WO2004067655A1 - コーティング組成物、反射防止膜、フォトレジストおよびそれを用いたパターン形成方法 - Google Patents

コーティング組成物、反射防止膜、フォトレジストおよびそれを用いたパターン形成方法 Download PDF

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Nobuyuki Otozawa
Toyomichi Shimada
Takashige Maekawa
Naoko Sumi
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Definitions

  • the present invention relates to coating compositions. For details, see Coating for forming anti-reflective coating.
  • the coating solution be a solution with a wide range of coatings.
  • Wei's coating fiber may contain methanol in addition to water as a sample, and is not suitable for use in clean rooms. However, it was not always satisfactory.
  • the polymer in the case of a coating composition using a polymer containing a propyloxyl group, the polymer is neutralized by ammonium chloride using ammonia, tetramethylammonium hydroxide, etc. to impart water solubility to the polymer.
  • the neutralization of these lipoxyl group-containing polymers even though they have sufficient water solubility, they may aggregate over time and have been difficult to put into practical use. Disclosure of the invention
  • An object of the present invention is to provide an anti-reflection coating having a refractive index of less than 1.4, a coating having excellent 7_R solubility, and excellent stability over time.
  • the present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and has the following gist:
  • a coating composition comprising a fluorinated polymer having an ionic resin, an acid and an aqueous solution.
  • the fluoropolymer in the present invention has an ionic gS.
  • Examples of the ionic officer affirmation 3 ⁇ 4S, _CO_ ⁇ _H, - S0 3 H, -OP ( 0) (OH) 2, _N (CH 3) 2, _N (C
  • the fluorinated polymer in the present invention preferably has a polymerized unit having an ionic group “I”.
  • a polymerization unit represented by the following formula 1 or 2 is preferable, and a polymerization unit represented by the following formula 1 is particularly preferable.
  • p represents an integer of 0 to 5
  • q represents the Toru 1 to 5
  • u is 1: an integer of L 0, Z one COOH or a S0 3 H Is shown.
  • CF 2 CF [ ⁇ (CF 2 CF (CF
  • p preferably 0 to 3
  • q is preferably 1 to 3
  • u is preferably 1 to 5.
  • the fluoropolymer in the present invention may contain a polymerized unit of a fluoromonomer other than the above.
  • Preferred examples of the fluorine-containing monomer include the following monomers. .
  • fluorinated polymer in the present invention examples include: [[CF 2 CF (OCF 2 CF 2 CF 2 COOH)]], [CF 2 CF ( ⁇ CF 2 CF (CF 3 ) ⁇ CF 2 CF 2 COOH )]-,-[CF 2 CF (OCF 2 CF (CF 3 ) ⁇ CF 2 CF 2 CF 2 COOH)]-, [CF 2 CF [OCF 2 CF (CF 3 ) ⁇ CF 2 CF 2 S ⁇ 3 H], and a fluoropolymer (X) containing a polymerized unit such as CF 2 CF 2 — is preferred.
  • the fluorinated polymer in the present invention may contain a polymerized unit having an etheric oxygen atom in the fiber.
  • the polymerized unit is preferably the following polymerized unit.
  • fluorinated polymer containing a polymerized unit having a raw oxygen atom of ether I in the main chain of the present invention a commercially available polymer such as a fluorinated polyether having a good ionic property can be used.
  • the weight average amount of the fluoropolymer in the present invention is preferably 50,000 or less because of its excellent water solubility. From the viewpoint of ensuring excellent water solubility even when the concentration of the fluorine-containing polymer in the coating I is high, the weight average weight is preferably 30,000 or less. Further, from the viewpoint of excellent film forming properties when a film is formed using a coating material containing a fluoropolymer, the mass average ⁇ ⁇ is preferably at least 1,000.
  • the method for the fluoropolymer in the present invention is not particularly limited, but the following method (A) or method (B) is preferred.
  • (A) A method of polymerizing a fluorinated monomer having a functional group convertible to an ionic functional group, and then converting the guanine convertible to an ionic functional group to an ionic functional group.
  • (B) A method of polymerizing a fluorine-containing monomer and then introducing an ionic saponit into the polymer.
  • polymerization method there is no particular P-arm, but a polymerization reaction in which a polymerization initiator is added to the above-mentioned fluorine-containing monomer and heated is preferable.
  • a polymerization initiator peroxides, azo compounds and the like are preferable.
  • Preferred peroxides include peroxides, diacyl peroxides, peroxides, peroxyesters and the like.
  • Preferred azo compounds include azonitrils, azoamides, cyclic azoamides, azoamidines and the like.
  • Preferred examples of the polymerization initiator include the following compounds.
  • the peroxyketals include 1,1_bis (t-butylpropyloxy) -1,3,3,5-trimethylcyclohexane, 1,1-bis (t-butylpropyloxy) cyclohexane, n- Petroleum 4, 4-bis (t-butyl, thiol-poxy) Pen, 2, 2-bis (t-butyl propyl) butane, 1, 1-bis (t-hexyloxy) -3, 3, 5 -Trimethylcyclohexane, 1,1-bis (t-hexylperoxy) cyclohexane, 1,1-bis (t-hexylperoxy) cyclododecane, 2,2-bis (4,4-di) t-butyl bromocyclohexyl) propane and the like.
  • disilver oxides include perfluorobutanoyl peroxide, isobutylyl lipoxide, lauroyl peroxide, 3,5,5-trimethylhexanoyl peroxide, succinic acid peroxide, Benzoyl peroxide, octanoyl peroxide, stearoyl peroxide, etc.
  • powdery components are diisopropylpropyl acidite, di-2-ethylhexyloxydicarbonate, di-n-propylpropoxydicarbonate, and di-2-ethyloxysilylba.
  • peroxyesters examples include 1,1,3,3-tetramethylbutyl peroxy decanoate, t-hexyl peroxy neodecanoate, and t-butyl peroxy neode.
  • ammonium persulfate, potassium persulfate and the like are also preferable.
  • the azonitrile include 2,2, -azobis (4-methoxy-2,4-dimethylvaleronitrile), 2,2,1-azobis (2,4-dimethylvaleronitrile), 2,2, azobis (2-methylpropionitol), 2,2'-azobis (2-methylbutyronitrile) ), 1, -azobis (cyclohexane-1-carbonitrile), 1- [1-cyano-1-methylmethyl] azo] formamide (2- (carbamoylazoisobutyronitrile) and the like.
  • azo amides examples include 2,2'-azobis ⁇ 2-methyl- ⁇ — [1,1-bis (hydroxymethyl) -12-hydroxyethyl] propionamide ⁇ and 2,2, azobis ⁇ 2-methyl-1- ⁇ [2- (1-Hydroxybutyl)] 1-propionamide ⁇ , 2,2,1-azopis [2-methylene ⁇ — (2-hydroxyethyl) 1-propionamide], 2,2,1-azobis [ ⁇ — (2 —Propenyl) —2-methylpropionamide] and the like.
  • cyclic azoamides examples include 2,2, -azobis [2- (2-imidazoline_2-yl) propane].
  • azoamidines include 2,2,1-azobis (2-methylpropionamidine) and 2,2′-azobis [ ⁇ - (2-hydroxytechnyl) -12-methylopion pionamidine].
