WO2004079409A1 - 可視光反射部材 - Google Patents

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WO2004079409A1
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film
aluminum thin
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Tadahiro Ohmi
Akihiro Morimoto
Naoki Tanahashi
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Tadahiro Ohmi
Akihiro Morimoto
Naoki Tanahashi
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    • G02F1/133553Reflecting elements

Definitions

  • the present invention relates to a reflection member used to reflect a visible light source, and in particular, a visible light reflection member suitable as a reflection plate used in a large flat liquid crystal display backlight unit having a screen diagonal of 28 inches or more. It is about.
  • Reflectors for reflecting visible light sources include diffuse reflectors that are coated with white paint or contain diffused beads, metal polished plates, and reflectors that are made by laminating metal atoms on a substrate to make it thinner. .
  • visible light reflectors include backlight units for liquid crystal displays, reflectors for indoor fluorescent lamps, reflective layers for recording media such as CDs and DVDs, automotive and indoor mirrors, etc. Widely used for.
  • the large flat display generally indicates a normal (4: 3) or wide (16: 9) flat display having a display diagonal of 28 inches or more.
  • the backlight unit is equipped with a cold cathode fluorescent lamp (CCFL) for light emission, a reflector, and various optical sheets.
  • CCFL cold cathode fluorescent lamp
  • the structure of the backlight unit is usually a flat liquid crystal display of 25 inches or less, using a light guide plate made of a transparent resin, G type is adopted.
  • G type a light guide plate made of a transparent resin
  • large flat panel LCDs with a size of 28 inches or more require a large-sized light guide plate, which makes them thicker and heavier and costs more.
  • the direct type with a reflector behind it is adopted.
  • Diffuse reflectors that are coated with white paint or contain diffuse peas are used as reflectors for backlight units of large flat-panel liquid crystal displays.
  • this reflector is used because of the diffuse reflection, there is no directionality of the reflected light, and luminance unevenness in the display surface can be reduced. However, since there is no directionality of the reflected light, much of the light disappears on the walls and the like, and the light use efficiency is poor. Therefore, for example, in a flat panel display having a diagonal screen of 30 inches, it is necessary to use at least 12 or more CCFLs in order to increase luminance, and as a result, there is a drawback that power consumption is increased.
  • the angle between the incident direction of light and the perpendicular to the reflecting surface that is, the angle between the incident angle of light, and the angle between the outgoing direction of light and the perpendicular to the reflecting surface, that is, the exit angle of the metal reflector is equal.
  • the direction of reflection can be freely controlled based on the design of the reflecting surface.
  • aluminum silver is used as a metal component for uniformly reflecting visible light for each wavelength. Even with the same metal, copper and gold are not preferred because the reflected light is colored due to its own absorption of low-wavelength light.
  • a reflection plate using a metal there is a metal reflection plate in which a formed metal lump is rolled and polished or aged to increase the reflectance. In this case, silver is very expensive and aluminum lump is usually used.
  • Reference 1 As an aluminum reflector obtained by rolling an aluminum ingot, with respect to ultraviolet reflection, see Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-281814 (hereinafter referred to as Reference 1).
  • the purity of aluminum is 99% by mass or more, the ratio of (220) plane / (200) plane or the ratio of (11 1) plane / (200) plane in X-ray diffraction intensity ratio is 1.0 or more, and It has been reported that by setting the total area ratio of the (110) plane and (1 1 1) plane on the plate surface to 30% or more, the UV reflectance at 350 nm becomes 95%, but in the visible light region. There is no report of a reflectivity of more than 92% for a beam in the region of 400 nm or more.
  • the weight of the reflector itself is increased in the rolled aluminum reflector, and it is practically used as a reflector for a large flat panel LCD backlight unit, which needs to be reduced in weight. It is difficult to do.
  • a reflector using a metal thin film has been developed.
  • a plastic material is used because it is lightweight, can form a fine surface shape with high accuracy, and can be mass-produced at low cost using a molding method such as injection molding. It is preferred to use.
  • an aluminum thin film there is usually a vapor deposition method in which aluminum is sublimated under a high vacuum and adhered to a base material substrate.
  • Aluminum thin film formed by this method Since the film follows the minute surface shape formed on the base material substrate, the minute surface shape can be reproduced as it is, and the directionality of the reflected light can be controlled.
  • the aluminum thin film formed by the conventional vapor deposition method is amorphous, and the arrangement at the atomic level is not dense, so that the reflectance cannot be improved to more than 92%.
  • a dielectric such as SiO 2 or MgF is laminated on the aluminum surface (increased reflection coating). There is a method of realizing the reflectance.
  • a sputtering method in which argon ions generated by argon plasma under reduced pressure are irradiated on an aluminum target, and aluminum ions are irradiated on a base material substrate placed on the opposite electrode to laminate the sputtering is known. I have.
  • Aluminum thin films formed by such conventional sputtering methods are irradiated with energetic aluminum ions and laminated to form aluminum, which is crystallized. It can be formed.
  • thin films formed by the conventional sputtering method as described above are polycrystallized, that is, a large number of crystal plane orientations appear on the film surface, and a space is formed between crystals, so that a completely dense film is formed. It could not be formed, and there was a drawback that the upper limit of the reflectance was about 92% as in the case of the deposited film.
  • the aluminum anodic oxide film is oxidized by oxygen ions, it is a porous oxide film with micropores in the manufacturing method, so that stress remains and micro cracks occur due to changes in the external environment such as temperature and humidity.
  • the corrosion of the aluminum layer cannot be completely prevented because water is generated in the pores or moisture penetrates into the pores.
  • An object of the present invention is to provide a visible light reflecting plate or a reflecting film having an aluminum thin film having a higher reflectance than a conventional aluminum thin film.
  • Still another object of the present invention is to provide a thin film visible light reflector or a reflective film which is homogeneous and has corrosion resistance and has a surface passivation film.
  • Another object of the present invention is to provide a large flat liquid crystal display backlight unit for reflection unit.
  • An object of the present invention is to provide a visible light reflecting plate or a reflecting film of an aluminum thin film suitable for a large reflecting plate such as a plate.
  • the purity of aluminum is not less than 99% by mass, and in X-ray diffraction, the (111) plane is included in the peaks derived from aluminum.
