　硬化性樹脂としてエポキシ樹脂を用いた場合、フェノールノボラック樹脂の含有量はエポキシ樹脂に対する当量比で規定してもよい。例えば、エポキシ樹脂に対するフェノールノボラック樹脂の当量比は０．５～１．２であることが好ましく、０．６～１．１であることがより好ましく、０．７～０．９８であることが特に好ましい。前記当量比が前記下限未満になると、エポキシ樹脂の硬化後の耐熱性、耐湿性が低下しやすい傾向にあり、他方、前記上限を超えると未反応のフェノールノボラック樹脂が残存し、イオンマイグレーションが発生しやすい傾向にある。
　（iv）硬化促進剤
　本発明で用いる硬化促進剤としては、イミダゾール、２－メチルイミダゾール、２－ウンデシルイミダゾール、２－ヘプタデシルイミダゾール、１，２－ジメチルイミダゾール、２－エチル－４－メチルイミダゾール、２－フェニルイミダゾール、２－フェニル－４－メチルイミダゾール、１－ベンジル－２－フェニルイミダゾール、１－ベンジル－２－メチルイミダゾール、１－シアノエチル－２－メチルイミダゾール、１－シアノエチル－２－エチル－４－メチルイミダゾール、１－シアノエチル－２－ウンデシルイミダゾール、１－シアノエチル－２－フェニルイミダゾール、１－シアノエチル－２－ウンデシルイミダゾリウムトリメリテイト、１－シアノエチル－２－フェニルイミダゾリウムトリメリテイト、２，４－ジアミノ－６－［２'－メチルイミダゾリル（１'）］－エチル－ｓ－トリアジン、２，４－ジアミノ－６－［２'－ウンデシルイミダゾリル（１'）］－エチル－ｓ－トリアジン、２，４－ジアミノ－６－［２'－エチル－４－メチルイミダゾリル（１'）］－エチル－ｓ－トリアジン、２，４－ジアミノ－６－［２'－メチルイミダゾリル（１'）］－エチル－ｓ－トリアジンのイソシアヌル酸付加物、２－フェニルイミダゾールのイソシアヌル酸付加物、２－メチルイミダゾールのイソシアヌル酸付加物、２－フェニル－４，５－ジヒドロキシジメチルイミダゾール、２－フェニル－４－メチル－５－ヒドロキシメチルイミダゾールなどのイミダゾール化合物が挙げられる。
　これらの硬化促進剤の中でも、硬化性樹脂組成物の硬化が完了する前に半田又は錫が端子の表面に移動することができるという観点から、融点が１５０℃以上のイミダゾール化合物が好ましい。融点が１５０℃以上のイミダゾール化合物としては、２－フェニルイミダゾール、２－フェニル－４－メチルイミダゾール、１－シアノエチル－２－フェニルイミダゾール、２，４－ジアミノ－６－［２'－メチルイミダゾリル（１'）］－エチル－ｓ－トリアジン、２，４－ジアミノ－６－［２'－ウンデシルイミダゾリル（１'）］－エチル－ｓ－トリアジン、２，４－ジアミノ－６－［２'－エチル－４－メチルイミダゾリル（１'）］－エチル－ｓ－トリアジン、２，４－ジアミノ－６－［２'－メチルイミダゾリル（１'）］－エチル－ｓ－トリアジンのイソシアヌル酸付加物、２－フェニルイミダゾールのイソシアヌル酸付加物、２－フェニル－４，５－ジヒドロキシジメチルイミダゾール、２－フェニル－４－メチル－５－ヒドロキシメチルイミダゾールなどが挙げられる。硬化促進剤は１種単独で用いても、２種以上を併用してもよい。
　硬化促進剤の含有量は、使用する硬化促進剤の種類に応じて適宜設定することができる。
　例えば、イミダゾール化合物を使用する場合には、イミダゾール化合物の含有量は、硬化性樹脂組成物の全重量に対して、０．００１重量％以上が好ましく、０．００３重量％以上がより好ましく、０．００５重量％以上が特に好ましい。また、１．０重量％以下が好ましく、０．７重量％以下がより好ましく、０．５重量％以下が特に好ましい。イミダゾール化合物の含有量が前記下限未満になると硬化促進剤としての作用が十分に発揮されず、硬化性樹脂組成物を十分に硬化できない場合がある。他方、イミダゾール化合物の含有量が前記上限を超えると、硬化性樹脂組成物の硬化が完了する前に半田又は錫が端子表面に十分に移動せず、絶縁性領域に半田又は錫が残り絶縁性が十分に確保できない場合がある。また、導電接続材料の保存安定性が低下する場合がある。
　（v）フラックス機能を有する化合物
　本発明で用いるフラックス機能を有する化合物は、端子及び金属箔の表面酸化膜など金属酸化膜を還元する作用を有するものである。例えば、フラックス機能を有する化合物としては、フェノール性水酸基及び／又はカルボキシル基を有する化合物が好ましい。フェノール性水酸基を有する化合物としては、例えば、フェノール、ｏ－クレゾール、２，６－キシレノール、ｐ－クレゾール、ｍ－クレゾール、ｏ－エチルフェノール、２，４－キシレノール、２，５－キシレノール、ｍ－エチルフェノール、２，３－キシレノール、メシトール、３，５－キシレノール、ｐ－ｔｅｒｔ－ブチルフェノール、カテコール、ｐ－ｔｅｒｔ－アミルフェノール、レゾルシノール、ｐ－オクチルフェノール、ｐ－フェニルフェノール、ビスフェノールＦ、ビスフェノールＡＦ、ビフェノール、ジアリルビスフェノールＦ、ジアリルビスフェノールＡ、トリスフェノール、テトラキスフェノールなどのフェノール性水酸基を含有するモノマー類、フェノールノボラック樹脂、ｏ－クレゾールノボラック樹脂、ビスフェノールＦノボラック樹脂、ビスフェノールＡノボラック樹脂などのフェノール性水酸基を含有する樹脂が挙げられる。
　カルボキシル基を有する化合物としては、例えば、脂肪族酸無水物、脂環式酸無水物、芳香族酸無水物、脂肪族カルボン酸、芳香族カルボン酸などが挙げられる。前記脂肪族酸無水物としては、無水コハク酸、ポリアジピン酸無水物、ポリアゼライン酸無水物、ポリセバシン酸無水物などが挙げられる。前記脂環式酸無水物としては、メチルテトラヒドロ無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、無水メチルハイミック酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、トリアルキルテトラヒドロ無水フタル酸、メチルシクロヘキセンジカルボン酸無水物などが挙げられる。前記芳香族酸無水物としては、無水フタル酸、無水トリメリット酸、無水ピロメリット酸、ベンゾフェノンテトラカルボン酸無水物、エチレングリコールビストリメリテート、グリセロールトリストリメリテートなどが挙げられる。
　前記脂肪族カルボン酸としては、蟻酸、酢酸、プロピオン酸、酪酸、吉草酸、ピバル酸、カプロン酸、カプリル酸、ラウリン酸、ミリスチン酸、パルミチン酸、ステアリン酸、アクリル酸、メタクリル酸、クロトン酸、オレイン酸、フマル酸、マレイン酸、シュウ酸、マロン酸、琥珀酸、グルタル酸、アジピン酸、セバシン酸、ドデカンジオン酸、ピメリン酸などが挙げられる。中でも、下記式（１）：
　　　ＨＯＯＣ－（ＣＨ2）n－ＣＯＯＨ　　　（１）
（式（１）中、ｎは１～２０の整数である。）
で表される脂肪族カルボン酸が好ましく、アジピン酸、セバシン酸、ドデカンジオン酸がより好ましい。
　芳香族カルボン酸の構造は特に制限されないが、下記式（２）又は（３）で表される化合物が好ましい。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000005
 ［式中、Ｒ1～Ｒ5は、それぞれ独立して、１価の有機基であり、Ｒ1～Ｒ5の少なくとも一つは水酸基である。］
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000006
 ［式中、Ｒ6～Ｒ20は、それぞれ独立して、１価の有機基であり、Ｒ6～Ｒ20の少なくとも一つは水酸基又はカルボキシル基である。］
　芳香族カルボン酸としては、安息香酸、フタル酸、イソフタル酸、テレフタル酸、ヘミメリット酸、トリメリット酸、トリメシン酸、メロファン酸、プレーニト酸、ピロメリット酸、メリット酸、キシリル酸、ヘメリト酸、メシチレン酸、プレーニチル酸、トルイル酸、ケイ皮酸、サリチル酸、２，３－ジヒドロキシ安息香酸、２，４－ジヒドロキシ安息香酸、ゲンチジン酸（２，５－ジヒドロキシ安息香酸）、２，６－ジヒドロキシ安息香酸、３，５－ジヒドロキシ安息香酸、没食子酸（３，４，５－トリヒドロキシ安息香酸）などの安息香酸誘導体；４－ジヒドロキシ－２－ナフトエ酸、３，５－ジヒドロキシ－２－ナフトエ酸、３，５－ジヒドロキシ－２－ナフトエ酸などのナフトエ酸誘導体；フェノールフタリン；ジフェノール酸などが挙げられる。
