WO2005106504A1 - 電気的接続装置 - Google Patents

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WO2005106504A1
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socket
electrical connection
ceramic substrate
conductive
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Yoshiei Hasegawa
Original Assignee
Kabushiki Kaisha Nihon Micronics
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2889Interfaces, e.g. between probe and tester
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02Contact members
    • H01R13/193Means for increasing contact pressure at the end of engagement of coupling part, e.g. zero insertion force or no friction

Definitions

  • the present invention relates to an electrical connection device such as a probe card for electrically connecting an integrated circuit as an object to be inspected and an electric circuit of the inspection device.
  • the thickness direction of each substrate is referred to as the up-down direction
  • the side of the tip of the contact for each substrate is referred to as the downward direction
  • the right-angle coordinate 2 These directions are called X direction and Y direction.
  • each substrate may be slanted or zero, or may be used with the vertical direction reversed.
  • One type of this type of electrical connection device includes a so-called ceramic substrate made of ceramic and a resin layer disposed on one side of the ceramic substrate, and a plurality of contacts formed on the resin layer. (Patent Documents 1 and 2).
  • Patent Document 1 JP-A-6-140404
  • Patent Document 2 JP-A-11-116
  • the resin layer is a multilayer wiring layer in which wiring, contacts, and the like are formed on a ceramic substrate by photolithography technology, so that the resin layer is bonded to the ceramic substrate. ing.
  • the ceramic substrate is a multilayer wiring substrate having a large number of wirings
  • the resin layer is formed by forming a plurality of holes in a film in which a resin thin film and a thin film are laminated. It is manufactured by embedding a metal material in the hole by electrolytic plating to make a contact, and removing unnecessary portions of the copper thin film by etching.
  • the resin layer is bonded to the ceramic substrate by an anisotropic conductive rubber sheet.
  • the position, function, size, arrangement pitch, etc., of the electrodes of an integrated circuit as a device under test vary depending on the type of the integrated circuit.
  • An object of the present invention is to make a ceramic substrate inexpensive by enabling standardization of the ceramic substrate.
  • An electrical connection device is a ceramic substrate comprising a plurality of first conductive portions on one surface and a plurality of second conductive portions electrically connected to the first conductive portion.
  • a ceramic substrate provided with a conductive portion on the other surface and further provided with a plurality of pins electrically connected to the second conductive portion and protruding from the other surface; one surface of the ceramic substrate; A plurality of third conductive portions in contact with the first conductive portion, the plurality of third conductive portions being provided on a surface of the ceramic substrate side;
  • a plate-like socket device arranged on one side, comprising a plurality of recesses opened on the ceramic substrate side surface to receive the pins individually, and individually arranged in the recesses.
  • a socket device comprising a plurality of pairs of gripping members for releasably gripping the pins received in the corresponding recesses; and a rooster S-line board disposed on the other surface of the socket device, wherein And a wiring board having a plurality of fifth conductive portions individually electrically connected to the member.
  • the holding of the pins of the ceramic substrate by the socket device can be released, so that the ceramic substrate can be separated from the socket substrate and the wiring substrate together with the resin substrate, and the pins of the ceramic substrate can be recessed in the socket device.
  • the ceramic substrate can be connected to the socket device and eventually to the wiring substrate together with the resin substrate.
  • it is possible to standardize the ceramic substrate by making the arrangement pattern and connection pattern of the first and second conductive portions of the ceramic substrate common and manufacturing a resin substrate according to the type of the integrated circuit. it can.
  • the cost of the ceramic substrate can be reduced, and the production period of the electrical connection device can be shortened by forming the resin substrate according to the type of the integrated circuit on the stock ceramic substrate.
  • Each of the pins may include a flange attached to the second conductive portion, and a pin-shaped main portion extending from the flange so as to be received in the recess.
  • the pin can be adhered to the second conductive portion at the flange portion thereof by a conductive adhesive such as solder, so that the work of connecting the pin to the second conductive portion is facilitated.
  • a conductive adhesive such as solder
  • the first and second conductive portions are wiring or conductive through holes formed in the ceramic substrate, and both ends of the first and second conductive portions are formed by the through holes that function as the first and second conductive portions. It may be electrically connected.
  • the resin substrate may further include a plurality of wirings arranged in a multilayer and electrically connecting the third and fourth conductive portions.
  • Each of the contacts may be attached to the fourth conductive portion in a cantilever manner.
  • the contact is bent, so that the variation in the height position of the needle tip is absorbed, and all the contacts can be reliably brought into contact with the electrodes of the integrated circuit.
  • the contact may be a plate-like contact including an arm extending in a direction intersecting with the needle, and a needle tip extending in a direction opposite to the mounting portion from the distal end of the arm.
  • the contact can be easily and inexpensively manufactured by an electrode method such as an electrolytic plating.
  • the arm portion includes first and second arms spaced in the thickness direction; First and second connecting portions for connecting the first and second arms at their distal and proximal ends, respectively, and are supported by the mounting portion at the proximal end,
  • the tip may support the tip.
  • the socket device comprises: a socket substrate located on the wiring substrate side; and a movable substrate movable in one direction intersecting the thickness direction with respect to the socket substrate, wherein the ceramic substrate is formed with respect to the socket substrate.
  • a socket that releasably presses; and an operating member that rotates the cam angularly, wherein the socket substrate and the movable substrate jointly form the recess, and one gripping member of each pair is the socket.
  • the other holding member of each pair may be attached to the movable substrate.
  • the socket device further includes a plurality of second pins connected to each of the one gripping members and protruding from the socket board toward the wiring board.
  • the wiring board further includes the second pin.
  • the plurality of pins may be provided with a plurality of holes individually fitted therein, each of which has a plurality of holes each having a conductive inner surface acting as the fifth conductive portion.
  • the socket device may further include a space between the wiring substrate and the resin substrate for preventing movement of the socket substrate and movably supporting the movable substrate. It can include a frame placed around it. By doing so, the mounting of the socket board and the movable board on the wiring board becomes easy.
  • One of the frame and the movable substrate has a pair of grooves at the edges corresponding to a pair of opposing sides of a rectangle, the pair of grooves movably supporting the movable substrate on the frame.
  • the other of the movable substrates may have a convex portion movably received in the groove at a position corresponding to a pair of opposite sides of the rectangle. In this way, the movable substrate can be moved without using components such as balls and rolls. It can be movably supported.
  • the ceramic substrate and the socket device may be coupled to each other by a plurality of screw members that penetrate the ceramic substrate and are screwed to the socket device. By doing so, the ceramic substrate is stabilized with respect to the socket device and, hence, the wiring substrate.
  • the electrical connection device further includes a reinforcing member disposed on a side of the wiring board opposite to the side of the socket device, wherein the reinforcing member passes through the reinforcing member and the wiring board and is screwed into the socket device.
  • the ceramic substrate and the socket device are assembled to the wiring board and the socket device by a plurality of combined screw members, and the ceramic substrate and the socket device are connected by a plurality of screw members screwed into the socket device through the ceramic substrate. May be. By doing so, the parallelism of the wiring substrate, the socket device, the ceramic substrate and the resin substrate is kept high.
