TWI745991B - 顯示設備 - Google Patents

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TWI745991B
TWI745991B TW109118720A TW109118720A TWI745991B TW I745991 B TWI745991 B TW I745991B TW 109118720 A TW109118720 A TW 109118720A TW 109118720 A TW109118720 A TW 109118720A TW I745991 B TWI745991 B TW I745991B
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金陽完
郭源奎
盧載斗
李在容
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南韓商三星顯示器有限公司
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Abstract

一種顯示設備包括：包括有源極電極、汲極電極及閘極電極之薄膜電晶體；與源極電極、汲極電極及閘極電極位於不同層中之資料線，其中資料線係設置以傳輸資料訊號；以及位於資料線及薄膜電晶體之構件之間之屏蔽層。

Description

顯示設備
本專利申請案主張於2014年8月5日向韓國智慧財產局提出之韓國專利申請案號第10-2014-0100700號之優先權及效益，其全部揭露併入後文作為參考。
本發明之實施例係關於一種顯示設備。
於有機發光顯示設備中，薄膜電晶體可位於每一(子)像素中以控制每一(子)像素之亮度。這些薄膜電晶體依據接收到之資料訊號以控制(子)像素之亮度。
然而，於一般顯示設備之(子)像素中實現之亮度會基於其接收到之資料訊號而有所不同。藉此，顯示於此一般顯示設備上之影像會有質量上的惡化。
本發明之一或多個實施例包括防止顯示影像之質量惡化之一種顯示設備。
其他目的將部分描述於以下說明書中，且部分將可透過說明書而清晰化或可藉由實施例之實踐而被獲悉。
根據本發明之一些實施例，一種顯示設備包括：包括有源極電極、汲極電極及閘極電極之薄膜電晶體；位於與源極電極、汲極電極及閘極電極不同之層中之資料線，其中資料線係設置以傳輸資料訊號；以及位於資料線及薄膜電晶體之構件之間之屏蔽層。
屏蔽層可位於源極電極與資料線之間、汲極電極與資料線之間或閘極電極與資料線之間之至少一者。
顯示設備可更包括：包括有第一儲存電容器極板及第二儲存電容器極板之儲存電容器，第二儲存電容器極板重疊第一儲存電容器極板且位於第一儲存電容器極板之上方，資料線可位於第二儲存電容器極板之上方之層中，第二儲存電容器極板可包括屏蔽層，且屏蔽層可延伸於閘極電極與資料線之間或延伸於資料線之下方。
第一儲存電容器極板可電性耦接於閘極電極。
第一儲存電容器極板及閘極電極可一體成形。
閘極電極可包括第一閘極電極及第二閘極電極，屏蔽層可位於資料線及構件之間，且構件可位於薄膜電晶體之第一閘極電極及第二閘極電極之間。
顯示設備可更包括：包括第一儲存電容器極板及第二儲存電容器極板之儲存電容器，第二儲存電容器極板重疊第一儲存電容器極板且位於第一儲存電容器極板之上方，資料線可位於第二儲存電容器極板上方之層中，且第 二儲存電容器極板可包括屏蔽層且延伸於資料線及構件之間、薄膜電晶體之第一閘極電極及第二閘極電極之間或於資料線之下方之至少一者。
顯示設備可更包括：包括電性耦接於第一儲存電容器極板之驅動閘極電極以及電性耦接於源極電極之驅動汲極電極之驅動薄膜電晶體，且第一儲存電容器極板可電性耦接於汲極電極。
