WO2005050836A1 - 端面反射型弾性表面波装置及びその製造方法 - Google Patents

端面反射型弾性表面波装置及びその製造方法 Download PDF

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WO2005050836A1
WO2005050836A1 PCT/JP2004/016603 JP2004016603W WO2005050836A1 WO 2005050836 A1 WO2005050836 A1 WO 2005050836A1 JP 2004016603 W JP2004016603 W JP 2004016603W WO 2005050836 A1 WO2005050836 A1 WO 2005050836A1
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thin film
piezoelectric thin
acoustic wave
surface acoustic
wave device
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PCT/JP2004/016603
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French (fr)
Inventor
Michio Kadota
Original Assignee
Murata Manufacturing Co., Ltd.
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/02535Details of surface acoustic wave devices
    • H03H9/02614Treatment of substrates, e.g. curved, spherical, cylindrical substrates ensuring closed round-about circuits for the acoustical waves
    • H03H9/02629Treatment of substrates, e.g. curved, spherical, cylindrical substrates ensuring closed round-about circuits for the acoustical waves of the edges
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/02535Details of surface acoustic wave devices
    • H03H9/02637Details concerning reflective or coupling arrays
    • H03H9/02669Edge reflection structures, i.e. resonating structures without metallic reflectors, e.g. Bleustein-Gulyaev-Shimizu [BGS], shear horizontal [SH], shear transverse [ST], Love waves devices

Definitions

  • Edge reflection type surface acoustic wave device and method of manufacturing the same
  • the present invention relates to an edge-reflection type surface acoustic wave device and a method of manufacturing the same, and more particularly, to an edge-reflection type surface acoustic wave device having a structure in which a piezoelectric thin film and an interdigital electrode force S are laminated in this order on a substrate.
  • the present invention relates to a surface acoustic wave device and a method for manufacturing the same.
  • a surface acoustic wave mainly composed of a SH wave or a longitudinal wave is used, and the surface wave is reflected between a pair of end faces of a substrate.
  • Various end-face reflective surface acoustic wave devices are known!
  • FIG. 9 is a perspective view showing an end-face reflection type surface acoustic wave device disclosed in Patent Document 3.
  • IDT electrodes 103 and 104 are formed on a surface acoustic wave substrate 102.
  • the IDT electrodes 103 and 104 are arranged along the surface wave propagation direction.
  • Reflecting end faces 102b and 102c are provided along the outermost electrode fingers of IDTs 103 and 104.
  • the excited surface wave is configured to be reflected between the reflection end faces 102b and 102c.
  • a piezoelectric substrate is used as the surface acoustic wave substrate 102, but it may be formed of an insulating substrate or a structure in which a piezoelectric thin film is laminated on a piezoelectric substrate.
  • the reflection end faces 102b and 102c are formed by applying a groove force from the upper surface 102a of the surface acoustic wave substrate 102 using a cutting blade.
  • the reflection end faces 102b and 102c are formed by the groove processing by the cutting blade so as not to penetrate the surface acoustic wave substrate 102. Therefore, it is said that chipping of the substrate can be reduced.
  • Patent Document 4 discloses an edge-reflection surface acoustic wave device in which a ladder-type filter is configured.
  • FIG. 10 is a perspective view showing the end-face reflection type surface acoustic wave device described in Patent Document 4.
  • the surface acoustic wave substrate 121 is fixed on the package substrate 130.
  • the surface wave substrate 121 is constituted by a piezoelectric substrate.
  • three series arm resonators S1 to S3 composed of end face reflection type surface acoustic wave resonators and six parallel arm resonators P1 to P6 are configured.
  • Grooves 122 and 123 are formed on the upper surface of the surface acoustic wave substrate 121 in parallel with the direction in which the electrode fingers of each resonator extend.
  • the grooves 122 and 123 are formed by dicing or the like.
  • the parallel arm resonators PI, P4, and P5 use one end face 122a of the groove 122 and the end face 121a of the surface acoustic wave substrate 121 as a pair of reflection end faces.
  • the series arm resonators S1-S3 use the end face 122b of the groove 122 and the end face 123a of the groove 123 as a pair of reflection end faces.
  • the parallel arm resonators P2, P3, and P6 use the end face 123b of the groove 123 and the end face 121b of the surface acoustic wave substrate 121 as a pair of reflection end faces.
  • Each resonator is electrically connected by a bonding wire so that the series arm resonators S1 to S3 and the parallel arm resonators P1 to P6 form a ladder circuit.
  • Patent Document 5 discloses an end-face reflection type surface acoustic wave device schematically shown in FIG. That is, in the end-face reflection type surface acoustic wave device 141, a first-stage end-face reflection type longitudinally coupled resonator filter 143 and a second-stage end-face reflection type longitudinally coupled resonator filter 144 are formed on the surface wave substrate 142. The end face reflection type longitudinally coupled resonator filters 143 and 144 are cascaded.
  • each of the end face reflection type longitudinally coupled resonator filter 143 and the end face reflection type vertical coupled resonator filter 144 uses a pair of reflection end faces 142a and 142b.
  • the reflection end faces 142a and 142b are formed by processing the surface acoustic wave substrate 142 along the outermost electrode fingers so as to be parallel to the direction in which the electrode fingers extend.
  • the end surfaces 142a and 142b are formed by cutting the force on the upper surface 142c of the surface acoustic wave substrate 142 using a dicer.
  • Patent Document 1 JP-A-7-263998
  • Patent Document 2 Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-294045
  • Patent Document 3 JP-A-2000-278091
  • Patent Document 4 JP-A-11 46127
  • Patent Document 5 JP-A-2002-261573
  • the reflection end surface is formed by performing cutting from the upper surface side of the surface acoustic wave substrate using a dicer-cutting blade. It had been. Therefore, the position of the reflection end face tends to shift to a desired position force due to a variation in the positional accuracy of the dicer or the like. For this reason, undesired ripples tend to occur due to the displacement of the reflection end face.
  • the reflection end face is formed by cutting using a dicer or the like, even if a groove is formed through the surface acoustic wave substrate 102 as shown in FIG. Since the substrate was cut, chipping in which a part of the substrate was chipped sometimes occurred. If chipping occurs at a part of the reflection end face, it becomes difficult to sufficiently reflect the surface wave. Therefore, there is a problem that the impedance ratio, which is the ratio of the impedance at the anti-resonance point to the impedance at the resonance point, becomes small.
  • the plurality of parallel arm resonators P1, P4, P5 share the end face 121a and the end face 122a.
  • the series arm resonators S1-S3 also share a pair of end faces 122b, 123a
  • the parallel arm resonators P2, P3, P6 also have a common pair of end faces 121b, 123b. Therefore, it is necessary to make the distance between the reflection end faces of a plurality of surface acoustic wave resonators equal, and the degree of freedom in design is small. Not only that, since bonding wires are used to connect the surface acoustic wave resonators, it has been difficult to reduce the size and reduce the height.
  • the first end face reflection type longitudinally coupled resonator filter 143 and the second stage end face reflection type longitudinally coupled resonator filter 144 In either case, the end surfaces 142a and 142b of the piezoelectric substrate 142 are used as reflection end surfaces. Therefore, in the end face reflection type longitudinally coupled resonator filters 143 and 144, it is necessary to make the distance between the pair of reflection end faces equal, and the degree of freedom in design is small.
  • An object of the present invention is to provide a reflective end face that can be formed with high precision in view of the above-described current state of the art, and to suppress deterioration in characteristics due to variations in the position of the reflective end face.
  • the present invention relates to an edge-reflective surface acoustic wave device including a substrate, a piezoelectric thin film formed on the substrate, and an interdigital electrode formed on the piezoelectric thin film.
  • a reflector provided near the outermost electrode finger of the electrode and reflecting the excited surface wave is not provided on the substrate, but is provided on the piezoelectric thin film.
  • the reflection portion is a concave portion having a reflection end surface extending in parallel to a direction in which the electrode finger extends.
  • the recess is provided as a groove penetrating the piezoelectric thin film.
  • the piezoelectric thin film is formed of a piezoelectric single crystal thin film.
  • LiNbO or LiTaO is preferably used as the piezoelectric single crystal thin film.
  • the substrate is a LiNbO substrate
  • the piezoelectric thin film is made of LiNbO or LiTaO.
  • the substrate is a LiTaO substrate
  • the piezoelectric thin film is made of LiNbO or LiTaO.
  • the device further includes a buffer layer disposed between the substrate and the piezoelectric thin film.
  • the device further includes an SiO film formed so as to cover the interdigital electrode and the piezoelectric thin film.
  • an SiO film formed between the substrate and the piezoelectric thin film is further provided.
  • the method for manufacturing an edge-reflection surface acoustic wave device includes a step of preparing a substrate, a step of forming a piezoelectric thin film on the substrate, and an interdigital A step of forming a pole; and a step of forming, on the piezoelectric thin film, a reflecting portion disposed near an outermost electrode finger of the interdigital electrode.
  • the formation of the reflection portion is performed by etching the piezoelectric thin film.
  • the step of forming a reflection portion on the piezoelectric thin film is the same as the step of forming the piezoelectric thin film. Is done.
  • the step of forming a reflection portion on the piezoelectric thin film includes forming the interdigital electrode on the piezoelectric thin film. It is done after doing.
  • the reflection portion provided near the outermost electrode finger of the interdigital electrode and reflecting the excited surface wave is disposed on the substrate. It is provided on the piezoelectric thin film. Accordingly, the piezoelectric thin film can be processed with higher precision and easier than a hard substrate, so that the accuracy of the reflection end face can be improved. Therefore, it is possible to prevent variations and deterioration in the characteristics of the end face reflection type surface acoustic wave device.
