WO2001003131A1 - Tete a effet magnetoresistant a modulation de spin, tete magnetique composee l'utilisant et unite d'entrainement de support d'enregistrement magnetique - Google Patents

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magnetic
cobalt
hard ferromagnetic
head
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Hitoshi Kanai
Junichi Kane
Kenichi Aoshima
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Definitions

  • the present invention relates to a spin valve magnetoresistive effect head and a composite magnetic head and magnetism using the same.
  • the present invention relates to a spin-valve magnetoresistive head, and more particularly, to a spin-valve magnetoresistive head using a hard ferromagnetic layer for fixing the magnetization direction of a fixed magnetic layer, and a magnetic recording medium equipped with the same. ) Regarding the device. Background art
  • anisotropic magnetoresistive (AMR) elements are most often used in magnetic heads mounted on magnetic recording medium devices such as hard disk drives (HDDs). ing.
  • AMR anisotropic magnetoresistive
  • HDDs hard disk drives
  • SVMR spin-valve magnetoresistive
  • SVMR head spin-valve magnetoresistive type magnetic head
  • SVMR head spin-valve magnetoresistive
  • SVMR head spin-valve magnetoresistive
  • SVMR head spin-valve magnetoresistive type magnetic head
  • SVMR head spin-valve magnetoresistive
  • SVMR head spin-valve magnetoresistive
  • the SVMR head 100 of the type employing an antiferromagnetic layer has a structure as shown in FIG. 1, for example.
  • an SVMR element is formed by sequentially laminating an antiferromagnetic layer 102, a fixed magnetic layer 103, a nonmagnetic layer 104, and a free magnetic layer 105 on a substrate 101.
  • S VMR ⁇ 3 ⁇ 4 (i ⁇ -is formed so as to correspond to the track width of the magnetic medium or the sense area S for detecting the signal magnetic field H sig from a magnetic recording medium such as a disk.
  • ends are attached, for example. These ends are formed on the upper portions of the hard ferromagnetic layers 107A and 107B, for example, by the conductive electrode terminals 10A and 10B, respectively.
  • 6 A, 106 B is formed by lamination.
  • a sense current Is flows through the sense region S between the two electrode terminals 106A and 106B.
  • the free magnetic layer is moved in response to the signal magnetic field Hsig from the hard disk. Since the magnetization direction of 105 rotates, the electric resistance of the SVMR head 100 changes sequentially. Therefore, the magnetization data transmitted to the hard disk can be detected as a voltage change between the terminals 106A and 106B.
  • FIG. 2 shows another type of SVMR head 200 employing a hard ferromagnetic layer.
  • the S VMR head 200 is provided on the substrate 201 with a lower layer 202, a hard ferromagnetic layer 203, a fixed magnetic layer 204, a non-magnetic layer 205, and a free magnetic layer 200. Stacked in the order of six forces, the S VMR element is formed.
  • terminals 207A and 207A are located on the upper portions of the hard ferromagnetic layers 208A and 208B, respectively. 7 B is formed.
  • the SVMR head 200 is also formed such that the sensing area S for detecting the signal magnetic field Hsig from the magnetic medium 2 such as a hard disk corresponds to the track width of the magnetic medium 11.
  • the magnetization direction of the self-fixed magnetic layer 103 or 204 is directed forward in the X direction (perpendicular to the plane of the paper) as indicated by the arrow symbol.
  • Fixed to The magnetization direction of the free magnetic layers 105 and 206 is set to be directed in the Y direction (horizontal direction with respect to the plane of the paper) when the signal magnetic field H s i from the magnetic I ⁇ medium is zero.
  • the magnetization direction of the pinned magnetic layers 103 and 204 and the magnetization direction of the free magnetic layers 105 and 206 and the right angle of each TH are optimal conditions. If such a relationship between the fixed magnetic layer and the free magnetic layer can be maintained, the magnetization direction of the free magnetic layer rotates with respect to the signal magnetic field H sig from the external magnetic recording medium, and the resistance of the SVMR element is reduced. It can be changed linearly.
  • the Y direction is the direction of the easy axis of magnetization of the free magnetic layers 105 and 206.
  • the essentials of the two types of S VMR heads 100 and 200 shown above One difference is that one uses an exchange coupling magnetic field that employs an antiferromagnetic layer in the SVMR element to fix the magnetization direction of the fixed magnetic layer, while the other uses an exchange magnetic field that employs a hard ferromagnetic layer in the SVMR element. Thus, the direction of magnetization of the fixed magnetic layer is fixed.
  • direction is used when an arrow or the like means a predetermined direction, and the word “direction” is used when the direction is not considered in the front-rear direction.
  • the antiferromagnetic layer type SVMR head 100 when a regular manganese (Mn) alloy having a high Neel ⁇ 3 ⁇ 4 is used as a material of the antiferromagnetic layer, there is a case where the Neel temperature is low. Oxides such as ordered manganese alloys or nickel oxide (NiO) may be used.
  • the S VMR head using the ordered Mn alloy has the advantage of having a high exchange coupling magnetic field of several hundred oersteds ( ⁇ e) and metaphysics.
  • ⁇ e oersteds
  • a layer thickness of 20 O A or more is required.
  • it is necessary to make the SVMR element thinner in order to increase the density, it is necessary to make the SVMR element thinner, and it has a drawback that it will not be possible to meet the demand for thinner in the future.
  • the static magnetic field leaking from the hard ferromagnetic layer may adversely affect the magnetic data recorded on the medium, and second, the static magnetic field leaking from the hard ferromagnetic layer may also affect the free magnetic layer. ⁇ May cause the symmetry of the waveform to be lost. Thirdly, the magnetization of the hard ferromagnetic layer itself is tilted by the magnetic field H s 1 £ from the SII medium, which is about 100 to 200 oo e, and as a result, the fixed magnetic layer That the magnetization direction may be tilted. Disclosure of the invention
  • an object of the present invention is to provide a spin-valve T3 ⁇ 4 magnetoresistive effect head that solves the three problems of the conventional hard ferromagnetic layer type S VMR head and to mount the head.
  • An object of the present invention is to provide a magnetic medium ⁇ 3 ⁇ 4 device.
  • the above object is achieved by applying a bias magnetic field to at least the free magnetic layer, the non-magnetic metal layer, the fixed magnetic layer, and the fixed magnetic layer to fix the magnetization direction of the fixed magnetic layer, as described in claim 1.
  • the magnetization direction of the self-biased magnetic field from the hard ferromagnetic layer, and the magnetization direction of the hard ferromagnetic layer Is achieved by a spin-balancing magnetoresistance effect head including an antiparallel coupling intermediate layer which is made substantially antiparallel to act on the fixed magnetic layer.
  • the magnetization directions of the bias magnetization from the hard ferromagnetic layer are parallel and opposite. (Hereinafter, antiparallel) and has a function of applying a voltage to the fixed magnetic layer. Therefore, the fixed magnetic layer and the hard ferromagnetic layer are magnetically coupled in an antiparallel state with the antiparallel coupling intermediate layer interposed therebetween. Since the magnetization direction of the hard ferromagnetic layer and the magnetization direction of the hard ferromagnetic layer become different, the magnetic loop is closed, and the fixed magnetic layer and the hard ferromagnetic layer are strongly magnetically coupled. .
  • the magnetic field leaking from the hard ferromagnetic layer to the outside is greatly suppressed, and the bad substance to the outside is reduced.
  • the hard ferromagnetic layer is a single layer and has a thickness of at least 600 e. It preferably has a magnetic force He.
  • Hc coercive force
  • the spin-balf magnetoresistive effect head according to claim 2 has an if self-hard ferromagnetic layer and a
  • the hard ferromagnetic layer is set so that the coercive force He is larger and the magnetic moment tBr is equal to or larger than that of the fixed magnetic layer.
  • the magnetic moment of the hard ferromagnetic layer By setting the magnetic moment of the hard ferromagnetic layer large, the effective anisotropic magnetic field Hua of the fixed magnetic layer can be increased.
  • the hard ferromagnetic layer be as immovable as possible with respect to the signal magnetic field Hsig;
  • the coercive force He of the hard ferromagnetic layer is preferably at least 60 OOe.
  • the coercive force H c of the fixed magnetic layer is the coercive force H of the hard ferromagnetic layer. It is preferably smaller than, for example, several tens of e or less.
  • the spin valve magnetoresistive head it_b includes a process of applying an external field and magnetizing the hard ferromagnetic layer to align the magnetization direction of the hard ferromagnetic layer with the same direction as the signal magnetic field Hsig.
  • the crossing magnetic field received from the fixed magnetic layer is about 2 to 6 kOe, it is impossible to fix the single ferromagnetic layer in a desired direction unless an external magnetic field exceeding this value is applied. If the fixed magnetic layer has a high coercive force during this magnetization, even if the external magnetic field is zero after magnetization, the fixed magnetic layer and the hard ferromagnetic layer will not be antiparallel to each other.
  • Figure 3 shows a B-H loop of a laminate with ruthenium (Ru) sandwiched between two cobalt-platinum (PtCo) films having the same magnetic moment (B) and coercive force (H) as an antiparallel coupling interlayer.
  • ruthenium for example, a magnetic field of 12 k 0 e is applied in (1), and then returned to zero magnetic field in (2). It cannot be made antiparallel even by the combined magnetic field, and is tilted and fixed in both C 0 Pt membrane power directions. This cannot achieve the desired effect.
  • 4 (A), 4 (B) and 4 (C) show BH loops when a NiFe film is used as the pinned magnetic layer and a CoPt film is used as the hard ferromagnetic layer.
  • (A) shows that the magnetic moment of the CoPt film is larger than that of NiFe
  • (B) shows the magnetic moment of the CoPt film.
  • (C) indicates that the magnetic moment of the CoPt film is smaller than that of NiFe when the value is equal to NiFe.
  • both magnetizations are antiparallel in the state of (2) after the magnetization in (1).
  • the magnetic moment of the Co Pt film in (A) and (B) is equal to or larger than that of the NiFe film, the fixed magnetic layer and the hard ferromagnetic layer are obtained only by applying ⁇ 200 Oe as the signal magnetic field Hsig. The magnetization direction of does not change from (2).
  • the magnetic moment of the Co Pt film is smaller than that of the NiFe film in (C)
  • the magnetic field He * is relatively low, and the force for stopping the pinned magnetic layer is weakened. This is because the larger the moment of the pinned magnetic layer, the more strongly it responds to external magnetization. Therefore, the magnetization of the fixed magnetic layer is easily rotated. As a result, the magnetic field applied to the hard ferromagnetic layer becomes stronger against the magnetic field, and it is easy to reverse.