顯示設備可更包括：包括第一儲存電容器極板及第二儲存電容器極板之儲存電容器，第二儲存電容器極板重疊第一儲存電容器極板且位於第一儲存電容器極板之上方；以及設置以傳輸初始化電壓至電性耦接於第一儲存電容器極板之驅動薄膜電晶體之驅動閘極電極之初始化電壓線，初始化電壓線可位於與第二儲存電容器極板相同之層中，汲極電極可電性耦接於第一儲存電容器極板，且源極電極可電性耦接於初始化電壓線，資料線可位於第二儲存電容器極板上方之層中，且屏蔽層可與初始化電壓線一體成形以及可延伸於資料線與構件之間、於薄膜電晶體之第一閘極電極及第二閘極電極之間之構件之上方或於資料線之下方之至少一者。
根據本發明之一些實施例，顯示設備包括：包括源極電極、汲極電極及閘極電極之薄膜電晶體；位於與源極電極、汲極電極及閘極電極不同之層中之資料線，其中資料線係設置以傳輸資料訊號；儲存電容器包括：電性耦接至汲極電極之第一儲存電容器極板；以及位於與第一儲存電容器極板不同之層中之第二儲存電容器極板，其中第二儲存電容器極板重疊第一儲存電容器極板；以及設置以傳輸初始化電壓至電性耦接於第一儲存電容器極板之驅動薄膜電晶體之驅動閘極電極，且電性耦接至源極電極之初始化電壓線，其中閘極電極包括第一閘極電極及第二閘極電極，且第一閘極電極及第二閘極電極中之其 一至少部分地位於資料線與薄膜電晶體之第一閘極電極及第二閘極電極之間之構件之間。
第一閘極電極及第二閘極電極中之其一可延伸於資料線之下方或上方。
根據本發明之一些實施例，顯示設備包括：包括源極電極、汲極電極及閘極電極之薄膜電晶體；位於與源極電極、汲極電極及閘極電極不同之層中之控制訊號線，且其中控制訊號線用以傳輸控制訊號；以及位於控制訊號線及薄膜電晶體之構件之間之屏蔽層。
110:基板
111:緩衝層
121:掃描線
122:前掃描線
123:發射控制線
124:初始化電壓線
125a:驅動閘極電極
125b:切換閘極電極
125c1:第一補償閘極電極
125c2:第二補償閘極電極
125d1:第一初始化閘極電極
125d2、125d2’:第二初始化閘極電極
125e:運作控制閘極電極
125f:發射控制閘極電極
127:第二儲存電容器極板
131a:驅動半導體層
131b:切換半導體層
131c1、131c2、131c3:補償半導體層
131d1、131d2、131d3:初始化半導體層
131e:運作控制半導體層
131f、131f1:發射控制半導體層
141:第一絕緣層
142:第二絕緣層
160:介層絕緣層
161、162、163、164、165、166、167、168、181:接觸孔洞
171:資料線
172:驅動電壓線
174:連接單元
176a:驅動源極電極
176b:切換源極電極
176c:補償源極電極
176d:初始化源極電極
176e:運作控制源極電極
176f:發射控制源極電極
177a:驅動汲極電極
177b:切換汲極電極
177c:補償汲極電極
177d:初始化汲極電極
177e:運作控制汲極電極
177f:發射控制汲極電極
27:儲存開口
78:初始化連接線
Cst:儲存電容器
Cst1:第一儲存電容器極板
Cst2:第二儲存電容器極板
OLED:有機發光裝置
P1、P2:(子)像素
T1:驅動薄膜電晶體
T2:切換薄膜電晶體
T3:補償薄膜電晶體
T4:初始化薄膜電晶體
T5:運作控制薄膜電晶體
T6:發射控制薄膜電晶體
D1、D2、D3、D4、D5、D6:汲極電極
G1、G2、G3、G4、G5、G6:閘極電極
S1、S2、S3、S4、S5、S6:源極電極
SD1:第一屏蔽層
SD2:第二屏蔽層
SD3:第三屏蔽層
Dm:資料訊號
En:發射控制訊號
Sn:掃描訊號
Sn-1:前掃描訊號
ELVDD:驅動電壓
ELVSS:共同電壓
Vint:初始化電壓
IOLED:驅動電流