　これらの中でも、本発明では、フラックス機能を有するだけでなく、硬化性樹脂の硬化剤として作用する化合物であることが好ましい。すなわち、本発明で用いるフラックス機能を有する化合物としては、金属箔及び端子などの金属の表面酸化膜を還元する作用を示し、且つ、硬化性樹脂と反応可能な官能基を有する化合物を用いることが好ましい。該官能基は、硬化性樹脂の種類によって適宜選択する。例えば、硬化性樹脂としてエポキシ樹脂を用いる場合、該官能基は、カルボキシル基、水酸基及びアミノ基などのエポキシ基と反応可能な官能基が好ましい。フラックス機能を有する化合物が硬化剤としても作用することで、金属箔及び端子などの金属の表面酸化膜を還元して金属表面の濡れ性を高め、導電性領域の形成を容易にすると共に、導電性領域を形成した後は、硬化性樹脂に付加して樹脂の弾性率又はＴｇを高めることができる。また、フラックス機能を有する化合物が硬化剤として作用することで、フラックス洗浄が不要となり、フラックス成分が残存することによるイオンマイグレーションの発生を抑制することができるといった利点がある。
　このようなフラックス機能を有する化合物としては、カルボキシル基を少なくとも１つ有していることが好ましい。例えば、硬化性樹脂としてエポキシ樹脂を用いる場合、該化合物としては、脂肪族ジカルボン酸又はカルボキシル基とフェノール性水酸基とを有する化合物などが挙げられる。
　脂肪族ジカルボン酸としては、脂肪族炭化水素基にカルボキシル基が２個結合した化合物が好ましく挙げられる。脂肪族炭化水素基は、飽和又は不飽和の非環式であってもよいし、飽和又は不飽和の環式であってもよい。また、脂肪族炭化水素基が非環式の場合には直鎖状でも分岐状でもよい。
　このような脂肪族ジカルボン酸としては、前記式（１）においてｎが１～２０の整数である化合物が好ましく挙げられる。前記式（１）中のｎが上記範囲内であると、フラックス活性、接着時のアウトガス、導電接続材料が硬化した後の弾性率及びガラス転移温度のバランスが良好なものとなる。特に、導電接続材料の硬化後の弾性率の増加を抑制し、被接着物との接着性を向上させることができることから、ｎは３以上が好ましい。また、弾性率の低下を抑制し、接続信頼性をさらに向上させることができることから、ｎは１０以下が好ましい。
　前記式（１）で示される脂肪族ジカルボン酸としては、グルタル酸、アジピン酸、ピメリン酸、スベリン酸、アゼライン酸、セバシン酸、ウンデカン二酸、ドデカン二酸、トリデカン二酸、テトラデカン二酸、ペンタデカン二酸、オクタデカン二酸、ノナデカン二酸、エイコサン二酸などが挙げられる。中でも、アジピン酸、スベリン酸、セバシン酸、ドデンカン二酸が好ましく、セバシン酸が特に好ましい。
　前記カルボキシル基とフェノール性水酸基とを有する化合物としては、サリチル酸、２，３－ジヒドロキシ安息香酸、２，４－ジヒドロキシ安息香酸、ゲンチジン酸（２，５－ジヒドロキシ安息香酸）、２，６－ジヒドロキシ安息香酸、３，４－ジヒドロキシ安息香酸、没食子酸（３，４，５－トリヒドロキシ安息香酸）などの安息香酸誘導体；１，４－ジヒドロキシ－２－ナフトエ酸、３，５－ジヒドロキシ－２－ナフトエ酸などのナフトエ酸誘導体；フェノールフタリン；ジフェノール酸などが挙げられる。中でも、フェノールフタリン、ゲンチジン酸、２，４－ジヒドロキシ安息香酸、２，６－ジヒドロキシ安息香酸が好ましく、フェノールフタリン、ゲンチジン酸が特に好ましい。
　フラックス機能を有する化合物は、１種単独で用いても２種以上を併用してもよい。また、いずれの化合物も吸湿しやすく、ボイド発生の原因となるため、フラックス機能を有する化合物を使用前に予め乾燥させておくことが好ましい。
　フラックス機能を有する化合物の含有量は、使用する樹脂組成物の形態に応じて適宜設定することができる。
　例えば、樹脂組成物が液状の場合、フラックス機能を有する化合物の含有量は、硬化性樹脂組成物の全重量に対して、１重量％以上が好ましく、２重量％以上がより好ましく、３重量％以上が特に好ましい。また、５０重量％以下が好ましく、４０重量％以下がより好ましく、３０重量％以下がさらに好ましく、２５重量％以下が特に好ましい。
　固形状の樹脂組成物の場合には、フラックス機能を有する化合物の含有量は、硬化性樹脂組成物の全重量に対して、１重量％以上が好ましく、２重量％以上がより好ましく、３重量％以上が特に好ましい。また、５０重量％以下が好ましく、４０重量％以下がより好ましく、３０重量％以下がさらに好ましく、２５重量％以下が特に好ましい。
　フラックス機能を有する化合物の含有量が上記範囲内であると、金属箔及び端子の表面酸化膜を電気的に接合できる程度に除去することができる。さらに、樹脂組成物が硬化性樹脂の場合、硬化時に、樹脂に効率よく付加して樹脂の弾性率又はＴｇを高めることができる。また、未反応のフラックス機能を有する化合物に起因するイオンマイグレーションの発生を抑制することができる。
　（vi）シランカップリング剤
　本発明で用いるシランカップリング剤としては、エポキシシランカップリング剤、芳香族含有アミノシランカップリング剤などが挙げられる。シランカップリング剤を添加することにより、接合部材と導電接続材料との密着性を高めることができる。シランカップリング剤は１種単独で用いてもよいし、２種以上を併用してもよい。
　シランカップリング剤の含有量は、接合部材や硬化性樹脂などの種類に応じて適宜選択することができる。例えば、シランカップリング剤の含有量は、硬化性樹脂組成物の全重量に対して、０．０１重量％以上が好ましく、０．０５重量％以上がより好ましく、０．１重量％以上が特に好ましく、また、２重量％以下が好ましく、１．５重量％以下がより好ましく、１重量％以下が特に好ましい。
　本発明で用いる硬化性樹脂組成物には、本発明の効果を損ねない範囲で、可塑剤、安定剤、粘着付与剤、滑剤、酸化防止剤、無機フィラー、充填剤、帯電防止剤及び顔料などを配合してもよい。
　本発明において、前記硬化性樹脂組成物は、上記各成分を混合・分散させることによって調製することができる。各成分の混合方法や分散方法は特に限定されず、従来公知の方法で混合、分散させることができる。
　また、本発明においては、前記各成分を溶媒中で又は無溶媒下で混合して液状の硬化性樹脂組成物を調製してもよい。このとき用いられる溶媒としては、各成分に対して不活性なものであれば特に限定はないが、例えば、アセトン、メチルエチルケトン（ＭＥＫ）、メチルイソブチルケトン（ＭＩＢＫ）、ジイソブチルケトン（ＤＩＢＫ）、シクロヘキサノン、ジアセトンアルコール（ＤＡＡ）などのケトン類；ベンゼン、キシレン、トルエンなどの芳香族炭化水素類、メチルアルコール、エチルアルコール、イソプロピルアルコール、ｎ－ブチルアルコールなどのアルコール類、メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、メチルセロソルブアセテート、エチルセロソルブアセテートなどのセロソルブ類、Ｎ－メチル－２－ピロリドン（ＮＭＰ）、テトラヒドロフラン（ＴＨＦ）、ジメチルホルムアミド（ＤＭＦ）、ニ塩基酸エステル（ＤＢＥ）、３－エトキシプロピオン酸エチル（ＥＥＰ）、ジメチルカーボネート（ＤＭＣ）などが挙げられる。また、溶媒の使用量は、溶媒に混合した成分の固形分濃度が１０～６０重量％となる量であることが好ましい。
　（ｂ）熱可塑性樹脂組成物
　本発明においては、樹脂組成物として熱可塑性樹脂組成物を用いることもできる。
　本発明で用いる熱可塑性樹脂組成物は、熱可塑性樹脂のほか、必要に応じて、フラックス機能を有する化合物、シランカップリング剤などが含まれる。
　（i）熱可塑性樹脂