  • the hard ferromagnetic layer has a larger coercive force He than the fixed magnetic layer, and that the magnetic moment tBr is set to be equal or larger.
  • the pinned magnetic layer is made of cobalt monoiron (CoFe) or copper monoiron.
  • the hard ferromagnetic layer is made of cobalt (Co), cobalt monochromium (CoCr), cobalt monoplatinum (CoPt), cobalt monochromium tantalum (CoCrTa), cobalt monochromium
  • CoCrPt platinum
  • CoCrTaPt cobalt-chromium-tantalum-platinum
  • SmCo samarium-cobalt
  • Co—Fe—Oxide cobalt-iron-iron monoxide
  • the parallel coupling intermediate layer may be a layer containing ruthenium (Ru).
  • the spin-valve magnetoresistive head according to any one of claims 1 to 4 has an effective anisotropy of the self-fixed magnetic layer.
  • the magnetic field Hua is 600 ° e or more and the external magnetic field is zero
  • the magnetization direction of the fixed magnetic layer and the magnetization direction of the free magnetic layer are perpendicular to each other. It is more preferable that the angle is set within 20 degrees before and after.
  • the effective anisotropic magnetic field Hua force of the fixed pinned magnetic layer is more than 600 e, the magnetization direction force and tilt of the pinned magnetic layer are suppressed by the influence of the external magnetic field, and the magnetization of the pinned magnetic layer If the direction and the magnetic easy axis of the free magnetic layer are at right angles or within 20 degrees before and after the right angle, the magnetization direction of the free magnetic layer rotates with high sensitivity to the signal magnetic field H sig from the magnetic recording medium.
  • the resistance value of the SVMR element can be changed linearly.
  • the spin-valve magnetoresistive head according to claim 3 has at least a conductive layer at both ends of the element in the track width direction. Edge including stack of ferromagnetic layers "? ⁇ May be added. In this case, the free magnetic layer is magnetized in the axis of easy oxidation by the exchange magnetic field from the antiferromagnetic layer at the terminal.
  • the spin valve magnetoresistive head according to claim 6 is such that the pinned magnetic layer of the suijin element is cobalt-iron-iron or cobalt-iron-iron-boron.
  • the hard ferromagnetic layer is composed of cobalt, cobalt-chromium, cobalt-platinum, cobalt-chromium-tantalum, cobalt-chromium-platinum, cobalt-chromium-chromium alloy, samarium-cobalt and cobalt-iron-iron.
  • the anti-parallel coupling intermediate layer is composed of a layer containing ruthenium, and the antiferromagnetic layer at the end of the layer is composed of palladium-platinum-manganese (P d Pt Mn), Platinum monomanganese (PtMn), Palladium monomanganese (PdMn), Nickel monomanganese (NiMn), Chromium monomanganese (CrMn) and Nickel fluoride (Ni0) What It can be a layer including any one selected from the group.
  • the spin-bulb magnetoresistive effect head according to claim 3 has at least a conductive layer and a hard ferromagnetic layer at both ends of the element in the track width direction. An end including a different stack may be provided. In this case, the free magnetic layer is magnetized in the magnetic easy axis direction by the static magnetic field from the hard ferromagnetic layer at the terminal.
  • the spin valve magnetoresistive head according to claim 8 comprises a hard ferromagnetic layer and a terminal of an element portion of the spin valve magnetoresistive head. It is preferable that the hard ferromagnetic layer of the portion is made of a different material. As a result, the magnetization direction of the hard magnetic ferromagnetic layer and the magnetization direction of the hard hard magnetic Setting is facilitated.
  • the spin-valve magnetoresistive effect head according to claim 9 is characterized in that the fixed magnetic layer of the woven body is made of cobalt-iron or cobalt-iron.
  • the hard ferromagnetic layer is composed of a layer containing boron. It consists of a layer containing one selected from the group consisting of iron monoxide, the antiparallel bonding intermediate layer consists of a layer containing ruthenium, ii the hard ferromagnetic layer of the self-terminal part is cobalt, , Cobalt-Platinum, Cobalt-Chromium-Tantalum, Cobalt-Chromium-Platinum, Cobalt-Chromium-Tantalum-Platinum. It can be a layer containing any one selected from the group consisting of samarium monocobalt and cobalt monoiron monoxide (CoFeO).
  • the present invention has a magnetic head for reproduction, a magnetic head for SI, and a magnetic head force for at least a free magnetic layer, as described in claim 11.
  • An anti-parallel coupling intermediate layer that makes the magnetization direction of the magnetic field from the hard ferromagnetic layer disposed substantially antiparallel to the magnetization direction of the hard ferromagnetic layer and acts on the filf self-fixed magnetic layer.
  • the mi ferromagnetic layer is a single layer and has a coercive force Hc of at least 600 e, and the Tsurumi hard ferromagnetic layer and the Tsurumi hard ferromagnetic layer are made of different materials.
  • the coercive force Hc is larger and the magnetic moment tBr is equal or larger than that of the fixed magnetic layer.
  • the present invention includes a magnetic recording medium and a composite magnetic head for performing ⁇ 3 ⁇ 4
  • the hard ferromagnetic layer is a single layer and has a coercive force Hc of at least 600 ⁇ e. However, the material of the hard ferromagnetic layer and the material of the pinned magnetic layer are different, and the hard ferromagnetic layer has a coercive force He and a magnetic moment t Br that are equal to or larger than those of the fixed magnetic layer. Includes magnetic medium with spin-valve magnetoresistive head set. BRIEF DESCRIPTION OF THE FIGURES
  • Fig. 1 is a diagram showing an example of the structure of a conventional SVMR head employing an antiferromagnetic layer.
  • Fig. 2 is a diagram showing an example of the structure of a SVMR head employing a conventional hard ferromagnetic layer.
  • Figure 3 shows a B-H loop of a laminate with ruthenium (Ru) sandwiched between two cobalt-platinum (PtCo) films with the same magnetic moment ( ⁇ ) and coercive force ( ⁇ ) as an antiparallel coupling interlayer.
  • Ru ruthenium
  • PtCo cobalt-platinum
  • Figure 4 shows the B--H loop when a NiFe film was used as the pinned magnetic layer and a CoPt film was used as the hard ferromagnetic layer.
  • A shows that the magnetic moment of the CoPt film is higher than that of NiFe.
  • B shows the case where the magnetic moment of the C 0 Pt film is equal to Ni Fe, and
  • C shows the case where the magnetic moment of the Co Pt film is smaller than that of NiFe.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view of a main part of the SVMR head of the first embodiment
  • FIG. 6 is a diagram in which the SVMR head of the first embodiment is incorporated in a hard disk drive
  • FIG. 7 is a diagram showing a manufacturing flow of the SVMR head employed in the composite magnetic head
  • FIG. 4 is a perspective view showing a main part of an S VMR head according to a second embodiment
  • FIG. 9 is a diagram showing a main part of a magnetic recording medium device equipped with a magnetic head including an SVMR head according to the present invention.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view of a main part of the SVMR head 10 according to the first embodiment of the present invention.
  • This embodiment is the SVMR of the present invention.
  • An example is shown in which an antiferromagnetic layer is used at the end of the head, and magnetization of the free magnetic layer is generated by an exchange magnetic field from the antiferromagnetic layer.
  • the SVMR element which is the main body of the SVMR head 10, consists of an underlayer 12, a hard ferromagnetic layer 13, an antiparallel coupling intermediate layer 14, and a fixed magnetic layer on an aluminum or ceramic substrate 11. 15, a non-magnetic layer 16 and a free magnetic layer 17, which are laminated in order from the bottom.
  • the hard ferromagnetic layer 13 is provided for applying a bias magnetic field to the fixed magnetic layer 15 and fixing its magnetization direction to a predetermined direction.
  • the hard ferromagnetic layer 13 is magnetically coupled to the fixed magnetic layer 15 with the antiparallel coupling intermediate layer 14 interposed therebetween.
  • the magnetization direction of the pinned magnetic layer 15 is substantially antiparallel to the magnetization direction of the bias magnetization applied from the hard ferromagnetic layer 13 with the antiparallel coupling intermediate layer 14 interposed therebetween.
  • the modified ferromagnetic layer 13 and the hard ferromagnetic layer 15 form a closed magnetic field, and the magnetic field force leaking outside from the hard ferromagnetic layer 13 and the fixed magnetic layer 15 is suppressed.
  • the hard ferromagnetic layer 13 and the pinned magnetic layer 15 have a relationship of assisting each other with respect to an external field that gives the direction of magnetization of the hard ferromagnetic layer 13 and the pinned magnetic layer 15 because the two are magnetically coupled. .
  • the presence of the magnetic coupling with the hard ferromagnetic layer 13 prevents the magnetization direction force of the fixed magnetic layer 15 from tilting. .
  • the hard ferromagnetic layer 13 receives an external magnetic field, the hard ferromagnetic layer 13 is prevented from tilting in the same relationship.
  • the magnetization direction of the hard ferromagnetic layer 13 and the magnetization direction of the fixed magnetic layer 15, which are made almost antiparallel by the parallel coupling intermediate layer 14, are allowed to have an angle deviation within 10 from each other. What is necessary is just an antiparallel state.
  • the direction of the arrow indicates that the magnetization direction of the hard ferromagnetic layer 13 is forward in the X direction and the magnetization direction of the fixed magnetic layer 15 is backward in the X direction. Have been.
  • chrome (Cr) can be used for the underlayer 12.
  • the hard ferromagnetic layer 13 is made of cobalt (Co), conochrome-chromium (CoCr), cobalt-platinum (CoPt), cobalt-chromium-tantalum (CoCrTa), cobalt-chromium-platinum (CoCrPt).
  • a layer containing one of Cobalt-Chromium-Tantalum-Platinum (CoCrTaPt) and Samarium-Cobalt (SmCo) Can be used.
  • As the anti-parallel coupling intermediate layer 14 a layer containing ruthenium (Ru) can be used as the anti-parallel coupling intermediate layer 14.
  • the fixed magnetic layer 15 may use a layer containing a copper (Cu) as c nonmagnetic layer 16 which can be used a layer containing cobalt monoferric (CoF e) or cobalt iron one boron (CoFeB) it can.
  • a layer containing nickel-iron (NiFe), cobalt-iron (CoFe), and cobalt-iron-boron (CoFeB) can be used as the free magnetic layer 17.
  • a protective layer, thigh layer, gap layer, etc. may be added.
  • the hard ferromagnetic layer 13 is a single layer and has a high coercive force Hc of at least 600 ° e.