  • azo compound examples include dimethyl 2,2, -azobis (2-methylpropionate) and 4,4'-azobis (4-cyanopen-neutral acid).
  • the amount of the polymerization initiator used is preferably 0.01 to 10 mol% based on the total number of moles of the polymerizable monomer.
  • a chain transfer agent may be used.
  • Preferred chain transfer agents include methanol, ethanol, heptane, ⁇ -hexane, cyclohexane and the like.
  • the amount of the chain transfer agent used in the polymerization reaction is preferably 0.01 to 10 mol% based on the total number of moles of the fluorine-containing monomer.
  • the polymerization reaction it is not necessary to use a test book. When used, it is preferable to carry out the polymerization reaction in a state in which the fluorine-containing monomer is dissolved or dispersed. As the difficulty, ⁇ , fluorine-containing solvent and the like are preferably used.
  • fluorinated solvent examples include 3,3-dichloro-1,1,1,2,2-pentafluorofluoropropane, 1,3-dichloro-1,1,2,2,3-pentafluorofluoropropane, 1,1 , 1 , 2,2,3,3,4,4,5,5,6,6—Tridecafluo hexane and the like are preferred.
  • Examples of the fluorine-containing polymer obtained by the method (A) include the spectacular fluorine-containing polymer (X).
  • Specific examples of the lactone-containing polymer obtained by (B) include the aforementioned fluorinated polymer (Y).
  • the acid in the present invention is not particularly limited, and preferably includes carboxylic acid, sulfonic acid, phosphonic acid, amino acid, aminosulfonic acid and the like.
  • preferable acids include the following acids.
  • carboxylic acids examples include formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid, isobutyric acid, methoxyacetic acid, oxalic acid, malonic acid, succinic acid, lactic acid, linco, adipic acid, and citric acid.
  • sulfonic acids include methanesulfonic acid and dodecylbenzenesulfonic acid.
  • Phosphonic acids include phenylphosphonic acid.
  • Amino acids include alanine, palin, leucine, isoleucine, proline, methionine, glycine, serine, asparagine, glutamine, arginine, threonine, cystine, lysine, aspartic acid, glutamic acid, histidine, N, N-bis (2- Hydroxyethyl) glycine, N- [tris (hydroxymethyl) methyl] glycine, betaine, etc.
  • aminosulfonic acids include sulfamic acid, N- (2-acetamido) 1-2-aminoethanesulfonic acid, N, N— Bis (2-hydroxyethyl) -1-aminoethanesulfonic acid, N-cyclohexyl-13-aminopropanesulfonic acid, N-cyclohexyl-2-hydr Mouth xyl 3-aminopropanesulfonic acid, N-cyclohexyl-2-aminoethanesulfonic acid, 3- [N, N-bis (2-hydroxyethyl) amino] —2-hydroxypropanesulfonic acid, 3- [4- (2-hydroxyethyl) -1-piperazinyl] propanesulfonate, 2- [4- (2-hydroxyethyl) -1-piperazinyl] ethanesulfonic acid, 2-hydroxy-3- [4- (2-hydroxy 1-piperazinyl] propanesulfonate, 2-
  • Sulfuric acid, phosphoric acid and the like are also preferably mentioned as the acid.
  • the coating composition of the present invention comprises an aqueous Jardin Since the fluoropolymer in the present invention has excellent water solubility and excellent affinity for water, only 7j # is preferred. However, an organic solvent may be contained in «* JW as an aqueous type». As the organic solvent, alcohols such as methanol, ethanol, isopropyl alcohol, 2-butanol and hexylene glycol are preferred.
  • the content of the fluoropolymer in the coating product of the present invention is not particularly limited as long as it is within a range in which the fluoropolymer dissolves.
  • the content is such that an antireflection film having a desired thickness can be formed at the time of coating. Just set it.
  • the content of the fluoropolymer is preferably from 0.1 to 10% by mass, particularly preferably from! To 5% by mass in the coating composition.
  • the content of the acid in the coating composition is not particularly limited as long as it is within a range in which the fluoropolymer is dissolved.
  • the acid content is not more than the content of the fluoropolymer.
  • the content of the acid is preferably 20% by mass or less, more preferably 10% by mass or less based on the polymer. In the present invention, even if the acid content is small, Can contribute.
  • the content of the aqueous solution in the coated matter is not particularly limited as long as the fluoropolymer and are in an aqueous solution.
  • the content of the raw water 1 is preferably 90 to 99.9% by mass, more preferably 95 to 99% by mass in the coating composition.
  • the coating composition of the present invention may contain various functional additives depending on the application.
  • a water-soluble polymer other than the fluoropolymer of the present invention may be included for the purpose of improving film forming properties.
  • a surfactant or the like may be included for the purpose of improving the wettability and leveling property with respect to the photoresist layer, and a base may be included for the purpose of relaxing intermix with the photoresist layer.
  • Preferred examples of the water-soluble polymers include polyvinylpyrrolidone, polyacrylic acid, and polyvinyl alcohol.
  • the surfactant include compounds having a polyfluoroalkyl group and a polyxylene group (3M3 ⁇ 43 ⁇ 4, Florad “FC_430”, “FC_440”, etc.), acetylene glycol And compounds to which polyoxyethylene has been added (Air Products IIS, “Surfinol 104”, “Surfinol 420”), compounds containing hydroxyl groups and not containing polyoxyethylene groups (polyglycerol esters, etc.) ) And the like.
  • Preferred examples of the base include tetramethylammonium hydroxide and trimethyl-1-hydroxyethylammonium hydroxide.
  • an antireflection film for a photoresist is preferable.
  • a photo-resist layer for forming an anti-reflection itm formed on the surface of the photoresist layer using the coating composition of the present invention is preferred.
  • coating using a spin coating method is preferable because of excellent uniformity and ease of use.
  • the drying conditions in the case of a hot plate, it is preferable that the temperature is 70 to 100 ° C for 30 to 180 seconds.
  • the thickness of the anti-reflection film may be set according to the anti-reflection theory of ⁇ , and it should be an odd multiple of “(exposure wavelength) / (4 ⁇ refractive index of anti-reflection film)” to have excellent anti-reflection performance To preferred.
  • an antireflection film of a photoresist layer is formed using the coating composition of the present invention, there is no restriction on the photoresist to be used, and for g-line, i-line, KrF, ArF, etc. It can be applied to each photoresist for excimer laser.
  • the coating waste of the present invention contains an acid.
  • the water-soluble property of the fluoropolymer is improved by the coating with a small amount of acid, and the stability over time is improved.
  • An anti-reflection film was formed on the surface of a silicon wafer by a spin coating method using the coating composition for an advisory surface, and the refractive index and thickness of the anti-reflection film were measured using an ellipsometer.
  • the silicon wafer is placed in a hexamethylsilazane atmosphere for 5 minutes, and the surface of the silicon wafer is treated, and a photoresist “THMR_iP1700” (spinning ⁇ ) is applied to the surface by spin coating. Then, the film was dried on a hot plate at 90 ° C. for 90 seconds to form a photoresist layer having a film thickness of 1.
  • the surface of the photoresist layer is coated with a coating material for advisory surface by spin coating. And dried on a hot plate at 90 ° for 60 seconds to form an anti-reflection film.
