WO2004038779A1 - エキスパンド方法及びエキスパンド装置 - Google Patents

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plate
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frame
pressure
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Yuichi Kubo
Masateru Osada
Masayuki Azuma
Yasuyuki Sakaya
Yuusuke Arai
Tomohiro Tamaki
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Tokyo Seimitsu Co., Ltd.
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    • Y10T156/17Surface bonding means and/or assemblymeans with work feeding or handling means
    • Y10T156/1702For plural parts or plural areas of single part

Definitions

  • the present invention relates to an expanding method and an expanding apparatus for adhesive sheet, and in particular, it is mounted on a ring-shaped frame through the adhesive sheet, and is diced into individual chips.
  • the pressure-sensitive adhesive sheet is expanded to the individual plate
  • the present invention relates to an expanding method and an expanding apparatus for expanding a gap between chips.
  • Wafers which are plate-like products with semiconductor devices, electronic components, etc. formed on the surface in semiconductor manufacturing processes, etc., are subjected to electrical tests in the profiling process, and then individual chips (die Or divided into pellets, and then the individual chips are die bonded to the component base in a die bonding process. After being die-bonded, the individual chips are resin-molded to form finished products such as semiconductor devices and electronic components.
  • the wafer W is an adhesive sheet (also referred to as dicing dicing or dicing tape) S having a thickness of about 100 zm on which an adhesive layer is formed on one side.
  • the back is attached and mounted on a rigid ring frame F. In this state, wafer W is transported in the dicing process, between the dicing process and the dicing process, and in the die bonding process.
  • a dicing apparatus which cuts a grinding groove in a wafer W with a thin grindstone called a dicing blade and cuts the wafer W.
  • a die thin double plate is obtained by electrodeposition of fine diamond abrasive grains on a thin grindstone with Ni, and a very thin one having a thickness of about 10 m to 30 / x m is used.
  • the dicing blade is rotated at a high speed of 3 0, 0 0 0 6 0 0 0 0 rpm to cut it into the W-ha W, and completely cut the W-ha W (full cut).
  • the adhesive sheet S affixed to the back of the chip is cut only about 10 x x from the surface, so although the chip W is cut into individual chips T, individual chips T Since the arrangement of chips T is not broken, the state is maintained as a whole.
  • laser light with its focusing point aligned is irradiated inside the W-HA W to form a modified region by the multiphoton absorption phenomenon in the W-HA, and this modified region is the starting point.
  • a laser dicing process has been proposed for cleaving W-W. Also in the case of this laser dicing process, since the wafer W is diced as shown in FIG. 3, the arrangement of the chips T is not broken, and the entire wafer state is maintained.
  • the assembly of the chips T in which the arrangement of the chips T is not broken is also referred to as a wafer W for convenience.
  • the wafer W is sent to the die bonding process.
  • a die bonder is used in the die bonding process.
  • the wafer W is first placed on the expanding stage, and then the adhesive sheet S is expanded to widen the distance between the chips T so that the chips T can be easily picked up.
  • the wafer W mounted on the frame F through the adhesive sheet S is cut into individual chips T by a die-sinter blade, and then conveyed as it is in the dicing apparatus and cleaned. Next, it is transported to the die bonder, and the inside of the die bonder is transported as it is.
  • a processing area also called a street
  • ultra-thin dicing blades having a thickness of about 10 m to 15 x m have come to be used in the dicing process.
  • the present invention has been made in view of these circumstances, and even if the spacing between chips after dicing is extremely narrow, the edge of the next chip and the edge are in contact due to the vibration during transportation. It is an object of the present invention to provide an expanding method and an expanding apparatus for an adhesive sheet which can be transported together with a frame without chipping or micro cracks in the edge portion. Disclosure of the invention
  • dicing is performed on a plate-like material which is attached to a pressure-sensitive adhesive sheet and mounted on a ring-shaped frame via the pressure-sensitive adhesive sheet and diced into individual chips.
  • the plate-like material is attached to the frame.
  • the expanding method according to the present invention is characterized in that the plate-like object can be transported together with the frame while maintaining the distance between the enlarged chips.
  • the adhesive sheet is expanded after the dicing process to widen the distance between the individual chips, and the plate-like material is conveyed while maintaining the state.
  • the edge of the chip comes in contact with the edge, and no chipping or micro crack occurs in the edge.
  • the expanding step includes a step of heating and expanding the pressure-sensitive adhesive sheet.
  • the pressure-sensitive adhesive sheet can be easily expanded.
  • the expanding step includes a step of forming a convex portion in a portion between the frame and the plate-like member of the pressure-sensitive adhesive sheet
  • the expanding and holding step includes the step of forming the convex portion of the pressure-sensitive adhesive sheet. And welding or bonding the base.
  • the convex portion is formed on the adhesive sheet and expanded, and the base of the convex portion is welded or bonded to hold the expanded state, so that the plate-like object can be handled together with the frame.
  • the base of the convex portion formed on the pressure-sensitive adhesive sheet is ultrasonically welded. Since the base of the convex part formed in the adhesive sheet is welded by an ultrasonic wave by this, local welding can be performed easily.
  • the expanding step is performed in a state where the plate-like object is mounted on a chuck stage of a dicing apparatus, and a expanded state of the adhesive sheet on the chuck stage is temporarily maintained using a clamp member.
  • the method further includes the step of forming the slack in the outside portion of the clamp member of the pressure-sensitive adhesive sheet, and pinching and fixing the base of the slack portion of the pressure-sensitive adhesive sheet.
  • the expanding step is performed by a dicing area of the dicing apparatus after dicing processing of the plate-like object, and the plate-like object in which the expanded state of the pressure-sensitive adhesive sheet is temporarily maintained is chucked
  • the stage has a step of transporting the stage to another area in the same apparatus, and the expand holding step is performed in the other area.
  • the process of holding and fixing the base of the slack portion of the adhesive sheet is performed in an area different from the dicing area of the dicing apparatus, so that it is possible to minimize the decrease in the operation rate of the dicing apparatus.
  • the method further comprises the step of transporting the plate-like object together with the chuck stage to another beam in the same device without removing the plate-like object from the chuck stage of the dicing apparatus after dicing the plate-like article,
  • the process and the expand holding step are performed in the other area in the same device.
  • the plate-like material can be transported together with the frame while maintaining the distance between the chips. . Therefore, even if the distance between the chips is extremely narrow, the edges of the adjacent chips may come into contact with each other due to vibration during transportation, and chipping or micro cracks may occur at the edge. Absent.
  • the expanding step and the expanding holding step are performed in an area different from the dicing area of the dicing apparatus, it is possible to prevent a decrease in the operation rate of the dicing apparatus.
  • the expand holding step includes a step of fixing the base of the slack portion of the pressure-sensitive adhesive sheet by welding or adhesion.
  • the base of the loosened portion of the adhesive sheet is welded or adhered to maintain the expanded state, the plate-like object can be handled together with the filler.
  • a heat-shrinkable sheet is used as the pressure-sensitive adhesive sheet, and the expanding step and the expanding-holding step include the plate-like material in the portion between the plate-like material of the pressure-sensitive adhesive sheet and the frame. It is simultaneously performed by heating the pressure-sensitive adhesive sheet in at least one pair of areas sandwiched in parallel to the dicing lines of the plate-like material. Thereby, since the heating area of the adhesive sheet is disposed in parallel with the dicing line of the plate-like material, Even strip-shaped chips such as line sensors can be easily expanded.
  • the plate is parallel to a dicing line perpendicular to the one direction, and at least a pair of areas sandwiching the plate parallel to the one direction dicing line of the plate.
  • the pressure-sensitive adhesive sheet is heated in at least one pair of sandwiching areas, and the heating temperature of each of the areas is individually controlled in accordance with the expansion condition of the individual chip intervals.
  • the heating temperature of each area is individually controlled in accordance with the expansion of each chip spacing, so that the individual chip spacing can be uniformly expanded.
  • the pressure-sensitive adhesive sheet is heated without removing the plate-like product from the chuck stage of the dicing apparatus.
  • the plate-like object is expanded without removing it from the chuck stage, and the pressure-sensitive adhesive sheet to which the plate-like object is attached is maintained in the expanded state as it is. Chips do not interfere with each other.
  • a heat-shrinkable sheet is used as the pressure-sensitive adhesive sheet
  • the expanding step includes a step of applying tension to the pressure-sensitive adhesive sheet
  • the expand-holding step includes the plate-like object of the pressure-sensitive adhesive sheet and the frame. Forming a slack in a portion between them, and heating and shrinking the slack portion to eliminate the slack.
  • a slack is formed in the portion to which the plate-like material is not attached, and the slack portion is heated and shrunk to maintain the expanded state of the adhesive sheet. Plates can be transported together with the frame while maintaining the spacing between the chips. Therefore, even if the distance between the chips is extremely narrow, vibrations during transport will not cause chipping or microcracking at the edge parts due to the edges of the adjacent chips coming into contact with each other. .
  • the expanded state of the adhesive sheet of the portion to which the expanded plate-like material is attached is adsorbed and held or mechanically held, and then the slack is formed, and the slack portion is heated and contracted. After adsorption, the adsorption holding or mechanical holding is released.
  • the expanded state of the adhesive sheet at the part where the After mechanical holding, a slack is formed, and the slack portion is heated and shrunk, and then suction holding or mechanical holding is released, so that only the adhesive sheet on the outer side of the plate forms a slack, and the slack portion is formed. Can be heated and shrunk, and can easily maintain the expanded state.
  • the adhesive sheet is expanded by relatively separating the plate-like object and the frame, and the slack is formed by releasing the relative distance between the plate-like object and the frame.
  • the adhesive sheet is expanded by pressing the adhesive sheet between the plate and the frame to expand the pressure of the adhesive sheet between the plate and the frame. The slack is formed by releasing. By these, it is possible to expand the adhesive sheet easily and evenly.
  • the slack portion is shrunk by heating the outer portion of the plate of the adhesive sheet in an annular manner.
  • the pressure-sensitive adhesive sheet is expanded without removing the plate-like material from the chuck stage of the dicing apparatus.
  • the plate-like material is expanded without being removed from the chuck stage, and the adhesive sheet to which the plate-like material is attached is maintained in the expanded state as it is. There is no interference between the chips.
  • the expanding step includes a step of relatively separating the plate-like member and the frame in the vertical direction, and applying a lateral force to the pressure-sensitive adhesive sheet
  • the expanding holding step includes the steps of: And a step of sticking another ring-shaped frame to the expanded pressure-sensitive adhesive sheet, and cutting the pressure-sensitive adhesive sheet in the vicinity of the outer periphery of the other frame.
  • another ring-shaped frame is attached to the expanded adhesive sheet, and the adhesive sheet is cut in the vicinity of the outer periphery of the other frame to hold the expanded state of the adhesive sheet.
  • the plate can be transported together with the frame while maintaining the Therefore, even if the distance between the chips is extremely narrow, the edges of the adjacent chips come into contact with each other due to vibration during transportation, and chipping or micro cracks occur at the edge. I have not.
  • the lateral force applied to the adhesive sheet is applied by inflating an air bag. As a result, since the pressure-sensitive adhesive sheet is spread laterally using an air bag, even a complex expanded shape can be easily expanded.
  • the frame and the another frame are the same type of frame.
  • the frame in which the plate-like object is mounted via the adhesive sheet and the frame for holding the expanded state of the expanded adhesive sheet are the same type of frame, the frame can be shared.
  • the configuration can be simplified, and there is no need to change the transport means in the subsequent steps.
  • the present invention is also directed to a plate-like object which is attached to a pressure-sensitive adhesive sheet and mounted on a ring-shaped frame via the pressure-sensitive adhesive sheet and diced into individual chips.
  • an expanding device for expanding the pressure-sensitive adhesive sheet in a state in which the plate-like material is mounted on the frame in an expanding device for expanding the pressure-sensitive adhesive sheet later to expand the distance between the individual chips.
  • the expanding device according to the present invention is characterized in that the plate-like object can be transported together with the frame.
  • the adhesive sheet is expanded by the expanding means to widen the space between the individual chips, and the state is held by the expanding holding means, so that the wafer can be transported together with the frame. Vibration during transport causes the edges of the adjacent chips to come into contact with each other, and chipping or micro cracks do not occur at the edges.
  • the expanding means includes a heating stage on which the plate is placed together with the adhesive sheet, and a heater incorporated in the heating stage, and the expanding holding means includes the plate.
  • the inner ring having an inner diameter larger than the outer diameter, and the outer ring having an inner diameter which can be strongly fitted in the state where the adhesive seal is interposed on the outer periphery of the inner ring,
  • the heat stage heats the portion of the adhesive sheet to which the plate-like material is attached, and the adhesive sheet is expanded by expanding it toward the outer periphery, thereby expanding the adhesive sheet by the inner ring and the outer ring. Sandwiching the outside of the heated portion of the heat sink to hold the expanded state of the adhesive sheet.
  • the pressure-sensitive adhesive sheet can be easily heated and expanded toward the outer periphery, and the expanded state of the pressure-sensitive adhesive sheet can be easily held.
  • the expanding means presses a portion of the adhesive sheet between the frame of the adhesive sheet and the plate to form a convex portion on the adhesive sheet.
  • the expanding holding means is disposed opposite to the pressing member with the pressure-sensitive adhesive sheet interposed between the housing and the housing, the housing having a space for receiving the projection, and the base of the projection. Forming a protrusion on the adhesive sheet with the pressing member, and expanding the adhesive sheet by welding the base of the protrusion with the welding tool. Maintain the expanded state of the pressure-sensitive adhesive sheet.
  • the expanding device has a pressing member for forming a convex portion on the adhesive sheet and a welding tool for welding the base of the convex portion, the adhesive sheet is expanded by the pressing member, and the adhesive sheet is formed using the welding tool. Since the base of the formed convex part is welded, the expanded state can be maintained while the plate-like object is mounted on the frame.
  • a pressure reducing means is provided for reducing the pressure in the space in the housing.
  • the expanding means expands the pressure-sensitive adhesive sheet without removing the plate-like object from the chuck stage of the dicing apparatus after dicing the plate-like object, and expands the pressure-sensitive adhesive sheet on the chuck stage.
  • a sheet fixing means for temporarily maintaining the state is provided, and while the expanded state of the adhesive sheet is temporarily maintained, the plate-like material together with the chuck stage is separated from the dicing area to another area in the dicing apparatus.
  • Transport means for transporting to the It is provided in the recording area, and pinches and fixes the base of the slack portion generated in the portion where the expanded state of the pressure-sensitive adhesive sheet is not maintained.
  • the plate is transported together with the chuck stage from the dicing area to another area in the dicing apparatus without removing the plate from the chuck stage of the dicing apparatus.
  • Means are provided, the expansion means expanding the pressure-sensitive adhesive sheet in the separate area in the dicing apparatus, and fixing the sheet temporarily holding the expanded state of the pressure-sensitive adhesive sheet on the chuck stage.
  • a means is provided, and the expand holding means pinches and fixes a base of a slack portion generated in a portion where the expanded state of the adhesive sheet is not temporarily maintained.
  • the chuck stage is transported from the dicing area to another beam in the dicing apparatus and expanded to expand temporarily the expanded state of the adhesive sheet on the chuck stage. Because the expanded state is maintained, even during conveyance in the dicing apparatus, the edges of the adjacent chips come into contact with each other due to vibration during conveyance, and chipping or micro cracks occur at the edge. There is no In addition, the operating rate of the dicing apparatus can be prevented from decreasing due to expansion.
  • said expand holding means comprises an ultrasonic welding tool.
  • said expand holding means comprises an ultrasonic welding tool.
  • the heat-shrinkable adhesive sheet is targeted, and the expanding means and the expanding holding means are parallel to the dicing line in one direction of the plate-like material.
  • the heating temperature of each area can be individually controlled in accordance with the expansion situation of the individual chip intervals, so that the individual chip intervals can be uniformly expanded.
  • the heat-shrinkable pressure-sensitive adhesive sheet is targeted, and the expanding means includes at least one of a means for relatively separating the plate-like object and the frame in the vertical direction and a means for pressing the pressure-sensitive adhesive sheet.
  • a sheet fixing means for temporarily maintaining the expanded state of the pressure-sensitive adhesive sheet, and the expanded holding means includes a slack portion formed in a portion between the plate-like member of the pressure-sensitive adhesive sheet and the frame. Includes heating means to heat.
  • a slack is formed in the portion to which the plate-like material is not attached, and the slack portion is heated and shrunk to maintain the expanded state of the adhesive sheet.
  • the plate can be transported together with the frame while maintaining the Therefore, even if the distance between the chips is extremely narrow, the edges of the adjacent chips may come in contact with each other due to vibration during transportation, and chipping or micro cracks may occur at the edge. Absent.
  • the expanding means expands the adhesive sheet by relatively separating the plate-like object and the frame in the vertical direction, and the expanding means expands the adhesive sheet by a lateral force.
  • the expand holding means includes means for applying a new frame to the expanded pressure-sensitive adhesive sheet, and means for cutting the pressure-sensitive adhesive sheet along the outer periphery of the new frame .
  • Another ring-shaped frame is attached to the expanded and expanded adhesive sheet, and the adhesive sheet is cut in the vicinity of the outer periphery of this other frame to maintain the expanded state of the adhesive sheet, thereby maintaining the spacing between the chips.
  • the plate can be transported together with the frame as it is. Therefore, even in the case of a plate-like material in which the distance between the chips is extremely narrow, vibration during transport is The edge of the next chip and the edge do not come into contact with each other by movement, so that chipping or crack of the microphone opening does not occur at the edge.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view showing an expanding apparatus according to a first embodiment of the present invention
  • FIG. 2 is a cross-sectional view showing an expanded holding state of the pressure-sensitive adhesive sheet according to the first embodiment
  • FIG. 3 is a perspective view showing a frame mounted on a frame
  • FIG. 4 is a cross-sectional view showing an expanding apparatus according to a second embodiment of the present invention
  • FIG. 5 is a flowchart explaining an expanding method according to the second embodiment
  • FIG. 6 is a conceptual diagram showing the expanded state of the second embodiment
  • FIG. 7 is a conceptual view showing the expanded holding state of the second embodiment
  • FIG. 8 is a front view showing a part of the expanding device according to the third embodiment of the present invention.
  • Fig. 9 is a plan view showing a part of the expanding device according to the third embodiment
  • Fig. 10 is a cross-sectional view showing a sheet slack fixing means according to the third embodiment
  • 1 is a flowchart for explaining an expanding method according to a third embodiment
  • FIG. 12 is a flowchart for explaining the expanding method according to the third embodiment.
  • FIG. 13 is a front view for explaining the expanding operation of the third embodiment
  • FIG. 14 is a front view for explaining the sheet slack forming operation of the third embodiment
  • Fig. 16 is a cross-sectional view for explaining the seat slack fixing operation according to the third embodiment
  • Fig. 16 is a cross-sectional view for explaining the seat slack fixing operation according to the third embodiment
  • FIG. 16 is a front view showing a transfer means of an expander according to a fourth embodiment of the present invention
  • FIG. 18 is a plan view showing a conveying means of an expanding device according to a fourth embodiment
  • FIG. 19 is a cross-sectional view showing the expanding means and the sheet slackening portion fixing means of the expanding device according to the fourth embodiment.
  • FIG. 20 is a flowchart for explaining the expanding method according to the fourth embodiment.
  • FIG. 21 is a flowchart for explaining an expanding method according to a fourth embodiment
  • FIG. 22 is a cross-sectional view for explaining the state of the eight loaded into the expanding area
  • FIG. 23 is a cross-sectional view for explaining the expanding operation of the fourth embodiment
  • FIG. 24 is a cross-sectional view for explaining the sheet slack fixing operation of the fourth embodiment
  • FIG. 26 is a cross-sectional view for explaining the sheet slack fixing operation according to the fourth embodiment
  • FIG. 26 is a cross-sectional view showing an expanding device according to a fifth embodiment of the present invention
  • FIG. 27 is a plan view showing the heating area of the adhesive sheet
  • FIG. 28 is a plan view showing another embodiment of the heating area of the pressure-sensitive adhesive sheet;
  • FIG. 29 is a cross-sectional view showing an expanding apparatus according to a sixth embodiment of the present invention.
  • FIG. 30 is a flowchart for explaining the expanding method according to the sixth embodiment.
  • FIG. 31 is a cross sectional view showing the expanding operation of the sixth embodiment.
  • FIG. 32 is a cross-sectional view showing the expanding operation of the sixth embodiment.
  • FIG. 33 is a cross sectional view showing the expanding operation of the sixth embodiment.
  • FIG. 34 is a cross-sectional view for explaining a modification of the sixth embodiment.
  • FIG. 35 is a flowchart for explaining a modification of the sixth embodiment
  • FIG. 36 is a cross-sectional view showing an expanding device according to the seventh embodiment of the present invention. R;
  • FIG. 37 is a flowchart for explaining the expanding method according to the seventh embodiment.
  • FIG. 38 is a cross-sectional view showing the expanding operation of the seventh embodiment
  • FIG. 39 is a cross-sectional view showing the expanding operation of the seventh embodiment.
  • FIG. 1 shows a first embodiment of an expanding device according to the present invention.
  • the expand span device 1 is composed of an expansion means 20 consisting of a heating stage 21 and an expand holding means 10 consisting of an inner ring 11 and an outer ring 12.
  • a heater 22 is incorporated in the vicinity of the top surface of the heating stage 21, and the top surface of the heating stage 21 is set to have a predetermined temperature.
  • An inner ring 11 is detachably disposed on the outer periphery of the heating stage 21.
  • the inner diameter of the outer ring 12 is sized to be tightly fitted in a state in which the adhesive S is interposed on the outer periphery of the inner ring 11. Further, the outer ring 12 is moved up and down by drive means (not shown).
  • the operation of the expanding device 1 configured as described above will be described.
  • the wafer W After being cut into individual chips T, ⁇ , ... by dicing, the wafer W is placed on the heating stage 21.
  • the W 18 W is placed on the heating stage 2 1, the W sheet S is heated and expanded to extend the chip interval.
  • the outer ring 12 is lowered, and the outer ring 12 and the inner ring 11 sandwich the space S.
  • the present invention is not limited thereto.
  • Various fixing methods can be used, such as a method of changing to a small diameter frame in a fixed state, a method of fixing to the inner ring 11 with an elastic belt instead of the outer ring 12, or the like.
  • FIG. 4 shows a second embodiment of the expanding device of the present invention.
  • Exposed equipment 1 0 1 is an XY 0 table 1 1 1, chuck stage 1 1 2, frame chuck 1 1 3, pressing member 1 1 4, housing 1 1 5, ultrasonic welding tool as welding tool 1 1 6, holding ring 1 1 7 etc.
  • Expanding means 1 3 0 comprises frame chuck 1 1 3, housing 1 1 5, pressing member 1 1 4 etc.
  • Expand holding means 1 4 0 is housing 1 1 5, Holding ring 1 1 7 and ultrasonic welding tool 1 1 6 etc.
  • the XY 0 table 1 1 1 is moved in the X and Y directions in the figure by a driving device (not shown) and is rotated by 0.
  • Chuck stage 1 1 2 and frame chuck 1 1 3 are attached to XY 0 table 1 1 1.
  • a porous member 1 1 3 A is embedded in the upper surface of the frame chuck 1 1 3, and a pressure reducing pump 1 2 3 via a solenoid valve 1 2 1 B and a pressure tube 1 2 2 B constituting pressure reducing means 1 2 0
  • the frame F is attached by suction.