  • the coercive force Hc and the magnetic moment tBr are set so that the hard ferromagnetic layer 13 is larger than the fixed magnetic layer 15.
  • the magnetic moment of the hard ferromagnetic layer 13 and the magnetic moment of the fixed magnetic layer 15 are determined in consideration of the balance between these effects.
  • different materials are used for the hard ferromagnetic layer 13 and the fixed magnetic layer 15. For example, a combination of cobalt-platinum as the hard ferromagnetic layer 13 and a combination of cobalt-iron-boron as the fixed magnetic layer 15 can be employed.
  • Terminals are attached to both ends of the SVMR head 10. These terminals include the underlayers 21A and 21B, the antiferromagnetic layers 2OA and 20B, the insulators 19A and 19B, and the conductive elements 18A and 18B, respectively, and are formed by being stacked in order from the bottom. Is done.
  • the self-ferromagnetic layers 20 and 20B apply a free magnetic field to the free magnetic layer 17 that is substantially perpendicular to the magnetization direction of the fixed magnetic layer 15.
  • the antiferromagnetic layer 20 includes palladium platinum monomanganese (PdPtMn), platinum monomanganese (PtMn), palladium monomanganese (PdMn), nickel monomanganese (NiMn), chromium monomanganese (CrMn), and nickel oxide ( A layer containing one selected from N i 0) can be used.
  • the underlayer 21 a layer containing nickel-iron (NiFe) can be used as the underlayer 21 a layer containing nickel-iron (NiFe) can be used.
  • a layer containing tantalum (Ta) can be used.
  • a layer containing gold (Au) can be used, and a signal magnetic field Hs from a magnetic medium is interposed between the electrodes 18A and 18B. A sense Is current is passed to detect ig.
  • the magnetization directions of the hard ferromagnetic layer 13 and the hard ferromagnetic layer 15 are substantially antiparallel to each other in the X direction. Magnetically coupled. Therefore, the magnetization directions of the hard ferromagnetic layer 13 and the hard ferromagnetic layer 15 are lines or substantially antiparallel to the signal magnetic field Hsig input from the magnetic recording medium in the X direction.
  • the direction of magnetization of the free magnetic layer 17 is changed to the Y direction, that is, the signal magnetic field Hs ig by receiving the crossing magnetic field from the antiferromagnetic layer 20 arranged at both ends “?”. It is kept perpendicular to it.
  • the magnetization direction of the free magnetic layer 17 rotates in the direction of the signal magnetic field Hsig, but the magnetization direction of the fixed magnetic layer 15 remains fixed.
  • An angle occurs between the magnetization direction of 17 and the magnetization direction of fixed magnetic layer 15, and a change in resistance proportional to the cosine of the angle appears as a change in sense current flowing through the terminal electrode. That is, the signal magnetic field Hsig from the magnetic medium can be detected as a voltage change.
  • the conventional S VMR head employs an antiferromagnetic layer that employs an antiferromagnetic layer.
  • palladium-platinum-manganese PdPtMn
  • cobalt-iron-boron is used as the fixed magnetic layer.
  • the total thickness was about 430 A in order to increase the effective anisotropic magnetic field Hua of the fixed magnetic layer to 60 OOe or more.
  • the layer thickness is 320 A.
  • the magnetization directions of the hard ferromagnetic layer and the fixed magnetic layer are the same, so that the leakage magnetic field is minimized.
  • the hard ferromagnetic layer was thinned.
  • C0Pt cobalt-platinum
  • the hard ferromagnetic layer 13 and the pinned magnetic layer 15 are magnetically coupled via the antiparallel coupling intermediate layer 14 to provide a hard ferromagnetic layer.
  • the static magnetic field of layer 13 and pinned magnetic layer 15 draws a single closed loop, minimizing the leakage magnetic field, while the external magnetic field is pinned to hard ferromagnetic layer 13
  • the magnetic layers 15 are in a mutually assisting relationship to prevent the magnetization direction from tilting. Further, the hard ferromagnetic layer 13 and the pinned magnetic layer 15 were thinned.
  • the hard ferromagnetic layer 13 is made of 50 cobalt-platinum (C 0 Pt), and the hard ferromagnetic layer 15 is made of 22 cobalt-iron-boron (CoFeB). Formed the S VMR head.
  • the effective anisotropic magnetic field Hua of the pinned magnetic layer 15 could be set to 600 e even though the S VMR head was a thin layer having a total thickness of 230 people.
  • the SVMR head 10 of the first embodiment is used as a magnetic head for use as a magnetic disk, and such a magnetic head is used by being mounted on a hard disk drive as a magnetic storage device.
  • a hard disk drive as a magnetic storage device.
  • Fig. 6 shows a composite magnetic head in which the S VMR head 10 in Fig. 5 is incorporated as a reproducing magnetic head for a hard disk drive, and an inductive magnetic head for magnetic speech coexists.
  • the entire structure of the pad 30 is provided.
  • a hard disk 27 as a magnetic recording medium arranged opposite to the composite magnetic head 30 is shown.
  • the S VMR head 10 is adopted as the magnetic head 31 of the composite magnetic head 30.
  • the composite magnetic head 30 is roughly divided into a magnetic head 3 1 and a magnetic head 3 2.
  • the magnetic head 3 1 has a seal 2 2 and a magnetic head 3. It is a merged type that doubles as the word pole (lower core) of 2 and has a piggyback structure that adds a magnetic head 3 2 to the back of the magnetic head 31.
  • the magnetic head 31 includes the S VMR element, It consists of this SVMR element, electrode terminals 18A and 18B attached to both ends thereof, and a lower reproducing shield 28 and an upper reproducing shield 22 arranged on both sides thereof.
  • the magnetic head 32 includes a magnetic coil 25 and an edge layer 24 surrounding the coil, and an edge layer 24 and a magnetic gap film 23 disposed on both sides of the edge layer 24.
  • the upper magnetic pole 26 is provided.
  • the lower playback shield 22 is also used as the word magnetic pole of the word S section.
  • the upper electrode 22 is fixed between the upper electrode 22 and the recording upper magnetic pole 26 disposed opposite to the upper electrode 22 via a magnetic edge layer 24 and a magnetic pole gap film 23.
  • the coil 25 is buried in the above-mentioned edge layer 24.
  • the SII magnetic head 32 which is referred to as the magnetic head 31, is formed in the composite magnetic head 30.
  • a lower shield 28 film is formed in step S40.
  • the lower shield 28 is made of, for example, a Fe—N film of a nitrogen-iron-based material.
  • step S41 a reproducing lower gap film is formed.
  • Play lower gap layer is made of I aluminum (Al 2 0 3), for example.
  • each element layer of the SVMR head 10 shown in FIG. 5 is formed and patterned, and ends are attached to both ends of the element.
  • An SVMR head 10 element for example, 3 OA of chromium (Cr) as the underlayer 12, 5 OA of cobalt-platinum (CoPt) as the hard ferromagnetic layer 13, and 8 as the antiparallel coupling intermediate layer 14 Ruthenium (Ru) of A, Cobalt-Iron-Boron (CoFeB) of 22 A as fixed magnetic layer 15, Copper (Cu) of 3 OA as nonmagnetic layer 16, Cobalt with 15 as free magnetic layer 17 It is formed by stacking iron (CoFe), nickel iron (Ni Fe) of 2 OA, and tantalum (Ta) as a protective layer in this order.
  • This lamination is performed by, for example, a sputtering method.
  • the entire SVMR element is patterned into a flat rectangular shape using normal photolithography (lithography).
  • the terminal of SVMR head 10 Similarly, the underlayers 21A and 21B, the antiferromagnetic layer 2OA.20B, the protective layers 19A and 19B are laminated in this order, and finally, a pair of layers is formed on the protective layers 19A and 19B.
  • Electrode terminals 18 A and 18 B are formed.
  • PdPtMn palladium-platinum-manganese
  • Ta tantalum
  • Au gold
  • a regular alloy such as palladium-platinum-manganese (PdPtMn)
  • PdPtMn palladium-platinum-manganese
  • the magnetization direction of the free magnet 117 is directed to the easy axis direction (Y direction).
  • the conditions of the annealing temperature, the processing time, and the applied magnetic field are set such that the magnetization direction of the free magnetic layer 17 is perpendicular to the magnetization direction of the pinned magnetic layer 15 or within 20 degrees before and after the perpendicular. Is set.
  • a magnetization process is performed to align the magnetization direction of the hard ferromagnetic layer 13 on the element portion side, and the magnetization direction of the fixed magnetic layer 15 is also fixed.
  • step S43 an upper gap film is formed.
  • the ⁇ portion Giyappu film is made of, for example, aluminum oxide (Al 2 0 3).
  • step S44 the reproducing upper shield 22 is formed. This reproduction upper shield
  • NiFe nickel-iron
  • step S45 a recording gap layer is formed.
  • step S46 the recording coil 25 is formed.
  • step S47 the upper magnetic pole 26 is formed.
  • step S48 a protective film is formed.
  • FIG. 8 is a perspective view showing one half of the SV MR head of the second embodiment.
  • FIG. 8 shows an example in which a hard ferromagnetic layer is used at the terminal of the SVMR head 50 and magnetization of the free magnetic layer is generated by a static magnetic field from the hard ferromagnetic layer.
  • the same parts as those shown in FIG. 5 are denoted by the same reference numerals.
  • the element portion of the SVMR head is the same as that of the first embodiment, and a duplicate description will be omitted. It is abbreviated, and the description focuses on the features.
  • the configuration of the terminal portions provided on both sides is different. That is, the lower layer H51B (A), the hard ferromagnetic layer 52B (A), the protective layer 19B (A), and the terminal 8B (A) are laminated.
  • the hard ferromagnetic layer 52 at the end is made of cobalt (Co), cobalt-chromium (CoCr), cobalt-platinum (CoPt), cobalt-chromium-tantalum (CoCrTa), copper-chromium-platinum (CoCrPt).
  • CoCrTaPt Cobalt-chromium-tantalum-platinum
  • SmCo samarium-cobalt
  • CoF e ⁇ cobalt-iron-iron monoxide
  • 3 OA of iron (Fe) can be used for the lower% ⁇ 51
  • 40 OA of samarium-cobalt (SmCo) can be used for the hard ferromagnetic layer 52.
  • tantalum (Ta) and gold (Au) can be used for the protective layer 19 and the terminal # @ 18, respectively.
  • the manufacture of the SVMR head according to the present embodiment is performed according to the manufacturing method described in the first embodiment.
  • a hard ferromagnetic layer is employed at the element and the end of the SVMR head 50.
