JP2014232782A - チップ間隔維持装置 - Google Patents

チップ間隔維持装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2014232782A
JP2014232782A JP2013112320A JP2013112320A JP2014232782A JP 2014232782 A JP2014232782 A JP 2014232782A JP 2013112320 A JP2013112320 A JP 2013112320A JP 2013112320 A JP2013112320 A JP 2013112320A JP 2014232782 A JP2014232782 A JP 2014232782A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sheet
wafer
chips
workpiece
far
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2013112320A
Other languages
English (en)
Inventor
篤 服部
Atsushi Hattori
篤 服部
吉洋 川口
Yoshihiro Kawaguchi
吉洋 川口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Abrasive Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Abrasive Systems Ltd filed Critical Disco Abrasive Systems Ltd
Priority to JP2013112320A priority Critical patent/JP2014232782A/ja
Priority to TW103111471A priority patent/TW201445625A/zh
Publication of JP2014232782A publication Critical patent/JP2014232782A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Dicing (AREA)

Abstract

【課題】チップ同士の間隔を適切に維持可能なチップ間隔維持装置を提供する。【解決手段】被加工物(11)が分割された複数のチップ(27)の間隔を維持するチップ間隔維持装置(2)であって、エキスパンドシート(23)を介して環状フレーム(25)に装着された被加工物を支持する支持面(8a)と、支持面を加熱する加熱手段(16)と、を有し、エキスパンドシートを介して被加工物を吸引保持するテーブル(4)と、テーブルの外周において環状フレームを固定する固定手段(40)と、エキスパンドシートを拡張する拡張手段(4,18,24,26)と、被加工物の外周縁と環状フレームの内周との間の拡張されたエキスパンドシートに向けて遠赤外線(48)を照射する遠赤外線照射手段(42)と、遠赤外線照射手段を、照射位置と退避位置とに位置付ける位置付け手段と、を備える構成とした。【選択図】図1