藉由結合所附圖式，這些及/或其他目的將由下述實施例之描述變得清晰以及更容易理解，其中：第1圖係為根據本發明之實施例之有機發光顯示設備之(子)像素之電路圖；第2圖係為根據本發明之實施例，顯示第1圖之(子)像素中之電容器及複數個薄膜電晶體之位置之示意圖；第3圖至第6圖係為每一層地顯示第2圖之電容器及複數個薄膜電晶體之構件之示意圖；第7圖係為沿著第2圖之線VII-VII截取之剖面圖；第8圖係為根據本發明一些實施例之有機發光二極體顯示設備之剖面圖；第9圖係為沿著第2圖之線IX-IX截取之剖面圖； 第10圖係為沿著第2圖之線X-X截取之剖面圖；第11圖係為根據本發明另一實施例，顯示有機發光顯示設備之(子)像素中複數個薄膜電晶體及電容器之位置之示意圖；以及第12圖係為沿著第11圖之線XII-XII截取之剖面圖。
本發明之一或多個實施例之目的及特徵以及完成其之方法藉由參照以下之實施例詳述以及所附圖式可更清楚地了解。於此方面，本發明實施例可具有不同之形式且不應侷限於這裡所闡述之描述。倒不如說，提供這些實施例以使得本揭露將更透徹及完整，並且將更加充分地傳達本實施例的概念給本發明所屬技術領域中具有通常知識者，且本發明將只由所附申請專利範圍及其等效配置定義。
以下，本發明之一或多個實施例將伴隨著參照所附圖式於以下詳述。不論圖式編號，相同或對應的那些構件以相同之元件符號表示，且將省略重複之說明。
將了解的是，當一層、區域或構件被稱為形成於另一層、區域或構件上時，其可直接地或間接地形成於其他層、區域或構件上。也就是說，舉例而言，可存在中介之層、區域或構件。圖式中之元件尺寸可被誇大以方便說明。換言之，由於圖式中之構件之尺寸及厚度係任意說明以方便描述，因此以下之實施例並不局限於此。
於以下之例子中，x軸、y軸及z軸並不局限於直角坐標系統中之三軸，且可以更廣泛之意義解釋。舉例而言，x軸、y軸及z軸可相互垂直，或可表示為非相互垂直之不同方向。
如於此所使用的，字詞「及/或」包括一或多個相關所列項目之任何或全部之組合。
第1圖係為根據本發明一些實施例之有機發光顯示設備之(子)像素之等效電路圖。
如第1圖所示，根據一實施例之有機發光顯示設備之(子)像素包括複數個訊號線、耦接於複數個訊號線之複數個薄膜電晶體(TFT)、儲存電容器Cst以及有機發光裝置OLED。於此，複數個訊號線可被複數個(子)像素共享。
複數個薄膜電晶體包括驅動薄膜電晶體T1、切換薄膜電晶體T2、補償薄膜電晶體T3、初始化薄膜電晶體T4、運作控制薄膜電晶體T5以及發射控制薄膜電晶體T6。
複數個訊號線包括傳輸掃描訊號Sn之掃描線121、傳輸前掃描訊號Sn-1至初始化薄膜電晶體T4之前掃描線122、傳輸發射控制訊號En至運作控制薄膜電晶體T5及發射控制薄膜電晶體T6之發射控制線123、交錯於掃描線121且傳輸資料訊號Dm之資料線171、傳輸驅動電壓ELVDD且幾乎平行於資料線171設置之驅動電壓線172、以及傳輸初始化電壓Vint以初始化驅動薄膜電晶體T1之初始化電壓線124。
驅動薄膜電晶體T1之閘極電極G1耦接於儲存電容器Cst之第一儲存電容器極板Cst1，驅動薄膜電晶體T1之源極電極S1透過運作控制薄膜電晶體T5而耦接於驅動電壓線172，且驅動薄膜電晶體T1之汲極電極D1透過發射控 制薄膜電晶體T6而電性耦接於有機發光裝置OLED之像素電極。根據切換薄膜電晶體T2之切換運作，驅動薄膜電晶體T1接收資料訊號Dm以及供應驅動電流IOLED給有機發光裝置OLED。
切換薄膜電晶體T2之閘極電極G2耦接於掃描線121，切換薄膜電晶體T2之源極電極S2耦接於資料線171，且切換薄膜電晶體T2之汲極電極D2耦接於驅動薄膜電晶體T1之源極電極S1以及透過運作控制薄膜電晶體T5而耦接於驅動電壓線172。這樣之切換薄膜電晶體T2根據透過掃描線121而接收到之掃描訊號Sn開啟，並藉由從資料線171傳輸至驅動薄膜電晶體T1之源極電極S1之資料訊號Dm執行切換運作。