　本発明で用いる熱可塑性樹脂としては、例えば、酢酸ビニル系、ポリビニルアルコール樹脂、ポリビニルブチラール樹脂、塩化ビニル樹脂、（メタ）アクリル樹脂、フェノキシ樹脂、ポリエステル樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、シロキサン変性ポリイミド樹脂、ポリブタジエン樹脂、アクリル樹脂、スチレン樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリアミド樹脂、セルロース樹脂、イソブチレン樹脂、ビニルエーテル樹脂、液晶ポリマー樹脂、ポリフェニレンスルフィド樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリエーテルサルフォン樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、ポリウレタン樹脂、スチレン－ブタジエン－スチレン共重合体、スチレン－エチレン－ブチレン－スチレン共重合体、ポリアセタール樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、ブチルゴム、クロロプレンゴム、アクリロニトリル－ブタジエン共重合体、アクリロニトリル－ブタジエン－アクリル酸共重合体、アクリロニトリル－ブタジエン－スチレン共重合体、ポリ酢酸ビニル等が挙げられる。熱可塑性樹脂は、単一の重合体でもよく、上記熱可塑樹脂の２種以上の共重合体でもよい。
　熱可塑性樹脂の軟化点は、特に制限されないが、導電接続材料を構成する前記金属箔の融点より１０℃以上低いことが好ましく、２０℃以上低いことが特に好ましく、３０℃以上低いことがより好ましい。
　また、熱可塑性樹脂の分解温度は、特に制限されないが、導電接続材料を構成する金属箔の融点よりも１０℃以上高いことが好ましく、２０℃以上高いことが特に好ましく、３０℃以上高いことがより好ましい。
　熱可塑性樹脂の含有量は使用する熱可塑性樹脂組成物の形態に応じて適宜設定することができる。
　例えば、熱可塑性樹脂組成物が液状の場合、熱可塑性樹脂の含有量は、熱可塑性樹脂組成物の全重量に対して、１０重量％以上が好ましく、１５重量％以上がより好ましく、２０重量％以上がさらに好ましく、２５重量％以上がさらにより好ましく、３０重量％以上がなお好ましく、３５重量％以上が特に好ましい。また、１００重量％以下が好ましく、９５重量％以下がより好ましく、９０重量％以下がさらに好ましく、７５重量％以下がさらにより好ましく、６５重量％以下がなお好ましく、５５重量％以下が特に好ましい。
　熱可塑性樹脂組成物が固形状の場合は、熱可塑性樹脂の含有量は、熱可塑性樹脂組成物の全重量に対して、５重量％以上が好ましく、１０重量％以上がより好ましく、１５重量％以上がさらに好ましく、２０重量％以上が特に好ましい。また、９０重量％以下が好ましく、８５重量％以下がより好ましく、８０重量％以下がさらに好ましく、７５重量％以下がさらにより好ましく、６５重量％以下がなお好ましく、５５重量％以下が特に好ましい。
　熱可塑性樹脂の含有量が上記の範囲内であると端子間の電気的接続強度及び機械的接着強度を十分に確保することができる。
　（ii）その他の添加剤
　本発明の熱可塑性樹脂組成物で用いるフラックス機能を有する化合物、シランカップリング剤、その他の添加剤は、前記「（ａ）硬化性樹脂組成物」において説明したものと同じものを用いることができる。各成分の含有量、好ましい化合物及び調製方法も硬化性樹脂組成物で説明したものと同様である。
　本発明では、樹脂組成物として硬化性樹脂組成物を用いることが好ましい。中でも、樹脂組成物の全重量に対して、エポキシ樹脂１０～９０重量％、硬化剤０．１～５０重量％、フィルム形成性樹脂５～５０重量％及びフラックス機能を有する化合物１～５０重量％を含むものがより好ましい。また、樹脂組成物の全重量に対して、エポキシ樹脂２０～８０重量％、硬化剤０．２～４０重量％、フィルム形成性樹脂１０～４５重量％及びフラックス機能を有する化合物２～４０重量％を含むものがさらに好ましい。また、樹脂組成物の全重量に対して、エポキシ樹脂３５～５５重量％、硬化剤０．５～３０重量％、フィルム形成性樹脂１５～４０重量％及びフラックス機能を有する化合物３～２５重量％を含むものが特に好ましい。
　本発明の導電接続材料における樹脂組成物の含有量は、樹脂組成物の形態に応じて適宜設定することができる。
　例えば、樹脂組成物が液状の場合、樹脂組成物の含有量は、導電接続材料の全重量に対して、１０重量％以上が好ましく、２０重量％以上がより好ましく、２５重量％以上が特に好ましい。また、９５重量％以下が好ましく、８０重量％以下がより好ましく、７５重量％以下が特に好ましい。
　樹脂組成物が固形状の場合、樹脂組成物の含有量は、導電接続材料の全重量に対して、１０重量％以上が好ましく、１５重量％以上がより好ましく、２０重量％以上が特に好ましい。また、９５重量％以下が好ましく、８０重量％以下がより好ましく、７５重量％以下が特に好ましい。
　本発明の導電接続材料において樹脂組成物層の各々の厚みは、特に制限されないが、１μｍ以上が好ましく、３μｍ以上がより好ましく、５μｍ以上が特に好ましい。また、樹脂組成物層の厚みは、２００μｍ以下が好ましく、１５０μｍ以下がより好ましく、１００μｍ以下が特に好ましい。樹脂組成物層の厚みが前記範囲内にあると、隣接する端子間の間隙に樹脂組成物を十分に充填することができ、樹脂組成物の硬化後、固化後の機械的接着強度及び対向する端子間の電気的接続を十分に確保することができ、接続端子の製造も可能にすることができる。
　本発明の導電接続材料が樹脂組成物層を複数含む場合、各樹脂組成物層の組成は同一でもよいし、用いる樹脂成分の種類や配合処方の違いなどにより異なっていてもよい。樹脂組成物層の溶融粘度や軟化温度などの物性も同一でもよいし異なっていてもよい。例えば液状の樹脂組成物層と固形状の樹脂組成物層とを組み合わせて用いてもよい。
（２）金属箔
　本発明において金属箔層は、半田箔又は錫箔から選ばれる金属箔で構成される層である。金属箔層は平面視で樹脂組成物層の少なくとも一部に形成されていればよく、樹脂組成物層の全面に形成されていてもよい。
　金属箔層の形状は特に制限されなく、一定の形状が繰り返しパターン状に形成されていてもよいし、形状が不規則であってもよい。規則的な形状と不規則な形状とが混在していてもよい。図１は、金属箔層の形状の一例を示す平面模式図である。樹脂組成物層１２０の上に様々な形状をもつ金属箔層１１０が形成されている。金属箔層の形状としては、例えば、図１に示されるような点線の抜き模様状（ａ）、縞模様状（ｂ）、水玉模様状（ｃ）、矩形模様状（ｄ）、チェッカー模様状（ｅ）、額縁状（ｆ）、格子模様状（ｇ）又は多重の額縁状（ｈ）などが挙げられる。これらの形状は一例であり、目的や用途に応じてこれらの形状を組み合わせたり、変形させて用いることができる。
　本発明の一実施態様において、接続しようとする電極が被着体の接続面全体に配置されているようなフルグリッド型の被着体を接続する場合、樹脂組成物の全面にシート状の金属箔を形成することが好ましい。
　また、接続しようとする電極が被着体の接続面の周辺部に配置されるようなペリフェラル型の被着体を接続する場合、金属箔を有効に利用する観点、及び、隣接する電極間に金属箔を残存させないという観点から、樹脂組成物の少なくとも一部に繰り返しパターン状の金属箔を形成することが好ましい。このとき、金属箔の形状は電極のピッチや形態等によって適宜選択することができる。
　本発明に使用する金属箔は、特に制限はないが、錫（Ｓｎ）、鉛（Ｐｂ）、銀（Ａｇ）、ビスマス（Ｂｉ）、インジウム（Ｉｎ）、亜鉛（Ｚｎ）、ニッケル（Ｎｉ）、アンチモン（Ｓｂ）、鉄（Ｆｅ）、アルミニウム（Ａｌ）、金（Ａｕ）、ゲルマニウム（Ｇｅ）及び銅（Ｃｕ）からなる群から選択される少なくとも２種以上の金属の合金、又は錫単体からなることが好ましい。
　これらのうち、溶融温度及び機械的物性を考慮すると、金属箔は、Ｓｎ－Ｐｂの合金、鉛フリー半田であるＳｎ－Ｂｉの合金、Ｓｎ－Ａｇ－Ｃｕの合金、Ｓｎ－Ｉｎの合金、Ｓｎ－Ａｇの合金などのＳｎを含む合金からなる半田箔がより好ましい。Ｓｎ－Ｐｂの合金を用いる場合、錫の含有率は、３０重量％以上１００重量％未満が好ましく、３５重量％以上１００重量％未満がより好ましく、４０重量％以上１００重量％未満が好ましい。また、鉛フリー半田の場合の錫の含有率は、１５重量％以上１００重量％未満が好ましく、２０重量％以上１００重量％未満がより好ましく、２５重量％以上１００重量％未満が特に好ましい。例えば、Ｓｎ－Ｐｂの合金としては、Ｓｎ６３－Ｐｂ（融点１８３℃）、鉛フリー半田としては、Ｓｎ－３．０Ａｇ－０．５Ｃｕ（融点２１７℃）、Ｓｎ－３．５Ａｇ（融点２２１℃）、Ｓｎ－５８Ｂｉ（融点１３９℃）、Ｓｎ－９．０Ｚｎ（融点１９９℃）、Ｓｎ－３．５Ａｇ－０．５Ｂｉ－３．０Ｉｎ（融点１９３℃）、Ａｕ－２０Ｓｎ（融点２８０℃）、等が好ましく挙げられる。