  • the reflection portion for forming the reflection end face as described above is provided on the piezoelectric thin film.
  • a reflecting portion may be provided by forming a concave portion or the like so as to reach the substrate beyond the piezoelectric thin film.
  • the processing of the concave portion and the like for forming the reflective portion extends to the substrate beyond the piezoelectric thin film, but the reflective end face is constituted only by the inner surface of the concave portion and the like provided in the piezoelectric thin film. Therefore, the reflection end face itself is hardly affected by chipping or the like. Therefore, the accuracy of the reflection end face can be effectively improved. More preferably, it is desirable that the reflecting portion is provided only on the piezoelectric thin film. That is, the reflection portion is preferably not provided on the substrate, but is provided on the piezoelectric thin film disposed on the substrate.
  • the reflecting portion can be formed with high accuracy and the reflecting portion only needs to be formed only on the piezoelectric thin film, the degree of freedom in design can be increased.
  • the degree of freedom in design can be increased.
  • in a structure having a plurality of end-reflection surface acoustic wave resonators and filters it is possible to easily form the optimum reflection part for each of the plurality of end-reflection surface acoustic wave resonators and filters by processing the piezoelectric thin film. it can.
  • wiring electrodes and the like can be formed on the piezoelectric thin film, the number of bonding wires can be reduced or the number of bonding wires can be reduced. Therefore, it is possible to reduce the size and height of the end surface reflection type surface acoustic wave device.
  • the reflecting portion is a concave portion having a reflecting end face extending in parallel to the direction in which the electrode fingers extend
  • the reflecting end face can be easily formed simply by processing the piezoelectric thin film by etching or the like. can do.
  • the concave portion is provided as a groove penetrating the piezoelectric thin film
  • the concave portion may reach the substrate below the piezoelectric thin film beyond the groove penetrating the piezoelectric thin film.
  • the reflection end surface is formed by the inner surface of the groove provided in the piezoelectric thin film. Therefore, since it is not necessary to process the substrate for forming the reflection end face itself, it is unlikely that the accuracy of the reflection end face is reduced by chipping or the like.
  • the piezoelectric thin film is composed of a piezoelectric single crystal thin film, good characteristics can be obtained because the electromechanical coupling coefficient is larger than that of a piezoelectric polycrystalline film.
  • the piezoelectric single crystal thin film is one selected from LiNbO or LiTaO force.
  • a large electromechanical coupling coefficient can be obtained.
  • the substrate is a LiNbO substrate and the piezoelectric thin film is LiNbO or LiTaO
  • the substrate force is an SLiTaO substrate, and the piezoelectric thin film is LiNbO or LiTaO.
  • a piezoelectric single crystal film is obtained.
  • a buffer layer is further provided between the substrate and the piezoelectric thin film, the crystallinity of the piezoelectric thin film can be improved, and the adhesion of the piezoelectric thin film to the substrate can be improved.
  • Wave number temperature characteristics can be improved.
  • the reflecting portion arranged near the outermost electrode finger of the interdigital electrode is formed on the piezoelectric thin film. Therefore, the reflection end face can be formed only by treating the piezoelectric thin film so as to form the reflection portion on the piezoelectric thin film. Therefore, the accuracy of the position of the reflection end face can be improved, and an end face reflection type surface acoustic wave device excellent in reproducing the formation can be provided. In addition, since chipping of the substrate does not occur, deterioration of characteristics due to chipping hardly occurs.
  • the processing at the time of forming the reflection end face is performed by processing the piezoelectric thin film so as to form the reflection portion only on the piezoelectric thin film that is not a substrate.
  • the step of forming the reflecting portion on the piezoelectric thin film is performed by etching a portion where the reflecting portion is provided, the reflecting end face is raised by etching. It can be formed accurately and easily.
  • the step of forming the reflection portion on the piezoelectric thin film may be performed in the step of forming the piezoelectric thin film.
  • the reflection portion can be formed simultaneously with the formation of the thin film.
  • the reflecting portion on the piezoelectric thin film is formed with high precision near the outermost electrode finger of the interdigital electrode. be able to.
  • FIGS. 1 (a) and 1 (b) are a perspective view and a front sectional view of an edge-reflective surface acoustic wave device according to a first embodiment of the present invention.
  • FIGS. 2 (a) to 2 (d) are views of an edge-reflection surface acoustic wave device according to an embodiment of the present invention. It is each partial notch front sectional drawing which shows a manufacturing process.
  • FIG. 3 is a partially cutaway front view showing a state in which a concave portion is formed by etching in the method for manufacturing an edge-reflective surface acoustic wave device according to the present invention.
  • FIGS. 4 (a) and 4 (b) are front views of respective partially cutouts showing a modification of a process for forming a reflection portion in the method of manufacturing an edge-reflection surface acoustic wave device according to the present invention. It is sectional drawing.
  • FIG. 5 is a front cross-sectional view for explaining a modification of the edge-reflection surface acoustic wave device according to the present invention.
  • FIG. 6 is a front cross-sectional view for explaining another modification of the edge-reflection surface acoustic wave device according to the present invention.
  • FIG. 7 is a perspective view showing an edge-reflective surface acoustic wave device according to a second embodiment of the present invention.
  • FIG. 8 is a perspective view showing a conventional edge-reflective surface acoustic wave device, which is a conventional edge-reflective surface acoustic wave device, which is described as a comparative example of the embodiment shown in FIG. 7.
  • FIG. 8 is a perspective view showing a conventional edge-reflective surface acoustic wave device, which is a conventional edge-reflective surface acoustic wave device, which is described as a comparative example of the embodiment shown in FIG. 7.
  • FIG. 8 is a perspective view showing a conventional edge-reflective surface acoustic wave device, which is a conventional edge-reflective surface acoustic wave device, which is described as a comparative example of the embodiment shown in FIG. 7.
  • FIG. 8 is a perspective view showing a conventional edge-reflective surface acoustic wave device, which is a conventional edge-reflective surface acoustic wave device, which is described as a comparative example of the embodiment shown in FIG. 7.
  • FIG. 9 is a perspective view showing another example of a conventional edge reflection type surface acoustic wave device.
  • FIG. 10 is a perspective view showing still another example of a conventional edge reflection type surface acoustic wave device.
  • FIG. 11 is a perspective view showing still another example of a conventional edge reflection type surface acoustic wave device.
  • FIGS. 1 (a) and 1 (b) are a perspective view and a front sectional view showing an edge-reflective surface acoustic wave device according to one embodiment of the present invention.
  • the edge-reflection surface acoustic wave device 1 is a substrate made of a 36-degree rotation Y-plate LiTaO single-crystal substrate.
  • the piezoelectric thin film 3 is composed of a LiTaO single crystal thin film having the same orientation as the substrate. However, in the present invention, the piezoelectric thin film
  • a piezoelectric thin film is composed of one or more kinds of piezoelectric single crystal thin films selected from 33. Good characteristics can be obtained by such a piezoelectric single crystal thin film having a large electromechanical coupling coefficient.
  • IDT electrodes 4, 5, 6, and 7 are formed on the piezoelectric thin film 3.
  • Each of the IDT electrodes 417 has a plurality of electrode fingers.
  • the IDT electrode 4 and the IDT electrode 5 constitute a first longitudinally coupled resonator type surface acoustic wave filter 8, and the IDT electrodes 4 and 5 are arranged along the surface wave propagation direction.
  • a concave portion 10 which is a reflective portion of the piezoelectric thin film 3 is formed so as to be in contact with the outer edge of the outermost electrode finger 4 a of the IDT electrode 4.
  • a concave portion 11 as a reflecting portion is formed in the piezoelectric thin film 3 so as to contact an outer edge of the outermost electrode finger 5a of the IDT electrode 5.
  • the concave portions 10 and 11 are provided so as not to penetrate the piezoelectric thin film 3, but may be grooves that penetrate the piezoelectric thin film 3.
  • the concave portions 10, 11 serving as reflecting portions are provided for forming the reflecting end faces 10a, 11a.
  • the The reflection end faces 10a, 11a extend in parallel with each other and extend in the direction in which the electrode fingers extend.
  • the IDT electrodes 4 and 5 are arranged between the pair of reflection end faces 10a and 11a.
  • the first-stage longitudinally coupled resonator type surface acoustic wave filter 8 is an end-face reflection type longitudinally coupled resonator type surface acoustic wave filter using a pair of reflection end faces 10a and 1la.
  • the IDT electrode 6 is connected to the IDT electrode 5 by a wiring electrode 12.
  • the IDT electrodes 6 and 7 constitute a second longitudinally coupled resonator type surface acoustic wave filter 13. That is, the IDT electrodes 6 and 7 are arranged in the surface wave propagation direction, and the concave portion 14 serving as a reflection portion is formed so as to be in contact with the outer edge of the outermost electrode finger 6a of the IDT electrode 6.
  • a concave portion 15 as a reflecting portion is formed in the piezoelectric thin film 3 so as to be in contact with the outer edge of the outermost electrode finger 7a of the IDT electrode 7.
  • End surfaces 14a and 15a inside concave portions 14 and 15, which are reflection portions, constitute reflection end surfaces.
  • the concave portions 14 and 15 serving as the reflecting portions are provided so as to penetrate the piezoelectric thin film 3 similarly to the concave portions 10 and 11, but may not reach the lower surface of the piezoelectric thin film 3.