Description

本発明は、複数のチップが貼着されたエキスパンドシートを拡張してチップ同士の間隔を拡げた後に、この間隔を維持するチップ間隔維持装置に関する。
ウェーハのストリート(分割予定ライン)に沿って分割の起点となる改質層等を形成し、外力を付与してウェーハを複数のチップへと分割する分割方法が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
この分割方法では、改質層等が形成されたウェーハにエキスパンドシートを貼着し、このエキスパンドシートを拡張することでウェーハに外力を付与している。エキスパンドシートの拡張により、ウェーハは複数のチップに分割されると共に、分割されたチップ同士の間隔は拡げられる。
エキスパンドシートの外側の領域は、環状のフレームに固定されている。そのため、エキスパンドシートを拡張した状態でウェーハの外周とフレームの内周との間の領域に温風を当て、エキスパンドシートの当該領域を熱で収縮させれば、チップ同士の間隔を拡げた状態に維持できる。
特開2011−77482号公報
ところで、エキスパンドシートの種類によっては、温風で収縮させる上述の方法は有効でない。例えば、エキスパンドシートに温風を当てても十分に収縮しないことがある。それどころか、温風を当てると、エキスパンドシートが伸びてしまうことさえある。
そのため、上述の方法を用いても、チップ同士の間隔を適切に維持できるとは限らない。チップ同士の間隔を適切に維持できないと、ハンドリング等の際に隣接するチップ同士が衝突し、割れ、欠け等の破損が発生してしまう。
本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、チップ同士の間隔を適切に維持可能なチップ間隔維持装置を提供することである。
本発明によれば、エキスパンドシートに貼着され環状フレームに装着された被加工物が分割されて形成された複数のチップの間隔を拡張した状態に維持するチップ間隔維持装置であって、被加工物を支持する支持面と、該支持面を加熱する加熱手段と、を有し、エキスパンドシートを介してチップに分割された被加工物を吸引保持可能に支持するテーブルと、該テーブルの外周で環状フレームを固定する固定手段と、該エキスパンドシートを拡張することで複数の該チップ間に間隔を形成する拡張手段と、該テーブルの該支持面の上方で、被加工物の外周縁と該環状フレームの内周との間の拡張された該エキスパンドシートに向けて遠赤外線を照射して該エキスパンドシートを収縮させる遠赤外線照射手段と、該遠赤外線照射手段を、該エキスパンドシートに対して遠赤外線を照射する照射位置と退避位置とに位置付ける位置付け手段と、を備えたことを特徴とするチップ間隔維持装置が提供される。
また、前記チップ間隔維持装置においては、前記遠赤外線照射手段で照射される遠赤外線のピーク波長は、3〜25μmであることが好ましい。
本発明のチップ間隔維持装置は、被加工物を支持する支持面を加熱する加熱手段を備えるので、エキスパンドシートを加熱手段で加熱しながら拡張することで、チップ同士の間隔を十分に拡げることができる。
また、本発明のチップ間隔維持装置は、被加工物の外周と環状フレームの内周との間に遠赤外線を照射してエキスパンドシートを収縮させる遠赤外線照射手段を備えるので、被加工物の外周と環状フレームの内周との間においてエキスパンドシートを遠赤外線で収縮させて、チップ同士の間隔を適切に維持できる。
さらに、本発明のチップ間隔維持装置は、遠赤外線を使用するので、チップ間隔維持装置等を構成する金属部材の加熱を防止できる。つまり、本発明のチップ間隔維持装置は、エキスパンドシートのみを遠赤外線で加熱し、収縮させて、チップ同士の間隔を適切に維持できる。
本実施の形態に係るチップ間隔維持装置で処理されるウェーハ(被加工物)を模式的に示す斜視図である。 本実施の形態に係るチップ間隔維持装置の構成例を模式的に示す斜視図である。 本実施の形態に係るチップ間隔維持装置の断面等を模式的に示す図である。 載置ステップを模式的に示す図である。 分割ステップを模式的に示す図である。 吸引保持ステップを模式的に示す図である。 加熱ステップを模式的に示す図である。
以下、添付図面を参照して、本発明の実施の形態について説明する。図1は、本実施の形態に係るチップ間隔維持装置で処理されるウェーハ(被加工物)を模式的に示す斜視図である。
図1に示すように、ウェーハ(被加工物)11は、例えば、円盤状の外形を有する半導体ウェーハであり、中央のデバイス領域13と、デバイス領域13を囲む外周余剰領域15とを備えている。
ウェーハ11の表面11a側のデバイス領域13は、格子状に配列されたストリート(分割予定ライン)17で複数の領域に区画されており、各領域にはIC等のデバイス19が形成されている。
ウェーハ11の内部には、各ストリート17に沿って分割の起点となる改質層21が形成されている。改質層21は、例えば、ウェーハ11に吸収されにくい波長のレーザービームをウェーハ11の内部に集光することで形成される。
なお、図1では、各ストリート17に沿って改質層21が形成されたウェーハ11を示しているが、分割の起点となり得る他の構成をウェーハ11に設けても良い。例えば、レーザービームを用いたアブレーション加工で形成されるレーザー加工溝や、切削ブレードを用いた切削加工で形成される切削溝等を、改質層21の代わりに形成しても良い。
ウェーハ11の裏面11b側には、樹脂等の材料でなるエキスパンドシート23が貼着されている。このエキスパンドシート23は、ウェーハ11の外周縁より外側の領域において、金属材料でなる環状フレーム25に固定されている。
すなわち、ウェーハ11は、エキスパンドシート23を介して環状フレーム25に保持されている。なお、図1では、ウェーハ11の裏面11b側にエキスパンドシート23が貼着された態様を示しているが、エキスパンドシート23は、ウェーハ11の表面11a側に貼着されても良い。
図2は、本実施の形態に係るチップ間隔維持装置の構成例を模式的に示す斜視図であり、図3は、本実施の形態に係るチップ間隔維持装置の断面等を模式的に示す図である。