補償薄膜電晶體T3之閘極電極G3耦接於掃描線121，補償薄膜電晶體T3之源極電極S3耦接於驅動薄膜電晶體T1之汲極電極D1，同時透過發射控制薄膜電晶體T6而電性耦接於有機發光裝置OLED之像素電極，且補償薄膜電晶體T3之汲極電極D3耦接於儲存電容器Cst之第一儲存電容器極板Cst1、初始化薄膜電晶體T4之汲極電極D4以及驅動薄膜電晶體T1之閘極電極G1。這樣之補償薄膜電晶體T3根據透過掃描線121而接收到之掃描訊號Sn開啟，並藉由電性耦接驅動薄膜電晶體T1之閘極電極G1及汲極電極D1二極體連接驅動薄膜電晶體T1。
初始化薄膜電晶體T4之閘極電極G4耦接於前掃描線122，初始化薄膜電晶體T4之源極電極S4耦接於初始化電壓線124，且初始化薄膜電晶體T4之汲極電極D4耦接於儲存電容器Cst之第一儲存電容器極板Cst1、補償薄膜電晶體T3之汲極電極D3以及驅動薄膜電晶體T1之閘極電極G1。初始化薄膜電晶體T4根據透過前掃描線122而接收到之前掃描訊號Sn-1開啟，並透過傳輸初始化電壓 Vint給驅動薄膜電晶體T1之閘極電極G1，藉由初始化驅動薄膜電晶體T1之閘極電極G1之電壓執行初始化運作。
運作控制薄膜電晶體T5之閘極電極G5耦接於發射控制線123，運作控制薄膜電晶體T5之源極電極S5耦接於驅動電壓線172，且運作控制薄膜電晶體T5之汲極電極D5耦接於驅動薄膜電晶體T1之源極電極S1以及切換薄膜電晶體T2之汲極電極D2。
發射控制薄膜電晶體T6之閘極電極G6耦接於發射控制線123，發射控制薄膜電晶體T6之源極電極S6耦接於驅動薄膜電晶體T1之汲極電極D1以及補償薄膜電晶體T3之源極電極S3，且發射控制薄膜電晶體T6之汲極電極D6電性耦接於有機發光裝置OLED之像素電極。運作控制薄膜電晶體T5及發射控制薄膜電晶體T6係根據透過發射控制線123而接收到之發射控制訊號En同時地(例如同步地)開啟，並傳輸驅動電壓ELVDD給有機發光裝置OLED，以使得驅動電流IOLED流過有機發光裝置OLED。
儲存電容器Cst之第二儲存電容器極板Cst2耦接於驅動電壓線172，且有機發光裝置OLED之反向電極耦接於共同電壓ELVSS。因此，有機發光裝置OLED藉由從驅動薄膜電晶體T1接收驅動電流IOLED而發射光線，藉此顯示影像。
現將簡要地描述這樣的有機發光顯示設備中之像素之詳細運作。
首先，低電平之前掃描訊號Sn-1於初始化週期期間透過前掃描線122供應。然後，初始化薄膜電晶體T4響應於低電平之前掃描訊號Sn-1而開啟，且藉此初始化電壓Vint透過初始化薄膜電晶體T4從初始化電壓線124傳輸至驅動 薄膜電晶體T1之閘極電極G1，而驅動薄膜電晶體T1藉由初始化電壓Vint而被初始化。
然後，於低電平之掃描訊號Sn於資料編程週期期間透過掃描線121供應。因此，切換薄膜電晶體T2及補償薄膜電晶體T3響應於低電平之掃描訊號Sn開啟。藉此，驅動薄膜電晶體T1藉由開啟之補償薄膜電晶體T3而二極體耦接，且於順向方向偏壓。然後，將藉由加上驅動薄膜電晶體T1之臨界電壓Vth至從資料線171所供應之資料訊號Dm而獲得之補償電壓(Dm+Vth，其中Vth具有負數值)，施加於閘極電極G1(若臨界電壓Vth具有正值，則補償電壓藉由將資料訊號Dm減去臨界電壓Vth而獲得)。接下來，驅動電壓ELVDD及補償電壓係施加於儲存電容器Cst之兩個端點，且藉此，將對應於這兩個端點間之電壓差之電荷儲存於儲存電容器Cst中。
然後，於發射週期期間從發射控制線123供應之發射控制訊號En係從高電平改變至低電平。因此，運作控制薄膜電晶體T5及發射控制薄膜電晶體T6，根據發射週期期間低電平之發射控制訊號En而開啟。然後，產生基於驅動薄膜電晶體T1之閘極電極G1之電壓與驅動電壓ELVDD之間之電壓差而決定之驅動電流IOLED，且驅動電流IOLED係透過發射控制薄膜電晶體T6而供應至有機發光裝置OLED。驅動薄膜電晶體T1之閘極-源極電壓VGS於發射週期期間藉由儲存電容器Cst而維持‘(Dm+Vth)-ELVDD’，且因為驅動電流IOLED係正比於‘(Dm-ELVDD)2’(亦即，藉由將閘極-源極電壓VGS減去臨界電壓Vth而所得到之數值之平方，根據驅動薄膜電晶體T1之電流-電壓關係)，驅動電流IOLED可不考慮驅動薄膜電晶體T1之臨界電壓Vth地決定。