　金属箔は、接続しようとする電子部材や半導体装置の耐熱性に応じて適宜選択すればよい。例えば、半導体装置における端子間接続においては、半導体装置の部材が熱履歴により損傷するのを防止するため、融点が３３０℃以下（より好ましくは３００℃以下、特に好ましくは２８０℃以下、さらに好ましくは２６０℃以下）である金属箔を用いることが好ましい。また、端子間接続後の半導体装置の耐熱性を確保するためには、融点が１００℃以上（より好ましくは１１０℃以上、特に好ましくは１２０℃以上）である金属箔を用いることが好ましい。なお、金属箔の融点は、示差走査熱量計（ＤＳＣ）により測定することができる。
　金属箔の厚みは、対向する端子間のギャップ、隣接する端子間の離隔距離などに応じて適宜選択することができる。例えば、半導体装置における半導体チップ、基板、半導体ウエハなどの各接続端子間の接続の場合、金属箔の厚みは、０．５μｍ以上が好ましく、３μｍ以上がより好ましく、５μｍ以上が特に好ましく、また、１００μｍ以下が好ましく、５０μｍ以下がより好ましく、２０μｍ以下が特に好ましい。金属箔の厚みが前記下限未満になると半田又は錫不足により未接続の端子が増加する傾向にあり、他方、前記上限を超えると半田又は錫余剰により隣接端子間でブリッジを起こし、ショートしやすくなる傾向にある。
　金属箔の作製方法としては、例えば、インゴットなどの塊から圧延により作製する方法、樹脂組成物層へ直接蒸着、スパッタ、めっきなどにより金属箔層を形成する方法が挙げられる。また、繰り返しパターン状の金属箔の作製方法としては、例えば、金属箔を所定のパターンに打抜く方法、エッチングなどにより所定のパターンを形成する方法、また、遮蔽板やマスクなどを使用することにより蒸着、スパッタ、めっきなどで形成する方法が挙げられる。
　金属箔の含有量は、導電接続材料の全重量に対して、５重量％以上が好ましく、２０重量％以上がより好ましく、３０重量％以上が特に好ましい。また、１００重量％未満が好ましく、８０重量％以下がより好ましく、７０重量％以下が特に好ましい。金属箔の含有量が上記下限未満になると半田又は錫不足により未接続の端子が増加する場合がある。他方、金属箔の含有量が上記上限を超えると半田又は錫余剰により隣接端子間でブリッジを起こしやすくなる。
　あるいは、金属箔の含有量を導電接続材料に対する体積比率で定義してもよい。例えば、金属箔の含有量は、導電接続材料に対して１体積％以上が好ましく、５体積％以上がより好ましく、１０体積％以上が特に好ましい。また、９０体積％以下が好ましく、８０体積％以下がより好ましく、７０体積％以下が特に好ましい。金属箔の含有量が上記下限未満になると半田又は錫不足により未接続の端子が増加する場合がある。他方、金属箔の含有量が上記上限を超えると半田又は錫余剰により隣接端子間でブリッジを起こしやすくなる。
　本発明において導電接続材料の形態は、樹脂組成物の形態などに応じて適宜選択することができる。例えば、樹脂組成物が液状の場合は、金属箔の両面に樹脂組成物を塗布したもの、ポリエステルシート等の剥離基材上に樹脂組成物を塗布し、所定温度で半硬化（Ｂステージ化）等の目的で乾燥、製膜させた後に金属箔を張り合わせてフィルム状にしたもの等を導電接続材料として供することができる。樹脂組成物が固形状の場合は、有機溶剤に溶解した樹脂組成物のワニスをポリエステルシート等の剥離基材上に塗布し、所定の温度で乾燥させた後に金属箔を張り合わせ、又は、蒸着などの手法を使いフィルム状に形成したものを導電接続材料として供することができる。
　また、本発明の導電接続材料及びこれに用いられる金属箔は、端子との接触を高めるためにエンボス加工を施したものを用いることもできる。
　本発明の導電接続材料の厚みは、特に制限されないが、１μｍ以上が好ましく、３μｍ以上がより好ましく、５μｍ以上が特に好ましく、また、２００μｍ以下が好ましく、１５０μｍ以下がより好ましく、１００μｍ以下が特に好ましい。導電接続材料の厚みが前記範囲内にあると隣接する端子間の間隙に樹脂組成物を十分に充填することができる。また、樹脂成分の硬化後又は固化後の機械的接着強度及び対向する端子間の電気的接続を十分に確保することができる。また、目的や用途に応じた接続端子の製造も可能にすることができる。
　次に、導電接続材料の製造方法について説明する。
　本発明で用いる樹脂組成物が２５℃で液状の場合、例えば、金属箔を液状の樹脂組成物に浸漬させ、金属箔の両面に液状の樹脂組成物を付着させて、本発明の導電接続材料を製造することができる。樹脂組成物の厚み制御が必要な場合は、液状の樹脂組成物に浸漬させた金属箔を一定の間隙を有するバーコーターを通過させる方法や液状の樹脂組成物をスプレーコーター等により吹き付ける方法により作製することができる。
　また、本発明で用いる樹脂組成物が２５℃でフィルム状の場合は、例えば、次のようにして導電接続材料を製造することができる。まず、有機溶剤に溶解した樹脂組成物のワニスをポリエステルシート等の剥離基材上に塗布し、所定の温度で乾燥させ製膜させてフィルム状の樹脂組成物を作製する。次に、剥離基材上に製膜させた樹脂組成物を２枚準備し金属箔を挟んで熱ロールでラミネートすることで、金属箔の上下に樹脂組成物を配置した時樹脂組成物／金属箔／樹脂組成物からなる３層の導電接続材料を作製することができる。また、上述のラミネート方式により、金属箔の片面に樹脂組成物を配置することで樹脂組成物／金属箔からなる２層の導電接続材料を作製することができる。
　また、巻重状の金属箔を使用する場合は、金属箔をベース基材として、金属箔の上下又は片側に前記フィルム状の樹脂組成物を熱ロールでラミネートすることで、巻重状の導電接続材料を得ることもできる。さらに、巻重状の金属箔を使用する場合、金属箔の上下又は片側に、ワニス状の樹脂組成物を直接塗布し、溶剤を揮散させることにより巻重状の導電接続材料を作製することができる。
　パターン状の金属箔を使用して導電接続材料を作製する場合、剥離基材上に金属箔を配置し、金属箔側から金型で金属箔をハーフカットし、余分な金属箔を除去することによりパターン状の金属箔を作製し、前記フィルム状の樹脂組成物を熱ロールでラミネートすればよい。パターン状の金属箔の両面に樹脂組成物を設ける場合は、前記剥離基材を剥がし、樹脂組成物が形成された面とは反対側のパターン状の金属箔の面に、フィルム状の樹脂組成物をさらにラミネートすればよい。
　なお、導電接続材料の製造方法は上記方法に制限されない。導電接続材料の製造方法は、目的や用途に応じて当業者が適宜選択することができる。
　２．端子間の接続方法
　次に、本発明の端子間の接続方法について説明する。
　本発明の接続方法は前記導電接続材料を用いて端子間を接続する方法にかかるものであり、導電接続材料を対向する端子間に配置する配置工程と、前記導電接続材料を加熱する加熱工程と、前記樹脂組成物を硬化又は固化させる硬化／固化工程とを含む。本発明の接続方法は、例えば、半導体ウエハ、半導体チップ、リジッド基板、フレキシブル基板、その他の電気、電子部品に形成されている端子同士を接続する際などに用いることができる。
　本発明の接続方法は、前記導電接続材料の樹脂組成物が硬化性樹脂組成物である場合と、熱可塑性樹脂組成物である場合とで接続方法の工程が若干異なる。以下、前記導電接続材料の樹脂組成物が硬化性樹脂組成物である場合を第１実施態様とし、熱可塑性樹脂組成物である場合を第２実施態様として、それぞれの態様ごとに説明する。
（１）第１実施態様
　本発明の第１実施態様の端子間の接続方法は、前記硬化性樹脂組成物と金属箔とを含む導電接続材料を対向する端子間に配置する配置工程と、前記金属箔の融点以上であり、且つ、前記硬化性樹脂組成物の硬化が完了しない温度で前記導電接続材料を加熱する加熱工程と、前記硬化性樹脂組成物を硬化させる硬化工程と、を含む。