  • the hard ferromagnetic layer 13 functions to set the magnetization direction of the fixed magnetic layer 15 to be equal to the signal magnetic field H s i and the IB line.
  • the other hard ferromagnetic layer 52 functions to direct the magnetization direction of the free magnetic layer 17 substantially at right angles to the magnetization direction of the fixed magnetic layer 15.
  • the hard ferromagnetic layer 52 of the SVMR element is subjected to a magnetic field treatment for aligning the magnetization direction of the hard ferromagnetic layer 52 at the terminal portion in one direction (Y direction).
  • Heat treatment in a magnetic field is performed in the X direction perpendicular to the Y direction with the magnetization direction of 13.
  • the magnetization direction determined in the Y direction of the hard ferromagnetic layer 52 on the terminal portion side may be tilted due to the influence of later processing, so that the hard ferromagnetic layer 13 and the hard ferromagnetic layer 52 usually have different materials.
  • Is selected, and processing conditions are set by changing the processing temperature, processing time, and applied magnetic field so that no inconvenience occurs.Note that depending on the end T ⁇ and the hard ferromagnetic layer selected for the element part, In some cases, heating is not required.
  • the hard ferromagnetic layer 13 is made of 50 A of cobalt-platinum (C 0 Pt), and the hard ferromagnetic layer 52 is made of 40 OA of samarium-cobalt (SmCo). Have been used.
  • the hard ferromagnetic layer 13 of the SVMR element is magnetized in parallel with the signal magnetic field Hsig after the magnetization of the hard ferromagnetic layer 52 of the terminal, the applied magnetic field is The size of the layer 52 is set so that the magnetization direction does not change.
  • the S VMR head 50 of the second embodiment is also used alone as a magnetic head for a magnetic recording medium like the S VMR element 10 of the first embodiment. Used in conjunction with the password.
  • FIG. 9 is a diagram showing a main part of the magnetic medium driving device.
  • the magnetic language SII medium storage device 60 is equipped with a hard disk 61 as a magnetic storage medium, and is rotated.
  • the above-described composite magnetic head 30 of the present invention is disposed at a predetermined flying height facing the surface of the hard disk 61, and a reproducing operation is performed with the magnetic language 1.
  • the composite magnetic head 30 is fixed to the front of the slider 122 extending from the arm 123.
  • a two-stage type actuator combining a normal actuator and a micro / micro actuator can be employed.
  • the magnetization direction of the hard ferromagnetic layer and the magnetization direction of the hard ferromagnetic layer are reversed, so that a magnetic loop is formed. Is closed, and the fixed magnetic layer and the hard ferromagnetic layer are magnetically and strongly coupled. As a result, the magnetic field leaking from the hard ferromagnetic layer to the outside is suppressed, so that no bad influence is exerted to the outside. On the other hand, the magnetization direction is also prevented from being tilted by receiving a magnetic field from outside the pinned magnetic layer and the hard ferromagnetic layer.
  • the magnetization direction of the free magnetic layer rotates with respect to the signal magnetic field H sig from the magnetic recording medium, and the resistance value of the S VMR element changes linearly. Can be.

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Description

明細書 スピンバルブ磁気抵抗効果へッド及びこれを用いた複合型磁気へッド並びに磁気
技術分野
本発明は、 スピンバルブ磁気抵抗効果型のヘッドに関し、 特に固定磁性層の磁 化方向の固定に硬質強磁性層を使用したスピンバルフ 気抵抗効果へッド及びこ れを搭載した磁気言 媒体^ 1)装置に関する。 背景技術
現在、 ハードディスク■装置(HD D: Hard Disk Drive ) 等の磁気記録媒 体 装置に搭載されている磁気へッドには異方性磁気抵抗効果 (AMR : Ani sotropic Magnetoresistive )素子が最も多く使用されている。 しかし記録密度 の向上に伴い、 より感度の高いスピンバルブ磁気抵抗効果 (S VMR: Spin Val ve Magnetoresistive )素子を使用したスピンバルブ磁気抵抗効果型の磁気へッ ド (以下、 S VMRへッド) の実用化の動きが本格化し、 製品化され始めている。 かかる S VMRへッドには、 大別して従来から 2つのタイプのものが存在して いる。 すなわち、 一般的に広く採用されている固定磁性層に一方向異方性を付与 するために反強磁性層を採用したタイプと、 反強磁性層に代えて硬質強磁性層を 採用するタイプである。
まず、 反強磁性層を採用するタイプの S VMRへッド 1 0 0は、 例えば図 1に 示されるような構造である。 図 1では基板 1 0 1上に、 反強磁' 層 1 0 2、 固定 磁性層 1 0 3、 非磁性層 1 0 4、 自由磁性層 1 0 5が順に積層されて S VMR素 が形成されている。 S VMR^¾(i^-ドディスク等の磁気記録媒体から の信号磁界 H s i gを検知するセンス領域 Sか ¾気 媒体のトラック幅に対応 するように形成されている。 そして、 このトラック幅方向で、 S VMR素子部の 両端にはそれぞれ端 が付設されている。 これらの端 は、 例えば硬質強磁 性層 1 0 7 A、 1 0 7 Bのそれぞれの上部に導電性の電極端子 1 0 6 A、 1 0 6 Bが積層されて形成されている。
上記 S VMRへッド 1 0 0の動作時には、 2つの電極端子 1 0 6 A、 1 0 6 B の間にセンス領域 Sにセンス電流 I s力流される。 この状態で、 磁気言 Sl媒体と してのハードディスク (図示せず) の近傍に沿って S VMRへッド 1 0 0を移動 させると、 ハードディスクからの信号磁界 H s i gに対応して自由磁性層 1 0 5 の磁化方向が回転するので、 S VMRへッド 1 0 0の電気抵抗が逐次変化する。 したがって、 ハードディスクに言 SI!された磁化データを 端子 1 0 6 A、 1 0 6 B間の電圧変化として検出できることになる。