現將參照第2圖至第10圖更詳細地描述第1圖之有機發光顯示設備之(子)像素結構。
第2圖係為根據本發明之實施例，顯示第1圖中之(子)像素之電容器及複數個薄膜電晶體位置之示意圖。第3圖至第6圖係為每一層地顯示第2圖之電容器及複數個薄膜電晶體之構件之示意圖。換言之，第3圖至第6圖之每一個描繪設置於相同層之線或半導體層之排列，且絕緣層可位於如第3圖至第6圖所示之層與層之間。舉例而言，第7圖之第一絕緣層141可位於第3圖之層及第4圖之層之間，第7圖之第二絕緣層142可位於第4圖之層及第5圖之層之間，且第7圖之介層絕緣層160可位於第5圖之層及第6圖之層之間。於此，接觸孔洞等可形成於這些絕緣層上，以使得第3圖至第6圖之層彼此電性耦接。
根據目前實施例，有機發光顯示設備之(子)像素包括掃描線121、前掃描線122、發射控制線123及初始化電壓線124，其各別施加掃描訊號Sn、前掃描訊號Sn-1、發射控制訊號En及初始化電壓Vint，且形成沿著列方向。再者，根據目前實施例之有機發光顯示設備之(子)像素可包括資料線171及驅動電壓線172，其交錯於掃描線121、前掃描線122、發射控制線123及初始化電壓線124，且各別施加資料訊號Dm及驅動電壓ELVDD給(子)像素。
再者，(子)像素可包括驅動薄膜電晶體T1、切換薄膜電晶體T2、補償薄膜電晶體T3、初始化薄膜電晶體T4、運作控制薄膜電晶體T5、發射控制薄膜電晶體T6、儲存電容器Cst以及有機發光裝置。
驅動薄膜電晶體T1、切換薄膜電晶體T2、補償薄膜電晶體T3、初始化薄膜電晶體T4、運作控制薄膜電晶體T5以及發射控制薄膜電晶體T6係形成於如第3圖所示之半導體層上，其中半導體層可具有形狀彎曲或任何形狀之輪 廓。半導體層可包括對應於驅動薄膜電晶體T1之驅動半導體層131a、對應於切換薄膜電晶體T2之切換半導體層131b、對應於補償薄膜電晶體T3之補償半導體層131c1、131c2及131c3、對應於初始化薄膜電晶體T4之初始化半導體層131d1、131d2及131d3、對應於運作控制薄膜電晶體T5之運作控制半導體層131e以及對應於發射控制薄膜電晶體T6之發射控制半導體層131f。換言之，驅動半導體層131a、切換半導體層131b、補償半導體層131c1、131c2及131c3、初始化半導體層131d1至131d3、運作控制半導體層131e以及發射控制半導體層131f可被理解為係第3圖之半導體層之組成部分區域。
半導體層可包括多晶矽。並且，半導體層可包括，例如未有摻雜物摻雜之通道區域以及以摻雜物摻雜於通道區域兩側而形成之源極及汲極區域。於此，摻雜物可根據薄膜電晶體之種類而變化，且可為N型摻雜物或P型摻雜物。並且，源極及汲極區域可解讀為薄膜電晶體之源極及汲極電極。換言之，舉例而言，驅動源極電極176a可對應於於第3圖之半導體層之驅動半導體層131a附近，摻雜有摻雜物之驅動源極區域，而驅動汲極電極177a可對應於於第3圖之半導體層之驅動半導體層131a附近，摻雜有摻雜物之驅動汲極區域。並且，於薄膜電晶體間之第3圖之半導體層之區域可摻雜有摻雜物以運作為電性耦接薄膜電晶體之線路。
與此同時，可形成儲存電容器Cst。儲存電容器Cst可包括第一儲存電容器極板Cst1及第二儲存電容器極板Cst2，其中第二絕緣層142位於其間。於此，第一儲存電容器極板也可運作為驅動薄膜電晶體T1之驅動閘極電極125a。換言之，驅動閘極電極及第一儲存電容器極板可為一體成形。