　この接続方法では、加熱溶融した半田又は錫を選択的に端子間で凝集させて導電性領域を形成し、その周囲に硬化性樹脂組成物による絶縁性領域を形成することができる。その結果、隣接する端子間の絶縁性を確保してリーク電流を防ぐことができるので、端子間の接続の接続信頼性を高めることができる。また、微細な配線回路においても多数の端子間の電気的接続を一括で実施することが可能となる。さらに硬化性樹脂組成物を硬化させることによって導電性領域又は絶縁性領域の機械的強度を高めることができる。
　以下、図面を参照しながら、本発明の第１実施態様の端子間の接続方法の好適な実施形態について詳細に説明するが、本発明の接続方法はこれらの図面に限定されるものではない。
　（ａ）配置工程
　先ず、図２に示すように、端子１１が設けられた基板１０と端子２１が設けられた基板２０とを、端子１１と端子２１とが対向するように位置あわせし、これらの端子間に、金属箔１１０と金属箔１１０の両面に設けられた硬化性樹脂組成物１２０とからなる導電接続材料３０を配置する。この時、導電接続材料３０はロールラミネータ又はプレス等の装置を使用し、図４に示すように、あらかじめ基板１０又は基板２０の片側、あるいは、基板１０及び基板２０の双方に熱圧着されていてもよい。また、前記端子１１及び２１の表面は、電気的な接続を良好にするために、必要により、洗浄、研磨、めっき及び表面活性化などの処理を施してもよい。
　（ｂ）加熱工程
　加熱工程では、前記配置工程において端子間に配置した導電接続材料を、金属箔の融点以上で加熱する。加熱温度は、金属箔の融点以上であればよく、例えば加熱時間を短くするなど、加熱時間を調整することによって、半田又は錫が硬化性樹脂中を移動できる範囲すなわち「硬化性樹脂組成物の硬化が完了しない」範囲であれば、その上限は特に制限されない。加熱温度は、金属箔の融点より５℃以上高い温度が好ましく、１０℃以上高い温度がより好ましく、２０℃以上高い温度がさらに好ましく、３０℃以上高い温度が特に好ましい。
　加熱温度は、使用する金属箔及び硬化性樹脂組成物の組成などによって適宜選択することができるが、１・BR>O０℃以上が好ましく、１３０℃以上がより好ましく、１４０℃以上が特に好ましく、１５０℃以上が最も好ましい。接続しようとする基板などの熱劣化を防止するためには、加熱温度は２６０℃以下が好ましく、２５０℃以下がより好ましく、２４０℃以下が特に好ましい。
　このような温度で前記導電接続材料を加熱すると、金属箔１１０が溶融し、溶融した半田又は錫が硬化性樹脂組成物１２０中を移動できるようになる。硬化性樹脂組成物がフラックス機能を有する化合物を含む場合、硬化性樹脂組成物に含まれるフラックス機能を有する化合物の還元作用により、半田又は錫の表面酸化膜が除去されるため、半田又は錫は濡れ性が高められた状態であり、金属結合が促されて対向する端子間に凝集しやすくなる。他方、フラックス機能を有する化合物の還元作用により端子１１及び２１の表面酸化膜も除去されて濡れ性が高められているため、半田又は錫との金属結合が容易になる。その結果、図３に示すように、前記端子間には導電性領域１３０が形成され、端子１１と端子２１とが電気的に接続される。他方、導電性領域の周囲には硬化性樹脂組成物が充填されて絶縁性領域１４０が形成される。その結果、隣接する端子間の絶縁性が確保され、隣接する端子間のショートを防止することが可能となる。
　本発明の接続方法においては、対向する端子間の距離を近づけるように加圧して加熱してもよい。例えば、図２中の基板１０及び２０が対向する方向に公知の熱圧着装置などの手段を用いて加熱及び加圧することにより、対向する各端子間の距離を一定に制御することができ、対向する端子間の電気的な接続信頼性を高めることが可能となる。
　さらに、加圧又は加熱する際に超音波や電場などを加えたり、レーザーや電磁誘導などの特殊加熱を適用してもよい。
　（ｃ）硬化工程
　本発明の接続方法においては、前記加熱工程で導電性領域１３０と絶縁性領域１４０とを形成した後、硬化性樹脂組成物を硬化させて絶縁性領域１４０を固定する。これにより、前記端子間の電気的信頼性及び機械的接続強度を十分に確保することができる。特に本発明の接続方法においては、高絶縁抵抗値を有する硬化性樹脂組成物を使用しているため、絶縁性領域の絶縁性をより十分に確保することができる。
　硬化性樹脂組成物の硬化は、導電接続材料を加熱することなどによって実施することができる。導電接続材料の硬化温度は、硬化性樹脂組成物の組成に応じて適宜設定することができるが、前記加熱工程での加熱温度より少なくとも５℃低い温度であることが好ましく、少なくとも１０℃低い温度であることが特に好ましい。具体的には、１００℃以上であることが好ましく、１２０℃以上であることがより好ましく、１３０℃以上であることが特に好ましく、１５０℃以上であることが最も好ましい。また、３００℃以下であることが好ましく、２６０℃以下であることがより好ましく、２５０℃以下であることが特に好ましく、２４０℃以下であることが最も好ましい。硬化温度が前記範囲内にあると、導電接続材料が熱分解せず、硬化性樹脂組成物を十分に硬化させることができる。
（２）第２実施態様
　次に、本発明の第２実施態様の端子間の接続方法について説明する。本発明の第２実施態様の端子間の接続方法は、前記熱可塑性樹脂組成物と金属箔とを含む導電接続材料を対向する端子間に配置する配置工程と、前記金属箔の融点以上であり、且つ、前記熱可塑性樹脂組成物が軟化する温度で前記導電接続材料を加熱する加熱工程と、前記熱可塑性樹脂組成物を固化させる固化工程と、を含む。以下、各工程について説明する。
　（ａ）配置工程
　熱可塑性樹脂組成物と金属箔とを含む導電接続材料を使用した場合も、前記硬化性樹脂組成物と金属箔とを含む導電接続材料を使用した場合と同様に導電接続材料を配置することができる。
　（ｂ）加熱工程
　加熱工程は、特に制限されないが、前記配置工程において端子間に配置した導電接続材料を、金属箔の融点以上で加熱する。加熱温度は、金属箔の融点より５℃以上高い温度が好ましく、１０℃以上高い温度がより好ましく、２０℃以上高い温度がさらに好ましく、３０℃以上高い温度が特に好ましい。加熱温度は、金属箔の融点以上であり、熱可塑性樹脂組成物が軟化して半田又は錫が熱可塑性樹脂中を移動できる範囲すなわち「熱可塑性樹脂組成物が軟化する」範囲であれば、その上限は特に制限されない。
　加熱温度は、使用する金属箔及び熱可塑性樹脂組成物の組成などによって適宜選択することができる。例えば、硬化性樹脂組成物と金属箔とを含む導電接続材料と同様の加熱温度で加熱することができる。
　上記の温度で前記導電接続材料を加熱すると、金属箔１１０が溶融し、溶融した半田又は錫が熱可塑性樹脂組成物１２０中を移動できるようになる。熱可塑性樹脂組成物がフラックス機能を有する化合物を含む場合、熱可塑性樹脂組成物に含まれるフラックス機能を有する化合物の還元作用により、半田又は錫の表面酸化膜は除去されるため、半田又は錫は濡れ性が高められた状態であり、金属結合が促されて対向する端子間に凝集しやすくなる。他方、フラックス機能を有する化合物の還元作用により端子１１及び２１の表面酸化膜も除去されて濡れ性が高められているため、半田又は錫との金属結合が容易になる。その結果、図３に示すように、前記端子間には導電性領域１３０が形成され、端子１１と端子２１とが電気的に接続される。他方、導電性領域の周囲には熱可塑性樹脂組成物が充填されて絶縁性領域１４０が形成される。その結果、隣接する端子間の絶縁性が確保され、隣接する端子間のショートを防止することが可能となる。
　（ｃ）固化工程
　本発明の接続方法においては、前記加熱工程で導電性領域１３０と絶縁性領域１４０とを形成した後、熱可塑性樹脂組成物を固化させて絶縁性領域１４０領域を固定する。これにより、前記端子間の電気的信頼性及び機械的接続強度を十分に確保することができる。
　熱可塑性樹脂組成物の固化は、前記加熱工程で加熱溶融した導電接続材料を冷却・固化することによって実施することができる。導電接続材料の冷却・固化は、熱可塑性樹脂組成物の組成に応じて適宜設定することができるものであり、特に制限されないが、自然冷却による方法でもよく、また、冷気を吹きつけるなどの方法でもよい。