図2に示すように、チップ間隔維持装置2は、ウェーハ11を吸引保持する支持テーブル(テーブル、拡張手段)4を備えている。支持テーブル4は、ステンレス等の金属材料でなる円盤状の枠体6と、枠体6の上面中央部分に配置された多孔質部材8とを含む。
多孔質部材8は、ウェーハ11と同径の円盤状に形成されており、図3に示すように、支持テーブル4の下方に設けられた吸引路10及びバルブ12を介して吸引源14に接続されている。
多孔質部材8の上面は、ウェーハ11を支持する支持面8aとなっている。支持面8aに吸引源14の負圧が作用することで、ウェーハ11は支持テーブル4に吸引保持される。
多孔質部材8の下方には、支持面8aを加熱するシートヒータ(加熱手段)16が設けられている。ウェーハ11のエキスパンドシート23側を支持テーブル4の支持面8aに重ね、シートヒータ16を作動させることで、エキスパンドシート23は加熱される。
枠体6の下方には、2個の支持テーブル昇降機構(拡張手段)18が設けられている。支持テーブル昇降機構18は、それぞれシリンダケース20及びピストンロッド22を備えており、ピストンロッド22の上端部には支持テーブル4が固定されている。支持テーブル4の高さ位置は、この2個の支持テーブル昇降機構18で調節される。
枠体6の外側には、枠体6の外周を囲むように、ステンレス等の金属材料でなる円環状の外周テーブル(拡張手段)24が配置されている。外周テーブル24の下方には、2個の外周テーブル昇降機構(拡張手段)26が設けられている。
外周テーブル昇降機構26は、それぞれシリンダケース28及びピストンロッド30を備えており、ピストンロッド30の上端部には外周テーブル24が固定されている。外周テーブル24の高さ位置は、この2個の外周テーブル昇降機構26で調節される。
外周テーブル24の外側には、環状フレーム25を載置する載置テーブル32が設けられている。載置テーブル32の中央部分には、外周テーブル24に対応する円形の開口32aが設けられており、支持テーブル4及び外周テーブル24は、この開口32a内に位置付けられる。
載置テーブル32の下方には、4個の載置テーブル昇降機構34が設けられている。載置テーブル昇降機構34は、それぞれシリンダケース36及びピストンロッド38を備えており、ピストンロッド38の上端部には載置テーブル32が固定されている。載置テーブル32の高さ位置は、この4個の載置テーブル昇降機構34で調節される。
載置テーブル32の上面には、エキスパンドシート23の上方にウェーハ11を位置づけるように環状フレーム25が載置される。つまり、ウェーハ11は、裏面11b側が下を向くように開口32aの中央付近に位置付けられる。その結果、ウェーハ11は、エキスパンドシート23を介して支持テーブル4に支持される。ただし、ウェーハ11等の配置はこれに限定されない。
載置テーブル32の上方には、載置テーブル32に載置された環状フレーム25を上方から押圧して固定するプレート(固定手段)40が設けられている。プレート40の中央部分には、載置テーブル32の開口32aに対応する開口40aが設けられており、ウェーハ11とエキスパンドシート23の一部とが露出するようになっている。
載置テーブル32に載置された環状フレーム25をプレート40で固定し、支持テーブル昇降機構18及び外周テーブル昇降機構26で支持テーブル4及び外周テーブル24を上昇させる。すなわち、支持テーブル4及び外周テーブル24を、載置テーブル32に対して相対的に上昇させる。そうすると、環状フレーム25に張られたエキスパンドシート23は拡張される。
このように、本実施の形態に係るチップ間隔維持装置2においては、支持テーブル4及び支持テーブル昇降機構18、並びに外周テーブル24及び外周テーブル昇降機構26が、エキスパンドシート23を拡張する拡張手段として機能する。
ただし、拡張手段の構成はこれに限定されない。例えば、支持テーブル4及び支持テーブル昇降機構18、又は外周テーブル24及び外周テーブル昇降機構26のいずれかを拡張手段として用いても良いし、他の構成を拡張手段として用いても良い。
支持テーブル4及び外周テーブル24の上方には、遠赤外線を照射する2個の遠赤外線ヒータ(遠赤外線照射手段)42を装着した円盤状のマウント44が配置されている。
マウント44は、モータ等の回転機構(不図示)によって回転する回転軸46の一端側に固定されており、回転軸46を支持する移動機構(位置付け手段)(不図示)で上下方向に移動する。
遠赤外線ヒータ42は、プレート40の開口40aから露出されるエキスパンドシート23の一部に遠赤外線を照射する。具体的には、遠赤外線ヒータ42は、ウェーハ11の外周と環状フレーム25の内周との間の領域上に位置付けられ、下方のエキスパンドシート23に向けて遠赤外線を照射する。
遠赤外線ヒータ42は、例えば、3μm〜25μmにピーク波長を有する遠赤外線を照射できるように構成されている。このような波長の遠赤外線は、金属材料に吸収されにくいので、エキスパンドシート23を収縮させる際の支持テーブル4、外周テーブル24等の加熱を防止できる。つまり、遠赤外線が照射された領域においてのみエキスパンドシート23を適切に加熱し、収縮させることができる。
また、遠赤外線ヒータ42は、上記移動機構によって支持テーブル4及び外周テーブル24に接近され、又は支持テーブル4及び外周テーブル24から離反される。これにより、遠赤外線ヒータ42を、エキスパンドシート23に対して遠赤外線を照射する下方の照射位置と、上方の退避位置とに位置付けることができる。
遠赤外線ヒータ42を照射位置に位置付け、遠赤外線を照射させながら回転軸46の周りに回転させることで、ウェーハ11の外周と環状フレーム25の内周との間の領域においてエキスパンドシート23は加熱される。その結果、当該領域のエキスパンドシート23は収縮する。
次に、図4〜7を参照して、チップ間隔維持装置2の使用方法の例を説明する。図4は、載置ステップを模式的に示す図であり、図5は、分割ステップを模式的に示す図であり、図6は、吸引保持ステップを模式的に示す図であり、図7は、加熱ステップを模式的に示す図である。