  • the end face reflection type surface acoustic wave device 1 of the present embodiment is a two-stage filter in which the longitudinally coupled resonator type surface acoustic wave filters 8 and 13 are cascaded.
  • Each of the longitudinally coupled resonator-type surface acoustic wave filters 8 and 13 uses the inner end faces of the concave portions 10, 11, 14, and 15, which are the reflectors provided in the piezoelectric thin film 3, as the reflection end faces. ing.
  • the concave portions 10, 11, 14, and 15 that are the reflective portions constituting the reflective end face may be provided in the piezoelectric thin film 3, and the concave portions 10, 11, 14, and 15 are formed by etching or the like. It is easily formed with high precision by the method. That is, in the end surface reflection type surface acoustic wave device 1, a reflection end surface can be formed without cutting the hard substrate 2 using a dicer or the like. Therefore, the end face can be formed with high accuracy, and a high frequency can be realized in which chipping or the like is hardly generated.
  • the recesses 10, 11, 14, and 15 may be formed to reach the substrate 2 beyond the piezoelectric thin film 3.
  • the reflection end surface is constituted by the inner surfaces of the concave portions 10, 11, 14, and 15 provided in the piezoelectric thin film.
  • chipping or the like is likely to occur at the portion reaching the substrate, whereas chipping is unlikely to occur at the inner surfaces of the concave portions 10, 11, 14, and 15 provided in the piezoelectric thin film. Therefore, it is necessary to form the reflection end face with high accuracy.
  • the concave portions 10, 11, 14, and 15 are formed only in the piezoelectric thin film 3 which is not a substrate.
  • the edge reflection type surface acoustic wave device 1 In manufacturing the edge reflection type surface acoustic wave device 1, first, as shown in FIG. 2 (a), a wafer-like substrate 2A is prepared. Next, the piezoelectric thin film 3 is formed on the entire surface of the substrate 2A.
  • the piezoelectric thin film 3 is formed by an appropriate thin film forming method such as a MOCVD method. In this embodiment, a LiTaO single crystal thin film having a thickness of
  • the substrate 2A is a 36 ° rotating Y-plate LiTaO single-crystal substrate, the piezoelectric thin film
  • Film 3 is formed as a LiTaO epitaxial single crystal thin film having the same crystal orientation as substrate 2A.
  • IDT electrodes 4, 5, 6, 7 and wiring 12 are formed.
  • FIG. 2B only the IDT electrodes 4 and 5 are shown. Further, a plurality of IDT electrodes 4, 5, 6, 7 and wirings 12 are formed on the piezoelectric thin film of the force substrate 2A which is not shown in FIG. 2 (b).
  • the formation of the IDT electrodes 4, 5, 6, 7 and the wiring 12 can be performed by a lift-off method using photolithography.
  • the IDT electrodes 4, 5, 6, and 7 are formed so that the thickness of the IDT electrodes 4, 5, 6, and 7 that also generate A1 force is 0.08 ⁇ , that is, 1. .
  • is the wavelength of the surface acoustic wave.
  • a photoresist 21 is applied to portions of the IDT electrodes 4, 5, 6, 7 and the wiring 12 which are not etched in a later step.
  • etching is performed by reactive ion etching.
  • the portion of the piezoelectric thin film 3 that is not covered with the resist 21 is etched, and the concave portions 10, 11, 14, which are 3.5 / zm deep reflecting portions. 15 is formed.
  • the wafer-like substrate 2 A is cut into individual edge-reflection surface acoustic wave devices, thereby obtaining the edge-reflection surface acoustic wave device. You can get one.
  • the etching rate is lower than that in the case where the piezoelectric single crystal itself is etched by reactive ion etching. About 5-7 times faster. Therefore, in the above embodiment, a groove having a depth of about 3.5 m can be formed by reactive ion etching for about 3 to 5 hours.
  • two end face reflection type longitudinally coupled surface acoustic wave resonator filters are formed using the substrate 2.
  • the reflection end faces of the wave filters 8 and 13 are formed by forming concave portions 10 and 11 or concave portions 14 and 15 as reflective portions in the piezoelectric thin film, respectively. Therefore, as is apparent from FIG. 2, a pair of reflection end faces of each longitudinally coupled resonator surface acoustic wave filter can be formed at an appropriate position for each filter. Therefore, it is possible to provide an end-reflection surface acoustic wave device in which the degree of freedom of design is increased and a plurality of longitudinally coupled surface acoustic wave resonator filters having desired frequency characteristics are configured.
  • the outermost electrode fingers 4a and 5a of the IDT electrodes 4 and 5 are formed in advance with a narrower electrode finger width than the other electrode fingers when forming the IDT electrodes 4 and 5. (See Fig. 2 (b)).
  • IDT electrode fingers 4A and 5A having a plurality of electrode fingers having the same width may be formed.
  • the resist 21A may be arranged so as not to reach the outer region of the portion where the outermost electrode finger is formed. Therefore, in the structure shown in FIG. In this case, the electrode finger portions that are not covered with the resist are removed, and a structure similar to the structure shown in FIG. 2D can be obtained. That is, the width of the outermost electrode finger is narrower than that of the other electrode fingers, and the recess is formed so as to be in contact with the outer edge of the outermost electrode finger.
  • the concave portions 10, 11, 14, and 15 which are the reflection portions for forming the reflection end face in the piezoelectric thin film 3 are formed by forming the IDT electrodes 417.
  • a piezoelectric thin film provided with a concave portion may be formed in advance.
  • at least one IDT electrode may be formed on the piezoelectric thin film between a pair of recesses provided in the piezoelectric thin film.
  • the formation of the concave portion is performed by reactive ion etching.
  • the etching method is not particularly limited, and ion etching, ECR etching, or the like may be used.
  • the etching may be performed by a danilogical etching using a method such as the above.
  • the reflection end faces 10a, 11a, 14a, and 15a form an angle of 90 ° with respect to the substrate surface, but if they are within a range of about 90 ° ⁇ 30 °, there is no problem in practical use. Has been experimentally confirmed.
  • the depth of the concave portions 10, 11, 14, 15, which are the above-mentioned reflecting portions, may be 1 wavelength or more when the dielectric constant of the piezoelectric thin film 3 is 20 or more with respect to the surface wave wavelength. Is sufficient, and preferably at least two wavelengths, whereby better properties are obtained.
  • the surface wave used is not particularly limited as long as it can constitute an edge-reflection surface acoustic wave device, and one of an SH component, an SV component, and a longitudinal wave component is used as a main component.
  • An appropriate surface wave is used.
  • SH waves in the surface acoustic wave device of the present invention.
  • the ratio of the main component is 70% or more.
  • the crystal orientation of the piezoelectric thin film should be (0 °, 85 ° — 160 °, 0 °) in Euler angle.
  • LiTaO film When used as a piezoelectric thin film, its crystal orientation is Euler's angle (90 °, 90 °, 30 ° -110 °), and the crystal orientation is in the range of (90 °, 90 °, 30-135 °). Masu! / ⁇ .
  • a buffer layer 31 may be provided between the substrate and the piezoelectric thin film.
  • the buffer layer 31 acts to enhance the crystallinity of the piezoelectric thin film 3 formed on the buffer layer 31 and also functions to firmly adhere the piezoelectric thin film 3 to the substrate 2.
  • Examples of a material constituting such a buffer layer 31 include Pt, ZnO, Au, Al, Ag, A1N, and GaN.
  • the buffer layer 31 is used as a ground layer by electrically connecting the buffer layer and a portion of the IDT electrode connected to the ground potential.
  • the thickness of the buffer layer 31 is not particularly limited because it is formed as a base layer of the piezoelectric thin film 3.
  • the concave portions 10 and 11 serving as the reflecting portions are formed so as to penetrate the piezoelectric thin film 3.
  • the substrate 2 is made of a suitable single crystal or ceramic, preferably a piezoelectric single crystal, and more preferably a LiTaO single crystal or a LiNbO single crystal. Board 2 and
  • a preferable combination of the piezoelectric thin film 3 is that when the substrate 2 is a LiTaO substrate
  • the thin film 3 is preferably made of LiTaO, LiNbO or ZnO.
  • Substrate 2 is LiNbO
  • the piezoelectric thin film 3 is preferably made of LiTaO, LiNbO or ZnO.
  • an epitaxially grown piezoelectric single crystal thin film can be reliably obtained as the piezoelectric thin film 3.
  • the piezoelectric thin film 3 is a piezoelectric single crystal thin film that is epitaxially grown, a large electromechanical coupling coefficient can be obtained, and the bandwidth can be expanded.
  • the orientation of the piezoelectric thin film 3 can be freely selected, and for example, a large electromechanical coupling coefficient can be obtained. Therefore, the orientation of the piezoelectric thin film can be selected according to the desired characteristics of the surface acoustic wave device.
  • the height dimension of the reflection end face In order to reflect surface waves and obtain good characteristics, the height dimension of the reflection end face must be
  • the wavelength of the surface wave is preferably at least one wavelength, more preferably at least two wavelengths. Therefore, the thickness of the piezoelectric thin film 3 is preferably at least one wavelength, more preferably at least two wavelengths.
  • an SiO film 32 may be formed on the piezoelectric thin film 3 and the IDT electrodes 4 and 5 to further improve the temperature characteristics.
  • an SiO film 32 may be formed on the piezoelectric thin film 3 and the IDT electrodes 4 and 5 to further improve the temperature characteristics. in this case,
  • the recess may be formed by etching.