  • the electrical connection device further includes: a plurality of electronic components arranged on a side of the wiring board opposite to the socket device, each of which is electrically connected to the fifth conductive portion; A reinforcing member located around the electronic component.
  • the capturing member includes a frame positioned around the electronic component, and a plurality of arms extending from the frame in a radial direction of a virtual circle. The frame may be attached to the wiring board and the socket device, and the arm may be attached to the wiring board by a plurality of other screw members. By doing so, not only is the wiring board reinforced, but also the upper region of the wiring board can be used effectively.
  • the electrical connection device may further include a connector provided on the wiring board, the connector including a plurality of connectors each of which is electrically connected to the fifth conductive portion.
  • FIG. 1 is a plan view showing an embodiment of the electrical connection device according to the present invention.
  • FIG. 2 is a front view of the electrical connection device shown in FIG.
  • FIG. 3 is a bottom view of the electrical connection device shown in FIG.
  • FIG. 4 is an exploded perspective view of the electrical connection device shown in FIG. 1 as viewed from below.
  • FIG. 5 is an exploded perspective view of the electrical connection device shown in FIG. 1 as viewed from above.
  • FIG. 6 is an enlarged longitudinal sectional view showing a part of the electrical connection device shown in FIG. 1, in which an upper portion of a wiring board is omitted.
  • FIG. 7 is an enlarged longitudinal sectional view showing a part of the probe substrate.
  • FIG. 8 is a perspective view showing a part of the lower surface of the resin substrate.
  • FIG. 9 is a view showing an embodiment of the contact, wherein (A) is a front view and (B) is a right side view.
  • FIG. 10 is a perspective view showing an embodiment of the socket device.
  • FIG. 11 is a cross-sectional view showing a state where the movable substrate is supported by the frame.
  • FIGS. 12A and 12B are longitudinal sectional views for explaining the operation of the socket substrate.
  • FIG. 12A is a diagram showing a state in which the pin is released from being gripped, and
  • FIG. It is a figure showing a state.
  • the electrical connection device 10 is used for power supply and ground, such as an uncut integrated circuit formed on a semiconductor wafer or an integrated circuit cut into chips.
  • An integrated circuit having a plurality of electrodes for signal and signal is used as a test object.
  • the electrical connection device 10 includes a wiring board 12 attached to the inspection device, a probe board 14 having a plurality of contacts 32 described later, and a probe board 14 disposed below the wiring board 12. It includes a flat socket device 16 that is detachably attached, and a reinforcing member 18 that is disposed above the wiring board 12.
  • the wiring board 12 is a circular multilayer wiring board having a plurality of conductive parts 20 and a plurality of wirings 22 electrically connected to the conductive parts 20 in multiple layers.
  • the electrodes and the conductive portions 20 of the integrated circuit, and the conductive portions 20 and the wirings 22 respectively correspond to at least one to at least one shape, preferably one to one.
  • Such a wiring board 12 can be manufactured using epoxy with glass.
  • Each conductive part 20 extends from the lower surface of the wiring board 12 into the wiring board 12 It is a so-called conductive through-hole formed by a conductive tubular member extending halfway in the thickness direction of (12).
  • a plurality of electronic components 24, such as relays and resistors, are arranged in a substantially rectangular area when viewed from above.
  • Each electronic component 24 corresponds to a power supply or signal electrode, and is adhered to a connection land (not shown) by a conductive adhesive such as solder, and electrically connected to the wiring 22. It is connected to the.
  • a plurality of connectors 26 connected to an electric circuit of the inspection device are arranged on the upper surface of the wiring board 12. Each connector 26 is connected to the wiring board 12
  • the probe substrate 14 is a rectangular resin substrate on the lower surface of a substantially rectangular ceramic substrate 28.
  • a plurality of contacts 32 individually corresponding to the electrodes of the integrated circuit and electronic components 34 such as capacitors are attached to the lower surface of the resin substrate 30.
  • the height position of the lower end of the electronic component 34 is higher than that of the lower end (needle point) of the contact 32.
  • the ceramic substrate 28 has a plurality of conductive portions 36 and 38 on both sides thereof, and the conductive portions 36 and 38 are respectively connected to the conductive wiring 40 and the cylindrical member 42. Thus, they are electrically connected in at least one to at least one form, preferably one to one.
  • the conductive portions 36 and 38 are one end and the other end of the tubular member 42, respectively.
  • the cylindrical member 42 is shown as penetrating the ceramic substrate 28 in the thickness direction, it is actually divided into upper and lower members, and an upper member of a certain cylindrical member and another member.
  • the lower member of the cylindrical member 42 is electrically connected by wiring 40.
  • the wiring 40 may not be provided on the ceramic substrate 28 and may be a single tubular member 40. In this case, the wiring 40 may be used as a reinforcing material.
  • a plurality of pins 44 are arranged on the upper surface of the ceramic substrate 28 so as to extend upward.
  • Each pin 44 has a flange portion 46 and a pin-shaped main portion 48 extending from the flange portion 46.
  • the upper conductive portion of the flange portion 46 is made of a conductive adhesive such as solder. And is electrically connected to the active part 36. As a result, the work of connecting the pins 44 to the conductive portions 36 becomes easy. Also bra Since the bonding area of the pin 44 to the conductive portion 36 is larger than that in a case where no conductive portion is provided, the pin 44 is firmly connected to the conductive portion 36.
  • the resin substrate 30 is formed directly on one surface of the ceramic substrate 28 using an electrically insulating resin such as polyimide.
  • the resin substrate 30 has a plurality of conductive portions 50 and 52 acting as connection pads on both surfaces of the resin substrate 30.
  • the conductive portions 50 and 52 are each provided with a conductive wiring. According to 54, it is electrically connected in at least one to at least one form, preferably in one to one form.
  • the power supply or ground wiring 56 is exposed on the lower surface of the resin substrate 30 and is connected to an electronic component 34 such as a capacitor.
  • the conductive portion 52 connected to the wiring 56 is used as a power supply or ground pad portion.
  • the other conductive part 52 is used as a signal pad part.
  • Each contact 24 is attached to the conductive portion 52 of the resin substrate 30, an attachment portion 58 attached to the conductive portion 52, an arm portion 60 extending downward from the attachment portion 58, and attached from a distal end side of the arm portion 60. It is a plate-shaped contact (probe) including a part 58 and a needle tip 62 extending in the opposite direction (downward).
  • the mounting portion 58 has a rectangular plate-like region 58a and an extension portion 58b extending downward from the plate-like region 58a to reach the arm portion 60.
  • the arm section 60 includes first and second arms 60 a and 60 b spaced apart in the vertical direction, and first and second arms 60 a and 60 b at their distal ends and It has first and second connecting portions 60c and 60d that are connected at the base end, respectively.
  • the arm portion 60 is supported by the extension portion 58b of the attachment portion 5S at the base end, and also supports the needle tip portion 62 at the tip end.
