JP2003051465A - 被加工物の分割処理方法および分割処理方法に用いるチップ間隔拡張装置 - Google Patents

被加工物の分割処理方法および分割処理方法に用いるチップ間隔拡張装置

Info

Publication number
JP2003051465A
JP2003051465A JP2001237694A JP2001237694A JP2003051465A JP 2003051465 A JP2003051465 A JP 2003051465A JP 2001237694 A JP2001237694 A JP 2001237694A JP 2001237694 A JP2001237694 A JP 2001237694A JP 2003051465 A JP2003051465 A JP 2003051465A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
adhesive tape
heat
chips
shrinkable
shrinkable adhesive
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001237694A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4744742B2 (ja
Inventor
Satoshi Tateiwa
聡 立岩
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Abrasive Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Abrasive Systems Ltd filed Critical Disco Abrasive Systems Ltd
Priority to JP2001237694A priority Critical patent/JP4744742B2/ja
Publication of JP2003051465A publication Critical patent/JP2003051465A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4744742B2 publication Critical patent/JP4744742B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Dicing (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 支持フレームに装着された粘着テープに貼着
された半導体ウエーハ等の被加工物を所定の切断ライン
に沿って分割された複数個のチップが、その搬送時に互
いに接触しないようにした被加工物の分割処理方法を提
供する。 【解決手段】 環状に形成され支持フレームに装着され
た粘着テープの上面に貼着された被加工物を所定の切断
ラインに沿って複数個のチップに分割する被加工物の分
割処理方法であって、粘着テープに熱によって収縮する
熱収縮性粘着テープを用い、熱収縮性粘着テープに貼着
された被加工物を複数個のチップに分割した後、熱収縮
性粘着テープのチップが貼着されている領域を加熱し、
該領域に加圧空気を作用せしめるとともに拡張位置まで
移動して拡張し、その後熱収縮性粘着テープにおけるチ
ップが貼着されている領域と支持フレームとの間の領域
を赤外線を照射して加熱して熱収縮性粘着テープを緊張
せしめる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、環状の支持フレー
ムに装着された粘着テープに貼着された半導体ウエーハ
等の被加工物を、所定の切断ラインに沿って複数個のチ
ップに分割する被加工物の分割処理方法および分割処理
方法に用いるチップ間隔拡張装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば、半導体デバイス製造工程におい
ては、略円板形状である半導体ウエーハの表面に格子状
に配列された多数の領域にIC、LSI等の回路を形成
し、該回路が形成された各領域を所定の切断ラインに沿
ってダイシング装置等の分割装置によって分割すること
により個々の半導体チップを製造している。半導体ウエ
ーハを有効に用いるためには、分割の際の切削幅を如何
に小さくするかが重要である。半導体ウエーハを分割す
る分割装置としては一般にダイシング装置が用いられて
おり、このダイシング装置は厚さが15μm程度の切削
ブレードによって半導体ウエーハを切削する。また、レ
ーザー光線によって半導体ウエーハに形成された切断ラ
インにショックを与え、切断ラインを割断して個々の半
導体チップに形成する方法も用いられている。このよう
に、半導体ウエーハをダイシング装置等の分割装置によ
って分割する場合、分割された半導体チップがバラバラ
にならないように予め半導体ウエーハは粘着テープを介
して支持フレームに支持されている。支持フレームは、