  • a porous member (not shown) is embedded in the upper surface of the chuck stage 112, and connected to the pressure reducing pump 132 via an electromagnetic valve 121C, a linear actuator 112C, and a plate shape. It is designed to adsorb the object Ueha W.
  • a ring-shaped housing 1 1 5 having an annular groove (space portion) 1 1 5 A is disposed above the portion to which the frame F and the adhesive W of the adhesive sheet S are not attached.
  • the inner surface of the annular groove 115A is formed of a porous member 115B, a solenoid valve 121A, a regulator It is connected to a pressure reduction pump 1 2 3 3 via a 1 2 2 A valve so that the inside of the groove 1 1 5 A is reduced in pressure.
  • the housing 115 is moved up and down by drive means (not shown) and is clamped at the lower end.
  • a ring-shaped pressing member 114 is provided to face the housing 115 with the adhesive sheet S interposed therebetween.
  • the pressing member 114 is moved up and down by drive means (not shown), and is positioned so as to be lifted and inserted into the groove 115A of the housing 115.
  • the upper end edge of the pressing member 114 is chamfered smoothly.
  • An annular holding ring 1 1 7 is provided inside the housing 1 1 5 and moved up and down by driving means (not shown) so as to strongly press the chuck table 1 1 2 when it is moved downward.
  • an ultrasonic welding tool 116 as a welding tool is disposed obliquely toward the entrance of the groove 115A of the housing 115 at the end.
  • the ultrasonic welding tool 116 is moved in the axial direction by drive means (not shown), and presses the object with its tip while oscillating ultrasonic waves.
  • FIG. 5 is a flowchart showing the second embodiment of the expanding method of the present invention.
  • the WAE W mounted on the frame F via the adhesive sheet S is placed on the chuck stage 1 12 and the frame chuck 1 1 3, and the WAE W is attracted to the chuck stage 1 1 2 via the adhesive sheet S.
  • the frame F is attracted to the frame chuck 113 via the adhesive sheet S. In this state, the wafer W is diced into individual chips T.
  • step S 1 1 3 lower housing 1 1 5 and clamp it at the position where the lower end contacts adhesive sheet S (step S 1 1 3).
  • the pressing member 114 is raised and brought into contact with the adhesive sheet S, and by raising it as well, the adhesive sheet S is pushed up and the groove of the housing 115 is selected. Form a protrusion in 15 A.
  • the pressure-sensitive adhesive sheet S is expanded outward from the center, and the distance between the tips T attached to the pressure-sensitive adhesive sheet S is increased (step S 1 15).
  • step S 117 the pressing ring 1 1 7 is lowered, and the adhesive sheet S is pressed and clamped between it and the upper surface of the chuck stage 1 1 2.
  • step S 117 the expanded state of the adhesive sheet S inside the retaining ring 117 is temporarily maintained.
  • FIG. 6 shows this state, wherein the adhesive sheet S is pushed up by the pressing member 114, and an annular convex portion SA is formed in the annular groove of the housing 115.
  • the adhesive sheet S is expanded outward from the central portion, the distance between the individual chips T is expanded, and this expanded state is temporarily maintained by the pressing ring 117.
  • step S 1 1 9 operate the solenoid valve 1 2 1 A, decompress the space in the groove 1 1 5 A of the housing 1 1 5 A with a pressure reducing pump, and press the convex portion SA of the adhesive sheet S inside the groove 1 1 5 A Adsorb to (step S 1 1 9). Since the inner surface of the groove 115A is formed of the porous member 115B, the convex portion S is formed.
  • A can be adsorbed uniformly.
  • the pressing member 114 having the convex portion SA formed on the adhesive sheet S is lowered. Even if the pressing member 1 1 4 descends, the convex portion SA of the adhesive sheet S is adsorbed to the inner surface of the groove 1 1 5 A, so the convex portion SA does not return (step S 1 2 1) .
  • the ultrasonic welding tool 116 is advanced, and the base portion SB, which is the root portion of the convex portion SA of the adhesive sheet S, is pressed at the tip to make the base portions SB contact with each other. 5 Press against the wall A (step S 1 2 3).
  • the ultrasonic welding tool 116 oscillates ultrasonic waves, and locally welds the base S B of the convex portion S A of the adhesive sheet S at the tip, and XY
  • Figure 7 illustrates this situation.
  • the base SB of the convex portion SA is pressed by the tip of the ultrasonic welding tool 1 1 6
  • the SBs are pressed against the wall of the groove 115A and welded locally by ultrasonic vibration.
  • the ultrasonic welding tool 1 1 6 is retracted (step S 1 2 7) and the solenoid valve 1 2 1 A is operated to release the pressure reduction in the groove 1 1 5 A of the housing 1 1 5 A. 15. Raise the 5 and the pressure ring 1 1 7 (Step S 1 2 9).
  • the distance between the chips T of the wafer W affixed to the adhesive sheet S and diced into individual chips T is expanded, and in this state, the adhesive sheet S forms a slack near the outer periphery.
  • the root of the slack is in a state of being picked up, and the distance between the individual chips is kept expanded, and the diced wafer W can be transported with the frame.
  • This expanding is preferably performed immediately after the dicing process in the dicing apparatus. In this way, the frame W is transported while holding the state in which the distance between the chips T is expanded, so that the edge of the next chip and the edge contact with each other due to the vibration during transportation, and the edge portion Generation of chipping and micro cracks.
  • the pressure-sensitive adhesive sheet S is pushed up from below and the convex portion SA is formed upward, the present invention is not limited to this, and the pressure-sensitive adhesive sheet S is pressed downward.
  • the convex portion SA may be formed toward the
  • FIG. 8 illustrates a third embodiment of the expanding device according to the present invention, showing a part of the expanding device, in which the transfer device carrying the expanding means is positioned in the dicing area of the dicing device. It is a front view expressed. Also, FIG. 9 is a plan view thereof.
  • the expanding device 200 includes a conveying means 230, an expanding means 2 33 attached to the conveying means 230, a sheet clamping means 2 34, and a rear end.
  • Conveying means 230 is a plate-like object mounted on a frame via adhesive sheet S.
  • the chucking stage 206 of the dicing apparatus from the dicing area It conveys to the welding work rear (separate area), and it rotates around the shaft 2 3 1 B by the driving means (not shown) and rotates up and down the rotating arm 2 3 1, 2 support beams 2 3 1A, 2 3 1 A, 2 support beams 2 3 1 A, 2 3 1 A, each of which is provided in a pair and horizontally moved by a drive means (not shown) to hold the chuck stage 2 0 6 Cu 2 3 2 2 3 2 ..., and so on.
  • Conveying means 2 3 3 attached to the expanding means 2 3 3 are four pushers 2 3 3 A, 2 3 3 A, ... which are expanded and contracted by an air cylinder not shown, and the tips of the respective pushers 2 3 3 A It consists of a suction pad 2 3 3 B attached.
  • a vacuum path is formed between the pusher 2 3 3 A and the suction pad 2 3 3 B, which is connected to a pressure reducing device (not shown), which attracts the frame F and the pusher 2 3 3 A extends downward to form an adhesive sheet. It is designed to expand S.
  • Suction pad 2 3 3 B is made of a thin rubber-based material so that it can reliably adsorb frame F.
  • the sheet clamping means 2 3 4 attached to the conveying means 2 3 0 is a clamping member 2 3 4 A which is a clamping member for temporarily clamping the expanded adhesive sheet, and a clamping ring 2 3 4 A It consists of two support rods 2 3 4 B and 2 3 4 B that are supported and expanded and contracted vertically by an air cylinder (not shown).
  • Clamp ring 2 3 4 A is an L-shaped ring with a protruding edge, and the inner diameter of the edge is slightly larger than the outer diameter of the chuck stage 2 06 of the dicing apparatus. It comes to fit tightly on the chuck stage 2 0 6. A part of the clamp 2 34 A may be slotted to provide a strong fit.
  • the chuck stage 2 0 6 of the dicing apparatus is mounted on the upper surface of the Z 0 stage 2 0 4 incorporated in the XY table 2 0 2 arranged in the dicing area, and with the wafer W on the chuck stage 2 0 6 It is designed to be vacuum adsorbed by co-pulling.
  • a porous member 2 0 6 A is embedded on the upper surface of the chuck stage 2 0 6, and the adhesive sheet S It is designed to adsorb uniformly.
  • a groove 2 0 6 B is formed in the lower portion of the side surface of the chuck stage 2 0 6, and the fork 2 3 of the transfer device 2 3 0 is formed in the groove 2 0 6 B.
  • FIG. 10 is a cross-sectional view showing a sheet slack portion fixing means 201 A which is an expansion holding means disposed at a welding process rear other than the dicing area of the dicing apparatus.
  • Sheet slack portion fixing means 2 0 1 A is a base F of a slack SA portion formed on the adhesive sheet S of the frame F on which the wafer W transported by the transport means 2 30 is mounted. It is something to pinch and fix.
  • Sheet slack fixing means 2 0 1 A is a 0 table 2 1 1, a mounting table 2 1 1 A, a frame chuck 2 1 3, a push-up member 2 1 4, a housing 2 1 5, an ultrasonic wave welding tool as a welding tool It consists of 2 16 and pressure reducing means 2 20 etc.
  • the weir table 2 1 1 is rotated by 0 in the direction of 0 in the figure by a drive not shown. ⁇ Table 2 1 1 Mounting Stage for Mounting Chuck Stage 2 0 6 2 1 1 A and Frame
  • the frame chuck 2 1 3 on which the F is placed is attached.
  • a porous member 2 1 3 A is embedded in the upper surface of the frame chuck 2 1 3, a solenoid valve 2 2 1 B, a regu
  • a porous member 206A is embedded in the upper surface of the chuck stage 206, and a pressure reducing means is provided via a mounting base 21 1 A, a solenoid valve 2 21 C, and a regu It is connected to a decompression pump 2 23 that constitutes a 2 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 2 0 0 0 0 0 0 0 0 connection plate, so that a wafer W which is a plate-like object is adsorbed together with the adhesive sheet S. Due to this suction, the chuck stage 2 0 6 is also pulled by the mount 2 1 1 A.
  • a ring-shaped housing 215 having a ring-shaped groove 215A is disposed above the portion of the adhesive sheet S to which the frame F and the wafer W are not attached.
  • the inner surface of the annular groove 215A is formed of a porous member 215B, and is connected to a pressure reducing pump 223 via a solenoid valve 221A, a regu The pressure inside the 2 15 A is reduced.
  • the housing 215 is moved up and down by drive means (not shown). And is clamped at the falling end.
  • a ring-shaped push-up member 2 1 4 is provided to face the housing 2 1 5 with the adhesive sheet S interposed therebetween.
  • the push-up member 214 is moved up and down by drive means (not shown), and is positioned so as to ascend and be inserted into the groove 25A of the housing 215.
  • the upper edge of the push-up member 214 is chamfered smoothly.
  • This push-up member 2 1 4 allows the adhesive sheet S to be slackened S A part of the housing 2 1 5 groove
  • an ultrasonic welding tool 216 as a welding tool is disposed obliquely toward the inlet of the groove 215A of the housing 215 at the tip.
  • the ultrasonic welding tool 216 is moved in the axial direction by a driving means (not shown), and while the ultrasonic waves are being oscillated, the tip is pressed against the object to weld the object.
  • Embodiment 3 will be described.
  • 11 and 12 are flowcharts showing a third embodiment of the expanding method of the present invention.
  • the W 18 W mounted on the frame F via the adhesive sheet S is suction mounted on the chuck stage 206 in the dicing area of the dicing apparatus and laser dicing is performed by the laser dicing unit (not shown). .
  • the rotating arm of the transfer means 230 is rotated and positioned above the W (step S 21 1).
  • the adsorption of Ue W is released (that is, the adsorption of adhesive sheet S on the upper surface of chuck stage 2 06 is released), and expanding means 2 3 3 pushers 2 3 3 A, 2 3 3 A, ... Lowers and sucks frame F.
  • step S 2 1 3 the adhesive sheet S inside the frame F including the upper portion of the chuck stage 2 0 6 is expanded.
  • the expansion of the adhesive sheet S enlarges the distance between the individual chips T of the diced wafer W.
  • Figure 13 shows this situation.
  • the clamp ring 2 3 4 A of the sheet clamp means 2 3 4 comes down, and the adhesive sheet S is clamped and clamped between the chuck stage 2 0 6 and the clamp ring 2 3 4 A.
  • the expanded state of the expanded adhesive sheet S on the chuck stage 206 is temporarily maintained (step S 21 5).
  • the pushers 1 2 3 3 A, 2 3 3 A As the pusher 1 2 3 3 A, 2 3 3 A, ... rises, the expanded state of the adhesive sheet S on the chuck stage 2 0 6 is maintained but the other parts are not maintained, so the clamp ring 2 3 Sag SA occurs in the adhesive sheet S between the outside of 4 A and the inside of frame F (step S 2 1 7).
  • Figure 14 shows this situation.
  • step S 2 1 Place the frame F on the chuck stage 2 0 6 on the mounting stage 2 1 1 A and the frame F on the frame chuck 2 1 3 via the adhesive sheet S (step S 2) 2 1) Also in this transport, the expanded state of the adhesive sheet S on the chuck stage 206 is maintained, so that the edges of the tips T are not in contact with each other and the tips T are not damaged.
  • Step S 2 2 7 activate the solenoid valve 2 21 A, decompress the space in the groove 2 1 5 A of the housing 2 1 5 A with a pressure reducing pump, and set the slack SA of the adhesive sheet S on the inner surface of the groove 2 1 5 A Adsorb (Step S 2 2 7). Since the inner surface of the groove 215A is formed of the porous member 215B, the slack SA can be uniformly adsorbed. Figure 15 shows this situation.
  • the ultrasonic welding tool 216 is advanced, and the base portion SB which is the root portion of the slack SA of the adhesive sheet S is pressed at the tip portion, and the base portions SB are brought into contact with each other. Press against the wall of A.
  • the ultrasonic welding tool 216 oscillates ultrasonic waves, and locally welds the base S B of the slack S A of the adhesive sheet S at the tip.
  • 0 table 2 1 1 is rotated by 1 turn to weld the base S B of the annular slack S A over the entire circumference of the base S B (step S 2 2 9).
  • Figure 16 illustrates this situation.
  • the adhesive sheet S is a state in which the portion of the adhesive sheet W is expanded and the distance between the tips T is expanded, and the base SB of the slack SA is pressed by the tip of the ultrasonic welding tool 2 16
  • the base portions SB are pressed against the wall of the groove 215A and locally welded by ultrasonic vibration.
  • Step S 2 3 the ultrasonic welding tool 2 16 is retracted, and the solenoid valve 2 2 1 A is actuated to release the pressure reduction in the groove 2 1 5 A of the housing 2 1 5 and raise the housing 2 1 5.
  • the solenoid valve 2 21 B and the solenoid valve 2 21 C are operated to release the attraction of the chuck stage 2 0 6 and the frame chuck 2 1 3.
  • the distance between the chips T of the wafer W affixed to the adhesive sheet S and diced into individual chips T is in a state of being expanded, and in this state, the adhesive sheet S is in the vicinity of the outer periphery. Since the slack is created, the root of the slack is picked and fixed, and the distance between the individual chips T is kept expanded, it is possible to transport the diced wafer W together with the frame.
  • This expansion is preferably performed immediately after the dicing process in the dicing apparatus, and the wafer W is thus transported while the chip T is held in the expanded state while the frame is being transported.
  • the edge of the adjacent chip contacts with the edge due to the vibration, and the occurrence of chipping or micro crack at the edge is prevented.
  • the fixation of the root (base S B) of the slack of the adhesive sheet S is performed in an area different from the dicing area, it is possible to suppress the decrease in the operation rate of the dicing apparatus as much as possible.
  • the frame F is pushed downward to expand the adhesive sheet S, and after clamping, the frame F is lifted upward to form a slack SA in the adhesive sheet S.
  • the present invention is not limited to this.
  • FIG. 17 is for explaining a fourth embodiment of the expanding device of the present invention, and is a front view showing a state in which the transfer device which is a part of the sandwiching device is positioned in the dicing area of the dicing device.
  • FIG. 18 is a plan view thereof.
  • the expanding device 31 includes a conveying means 320, a conveying means 330, a frame suction means 33 3 attached to the frame 3, a sheet holding means 3 34, and It comprises an expanding means 3 0 1 A provided in an expanding area (separate area) described later, a sheet slack fixing means 3 0 1 B as an expanding holding means, and the like.
  • the conveying means 330 is a plate-like material mounted on the frame F via the adhesive sheet S. This machine conveys the chuck W together with the chuck stage 300 of the dicing machine from the dicing area to the expanding area (separate area), and rotates around the shaft 33 1 B by drive means (not shown) and moves up and down.
  • Two rotating arms 3 3 1, 2 support beams 3 3 1 A, 3 3 1 A, and support beams 3 3 1 A, 3 3 1 A, which are moved up and down, are provided by drive means (not shown).
  • Four forks 33 3, 2 3,..., which are moved horizontally to hold the chuck stage 3 0 6, frame suction means 3 3 3, sheet holding means 3 3 4 and the like.
  • Conveying means 3 3 3 attached to the frame 3 3 3 are four pushers 3 3 3 A, 3 3 3 A, ... which are expanded and contracted by an air cylinder not shown, and the tip of each pusher 3 3 3 A It consists of a suction pad 3 3 3 B attached to it.
  • a vacuum path is formed between the pusher 3 3 3 A and the suction pad 3 3 3 B, which is connected to a decompression device (not shown) to adsorb the frame F.
  • the suction pad 33 3 B is made of a thin rubber-based material so that the frame F can be reliably adsorbed.
  • the sheet holding means 3 3 4 attached to the conveying means 3 3 0 has a sheet holding ring 3 3 4 A for clamping the adhesive sheet on the chuck stage 3 0 6 and a sheet holding ring 3 3 4 A It consists of two support rods 3 3 4 B and 3 3 4 B that are supported and expanded and contracted vertically by an air cylinder (not shown).
  • the sheet pressing ring 3 3 4 A is configured to press the adhesive sheet S against the chuck stage 3 0 6 and clamp it.
  • the chuck stage 3 0 6 of the dicing apparatus is mounted on the upper surface of the Z 0 stage 3 0 4 incorporated in the XY table 3 0 2 disposed in the dicing area, and with the wafer W on the chuck stage 3 0 6 It is designed to be vacuum-sucked to the Z0 stage 304 by co-pulling.
  • FIG. 16 is a cross-sectional view showing an expanding means 3 0 1 A disposed in the sheet and a sheet slack fixing means 3 0 1 B as an expanding holding means.
  • the expanding means 301 A is for stretching the adhesive chip S to which the wafer W is attached to expand the distance between the individual diced chips, and for mounting the wafer W together with the chuck stage 306, a drive (not shown)
  • the elevator base 3 1 1 A which is moved up and down by means, a frame chuck 3 1 3 for attracting and fixing the frame F, and pressure reducing means 3 20 etc.
  • the pressure reducing means 320 has a solenoid valve 32 1 A, 32 1 B, 32 1 C, a reguly of water 32 2 A, 32 2 B, 32 2 C, and a pressure reducing pump 3 2 3
  • the expansion means 3 0 1 A is a pressure reduction pump 3 2 3, a solenoid valve 3 2 1 B, and a regu- lator 3 2 2 B.
  • a porous member 3 1 3 A is embedded in the upper surface of the frame chuck 3 1 3 and a solenoid valve 3 2
  • a porous member 3 0 6 A is embedded in the upper surface of the chuck stage 3 0 6, and a pressure reducing pump 3 via an elevator base 3 1 1 A, a solenoid valve 3 2 1 C, and a regu It is connected to 2 and 3 so that it adheres to the adhesive sheet S together with the plate-like object W. Due to this suction, the chuck stage 306 is also pulled by the mounting base 3 11 A. Lifting the lifting platform 3 1 1 A with chucking of the frame F by the frame chuck 3 1 3 in a state where the suction of each adhesive sheet S by the chuck stage 3 0 6 is released. The adhesive sheet S is expanded by this.
  • Seat fixing means 3 0 8 is a chuck stage 3 0 6, lifting table 3 1 1 A, solenoid valve 3 2
  • a suction means for adhesive sheet S consisting of an IC, a regulator, 32 C and a vacuum pump, and the expanded adhesive sheet portion is placed on the chuck stage 3 0 6 Expanded state is temporarily maintained by adsorption fixation.
  • Sag loose part fixing means 3 0 1 B is a base of the slack S A portion formed on the adhesive sheet S of the frame F mounted with the wafer W transported by the transporting means 3 30
  • Seat slack part fixing means 3 0 1 B is a 0 table 3 1 1, lifting table 3 1 1 A (shared with expansive means 3 0 1 A), frame chuck 3 1 3 (shared with expanding means 3 0 1 A) , Push-up member 3 1 4, housing 3 1 5, ultrasonic welding tool as welding tool
  • the 0 table 3 1 1 is rotated 0 in the 0 direction in the figure by a driving device (not shown). ⁇
  • the table 3 1 1 has the elevator 31 1 A on which the chuck stage 3 0 6 is mounted and the frame chuck 3 1 3 on which the frame F is mounted.
  • a ring-shaped housing 3 15 having an annular groove 3 1 5 A is disposed above the portion to which the frame F and the adhesive W of the adhesive sheet S are not attached.
  • the inner surface of the annular groove 3 1 5 A is formed of a porous member 3 1 5 B, and the solenoid valve 3 2 1 A
  • the housing 3 15 is moved up and down by drive means (not shown) and is clamped at the lower end.
  • a ring-shaped push-up member 3 1 4 is provided to face the housing 3 1 5 with the adhesive sheet S interposed therebetween.
  • the push-up member 3 14 is moved up and down by a drive means (not shown), and is positioned so as to be raised and inserted into the groove 3 15 A of the housing 3 1 5.
  • the upper end edge of the push-up member 3 1 4 is chamfered smoothly.
  • an ultrasonic welding tool 316 as a welding tool is disposed obliquely toward the entrance of the groove 3515A of the housing 35.
  • 3 16 is moved in the axial direction by drive means (not shown). While vibrating the sound wave, press the object with the tip to weld the object.
  • FIGS. 20 and 21 are flowcharts showing a fourth embodiment of the expanding method of the present invention.
  • W W 18 W mounted on the frame F via the adhesive sheet S is suction-mounted on the chuck stage 3 0 6 by the dicing area of the dicing apparatus, and laser dicing is performed by the laser dicing section (not shown). .
  • the rotating arm of the transfer means 330 is turned and positioned above the wafer W (step S 3 1 1).
  • the frame adsorption means 3 3 3 3 3 3 ... of the transport means 3 3 0 descends to adsorb the upper surface of the frame F by the respective adsorption pads 3 3 3 B.
  • the solenoid valve 3 2 1 B is operated to attract and fix the frame F to the frame chuck 3 1 3.
  • the sheet holding means 3 3 4 ascends to separate the sheet holding ring 3 3 4 A from the adhesive sheet S, and suction of the frame F upper surface side of the frame suction means 3 3 3 3 3 3 ...
  • Fig. 22 shows this state, in which the frame F is attracted and fixed on the frame chuck and the wafer W is not yet attracted to the chuck stage 306, and the distance between the individual diced chips Has not yet been expanded.