  • the needle tip 62 includes a plate-shaped pedestal 62 a continuing to the lower end on the distal end side of the arm 60, and a protruding needle tip 62 b provided at the lower end of the pedestal 62 a. I have.
  • Each contact 24 is bonded to the conductive portion 52 with a conductive adhesive such as solder in a plate-like region 58 of the mounting portion 58 so that the contact 24 extends downward from the resin substrate 30.
  • a conductive adhesive such as solder in a plate-like region 58 of the mounting portion 58 so that the contact 24 extends downward from the resin substrate 30.
  • the socket device 16 includes a socket board 64 located on the side of the wiring board 12, a movable board 66 movable in one direction in a horizontal plane with respect to the socket board 64, and a socket board 64. And a frame 68 arranged around the movable substrate 66, so that it has a substantially rectangular plate shape as a whole.
  • the socket device 16 also includes an elastic body 70 that applies a biasing force to the movable board 66 in one direction in the moving direction of the movable board 66 and an elastic body 70 such as a leaf spring.
  • a pair of force members 72 that releasably push the other side against the force of 70, a support shaft 74 on which the cam 72 is relatively immovably mounted, and the cam 72 are rotated angularly.
  • An operating member 76 attached to each end of the support shaft 74.
  • the socket substrate 64 and the movable substrate 66 jointly form a plurality of ⁇ locations 78 that are open to the surface on the ceramic substrate 28 side so as to individually receive the pins 44 of the ceramic substrate 28.
  • the recesses 78 correspond individually to the tubular conductive portions 20 of the wiring board 12.
  • the socket substrate 64 is a so-called bottomed hole having a bottom
  • the movable substrate 66 is a through hole communicating with the bottomed hole.
  • a pair of gripping members 80 and 82 are arranged so as to releasably hold the pins 44 received in the recesses 78 as the movable substrate 66 moves. It has been.
  • One gripping member 80 of each pair is relatively immovably attached to the socket substrate 64, and the other gripping member 82 of each pair is relatively immovably mounted to the movable substrate 66. .
  • a plurality of pins 84 are arranged so as to protrude from the holding member 80 to above the socket board 64.
  • Each pin 84 is electrically connected to the holding member 80, and is inserted into the tubular conductive portion 20 of the wiring board 12. Thus, the movement of the socket board 64 with respect to the wiring board 12 is prevented.
  • the movable substrate 66 has a pair of grooves 86 extending in the moving direction at opposite rectangular edges, and the frame 68 has a convex portion 88 movably received in the groove 86. It is provided at a location corresponding to the opposite side of the rectangle. However, the grooves 86 may be formed on the frame 68 and the convex portions 88 may be formed on the movable substrate 66. In any of the above examples, the pin is moved to a position where a concave portion 78 is opened to receive the pin 44 and a position where the received pin 44 is clamped by the gripping members 80 and 82. The socket board 64 is placed on the movable board 66. When the groove 86 and the convex portion 88 are used to support the movable substrate 66 in this way, the movable substrate 66 is movably supported on the frame 68 without using components such as balls and rolls. be able to.
  • the support shaft 74 is rotatably supported by the frame 68 so as to extend in the horizontal direction crossing the moving direction of the movable substrate 66.
  • the cam 72 is attached to the support shaft 74 at a distance in the longitudinal direction thereof so as to be angularly rotated in a vertical plane including the moving direction of the movable substrate 66.
  • the outer peripheral surface of the cam 72 has a first cam surface having a large radius of curvature and a second cam surface having a small radius of curvature.
  • the operating member 76 rotates the support shaft 74 between a position where the first cam surface contacts the side surface of the movable substrate 66 and a position where the second cam surface contacts the side surface of the movable substrate 66. It is attached to the end of the support shaft so that it can do this.
  • the ceramic substrate 28 is attached to the socket device 16 with a significantly smaller force than when the pins 44 of the ceramic substrate 28 are tightly fitted into the recesses 78.
  • the ceramic substrate 28 can be easily attached to and detached from the socket device 16.
  • the socket device 16 uses the frame 68 to prevent the movement of the socket board 64 and also supports the movable board 66 so as to be movable. Also, the mounting of the movable substrate 66 becomes easy.
  • the reinforcing member 18 includes a substantially rectangular frame portion 90 located around the electronic component 24 and a plurality of arm portions 92 extending from the frame portion 90 in the radial direction of a virtual circle. This not only reinforces wiring board 12, but also allows the area above wiring board 12 to be used effectively.
  • the reinforcing member 18 is connected to the wiring board 12 and the socket device 16 at the frame portion 90 by a plurality of screw members 94 that penetrate the capturing member 18 and the wiring board 12 and are screwed to the frame 68. As well as being assembled, it penetrates through the reinforcing member 18 to the wiring board 12 It is assembled to the wiring board 12 at the arm portion 92 by a plurality of screw members 96 screwed.
  • the probe board 14 is assembled to the socket device 16 by a plurality of screw members 98 that are screwed into the frame 68 through the ceramic board 28.
  • the relative positioning of the wiring board 12, the probe board 14 and the sogget device 16 is based on a plurality of positioning pins 10 extending from the wiring board 12 through the frame 68 and inserted into the ceramic board 28. Performed by 0.
  • the electrical connection device 10 presses the tip 62 b of the contact 24 onto the electrode of the integrated circuit.
  • the cantilever-shaped contact 24 deflects in the arms 60a and 6Ob due to the overdrive acting on it.
  • variations in the height position of the needle tip 62b are absorbed, and all the contacts 24 are reliably brought into contact with the electrodes of the integrated circuit.
  • the pins 44 of the ceramic substrate 28 are released from the gripping members 80 and 82, and the ceramic substrate 28 is socketed together with the resin substrate 30.
  • the substrate 64 can be separated from the wiring substrate 12 and the pins 44 of the ceramic substrate 28 can be inserted into the recesses 78 of the socket device 16 and the pins 44 can be gripped by the holding members 80, 8 2 allows the ceramic substrate 28 to be connected to the socket device 16 and, consequently, the wiring substrate 12 together with the resin substrate 30.
  • Monkey the holding members 80, 8 2
  • the ceramic substrate 28 can be standardized.
  • the standardized ceramic substrate 28 can be made inexpensive by mass-producing it, and by forming the resin substrate 30 according to the type of integrated circuit on the stock ceramic substrate 28.
  • the production period of the electrical connection device 10 can be shortened.
  • the number of wirings formed on the ceramic substrate 28 can be reduced, and in extreme cases, the wiring may be formed on the ceramic substrate 28. Since it is not necessary, the manufacture of the ceramic substrate 28 becomes easy, and the ceramic substrate 28 becomes inexpensive.
  • the reinforcing member 18 is wired by a plurality of screw members 96 that are threaded to the socket device 16 through the material of the reinforcing portion 18 and the wiring board 12.
  • the wiring board 12 and the frame 68 may be connected by a plurality of screw members.
  • the present invention is not limited to the above embodiments, and can be variously modified without departing from the gist thereof.