  • the thickness of the iO film 32 is preferably in the range of 0.15 ⁇ 0.4. Below 0.15 ⁇ , temperature characteristics
  • the effect of improving the performance may not be sufficiently obtained. If the value exceeds 0.4 ⁇ , the surface wave may be damped. The same effect can be obtained by forming SiO under the piezoelectric film.
  • the thickness of the IDT electrodes 417 is not limited to the numerical range of the above-described embodiment, but may be 0.01 ⁇ -0.15 in the case of an electrode made of A1, Au or Pt, Ta, If it is composed of W, it should be within the range of 0.003 ⁇ -0.04 ⁇ , Cu, Ni, and Ag. That is, when an SH type surface wave is used, a thinner electrode film can be used than in the case of a general surface acoustic wave device.
  • FIG. 7 is a perspective view showing an edge-reflective surface acoustic wave device according to a second embodiment of the present invention.
  • the end surface reflection type surface acoustic wave device 41 is composed of a ladder type filter in which three series arm resonators S1 to S3 and two parallel arm resonators PI and ⁇ 2 are connected to form a ladder type filter. This is an end face reflection type surface acoustic wave device having a filter configuration.
  • Each of the series arm resonators S1 to S3 and the parallel arm resonators PI and # 2 has an IDT electrode and a reflection end face formed by a side surface of a concave portion which is a reflection portion disposed on both sides of the IDT electrode.
  • the piezoelectric thin film 43 is formed on the substrate 42, and the series arm resonators S1 to S3 or the parallel arm resonators PI and ⁇ 2 are formed on the piezoelectric thin film 43.
  • IDT electrodes 44-48 are formed.
  • a concave portion 49-58 constituting a reflecting portion is provided.
  • the concave portions 49-58 are configured to penetrate the piezoelectric thin film 43.
  • the inner side surface of each of the concave portions 49-58 which is a reflection portion, forms a reflection end surface, and the reflection end surface extends in parallel with the direction in which the electrode fingers of each resonator extend.
  • the edge-reflection surface acoustic wave device 41 of the second embodiment is provided except that the five end-reflection surface acoustic wave resonators are provided so as to form a ladder-type filter. It is made of the same material as that of the end surface reflection type surface acoustic wave device 1 of the first embodiment.
  • the distance between the pair of reflection end faces 49a and 50a of the parallel arm resonator S1 is equal to the distance between the reflection end faces of the series arm resonators S2 and S3. The distance is different.
  • the distance between the pair of reflection end faces 55a and 56a of the parallel arm resonator P1 is different from the distance between the pair of reflection end faces 57a and 58a of the parallel arm resonator P2.
  • the plurality of end face reflection type surface acoustic wave resonators which are constituted Can be selected.
  • the concave portion is formed in the piezoelectric thin film 43 to form the reflection end face, but the concave portion may extend to the substrate 42 below the piezoelectric thin film 43.
  • the reflection end surface is constituted by the inner surface of the concave portion provided in the piezoelectric thin film 43. Therefore, the reflection end face is formed with high precision because it is hardly affected by chipping or the like at the portion reaching the substrate.
  • the concave portion is provided only in the piezoelectric thin film 43 so as not to reach the substrate 42.
  • FIG. 8 is a perspective view showing an edge-reflection surface acoustic wave device 201 in which three series arm resonators S1 to S3 and two parallel arm resonators PI and P2 are formed on one surface wave substrate 202.
  • FIG. 8 In this end surface reflection type surface acoustic wave device 201, the pair of reflection end surfaces of the series arm resonators SI, S2, and S3 are formed by cutting the top surface force of the surface wave substrate 202 using a dicer or the like. These are the reflection end surfaces 202a and 202b.
  • the reflection end faces of the series arm resonators S1 to S3 are shared, the optimum IDT logarithm and thus the distance between the reflection end faces cannot be adopted as the series arm resonators S1 to S3.
  • a pair of reflection end surfaces is similarly used for the parallel arm resonators PI and P2, and therefore, the optimum IDT logarithm and The distance between the reflective end faces cannot be adopted.
  • a groove is Since it is necessary to use wires in such a manner, miniaturization and low profile cannot be achieved.