  • a reflective plate or a reflective film (hereinafter, referred to as a reflective member) characterized in that the peak intensity is higher than the sum of the peak intensities derived from other aluminum. Further, the reflecting member is characterized by exhibiting a reflectance exceeding 92% with respect to light rays in the visible light region.
  • an aluminum oxide passivation film is formed by direct oxidation of an aluminum thin film based on oxygen radicals generated by plasma in a rare gas containing a small amount of oxygen.
  • the aluminum thin film is formed on at least one surface of a base material substrate formed of a material selected from metal, glass, ceramic and plastic.
  • a reflective member having the following shape is obtained, and the surface may have any shape required for controlling the reflected light, such as a Fresnel structure or a free-form surface.
  • an aluminum thin film having a substantially flat or curved surface portion having a surface roughness (R a) of 1/10 or less of 40 O nm of a visible light region lower wavelength side wavelength on a reflection surface is provided.
  • a reflection member is obtained.
  • the oxide film formed on the surface of the aluminum thin film is not more than 100 nm, which is 14 of 400 nm of the low wavelength side wavelength in the visible light region, in order to prevent coloring due to thin film interference.
  • a substrate formed of a predetermined material is prepared, and the purity of the aluminum is not less than 99% by mass on the substrate, and in X-ray diffraction.
  • the peak intensity of the (111) plane is larger than the sum of the peak intensities derived from other aluminum in the peaks of
  • a visible light reflecting member characterized by providing an aluminum thin film having a reflectance exceeding the above is obtained.
  • a uniform film can be formed on the entire surface of a large reflector such as a backlight unit reflector of a large flat panel liquid crystal display of 28 inches or more. An aluminum thin film reflecting member is obtained.
  • an aluminum oxide passivation film is formed by plasma oxidation using an oxygen radical generated by plasma in a rare gas containing a small amount of oxygen.
  • the intensity ratio of the crystal plane directions in the present invention can be determined by measuring the intensity of the peak based on each crystal plane direction by a normal X-ray diffraction method.
  • FIG. 1 is a partial schematic cross-sectional view showing an example of a visible light reflecting plate according to an embodiment of the present invention
  • FIG. 2 is used to explain one step of a manufacturing process of the visible light reflecting plate shown in FIG. Sectional view taken;
  • FIG. 3 is a cross-sectional view used to explain another step of the manufacturing process of the visible light reflecting plate shown in FIG. 1;
  • FIG. 4 is a cross-sectional view showing an application example of the visible light reflecting plate of FIG. BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
  • FIG. 1 is a partial schematic cross-sectional view showing one example of the visible light reflecting plate of the present invention
  • FIGS. 2 and 3 are views for explaining a manufacturing process of the visible light reflecting plate of FIG.
  • a visible light reflecting plate 10 according to an embodiment of the present invention shown in FIG. 1 has a reflecting layer 2 formed on one surface of a substrate 1.
  • the illustrated substrate 1 is formed of a plastic material having a thickness of 0.7 mm to 2 mm (specifically, cycloolefin polymer: Zeonor 1600 manufactured by Nippon Zeon Co., Ltd.).
  • a substrate 1 having a Fresnel structure (not shown) with a width of several microns on its surface was used in order to give the reflector a light directivity.
  • the material of the substrate metal, glass, ceramic, and other plastic materials can be used.
  • the size and thickness of the substrate are not specified, but considering the strength of the substrate, a substrate with a thickness of 40 zm or more is preferable if it is flexible such as resin. .
  • a substrate having a thickness of lO Om or more is preferable.
  • a reflector for a large flat-panel liquid crystal display backlight unit needs to form a calculated surface fine shape such as a Fresnel structure or a free-form surface structure in order to control the brightness unevenness.
  • the uneven shape is usually formed by the above unevenness.
  • the gap between the irregularities is formed by a flat or curved surface. Since the directionality of light is defined by the substantially flat portion or curved surface portion, the surface roughness is less than 40 nm, which is 1/10 of the lower wavelength side wavelength of 400 nm in the visible light region. It is preferable that the thickness be not more than 20 nm, which is the wavelength of 120.
  • the illustrated reflective layer 2 is formed of an aluminum thin film having the (111) plane as the main plane orientation.
  • the reflectivity can be increased by improving the purity of aluminum.
  • the purity of the aluminum thin film is lower than 99%, the content of other elements is relatively high, so the same is true.
  • peaks other than those derived from aluminum may be observed due to the effect of the substrate, but the intensity ratio of only the peaks derived from aluminum is important. Not taken into account.
  • the peaks derived from aluminum are peaks based on the plane orientation, and are summarized in Table 1.
  • * 20 is the measurement state (how to set the board) etc.
  • the above value ⁇ 2 ° is considered an error.
  • X-ray diffraction measurement was performed on the visible light reflector 10 according to one embodiment of the present invention.
  • the aluminum-derived 20 peak was found only at around 38.5 ° soil 2 ° only. It was confirmed that it exists. Since this peak is derived from the plane orientation of aluminum (111), it was found that the illustrated aluminum thin film had (111) as the main plane orientation.
  • the peak intensity of the (111) plane is preferably larger than the sum of the peak intensities of other plane orientations. It is more preferable that the peak intensity of the 1 1 1) plane be 500 cps or more, More preferably, it is not less than cps.
  • the surface of the aluminum thin film reflective layer 2, the average Pinhorupi' Ji is 7 0 0 nm or more aluminum oxide surface (A 1 2 ⁇ 3) directly oxide film protective layer 3 made of film 3 is formed.
  • the visible light reflecting plate 10 shown in the figure is composed of the substrate 1, the aluminum reflecting layer 2 formed on one surface of the substrate 1, and the aluminum oxide formed on the reflecting layer 2. It is composed of a protective film 3.
  • the aluminum oxide film formed as the aluminum protective layer 3 has a layer thickness of 40 nm or less (preferably, 1 nm to 100 nm). And had an average pinhole pitch of 700 nm or more on the surface.
  • the illustrated aluminum oxide film is a film that is homogeneous and substantially free of pinholes with respect to visible light.
  • the aluminum oxide film 3 was formed by a plasma oxidation method using a rare gas, for example, Ar, Kr, and a small amount of oxygen.
  • a rare gas for example, Ar, Kr, and a small amount of oxygen.
  • a rare gas component containing a small amount of oxygen reduces the stress of the oxide film and makes it difficult for microcracks to occur, which not only improves the durability of the film but also removes the internal aluminum layer from the external environment. Can be completely protected.