  • the lifting platform 31 1 A is lifted. Since the frame F is attracted to and fixed to the frame chuck 3 1 3 when the lifting platform 3 1 1 A is raised, the adhesive sheet S on the chuck stage 3 0 6 and the chuck stage 3 0 6 outside is stretched, and the adhesive sheet The distance between the individual chips T affixed to the point S is enlarged (step S 32 1).
  • Figure 23 shows this situation.
  • the electromagnetic valve 3 21 C is operated to hold the adhesive sheet S on the chuck stage 3 0 6 by suction onto the chuck stage 3 0 6 (step S 3 2 3).
  • a ring-shaped housing 3 1 5 having an annular groove 3 1 5 A is disposed above the W W, and an ultrasonic welding tool 3 1 6 as a welding tool is provided on the outside of the housing 3 1 5
  • the groove of the housing 3 1 5 is placed obliquely towards the entrance of the 3 5 A.
  • Figure 19 represents this state.
  • lower housing 3 1 5 fix the lower end at the same height position as the upper surface of adhesive sheet S. Then, the push-up member 3 14 is raised and brought into contact with the adhesive sheet S, and by raising it again, the slack of the adhesive sheet S is pushed up and pushed into the groove 3 15 A of the housing 3 1 5.
  • Step S 3 2 7 activate the solenoid valve 3 2 1 A, reduce the space in the groove 3 1 5 A of the housing 3 1 5 with a pressure reducing pump, and loosen the adhesive sheet S from the groove 3 1 5 A Adsorb to (Step S 3 2 7).
  • the inner surface of the groove 3 15 A is formed of the porous member 3 15 B, so that the slack SA can be adsorbed uniformly.
  • Figure 24 shows this situation.
  • the ultrasonic welding tool 316 is advanced, and the base portion SB which is the root portion of the slack SA of the adhesive sheet S is pressed at the tip end portion, and the base portions SB are brought into contact with each other. Press against the wall of A.
  • the ultrasonic welding tool 316 oscillates ultrasonic waves and locally welds the base S B of the slack S A of the adhesive sheet S at the tip.
  • 0 table 3 1 1 is rotated once to weld around the base S B of the annular slack S A over the entire circumference of the base S B (step S 3 2 9).
  • Figure 25 shows this situation.
  • the adhesive sheet S is a state in which the portion of the adhesive sheet W is expanded and the distance between the tips T is expanded, and the base SB of the slack SA is pressed with the tip of the ultrasonic welding tool 3 16
  • the base portions SB are pressed against the wall of the groove 35A and locally welded by ultrasonic vibration.
  • Step S 3 3 the ultrasonic welding tool 3 1 6 is retracted, and the solenoid valve 3 2 1 A is actuated to release the pressure reduction in the groove 3 1 5 A of the housing 3 1 5 and raise the housing 3 1 5.
  • the solenoid valve 3 2 1 B and the solenoid valve 3 2 1 C are operated to release the attraction force of the chuck stage 3 0 6 and the frame chuck 3 1 3.
  • the distance between the chips T of the wafer W affixed to the adhesive sheet S and diced into individual chips T is in a state of being expanded, and in this state, the adhesive sheet S is outside.
  • the slack is created near the circumference, the root of the slack is pinched and fixed, and the distance between the individual chips T is kept expanded, so that the diced wafer W can be transported together with the frame.
  • This expansion is preferably performed immediately after the dicing process in the dicing apparatus, and the wafer W is thus transported while the chip T is held in the expanded state while the frame is being transported. As a result, the edge and the edge of the adjacent chips come into contact with each other and the occurrence of chipping or microcracking at the edge is prevented.
  • the expansion of adhesive sheet S and the fixation of the root (base SB) of slack SA of adhesive sheet S are performed in an area different from the dicing area, the operating rate of the dicing machine decreases due to expansion. I have not.
  • the chuck stage 306 is lifted up, expanded, clamped, and then lowered to form the slack SA in the adhesive sheet S.
  • the present invention is not limited to this, and the frame The pressure-sensitive adhesive sheet S may be expanded by pressing down F, and after being clamped, the pressure-sensitive adhesive sheet S may be lifted to form a slack SA in the pressure-sensitive adhesive sheet S.
  • the base SB of the slack S A of the adhesive sheet S is ultrasonically welded, not only ultrasonic welding but also local welding may be performed by thermocompression bonding, and not only welding but also adhesion may be performed using an adhesive.
  • FIG. 26 is for explaining the fifth embodiment of the expanding device of the present invention, which is provided in the dicing area in the dicing device.
  • Expanding device 4 0 1 is a driving means (not shown) surrounding chuck stage 4 1 2 and frame chuck 4 1 3 and chuck stage 4 1 2 mounted on XYZ 0 table 4 1 1 and XY Z 0 table 4 1 1 It has a mounting ring 4 1 4 that can be moved up and down by up and down, and a heating means 4 1 5 etc. mounted on the top surface of the mounting ring 4 1 4.
  • a porous member (not shown) is embedded in the upper surface of the chuck stage 42 and connected to the pressure reducing means via the porous member to hold the work by suction.
  • a porous member 4 13 A is embedded in the upper surface of the flame chuck 43 1 and connected to the pressure reducing means through the porous member 4 13 A.
  • the mounting ring 4 1 4 attached to the mounting ring 4 1 4 is moved up and down.
  • a surface heating element such as a rubber heat exchanger is used to heat a portion between a frame W of a sheet material of the sheet S and a frame F.
  • FIG. 27 is a plan view showing the heated area of the adhesive sheet S between the wafer W and the frame F of the adhesive sheet S.
  • the heated area of the adhesive sheet S is orthogonal to a pair of areas H 1, H 2 and a dicing line in one direction parallel to the dicing line in one direction of the wafer W.
  • the plurality of heating means 4 1 5 are arranged in the same planar shape and at the same position as these areas HI, H 2, H 3 and H 4 There is.
  • the heating means 45 disposed in these areas 1, H 2, H 3 and H 4 can be independently controlled to control the on / off and heat generation temperature.
  • the wafer W is attached to the heat-shrinkable adhesive sheet S and mounted on the ring-shaped frame F via the adhesive sheet S. It is thrown in.
  • the base material of the heat-shrinkable adhesive sheet S is a polyolefin-based plastic that shrinks when heat of 115 ° C. or more is applied, and the shrinkage rate is 15% or more in terms of length change rate Used.
  • the base material of the pressure-sensitive adhesive sheet S can be appropriately selected from plastics such as polyvinyl chloride, polyester, and polystyrene, in addition to polyolefins.
  • the wafer W When the wafer W is diced, the wafer W is attached to the adhesive sheet S and vacuum-sucked to the chuck stage 42 via the adhesive sheet S.
  • the frame F is also attracted to the frame chuck 4 1 3 via the adhesive sheet S.
  • the mounting ring 4 1 4 to which the heating means 4 1 5 is attached is located below.
  • a laser beam (not shown) is irradiated with a laser beam having a focusing point inside the beam to form a modified layer by multiphoton absorption inside, and the XYZ 6 table 4 1 1
  • the laser is diced by the relative movement of the laser beam and the laser beam.
  • Wah W is diced, the suction of the frame F is left as it is, the vacuum chuck of the chuck stage is opened to the atmosphere, and the portion where the W of W adhesive is attached to the adhesive sheet S The suction of the minute is released.
  • the mounting ring 4 1 4 ascends to bring the heating means 4 1 5 into contact with the heating area H 1, H 2, H 3 and H 4 of the adhesive sheet S.
  • either area HI, H2 or area H3, H4 is heated first. Since the adhesive sheet S is a heat-shrinkable sheet, the heated area shrinks. At this time, the portion of the adhesive sheet S to which the wafer W is attached is stretched outward, and the distance between the individual diced chips T is spread in one direction.
  • the heating means 45 can be heated to a temperature close to 120 ° C, but observe the distance between chips with a microscope or TV camera image, and control the heating temperature of each heating area according to the expansion situation of each part. .
  • the heating means 415 is lowered, and at the same time, the adsorption of the frame F is released. Since the shrunk state is maintained even if heating of the heated areas HI, H 2, H 3, and H 4 of the adhesive sheet S is released, the expansive state of the portion to which the W W is applied is also The wafer W can be transported while being mounted on the frame F with the chip interval expanded.
  • the wafer W is expanded immediately after dicing without being removed from the chuck stage 42, and the distance between the individual chips is expanded, so that edge-to-edge contact of the chips is prevented during transport.
  • one of area HI, H 2 or area H 3 or H 4 of adhesive sheet S is heated first and expanded in one direction, and then the other one is heated and expanded in the other direction.
  • it may be performed by on / off control of the heating means 45 corresponding to each area, or even if the mounting ring 44 is divided and moved up and down independently in each area. Good.
  • the heating area of the adhesive sheet S is four places, it may be further subdivided and finely controlled.
  • the heating areas HI, H 2, H 3 and H 4 may be heated simultaneously.
  • the area to be heated of the adhesive sheet S is an annular area HR, and the heating means 4 15 is also an annular ring of the same shape. It can be done.
  • FIG. 29 illustrates a sixth embodiment of the expanding device of the present invention.
  • Expanding device 51 is an expanding means mounted on base 5 11 1 and base 5 1 1, and an expansion table 5 1 2 and a frame chuck 5 1 3, and a chuck stage attached to the expansion and contraction table 5 1 2 It has an injection pipe 51, which is an expandable holding means, attached to the base 5 11 via the holder 5 16 and the holder 5 16.
  • a porous member 5 1 4 A is embedded on the upper surface of the chuck stage 5 1 4, and the porous member 5 1 4 A is a vacuum pump 5 2 via a solenoid valve 5 2 1 B and a regiyu valve 5 2 2 B. It is connected to 3 and is designed to adsorb and hold the adhesive sheet S together with the plate work W.
  • a porous member 5 1 3 A is embedded in the upper surface of the frame chuck 5 1 3, and the porous member 5 1 3 A is a vacuum pump via a solenoid valve 5 2 1 A and a regu It is connected to 5 2 3 so as to suction and hold the frame F together with the adhesive sheet S.
  • the telescopic table 512 is vertically expanded and contracted by drive means (not shown) to move the wafer W on the chuck stage 5 14 together with the adhesive sheet S up and down.
  • the injection pipe 55 is connected to the hot air source by a ring-shaped pipe, and injects hot air upward from a large number of injection ports 5 15 A, 5 15 A,.
  • the wafer W is attached to the heat-shrinkable adhesive sheet S as shown in FIG. 3, and the ring-shaped frame F is mounted via the adhesive sheet S. It is thrown in in the state that it was deceived.
  • the base material of the heat-shrinkable adhesive sheet S is a polyolefin-based plastic, which shrinks when heat of 115 ° C. or more is applied, and the shrinkage rate is 15% or more in terms of length change rate Used.
  • the base material of the pressure-sensitive adhesive sheet S is, in addition to the polyolefin type, polyvinyl chloride, polyester It can be suitably selected from tellurium, plastics such as polystyrene.
  • the wafer W is placed on the chuck stage 5 14 via the adhesive sheet S, and the frame F is placed on the frame chuck 5 13. In this case, W is already diced and divided into individual chips.
  • step S 5 1 operate the solenoid valve 5 2 1 A to attach and fix the frame F to the frame chuck 5 1 3 (step S 5 1 1). Note that the wafer W is not attracted while it is placed on the chuck stage 54. Figure 29 shows this situation.
  • step S 5 13 stretch the telescopic table 5 12 2 upward and lift the adhesive sheet S on the portion where the W U W is attached. As a result, the adhesive sheet S is stretched to increase the distance between the individual chips T (step S 5 13).
  • Figure 31 shows this situation.
  • hot air is injected from the injection ports 5 1 5 A, 5 1 5 A, ... of the injection pipes 5 1 5 toward the slack S A of the adhesive sheet S.
  • the temperature of the hot air is preferably about 120 ° C. Since the adhesive sheet S is a heat-shrinkable sheet, the slack S A portion shrinks to eliminate the slack S A (step S 5 19).
  • FIG. 32 shows a state in which a slack S A is formed on the adhesive sheet S between the frame F and the chuck stage 54, and the hot air is sprayed from the jet pipe 5 15 to the slack S A portion.
  • the solenoid valves 5 2 1 A and 5 2 1 B are operated to release the adhesion between the frame W and the frame F (step S 52 1). Even if the adsorption of W "ha" W is released, the expanded state of the adhesive sheet S is maintained because the slack SA of the adhesive sheet S is shrunk and eliminated, and the distance between the individual chips T is kept expanded. Fig. 3 3 shows this condition. ing.
  • the individual chips T can be prevented from contacting each other, and the wafer W can be easily transported with the frame F. can do.
  • the frame F is fixed at a predetermined position, and the wafer W is moved upward to expand the adhesive sheet S.
  • the present invention is not limited to this, and the wafer W is fixed at a predetermined position.
  • the frame F may be pushed downward to expand the adhesive sheet S, and any other method may be used to move the frame F relative to the other as long as the frame F is relatively separated.
  • FIG. 34 shows an expander according to a modification of the sixth embodiment of the present invention.
  • Expanding device 5 0 1 A is a ring provided on a base 5 1 1 via a stage 5 3 1 and a frame chuck 5 1 3 mounted on a base 5 1 1 and a base 5 1 1 and a frame chuck 5 1 3
  • the heating plate 534 has the shape of a circle.
  • a porous member 5 1 3 A is embedded in the upper surface of the flame check 5 1 3, and the porous member 5 1 3 A is connected to a vacuum source (not shown) so that the frame F can be adsorbed and held together with the adhesive sheet S. There is.
  • a surface heating element such as a laper heater is used for the heating plate 543, and the mounting base 535 having the heating plate 534 attached thereto is vertically moved by a driving means (not shown).
  • An annular clamp ring 53 3 is provided above the stage 5 31 and is moved up and down by driving means (not shown). When the clamp ring 53 3 is pushed downward, the adhesive sheet S is pressed against the stage 5 31 1 to clamp the adhesive sheet S. Further, an annular pressing ring 5 32 is provided above the heating plate 5 34 and is moved up and down by driving means (not shown). When the pressing ring 53 2 is pushed downward, the adhesive sheet S is pushed downward in a ring shape.
  • FIG. 35 is a flowchart showing a modification of the sixth embodiment of the expanding method according to the present invention.
  • the vacuum source of frame chuck 5 13 is turned on, and frame F together with adhesive sheet S is sucked and fixed to frame chuck 5 1 3 (step S 53 1).
  • the adhesive sheet S is expanded, and the distance between the individual chips T is enlarged (step S 5 3 3).
  • the clamp ring 533 is moved downward, and the adhesive sheet S is pressed against the stage 531 at the outer periphery of the wafer W and clamped (step S535).
  • the expanded state of the adhesive sheet S on the stage 5 31 is temporarily maintained.
  • a sag SA as shown by a dotted line in FIG. 34 is formed in a portion between the stage 5 3 1 of the adhesive sheet S and the frame F (see FIG. Step S 5 3 7).
  • raise the mount 535 bring the ring-shaped superheated plate 534 heated to about 120 into contact with the slack S A portion of the adhesive sheet S, and gradually lift it.
  • the slack SA gradually shrinks and the slack SA is eliminated (step S 5 3 9). Since the outer portion of the adhesive sheet is roundedly heated by the ring-shaped superheater plate 344, the slack of the adhesive sheet S is uniformly shrunk and eliminated.
  • step S 5 4 1 When the slack S A is completely eliminated, the heating plate 5 3 4 and the clamp ring 5 3 3 are retracted (step S 5 4 1). Here, the suction of the frame F is released (step S 5 4 3). Even if the clamp of the adhesive sheet S on stage 5 3 1 and the suction of the frame F are released, the slack of the adhesive sheet S shrinks and disappears, so the expanded state of the adhesive sheet S is maintained, and the individual The distance between the chips T is enlarged to prevent contact between the individual chips T, and the wafer W can be easily transported together with the frame F.
  • the pressing ring 532 forms a slack SA as shown by the dotted line in the figure, and the slack SA is heated by the ring-shaped superheated plate 534 and contracted to be completely eliminated ( It represents the solid line in the figure).
  • the distance between the individual chips T expanded and diced with the heat-shrinkable adhesive sheet S is expanded. Since the slack SA is formed in the adhesive sheet S while keeping the expanded state, and the slack SA is heated to be heat-shrunk, the expanded state of the adhesive sheet S can be easily maintained, and the tip T in the transport can be maintained. Contact between the edges is prevented.
  • FIG. 36 explains the seventh embodiment of the expanding device of the present invention.
  • the expansion device 601 is provided on the base 61 1 and the base 6 11 1 with the frame 62 1 2 and the frame chuck 6 1 3 and the frame 6 12 2 on the ridge 6 12 A. It has a frame holder 6 1 5 disposed above the air bag 6 1 4, a frame chuck 6 1 3, a cut sheet 6 1 6 for cutting the adhesive sheet S, and the like.
  • the expanding means of the expanding device 601 is composed of a first stage 6212, an air bag 6414 and so on, and the expanding holding means is constituted by a frame holder 65, a cutaway box 661 and so on. There is.
  • the wafer stage 62 1 2 is moved up and down by drive means (not shown) to move the plate member W together with the adhesive sheet S up and down.
  • the flame check 613 has a cylindrical shape, and the porous member 6 1 3 A is embedded in the upper surface of the flame check 6 1 3, and the porous member 6 1 3 A is connected to a vacuum source not shown.
  • the first frame which is the frame F, is suction-held together with the adhesive sheet S.
  • the air bag 6 1 4 provided on the heel portion 6 1 2 A of the U-ha stage 6 1 2 is in the form of a tube made of a rubber-based elastic member, and is connected to a compressed air source (not shown). It is designed to expand and contract in the lateral direction mainly by force.
  • the frame holder 6 1 5 disposed above the frame chuck 6 1 3 is moved up and down by a drive means (not shown) and connected to a vacuum source (not shown) to attract a new frame F as a second frame. It is supposed to hold.
  • the new frame F which is the second frame is the same as the frame F which is the first frame.
  • it is moved up and down together with the frame holder 6 1 5, and is advanced and retracted toward the outer periphery of the new frame F, and further rotated along the outer periphery of the new frame F
  • a cutlet 616 is provided to move and cut off the adhesive sheet S.
  • the wafer W is attached to the adhesive sheet S as shown in FIG. 3, and the ring-shaped frame F, which is the first frame, is attached via the adhesive sheet S. It is thrown in the mounted state.
  • Wah W has already been diced and divided into individual chips T.
  • a second frame F which is the second frame, is fixed by suction to the frame holder 65 and fixed (step S 6 1 7), and the new frame F is affixed to the expanded adhesive sheet S (step S S 6 1 9).
  • Figure 39 shows this situation.
  • the expanded state of the adhesive sheet S in the inner portion of the new frame F is maintained.
  • the supply of the compressed air supplied to the air bag 64 is stopped, and the communication path is opened to the atmosphere to shrink the air bag 64 (step S 6 21).
  • step S 6 2 3 and then turn the pot 6 16 1 round along the outer periphery of the new frame F to separate the adhesive sheet S at the outer periphery of the new frame F (step S 6 2 5) .
  • step S 6 2 7 set back the grill 616 (step S 6 2 7), and release the suction of the new frame F by the frame holder 6 1 5.
  • the expanded state of the expanded adhesive sheet S is maintained, and the distance between the individual chips T is expanded, so that the individual chips T can be prevented from contacting each other. It can be easily transported.
  • the frame F held by suction by the frame chuck 61 3 is released after the suction is released.
  • the adhesive material of the adhesive sheet S affixed to the frame F is an ultraviolet-curable adhesive
  • the adhesive sheet S is removed after the adhesive force is weakened by irradiating ultraviolet light.
  • the adhesive material of the adhesive sheet S is a thermosetting adhesive, heat is applied to weaken the adhesive force.
  • the first frame, frame F, and the second frame, new frame F use the same kind of material, so the first frame from which adhesive sheet S is removed is frame F is the next new frame F. Use.
  • the frame F is fixed at a predetermined position, and while moving the upper W, the air bag 612 is expanded to expand the adhesive sheet S, but the present invention
  • the adhesive sheet S may be expanded by fixing the WAH W at a fixed position and pressing down the frame F and expanding the air bag 64, and the WAH W and the frame may be expanded. After a predetermined distance from F relative to each other, the bag 614 may be inflated.
  • the air bag 64 is used as a means for stretching the adhesive sheet S in the lateral direction
  • the lateral force is applied to the adhesive sheet S using various other mechanical means without being limited to the air bag 64. You may Industrial applicability
  • the adhesive sheet is attached and mounted on the ring-shaped frame via the adhesive sheet,
  • the adhesive sheet For the plate-like material diced into chips, expand the adhesive seal in the state that the plate-like material is mounted on the frame after dicing, expand the space between the individual chips, and maintain the condition. Therefore, the plate-like object can be transported together with the frame, and it is possible to prevent the occurrence of chipping or micro cracks in the edge portion due to the contact between the edges of the adjacent chips due to vibration during transportation.