半導体ウエーハを収容する開口部とテープが貼着される
テープ貼着部とを備えた環状に形成されており、開口部
に位置するテープに半導体ウエーハを貼着して支持す
る。このようにして粘着テープを介して支持フレームに
支持された半導体ウエーハが分割された複数個の半導体
チップは、粘着テープを介して支持フレームに支持され
た状態で次工程に搬送される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】而して、半導体ウエー
ハは脆性材料によって形成されているために、半導体ウ
エーハが分割された複数個の半導体チップは粘着テープ
に貼着されている各半導体チップ間に十分な隙間が存在
しない場合には、搬送時に粘着テープの撓みに起因して
隣接する半導体チップ同士が接触して欠損または破損の
原因となるという問題がある。
【0004】本発明は上記事実に鑑みてなされたもので
あり、その主たる技術課題は、支持フレームに装着され
た粘着テープに貼着された半導体ウエーハ等の被加工物
を所定の切断ラインに沿って分割された複数個のチップ
が、その搬送時に互いに接触しないようにした被加工物
の分割処理方法および分割処理方法に用いるチップ間隔
拡張装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記主たる技術課題を解
決するため、本発明によれば、環状に形成され支持フレ
ームの内側開口部を覆うように装着された粘着テープの
上面に貼着された被加工物を所定の切断ラインに沿って
複数個のチップに分割する分割処理方法であって、該支
持フレームに所定温度以上の熱によって収縮する熱収縮
性粘着テープを装着する粘着テープ装着工程と、該熱収
縮性粘着テープの上面に被加工物を貼着する被加工物貼
着工程と、該熱収縮性粘着テープの上面に貼着された被
加工物を所定の切断ラインに沿って複数個のチップに分
割する被加工物分割工程と、該熱収縮性粘着テープにお
ける複数個に分割されたチップが貼着されている領域を
加熱する予備加熱工程と、該予備加熱工程によって加熱
された該熱収縮性粘着テープにおける複数個に分割され
たチップが貼着されている領域に加圧空気を作用せしめ
るとともに、該熱収縮性粘着テープにおける複数個に分
割されたチップが貼着されている領域を支持し該領域を
基準位置から拡張位置まで移動して拡張し、各チップ間
に間隔を形成するチップ間隔形成工程と、該熱収縮性粘
着テープにおける相互に間隔が形成された複数個のチッ
プが貼着されている領域と該支持フレームとの間の領域
を赤外線を照射して加熱するとともに、該熱収縮性粘着
テープにおける複数個に分割されたチップが貼着されて
いる領域を該拡張位置から該基準位置まで移動せしめ、
該熱収縮性粘着テープを緊張する粘着テープ緊張工程
と、を含む、ことを特徴とする被加工物の分割処理方法
が提供される。
【0006】上記チップ間隔形成工程は、熱収縮性粘着
テープにおける複数個に分割されたチップが貼着されて
いる領域を支持し該領域を基準位置から拡張位置まで移
動して拡張した後、該領域を吸引して支持する吸引支持
工程を含むことが望ましい。また、上記熱収縮性粘着テ
ープは、塩化ビニールテープからなっていることが望ま
しい。
【0007】また、本発明によれば、環状の支持フレー
ムの内側開口部を覆うように装着した熱収縮性粘着テー
プに貼着された、被加工物が複数個に分割されたチップ
の間隔を拡張するチップ間隔拡張装置であって、該環状
の支持フレームを上面に保持する筒状のベースと、該筒
状のベース内に同心的に配設され該筒状のベースの軸方
向に基準位置から拡張位置の間を移動可能に構成された
筒状の拡張部材と、該筒状の拡張部材の上端に装着され
熱収縮性粘着テープにおける複数個に分割されたチップ
が貼着されている領域を支持する通気性を有する支持テ
ーブルと、該筒状の拡張部材と該筒状のベースとの間に
配設され該熱収縮性粘着テープにおける複数個に分割さ
れたチップが貼着されている領域と該支持フレームとの
間の領域に赤外線を照射する赤外線ヒータとを有し、該
赤外線ヒータが適宜通電され、該筒状の拡張部材に圧縮
空気が適宜供給されるように構成された拡張手段と、を
具備する、ことを特徴とするチップ間隔拡張装置が提供
される。
【0008】上記通気性を有する支持テーブルは、発泡
金属によって形成されていることが望ましい。また、上
記拡張手段の筒状の拡張部材には、負圧が適宜作用する
ように構成されていることが望ましい。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明による被加工物の分
割処理方法および分割処理方法に用いるチップ間隔拡張
装置の好適な実施形態について、添付図面を参照して詳
細に説明する。
【0010】図1には、本発明による被加工物の分割処
理方法を実施するための切削装置の斜視図が示されてい
る。図示の実施形態における切削装置1は、略直方体状
の装置ハウジング2を具備している。この装置ハウジン
グ2内には、被加工物を保持するチャックテーブル3が
切削送り方向である矢印Xで示す方向に移動可能に配設