  • a number of The Fresnel structure 1a to which the micron-width jaggedness was transferred was formed on the surface of a plastic substrate 1 made of a cycloolefin polymer having a thickness of 7 mm to 2 mm.
  • a bias of ⁇ 20 V is applied to the substrate 1 to draw argon ions generated by plasma into the Fresnel structure surface 1 a, and a sputter surface on the substrate 1 Irradiation was performed to form a sputtering film.
  • the reflective layer 2 is made of an aluminum thin film having a thickness of 50 nm to 500 nm and highly oriented so that the plane orientation becomes (111).
  • This reflective layer 2 is used to purify the atmosphere of impurities (such as moisture) by purifying the atmosphere of the atmosphere. Contamination can be prevented, and by performing sputtering film formation, a reflective layer 2 made of an aluminum thin film that accurately reproduces a fine shape such as a Fresnel shape formed on the substrate 1 is formed on the surface of the substrate 1. Been formed.
  • the aluminum thin film 2 shown in FIG. 3 had a thickness of 100 nm.
  • a peak derived from the (111) plane was observed, and it was confirmed that the aluminum thin film 2 had a surface roughness Ra: 1, "m and an absolute reflectance of 99%.
  • the aluminum thin film is formed by a sputtering method.
  • the sputtering surface is irradiated with low ions, and the unstable plane orientation is removed.
  • a thin film oriented on the (111) plane is preferably formed.
  • the bias applied to the substrate is preferably from ⁇ 60 V to ⁇ 5 V, more preferably from 140 V to ⁇ 10 V.
  • the ion irradiation energy at this time is 80 eV to 15 eV, preferably a low energy of 80 eV to 25 eV.
  • the pressure at the time of sputtering is preferably 5 OmTorr or less so that the aluminum ions ejected from the target are irradiated perpendicularly to the substrate. Further, it is preferable to perform the treatment at a pressure of lmTorr or more so that the generated plasma is not unstable.
  • the plasma to be generated is preferably a rare gas plasma such as argon, xenon, or krypton.
  • the purity of the target material for sputter is preferably higher, more preferably 5 N or more.
  • RF power for the force source in order to stably generate plasma.
  • a magnet In order to stably generate plasma on the cathode side, it is preferable to use a magnet. Further, it is more preferable to apply a negative DC bias in order to efficiently draw argon ions into the gate and increase the sputter speed.
  • the aluminum film 2 is made of an aluminum oxide film.
  • a protective layer 3 was formed.
  • the plasma oxidation according to the present invention uses a rare gas such as a small amount of argon, xenon, and krypton, and performs direct oxidation using an oxygen plasma generated by generating plasma with RF power, thereby achieving a dense and uniform plasma.
  • An oxide film is formed.
  • the aluminum oxide film 3 thus obtained contained a rare gas element and had a thickness of 5 nm.
  • the change in the specular reflectance after the high-temperature and high-humidity environment test under 60 and 90% Rh was 0%. This is due to the fact that the rare gas (Kr) used in the preparation is present in the oxide film in a small amount, so that the stress of the oxide film is relaxed, and micro defects are caused by environmental changes (temperature and humidity changes). Since the occurrence of cracks is suppressed, the corrosion resistance of aluminum is improved.
  • Kr rare gas
  • the natural oxide film according to the prior art has a non-uniform reaction due to molecular oxygen oxidation, is likely to have a nonuniform thickness, and has a stoichiometrically insufficient chemical composition near the interface. Defects increased, stress remained, causing microcracks.
  • the plasma-oxidized aluminum oxide film formed in the present invention has a low plasma electron density and is formed by a very mild radical oxygen oxidation.
  • the aluminum oxide film is formed by the above-mentioned plasma oxidation, it reacts uniformly with the surface atoms of the aluminum thin film, the stoichiometric composition near the interface decreases, defects are reduced, and stress is relaxed. However, microcracks do not occur, and as a result, intrusion of aluminum corrosion causes such as moisture from the outside can be eliminated.
  • the surface of the aluminum thin film that accurately reproduces a minute shape such as a Fresnel shape formed on the substrate can be held with high accuracy for direct oxidation of the aluminum thin film.
  • the illustrated backlight unit 20 has a diffuser 15 positioned at the top of the cathode fluorescent lamps (CCFL) 11, 12 and CCFLs 11, 12, and is provided on the front and back surfaces of the diffuser 15. Diffusion paints 13 and 14 are provided.
  • the visible light reflecting plate 10 of the present invention is disposed so as to face the diffusion plate 15 with the CCFLs 11 and 12 interposed therebetween.
  • the visible light reflecting plate 10 is formed on a substrate formed of a plastic material having a Fresnel structure. It is assumed that a light reflection film and a surface protection film are formed.
  • the illustrated backlight unit 20 As indicated by arrows, light from the CCFLs 11 and 12 adjacent to each other is reflected by the reflecting surface of the visible light reflecting plate 10 of the present invention having the principal plane orientation of (11 1). It is reflected at the maximum reflection intensity. Further, since the Fresnel structure of the visible light reflecting plate 10 performs the same reflection as that of the concave mirror, the reflected light is incident on the diffusing plate 15 without spreading, so that brighter overall light can be obtained. Therefore, the illustrated backlight unit is most suitable for a reflector for a large flat liquid crystal display backlight unit. In addition, the required number of CCFLs can be reduced compared to before, which can lead to energy savings for displays.
  • a higher specular reflectance that is, a reflectance of more than 92%) than the conventional reflector is surely realized, and a thicker oxidizer is used as in the conventional reflector.
  • a visible light reflector excellent in corrosion resistance and a method for manufacturing the same can be provided without coating with an aluminum layer or another member.
  • the visible light reflecting member according to the present invention is suitable as a backlight for a liquid crystal display device, in particular, a reflective plate used for a large flat liquid crystal display backlight unit having a screen diagonal of 28 inches or more. .