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Abstract

 電気的接続装置は、複数のピンをセラミック基板にこれの一方の面から突出する状態に配置し、それらのピンに電気的に接続された複数の導電性部を備える樹脂基板をセラミック基板の他方の面に配置し、ピンを個々に受け入れるべくセラミック基板側の面に開放する複数の凹所をソケット装置に設けると共に凹所に個々に受け入れられたピンを解除可能に把持する複数対の把持部材をソケット装置に設けて、セラミック基板をソケット装置に結合させ、ソケット装置を配線基板に結合させている。

Description

電気的接続装置 技術分野
本発明は、 被検査体としての集積回路とその検査装置の電気回路とを電気的に 接続するプローブカードのような電気的接続装置に関する。
以下の説明においては、 各基板の厚さ方向を上下方向といい、 各基板に対する 接触子の針先の側 (半導体ゥエーハ明の側) を下方といい、 各基板に平行な直角座 標の 2つの方向を X方向及び Y方向という。 しかし、 電気的接続装置の実際の使 田
用に際しては、 各基板の厚さ方向を斜め又は 0横の方向としてもよいし、 上下方向 を逆にして使用してもよレ、。
背景技術
この種の電気的接続装置の 1つとして、 セラミック製のいわゆるセラミック基 板と、 セラミック基板の一方の面側に配置された樹脂層とを備え、 複数の接触子 を樹脂層に形成したものがある (特許文献 1及び 2 ) 。
特許文献 1 特開平 6— 1 4 0 4 8 4号公報
特許文献 2 特開平 1 1一 1 6 0 3 5 6号公報
特許文献 1に記載された発明においては、 樹脂層は、 配線や接触子等をホトリ ソグラフィ技術によりセラミック基板に形成した多層配線層とされており、 した がって樹脂層はセラミック基板に接着されている。
特許文献 2に記載された発明においては、 セラミック基板は多数の配線を有す る多層配線基板とされ、 樹脂層は、 樹脂薄膜と鲖薄膜とを積層したフィルムに複 数の穴をあけ、 それらの穴に電解メツキにより金属材料を埋め込んで接触子とし 、 銅薄膜の不要な箇所をエッチングに除去することにより製作されている。 樹脂 層は、 異方導電性ゴムシートによりセラミック基板に接着されている。
一方、 被検査体としての集積回路は、 その電極の、 位置、 機能、 大きさ、 配置 ピッチ等が集積回路の種類に応じて異なる。
し力 し、 上記いずれの従来技術も、 製造が難しいセラミック基板を集積回路の 種類毎に製造し、 準備しなければならず、 セラミック基板自体が高価である 発明の開示
本発明の目的は、 セラミック基板の標準化を可能にして、 廉価なセラミック基 板をとすることにある。
本発明に係る電気的接続装置は、 セラミック基板であって複数の第 1の導電性 部を一方の面に備えると共に、 前記第 1の導電性部に電気的に接続された複数の 第 2の導電性部を他方の面に備え、 さらに前記第 2の導電性部に電気的に接続さ れて前記他方の面から突出する複数のピンを備えるセラミック基板と、 前記セラ ミック基板の一方の面に配置された電気絶縁性の樹脂基板であって前記第 1の導 電性部に接触された複数の第 3の導電性部を前記セラミツク基板の側の面に備え ると共に、 前記第 3の導電性部に電気的に接続された複数の第 4の導電性部を前 記セラミック基板の側と反対側の面に備える樹脂基板と、 被検査体の電極に接触 され,るように前記第 4の導電性部に取り付けられた複数の接触子と、 前記セラミ ック基板の前記他方の面に配置された板状のソケット装置であって前記ピンを個 々に受け入れるべく前記セラミック基板側の面に開放する複数の凹所を備えると 共に、 前記凹所に個々に配置されて対応する凹所に受け入れられた前記ピンを解 除可能に把持する複数対の把持部材を備えるソケット装置と、 前記ソケット装置 の他方の面に配置された酉 S線基板であって一方の前記把持部材に個々に電気的に 接続された複数の第 5の導電性部を備える配線基板とを含む。
上記電気的接続装置においては、 ソケット装置によるセラミック基板のピンの 把持を解除してセラミック基板を樹脂基板と共にソケット基板ひいては配線基板 から分離することができるし、 セラミック基板のピンをソケット装置の凹所に差 し込んでそれらのピンをソケット装置に把持させることにより、 セラミック基板 を樹脂基板と共にソケット装置ひいては配線基板に結合することができる。 このため、 セラミック基板の第 1及び第 2の導電性部の配列パターン及び接続 パターンを共通化しておき、 集積回路の種類に応じた樹脂基板を製作することに より、 セラミック基板を標準化することができる。
標準化されたセラミック基板によれば、 セラミック基板を大量に生産すること により、 セラミック基板を廉価にすることができるし、 集積回路の種類に応じた 樹脂基板を在庫のセラミック基板に形成することにより、 電気的接続装置の生産 期間を短縮することができる。
前記各ピンは、 前記第 2の導電性部に取り付けられたフランジ部と、 前記凹所 に受け入れられるように前記フランジ部から伸びるピン状の主体部とを備えてい てもよい。 そのようにすれば、 ピンをそのフランジ部において第 2の導電性部に 半田のような導電性接着材により接着することができるから、 第 2の導電性部へ のピンの接続作業が容易になる。 また、 フランジ部を備えていない場合に比べ、 第 2の導電性部へのピンの接着面積が大きくなるから、 ピンが第 2の導電性部に 強固に接続される。
前記第 1及び第 2の導電性部は、 前記セラミック基板に形成された配線又は導 電性の貫通穴であってその両端が前記第 1及び第 2の導電性部として作用する貫 通穴により電気的に接続されていてもよい。
前記樹脂基板は、 さらに、 多層に配置された複数の配線であって前記第 3及び 第 4の導電性部を電気的に接続する複数の配線を備えていてもよい。 そのように すれば、 セラミック基板に形成する配線数を少なくする力 \ 配線をセラミック基 板に形成しなくてもよいから、 セラミック基板の製造が容易になるし、 セラミッ ク基板が廉価になる。
前記各接触子は、 前記第 4の導電性部に片持ち梁状に取り付けられていてもよ い。 そのようにすれば、 オーバードライブが作用したとき、 接触子が撓むから、 針先の高さ位置のバラツキが吸収されて全ての接触子を集積回路の電極に確実に 接触させることができる。
前記各接触子は、 前記第 4の導電性部から前記セラミック基板の厚さ方向へ伸 びる状態に前記第 4の導電性部に取り付けられた取付部と、 該取付部から前記厚 さ方向と交差する方向へ伸びるアーム部と、 該アーム部の先端側から前記取付部 と反対側の方向へ伸びる針先部とを含む板状の接触子とされていてもよい。 その ようにすれば、 接触子を電解メツキのような電錄法により容易に及び廉価に製造 することができる。