  • the spin coating conditions at this time were the same as those in Evaluation 1 above.
  • the surface of the obtained anti-reflection film was exposed to i-line (365 nm) through a test pattern, and then baked (Post Exposure Bake). Then, paddle development was performed for 65 seconds using a developing solution (2.38% by mass of tetramethylammonium hydroxide aqueous solution), followed by rinsing using hot water to form a photoresist pattern. A sample was obtained, and the obtained sample was observed with a microfiber to check whether the antireflection film was sufficiently removed during development.
  • CVE CFOCF 2 CF 2 CF 2 COOCH 3
  • diisopropylpropyl peroxydicarbonate Of 5.30 g
  • the autoclave was heated to an internal temperature of 40 ° C, and stirred at 4.0 ° C for 12 hours to perform a polymerization reaction.
  • unreacted CVE was distilled off to obtain 470 g of a CVE fluoropolymer.
  • the mass average molecular weight of the fluoropolymer measured by GPC was 5 ⁇ 10 3 .
  • HCFC and unreacted CVE were distilled off to obtain 102 g of a CVE / TFE fluoropolymer.
  • the mass average ⁇ T amount of the fluoropolymer was 4 ⁇ 10 3 , and the ratio of CVEZTFE was 2.6.
  • methanesulfonic acid was used in place of acetic acid: In the same manner as in Example 1, an aqueous solution having a nonvolatile content of 30% by mass was obtained.
  • Example 2 To 100 g of the water at night obtained in Example 1, 30 g of 25% by mass of tetramethylammonium hydroxide hydrofoil at night was diluted with water to promote non-volatile separation of 3 mass% and pH of 2 A water solution was prepared.
  • Example 1 The aqueous solution obtained in Example 1 was adjusted to 3% by mass in non-volatile content using water, and then polytetrafluoroethylene (PTFE) capable of removing 0.1 m particles ⁇ " Filtration was performed using a filter to obtain a coating composition for evaluation, and evaluation 1 and evaluation 2 were performed using the obtained composition, and as a result, the refractive index was 1.36. However, the thickness of the film was 6 On m, and the anti-reflection film was completely formed during the development of the photoresist.This fiber did not show any blemishes after storage for one year, and had good temporal stability.
  • PTFE polytetrafluoroethylene
  • the dragon was carried out on the aqueous solution obtained in Example 3 in the same manner as in Example 4.
  • the refractive index was 1.40
  • the thickness of the film was 63 nm
  • the antireflection film was completely formed during photoresist development.
  • this product did not show any «after storage for one year, and had good temporal stability.
  • Example 2 Water was added to the fluorinated polymer obtained in Example 1 and the mixture was adjusted to 90, and then the methyl ester group derived from CVE was hydrolyzed at 90 ° C. for 5 hours. Next, the nonvolatile matter? The boat encouraged water to reach 30% and ran up to 9 o after 1 hour, but 7 solution did not form and The fluoropolymer was in a separated state.
  • the coating composition of the present invention can form an antireflection film having a refractive index of less than 1.4. Because of its excellent water solubility and stability over time, antireflection can be formed without using an organic solvent, making it suitable for use in clean rooms. Further, the antireflection film formed by using the thread waste can be completely removed at the time of developing the photoresist, and is excellent in handling “I” in the photolithography process.

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Abstract

1.4より小さい屈折率を有する反射防止膜を形成でき、水溶性およびその経時安定性に優れるコーティング組成物の提供。イオン性官能基を有する含フッ素重合体(たとえば、−CF2CF[O(CF2)3COOH]−の重合単位を有する含フッ素重合体)、酸および水性媒体を含むコーティング組成物。

Description

コ一ティング組成物、 反射防止膜、 フォトレジス卜およびそれを用いたパターン形成方法 賺分野
本発明は、 コーティング組成物に関する。 詳しくは、 反射防止膜を形成するコーティン 細 1
グ滅物に関する。
書 背景麵
フォトリソグラフィによってフォトレジストのパターンを形成する際、 露光時にフォト レジスト層と勘才との境界面およびフォトレジスト層表面で反射する光が干渉すると、 パ 夕一ンの寸法精度を低下させる。 この反射光を低 -Tる目的で、 これまでにフオトレジス ト層表面〖こ反射防止膜を形成する方法力 ¾討されてきた。 反射防止膜またはそれを形成す るコーティング «物としては、 に以下の性能を 「することが望ましいとされている
( 1 ) 反射防止に関する公知の理論により、 反射防止膜の屈折率がフォトレジストの屈 折率の平方根に等しい場合に反射防 果が最大になることがわかっている。 Η¾的なフ オトレジストの屈折率が 1. 6〜1. 8であることから、 反射防止膜の屈折率は 1. 4以 下が望ましい。
(2) クリーンルーム内で有機溶媒を使用しなくて済み、 安全性の確保と環境汚染を回 避する観点から、 コーティング誠幅お Κ溶液であることが望ましい。 また、 製品として 実際の使用に供するためには、 数ケ月以上水溶液の状態を維持できること、 すなわち経時 安定 Ί生を することか ^ましい。
しかし、 魏のコ一ティング繊物 (例えば、 特開平 1 1— 1 2 4 5 3 1号公報参照。 ) は、 ¾ί本として水に加えてメタノールを含む場合があり、 クリーンルーム内での使用に おいて必ずしも充分満足できるものではなかった。 また、 力ルポキシル基を含 る重合 体を用いた のコーティング組成物の場合には、 アンモニア、 テトラメチルアンモニゥ ムヒドロキシド等を用いてアンモニゥム塩化することにより中和して、 重合体に水溶性を 付与していた。 これらの中和された力ルポキシル基含有重合体は、 した直後〖こは充分 な水溶性を有していても、 経時的に凝集することがあり実用化は困難であった。 発明の開示
本発明は、 1. 4より小さい屈折率を^ Tる反射防止膜を形成でき、 7_R溶性に優れ、 そ の経時的安定性にも優れるコーティング $1 ^物を ί是供することを目的とする。
本発明は、 前述の課題を解決すべくなされたものであり、 下記の要旨を: る。
(1) イオン性官倉 を る含フッ素重合体、 酸および水性 »:を含^ ることを とするコ一ティング組成物。
(2) 爾己含フッ素重合体が、 下式 1で表される重合単位を含 ¾ る重合体である上記 (
1) に記載のコーティング 物。
一 CF2 CF [O (CF2 CF (CF3 ) 〇) p (CF2;) 。 Z] — · · ·式 1 ただし、 式 1において、 pは 0〜5の整数を示し、 qは:!〜 5の整数を示し、 Zは— C
OOHまたは— S03 Hを示す。
(3) 前記酸が、 カルボン酸、 スルホン酸、 ホスホン酸、 アミノ酸またはアミノスルホン 酸である、 上記 (1) または (2) に記載のコーティング組成物。
(4) 前記含フッ素重合体が、 —CF2CF2—の重合単位を含^ る重合体である上記 ( 1 ) 、 (2) または ( 3 ) に記載のコーティング組成物。
(5) 前記水性 »:が水である上記 (1) 〜 (4) のいずれかに記載のコーティング糸滅 物。
(6) 上記 (1) ~ (5) のいずれかに記載のコーティング S ^物を用いて形成された反 射防止膜。 (7) 上記 (6) に記載の反射防止膜を有するフォトレジスト。
(8) 上記 (7) に記載のフォトレジストを用いたフォトリソグラフィによるパターン形 法。 発明を実 るために最良の形態
本発明における含フッ素重合体は、 イオン性官肯 gSを有する。 該イオン性官肯 ¾Sとして は、 _CO〇H、 — S03 H、 -OP (=0) (OH) 2 、 _N (CH3 ) 2 、 _N (C
2 H5 ) 2 、 一 N+ (CH3 ) 3 C 1—等が挙げられる。 なかでも、 一COOH、 一SO a H、 一 OP (=〇) (OH) 2等の酸型官倉 が好ましく、 特に一 C〇OH、 -S03 Hが'好ましい。
本発明における含フッ素重合体としては、 イオン' I生官倉 g基を有する重合単位を有するこ とが好ましい。 該重合単位としては、 下式 1または下式 2で表される重合単位が好ましく 、 特に下式 1で表される重合単位が好ましい。
一 CF2 CF [O (CF2 CF (CF3 ) O) p (CF2 ) q Z] - 式 1 一 CF2 CF [ (CF2 ) u Z] - 式 2
ただし、 式 1または式 2において、 pは 0〜5の整数を示し、 qは 1〜5の徹を示し 、 uは 1〜: L 0の整数を示し、 Zは一 COOHまたは一 S03 Hを示す。
該重合単位を形成する含フッ素単量体としては、 CF2 =CF [〇 (CF2 CF (CF
3 ) O) p (CF2 ) q Z] 、 CF2 =CF [ (CF2 ) u Z]等が好ましく挙げられる 。 該単量体において、 pは 0〜3が、好ましく、 qは 1〜3が好ましく、 uは 1〜5が好ま しい。
本発明における含フッ素重合体は、 上記以外の含フッ素単量体の重合単位を含有してい てもよい。 該含フッ素単量体としては下記単量体が好ましく挙げられる。 .