されている。チャックテーブル3は、吸着チャック支持
台31と、該吸着チャック支持台31上に装着された吸
着チャック32を具備しており、該吸着チャック32の
表面である載置面上に被加工物である例えば円盤状の半
導体ウエーハを図示しない吸引手段によって保持するよ
うになっている。また、チャックテーブル3は、図示し
ない回転機構によって回動可能に構成されている。
【0011】図示の実施形態における切削装置1は、切
削手段としてのスピンドルユニット4を具備している。
スピンドルユニット4は、図示しない移動基台に装着さ
れ割り出し方向である矢印Yで示す方向および切り込み
方向である矢印Zで示す方向に移動調整されるスピンド
ルハウジング41と、該スピンドルハウジング41に回
転自在に支持され図示しない回転駆動機構によって回転
駆動される回転スピンドル42と、該回転スピンドル4
2に装着された切削ブレード43とを具備している。
【0012】図示の実施形態における切削装置1は、上
記チャックテーブル3を構成する吸着チャック32の表
面に保持された被加工物の表面を撮像し、上記切削ブレ
ード43によって切削すべき領域を検出したり、切削溝
の状態を確認したりするための撮像機構5を具備してい
る。この撮像機構5は顕微鏡やCCDカメラ等の光学手
段からなっている。また、ダイシング装置は、撮像機構
5によって撮像された画像を表示する表示手段6を具備
している。
【0013】図示の実施形態における切削装置1は、被
加工物としての半導体ウエーハ8をストックするカセッ
ト7を具備している。半導体ウエーハ8は、支持フレー
ム9に粘着テープ10によって支持されており、支持フ
レーム9に支持された状態で上記カセット7に収容され
る。なお、支持フレーム9については、後で詳細に説明
する。また、カセット7は、図示しない昇降手段によっ
て上下に移動可能に配設されたカセットテーブル71上
に載置される。なお、カセット7についても、後で詳細
に説明する。
【0014】図示の実施形態における切削装置1は、カ
セット7に収容された被加工物としての半導体ウエーハ
8(支持フレーム9に粘着テープ10によって支持され
た状態)を被加工物載置領域11に搬出する被加工物搬
出手段12と、該被加工物搬出手段12によって搬出さ
れた半導体ウエーハ8を上記チャックテーブル3上に搬
送する被加工物搬送手段13と、チャックテーブル3で
切削加工された半導体ウエーハ8を洗浄する洗浄手段1
4と、チャックテーブル3で切削加工された半導体ウエ
ーハ8を洗浄手段14へ搬送する洗浄搬送手段15を具
備している。
【0015】ここで、被加工物としての半導体ウエーハ
8と支持フレーム9および粘着テープ10の関係につい
て説明する。支持フレーム9は、ステンレス鋼等の金属
材によって環状に形成されており、半導体ウエーハを収
容する開口部91と粘着テープが貼着されるテープ貼着
部92(図1の状態における裏面に形成されている)を
備えている。粘着テープ10は、上記開口部91を覆う
ようにテープ貼着部92に装着される。なお、粘着テー
プ10は、所定以上の温度の熱によって収縮する熱収縮
性粘着テープを用いることが重要である。所定温度以上
の熱によって収縮するテープとしては、例えば塩化ビニ
ールテープを用いることができる。支持フレーム9のテ
ープ貼着部92に熱収縮性粘着テープ10を装着したら
(粘着テープ装着工程)、熱収縮性粘着テープ10の上
面に被加工物である半導体ウエーハ8が貼着される(被
加工物貼着工程)。
【0016】なお、上記熱収縮性粘着テープ10として
は、図7に示す特性を有することが望ましい。図7は熱
収縮性粘着テープ10として用いる塩化ビニールを所定
温度(例えば50°C)で加熱したときの加熱時間に対
する収縮量および硬さの変化を示すものである。図7か
ら判るように、加熱開始から時間t1までは収縮量は少
ないが時間t1から時間t2の間で収縮量が増大する。
一方、加熱開始から時間t1までは収縮しつつも硬度が
低下し軟らかくなり、その後急激に硬度が増加する。ま
た、加熱時間をt3より長くすると、脆くなる。
【0017】図示の実施形態における切削装置1には、
上記被加工物搬出手段12の後方(カセット7と反対
側)に本発明に従って構成されたチップ間隔拡張装置2
0が配設されている。このチップ間隔拡張装置20につ
いて、図2および図3を参照して説明する。図示の実施
形態におけるチップ間隔拡張装置20は、上面に上記熱
収縮性粘着テープ10を介して後述するように分割され
た半導体チップ80を支持した支持フレーム9を載置す
る載置面211が形成された円筒状のベース21と、該
ベース21内に同心的に配設され上記熱収縮性粘着テー
プ10における複数個に分割された半導体チップ80の
相互間を積極的に広げるための拡張手段22を具備して
いる。円筒状のベース21の上部外周面には、載置面2
11上に載置された支持フレーム9を固定するための複
数個のクランプ210(図示の実施形態においては4
個)が取り付けられている。
【0018】上記拡張手段22は、上記熱収縮性粘着テ
ープ10における分割された半導体チップ80が存在す