  • the reflection end surface is formed by providing the piezoelectric thin film 43 with the concave portion as the reflection portion as described above. Therefore, it is possible to easily adopt the optimum IDT logarithm and the distance between the reflection end faces for each series arm resonator S1 to S3 and the parallel arm resonators PI and P2, thereby greatly increasing the design flexibility.
  • the wiring electrode is formed on the piezoelectric thin film 43. Therefore, it is not necessary to electrically connect the series arm resonator and the parallel arm resonator by a bonding wire. Therefore, the end surface reflection type surface acoustic wave device can be reduced in size and height, and the reliability of the electrical connection can be improved. In addition, it is possible to perform a simple electrical connection operation.

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Abstract

 反射端面を高精度かつ容易に形成することができ、製造に際しての基板のチッピングが生じ難く、小型化及び低背化を進めることができる端面反射型弾性表面波装置を提供する。  基板2と、基板2上に形成された圧電薄膜3と、圧電薄膜3上に形成されたインターデジタル電極4~7とを備え、インターデジタル電極4~7の最外側の電極指の近傍に反射部10,11,14,15が設けられており、該反射部10,11,14,15が圧電薄膜3に凹部を形成することにより設けられている、端面反射型弾性表面波装置1。

Description

明 細 書
端面反射型弾性表面波装置及びその製造方法
技術分野
[0001] 本発明は、端面反射型弾性表面波装置及びその製造方法に関し、より詳細には、 基板上に圧電薄膜及びインターデジタル電極力 Sこの順序で積層された構造を有する 端面反射型の弾性表面波装置及びその製造方法に関する。
背景技術
[0002] 従来、下記の特許文献 1一 3に記載のように、 SH波あるいは縦波を主成分とした弹 性表面波を利用しており、基板の一対の端面間で表面波を反射させる様々な端面 反射型表面波装置が知られて!/、る。
[0003] 図 9は、特許文献 3に開示されている端面反射型表面波装置を示す斜視図である 。表面波装置 101では、表面波基板 102上に、 IDT電極 103, 104が形成されてい る。 IDT電極 103, 104は、表面波伝搬方向に沿って並べられている。 IDT103, 10 4の最外側の電極指に沿うように、反射端面 102b, 102cが設けられている。励振さ れた表面波が反射端面 102b, 102c間で反射されるように構成されている。
[0004] 一般に表面波基板 102として圧電基板を用いているが、絶縁性基板や、圧電基板 上に圧電薄膜を積層した構造により構成されていてもよい。また、上記反射端面 102 b, 102cは、表面波基板 102の上面 102aから切削ブレードを用いて溝力卩ェが施さ れることにより構成されている。表面波基板 102を貫かないように、上記切削ブレード による溝加工により反射端面 102b, 102cが形成される。従って、基板のチッビング を低減することができるとされて 、る。
[0005] この種の端面反射型表面波装置では、表面波基板の一対の端面間における表面 波の反射を利用しているため、反射器を設ける必要がない。従って、表面波装置の 小型化を図ることができる。
[0006] 他方、下記の特許文献 4には、ラダー型フィルタが構成されている端面反射型表面 波装置が開示されている。図 10は、特許文献 4に記載の上記端面反射型表面波装 置を示す斜視図である。 [0007] 端面反射型表面波装置 120では、パッケージ基板 130上に、表面波基板 121が固 定されている。表面波基板 121は、圧電基板により構成されている。表面波基板 121 上に、端面反射型表面波共振子よりなる 3個の直列腕共振子 S1— S3と、 6個の並列 腕共振子 P1— P6とが構成されている。表面波基板 121の上面には、各共振子の電 極指の延びる方向と平行に、溝 122, 123が形成されている。この溝 122, 123は、 ダイシング等により形成されている。そして、並列腕共振子 PI, P4, P5は、上記溝 1 22の一方の端面 122aと、表面波基板 121の端面 121aとを一対の反射端面として 利用している。また、直列腕共振子 S1— S3は、溝 122の端面 122bと、溝 123の端 面 123aを一対の反射端面として利用している。さらに、並列腕共振子 P2, P3, P6 は、溝 123の端面 123bと表面波基板 121の端面 121bとを一対の反射端面として利 用している。
[0008] 上記直列腕共振子 S1— S3及び並列腕共振子 P1— P6によりラダー型回路を構成 するように、各共振子はボンディングワイヤにより電気的に接続されている。
[0009] また、下記の特許文献 5には、図 11に略図的に示す端面反射型表面波装置が開 示されている。すなわち、端面反射型表面波装置 141では、表面波基板 142上に、 第 1段の端面反射型縦結合共振子フィルタ 143及び第 2段の端面反射型縦結合共 振子フィルタ 144が構成されており、端面反射型縦結合共振子フィルタ 143, 144が 縦続接続されている。
[0010] ここでは、端面反射型縦結合共振子フィルタ 143及び端面反射型縦結合共振子フ ィルタ 144は、いずれも、一対の反射端面 142a, 142bを利用している。反射端面 14 2a, 142bは、電極指の延びる方向と平行となるように、最外側の電極指に沿って、 表面波基板 142を加工することにより形成されている。すなわち、表面波基板 142の 上面 142c側力もダイサーを用いて切削加工を施すことにより、端面 142a, 142bが 形成されている。
特許文献 1:特開平 7-263998号公報
特許文献 2:特開平 9— 294045号公報
特許文献 3 :特開 2000— 278091号公報
特許文献 4:特開平 11 46127号公報 特許文献 5:特開 2002-261573号公報
発明の開示
[0011] 特許文献 1一 5に記載のような従来の端面反射型表面波装置では、反射端面は、 ダイサーゃ切削ブレードを用いて表面波基板の上面側から切削加工を施すことによ り形成されていた。従って、ダイサ一等の位置精度のばらつきにより、反射端面の位 置が所望の位置力 ずれがちであった。そのため、反射端面の位置ずれにより所望 でな 、リップルが発生しがちであった。
[0012] また、ダイサ一等を用いた切削により反射端面を形成する場合、たとえ図 9に示した ように表面波基板 102を貫通して 、な 、溝を形成する場合であっても、硬質の基板 が切削加工されるため、基板の一部が欠けるチッビングが生じることがあった。反射 端面の一部においてチッビングが生じると、表面波が十分に反射され難くなる。従つ て、反共振点におけるインピーダンスと共振点におけるインピーダンスとの比であるィ ンピーダンス比が小さくなるという問題があった。
[0013] 他方、図 10に示した端面反射型表面波装置 120では、複数の並列腕共振子 P1, P4, P5が、端面 121aと、端面 122aとを共有している。同様に、直列腕共振子 S1— S3も、一対の端面 122b, 123aを共有しており、並列腕共振子 P2, P3, P6におい ても一対の端面 121b, 123bは共通である。そのため、複数の表面波共振子の反射 端面間の距離を等しくする必要があり、設計の自由度が小さかった。のみならず、表 面波共振子同士の接続にボンディングワイヤが用いられているため、小型化や低背 ィ匕が困難であった。
[0014] さらに、図 11に示した端面反射型弾性表面波装置 141では、第 1段目の端面反射 型縦結合共振子フィルタ 143と、第 2段の端面反射型縦結合共振子フィルタ 144との いずれにおいても、圧電基板 142の端面 142a, 142bが反射端面として利用されて いる。従って、端面反射型縦結合共振子フィルタ 143, 144において、一対の反射端 面間の距離を等しくする必要があり、設計の自由度が小さかった。
[0015] また、上記いずれの構成においても、ダイシングの位置精度のばらつきゃチッピン グにより、良好な特性が得られるのは、量産工程では 190MHzが限度であり、高周 波化が困難であった。 [0016] 本発明の目的は、上述した従来技術の現状に鑑み、反射端面を高精度に形成す ることができ、反射端面の位置のばらつきによる特性の劣化を抑制することができ、さ らに基板のチッビングが生じ難ぐ設計の自由度に優れ、高周波化に適し、さらに小 型化及び低背化を進めることを可能とする端面反射型表面波装置及びその製造方 法を提供することにある。
[0017] 本発明は、基板と、該基板上に形成された圧電薄膜と、圧電薄膜上に形成された インターデジタル電極とを有する端面反射型弾性表面波装置にぉ ヽて、前記インタ 一デジタル電極の最外側の電極指の近傍に設けられておりかつ励振される表面波 を反射させる反射部が前記基板には設けられておらず、前記圧電薄膜に設けられて いることを特徴とする。
[0018] 本発明に係る端面反射型弾性表面波装置のある特定の局面では、前記反射部が 、前記電極指の延びる方向に平行に延びる反射端面を有する凹部である。
[0019] 好ましくは、前記凹部が、前記圧電薄膜を貫通する溝として設けられる。
[0020] 本発明に係る端面反射型弾性表面波装置のさらに他の特定の局面では、前記圧 電薄膜が、圧電単結晶薄膜により構成されている。
[0021] 上記圧電単結晶薄膜としては、好ましくは、 LiNbOまたは LiTaOが用いられる。
3 3
[0022] 本発明に係る端面反射型弾性表面波装置のさらに他の特定の局面では、前記基 板が LiNbO基板であり、かつ前記圧電薄膜は、 LiNbOまたは LiTaOからなる。
3 3 3
[0023] 本発明に係る端面反射型弾性表面波装置のさらに他の特定の局面では、前記基 板が LiTaO基板であり、かつ前記圧電薄膜は、 LiNbOまたは LiTaOからなる。
3 3 3
[0024] 本発明に係る端面反射型弾性表面波装置のさらに別の特定の局面では、前記基 板と前記圧電薄膜との間に配置されたバッファ層がさらに備えられる。