　前記熱可塑性樹脂組成物の固化温度は、特に制限されないが、金属箔の融点より低いことが好ましい。より具体的には、前記熱可塑性樹脂組成物の固化温度は、金属箔の融点より１０℃以上低いことが好ましく、２０℃以上低いことが特に好ましい。また、前記熱可塑性樹脂組成物の固化温度は、５０℃以上であることが好ましく、６０℃以上であることが特に好ましく、１００℃以上であることがさらに好ましい。前記熱可塑性樹脂組成物の固化温度が前記範囲内にあると、導電性領域１３０を確実に形成することができ、また、絶縁性領域１４０が所望の耐熱性を有することができる。このため、隣接する端子間の絶縁性が確保され、隣接する端子間のショートをより確実に防止することができる。
　本発明の好ましい態様によれば、特定の樹脂成分及びフラックス機能を有する化合物を含有する樹脂組成物と金属箔とからなる導電接続材料を用いることによって、半田又は錫を選択的に対向する端子間に凝集させることができ、端子間を電気的に接続するとともに、隣接する端子間の絶縁性を確保することができる。さらに、多数の端子間を一括で導通させることが可能であり、信頼性に優れた端子間接続を実施することができる。
　３．接続端子の製造方法
　次に、本発明の接続端子の製造方法について説明する。
　本発明の接続端子の製造方法は、前記導電接続材料を用いて電子部材の電極上に接続端子を製造する方法にかかるものであり、導電接続材料を電子部材の電極上に配置する配置工程と、前記導電接続材料を加熱する加熱工程と、必要に応じて前記樹脂組成物を固化させる固化工程とを含む。本発明の接続端子の製造方法は、例えば、半導体ウエハ、半導体チップ、リジッド基板、フレキシブル基板、その他の電気、電子部品の電極上に接続端子を製造する際に用いることができる。
　本発明の製造方法は、前記導電接続材料の樹脂組成物が硬化性樹脂組成物である場合と、熱可塑性樹脂組成物である場合とで接続端子の製造工程が若干異なる。以下、前記導電接続材料の樹脂組成物が硬化性樹脂組成物である場合を第１実施態様とし、熱可塑性樹脂組成物である場合を第２実施態様として、それぞれの態様ごとに説明する。
（１）第１実施態様
　本発明の第１実施態様の接続端子の製造方法は、前記硬化性樹脂組成物と金属箔とを含む導電接続材料を電子部材の電極上に配置する配置工程と、前記金属箔の融点以上であり、且つ、前記硬化性樹脂組成物の硬化が完了しない温度で前記導電接続材料を加熱する加熱工程と、必要に応じて前記樹脂組成物を固化させる固化工程とを含む。
　この接続端子の製造方法では、加熱溶融した半田又は錫を選択的に基板上の電極に凝集させて接続端子を形成し、その周囲に硬化性樹脂組成物による絶縁性領域を形成することができる。その結果、接続端子の周囲を硬化性樹脂組成物で被覆することができるため、導電性領域が固定される。また、絶縁性領域によって隣接する接続端子間の絶縁性が確保されるので、接続信頼性を高めることができる。この方法によれば、微細な配線回路においても多数の接続端子を一括で製造することが可能となる。
　以下、図面を参照しながら、本発明の第１実施態様の接続端子の製造方法について、さらに詳細に説明する。但し、本発明の接続端子の製造方法は、これらの図面に限定されるものではない。
　（ａ）配置工程
　先ず、図５に示すように、硬化性樹脂組成物１２０と金属箔１１０とを有する導電接続材料を、電極４１が設けられた基板４０上に配置する。この時、パターン状の金属箔を使用した場合は、導電接続材料５０と基板上の電極４１との位置合わせが必要となる。なお、図５では、硬化性樹脂組成物１２０が金属箔１１０の片面に形成されたものを使用しているが、硬化性樹脂組成物１２０は、金属箔１１０の両面に形成されていてもよい。また、図５では、硬化性樹脂組成物１２０が接続端子と対向するように配置されているが、金属箔１１０が接続端子と対向するように配置されていてもよい。
　図５に示すように、導電接続材料５０は、ロールラミネータ、プレス等の装置を使用し、基板４０に熱圧着されていてもよい。なお、図６では、硬化性樹脂組成物１２０が電極４１を被覆しているが、硬化性樹脂組成物１２０の厚みは、電極４１の厚みより薄くてもよく、電極４１の厚みより厚くてもよく、目的及び用途等に応じて適宜調整することができる。また、前記電極４１の表面は、電気的な接続を良好にするために、あるいはまた、金属箔との接合性を向上させるために、必要により、洗浄、研磨、めっき及び表面活性化などの処理を施してもよい。
　（ｂ）加熱工程
　加熱工程では、前記配置工程において基板４０上の電極４１上に配置した導電接続材料５０を、金属箔の融点以上であり、且つ、前記硬化性樹脂組成物の硬化が完了しない温度で加熱する。これにより、図７に示すように、電極４１上に接続端子１５０を形成することができる。他方、前記接続端子１５０の周囲には硬化性樹脂組成物が充填されて絶縁性領域１４０が形成される。その結果、隣接する接続端子１５０間の絶縁性が確保され、隣接する接続端子１５０間のショートを防止することができる。
　硬化性樹脂組成物の加熱温度及び加圧条件は、前記硬化性樹脂組成物と金属箔とを有する導電接続材料を使用して、端子間接続を行った場合と同様の条件で行うことができる。
　（ｃ）固化工程
　固化工程では、前記加熱工程で接続端子と絶縁性領域とを形成した後、硬化性樹脂組成物を冷却固化させて、絶縁性領域を固定することにより、電極と接続端子との接合を補強することができる。硬化性樹脂組成物を冷却する方法は特に制限されなく、自然冷却による方法でもよく、冷気を吹きつけるなどの方法でもよい。固化温度は、金属箔の融点より１０℃以上低いことが好ましく、２０℃以上低いことが特に好ましい。また、固化温度は、５０℃以上が好ましく、６０℃以上がより好ましく、１００℃以上がさらに好ましい。
（２）第２実施態様
　次に、本発明の第２実施態様の接続端子の製造方法について説明する。
　本発明の第２実施態様の接続端子の製造方法は、前記熱可塑性樹脂組成物と金属箔とを含む導電接続材料を電子部材の電極上に配置する配置工程と、前記金属箔の融点以上であり、且つ、前記熱可塑性樹脂組成物が軟化する温度で前記導電接続材料を加熱する加熱工程と、さらに必要に応じて前記熱可塑性樹脂組成物を固化させる固化工程と、を含む。
　第２実施態様の製造方法では、加熱溶融した半田又は錫を選択的に基板上の電極に凝集させて接続端子を形成し、その周囲に熱可塑性樹脂組成物による絶縁性領域を形成することができる。その結果、接続端子の周囲を熱可塑性樹脂組成物で被覆することができるため、導電性領域が固定される。また、絶縁性領域によって隣接する接続端子間の絶縁性が確保されるので、接続信頼性を高めることができる。この方法によれば、微細な配線回路においても多数の接続端子を一括で製造することが可能となる。
　（ａ）配置工程
　熱可塑性樹脂組成物と金属箔とを含む導電接続材料を使用した場合も、前記第１実施態様の硬化性樹脂組成物と金属箔とを含む導電接続材料を使用した場合と同様に導電接続材料を電極が設けられた基板上に配置することができる。
　（ｂ）加熱工程
　加熱工程では、前記配置工程において基板に設けられた電極上に配置した導電接続材料５０を、金属箔の融点以上であり、且つ、前記熱可塑性樹脂組成物が軟化する温度で加熱する。これにより、第１実施態様と同様に、電極上に接続端子を製造することができる。他方、接続端子の周囲には熱可塑性樹脂組成物が充填されて絶縁性領域が形成される。その結果、隣接する接続端子間の絶縁性が確保され、隣接する接続端子間のショートを防止することができる。
　なお、熱可塑性樹脂組成物の加熱温度及び加圧条件は、前記熱可塑性樹脂組成物と金属箔とを有する導電接続材料を使用して、端子間接続を行った場合と同様の条件で行うことができる。
　（ｃ）固化工程
　固化工程では、前記加熱工程で接続端子と絶縁性領域とを形成した後、熱可塑性樹脂組成物を冷却固化させて、絶縁性領域を固定することにより、電極と接続端子との接合を補強することができる。
　なお、熱可塑性樹脂組成物の冷却方法及び好ましい固化温度については、前記熱可塑性樹脂組成物と金属箔とを有する導電接続材料を使用して端子間接続を行った場合と同様である。