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Abstract

 板状物(W)のダイシング加工後に、板状物(W)をフレーム(F)にマウントしたままの状態でエキスパンド手段(20)で粘着シート(S)をエキスパンドして、個々のチップ(T)間の間隔を広げ、その粘着シート(S)のエキスパンド状態をエキスパンド保持手段(10)で保持させ、チップ(T)間の間隔を維持したまま板状物(W)をフレーム(F)ごと搬送可能とし、搬送中に隣同士のチップ(T)が干渉しないようにした。これにより、ダイシング加工後の板状物(W)を、搬送中の振動によって隣同士のチップ(T)のエッジとエッジとが接触してエッジ部に欠けやマイクロクラック等が発生することなしに、フレーム(F)ごと搬送することができる。

Description

エキスパンド方法及びエキスパンド装置
技術分野
本発明は、 粘着シートのエキスパンド方法及びエキスパンド装置に関し、 特に粘着 シートを介してリング状のフレームにマウントされ、 個々のチップにダイシング加工 明
された板状物に対し、 ダイシング加工後に、 粘着シートをエキスパンドして個々のチ 田
ップ間の間隔を拡大するエキスパンド方法及びエキスパンド装置に関する。
背景技術
半導体製造工程等において、 表面に半導体装置や電子部品等が形成された板状物で あるゥェ一ハは、 プロ一ビング工程で電気試験が行われた後、 ダイシング工程で個々 のチップ (ダイ、 又はペレットとも言われる) に分割され、 次に個々のチップはダイ ボンディング工程で部品基台にダイボンディングされる。ダイボンディングされた後、 個々のチップは樹脂モールドされ、 半導体装置や電子部品等の完成品となる。
図 3に示すように、 プロ一ビング工程の後、 ゥエーハ Wは、 片面に粘着層が形成さ れた厚さ 1 0 0 z m程度の粘着シート (ダイシングシ一卜又はダイシングテープとも 呼ばれる) Sに裏面を貼り付けられ、 剛性のあるリング状のフレーム Fにマウントさ れる。 ゥエーハ Wはこの状態でダイシング工程内、 ダイシング工程とダイポンディン グ工程との間、 及びダイボンディング工程内を搬送される。
ダイシング工程では、 ダイシングブレードと呼ばれる薄型砥石でゥエーハ Wに研削 溝を入れてゥエーハ Wをカツ卜するダイシング装置が用いられている。 ダイシンダブ レードは、 薄型砥石に微細なダイヤモンド砥粒を N iで電着したもので、 厚さ 1 0 m〜3 0 /xm程度の極薄のものが用いられる。
このダイシングブレードを 3 0 , 0 0 0〜6 0, 0 0 0 r p mで高速回転させてゥ エーハ Wに切り込み、 ゥエーハ Wを完全切断 (フルカツト) する。 このときゥエー八 " の裏面に貼られた粘着シート Sは、 表面から 1 0 xm程度しか切り込まれていない ので、 ゥェ一ハ Wは個々のチップ Tに切断されてはいるものの、 個々のチップ Tがバ ラバラにはならず、 チップ T同士の配列が崩れていないので全体としてゥエーハ状態 が保たれている。
また、 ダイシングブレードを用いずに、 ゥエーハ Wの内部に集光点を合わせたレ一 ザ一光を照射し、 ゥエーハ内部に多光子吸収現象による改質領域を形成させ、 この改 質領域を起点としてゥェ一ハ Wを割断するレーザーダイシング加工が提案されている。 このレーザーダイシング加工の場合も、 ゥエーハ Wは図 3に示すような状態でダイシ ングされるので、 チップ T同士の配列が崩れず、 全体としてゥェ一ハ状態が保たれて いる。
ここでは、 このようにダイシング加工されて個々のチップ Tに分割された後であつ ても、 チップ T同士の配列が崩れていないこのチップ Tの集合体をも便宜上ゥエーハ Wと呼ぶこととする。
この後ゥエーハ Wはダイボンディング工程に送られる。 ダイボンディング工程では ダイボンダが用いられる。 ダイボンダではゥエーハ Wは先ずエキスパンドステージに 載置され、 次に粘着シート Sがエキスパンドされて、 チップ T同士の間隔が広げられ チップ Tをピックアップし易くしている。
次に、 下方からチップ Tをプッシヤーで突上げるとともに上方からコレツ卜でチッ プ Tをピックアップし、 基台の所定位置にチップ Tをボンディングする。
このように、 ダイボンダの中に、 粘着シート Sを押し広げてチップ T同士の間隔を 広げるエキスパンド装置を組込むことは、 従来から行われている。 また、 このエキス パンド装置の種々の改良発明も行われている (例えば、 特開平 7— 2 3 1 0 0 3号、 特開平 7— 3 2 1 0 7 0号、 及び特開 2 0 0 1— 0 2 4 0 1 0号参照) 。
前述の従来技術では、 粘着シート Sを介してフレーム Fにマウントされたゥエーハ Wは、 ダイシンダブレードで個々のチップ Tに切断された後、 ダイシング装置内をそ のままの状態で搬送されて洗浄等が行われ、 次にダイボンダまで搬送され、 ダイボン ダ内もその状態のままで搬送が行われている。 ところが、 近年 I C等の半導体装置ではゥエーハ W l枚当たりのチップ形成数を増 加させるため、 ダイシング加工の為の加工領域 (ストリートとも呼ばれる) の幅が極 度に狭くなつてきている。 そのため、 ダイシング工程では厚さ 1 0 m〜l 5 x m程 度の極薄のダイシングブレードが使用されるようになってきている。
このような極薄のダイシングブレードでダイシングされたゥエーハ Wや、 前述のレ 一ザ一ダイシングされたゥェ一ハ Wでは、 チップ T同士の間隔が極度に狭いため、 従 来のように粘着シー卜 Sを介してフレーム Fにマウン卜された状態のままで搬送した 場合、 搬送中の振動によって隣同士のチップ Tのエッジとエッジとが接触し、 エッジ 部に欠けやマイクロクラックが生じ、 良品チップ Tを不良にしたり、 完成後の製品の 信頼性を損なうという問題が生じる。
このため、 ダイシング装置内でダイシング後直ちにエキスパンドし、 チップ T同士 の間隔を広げて搬送することが要求されるようになってきている。 ところが、 従来行 われていたエキスパンド方法や、 前述の特開平 7— 2 3 1 0 0 3号及び特開平 7— 3 2 1 0 7 0号に記載されたエキスパンド方法をダイシング装置内で行ったとしても、 粘着シート Sへの張力付与を解除するとエキスパンドされた粘着シ一ト Sが又元通り に縮んでしまうため、 ゥェ一ハ Wをフレーム Fごと搬送することができない。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、 ダイシング後のチップ同士の間 隔が極度に狭いゥエー八であっても、 搬送中の振動によって隣同士のチップのエッジ とエツジとが接触してエツジ部に欠けやマイクロクラック等が発生することなしに、 フレームごと搬送することのできる粘着シートのエキスパンド方法及びエキスパンド 装置を提供することを目的とする。 発明の開示
前記目的を達成するために、 本発明は、 粘着シートに貼着されて該粘着シートを介 してリング状のフレームにマウントされ、個々のチップにダイシング加工された板状物 に対し、 ダイシング加工後に、前記粘着シートをエキスパンドして前記個々のチップ間 の間隔を拡大するエキスパンド方法において、前記板状物を前記フレームに たままの状態で前記粘着シートをエキスパンドするエキスパンド工程と、前記エキスパ ンドエ程後に、前記板状物を前記フレームにマウントしたままの状態で前記粘着シート のエキスパンド状態を保持させるエキスパンド保持工程と、 を有し、拡大された前記チ ップ間の間隔を維持したまま前記板状物を前記フレームごと搬送可能とすることを特徴 とするエキスパンド方法に係る。
本発明によれば、 ダイシング加工後に粘着シ一トをエキスパンドして個々のチップ 間の間隔を広げ、 その状態を保持したまま板状物を搬送するので、 搬送中の振動によ つて隣同士のチップのエツジとエツジとが接触して、 エツジ部に欠けやマイクロクラ ック等が発生することがない。
好ましくは、前記エキスパンド工程は、前記粘着シートを加熱して膨張させる工程を 含む。 これにより、 粘着シートを容易にエキスパンドすることができる。
また好ましくは、前記エキスパンド工程は、前記粘着シートの前記フレームと前記板 状物との間の部分に凸部を形成する工程を含み、前記エキスパンド保持工程は、前記粘 着シートの前記凸部の基部を溶着又は接着する工程を含む。 これにより、 粘着シート に凸部を形成してエキスパンドし、 凸部の基部を溶着又は接着してエキスパンド状態 を保持しているので、 板状物をフレームごと取り扱うことができる。
また好ましくは、前記粘着シートに形成された前記凸部の前記基部を超音波溶着する。 これにより、 粘着シートに形成された凸部の基部を超音波で溶着するので、 容易に局 所溶着を行うことができる。
また好ましくは、前記エキスパンド工程は、前記板状物をダイシング装置のチャック ステージに載置した状態で行うとともに、クランプ部材を用いて前記チャックステージ 上の前記粘着シートのエキスパンド状態を一時的に維持する工程を含み、前記エキスパ ンド保持工程は、前記粘着シートの前記クランプ部材の外側の部分に弛みを形成し、前 記粘着シートの前記弛み部分の基部を摘まんで固定する工程を含む。 これにより、板状 物がダイシング装置のチャックステージに載置された状態でエキスパンドされ、 粘着 シートのエキスパンド状態が保持されているので、 チップ間の間隔を維持したまま板 状物をフレームごと搬送することができる。 また好ましくは、前記エキスパンド工程は、前記板状物のダイシング加工後に、前記 ダイシング装置のダイシングエリァで行われ、前記粘着シートのエキスパンド状態が一 時的に維持された前記板状物を前記チャックステージごと同一装置内の別エリアに搬送 する工程を有し、前記エキスパンド保持工程は、前記別エリァで行われる。これにより、 粘着シートの弛み部分の基部を挟持固定する工程をダイシング装置のダイシングエリ ァとは別のエリァで行うので、 ダイシング装置の稼働率低下を極力抑えることができ る。
また好ましくは、前記板状物のダイシング加工後、前記板状物を前記ダイシング装置 の前記チヤックステージから取り外さずに前記チヤックステージごと同一装置内の別ェ リァに搬送する工程を有し、 前記エキスパンドエ程及び前記エキスパンド保持工程は、 前記同一装置内の前記別エリアにおいて行われる。 これにより、 ダイシングされた板 状物がフレームにマウントされたままの状態で粘着シートのエキスパンド状態が保持 されているので、 チップ間の間隔を維持したまま板状物をフレームごと搬送すること ができる。 そのため、 チップ同士の間隔が極度に狭い板状物であっても、 搬送中の振 動によって隣同士のチップのエッジとエッジとが接触してエッジ部に欠けやマイクロ クラック等が発生することがない。 また、 エキスパンド工程とエキスパンド保持工程 とをダイシング装置のダイシングエリアとは別のエリァで行うので、 ダイシング装置 の稼働率低下を防止することができる。
また好ましくは、前記エキスパンド保持工程は、前記粘着シートの前記弛み部分の前 記基部を溶着又は接着で固定する工程を含む。 この場合、 粘着シ一卜の摘まれた弛み 部分の基部を溶着又は接着してエキスパンド状態を保持しているので、 板状物をフレ ー厶ごと取り扱うことができる。
また好ましくは、前記粘着シートとして熱収縮性のシートを用い、前記エキスパンド 工程及び前記エキスパンド保持工程は、前記粘着シートの前記板状物と前記フレームと の間の部分の内、前記板状物を前記板状物のダイシングラインと平行に挟む少なくとも 1対のエリアで前記粘着シートを加熱することによって、同時に行われる。これにより、 粘着シートの加熱エリァが板状物のダイシングラインと平行に配置されているので、 ラインセンサのような短冊型のチップであっても容易にエキスパンドすることができ る。
また好ましくは、前記板状物の一方向のダイシングラインと平行に前記板状物を挟む 少なくとも 1対のエリアと、前記一方向のダイシングラインと直交するダイシングライ ンと平行に前記板状物を挟む少なくとも 1対のエリアとで前記粘着シートを加熱し、前 記個々のチップ間隔の拡大状況に応じて前記各エリァの加熱温度を個々に制御する。こ れにより、 個々のチップ間隔の拡大状況に応じて各エリァの加熱温度を個々に制御す るので、 個々のチップ間隔を均一に拡大することができる。
また好ましくは、前記板状物のダイシング加工後、前記板状物をダイシング装置のチ ャックステージから取り外さずに前記粘着シートを加熱する。 これにより、 板状物を ダイシング加工後、 板状物をチャックステージから取り外さずにエキスパンドし、 板 状物が貼付された粘着シートはそのままエキスパンド状態が保持されるので、 ダイシ ング後の搬送において個々のチップ同士が干渉することがない。
また好ましくは、前記粘着シートとして熱収縮性のシートを用い、前記エキスパンド 工程は、 前記粘着シートに張力を付与する工程を含み、 前記エキスパンド保持工程は、 前記粘着シートの前記板状物と前記フレームとの間の部分に弛みを形成し、該弛み部分 を加熱して収縮させ、 前記弛みを解消させる工程を含む。 これにより、 熱収縮性の粘 着シ一トをエキスパンドした後、 板状物が貼付されていない部分に弛みを形成し、 弛 み部分を加熱収縮させて粘着シートのエキスパンド状態を保持するので、 チップ間の 間隔を維持したまま板状物をフレームごと搬送することができる。 そのため、 チップ 同士の間隔が極度に狭い板状物であっても、 搬送中の振動によって隣同士のチップの エッジとエッジとが接触してエッジ部に欠けやマイクロクラック等が発生することが ない。
また好ましくは、エキスパンドされた前記板状物が貼付されている部分の前記粘着シ 一卜のエキスパンド状態を吸着保持又は機械的に保持した後に前記弛みを形成し、前記 弛み部分を加熱して収縮させた後に前記吸着保持又は機械的保持を解除する。これによ り、 板状物が貼付されている部分の粘着シートのエキスパンド状態を吸着保持又は機 械的に保持してから弛みを形成し、 弛み部分を加熱収縮させてから吸着保持又は機械 的保持を解除するので、 板状物の外側の粘着シートのみに弛みを形成してその弛み部 分を加熱収縮させることができ、容易にエキスパンド状態を保持させることができる。 また好ましくは、前記板状物と前記フレームとを相対的に離間させることによって前 記粘着シートをエキスパンドし、前記板状物と前記フレームとの相対的離間を解除する ことによって前記弛みを形成する。あるいは、前記板状物と前記フレームとの間の前記 粘着シ一トを押圧することによって前記粘着シ一トをエキスパンドし、前記板状物と前 記フレームとの間の前記粘着シートの押圧を解除することによって前記弛みを形成する。 これらにより、 粘着シー卜を容易に均等にエキスパンドすることができる。
また好ましくは、前記粘着シ一トの前記板状物の外側部分を環状に加熱することによ つて前記弛み部分を収縮させる。 これにより、 粘着シートの前記板状物の外側を環状 に加熱するので、粘着シートに形成された弛み部分を均一に収縮させることができる。 また好ましくは、前記板状物のダイシング加工後、前記板状物をダイシング装置のチ ャックステージから取り外さずに前記粘着シートをエキスパンドする。 これにより、板 状物をダイシング加工後、 板状物をチャックステージから取り外さずにエキスパンド し、 板状物が貼付された粘着シートはそのままエキスパンド状態が保持されるので、 ダイシング後の搬送において個々のチップ同士が干渉することがない。
また好ましくは、前記エキスパンド工程は、前記板状物と前記フレームとを上下方向 に相対的に離間させるとともに、 前記粘着シートに横方向の力を付与する工程を含み、 前記エキスパンド保持工程は、前記エキスパンドされた前記粘着シートにリング状の別 のフレームを貼着し、該別のフレームの外周近傍で前記粘着シートを切断する工程を含 む。これにより、エキスパンドされた粘着シ一卜にリング状の別のフレームを貼着し、 別のフレームの外周近傍で粘着シート切断して粘着シ一トのエキスパンド状態を保持 するので、 チップ間の間隔を維持したまま板状物をフレームごと搬送することができ る。 そのため、 チップ同士の間隔が極度に狭い板状物であっても、 搬送中の振動によ つて隣同士のチップのエツジとエツジとが接触してエツジ部に欠けやマイクロクラッ ク等が発生することがない。 また好ましくは、前記粘着シートに付与する前記横方向の力は、エア一バッグを膨張 させることによって付与する。 これにより、 エア一バッグを用いて粘着シートを横方 向に押し広げるので、 複雑なエキスパンド形状であっても容易にエキスパンドするこ とができる。
また好ましくは、 前記フレームと前記別のフレームとは同種のフレームである。 こ れにより、 粘着シートを介して板状物がマゥントされたフレームと、 エキスパンドさ れた粘着シートのエキスパンド状態を保持するフレームとが同種のフレームであるた め、 フレームを共用することができ装置構成を簡略化できるとともに、 以降の工程に おける搬送手段の変更を必要としない。
前記目的を達成するために、 本発明はまた、 粘着シートに貼着されて該粘着シート を介してリング状のフレームにマウントされ、個々のチップにダイシング加工された板 状物に対し、 ダイシング加工後に、 前記粘着シートをエキスパンドして前記個々のチッ プ間の間隔を拡大するエキスパンド装置において、前記板状物を前記フレームにマウン トしたままの状態で前記粘着シートをエキスパンドするエキスパンド手段と、前記ェキ スパンド後に、前記板状物を前記フレームにマウントしたままの状態で前記粘着シート のエキスパンド状態を保持させるエキスパンド保持手段とを有し、拡大された前記チッ プ間の間隔を維持したまま前記板状物を前記フレームごと搬送可能とすることを特徴と するエキスパンド装置に係る。
本発明によれば、 ダイシング加工後に粘着シートをエキスパンド手段でエキスパン ドして個々のチップ間の間隔を広げ、 その状態をエキスパンド保持手段で保持するの で、 ゥエーハをフレームごと搬送することができ、 搬送中の振動によって隣同士のチ ップのエツジとエツジとが接触して、 エツジ部に欠けやマイクロクラック等が発生す ることがない。
好ましくは、前記エキスパンド手段は、前記板状物が前記粘着シ一トごと載置される 加熱ステージと、該加熱ステージに組込まれたヒータとを含み、前記エキスパンド保持 手段は、前記板状物の外径よりも大きな内径を有する内リングと、該内リングの外周に 前記粘着シ一卜を介在させた状態で強嵌合可能な内径を有する外リングを含み、前記加 熱ステージによって前記粘着シートの前記板状物が貼付された部分を加熱し、該粘着シ ートを外周に向けて膨張させることによってエキスパンドするとともに、前記内リング と前記外リングとで前記粘着シートの加熱された部分の外側を挟み込んで、前記粘着シ 一卜のエキスパンド状態を保持するように構成される。 これにより、 粘着シートを容 易に加熱して外周に向けて膨張させることができるとともに、 粘着シートのエキスパ ンド状態を容易に保持することができる。
また好ましくは、前記エキスパンド手段は、前記板状物を載置するチャックステージ と、前記粘着シートの前記フレームと前記板状物との間の部分を押圧して前記粘着シー トに凸部を形成する押圧部材とを含み、前記エキスパンド保持手段は、前記粘着シート を挟んで前記押圧部材と対向して配置され、前記凸部を収容する空間部を有するハウジ ングと、前記凸部の基部に向けて押圧される溶着工具とを含み、前記押圧部材で前記粘 着シートに前記凸部を形成することによって前記粘着シートをエキスパンドし、前記溶 着工具で前記凸部の前記基部を溶着することによって前記粘着シートのエキスパンド状 態を保持する。 これにより、 エキスパンド装置は粘着シートに凸部を形成する押圧部 材と、 凸部の基部を溶着する溶着工具を有しており、 押圧部材で粘着シートをエキス パンドし、 溶着工具で粘着シートに形成された凸部の基部を溶着するので、 板状物を フレームにマウントしたままの状態でエキスパンド状態を保持することができる。 また好ましくは、 前記ハウジング内の前記空間部を減圧する減圧手段が設けられる。 これにより、 粘着シートに形成された凸部をハウジング内の空間部に吸引するので、 押圧部材を後退させても凸部の形状が維持され、 凸部の基部を容易に溶着することが できる。
また好ましくは、 前記エキスパンド手段は、 前記板状物のダイシング加工後、 前記 板状物をダイシング装置のチヤックステージから取り外さずに前記粘着シートをエキス パンドし、前記チヤックステージ上の前記粘着シートのエキスパンド状態を一時的に維 持するシート固定手段が設けられ、前記粘着シートのエキスパンド状態を一時的に維持 したまま、前記板状物を前記チヤックステージごとダイシングエリァから前記ダイシン グ装置内の別エリアに搬送する搬送手段が設けられ、前記エキスパンド保持手段は、前 記別エリァに設けられ、前記粘着シートのエキスパンド状態が維持されていない部分に 発生する弛み部分の基部を摘まんで固定する。 これにより、 ダイシング加工後板状物 をチャックステージから取り外さずにエキスパンドするので、 ダイシング装置内の搬 送においても、 搬送中の振動によって隣同士のチップのエッジとエッジとが接触して エッジ部に欠けやマイクロクラック等が発生することがない。 また、 ダイシングエリ ァとは別エリァで粘着シートのエキスパンド状態が維持されていない部分に発生する 弛み部分の基部を挟持固定するので、 ダイシング装置の稼働率低下を極力抑えること ができる。
また好ましくは、前記板状物のダイシング加工後、前記板状物をダイシング装置のチ ャックステージから取り外さずに前記板状物を前記チャックステージごとダイシングェ リァから前記ダイシング装置内の別エリァに搬送する搬送手段が設けられ、前記エキス パンド手段は、前記ダイシング装置内の前記別エリアにおいて前記粘着シートをエキス パンドし、前記チヤックステージ上の前記粘着シ一トのエキスパンド状態を一時的に維 持するシート固定手段が設けられ、 前記エキスパンド保持手段は、前記粘着シートのェ キスパンド状態が一時的に維持されていない部分に発生する弛み部分の基部を摘まんで 固定する。 これにより、 ダイシング加工後板状物をチャックステージから取り外さず に、 チャックステージごとダイシングェリアからダイシング装置内の別ェリァに搬送 して、 エキスパンドし、 チャックステージ上の粘着シートのエキスパンド状態を一時 的に維持し、 更にエキスパンド状態を保持するので、 ダイシング装置内の搬送におい ても、 搬送中の振動によって隣同士のチップのエッジとエッジとが接触してエッジ部 に欠けやマイクロクラック等が発生することがない。 また、 エキスパンドのためにダ ィシング装置の稼働率が低下することを防止できる。
また好ましくは、前記エキスパンド保持手段は超音波溶着工具を含む。これにより、 粘着シートに発生する弛み部分の基部を超音波で溶着するので、 容易に局所溶着を行 うことができる。
また好ましくは、熱収縮性の前記粘着シートを対象とし、前記エキスパンド手段及び 前記エキスパンド保持手段は、前記板状物の一方向のダイシングラインと平行に前記板 状物を挟む少なくとも 1対のエリアと、前記一方向のダイシングラインと直交するダイ シングラインと平行に前記板状物を挟む少なくとも 1対のエリアとで前記粘着シートを 加熱する加熱手段を含む。 これにより、 個々のチップ間隔の拡大状況に応じて各エリ ァの加熱温度を個々に制御することができるので、 個々のチップ間隔を均一に拡大す ることができる。
また好ましくは、 熱収縮性の前記粘着シートを対象とし、 前記エキスパンド手段は、 前記板状物と前記フレームとを上下方向に相対的に離間させる手段及び前記粘着シート を押圧する手段の少なくとも一方を含み、前記粘着シートのエキスパンド状態を一時的 に維持するシート固定手段が設けられ、 前記エキスパンド保持手段は、前記粘着シート の前記板状物と前記フレームとの間の部分に形成される弛み部分を加熱する加熱手段を 含む。 これにより、 熱収縮性の粘着シートをエキスパンドした後、 板状物が貼付され ていない部分に弛みを形成し、 弛み部分を加熱収縮させて粘着シートのエキスパンド 状態を保持するので、 チップ間の間隔を維持したまま板状物をフレームごと搬送する ことができる。 そのため、 チップ同士の間隔が極度に狭い板状物であっても、 搬送中 の振動によって隣同士のチップのエツジとエツジとが接触してエツジ部に欠けやマイ クロクラック等が発生することがない。