る領域101を支持する筒状の拡張部材221と、該筒
状の拡張部材221の上端に装着され熱収縮性粘着テー
プ10における半導体チップ80が貼着されている領域
101(図6参照)を支持する通気性を有する支持テー
ブル222とを具備しており、図示しない昇降手段によ
って図3に示す基準位置と該基準位置から上方の拡張位
置の間を上下方向(円筒状のベース21の軸方向)に移
動可能に構成されている。上記通気性を有する支持テー
ブル222は、通気性が良好で熱伝導率の良い発泡金属
板を用いることが望ましい。この支持テーブル222の
下側には、ヒータ223が配設されている。上記筒状の
拡張部材221は、配管231を介して加圧空気源とし
てのエアタンク24に接続されているとともに、配管2
32を介して吸引源としてのバキュームタンク25に接
続されている。なお、配管231および配管232に
は、それぞれ電磁開閉弁261および262が配設され
ている。また、上記円筒状のベース21と拡張部材22
1との間には、熱収縮性粘着テープ10における半導体
チップ80が貼着されている領域101と支持フレーム
との間の環状領域102(図6参照)を赤外線を照射し
て加熱するための赤外線ヒータ29が配設されている。
この赤外線ヒータ29は、図4および図5に示すように
ステンレス鋼等からなる断面矩形状の金属管が環状に形
成された金属ケース291と、該金属ケース291内に
配設されたニクロム線等の発熱体292と、金属ケース
291内に充填された酸化マグネシウム等の絶縁物29
3と、金属ケース29の表面に装着された黒色の酸化ア
ルミニウム等の酸化物層294と、上記発熱体292に
接続された端子295とから構成されている。このよう
に構成された環状の赤外線ヒータ29は、図3に示すよ
うに円筒状のベース21の上部内周面に設けられたヒー
タ支持台212上に載置され、端子295が図示しない
電源回路に接続される。
【0019】図1に戻って説明を続けると、図示の実施
形態における切削装置1は、上記チップ間隔拡張装置2
0と上記被加工物載置領域11との間で分割されたチッ
プを搬送するチップ搬送機構50を具備している。この
チップ搬送機構50は、装置ハウジング2におけるチッ
プ間隔拡張装置20と被加工物載置領域11に対応する
位置に立設された一対の支持柱51、51と、該一対の
支持柱51、51の上部を連結する案内レール52と、
該案内レール52に沿って移動可能に配設された搬送手
段53とから構成されている。なお搬送手段53は、熱
収縮性粘着テープ10を介して分割された半導体チップ
80を支持した支持フレーム9を吸着して搬送する周知
の搬送装置でよい。
【0020】次に、上述した切削装置1の作動について
説明する。図2に示すカセット7の所定の棚70に収容
された支持フレーム9に熱収縮性粘着テープ10を介し
て支持された半導体ウエーハ8は、図示しない昇降手段
によってカセットテーブル71が上下動することにより
搬出位置に位置付けられる。次に、被加工物搬出手段1
2がカセット7に向けて前進し、所定の棚70に収容さ
れた支持フレーム9を把持して後退することにより、半
導体ウエーハ5を熱収縮性粘着テープ10を介して支持
した支持フレーム9を被加工物載置領域11に搬出す
る。
【0021】図1に基づいて説明を続けると、上記のよ
うにして被加工物載置領域11に搬出された支持フレー
ム9に熱収縮性粘着テープ10を介して支持された半導
体ウエーハ8は、被加工物搬送手段13の旋回動作によ
って上記チャックテーブル3を構成する吸着チャック3
2の載置面に搬送され、該吸着チャック32に吸引保持
される。このようにして半導体ウエーハ8を吸引保持し
たチャックテーブル3は、撮像機構5の直下まで移動せ
しめられる。チャックテーブル3が撮像機構5の直下に
位置付けられると、撮像機構5によって半導体ウエーハ
8に形成されている切断ライン(ストリート)が検出さ
れ、スピンドルユニット4の割り出し方向である矢印Y
方向に移動調節して精密位置合わせ作業が行われる。
【0022】その後、半導体ウエーハ8を吸引保持した
チャックテーブル3を切削送り方向である矢印Xで示す
方向(切削ブレード43の回転軸と直交する方向)に移
動することにより、チャックテーブル3に保持された半
導体ウエーハ8は切削ブレード43により所定の切断ラ
イン(ストリート)に沿って切断される。即ち、切削ブ
レード43は割り出し方向である矢印Yで示す方向およ
び切り込み方向である矢印Zで示す方向に移動調整され
て位置決めされたスピンドルユニット4に装着され、回
転駆動されているので、チャックテーブル3を切削ブレ
ード43の下側に沿って切削送り方向に移動することに
より、チャックテーブル3に保持された半導体ウエーハ
8は切削ブレード43により所定の切断ライン(ストリ
ート)に沿って切削される。この切削には、所定深さの
V溝等の切削溝を形成する場合と、切断ライン(ストリ
ート)に沿って切断する場合がある。切断ライン(スト
リート)に沿って切断すると、半導体ウエーハ8は半導
体チップに分割される(被加工物分割工程)。分割され