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Abstract

可視光反射部材は、アルミニウムの純度が99質量%以上で、X線回折において、アルミニウム由来のピークの中で(111)面由来のピーク強度が他のアルミニウム由来のピーク強度の総和より大きいアルミニウム薄膜を反射面に有する板またはフィルムを可視光反射に用いる。

Description

可視光反射部材 技術分野:
本発明は、 可視光光源を反射するために用いられる反射部材に関し、 特に、 画 面対角で 2 8ィンチ以上の大型平面液晶ディスプレイバックライトユニットに用 いられる反射板として好適な可視光反射部材に関するものである。
明 田
背景技術:
可視光光源を反射するための反射板には、 白色塗料を塗布したり、 拡散ビーズ を含有させた拡散反射板、 金属研磨板や、 金属原子を基板に積層し、 薄膜化した 反射板がある。
これら可視光反射板の用途としては、 液晶ディスプレイ用バックライトュニッ 卜、 室内蛍光灯用反射板、 C D、 D VD等の記録メディアの反射層、 車載用、 室 内用ミラ一等、 種々の用途に広く使用されている。
ところで、 昨今、 大型平板ディスプレイが、 現状の C R Tディスプレイに置き 換わって、その需要を拡大している。 ここで、大型平板ディスプレイとは、通常、 ディスプレイの対角が 2 8インチ以上の通常型(4 : 3 )或いはワイド型(1 6 : 9 ) の平板ディスプレイのことを指す。
大型平板ディスプレイには、 主にプラズマディスプレ 液晶
があるが、 低消費電力及び軽量の観点から、 大型平板液晶
飛躍的に増大している。
大型平面液晶ディスプレイは、 プラズマディスプレイのように自発光型ではな いため、 必ず背面に、 バックライトユニットと呼ばれる発光部が必要である。 バ ックライトユニットの中には、 発光のための冷陰極蛍光ランプ( C C F L )、 反射 板、 各種光学シートが装備されている。
バックライトユニットの構造は 通常、 2 5ィンチ以下の平板液晶ディスプレ ィでは、 透明な樹脂を用いた導光板を用い、 C C F Lを脇に配置したサイドライ ト型方式が採用されている。 しかし、 2 8インチ以上の大型平板液晶: ィでは、 使用される導光板が大型化するため、 分厚く重くなり、 コストもかかる ため、 これらの大型平板液晶ディスプレイは、 C C F Lを液晶パネル直下に配備 し、 その背後に反射板を装備する直下型方式が採用されている。
現在-. その大型平板液晶ディスプレイバックライトュニット用反射板として用 いられているのは、 白色塗料を塗布したり、 拡散ピーズを含有させた拡散反射板 である。
この反射板が用いられる理由は、 拡散反射のため、 反射光の方向性が無く、 デ イスプレイ面内での輝度ムラを小さくすることができるからである。 しかし、 反 射光の方向性が無いために、 壁面等で消失する光も多く、 光の利用効率が悪い。 そのため、 例えば、 画面対角で 3 0インチの平板ディスプレイにおいて、 輝度を 稼ぐために C C F Lを少なくとも 1 2本以上使用する必要があり、 結果として電 力消費量を増大させる欠点がある。
C C F Lの使用本数を極力少なくし、 消費電力を少なくするためには、 光反射 方向 (光指向性) を制御し、 効率良く利用することができる反射板が求められて いる。
反射光に指向性を持たせるためには、 金属面による反射を用いる必要がある。 金属の反射板は、 光の入射方向と反射面に対する垂線とが作る角、 即ち、 光の入 射角と、 光の出射方向と反射面に対する垂線とが作る角、 即ち、 出射角が等しい ことが自然科学的に実証されており、 反射面の設計に基づいて、 反射方向を自由 に制御可能である。
通常、 可視光を各波長に対して均一に反射するための金属成分としては、 アル ミニゥムゃ銀が使用される。 同じ金属でも、 銅や金は、 それ自体が持つ低波長光 の吸収のため、 結果的に反射光に色がつくため好ましくない。
金属を用いた反射板としては、 铸造した金属塊を圧延して研磨したり熟成した りすることで、 反射率を高めた金属製反射板がある。 この場合、 銀は非常に高価 なため、 通常、 アルミニウム鎳塊が使用される。
アルミニウム鍀塊を圧延したアルミニウム反射板としては、 紫外線反射に関し ては、特開 2 0 0 1— 2 8 1 4 2 6号公報(以下、参考文献 1と呼ぶ)において、 アルミニウムの純度を 99質量%以上とし、 X線回折強度比で(220)面/ (2 00) 面の比又は (11 1) 面/ (200) 面の比を 1. 0以上とし、 且つ、 板 表面における (110) 面及び (1 1 1) 面の合計面積率を 30%以上にするこ とで、 350 nmの紫外線反射率が 95 %になると言う報告があるが、 可視光領 域である 400 nm以上の領域の光線に鬨しては、 92 %を越える反射率の報告 はされていない。
また、 大型平板液晶ディスプレイバックライトュニット用反射板として、 光源 である CCFLから発生した光を効率良く、 輝度ムラ無く使用するためには、 反 射板自体に反射光の方向を制御する計算された微細表面構造を形成させる必要が ある。 铸塊を圧延したアルミニウム反射板を用いると、 微細表面構造を形成させ るために、 一枚ずつその構造を刻む必要があり、 しかも、 実質的な反射平面また は曲面の表面粗さを精度良く制御することが困難である。
更に、 アルミニウムは、 比重が 2. 71と大きいため、 铸塊を圧延したアルミ ニゥム反射板では反射板自身の重量が大きくなり、 軽量化が求められる大型平板 液晶ディスプレイバックライトュニット用反射板に実用することは困難である。 反射板自身を軽量化するために、 金属薄膜を用いた反射板が開発されている。 反射板の母材 (基板) としては、 軽量で、 且つ、 精度良く微細表面形状を形成で き、 更に、 射出成型等の成型方法を用いて安価に大量生産ができる点で、 プラス チック材料を使用するのが好ましい。