前記アーム部は、 前記厚さ方向に間隔をおいた第 1及び第 2のアームと、 該第 1及び第 2のアームをそれらの先端部及び基端部においてそれぞれ連結する第 1 及び第 2の連結部とを備えており、 また前記基端部において前記取付部に支持さ れていると共に、 前記先端部において前記 先部を支持していてもよい。
前記ソケット装置は、 前記配線基板の側に位置するソケット基板と、 該ソケッ ト基板に対し前記厚さ方向と交差する一方向へ移動可能の可動基板であって前記 ソケット基板に対し前記セラミック基板の側に位置する可動基板と、 該可動基板 をこれの移動方向における一方側への付勢力を前記可動基板に作用させる弾性体 と、 前記可動基板を前記弾性体の力に杭して他方側に解除可能に押すカムと、 該 カムを角度的に回転させる操作部材とを含み、 前記ソケット基板及び前記可動基 板は前記凹所を共同して形成し、 各対の一方の把持部材は前記ソケット基板に取 り付けられており、 各対の他方の把持部材は前記可動基板に取り付けられていて もよい。 そのようにすれば、 セラミック基板のピンをソケット装置の凹所に嵌合 させた場合に比べ、 ソケット装置へのセラミック基板の着脱に必要な力が著しく 少ないから、 ソケット装置へのセラミック基板の着脱が容易になる。
前記ソケット装置は、 さらに、 前記各一方の把持部材に接続されて前記ソケッ ト基板から前記配線基板に向けて突出する複数の第 2のピンを備え、 前記配線基 板は、 さらに、 前記第 2のピンが個々嵌合された複数の穴であってそれぞれが前 記第 5の導電性部として作用する導電性の内面を有する複数の穴を備えていても よい。
前記ソケット装置は、 さらに、 前記配線基板と前記樹脂基板との間にあって前 記ソケット基板の移動を阻止すベく及び前記可動基板を移動可能に支持すベく前 記ソケット基板及び前記可動基板の周りに配置されたフレームを含むことができ る。 そのようにすれば、 配線基板へのソケット基板及び可動基板の装着が容易に なる。
前記フレーム及び前記可動基板の一方は、 前記可動基板をその縁部において前 記フレームに移動可能に支持する一対の溝を矩形の対向する一対の辺に対応する 箇所に有し、 前記フレーム及び前記可動基板の他方は前記溝に移動可能に受けら れた凸部を前記矩形の対向する一対の辺に対応する箇所に有していてもよい。 そ のようにすれば、 ボールやロールのように部品を用いることなく、 可動基板を移 動可能に支持することができる。
前記セラミック基板と前記ソケッ ト装置とは、 前記セラミック基板を貫通して 前記ソケット装置に螺合された複数のねじ部材により結合されていてもよい。 そ のようにすれば、 セラミック基板がソケット装置ひいては配線基板に対して安定 化する。
電気的接続装置は、 さらに、 前記配線基板の前記ソケット装置の側と反対の側 に配置された補強部材を含み、 前記補強部材は該補強部材及び前記配線基板を貫 通して前記ソケット装置に螺合された複数のねじ部材により前記配線基板及び前 記ソケット装置に組み付けられており、 前記セラミック基板とソケット装置とは セラミック基板を貫通してソケット装置に螺合された複数のねじ部材により結合 されていてもよい。 そのようにすれば、 配線基板、 ソケット装置、 セラミック基 板及び樹脂基板の平行度が高く維持される。
電気的接続装置は、 さらに、 前記配線基板の前記ソケット装置と反対側に配置 された複数の電子部品であってそれぞれが前記第 5の導電性部に電気的に接続さ れた電子部品と、 該電子部品の周りに位置する補強部材とを含むことができる。 前記捕強部材は、 前記電子部品の周りに位置する枠部と、 該枠部から仮想的な 円の半径方向へ伸びる複数のアーム部とを備えており、 また複数のねじ部材によ り前記枠部において前記配線基板及び前記ソケット装置に組み付けられていると 共に、 前記アーム部において複数の他のねじ部材により前記配線基板に取り付け られていてもよい。 そのようにすれば、 配線基板が補強されるのみならず、 配線 基板の上側の領域を有効に利用することができる。
電気的接続装置は、 さらに、 前記配線基板に配置された複数のコネクタであつ てそれぞれが前記第 5の導電性部に電気的に接続された複数の接続部を備えるコ ネクタを含むことができる。 図面の簡単な説明
図 1は、 本発明に係る電気的接続装置の一実施例を示す平面図である。
図 2は、 図 1に示す電気的接続装置の正面図である。
図 3は、 図 1に示す電気的接続装置の底面図である。 図 4は、 図 1に示す電気的接続装置を下方から見た分解斜視図である。
図 5は、 図 1に示す電気的接続装置を上方から見た分解斜視図である。
図 6は、 図 1に示す電気的接続装置の一部を拡大して示す縦断面図であって配 線基板の上部を省略して示す。
図 7は、 プローブ基板の一部を拡大して示す縦断面図である。
図 8は、 樹脂基板の下面の一部を示す斜視図である。
図 9は、 接触子の一実施例を示す図であって、 (A) は正面図であり、 (B ) は右側面図である。
図 1 0は、 ソケット装置の一実施例を示す斜視図である。
図 1 1は、 フレームへの可動基板の支持状態を示す断面図である。
図 1 2は、 ソケット基板の作用を説明するための縦断面図であって、 (A) は ピンの把持を解除している状態を示す図であり、 (B ) はピンを把持している状 態を示す図である。 発明を実施するための最良の形態
図 1〜図 1 2を参照するに、 電気的接続装置 1 0は、 半導体ゥエーハに形成さ れた未切断の集積回路又はチップ状に切断された集積回路のように、 電源用、 ァ ース用及び信号用の複数の電極を備えている集積回路を被検查体としている。 電気的接続装置 1 0は、 検査装置に取り付けられる配線基板 1 2と、 後に説明 する複数の接触子 3 2を備えるプローブ基板 1 4と、 プローブ基板 1 4を配線基 板 1 2の下側に取り外し可能に取り付ける平板状のソケット装置 1 6と、 配線基 板 1 2の上側に配置された補強部材 1 8とを含む。
配線基板 1 2は、 複数の導電性部 2 0を有すると共に、 それら導電性部 2 0に 電気的に接続された複数の配線 2 2を多層に有する円形の多層配線基板とされて いる。 集積回路の電極及び導電性部 2 0、 並びに、 導電性部 2 0及び配線 2 2は 、 それぞれ、 少なくとも 1つ対少なくとも 1つの形に、 好ましくは 1対 1の形に 対応されている。 そのような配線基板 1 2は、 ガラス入りエポキシを用いて製作 することができる。
各導電性部 2 0は、 配線基板 1 2の下面から配線基板 1 2内を伸びて配線基板 1 2の厚さ方向における途中まで伸びる導電性の筒状部材により形成されたいわ ゆる導電性スルーホールとされている。
配線基板 1 2の上面の中央には、 リレーや抵抗器のような複数の電子部品 2 4 が平面から見てほぼ矩形の領域に配置されている。 各電子部品 2 4は、 電源用又 は信号用の電極に対応されており、 半田のような導電性接着材により接続用ラン ド (図示せず) に接着されて、 配線 2 2に電気的に接続されている。