まず、支持テーブル4上にウェーハ11を載置する載置ステップを実施する。この載置ステップでは、エキスパンドシート23の上方にウェーハ11を位置付けるように、載置テーブル32の上面に環状フレーム25を載置する。その結果、図4に示すように、ウェーハ11は、エキスパンドシート23を介して支持テーブル4に支持される。
載置ステップの後には、エキスパンドシート23を拡張してウェーハ11を分割する分割ステップを実施する。分割ステップにおいては、図5に示すように、載置テーブル32に載置された環状フレーム25をプレート40で固定して、支持テーブル昇降機構18及び外周テーブル昇降機構26で支持テーブル4及び外周テーブル24を上昇させる。
この分割ステップにおいては、吸引路10に設けられたバルブ12を閉じ、ウェーハ11を支持テーブル4に吸引させないようにする。また、シートヒータ16を作動させ、支持テーブル4の支持面8aをあらかじめ50℃〜80℃程度に加熱しておく。ただし、支持面8aの温度は特に限定されず、エキスパンドシート23の種類に応じて変更できる。
環状フレーム25は、載置テーブル32及びプレート40で挟持固定されているので、支持テーブル4及び外周テーブル24が載置テーブル32に対して相対的に上昇すると、エキスパンドシート23は拡張される。
これによって、ウェーハ11に、エキスパンドシート23を拡張する方向の外力が加わり、ウェーハ11は、改質層21が形成されたストリート17に沿って複数のチップ27に分割される。
また、このエキスパンドシート23の拡張によって、分割されたチップ27同士の間隔が拡げられる。この分割ステップでは、シートヒータ16でウェーハ11に対応した領域のエキスパンドシート23が加熱されるので、エキスパンドシート23を十分に拡張してチップ27同士の間隔を容易に拡げることができる。
また、この分割ステップでは、シートヒータ16でウェーハ11に対応した領域のみを加熱できるので、チップ27同士の間隔を十分に拡張できると共に、ウェーハ11の外周と環状フレーム25の内周との間の領域において、エキスパンドシート23の熱による拡張を抑制できる。
分割ステップの後には、ウェーハ11を支持テーブル4に吸引させる吸引保持ステップを実施する。具体的には、図6に示すように、吸引路10に設けられたバルブ12を開いて、支持面8aに吸引源14の負圧を作用させる。これにより、分割された複数のチップ27は、チップ27同士の間隔が拡げられた状態で支持テーブル4に吸引保持される。
複数のチップ27を支持テーブル4に吸引保持させた後には、支持テーブル4及び外周テーブル24を、載置テーブル32と同じ高さ位置まで下降させ、エキスパンドシート23の拡張を解除する。その結果、ウェーハ11の外周と環状フレーム25の内周との間の領域において、エキスパンドシート23は平坦になる。エキスパンドシート23が平坦になると、吸引保持ステップは終了する。
吸引保持ステップの後には、エキスパンドシート23に遠赤外線を照射する加熱ステップを実施する。すなわち、図7に示すように、遠赤外線ヒータ42を上方の退避位置から下方の照射位置に移動させ、遠赤外線48を照射させながら回転軸46の周りに180度回転させる。この吸引保持ステップにおいては、吸引路10のバルブ12を開いておく。
その結果、ウェーハ11の外周と環状フレーム25の内周との間の領域においてエキスパンドシート23は加熱され、当該領域のエキスパンドシート23が収縮する。これにより、吸引路10のバルブ12を閉じても、チップ27同士の間隔は拡げられた状態に維持される。
本実施の形態のような遠赤外線を用いる方法では、温風を当てる方法等と比較して、エキスパンドシート23を確実に収縮させることができる。そのため、チップ27同士の間隔を適切に維持できる。
以上のように、本実施の形態のチップ間隔維持装置2は、ウェーハ(被加工物)11を支持する支持面8aを加熱するシートヒータ(加熱手段)16を備えるので、エキスパンドシート23をシートヒータ16で加熱しながら拡張することで、チップ27同士の間隔を十分に拡げることができる。
また、本実施の形態のチップ間隔維持装置2は、ウェーハ11の外周と環状フレーム25の内周との間に遠赤外線48を照射してエキスパンドシート23を収縮させる遠赤外線ヒータ(遠赤外線照射手段)42を備えるので、ウェーハ11の外周と環状フレーム25の内周との間においてエキスパンドシート23を遠赤外線48で収縮させて、チップ27同士の間隔を適切に維持できる。
さらに、本実施の形態のチップ間隔維持装置2は、遠赤外線48を使用するので、チップ間隔維持装置2を構成する支持テーブル4、外周テーブル24等の加熱を防止できる。つまり、本実施の形態のチップ間隔維持装置2は、エキスパンドシートのみを遠赤外線で加熱し、収縮させて、チップ27同士の間隔を適切に維持できる。
なお、本発明は上記実施の形態の記載に限定されず、種々変更して実施できる。例えば、上記実施の形態では、2個の遠赤外線ヒータ42を回転軸46の周りに回転させることで、ウェーハ11の外周と環状フレーム25の内周との間の領域に遠赤外線48を照射しているが、本発明はこの構成に限定されない。例えば、3個以上の遠赤外線ヒータ42を環状に配置し、回転させずに遠赤外線48を照射しても良い。
その他、上記実施の形態に係る構成、方法等は、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施できる。
2 チップ間隔維持装置
4 支持テーブル(テーブル、拡張手段)
6 枠体
8 多孔質部材
8a 支持面
10 吸引路
12 バルブ
14 吸引源
16 シートヒータ(加熱手段)
18 支持テーブル昇降機構(拡張手段)
20 シリンダケース
22 ピストンロッド
24 外周テーブル(拡張手段)
26 外周テーブル昇降機構(拡張手段)
28 シリンダケース
30 ピストンロッド
32 載置テーブル
32a 開口
34 載置テーブル昇降機構
36 シリンダケース
38 ピストンロッド
40 プレート(固定手段)
40a 開口
42 遠赤外線ヒータ(遠赤外線照射手段)
44 マウント
46 回転軸
48 遠赤外線
11 ウェーハ(被加工物)
11a 表面
11b 裏面
13 デバイス領域
15 外周余剰領域
17 ストリート(分割予定ライン)
19 デバイス
21 改質層
23 シート
25 フレーム
27 チップ

