WO2004100254A1 - 基板吸着装置 - Google Patents

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WO2004100254A1
WO2004100254A1 PCT/JP2004/006002 JP2004006002W WO2004100254A1 WO 2004100254 A1 WO2004100254 A1 WO 2004100254A1 JP 2004006002 W JP2004006002 W JP 2004006002W WO 2004100254 A1 WO2004100254 A1 WO 2004100254A1
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WO
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suction
substrate
housing
suction pad
pad
Prior art date
Application number
PCT/JP2004/006002
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English (en)
French (fr)
Inventor
Takato Hayashi
Koji Hirado
Hitoshi Kinoshita
Shuya Jogasaki
Original Assignee
Olympus Corporation
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Publication date
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Priority to JP2005505982A priority patent/JP4553841B2/ja
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    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6838Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping with gripping and holding devices using a vacuum; Bernoulli devices
    • HELECTRICITY
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    • B65G49/00Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for
    • B65G49/05Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for for fragile or damageable materials or articles
    • B65G49/06Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for for fragile or damageable materials or articles for fragile sheets, e.g. glass
    • B65G49/061Lifting, gripping, or carrying means, for one or more sheets forming independent means of transport, e.g. suction cups, transport frames
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65GTRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G2249/00Aspects relating to conveying systems for the manufacture of fragile sheets
    • B65G2249/04Arrangements of vacuum systems or suction cups
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65GTRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G2249/00Aspects relating to conveying systems for the manufacture of fragile sheets
    • B65G2249/04Arrangements of vacuum systems or suction cups
    • B65G2249/045Details of suction cups suction cups

Definitions

  • the present invention relates to a substrate suction device for holding a thin substrate such as a glass substrate or a semiconductor wafer used for, for example, flat panel display (hereinafter abbreviated as F PD).
  • a substrate suction device for holding a thin substrate such as a glass substrate or a semiconductor wafer used for, for example, flat panel display (hereinafter abbreviated as F PD).
  • the gap between the suction tool and the storage hole is made small in order to position the glass substrate with high precision or prevent the glass substrate from oscillating during transportation, the movement of the suction tool in the tilting direction is restricted. Be done. As a result, it becomes difficult for the suction pad to tilt following the warping of the glass substrate.
  • a housing which is hollow and has an opening at its tip
  • a suction package which is provided in the hollow shape of the housing and provided with an air drawing passage for drawing air. It is placed on the suction pad support member in a state of protruding from the opening of the housing and the opening of the housing, and it can be oscillated by point contact with the opening of the housing at at least three points.
  • a suction pad holding means for holding the suction pad in the opening of the housing.
  • FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of a substrate suction apparatus according to the present invention.
  • Fig. 2 is a configuration diagram showing another example of the adsorption section of the adsorption package in the same device.
  • FIG. 3 is a block diagram of the first and second support plates in the same device.
  • Fig. 4A shows the start of copying of the suction pad onto the bent glass substrate in the same device.
  • Fig. 4B shows the adsorption state of the adsorption pad on the stagnant glass substrate in the same device.
  • Fig. 4C is a diagram showing the correction operation of the glass substrate by the suction pad in the same device.
  • Fig. 5 is a top view of the air levitation transfer device to which the same device is applied.
  • Figure 6 is a side view of the same device.
  • FIG. 8 is a block diagram showing the characterizing portion of the second embodiment of the substrate suction apparatus according to the present invention.
  • Fig. 9A is a configuration diagram showing a modified array using wires in the same device.
  • Figure 9B is a block diagram showing a modified array using wires in the same device.
  • Fig. 10 is a configuration diagram showing a modification of the suction pad in the same device.
  • FIG. 11 is a block diagram showing a third embodiment of the substrate suction device according to the present invention.
  • Fig. 12 A shows the start of the suction operation of the suction pad to the glass substrate in the same device.
  • Fig. 12 B is a diagram showing how the suction pad contacts the glass substrate in the same device.
  • Fig. 12 C is a diagram showing how the adsorption pad is attached to the glass substrate in the same device.
  • FIG. 13 is a block diagram showing a fourth embodiment of the substrate suction device according to the present invention.
  • Figure 14 is a block diagram of the part of a large substrate transfer robot to which the same system is applied.
  • FIG. 15 is a block diagram showing a fifth embodiment in which the first and second substrate suction devices according to the present invention are applied to an alpha floating transfer device.
  • Figure 16 shows the air vacuum system used for the same substrate suction device.
  • FIG. 17 is a configuration diagram showing a sixth embodiment in which the substrate suction device according to the present invention is applied to an air floating conveyance device.
  • FIG. 18 is a block diagram showing a sixth embodiment in which the substrate suction device according to the present invention is applied to an air floating conveyance device.
  • FIG. 19 is a view showing a modified example of the air evacuation system in the substrate suction apparatus according to the present invention.
  • Fig. 20 A is a view showing a modified example of the shape of the contact surface portion of the suction pad.
  • Fig. 20 B is a view showing a modified example of the shape of the contact surface of the suction pad.
  • Fig. 20C is a view showing a modified example of the shape of the contact surface portion of the suction pad.
  • Fig. 20 D is a view showing a modified example of the shape of the contact surface portion of the suction pad.
  • Fig. 20 E is a view showing a modified example of the shape of the contact surface portion of the suction pad.
  • FIG. 1 is a block diagram of the substrate suction device E.
  • the housing 1 is formed in a cylindrical shape that is hollow by metal, and a hollow portion 2 is formed inside thereof.
  • An opening 1 b having a circular end 1 a is formed on the tip end side which is one end of the housing 1.
  • a threaded portion 1 c is provided on the inner wall of the opening at the other end of the housing 1.
  • the base of the housing 1 is attached to the main body 4 mounted on the mount 3 for the substrate suction device E.
  • the unit body 4 has an outer diameter substantially matching the diameter of the nose 1 and the hollow 1, and is formed in the shape of a hollow weir in which an air drawing passage 5 is provided.
  • a screw portion 4 a is provided on the outer peripheral surface of the unit main body 4.
  • the housing 1 can be attached to and removed from the body 4 by screwing the screw portion 1 c and the screw portion 4 a.
  • the mounting chuck for the substrate suction unit E is attached in the lower part of the main body 4 of the mounting tool.
  • the flange 4 b is provided projecting.
  • the body 4 can be attached to and removed from the mount 3 by screwing the threaded portion 4 b with the screw of the mount 3 for the substrate suction device Ei.
  • a threaded portion 4 c is provided inside the hollow shape of the fitting body 4. Also, a screw 4 d is provided on the outer peripheral surface of the unit body 4. A nut 6 is screwed into this screw 4 d. This nut 6 fixes the mounting position of the switch body 4 with respect to the housing 1 by tightening the screw 4 d.
  • a groove 7 is provided in the circumferential direction of the lower inner wall surface of the housing 1. The position of this groove 7 corresponds to the end of the body 3 of the unit.
  • An O-ring 8 for preventing air leakage is held between the inside of the groove 7 and the end of the unit main body 3.
  • a sliding member 9 is provided in the hollow portion 2 of the housing 1 and on the tip end side of the unit body 3.
  • the sliding member 9 is slidable in the hollow portion 2 of the housing 1 along the direction of the hollow portion 2.
  • the sliding member 9 integrally forms a thick cylindrical portion 10 and a thin cylindrical portion 1 1.
  • the thick cylindrical portion 10 is formed to have a diameter substantially matching the inner diameter of the hollow portion 2 of the housing 1, and the outer peripheral surface thereof is in close contact with the inner surface of the hollow portion 2 of the housing 1.
  • a groove 12 is provided on the outer peripheral surface of the thick cylindrical portion 10, and a V-shaped packing 13 is provided in the groove 12.
  • the V-shaped packing 1 3 opens in a V-shape when vacuuming is performed from the air drawing passage 5 of the unit main body 4. Keep air tight by preventing air leakage between hollow 2 of housing 1 and sliding member 9.
  • the thin-walled cylindrical portion 11 is formed to have a diameter substantially equal to the inner diameter of the air drawing passage 5 of the unit body 4, and the outer peripheral surface thereof is in close contact with the air drawing passage 5 of the unit body 4.
  • the thin cylindrical portion 1 1 is provided so as to be insertable into and removable from the air drawing passage 5.
  • an air drawing passage 14 is provided inside the thick-walled cylindrical portion 10 and the thin-walled cylindrical portion 1 1, an air drawing passage 14 is provided.
  • the air drawing passage 14 communicates with the air drawing passage 5 of the unit main body 4.
  • a tube member 15 which is a suction pad supporting member is provided on the top of the sliding member 9.
  • the tube member 15 is formed of a resilient member in a cylindrical shape, and has a bellows-like bent portion 17 in close contact with the suction pad 16 at the top.
  • the tube member 15 is attached by screwing to the inside of the air drawing passage 1 4 in the sliding member 9 by means of the screw portion 1 8.
  • An air drawing passage 1 9 is formed inside the tube member 1 5.
  • the air drawing passage 1 9 is in airtight communication with the air drawing passage 1 4 of the sliding member 9.
  • Suction pad 1 6 is placed on top of tube member 1 5.
  • the suction node 16 protrudes from the open end 1 a of the housing 1.
  • the suction pad 16 is made of, for example, a resin such as engineering plastic.
  • the suction source 16 can be oscillated on the tube member 1 5 by being placed on the tube member 1 5.
  • This suction pad 1 6 is a suction portion 16 b having a flat suction surface 16 a on the surface, and a contact surface portion 16 c having a curved surface that is integrally formed by hanging down on the back surface of the suction portion 16 b It will be An air suction hole 16 d is provided at the center of the suction portion 16 b.
  • the suction portion 16 b has an outer diameter equal to the outer diameter of the housing 1.
  • the suction portion 16 b comes into surface contact with the open end 1 a of the housing 1 to stop the lowering. Therefore, the open end 1a of the housing 1 serves as a stop for the lowering of the suction pad 16 and also maintains the inclination of the suction surface 16a of the suction pad 16 with the reference plane. Become.
  • the suction portion 16 b is formed longer by a length D on the outer peripheral surface of the housing 1 It is also good. With such a suction portion 16 b, the area of the suction surface 16 a becomes large, and even if the glass substrate comes in contact with any portion of this suction surface 16 a, this contact occurs. When the distance between the point of action of the force applied and the center position P of the suction part 16 b is increased, the suction pad 16 swings on the tube member 1 5 by a slight force. Operate.
  • the contact surface portion 16 c has a cylindrical shape, and its outer peripheral surface is formed in a hemispherical shape having a maximum diameter at the middle in the vertical direction.
  • the contact surface portion 16 c is formed so that the maximum outer diameter dimension is slightly smaller than the inner diameter dimension of the hollow portion 2 (opening end la) of the housing 1, and is vertically inserted in the opening portion 1 b of the housing 1 It has been purchased for mobility.
  • This contact surface portion 16 c is located in the hollow portion 2 of the housing 1. It is supported in point contact with at least 3 points on the wall 2 a.
  • the contact between the contact surface portion 16 c and the inner wall 2 a of the hollow portion 2 of the housing 1 is not necessarily in point contact with at least only three points, and contact by the swing of the suction pad 16 It contacts at a plurality of points on the same circumferential line on the surface portion 16 c, or makes line contact on the same circumferential line. Due to the contact between the contact surface 16c and the inner wall 2a of the hollow portion 2 of the housing 1, the frictional resistance between the contact surface 16c and the inner wall 2a of the housing 1 is small. Suction pad 1 6 enables smooth swinging movement.
  • An annular step 20 is provided in the air suction hole 16 d of the suction pad 16.
  • the first support plate 21 shown in FIG. 3 is provided in the step 20.
  • the first support plate 2 1 is formed in a disk shape, and is provided with two holes 21 a and 21 b for circulating air.
  • An annular step 2 2 is provided in the air drawing passage 1 4 of the sliding member 9.
  • a second support plate 2 3 having the same shape as the first support plate 2 1 is provided in the step 2 2.
  • the first support plate 2 1 and the second support plate 2 3 are connected by, for example, a thin thread 2 4 as a wire member which is a connecting member.
  • the thin yarn 2 4 is formed of, for example, nylon resin as a soft wire which does not stretch against tension and has high strength against breakage.
  • This thin thread 2 4 has a constant distance between the first and second support plates 2 1 and 2 3 through the tube member 1 5 and the swing state of the suction pad 1 6
  • the tube member 1 5 is tensioned to apply a biasing force that enables it to return to a horizontal position. It is done.
  • the tension of this thin thread 24 can be adjusted when it is stretched between the first and second support plates 21 and 23.
  • the thin thread 24 can be used as the first or second support plate 21. Adjustments can be made according to the binding conditions when binding to 2 3.
  • the first support plate 2 1, the second support plate 2 3 and the thin thread 2 4 constitute suction pad holding means.
  • a spring 2 5 is provided inside the air drawing passage 5 of the air drawing passage 1 4 in the thin-walled cylindrical portion 1 1 of the sliding member 9 and the air drawing passage 5 of the doublet body 4.
  • the spring 25 is formed by integrating the suction pad 16, the tube member 15 and the sliding member 9 into the hollow portion 2 of the housing 1 from the sliding member 9 to the open end 1 a side of the housing 1. Give an urging force toward the The lower side of this spring 2 5 is locked to the spring adjustment member 2 6.
  • Screws 2 6 a are provided on the outer peripheral surface of the spring adjustment member 2 6.
  • the spring adjusting member 2 6 is internally mounted in the air pulling passage 5 by screwing the screw portion 2 6 a with the screw portion 4 c of the air pulling passage 5 of the union body 4.
  • the spring adjusting member 2 6 is formed in a ring shape, and an air drawing passage 26 b is provided in the hollow portion thereof.
  • the spring adjustment member 2 6 is rotated by screwing the screw portion 26 a with the screw portion 4 c to move up and down in the air drawing passage 5 to bias the spring 2 5.
  • a suction pad height adjustment mechanism 2 7 is provided in the hollow portion 2 of the housing 1.
  • the suction pad height adjusting mechanism 2 7 has an adjusting annular member 2 9 which is screwed to a screw portion 2 8 formed in the hollow portion 2 of the housing 1.
  • the adjusting annular member 2 9 moves up and down in the hollow portion 2 of the housing 1 by rotating with respect to the screw portion 2 8.
  • the suction pad 16, the tube member 15 and the sliding member 9 move up and down into the hollow portion 2 of the housing 1 as a body.
  • the height position A of the suction pad 16 with respect to the open end 1 a of the housing 1 is adjusted.
  • the substrate suction device ascends due to the lift mechanism.
  • the glass substrate S is inclined, for example, due to warpage or stagnation.
  • a part of the suction surface 16a of the suction pad 16 comes in contact with the back surface of the glass substrate 40, which is warped as shown in Fig. 4A, due to the rise of the substrate suction device.
  • the suction pad 16 is placed on the tube member 15 and pulled to the lower side of the housing 1 by a thin thread 2 4. As a result, the suction pad 16 can swing on the tube member 15 and in its original posture, that is, the suction surface 16a does not swing unless the external force is applied. A biasing force is added to return to the horizontal position.
  • the suction pads 16 are slightly below the glass substrate S. Since it contacts the back surface of the glass substrate S with an applied pressure, as shown in Fig. 4B, the glass substrate S will be in an oscillating state so as to follow the inclination of the glass substrate S due to warpage or stagnation. That is, since the suction pad 16 swings while inserting the contact surface portion 16 c into the opening portion 1 b of the housing 1, the outer peripheral edge of the rear surface of the suction portion 16 b at the maximum 16 e It is possible to tilt to a swing angle in which the end 1 a of the housing 1 abuts.
  • the suction node 16 oscillates while the contact surface 16 c is in point contact with the inner wall of the opening 1 b of the housing 1 at least at three points, so that the contact surface 16 c and the housing 1
  • the frictional resistance between the opening 1 b and the inner wall is small.
  • the suction surface 16 a of the suction pad 16 adheres to the back surface of the glass substrate S following the inclination of the glass substrate S due to the warpage or stagnation. Do.
  • the outer diameter of the suction portion 16 a is formed to be the same as the outer diameter of the housing 1, so the point of action of the force applied when the glass substrate S contacts the outer peripheral edge of the suction portion 16 a and the suction The distance to the center position of part 1 6 a becomes longer.
  • the force of the contact causes the neck of the suction pad 1 6 by the action of the forceps. It will be a big turning force to shake.
  • the insides of the air drawing passages 5, 14, 19 and the air suction holes 16 become negative pressure by vacuuming, so that the suction pads 16, the tube members 15, and the negative pressure by this negative pressure.
  • the sliding member 9 is piled by the spring force of the spring 25 and descends in the hollow portion 2 of the housing 1 by itself.