また好ましくは、前記エキスパンド手段は、前記板状物と前記フレームとを上下方向 に相対的に離間させて前記粘着シートを引き伸ばす手段と、圧縮エア一によって膨張し 前記粘着シートに横方向の力を付与するエア一バッグとを含み、前記エキスパンド保持 手段は、エキスパンドされた前記粘着シートに新たなフレームを貼付する手段と、前記 新たなフレームの外周に沿って前記粘着シートを切断する手段とを含む。 これにより、 板状物とフレームとを上下方向に相対的に離間させて粘着シートを引き伸ばすととも に、 エアーバッグを膨張させて粘着シートに横方向の力を付与させて粘着シ一トをェ キスパンドし、 エキスパンドされた粘着シートにリング状の別のフレームを貼着し、 この別のフレームの外周近傍で粘着シートを切断して粘着シートのエキスパンド状態 を保持するので、 チップ間の間隔を維持したまま板状物をフレームごと搬送すること ができる。 そのため、 チップ同士の間隔が極度に狭い板状物であっても、 搬送中の振 動によつて隣同士のチップのエツジとエツジとが接触してエツジ部に欠けやマイク口 クラック等が発生することがない。 図面の簡単な説明
図 1は、本発明の第 1の実施の形態に係るエキスパンド装置を表わす断面図であり; 図 2は、 第 1の実施の形態の粘着シートのエキスパンド保持状態を表わす断面図で あり ;
図 3は、 フレームにマウントされたゥエーハを表わす斜視図であり ;
図 4は、本発明の第 2の実施の形態に係るエキスパンド装置を表わす断面図であり; 図 5は、 第 2の実施の形態に係るエキスパンド方法を説明するフローチャートであ Ό ;
図 6は、 第 2の実施の形態のエキスパンド状態を表わす概念図であり ;
図 7は、 第 2の実施の形態のエキスパンド保持状態を表わす概念図であり ; 図 8は、 本発明の第 3の実施の形態に係るエキスパンド装置の一部を表わす正面図 であり ;
図 9は、 第 3の実施の形態に係るエキスパンド装置の一部を表わす平面図であり ; 図 1 0は、 第 3の実施の形態のシート弛み部固定手段を表わす断面図であり ; 図 1 1は、 第 3の実施の形態に係るエキスパンド方法を説明するフローチャートで あり ;
図 1 2は、 第 3の実施の形態に係るエキスパンド方法を説明するフローチャートで あり ;
図 1 3は、 第 3の実施の形態のエキスパンド動作を説明する正面図であり ; 図 1 4は、 第 3の実施の形態のシート弛み形成動作を説明する正面図であり ; 図 1 5は、 第 3の実施の形態のシート弛み部固定動作を説明する断面図であり ; 図 1 6は、 第 3の実施の形態のシート弛み部固定動作を説明する断面図であり ; 図 1 7は、 本発明の第 4の実施の形態に係るエキスパンド装置の搬送手段を表わす 正面図であり ; 図 1 8は、 第 4の実施の形態に係るエキスパンド装置の搬送手段を表わす平面図で あり ;
図 1 9は、 第 4の実施の形態に係るエキスパンド装置のエキスパンド手段及びシー 卜弛み部固定手段を表わす断面図であり ;
図 2 0は、 第 4の実施の形態に係るエキスパンド方法を説明するフロ一チャートで あり ;
図 2 1は、 第 4の実施の形態に係るエキスパンド方法を説明するフローチャートで あり ;
図 2 2は、 エキスパンドエリアに搬入されたゥエー八の状態を説明する断面図であ り ;
図 2 3は、 第 4の実施の形態のエキスパンド動作を説明する断面図であり ; 図 2 4は、 第 4の実施の形態のシート弛み部固定動作を説明する断面図であり ; 図 2 5は、 第 4の実施の形態のシート弛み部固定動作を説明する断面図であり ; 図 2 6は、 本発明の第 5の実施の形態に係るエキスパンド装置を表わす断面図であ り ;
図 2 7は、 粘着シートの加熱エリアを表わす平面図であり ;
図 2 8は、 粘着シートの加熱エリアの他の実施の形態を表わす平面図であり ; 図 2 9は、 本発明の第 6の実施の形態に係るエキスパンド装置を表わす断面図であ り ;
図 3 0は、 第 6の実施の形態に係るエキスパンド方法を説明するフローチャートで あり ;
図 3 1は、 第 6の実施の形態のエキスパンド動作を表わす断面図であり
図 3 2は、 第 6の実施の形態のエキスパンド動作を表わす断面図であり
図 3 3は、 第 6の実施の形態のエキスパンド動作を表わす断面図であり
図 3 4は、 第 6の実施の形態の変形例を説明する断面図であり ;
図 3 5は、 第 6の実施の形態の変形例を説明するフローチャートであり ; 図 3 6は、 本発明の第 7の実施の形態に係るエキスパンド装置を表わす断面図であ り ;
図 3 7は、 第 7の実施の形態に係るエキスパンド方法を説明するフローチャートで あり ;
図 3 8は、 第 7の実施の形態のエキスパンド動作を表わす断面図であり ; 図 3 9は、 第 7の実施の形態のエキスパンド動作を表わす断面図である。 発明を実施するための最良の形態
以下添付図面に従って本発明に係るエキスパンド方法及びエキスパンド装置の好ま しい実施の形態について詳説する。 なお、 各図において同一部材には同一の番号又は 記号を付している。
図 1は、 本発明に係るエキスパンド装置の第 1の実施の形態を表わしている。 ェキ スパンド装置 1は、 加熱ステージ 2 1からなるエキスパンド手段 2 0と、 内リング 1 1及び外リング 1 2からなるエキスパンド保持手段 1 0とで構成されている。
加熱ステージ 2 1の上面近傍にはヒータ 2 2が組込まれ、 加熱ステージ 2 1の上面 が所定の温度になるように設定されている。 加熱ステージ 2 1の外周には内リング 1 1が着脱可能に配置されている。 外リング 1 2の内径は、 内リング 1 1の外周に粘着 シ一卜 Sを介在させた状態で強嵌合される寸法になっている。また、外リング 1 2は、 図示しない駆動手段によって上下移動されるようになっている。
次に、 本発明のエキスパンド方法に係る第 1の実施の形態として、 このように構成 されたエキスパンド装置 1の作用について説明する。 ゥェ一ハ Wは、 ダイシング加工 で個々のチップ T、 Τ、 …に切断された後に、 加熱ステ一ジ 2 1に載置される。 ゥェ 一八 Wが加熱ステージ 2 1に載置されるとゥエーハシート Sが加熱されて膨張し、 チ ップ間隔が拡張される。 この状態で外リング 1 2を下降させ、 外リング 1 2と内リン グ 1 1とでゥエーハシ一ト Sを挟み込む。
これにより図 2に示した状態になる。 即ち、 ゥェ一ハシート Sがエキスパンドされ て、 チップ Τ同士の間隔が広げられた状態が保持されている。 ダイシング加工後のゥ エーハ Wは以後この状態で搬送される。 ゥエーハ Wはこのように、 チップ Τの間隔が 拡大された状態が保持されたまま搬送されるので、 搬送中の振動によって隣同士のチ ップのエツジとエツジとが接触して、 エツジ部に欠けやマイクロクラック等が発生す ることが防止される。
なお、 ゥエーハシート Sのエキスパンド状態を保持する方法として、 内リング 1 1 と外リング 1 2とでゥエーハシート Sを挟み込む二重リング方式を用いたが、 これに 限らず、 ゥェ一ハシート Sがエキスパンドされた状態のまま小径フレームに張り替え る方式、 外リング 1 2に代えて弾性ベルトで内リング 1 1に固定する方式等、 種々の 固定方式を用いることができる。
図 4は、 本発明のエキスパンド装置の第 2の実施の形態を表わしたものである。 ェ キスパンド装置 1 0 1は、 X Y 0テーブル 1 1 1、 チャックステージ 1 1 2、 フレ一 ムチャック 1 1 3、 押圧部材 1 1 4、 ハウジング 1 1 5、 溶着工具としての超音波溶 着工具 1 1 6、 押さえリング 1 1 7等から構成され、 エキスパンド手段 1 3 0はフレ ームチャック 1 1 3、 ハウジング 1 1 5、 押圧部材 1 1 4等からなり、 エキスパンド 保持手段 1 4 0はハウジング 1 1 5、 押さえリング 1 1 7、 超音波溶着工具 1 1 6等 からなつている。
XY 0テーブル 1 1 1は、 図示しない駆動装置によって図の X Y方向に移動される とともに、 0回転される。 XY 0テーブル 1 1 1にはチャックステージ 1 1 2とフレ —ムチャック 1 1 3が取り付けられている。 フレームチャック 1 1 3の上面には多孔 質部材 1 1 3 Aが埋め込まれ、 減圧手段 1 2 0を構成する電磁弁 1 2 1 B、 レギユレ 一夕 1 2 2 Bを経由した減圧ポンプ 1 2 3に接続され、 フレーム Fを吸着するように なっている。
また、 チャックステージ 1 1 2の上面には図示しない多孔質部材が埋め込まれ、 電 磁弁 1 2 1 C、 レギユレ一夕 1 2 2 Cを経由して減圧ポンプ 1 2 3に接続され、 板状 物であるゥエーハ Wを吸着するようになっている。
粘着シート Sのフレーム Fとゥェ一ハ Wとが貼付されていない部分の上方には、 環 状の溝 (空間部) 1 1 5 Aを有するリング状のハウジング 1 1 5が配置されている。 環状の溝 1 1 5 Aの内面は多孔質部材 1 1 5 Bで形成され、 電磁弁 1 2 1 A、 レギュ レー夕 1 2 2 Aを経由して減圧ポンプ 1 2 3に接続されて、 溝 1 1 5 Aの内部を減圧 するようになつている。 このハウジング 1 1 5は、 図示しない駆動手段によって上下 に移動されるとともに、 下降端でクランプされるようになっている。
粘着シート Sを挟んでハウジング 1 1 5と対向してリング状の押圧部材 1 1 4が設 けられている。 押圧部材 1 1 4は図示しない駆動手段によって上下移動されるように なっており、 上昇してハウジング 1 1 5の溝 1 1 5 A内に挿入されるように位置決め されている。 押圧部材 1 1 4の上端縁は滑らかに面取りされている。
ハウジング 1 1 5の内側には環状の押さえリング 1 1 7が設けられ、 図示しない駆 動手段によって上下移動され、 下方に移動された時にチャックテーブル 1 1 2を強く 押圧するようになつている。
ハウジング 1 1 5の外側には、 溶着工具としての超音波溶着工具 1 1 6が先端をハ ウジング 1 1 5の溝 1 1 5 Aの入口に向けて斜めに配置されている。 超音波溶着工具 1 1 6は図示しない駆動手段によってその軸方向に移動されるようになっており、 超 音波を発振しながら先端で対象物を押圧する。
次に、 このように構成されたエキスパンド装置 1 0 1によるエキスパンド方法 (第 2の実施の形態) について説明する。 図 5は本発明のエキスパンド方法の第 2の実施 の形態を表わすフロ一チャートである。 粘着シート Sを介してフレーム Fにマウント されたゥエー八 Wはチャックステージ 1 1 2とフレームチャック 1 1 3に載置され、 ゥエーハ Wは粘着シート Sを介してチャックステージ 1 1 2に吸着され、 フレーム F は粘着シート Sを介してフレームチャック 1 1 3に吸着されている。 この状態でゥェ ーハ Wは個々のチップ Tにダイシングされている。
粘着シート Sのエキスパンドにあたっては、 図 5に示すように、 最初にフレーム F の吸着はそのままにしておき、 電磁弁 1 2 1 Cを作動させてチャックステージ 1 1 2 の吸着のみを解除する (ステップ S 1 1 1 ) 。
次にハウジング 1 1 5を下降させ、 下端が粘着シ一卜 Sと接触する位置でクランプ する (ステップ S 1 1 3 ) 。 次に押圧部材 1 1 4を上昇させて粘着シート Sに当接さ せ、 なおも上昇させることにより粘着シート Sを押し上げてハウジング 1 1 5の溝 1 1 5 A内に凸部を形成させる。 これにより粘着シート Sは中心部から外方にエキスパ ンドされ、 粘着シート Sに貼付されているチップ T同士の間隔が拡大される (ステツ プ S 1 1 5 ) 。
ここで押さえリング 1 1 7を下降させ、 チャックステージ 1 1 2の上面との間で粘 着シート Sを押圧してクランプする。 これにより押さえリング 1 1 7の内側の粘着シ ート Sのエキスパンド状態が一時的に維持される (ステップ S 1 1 7 ) 。
図 6はこの状態を表わしたもので、粘着シート Sが押圧部材 1 1 4で押し上げられ、 ハウジング 1 1 5の環状の溝内に環状の凸部 S Aが形成されている。 これにより粘着 シート Sは中央部から外方向に伸ばされ、 個々のチップ T間の間隔が拡大され、 押さ えリング 1 1 7でこのエキスパンド状態が一時的に維持されている。
次に、 電磁弁 1 2 1 Aを作動させ、 ハウジング 1 1 5の溝 1 1 5 A内の空間部を減 圧ポンプで減圧し、 粘着シート Sの凸部 S Aを溝 1 1 5 Aの内面に吸着する (ステツ プ S 1 1 9 ) 。 溝 1 1 5 Aの内面は多孔質部材 1 1 5 Bで形成されているので凸部 S
Aを均一に吸着することができる。
ここで粘着シート Sに凸部 S Aを形成させた押圧部材 1 1 4を下降させる。 押圧部 材 1 1 4が下降しても、 粘着シート Sの凸部 S Aは溝 1 1 5 Aの内面に吸着されてい るので凸部 S Aが元に戻ることはない (ステップ S 1 2 1 ) 。
次に、 超音波溶着工具 1 1 6を前進させ、 先端部で粘着シート Sの凸部 S Aの根元 部分である基部 S Bを押圧し、 基部 S B同士を接触させてハウジング 1 1 5の溝 1 1 5 Aの壁に押付ける (ステップ S 1 2 3 ) 。 次いで超音波溶着工具 1 1 6は超音波を 発振させ、 先端で粘着シート Sの凸部 S Aの基部 S Bを局所溶着するとともに、 XY
0テーブル 1 1 1を 1回転させ環状の凸部 S Aの基部 S B全周にわたって溶着する(ス テツプ S 1 2 5 ) 。
図 7はこの状態を表わしたものである。 粘着シート Sは、 押さえリング 1 1 7の内 側がエキスパンドされてチップ T間の間隔が拡大された状態のまま、 凸部 S Aの基部 S Bが超音波溶着工具 1 1 6の先端で押圧され、 基部 S B同士が溝 1 1 5 Aの壁に押 付けられ、 超音波振動によって局部溶着されている。 ここで超音波溶着工具 1 1 6を後退させ (ステップ S 1 2 7 ) 、 電磁弁 1 2 1 Aを 作動させてハウジング 1 1 5の溝 1 1 5 A内の減圧を解除するとともに、 ハウジング 1 1 5及び押さえリング 1 1 7を上昇させる (ステップ S 1 2 9 ) 。
以上の工程により、 粘着シート Sに貼付され個々のチップ Tにダイシングされたゥ エーハ Wのチップ T間の間隔が広げられた状態となり、 この状態で粘着シート Sは外 周近傍に弛みが造られ弛みの根元が摘ままれたような状態になり、 個々のチップ丁の 間隔が拡大したまま保持され、 ダイシングされたゥェ一ハ Wをフレームごと搬送する ことができる。
このエキスパンドは、 ダイシング装置内で、 ダイシング加工直後に行われるのが好 ましい。 ゥエーハ Wはこのように、 チップ Tの間隔が拡大された状態が保持されたま まフレーム搬送されるので、 搬送中の振動によつて隣同士のチップのエツジとエツジ とが接触して、 エツジ部に欠けやマイクロクラック等が発生することが防止される。 以上説明した第 2の実施の形態では、 粘着シート Sを下方から押し上げ、 上方に向 けて凸部 S Aを形成したが、 本発明はこれに限らず、 粘着シート Sを下方に押圧し、 下方に向けて凸部 S Aを形成するようにしてもよい。
また、 粘着シート Sの凸部 S Aの基部 S Bを超音波溶着したが、 超音波溶着に限ら ず熱圧着で局部溶着してもよく、 また溶着に限らず、 接着材で接着してもよい。 図 8は、 本発明のエキスパンド装置の第 3の実施の形態を説明するもので、 エキス パンド装置の一部を表わし、 エキスパンド手段を搭載した搬送装置がダイシング装置 のダイシングエリアに位置付けられた状態を表わした正面図である。 また、 図 9はそ の平面図である。
エキスパンド装置 2 0 1は、 図 8及び図 9に示すように、 搬送手段 2 3 0、 搬送手 段 2 3 0に取り付けられたエキスパンド手段 2 3 3、 シートクランプ手段 2 3 4、 及 び後出の溶着工リア (別エリア) に設けられたエキスパンド保持手段であるシート弛 み部固定手段 2 0 1 A等で構成されている。
搬送手段 2 3 0は、 粘着シ一ト Sを介してフレームにマウントされた板状物である ゥエーハ Wを、 ダイシング装置のチャックステージ 2 0 6ごとダイシングエリアから 溶着工リア (別エリア) に搬送するもので、 図示しない駆動手段によって軸 2 3 1 B を中心に回動するとともに、 上下に昇降移動される回転アーム 2 3 1、 2本の支持梁 2 3 1 A、 2 3 1 A、 支持梁 2 3 1 A、 2 3 1 Aの夫々に 2本づっ設けられ図示しな い駆動手段によって水平移動されてチャックステージ 2 0 6を把持する 4本のフォー ク 2 3 2、 2 3 2、 …等で構成されている。
搬送手段 2 3 0に取り付けられたエキスパンド手段 2 3 3は、 図示しないエアシリ ンダによって伸縮される 4個のプッシヤー 2 3 3 A、 2 3 3 A、 …と、 各プッシヤー 2 3 3 Aの先端に取り付けられた吸着パッド 2 3 3 Bとから成っている。
プッシヤー 2 3 3 Aと吸着パッド 2 3 3 Bには真空路が形成されており、 図示しな い減圧装置に接続され、 フレーム Fを吸着するとともにプッシヤー 2 3 3 Aが下方に 伸びて粘着シート Sをエキスパンドするようになっている。 吸着パッド 2 3 3 Bはフ レーム Fを確実に吸着できるように、 薄いゴム系材料でできている。
同じく搬送手段 2 3 0に取り付けられたシートクランプ手段 2 3 4は、 エキスパン ドされた粘着シートを一時的にクランプするクランプ部材であるクランプリング 2 3 4 Aと、 クランプリング 2 3 4 Aを支持し、 図示しないエアシリンダによって上下に 伸縮される 2本の支持棒 2 3 4 B、 2 3 4 Bとからなっている。
クランプリング 2 3 4 Aは、 縁部が突出した断面 L字状のリングで、 縁部の内径が ダイシング装置のチヤックステージ 2 0 6の外径よりも僅かに大径で、 粘着シ一ト S を介してチャックステージ 2 0 6にきつく嵌合するようになつている。 なお、 クラン プリング 2 3 4 Aの一部にスリ割りを形成して強嵌合するようにしてもよい。 粘着シ ート Sのエキスパンド後にクランプリング 2 3 4 Aをチャックステージ 2 0 6に被せ ることにより、 チャックステージ 2 0 6上の粘着シート Sのエキスパンド状態が一時 的に維持される。
ダイシング装置のチャックステージ 2 0 6は、 ダイシングエリアに配置された X Y テーブル 2 0 2に組込まれた Z 0ステージ 2 0 4の上面に載置され、 チャックステ一 ジ 2 0 6上のゥエーハ Wと共引きで真空吸着されるようになっている。 このチャック ステージ 2 0 6の上面には多孔質部材 2 0 6 Aが埋め込まれ、 粘着シ一ト Sを介して ゥェ一ハ Wを均一に吸着するようになっている。 また、 チャックステージ 2 0 6の側 面下部には溝 2 0 6 Bが形成され、 この溝 2 0 6 Bに搬送装置 2 3 0のフォーク 2 3
2が挿入されるようになっている。
図 1 0は、 ダイシング装置のダイシングエリアとは別エリアの溶着工リアに配置さ れたエキスパンド保持手段であるシート弛み部固定手段 2 0 1 Aを表わす断面図であ る。 シート弛み部固定手段 2 0 1 Aは、 搬送手段 2 3 0によって搬送されてきたゥェ ーハ Wがマウントされたフレーム Fの、 粘着シ一ト Sに形成されている弛み S A部分 の基部 S Bを摘まんで固定するものである。
シート弛み部固定手段 2 0 1 Aは、 0テーブル 2 1 1、 取付け台 2 1 1 A、 フレー ムチャック 2 1 3、 押し上げ部材 2 1 4、 ハウジング 2 1 5、 溶着工具としての超音 波溶着工具 2 1 6、 減圧手段 2 2 0等から構成されている。
Θテーブル 2 1 1は、 図示しない駆動装置によって図の 0方向に 0回転される。 Θ テーブル 2 1 1にはチャックステージ 2 0 6を載置する取付け台 2 1 1 Aとフレーム
Fを載置するフレームチャック 2 1 3が取り付けられている。 フレームチャック 2 1 3の上面には多孔質部材 2 1 3 Aが埋め込まれ、 電磁弁 2 2 1 B、 レギユレ一夕 2 2
2 Bを経由して減圧ポンプ 2 2 3に接続され、 フレーム Fを吸着するようになってい る。
また、 チャックステージ 2 0 6の上面には多孔質部材 2 0 6 Aが埋め込まれ、 取付 け台 2 1 1 A、 電磁弁 2 2 1 C、 レギユレ一夕 2 2 2 Cを経由して減圧手段 2 2 0を 構成する減圧ポンプ 2 2 3に接続され、 板状物であるゥエーハ Wを粘着シー卜 Sごと 吸着するようになっている。 この吸着により、 チャックステージ 2 0 6も取付け台 2 1 1 Aに共引き吸着される。
粘着シート Sのフレーム Fとゥエーハ Wとが貼付されていない部分の上方には、 環 状の溝 2 1 5 Aを有するリング状のハウジング 2 1 5が配置されている。 環状の溝 2 1 5 Aの内面は多孔質部材 2 1 5 Bで形成され、 電磁弁 2 2 1 A、 レギユレ一夕 2 2 2 Aを経由して減圧ポンプ 2 2 3に接続されて、 溝 2 1 5 Aの内部を減圧するように なっている。 このハウジング 2 1 5は、 図示しない駆動手段によって上下に移動され るとともに、 下降端でクランプされるようになっている。
粘着シート Sを挟んでハウジング 2 1 5と対向してリング状の押し上げ部材 2 1 4 が設けられている。 押し上げ部材 2 1 4は図示しない駆動手段によって上下移動され るようになっており、 上昇してハウジング 2 1 5の溝 2 1 5 A内に挿入されるように 位置決めされている。 押し上げ部材 2 1 4の上端縁は滑らかに面取りされている。 こ の押し上げ部材 2 1 4によって粘着シート Sの弛み S A部分をハウジング 2 1 5の溝
2 1 5 A内に押し上げる。
ハウジング 2 1 5の外側には、 溶着工具としての超音波溶着工具 2 1 6が先端をハ ウジング 2 1 5の溝 2 1 5 Aの入口に向けて斜めに配置されている。 超音波溶着工具 2 1 6は図示しない駆動手段によってその軸方向に移動されるようになっており、 超 音波を発振しながら先端で対象物を押圧し、 対象物を溶着する。
次に、 このように構成されたエキスパンド装置 2 0 1によるエキスパンド方法 (第
3の実施の形態) について説明する。 図 1 1及び図 1 2は本発明のエキスパンド方法 の第 3の実施の形態を表わすフローチヤ一トである。 粘着シー卜 Sを介してフレーム Fにマウントされたゥェ一八 Wは、 ダイシング装置のダイシングエリアでチャックス テ一ジ 2 0 6に吸着載置されて、 図示しないレーザーダイシング部によってレーザー ダイシングされる。
レーザーダイシングが完了すると、 搬送手段 2 3 0の回転アームが回動されてゥェ 一八 Wの上方に位置付けられる (ステップ S 2 1 1 ) 。 ここでゥエーハ Wの吸着が解 除され (即ちチヤックステージ 2 0 6の上面への粘着シー卜 Sの吸着が解除され) 、 エキスパンド手段 2 3 3のプッシヤー 2 3 3 A、 2 3 3 A、 …が下降してフレーム F を吸着する。