CF2 =CF2 、 CF2 =CFCF3 、 CF2 =CFCF2 CF3 、 CF2 =CF (C F2 ) k 、 CF2 =CH2 、 CF3 CH2 =CH (CF2 ) k CF3 、 CH2 =CH [ ( CF2 ) k CF3 ] 、 CH2 =CH [CH2 (CF2 ) k CF3 ] 、 CH2 =CHCH2
(CF2 ) k CF3 、 CF2 =CF [O (CF) k CF3 ] 、 CF2 =CF [OCH2 ( CF2 ) k CF3 (ただし、 kは 1〜10の難を示す。 ) 等。 特に、 CF2 =CF2 、 CF2 =CFCF3等が、好ましい。
本発明における含フッ素重合体の具体例としては、 ― [CF2 CF (OCF2 CF2 C F2 COOH) ] ―、 一 [CF2 CF (〇CF2 CF (CF3 ) 〇CF2 CF2 COOH ) ] —、 ― [CF2 CF (OCF2 CF (CF3 ) 〇CF2 CF2 CF2 COOH) ] - 、 一 [CF2 CF [OCF2 CF (CF3 ) 〇CF2 CF2 S〇3 H] ―、 一 CF2 CF 2—等の重合単位を含 フッ素重合体(X) が好ましい。
本発明における含フッ素重合体は、 纖にエーテル性の酸素原子を "る重合単位を含 有していてもよい。 その場合は、 該重合単位としては、 下記の重合単位が好ましい。
― CF2 CF (CF3 ) 〇_、 一 (CF2 ) t 〇一、 一 CF (CF3 ) CF2 O— (た だし、 tは 1〜3の匿を示す。 ) 等。
本発明における上記主鎖にエーテル I生の酸素原子を有する重合単位を含有する含フッ素 重合体としては、 ィオン性官肯謹を衬る含フッ素ポリエーテル等の市販の重合体も使用 できる。 たとえば、 ァウジモントネ環 「PT_5045」 [ (HO) 2 P (=〇) O-C H2 CH2 OCH2 CF2〇 (CF2 CF2 O) h (CF2〇) m CF2 OCH2 CH2 -OP (=〇) (OH) 2 ] 、 デュポン 「Krytoxl 57FSL (^f»250 0) 」 [F [CF (CF3 ) CF2 O] n CF (CF3 ) COOH] 等の含フッ素重合体
(Y) が好ましく挙げられる。
本発明における含フッ素重合体の質量平均^量は、 水溶性に優れることから 5万以下 が好ましい。 コ一ティング I誠物における含フッ素重合体の濃度力稿い場合でも優れた水 溶性を確保する観点からは、 質量平均 量は 3万以下が好ましい。 また、 含フッ素重合 体を含むコーティング誠物を用いて膜を形 る場合の造膜性に優れる観点からは、 質 量平均 ί ^は 1千以上が好ましい。 本発明における含フッ素重合体の 方法としては、 特に限定はないが、 以下の方法 ( A) または方法 (B) が好ましく挙げられる。
(A) イオン性官倉 に変換可能な官能基を る含フッ素単量体を重合した後、 ィォ ン性官能基に変換可能な官肯 をイオン性官能基に変換する方法。
(B)含フッ素単量体を重合した後、 該重合体の にイオン性官食 を導入する方法 方法 (A) の例としては、 CF2 =CF [O (CF2 CF (CF3 ) O) p (CF2 ) g COOCH3 ] (p、 qは l己と同じ意味を示す。 ) または CF2 =CF [ (CF2 ) u COOCH3 ] (uは嫌己と同じ意味を示す。 ) を重合した後、 一 C〇OCH3部分を 加水 する方法、 CF2 =CF [O (CF2 CF (CF3 ) O) p (CF2 ) g S02 F] (p、 qは前記と同じ意味を示す。 ) または CF2 =CF [ (CF2 ) u S〇2 F]
(uは前記と同じ意味を示す。 ) を重合した後、 _S〇2 F部分を加水分解する方法等が 好ましい。
重合方法としては、 特に P腕はないが、 上記含フッ素単量体に重合開始剤を加えて加熱 する重合反応が好ましい。 重合開始剤としては、 過酸化物、 ァゾ化合物等が好ましい。 過 酸化物としては、 パ一ォキシケ夕一ル類、 ジァシルパーォキシド類、 パ一ォキシ力一ポネ ート類、 パーォキシエステル類等が好ましく挙げられる。 ァゾ化合物としては、 ァゾニト リル類、 ァゾアミド類、 環状ァゾアミド類、 ァゾアミジン類等が好ましく挙げられる。 重合開始剤の具体例としては、 以下の化合物が好ましく挙げられる。
パーォキシケタール類としては、 1, 1_ビス (t—プチルパ一ォキシ) 一 3, 3, 5 ートリメチルシクロへキサン、 1, 1—ビス (t—プチルパ一ォキシ) シクロへキサン、 n -プチルー 4, 4—ビス (tーブ、チルバ一ォキシ) ペン夕ノエ一卜、 2, 2—ビス (t 一プチルパーォキシ) ブタン、 1, 1一ビス ( t一へキシルバーォキシ) -3, 3, 5- 卜リメチルシクロへキサン、 1, 1一ビス ( t一へキシルパ一ォキシ) シクロへキサン、 1, 1一ビス ( t—へキシルパ一ォキシ) シクロドデカン、 2, 2—ビス (4, 4—ジー t—ブチルバーォキシシクロへキシル) プロパン等。
ジァシルバーォキシド類としては、 パ一フルォロブタノィルパーォキシド、 イソブチリ ルパ一ォキシド、 ラウロイルパーォキシド、 3 , 5, 5—トリメチルへキサノィルパ一ォ キシド、 スクシニックアシッドパーォキシド、 ベンゾィルパ一ォキシド、 ォクタノィルパ ーォキシド、 ステアロイルパーォキシド等。
パ一ォキシジ力一ポネ一卜類としては、 ジィソプロピルパ一ォキシジ力一ポネ一卜、 ジ ― 2—ェチルへキシルパ一ォキシジカーポネ一卜、 ジー n _プロピルパ一ォキシジカーボ ネート、 ジ一 2—ェ卜キシェチルバ一ォキシジカーボネー卜、 ジ一 3—メ卜キシブチルパ —ォキシジカーボネート、 ビス— (4 _ t _プチルシクロへキシル) パ一ォキシジカーボ ネー卜等。
パーォキシエステル類としては、 1 , 1 , 3, 3—亍トラメチルブチルパー才キシネ才 デカノエート、 t—へキシレパーォキシネオデカノエート、 t -ブチルパーォキシネオデ 力ノエ一卜、 t _へキシルパ一ォキシピバレート、 t一プチルパーォキシピバレ一ト、 1 , 1, 3, 3—テ卜ラメチルプチルパーォキシ _ 2—ェチルへキサノエ一卜、 t—へキシ ルパ一才キシー 2—ェチルへキサノエ一卜、 t一ブチルパーォキシ一 2一ェチルへキサノ ェ一ト、 t一ブチルパーォキシィソブチレ一卜、 t—ブチルパーォキシラウレー卜、 t一 プチルパーォキシ 3, 5 , 5—卜リメチルへキサノエ一ト、 t _へキシルパ一ォキシイソ プロピルモノ力一ポネート、 t一プチルパ一ォキシイソプロピルカーボネート、 2 , 5— ジメチルー 2, 5—ビス (ベンゾィルパ一ォキシ) へキサン、 t—ブチルパーォキシァセ テート、 ビス一 t一ブチルパーォキシィソフ夕レート等。