　上述したように、本発明では、本発明の導電接続材料を用いることにより半田又は錫を選択的に接続端子形成部位に凝集させることができるため、接続端子を簡便な方法で製造することができる。本発明の接続端子の製造方法によれば、複数の接続端子を一括で製造することができるだけでなく、その周囲に絶縁性領域を形成することができるので、接続端子が固定されるとともに、隣接する接続端子間の絶縁性を確保することができる。これにより、接続信頼性に優れた接続端子を製造することができる。
　４．導電接続材料付き電子部材及び電気、電子部品
　本発明は、電子部材の電気的接続面に本発明の導電接続材料が接着してなる導電接続材料付き電子部材をも包含する。本発明の導電接続材料付き電子部材において、導電接続材料の電子部材の電気的接続面との接着面は樹脂組成物層であることが好ましい。該樹脂組成物層は、電子部材の電気的接続面に直接接着されていてもよいし、接着剤層を介して接着されていてもよい。本発明の導電接続材料付き電子部材を互いに貼り合わせ、あるいは、本発明の導電接続材料付き電子部材を他の電子部材の電気的接続面と貼り合わせて熱圧着させることで、電子部材間を電気的に接続することができる。
　本発明では、このようにして得られた本発明の導電接続材料を用いて電子部材間が電気的に接続されてなる半導体ウエハ、半導体チップ、リジッド基板及びフレキシブル基板、その他の電気、電子部品をも包含する。
　以下、本発明を実施例に基づいて説明するが、本発明は、下記の実施例に制限されるものではない。
　［実施例１～９］
（１）硬化性樹脂組成物の調製
　表１に示した各成分を、メチルエチルケトン（ＭＥＫ）に溶解して樹脂固形分４０％の樹脂組成物のワニスを得た。得られたワニスを、コンマコーターを用いて、ポリエステルシートに塗布し、９０℃で５分間乾燥させてフィルム状の厚さ３０μｍ硬化性樹脂組成物を得た。
（２）導電接続材料の製造
　得られたフィルム状の硬化性樹脂組成物を６０℃、０．３ＭＰａ、０．３ｍ／ｍｉｎの条件で、表１に示した半田箔の両面にラミネートし、厚み７０μｍの導電接続材料を製造した。
（３）端子間接続
　次に、得られた導電接続材料を用いて基板の端子間接続を行った。基板として、ＦＲ－４基材（厚み０．１ｍｍ）と回路層（銅回路、厚み１２μｍ）からなり、銅回路上にＮｉ／Ａｕメッキ（厚み３μｍ）を施して形成される接続端子（端子径１００μｍ、隣接する端子間の中心距離３００μｍ）を有するものを使用した。このような接続端子を有する基板間に、前記導電接続材料を配置し、熱圧着装置（（株）筑波メカニクス製「ＴＭＶ１－２００ＡＳＢ」）を用いて表１に示した条件で熱圧着（基板間ギャップ５０μｍ）を施し、端子間を接続した。その後、１８０℃で１時間加熱して硬化性樹脂組成物を硬化させて、積層体を得た。
　［実施例１０及び１１］
　表１に示した各成分を攪拌し、２５℃で液状の硬化性樹脂組成物を調製した。得られた２５℃で液状の硬化性樹脂組成物に表１に示した半田箔を浸漬させ、半田箔の両面に液状の硬化性樹脂組成物を付着させて、導電接続材料を製造した。さらに、実施例１～９と同様の方法（前記「（３）端子間接続」記載の方法）で、得られた導電接続材料を用いて基板の端子間接続を行った。
　［比較例１］
　実施例１～９と同様にして硬化性樹脂組成物を調製し、得られた厚さ３０μｍ硬化性樹脂組成物を表２に示した半田箔の両面にラミネートして導電接続材料を製造した。さらに、実施例１～９と同様の方法（前記「（３）端子間接続」記載の方法）で、得られた導電接続材料を用いて基板の端子間接続を行った。
　［比較例２］
　実施例１０及び１１と同様にして硬化性樹脂組成物を調製し、得られた硬化性樹脂組成物を表２に示した半田箔の両面に付着させて導電接続材料を製造した。さらに、実施例１～９と同様の方法（前記「（３）端子間接続」記載の方法）で、得られた導電接続材料を用いて基板の端子間接続を行った。
　実施例及び比較例で調製した樹脂組成物のイオン粘度、イオン粘度スロープの最大ピークが出現する時間及び熱重量減少率は以下の方法により測定した。また、得られた積層体において対向する端子間の接続抵抗、導通路形成性、導通路以外の領域に残存する半田粒子の有無及びボイドを後述する方法により評価した。
［１］イオン粘度及びイオン粘度スロープの最大ピークが出現する時間
　樹脂組成物が常温で固形状の場合（実施例１～９、比較例１）、誘電分析装置本体として、ＮＥＴＺＳＣＨ社製のＤＥＡ２３１／１　ｃｕｒｅ　ａｎａｌｙｚｅｒ、プレスとしてＮＥＴＺＳＣＨ社製のＭＰ２３５　Ｍｉｎｉ－Ｐｒｅｓｓを使用した。測定方法としては、ＡＳＴＭ規格Ｅ２０３９に準拠し、表１及び２に示した半田箔の融点において周波数１００００Ｈｚの条件で、厚さ約０．５ｍｍの硬化性樹脂組成物をプレス内の電極部上面にセットし、プレスした後、測定した。得られたイオン粘度の最小値を測定値とした。また、得られたイオン粘度の微分値からイオン粘度スロープを算出し、その最大ピークが出現する時間を測定値とした。
　樹脂組成物が常温で液状の場合（実施例１０及び１１、比較例２）、誘電分析装置本体としてＮＥＴＺＳＣＨ社製のＤＥＡ２３１／１　ｃｕｒｅ　ａｎａｌｙｚｅｒを使用し、誘電測定センサーとしてＮＥＴＺＳＣＨ社製の０３６Ｓ－ＩＤＥＸを使用した。測定方法としては、ＡＳＴＭ規格Ｅ２０３９に準拠し、表１及び表２に示した半田箔の融点において周波数１００００Ｈｚの条件で、誘電測定センサー上に樹脂組成物を厚さ約０．５ｍｍ塗布し、オーブンで加熱して測定した。得られたイオン粘度の最小値を測定値とした。また、得られたイオン粘度の微分値からイオン粘度スロープを算出し、その最大ピークが出現する時間を測定値とした。
　実施例１～３の硬化性樹脂組成物を用いたときのイオン粘度及びイオン粘度スロープの測定結果をそれぞれ図８～１０に示す。
［２］熱重量減少率
　示差熱熱重量同時測定装置（セイコーインスツル（株）製、ＴＧ／ＤＴＡ　６２００）を用い、樹脂組成物約１０ｍｇを熱天秤にセットし、３０℃から昇温速度１０℃／分で金属箔の融点まで加熱した。金属箔の融点における熱重量減少率を測定値とした。
［３］接続抵抗
　接続抵抗は、積層体において対向する端子間の抵抗を４端子法（抵抗計：岩崎通信機（株）製「デジタルマルチメータＶＯＡ７５１０」、測定プローブ：日置電機(株)製「ピン型リード９７７１」）により１２点測定した。その平均値が３０ｍΩ未満の場合を「Ａ」、３０ｍΩ以上の場合を「Ｂ」と判定した。
［４］導通路形成性
　積層体において対向する端子１０組について、その端子間の断面を走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）（日本電子（株）製「ＪＳＭ－７４０１Ｆ」）で観察し、１０組全てにおいて半田により円柱状の導通路が形成されている場合を「Ａ」、１組でも導通路が形成されていない端子が存在する場合を「Ｂ」、隣接している端子とショート接触している場合を「Ｃ」と判定した。
［５］残存半田の有無
　積層体の断面を走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）（日本電子（株）製、型番「ＪＳＭ－７４０１Ｆ」）で観察し、全ての半田が対向する端子間の導通路形成に寄与している場合を「Ａ」、導通路形成に寄与せずに対向する端子間（導電性領域）以外の樹脂（絶縁性領域）中に半田が残存している場合を「Ｂ」と判定した。
［６］ボイド
　積層体を超音波探傷装置（ＳＡＴ）（日立建機ファインテック（株）製、型番「ｍｉ－ｓｃｏｐｅ１０」）で観察し、ボイドの面積が接着面積に対して、１０％未満の場合を「Ａ」、１０％以上の場合を「Ｂ」と判定した。
［７］総合評価
　上記［３］～［６］の評価において、実用上問題ないものの場合を「○」、実用上問題ある場合を「×」と判定した。
　結果を表１及び２に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000007
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000008
　表１及び２における樹脂組成物の成分及び半田箔は以下に示したものを用いた。
エポキシ樹脂１：ビスフェノールＡ型エポキシ樹脂、大日本インキ化学工業（株）製「ＥＰＩＣＬＯＮ－８４０Ｓ」、エポキシ当量１８５ｇ／ｅｑ