[0025] 本発明に係る端面反射型弾性表面波装置のさらに他の特定の局面では、インター デジタル電極及び圧電薄膜を覆うように形成された SiO膜がさらに備えられる。
2
[0026] 本発明に係る端面反射型弾性表面波装置のさらに別の特定の局面では、前記基 板と前記圧電薄膜との間に形成された SiO膜がさらに備えられる。
2
[0027] 本発明に係る端面反射型弾性表面波装置の製造方法は、基板を用意する工程と 、前記基板上に圧電薄膜を形成する工程と、前記圧電薄膜上にインターデジタル電 極を形成する工程と、前記圧電薄膜に、前記インターデジタル電極の最外側の電極 指の近傍に配置される反射部を形成する工程とを備える。
[0028] 本発明に係る端面反射型弾性表面波装置の製造方法のある特定の局面では、上 記反射部の形成は、圧電薄膜をエッチングすることにより行われる。
[0029] 本発明に係る端面反射型弾性表面波装置の製造方法の他の特定の局面では、前 記圧電薄膜に反射部を形成する工程が、前記圧電薄膜を形成する工程にお!ヽて行 われる。
[0030] 本発明に係る端面反射型弾性表面波装置の製造方法のさらに別の特定の局面で は、前記圧電薄膜に反射部を形成する工程が、前記圧電薄膜上に前記インターデ ジタル電極を形成した後に行われる。
[0031] 本発明に係る端面反射型弾性表面波装置では、インターデジタル電極の最外側 の電極指の近傍に設けられており励振される表面波を反射させる反射部が、基板上 に配置された圧電薄膜に設けられている。従って、圧電薄膜は、硬質の基板に比べ て高精度にかつ容易に加工され得るため、反射端面の精度を高めることができる。従 つて、端面反射型弾性表面波装置の特性のばらつきや劣化を防止することができる なお、上記のように反射端面を形成するための反射部は、圧電薄膜に設けられて いるが、該反射部を形成するための加工に際し、圧電薄膜を越えて基板に至るように 凹部等を形成して反射部を設けてもよい。この場合、反射部を形成するための凹部 等の加工は圧電薄膜を越えて基板に至っているが、反射端面はあくまでも圧電薄膜 に設けられた凹部等の内側面により構成されている。従って、反射端面自体は、チッ ビング等の影響を受け難い。よって、反射端面の精度が効果的に高められる。もっと も、好ましくは、反射部は、圧電薄膜にのみ設けられていることが望ましい。すなわち 、反射部は、好ましくは、基板には設けられず、基板上に配置された圧電薄膜に設け られる。
[0032] また、圧電薄膜に反射部を設ければよいため、すなわち、反射端面を有する反射 部を形成するに際し、硬質の基板を切削加工する必要がないため、基板のチッピン グが生じない。従って、反共振周波数におけるインピーダンスと共振周波数における インピーダンスとの比であるインピーダンス比の低下を抑制することができる。
[0033] カロえて、反射部を高精度に形成することができるため、また圧電薄膜にのみ反射部 を形成すればよいため、設計の自由度を高めることができる。特に、複数の端面反射 型表面波共振子やフィルタを有する構造では、複数の端面反射型弾性表面波共振 子やフィルタのそれぞれに最適な反射部を圧電薄膜への加工により容易に形成する ことができる。また、圧電薄膜上に配線電極等を形成し得るので、ボンディングワイヤ を省略したり、ボンディングワイヤの数を低減することができる。従って、端面反射型 弾性表面波装置の小型化及び低背化を進めることができる。
[0034] 反射部が、電極指の延びる方向に平行に延びる反射端面を有する凹部である場 合には、圧電薄膜の表面力 圧電薄膜をエッチング等により加工するだけで、容易 に反射端面を形成することができる。
[0035] 凹部が、圧電薄膜を貫通する溝として設けられている場合には、圧電薄膜の下面 に至るようにエッチング等により溝を形成すれば、反射端面を確実に形成することが できるとともに、圧電薄膜の全厚に渡る反射端面を形成することができる。なお、凹部 が圧電薄膜を貫通する溝として設けられて 、る場合、凹部は上記圧電薄膜を貫通す る溝を越えて圧電薄膜の下方の基板に至っていてもよい。この場合においても、反 射端面は圧電薄膜に設けられている溝の内側面により形成されることになる。従って 、反射端面の形成自体のために、基板を加工する必要がないため、チッビング等に よる反射端面の精度の低下は生じ難 、。
[0036] 圧電薄膜が圧電単結晶薄膜により構成されている場合には、圧電多結晶膜に比べ て電気機械結合係数が大きくなるため、良好な特性が得られる。
[0037] 上記圧電単結晶薄膜が LiNbOまたは LiTaO力 選択した 1種である場合には、
3 3
大きな電気機械結合係数を得ることができる。
[0038] 前記基板が LiNbO基板であり、かつ前記圧電薄膜が、 LiNbOまたは LiTaOか
3 3 3 らなる場合には、大きな電気機械結合係数を得ることができる。
[0039] 前記基板力 SLiTaO基板であり、かつ前記圧電薄膜が、 LiNbOまたは LiTaOか
3 3 3 らなる場合には、大きな電気機械結合係数を得ることができる。
[0040] これらの組み合わせにより、圧電単結晶膜が得られる。 [0041] 基板と圧電薄膜との間にバッファ層がさらに備えられている場合には、圧電薄膜の 結晶性を高めることができるとともに、基板に対する圧電薄膜の密着性を高めること ができる。
[0042] SiO膜がくし型電極ゃ圧電薄膜に接するように形成されている場合には、周波数
2
温度特性を改善することができる。
[0043] 前記基板と前記圧電薄膜との間に形成された SiO膜をさらに備える場合には、周
2
波数温度特性を改善することができる。
[0044] 本発明に係る製造方法では、圧電薄膜にインターデジタル電極の最外側の電極指 の近傍に配置される反射部が形成される。従って、圧電薄膜に反射部を形成するよ うに圧電薄膜を処理するだけで、反射端面を形成することができる。よって、反射端 面の位置の精度を高めることができ、形成の再生に優れた端面反射型弾性表面波 装置を提供することができる。また、基板のチッビングが生じないため、チッビングに よる特性の劣化も生じ難い。好ましくは、反射端面を形成するに際しての加工は、基 板ではなぐ圧電薄膜にのみ反射部を形成するように圧電薄膜を処理することにより 行われる。
[0045] 本発明に係る製造方法にお!ヽて、圧電薄膜に反射部を形成する工程が、反射部 が設けられる部分をエッチングすることにより行われる場合には、エッチングにより反 射端面を高精度にかつ容易に形成することができる。
[0046] 本発明の製造方法において、圧電薄膜に反射部を形成する工程は、圧電薄膜を 形成する工程において行われてもよい。その場合には、薄膜を形成すると同時に反 射部を形成することができる。
[0047] 圧電薄膜に反射部を形成する工程が、圧電薄膜上にインターデジタル電極を形成 した後に行われる場合には、インターデジタル電極の最外側の電極指近傍に高精度 に反射部を形成することができる。
図面の簡単な説明
[0048] [図 1]図 1 (a)及び (b)は、本発明の第 1の実施形態に係る端面反射型弾性表面波装 置の斜視図及び正面断面図である。
[図 2]図 2 (a)— (d)は、本発明の一実施形態に係る端面反射型弾性表面波装置の 製造工程を示す各部分切欠正面断面図である。
[図 3]図 3は、本発明に係る端面反射型弾性表面波装置の製造方法において、エツ チングにより凹部を形成した状態を示す部分切欠正面図である。
[図 4]図 4 (a)及び (b)は、本発明に係る端面反射型弾性表面波装置の製造方法に おいて、反射部を形成するための工程の変形例を示す各部分切欠正面断面図図で ある。
[図 5]図 5は、本発明に係る端面反射型弾性表面波装置の変形例を説明するための 正面断面図である。
[図 6]図 6は、本発明に係る端面反射型弾性表面波装置の他の変形例を説明するた めの正面断面図である。
[図 7]図 7は、本発明の第 2の実施形態に係る端面反射型弾性表面波装置を示す斜 視図である。
[図 8]図 8は、従来の端面反射型弾性表面波装置であって、図 7に示した実施形態の 比較例として説明される端面反射型弾性表面波装置を示す斜視図である。
[図 9]図 9は、従来の端面反射型弾性表面波装置の他の例を示す斜視図である。
[図 10]図 10は、従来の端面反射型弾性表面波装置のさらに他の例を示す斜視図で ある。
[図 11]図 11は、従来の端面反射型弾性表面波装置のさらに他の例を示す斜視図で ある。
符号の説明
1 · · ·端面反射型弾性表面波装置
2· "基板
3…圧電薄膜
4一 7· "IDT電極
8…端面反射型縦結合型弾性表面波フィルタ
10, 11…凹部 (反射部)
10a, 11a…反射端面
12· ··配線電極 13· · ·端面反射型縦結合型弾性表面波フィルタ
14, 15· ··凹部 (反射部)
14a, 15a…反射端面
41· · ·端面反射型弾性表面波装置
42· "基板
43…圧電薄膜
44一 48 "-IDT電極
49一 58…凹部 (反射部)
49a— 58a…反射端面
発明を実施するための最良の形態
[0050] 図 1 (a)及び (b)は、本発明の一実施形態に係る端面反射型弾性表面波装置を示 す斜視図及び正面断面図である。
[0051] 端面反射型弾性表面波装置 1は、 36° 回転 Y板 LiTaO単結晶基板カゝらなる基板
3
2と、基板 2上に設けられた圧電薄膜 3とを有する。圧電薄膜 3は、基板と同じ方位を もつ LiTaO単結晶薄膜により構成されている。もっとも、本発明において、圧電薄膜
3
は、様々な圧電単結晶薄膜により構成され得る。好ましくは、 LiNbOまたは LiTaO
3 3 から選択された 1種以上の圧電単結晶薄膜により圧電薄膜が構成され、このような電 気機械結合係数の大きな圧電単結晶薄膜により、良好な特性を得ることができる。
[0052] 圧電薄膜 3上に、 IDT電極 4, 5, 6, 7が形成されている。 IDT電極 4一 7は、それぞ れ、複数本の電極指を有する。 IDT電極 4と、 IDT電極 5とは、第 1の縦結合共振子 型弾性表面波フィルタ 8を構成しており、 IDT電極 4, 5が表面波伝搬方向に沿って 並べられている。
[0053] ここでは、 IDT電極 4の最外側の電極指 4aの外側縁に接するように、圧電薄膜 3〖こ 反射部である凹部 10が形成されている。また、 IDT電極 5の最外側の電極指 5aの外 側縁に接触するように、圧電薄膜 3に反射部である凹部 11が形成されている。凹部 1 0, 11は、圧電薄膜 3を貫通しないように設けられているが、圧電薄膜 3を貫通する溝 となっていてもよい。
[0054] 反射部である凹部 10, 11は、反射端面 10a, 11aを形成するために設けられてい る。反射端面 10a, 11aは、互いに平行に伸び、かつ電極指の延びる方向に延ばさ れている。図 1 (b)から明らかなように、一対の反射端面 10a, 11a間に、上記 IDT電 極 4, 5が配置されていることになる。
[0055] すなわち、 1段目の縦結合共振子型弾性表面波フィルタ 8は、一対の反射端面 10a , 1 laを用いた端面反射型の縦結合共振子型弾性表面波フィルタである。