過酸化物として他には、 過硫酸アンモニゥム、 過硫酸カリウム等も好ましく挙げられる ァゾニトリル類としては、 2, 2, —ァゾビス (4—メトキシ— 2 , 4—ジメチルバレ ロニトリル) 、 2 , 2, 一ァゾビス (2 , 4—ジメチルバレロニトリル) 、 2, 2, ーァ ゾビス ( 2—メチルプロピオ二卜リル) 、 2 , 2 ' —ァゾビス (2—メチルプチロニトリ ル) 、 1, —ァゾビス (シクロへキサン— 1—カルボ二トリル) 、 1— [1—シァノ —1—メチルェチル] ァゾ] ホルムアミド (2— (カルバモイルァソ イソプチロニトリ ル) 等。
ァゾアミド類としては、 2, 2' —ァゾビス {2—メチルー Ν— [1, 1一ビス (ヒド 口キシメチル) 一2—ヒドロキシェチル] プロピオナミド} 、 2, 2, ーァゾビス {2- メチル一 Ν— [2- (1—ヒドロキシブチル) ] 一プロピオナミド} 、 2, 2, 一ァゾピ ス [2—メチレー Ν— (2—ヒドロキシェチル) 一プロピオナミド] 、 2, 2, 一ァゾビ ス [Ν— (2—プロぺニル) —2—メチルプロピオナミド] 等。
環状ァゾアミド類としては、 2, 2, ーァゾビス [2— (2—イミダゾリン _ 2—ィル ) プロパン] 等。 ァゾアミジン類としては、 2, 2, 一ァゾビス (2—メチルプロピオナ ミジン) 、 2, 2' —ァゾビス [Ν- (2—ヒドロキシ工チル) 一 2—メチループ口ピオ ナミジン] 等。
ァゾ化合物として他には、 ジメチル 2, 2, —ァゾビス (2—メチルプロピオネート) 、 4, 4' —ァゾビス (4—シァノペン夕ノイツクアシッド) 等も好ましく挙げられる。 重合開始剤の使用量は、 重合性単量体のモル数の合計に対して 0. 01〜10モル%で あることが好ましい。
また、 重合反応においては、 連鎖移動剤を用いてもよい。 好ましい連鎖移動剤としては 、 メタノール、 エタノール、 ヘプタン、 η一へキサン、 シクロへキサン等が挙げられる。 重合反応に使用する連鎖移動剤の使用量は、 含フッ素単量体のモル数の合計に対して 0. 01〜10モル%であることが好ましい。
重合反応においては、 謝本を使用してもよぐ 麵しなくてもよい。 使用する場合には 、 含フッ素単量体が謝本に溶解した状態または分散した状態で重合反応を行うのが好まし い。 難としては、 τΚ、 含フッ素溶剤等が好ましく用いられる。
含フッ素溶剤としては、 3, 3—ジクロロー 1, 1, 1, 2, 2—ペン夕フルォロプロ パン、 1, 3—ジクロ口一 1, 1, 2, 2, 3—ペン夕フルォロプロパン、 1, 1, 1 , 2, 2, 3 , 3, 4, 4, 5, 5, 6 , 6—トリデカフルォ口へキサン等が好ましく挙 げられる。
方法 (A) により得られる含フッ素重合体としては、 謙己含フッ素重合体 (X) が挙げ られる。
本発明における含フッ素重合体を M3tする方法 (B) の例としては、 C F 3 C F = C F 2 または C F 2 =C F2 に紫外線を照射して酸素酸化により重合した後、 得られた含フッ 素ポリエーテルの末端基を一 COOHまたは _ S 03 H等に変換する方法、 へキサフルォ 口プロピレンォキシドをフッ化物イオンにより重合した後、 末端基を一 C OOHに変換す る方?縛が好ましい。 (B) により得られる含ラッ素重合体の具体例としては、 前 記含フッ素重合体 (Y) が挙げられる。
本発明における酸としては、 特に限定されず、 カルボン酸、 スルホン酸、 ホスホン酸、 アミノ酸、 アミノスルホン酸等が好ましく挙げられる。 好ましい酸の具体例としては、 以 下の酸が挙げられる。
カルボン酸としては、 ギ酸、 酢酸、 プロピオン酸、 酪酸、 イソ酪酸、 メトキシ酢酸、 シ ユウ酸、 マロン酸、 コハク酸、 乳酸、 リンコ ¾、 アジピン酸、 クェン酸等。 スルホン酸と しては、 メタンスルホン酸、 ドデシルベンゼンスルホン酸等。 ホスホン酸としては、 フエ ニルホスホン酸等。
アミノ酸としては、 ァラニン、 パリン、 ロイシン、 イソロイシン、 プロリン、 メチォ二 ン、 グリシン、 セリン、 ァスパラギン、 グルタミン、 アルギニン、 トレオニン、 システィ ン、 リシン、 ァスパラギン酸、 グルタミン酸、 ヒスチジン、 N, N—ビス (2—ヒドロキ シェチル) グリシン、 N— [トリス (ヒドロキシメチル) メチル] グリシン、 ベタイン等 アミノスルホン酸としては、 スルファミン酸、 N— (2—ァセ夕ミド) 一2—アミノエ タンスルホン酸、 N, N—ビス (2—ヒドロキシェチレ) 一 2—アミノエタンスルホン酸 、 N—シクロへキシル一3—ァミノプロパンスルホン酸、 N—シクロへキシルー 2—ヒド 口キシー 3—ァミノプロパンスルホン酸、 N—シクロへキシルー 2一アミノエタンスルホ ン酸、 3 - [N, N—ビス (2—ヒドロキシェチル) ァミノ] —2—ヒドロキシプロパン スルホン酸、 3— [4— (2—ヒドロキシェチル) 一 1ーピペラジニル] プロパンスルホ ン酸、 2 - [4 - (2—ヒドロキシェチル) 一 1ーピペラジニル] エタンスルホン酸、 2 ーヒドロキシー 3— [4— (2—ヒドロキシェチル) 一 1ーピペラジニル] プロパンスル ホン酸、 2—モルホリノエタンスルホン酸、 3—モルホリノプロパンスルホン酸、 2—ヒ ドロキシ一3—モルホリノプロパンスレホン酸、 ピぺラジン一 1 , 4一ビス (2—ェタン スルホン酸) 、 N—トリス (ヒドロキシメチル) メチルー 3—ァミノプロパンスルホン酸 、 2—ヒドロキシー N—トリス (ヒドロキシメチル) メチルー 3—ァミノプロパンスルホ ン酸、 N—トリス (ヒドロキシメチル) メチルー 2—アミノエ夕ンスルホン酸等。
酸として他には、 硫酸、 リン酸等も好ましく挙げられる。
本発明のコーティング組成物は水性 »を含む。 本発明における含フッ素重合体は、 水 溶性に優れ、 水への親和性に優れるため、 7j #»として のみが好ましい。 ただし、 水性 »として «*JWに有機溶剤を含んでいてもよい。 有機溶剤としては、 メタノール 、 エタノール、 イソプロピルアルコール、 2—ブ夕ノール、 へキシレンダリコール等のァ ルコール類が好ましい。
本発明のコーティング «物における、 含フッ素重合体の含有量は、 含フッ素重合体が 溶解する範囲内であれば特に限定されず、 コーティング時に所望の厚さの反射防止膜が形 成できるように設定すればよい。 含フッ素重合体の含有量は、 コーティング組成物におい て 0. 1 ~ 1 0質量%が好ましく、 特に;!〜 5質量%が好ましい。
また、 コ一ティング組成物における酸の含有量は、 含フッ素重合体が溶解する範囲内で あれば特に限定されない。 ただし、 コーティング滅物を用いて形成した膜の屈折率を小 さくする観点から、 酸の含有量は、 含フッ素重合体の含有量以下〖こすることが好ましい。 酸の含有量としては、 重合体に対して 2 0質量%以下が好ましく、 1 0質量%以下がより 好ましい。 本発明においては、 酸の含有量は少なくても、 コーティング糸滅物の水溶性に 寄与できる。