また、 反射率の良い金属として、 銀の薄膜を使用した反射板がある。 この銀薄 膜反射板は反射率 97%と反射効率の良い反射板として最近使用され始めている。 しかし、 銀はそれ自体高価であり、 さらに、 空気中の微量の硫化物 (二酸化硫 黄や硫化水素) と反応し、 黒化して反射率が低下する欠点があり、 銀薄膜の上に 様々なコーティングを施す必要があるため、 さらに高価になり、 面積の大きい大 型平板液晶ディスプレイバックライトュニット用反射板としては適当ではない。 そのため、大型平板液晶ディスプレイバックライトュニッ卜用反射板としては、 アルミニウム薄膜が好適である。
アルミニウム薄膜を形成させるため、 通常、 高真空下でアルミニウムを昇華さ せて母材基板に付着させる蒸着法がある。 この方法で形成されたアルミニウム薄 膜は、 母材基板に形成された微小表面形状に追従するため、 その微小表面形状を そのまま再現でき、 反射光の方向性を制御することが可能である。
しかし、従来の蒸着法で形成されたアルミニウム薄膜は、アモルファスであり、 原子レベルでの配列が緻密でないため 9 2 %以上に反射率を向上させることが 出来ない。
蒸着法で形成されたアルミニウム薄膜の反射率を向上させるため、 アルミニゥ ム表面に S i O 2や M g Fのような誘電体を積層することで (増反射コーティン グ)、 9 5 %以上の反射率を実現する方法がある。
しかし、これらの膜は、アルミニウム薄膜上に何層も形成させなくてはならず、 部材ゃ工程が増えるため、 コストが高くなり、 また、 大型基板に対し、 このよう なコーティングを均質に行うことが非常に困難であるため、 実用的でないという 問題があった。
また、 従来は、 表面粗さ (R a ) が 4 0 n m以下の実用的平面または曲面部分 を形成させることが難しく、 さらに、 蒸着薄膜自身も、 基板の大型化に伴い、 前 面に均質な製膜を行うことが困難である。 そのため、 計算された微細表面形状を 形成し、 反射光を制御しても、 輝度ムラを完全に制御できない。
アルミニウム薄膜を形成させるための方策として、 減圧下でアルゴンプラズマ により生成したアルゴンイオンをアルミニウムターゲットに照射し、 アルミニゥ ムイオンを対極に置かれた母材基板に照射し積層させるスパッタリング法が従来 知られている。
このような従来のスパッタリング法によるアルミニウム薄膜は、 エネルギーを 持ったアルミニウムイオンを照射して積層させるために製膜されたアルミニウム は結晶化するので、 蒸着膜と比較して原子レベルで緻密な膜を形成させることが 可能である。
しかし、上記のような従来のスパッタリング法で形成される薄膜は、多結晶化、 すなわち、 膜表面に多数の結晶面方位が出現し、 結晶間に空間が出来るため、 完 全に緻密な膜を形成させることが出来ず、 反射率も蒸着膜同様 9 2 %程度が上限 となる欠点があった。
反射率をさらに向上させるためには、 この面方位を揃える必要があるというの が本発明者等の認識である。
ところで、 アルミニウムは、 空気中の酸素と容易に反応し、 1 0 n m程度の厚 さの安定な自然酸化アルミニウム皮膜を形成すること、 自然酸化アルミニウム皮 膜の形成によって、 アルミニウムは腐食されにくくなることが知られている。 しかし、 自然酸化アルミニウム皮膜は分子による酸化反応であるため 内部ま で均一に酸化することはできず、 膜厚が不均一となり、 且つ、 酸化後のアルミ二 ゥム界面付近の化学組成が化学量論的でなく、 すなわち、 酸素原子が欠乏してい る状態になるため、 欠陥の多い膜であり、 応力緩和しきれず、 結果として内部の アルミニウム層が腐食されてしまうため、 保護層としての役割は十分ではない。 更に、 アルミニウム薄膜を安定化させるため、 陽極酸化等で不動態膜を厚くす る方法がある。 陽極酸化法で酸化膜を形成したアルミニウムはアルマイ卜と呼ば れ、 広く使用されている。
しかし、 アルミニウム陽極酸化膜は、 酸素イオンによる酸化であるため、 製法 上微細孔を持つポーラス状の酸化膜であるので、 そのため、 応力が残留し、 温度 や湿度等の外部環境変化によって、 ミクロクラックが発生したり、 細孔に水分等 が浸透するので、 アルミニウム層の腐食を完全には防ぐことができない。
トリメチルジシ口キサン等の有機化合物をプラズマ重合し、 コーティングする ことで耐腐食性を向上させる方法もあるが、 反射率が低下したり、 ·工程や部材が 増え、 高価となるだけでなく、 光反射方向を制御するための微細表面形状を精度 良く再現することが不可能であり、 適当ではない。
そのため、 アルミニウム薄膜上に、 直接的に均質且つ緻密な不動態皮膜を形成 させる必要があった。
本発明の目的は、 従来のアルミニウム薄膜よりも反射率が高いアルミニウム薄 膜を持つ可視光反射板または反射フィルムを提供することにある。
本発明の他の目的は、 反射光の方向制御が容易なアルミニウム薄膜を用いた可 視光反射板または反射フィルムを提供することにある。
本発明の更に他の目的は、 均質且つ耐腐食性を持ち、 表面不働態膜を有するァ ルミニゥム薄膜可視光反射板または反射フィルムを提供することにある。
本発明の別の目的は、 大型平板液晶ディスプレイバックライトュニット用反射 板のような大型反射板に好適なアルミニウム薄膜の可視光反射板または反射フィ ルムを提供することにある。 発明の開示:
本発明の一態様によれば、 可視光を反射するアルミニウム薄膜において、 アル ミニゥムの純度が 9 9質量%以上で、 X線回折において、 アルミニウム由来のピ ークの中で ( 1 1 1 ) 面のピーク強度が、 他のアルミニウム由来のピ一ク強度の 総和よりも大きいことを特徴とする反射板または反射フィルム (以下、 反射部材 と呼ぶ) が得られる。 また、 この反射部材は、 可視光領域の光線に対して 9 2 % を超えた反射率を示すことを特徴とする。
更に、 本発明のもう一つの態様によれば、 アルミニウム薄膜を、 少量の酸素を 含んだ希ガス中でプラズマによって発生された酸素ラジカルをベースとした直接 酸化により酸化アルミニウム不動態皮膜を形成することにより、 反射率を維持さ せながら耐腐食性を飛躍的に向上可能であることを特徴とする反射部材が得られ る。
本発明の別の態様によれば、 前記アルミニウム薄膜は、 金属、 ガラス、 セラミ ック及びプラスチックから選択された材料によって形成された母材基板の少なく とも一表面上に形成されていることを特徴とする反射部材が得られ、 その表面は フレネル構造や自由曲面等、 反射光を制御するために必要な如何なる形状を有し ていても良い。