た半導体チップは、熱収縮性粘着テープ10の作用によ
ってバラバラにはならず、フレーム9に支持された半導
体ウエーハ8の状態が維持されている。このようにして
半導体ウエーハ8の切断が終了した後、分割された半導
体チップを熱収縮性粘着テープ10を介して支持してい
るフレーム9を保持したチャックテーブル3は、最初に
半導体ウエーハ8を吸引保持した位置に戻され、ここで
分割された半導体チップの吸引保持を解除する。次に、
支持フレーム9に熱収縮性粘着テープ10を介して支持
されている分割された半導体チップは、洗浄搬送手段1
5によって洗浄手段14に搬送され、ここで洗浄され
る。このようにして洗浄された分割された半導体チップ
を熱収縮性粘着テープ10を介して支持した支持フレー
ム9は、被加工物搬送手段13によって被加工物載置領
域11に搬出される。
【0023】上述したように、被加工物載置領域11に
搬送された支持フレーム9に熱収縮性粘着テープ10を
介して支持されている分割された半導体チップは、搬送
手段53によってチップ間隔拡張装置20に搬送され
る。チップ間隔拡張装置20における作用について、図
6を参照して説明する。被加工物載置領域11から搬送
手段53によってチップ間隔拡張装置20に搬送された
支持フレーム9に熱収縮性粘着テープ10を介して支持
されている複数個の半導体チップ80は、図6(a)に
示すように支持フレーム9が円筒状のベース21の載置
面211上に載置され、クランプ210によってベース
21に固定される。このようにして、複数個の半導体チ
ップ80を熱収縮性粘着テープ10を介して支持した支
持フレーム9がチップ間隔拡張装置20のベース21に
固定されたら、ヒータ223をONして支持テーブル2
22を加熱する。この結果、支持フレーム9に装着され
た熱収縮性粘着テープ10における複数個の半導体チッ
プ80が貼着された領域101がヒータ223により加
熱された支持テーブル222によって加熱される(予備
加熱工程)。なお、この加熱においては、熱収縮性粘着
テープ10における半導体チップ80が存在する領域1
01の温度が40〜50°Cで、加熱時間が1〜10秒
でよい。即ち、熱収縮性粘着テープ10における複数個
の半導体チップ80が存在する領域101の加熱は、上
記図7において時間t1までの粘着テープの硬度が低下
する範囲がよい。
【0024】次に、図6(b)に示すように上記拡張手
段22を構成する円筒状の拡張部材221に加圧空気を
導入する。即ち、電磁開閉弁261(図3参照)を付勢
(ON)することにより、エアタンク24内の加圧空気
が配管231を通して拡張部材221内に流入する。こ
の結果、拡張部材221内に流入した加圧空気は、通気
性を有する支持テーブル222を通して熱収縮性粘着テ
ープ10における複数個の半導体チップ80が貼着され
た領域101に作用し、該領域101を浮上せしめる。
このように熱収縮性粘着テープ10における複数個の半
導体チップ80が貼着された領域101が浮上され、拡
張部材221および支持テーブル222と熱収縮性粘着
テープ10との摩擦が低減された状態で、熱収縮性粘着
テープ10における複数個の半導体チップ80が存在す
る領域101を支持した拡張手段22を図示しない昇降
手段によって図6(a)の基準位置から上方の拡張位置
(図6(b)に示す位置)まで移動する。この結果、上
記のようにして加熱された熱収縮性粘着テープ10にお
ける複数個の半導体チップ80が存在する領域101が
拡張されるので、図6(b)に示すように各半導体チッ
プ80間に隙間が形成される(チップ間隔形成工程)。
【0025】図6(b)に示すように熱収縮性粘着テー
プ10を拡張し、各半導体チップ80間に間隔を形成す
る工程を実施したならば、電磁開閉弁261(図3参
照)を除勢(OFF)して電磁開閉弁262を付勢(O
N)することにより、拡張部材221とエアタンク24
との連通を遮断して拡張部材221をバキュームタンク
25に連通する。この結果、図6(c)に示すように拡
張部材221内に負圧が作用してが減圧され、熱収縮性
粘着テープ10における複数個の半導体チップ80が貼
着された領域101が支持テーブル222に吸引される
ので、各半導体チップ80間に隙間が形成された状態が
維持される。
【0026】次に、図6(d)に示すように赤外線ヒー
タ29をONする。この結果、支持フレーム9に装着さ
れた熱収縮性粘着テープ10における複数個の半導体チ
ップ80が貼着された領域101と支持フレーム9の内
周との間の環状領域102は、赤外線ヒータ29によっ
て赤外線が照射されて加熱される。この環状領域102
を加熱する温度は、50〜60°Cが適当である。そし
て、この加熱時間は20〜180秒でよい。このよう
に、支持フレーム9に装着された熱収縮性粘着テープ1
0の上記環状領域102が加熱されると、熱収縮性粘着
テープ10は所定以上の温度の熱によって収縮する熱収
縮性粘着テープからなっているので、上記環状領域10
2が収縮して緊張する。このとき、熱収縮性粘着テープ
10の上記環状領域102の加熱を開始すると略同時に
図6(e)に示すように拡張手段22を図示しない昇降