Claims (2)

  1. エキスパンドシートに貼着され環状フレームに装着された被加工物が分割されて形成された複数のチップの間隔を拡張した状態に維持するチップ間隔維持装置であって、
    被加工物を支持する支持面と、該支持面を加熱する加熱手段と、を有し、エキスパンドシートを介してチップに分割された被加工物を吸引保持可能に支持するテーブルと、
    該テーブルの外周で環状フレームを固定する固定手段と、
    該エキスパンドシートを拡張することで複数の該チップ間に間隔を形成する拡張手段と、
    該テーブルの該支持面の上方で、被加工物の外周縁と該環状フレームの内周との間の拡張された該エキスパンドシートに向けて遠赤外線を照射して該エキスパンドシートを収縮させる遠赤外線照射手段と、
    該遠赤外線照射手段を、該エキスパンドシートに対して遠赤外線を照射する照射位置と退避位置とに位置付ける位置付け手段と、を備えたことを特徴とするチップ間隔維持装置。
  2. 前記遠赤外線照射手段で照射される遠赤外線のピーク波長は、3〜25μmであることを特徴とする請求項1に記載のチップ間隔維持装置。
JP2013112320A 2013-05-28 2013-05-28 チップ間隔維持装置 Pending JP2014232782A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013112320A JP2014232782A (ja) 2013-05-28 2013-05-28 チップ間隔維持装置
TW103111471A TW201445625A (zh) 2013-05-28 2014-03-27 晶片間隔維持裝置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013112320A JP2014232782A (ja) 2013-05-28 2013-05-28 チップ間隔維持装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2014232782A true JP2014232782A (ja) 2014-12-11

Family

ID=52126004

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013112320A Pending JP2014232782A (ja) 2013-05-28 2013-05-28 チップ間隔維持装置