本発明の別の態様においては、 表面粗さ (R a ) が可視光領域低波長側波長の 4 0 O n mの 1 / 1 0以下の実質的平面または曲面部分を反射面に有するアルミ ニゥム薄膜反射部材が得られる。 ここで、 本発明においては、 アルミニウム薄膜 表面に形成される酸化皮膜は、 薄膜干渉による着色を防ぐため、 可視光領域低波 長側波長の 4 0 0 n mの 1 4である 1 0 0 n m以下であることが望ましい。 本発明の更に他の態様によれば、 予め定められた材料によって形成された基板 を用意し、 当該基板上にアルミニウムの純度が 9 9質量%以上で、 X線回折にお いて.. アルミニウム由来のピークの中で ( 1 1 1 ) 面のピーク強度が他のアルミ ニゥム由来のピーク強度の総和より大きく、 可視光領域の光線に対して 9 2 %を 超えた反射率を示すアルミニウム薄膜を設けたことを特徴とする可視光反射部材 が得られる。
また、 本発明の更に他の態様においては、 2 8インチ以上の大型平板液晶ディ スプレイのバックライトュニッ卜用反射板のような大型の反射板全面に対しても、 均質な製膜が可能なアルミニウム薄膜反射部材が得られる。
更に、 本発明のもう一つの態様によれば、 アルミニウム薄膜を、 少量の酸素を 含んだ希ガス中でプラズマによって発生された酸素ラジカルを用い、 ブラズマ酸 化により酸化アルミニウム不動態皮膜を形成することにより、 反射率を維持させ ながら耐腐食性を飛躍的に向上可能であることを特徴とする反射部材の製造方法 が得られる。
ところで、 本発明における結晶面方位の強度比は、 通常の X線回折法により各 結晶面方位に基づくピークの強度を測定することにより求めることができる。 図面の簡単な説明:
第 1図は本発明の実施例による可視光反射板の一例を示す部分概略断面図; 第 2図は第 1図に示された可視光反射板の製造工程の一工程を説明するために 使用される断面図;
第 3図は第 1図に示された可視光反射板の製造工程の他の工程を説明するのに 使用される断面図;及び
第 4図は第 1図の可視光反射板の適用例を示す断面図である。 発明を実施するための最良の形態:
本発明者等は、 アルミニウム面方位と可視光反射率の関係について鋭意研究を 重ねる中で、 面方位の制御が可能で、 且つ、 大型基板全面にも均質な製膜が可能 なスパッ夕製膜を行って反射率を調査したところ、 可視光領域の反射率を確実に 向上させるためには、 特定の面方位を選択的に形成させることが非常に有効な手 段であるとの知見を得た。 換言すれば、 特殊な条件でスパッタ製膜をすることに より 薄膜中に (1 1 1 ) 面をより多く残す技術を見出し、 その際の反射率が高 いことを突き止め、 本発明に想到した。 まず、 本発明を更に具体的に説明する。 第 1図は本発明の可視光反射板の一例 を示す部分概略断面図であり、 第 2図及び第 3図は第 1図の可視光反射板の製造 工程を説明するための図である。
第 1図に示された本発明の一実施例に係る可視光反射板 1 0は 基板 1の一表 面上に形成された反射層 2を有している。 図示された基板 1は、 0 . 7 mm〜2 mmの厚さを有するプラスチック材料 (具体的には、シクロォレフインポリマー: 日本ゼオン (株) 製ゼォノア 1 6 0 0 ) によって形成されており、 この例では、 反射板に光指向性を持たせるために、 表面に数ミクロン幅のフレネル構造 (図示 せず) を備えた基板 1を使用した。 尚、 基板 1の材料としては、 金属、 ガラス、 セラミック、 及び、 他のプラスチック材料が使用可能である。
基板の大きさ、 厚さも規定されるものではないが、 その基板としての強度を考 慮すると、 樹脂のような可撓性のあるものであれば、 4 0 z m以上の厚さの基板 が好ましい。 金属やガラス、 セラミック材料であれば、 l O O m以上の厚さの 基板が好ましい。
このような材料基板 1を用いれば、 反射層の反射の方向性を制御するために、 基板表面に意図的に凹凸形状を形成することが可能である。
例えば、 大型平板液晶ディスプレイバックライトユニット用反射板は、 その輝 度ムラを制御するために、 フレネル構造や自由曲面構造のような計算された表面 微細形状を形成する必要がある。 その凹凸形状は、 通常、 以上の凹凸によ り形成される。
凹凸間は、 平面ないしは曲面によって形成される。 その実質的平坦部あるいは 曲面部によって、 光の方向性は規定されるため、 その表面粗さが可視光領域低波 長側波長の 4 0 0 n mの 1 / 1 0である 4 0 n m以下であることが好ましく、 波 長の 1 2 0である 2 0 n m以下であれば更に好ましい。
図示された反射層 2は、 (1 1 1 )面を主要な面方位としたアルミニウム薄膜に よって形成されている。 アルミニウムの純度を向上させることで、 反射率を高め ることができるが、. アルミニウム薄膜の純度が、 9 9 %より低い場合には、 相対 的に他元素の含有量が多くなることから、 同じ面方位であったとしても、 格子歪 が大きくなり、 また、 他元素による光エネルギー吸収が大きくなることから反射 率が低下する。 従って、 アルミニウムの純度は 9 9質量%以上とすることが必要 であり、 9 9 . 5質量%以上であることがより望ましい。
X線回折測定を行うに当り、 基板の影響で、 アルミニウム由来以外のピークが 観測されることもあるが、 あくまで、 アルミニウム由来のピークのみの強度比が 重要であって、 それらのピークに関しては、 考慮されるものではない。 アルミ二 ゥム由来のピークは、 その面方位に基づくピークであり、 表 1のように纏められ る。
表 1
Figure imgf000011_0001
* 2 0は、 測定状態 (基板の設定の仕方) 等で、
上記値の ± 2 ° は誤差と考える。 本発明の一実施例に係る可視光反射板 1 0において、 X線回折測定を行った結 果、 当該アルミニウム薄膜では、 アルミニウム由来の 2 0ピークが 3 8 . 5 ° 土 2 ° 付近にのみ単独で存在していることが確認された。 このピークはアルミニゥ ムの面方位(1 1 1 ) に由来しているから、 図示されたアルミニウム薄膜は、 (1 1 1 ) を主要な面方位として有していることが判明した。