第一儲存電容器極板(即驅動閘極電極125a)可具有絕緣於相鄰之(子)像素之矩形之形狀，如第4圖所示。此第一儲存電容器極板可與掃描線121、前掃描線122及發射控制線123形成於相同之層中且以相同之材料形成，如第4圖所示。
作為參考，切換閘極電極125b以及第一補償閘極電極125c1及第二補償閘極電極125c2可為與半導體層交錯之一部分之掃描線121，或者可為凸出於掃描線121之一部分，第一初始化閘極電極125d1及第二初始化閘極電極125d2可為與半導體層交錯之部分之前掃描線122，或者可為凸出於前掃描線122之部分，且運作控制閘極電極125e及發射控制閘極電極125f可為與半導體層交錯之部分之發射控制線123，或者可為凸出於發射控制線123之部分。
相鄰(子)像素之第二儲存電容器極板127可彼此耦合，且如第5圖所示，可與初始化電壓線124形成於相同層中且由相同之材料形成。儲存開口27可形成於第二儲存電容器極板127上且可使得補償薄膜電晶體T3之第一儲存電容器極板及補償汲極電極177c，透過如下詳述之連接單元174彼此電性耦接。第二儲存電容器極板127可耦合至驅動電壓線172，透過形成於介層絕緣層160上之接觸孔洞168。
驅動薄膜電晶體T1包括驅動半導體層131a、驅動閘極電極125a、驅動源極電極176a以及驅動汲極電極177a。如上所述，驅動閘極電極125a可運作為第一儲存電容器極板。驅動源極電極176a係為驅動閘極電極125a之外部區域(於第3圖中之-x方向)，而驅動汲極電極177a係為驅動閘極電極125a之外部區域(於第3圖中之+x方向)且以驅動閘極電極125a為基準相對於驅動源極電極176a設置。
切換薄膜電晶體T2包括切換半導體層131b、切換閘極電極125b、切換源極電極176b以及切換汲極電極177b。切換源極電極176b可透過形成穿過於第一絕緣層141、第二絕緣層142及介層絕緣層160之接觸孔洞164電性耦接至資料線171。於此，若需要的話，於接觸孔洞164附近之資料線171部分可被理解為係切換薄膜電晶體T2之源極電極S2。切換汲極電極177b對應至於切換半導體層131b附近，摻雜有摻雜物之切換汲極區域。
補償薄膜電晶體T3包括補償半導體層131c1、131c2及131c3、補償閘極電極、補償源極電極176c以及補償汲極電極177c。補償源極電極176c對應至於補償半導體層附近，摻雜有摻雜物之補償源極區域，而補償汲極電極177c對應至於補償半導體層附近，摻雜有摻雜物之補償汲極區域。補償閘極電極係為雙重閘極電極，其包括有第一補償閘極電極125c1及第二補償閘極電極125c2，且可防止或降低漏電之發生。補償薄膜電晶體T3之補償汲極電極177c可透過連接單元174耦合至第一儲存電容器極板。補償半導體層可包括對應於第一補償閘極電極125c1之部分131c1、對應於第二補償閘極電極125c2之部分131c3以及位於部分131c1及部分131c3之間之部分131c2。
如第6圖所示，連接單元174可與資料線171由相同之材料形成且形成於相同層中。連接單元174之一端點透過形成穿過於第一絕緣層141、第二絕緣層142及介層絕緣層160之接觸孔洞166耦合於補償汲極電極177c及初始化汲極電極177d，而連接單元174之另一端點透過形成穿過於第二絕緣層142及介層絕緣層160之接觸孔洞167耦合於第一儲存電容器極板。於此，連接單元174之該另一端點係透過形成於第二儲存電容器極板127上之儲存開口27耦合至第一儲存電容器極板。
初始化薄膜電晶體T4包括初始化半導體層131d1、131d2及131d3、第一初始化閘極電極125d1及第二初始化閘極電極125d2、初始化源極電極176d以及初始化汲極電極177d。初始化汲極電極177d對應至於初始化半導體層131d1、131d2及131d3附近，摻雜有摻雜物之初始化汲極區域。