手段によって基準位置(図6(a)に示す位置)まで移
動する(粘着テープ緊張工程)。この結果、各半導体チ
ップ80間に隙間が形成された状態が維持され、隣接す
る半導体チップ80同士の接触が防止される。このよう
にして粘着テープ緊張工程が終了したら、電磁開閉弁2
62を除勢(OFF)して拡張部材221内とバキュー
ムタンク25との連通を遮断するとともに、赤外線ヒー
タ29をOFFする。上述した粘着テープ緊張工程にお
いては、赤外線ヒータ29によって上記環状領域102
を加熱するので、上記環状領域102の安定した粘着テ
ープ緊張作業を実行することができる。即ち、塩化ビニ
ールテープなどの合成樹脂からなる熱収縮性粘着テープ
10は、赤外線を吸収し易い特性を有しており、上記環
状領域102に赤外線ヒータ29によって赤外線を照射
することにより、環状領域102を効率良く加熱するこ
とができるとともに、熱収縮性粘着テープ10以外の他
の部材を加熱することがなく安定した粘着テープ緊張作
業を実行することができる。
【0027】以上のように、支持フレーム9に熱収縮性
粘着テープ10を介して支持された複数個の半導体チッ
プ80は相互間に隙間が形成されるとともに、熱収縮性
粘着テープ10が緊張されるので、搬送時に熱収縮性粘
着テープ10の撓みが減少することと相まって隣接する
半導体チップ80同士の接触が防止される。また、図示
の実施形態においては、切削装置の所定個所にチップ間
隔拡張装置20が配設されているので、別の被加工物を
切削して各チップに分割している間に、粘着テープ緊張
工程を実施するとができるため、生産性を向上すること
ができる。
【0028】上記のようにして、支持フレーム9に熱収
縮性粘着テープ10を介して支持された複数個の半導体
チップ80に相互間に隙間を形成する作業が終了した
ら、上記クランプ210によるベース21への固定を解
除し、搬送手段53を作動して支持フレーム9に熱収縮
性粘着テープ10を介して支持された複数個の半導体チ
ップ80を被加工物載置領域11に搬送する。そして、
支持フレーム9に熱収縮性粘着テープ10を介して支持
された分割された半導体チップ80は、被加工物搬出手
段12によってカセット7の所定の棚70に収納され
る。
【0029】以上、本発明を図示の実施形態に基づいて
説明したが、本発明は実施形態のみに限定されるもので
はない。例えば、実施形態においては、チップ間隔拡張
装置を切削装置に配設した例を示したが、チップ間隔拡
張装置は切削装置に組み込むことなく独立して設け、切
削装置によって熱収縮性粘着テープの上面に貼着された
被加工物を所定の切断ラインに沿って複数個のチップに
分割した後、該分割された複数個のチップを貼着した熱
収縮性粘着テープを装着した環状の支持フレームをチッ
プ間隔拡張装置に搬送して各チップの間隔を拡張するよ
うにしてもよい。
【0030】
【発明の効果】本発明による被加工物の分割処理方法お
よび分割処理方法に用いるチップ間隔拡張装置は以上の
ように構成されているので、チップ相互間に隙間が形成
されるとともに、熱収縮性粘着テープが緊張されるた
め、搬送時に熱収縮性粘着テープの撓みが減少すること
と相まって隣接するチップ同士の接触が防止される。特
に本発明においては、粘着テープ緊張工程において熱収
縮性粘着テープにおける複数個の半導体チップが貼着さ
れた領域と支持フレームの内周との間の環状領域は、赤
外線が照射されて加熱されるので、赤外線を吸収し易い
熱収縮性粘着テープを効率良く加熱することができると
ともに、熱収縮性粘着テープ以外の他の部材を加熱する
ことがなく安定した粘着テープ緊張作業を実行すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に従って構成された一実施形態のチップ
間隔拡張装置を装備した切削装置の斜視図。
【図2】図1に示す切削装置の要部を拡大して示す斜視
図。
【図3】図1に示す切削装置に装備されるチップ間隔拡
張装置の断面図。
【図4】図3に示すチップ間隔拡張装置に用いられる赤
外線ヒータの斜視図。
【図5】図4におけるA−A線断面図。
【図6】本発明にる被加工物の分割処理方法の一実施形
態における予備加熱工程、チップ間隔形成工程および粘
着テープ緊張工程の説明図。
【図7】本発明に用いる熱収縮性粘着テープの特性線
図。
【符号の説明】
1:切削装置 2:装置ハウジング 3:ャックテーブル 31:吸着ャック支持台 32:吸着ャック 4:スピンドルユニット 41:スピンドルハウジング 42:回転スピンドル 43:切削ブレード 5:撮像機構 6:表示手段 7:カセット 70:カセットの棚 71:カセットテーブル 8:半導体ウエーハ 80:半導体ップ 9:支持フレーム 10:熱収縮性粘着テープ 12:被加工物載置領域 13:被加工物搬送手段 14:洗浄手段 15:洗浄搬送手段 20:チップ間隔拡張装置 21:ベース 22:拡張手段 221:拡張部材 222:支持テーブル 223:ヒータ 24:エアタンク 25:バキュームタンク 261、262:電磁開閉弁 29:赤外線ヒータ