本発明に係る検討結果より、 アルミニウム薄膜の面方位が揃うことにより、 膜 中の欠陥が減少し、 且つ、 表面平坦性が格段に向上することを見出した。 すなわ ち、本発明の反射板の反射率を向上させるためには、 ( 1 1 1 )面のピーク強度が、 他の面方位のピーク強度の総和より大きいことが好ましく、 X線回折における ( 1 1 1 ) 面のピーク強度が 5 0 0 c p s以上であることがより好ましく、 1 0 0 0 c p s以上であることが更に好ましい。
また、 当該アルミニウム薄膜反射層 2の表面には、 表面の平均ピンホールピッ チが 7 0 0 n m以上の酸化アルミニウム (A 1 23) 膜 3からなる直接酸化皮膜 保護層 3が形成されている。
このことからも明らかな通り、 図示された可視光反射板 1 0は、 基板 1、 基板 1の一表面上に形成されたアルミニウム反射層 2、 及び、 反射層 2上に形成され た酸化アルミニウムの保護膜 3によつて構成されている。
本発明の一実施例に係る可視光反射板 1 0において、 アルミニウム保護層 3と して形成された酸化アルミニウム膜は、 4 0 nm以下 (好ましくは、 l n m〜l 0 0 n m) の層厚を持ち、 表面において 7 0 0 n m以上の平均ピンホールピッチ を有していた。
即ち、 図示された酸化アルミニウム膜は、 可視光に対して、 均質で実質的にピ ンホールの無い膜であることが判る。 この酸化アルミニウム膜 3は、 希ガス、 例 えば、 A r、 K rおよび微量の酸素を用いたプラズマ酸化法によって形成された。 酸素を微量混入された希ガス成分は、 酸化膜の応力を低減し、 ミクロクラック が発生しにくくなるため、 膜の耐久性を向上させるのみではなく、 内部のアルミ 二ゥム層を外部環境から完全に保護することができる。
次に、 本発明の実施例に係る可視光反射板 1 0の製造方法を図面を参照して説 明する。 まず、 アルミニウム薄膜の製膜について説明する。
第 2図に示すように、 厚さ 7 mm〜2 mmのシクロォレフィンポリマ一か らなるプラスチック製の基板 1の表面に、 製造される反射板に光指向性を持たせ るために、 数ミクロン幅のギザギザが転写されたフレネル構造 1 aを形成した。 純度 5 N以上のアルミニウム夕一ゲットを用い、 この基板 1に— 2 0 Vのバイ ァスをかけ、 フレネル構造面 1 aにプラズマによって発生するアルゴンイオンを 引き込むとともに、基板 1上のスパッタ表面に照射させてスパッ夕製膜を行った。 これによつて、 ( 1 1 1 )面のみが表面に残り、 面方位が ( 1 1 1 ) となるように 高配向した厚さ 5 0 n mから 5 0 0 n mのアルミニウム薄膜からなる反射層 2が 得られた (第 3図)。
この反射層 2は、 スパッ夕雰囲気を高純度化することで、 不純物 (水分等) の 汚染を防止することができ、 また、 スパッタ製膜を行うことにより、 基板 1上に 形成されたフレネル形状等の微小形状を精度良く再現したアルミニウム薄膜から なる反射層 2が、 基板 1の表面に形成された。
第 3図に示されたアルミニウム薄膜 2は 1 0 0 n mの膜厚を有していた。また、 アルミニウム薄膜 2では、 (1 1 1 )面由来のピークが観察され、表面粗度 R a : 1 ," m、 絶対反射率 9 9 %を有していることが確認された。
本発明に係る検討結果より、 アルミニウム薄膜は、 スパッタリング法で作製さ れることが好ましく、 スパッ夕時に基板にバイアスをかけることで、 スパッ夕面 が低イオン照射され、 不安定な面方位は除去され、 結果的に (1 1 1 ) 面に配向 した薄膜が形成されるので好ましい。
基板にかけるバイアスは、 — 6 0 V以上— 5 V以下が好ましく、 一 4 0 V以上 — 1 0 V以下がより好ましい。 その際にかかるイオン照射エネルギーは、 8 0 e V〜l 5 e V、 好ましくは、 8 0 e Vから 2 5 e Vの低エネルギーとなる。
基板にかけるバイアスの電源は、 基板上の電位が規定されれば良いので、 D C もしくは R Fのどちらも使用することが可能である。
スパッタ時の圧力は、 ターゲットから飛び出したアルミニウムイオンが基板に 垂直に照射されるよう 5 O mT o r r以下で行われることが好ましい。 また、 発 生させるプラズマが不安定にならないよう l mT o r r以上の圧力で行うことが 好ましい。
発生させるプラズマは、 アルゴンやキセノン、 クリプトンと言つた希ガスブラ ズマとすることが好ましい。
スパッ夕用のターゲット材料の純度は、 高い方が好ましく、 5 N以上であると より好ましい。
力ソードには、 プラズマを安定的に発生させるために、 R F電力を使用すると 好ましい。 また、 プラズマをカソード側に安定的に発生させるため、 マグネット を使用すると好ましい。更に、夕ーゲッ卜に効率的にアルゴンイオンを引き込み、 スパッ夕速度を高めるため、 マイナスの D Cバイアスを印加することがより好ま しい。
次に、 第 1図に示すように、 アルミニウム膜 2に酸化アルミニウム膜からなる 保護層 3を形成した。
まず、 真空装置を構成するクラスタ一ツールを用いて、 アルミニウム薄膜をス パッタ製膜後、 基板 1を大気に曝すことなく、 容量比 (K r / 0 2 = 9 7 / 3 ) で、 少量の酸素を含有するクリプトン雰囲気でアルミニウム薄膜 2の表面をブラ ズマ酸化した。
本発明に係るプラズマ酸化は、 少量のアルゴン、 キセノン、 クリプトンといつ た希ガスを用い、 R F電力によりプラズマを発生させて生成させた酸素プラズマ を用いて、 直接酸化を行うことによって、 緻密且つ均質な酸化膜が形成されるも のである。このようにして得られた酸化アルミニウム膜 3は、希ガス元素を含み、 厚さ 5 n mであった。
更に、 6 0 、 9 0 % R h下の高温高湿環境試験後の鏡面反射率の変化は 0 % であった。 これは、 作成する際に使用する希ガス (K r ) が酸化膜中に微量存在 することで、 酸化膜の応力が緩和されて、 環境変化 (温度、 湿度変化) 起因の欠 陥であるマイクロクラックの発生が抑制されるために、 アルミニウムの耐食性が 向上したものである。