また、 コーティング滅物における水性謝本の含有量は、 含フッ素重合体および が水 溶液の状態にあれば特に限定されない。 水' 1生 ®ί本の含有量は、 コーティング組成物におい て 9 0〜 9 9. 9質量%が好ましく、 9 5〜 9 9質量%がより好ましい。
本発明のコーティング組成物は、 用途により各種機能性添加剤を含んでいてもよい。 特 に、 半^:フォトレジストの表面における反射防止の目的で使用する場合には、 造膜性を 向上させる目的で本発明における含フッ素重合体以外の水溶性ポリマー類を含ませてもよ く、 フォトレジスト層に対する濡れ性およびレべリング性を向上させる目的で界面活性剤 等を含ませてもよく、 フォトレジスト層とのインターミックスを緩和する目的で塩基を含 有させてもよい。
上記水溶性ポリマー類としては、 ポリビニルピロリドン、 ポリアクリル酸、 ポリビニル アルコール等が好ましく挙げられる。 界面活性剤としては、 ポリフルォロアルキル基とポ リ才キシエチレン基を^ Τる化合物 (3 M¾¾、 フロラード 「F C _ 4 3 0」 、 「F C— 4 4 3 0」 等) 、 アセチレングリコ一ルおよびそれにポリオキシエチレンを付加した化合 物 (エアープロダクツ ¾S、 「サーフィノール 1 0 4」 、 「サーフィノール 4 2 0」 ) 、 水酸基を含みポリオキシエチレン基を含まない化合物 (ポリグリセリン脂薩エステル等 ) 等が好ましく挙げられる。 塩基としては、 テトラメチルアンモニゥムヒドロキシド、 ト リメチル一 2—ヒドロキシェチルアンモニゥムヒドロキシド等が好ましく挙げられる。 本発明のコーティング組成物の用途としては、 フォトレジスト用の反射防止膜が好まし い。 また、 フォトレジストを用いたフォトリソグラフィによってパターンを形成するにあ たり、 フォトレジス卜層の表面に本発明のコ一ティング組成物を用いて形成された反射防 itmを Wするフォ卜レジス卜層を使用するのが好ましい。
本発明のコーティング I滅物を用いて反射防止膜を形 る方法としては、 讓の均一 性、 簡便性に優れることから、 スピンコート法を用いた塗工が好ましい。 また、 塗工後に 水性媒体を除去する目的で、 ホットプレート、 オープン等により乾燥を行うことが好まし レ^ 乾燥条件としては、 ホットプレートの場合、 7 0〜: 1 0 0°Cで 3 0〜1 8 0秒間が好 ましい。
反射防止膜の厚さは、 么 の反射防止理論によって設^ればよく、 「 (露光波長) / (4 X反射防止膜の屈折率) 」 の奇数倍とすることが 反射防止性能に優れることから 好ましい。
本発明のコ一ティング組成物を用いてフォトレジスト層の反射防止膜を形成する場合、 対象となるフォトレジストについての制限はなく、 g線用、 i線用、 K r F、 A r F等の エキシマレーザ用の各フォトレジス卜に適用できる。
本発明のコ一ティング糸滅物は、 酸を含むことが重要である。 本発明のコーティング組 成物は、 少量の酸の被により、 含フッ素重合体の水溶性が向上し、 その経時安定性が向 上する。
実施例
以下、 合成例 (例:!〜 4) 、 実施例 (例 5〜8 ) 、 比較例 (例 9 ) を挙げて本発明を具 体的に説明するが、 本発明はこれらに腕されない。 なお、 実施例における龍は以下の 方法を用いて行った。
w i :膜の屈折率および厚さの
諮面用のコーティング組成物を用いて、 スピンコート法によりシリコンウェハの表面に 反射防止膜を形成し、 該反射防止膜の屈折率および厚さをエリプソメ一夕を用いて測定し た。
[評価 2 :フォトレジスト現像時における膜の除去特性の ffi]
シリコンウェハをへキサメチルシラザン雰囲気中に 5分間置レ rシリコンウェハの表面 を処理し、 その表面にフォトレジスト 「THMR_ i P 1 7 0 0 (棘応化 ¾ ) 」 をス ピンコート法により塗布して、 ホットプレート上で 9 0でにて 9 0秒間乾燥させて膜厚 1 のフォトレジス卜層を形成した。
次に、 該フォトレジスト層の表面に諮面用のコーティング滅物をスピンコート法によ り塗布し、 ホットプレート上で 90 にて 60秒間乾燥させて反射防止膜を形成した。 こ のときのスピンコートの条件は、 上記評価 1と同じ条件とした。
得られた反射防止膜の表面を、 テストパターンを介して i線 (365nm) を用いて露 光した後べーク (Pos t Exposure Bake) を行った。 そして、 現像液 ( 2. 38質量%のテトラメチルアンモニゥムヒドロキシド水溶 を用いて 65秒間パド ル現像を行った後、 趣屯水を用いてリンスを行い、 フォトレジストのパターンが形成され たサンプルを得た。 得られたサンプルについて顕纖観察を行い、 現像時に反射防止膜が 充分に除去されたか否かを籠した。
[Ml]
付き 1 · 3 Lォ一トクレーブの系内の空気を窒素で置換後、 CF2 =CFOCF 2 CF2 CF2 COOCH3 (以下、 CVEと記す。 ) の 1. 18kgおよびジイソプロ ピルパーォキシジカーボネートの 5. 30gを仕込み、 窒素により内圧を 0. IMP aと した。 オートクレ一ブを加熱して内温を 40 °Cとし、 4· 0°Cにて 12時間撹拌して重合反 応を行った。 灘終了後、 未反応の CVEを留去して、 CVEの含フッ素重合体の 470 gを得た。 該含フッ素重合体の質量平均分子量を GP C法で測定したところ 5 X 103 であった。
得られた含フッ素重合体に水を加えて 90°Cまで昇温後、 90でにて 5時間撹拌して C VE由来のメチルエステル基の加水 を行った。 次に、 酢酸の 10 gを加えて 90° まで帮显後、 1時間辦して、 水を加えて不揮発分濃度が 30質量%の水溶液を得た。
[例 2]
ίΙΜ付き 1. 3 Lオートクレーブの系内の空気を窒素で置換後、 CVEの 640g、 テトラフルォロエチレン (以下、 TFEと記す。 ) の 34g、 へキサンの 2. 4g、 ジィ ソプロピルパーォキシジカーボネートの 2. 0g、 ペン夕フルォロジクロ口プロパン (以 下、 HCFCと記す。 ;) の 300 gを仕込み、 65でに昇温して TFEの 22 gを逐次添 加しながら重合反応を行った。 8時間 »したところ圧力の低下が観察されなくなつたの で、 室温まで Ϋ御して TFEをパージした。 HCFCおよび未反応の CVEを留去して、 CVE/TFEの含フッ素重合体の 102 gを得た。 該含フッ素重合体の質量平均^ T量 は 4X103 、 CVEZTFEの比は 2. 6であった。
得られた含フッ素重合体について、 酢酸の代わりにメタンスルホン酸を用いる:!^は例 1と同様にして、 不揮発分濃度が 30質量%の水溶液を得た。
[例 3]
例 1で得られた水額夜の 100 gに 25質量%のテトラメチルアンモニゥムヒドロキシ ド水嶽夜の 30gを勵ロ後、 水で希釈して、 不揮発分離が 3質量%、 pHが 2. 0の水 溶液を調製した。
[例 4]