この状態でなおもプッシャ一 2 3 3 A、 2 3 3 A、 …が下降すると、 チャックステ ージ 2 0 6の上部も含めたフレーム Fの内側の粘着シート Sがエキスパンドされる(ス テツプ S 2 1 3 ) 。 この粘着シ一ト Sのエキスパンドにより、 ダイシングされたゥェ —ハ Wの個々のチップ T同士の間隔が拡大される。 図 1 3はこの状態を表わしたもの である。 次に、 シートクランプ手段 2 3 4のクランプリング 2 3 4 Aが降下してきて、 粘着 シート Sがチャックステージ 2 0 6とクランプリング 2 3 4 Aとの間に挟みこまれて クランプされる。 これにより、 チャックステージ 2 0 6上のエキスパンドされた粘着 シート Sのエキスパンド状態が一時的に維持される (ステップ S 2 1 5 ) 。
ここでフレーム Fを吸着しているプッシャ一 2 3 3 A、 2 3 3 A、 …が上昇する。 プッシャ一 2 3 3 A、 2 3 3 A、 …が上昇すると、 チャックステージ 2 0 6上の粘着 シート Sのエキスパンド状態は維持されているが、 その他の部分は維持されていない ので、 クランプリング 2 3 4 Aの外側とフレーム Fの内側との間の粘着シート Sに弛 み S Aが発生する (ステップ S 2 1 7 ) 。 図 1 4はこの状態を表わしたものである。 次に、 搬送手段 2 3 0の 4本のフォーク 2 3 2、 2 3 2、 …が水平に移動してチヤ ックステージ 2 0 6の側面に形成された溝 2 0 6 B内に入り込み、 チャックステージ 2 0 6を把持する。 チャックステージ 2 0 6を把持すると、 搬送手段 2 3 0の回転ァ —ム 2 3 1が僅かに上昇して、 チャックステージ 2 0 6をゥェ一ハ Wを載置させたま まダイシング装置の Z 0ステージから分離させる。 図 8はこの状態を表わしている。 次いで回転アーム 2 3 1が回動し、 ゥェ一 W、 粘着シート S、 及びフレーム Fを ダイシングエリアとは別の溶着工リアへチャックステージ 2 0 6ごと搬送し (ステツ プ S 2 1 9 ) 、 溶着工リアでゥェ一ハ" をチャックステージ 2 0 6ごと取付け台 2 1 1 A上に、 フレーム Fをフレームチャック 2 1 3上に夫々粘着シート Sを介して載置 する (ステップ S 2 2 1 ) この搬送においても、 チャックステージ 2 0 6上の粘着 シート Sのエキスパンド状態は維持されているので、 チップ T同士のエッジ部が接触 してチップ Tに損傷を与えることはない。
溶着工リアでは、 電磁弁 2 2 1 Cを作動させてチャックステージ 2 0 6を取付け台 2 1 1 Aに吸着することにより、 ゥェ一ハ Wを粘着シート Sを介してチャックステ一 ジ 2 0 6に吸着する (ステップ S 2 2 3 ) 。
それとともに、 プッシヤー 2 3 3 A、 2 3 3 A、 …によるフレーム Fの吸着を解除 し、 次いでフレーム Fをフレームチャック 2 1 3に吸着する。 次に、 シ一トクランプ 手段 2 3 4の支持棒 2 3 4 B、 2 3 4 Bを上昇させてクランプリング 2 3 4 Aをチヤ ックステージ 2 0 6から退避させ、 回転アーム 2 3 1を溶着工リアから回動退避させ る (ステップ S 2 2 5 ) 。
クランプリング 2 3 4 Aをチャックステージ 2 0 6から退避させても、 チャックス テージ 2 0 6上の粘着シート Sはチャックステージ 2 0 6上面に吸着されているので、 エキスパンド状態は保持されたままになっている。図 1 0はこの状態を表わしている。 次にハウジング 2 1 5を下降させ、下端が粘着シート Sと接触する位置で固定する。 次いで押し上げ部材 2 1 4を上昇させて粘着シート Sに当接させ、 なおも上昇させる ことにより粘着シート Sの弛み S A部分を押し上げてハウジング 2 1 5の溝 2 1 5 A 内に押し込む。
次に、 電磁弁 2 2 1 Aを作動させ、 ハウジング 2 1 5の溝 2 1 5 A内の空間部を減 圧ポンプで減圧し、 粘着シート Sの弛み S Aを溝 2 1 5 Aの内面に吸着する (ステツ プ S 2 2 7 ) 。 溝 2 1 5 Aの内面は多孔質部材 2 1 5 Bで形成されているので弛み S Aを均一に吸着することができる。 図 1 5はこの状態を表わしたものである。
ここで粘着シート Sの弛み S A部分を溝 2 1 5 A内に押込んだ押し上げ部材 2 1 4 を下降させる。 押し上げ部材 2 1 4が下降しても、 粘着シート Sの弛み S A部分は溝 2 1 5 Aの内面に吸着されているので弛み S Aが垂れ下がることはない。
次に、 超音波溶着工具 2 1 6を前進させ、 先端部で粘着シート Sの弛み S Aの根元 部分である基部 S Bを押圧し、 基部 S B同士を接触させてハウジング 2 1 5の溝 2 1 5 Aの壁に押付ける。 次いで超音波溶着工具 2 1 6は超音波を発振させ、 先端で粘着 シート Sの弛み S Aの基部 S Bを局所溶着する。 これととともに、 0テーブル 2 1 1 を 1回転させ環状の弛み S Aの基部 S B全周にわたって溶着する(ステップ S 2 2 9 )。 図 1 6はこの状態を表わしたものである。 粘着シート Sは、 ゥェ一ハ Wが貼着され た部分がエキスパンドされてチップ T間の間隔が拡大された状態のまま、 弛み S Aの 基部 S Bが超音波溶着工具 2 1 6の先端で押圧され、 基部 S B同士が溝 2 1 5 Aの壁 に押付けられ、 超音波振動によって局部溶着されている。
ここで超音波溶着工具 2 1 6を後退させ、 電磁弁 2 2 1 Aを作動させてハウジング 2 1 5の溝 2 1 5 A内の減圧を解除するとともに、 ハウジング 2 1 5を上昇させる。 次いで電磁弁 2 2 1 B及び電磁弁 2 2 1 Cを作動させてチャックステージ 2 0 6及び フレームチャック 2 1 3の吸着力を解除する。 (ステップ S 2 3 1 ) 。
以上の工程により、 粘着シート Sに貼付され個々のチップ Tにダイシングされたゥ ェ一ハ Wのチップ T間の間隔が広げられた状態となり、 この状態で粘着シ一ト Sは外 周近傍に弛みが造られ弛みの根元が摘ままれて固定され、 個々のチップ Tの間隔が拡 大したまま保持されるので、 ダイシングされたゥェ一ハ Wをフレームごと搬送するこ とができる。
このエキスパンドは、 ダイシング装置内で、 ダイシング加工直後に行われるのが好 ましく、 ゥエーハ Wはこのように、 チップ Tの間隔が拡大された状態が保持されたま まフレーム搬送されるので、 搬送中の振動によって隣同士のチップのエッジとエッジ とが接触して、 エツジ部に欠けやマイクロクラック等が発生することが防止される。 また、 粘着シート Sの弛みの根元 (基部 S B ) の固定は、 ダイシングエリアとは別 エリアで行われるので、 ダイシング装置の稼働率低下を極力抑えることができる。 以上説明した第 3の実施の形態では、 フレーム Fを下方に押し下げて粘着シ一ト S をエキスパンドし、 クランプした後上方に持ち上げて粘着シ一ト Sに弛み S Aを形成 したが、 本発明はこれに限らず、 チャックステージ 2 0 6を上方に持ち上げてエキス パンドし、 クランプした後下降させて粘着シート Sに弛み S Aを形成してもよい。 また、 粘着シート Sの弛み S Aの基部 S Bを超音波溶着したが、 超音波溶着に限ら ず熱圧着で局部溶着してもよく、 また溶着に限らず、 接着材で接着してもよい。 図 1 7は、 本発明のエキスパンド装置の第 4の実施の形態を説明するもので、 ェキ スパンド装置の一部である搬送装置がダイシング装置のダイシングエリァに位置付け られた状態を表わした正面図である。 また、 図 1 8はその平面図である。
エキスパンド装置 3 0 1は、 図 1 7及び図 1 8に示すように、 搬送手段 3 3 0、 搬 送手段 3 3 0に取り付けられたフレーム吸着手段 3 3 3、 シート押さえ手段 3 3 4、 及び後出のエキスパンドエリア(別エリァ)に設けられたエキスパンド手段 3 0 1 A、 エキスパンド保持手段であるシート弛み部固定手段 3 0 1 B等で構成されている。 搬送手段 3 3 0は、 粘着シート Sを介してフレーム Fにマウントされた板状物であ るゥエーハ Wを、 ダイシング装置のチャックステージ 3 0 6ごとダイシングエリアか らエキスパンドエリア (別エリア) に搬送するもので、 図示しない駆動手段によって 軸 3 3 1 Bを中心に回動するとともに、 上下に昇降移動される回転アーム 3 3 1、 2 本の支持梁 3 3 1 A、 3 3 1 A、 支持梁 3 3 1 A、 3 3 1 Aの夫々に 2本づっ設けら れ図示しない駆動手段によって水平移動されてチャックステージ 3 0 6を把持する 4 本のフォーク 3 3 2、 3 3 2、 ···、 フレーム吸着手段 3 3 3、 シート押さえ手段 3 3 4等で構成されている。
搬送手段 3 3 0に取り付けられたフレーム吸着手段 3 3 3は、 図示しないエアシリ ンダによって伸縮される 4個のプッシヤー 3 3 3 A、 3 3 3 A、 …と、 各プッシヤー 3 3 3 Aの先端に取り付けられた吸着パッド 3 3 3 Bとから成っている。
プッシヤー 3 3 3 Aと吸着パッド 3 3 3 Bには真空路が形成されており、 図示しな い減圧装置に接続され、 フレーム Fを吸着する。 また、 吸着パッド 3 3 3 Bはフレー ム Fを確実に吸着できるように、 薄いゴム系材料でできている。
同じく搬送手段 3 3 0に取り付けられたシート押さえ手段 3 3 4は、 チャックステ ージ 3 0 6上の粘着シートをクランプするシート押さえリング 3 3 4 Aと、 シート押 さえリング 3 3 4 Aを支持し、 図示しないエアシリンダによって上下に伸縮される 2 本の支持棒 3 3 4 B、 3 3 4 Bとからなっている。
シート押さえリング 3 3 4 Aは、 粘着シート Sをチヤックステージ 3 0 6に押付け てクランプするようになっている。
ダイシング装置のチャックステージ 3 0 6は、 ダイシングエリアに配置された XY テーブル 3 0 2に組込まれた Z 0ステージ 3 0 4の上面に載置され、 チャックステ一 ジ 3 0 6上のゥエーハ Wと共引きで Z 0ステージ 3 0 4に真空吸着されるようになつ ている。
このチャックステージ 3 0 6の上面には多孔質部材 3 0 6 Aが埋め込まれ、 粘着シ ート Sを介してゥエーハ Wを均一に吸着するようになっている。 また、 チャックステ —ジ 3 0 6の側面下部には溝 3 0 6 Bが形成され、 この溝 3 0 6 Bに搬送装置 3 3 0 のフォーク 3 3 2が挿入されるようになっている。 に配置されたエキスパンド手段 3 0 1 A、 及びエキスパンド保持手段であるシート弛 み部固定手段 3 0 1 Bを表わす断面図である。
エキスパンド手段 3 0 1 Aは、 ゥエーハ Wが貼付された粘着シート Sを引き伸ばし て、 ダイシングされた個々のチップ間隔を拡大するもので、 ゥエーハ Wをチャックス テージ 3 0 6ごと載置し、 図示しない駆動手段によって昇降される昇降台 3 1 1 A、 フレーム Fを吸着固定するフレームチャック 3 1 3、 及び減圧手段 3 2 0等からなつ ている。
減圧手段 3 2 0は、電磁弁 3 2 1 A、 3 2 1 B、 3 2 1 C、 レギユレ一夕 3 2 2 A、 3 2 2 B、 3 2 2 C、 及び減圧ポンプ 3 2 3を有し、 エキスパンド手段 3 0 1 Aとし ては減圧ポンプ 3 2 3、 電磁弁 3 2 1 B、 レギユレ一夕 3 2 2 Bが用いられる。 フレームチャック 3 1 3の上面には多孔質部材 3 1 3 Aが埋め込まれ、 電磁弁 3 2
I B、 レギユレ一夕 3 2 2 Bを経由して減圧ポンプ 3 2 3に接続され、 フレーム Fを 吸着するようになっている。
また、 チャックステージ 3 0 6の上面には多孔質部材 3 0 6 Aが埋め込まれ、 昇降 台 3 1 1 A、 電磁弁 3 2 1 C、 レギユレ一夕 3 2 2 Cを経由して減圧ポンプ 3 2 3に 接続され、 板状物であるゥェ一ハ Wを粘着シート Sごと吸着するようになっている。 この吸着により、 チャックステージ 3 0 6も取付け台 3 1 1 Aに共引き吸着される。 チャックステージ 3 0 6によるゥェ一ハ Wの粘着シート Sごとの吸着が解除された 状態で、 かつ、 フレームチャック 3 1 3でフレーム Fをチャックした状態で昇降台 3 1 1 Aを上昇させることによつて粘着シー卜 Sがエキスパンドされる。
エキスパンド後にシート固定手段 3 0 8で粘着シート Sをチヤックステージ 3 0 6 に固定し、 その状態で昇降台 3 1 1 Aを下降させると粘着シート Sのチャックステー ジ 3 0 6の外側部分に弛みが形成されるようになっている。
シート固定手段 3 0 8は、 チャックステージ 3 0 6、 昇降台 3 1 1 A、 電磁弁 3 2
I C、 レギユレ一夕 3 2 2 C、 及び減圧ポンプ 3 2 3からなる粘着シート Sの吸着手 段のことであり、 エキスパンドされた粘着シート部分をチャックステージ 3 0 6上に 吸着固定することでエキスパンド状態が一時的に維持される。
シー小弛み部固定手段 3 0 1 Bは、 搬送手段 3 3 0によって搬送されてきたゥエー ハ Wがマウントされたフレーム Fの、 粘着シート Sに形成される弛み S A部分の基部
S Bを摘まんで固定するものである。
シート弛み部固定手段 3 0 1 Bは、 0テーブル 3 1 1、 昇降台 3 1 1 A (エキスパ ンド手段 3 0 1 Aと共用) 、 フレームチャック 3 1 3 (エキスパンド手段 3 0 1 Aと 共用) 、 押し上げ部材 3 1 4、 ハウジング 3 1 5、 溶着工具としての超音波溶着工具
3 1 6、 減圧手段 3 2 0の減圧ポンプ 3 2 3、 電磁バルブ 3 2 1 A、 3 2 1 C、 レギ ユレ一夕 3 2 2 A、 3 2 2 C等から構成されている。
0テ一ブル 3 1 1は、 図示しない駆動装置によって図の 0方向に 0回転される。 Θ テーブル 3 1 1にはチャックステージ 3 0 6を載置する昇降台 3 1 1 Aとフレーム F を載置するフレームチャック 3 1 3が取り付けられている。
粘着シート Sのフレーム Fとゥエーハ Wとが貼付されていない部分の上方には、 環 状の溝 3 1 5 Aを有するリング状のハウジング 3 1 5が配置されている。 環状の溝 3 1 5 Aの内面は多孔質部材 3 1 5 Bで形成され、 電磁弁 3 2 1 A、 レギユレ一夕 3 2
2 Aを経由して減圧ポンプ 3 2 3に接続されて、 溝 3 1 5 Aの内部を減圧するように なっている。 このハウジング 3 1 5は、 図示しない駆動手段によって上下に移動され るとともに、 下降端でクランプされるようになっている。
粘着シー卜 Sを挟んでハウジング 3 1 5と対向してリング状の押し上げ部材 3 1 4 が設けられている。 押し上げ部材 3 1 4は図示しない駆動手段によって上下移動され るようになっており、 上昇してハウジング 3 1 5の溝 3 1 5 A内に挿入されるように 位置決めされている。 押し上げ部材 3 1 4の上端縁は滑らかに面取りされている。 こ の押し上げ部材 3 1 4によって粘着シート Sの弛み S A部分をハウジング 3 1 5の溝
3 1 5 A内に押し上げる。
ハウジング 3 1 5の外側には、 溶着工具としての超音波溶着工具 3 1 6が先端をハ ウジング 3 1 5の溝 3 1 5 Aの入口に向けて斜めに配置されている。 超音波溶着工具
3 1 6は図示しない駆動手段によってその軸方向に移動されるようになっており、 超 音波を発振しながら先端で対象物を押圧し、 対象物を溶着する。
次に、 このように構成されたエキスパンド装置 3 0 1によるエキスパンド方法 (第 4の実施の形態) について説明する。 図 2 0及び図 2 1は本発明のエキスパンド方法 の第 4の実施の形態を表わすフローチャートである。 粘着シー卜 Sを介してフレーム Fにマウントされたゥェ一八 Wは、 ダイシング装置のダイシングェリアでチャックス テ一ジ 3 0 6に吸着載置されて、 図示しないレーザーダイシング部によってレーザー ダイシングされる。
レーザーダイシングが完了すると、 搬送手段 3 3 0の回転アームが回動されてゥェ —ハ Wの上方に位置付けられる (ステップ S 3 1 1 ) 。 ここで搬送手段 3 3 0のフレ —ム吸着手段 3 3 3、 3 3 3、 …が下降して夫々の吸着パッド 3 3 3 Bでフレーム F の上面を吸着する。 次いで搬送手段 3 3 0のフォーク 3 3 2、 3 3 2、 …がチャック ステージ 3 0 6の溝 3 0 6 B内に挿入されチャックステージ 3 0 6を把持するととも に、 シート押さえ手段 3 3 4が下降してシート押さえリング 3 3 4 Aで粘着シート S をチャックステージ 3 0 6の上面に挟み込む (ステップ S 3 1 3 ) 。
次に、 ダイシング時に吸着されていたフレーム Fの粘着シート S側の吸着が解除さ れるとともに、 ゥエーハ Wの吸着も解除され、 ゥエーハ Wと共引きで Z Θステージ 3 0 4に吸着固定されていたチャックステージ 3 0 6の Z 0ステージ 3 0 4への固定も 解除される。
チャックステージ 3 0 6の Z 0ステージ 3 0 4への固定が解除されると、 搬送手段 3 3 0のアーム 3 3 1が上昇し (図 1 7はこの状態を表わしている) 、 次いで軸 3 3 1 Bを中心に回動して、 ゥェ一、W、 粘着シート S、 及びフレームをチャックステー ジ 3 0 6ごとダイシングェリアからエキスパンドエリアに搬送する (ステップ S 3 1 5 ) 。
搬送手段 3 3 0のアーム 3 3 1がエキスパンドエリアまで回動すると、 下降してゥ エーハ Wを載置したチャックステージ 3 0 6を昇降台 3 1 1 A上に載置するとともに、 フレーム Fをフレームチャック 3 1 3上に載置する (ステップ S 3 1 7 ) 。 この搬送 においては、 チャックステージ 3 0 6上の粘着シート Sはチヤックステージ 3 0 6の 上面に押付けられているので、 チップ T同士のエッジ部が接触してチップ Tに損傷を 与えることはない。
次に、 電磁弁 3 2 1 Bを作動させてフレーム Fをフレ一ムチャック 3 1 3に吸着固 定する。 次いで、 シート押さえ手段 3 3 4が上昇してシート押さえリング 3 3 4 Aを 粘着シート Sから離脱させるとともに、 フレーム吸着手段 3 3 3、 3 3 3、 …のフレ —ム F上面側の吸着を解除し、 更にフォーク 3 3 2、 3 3 2、 …が水平に移動してチ ャックステージ 3 0 6の溝 3 0 6 B内から引き抜かれ、 チャックステージ 3 0 6の把 持を解除する。
ここでアーム 3 3 1が若干上昇するとともに、 回動して搬送手段 3 3 0が退避する (ステップ S 3 1 9 ) 。 図 2 2はこの状態を表わしたもので、 フレーム Fがフレーム チャック上に吸着固定され、 ゥエーハ Wは未だチャックステージ 3 0 6に吸着されて いない状態であり、ダイシングされた個々のチップ間の間隔は未だ拡大されていない。 次に、 昇降台 3 1 1 Aが上昇する。 昇降台 3 1 1 Aが上昇すると、 フレーム Fはフ レームチャック 3 1 3に吸着固定されているので、 チャックステージ 3 0 6上及びチ ャックステージ 3 0 6外側の粘着シート Sが引き伸ばされ、 粘着シ一ト Sに貼付され た個々のチップ Tの間隔が拡大される (ステップ S 3 2 1 ) 。 図 2 3はこの状態を表 わしている。
次に、 電磁弁 3 2 1 Cを作動させて、 チャックステージ 3 0 6上の粘着シート Sを チャックステージ 3 0 6に吸着保持する (ステップ S 3 2 3 ) 。
チヤックステージ 3 0 6上の粘着シート Sがチヤックステージ 3 0 6に吸着保持さ れると、 昇降台 3 1 1 Aが元の高さまで下降する。 昇降台 3 1 1 Aが元の高さまで下 降すると、 チャックステージ 3 0 6上の粘着シート Sがチャックステージ 3 0 6に吸 着保持されてエキスパンド状態が保持されているので、 粘着シ一ト Sのチヤックステ ージ 3 0 6の外側の部分に弛み S Aが形成される (ステップ S 3 2 5 ) 。
ここでゥエーハ Wの上方に環状の溝 3 1 5 Aを有するリング状のハウジング 3 1 5 が配置されるとともに、 ハウジング 3 1 5の外側に溶着工具としての超音波溶着工具 3 1 6が先端をハウジング 3 1 5の溝 3 1 5 Aの入口に向けて斜めに配置される。 図 1 9はこの状態を表わしたものである。
次にハウジング 3 1 5を下降させ、 下端が粘着シート S上面と同じ高さ位置で固定 する。 次いで押し上げ部材 3 1 4を上昇させて粘着シート Sに当接させ、 なおも上昇 させることにより粘着シート Sの弛み S A部分を押し上げてハウジング 3 1 5の溝 3 1 5 A内に押し込む。
次に、 電磁弁 3 2 1 Aを作動させ、 ハウジング 3 1 5の溝 3 1 5 A内の空間部を減 圧ポンプで減庄し、 粘着シート Sの弛み S Aを溝 3 1 5 Aの内面に吸着する (ステツ プ S 3 2 7 ) 。 溝 3 1 5 Aの内面は多孔質部材 3 1 5 Bで形成されているので弛み S Aを均一に吸着することができる。 図 2 4はこの状態を表わしたものである。
ここで粘着シート Sの弛み S A部分を溝 3 1 5 A内に押込んだ押し上げ部材 3 1 4 を下降させる。 押し上げ部材 3 1 4が下降しても、 粘着シート Sの弛み S A部分は溝 3 1 5 Aの内面に吸着されているので弛み S Aが垂れ下がることはない。
次に、 超音波溶着工具 3 1 6を前進させ、 先端部で粘着シート Sの弛み S Aの根元 部分である基部 S Bを押圧し、 基部 S B同士を接触させてハウジング 3 1 5の溝 3 1 5 Aの壁に押付ける。 次いで超音波溶着工具 3 1 6は超音波を発振させ、 先端で粘着 シート Sの弛み S Aの基部 S Bを局所溶着する。 これととともに、 0テーブル 3 1 1 を 1回転させ環状の弛み S Aの基部 S B全周にわたって溶着する(ステップ S 3 2 9 )。 図 2 5はこの状態を表わしたものである。 粘着シート Sは、 ゥェ一ハ Wが貼着され た部分がエキスパンドされてチップ T間の間隔が拡大された状態のまま、 弛み S Aの 基部 S Bが超音波溶着工具 3 1 6の先端で押圧され、 基部 S B同士が溝 3 1 5 Aの壁 に押付けられ、 超音波振動によつて局部溶着されている。
ここで超音波溶着工具 3 1 6を後退させ、 電磁弁 3 2 1 Aを作動させてハウジング 3 1 5の溝 3 1 5 A内の減圧を解除するとともに、 ハウジング 3 1 5を上昇させる。 次いで電磁弁 3 2 1 B及び電磁弁 3 2 1 Cを作動させてチャックステージ 3 0 6及び フレームチャック 3 1 3の吸着力を解除する。 (ステップ S 3 3 1 ) 。
以上の工程により、 粘着シート Sに貼付され個々のチップ Tにダイシングされたゥ エーハ Wのチップ T間の間隔が広げられた状態となり、 この状態で粘着シート Sは外 周近傍に弛みが造られ弛みの根元が摘ままれて固定され、 個々のチップ Tの間隔が拡 大したまま保持されるので、 ダイシングされたゥエーハ Wをフレームごと搬送するこ とができる。
このエキスパンドは、 ダイシング装置内で、 ダイシング加工直後に行われるのが好 ましく、 ゥエーハ Wはこのように、 チップ Tの間隔が拡大された状態が保持されたま まフレーム搬送されるので、 搬送中の振動によつて隣同士のチップのエツジとエツジ とが接触して、 エツジ部に欠けやマイクロクラック等が発生することが防止される。 また、粘着シート Sのエキスパンド及び粘着シ一ト Sの弛み S Aの根元(基部 S B) の固定は、 ダイシングエリアとは別エリアで行われるので、 エキスパンドのためにダ ィシング装置の稼働率が低下することがない。