このことから、 本発明の実施例に係る可視光反射板は、 酸化アルミニウム膜 3 が反射層 2であるアルミニウム薄膜に形成されても、 反射層 2の反射率は変化し ないことが確認された。
尚、 従来技術による自然酸化膜は、 分子酸素酸化のため、 反応が不均一で、 膜 厚むらが生じ易く、 界面付近の化学組成も化学量論的に不十分なために、 界面付 近に欠陥が増え、 応力が残留し、 マイクロクラック発生の原因となっていた。 これに対して、 本発明において形成されるプラズマ酸化による酸化アルミニゥ ム膜は、 プラズマ電子密度が低く、 非常にマイルドなラジカル酸素酸化によって 形成される。
このため、 酸化アルミニウム膜を前述したプラズマ酸化によつて形成すれば、 アルミニウム薄膜表層原子と均一に反応し、界面付近が化学量論的な組成になり、 欠陥が減り、 応力が緩和されるため、 マイクロクラックが発生せず、 その結果、 外部からの水分等のアルミニウム腐食原因の浸入をなくすことができる。
また、 スパッ夕後のアルミニウム表面を大気に曝すと、 大気中の水分,酸素に よって、 自然酸化膜が生成し、 膜質が悪くなる。 膜質を維持するためには、 クラ スターツール等を使用して、 スパッ夕した後、 大気に曝さないようにし、 プラズ マ酸化前のアルミニウム層表面に自然酸化膜を生成させない事により、 界面付近 の化学組成を化学量論的に保ち、 界面付近の欠陥をなくすことで、 耐腐食性に乏 しいアルミニウムを保護することができる。
また、 本発明の実施例においては、 アルミニウム薄膜の直接酸化のために、 基 板に形成されるフレネル形状等の微小形状を精度良く再現したアルミニウム薄膜 表面を精度良く保持することができる。
第 4図を参照して、 本発明の可視光反射板 10を使用した大型平板液晶ディフヽ プレイのバックライトュニットを説明する。 図示されたバックライトュニット 2 0は、 陰極蛍光ランプ (CCFL) 1 1、 12、 CCFL 11、 12の上部に間 隔を置いて位置付けられた拡散板 15、 拡散板 15の表裏面に施された拡散塗料 13、 14とを備えている。更に、本発明の可視光反射板 10は、 CCFL 11、 12を挟んで拡散板 15と対向するように配置され、 ここでは、 フレネル構造を 有するプラスチック材料によって形成された基板上に、 前述した可視光反射膜お よび表面保護膜が形成されているものとする。
図示されたバックライトユニット 20において、 矢印で示すように、 互いに隣 接する CCFL 11、 12からの光は、 (11 1)の主要面方位を備えた本発明の 可視光反射板 10の反射面によって最大反射強度で反射される。 また、 当該可視 光反射板 10のフレネル構造によって、 凹面鏡と同等の反射を行うので、 反射光 が広がることがなく拡散板 15に入射するので、 一段と明るい全面光を得ること が出来る。 したがって、 図示されたバックライトユニットは大型平板液晶ディス プレイバックライトユニット用反射板に最適である。 また、 CCFLの必要数を 従来より減らすことが出来、 ディスプレイの省エネルギー化をもたらすことがで さる。
以上説明したように、 本発明によれば、 従来の反射板よりも高鏡面反射率 (即 ち、 92%を超える反射率) を確実に実現し、 且つ従来の反射板のように、 厚い 酸化アルミニウム層や他部材によるコーティングを施すことなく、 耐食性に優れ た可視光反射板とその製造方法とを提供することができる。 産業上の利用可能性:
以上説明の通り、 本発明に係る可視光反射部材は、 液晶ディスプレイ装置のバ ックライト、 特に、 画面対角で 2 8インチ以上の大型平面液晶ディスプレイバッ クライトュニットに用いられる反射板として好適である。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . アルミニウムの純度が 9 9質量%以上で、 X線回折において、 アルミ二 ゥム由来のピークの中で (1 1 1 ) 面由来のピーク強度が他のアルミニウム由来 のピーク強度の総和より大きいアルミニウム薄膜を反射面に有する板またはフィ ルムを可視光反射に用いることを特徴とする可視光反射部材。
2 . 表面粗さ (R a ) が 4 0 n m以下の実質的平面または曲面部分を反射面 に有するアルミニウム薄膜を可視光反射に用いることを特徴とする可視光反射部 材。
3 . 請求項 1または 2記載の可視光反射部材において、 前記アルミニウム薄 膜は、 プラスチック材料によって形成された基板上に設けられていることを特徴 とする可視光反射部材。
4 . 請求項 3記載の可視光反射部材において、前記アルミニウム薄膜表面に、 プラズマ酸化によって形成された酸化皮膜が直接形成されていることを特徴とす る可視光反射部材。
5 . 請求項 1またほ 2に記載の可視光反射部材において、 アルミニウム薄膜 表面に、 1 0 0 n m以下の酸化皮膜が直接形成されていることを特徴とする可視 光反射部材。
6 . 請求項 5に記載の可視光反射部材において、 形成された酸化皮膜中に微 量の希ガス成分を含むことを特徴とする可視光反射部材。
7 . アルミニウム薄膜を形成させる板状またはフィルム状の基板に、 —6 0 Vから _ 5 Vの電位を印加し、 8 0 e Vから 1 5 e Vの低エネルギーイオンを照 射してスパッ夕法によってアルミニウム薄膜を形成することを特徴とする可視光 反射部材の製造方法。
8 . 請求項 7記載の可視光反射部材の製造方法において、 形成された前記ァ ルミニゥム薄膜表面に、 ラジカル酸素を用いて 1 0 0 n m以下の酸化皮膜を直接 形成することを特徴とする可視光反射部材の製造方法。
9 . 板状またはフィルム状の基板にアルミニウム薄膜を形成する工程と、 少 量の酸素を含んだ希ガス中でプラズマによって発生された酸素ラジカルを用いて、 前記アルミニウム薄膜を酸化して前記アルミニウム薄膜表面に酸化膜を形成する 工程とを有することを特徴とするアルミニウム薄膜可視光反射部材の製造方法。
1 0 . 請求項 1乃至 6の内のいずれか一つに記載された可視光反射部材をバ ックライトュニットに組み込んだことを特徴とする画面の対角長さが 2 8インチ 以上の大型平板液晶-
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