  • the entire outer peripheral edge 16 e of the back surface of the suction pad 16 comes in surface contact with the open end 1 a of the housing 1. Since the open end 1 a of the housing 1 is a reference plane, the suction surface 16 a of the suction pad 2 2 is disposed in the horizontal direction. As a result, the glass substrate S is held in the horizontal direction.
  • the contact surface portion 16 c is in contact with the opening wall of the housing 1, the lateral movement of the suction pad 16 is restricted. Due to this restriction, even in the state where the suction pad 16 is adsorbed on the back surface of the glass substrate S, the glass substrate S can be positioned with high accuracy without being displaced.
  • the suction pad 1 6 can be inclined at a large inclination angle, since the contact surface 16 c is in contact with the opening wall of the housing 1 even when it is inclined, the suction pad 16 can not be displaced in the lateral direction.
  • the suction pad 16 has a large swing angle and a slight external force, so that the swing motion can be performed smoothly and smoothly with small frictional resistance, and the large warpage of the glass substrate S or the large swing of the glass substrate S It adheres to the back surface of the glass substrate S following the inclination due to stagnation, and the glass substrate S can be reliably adsorbed without air leakage.
  • the suction pad 1 6 Since the distance between the point of contact force on the suction part 1 6 b and the center position of the suction part 1 6 b when the glass substrate S comes in contact is increased, the suction pad 1 6 is necked with a slight contact force. It can be oscillated and can immediately follow the large warping or bending of the glass substrate S.
  • the suction nodes 1 6 are connected by thin threads 2 4 so that they can not come off the open end 1 a of the housing 1.
  • the suction pad height adjustment mechanism 2 7 Since the suction pad height adjustment mechanism 2 7 is provided, the height position A of the suction pad 16 from the end 1 a of the housing 1 is It can be adjusted according to the height position of the substrate S held.
  • Figure 5 is a top view
  • Figure 6 is a side view.
  • a plurality of air blow-out holes 3 1 are provided on the upper surface of the floating transfer stage 3 0 and leveled. These air blowing holes 31 1 blow air at uniform air pressure.
  • An air layer is formed between the floating transfer stage 30 and the glass substrate S by the blowout of the air, and the glass substrate S floats on the floating transfer stage 30.
  • Guide rails 3 2 and 3 3 in a linear shape are provided on both side surfaces of the floating transport stage 30 respectively. On these guide rails 32 and 33, the transport units 34 and 35 are provided so as to be movable in synchronization with one another.
  • a suction mounting table 3 7 is provided in each of the transfer units 34 and 35 via the raising and lowering support members 3 6. Each raising and lowering support member 3 6 raises and lowers the suction mounting table 3 7 in the upward and downward directions (Z direction).
  • the substrate suction devices E are arranged in the same direction as the transport direction T of the glass substrate S, for example.
  • the number of substrate suction devices E is not limited to five, and any number may be provided. These substrate suction devices are adjusted to the same height position by adjusting the height position of each suction pad 16.
  • the glass substrate S is floated or placed on the floating transfer stage 30. This state 06002
  • each suction pad 16 of each substrate suction device E comes in contact with the back surface of the glass substrate S.
  • the suction pads 16 are swung by the force applied to the glass substrate S as in the first embodiment.
  • the suction surface 16 a comes in close contact with the back surface of the glass substrate S by means of vacuum suction of air and holds it by suction.
  • the glass substrate S floating on the air is transferred to the transport units 34 and 35. It is pulled by movement and air is conveyed at high speed in the conveyance direction T on the floating conveyance stage 30.
  • the substrate suction device E is applied to the air floating transfer device, even when the glass substrate S which has warped or stagnated is transferred by air floating, each of the glass substrates S follows the warping or bending of the glass substrate S
  • the suction pad 1 6 of the substrate suction device Ei can be reliably suctioned to the back surface of the glass substrate S. Since the suction pads 16 do not shift in position, they do not shift the position of the glass substrate S when the back surface of the glass substrate S is sucked and held.
  • the alignment section and the inspection section in the manufacturing line are It is possible to suction and hold the aligned glass substrate S with high accuracy without shifting the position. Even if the height positions of multiple suction pads 16 are uneven, the height positions of the suction pads 1 6 can be adjusted to the same height position by the suction pad height adjustment mechanisms 2 7.
  • the inspection stage 40 is provided in parallel with each other at a predetermined interval in the hollow main body 4 1 of the frame main body 4 1 formed in a rectangular shape with a hollow frame structure and the stage main body 4 1. It consists of several stagnant anti-collision bars 4 3.
  • a plurality of substrate suction devices E are embedded at predetermined intervals in the inner peripheral edge portion of the hollow portion 4 2 in the stage main body 4 1.
  • a plurality of support pins 44 are erected on each anti-collision bar 4 3.
  • each suction pad 16 of each substrate suction device comes in contact with the back surface of the glass substrate S.
  • these suction pads 16 move in an oscillating manner so that the suction surface 16 a follows the back surface of the glass substrate S, and the vacuum suction of air is performed on the glass substrate S Adheres to the back side and securely holds the glass substrate S by suction. Therefore, even if the warped glass substrate S is placed on the inspection stage 40, the glass substrate S can be securely held by suction.
  • the height position of each suction surface 16 a can be adjusted by each suction pad height adjustment mechanism 2 7, and the glass substrate can be obtained by raising the height position A of the suction pad 16. Large warping and bending in S Even if there is, the glass substrate S can be held by suction with a high degree of flatness on the inspection stage 40 by correcting these warpage and deflection.
  • FIG. 8 is a block diagram showing the characteristic part of the substrate suction device Ei.
  • a wire 45 is locked between the first support plate 21 and the second support plate 23.
  • the wire 4 5 has torsional rigidity and is formed of, for example, a metal material or the like.
  • the wire 4 5 includes a rod-shaped wire body 4 6, a hook-shaped first locking portion 4 7 provided at one end of the wire body 4 6, and the other end of the wire body 4 7 And a second J-shaped locking portion 4 8 provided.
  • the first locking portion 47 is connected to the first support plate 21 through the holes 21a and 21b of the first support plate 21 by a wire 4 9 such as a thread.
  • the second locking portions 4 8 are locked in the respective holes 21 a and 21 b of the second support plate 2 3.
  • the substrate adsorption device E adsorbs the glass substrate S in which a warp occurs
  • the substrate adsorption device adsorbs so as to receive the glass substrate S.
  • the suction pad 16 of the substrate suction device E may rotate slightly.
  • the mechanism for holding the suction pad 16 is the thin thread 24 of the thin thread stretched between the first support plate 21 and the second support plate 23. The amount of twist gradually increases. Then, the tension of thin thread 2 4 becomes large, suction pad 16 gradually descends, and the end of housing 1 The protrusion amount of the adsorption node 16 from the 1 a force decreases.
  • the rotation of the suction pad 16 can be regulated by the wire 45. Therefore, the suction pads 16 are maintained at the height position A from the end 1 a of the housing 1 without rotation being accumulated over time.
  • the first and second embodiments may be formed as follows.
  • FIG. 9A is a block diagram showing a modified row of wires 45.
  • the wire 4 5 is provided with a small diameter portion 4 9 a on the side of, for example, the first locking portion 4 7 of the wire body 4 6.
  • the small diameter portion 4 9 a is formed to be thinner than the diameter of the tire main body 4 6, and the upper portion from the small diameter portion 4 9 a is inclined freely with a small external force, but the suction pad 1 6 Suppress the rotational force.
  • FIG. 9B is also a block diagram showing a modified row of the wire 45.
  • This wire 45 separates the first locking portion 4 7 from the wire main body 4 6, and the first locking portion 4 is separated.
  • the wire main body 4 6 is provided with a receptacle 4 9 c of the pole 4 9 b at the end separated from the first locking portion 4 7.
  • the receiving portion 4 9 c rotatably holds the pole 4 9 b. Therefore, even if a twisting force is applied to the wire 45, the ball 4 9 b rotates in the receiving portion 4 9 c. As a result, even if suction pad 1 6 rotates, Yer 4 5 can not twist.
  • a tube member 15 a formed in a nozzle may be used.
  • Figure 1 1 is a block diagram of a substrate attracting device E 2.
  • the housing 50 is formed in a cylindrical shape, for example, of a rigid material such as aluminum.
  • a cylindrical holding hole 51 for a pad is provided at the front end of the housing 50.
  • the suction pad 52 is rotatably held so as to protrude slightly from the open end 51a of the holding hole 51.
  • the suction pad 5 2 is formed in a cylindrical shape using a resin, and the contact surface portion 5 2 a which is the side surface of the pad is formed in a spherical shape. Inside the suction pad 5 2, a cylindrical hollow portion 5 3 opened downward is provided. A flat suction surface 5 4 is provided on the top of the suction pad 5 2.
  • the suction surface 54 is provided with a pad recess 54a having a small depth and an air suction hole 54b for vacuum suction communicating with the hollow portion 53 at the central portion. .
  • the holding hole 5 1 of the housing 50 is formed to have an inner diameter slightly smaller than the dimension of the contact surface portion 5 2 a of the suction pad 5 2.
  • an iris shape portion 5 5 which is squeezed in accordance with the curvature of the spherical shape of the contact surface portion 5 2 a of the suction pad 5 2.
  • the throttle shape portion 5 5 constitutes suction pad holding means for holding the suction pad 5 2 in the holding hole 5 1.
  • the contact surface of holding hole 5 1 and suction pad 5 2 of No. 5 0 5 2 a has a precision close-fit structure in which the suction pad 5 2 can be rotated within the holding hole 5 1 of the housing 5 0. Therefore, when the suction pad 52 is converged in the holding hole 51, at least three points make point contact with the contact surface 52a of the suction pad 52 and the inner wall surface of the holding hole 51.
  • the contact between the contact surface portion 5 2 a of the suction pad 5 2 and the inner wall surface of the holding hole 5 1 is not necessarily in point contact with at least only three points, and the vibration of the suction pad 5 2 Depending on the contact surface, contact is made at a plurality of points on the same circumferential line on the contact surface 52a, or in line contact on the same circumferential line. Due to the contact between the contact surface 52a and the inner wall surface of the holding hole 51, the frictional resistance between the contact surface 52a and the inner wall surface of the holding hole 51 is extremely small.
  • the suction pad 52 is rotatably held, for example, in the direction of arrow F in the holding hole 51 in the entire circumferential direction with a slight external force, and a smooth swinging movement becomes possible.
  • a receiving surface 5 6 for receiving the suction pad 5 2 is provided.
  • the receiving surface 5 6 is formed of a flat portion 5 7 and a tapered portion 5 8 provided on the outer peripheral edge of the flat portion 5 7.
  • the flat portion 5 7 regulates the inclination angle of the suction pad 5 2 with respect to the arrow F direction by the contact of the bottom of the suction pad 5 2.
  • the inclination angle of the suction pad 52 is such that the suction surface 54 is not hidden in the holding hole 51 when the suction pad 52 is inclined.
  • the tapered portion 5 8 is formed at an angle following the curvature of the spherical shape of the contact surface portion 5 2 a of the suction pad 5 2.
  • the tapered portion 5 8 abuts against the suction pad 5 2 which descends in the holding hole 5 1 to restrict the downward movement of the suction pad 5 2.
  • the housing 50 is provided with a hollow hole 5 9.
  • the hollow hole 5 9 is formed to have an inner diameter smaller than the inner diameter of the holding hole 5 1.
  • a suction pad supporting member 60 is provided in the hollow portion 5 3 of the hollow hole 5 9 and the suction pad 5 2.
  • the suction pad support member 60 is formed in a hollow shape by a flexible member such as rubber, and an air drawing passage 6 1 is provided therein.
  • the tip of this suction pad support member 60 is formed with a bellows 60 a for obtaining a small elastic force.
  • the tip of this bellows 60 a is formed thinner than the base and can be expanded and contracted by forming it in a bellows shape.
  • the bellows 60 is in close contact with the air suction holes 54 b of the suction pad 52.
  • the base of the suction pad support member 60 is airtightly connected to the end face of the unit body 6 2.
  • the housing 5 0 is screwed to the unit body 6 2 through the screw portion 6 3.
  • the housing 50 is rotated relative to the unit body 62 to change the amount of expansion and contraction of the bellows 60 a and adjust the rotational force of the suction pad 52.
  • This adjustment is a fine adjustment within the range in which the suction pad 52 can be rotated by receiving an external force that acts when the suction pad 52 abuts on the glass substrate S.
  • the housing 50 can adjust the height position of the suction pad 52 by rotating relative to the unit body 62.
  • the housing 50 when adjusting the expansion amount (elastic force) of Bellows 60 a or the height position of suction pad 52 is a screw nut 6 4 It is fixed to the unit body 6 2 by tightening the
  • An air drawing passage 65 is provided in the unit body 6 2.
  • the air drawing passage 65 is in communication with the air drawing passage 6 1 of the suction pad support member 60.
  • the air suction holes 54 b and the air drawing passages 61 and 65 form a vacuum suction passage.
  • Figure 1 2 A shows a state in which the glass substrate S is conveyed above the substrate adsorption device E 2.
  • the suction pad 52 is inclined, for example, in the holding hole 51 of the housing 50, and the suction surface 54 is out of parallel with the back surface of the glass substrate S.
  • a part of the suction surface 5 4 of the suction pad 5 2 that is inclined abuts on the back surface of the glass substrate S.
  • the suction pad 52 Since the suction pad 52 is held by point contact in the holding hole 51 of the housing 50, the friction resistance between the suction pad 52 and the inner wall surface of the holding hole 51 is extremely small. It rotates in the direction of arrow F in holding hole 51 with a slight contact force against the back side.
  • the suction pad 5 2 rotates, and the suction surface 5 as shown in FIG. 2B. Copy so that 4 is the same as the direction of the back of glass substrate S. At this time, even if the suction pad 52 is inclined or the glass substrate S is warped or wrinkled, it is not absorbed. The rod 5 2 rotates and the suction surface 5 4 adheres to the back surface of the glass substrate S.
  • the suction pad support member 60 formed of an elastic member Belose 6 0 a shrinks.
  • the suction pad 5 2 descends in the holding hole 5 1 due to the contraction of the bellows 60 a, and the bottom of the suction pad 5 2 abuts on the tapered portion 5 8 as shown in FIG. 12 C and stops.
  • the suction pad 5 2 is fixed in the holding hole 5 1.
  • the suction pad 5 2 having the contact surface portion 5 2 a formed into a spherical shape is formed into the precision clearance fitting structure in the holding hole 5 1 of the housing 50. Since the suction pad 5 2 can be rotated all around in the holding hole 5 1 by the point contact, the frictional resistance of the suction pad 5 2 in the holding hole 5 1 is extremely high. It is small and can rotate in the circumferential direction with a slight external force. Therefore, by contacting the back surface of the glass substrate S with a slight contact force from the lower side of the glass substrate S, the adsorption pad 5 2 follows the inclination direction of the back surface of the glass substrate S. The vacuum suction can be done without leakage and the back side of the glass substrate S can be reliably adsorbed. By this, even if the glass substrate S is warped or bent, the suction pad 5 2 can be inclined and reliably attracted according to these.
  • the suction pad 52 is held in the holding hole 51 of the housing 50 by means of a precision close-fitting structure, the positional deviation of the suction pad 52 in the holding hole 51 is extremely small. This enables highly accurate positioning when the glass substrate S is held by suction.
  • the negative pressure in the adsorption pad support member 60 causes the bellows 60a to be shrunk, and the adsorption pad 52 has a tapered portion 5 8 Since it regulates the downward movement by contacting with the glass substrate S, it can be fixed at the correct height while the glass substrate S is adsorbed.
  • the amount of expansion and contraction of Bellows 60 a is adjusted by rotating the No. 5 50 relative to the main body 6 2 so that the suction pad 5 2 is optimally applied to the glass substrate S.
  • the height position of suction pad 52 can be adjusted.
  • the substrate suction device 2 can be replaced with the substrate suction device 1 of the air floating transfer device shown in FIGS. 5 and 6 above. If the substrate suction device 2 is applied to the air floating conveyance device, the suction pattern 52 of each substrate suction device 2 is taken in accordance with the warping and bending of the glass substrate S as in the first embodiment. Glass substrate S The back side can be securely adsorbed, and the position of the glass substrate S is not shifted.
  • Figure 1 3 shows a block diagram of a substrate attracting device E 3.
  • the substrate suction device E 3 can be provided in place of the substrate suction device E on the inspection stage of the large substrate inspection device shown in FIG.
  • the housing 50 is screwed to the screw portion 7 1 formed at the bottom of each recess 70 and is fixed by tightening the screw portion 7 1 of the lock nut 7 2.
  • the amount of expansion and contraction of the bellows 60 can be adjusted by rotating the housing 50 relative to the screw section 71. This adjusted condition is fixed by tightening the lock nut 72.