[0056] IDT電極 6は、配線電極 12により、 IDT電極 5に接続されている。 IDT電極 6, 7は 、第 2の縦結合共振子型弾性表面波フィルタ 13を構成している。すなわち、 IDT電 極 6, 7が表面波伝搬方向に並べられており、 IDT電極 6の最外側の電極指 6aの外 側縁に接するように、反射部である凹部 14が形成されている。同様に、 IDT電極 7の 最外側の電極指 7aの外側縁に接するように圧電薄膜 3に反射部である凹部 15が形 成されている。反射部である凹部 14, 15の内側の端面 14a, 15aが、反射端面を構 成している。また、反射部である凹部 14, 15は、凹部 10, 11と同様に、圧電薄膜 3を 貫通するように設けられて 、るが、圧電薄膜 3の下面に至らずともよ 、。
[0057] 上記のように、本実施形態の端面反射型弾性表面波装置 1は、縦結合共振子型弹 性表面波フィルタ 8, 13を縦続接続した 2段構成のフィルタである。そして、各縦結合 共振子型弾性表面波フィルタ 8, 13は、いずれも、圧電薄膜 3に設けられた反射器部 である凹部 10, 11, 14, 15の内側の端面を反射端面として利用している。
[0058] 従って、上記反射端面を構成している反射部である凹部 10, 11, 14, 15を圧電薄 膜 3に設ければよいため、凹部 10, 11, 14, 15は、エッチングなどの方法により容易 にかつ高精度に形成される。すなわち、端面反射型弾性表面波装置 1では、硬質の 基板 2にダイサ一等を用いた切削加工を施すことなぐ反射端面を構成することがで きる。よって、端面を高精度に形成することができるとともに、チッビング等も生じ難ぐ 高周波化も実現できる。
なお、凹部 10, 11, 14, 15は、圧電薄膜 3を越えて基板 2に至るように形成されて いてもよい。この場合においても、反射端面は、あくまでも圧電薄膜に設けられている 凹部 10, 11, 14, 15の内側面により構成される。すなわち、基板に至っている部分 はチッビング等が生じ易いのに対し、圧電薄膜に設けられた上記凹部 10, 11, 14, 15の内側面では、チッビングが生じ難い。従って、高精度に反射端面を形成すること ができる。好ましくは、本実施形態のように、基板ではなぐ圧電薄膜 3のみに凹部 10 , 11, 14, 15力形成される。
[0059] 次に、具体的な製造方法の一例を説明する。
[0060] 端面反射型弾性表面波装置 1の製造に際しては、まず、図 2 (a)に示すように、ゥェ ハ状の基板 2Aを用意する。次に、基板 2A上に、圧電薄膜 3を全面に形成する。圧 電薄膜 3の形成は、例えば MOCVD法などの適宜の薄膜形成方法により行 、得る。 本実施形態では、 MOCVD法により、厚さ の LiTaO単結晶薄膜が成膜され、
3
それによつて圧電薄膜 3が構成されて 、る。
[0061] この場合、基板 2Aが、 36° 回転 Y板 LiTaO単結晶基板であるため、上記圧電薄
3
膜 3は、基板 2Aと同じ結晶方位の LiTaOェピタキシャル単結晶薄膜として成膜され
3
る。
[0062] 次に、図 2 (b)に示すように、 IDT電極 4, 5, 6, 7及び配線 12を形成する。なお、図 2 (b)では、 IDT電極 4, 5のみ図示されている。また、図 2 (b)では図示されていない 力 基板 2Aの圧電薄膜上には複数個の IDT電極 4, 5, 6, 7及び配線 12が形成さ れている。
[0063] この IDT電極 4, 5, 6, 7及び配線 12の形成は、フォトリソグラフィーを用いたリフト オフ法により行い得る。本実施形態では、 A1力もなる IDT電極 4, 5, 6, 7の厚みが、 0. 08 λ、但しえは 1. となるように IDT電極 4, 5, 6, 7力 ^形成されている。但し 、 λは弾性表面波の波長である。
[0064] 次に、図 2 (c)に示すように、 IDT電極 4, 5, 6, 7及び配線 12などのうち、後工程に おいてエッチングされない部分に、フォトレジスト 21を付与する。
[0065] し力る後、反応性イオンエッチングによりエッチングを行う。このようにして、図 2 (d) に示すように、圧電薄膜 3のレジスト 21で覆われていない部分がエッチングされ、深 さ 3. 5 /z mの反射部である凹部 10, 11, 14, 15が形成される。
[0066] しかる後、図 3に示すように、レジスト 21を除去した後、ウェハ状の基板 2Aを個々の 端面反射型弾性表面波装置単位に切断することにより、端面反射型弾性表面波装 置 1を得ることができる。
[0067] なお、通常、 LiTaOの単結晶を反応性イオンエッチングして溝を形成する場合、 エッチング速度は 2nmZ分程度である。従って、 3. 5 mの深さの凹部を形成する には 29時間もの長時間を要する。しかも、溝の側面、すなわち最終的な反射端面が 垂直方向に正確に形成され難 、と ヽぅ問題がある。
[0068] これに対して、上記実施形態のように、 CVD法などの薄膜形成法により形成された 圧電単結晶薄膜では、エッチング速度は圧電単結晶自体を反応性イオンエッチング でエッチングする場合に比べて、 5— 7倍程度速められる。従って、上記実施形態で は、 3— 5時間程度の反応性イオンエッチングにより、 3. 5 m程度の深さの溝を形 成することができる。
[0069] 前述のように、従来技術の端面反射型の弾性表面波装置では、ダイサ一等により 基板を切削加工して端面を形成した場合には、ダイサ一の位置の精度が十分でなく 、チッビングが生じがちであった。従って、実験的には、周波数の上限が 950MHzに 留まり、量産工程では、 190MHzに留まっていた。これに対して、本実施形態では、 端面の位置を高精度で形成できるため、 2. 4GHz帯のような非常に高周波の端面 反射型弾性表面波装置を提供することができる。
[0070] また、本実施形態では、図 1に示すように、 2個の端面反射型の縦結合型弾性表面 波共振子フィルタが基板 2を用いて構成されているが、端面反射型弾性表面波フィ ルタ 8, 13における反射端面は、それぞれ、圧電薄膜に反射部である凹部 10, 11ま たは凹部 14, 15を形成することにより構成されている。よって、図 2から明らかなよう に、個々の縦結合共振子型弾性表面波フィルタの一対の反射端面を各フィルタごと に適切な位置に形成することができる。従って、設計の自由度が高められ、かつ所望 とする周波数特性を有する複数の縦結合型弾性表面波共振子フィルタが構成された 端面反射型弾性表面波装置を提供することが可能となる。
[0071] なお、上記実施形態では、 IDT電極 4, 5の最外側の電極指 4a, 5aは、 IDT電極 4 , 5を形成する際に予め他の電極指よりも狭い電極指幅で形成された (図 2 (b)参照) 。これに対して、図 4 (a)に示すように、同じ幅の複数本の電極指を有する IDT電極 指 4A, 5Aを形成してもよい。この場合には、図 4 (b)に示すように、最外側の電極指 が形成される部分の外側領域に至らな 、ようにレジスト 21Aを配置すればよ ヽ。従つ て、図 4 (b)に示した構造において、反応性イオンエッチングによりエッチングした場 合、レジストで覆われていない電極指部分が除去され、図 2 (d)に示した構造と同様 の構造を得ることができる。すなわち、最外側の電極指の電極指幅が他の電極指より も狭くされ、かつ最外側の電極指の外縁に接するように凹部が形成される。
[0072] 上記実施形態では、図 1に示すように、圧電薄膜 3に反射端面を構成するための反 射部である凹部 10, 11, 14, 15の形成は、 IDT電極 4一 7が形成された後に行われ ていたが、 IDT電極 4一 7の形成に先立ち、凹部が設けられた圧電薄膜を予め形成 しておいてもよい。その場合には、圧電薄膜に設けられている一対の凹部間におい て圧電薄膜上に少なくとも 1つの IDT電極を形成すればよい。
[0073] もっとも、上述した実施形態のように、圧電薄膜上に IDT電極を形成した後に、凹 部を形成することが望ましぐそれによつて、凹部、ひいては凹部の側面である反射 端面を高精度に形成することができる。
[0074] また、上記実施形態では、上記凹部の形成は、反応性イオンエッチングにより行わ れていたが、エッチング方法は特に限定されず、イオンエッチング、 ECRエッチング などを用いてもよぐさらにフッ硝酸などを用いたィ匕学的エッチングにより行われてもよ い。
[0075] また、上記反射端面 10a, 11a, 14a, 15aは、基板表面に対し 90° の角度をなす ことが望ましいが、 90° ± 30° 程度の範囲にあれば、実使用上問題ないことが実験 的に確かめられている。
[0076] また、上記反射部である凹部 10, 11, 14, 15の深さは、表面波の波長えに対し、 圧電薄膜 3の誘電率が 20以上の場合には、 1波長以上であれば十分であり、好まし くは 2波長以上とされ、それによつてより一層良好な特性が得られる。
[0077] また、本発明においては、利用される表面波は、端面反射型の表面波装置を構成 し得る限り特に限定されず、 SH成分、 SV成分または縦波成分のいずれかを主成分 とする適宜の表面波が用いられる。中でも、本発明の表面波装置では SH波を用いる ことが好ましい。この場合、主成分とは、主成分の割合が 70%以上であることが望ま しい。 LiTaO単結晶薄膜や、 LiNbO単結晶薄膜を圧電薄膜として用い、 SH波を
3 3
主成分とする場合、圧電薄膜の結晶方位はオイラー角で (0° , 85° — 160° , 0° )であることが望ましぐ縦波を主成分とする表面波を利用する場合には、 LiTaO膜 を圧電薄膜として用いる場合、その結晶方位はオイラー角で (90° , 90° , 30° — 110° )、LiNbO膜で ίま、(90° , 90° , 30—135° )の範囲力望まし!/ヽ。
3
[0078] さらに、基板と圧電薄膜との間に図 5に略図的に示すように、バッファ層 31を設けて もよい。ノ ッファ層 31は、ノ ッファ層 31上に形成される圧電薄膜 3の結晶性を高める ように作用し、かつ圧電薄膜 3を基板 2に対して強固に密着させる作用をも果たす。こ のようなバッファ層 31を構成する材料としては、 Pt、 ZnO、 Au、 Al、 Ag、 A1N、 GaN などを挙げることができる。特に、ノ ッファ層 31を導電性材料で構成した場合、ノ ッフ ァ層と IDT電極のグラウンド電位に接続される部分とを電気的に接続し、バッファ層 3 1をグラウンド層として利用してもょ 、。
[0079] 上記バッファ層 31の厚みは、圧電薄膜 3の下地層として形成されるものであるため 、特に限定されるものではない。
[0080] なお、図 5では、反射部である凹部 10, 11は圧電薄膜 3を貫通するように形成され ている。
[0081] 基板 2は、適宜の単結晶やセラミックスにより構成され得る力 好ましくは圧電単結 晶からなり、より好ましくは、 LiTaO単結晶または LiNbO単結晶からなる。基板 2と