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 環状に形成され支持フレームの内側開口
    部を覆うように装着された粘着テープの上面に貼着され
    た被加工物を所定の切断ラインに沿って複数個のチップ
    に分割する分割処理方法であって、 該支持フレームに所定温度以上の熱によって収縮する熱
    収縮性粘着テープを装着する粘着テープ装着工程と、 該熱収縮性粘着テープの上面に被加工物を貼着する被加
    工物貼着工程と、 該熱収縮性粘着テープの上面に貼着された被加工物を所
    定の切断ラインに沿って複数個のチップに分割する被加
    工物分割工程と、 該熱収縮性粘着テープにおける複数個に分割されたチッ
    プが貼着されている領域を加熱する予備加熱工程と、 該予備加熱工程によって加熱された該熱収縮性粘着テー
    プにおける複数個に分割されたチップが貼着されている
    領域に加圧空気を作用せしめるとともに、該熱収縮性粘
    着テープにおける複数個に分割されたチップが貼着され
    ている領域を支持し該領域を基準位置から拡張位置まで
    移動して拡張し、各チップ間に間隔を形成するチップ間
    隔形成工程と、 該熱収縮性粘着テープにおける相互に間隔が形成された
    複数個のチップが貼着されている領域と該支持フレーム
    との間の領域を赤外線を照射して加熱するとともに、該
    熱収縮性粘着テープにおける複数個に分割されたチップ
    が貼着されている領域を該拡張位置から該基準位置まで
    移動せしめ、該熱収縮性粘着テープを緊張する粘着テー
    プ緊張工程と、を含む、 ことを特徴とする被加工物の分割処理方法。
  2. 【請求項2】該チップ間隔形成工程は、熱収縮性粘着テ
    ープにおける複数個に分割されたチップが貼着されてい
    る領域を支持し該領域を基準位置から拡張位置まで移動
    して拡張した後、該領域を吸引して支持する吸引支持工
    程を含む、請求項1記載の被加工物の分割処理方法。
  3. 【請求項3】該熱収縮性粘着テープは、塩化ビニールテ
    ープからなっている、請求項1又は2記載の被加工物の
    分割処理方法。
  4. 【請求項4】 環状の支持フレームの内側開口部を覆う
    ように装着した熱収縮性粘着テープに貼着された、被加
    工物が複数個に分割されたチップの間隔を拡張するチッ
    プ間隔拡張装置であって、 該環状の支持フレームを上面に保持する筒状のベース
    と、 該筒状のベース内に同心的に配設され該筒状のベースの
    軸方向に基準位置から拡張位置の間を移動可能に構成さ
    れた筒状の拡張部材と、該筒状の拡張部材の上端に装着
    され熱収縮性粘着テープにおける複数個に分割されたチ
    ップが貼着されている領域を支持する通気性を有する支
    持テーブルと、該筒状の拡張部材と該筒状のベースとの
    間に配設され該熱収縮性粘着テープにおける複数個に分
    割されたチップが貼着されている領域と該支持フレーム
    との間の領域に赤外線を照射する赤外線ヒータとを有
    し、該赤外線ヒータが適宜通電され、該筒状の拡張部材
    に圧縮空気が適宜供給されるように構成された拡張手段
    と、を具備する、 ことを特徴とするチップ間隔拡張装置。
  5. 【請求項5】 該通気性を有する支持テーブルは、発泡
    金属によって形成されている、請求項4記載のチップ間
    隔拡張装置。
  6. 【請求項6】 該拡張手段の筒状の拡張部材には、負圧
    が適宜作用するように構成されている、請求項4又は5
    記載のチップ間隔拡張装置。
JP2001237694A 2001-08-06 2001-08-06 被加工物の分割処理方法および分割処理方法に用いるチップ間隔拡張装置 Expired - Lifetime JP4744742B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001237694A JP4744742B2 (ja) 2001-08-06 2001-08-06 被加工物の分割処理方法および分割処理方法に用いるチップ間隔拡張装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001237694A JP4744742B2 (ja) 2001-08-06 2001-08-06 被加工物の分割処理方法および分割処理方法に用いるチップ間隔拡張装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003051465A true JP2003051465A (ja) 2003-02-21
JP4744742B2 JP4744742B2 (ja) 2011-08-10