  • An air suction passage 74 communicating with the air drawing passage 6 1 in the suction pad support member 60 is provided on each stage 7 3 of the stage main body 4 1 and each anti-scratch bar 4 3.
  • the glass substrate S having a warp can be securely held by suction, and the height position of the suction pad 52 is adjusted.
  • the glass substrate S having a warp can be securely held by suction, and the height position of the suction pad 52 is adjusted.
  • the substrate suction device E 3 can also be applied to the arm portion R of the large substrate transfer robot shown in FIG.
  • the arm R is connected to the arm support 8 0 while a plurality of, for example, four arms 8 1 are in a predetermined period. They are spaced apart and parallel to one another. A plurality of substrate suction devices E 3 are provided on the arms 8 1.
  • This large substrate transfer robot inserts the arm support 80 into the storage unit, takes out the large glass substrate S, and transfers it on the transfer line of the inspection station.
  • the glass substrate S becomes stagnant.
  • the suction pad 52 the suction surface 54 follows the inclination of the back surface of the glass substrate S, and adheres to the back surface of the glass substrate S by vacuum suction of air, so that the glass substrate S is securely adsorbed. Hold.
  • the height of the housing 50 can be reduced to miniaturize, and the inspection stage of the large substrate inspection apparatus and the arm of the large substrate transfer robot can be obtained.
  • the glass substrate S can be reliably held by suction following the warp that occurs on the glass substrate S without shifting the position.
  • FIG. 1, FIG. 11, FIG. 5 and FIG. 6 will be assigned the same reference numerals and detailed explanations thereof will be omitted.
  • the air levitation transfer apparatus shown in FIGS. 5 and 6 includes the substrate suction apparatus (hereinafter referred to as the first substrate suction apparatus) of the first embodiment and the third A substrate suction device (hereinafter referred to as a second substrate suction device) E 2 according to the embodiment was applied.
  • the substrate suction apparatus hereinafter referred to as the first substrate suction apparatus
  • the third A substrate suction device hereinafter referred to as a second substrate suction device
  • FIG. 15 shows the first substrate suction device and the second substrate suction device E 2 provided on each suction mounting table 57. Note that in the figure, only the reference numerals of the necessary parts are attached because they become complicated if the reference numerals are attached.
  • a plurality of first and second substrate suction devices E 2 are arranged in parallel in the same direction as the transport direction T of the glass substrate S.
  • a plurality of, for example, two first substrate suction devices E are provided on the tip end side of the glass substrate S along the transport direction T of the glass substrate S, for example.
  • a plurality of, for example, six second substrate suction devices E 2 are provided on the rear end side of the first substrate suction device.
  • first and second substrate suction devices E i and E 2 have the heights of the suction surfaces 16 a and 54 of the suction pads 16 and 52 when the glass substrate S is adsorbed. The height is adjusted so that the position matches the reference plane H. In each first substrate suction device E, the height position of the suction surface 16 a coincides with the reference plane H when the suction pad 16 descends into the housing 1 and makes surface contact with the end 1 a The height is adjusted to be correct.
  • the first and second substrate adsorption device E 1 lambda E 2 since each different heights, the adsorption table 5 7, in step G is provided Rereru.
  • Figure 16 shows the air evacuation system.
  • the regulators 90 and 91 are connected to the first substrate suction devices E on the left side in the transport direction T of the glass substrate S through the air suction paths of different systems, and the right side
  • Each of the registrators 92 and 93 is connected to each of the first substrate suction devices.
  • These regula- tors 90, 91, ' ⁇ ', 93 individually control the suction force of each air preset for each first substrate suction device.
  • each regulator 9 4-1, 9 4 – 2, –, 9 4 1 n are connected, and the second substrate attachment device E 2 on the right side is also connected to the respective regulators 9 5 ⁇ 1, 9 5 ⁇ 2, ⁇ , 9
  • 9 4 1 n, 9 5-1, 9 5-2,..., 9 5-n are preset for the respective second substrate suction devices E 2 . Control each air suction separately.
  • a vacuum valve 96 is commonly connected to each of the regulators 90, 91 on the left side with respect to the transport direction T of the glass substrate S.
  • each regulator 9 on the left side 9 4 1 1 9 4 2 ' ⁇ , 9 4 — n is connected in common to the vacuum valve 9 7.
  • air pressure gauges 9 8 and 9 9 are provided on the vacuum valves 9 6 and 9 7, respectively, on the registrator 90, 9 1, 9 4-1, ... ⁇ 9 4-n side. .
  • the air pressure gauge 98 measures the air suction force drawn from each regulator 90, 9 1 force, and when this air suction force does not become lower than the set suction force, an error signal is sent to the vacuum valve 9 6 And shut off this vacuum valve 9 6.
  • the air pressure gauge 9 9 measures the pressure of the air drawn from the pressure of each regulator 9 4 1 1 9 4 n, and this air suction force does not become lower than the set suction force. Send an error signal to the vacuum valve 9 7 and shut off the vacuum valve 9 7.
  • the vacuum valves 100 are commonly connected to the regulators 9 2 and 9 3 on the right side in the transport direction T of the glass substrate S, and the regulators 9 5 1 1 on the right side are also the same. ..., 9 5 — n is commonly connected to the vacuum valve 101.
  • Each vacuum valve 96, 100 on the side of each first substrate suction device is commonly connected to the main regulator 104a, and furthermore, an air suction source 1 0 4 to the main regulator 104. 5 is connected.
  • the vacuum valves 9 7 and 10 1 on the second substrate suction unit E 2 side are commonly connected to the main regulator 104 b, and further to the air on the main regulator 104 b.
  • Suction source 1 0 5 is connected.
  • air pressure gauges 106 a and 106 b are provided on the side of the main vacuum valves 96, 97, 100 and 101 of the main regulators 104 a and 104 b, respectively. It is connected.
  • the first and second substrate suction devices E and E 2 are The suction pads 16 and 52 rise to the back of the glass substrate S as shown in Fig. 15.
  • the tip of the glass substrate S is warped in the transport direction T, first, one end of the suction pad 16 in the first substrate suction device comes in contact with the back surface of the glass substrate S.
  • the glass substrate S is warped to the tip side in the transport direction T.
  • the first substrate suction device E capable of adjusting the height of each suction pad 16 on the tip end side with respect to the transport direction T causes warping or bending.
  • Each suction pad 16 can be brought into contact with the back surface of the glass substrate S.
  • suction pads 16 come in contact with the back surface of the glass substrate S with a slight contact force from below the glass substrate S, and swing according to the inclination of the glass substrate S due to warpage or stagnation,
  • the suction surface 36 is in close contact with the back surface of the glass substrate S.
  • each of the first and second substrate suction devices £ and E 2 is subjected to the respective regulator 90, 91,. 9 3 and Regilators 9 4-1, 9 4-2, " ⁇ 9 4-n, 9 5-1, 9 5-2, ⁇ ⁇ ', 9 5-n force from each vacuum valve 9 6,
  • the air suction is performed through 9 7, 100 0 1, 1 0 1, and the main regulator 1 0 4, whereby the first substrate suction device is the same as the first embodiment described above.
  • the suction surface 16 a of the suction pad 16 adheres closely to the back surface of the glass substrate S in which warping occurs, and vacuum suctions the glass substrate S reliably without air leakage.
  • the outer peripheral edge 16 e of the back surface of the pad 16 comes into surface contact with the end 1 a of the housing 1 and stops, and the warpage and stagnation of the glass substrate S are corrected in a plane.
  • This and come back surface of the glass substrate S is closer to the respective suction pad 5 second plurality of second substrate adsorption device E 2.
  • These second substrate suction devices E 2 contact the respective suction pads by contacting the back surface of the glass substrate S with a slight contact force from below the glass substrate S. 5 2 rotates so that the surface direction of suction surface 5 4 is the same as the direction of the back surface of glass substrate S. '
  • the back surface of the glass substrate S is exposed by the suction pad 16. It can be held securely by adsorption. Since the tip side of the glass substrate S having a large amount of deflection is adsorbed and held by the first substrate suction device E and lowered toward the reference plane H, the back surface of the glass substrate S is the second substrate. The suction device E 2 can be gradually approached, and the second substrate suction device E 2 can reliably hold the back surface of the glass substrate S by suction.
  • the first and second substrate adsorption devices E i and E 2 are air passing through the respective registrators 90, 91,... Since air suction is performed, even if one adsorption pad 16 or 52 at one place does not adsorb to the back surface of the glass substrate S, the air leaks to the adsorption pad 16 or 52 which has leaked the air.
  • the second substrate suction device E 2 can maintain the suction operation of each suction pad 1 6 or 5 2.
  • the safety can be improved without stopping the adsorption and holding of the glass substrate S in the middle, and the air-leaking suction pad 16 or 52 first or second substrate suction device ⁇ 1 Repairing only the system of ⁇ 2 is advantageous in terms of maintenance.
  • Ri by the and this for the air supply to each of the first substrate adsorption equipment E 1 and the second substrate adsorption device E 2 into two lines, one main Regiyu rater 1 0 4 a or 1 0 Even if 4 b fails, the other main regulator 104 b or 104 a is activated, so all the first substrate adsorption devices A and the second substrate adsorption devices B can be used. It solves the problem that air suction can not be performed.
  • the first and second substrate suction devices E 1 E 2 are used, but all of them may be used as the first substrate suction device E 1.
  • Figure 17 is a block diagram of the air levitation conveyor that can be used as an inspection stage.
  • a plurality of, for example, three suction mounting tables 3 7 a, 3 7 b, 3 7 c are provided. These suction mounting tables 3 7 a, 3 7 b, 3 7 c are provided on the front end side, the rear end side, and the middle portion in the transport direction T of the glass substrate S.
  • a plurality of first or second substrate suction devices E, E 2 are respectively arranged in parallel on the suction mounting tables 3 7 a, 3 7 b, 3 7 c.
  • the first and second substrate adsorption devices E i and E 2 have the heights of the adsorption surfaces 16 a and 5 4 of the adsorption pads 16 and 5 2 in the state where the glass substrate S is adsorbed. The height is adjusted so that the position matches the reference plane H.
  • the first and second substrate suction devices E 1 E 2 are connected to the registrators through the air suction paths of different systems, for example, one first or even air leakage occurs in the second substrate adsorption device E 1 E 2, in the first or second substrate adsorption device E 1 lambda E 2 of the other can be maintained adsorption Chakudosa, suction holding of the glass substrate S It is possible to improve the safety without stopping in the middle.
  • the adsorption control method for the first or second substrate adsorption device E 1 E 2 is as follows. First, each first or second substrate adsorption device E or E on the adsorption table 3 7 c provided at the center portion Start the suction operation for 2 . Next, the suction operation for each of the first and second substrate suction devices E i or E 2 on the suction table 3 7 a or 3 7 b provided at the front end or the rear end is started. According to this suction control method, when the glass substrate S floating on the air is sucked and held on the floating conveyance stage 30, the suction mounting table 3 7 c is provided on the small middle portion of the curvature.
  • the central portion of the glass substrate S is obtained by starting the suction operation from each of the first or second substrate suction devices E or E 2 of each of the first or second substrate suction devices E i or E The suction and retention is ensured by 2 . At this time, since the glass substrate S is held by suction by the first or second substrate suction device or E 2 in the middle portion, the warping of the glass substrate S is reduced.
  • each first or second substrate suction device E or E 2 on the suction mounting table 3 7 a or 3 7 b provided at the front end portion or the rear end portion starts the suction operation.
  • each first or second substrate suction device E i or E 2 at the tip portion sequentially contacts the back surface of the glass substrate S from the center portion toward the tip portion and holds it by suction.
  • the suction table can be increased according to the size of the glass substrate S, not only at the central part, the front end part, and the rear end part, but it can be warped from the small part other than the central part. It may be arranged in a large area.
  • Figure 18 is a block diagram of the air levitation conveyance system.
  • Levitation carrier One suction table 3 7 is installed on each side of the stage 1.
  • a plurality of first or second substrate suction devices or E 2 are arranged in parallel in the same direction as the transport direction T of the glass substrate S.
  • these first and second substrate suction devices or E 2 are connected to each other through the respective air suction paths of different systems, and are drawn.
  • the adsorption control method for the first or second substrate adsorption device or E 2 is such that the first or second substrate adsorption device E or E 2 is warped from the smaller central portion side of the glass substrate S.
  • the suction operation starts in order toward the large end of the.
  • each first or second substrate adsorption device or E 2 is a glass.
  • the substrate S contacts the back surface of the glass substrate S sequentially from the middle portion side to the tip portion side, and is held by suction.
  • the warping of the glass substrate S is sequentially corrected from the middle portion side to the end portion side, and each first or second substrate suction device E i or E 2 is an end portion from the middle portion side. Hold the glass substrate S firmly to the part side.
  • the first or second substrate adsorption device E or E 2 simultaneously performs adsorption operation, adsorption is sequentially started from the small warpage portion of the glass substrate S toward the large warpage portion. As a result, the warping and bending of the glass substrate S are corrected horizontally on the reference plane H.
  • the second substrate suction device E 2 having a small protrusion height of the suction pad 52 and the well-known substrate suction device are provided. It becomes possible to securely hold the glass substrate S which is warped even if it is placed.
  • the present invention is not limited to the above embodiments, but may be modified as follows.
  • the present invention can also be applied to the case where the glass substrate S is adsorbed and held on the inspection stage in the inspection section of the glass substrate S.
  • each of the first substrate adsorption device groups H i to H 4 a plurality of substrate adsorption device groups E are arranged along the transport direction T of the glass substrate S.
  • the first substrate suction device groups H i and H 2 are provided adjacent to each other, and the first substrate suction device groups H 3 and H 4 are provided adjacent to each other.
  • the first substrate suction device group HHA may use a second substrate suction device E2.
  • Each of the first substrate adsorption devices in these first substrate adsorption devices H i to H 4 is connected to each of the regulators 1 1 0, and further common to each first substrate adsorption device group to H 4 It is connected and connected to each vacuum pulp i ⁇ ⁇ 1 1 4.
  • the vacuum pulps 1 1 1 and 1 1 3 corresponding to the first substrate suction device group H i and H 3 are connected in common and connected to the main regulator 1 15 a.
  • the vacuum valves 1 12 and 1 1 4 corresponding to the first substrate suction device group H 2 and H 4 are commonly connected to the main regulators 1 1 5 b.
  • the adsorbing device groups H 2 and H 4 as separate air evacuation systems, adjacent ones of the first substrate adsorbing device group H 3 will be adjacent even if H 3 becomes non-suctionable.
  • the other substrate suction device H 2 can reliably hold the glass substrate S by suction. For example, even if the whole of the first substrate suction device group H i leaks, the suction operation to the glass substrate S can be maintained by the adjacent first substrate suction device group H 2 .
  • the shape of the contact surface portion 16 c of the suction pad 16 according to the first embodiment is shown in the partial sectional view shown in FIG. 2 OA to FIG. 2 OD and the top view shown in FIG. It may be modified as well.
  • the contact surface portion 16 c shown in FIG. 2A intersects each of the inclined surfaces 120 and 1 2 1 to form an apex 12 2 having an obtuse angle, for example.
  • the apex 1 22 is formed in the entire circumferential direction of the contact surface 16 c. In the case of such a contact surface 16 c of the suction pad 16, the vertex 12 22 of the contact surface 16 c is in line contact with the inner wall 2 a of the housing 1 in the entire circumferential direction.
  • the contact surface portion 16 c shown in FIG. 20 B forms, for example, a convex body 1 2 4 having an obtuse angle 1 2 3.
  • This contact surface portion 16 c also has the top 1 2 3 of the convex body 1 2 4 on the inner wall 2 a of the housing 1 Line contact in all circumferential directions.
  • the contact surface portion 16 c shown in FIG. 20 C forms a hemispherical convex body 1 2 6 on the cylindrical curved main body 1 2 5.
  • the convex body 1 26 makes line contact with the inner wall 2 a of the housing 1 in the entire circumferential direction.
  • the contact surface portion 16 c shown in FIG. 2D forms a protrusion 1 2 7 on the cylindrical curved main body 1 2 5.
  • the protruding band 1 2 7 makes line contact with the inner wall 2 a of the housing 1 in the entire circumferential direction.
  • the contact surface portion 16c shown in FIG. 2E forms at least three, for example, four protrusions 1 2 8 on the outer peripheral surface of the cylindrical curved body 1 2 5. In the case of this contact surface portion 16 c, each protrusion 1 2 8 makes point contact with the inner wall 2 a of the housing 1.
  • the suction pads 16 do not shift in the lateral direction, and have a smooth and smooth swinging motion with small frictional resistance. it can.
  • the invention is not limited to air levitation, but may be applied to transport of the glass substrate S levitated by electrostatic levitation or ultrasonic levitation. Ru.