図 2には、 硬質強磁性層を採用する他のタイプの S VMRへッド 2 0 0力示さ れている。 この S VMRへッド 2 0 0は、 基板 2 0 1上に下 ¾ϋ 2 0 2、 硬質強 磁性層 2 0 3、 固定磁性層 2 0 4、 非磁性層 2 0 5、 自由磁性層 2 0 6力順に積 層されて S VMR素^カ形成されている。 そして、 両側の端 T¾には図 1に示 した S VMRへッド 1 0 0と同様に、 硬質強磁性層 2 0 8 A, 2 0 8 Bそれぞれ の上部に 端子 2 0 7 A、 2 0 7 Bが形成されている。 この S VMRへッド 2 0 0も、 ハードディスク等の磁気言 2 媒体からの信号磁界 H s i gを検知するセ ンス領域 Sが磁気言 £11媒体のトラック幅に対応するように形成される。
ところで、 上記のような S VMRへッド 1 0 0, 2 0 0においては、 磁気言 e 媒体からの信号磁界 H s i gに ¾ Tる S VMR素子の抵抗変化を線形にすること 力望ましい。 そのためには、 図 1及び図 2において、 I己固定磁性層 1 0 3又は 2 0 4の磁化向きが矢印の記号で示されるように、 X方向 (紙面に対して垂直方 向) で手前向きに固定される。 そして、 磁気 I录媒体からの信号磁界 H s i が 零の時に前記自由磁性層 1 0 5 , 2 0 6の磁化方向を Y方向 (紙面に対して水平 方向) に向けるように設定している。 固定磁性層 1 0 3、 2 0 4の磁化方向と自 由磁性層 1 0 5 , 2 0 6の磁化方向とか TH各直角であることが最適な条件だからで ある。 このような固定磁性層と自由磁性層の関係が維持できれば、 外部の磁気記 録媒体からの信号磁界 H s i gに対して、 自由磁性層の磁化の向きが回転して S VMR素子の抵抗値を線形に変化させることができる。 なお、 Y方向は自由磁性 層 1 0 5及び 2 0 6の磁化容易軸方向である。
ここで、 上記で示した 2つのタイプの S VMRへッド 1 0 0、 2 0 0の本質的 な違レヽは、 一方が S VMR素子に反強磁性層を採用した交換結合磁界で固定磁性 層の磁化の向き固定するのに対し、 他方は S VMR素子に硬強磁性層を採用した 交換磁界で固定磁性層の磁化の向き固定する点である。
なお、 本明細書では矢印などで所定の方向を意味するような場合には 「向き」 の語を使用し、 その前後方向で向きを考慮しない場合は 「方向」 の語を使用して いる。
さて、 前記反強磁性層タイプの S VMRへッド 1 0 0では、 素 の反強磁性 層材料としてネール^ ¾の高い規則系マンガン (Mn) 合金を使用する場合と、 ネール温度の低い不規則系マンガン合金或いは酸化ニッケル (N i O)等の酸化 物を使用する場合とがある。 ここで規則系 Mn合金を使用する S VMRヘッドは 数百エルステツド(〇e ) の高い交換結合磁界と而機性を有するという利点があ る。 ところ力 固定磁性層の磁化向きを確実に固定するには 2 0 O A以上の層厚 が となる。 しかし、 言 £ 1密度を増加させるためには S VMR素子をより薄膜 化することが必須であり、 将来において薄膜化への要請に対応できないという欠 点を有している。
また、 不規則系マンガン合金或いは酸化物を使用する S VMRへッドでは素子 部の反強磁性層が 5 0 A程度の薄層でも な反強磁性を得ることができるが、 耐熱性に劣り、 結合磁界も小さいという欠点を有している。
一方、 |ίί!己硬質強磁性層タイプの S VMRへッド 2 0 0は、 素子部の硬質強磁 性層の層厚が 5 O Aでも数百 O eの結合磁界を示し、 しかも丽性も高いという 長所を有している。 すなわち、 前述した反強磁性層タイプの S VMRへッドで記 載したいずれの欠点も解消されていることになる。 そのため、 硬質強磁性層を単 層或レ、は 2層にして固定磁性層の磁化方向を固定する S VMRへッドが案出され てきている。 しかしながら、 硬質強磁性層タイプの S VMRへッドは高い保磁力 を有する硬質強磁性材を採用したために、 反強磁性層タイプの S VMRへッドと は異なる、 以下の 3つの問題を有している。
すなわち、 第 1に硬質強磁性層からの漏れる静磁界が磁気!^媒体に され た磁気データに悪 を与える場合があること、 第 2に硬質強磁性層から漏れる 静磁界が自由磁性層にも^ を及ぼし 波形の対称性が失われる場合があるこ と、 さらに第 3に 1 0 0〜2 0 O O e程度ある磁気言 SII媒体からの信号磁界 H s 1 £の¾ で、 硬質強磁性層自体の磁化方向が傾けられ、 結果として固定磁性層 の磁化方向が傾いてしまう場合があること、 である。 発明の開示
そこで、 本発明の目的は、 かかる従来の硬質強磁性層タイプの S VMRへッド が有している 3つの問題点を解消したスピンバルフ T¾気抵抗効果へッド及びこの へッドを搭載した磁気言 媒 ^¾装置を提供することにある。
上記の目的は、 請求の範囲第 1項に記載する如く、 少なくとも自由磁性層、 非 磁性金属層、 固定磁性層、 該固定磁性層の磁化方向を固定するために固定磁性層 にバイァス磁界を印加する硬質強磁性層、 及び編己固定磁'性層と爾己硬質強磁性 層の間に配設され it己硬質強磁性層からの Ιίίϊ己バイアス磁界の磁化向きを硬質強 磁性層の磁化向きとは略反平行にして前記固定磁性層に作用させる反平行結合中 間層を含むスピンバルフ 気抵抗効果へッドにより達成される。
請求の範囲第 1項で記載の発明において、 反平行結合中間層は硬質強磁性層と 固定磁性層の間に配置されると、 硬質強磁性層からのバイアス磁化の磁化向きを 平行で逆向き (以下、 反平行) にして固定磁性層に印加する機能を有する。 その ため、 固定磁性層と硬質強磁性層は反平行結合中間層を挟んで反平行状態で磁気 的に結合される。 硬質強磁性層の磁化の向きと硬質強磁性層の磁化の向きカ¾¾ [に なるので磁気的なループが閉じることになり、 固定磁性層と硬質強磁性層が磁気 的に強固に結合される。 したがって、 硬質強磁性層から外部に漏れる磁界が大幅 に抑制され、 外部への悪體が柽減される。 また、 固定磁性層及び硬質強磁性層 が外部磁界の を受けて磁化方向が傾くことも防止できる。
なお、 必要に応じて、 編己スピンバルブ磁気抵抗効果へッドに保 、 纖層、 ギヤップ層等を追加してもょ 、0
そして、 請求の範囲第 2項に記載する如く、 請求の範囲第 1項に記載のスピン バルブ磁気抵抗効果へッドは、 前記硬質強磁性層が単層で少なくとも 6 0 0 0 e 以上の保磁力 H eを有していることが好ましい。 少なくとも 6 0 O O eの保磁力 H cを有することで、 外部磁界からの で硬質強磁性層の磁化方向が傾くこと が抑制できる。
なお、 、 請求の範囲第 3項に記載する如く、 請求の範囲第 2項に記載のスピン バルフ 気抵抗効果へッドは、 if己硬質強磁性層と |ίΠ己固定磁性層は材質力 な り、 該硬質強磁性層は該固定磁性層よりも、 保磁力 Heは大きくかつ磁気モーメ ント t B rは等しいか又は大きくなるように設定されていることが好ましい。 硬質強磁性層の磁気モーメントを大きく設定することで、 固定磁性層の実効異 方性磁界 H u aを増加させることができる。
この点について詳述する。 上記構成を有する積層が、 本発明のスピンバルブ磁 気抵抗効果へッドとして機能するためには、 硬質強磁性層が信号磁界 H s i gに 対してできるだけ不動; It態であることが好ましい。 そのために、 まず硬質強磁性 層の保磁力 Heは少なくとも 60 OOeとすることが好ましい。 これに対し、 固 定磁性層の保磁力 H cは硬質強磁性層の保磁力 H。よりも小さく例えば数 10〇 e以下であることが好ましい。
スピンバルブ磁気抵抗効果へッドの製 it_b、 硬質強磁性層の磁化方向を信号磁 界 H s i gと同じ方向に揃えるために外 界を印加して着磁する工程カ含まれ る。 その際、 固定磁性層から受ける交 合磁界が約 2から 6kOeあることか ら、 これを越える外部磁界を印加しなけれは1質強磁性層を所望の方向に固定で きない。 この着磁時に固定磁性層が高い保持力を有していると、 着磁後外部磁界 を零にしても固定磁性層と硬質強磁性層か 1各反平行を向かなくなる。
図 3は等しい磁気モーメント (B) と保磁力 (H)を有する 2つのコバルト一 白金(PtCo)膜の間に反平行結合中間層としてルテニウム (Ru)を挟んだ 積層体の B-Hループである。 上記着&£程ではまず(1)で交換結合磁界を上 回る外部磁界、 例えば 12 k 0 eの磁界を印加した後、 ( 2 ) で零磁場に戻すが CoP t膜の保磁力が高いために交!^合磁界によっても反平行とすることがで きず両 C 0 P t膜力漕 向に傾レ、て固定されている。 これでは好ましい効果を 得ることができなレ、。
図 4 (A)、 (B)及び(C)は固定磁性層として N i F e膜、 硬質強磁性層 として CoP t膜を用いた場合の B— Hループである。 (A)は CoP t膜の磁 気モーメントが Ni Feに比べて大きい場合、 (B)は CoPt膜の磁気モーメ ントが N i F eと等しい場合、 (C) は C o P t膜の磁気モーメントが N i F e に比べて小さレ、場合にっレ、て示している。
上記と同様の着 ¾ 程とした場合、 ( 1 )で着磁後、 ( 2 ) の状態で双方の磁 化は反平行を向いている。 (A) と (B)の Co Pt膜の磁気モーメントが Ni Fe膜と等しいか、 これよりも大きい場合は信号磁界 Hs i gとして ±200O eが印加されただけでは固定磁性層と硬質強磁性層の磁化の向は (2)から変化 しない。 一方、 (C)で Co Pt膜の磁気モーメントが NiFe膜より小さい場 合は着磁後は (2)の 態にあるが、 (A)及び(B) と比較して硬質強磁性層 を反転させるための磁界 He *が相対的に低くなり、 固定磁性層をと止める力が 弱くなつてしまう。 これは固定磁性層のモーメントが大きくなつた分、 外部磁化 に対してより強く反応するようになるからである。 そのため、 固定磁性層の磁化 が回転し易くなる。 その結果として、 硬質強磁性層にかかる ^^合磁界カ湘対 的に強くなり、 反転し易くなる。
以上の点から、 硬質強磁性層は固定磁性層よりも保磁力 Heが大きく、 また磁 気モ一メント t B rが等しいか又は大きくなるように設定されていること力好ま しいことが理解される。
また、 請求の範囲第 4項に記載する如く、 請求の範囲第 3項に記載のスピンバ ルフ 気抵抗効果へッドは、 前記固定磁性層はコバルト一鉄(CoFe)又はコ ノくルト一鉄一ホウ素 (CoFeB)を含む層からなり、 前記硬質強磁性層はコバ ルト (Co)、 コバルト一クロム (CoCr)、 コバルト一白金(CoP t)、 コバルト一クロム一タンタル (CoCrTa)、 コバルト一クロム一白金(Co CrPt)、 コバルト一クロム一タンタル一白金(CoCrTaPt)及びサマ リウ厶ーコバルト (SmCo)及びコバルト一鉄一酸化物(Co— Fe— Oxide ) からなる群から選択されたいずれか 1つを含む層からなり、 前言 平行結合 中間層は、 ルテニウム (Ru)を含む層とすることができる。