3 3
圧電薄膜 3の好ましい組み合わせは、基板 2が LiTaO基板力 なる場合には、圧電
3
薄膜 3は、 LiTaO、 LiNbOあるいは ZnOからなることが望ましい。基板 2が LiNbO
3 3 3 力 なる場合には、圧電薄膜 3は、 LiTaO、 LiNbOあるいは ZnOからなることが望
3 3
ましい。これらの組み合わせでは、圧電薄膜 3として、ェピタキシャル成長された圧電 単結晶薄膜を確実に得ることができる。
[0082] 圧電薄膜 3がェピタキシャル成長された圧電単結晶薄膜である場合には、大きな電 気機械結合係数が得られ、帯域幅の拡大等を図ることができる。
[0083] LiTaOからなる圧電基板と、 LiTaOまたは LiNbO力 なる圧電薄膜 3の組み合
3 3 3
わせ、並びに LiNbO基板と、 LiTaOまたは LiNbO力 なる圧電薄膜 3の組み合
3 3 3
わせの場合には、圧電薄膜 3の配向を自由に選択することができ、例えば、大きな電 気機械結合係数を得ることができる。従って、弾性表面波装置の所望とする特性に 応じて、圧電薄膜の配向性を選択することができる。
[0084] なお、表面波を反射させて、良好な特性を得るには、反射端面の高さ方向寸法は、 表面波の波長に対して、 1波長以上であることが好ましぐより好ましくは 2波長以上 である。従って、圧電薄膜 3の厚みは、好ましくは、 1波長以上、より好ましくは 2波長 以上とされる。
[0085] 本発明においては、図 6に略図的に示すように、圧電薄膜 3及び IDT電極 4, 5上 に、さらに温度特性を改善するために SiO膜 32が形成されていてもよい。この場合、
2
基板 2上に圧電薄膜 3を形成し、圧電薄膜 3上に IDT電極 4, 5が形成され、さらにそ の上に SiO膜 32を形成した後、前述した凹部をエッチングにより形成すればよい。 S
2
iO膜 32の膜厚は 0. 15 λ 0. 4えの範囲が好ましい。 0. 15 λ未満では、温度特
2
性を改善する効果が十分得られないことがあり、 0. 4 λを超えると、表面波をダンピン グするおそれがある。また、 SiOを圧電膜の下に形成しても同じ効果が得られる。
2
[0086] なお、 IDT電極 4一 7の厚みについては、上記実施形態の数値範囲に限定されず 、 A1からなる電極の場合には 0. 01 λ— 0. 15え、 Auまたは Pt、 Ta、 Wからなる場合 0. 003 λ一 0. 04 λ、 Cu、 Ni、 Ag力らなる場合 0. 005 λ一 0. 06 λの範囲とすれ ばよい。すなわち、 SHタイプの表面波を利用した場合には、一般の表面波装置の場 合に比べて、薄い電極膜を用いることができる。
[0087] 図 7は、本発明の第 2の実施形態の端面反射型弾性表面波装置を示す斜視図で ある。端面反射型弾性表面波装置 41は、 3個の直列腕共振子 S1— S3と、 2個の並 列腕共振子 PI, Ρ2とがラダー型フィルタを構成するように接続されているラダー型フ ィルタ構成の端面反射型弾性表面波装置である。直列腕共振子 S1— S3及び並列 腕共振子 PI, Ρ2は、それぞれ、 IDT電極と、 IDT電極の両側に配置された反射部 である凹部の側面により構成された反射端面とを有する。すなわち、弾性表面波装 置 41では、基板 42上に、圧電薄膜 43が形成されており、圧電薄膜 43上に、各直列 腕共振子 S1— S3または並列腕共振子 PI, Ρ2を構成するための IDT電極 44一 48 が形成されている。そして、各 IDT電極 44一 48の最外側の電極指の外側近傍に、 反射部を構成している凹部 49一 58が設けられている。凹部 49一 58は、圧電薄膜 4 3を貫通するように構成されている。そして、反射部である各凹部 49一 58の内側側 面が、反射端面を構成しており、該反射端面は、各共振子の電極指の延びる方向と 平行に延ばされている。 [0088] 第 2の実施形態の端面反射型弾性表面波装置 41は、上記 5個の端面反射型の表 面波共振子がラダー型フィルタを構成するように設けられていることを除いては、第 1 の実施形態の端面反射型弾性表面波装置 1と同様の材料により構成されている。
[0089] 図 7から明らかなように、端面反射型弾性表面波装置 41では、並列腕共振子 S1の 一対の反射端面 49a, 50a間の距離が、直列腕共振子 S2, S3における反射端面間 の距離と異ならされている。同様に、並列腕共振子 P1の一対の反射端面 55a, 56a 間の距離が、並列腕共振子 P2の一対の反射端面 57a, 58a間の距離と異ならされて いる。
[0090] このように、圧電薄膜 43に反射部である凹部を設けて反射端面を構成した弾性表 面波装置 41では、構成される複数の端面反射型表面波共振子において、それぞれ の共振子に好ましい反射端面間距離を選択することができる。凹部は、反射端面を 形成するために圧電薄膜 43に形成されているが、該凹部は圧電薄膜 43の下方の基 板 42に至っていてもよい。この場合においても、あくまでも反射端面は、上記圧電薄 膜 43に設けられている凹部の内側面により構成される。従って、基板に至っている部 分におけるチッビング等の影響を受け難いため、高精度に反射端面が形成される。 好ましくは、図示のように、凹部は、基板 42に至らないように、圧電薄膜 43のみに設 けられる。
[0091] これを、図 8に示す従来の端面反射型弾性表面波装置と比較して説明する。図 8は 、 3個の直列腕共振子 S1— S3と、 2個の並列腕共振子 PI, P2が 1つの表面波基板 202上に構成されている端面反射型弾性表面波装置 201を示す斜視図である。この 端面反射型弾性表面波装置 201では、直列腕共振子 SI, S2, S3の一対の反射端 面は、表面波基板 202の上面力もダイサ一等を用いて切削加工することにより形成さ れた反射端面 202a, 202bである。すなわち、直列腕共振子 S1— S3の反射端面が 共通化されているため、直列腕共振子 S1— S3として、それぞれ最適な IDT対数ひ いては反射端面間距離を採用することができない。端面反射型弾性表面波装置 20 1では、並列腕共振子 PI, P2についても、同様に一対の反射端面が共通化されて おり、従って並列腕共振子 PI, P2のそれぞれに最適な IDT対数や反射端面間距離 を採用することができない。また、共振子同士を電気的に接続するために、溝をまた ぐようにしてワイヤを用いる必要があるため、小型化、低背ィ匕もできない。
[0092] もっとも、端面反射型弾性表面波装置 201でも、各共振子に最適な一対の反射端 面をそれぞれの共振子において形成することは可能である。しかしながら、そのような 場合には、表面波基板 202の上面から、様々な位置に切削加工を施して、各共振子 に最適な反射端面を作り出さねばならず、製造工程が煩雑であり、かつ表面波基板 202におけるチッビングが生じ易くなる。従って、実際には、端面反射型弾性表面波 装置 201において、各直列腕共振子 S1— S3及び並列腕共振子 PI, P2のそれぞ れに応じて一対の反射端面間距離を設定することは困難である。
[0093] これに対して、図 7の第 2の実施形態の端面反射型弾性表面波装置 41では、上記 のように、圧電薄膜 43に反射部である凹部を設けることにより、反射端面が形成され ているので、各直列腕共振子 S1— S3や並列腕共振子 PI, P2に最適な IDT対数や 反射端面間距離を容易に採用することができ、設計の自由度が大幅に高められる。
[0094] また、弾性表面波装置 201では、ボンディングワイヤ 203, 204などを用いて電気 的接続を行わねばならないのに対し、端面反射型弾性表面波装置 41では、圧電薄 膜 43上に配線電極を形成すればよ 、ため、ボンディングワイヤにより直列腕共振子 と並列腕共振子とを電気的に接続する必要がない。従って、端面反射型弾性表面波 装置の小型化及び低背化を図ることができるとともに、電気的接続の信頼性を高める ことができる。さらに、電気的接続作業の簡略ィ匕をも果たすことが可能となる。

Claims

請求の範囲
[I] 基板と、該基板上に形成された圧電薄膜と、圧電薄膜上に形成されたインターデジ タル電極とを有する端面反射型弾性表面波装置にお!、て、
前記インターデジタル電極の最外側の電極指の近傍に設けられておりかつ励振さ れる表面波を反射させる反射部が前記圧電薄膜に設けられていることを特徴とする、 端面反射型弾性表面波装置。
[2] 前記反射部が、前記電極指の延びる方向に平行に延びる反射端面を有する凹部 である、請求項 1に記載の端面反射型弾性表面波装置。
[3] 前記凹部が、前記圧電薄膜を貫通する溝として設けられている、請求項 2に記載の 端面反射型弾性表面波装置。
[4] 前記圧電薄膜が、圧電単結晶薄膜により構成されている、請求項 1一 3のいずれか
1項に記載の端面反射型弾性表面波装置。
[5] 前記圧電単結晶薄膜が、 LiNbOまたは LiTaOである、請求項 4に記載の端面反
3 3
射型弾性表面波装置。
[6] 前記基板が LiNbO基板であり、かつ前記圧電薄膜は LiNbOまたは LiTaOから
3 3 3 なることを特徴とする、請求項 1一 4のいずれか 1項に記載の端面反射型弾性表面波 装置。
[7] 前記基板力 SLiTaO基板であり、かつ前記圧電薄膜は LiNbOまたは LiTaOから
3 3 3 なることを特徴とする、請求項 1一 4のいずれか 1項に記載の端面反射型弾性表面波 装置。
[8] 前記基板と前記圧電薄膜との間に配置されたバッファ層をさらに備えることを特徴と する、請求項 1一 7のいずれか 1項に記載の端面反射型弾性表面波装置。
[9] 前記インターデジタル電極及び圧電薄膜を覆うように形成された SiO膜をさらに備
2
えることを特徴とする、請求項 1一 8のいずれか 1項に記載の端面反射型弾性表面波 装置。
[10] 前記基板と前記圧電薄膜との間に形成された SiO膜をさらに備えることを特徴とす
2
る、請求項 1一 8のいずれか 1項に記載の端面反射型弾性表面波装置。
[II] 基板を用意する工程と、 前記基板上に圧電薄膜を形成する工程と、
前記圧電薄膜上にインターデジタル電極を形成する工程と、
前記圧電薄膜に、前記インターデジタル電極の最外側の電極指の近傍に配置され る反射部を形成する工程とを備える、端面反射型弾性表面波装置の製造方法。
[12] 前記圧電薄膜に反射部を形成する工程が、圧電薄膜の反射部が設けられる部分 をエッチングすることにより行われる、請求項 11に記載の端面反射型弾性表面波装 置の製造方法。
[13] 前記圧電薄膜に反射部を形成する工程が、前記圧電薄膜を形成する工程におい て行われる、請求項 11に記載の端面反射型弾性表面波装置の製造方法。
[14] 前記圧電薄膜に反射部を形成する工程が、前記圧電薄膜上に前記インターデジタ ル電極を形成した後に行われる、請求項 11に記載の端面反射型弾性表面波装置の 製造方法。
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