  • the substrate adsorption device among the substrate adsorption devices The first substrate suction device with a large height protruding from the tip side sucks and holds the substrate Holding and correcting the substrate horizontally, and holding the glass substrate by suction using a second substrate suction device with a small protruding height in a state where the glass substrate is horizontally corrected by the first substrate suction device
  • a substrate suction method characterized by:
  • a second aspect of the present invention is the substrate according to the first aspect of the present invention, characterized in that the adsorption operation of the first substrate adsorption device is started, and then the adsorption operation of the second substrate adsorption device is started. It is an adsorption method.
  • a third aspect of the present invention is the substrate adsorption method according to the first aspect of the present invention, wherein the first substrate adsorption device and the second substrate adsorption device simultaneously start the adsorption operation.
  • a substrate suction method for holding the substrate by a plurality of substrate suction devices arranged along the side edge of the substrate, the method corresponding to a small portion of the warp of the substrate.
  • the substrate adsorption method is characterized in that an adsorption operation is started from the substrate adsorption device toward the substrate adsorption device corresponding to a large portion of the warp of the substrate.
  • a substrate adsorption method in which the substrate is adsorbed and held by a plurality of substrate adsorption devices arranged along the side edge of the substrate, wherein one or more of the substrate adsorption devices are Each air evacuation system is provided for each substrate, and the air evacuation systems are operated at the same time, and the substrate adsorption devices are sequentially attracted to the substrate from the small part to the large part of the warp of the substrate.
  • the substrate suction method is characterized in that the warp of the substrate is corrected.
  • the present invention can also be applied to the fields of, for example, transfer of a glass substrate of a liquid crystal display in an LCD manufacturing line, and transfer of a semiconductor wafer and various members in a semiconductor manufacturing line.

Abstract

ハウジング1の開口部1b内のチューブ部材15上に、吸着部16aと少なくとも3点でハウジング1の開口部内壁の点接触する半球面状に湾曲した接触面部16cとを設けた吸着パッド16を載置し、この吸着パッド16と摺動部材9との間に細い糸24を張架した。

Description

明 細 書
基板吸着装置
技術分野
本発明は、 例えばフ ラ ッ トパネルディ スプレイ (以下、 F P D と省略する) に用いるガラス基板又は半導体ウェハなど の薄板基板を吸着保持する基板吸着装置に関する。
背景技術
大型で薄い板状のガラス基板を吸着保持するには、 ガラス 基板に反 りゃ撓みが生じていても、 確実に吸着する必要があ る。 このため吸着部は、 ガラス基板の反り ゃ撓みに倣って自 由度高く 動く こ とが要求される。 特開平 1 0 — 8 6 0 8 6号 公報に開示されている吸着装置では、 吸着パッ ドと押え枠体 との間に隙間を開けている。 この隙間によ り 吸着パッ ドが傾 く こ とができる。 この吸着パッ ドの傾きを大き く する と、 吸 着パッ ドと押え枠体と の隙間によ り ガラス基板を吸着 したと きに水平方向に移動 して しま う。 吸着パッ ドが水平移動して しま う と、 ガラス基板が位置ずれて しま う。 このため、 ガラ ス基板を高精度に位置決めする こ とが出来な く なる と共に、 搬送中にガラス基板が揺れて安定した搬送ができな く なる。
ガラス基板を高精度に位置決め した り、 搬送中にガラス基 板が摇動しないよ う にするために、 吸着具と収納孔と の隙間 を小さ く する と、 吸着具の傾き方向の動きが規制される。 こ のため、 ガラス基板の反り ゃ撓みに倣って吸着パッ ドが傾き 難く なる。
発明の開示 本発明の主要な観点によれば、 中空状に形成され、 先端部 に開 口部を有するハウジングと、 ハウジングの中空形状内に 設け られ、 かつエアーを吸引するエアー引き通路が設け られ た吸着パッ ド支持部材と、 ハウジングの開 口部から突出 した 状態で吸着パッ ド支持部材上に載置され、 ハウジングの開口 部に少な く と も 3 点で点接触して首振り可能で、 エアー引き 通路と気密に連通するエアー吸引孔が設け られた吸着パッ ド と、 吸着パッ ドをハウジングの開 口部に保持する吸着パッ ド 保持手段と を具備した基板吸着装置が提供される。
図面の簡単な説明
図 1 は本発明に係わる基板吸着装置の第 1 の実施の形態を 示す構成図。
図 2 は同装置における吸着パク ドの吸着部の別の一例を示 す構成図。
図 3 は同装置における第 1 及び第 2 の支持板の構成図。
図 4 Aは同装置における吸着パッ ドの撓んだガラス基板へ の倣い開始状態を示す図。
図 4 B は同装置における吸着パッ ドの橈んだガラス基板へ の吸着状態を示す図。
図 4 Cは同装置における吸着パッ ドによ り ガラス基板の矯 正動作を示す図。
図 5 は同装置を適用 したエアー浮上搬送装置の上面構成図。 図 6 は同装置の側面構成図。
図 7 は同装置を適用 した大型基板検査装置の検査ステージ の構成図。 図 8 は本発明に係わる基板吸着装置の第 2 の実施の形態の 特徴部分を示す構成図。
図 9 Aは同装置にワイヤーを用いた変形列を示す構成図。 図 9 B は同装置にワイヤーを用いた変形列を示す構成図。 図 1 0 は同装置における吸着パッ ドの変形例を示す構成図。 図 1 1 は本発明に係わる基板吸着装置の第 3 の実施の形態 を示す構成図。
図 1 2 Aは同装置における吸着パッ ドのガラス基板への吸 着動作の開始状態示す図。
図 1 2 B は同装置における吸着パッ ドのガラス基板への当 接状態を示す図。
図 1 2 Cは同装置における吸着パッ ドのガラス基板への吸 着状態を示す図。
図 1 3 は本発明に係わる基板吸着装置の第 4の実施の形態 を示す構成図。
図 1 4 は同装置を適用 した大型基板搬送用ロボッ トのァ一 ム部の構成図。
図 1 5 は本発明に係わる第 1 及び第 2 の基板吸着装置をェ ァー浮上搬送装置に適用 した第 5 の実施の形態を示す構成図。
図 1 6 は同基板吸着装置に用いるエアー真空引き系統を示 す図。
図 1 7 は本発明に係わる基板吸着装置をエアー浮上搬送装 置に適用 した第 6 の実施の形態を示す構成図。
図 1 8 は本発明に係わる基板吸着装置をエアー浮上搬送装 置に適用 した第 6 の実施の形態を示す構成図。 図 1 9 は本発明に係わる基板吸着装置におけるエアー真空 引き系統の変形例を示す図。
図 2 0 Aは吸着パッ ドの接触面部の形状の変形例を示す図。 図 2 0 B は吸着パッ ドの接触面部の形状の変形例を示す図。 図 2 0 Cは吸着パッ ドの接触面部の形状の変形例を示す図。 図 2 0 Dは吸着パッ ドの接触面部の形状の変形例を示す図。 図 2 0 Eは吸着パッ ドの接触面部の形状の変形例を示す図。 発明を実施するための最良の形態
以下、 本発明の第 1 の実施の形態について図面を参照 して 説明する。
図 1 は基板吸着装置 E の構成図である。 ハ ウジング 1 は、 金属によ り 中空形状である円筒状に形成され、 その内部には 中空部 2 が形成されている。 このハウジング 1 の一端である 先端側には、 円形の端部 1 a を有する開口部 1 b が形成され ている。 このハウジング 1 の他端である元部の開口部内壁に は、 ネジ部 1 c が設け られている。 このハウジング 1 の元部 は、 基板吸着装置 E 用の取付台 3 に取付け られたュニ ッ ト 本体 4 に取り付け られている。
ュニッ ト本体 4 は、 ノ、ウジング 1 の內径に略一致する外径 を有し、 かつ内部にエアー引き通路 5 を設けた中空彬状に形 成されている。 このユニッ ト本体 4 の外周面には、 ネジ部 4 a が設け られている。 これによ り 、 ハウジング 1 は、 ネジ部 1 c とネジ部 4 a と の螺合によ り ュニ ッ ト本体 4 に対して取 り付け、 取り外し可能である。 ュュッ ト本体 4 の下部には、 基板吸着装置 E 用の取付台 3 に対して取り 付けるためのネ ジ部 4 b が突出 して設け られている。 このユエッ ト本体 4 は、 ネジ部 4 b を基板吸着装置 E i用の取付台 3 のネジ部と螺合 する こ と によ り取付台 3 に対して取り 付け、 取り 外し可能で あ O o
このュニ ッ ト本体 4 の中空形状内部には、 ネジ部 4 c が設 け られている。 又、 ュニッ ト本体 4 の外周面には、 ネジ部 4 d が設け られている。 このネジ部 4 d には、 ナッ ト 6 が螺合 している。 このナッ ト 6 は、 ネジ部 4 d に締め付ける こ と に よ り ハウジング 1 に対するュニッ ト本体 4 の取り 付け位置を 固定する。
ハウジング 1 の下部の内壁面の周方向には、 溝 7 が設け ら れている。 この溝 7 の位置は、 ュニ ッ ト本体 3 の先端部に対 応する。 この溝 7 内 とュニ ッ ト本体 3 の先端部と の間には、 エアー漏れ防止用の O リ ング 8 が挟持されている。
ハウジング 1 の中空部 2 内でかつュニッ ト本体 3 の先端部 側には、 摺動部材 9 が設け られている。 この摺動部材 9 は、 ハウジング 1 の中空部 2 内を中空部 2 の方向に沿って摺動可 能である。 この摺動部材 9 は、 肉厚円筒部 1 0 と薄肉円筒部 1 1 と を一体に形成 している。
肉厚円筒部 1 0 は、 ハウジング 1 の中空部 2 の内径に略一 致する径に形成され、 その外周面がハウジング 1 の中空部 2 の内面に密着している。 この肉厚円筒部 1 0 の外周面には、 溝 1 2が設けられ、 この溝 1 2 内に V字パッキン 1 3 が設け られている。 この V字パッキン 1 3 は、 ユニ ッ ト本体 4 のェ ァー引き通路 5から真空引きを行った と き に V字に開き、 ノ、 ウジング 1 の中空部 2 と摺動部材 9 と の間のエアー漏れを防 止 して気密を保つ。
薄肉円筒部 1 1 は、 ユニッ ト本体 4 のエアー引き通路 5 の 内径に略一致する径に形成され、 その外周面がュニッ ト本体 4 のエアー引き通路 5 内に密着している。 この薄肉円筒部 1 1 は、 エアー引き通路 5 内に対して挿脱可能に設けられてい る。
肉厚円筒部 1 0及び薄肉円筒部 1 1 の内部には、 エアー引 き通路 1 4 が設け られている。 こ のエアー引き通路 1 4 は、 ュニ ッ ト本体 4 のエアー引 き通路 5 に連通する。
摺動部材 9 の上部には、 吸着パッ ド支持部材であるチュー ブ部材 1 5 が設け られている。 このチューブ部材 1 5 は、 弾 性部材によ り 円筒状に形成され、 かつ上部に吸着パッ ド 1 6 に対して密着するジャバラ状の屈曲部 1 7 が形成されている。 このチューブ部材 1 5 は、 摺動部材 9 におけるエアー引き通 路 1 4 内に対してネジ部 1 8 によ り 螺合して取り 付け られて いる。 このチューブ部材 1 5 の内部には、 エアー引き通路 1 9 が形成されている。 このエアー引き通路 1 9 は、 摺動部材 9 のエアー引き通路 1 4 と気密に連通する。
吸着パッ ド 1 6 がチューブ部材 1 5 の上部に載置されてい る。 この吸着ノ ッ ド 1 6 は、 ハウジング 1 の開口端 1 a 力 ら 突出 している。 この吸着パッ ド 1 6 は、 例えばエンジニア リ ングプラスチック等の樹脂によ り 形成されている。 この吸着 ソ ド 1 6 は、 チューブ部材 1 5 上に載置される こ と によ り チューブ部材 1 5 上で首振り 可能である。 この吸着パッ ド 1 6 は、 表面に平面状の吸着面 1 6 a を有する吸着部 1 6 b と、 この吸着部 1 6 b の裏面に垂下して一体的に形成された曲面 を有する接触面部 1 6 c と力 らなる。 この吸着部 1 6 b の中 央部には、 エアー吸引孔 1 6 d が設け られている。 吸着部 1 6 b は、 外径をハウジング 1 の外径と 同一に形成している。 この吸着部 1 6 b は、 吸着パッ ド 1 6 がハウジング 1 內に下 降する と、 裏面の外周縁 1 6 e がハウジング 1 の開口端 1 a に面接触 して下降を停止する。 従って、 ハウジング 1 の開 口 端 1 a は、 吸着パッ ド 1 6 の下降のス ト ツパとなる と共に、 吸着パッ ド 1 6 の吸着面 1 6 a の傾き を水平に維持するため 基準平面と なる。
吸着部 1 6 b は、 ハウジング 1 の外径と略同一に形成 して も十分であるが、 図 2 に示すよ う にハウジング 1 の外周面か ち外周側に長さ Dだけ長く 形成しても よい。 このよ う な吸着 部 1 6 b であれば、 吸着面 1 6 a の面積が大き く な り 、 この 吸着面 1 6 a のいずれかの部分にガラス基板が接触しても、 この接触 したと きに加わる力の作用点と吸着部 1 6 b の中心 位置 P と の距離が長く な り 、 これによ り 僅かな力によ り 吸着 パッ ド 1 6 は、 チューブ部材 1 5 上で首振り 動作する。