さらに、 請求の範囲第 5項に記載する如く、 請求の範囲第 1項から第 4項のい ずれかに記載のスピンバルブ磁気抵抗効果へッドは、 l己固定磁性層の実効異方 性磁界 Hu aが 600〇e以上であり、 かつ外部磁界が零である場合において前 記固定磁性層の磁化の方向と編己自由磁性層の磁化方向とが直角或レ、は該直角か ら前後 2 0度以内に設定されていることがより好ましい。
編己固定磁性層の実効異方性磁界 H u a力 6 0 0 0 e以上であれば外部からの 磁界の影響で固定磁性層の磁化方向力、傾くことが抑制され、 固定磁性層の磁化の 方向と自由磁性層の磁 易軸とが直角或 、は該直角から前後 2 0度以内であれ ば 気記録媒体からの信号磁界 H s i gに対して、 自由磁性層の磁化方向が感度 よく回転して S VMR素子の抵抗値を線形に変化させることができる。
また、 請求の範囲第 6項に記載する如く、 請求の範囲第 3項に記載のスピンバ ルプ ¾気抵抗効果へッドは、 トラック幅方向で素"? ^の両端に少なくとも導電性 層と反強磁性層よりなる積層を含む端"? ^が付設されてもよい。 この場合、 端子 部の反強磁性層からの交維合磁界で自由磁性層か¾化容易軸方向に磁化される。 そして、 請求の範囲第 7項に記載する如く、 請求の範囲第 6項に記載のスピン バルブ磁気抵抗効果へッドは、 輔己素 の固定磁性層はコバルト一鉄又はコバ ルト一鉄一ホウ素を含む層からなり、 硬質強磁性層はコバルト、 コバルト一クロ ム、 コバルト一白金、 コバルト一クロム一タンタル、 コバルト一クロム一白金、 コバルト一クロム一夕ンタルー白金、 サマリウム一コバルト及びコバルト一鉄一 酸化物からなる群から選択されたいずれか 1つを含む層からなり、 反平行結合中 間層は、 ルテニウムを含む層からなり、 編己端 の反強磁性層はパラジウム一 白金一マンガン (P d P t Mn)、 白金一マンガン (P t Mn) 、 パラジウム一 マンガン (P dMn) 、 ニッケル一マンガン (N i Mn) 、 クロム一マンガン (C r Mn) 及 ^化ニッケル(N i 0) からなる群から選択されたいずれか 1 つを含む層とすることができる。
また、 請求の範囲第 8項に記載する如く、 請求の範囲第 3項に記載のスピンバ ルフ 気抵抗効果へッドは、 トラック幅方向で素 の両端に少なくとも導電性 層と硬質強磁性層よりなる積層を含む端 が付設されもよい。 この場合、 端子 部の硬質強磁性層からの静磁界で自由磁性層が磁 ii ^易軸方向に磁化される。 そして、 請求の範囲第 9項に記載する如く、 請求の範囲第 8項に記載のスピン バルブ磁気抵抗効果へッドは、 スピンバルブ磁気抵抗効果へッドの素子部の硬質 強磁性層と端子部の硬質強磁性層は異なる材質とするのが好ましい。 これにより、 素 の硬質強磁性層の磁化方向と端 の硬質強磁 の磁化方向を略直角状 態に設定することが容易化される。
この場合、 請求の範囲第 1 0項に記載する如く、 請求の範囲第 9項に記載のス ピンバルブ磁気抵抗効果へッドは、 編己素 の固定磁性層はコバルト一鉄又は コバルト一鉄一ホウ素を含む層からなり、 硬質強磁性層はコバルト、 コバルト一 クロム、 コノくルトー白金、 コバルト一クロム一タンタル、 コノくルトークロム一白 金、 コバルト一クロム一タンタル一白金、 サマリウム一コバルト及びコバルト一 鉄一酸化物からなる群から選択されたいずれか 1つを含む層からなり、 反平行結 合中間層は、 ルテニウム含む層からなり、 ii己端子部の硬質強磁性層はコバルト、 コノくルトークロム、 コバルト一白金、 コバルト一クロム一タンタル、 コバルト一 クロム一白金、 コバルト一クロム一タンタル一白金。 サマリウム一コバルト及び コバルト一鉄一酸化物 (C o F e O) からなる群から選択されたいずれか 1つを 含む層とすることができる。
さらに、 本発明には請求の範囲第 1 1項に記載する如く、 再生用の磁気へッド と言 S I用の磁気へッドを有し、 用の磁気へッド力少なくとも自由磁性層、 非 磁性金属層、 固定磁性層、 該固定磁性層の磁化方向を固定するために固定磁性層 にバイアス磁界を印加する硬質強磁性層、 及び ri己固定磁性層と前記硬質強磁性 層の間に配設され mi己硬質強磁性層からの前記ノくィァス磁界の磁化向きを硬質強 磁性層の磁化向きとは略反平行にして filf己固定磁性層に作用させる反平行結合中 間層を含み、 mi己硬質強磁性層は単層で少なくとも 6 0 0 0 e以上の保磁力 H c を有し、 鶴己硬質強磁性層と鶴己固 性層は材質が異なり、 該硬質強磁性層は 該固定磁性層よりも、 保磁力 H cは大きくかつ磁気モーメント t B rは等しいか 又は大きくなるように設定されているスピンバルフ 1¾気抵 61¾果へッドである、 複合型磁気へッドも含まれる。
そしてさらに、 本発明には請求の範囲第 1 2項に記載する如く、 磁気記録媒体 及び 媒体の表面に対向して ΐ¾| · を行うための複合型磁気へッドを含み、 前記複合型磁気へッドの 磁気へッド部として、 少なくとも自由磁性層、 非磁 性金属層、 固定磁性層、 該固定磁性層の磁化方向を固定するために固定磁性層に バイアス磁界を印加する硬質強磁性層、 及び i 固定磁性層と ifS硬質強磁性層 の間に S ^され fijf己硬質強磁性層からの ΙίίΙ己バイアス磁界の磁化向きを硬質強磁 性層の磁化向きとは略反平行にして Ιίίϊ己固定磁性層に作用させる反平行結合中間 層を含み、 編己硬質強磁性層は単層で少なくとも 600〇 e以上の保磁力 H cを 有し、 前記硬質強磁性層と搬己固定磁性層は材質が異なり、 該硬質強磁性層は該 固定磁性層よりも、 保磁力 Heは大きくかつ磁気モーメント t Brは等しいか又 は大きくなるように設定されているスピンバルフ 気抵抗効果へッドを搭載した 磁気 媒 ί*«δ装置も含む。 図面の簡単な説明
図 1は従来の反強磁性層を採用するタイプの SVMRへッドの構造例を示す図、 図 2は従来の硬質強磁性層を採用するタイプの SVMRへッドの構造例を示す 図、
図 3は等しい磁気モーメント (Β) と保磁力 (Η)を有する 2つのコバルト一 白金(PtCo)膜の間に反平行結合中間層としてルテニウム (Ru) を挟んだ 積層体の B— Hループを示す図、
図 4は固定磁性層として N i F e膜、 硬質強磁性層として C o P t膜を用いた 場合の B— Hループを示し、 (A) は CoPt膜の磁気モーメントが Ni Feに 比べて大きい場合、 (B) は C 0 P t膜の磁気モ一メントが N i F eと等しい場 合、 (C)は Co Pt膜の磁気モーメントが NiFeに比べて小さレ、場合につい て示す図、
図 5は第 1実施例の SVMRへッドの要部断面図、
図 6は第 1実施例の SVMRへッドをハードディスク ¾|装置に組込んだ図、 図 7は複合型磁気へッドに採用された SVMRへッドの製造フローを示す図、 図 8は第 2実施例の S VMRへッドの要部を示した斜視図、
図 9は本発明の SVMRへッドを含む磁気へッドを搭載した磁気言 £1录媒体 «| 装置の要部を示す図である。 発明の実施をするための最良の形態
以下、 本発明の第 1実施例を図 5に基づき説明する。 図 5は、 本発明の第 1実 施例の SVMRへッド 10の要部断面図である。 本実施例は本発明の SVMR へッドの端 に反強磁性層を用レヽ、 この反強磁性層からの交^^合磁界により 自由磁性層の磁化を生じさせた例を示す。
SVMRへッド 1 0の本体となる SVMR素 は、 のアルミ又はセラ ミック製の基板 1 1上に、 下地層 1 2、 硬質強磁性層 1 3、 反平行結合中間層 1 4、 固定磁性層 1 5、 非磁性層 1 6及び自由磁性層 1 7を含み、 これらは下から 順に積層されて形成されている。
硬質強磁性層 1 3はバイアス磁界を固定磁性層 1 5に印加して、 その磁化向き を所定に固定するために配設されている。
硬質強磁性層 1 3は反平行結合中間層 14を間に挟んで固定磁性層 1 5と磁気 的に結合される。 固定磁性層 1 5の磁化の向きは、 反平行結合中間層 1 4を間に することで、 硬質強磁性層 1 3から印加されるバイアス磁化の磁化向きと略反平 行となる。 そのために、 5更質強磁性層 1 3と硬質強磁性層 1 5は閉磁界を形成す ることになり、 硬質強磁性層 1 3及び固定磁性層 1 5から外部に漏れる磁界力抑 制される。 さらに、 硬質強磁性層 1 3及び固定磁性層 1 5は自らの磁化の向きに を与えるような外 ¾¾界に対しては、 この両者が磁気的に結合しているので 互いに補助する関係となる。 具体的には固定磁性層 1 5が傾けられるような外部 磁界を受けたときには硬質強磁性層 1 3との磁気的結合の存在により、 固定磁性 層 1 5の磁化方向力傾くことが防止される。 硬質強磁性層 1 3が外部磁界を受け たときにも同様の関係で傾くことが防止される。
なお、 備 平行結合中間層 1 4により略反平行とされる、 硬質強磁性層 1 3 の磁化方向と固定磁性層 1 5の磁化方向とは、 互いに 1 0以内の角度のズレを許 容した反平行忧態であればよい。 図 5では、 例として硬質強磁性層 1 3の磁化の 向きが X方向で手前向きであり、 固定磁性層 1 5の磁化の向きが X方向で奥向き であることが、 矢印の向きで示されている。
ここで、 下地層 12としてはクロム (Cr) を使用するこてができる。 硬質強 磁性層 1 3としてはコバルト (Co)、 コノくルト一クロム (CoCr)、 コパ'ル トー白金(CoP t)、 コバルト一クロム一タンタル(CoCrTa) 、 コバル トークロム一白金(CoCr P t)、 コバルト一クロム一タンタル一白金(Co CrTaP t)及びサマリウム一コバルト (SmCo) のいずれか 1つを含む層 を使用することができる。 反平行結合中間層 14としてはルテニウム (Ru)を 含む層を使用することができる。 固定磁性層 15としてはコバルト一鉄(CoF e)又はコバルト一鉄一ホウ素(CoFeB)を含む層を使用することができる c 非磁性層 16としては銅 (Cu)を含む層を使用することができる。 自由磁性層 17としてはニッケル一鉄(N i F e)、 コバルト一鉄(C o F e)、 コバル トー鉄一ホウ素 (CoFeB)を含む層を使用することができる。必 に応じて 保護層、腿層、 ギャップ層等を追加してもよレ、。