以上説明した第 4の実施の形態では、 チャックステージ 3 0 6を上方に持ち上げて エキスパンドし、クランプした後に下降させて粘着シート Sに弛み S Aを形成したが、 本発明はこれに限らず、 フレーム Fを下方に押し下げて粘着シート Sをエキスパンド し、 クランプした後に上方に持ち上げて粘着シート Sに弛み S Aを形成してもよい。 また、 粘着シート Sの弛み S Aの基部 S Bを超音波溶着したが、 超音波溶着に限ら ず熱圧着で局部溶着してもよく、 また溶着に限らず、 接着材で接着してもよい。
図 2 6は、 本発明のエキスパンド装置の第 5の実施の形態を説明するもので、 ダイ シング装置内のダイシングエリアに設けられている。 エキスパンド装置 4 0 1は、 X Y Z 0テーブル 4 1 1、 XY Z 0テーブル 4 1 1に載置されたチャックステージ 4 1 2とフレームチャック 4 1 3、 チャックステージ 4 1 2を包囲し図示しない駆動手段 によって上下に昇降移動される取付けリング 4 1 4、 取付けリング 4 1 4の上面に取 り付けられた加熱手段 4 1 5等を有している。
チャックステージ 4 1 2の上面には図示しない多孔質部材が埋設され、 多孔質部材 を介して減圧手段に接続され、 ワークを吸着保持するようになっている。 また、 フレ ームチヤック 4 1 3の上面には多孔質部材 4 1 3 Aが埋設され、 多孔質部材 4 1 3 A を介して減圧手段に接続されている。
上下に昇降移動される取付けリング 4 1 4に取り付けられた加熱手段 4 1 5は、 粘 着シート Sの板状物であるゥエーハ Wとフレーム Fとの間の部分を加熱するもので、 ラバーヒー夕一等の面発熱体が用いられる。
図 2 7は、 粘着シート Sのゥエーハ Wとフレーム Fとの間の粘着シート Sの加熱さ れるエリアを表わす平面図である。 図 2 7に示すように、 粘着シート Sの加熱される エリァは、ゥェ一ハ Wの一方向のダイシングラインに平行な 1対のエリア H 1、 H 2、 及び一方向のダイシングラインと直交するダイシングラインに平行な 1対のエリア H 3、 H 4で、 複数の加熱手段 4 1 5はこれらのエリア H I、 H 2、 H 3、 及び H 4と 同じ平面形状で同じ位置に配置されている。
これらのエリア 1、 H 2、 H 3、 及び H 4に配置された加熱手段 4 1 5は、 夫々独 立してオンオフ及び発熱温度が制御できるようになつている。
次に、 本発明のエキスパンド方法の第 5の実施の形態について説明する。 本発明に 係るエキスパンド装置 4 0 1が設けられたダイシング装置では、 ゥエーハ Wは熱収縮 性の粘着シー卜 Sに貼付され、 粘着シート Sを介してリング状のフレーム Fにマウン トされた状態で投入される。
熱収縮性の粘着シート Sの基材はポリオレフィン系のプラスチックで、 1 1 5 °C以 上の熱が加えられると収縮し、 その収縮率は長さ変化率で一 1 5 %以上のものが用い られる。 粘着シート Sの基材は、 ポリオレフィン系の他にポリ塩化ビニル、 ポリエス テル、 ポリスチレン系等のプラスチックから適宜選択することができる。
ゥエーハ Wがダイシングされる時は、 ゥエーハ Wは粘着シート Sに貼付されたまま 粘着シート Sを介してチャックステージ 4 1 2に真空吸着される。 またフレーム Fも 粘着シート Sを介してフレームチャック 4 1 3に吸着される。 この時加熱手段 4 1 5 が取り付けられた取付けリング 4 1 4は、 下方に位置している。
ゥエーハ Wはこの状態で、 図示しないレーザ一へッドからゥェーハ内部に集光点を 有するレーザ一光を照射されて、 内部に多光子吸収による改質層が形成され、 X Y Z 6テーブル 4 1 1とレーザー光との相対移動によりレーザーダイシングされる。 ゥエーハ Wがダイシングされると、 フレーム Fの吸着はそのままで、 チャックステ ージの真空チヤックが大気開放され、 粘着シート Sのゥェ一ハ Wが貼付されている部 分の吸着が解除される。
次に、 取付けリング 4 1 4が上昇して加熱手段 4 1 5を粘着シート Sの加熱エリア H l、 H 2、 H 3、 及び H 4に接触させる。 次いでエリア H I、 H 2、 又はエリア H 3、 H 4のどちらかの 1対を先に加熱する。 粘着シート Sが熱収縮性シートであるの で、 加熱されたエリアは収縮する。 この時粘着シート Sのゥエーハ Wが貼付されてい る部分が外側に引き伸ばされ、 ダイシングされた個々のチップ Tの間隔が 1方向にェ キスパンドされる。
次に他の 1対のエリアを加熱して他方向のエキスパンドを行う。 加熱手段 4 1 5は 1 2 0 °C近くまで熱せられるが、 各チップ同士の間隔を顕微鏡や T Vカメラの画像で 観察し、 各部のエキスパンド状況に応じて各加熱エリアの加熱温度をコントロールす る。
次いで、加熱手段 4 1 5が下降され、それとともにフレーム Fの吸着が解除される。 粘着シート Sの加熱されたエリア H I、 H 2、 H 3、 及び H 4の加熱が解除されても 収縮したままの状態が保持されるので、 ゥェーハ Wが貼付されている部分のエキスパ ンド状態も保持され、 ゥエーハ" Wはチップ間隔が拡大されたままフレーム Fにマウン 卜された状態で搬送可能である。
このように、 ゥエーハ Wはダイシング直後にチャックステージ 4 1 2から取り外さ ずにエキスパンドされ、 個々のチップ間隔が拡げられるので、 搬送途中でチップ丁の ェッジ同士の接触が防止される。
尚、 粘着シート Sのエリア H I、 H 2、 又はエリア H 3、 H 4のどちらかの 1対を 先に加熱して 1方向にエキスパンドし、 次に他の 1対を加熱して他方向のエキスパン ドを行う場合、 各エリアに対応する加熱手段 4 1 5のオンオフ制御で行ってもよく、 また取付けリング 4 1 4を分割して各エリアごとに独立して上下移動させるようにし てもよい。
また、 粘着シート Sの加熱エリアを 4箇所としたが、 更に細分化してきめ細かく制 御するようにしてもよい。
また、 ダイシングラインの方向に関係なく外周に向けて一様にエキスパンドする場 合は、 加熱するエリア H I、 H 2、 H 3、 及び H 4を同時に加熱すればよい。 また、 ダイシングラインの方向に無関係で一様にエキスパンドする場合は、 図 2 8に示すよ うに、 粘着シート Sの加熱するエリアを円環状のエリア H Rとし、 加熱手段 4 1 5も 同形の円環状とすることができる。
図 2 9は、 本発明のエキスパンド装置の第 6の実施の形態を説明するものである。 エキスパンド装置 5 0 1は、 ベース 5 1 1、 ベース 5 1 1に載置されたエキスパンド 手段である伸縮テーブル 5 1 2とフレームチヤック 5 1 3、 伸縮テーブル 5 1 2に取 り付けられたチャックステージ 5 1 4、 ホルダ 5 1 6を介してベース 5 1 1に取り付 けられたエキスパンド保持手段である噴射管 5 1 5等を有している。
チヤックステージ 5 1 4の上面には多孔質部材 5 1 4 Aが埋設され、 多孔質部材 5 1 4 Aは電磁弁 5 2 1 B、 レギユレ一夕 5 2 2 Bを経由して真空ポンプ 5 2 3に接続 され、 板状物ワークであるゥェ一ハ Wを粘着シート Sごと吸着保持するようになって いる。
また、 フレームチャック 5 1 3の上面には多孔質部材 5 1 3 Aが埋設され、 多孔質 部材 5 1 3 Aは電磁弁 5 2 1 A、 レギユレ一夕 5 2 2 Aを経由して真空ポンプ 5 2 3 に接続され、 フレーム Fを粘着シート Sごと吸着保持するようになっている。
伸縮テーブル 5 1 2は、 図示しない駆動手段によって上下に伸縮され、 チャックス テ一ジ 5 1 4上のゥエーハ Wを粘着シート Sごと上下に移動させる。
噴射管 5 1 5は、 リング状の管で熱風源に接続されており、 上面に形成された多数 の噴射口 5 1 5 A、 5 1 5 A、 …から上方に熱風を噴射する。
次に、 図 3 0のフローチャートに基づいて本発明に係るエキスパンド方法の第 6の 実施の形態を説明する。 本発明に係るエキスパンド方法に用いるエキスパンド装置 5 0 1では、 ゥエーハ Wは図 3に示すように、 熱収縮性の粘着シート Sに貼付され、 粘 着シート Sを介してリング状のフレーム Fにマウン卜された状態で投入される。 熱収縮性の粘着シート Sの基材はポリオレフイン系のプラスチックで、 1 1 5 °C以 上の熱が加えられると収縮し、 その収縮率は長さ変化率で一 1 5 %以上のものが用い られる。 粘着シート Sの基材は、 ポリオレフイン系の他にポリ塩化ビニル、 ポリエス テル、 ポリスチレン系等のプラスチックから適宜選択することができる。
このゥエーハ Wを粘着シート Sを介してチャックステージ 5 1 4に載置するととも にフレーム Fをフレームチャック 5 1 3に載置する。 ここではゥェ一ハ Wは既にダイ シングされて個々のチップに分割されている。
この状態で電磁弁 5 2 1 Aを作動させ、 フレーム Fをフレームチャック 5 1 3に吸 着固定する (ステップ S 5 1 1 ) 。 なお、 ゥエーハ Wはチャックステージ 5 1 4に載 置したままで、 吸着はしない。 図 2 9はこの状態を表わしている。
次に、 伸縮テ一ブル 5 1 2を上方に伸ばしゥエーハ Wの貼付されている部分の粘着 シ一ト Sを上方に持ち上げる。 これにより粘着シ一ト Sが引き伸ばされて個々のチッ プ T間の間隔が拡大される(ステップ S 5 1 3 )。図 3 1はこの状態を表わしている。 次に、 電磁弁 5 2 1 Bを作動させ、 ゥエーハ Wを粘着シート Sごとチャックステー ジ 5 1 4に吸着固定する。 これにより、 チャックステージ 5 1 4上の粘着シート Sの エキスパンド状態が一時的に維持される (ステップ S 5 1 5 ) 。
この状態から伸縮テーブル 5 1 2を元の位置まで縮める。 チャックステージ 5 1 4 上の粘着シート Sは吸着固定されているので、 フレーム Fとチャックステージ 5 1 4 との間の粘着シート Sに弛み S Aが生じる (ステップ S 5 1 7 ) 。
次に、 噴射管 5 1 5の噴射口 5 1 5 A、 5 1 5 A、 …から粘着シート Sの弛み S A に向けて熱風を噴射する。 熱風の温度は 1 2 0 °C程度が好適である。 粘着シート Sは 熱収縮性シートであるので、 弛み S A部分が収縮して弛み S Aが解消される (ステツ プ S 5 1 9 ) 。
図 3 2は、 フレーム Fとチャックステージ 5 1 4との間の粘着シート Sに弛み S A が形成され、 この弛み S A部分に噴射管 5 1 5から熱風を噴射している状態を表わし ている。
ここで、 電磁弁 5 2 1 A、 及び 5 2 1 Bを作動させてゥェ一ハ Wとフレーム Fの吸 着を解除する (ステップ S 5 2 1 ) 。 ゥエーハ" Wの吸着を解除しても、 粘着シート S の弛み S Aが収縮し解消しているので粘着シート Sのエキスパンド状態が保持され、 個々のチップ T間の間隔が拡大されたまま保たれている。 図 3 3はこの状態を表わし ている。
このようにエキスパンドされた粘着シート Sのエキスパンド状態が保持され、 個々 のチップ T間の間隔が拡大されているので、 個々のチップ T同士の接触が防止され、 ゥエーハ Wはフレーム Fごと容易に搬送することができる。
なお、 本第 6の実施の形態ではフレーム Fを一定位置に固定し、 ゥエーハ Wを上方 に移動して粘着シート Sをエキスパンドしたが、 本発明はこれに限らず、 ゥエーハ W を一定位置に固定し、 フレーム Fを下方に押し下げて粘着シー卜 Sをエキスパンドし てもよく、 その他ゥエーハ Wとフレーム Fとを相対的に離間させる方法であればどち らをどの方向に移動させてもよい。
次に、 本発明に係るエキスパンド装置及び方法の第 6の実施の形態の変形例につい て説明する。 図 3 4は、 本発明の第 6の実施の形態の変形例に係るエキスパンド装置 を表わしている。 エキスパンド装置 5 0 1 Aは、 ベース 5 1 1、 ベース 5 1 1に載置 されたステージ 5 3 1とフレームチャック 5 1 3、 取付台 5 3 5を介してベース 5 1 1に設けられたリング状の加熱板 5 3 4を有している。
フレームチヤック 5 1 3の上面には多孔質部材 5 1 3 Aが埋設され、 多孔質部材 5 1 3 Aは図示しない真空源に接続され、 フレーム Fを粘着シート Sごと吸着保持する ようになつている。
加熱板 5 3 4にはラパーヒータ等の面発熱体が用いられ、 加熱板 5 3 4を取り付け た取付台 5 3 5は図示しない駆動手段により上下に移動されるようになっている。 ステージ 5 3 1の上方には環状のクランプリング 5 3 3が設けられ、 図示しない駆 動手段で上下移動される。 クランプリング 5 3 3が下方に押し下げられた時に粘着シ ート Sをステージ 5 3 1に押付け、 粘着シート Sをクランプするようになっている。 また、 加熱板 5 3 4の上方には環状の押圧リング 5 3 2が設けられ、 図示しない駆 動手段で上下移動される。 押圧リング 5 3 2が下方に押し下げられた時に、 粘着シー ト Sをリング状に下方に押し下げるようになつている。
図 3 5は、 本発明に係るエキスパンド方法の第 6の実施の形態の変形例を表わすフ ローチャー卜である。 先ず、 ゥェ一ハ wをステージ 5 3 1に、 フレーム Fをフレーム チャック 5 1 3に載置し、 次いでフレームチャック 5 1 3の真空源を O Nし、 フレー ム Fを粘着シート Sごとフレームチャック 5 1 3に吸着固定する(ステップ S 5 3 1 )。 次に、 押圧リング 5 3 2を下方に移動させ、 粘着シート Sのステージ 5 3 1とフレ —ム Fとの間の部分を下方に押し下げる。 これにより粘着シ一卜 Sがエキスパンドさ れ、 個々のチップ T間の間隔が拡大される (ステップ S 5 3 3 ) 。
次に、 クランプリング 5 3 3を下方に移動させ、 粘着シート Sをゥエーハ Wの外周 部でステージ 5 3 1に押付けてクランプする (ステップ S 5 3 5 ) 。 これにより、 ス テージ 5 3 1上の粘着シート Sのエキスパンド状態が一時的に維持される。 ここで押 圧リング 5 3 2を上方に後退させると、 粘着シ一卜 Sのステージ 5 3 1とフレーム F との間の部分に図 3 4の点線で示すような弛み S Aが形成される(ステップ S 5 3 7 )。 次に、 取付台 5 3 5を上昇させ、 およそ 1 2 0 に加熱されたリング状の過熱板 5 3 4を粘着シート Sの弛み S A部分に接触させて、 徐々に持ち上げてゆく。 粘着シー ト Sは熱収縮性シートであるので、 弛み S A部分が徐々に収縮して弛み S Aが解消さ れる (ステップ S 5 3 9 ) 。 リング状の過熱板 5 3 4で粘着シートのゥエーハ Wの外 側部分を環状に加熱するので、 粘着シート Sの弛み S A部分が均一に収縮して解消さ れる。
弛み S Aが完全に解消されたところで、 過熱板 5 3 4とクランプリング 5 3 3を後 退させる (ステップ S 5 4 1 ) 。 ここでフレーム Fの吸着を解除する (ステップ S 5 4 3 ) 。 ステージ 5 3 1上の粘着シート Sのクランプとフレーム Fの吸着とが解除さ れても、 粘着シート Sの弛み S Aが収縮し解消しているので粘着シート Sのエキスパ ンド状態が保持され、 個々のチップ T間の間隔が拡大されて個々のチップ T同士の接 触が防止され、 ゥエーハ Wはフレーム Fごと容易に搬送することができる。
図 3 4では、押圧リング 5 3 2によって図の点線で示すような弛み S Aが形成され、 その弛み S Aがリング状の過熱板 5 3 4で加熱されて収縮し、 完全に解消された状態 (図の実線) を表わしている。
以上説明したように、 本発明に係るエキスパンド方法によれば、 熱収縮性の粘着シ ート Sをエキスパンドしてダイシングされた個々のチップ T間の間隔を拡大し、 その 拡大状態を保持したまま粘着シート Sに弛み S Aを形成し、 弛み S Aを加熱して熱収 縮させるので、 粘着シート Sのエキスパンド状態保持を容易に行うことができ搬送途 中でのチップ Tのエッジ同士の接触が防止される。
なお、 ゥェ一ハ Wをダイシング後、 ゥエーハ Wをチャックステージから取り外さず に粘着シート Sをエキスパンドし、 弛み S Aを形成し、 弛み S Aを熱収縮させて解消 し、 エキスパンド状態を保持することにより、 ダイシング後のダイシング装置内の搬 送においてもチップ Tのエッジ同士の接触が防止される。
図 3 6は、 本発明のエキスパンド装置の第 7の実施の形態を説明するものである。 エキスパンド装置 6 0 1は、 ベース 6 1 1、 ベース 6 1 1に載置されたゥエーハステ ージ 6 1 2とフレームチャック 6 1 3、 ゥエーハステージ 6 1 2の鍔部 6 1 2 A上に 設けられたエアーバッグ 6 1 4、 フレームチャック 6 1 3の上方に配置されたフレー ムホルダ 6 1 5、 粘着シート Sを切断するカツ夕 6 1 6等を有している。
エキスパンド装置 6 0 1のエキスパンド手段は、 ゥェ一ハステージ 6 1 2、 エアー バッグ 6 1 4等で構成され、 エキスパンド保持手段は、 フレームホルダ 6 1 5、 カツ 夕 6 1 6等出構成されている。
ゥエーハステージ 6 1 2は、 図示しない駆動手段によって上下に伸縮移動され、 板 状部材であるゥェ一ハ Wを粘着シート Sごと上下に移動させる。 また、 フレームチヤ ック 6 1 3は円筒形状で、 フレームチヤック 6 1 3の上面には多孔質部材 6 1 3 Aが 埋設され、 多孔質部材 6 1 3 Aは図示しない真空源に接続され、 第 1のフレームであ るフレーム Fを粘着シート Sごと吸着保持するようになっている。
ゥエーハステージ 6 1 2の鍔部 6 1 2 A上に設けられたエアーバッグ 6 1 4は、 ゴ ム系弾性部材からなるチューブ形状で、 図示しない圧縮エアー源に接続され、 圧縮ェ ァ一の力で主に横方向に伸縮するようになっている。
フレームチャック 6 1 3の上方に配置されたフレームホルダ 6 1 5は、 図示しない 駆動手段によって上下に伸縮移動されるとともに、 図示しない真空源に接続され、 第 2のフレームである新フレーム Fを吸着保持するようになっている。 第 2のフレーム である新フレーム Fは第 1のフレームであるフレーム Fと同じものが用いられている。 フレームホルダ 6 1 5の近傍には、 フレームホルダ 6 1 5と一緒に上下に移動され るとともに、 新フレーム Fの外周部に向けて前進、 及び後退し、 更に新フレーム Fの 外周に沿って回転移動して粘着シート Sを切り離すカツ夕 6 1 6が設けられている。 次に、 図 3 7のフローチャートに基づいて本発明に係るエキスパンド方法の第 7の 実施の形態を説明する。 本発明に係るエキスパンド方法に用いるエキスパンド装置 6 0 1では、 ゥエーハ Wは図 3に示すように、 粘着シート Sに貼付され、 粘着シート S を介して第 1のフレームであるリング状のフレーム Fにマウントされた状態で投入さ れる。
このゥエーハ Wを粘着シート Sを介してゥエーハステージ 6 1 2に載置するととも にフレーム Fをフレームチャック 6 1 3に載置する (ステップ S 6 1 1 ) 。 ここでは ゥェーハ Wは既にダイシングされて個々のチップ Tに分割されている。
この状態でフレーム Fをフレームチャック 6 1 3に吸着固定する (ステップ S 6 1 3 ) 。 図 3 6はこの状態を表わしている。
次に、 ゥエーハステージ 6 1 2を上方に伸ばしゥエーハ Wの貼付されている部分の 粘着シート Sを上方に持ち上げる。 これとともに、 エアーバッグ 6 1 4に圧縮エアー を供給してエアーバッグ 6 1 4を横方向に膨張させる。
これにより粘着シート Sが引き伸ばされて個々のチップ T間の間隔が拡大されてゆ く。 図 3 8はこの途中状態を表わしている。 ゥエーハステ一ジ 6 1 2の上昇とエアー バッグ 6 1 4の膨張とを更に続け、 図 3 9に示す状態まで粘着シート Sをエキスパン ドする (ステップ S 6 1 5 ) 。
これとともに、 フレームホルダ 6 1 5に第 2のフレームである新フレーム Fを吸着 固定して下降させ (ステップ S 6 1 7 ) 、 新フレーム Fをエキスパンドされた粘着シ ート Sに貼付する (ステップ S 6 1 9 ) 。 図 3 9はこの状態を表わしている。 この状 態で、 新フレーム Fの内側部分の粘着シート Sのエキスパンド状態が保持される。 次にエアーバッグ 6 1 4に供給していた圧縮エアーの供給を停止するとともに、 連 通路を大気に開放してエア一バッグ 6 1 4を収縮させる (ステップ S 6 2 1 ) 。 次に、 カツタ 6 1 6を新フレーム Fの外周部に向けて下降させ、 粘着シート Sに切 り込み (ステップ S 6 2 3 ) 、 次いでカツ夕 6 1 6を新フレーム Fの外周に沿って 1 周させて、新フレーム Fの外周外側部の粘着シート Sを切り離す (ステップ S 6 2 5 )。 次に、 カツ夕 6 1 6を後退させ (ステップ S 6 2 7 ) 、 フレームホルダ 6 '1 5によ る新フレーム Fの吸着を解除する。
このようにエキスパンドされた粘着シ一ト Sのエキスパンド状態が保持され、 個々 のチップ T間の間隔が拡大されているので、 個々のチップ T同士の接触が防止され、 ゥエーハ Wは新フレーム Fごと容易に搬送することができる。
一方、 フレームチャック 6 1 3に吸着保持されていたフレーム Fは、 吸着を解除し て取出す。 フレーム Fに貼付されている粘着シート Sの粘着材が紫外線硬化型接着剤 の場合は、 紫外線を照射して粘着力を弱めた後、 粘着シート Sを取り除く。 また、 粘 着シート Sの粘着材が熱硬化型接着剤の場合は、 加熱して粘着力を弱める。
第 1のフレームであるフレーム Fと第 2のフレームである新フレーム Fとは同種の 物を用いているので、 粘着シート Sを取り除いた第 1のフレームであるフレーム Fは 次の新フレーム Fとして用いる。
なお、 本第 7の実施の形態ではフレーム Fを一定位置に固定し、 ゥエーハ Wを上方 に移動するとともに、 エアーバッグ 6 1 4を膨張させて粘着シート Sをエキスパンド したが、 本発明はこれに限らず、 ゥエーハ Wを一定位置に固定し、 フレーム Fを下方 に押し下げるとともに、 エア一バッ'グ 6 1 4を膨張させて粘着シート Sをエキスパン ドしてもよく、 また、 ゥエーハ Wとフレーム Fとを相対的に所定量離間させた後にェ ァ一バッグ 6 1 4を膨張させてもよい。
また、 粘着シート Sを横方向に引き伸ばす手段としてエアーバッグ 6 1 4を用いた が、 エアーバッグ 6 1 4に限らず、 他の種々のメカニカル手段を用いて粘着シート S に横方向の力を付与してもよい。 産業上の利用可能性
以上説明したように本発明のエキスパンド方法及びエキスパンド装置によれば、 粘 着シートに貼着されて該粘着シートを介してリング状のフレームにマウントされ、個々 のチップにダイシング加工された板状物に対し、 ダイシング加工後に板状物をフレー ムにマウントしたままの状態で粘着シー卜をエキスパンドして個々のチップ間の間隔 を広げ、 その状態を保持するので、 板状物をフレームごと搬送可能となり、 また搬送 中の振動によって隣同士のチップのエッジとエッジとが接触して、 エツジ部に欠けや マイクロクラック等が発生することが防止できる。