接触面部 1 6 c は、 円筒状で、 その外周面が上下方向の中 間部に最大径を有する半球面状に湾曲 して形成されている。 この接触面部 1 6 c は、 最大外径寸法がハウジング 1 の中空 部 2 (開 口端 l a ) の内径寸法よ り若干小さ く 形成され、 ハ ウジング 1 の開 口部 1 b 内に上下方向に移動可能に揷入され ている。 こ の接触面部 1 6 c は、 ハウジング 1 の中空部 2 の 內壁 2 a に対して少な く と も 3 点で点接触 して支持される。 接触面部 1 6 c とハウジング 1 の中空部 2 の内壁 2 a と の間 の接触は、 必ずしも少なく と も 3 点だけで点接触する と は限 らず、 吸着パッ ド 1 6 の首振り によって接触面部 1 6 c にお ける同一周方向の線上の複数の点で接触した り、 同周方向の 線上で線接触する。 このよ う な接触面部 1 6 c とハウジング 1 の中空部 2の内壁 2 a との間の接触によ り 接触面部 1 6 c とハウジング 1 の内壁 2 a との間の摩擦抵抗は小さ く 、 吸着 パッ ド 1 6 は、 スムーズな首振り 動作が可能と なる。
吸着パッ ド 1 6 のエアー吸引孔 1 6 d 内には、 環状の段差 2 0 が設け られている。 この段差 2 0 には、 図 3 に示す第 1 の支持板 2 1 が設け られている。 この第 1 の支持板 2 1 は、 円板状に形成され、 エアーを流通するための 2 つの孔 2 1 a、 2 1 b が設け られている。
摺動部材 9 のエアー引き通路 1 4 内には、 環状の段差 2 2 が設け られている。 この段差 2 2 には、 第 1 の支持板 2 1 と 同様な形状の.第 2 の支持板 2 3 が設け られている。
これら第 1 の支持板 2 1 と第 2 の支持板 2 3 と の間は、 連 結部材である線材と しての例えば細い糸 2 4 で連結されてい る。 細い糸 2 4 は、 張力に対して伸びず、 かつ断線に対する 強度が強い、 軟らかい線材と して例えばナイ ロ ン樹脂によ り 形成されている。 こ の細い糸 2 4 は、 チューブ部材 1 5 を介 して第 1 と第 2 の支持板 2 1、 2 3 と の間隔が常に一定にな り 、 かつ吸着パッ ド 1 6 の首振り 状態を解いて水平な姿勢に 復帰可能とする付勢力をチューブ部材 1 5 に与える張力で張 られている。 又、 こ の細い糸 2 4 の張力では、 チューブ部材 1 5 の屈曲部 1 7 が吸着部 1 6 a 力、ら離れる こ と なく 、 かつ 吸着部 1 6 a の傾き に追従して首振り 動作を可能と している。 この細い糸 2 4 の張力は、 第 1 と第 2 の支持板 2 1 、 2 3 と の間に張る と きに調整可能で、 例えば細い糸 2 4 を第 1 又は 第 2 の支持板 2 1 、 2 3 に縛り 付ける と き の縛り 具合で調整 でき る。 第 1 の支持板 2 1 、 第 2 の支持板 2 3及ぴ細い糸 2 4 は、 吸着パッ ド保持手段を構成する。
摺動部材 9 における薄肉円筒部 1 1 内のエアー引き通路 1 4及ぴュエ ツ ト本体 4 のエアー引き通路 5 の内部には、 弹性 部材である スプリ ング 2 5 が設け られている。 このスプリ ン グ 2 5 は、 吸着パッ ド 1 6 、 チューブ部材 1 5及ぴ摺動部材 9 の一体をハウジング 1 の中空部 2 内において摺動部材 9 か らハウジング 1 の開 口端 1 a側に向って付勢力を与える。 こ のスプリ ング 2 5 の下側は、 スプリ ング調節部材 2 6 に係止 されている。
スプリ ング調節部材 2 6 の外周面には、 ネジ部 2 6 a が設 け られている。 このスプリ ング調節部材 2 6 は、 ネジ部 2 6 a をュニ ッ ト本体 4 のエアー引き通路 5 のネジ部 4 c に螺合 させてエアー引き通路 5 に内装されている。 このスプリ ング 調節部材 2 6 は、 環状に形成され、 その中空部にエアー引き 通路 2 6 b が設けられている。 このスプリ ング調節部材 2 6 は、 ネジ部 2 6 a とネジ部 4 c と の螺合によ り 回転する こ と によ り エアー引き通路 5 内を上下移動 してスプリ ング 2 5 の 付勢力を調整する。 ハウジング 1 の中空部 2 内には、 吸着パッ ド高さ調整機構 2 7 が設け られている。 この吸着パッ ド高さ調整機構 2 7 は、 ハウジング 1 の中空部 2 内に形成されたネジ部 2 8 に螺合す る調整用環状部材 2 9 を有する。 この調整用環状部材 2 9 は、 ネジ部 2 8 に対して回転する こ と によ り ハウジング 1 の中空 部 2 内に上下移動する。 この調整用環状部材 2 9 の上下移動 に応動して吸着パッ ド 1 6 、 チューブ部材 1 5及び摺動部材 9 がー体と なってハウジング 1 の中空部 2 内に上下移動する。 これによ り 、 ハウジング 1 の開 口端 1 a に対する吸着パッ ド 1 6 の高さ位置 Aが調整される。
次に、 上記の如 く 構成された装置 のガラス基板 Sへの 吸着動作について図 4 A〜図 4 C を参照 して説明する。
基板吸着装置 E iの上方にガラス基板 Sが搬送される と 、 こ の基板吸着装置 は、 昇降機構によ り 上昇する。 ガラ ス 基板 S は、 例えば反り や橈みが生じて傾いている。 基板吸着 装置の上昇によ り 吸着パッ ド 1 6 の吸着面 1 6 a の一部が図 4 Aに示すよ う に反 り ゃ撓みが生じているガラス基板 4 0 の 裏面に当接する。
吸着パッ ド 1 6 は、 チューブ部材 1 5上に載置され、 かつ 細い糸 2 4 によ りハウジング 1 の下方側に引っ張られている。 これによ り 、 吸着パッ ド 1 6 には、 チューブ部材 1 5 上で首 振り 可能で、 かつ外力が加わらない限り首振り動作せずに静 止 した元の姿勢、 すなわち吸着面 1 6 a が水平方向になる姿 勢に復帰する付勢力が加わっている。
従って、 吸着パッ ド 1 6 は、 ガラス基板 S の下方から僅か な当て付け力でガラス基板 S の裏面に接触するので、 図 4 B に示すよ う にガラス基板 S の反 り や橈みによ る傾きに倣う よ う に首振 り 状態になる。 すなわち、 吸着パッ ド 1 6 は、 接触 面部 1 6 c をハウジング 1 の開 口部 1 b 内に挿入しなが ら首 振り する ので、 最大で吸着部 1 6 b の裏面の外周縁 1 6 e が ハウジング 1 の端部 1 a に当接する首振り 角度まで傾く こ と が可能である。
吸着ノ ッ ド 1 6 は、 接触面部 1 6 c がハウジング 1 の開口 部 1 b の内壁に少な く と も 3点で点接触しながら首振り 動作 するので、 接触面部 1 6 c とハウジング 1 の開口部 1 b の内 壁と の間の摩擦抵抗は小さい。 この結果、 ガラス基板 S の反 り ゃ撓みが大き く ても、 吸着パッ ド 1 6 の吸着面 1 6 a は、 ガラス基板 Sの反り や橈みによる傾きに倣ってガラス基板 S の裏面に密着する。
吸着部 1 6 a の外径は、 ハウジング 1 の外径と 同一に形成 されている ので、 ガラス基板 Sが吸着部 1 6 a の外周縁に接 触 したと き に加わる力の作用点と吸着部 1 6 a の中心位置と の距離は長く なる。 これによ り 、 ガラス基板 S と の接触によ り僅かな接触力が吸着部 1 6 a の外周縁に加わる と、 当該接 触の力が梃子の作用によ り 吸着パッ ド 1 6 を首振り させる大 きな回転力 と なる。
この状態で、 ユニ ッ ト本体 4 のエアー引き通路 5 から摺動 部材 9 のエアー引き通路 1 4、 チューブ部材 1 5 のエアー引 き通路 1 9及ぴ吸着パッ ド 1 6 のエアー吸引孔 1 6 d を通 し てエアーを真空吸引する と、 これらエアー引き通.路 5 、 1 4 、 1 9及びエアー吸引孔 1 6 内は、 密閉されて真空引きによ り 負圧になる。 これによ り 、 吸着パッ ド 1 6 の吸着面 1 6 a は、 ガラス基板 S の裏面に吸着する。 この と き吸着パッ ド 1 6 の 吸着面 1 6 a は、 ガラス基板 S に反りゃ撓みが生じても、 こ の吸着面 1 6 a がガラス基板 S の裏面に倣って密着している ので、 エアー漏れな く 確実にガラス基板 S を真空吸引する。
これと共に各エアー引き通路 5 、 1 4、 1 9及びエアー吸 引孔 1 6 内が真空引き によ り負圧になるので、 この負圧によ つて吸着パッ ド 1 6 、 チューブ部材 1 5及び摺動部材 9 は、 スプリ ング 2 5 のばね力に杭して 自ずとハウジング 1 の中空 部 2 内を下降する。 これによ り 、 吸着パッ ド 1 6 の裏面の外 周縁 1 6 e の全面が図 4 Cに示すよ う にハウジング 1 の開口 端 1 a 上に面接触する。 ハウジング 1 の開口端 1 a は、 基準 平面であ る ので、 吸着パッ ド 2 2 の吸着面 1 6 a は、 水平方 向に配置される。 この結果、 ガラス基板 S は、 水平方向に保 持される。
接触面部 1 6 c とハウジング 1 の開口部內壁と が接触 して いる ので、 吸着パッ ド 1 6 は、 横方向への移動が規制される。 この規制によ り 吸着パ ッ ド 1 6 がガラス基板 S の裏面に吸着 した状態でも、 ガラス基板 Sは位置ずれする こ と なく 、 高精 度に位置決め状態を保持でき る。
このよ う に上記第 1 の実施の形態によれば、 ハウジング 1 の開 口部 1 b 内におけるチューブ部材 1 5 上に、 吸着部 1 6 a と半球面状に湾曲 して少なく と も 3 点でハウジング 1 の開 口部内壁の点接触する接触面部 1 6 c と を形成した吸着パッ ド 1 6 を載置し、 この吸着パッ ド 1 6 と摺動部材 9 と の間に 細い糸 2 4 を張架したので、 吸着パッ ド 1 6 は、 大きな傾き 角度で傾く こ と ができ、 かつ傾いたと きでも接触面部 1 6 c とハウジング 1 の開 口部內壁とが接触 しているので、 吸着パ ッ ド 1 6 が横方向に位置ずれする こ と がない。
吸着パッ ド 1 6 は、 首振り 角度が大き く 、 かつ僅かな外力 の加わり によ り 首振り 動作が小さな摩擦抵抗で円滑かつスム ーズに行う こ と ができ、 ガラス基板 S の大きな反りや橈みに よる傾きに倣ってガラス基板 S の裏面に密着でき、 エアー漏 れなく確実にガラス基板 Sを吸着でき る。
ガラス基板 S が接触 したと き の吸着部 1 6 b 上の接触力の 作用点と吸着部 1 6 b の中心位置と の距離を長く したので、 僅かな接触力で吸着パッ ド 1 6 を首振り動作する こ と ができ、 ガラス基板 Sの大きな反りゃ撓みに直ちに倣う こ とができ る。
吸着パッ ド 1 6 がガラス基板 S を吸着する と、 各エアー引 き通路 5 、 1 4 、 1 9及びエアー吸引孔 1 6 d 内の負圧がス プリ ング 2 5 のばね力に打ち勝って吸着パッ ド 1 6 が下降し、 ハウジング 1 の開 口端 1 a に面接触して吸着面 1 6 a を水平 に規制する。 この規制によ り 吸着パッ ド 1 6 によ り 吸着され るガラス基板 S の反 り ゃ撓みは水平に矯正され、 かつ基準平 面に高精度に保持でき る。
吸着ノ ッ ド 1 6 は、 細い糸 2 4 によ り連結されているので、 ハウジング 1 の開口端 1 a から外れる こ と がない。
吸着パッ ド高さ調整機構 2 7 を設けている ので、 吸着パッ ド 1 6 のハウジング 1 の端部 1 a からの高さ位置 Aを、 ガラ ス基板 S の保持されている高さ位置に応じて調整できる。
次に、 上記第 1 の実施の形態で説明 した基板吸着装置 E i をエアー浮上搬送装置に適用 した場合の実施例について図 5 及び図 6 に示すエアー浮上搬送装置の構成図を参照 して説明 する。 なお、 図 5 は上面図、 図 6 は側面図である。
浮上搬送ステージ 3 0 の上面には、 複数のエアー吹出孔 3 1 が設け られてレヽる。 これらエアー吹出孔 3 1 カゝらは、 均一 なエア 圧力でエアーを吹き出す。 このエアーの吹き出 しに よ り 浮上搬送ステージ 3 0 と ガラス基板 S と の間にエアー層 が形成されて、 ガラス基板 S は浮上搬送ステ ジ 3 0 上に浮 上する。 浮上搬送ステージ 3 0 の両側面には、 それぞれ直線 状の各ガイ ドレール 3 2、 3 3 が設け られている。 これらガ ィ ド レール 3 2、 3 3 上には、 それぞれ各搬送部 3 4、 3 5 が同期 して移動可能に設け られている。 これら搬送部 3 4、 3 5 には、 各昇降支持部材 3 6 を介して吸着載置台 3 7 が設 けられている。 各昇降支持部材 3 6 は、 吸着載置台 3 7 を上 下方向 ( Z方向) に昇降させる。
この吸着载置台 3 7 上には、 上記基板吸着装置 E がガラ ス基板 S の搬送方向 T と 同一方向に複数、 例えば 5つ並設さ れている。 なお、 基板吸着装置 E の個数は、 5 つに限らず、 任意の個数設けても よい。 これら基板吸着装置 は、 それ ぞれ各吸着パッ ト 1 6 を高さ位置調整して同一高さ位置に合 わせられている。
このよ う なエアー浮上搬送装置では、 浮上搬送ステージ 3 0上にガラス基板 S がエアー浮上又は載置される。 この状態 06002
15 で、 ガラス基板 Sの先端部の両端に各搬送部 3 4、 3 5 を移 動させる。 これら搬送部 3 4、 3 5 の各昇降支持部材 3 6 は、 それぞれ各吸着載置台 3 7 を上昇させる。 これによ り 各基板 吸着装置 E の各吸着パッ ト 1 6 は、 ガラス基板 S の裏面に 接触する。 これら吸着パッ ト 1 6 がガラス基板 S の裏面に当 接する と 、 上記第 1 の実施の形態と 同様に、 ガラス基板 S に 対する当て付け力によ り各吸着パッ ト 1 6 は、 首振り して吸 着面 1 6 a をガラス基板 S の裏面の傾きに倣う。 これと共に エアーの真空吸引によ り 吸着面 1 6 a は、 ガラス基板 S の裏 面に密着 して吸着保持する。
この後、 各搬送部 3 4、 3 5 が各ガイ ドレール 3 2、 3 3 上をそれぞれ同期 して移動する と、 エアー浮上しているガラ ス基板 S は、 各搬送部 3 4、 3 5 の移動に引っ張られて浮上 搬送ステージ 3 0上を搬送方向 Tに高速でエアー搬送される。
この よ う に基板吸着装置 E をエアー浮上搬送装置に適用 すれば、 反りや橈みを生じたガラス基板 S をエアー浮上によ り搬送する場合でも、 ガラス基板 S の反り ゃ撓みに倣って各 基板吸着装置 E i の吸着パッ ド 1 6 をガラ ス基板 S の裏面に 確実に吸着できる。 吸着パッ ド 1 6 は、 位置ずれしないので、 ガラス基板 S の裏面を吸着保持したと きにガラス基板 S を位 置ずれさせるこ とがない。 従って、 エアー浮上搬送装置を例 えば液晶ディ スプレイ の製造ライ ンに設置し、 液晶ディ スプ レイ のガラス基板 S をエアー搬送する場合、 製造ライ ンにお けるァライ メ ン ト部及ぴ検査部において、 ァライ メ ン ト した ガラス基板 S の位置をずら さずに高精度に吸着保持でき る。 複数の吸着パッ ト 1 6 の高さ位置にばらつきがあっても、 各 吸着パッ ド高さ調整機構 2 7 によ り 各吸着パッ ト 1 6 の高さ 位置を同一高さ位置に調整できる。
次に、 上記第 1 の実施の形態で説明 した基板吸着装置 E を大型基板検査装置の検査ステージに適用 した場合の実施例 について図 7 に示す検査ステージの構成図を参照 して説明す る。
検査ステージ 4 0 は、 中抜き構造である枠型で長方形状に 开 成されたステージ本体 4 1 と、 このステージ本体 4 1 の中 空部 4 2 内に所定の間隔をおいて互いに平行に設けられた複 数の橈み防止桟 4 3 とからなる。 ステージ本体 4 1 における 中空部 4 2 の内周縁部には、 複数の基板吸着装置 E ェが所定 間隔毎に埋設されている。 各橈み防止桟 4 3 上には、 複数の 支持ピン 4 4が立設されている。