Family

ID=19068731

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001237694A Expired - Lifetime JP4744742B2 (ja) 2001-08-06 2001-08-06 被加工物の分割処理方法および分割処理方法に用いるチップ間隔拡張装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4744742B2 (ja)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004038779A1 (ja) * 2002-10-28 2004-05-06 Tokyo Seimitsu Co., Ltd. エキスパンド方法及びエキスパンド装置
JP2007027562A (ja) * 2005-07-20 2007-02-01 Disco Abrasive Syst Ltd ウエーハに装着された接着フィルムの破断方法
JP2007123658A (ja) * 2005-10-31 2007-05-17 Disco Abrasive Syst Ltd 粘着テープの拡張装置
CN101887841A (zh) * 2009-05-11 2010-11-17 株式会社迪思科 粘接带的扩展方法
US7887665B2 (en) 2002-10-28 2011-02-15 Tokyo Seimitsu Co., Ltd. Expanding method and expanding device
JP2011204850A (ja) * 2010-03-25 2011-10-13 Disco Corp 半導体デバイスの製造方法
JP2012009464A (ja) * 2010-06-22 2012-01-12 Disco Abrasive Syst Ltd 拡張テープ収縮装置
CN103069562A (zh) * 2010-08-26 2013-04-24 琳得科株式会社 片材粘附装置及粘附方法
JP2014138089A (ja) * 2013-01-17 2014-07-28 Disco Abrasive Syst Ltd テープ貼着方法及びテープ貼着装置
JP2014232782A (ja) * 2013-05-28 2014-12-11 株式会社ディスコ チップ間隔維持装置
JP2015126088A (ja) * 2013-12-26 2015-07-06 株式会社ディスコ ウェーハの分割方法
JP2015204362A (ja) * 2014-04-14 2015-11-16 株式会社ディスコ チップ間隔維持方法
CN105280553A (zh) * 2014-07-01 2016-01-27 株式会社迪思科 芯片间隔维持装置

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004038779A1 (ja) * 2002-10-28 2004-05-06 Tokyo Seimitsu Co., Ltd. エキスパンド方法及びエキスパンド装置
US7887665B2 (en) 2002-10-28 2011-02-15 Tokyo Seimitsu Co., Ltd. Expanding method and expanding device
US7886798B2 (en) 2002-10-28 2011-02-15 Tokyo Seimitsu Co., Ltd. Expanding method and expanding device
JP2007027562A (ja) * 2005-07-20 2007-02-01 Disco Abrasive Syst Ltd ウエーハに装着された接着フィルムの破断方法
JP2007123658A (ja) * 2005-10-31 2007-05-17 Disco Abrasive Syst Ltd 粘着テープの拡張装置
CN101887841A (zh) * 2009-05-11 2010-11-17 株式会社迪思科 粘接带的扩展方法
JP2011204850A (ja) * 2010-03-25 2011-10-13 Disco Corp 半導体デバイスの製造方法
JP2012009464A (ja) * 2010-06-22 2012-01-12 Disco Abrasive Syst Ltd 拡張テープ収縮装置
CN103069562A (zh) * 2010-08-26 2013-04-24 琳得科株式会社 片材粘附装置及粘附方法
JP2014138089A (ja) * 2013-01-17 2014-07-28 Disco Abrasive Syst Ltd テープ貼着方法及びテープ貼着装置
JP2014232782A (ja) * 2013-05-28 2014-12-11 株式会社ディスコ チップ間隔維持装置
JP2015126088A (ja) * 2013-12-26 2015-07-06 株式会社ディスコ ウェーハの分割方法
JP2015204362A (ja) * 2014-04-14 2015-11-16 株式会社ディスコ チップ間隔維持方法
CN105280553A (zh) * 2014-07-01 2016-01-27 株式会社迪思科 芯片间隔维持装置
CN105280553B (zh) * 2014-07-01 2019-09-06 株式会社迪思科 芯片间隔维持装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP4744742B2 (ja) 2011-08-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4647830B2 (ja) 被加工物の分割処理方法および分割処理方法に用いるチップ間隔拡張装置
US7507639B2 (en) Wafer dividing method
TWI295818B (ja)
JP4744742B2 (ja) 被加工物の分割処理方法および分割処理方法に用いるチップ間隔拡張装置
US20070128834A1 (en) Wafer dividing method
US20030088959A1 (en) Wafer transfer apparatus
JP5443102B2 (ja) レーザー加工装置
US20110017391A1 (en) Adhesive tape joining method and adhesive tape joining apparatus
JP2000068293A (ja) ウェハ転写装置
JP7042944B2 (ja) 搬送装置、および基板処理システム
JP2009064905A (ja) 拡張方法および拡張装置
JP2009043771A (ja) チャックテーブル機構および被加工物の保持方法
JP2007158152A (ja) 加工装置
JP4796249B2 (ja) 板状物の搬送機構および搬送機構を備えたダイシング装置
JP4647831B2 (ja) 被加工物の分割処理方法および分割処理方法に用いるチップ間隔拡張装置
JP2003203887A (ja) 切削装置
CN110620076B (zh) 带扩展装置
KR20170113271A (ko) 확장 장치
TWI718326B (zh) 晶片間隔維持方法
JP5394211B2 (ja) レーザ加工装置
JP2017079284A (ja) レーザー加工装置
TWI846903B (zh) 擴片方法及擴片裝置
KR20180052537A (ko) 반송 장치, 가공 장치 및 반송 방법
JP6893736B2 (ja) テープ拡張装置
JP7503363B2 (ja) 被加工物の切削方法、及び、切削装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080708

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101116

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20101118

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110113

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110201

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110330

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110419

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110511

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140520

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4744742

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140520

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term