配線基板 1 2の上面には、 また、 検査装置の電気回路に接続される複数のコネ クタ 2 6が配置されている。 各コネクタ 2 6は、 それぞれが配線基板 1 2の配線
2 2を介して導電性部 2 0に電気的に接続されている。
プローブ基板 1 4は、 ほぼ矩形のセラミック基板 2 8の下面に矩形の樹脂基板
3 0を形成し、 集積回路の電極に個々に対応された複数の接触子 3 2とコンデン サのような電子部品 3 4とを樹脂基板 3 0の下面に取り付けている。 電子部品 3 4の下端の高さ位置は、 接触子 3 2の下端 (針先) のそれよりも上方とされてい る。
セラミック基板 2 8は、 これの両面に複数の導電性部 3 6及び 3 8を備えてお り、 導電性部 3 6及び 3 8をそれぞれが導電性の配線 4 0及び筒状部材 4 2によ り、 少なくとも 1つ対少なくとも 1つの形に、 好ましくは 1対 1の形に電気的に 接続している。 導電性部 3 6及び 3 8は、 それぞれ、 筒状部材 4 2の一端及び他 端とされている。
筒状部材 4 2は、 セラミック基板 2 8を厚さ方向に貫通しているように示され ているが、 実際には、 上下 2つの部材に分けられて、 ある筒状部材の上側部材と 他の筒状部材 4 2の下側部材とが配線 4 0により電気的に接続されている。 しかし、 配線 4 0をセラミック基板 2 8に備えることなく、 単一の筒状部材 4 0としてもよい p この場合、 配線 4 0を補強材としてもよレ、。
セラミック基板 2 8の上面には、 複数のピン 4 4が上方へ伸びる状態に配置さ れている。 各ピン 4 4は、 フランジ部 4 6と、 フランジ部 4 6から伸びるピン状 の主体部 4 8とを備えており、 また、 半田のような導電性接着材によりフランジ 部 4 6において上側の導電性部 3 6に接着されて電気的に接続されている。 上記の結果、 導電性部 3 6へのピン 4 4の接続作業が容易になる。 また、 ブラ ンジ部を備えていない場合に比べ、 導電性部 3 6へのピン 4 4の接着面積が大き くなるから、 ピン 4 4が導電性部 3 6に強固に接続される。
樹脂基板 3 0は、 ポリイミ ドのような電気絶縁性樹脂を用いてセラミック基板 2 8の一方の面に直接形成されている。 樹脂基板 3 0は、. これの両面に接続用パ ッドとして作用する複数の導電性部 5 0及び 5 2を備えており、 導電性部 5 0及 び 5 2をそれぞれが導電性の配線 5 4により、 少なくとも 1つ対少なくとも 1つ の形に、 好ましくは 1対 1の形に電気的に接続している。
電源用又はアース用の配線 5 6は、 樹脂基板 3 0の下面に露出されており、 ま たコンデンサのような電子部品 3 4に接続されている。 配線 5 6に接続された導 電性部 5 2は、 電源用又はアース用のパッド部として用いられる。 他の導電性部 5 2は信号用パッド部として用いられる。
各接触子 2 4は、 樹脂基板 3 0の導電性部 5 2に取り付けられた取付部 5 8と 、 取付部 5 8かち下方へ伸びるアーム部 6 0と、 アーム部 6 0の先端側から取付 部 5 8と反対側の方向 (下方) へ伸びる針先部 6 2とを含む板状の接触子 (プロ ーブ) とされている。
取付部 5 8は、 矩形の板領状域 5 8 aと、 板状領域 5 8 aから下方へ伸びてァ ーム部 6 0に達する延長部 5 8 bとを備えている。
アーム部 6 0は、 上下方向に間隔をおいた第 1及び第 2のアーム 6 0 a及び 6 0 bと、 第 1及ぴ第 2のアーム 6 0 a及び 6 0 bをそれらの先端部及び基端部に おいてそれぞれ連結する第 1及び第 2の連結部 6 0 c及び 6 0 dとを備えている 。 アーム部 6 0は、 基端部において取付部 5 Sの延長部 5 8 bに支持されている と共に、 先端部に針先部 6 2を支持している。
針先部 6 2は、 アーム部 6 0の先端側下端に続く板状の台座部 6 2 aと、 台座 部 6 2 aの下端に設けられた突起状の針先 6 2 bとを備えている。
各接触子 2 4は、 これが樹脂基板 3 0から下方に伸びる状態に、 取付部 5 8の 板状領域 5 8において半田のような導電性接着材により導電性部 5 2に接着され ている。
接触子 2 4は、 これが上記のように複雑な構造を有していても、 電解メツキの ような電铸法により容易に及び廉価に製造することができる。 ソケット装置 1 6は、 配線基板 1 2の側に位置するソケット基板 6 4と、 ソケ ット基板 6 4に対し水平面内における一方向へ移動可能の可動基板 6 6と、 ソケ ット基板 6 4及び可動基板 6 6の周りに配置されたフレーム 6 8とにより、 全体 的にほぼ矩形の板の形を有している。
ソケット装置 1 6は、 また、 可動基板 6 6をこれの移動方向における一方側へ の付勢力を可動基板 6 6に作用させる弾性体 7 0と、 可動基板 6 6を板ばねのよ うな弾性体 7 0の力に抗して他方側に解除可能に押す一対の力ム 7 2と、 カム 7 2が相対的移動不能に取り付けられた支持軸 7 4と、 カム 7 2を角度的に回転さ せるべく支持軸 7 4の各端部に取り付けられた操作部材 7 6とを含む。
ソケット基板 6 4及び可動基板 6 6は、 セラミック基板 2 8のピン 4 4を個々 に受け入れるようにセラミック基板 2 8側の面に開放する複数の ω所 7 8を共同 して形成している。
凹所 7 8は、 配線基板 1 2の筒状の導電性部 2 0に個々に対応されている。 凹 所 7 8のうち、 ソケット基板 6 4の箇所は底を有するいわゆる有底穴であり、 可 動基板 6 6の箇所は有底穴に連通する貫通穴である。
各凹所 7 8には、 一対の把持部材 8 0, 8 2が、 可動基板 6 6の移動にともな つて凹所 7 8に受け入れられたピン 4 4を解除可能に把持するように、 配置され ている。 各対の一方の把持部材 8 0はソケット基板 6 4に相対的移動不能に取り 付けられており、 各対の他方の把持部材 8 2は可動基板 6 6に相対的移動不能に 取り付けられている。
ソケット基板 6 4には、 また、 複数のピン 8 4が把持部材 8 0からソケット基 板 6 4の上方へ突出する状態に配置されている。 各ピン 8 4は、 把持部材 8 0に 電気的に接続されており、 また配線基板 1 2の筒状の導電性部 2 0に差し込まれ ている。 これにより、 ソケット基板 6 4は、 配線基板 1 2に対する移動を阻止さ れている。