このよ う な検査ステージ 4 0上に反 り の生じたガラス基板 S を載置する と、 各基板吸着装置 の各吸着パッ ド 1 6 が ガラス基板 S の裏面に接触する。 これら吸着パッ ド 1 6 は、 上記第 1 の実施の形態と 同様に、 首振り動作して吸着面 1 6 a がガラス基板 S の裏面に倣い、 エアーの真空吸引によ り ガ ラス基板 S の裏面に密着し、 ガラ ス基板 S を確実に吸着保持 する。 従って、 反りゃ撓みのあるガラス基板 S を検査ステー ジ 4 0上に載置しても、 ガラス基板 S を確実に吸着保持でき る。 各吸着パッ ド高さ調整機構 2 7 によ り各吸着面 1 6 a の 高さ位置を調整でき る と共に、 吸着パッ ド 1 6 の高さ位置 A を高く するこ と によ り 、 ガラス基板 S に大きな反りゃ撓みが あっても、 これら反 り や撓みを矯正してガラス基板 S を検査 ステージ 4 0上に平面度を高く 吸着保持でき る。
次に、 本発明の第 2 の実施の形態について説明する。 なお、 図 1 と 同一部分には同一符号を付してその詳しい説明は省略 する。
図 8 は基板吸着装置 E iの特徴部分を示す構成図である。 ワイ ヤー 4 5 が第 1 の支持板 2 1 と第 2 の支持板 2 3 と の間 に係止されている。 このワイヤー 4 5 は、 捩れ剛性を有し、 例えば金属材料等によ り形成されている。 この ワイヤー 4 5 は、 棒状のワイ ヤー本体 4 6 と、 このワイヤー本体 4 6 の一 端部に設け られた鈎型の第 1 の係止部 4 7 と、 ワイヤー本体 4 7の他端部に設け られた J 字形状の第 2 の係止部 4 8 と を 有する。 第 1 の係止部 4 7は、 第 1 の支持板 2 1 の各孔 2 1 a 、 2 1 b を通 して例えば糸等の線材 4 9 によ り 結ばれてい る。 第 2 の係止部 4 8 は、 第 2 の支持板 2 3 の各孔 2 1 a 、 2 1 b に係止されている。
例えばガラス基板 S をエアー浮上搬送する際、 反り ゃ撓み が生じているガラス基板 S を基板吸着装置 E によ り 吸着す る と き、 基板吸着装置 はガラス基板 S を迎える よ う に吸 着する。 この と き、 基板吸着装置 E の吸着パッ ド 1 6 は、 僅かに回転する こ と がある。 吸着パッ ド 1 6 の回転が累積さ れる と、 吸着パッ ド 1 6 を保持する機構が第 1 の支持板 2 1 と第 2 の支持板 2 3 との間に張られた細い糸 2 4 の捩れ量が 次第に大き く なる。 そ うする と、 細い糸 2 4 の張力が大き く な り 、 吸着パッ ド 1 6 が次第に下降し、 ハウジング 1 の端部 1 a 力 らの吸着ノ ッ ド 1 6 の突出量が小さ く なる。 このため、 反り ゃ撓みが生 じているガラス基板 S を吸着する と き、 吸着 パッ ド 1 6 がガラス基板 Sの裏面の傾きに倣って傾いて吸着 する本来の吸着動作が出来にく く なる。
上記第 2 の実施の形態であれば、 吸着パッ ド 1 6 に回転力 が加わっても、 この吸着パッ ド 1 6 の回転をワイ ヤー 4 5 に よ り 規制する こ とができ る。 従って、 吸着パッ ド 1 6 は、 経 時的に回転が累積される こ と はな く 、 ハウジング 1 の端部 1 a からの高さ位置 Aに維持される。
なお、 上記第 1 及び第 2 の実施の形態は、 次の通り形成し ても よい。
図 9 Aはワイヤー 4 5 の変形列を示す構成図である。 この ワイ ヤー 4 5 は、 ワイ ヤー本体 4 6 の例えば第 1 の係止部 4 7側に細径部 4 9 a を設けている。 この細径部 4 9 a は、 ヮ ィヤー本体 4 6 の径ょ り も細く 形成され、 この細径部 4 9 a よ り 上部は、 小さな外力で自 由に傾く が、 吸着パッ ド 1 6 の 回転力を抑止する。
図 9 B も ワイ ヤー 4 5 の変形列を示す構成図であ り 、 この ワイヤー 4 5 は、 第 1 の係止部 4 7 をワイヤー本体 4 6 と分 離し、 この第 1 の係止部 4 7 の下端にポール 4 9 b を設ける。 ワイヤー本体 4 6 は、 第 1 の係止部 4 7 と分離した端部にポ ール 4 9 b の受け部 4 9 c を設ける。 この受け部 4 9 c は、 ポール 4 9 b を回転可能に保持する。 従って、 ワイヤー 4 5 に捩れる力が加わっても、 ボール 4 9 b が受け部 4 9 c 内で 回転する。 これによ り 、 吸着パッ ド 1 6 が回転しても、 ワイ ヤー 4 5 は、 捩れる こ とはない。
チューブ部材 1 5 は、 例えば図 1 0 に示すよ う にジヤ ノ ラ に形成されたチューブ部材 1 5 a を用いても よい。
次に、 本発明の第 3 の実施の形態について説明する。
図 1 1 は基板吸着装置 E 2の構成図である。 ハウジング 5 0 は、 例えばアルミ ニウムなどの剛性を有する材料によ り 円 筒状に形成されている。 こ のハウジング 5 0 の先端部には、 円筒状のパッ ト用の保持穴 5 1 が設け られている。 この保持 穴 5 1 内には、 当該保持穴 5 1 の開口端 5 1 a から僅かに突 出 した状態で吸着パッ ド 5 2が回転可能に保持されている。
この吸着パッ ド 5 2 は、 樹脂を用いて円筒状に形成され、 そのパッ ド側面である接触面部 5 2 a は、 球面状に形成され ている。 吸着パッ ド 5 2 の内部には、 下方を開放した円筒状 の中空部 5 3 が設け られている。 この吸着パッ ド 5 2 の上部 には、 平面状の吸着面 5 4 が設け られている。 この吸着面 5 4 には、 僅かな深さ を有するパッ ト凹部 5 4 a が設け られる と共に、 中央部に中空部 5 3 に連通する真空吸引用のエアー 吸引孔 5 4 b が設け られている。
ハウジング 5 0 の保持穴 5 1 は、 吸着パッ ド 5 2 の接触面 部 5 2 a の寸法よ り 僅かに小さ な内径に形成されている。 保 持穴 5 1 の開口部には、 吸着パッ ド 5 2 の接触面部 5 2 a の 球面形状の曲率に倣って絞られた絞り 形状部 5 5 が設け られ ている。 この絞り形状部 5 5 は、 吸着パッ ド 5 2 を保持穴 5 1 内に保持する吸着パッ ド保持手段を構成する。
ノヽウジング 5 0 の保持穴 5 1 と吸着パッ ド 5 2 の接触面部 5 2 a と は、 ノヽウジング 5 0 の保持穴 5 1 内でに吸着パッ ド 5 2 が回転可能となる精密すきまばめの構造になっている。 従って、 保持穴 5 1 内に吸着パッ ド 5 2 を収鈉する と、 吸着 パッ ド 5 2 の接触面部 5 2 a と保持穴 5 1 の内壁面に少な く と も 3 点で点接触する。 吸着パッ ド 5 2 の接触面部 5 2 a と 保持穴 5 1 の内壁面と の間の接触は、 必ずしも少なく と も 3 点だけで点接触する と は限らず、 吸着パッ ド 5 2 の首振 り に よって接触面部 5 2 a における同一周方向の線上の複数の点 で接触した り 、 同周方向の線上で線接触する。 このよ う な接 触面部 5 2 a と保持穴 5 1 の内壁面と の間の接触によ り 接触 面部 5 2 a と保持穴 5 1 の内壁面との間の摩擦抵抗は極めて 小さ く な り 、 吸着パッ ド 5 2 は、 保持穴 5 1 内において僅力 な外力で全周方向に亘つて例えば矢印 F方向に回転可能に保 持され、 ス ムーズな首振り 動作が可能と なる。
ノヽウジング 5 0 の保持穴 5 1 内の底部には、 吸着パッ ド 5 2 を受ける受け面 5 6 が設け られている。 この受け面 5 6 は、 平面部 5 7 と この平面部 5 7 の外周縁に設け られたテーパ部 5 8 と によ り形成されている。 平面部 5 7 は、 吸着パッ ド 5 2 の底部が当接する こ と に よ り 吸着パッ ド 5 2 の矢印 F方向 に対する傾き角を規制する。 吸着パッ ド 5 2 の傾き角は、 吸 着パッ ド 5 2が傾いた と き、 吸着面 5 4が保持穴 5 1 内に隠 れない範囲である。 テーパ部 5 8 は、 吸着パッ ド 5 2 の接触 面部 5 2 a の球面形状の曲率に倣った角度に形成されている。 このテーパ部 5 8 は、 保持穴 5 1 内で下降する吸着パッ ド 5 2 と 当接して吸着パッ ド 5 2 の下方への移動を規制する。 ハウジング 5 0 には、 中空穴 5 9 が設け られている。 この 中空穴 5 9 は、 保持穴 5 1 の内径よ り も小さい内径に形成さ れている。 この中空孔 5 9 內及ぴ吸着パッ ド 5 2 の中空部 5 3 内には、 吸着パッ ト支持部材 6 0 が設け られている。
この吸着パッ ト支持部材 6 0 は、 ゴムな どの弹性部材によ り 中空形状に形成され、 その内部にエアー引き通路 6 1 が設 け られている。 この吸着パッ ト支持部材 6 0 の先端部には、 小さな弾性力を得るベローズ 6 0 a が形成されている。 この ベローズ 6 0 a の先端部は、 厚みを元部よ り も薄く 形成し、 かつジャバラ状に形成して伸縮可能である。 このべローズ 6 0 は、 吸着パッ ド 5 2 のエアー吸引孔 5 4 b に気密に密着さ れている。 吸着パッ ト支持部材 6 0 の元部は、 ユニッ ト本体 6 2 の先端面に気密に連結されている。
ノヽウジング 5 0 は、 ュニッ ト本体 6 2 に対してねじ部 6 3 を介して螺合している。 ハウジング 5 0 は、 ユニ ッ ト本体 6 2 に対して回転させてベローズ 6 0 a の伸縮量を変え、 吸着 パッ ド 5 2 の回転力を調整する。 この調整は、 吸着パッ ド 5 2 がガラス基板 S に当接したと き に作用する外力を受けて吸 着パッ ド 5 2 が回転可能な範囲内での微調整となる。
ハウジング 5 0 は、 ュニッ ト本体 6 2 に対して回転するこ と によ り 吸着パッ ド 5 2 の高さ位置を調整可能である。 この よ う にべローズ 6 0 a の伸縮量 (弾性力) 又は吸着パッ ド 5 2 の高さ位置を調整したと きのハウジング 5 0 は、 ねじ部 6 3 に螺合する 口 ックナツ ト 6 4 の締め付けによってュニッ ト 本体 6 2 に固定される。 ュニッ ト本体 6 2 には、 エアー引き通路 6 5 が設け られて いる。 このエアー引き通路 6 5 は、 吸着パ ッ ト支持部材 6 0 のエアー引き通路 6 1 に連通している。 エアー吸引孔 5 4 b 、 各エアー引き通路 6 1 、 6 5 は、 真空吸引流路が形成される。
次に、 上記の如 く 構成された基板吸着装置 E 2のガラス基 板 S に対する吸着動作について図 1 2 A〜図 1 2 Cを参照し て説明する。
図 1 2 Aは基板吸着装置 E 2の上方にガラス基板 S が搬送 された状態を示す。 吸着パッ ド 5 2 は、 例えばハウジング 5 0 の保持穴 5 1 内で傾き、 吸着面 5 4 がガラス基板 S の裏面 に対して平行状態からずれている。 この状態で基板吸着装置 E 2が昇降機構に よ り 上昇する と 、 傾いている吸着パッ ド 5 2 の吸着面 5 4 における頂点と なっている一部がガラス基板 S の裏面に当接する。
吸着パッ ド 5 2 は、 ノヽウジング 5 0 の保持穴 5 1 内に点接 触で保持されているので、 保持穴 5 1 の内壁面と の間の摩擦 抵抗が極めて小さ く 、 ガラス基板 S の裏面に対する僅かな当 て付け力で保持穴 5 1 内で矢印 F方向に回転する。
従って、 基板吸着装置 E 2がガラス基板 S の下方から僅か な当て付け力でガラス基板 Sの裏面に接触する と、 吸着パッ ド 5 2 は回転し、 図 2 Bに示すよ う に吸着面 5 4 がガラス基 板 S の裏面の方向と 同一になる よ う に倣う。 このと き 、 吸着 パッ ド 5 2 が傾いていても又はガラス基板 S に反りや橈みが 合っても、 吸着ノ、。ッ ド 5 2 は回転し、 吸着面 5 4 がガラス基 板 S の裏面に密着する。 この状態で、 各エアー引き通路 6 1、 6 5及ぴエアー吸引 孔 5 4 b を通してエアーを真空吸引する と 、 吸着パッ ド 5 2 のパ ッ ト凹部 5 4 a 、 エアー吸引孔 5 4 b及び各エアー引き 通路 6 1、 6 5 内は、 気密状態で真空引き によ り 負圧になる。 これによ り 、 吸着パッ ド 5 2 の吸着面 5 4 は、 ガラス基板 S の裏面に吸着する。 この吸着面 5 4 は、 ガラ ス基板 S に反り ゃ撓みが生じても、 吸着パッ ド 5 2がガラス基板 S の裏面に 倣って密着する ので、 エアー漏れなく 確実にガラス基板 S を 真空吸引する。
これと共にパッ ト凹部 5 4 a 、 エアー吸引孔 5 4 b及び各 エアー引き通路 6 1、 6 5 内が負圧になる と、 弾性部材で形 成される吸着パッ ト支持部材 6 0 の主にべローズ 6 0 a が縮 む。 吸着パッ ド 5 2 は、 ベローズ 6 0 a の縮みによ り保持穴 5 1 内を下降し、 図 1 2 Cに示すよ う にその底部がテーパ部 5 8 に当接して停止する。 これによ り 、 吸着パッ ド 5 2 は、 保持穴 5 1 内で固定される。
このよ う に上記第 3 の実施の形態によれば、 球面状に形成 した接触面部 5 2 a を有する吸着パッ ド 5 2 を、 ハウジング 5 0 の保持穴 5 1 内に精密すきまばめ構造によ る点接触で保 持し、 吸着パッ ド 5 2 を保持穴 5 1 内において全周方向に亘 つて回転可能に したので、 吸着パッ ド 5 2 は、 保持穴 5 1 内 において摩擦抵抗が極めて小さ く 、 僅かな外力で全周方向に 里って回転でき る。 従って、 ガラス基板 S の下方から僅かな 当て付け力でガラス基板 S の裏面に接触する こ と によ り 、 吸 着パッ ド 5 2 は、 ガラス基板 Sの裏面の傾き方向に倣ってェ ァー漏れなく 真空吸引 して確実にガラス基板 Sの裏面に吸着 でき る。 これによ り 、 ガラス基板 S に反り ゃ撓みがあっても、 これらに倣って吸着パッ ド 5 2 が傾いて確実に吸着でき る。
吸着パッ ド 5 2 は、 ハウジング 5 0 の保持穴 5 1 内に精密 すきまばめの構造によ り保持する ので、 吸着パッ ド 5 2 が保 持穴 5 1 内での位置ずれは極めて小さい。 これによ り 、 ガラ ス基板 S を吸着保持したと きに高精度な位置決めが可能にな る。
ガラス基板 S の裏面に吸着パッ ド 5 2が吸着する と き、 吸 着パッ ト支持部材 6 0 内の負圧によ り べローズ 6 0 a が縮み、 吸着パッ ド 5 2がテーパ部 5 8 に当接して下方への移動を規 制するので、 ガラス基板 S を吸着した状態で正確な高さ に固 定でき る。
ノヽウジング 5 0 をュニッ ト本体 6 2 に対して回転させる こ と によ りべローズ 6 0 a の伸縮量を調整する ので、 吸着パッ ド 5 2 をガラス基板 S に対する当て付け力を最適値に調整で き る と共に、 吸着パッ ド 5 2 の高さ位置を調整でき る。
ノ、ウジング 5 0 に絞り形状部 5 5 を設けたので、 球状の吸 着パッ ド 5 2 が保持穴 5 1 から飛び出 して脱落する こ と がな い α
上記基板吸着装置 Ε 2は、 上記図 5 及び図 6 に示すエアー 浮上搬送装置の基板吸着装置 Ε 1 に代える こ と が可能である。 基板吸着装置 Ε 2をエアー浮上搬送装置に適用すれば、 上記 第 1 の実施の形態と 同様に、 ガラス基板 S の反り ゃ撓みに倣 つて各基板吸着装置 Ε 2の吸着パ ッ ト 5 2 をガラ.ス基板 S の 裏面に確実に吸着でき、 かつガラス基板 S を位置ずれさせる こ とがない。
次に、 本発明の第 4 の実施の形態について説明する。 なお、 図 1 1 と 同一部分には同一符号を付してその詳しい説明は省 略する。