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP2014232782A (ja)
TW (1) TW201445625A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017059765A (ja) * 2015-09-18 2017-03-23 株式会社ディスコ 分割装置及びウエーハの分割方法
JP2018113350A (ja) * 2017-01-12 2018-07-19 株式会社ディスコ 分割装置及び分割方法
JP2021061447A (ja) * 2021-01-13 2021-04-15 株式会社東京精密 加温装置及び加温方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08102452A (ja) * 1994-09-30 1996-04-16 Sharp Corp 半導体チップ搭載シートの拡張装置
JP2002334852A (ja) * 2001-05-10 2002-11-22 Disco Abrasive Syst Ltd 被加工物の分割処理方法および分割処理方法に用いるチップ間隔拡張装置
JP2003051465A (ja) * 2001-08-06 2003-02-21 Disco Abrasive Syst Ltd 被加工物の分割処理方法および分割処理方法に用いるチップ間隔拡張装置
JP2012156400A (ja) * 2011-01-27 2012-08-16 Disco Abrasive Syst Ltd テープ拡張装置
JP2013051368A (ja) * 2011-08-31 2013-03-14 Tokyo Seimitsu Co Ltd ワーク分割装置及びワーク分割方法
JP2013055138A (ja) * 2011-09-01 2013-03-21 Disco Abrasive Syst Ltd チップ間隔維持方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08102452A (ja) * 1994-09-30 1996-04-16 Sharp Corp 半導体チップ搭載シートの拡張装置
JP2002334852A (ja) * 2001-05-10 2002-11-22 Disco Abrasive Syst Ltd 被加工物の分割処理方法および分割処理方法に用いるチップ間隔拡張装置
JP2003051465A (ja) * 2001-08-06 2003-02-21 Disco Abrasive Syst Ltd 被加工物の分割処理方法および分割処理方法に用いるチップ間隔拡張装置
JP2012156400A (ja) * 2011-01-27 2012-08-16 Disco Abrasive Syst Ltd テープ拡張装置
JP2013051368A (ja) * 2011-08-31 2013-03-14 Tokyo Seimitsu Co Ltd ワーク分割装置及びワーク分割方法
JP2013055138A (ja) * 2011-09-01 2013-03-21 Disco Abrasive Syst Ltd チップ間隔維持方法

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017059765A (ja) * 2015-09-18 2017-03-23 株式会社ディスコ 分割装置及びウエーハの分割方法
TWI687985B (zh) * 2015-09-18 2020-03-11 日商迪思科股份有限公司 分割裝置及晶圓之分割方法
JP2018113350A (ja) * 2017-01-12 2018-07-19 株式会社ディスコ 分割装置及び分割方法
KR20180083267A (ko) * 2017-01-12 2018-07-20 가부시기가이샤 디스코 분할 장치 및 분할 방법
KR102327107B1 (ko) * 2017-01-12 2021-11-15 가부시기가이샤 디스코 분할 장치 및 분할 방법
JP2021061447A (ja) * 2021-01-13 2021-04-15 株式会社東京精密 加温装置及び加温方法
JP7187761B2 (ja) 2021-01-13 2022-12-13 株式会社東京精密 加温装置及び加温方法

Also Published As

Publication number Publication date
TW201445625A (zh) 2014-12-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6425435B2 (ja) チップ間隔維持装置
JP6266429B2 (ja) チップ間隔維持装置及びチップ間隔維持方法
KR102356848B1 (ko) 웨이퍼의 가공 방법
CN104979261A (zh) 芯片间隔维持方法
CN107039261B (zh) 分割装置以及晶片的分割方法
KR102250216B1 (ko) 웨이퍼의 가공 방법
JP6523882B2 (ja) ウエーハの加工方法
TWI745561B (zh) 分割方法
JP2015069975A (ja) 被加工物の加工方法
JP2014232782A (ja) チップ間隔維持装置
JP2013239557A (ja) チップ間隔維持装置
JP2013191718A (ja) 被加工物の分割装置及び分割方法
JP6226803B2 (ja) 加工方法
JP2018067678A (ja) チップ間隔維持方法
JP6061788B2 (ja) チップ間隔維持方法
JP6198627B2 (ja) ウェーハユニットの加工方法
JP7130324B2 (ja) デバイスチップの形成方法
JP6751337B2 (ja) 接着フィルムの破断方法
JP2021044495A (ja) 被加工物の加工方法
JP2021089974A (ja) レーザー加工方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160316

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170123

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170131

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170330

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170829

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20180410