エポキシ樹脂２：クレジルグリシジルエーテル、坂本薬品工業（株）製「ｍ，ｐ－ＣＧＥ」、エポキシ当量１８５ｇ／ｅｑ
エポキシ樹脂３：ビスフェノールＦ型エポキシ樹脂、日本化薬（株）製「ＲＥ－４０３Ｓ」、エポキシ当量１６５ｇ／ｅｑ
硬化剤１：フェノールノボラック、住友ベークライト（株）製「ＰＲ－５３６４７」
フィルム形成性樹脂１：変性ビフェノール型フェノキシ樹脂、ジャパンエポキシレジン（株）製「ＹＸ－６９５４」、重量平均分子量３９，０００
フィルム形成性樹脂２：変性ビスフェノールＦ型フェノキシ樹脂、ジャパンエポキシレジン（株）製「４２５６Ｈ４０」、重量平均分子量６２，０００
フィルム形成性樹脂３：アクリル酸エステル共重合物、ナガセケムテックス（株）製「ＳＧ－Ｐ３」、重量平均分子量８５０，０００
フラックス機能を有する化合物１：セバシン酸、東京化成工業（株）製「セバシン酸」
フラックス機能を有する化合物２：ゲンチジン酸、みどり化学（株）製「ゲンチジン酸」
フラックス機能を有する化合物３：フェノールフタリン、東京化成工業（株）製「フェノールフタリン」
シランカップリング剤１：２－（３，４－エポキシシクロヘキシル）エチルトリメトキシシラン、信越化学工業（株）製「ＫＢＭ－３０３」、沸点３１０℃
イミダゾール１：２－フェニル－４－メチルイミダゾール、四国化成工業（株）製「キュアゾール２Ｐ４ＭＺ」
半田箔Ａ：Ｓｎ／Ｂｉ＝４２／５８（融点：１３９℃）、厚さ１０μｍ
半田箔Ｂ：Ｓｎ／Ｐｂ＝６３／３７（融点：１８３℃）、厚さ１０μｍ
半田箔Ｃ：Ｓｎ／Ａｇ／Ｃｕ＝９６．５／３．０／０．５（融点：２１７℃）、厚さ１０μｍ
　表１及び２から明らかなように、イオン粘度の最小値が４～９の範囲内である樹脂組成物を導電接続材料の樹脂組成物層として用いることで、隣接している端子とショートすることなく、良好な電気的接続が得られることが示された。また、イオン粘度スロープの最大ピークが測定開始から１０秒以上経過した後で出現する樹脂組成物を用いることで、樹脂組成物の硬化が進行する前に半田又は錫が十分に移動することができ、絶縁性領域中に半田が残存することを防ぐことができた。さらに、熱重量減少率が５重量％である樹脂組成物を用いることで、ボイドの発生を防ぐことができることが示された。
　本発明の導電接続材料は、電気、電子部品において電子部材間を電気的に接続したり、基板上に接続端子を製造したりする際に好適に用いることができる。本発明の導電接続材料を用いることで、電子部材間の良好な電気的接続と高い絶縁信頼性とを両立させることができる。本発明の導電接続材料を用いることで微細な配線回路における端子間接続も可能である。本発明の導電接続材料を用いることで、電子機器の高機能化及び小型化の要求にも対応することが可能である。
　１０、２０　…基板
　１１、２１　…端子
　１１０　　　…金属箔
　１２０　　　…樹脂組成物
　１３０　　　…導電性領域
　１４０　　　…絶縁性領域

Claims (23)

  1. 　樹脂組成物と半田箔又は錫箔から選ばれる金属箔とから構成される積層構造を有する導電接続材料であって、ＡＳＴＭ規格Ｅ２０３９に準拠し、前記金属箔の融点において周波数１００００Ｈｚを印加して測定した前記樹脂組成物のイオン粘度の最小値が４～９である、導電接続材料。
  2. 　ＡＳＴＭ規格Ｅ２０３９に準拠し、前記金属箔の融点において周波数１００００Ｈｚを印加して測定した前記樹脂組成物のイオン粘度スロープの最大ピークが測定開始から１０秒以上経過した後で出現するものである、請求項１記載の導電接続材料。
  3. 　３０℃から昇温速度１０℃／分で前記金属箔の融点まで加熱して測定した前記樹脂組成物の熱重量減少率が５重量％以下である、請求項１又は２記載の導電接続材料。
  4. 　前記樹脂組成物が、エポキシ樹脂及び硬化剤を含むものである、請求項１～３のいずれか１項記載の導電接続材料。
  5. 　前記硬化剤が、フェノール類、酸無水物及びアミン化合物からなる群より選ばれる少なくとも１種を含む、請求項４記載の導電接続材料。
  6. 　前記樹脂組成物が、フィルム形成性樹脂をさらに含む、請求項１～５のいずれか１項記載の導電接続材料。
  7. 　前記フィルム形成性樹脂の重量平均分子量が８，０００～１，０００，０００である、請求項６記載の導電接続材料。
  8. 　前記フィルム形成性樹脂が、フェノキシ樹脂、（メタ）アクリル系樹脂及びポリイミド樹脂からなる群より選ばれる少なくとも１種を含む、請求項６又は７記載の導電接続材料。
  9. 　前記樹脂組成物が、樹脂組成物の全重量に対し、エポキシ樹脂１０～９０重量％、硬化剤０．１～５０重量％及びフィルム形成性樹脂５～５０重量％を含むものである、請求項６～８のいずれか１項記載の導電接続材料。
  10. 　前記樹脂組成物が、フラックス機能を有する化合物を含む、請求項１～９のいずれか１項記載の導電接続材料。
  11. 　前記フラックス機能を有する化合物が、フェノール性水酸基及び／又はカルボキシル基を有する化合物を含む、請求項１０記載の導電接続材料。
  12. 　前記フラックス機能を有する化合物が、下記一般式（１）で示される化合物を含む、請求項１０又は１１記載の導電接続材料。
    　　ＨＯＯＣ－（ＣＨ2）ｎ－ＣＯＯＨ　　　（１）
    ［式中、ｎは、１～２０の整数である。］
  13. 　前記フラックス機能を有する化合物が、下記一般式（２）及び／又は（３）で示される化合物を含む、請求項１０又は１１記載の導電接続材料。
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000001
     ［式中、Ｒ1～Ｒ5は、それぞれ独立して、１価の有機基であり、但し、Ｒ1～Ｒ5の少なくとも一つは水酸基である。］
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000002
     ［式中、Ｒ6～Ｒ20は、それぞれ独立して、１価の有機基であり、但し、Ｒ6～Ｒ20の少なくとも一つは水酸基又はカルボキシル基である。］
  14. 　前記樹脂組成物が、樹脂組成物の全重量に対し、前記フラックス機能を有する化合物を合計で１～５０重量％含むものである、請求項１０～１３のいずれか１項に記載の導電接続材料。
  15. 　前記金属箔の融点が１００℃～３３０℃である、請求項１～１４のいずれか１項に記載の導電接続材料。
  16. 　樹脂組成物層／金属箔層／樹脂組成物層からなる積層構造を含む、請求項１～１５のいずれか１項記載の導電接続材料。
  17. 　樹脂組成物層／金属箔層からなる積層構造を含む、請求項１～１５のいずれか１項記載の導電接続材料。
  18. 　請求項１～１７のいずれか１項記載の導電接続材料を対向する端子間に配置する配置工程と、前記金属箔の融点以上であり、且つ、前記樹脂組成物の硬化が完了しない温度で前記導電接続材料を加熱する加熱工程と、前記樹脂組成物を硬化させる硬化工程と、を含む端子間の接続方法。
  19. 　請求項１～１７のいずれか１項記載の導電接続材料を対向する端子間に配置する配置工程と、前記金属箔の融点以上であり、且つ、前記樹脂組成物が軟化する温度で前記導電接続材料を加熱する加熱工程と、前記樹脂組成物を固化させる固化工程と、を含む端子間の接続方法。
  20. 　請求項１～１７のいずれか１項記載の導電接続材料を電子部材の電極上に配置する配置工程と、前記金属箔の融点以上であり、且つ、前記樹脂組成物の硬化が完了しない温度で前記導電接続材料を加熱する加熱工程を含む接続端子の製造方法。
  21. 　請求項１～１７のいずれか１項記載の導電接続材料を電子部材の電極上に配置する配置工程と、前記金属箔の融点以上であり、且つ、前記樹脂組成物が軟化する温度で前記導電接続材料を加熱する加熱工程と、前記樹脂組成物を固化させる固化工程と、を含む接続端子の製造方法。
  22. 　電子部材の電気的接続面に、請求項１～１７のいずれか１項記載の導電接続材料が接着してなる、導電接続材料付き電子部材。
  23. 　電子部材間が、請求項１～１７のいずれか１項記載の導電接続材料を用いて電気的に接続されてなる、電気、電子部品。
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