例 1で得られた水溶液を、 钃屯水を用いて不揮発分 が 3質量%となるように調製し た後、 0. 1 m粒子を ^"去可能なポリテトラフルォロエチレン (PTFE) フィルタを 用いてろ過を行い、 評価用のコーティング組成物を得た。 得られた組成物を用いて、 前記 評価 1および評 ί面 2を実施した。 その結果、 屈折率は 1. 36であり、 膜の厚さは 6 On mであり、 反射防止膜はフオトレジスト現像時に完全に できた。 この繊物は 1年間 貯蔵後も が認められず、 良好な経時安定性を有していた。
[例 5]
例 3で得られた水溶液について、 例 4と同様にして龍を実施した。 その結果、 屈折率 は 1. 40であり、 膜の厚さは 63 nmであり、 反射防止膜はフォトレジスト現像時に完 全に^ ¾できた。 また、 この «物は 1年間貯蔵後も «が認められず、 良好な経時安定 性を有していた。
[例 6]
例 1で得られた含フッ素重合体に水を加えて 90でまで帮显後、 90°Cにて 5時間 , して CVE由来のメチルエステル基の加水 を行った。 次に、 不揮発分?艘が 30%と なるように水を勵口して、 9 o まで帮显後 1時間 ϋ したが、 7溶液は生成せず、 水と 含フッ素重合体は分離した状態であった。
[例 7 ]
例 1で得られた含フッ素重合体の 3 0 gに水の 6 0 gを加えて 9 0でまで昇温後、 9 0 °Cにて 5時間勝して CVE由来のメチルエステル基の加水 を行った。 次に、 不揮発 分濃度が 3 0質量%となるように水を添加して、 9 0 まで昇温後 1時間辦し、 その後 、 2 5質量%のテトラメチ Jレアンモニゥムヒドロキシド水溶液の 3 0 gを添加後、 水で希 釈して、 不揮発分«が 3質量%、 ρΗが 2. 0の水溶液を調製した。 この繊物は 1年 間貯蔵後凝集が認められ 実用において問題のあることが判明した。 産業上の利用可能性
本発明のコーティング組成物は、 1. 4より小さい屈折率を有する反射防止膜を形成で きる。 滅物は水溶性、 および、 その経時安定性に優れるため、 有機溶剤を使用しなく ても、 反射防 を形成でき、 クリーンルーム内での賤に適する。 また、 該糸滅物を用 いて形成した反射防止膜は、 フォトレジスト現像時に完全に 1«でき、 フォトリソグラフ ィ工程での取扱い' I'生に優れる。

Claims

請 求 の 範 囲
1. イオン性官能基を ¾ る含フッ素重合体、 酸および水性 »を含^ ることを mと するコーティング組成物。
2. 前記含フッ素重合体が、、 下式 1で表される重合単位を含有する重合体である請求項 1 に記載のコーティング組成物。
-CF2 CF [〇 (CF2 CF (CF3 ) O) p (CF2 ) q Z] - 式 1
ただし、 式 1において、 pは 0〜5の S¾を示し、 qは:!〜 5の整数を示し、 Zは一 C OOHまたは一 S〇3 Hを示す。
3. 嫌己酸が、 カルボン酸、 スルホン酸、,ホスホン酸、 アミノ酸またはアミノスルホン酸 である、 請求項 1または 2に記載のコーティング繊物。
4. I3含フッ素重合体が、 一 C F 2 C F 2—の重合単位を含 る重合体である請求項 1、 2または 3に記載のコーティング組成物。
5. 前記水性 ffii本が水である請求項 1、 2、 3または 4に記載のコーティング組成物。
6. 請求項 1〜 5のいずれかに記載のコーティング糸!^物を用レ T形成された反射防止膜
7. 請求項 6に記載の反射防止膜を有するフォトレジスト。
8. 請求項 7に記載のフォトレジストを用いたフォトリソグラフィによるパターン形成方 法。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1632811A1 (en) * 2004-07-30 2006-03-08 Asahi Glass Company Ltd. Composition for photoresist protective film, photoresist protective film and photoresist pattern formation process
JP2006308647A (ja) * 2005-04-26 2006-11-09 Shin Etsu Chem Co Ltd レジスト保護膜材料及びパターン形成方法
JP2007126582A (ja) * 2005-11-04 2007-05-24 Central Glass Co Ltd 含フッ素高分子コーティング用組成物、該コーティング用組成物を用いた含フッ素高分子膜の形成方法、ならびにフォトレジストまたはリソグラフィーパターンの形成方法。
JPWO2005050320A1 (ja) * 2003-11-19 2007-12-06 ダイキン工業株式会社 レジスト積層体の形成方法
WO2015080061A1 (ja) * 2013-11-29 2015-06-04 旭硝子株式会社 コーティング用組成物およびフォトレジスト積層体の製造方法
WO2018163746A1 (ja) * 2017-03-06 2018-09-13 Agc株式会社 硬化性組成物、塗料、電線および樹脂物品
WO2021106580A1 (ja) * 2019-11-29 2021-06-03 セントラル硝子株式会社 保護膜形成用薬液及びウェハの洗浄方法

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7534753B2 (en) * 2006-01-12 2009-05-19 Air Products And Chemicals, Inc. pH buffered aqueous cleaning composition and method for removing photoresist residue
EP2113811B1 (en) * 2007-02-22 2012-01-25 Asahi Glass Company, Limited Composition for antireflective coating
KR100971066B1 (ko) * 2007-06-29 2010-07-20 샌트랄 글래스 컴퍼니 리미티드 불소 함유 화합물, 불소 함유 고분자 화합물, 네거티브형레지스트 조성물 및 이것을 사용한 패턴 형성방법
CN102015776B (zh) * 2008-04-28 2013-06-19 旭硝子株式会社 含氟聚合物的制备方法及含氟离子交换膜
CN102569464B (zh) * 2012-02-10 2014-04-02 无锡中洁能源技术有限公司 纳米等离子体改性含氟高耐候太阳电池背膜及其生产工艺
US20140091379A1 (en) * 2012-10-01 2014-04-03 Applied Materials, Inc. Fluorocarbon coating having low refractive index
KR20180105154A (ko) * 2016-02-05 2018-09-27 더 케무어스 컴퍼니 에프씨, 엘엘씨 플루오로중합체 코팅 형성용 플루오로중합체 용액