図 1 3 は基板吸着装置 E 3 の構成図を示す。 この基板吸着 装置 E 3は、 図 7 に示す大型基板検査装置の検査ステージ上 の基板吸着装置 E に変わって設ける こ とが可能である。 ハ ウジング 5 0 は、 各凹部 7 0 の底部に形成されたねじ部 7 1 に対して螺合し、 ロ ックナツ ト 7 2 のねじ部 7 1 に対する締 め付けによ り 固定される。 これによ り 、 ハウジング 5 0 をね じ部 7 1 に対して回転させれば、 ベローズ 6 0 の伸縮量が調 整でき る。 この調整された状態は、 ロ ックナッ ト 7 2 を締め 付ける こ と によ り 固定される。 ステージ本体 4 1 と各橈み防 止桟 4 3 の各ベース 7 3 には、 吸着パッ ト支持部材 6 0 内の エアー引き通路 6 1 に連通するエアー吸引通路 7 4が設け ら れている。
この よ う な基板吸着装置 E 3を設けた検査ステージであれ ば、 反り ゃ撓みのあるガラス基板 S を確実に吸着保持でき、 かつ吸着パッ ト 5 2 の高さ位置を調整する こ と によ り 、 反り や撓みを矯正してガラス基板 S を平面度を高く 吸着保持でき る。
基板吸着装置 E 3は、 図 1 4 に示す大型基板搬送用ロ ボッ ト のアーム部 Rにも適用可能である。 このアーム部 Rは、 ァ ーム支持部 8 0 に複数、 例えば 4本のアーム 8 1 が所定の間 隔をおいて互いに平行に設けられている。 これらアーム 8 1 上には、 基板吸着装置 E 3が複数設け られている。
この大型基板搬送用ロボッ トは、 アーム支持部 8 0 を収納 部に挿入し、 大型のガラス基板 S を取 り 出 し、 検査部のステ ージゃ搬送ライ ン上に搬送する。 各アーム 8 1 上にガラス基 板 S が載置される と、 ガラス基板 S に橈みが生じる。 このと き吸着パッ ト 5 2 は、 吸着面 5 4 がガラス基板 Sの裏面の傾 きに倣い、 エアーの真空吸引によ り ガラス基板 S の裏面に密 着し、 ガラス基板 S を確実に吸着保持する。
このよ う に上記第 4 の実施の形態によれば、 ハウジング 5 0 の高さ を低く して小型化が可能であ り 、 大型基板検査装置 の検查ステージや大型基板搬送用ロボッ トのアーム部な どに 適用 して、 ガラス基板 S を位置ずれさせずに、 ガラス基板 S に生じる反 り ゃ撓みに倣って確実に吸着保持でき る。
次に、 本発明の第 5 の実施の形態について図面を参照 して 説明する。 なお、 図 1 、 図 1 1 、 図 5及び図 6 と 同一部分に は同一符号を付 してその詳しい説明は省略する。
この第 5 の実施の形態は、 図 5及び図 6 に示すエアー浮上 搬送装置に、 上記第 1 の実施の形態の基板吸着装置 (以下、 第 1 の基板吸着装置と称する) と 上記第 3 の実施の形態 の基板吸着装置 (以下、 第 2 の基板吸着装置と称する) E 2 と を適用 した。
図 1 5 は各吸着載置台 5 7上に設け られた第 1 の基板吸着 装置 と第 2 の基板吸着装置 E 2 と を示す。 なお、 同図で は符号を付すと煩雑になるために必要部分の符号のみを付す。 第 1 と第 2 の基板吸着装置 E 2 と は、 ガラ ス基板 S の 搬送方向 T と同一方向に複数並設されている。 第 1 の基板吸 着装置 E は、 ガラ ス基板 S の搬送方向 T に沿ってガラス基 板 S の先端部側に複数個、 例えば 2個設け られている。 第 2 の基板吸着装置 E 2は、 第 1 の基板吸着装置 よ り も後端 側に複数個、 例えば 6個設け られている。 これら第 1 及び第 2 の基板吸着装置 E i、 E 2は、 ガラ ス基板 S を吸着 した状 態において、 各吸着パッ ド 1 6、 5 2 の各吸着面 1 6 a、 5 4 の高さ位置が基準平面 Hに一致する よ う に高さ調整されて いる。 各第 1 の基板吸着装置 E は、 吸着パッ ド 1 6 がハウ ジング 1 内に下降して端部 1 a に面接触した と きの吸着面 1 6 a の高さ位置が基準平面 Hに一致する よ う に高さ調整され ている。 第 1 と 第 2 の基板吸着装置 Ε 1 Λ E 2は、 それぞれ 高さが異なるので、 吸着載置台 5 7 には、 段差 Gが設け られ てレヽる。
図 1 6 はエアー真空引き系統を示す図である。 ガラス基板 S の搬送方向 Tに対して左側の各第 1 の基板吸着装置 E に は、 それぞれ別系統の各エアー吸引路を通 して各レギュ レー タ 9 0、 9 1 が接続され、 かつ右側の各第 1 の基板吸着装置 には、 それぞれ各レギユ レータ 9 2、 9 3 が接続されて いる。 これら レギユ レータ 9 0、 9 1、 '·'、 9 3 は、 それぞ れ各第 1 の基板吸着装置 に対して予め設定された各エア 一吸引力に個別に制御する。
一方、 ガラス基板 S の搬送方向 Tに対して左側の第 2 の基 板吸着装置 E 2には、 それぞれ各レギユ レータ 9 4 — 1、 9 4 — 2 、 ー、 9 4 一 nが接続され、 かつ右側の第 2 の基板吸 着装置 E 2にも各レギユ レータ 9 5 — 1 、 9 5 — 2 、 ···、 9
5 - nが接続されている。 これら レギユ レータ 9 4 — 1 、 9
4 一 2 、 ···、 9 4 一 n 、 9 5 - 1 , 9 5 — 2 、 ···、 9 5 - n は、 それぞれ各第 2 の基板吸着装置 E 2に対して予め設定さ れた各エアー吸引力に個別に制御する。
ガラス基板 S の搬送方向 Tに対して左側の各レギユ レータ 9 0 、 9 1 には真空バルブ 9 6 が共通接続され、 同 じく 左側 の各レギユ レータ 9 4 一 1 、 9 4 — 2 、 ·'·、 9 4 — n には真 空バルブ 9 7が共通接続されている。 なお、 各真空バルブ 9 6 、 9 7 の各レギユ レータ 9 0 、 9 1 、 9 4 — 1 、 …ヽ 9 4 — n側には、 それぞれ各エアー圧力計 9 8 、 9 9 が設け られ ている。
エアー圧力計 9 8 は、 各レギユ レータ 9 0 、 9 1 力 ら吸引 するエアー吸引力を測定し、 このエアー吸引力が設定吸引力 よ り 低く な らないと き にエラー信号を真空バルブ 9 6 に送出 し、 この真空バルブ 9 6 を遮断させる。 エアー圧力計 9 9 は、 各レギユ レータ 9 4 一 1 、 '··、 9 4 — n力 ら吸引するエアー 圧力を測定し、 このエアー吸引力が設定吸引力よ り も低く な らないと きにエラー信号を真空バルブ 9 7 に送出 し、 この真 空バルブ 9 7を遮断させる。 同様に、 ガラス基板 Sの搬送方 向 Tに対して右側の各レギュ レータ 9 2 、 9 3 には真空バル ブ 1 0 0 が共通接続され、 同 じく 右側の各レギユ レータ 9 5 一 1 、 …、 9 5 — n には真空バルブ 1 0 1 が共通接続されて いる。 これら真空パルプ 1 0 0 、 1 0 1 の各レギユ レータ 9 2、 9 3、 9 5 — 1、 …、 9 5 — η側には、 それぞれ各エア 一圧力計 1 0 2、 1 0 3 が設け られている。 これらエアー圧 力計 1 0 2、 1 0 3 は、 それぞれ各レギユ レータ 9 2、 9 3、 9 5 — 1、 …、 9 5 — ηから吸引する各エアー吸引力を測定 し、 このエアー吸引力が設定吸引力よ り も低く な らないと き にエラー信号を真空バルブ 9 6 に送出 して遮断させる。
各第 1 の基板吸着装置 Ε ェ側の各真空バルブ 9 6、 1 0 0 は、 主レギユ レータ 1 0 4 a に共通接続され、 さ らに主レギ ユ レータ 1 0 4 にエアー吸引源 1 0 5 が接続されている。 同 様に、 各第 2 の基板吸着装置 E 2側の各真空バルブ 9 7、 1 0 1 は、 主レギユ レータ 1 0 4 b に共通接続され、 さ らに主 レギユ レータ 1 0 4 b にエアー吸引源 1 0 5 が接続されてい る。 なお、 各主レギユ レータ 1 0 4 a、 1 0 4 b の各真空バ ルブ 9 6、 9 7、 1 0 0、 1 0 1側には、 エアー圧力計 1 0 6 a、 1 0 6 b が接続されている。
次に、 上記の如く 構成された装置のガラス基板 Sへの吸着 動作について説明する。
浮上搬送ステージ 3 0上にガラス基板 S が浮上又は載置さ れている状態で、 各吸着載置台 5 7 を上昇させる と、 第 1及 ぴ第 2 の各基板吸着装置 E 、 E 2の各吸着パッ ト 1 6、 5 2 が図 1 5 に示すよ う にガラス基板 S の裏面に向って上昇す る。 ガラス基板 S の搬送方向 Tに対して先端部側に反 ゃ撓 みが生じている と 、 先ず、 第 1 の基板吸着装置 における 吸着パッ ド 1 6 の一端がガラス基板 S の裏面に接触する。 ガ ラス基板 S は、 搬送方向 Tに対して先端側になる程反 りゃ撓 み量が大き く なるが、 搬送方向 Tに対して先端部側に各吸着 パッ ド 1 6 を高さ調整可能な第 1 の基板吸着装置 E を配置 するこ と によって、 反 りや撓みを生じているガラス基板 Sの 裏面に各吸着パッ ド 1 6 を接触する こ とが可能である。 これ ら吸着パッ ド 1 6 は、 ガラス基板 S の下方から僅かな当て付 け力でガラス基板 S の裏面に接触 し、 ガラス基板 S の反りや 橈みによ る傾きに倣って首振り し、 吸着面 3 6 がガラス基板 S の裏面に密着する。
この状態で、 エアー吸引源 1 0 5 がエアー吸引動作を開始 する と 、 各第 1 及び第 2 の基板吸着装置 £ 、 E 2に対 して 各レギユ レータ 9 0、 9 1 、 ···、 9 3 、 及び各レギユ レータ 9 4 — 1、 9 4 — 2 、 "ヽ 9 4 — n、 9 5 — 1 、 9 5 — 2、 ·''、 9 5 — n力 ら各真空バルブ 9 6 、 9 7 、 1 0 0 、 1 0 1 、 主レギユ レータ 1 0 4 を通 してエアー吸引が行なわれる。 こ れによ り 、 第 1 の基板吸引装置 は、 上記第 1 の実施の形 態と 同様に、 吸着パッ ド 1 6 の吸着面 1 6 a が反 りゃ撓みが 生じているガラス基板 S の裏面に倣って密着 し、 エアー漏れ な く 確実にガラス基板 S を真空吸引する。 これと共に吸着パ ッ ド 1 6 の裏面の外周縁 1 6 e がハウジング 1 の端部 1 a に 面接触して停止 し、 ガラス基板 S の反りや橈みを平面状に矯 正する。
このと き、 ガラス基板 S の裏面は、 複数の第 2 の基板吸着 装置 E 2の各吸着パッ ド 5 2 に接近する。 これら第 2 の基板 吸着装置 E 2は、 ガラス基板 S の下方から僅かな当て付け力 でガラス基板 S の裏面に接触する こ と によ り 、 各吸着パッ ド 5 2 は回転し、 吸着面 5 4 の面方向がガラス基板 Sの裏面の 方向と 同一になる よ う に倣う。 '
この状態で、 ノ、。ッ ト凹部 5 4 a 、 エアー吸引孔 5 4 b 及び 各エアー引き通路 6 1 、 6 5 を通 してエアーを真空吸引する と、 吸着パッ ド 5 2 の吸着面 5 4 は、 ガラス基板 S の裏面に 吸着する。 これと共に、 エアー真空吸引によ り べローズ 6 0 が縮むので、 吸着パッ ド 5 2 は、 保持穴 5 1 内を下降してテ ーパ部 5 8 に当て付いて停止する。 この結果、 第 1及び第 2 の基板吸着装置 Ε 1 Λ E 2によ り ガラス基板 S の裏面が吸着 保持される と、 ガラス基板 Sは、 反りゃ撓みが矯正されて基 準平面 H上に水平に保持される。
この後、 各搬送部 3 4 、 3 5 が各ガイ ドレール 3 2 、 3 3 上をそれぞれ同期 して移動する と、 エアー浮上しているガラ ス基板 S は、 各搬送部 3 4 、 3 5 の移動に引っ張られて浮上 搬送ステージ 3 0上を搬送方向 Tに高速でエアー搬送される。
このよ う に上記第 5 の実施の形態によれば、 ガラス基板 S の搬送方向 Tの先端側において反 りゃ撓み量が大き く ても、 このガラス基板 S の裏面を吸着パ ッ ド 1 6 で確実に吸着保持 でき る。 反 り ゃ撓み量の大きなガラス基板 S の先端側を各第 1 の基板吸着装置 E によ り 吸着保持して基準平面 Hに向け て降ろすので、 ガラ ス基板 S の裏面が各第 2 の基板吸着装置 E 2に次第に接近させる こ と ができ、 各第 2 の基板吸着装置 E 2によ り ガラス基板 S の裏面を確実に吸着保持でき る。
第 1 及び第 2 の基板吸着装置 E i 、 E 2は、 それぞれ別系 統の各レギユ レータ 9 0 、 9 1 、 … 9 5 — n を通 してエアー の吸引を行う ので、 た と え 1 箇所の吸着パッ ド 1 6又は 5 2 がガラス基板 S の裏面に吸着せずにエアー漏れしても、 この エアー漏れした吸着パッ ド 1 6又は 5 2 に対する第 1 の基板 吸着装置 E !又は第 2 の基板吸着装置 E 2へのエアー供給が 停止されるだけで、 L C Dの製造ライ ンを緊急停止させる必 要がな く 、 処理が終了するまで他の第 1 の基板吸着装置 と第 2 の基板吸着装置 E 2 と は各吸着パッ ド 1 6 又は 5 2 で の吸着動作を維持する こ と ができ る。 これによ り 、 ガラス基 板 Sの吸着保持が途中で停止する こ と なく 安全性を向上でき、 かつエアー漏れした吸着パッ ド 1 6又は 5 2 の第 1 又は第 2 の基板吸着装置 Ε 1 Λ Ε 2の系統のみを修理すればよ く 、 メ ンテナンスの面でも有利と なる。 なお、 各第 1 の基板吸着装 置 Ε 1 と各第 2 の基板吸着装置 Ε 2へのエアー供給を 2 つの 系統にする こ と によ り 、 一方の主レギユ レータ 1 0 4 a 又は 1 0 4 b が故障しても、 他方の主レギユ レータ 1 0 4 b 又は 1 0 4 a が作動 している ので、 全ての各第 1 の基板吸着装置 A及び各第 2 の基板吸着装置 B でのエアー吸引ができなく な る とい う 問題を解消でき る。
上記第 5 の実施の形態では、 第 1 及び第 2 の基板吸着装置 E 1 E 2 と を用いているが、 全てを第 1 の基板吸着装置 E ェ に しても よい。 この場合、 各第 1 の基板吸着装置 の吸 着パッ ド 1 6 の高さがガラス基板 S の搬送方向 Tに向けて順 次高く なる よ う に吸着パッ ド 1 6 の高さを調整機構 2 7 によ り調整する。
次に、 本発明の第 6 の実施の形態について説明する。 なお、 図 5 及び図 6 と 同一部分には同一符号を付してその詳しい説 明は省略する。
図 1 7 は検査ステージと しても使用可能なエアー浮上搬送 装置の構成図である。 複数、 例えば 3つの吸着載置台 3 7 a、 3 7 b、 3 7 c が設け られている。 これら吸着載置台 3 7 a、 3 7 b , 3 7 c は、 ガラス基板 S の搬送方向 Tに対して先端 部側と後端部側と 中間部と にそれぞれ設け られている。 これ ら吸着載置台 3 7 a、 3 7 b、 3 7 c 上には、 それぞれ第 1 又は第 2 の基板吸着装置 E 、 E 2が複数並設されている。 これら第 1 又は第 2 の基板吸着装置 E i、 E 2は、 ガラ ス基 板 S を吸着した状態で、 各吸着パッ ド 1 6、 5 2 の各吸着面 1 6 a、 5 4 の高さ位置が基準平面 Hに一致する よ う に高さ 調整されている。 これら第 1 又は第 2 の基板吸着装置 E 1 E 2は、 上記第 5 の実施の形態と 同様にそれぞれ別系統の各 エアー吸引路を通 して各レギユ レータが接続され、 例えば 1 つの第 1 又は第 2 の基板吸着装置 E 1 E 2 でエアー漏れが 生じても、 他の第 1 又は第 2 の基板吸着装置 Ε 1 Λ E 2で吸 着動作を維持でき、 ガラス基板 S の吸着保持が途中で停止す る こ と な く 安全性を向上でき る ものと なっている。
これら第 1 又は第 2 の基板吸着装置 E 1 E 2に対する吸 着制御方法は、 先ず、 中央部に設け られた吸着載置台 3 7 c 上の各第 1 又は第 2 の基板吸着装置 E 又は E 2に対する吸 着動作を開始する。 次に先端部又は後端部に設け られた吸着 载置台 3 7 a 又は 3 7 b上の各第 1又は第 2の基板吸着装置 E i又は E 2に対する吸着動作を開始する。 このよ う な吸着制御方法であれば、 浮上搬送ステージ 3 0 上にエアー浮上しているガラス基板 S を吸着保持する と き、 反 り の小さな中間部に設け られた吸着載置台 3 7 c 上の各第 1 又は第 2 の基板吸着装置 E 又は E 2から吸着動作を開始 する こ と によ り 、 ガラ ス基板 S の中央部は、 各第 1 又は第 2 の基板吸着装置 E i又は E 2によ り 確実に吸着保持される。 この と き、 ガラス基板 Sが中間部の各第 1 又は第 2 の基板吸 着装置 又は E 2に よ り 吸着保持される こ と に よ り 、 ガラ ス基板 S の反り ゃ撓みが低下する。