なお、 硬質強磁性層 13は単層で少なくとも 600〇 e以上の高レ、保磁力 H c 有している。 保磁力 H cと磁気モーメント t B rに関して、 硬質強磁性層 13の 方が固定磁性層 15より大きくなるように設定されている。 一方で固定磁性層 1 5の実効異方性磁界 H u aを小さくすると外部への漏れ磁界をより小さくする効 果がある。 したがって、 これら効果のバランスを考慮して、 硬質強磁性層 13の 磁気モーメントと固定磁性層 15の磁気モーメントを定める。 また、 通常、 硬質 強磁性層 13と固定磁性層 15には異なる材質を採用する。 例えば、 硬質強磁性 層 13としてコバルト一白金、 固定磁性層 15としてコバルト一鉄一ホウ素の組 合せを採用することができる。
編己 SVMRへッド 10の両端には端子部が付設される。 この端子部はそれぞ れ下地層 21 A、 21 B、 反強磁性層 2 OA, 20 B、 保 19 A、 19 B及 び導電性の 子 18A, 18Bを含み、 下から順に積層されて形成される。
に応じて保護層、 層等が追加される。
ΙίίΙ己反強磁性層 20 Α及び 20 Bは、 自由磁性層 17に固定磁性層 15の磁化 方向とは略直角な交艦合磁界を付与する。反強磁性層 20としてはパラジゥ ムー白金一マンガン (PdPtMn)、 白金一マンガン (PtMn)、 パラジゥ ム一マンガン (PdMn)、 ニッケル一マンガン (NiMn)、 クロム一マンガ ン (CrMn)及 0¾化ニッケル (N i 0)から選択される 1つを含む層を使用 することができる。 ここでの下地層 21としてはニッケル一鉄(NiFe)を含 む層を使用することができる。 保護層 19としてはタンタル (Ta)を含む層を 使用することができる。 電 子 18としては金 (Au)を含む層を使用するこ とができ、 この電觸子 18A、 18 B間には磁気言 媒体からの信号磁界 Hs i gを検出するためにセンス I s電流が流される。
本第 1実施例の SVMRへッドによれば、 図 5に示したように硬質強磁性層 1 3と硬質強磁性層 15の磁化の向きは X方向で互いに略反平行となるように、 磁 気的に結合されている。 したがって、 硬質強磁性層 13と硬質強磁性層 15の磁 化の向きは、 磁気言 媒体から X方向に入力される信号磁界 Hs i gに対して、 行又は略反平行となる。 また、 外部磁界がゼロの状態で、 自由磁性層 17の 磁化の方向は、 両端"?^に配された反強磁性層20からの交 合磁界を受け Y 方向、 すなわち信号磁界 Hs i gに対して垂直に維持される。
したがって、 外部から信号磁界 Hs i g印加されると自由磁性層 17の磁化方 向は信号磁界 Hs i gの方向に回転するが、 固定磁性層 15の磁化方向は固定さ れたままであり、 自由磁性層 17の磁化方向と固定磁性層 15の磁化方向に角度 が生じ、 その角度の余弦に比例した抵抗変化が端子電極に流れるセンス電流の変 化となって表れる。 つまり、 磁気 媒体からの信号磁界 Hs i gを電圧変化と して検出できることになる。
ところで、 従来の S VMRへッドの素 に反強磁性層を採用する反強磁性夕 イブで、 例えば反強磁性層としてパラジウム一白金一マンガン (PdPtMn)、 固定磁性層としてコバルト一鉄一ホウ素(CoFeB) とした場合には、 固定磁 性層の実効異方性磁界 Hu aを 60 OOe以上とするためには、 全層厚で 430 A程度の層厚となっていた。 また、 固定磁性層をルテニウム (Ru)を中間層と した三層構成の固定磁性層 (CoFe B/Ru/C oFeB)の積層型のフエリ 膜を用いた場合でも 320 Aの層厚となっていた。
また、 従来の硬質強磁性層を採用した硬質磁性タイプでは、 磁気へッドに用い た場合、 硬質強磁性層と固定磁性層の磁化向きが同一であり、 漏れ磁界を極力小 さくするように硬質強磁性層を薄くする があった。 しかし、 固定磁性層とし て、 コバルト一白金(C 0 P t )を採用する場合、 100人以上の層厚が必要で あり、 漏れ磁界の問題を解決できなかった。
また、 5更質強磁性層の磁化の向きを本来の向きに固定するような部材は配され ていなかった。 そして、 磁気記録媒体からの信号磁界 Hs i gには硬質強磁性層 の磁化の向きと逆向きの磁化が存在するため、 信号磁界 Hs i gの で硬質強 磁性層自体の磁化方向が傾けられた。 これにより、 固定磁性層の磁化の方向も傾 き、 再生波形が歪むことになつていた。
しかし、 本発明の S VMRへッドでは前述のように、 硬質強磁性層 1 3と固定 磁性層 1 5を反平行結合中間層 1 4を介して磁気的に結合させることで、 硬質強 磁性層 1 3と固定磁性層 1 5の静磁界が 1つの閉じたループを描くようになり漏 れ磁界を極力抑制でき、 その一方で外部からの磁界に対しては硬質強磁性層 1 3 と固定磁性層 1 5が互いに補助する関係となって磁化方向が傾くことが防止され る。 さらに、 硬質強磁性層 1 3及び固定磁性層 1 5の薄層化された。
本実施例では、 硬質強磁性層 1 3としてコバルト一白金(C 0 P t ) を 5 0人、 硬質強磁性層 1 5としてコバルト一鉄一ホウ素(C o F e B) を 2 2人として、 S VMRへッドを形成した。 この S VMRへッドは全層厚 2 3 0人の薄層である にも拘わらず固定磁性層 1 5の実効異方性磁界 H u aを 6 0 0 0 eとすることが できた。
上記第 1実施例の S VMRへッド 1 0は 用の磁気へッドとして採用され、 かかる磁気へッドは磁気言 装置としてのハードディスク^ ¾装置に搭載さ れて使用される。 以下では、 本発明の S VMRへッド 1 0の構成と製造法につい て説明する。
図 6は、 ΙΐΠ己図 5の S VMRへッド 1 0をハードディスク 装置の再生磁気 へッドとして組込むと共に、 磁気言 用の誘導型の磁気へッドを並存させた、 複 合型磁気へッド 3 0全体の構成をしている。 合わせてこの複合型磁気へッド 3 0 に対向して配置されている磁気言 媒体としてのハードディスク 2 7を示してレ、 る。
S VMRへッド 1 0は、 複合型磁気へッド 3 0のうち、 磁気へッド 3 1と して採用されている。 複合型磁気へッド 3 0は大別して、 磁気へッド 3 1と 言 £ϋ磁気へッド 3 2から構成され、 磁気へッド 3 1の 部シール 2 2が 言 磁気へッド 3 2の言 部磁極(下部コア) を兼用するマージ型で、 磁 気へッド 3 1の背部には言 £1磁気へッド 3 2を付加するピギーバック構造となつ ている。
すなわち、 図 6に示されるように、 磁気へッド 3 1は S VMR素子を含み、 この SVMR素子及びこの両端部に付設された電極端子 18A, 18 B並びにそ の両側に配置された再生下部シールド 28及び再生上部シールド 22からなつて いる。
上記磁気 へッド 32は、 磁気 コイル 25及びこの言 ^コイルの周囲を 包囲する有 縁層 24と、 この有 «縁層 24と磁性ギヤップ膜 23の両側に 配置された、 言 SII下部磁極 22と言 上部磁極 26とを有している。 この時、 再 生下部シールド 22は言 S 部の言 部磁極と兼用されている。 言 2ϋ上∞極 2 2はこれと対向して配置された記録上部磁極 26との間に、 有∞縁層 24及び 磁極ギャップ膜 23を介して固定される。 上記有 縁層 24内には言 コイル 25が埋設されている。 このように、 本複合型磁気へッド 30には 磁気へッ ド 31と言 SII磁気へッド 32がー体的に形成される。
次に、 図 7に示される、 上記複合型磁気へッド 30の製造フローに基づいて、 本発明の SVMRへッドの製造法を合わせて説明する。
まず、 ステップ S 40で胜下部シールド 28膜を形成する。 この胜下部 シールド 28は例えば窒素鉄系材料 F e—N膜からなる。
ステップ S 41で再生下部ギャップ膜を形成する。 再生下部ギャップ膜は例え ば I化アルミニウム (Al 2 03 ) からなる。
ステップ S 42で図 5で示される SVMRへッド 10の素 の各層を形成し、 これをパターニングし、 素 の両端に端 を付設する。
すなわち、 セラミック基板 11上に軟質 性材からなる下部シールド層及び 腿層を設ける。 その上に SVMRへッド 10の素 、 例えば下地層 12とし て 3 OAのクロム (Cr)、 硬質強磁性層 13として 5 OAのコバルト一白金 (CoP t) . 反平行結合中間層 14として 8 Aのルテニウム (R u)、 固定磁 性層 15として 22 Aのコバルト一鉄一ホウ素(CoFeB)、 非磁性層 16と して 3 OAの銅(Cu)、 自由磁性層 17として 15入のコバルト一鉄(CoF e) と 2 OAのニッケル一鉄(Ni Fe)、 保護層としてタンタル (Ta)を順 に積層して形成する。 この積層は、 例えばスパッ夕法により される。 さ れた S VMR素^は通常の写真製版技術(リソグラフィ法) を利用して全体を 平面の長方形状にパターニングされる。 その後、 SVMRへッド 10の端子部も 同様に下地層 21 A、 21 B、 反強磁性層 2 OA. 20 B、 保護層 1 9 A、 1 9 Bの順で積層され、 最後に保護層 1 9 A、 1 9 B上に一対の電極端子 1 8 A、 1 8 B力形成される。 ここで、 例えは下地層 21として 2 OAのニッケル一鉄(N
1 Fe) 、 反強磁性層 20として 50 Aのパラジウム一白金一マンガン (PdP tMn)、 保護層 1 9としてタンタル (Ta)、 電極端子 1 8用の金(Au) が 使用できる。
なお、 反強磁性層 20にパラジウム一白金一マンガン (PdP tMn) 等の規 則系合金を使用したときには、 端 まで成膜した後に、 トラック幅方向に磁界 を印加して規則系合金の規則化温度以上で規則化のァニールを行う。 この処理に より、 自由磁 ¾11 7の磁化方向が磁化容易軸方向 (Y方向) に向けられる。 こ こで、 自由磁性層 1 7の磁化方向が、 固定磁性層 1 5の磁化方向と直角或いは該 直角から前後 20度以内となるように、 上記ァニールの処理温度、 処理時間及び 印加磁場の条件が設定される。 その後、 素子部側の硬質強磁性層 1 3の磁化方向 を揃えるための着磁処理が行われ、 合わせて固定磁性層 1 5の磁化向きが固定さ れる。
ステップ S 43で、 上部ギヤップ膜を形成する。 この胜上部ギヤップ膜 は、 例えば酸化アルミニウム (Al 2 03 ) からなる。
ステップ S 44で、 再生上部シールド 22を形成する。 この再生上部シールド
22は例えばニッケル一鉄(N i F e) からなる。
ステップ S 45で、 記録ギヤップ層を形成する。
ステップ S 46で、 記録コイル 25を形成する。
ステップ S 47で、 上部言 磁極 26を形成する。
ステップ S 48で、 保護膜を形成する。
次に、 本発明の第 2実施例を図 8に基づき説明する。 図 8は第 2実施例の SV MRへッドの片側半分を示した斜視図である。 図 8では SVMRへッド 50の端 子部に硬質強磁性層を用いて、 この硬質強磁性層からの静磁界により自由磁性層 の磁化を生じさせた例を示す。