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01236935A (ja) * 1987-10-28 1989-09-21 Ausimont Spa 官能性ペルフルオロポリエーテルからなる水性微小エマルジョン
JPH0990640A (ja) * 1995-09-28 1997-04-04 Sony Corp パターン形成方法
JPH11124531A (ja) * 1997-10-24 1999-05-11 Asahi Glass Co Ltd コーティング組成物
JP2001194798A (ja) * 1999-11-01 2001-07-19 Shin Etsu Chem Co Ltd 反射防止膜材料及びパターン形成方法
JP2002236370A (ja) * 2001-02-08 2002-08-23 Semiconductor Leading Edge Technologies Inc 反射防止膜組成物、及び半導体装置の製造方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU611106B2 (en) * 1987-10-24 1991-06-06 Ito Optical Industrial Co. Ltd. Optical antireflection treatment
JP3491978B2 (ja) * 1994-08-01 2004-02-03 シップレーカンパニー エル エル シー 表面反射防止塗布組成物
JP3786298B2 (ja) * 1995-03-23 2006-06-14 ローム・アンド・ハース・エレクトロニック・マテリアルズ,エル.エル.シー. 表面反射防止膜用組成物
US5611850A (en) * 1995-03-23 1997-03-18 Mitsubishi Chemical Corporation Composition for anti-reflective coating on resist
JPH0990615A (ja) * 1995-09-27 1997-04-04 Shin Etsu Chem Co Ltd 反射防止膜材料及びパターン形成方法
JPH09325500A (ja) 1996-06-07 1997-12-16 Mitsubishi Chem Corp 表面反射防止塗布組成物及びパターン形成方法
JP3851594B2 (ja) * 2002-07-04 2006-11-29 Azエレクトロニックマテリアルズ株式会社 反射防止コーティング用組成物およびパターン形成方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01236935A (ja) * 1987-10-28 1989-09-21 Ausimont Spa 官能性ペルフルオロポリエーテルからなる水性微小エマルジョン
JPH0990640A (ja) * 1995-09-28 1997-04-04 Sony Corp パターン形成方法
JPH11124531A (ja) * 1997-10-24 1999-05-11 Asahi Glass Co Ltd コーティング組成物
JP2001194798A (ja) * 1999-11-01 2001-07-19 Shin Etsu Chem Co Ltd 反射防止膜材料及びパターン形成方法
JP2002236370A (ja) * 2001-02-08 2002-08-23 Semiconductor Leading Edge Technologies Inc 反射防止膜組成物、及び半導体装置の製造方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP1589082A4 *

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4525829B2 (ja) * 2003-11-19 2010-08-18 ダイキン工業株式会社 コーティング組成物
JPWO2005050320A1 (ja) * 2003-11-19 2007-12-06 ダイキン工業株式会社 レジスト積層体の形成方法
JP2009122700A (ja) * 2003-11-19 2009-06-04 Daikin Ind Ltd コーティング組成物
EP1632811A1 (en) * 2004-07-30 2006-03-08 Asahi Glass Company Ltd. Composition for photoresist protective film, photoresist protective film and photoresist pattern formation process
JP2006308647A (ja) * 2005-04-26 2006-11-09 Shin Etsu Chem Co Ltd レジスト保護膜材料及びパターン形成方法
US8211612B2 (en) 2005-11-04 2012-07-03 Central Glass Company, Limited Fluorine-containing polymer coating composition, method for forming fluorine-containing polymer film using coating composition, and method for forming photoresist or lithographic pattern
JP2007126582A (ja) * 2005-11-04 2007-05-24 Central Glass Co Ltd 含フッ素高分子コーティング用組成物、該コーティング用組成物を用いた含フッ素高分子膜の形成方法、ならびにフォトレジストまたはリソグラフィーパターンの形成方法。
WO2015080061A1 (ja) * 2013-11-29 2015-06-04 旭硝子株式会社 コーティング用組成物およびフォトレジスト積層体の製造方法
WO2018163746A1 (ja) * 2017-03-06 2018-09-13 Agc株式会社 硬化性組成物、塗料、電線および樹脂物品
DE112018001187T5 (de) 2017-03-06 2019-12-05 AGC Inc. Aushärtbare Zusammensetzung, Beschichtungsmaterial, elektrisches Kabel und Harzgegenstand
JPWO2018163746A1 (ja) * 2017-03-06 2020-05-14 Agc株式会社 硬化性組成物、塗料、電線および樹脂物品
JP7024778B2 (ja) 2017-03-06 2022-02-24 Agc株式会社 硬化性組成物、塗料、電線および樹脂物品
WO2021106580A1 (ja) * 2019-11-29 2021-06-03 セントラル硝子株式会社 保護膜形成用薬液及びウェハの洗浄方法

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