可動基板 6 6は、 これの移動方向へ伸びる一対の溝 8 6を矩形の対向する縁部 に有しており、 フレーム 6 8は、 溝 8 6に移動可能に受け入れられた凸部 8 8を 矩形の対向する辺に対応する箇所に有している。 しかし、 溝 8 6をフレーム 6 8 に形成し、 凸部 8 8を可動基板 6 6に形成してもよレ、。 上記いずれの例によっても、 ピン 4 4を受け入れるように開放する凹所 7 8を 形成する位置と、 受け入れられたピン 4 4を把持部材 8 0 , 8 2により挟持する 位置とに移動される。 ソケット基板 6 4は、 可動基板 6 6に載置されている。 こ のように可動基板 6 6の支持に溝 8 6及ぴ凸部 8 8を用いると、 ボールやロール のように部品を用いることなく、 可動基板 6 6をフレーム 6 8に移動可能に支持 させることができる。
支持軸 7 4は、 可動基板 6 6の移動方向と交差して水平方向へ伸びるように、 フレーム 6 8に回転可能に支持されている。
カム 7 2は、 可動基板 6 6の移動方向を含む鉛直面内で角度的に回転されるよ うに、 支持軸 7 4にこれの長手方向に間隔をおいて取り付けられている。 カム 7 2の外周面は、 曲率半径が大きい第 1のカム面と、 曲率半径が小さい第 2のカム 面とを有する。
操作部材 7 6は、 第 1のカム面が可動基板 6 6の側面に当接する位置と、 第 2 のカム面が可動基板 6 6の側面に当接する位置とに、 支持軸 7 4を回転させるこ とができるように、 支持軸の端部に取り付けられている。
上記のようなソケット装置 1 6は、 セラミック基板 2 8のピン 4 4を凹所 7 8 に締まり嵌めの状態に嵌合させた場合に比べ、 著しく小さい力でセラミック基板 2 8をソケット装置 1 6に対し着脱することができるから、 ソケット装置 1 6へ のセラミック基板 2 8の着脱が容易になる。
また、 ソケット装置 1 6は、 フレーム 6 8により、 ソケット基板 6 4の移動を 阻止していると共に、 可動基板 6 6を移動可能に支持しているから、 配線基板 1 2へのソケット基板 6 4及び可動基板 6 6の装着が容易になる。
補強部材 1 8は、. 電子部品 2 4の周りに位置するほぼ矩形の枠部 9 0と、 枠部 9 0から仮想的な円の半径方向へ伸びる複数のアーム部 9 2とを備える。 これに より、 配線基板 1 2が補強されるのみならず、 配線基板 1 2の上側の領域を有効 に利用することができる。
補強部材 1 8は、 捕強部材 1 8及び配線基板 1 2を貫通してフレーム 6 8に螺 合された複数のねじ部材 9 4により枠部 9 0において配線基板 1 2及びソケット 装置 1 6に組み付けられていると共に、 補強部材 1 8を貫通して配線基板 1 2に 螺合された複数のねじ部材 9 6によりァ一ム部 9 2において配線基板 1 2に組み 付けられている。
プローブ基板 1 4は、 セラミック基板 2 8を貫通してフレーム 6 8に螺合され た複数のねじ部材 9 8により、 ソケット装置 1 6に組み付けられている。
配線基板 1 2, プローブ基板 1 4及びソゲット装置 1 6の相対的な位置決めは 、 配線基板 1 2からフレーム 6 8を貫通して伸びてセラミック基板 2 8に差し込 まれた複数の位置決めピン 1 0 0により、 行われる。
検査時、 電気的接続装置 1 0は、 接触子 2 4の針先 6 2 bを集積回路の電極に 押圧される。 このとき、 片持ち梁状の接触子 2 4はこれに作用するオーバードラ イブによりアーム 6 0 a, 6 O bにおいて橈む。 これにより、 針先 6 2 bの高さ 位置のバラツキが吸収されて、 全ての接触子 2 4が集積回路の電極に確実に接触 される。
電気的接続装置 1 0において、 図 1 2 (A) に示す状態から、 第 1のカム面が 可動基板 6 6の側面に当接するように、 操作部材 7 6によりカム 7 2を回転させ ると、 可動基板 6 6が弾性体 7 0の力に杭して押される。 これにより、 図 1 2 ( B ) に示すように、 把持部材 8 0, 8 2はセラミック基板 2 8のピン 4 4を把持 し、 プローブ基板 1 4はソケット装置 1 6, ひいては配線基板 1 2に取り付けら れる。
これに対し、 図 1 2 ( B ) に示す状態から、 第 2のカム面が可動基板 6 6の側 面に当接するように、 操作部材 7 6によりカム 7 2を回転させると、 可動基板 6 6が弾性体 7 0の力により押し戻される。 これにより、 図 1 2 (A) に示すよう に、 把持部材 8 0, 8 2はピン 4 4の把持を解除する。 この状態において、 ソケ ット装置 1 6に対するプローブ基板 1 4の着脱が行われる。
電気的接続装置 1 0によれば、 上記のように把持部材 8 0, 8 2によるセラミ ック基板 2 8のピン 4 4の把持を解除してセラミック基板 2 8を樹脂基板 3 0と 共にソケット基板 6 4ひいては配線基板 1 2から分離することができるし、 セラ ミック基板 2 8のピン 4 4をソケット装置 1 6の凹所 7 8に差し込んでそれらの ピン 4 4を把持部材 8 0 , 8 2に把持させることにより、 セラミック基板 2 8を 樹脂基板 3 0と共にソケット装置 1 6ひいては配線基板 1 2に結合することがで さる。
このため、 セラミック基板 2 8の導電性部 3 6, 3 8の配列パタ一ン及び接続 パターンを共通化しておき、 集積回路の種類に応じたパターンを有する樹脂基板 3 0を製作することにより、 セラミック基板 2 8を標準化することができる。 標準化されたセラミック基板 2 8は、 これを大量に生産することにより、 廉価 にすることができるし、 集積回路の種類に応じた樹脂基板 3 0を在庫のセラミッ ク基板 2 8に形成することにより、 電気的接続装置 1 0の生産期間を短縮するこ とができる。
プローブ基板 1 4としてセラミック基板 2 8と樹脂基板 3 0とを用いると、 セ ラミック基板 2 8に形成する配線数を少なくすることができるし、 極端な場合配 線をセラミック基板 2 8に形成しなくてもよいから、 セラミック基板 2 8の製造 が容易になるし.、 セラミック基板 2 8が廉価になる。
電気的接続装置 1 0によれば、 また、 補強部材 1 8が当該補強部 1 8材及び配 線基板 1 2を貫通してソケット装置 1 6に螺合された複数のねじ部材 9 6により 配線基板 1 2及びソケット装置 1 6に組み付けられていると共に、 セラミック基 板 2 8とソケット装置 1 6とがセラミック基板 2 8を貫通してソケット装置 1 6 に螺合された複数のねじ部材 9 8により結合されているから、 配線基板 1 2、 ソ ケット装置 1 6、 セラミック基板 2 8及ぴ樹脂基板 3 0の平行度が高く維持され る。
し力 し、 補強部材 1 8を備えなくてもよレ、。 その場合、 配線基板 1 2とフレー ム 6 8とを複数のねじ部材により、 結合すればよい。