次に、 先端部又は後端部に設け られた吸着載置台 3 7 a 又 は 3 7 b 上の各第 1 又は第 2 の基板吸着装置 E 又は E 2が 吸着動作を開始する。 これによ り 、 先端部の各第 1 又は第 2 の基板吸着装置 E i又は E 2は、 中央部側から先端部側に向 つて順次ガラス基板 S の裏面に接触し、 吸着保持する。
このよ う に反 り の小さなガラス基板 Sの中間部から反 り の 大きなガラス基板 S の先端部又は後端部に向けて順次吸着を 開始する こ とで、 ガラス基板 S の反りや撓みを矯正しなが ら 確実に吸着保持でき る。 なお、 吸着載置台は、 中央部、 先端 部、 後端部の 3箇所に限らず、 ガラス基板 S のサイズに応じ て増加する こ と ができ、 かつ中央部以外の反 の小さな部分 から反り の大きな領域に配置しても よい。
次に、 本発明の第 7 の実施の形態について説明する。 なお、 図 5 及ぴ図 6 と 同一部分には同一符号を付してその詳しい説 明は省略する。
図 1 8 はエアー浮上搬送装置の構成図である。 浮上搬送ス テージ 1 の両側面には、 それぞれ 1 台の吸着載置台 3 7 が設 け られている。 この吸着载置台 3 7上には、 第 1 又は第 2 の 基板吸着装置 又は E 2がガラ ス基板 S の搬送方向 T と 同 一方向に複数並設されている。 これら第 1 又は第 2 の基板吸 着装置 又は E 2は、 上記第 5 の実施の形態と 同様にそれ ぞれ別系統の各エアー吸引路を通 して各レギユ レータが接続 されてレヽる。
これら第 1 又は第 2 の基板吸着装置 又は E 2に対する 吸着制御方法は、 各第 1 又は第 2 の基板吸着装置 E 又は E 2に対 してガラス基板 S の反 り の小さい中央部側から反り の 大き な端部側に向けて順番に吸着動作を開始する。
この よ う な吸着制御方法であれば、 浮上搬送ステージ 3 0 上にエアー浮上しているガラス基板 S を吸着保持する と き、 各第 1 又は第 2 の基板吸着装置 又は E 2は、 ガラ ス基板 Sの中間部側から先端部側に向って順次ガラス基板 Sの裏面 に接触し、 吸着保持する。 この吸着保持によ り 、 ガラ ス基板 S の反り は、 中間部側から端部側に順次矯正され、 各第 1 又 は第 2 の基板吸着装置 E i又は E 2は、 中間部側から端部側 に向けて確実にガラス基板 S を吸着保持する。
又、 各第 1 又は第 2 の基板吸着装置 E ェ又は E 2が同時に 吸着動作しても、 ガラス基板 S の反り の小さ な部分から反り の大きな部分に向けて吸着が順次開始されるこ と によ り 、 ガ ラス基板 S の反りゃ撓みが基準平面 H上に水平に矯正される。
上記第 7 の実施の形態によれば、 吸着パッ ド 5 2 の突き出 し高さが小さい第 2 の基板吸着装置 E 2や周知の基板吸着装 置でも反 り の大きなガラス基板 S を確実に吸着保持する こ と が可能と なる。
なお、 本発明は、 上記各実施の形態に限定される ものでは なく 、 次の通り 変形しても よい。
例えば、 上記各実施の形態は、 ガラス基板 Sのエアー浮上 搬送に用いているが、 ガラス基板 Sの検査部においてガラス 基板 S を検査ステージ上に吸着保持する場合にも適用でき る。
図 1 9 に示すよ う に複数個の基板吸着装置 又は E 2を 1 組とするブロ ッ ク H H と する と共に、 各プロ ッ ク H i H 毎にエアー真空引き系統に しても よい。 各第 1 の基 板吸着装置群 H i〜 H 4は、 それぞれ複数の基板吸着装置群 E をガラス基板 S の搬送方向 T に沿って配列 している。 こ の う ち各第 1 の基板吸着装置群 H i、 H 2が隣接 して設け ら れ、 各第 1 の基板吸着装置群 H 3、 H 4が隣接 して設け られ ている。 なお、 これら第 1 の基板吸着装置群 H H Aは、 第 2 の基板吸着装置 E 2を用いても よい。
これら第 1 の基板吸着装置 H i 〜 H 4のおける各第 1 の基 板吸着装置 は、 各レギユ レータ 1 1 0 に接続され、 さ ら に各第 1 の基板吸着装置群 〜 H 4別に共通接続されて各 真空パルプ i 丄 丄 〜 1 1 4 に接続されている。 第 1 の基板吸 着装置群 H i と H 3 と に対応する各真空パルプ 1 1 1 、 1 1 3 とが共通接続されて主レギユ レータ 1 1 5 a に接続されて いる。 又、 第 1 の基板吸着装置群 H 2 と H 4 と に対応する各 真空バルブ 1 1 2、 1 1 4 とが共通接続されて主レギユ レ一 タ 1 1 5 b に接続されている。 このよ う なエアー真空引き系統であれば、 上記第 5 の実施 の形態 同様に 1 つの第 1 又は第 2 の基板吸着装置 E i、 E 2でエアー漏れが生じてもガラス基板 S に対する吸着動作を 維持して安全性を向上でき る。 又、 第 1 の基板吸着装置群 H と ^12 と 、 H 3 と H 4 と が隣接して設け、 その一方の第 1 の 基板吸着装置群 H i、 H 3 と他方の第 1 の基板吸着装置群 H 2、 H 4 と をそれぞれ別のエアー真空引 き系統に構成する こ と によ り 、 隣接する一方の第 1 の基板吸着装置群 、 H 3 が吸引不能になっても隣接する他の基板吸着装置 H 2で確実 にガラス基板 S を吸着保持する こ とができ る。 例えば第 1 の 基板吸着装置群 H iの全体がエアー漏れしても、 隣接する第 1 の基板吸着装置群 H 2でガラス基板 S に対する吸着動作を 維持でき る。
又、 上記第 1 の実施の形態における吸着パッ ド 1 6 の接触 面部 1 6 c の形状は、 図 2 O A乃至図 2 O Dに示す一部断面 図及ぴ図 2 0 E に示す上面図に示すよ う に変形しても よい。 図 2 O Aに示す接触面部 1 6 c は、 各傾斜面 1 2 0、 1 2 1 を交差させて例えば鈍角を有する頂点 1 2 2 を形成している。 この頂点 1 2 2 は、 接触面部 1 6 c の全周方向に形成されて いる。 この よ う な吸着パッ ド 1 6 の接触面部 1 6 c であれば、 接触面部 1 6 c の頂点 1 2 2 がハウジング 1 の内壁 2 a に対 して全周方向で線接触する。
図 2 0 B に示す接触面部 1 6 c は、 例えば鈍角の頂点 1 2 3 を有する凸状体 1 2 4 を形成している。 この接触面部 1 6 c も凸状体 1 2 4 の頂点 1 2 3 がノヽウジング 1 の内壁 2 a に 対して全周方向で線接触する。
図 2 0 C に示す接触面部 1 6 c は、 筒状の曲面本体 1 2 5 に半球状の凸状体 1 2 6 を形成している。 この接触面部 1 6 c であれば、 凸状体 1 2 6 がハ ウジング 1 の内壁 2 a に対し て全周方向で線接触する。
図 2 O Dに示す接触面部 1 6 c は、 筒状の曲面本体 1 2 5 に突起体 1 2 7 を形成している。 この接触面部 1 6 c であれ ば、 突起帯体 1 2 7 がハウジング 1 の内壁 2 a に対して全周 方向で線接触する。
図 2 O Eに示す接触面部 1 6 c は、 筒状の曲面本体 1 2 5 の外周面上に少なく と も 3個以上、 例えば 4個の突起 1 2 8 を形成している。 この接触面部 1 6 c であれば、 各突起体 1 2 8 がハウジング 1 の内壁 2 a に対して各点接触する。
これら吸着パッ ド 1 6 の接触面部 1 6 c の形状であれば、 吸着パッ ド 1 6 は、 横方向に位置ずれする こ となく 、 かつ小 さな摩擦抵抗で円滑かつス ムーズに首振り動作でき る。
上記各実施の形態は、 ガラス基板 S をエアー浮上搬送する 場合について説明 したが、 エアー浮上に限らず、 静電浮上、 超音波浮上によ り浮上させたガラス基板 S の搬送にも適用で さ る。
以下、 本発明の他の特徴とする と ころについて説明する。 第 1 の本発明は、 基板の側緣部に沿つて配列された複数の 基板吸着装置によ り 前記基板を吸着保持する基板吸着方法に おいて、 前記各基板吸着装置の う ち前記基板の先端側を突出 高さの大きな第 1 の基板吸着装置を用いて前記基板を吸着保 持して前記基板を水平に矯正 し、 前記第 1 の基板吸着装置で 前記ガラス基板を水平に矯正した状態で突出高さ の小さ な第 2 の基板吸着装置を用いて前記ガラス基板を吸着保持する こ と を特徴とする基板吸着方法である。
第 2 の本発明は、 第 1 の本発明において、 前記第 1 の基板 吸着装置の吸着動作を開始 し、 次に前記第 2 の基板吸着装置 の吸着動作を開始する こ と を特徴とする基板吸着方法である。
第 3 の本発明は、 第 1 の本発明において、 前記第 1 の基板 吸着装置と前記第 2 の基板吸着装置と は、 同時に吸着動作を 開始する こ と を特徴とする基板吸着方法である。
第 4 の本発明は、 基板の側縁部に沿つて配列された複数の 基板吸着装置によ り 前記基板を吸着保持する基板吸着方法に おいて、 前記基板の反 り の小さな部分に対応する前記基板吸 着装置から前記基板の反り の大きな部分に対応する前記基板 吸着装置に向けて吸着動作を開始する こ とを特徴とする基板吸 着方法である。
第 5 の本発明は、 基板の側縁部に沿つて配列された複数の 基板吸着装置によ 前記基板を吸着保持する基板吸着方法に おいて、 前記基板吸着装置の 1 つ又は複数のプロ ック毎に各 エアー真空引き系統を設け、 前記各エアー真空引き系統を同 時に動作させ前記基板の反 り の小さな部分から大きな部分に 向けて前記各基板吸着装置を前記基板に対して順次吸着させ て前記基板の反り を矯正する こ と を特徴とする基板吸着方法 である。
産業上の利用可能性 本発明は、 例えば L C D製造ライ ンにおける液晶ディ スプ レイ のガラス基板の搬送、 半導体製造ライ ンにおける半導体 ウェハや各種部材の搬送の分野にも適用でき る。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 中空状に形成され、 一端側に開口部を有するハウジング と、
前記ハウジングの前記中空形状内に設け られ、 かつエアー を吸引するエアー引 き通路が設け られた吸着パッ ド支持部材 と、
前記ハウジングの前記開口部から突出 した状態で前記吸着 パッ ド支持部材上に載置され、 前記ハウジングの前記開 口部 に少なく と も 3 点で点接触して首振り 可能で、 前記エアー引 き通路と気密に連通するエアー吸引孔が設け られた吸着パッ と、
前記吸着パッ ドを前記ハウジングの前記開 口部に保持する 吸着パッ ド保持手段と、
を具備したこ と を特徴とする基板吸着装置。
2 . 前記吸着パッ ドは、 平面状に形成された吸着面を有する 吸着部と、 前記吸着部に一体的に形成された接触面部と を有 し、 前記接触面部は、 前記ハウジングの前記開口部の内壁面 に対して前記少なく と も 3 点で点接触する こ と を特徴とする 請求項 1 記載の基板吸着装置。
3 . 前記接触面部と前記内壁面と の各点接触する箇所は、 前 記接触面部における同一周方向上である こ と を特徴とする請 求項 2記載の基板吸着装置。
4 . 前記接触面部は、 前記ハウ ジングの前記開 口部の前記内 壁面に対して線接触する こ と を特徴とする請求項 2記載の基 板吸着装置。
5 . 前記接触面部は、 円筒状で、 上下方向の中間部に最大径 を有する半球面状に形成されたこ と を特徴とする請求項 2記 载の基板吸着装置。
6 . 前記吸着部は、 前記ハウジングの前記開 口部の外径と 同 一径に形成されたこ と を特徴とする請求項 2記載の基板吸着 装置。
7 . 前記吸着部は、 前記ハウジングの前記開 口部の外径よ り も大きな外径に形成されたこ と を特徴とする請求項 2記載の 基板吸着装置。
8 . 前記吸着パ ッ ドの前記吸着部及び前記接触面部は、 弾性 部材によ り 形成されたこ と を特徴とする請求項 2記載の基板 吸着装置。
9 . 前記ハ ウジングの前記開口部の端部は、 前記吸着パッ ド の裏面と 当接し、 前記ハウジングの前記中空形状内への前記 吸着パッ ドの下降を制限するス ト ツパとなる こ と を特徴とす る請求項 1 記載の基板吸着装置。
1 0 . 前記ハウジングの前記開口部の前記端部は、 前記吸着 パッ ドの前記裏面に当接し、 前記吸着パッ ドの前記吸着部の 傾き を基準平面に矯正する こ と を特徴とする請求項 8記載の 基板吸着装置。
1 1 . 前記吸着パッ ド支持部材は、 弾性部材によ り 形成され たチューブ部材によ り なる こ と を特徴とする請求項 2記載の 基板吸着装置。
1 2 . 前記チューブ部材は、 前記吸着パッ ドと密着する ジャ バラ状の屈曲部が上部に形成されたこ と を特徴とする請求項 1 1記載の基板吸着装置。
1 3 . 前記吸着パッ ド保持手段は、 前記吸着パッ ドに設け ら れた第 1 の支持板と 、 前記ハウジングの他端側に設け られた 第 2 の支持板と、 前記第 1 の支持板と前記第 2 の支持板との 間を前記吸着パッ ド支持部材内を通 して連結する連結部材と を有する こ と を特徴とする請求項 1記載の基板吸着装置。
1 4 . 前記連結部材は、 線材である こ と を特徴とする請求項 1 3記載の基板吸着装置。
1 5 . 前記連結部材は、 捩れ剛性を有する ワイヤーであるこ と を特徴とする請求項 1 3記載の基板吸着装置。
1 6 . 前記ハウジングには、 前記吸着パッ ド、 前記吸着パッ ド支持部材及ぴ前記吸着パッ ド保持手段を一体に前記ハウジ ングの前記中空形状内に移動させて、 前記ハ ウジングの前記 開口部の端部に対する前記吸着パッ ドの高さ位置を調整する 吸着パッ ド高さ調整機構が設け られたこ と を特徴とする請求 項 1 記載の基板吸着装置。
1 7 . 前記吸着パッ ドは、 前記ハウジングの前記開口部の前 記内壁面に少なく と も 3点で点接触する接触面部を有する球 状のパッ ド本体と、 前記パッ ド本体に形成された平面状の吸 着面と を有し、 前記吸着面には前記エアー吸引孔が設け られ、 前記吸着パッ ド支持部材によって支持される こ と を特徴とす る請求項 1記載の基板吸着装置。
1 8 . 前記吸着パッ ドは、 前記ハ ウジングの前記開口部の端 部から突出 した状態で保持される こ と を特徴とする請求項 1 7記載の基板吸着装置。
1 9 . 前記接触面部と前記内壁面との各点接触する箇所は、 前記接触面部における同一周方向上である こ と を特徴とする 請求項 1 7記載の基板吸着装置。
2 0 . 前記接触面部と前記ハウジングの前記開 口部の内壁面 と は、 線接触する こ と を特徴とする請求項 1 7記載の基板吸 着装置。
2 1 . 前記接触面部と前記ハウジングの前記開 口部の内壁面 とは、 精密すき まばめ構造を有する こ と を特徴とする請求項 1 7記載の基板吸着装置。
2 2 . 前記ハウジングの前記開口部は、 前記吸着パッ トの前 記接触面部の形状に倣って形成されたこ と を特徴とする請求 項 1 7記載の基板吸着装置。
2 3 . 前記ハウジングの前記開 口部は、 底部に設け られた平 面部と、 前記平面部の外周縁に設け られたテーパ部と を有し、 前記平面部は、 前記吸着パッ ト の底部が当接して前記吸着パ ッ トの傾き角を規制する こ と を特徴とする請求項 1 7記載の 基板吸着装置。
2 4 . 前記吸着パッ ド保持手段は、 前記ハウジングの前記開 口部の端部に設け られ、 前記吸着パッ ドを前記ハウジングの 前記開口部内に保持する係止部を有する こ と を特徴とする請 求項 1 7記載の基板吸着装置。
2 5 . 前記係止部は、 前記開口部の端部に設け られ、 前記開 口部を内側に絞った形状に形成されたこ と を特徴とする請求 項 2 4記載の基板吸着装置。
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