Claims

請 求 の 範 囲 '
1 .粘着シ一卜に貼着されて該粘着シートを介してリング状のフレームにマウントされ、 個々のチップにダイシング加工された板状物に対し、 ダイシング加工後に、前記粘着シ —トをエキスパンドして前記個々のチップ間の間隔を拡大するエキスパンド方法におい て、
前記板状物を前記フレームにマウントしたままの状態で前記粘着シートをエキスパン ドするエキスパンド工程と、
前記エキスパンド工程後に、前記板状物を前記フレームにマウントしたままの状態で 前記粘着シートのエキスパンド状態を保持させるエキスパンド保持工程と、 を有し、 拡大された前記チップ間の間隔を維持したまま前記板状物を前記フレームごと搬送可 能とすることを特徴とするエキスパンド方法。
2 . 前記エキスパンド工程は、 前記粘着シートを加熱して膨張させる工程を含むことを 特徴とする、 請求項 1に記載のエキスパンド方法。
3 . 前記エキスパンド工程は、前記粘着シートの前記フレームと前記板状物との間の部 分に凸部を形成する工程を含み、
前記エキスパンド保持工程は、前記粘着シートの前記凸部の基部を溶着又は接着する 工程を含むことを特徴とする、 請求項 1に記載のエキスパンド方法。
4 .前記粘着シートに形成された前記凸部の前記基部を超音波溶着することを特徴とす る、 請求項 3に記載のエキスパンド方法。
5 . 前記エキスパンド工程は、前記板状物をダイシング装置のチャックステージに載置 した状態で行うとともに、クランプ部材を用いて前記チヤックステージ上の前記粘着シ ートのエキスパンド状態を一時的に維持する工程を含み、
前記エキスパンド保持工程は、前記粘着シートの前記クランプ部材の外側の部分に弛 みを形成し、前記粘着シートの前記弛み部分の基部を摘まんで固定する工程を含むこと を特徴とする、 請求項 1に記載のエキスパンド方法。
6 . 前記エキスパンド工程は、前記板状物のダイシング加工後に、 前記ダイシング装置 のダイシングエリァで行われ、
前記粘着シー卜のエキスパンド状態が一時的に維持された前記板状物を前記チヤック ステージごと同一装置内の別エリアに搬送する工程を有し、
前記エキスパンド保持工程は、前記別エリアで行われることを特徴とする、請求項 5 に記載のエキスパンド方法。
7 . 前記板状物のダイシング加工後、 前記板状物を前記ダイシング装置の前記チャック ステージから取り外さずに前記チャックステージごと同一装置内の別エリアに搬送する 工程を有し、
前記エキスパンドエ程及び前記エキスパンド保持工程は、前記同一装置内の前記別ェ リアにおいて行われることを特徴とする、 請求項 5に記載のエキスパンド方法。
8 . 前記エキスパンド保持工程は、前記粘着シートの前記弛み部分の前記基部を溶着又 は接着で固定する工程を含むことを特徴とする、請求項 5、 6及び 7のうちいずれか 1 項に記載のエキスパンド方法。
9 . 前記粘着シートとして熱収縮性のシートを用い、
前記エキスパンドエ程及び前記エキスパンド保持工程は、前記粘着シートの前記板状 物と前記フレームとの間の部分の内、前記板状物を前記板状物のダイシングラインと平 行に挟む少なくとも 1対のェリァで前記粘着シ一トを加熱することによって、同時に行 われることを特徴とする、 請求項 1に記載のエキスパンド方法。
1 0 .前記板状物の一方向のダイシングラインと平行に前記板状物を挟む少なくとも 1 対のエリアと、前記一方向のダイシングラインと直交するダイシングラインと平行に前 記板状物を挟む少なくとも 1対のエリアとで前記粘着シートを加熱し、
前記個々のチップ間隔の拡大状況に応じて前記各エリァの加熱温度を個々に制御する ことを特徴とする請求項 9に記載のエキスパンド方法。
1 1 . 前記板状物のダイシング加工後、前記板状物をダイシング装置のチャックステー ジから取り外さずに前記粘着シートを加熱することを特徴とする請求項 9又は 1 0に記 載のエキスパンド方法。
1 2 . 前記粘着シートとして熱収縮性のシートを用い、 前記エキスパンド工程は、 前記粘着シートに張力を付与する工程を含み、
前記エキスパンド保持工程は、前記粘着シートの前記板状物と前記フレームとの間の 部分に弛みを形成し、該弛み部分を加熱して収縮させ、前記弛みを解消させる工程を含 むことを特徴とする、 請求項 1に記載のエキスパンド方法。
1 3 .エキスパンドされた前記板状物が貼付されている部分の前記粘着シートのエキス パンド状態を吸着保持又は機械的に保持した後に前記弛みを形成し、
前記弛み部分を加熱して収縮させた後に前記吸着保持又は機械的保持を解除すること を特徴とする、 請求項 1 2に記載のエキスパンド方法。
1 4.前記板状物と前記フレームとを相対的に離間させることによって前記粘着シート をエキスパンドし、
前記板状物と前記フレームとの相対的離間を解除することによつて前記弛みを形成す ることを特徴とする、 請求項 1 2又は 1 3に記載のエキスパンド方法。
1 5 .前記板状物と前記フレームとの間の前記粘着シートを押圧することによって前記 粘着シー卜をエキスパンドし、
前記板状物と前記フレームとの間の前記粘着シートの押圧を解除することによって前 記弛みを形成することを特徴とする、 請求項 1 2又は 1 3に記載のエキスパンド方法。
1 6 .前記粘着シートの前記板状物の外側部分を環状に加熱することによって前記弛み 部分を収縮させることを特徴とする、 請求項 1 2、 1 3、 1 4及び 1 5のうちいずれか 1項に記載のエキスパンド方法。
1 7 . 前記板状物のダイシング加工後、前記板状物をダイシング装置のチヤックステー ジから取り外さずに前記粘着シートをエキスパンドすることを特徴とする請求項 1 2、 1 3、 1 4、 1 5及び 1 6のうちいずれか 1項に記載のエキスパンド方法。
1 8 . 前記エキスパンド工程は、前記板状物と前記フレームとを上下方向に相対的に離 間させるとともに、 前記粘着シートに横方向の力を付与する工程を含み、
前記エキスパンド保持工程は、前記エキスパンドされた前記粘着シートにリング状の 別のフレームを貼着し、該別のフレームの外周近傍で前記粘着シートを切断する工程を 含むことを特徴とする、 請求項 1に記載のエキスパンド方法。
1 9 . 前記粘着シートに付与する前記横方向の力は、 エアーバッグを膨張させることに よって付与することを特徴とする、 請求項 1 8に記載のエキスパンド方法。
2 0 . 前記フレームと前記別のフレームとは同種のフレームであることを特徴とする、 請求項 1 8又は 1 9に記載のエキスパンド方法。
2 1 .粘着シートに貼着されて該粘着シートを介してリング状のフレームにマウントさ れ、個々のチップにダイシング加工された板状物に対し、 ダイシング加工後に、 前記粘 着シートをエキスパンドして前記個々のチップ間の間隔を拡大するエキスパンド装置に おいて、
前記板状物を前記フレームにマウントしたままの状態で前記粘着シートをエキスパン ドするエキスパンド手段と、
前記エキスパンド後に、前記板状物を前記フレームにマウントしたままの状態で前記 粘着シ一卜のエキスパンド状態を保持させるエキスパンド保持手段とを有し、
拡大された前記チップ間の間隔を維持したまま前記板状物を前記フレームごと搬送可 能とすることを特徴とするエキスパンド装置。
2 2 . 前記エキスパンド手段は、 前記板状物が前記粘着シー卜ごと載置される加熱ステ ージと、 該加熱ステ一ジに組込まれたヒ一夕とを含み、
前記エキスパンド保持手段は、前記板状物の外径よりも大きな内径を有する内リング と、該内リングの外周に前記粘着シートを介在させた状態で強嵌合可能な内径を有する 外リングを含み、
前記加熱ステージによって前記粘着シートの前記板状物が貼付された部分を加熱し、 該粘着シートを外周に向けて膨張させることによってエキスパンドするとともに、前記 内リングと前記外リングとで前記粘着シートの加熱された部分の外側を挟み込んで、前 記粘着シートのエキスパンド状態を保持するように構成されることを特徴とする、請求 項 2 1に記載のエキスパンド装置。
2 3 . 前記エキスパンド手段は、 前記板状物を載置するチャックステージと、 前記粘着 シートの前記フレームと前記板状物との間の部分を押圧して前記粘着シートに凸部を形 成する押圧部材とを含み、 前記エキスパンド保持手段は、前記粘着シートを挟んで前記押圧部材と対向して配置 され、前記凸部を収容する空間部を有するハウジングと、前記凸部の基部に向けて押圧 される溶着工具とを含み、
前記押圧部材で前記粘着シートに前記凸部を形成することによつて前記粘着シー卜を エキスパンドし、
前記溶着工具で前記凸部の前記基部を溶着することによつて前記粘着シ一卜のエキス パンド状態を保持することを特徴とする、 請求項 2 1に記載のエキスパンド装置。
2 4 .前記ハウジング内の前記空間部を減圧する減圧手段を更に有することを特徴とす る、 請求項 2 3に記載のエキスパンド装置。
2 5 . 前記エキスパンド手段は、 前記板状物のダイシング加工後、 前記板状物をダイシ ング装置のチヤックステージから取り外さずに前記粘着シートをエキスパンドし、 前記チヤックステージ上の前記粘着シートのエキスパンド状態を一時的に維持するシ 一卜固定手段が設けられ、
前記粘着シートのエキスパンド状態を一時的に維持したまま、前記板状物を前記チヤ ックステージごとダイシングエリアから前記ダイシング装置内の別エリアに搬送する搬 送手段が設けられ、
前記エキスパンド保持手 は、前記別エリアに設けられ、 前記粘着シートのエキスパ ンド状態が維持されていない部分に発生する弛み部分の基部を摘まんで固定することを 特徴とする、 請求項 2 1に記載のエキスパンド装置。
2 6 . 前記板状物のダイシング加工後、前記板状物をダイシング装置のチャックステー ジから取り外さずに前記板状物を前記チヤックステージごとダイシングエリァから前記 ダイシング装置内の別ェリァに搬送する搬送手段が設けられ、
前記エキスパンド手段は、前記ダイシング装置内の前記別エリアにおいて前記粘着シ 一卜をエキスパンドし、
前記チヤックステージ上の前記粘着シートのエキスパンド状態を一時的に維持するシ ート固定手段が設けられ、
前記エキスパンド保持手段は、前記粘着シートのエキスパンド状態が一時的に維持さ れていない部分に発生する弛み部分の基部を摘まんで固定することを特徴とする、請求 項 2 1に記載のエキスパンド装置。
2 7 . 前記エキスパンド保持手段は超音波溶着工具を含むことを特徴とする、請求項 2 3、 2 4、 2 5及び 2 6のうちいずれか 1項に記載のエキスパンド装置。
2 8 . 熱収縮性の前記粘着シ一トを対象とし、
前記エキスパンド手段及び前記エキスパンド保持手段は、前記板状物の一方向のダイ シングラインと平行に前記板状物を挟む少なくとも 1対のエリアと、前記一方向のダイ シングラインと直交するダイシングラインと平行に前記板状物を挟む少なくとも 1対の エリアとで前記粘着シートを加熱する加熱手段を含むことを特徴とする、請求項 2 1に 記載のエキスパンド装置。
2 9 . 熱収縮性の前記粘着シー卜を対象とし、
前記エキスパンド手段は、前記板状物と前記フレームとを上下方向に相対的に離間さ せる手段及び前記粘着シートを押圧する手段の少なくとも一方を含み、
前記粘着シートのエキスパンド状態を一時的に維持するシート固定手段が設けられ、 前記エキスパンド保持手段は、前記粘着シートの前記板状物と前記フレームとの間の 部分に形成される弛み部分を加熱する加熱手段を含むことを特徴とする、請求項 2 1に 記載のエキスパンド装置。
3 0 . 前記エキスパンド手段は、前記板状物と前記フレームとを上下方向に相対的に離 間させて前記粘着シートを引き伸ばす手段と、圧縮エアーによって膨張し前記粘着シー トに横方向の力を付与するエア一バッグとを含み、
前記エキスパンド保持手段は、エキスパンドされた前記粘着シートに新たなフレーム を貼付する手段と、前記新たなフレームの外周に沿って前記粘着シートを切断する手段 とを含むことを特徴とする、 請求項 2 1に記載のエキスパンド装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7608523B2 (en) * 2005-08-26 2009-10-27 Disco Corporation Wafer processing method and adhesive tape used in the wafer processing method
JP2016072437A (ja) * 2014-09-30 2016-05-09 株式会社ディスコ 拡張装置、及び接着シートの破断方法
CN112967970A (zh) * 2020-05-21 2021-06-15 重庆康佳光电技术研究院有限公司 一种转移方法及显示背板
CN112967968A (zh) * 2020-05-20 2021-06-15 重庆康佳光电技术研究院有限公司 一种转移装置及转移方法

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4624813B2 (ja) 2005-01-21 2011-02-02 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置の製造方法および半導体製造装置
JP2008544516A (ja) * 2005-06-16 2008-12-04 エヌエックスピー ビー ヴィ ホイルキャリアのホイルを延伸させる手段、ウエハからダイ片を剥離させる機構及びダイ片剥離方法
US7838331B2 (en) 2005-11-16 2010-11-23 Denso Corporation Method for dicing semiconductor substrate
US7517725B2 (en) * 2005-11-28 2009-04-14 Xci, Inc. System and method for separating and packaging integrated circuits
DE102008041250A1 (de) * 2008-08-13 2010-02-25 Ers Electronic Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum thermischen Bearbeiten von Kunststoffscheiben, insbesondere Moldwafern
DE102008058310B3 (de) * 2008-11-18 2010-06-17 Jenoptik Automatisierungstechnik Gmbh Vorrichtung zum Randentschichten beschichteter Substrate und Trennen in einzelne Module
CN101850538B (zh) * 2009-04-01 2012-10-10 日月光半导体制造股份有限公司 晶圆的支撑治具与研磨、输送及切割晶圆的方法
JP5854215B2 (ja) * 2011-02-16 2016-02-09 株式会社東京精密 ワーク分割装置及びワーク分割方法
KR101248313B1 (ko) * 2012-06-29 2013-03-27 세메스 주식회사 헤드 교체 장치 및 이를 포함하는 다이 본딩 시스템
JP5701465B2 (ja) * 2012-12-21 2015-04-15 株式会社新川 フリップチップボンダ及びボンディングステージの平坦度並びに変形量補正方法
US9236305B2 (en) * 2013-01-25 2016-01-12 Applied Materials, Inc. Wafer dicing with etch chamber shield ring for film frame wafer applications
JP6110257B2 (ja) * 2013-08-23 2017-04-05 株式会社ディスコ ウエーハユニットの処理方法
JP2015207604A (ja) * 2014-04-17 2015-11-19 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
JP6266429B2 (ja) * 2014-05-08 2018-01-24 株式会社ディスコ チップ間隔維持装置及びチップ間隔維持方法
US11195756B2 (en) * 2014-09-19 2021-12-07 Applied Materials, Inc. Proximity contact cover ring for plasma dicing
DE112017003551T5 (de) * 2016-07-13 2019-03-28 Universal Instruments Corporation Modulares Die-Handhabungssystem
JP6934327B2 (ja) * 2017-06-07 2021-09-15 株式会社ディスコ ウエーハの分割方法及び分割装置
WO2019167702A1 (ja) * 2018-02-28 2019-09-06 三井化学東セロ株式会社 部品製造方法、保持フィルム及び保持具形成装置
US11171031B2 (en) * 2018-07-23 2021-11-09 Texas Instruments Incorporated Die matrix expander with partitioned subring
US11483937B2 (en) * 2018-12-28 2022-10-25 X Display Company Technology Limited Methods of making printed structures
US11658056B2 (en) * 2019-11-05 2023-05-23 Nxp B.V. Technique for handling diced wafers of integrated circuits
US11508606B2 (en) * 2019-11-05 2022-11-22 Nxp B.V. Technique for handling diced wafers of integrated circuits
CN112642807B (zh) * 2020-12-26 2021-12-17 枣庄科顺数码有限公司 一种用于计算机主机震动除尘装置
KR20240112907A (ko) * 2022-04-27 2024-07-19 야마하하쓰도키 가부시키가이샤 익스팬드 장치, 반도체 칩의 제조 방법, 및 반도체 칩

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5956742U (ja) * 1982-10-06 1984-04-13 ソニー株式会社 半導体素子取扱いリング
US4744550A (en) * 1986-04-24 1988-05-17 Asm America, Inc. Vacuum wafer expander apparatus
JPH04255243A (ja) * 1991-02-07 1992-09-10 Nec Kyushu Ltd シート拡大機
US6344402B1 (en) * 1999-07-28 2002-02-05 Disco Corporation Method of dicing workpiece
JP2003051465A (ja) * 2001-08-06 2003-02-21 Disco Abrasive Syst Ltd 被加工物の分割処理方法および分割処理方法に用いるチップ間隔拡張装置

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3766638A (en) * 1970-08-31 1973-10-23 Hugle Ind Inc Wafer spreader
US3790051A (en) * 1971-09-07 1974-02-05 Radiant Energy Systems Semiconductor wafer fracturing technique employing a pressure controlled roller
US3936204A (en) * 1974-10-02 1976-02-03 Central Research Laboratories, Inc. Tape clamp
JPS6044825B2 (ja) 1976-04-19 1985-10-05 富士通株式会社 エツチング方法
US5186775A (en) * 1988-10-05 1993-02-16 Cullen John S Method of fabrication of a container for bulk material
JP3248647B2 (ja) 1994-02-18 2002-01-21 芝浦メカトロニクス株式会社 ウエハシート引伸し装置
JPH07321070A (ja) 1994-05-26 1995-12-08 Rohm Co Ltd ウェハのエキスパンド方法
JP3605472B2 (ja) * 1996-05-31 2004-12-22 大日本印刷株式会社 フィルム、シート類の展張支持治具
JP3955659B2 (ja) * 1997-06-12 2007-08-08 リンテック株式会社 電子部品のダイボンディング方法およびそれに使用されるダイボンディング装置
JP3538070B2 (ja) 1999-07-08 2004-06-14 株式会社東芝 半導体装置の製造方法
JP4488590B2 (ja) 1999-07-28 2010-06-23 株式会社ディスコ 被加工物の分割方法
JP4093297B2 (ja) 2001-11-30 2008-06-04 アピックヤマダ株式会社 半導体製造装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5956742U (ja) * 1982-10-06 1984-04-13 ソニー株式会社 半導体素子取扱いリング
US4744550A (en) * 1986-04-24 1988-05-17 Asm America, Inc. Vacuum wafer expander apparatus
JPH04255243A (ja) * 1991-02-07 1992-09-10 Nec Kyushu Ltd シート拡大機
US6344402B1 (en) * 1999-07-28 2002-02-05 Disco Corporation Method of dicing workpiece
JP2003051465A (ja) * 2001-08-06 2003-02-21 Disco Abrasive Syst Ltd 被加工物の分割処理方法および分割処理方法に用いるチップ間隔拡張装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7608523B2 (en) * 2005-08-26 2009-10-27 Disco Corporation Wafer processing method and adhesive tape used in the wafer processing method
JP2016072437A (ja) * 2014-09-30 2016-05-09 株式会社ディスコ 拡張装置、及び接着シートの破断方法
CN112967968A (zh) * 2020-05-20 2021-06-15 重庆康佳光电技术研究院有限公司 一种转移装置及转移方法
CN112967968B (zh) * 2020-05-20 2022-05-31 重庆康佳光电技术研究院有限公司 一种转移装置及转移方法
CN112967970A (zh) * 2020-05-21 2021-06-15 重庆康佳光电技术研究院有限公司 一种转移方法及显示背板
CN112967970B (zh) * 2020-05-21 2022-09-27 重庆康佳光电技术研究院有限公司 一种转移方法及显示背板

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