本発明は、 上記実施例に限定されず、 その趣旨を逸脱しない限り、 種々変更す ることができる。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . セラミック基板であって複数の第 1の導電性部を一方の面に備えると共に 、 前記第 1の導電性部に電気的に接続された複数の第 2の導電性部を他方の面に 備え、 さらに前記第 2の導電性部に電気的に接続されて前記他方の面から突出す る複数のピンを備えるセラミック基板と、
前記セラミック基板の一方の面に配置された電気絶縁性の樹脂基板であって前 記第 1の導電性部に接触された複数の第 3の導電性部を前記セラミック基板の側 の面に備えると共に、 前記第 3の導電性部に電気的に接続された複数の第 4の導 電性部を前記セラミック基板の側と反対側の面に備える樹脂基板と、
被検査体の電極に接触されるように前記第 4の導電性部に取り付けられた複数 の接触子と、
前記セラミック基板の前記他方の面に配置された板状のソケット装置であつて 前記ピンを個々に受け入れるべく前記セラミック基板側の面に開放する複数の凹 所を備えると共に、 前記凹所に個々に配置されて対応する凹所に受け入れられた 前記ピンを解除可能に把持する複数対の把持部材を備えるソケット装置と、 前記ソケット装置の他方の面に配置された配線基板であつて一方の前記把持部 材に電気的に接続された複数の第 5の導電性部を備える配線基板とを含む、 電気 的接続装置。
2 . 前記各ピンは、 前記第 2の導電性部に取り付けられたフランジ部と、 前記 凹所に受け入れられるように前記フランジ部から伸びるピン状の主体部とを備え る、 請求項 1に記載の電気的接続装置。
3 . 前記第 1及び第 2の導電性部は、 前記セラミック基板に形成された配線又 は導電性の貫通穴であってその両端が前記第 1及び第 2の導電性部として作用す る貫通穴により電気的に接続されている、 請求項 1及び 2のいずれか 1項に記載 の電気的接続装置。
4 . 前記樹脂基板は、 さらに、 多層に配置された複数の配線であって前記第 3 及び第 4の導電性部を電気的に接続する複数の配線を備える、 請求項 1から 3の いずれか 1項に記載の電気的接続装置。
5 . 前記各接触子は、 前記第 4の導電性部に片持ち梁状に取り付けられている 、 請求項 1から 4のいずれか 1項に記載の電気的接続装置。
6 . 前記各接触子は、 前記第 4の導電性部から前記セラミック基板の厚さ方向 へ伸びる状態に前記第 4の導電性部に取り付けられた取付部と、 該取付部の一端 部から前記厚さ方向と交差する方向へ伸びるアーム部と、 該アーム部の先端側か ら前記取付部と反対側の方向へ伸びる針先部とを含む板状の接触子とされている 、 請求項 5に記載の電気的接続装置。
7 . 前記アーム部は、 前記厚さ方向に間隔をおいた第 1及び第 2のアームと、 該第 1及び第 2のアームをそれらの先端部及び基端部においてそれぞれ連結する 第 1及び第 2の連結部とを備えており、 また前記基端部において前記取付部に支 持されていると共に、 前記先端部において前記針先部を支持している、 請求項 6 に記載の電気的接続装置。
8 . 前記ソケット装置は、 前記配線基板の側に位置するソケット基板と、 該ソ ケット基板に対し前記厚さ方向と交差する一方向へ移動可能の可動基板であつて 前記ソケット基板に対し前記セラミック基板の側に位置する可動基板と、 該可動 基板をこれの移動方向における一方側への付勢力を前記可動基板に作用させる弾 性体と、 前記可動体を前記弾性体の力に抗して他方側に解除可能に押す力ムと、 該カムを角度的に回転させる操作部材とを含み、
前記ソケット基板及び前記可動基板は前記凹所を共同して形成し、 各対の一方 の把持部材は前記ソケット基板に取り付けられており、 各対の他方の把持部材は 前記可動基板に取り付けられている、 請求項 1カゝら 7のいずれか 1項に記載の電 気的接続装置。
9 . 前記ソケット装置は、 さらに、 前記各一方の把持部材に接続されて前記ソ ケット基板から前記配線基板に向けて突出する複数の第 2のピンを備え、 前記配線基板は、 さらに、 前記第 2のピンが個々嵌合された複数の穴であって それぞれが前記第 5の導電性部として作用する導電性の内面を有する複数の穴を 備える、 請求項 8に記載の電気的接続装置。
1 0 . 前記ソケット装置は、 さらに、 前記配線基板と前記樹脂基板との間にあ つて前記ソケット基板の移動を阻止すベく及び前記可動基板を移動可能に支持す ベく前記ソケット基板及び前記可動基板の周りに配置されたフレームを含む、 請 求項 8及び 9のいずれか 1項に記載の電気的接続装置。
1 1 . 前記フレーム及び前記可動基板の一方は、 前記可動基板をその縁部にお いて前記フレームに移動可能に支持する一対の溝を矩形の対向する一対の辺に対 応する箇所に有し、 前記フレーム及び前記可動基板の他方は前記溝に移動可能に 受けられた凸部を前記矩形の対向する一対の辺に対応する箇所に有する、 請求項 1 0に記載の電気的接続装置。
1 2 . 前記セラミック基板と前記ソケット装置とは、 前記セラミック基板を貫 通して前記ソケット装置に螺合された複数のねじ部材により結合されている、 請 求項 1から 1 1のいずれか 1項に記載の電気的接続装置。
1 3 . さらに、 前記配線基板の前記ソケット装置の側と反対の側に配置された 補強部材を含み、 前記補強部材は該補強部材及び前記配線基板を貫通して前記ソ ケット装置に螺合された複数のねじ部材により前記配線基板及び前記ソケット装 置に組み付けられており、 前記セラミック基板とソケット装置とはセラミック基 板を貫通してソケット装置に螺合された複数のねじ部材により結合されている、 請求項 1から 1 2のいずれか 1項に記載の電気的接続装置。
1 4 . さらに、 前記配線基板の前記ソケット装置と反対側に配置された複数の 電子部品であってそれぞれが前記第 5の導電性部に電気的に接続された電子部品 と、 該電子部品の周りに位置する補強部材とを含む、 請求項 1から 1 2のいずれ か 1項に記載の電気的接続装置。
1 5 . 前記補強部材は、 前記電子部品の周りに位置する枠部と、 該枠部から仮 想的な円の半径方向へ伸びる複数のアーム部とを備えており、 また複数のねじ部 材により前記枠部において前記配線基板及び前記ソケット装置に組み付けられて いると共に、 前記アーム部において複数の他のねじ部材により前記配線基板に取 り付けられている、 請求項 1 4に記載の電気的接続装置。
1 6 . さらに、 前記配線基板に配置された複数のコネクタであってそれぞれが 前記第 5の導電性部に電気的に接続された複数の接続部を備えるコネクタを含む 、 請求項 1から 1 5のいずれか 1項に記載の電気的接続装置。
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