図 5に示した構成と同一の部分には、 同一符号を付している。 本実施例では S VMRへッドの素子部は前述の第 1実施例と同様であるので、 重複した説明を省 略し、 特徴部分を中心に説明する。
本第 2実施例の SVMRへッド 50では、 両 に配設される端子部の構成が 異なる。 すなわち、 下 ¾H51 B (A)、 硬質強磁性層 52B (A)、 保護層 1 9B (A)、 端子 8B (A)が積層される。 ここで端 の硬質強磁性層 52はコバルト (Co)、 コバルト一クロム (CoCr)、 コバルト一白金(C oP t)、 コバルト一クロム一タンタル (CoCrTa)、 コパ'ルト一クロム一 白金(CoCr Pt)、 コバルト一クロム一タンタル一白金(CoCrTaP t)及びサマリウム一コバルト (SmCo)及びコバルト一鉄一酸化物 (CoF e〇) から選択して使用できる。 例えば、 下%ϋ51として 3 OAの鉄(Fe)、 硬質強磁性層 52として 40 OAのサマリウム一コバルト (SmCo)が使用で きる。 保護層 19と端子 ¾@18は第 1実施例と同様に、 それぞれタンタル (T a) と金 (Au)が採用できる。
本実施例の S VMRへッドの製造は第 1実施例で説明した製造法に準じてなさ れる。 但し、 本実施例では硬質強磁性層 52を採用しているので、 SVMRへッ ド 50の素 と端 に硬質強磁性層を採用することになる。 一方の硬質強磁 性層 13は固定磁性層 15の磁化方向を信号磁界 H s i と IB评行にするために 機能する。 他方の硬質強磁性層 52は自由磁性層 17の磁化方向を固定磁性層 1 5の磁化方向とは略直角に向けるために機能する。
そのために、 端子部まで成膜後、 端子部の硬質強磁性層 52の磁化方向を一方 向 (Y方向) に揃えるための磁場中 理してから、 SVMR素"? ^の硬質強磁 性層 13の磁化方向を Y方向に対して直角な X方向に磁場中熱処理を行う。 しか し、 最初の Y方向への着磁処理と後の X方向への着磁処理を同一条件で行うと、 後の処理の影響で端子部側の硬質強磁性層 52の Y方向に定めた磁化方向が傾く 虞がある。 したがって、 通常は上記硬質強磁性層 13と硬質強磁性層 52の材質 は異なるものが選択され、 処理温度、 処理時間、 印加磁場を変えて、 不都合が生 じないように処理条件を設定する。 なお、 端 T ^と素子部に選定する硬質強磁性 層によっては、 着磁に際して加熱を必要としない場合もある。
本実施例では、 硬質強磁性層 13として 50 Aのコバルトー白金(C 0 P t )、 硬質強磁性層 52としては 40 OA のサマリウム一コバルト (SmCo)が採 用されている。 そして、 端子部の硬質強磁性層 5 2の着磁処理後、 S VMR素子 部の硬質強磁性層 1 3を信号磁界 H s i gと平行に着磁するときには、 印加磁界 は端子部の硬質強磁性層 5 2の磁化方向カ洄転しなレ、大きさに設定する。
本第 2実施例の S VMRへッド 5 0も、 ii己第 1実施例の S VMR素子 1 0と 同様に磁気記録媒体の 用磁気へッドとして単独で或レ、は言 Sl へッドと合わせ て使用される。
最後に、 本発明のスピンバルフ 1¾気抵抗効果へッドを搭載した磁気言 媒麵 動装置にっレ、て簡単に説明する。 図 9は磁気 媒体駆動装置の要部を示す図で ある。 磁気言 SII媒 ίί®¾装置 6 0には磁気言 £ϋ媒体としてのハードディスク 6 1 力搭載され、 回転 ¾®されるようになつている。 このハードディスク 6 1の表面 に対向して所定の浮上量で、 たとえば前述した本発明の複合型磁気へッド 3 0が 配置され、 磁気言£1录と再生動作が行われる。 なお、 複合型磁気へッド 3 0はァー 厶 1 2 3から延びるスライダ 1 2 2の前 ¾に固定されている。 磁気へッド 3 0 の位置決めは、 通常のァクチユエ一夕と電 微動微動ァクチユエ一夕を組合せ た 2段式ァクチュエーが採用できる。
以上、 本発明の好ましい実施例について詳述したが、 本発明は係る特定の実施 形態に限定されるものではなく、 後述の請求の範囲に記載された本発明の要旨の 範囲内において、 種々の変形 ·変更が可能である。
以上、 詳述したことから明らかなように、 本発明の S VMRへッドによれば、 硬質強磁性層の磁化の向きと硬質強磁性層の磁化の向きが逆になるので磁気的な ループが閉じることになり、 固定磁性層と硬質強磁性層が磁気的に強固に結合さ れる。 これにより、 硬質強磁性層から外部に漏れる磁界が抑制されるので外部へ 悪^ を及ぼすことか ど無くなる。 また、 その一方で固定磁性層及び硬質強磁 性層力外部からの磁界の を受けて磁化方向が傾くことも抑制される。
したがって、 本発明の S VMRへッドを使用すれば、 磁気記録媒体からの信号 磁界 H s i gに対して、 自由磁性層の磁化方向が回転して S VMR素子の抵抗値 を線形に変化させることができる。

Claims

請求の範囲
1 . 少なくとも自由磁性層、 非磁性金属層、 固定磁性層、 該固定磁性層の磁化 方向を固定するために固定磁性層にバイアス磁界を印加する硬質強磁性層、 及び 前記固定磁性層と ri己硬質強磁性層の間に配設され it己硬質強磁性層からの循己 ノくィ了ス磁界の磁化向きを硬質強磁性層の磁化向きとは略反平行にして前記固定 磁性層に作用させる反平行結合中間層を含むスピンバルブ磁気抵抗効果へッド。
2. 前記硬質強磁性層は、 単層で少なくとも 6 0 0〇 e以上の保磁力 H cを有 する、 請求の範囲第 1項に記載のスピンバルブ磁気抵抗効果へッド。
3. lf己硬質強磁性層と編己固定磁性層は材質が異なり、 該硬質強磁性層は該 固定磁性層よりも、 保磁力 H cは大きくかつ磁気乇一メント t B rは等しレ、か又 は大きくなるように設定されてレ、る、 請求の範囲第 2項に記載のスピンバルブ磁 気抵抗効果ヘッド。
4. 編己固定磁性層はコバルト一鉄又はコバルト一鉄一ホウ素を含む層からな り、 前記硬質強磁性層はコバルト、 コバルト一クロム、 コバルト一白金、 コノくル トークロム一タンタル、 コバルト一クロム一白金、 コバルト一クロム一タンタ ルー白金、 サマリウム一コバルト及びコバルト一鉄一酸化物からなる群から選択 されたいずれか 1つを含む層からなり、 前 平行結合中間層は、 ルテニウムを 含む層からなる、 請求の範囲第 3項に記載のスピンバルブ磁気抵抗効果へッド。
5. Ιίίϊ己固定磁性層の実効異方性磁界が 6 0 0 0 e以上であり、 かつ外部磁界 が零である場合にぉレ、て鶴己固定磁性層の磁化の方向と賴己自由磁性層の磁化方 向とカ埴角或いは該直角から前後 2 0度以内に設定されている、 請求の範囲第 1 項から第 4項のレ、ずれかに言 emのスピンバルフ 気抵抗効果へッド。
6. トラック幅方向で素 の両端に少なくとも導電性層と反強磁性層よりな る積層を含む端 が付設されている、 請求の範囲第 3項に記載のスピンバルブ 磁気抵抗効果へッド。
7 . 前記素子部の固定磁性層はコバルト一鉄又はコバルト一鉄一ホウ素を含む 層からなり、 硬質強磁性層はコバルト、 コバルト一クロム、 コバルト一白金、 コ ノくルトークロム一タンタル、 コバルト一クロム一白金、 コノくルト一クロム一タン タル一白金及びサマリゥムーコバル卜からなる群から選択されたいずれか 1つを 含む層からなり、 反平行結合中間層は、 ルテニウムを含む層からなり、 前記端子 部の反強磁性層はパラジウム一白金一マンガン、 白金一マンガン、 パラジウム一 マンガン、 ニッケル一マンガン、 クロム一マンガン及び酸化ニッケルからなる群 から選択されたレ、ずれか 1つを含む層からなる、 請求の範囲第 6項に記載のスピ ンバルブ磁気抵抗効果へッド。
8 . トラック幅方向で素 の両端に少なくとも導電性層と硬質強磁性層より なる積層を含む端子部が付設されている、 請求の範囲第 3項に記載のスピンバル : ¾気抵抗効果へッド。
9 . スピンノくルブ磁気抵抗効果へッドの素子部の硬質強磁性層と端子部の硬質 強磁性層は異なる材質である、 請求の範囲第 8項に記載のスピンバルブ磁気抵抗 効果へッド。
1 0 . 前記素子部の固定磁性層はコバルト一鉄又はコバルト一鉄一ホウ素を含 む層からなり、 硬質強磁性層はコバルト、 コバルト一クロム、 コバルト一白金、 コバルト一クロム一タンタル、 コバルト一クロム一白金、 コバルト一クロム—夕 ンタル一白金及びサマリゥムーコバルトからなる群から選択されたレ、ずれか 1つ を含む層からなり、 反平行結合中間層は、 ルテニウム含む層からなり、 前記端子 部の硬質強磁性層はコバルト、 コバルト一クロム、 コバルト一白金、 コバルト一 クロム一タンタル、 コバルト一クロム一白金、 コバルト—クロム一タンタル一白 金、 サマリゥムーコバルト及びコバルト一鉄一酸化物からなる群から選択された レ、ずれか 1つを含む層からなる、 請求の範囲第 9項に記載のスピンノ レブ磁気抵 抗効果へッド。
1 1 . 再生用の磁気へッドと 用の磁気へッドを有し、
再生用の磁気へッドは、 少なくとも自由磁性層、 非磁性金属層、 固定磁性層、 該固定磁性層の磁化方向を固定するために固定磁性層にバイアス磁界を印加する 硬質強磁性層、 及び編己固定磁性層と Ιίίϊ己硬質強磁性層の間に配設され前記硬質 強磁性層からの it己ノ 了ス磁界の磁化向きを硬質強磁性層の磁化向きとは略反 平行にして編己固定磁性層に作用させる反平行結合中間層を含み、 謂己硬質強磁 性層は単層で少なくとも 6 0 O O e以上の保磁力 H eを有し、 jf己硬質強磁性層 と it己固定磁性層は材質が異なり、 該硬質強磁性層は該固定磁性層よりも、 保磁 力 H cは大きくかつ磁気モーメント t B rは等しレ、か又は大きくなるように設定 されているスピンバルブ磁気抵抗効果へッドである、 複合型磁気へッド。
1 2. 磁気言 ^媒体及び言 媒体の表面に対向して記録 ·再生を行うための複 合型磁気へッドを含み、
編己複合型磁気へッドの ½磁気へッド部として、 少なくとも自由磁性層、 非 磁性金属層、 固定磁性層、 該固定磁性層の磁化方向を固定するために固定磁性層 にバイアス磁界を印加する硬質強磁性層、 及び前記固定磁性層と前記硬質強磁性 層の間に配設され輔己硬質強磁性層からの鶴己ノ ァス磁界の磁化向きを硬質強 磁性層の磁化向きとは略反平行にして urie固 性層に作用させる反平行結合中 間層を含み、 tn己硬質強磁性層は単層で少なくとも 6 0 0 0 e以上の保磁力 H c を有し、 備己硬質強磁性層と輔己固定磁性層は材質が異なり、 該硬質強磁性層は 該固定磁性層よりも、 保磁力 H cは大きくかつ磁気モ一メント t B rは等しいか 又は大きくなるように設定されているスピンバルフ 気抵 ¾5力果へッドを搭載し た磁気言 Sil媒 装置。
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