初始化源極電極176d透過初始化連接線78耦合至初始化電壓線124。初始化連接線78之一端點可透過形成穿過介層絕緣層160之接觸孔洞161耦合於初始化電壓線124，而初始化連接線78之另一端點可透過形成穿過於第一絕緣層141、第二絕緣層142及介層絕緣層160之接觸孔洞162耦合於初始化源極電極176d。
運作控制薄膜電晶體T5包括運作控制半導體層131e、運作控制閘極電極125e、運作控制源極電極176e以及運作控制汲極電極177e。運作控制源極電極176e可透過形成穿過於第一絕緣層141、第二絕緣層142及介層絕緣層160之接觸孔洞165電性耦接至驅動電壓線172。於此，若需要的話，於接觸孔洞165附近之驅動電壓線172部分可被理解為係運作控制薄膜電晶體T5之源極電極S5。運作控制汲極電極177e對應至於運作控制半導體層131e附近，摻雜有摻雜物之運作控制汲極區域。
發射控制薄膜電晶體T6包括發射控制半導體層131f、發射控制閘極電極125f、發射控制源極電極176f以及發射控制汲極電極177f。發射控制源極電極176f對應至於發射控制半導體層131f附近，摻雜有摻雜物之發射控制源極區域。如第6圖所示，發射控制汲極電極177f可被理解為與資料線171或驅動電壓線172一起形成於介層絕緣層160上之部分。發射控制汲極電極177f可透過形成穿過於第一絕緣層141、第二絕緣層142及介層絕緣層160之接觸孔洞163耦合至下部 半導體層。替代地，其可被理解為下部半導體層之一部分131f1係為發射控制汲極電極，且參考符號177f可被理解為表示耦合發射控制汲極電極及有機發光裝置OLED之像素電極之中介連接層。
驅動薄膜電晶體T1之驅動半導體層131a之一端點耦合於切換半導體層131b及運作控制半導體層131e，而驅動半導體層131a之另一端點耦合於補償半導體層及發射控制半導體層131f。據此，驅動源極電極176a耦合於切換汲極電極177b及運作控制汲極電極177e，而驅動汲極電極177a耦合於補償源極電極176c及發射控制源極電極176f。
與此同時，切換薄膜電晶體T2被用作為用以選擇(子)像素發光之切換裝置。切換閘極電極125b係耦合於掃描線121、切換源極電極176b係耦合於資料線171以及切換汲極電極177b係耦合於驅動薄膜電晶體T1及運作控制薄膜電晶體T5。
再者，如第6圖所示，發射控制薄膜電晶體T6之發射控制汲極電極177f係透過形成於覆蓋於相同層中形成之資料線171或驅動電壓線172之保護膜或平坦化膜上之接觸孔洞181，耦合於有機發光裝置OLED之像素電極。
第7圖係為沿著第2圖之線VII-VII截取之剖面圖。如第7圖所示，上述之多個構件可被設置於基板110上。基板110可由各種適合之基板材料中之任一，例如玻璃、金屬或橡膠所形成。當需要時，緩衝層111可設置於基板110上。緩衝層111可弄平基板110之表面或防止雜質滲透入基板110上之半導體層。這樣之緩衝層111可為矽氧化物、矽氮化物或矽氮氧化物形成之單層或多層結構。
參照第3圖描述於上之驅動半導體層131a、切換半導體層131b及補償半導體層可被設置於緩衝層111上。由矽氮化物、矽氧化物或矽氮氧化物所形成之第一絕緣層141可被設置於驅動半導體層131a、切換半導體層131b及補償半導體層上。
參照第4圖描述於上之包括驅動閘極電極125a之線路、包括切換閘極電極125b及第一補償閘極電極125c1及第二補償閘極電極125c2之掃描線121、包括第一初始化閘極電極125d1及第二初始化閘極電極125d2之前掃描線122、包括運作控制閘極電極125e及發射控制閘極電極125f之發射控制線123，可被設置於第一絕緣層141上。驅動閘極電極125a、掃描線121、前掃描線122及發射控制線123可統稱為第一閘極線。
第二絕緣層142可覆蓋第一閘極線。第二絕緣層142可由矽氮化物、矽氧化物或矽氮氧化物所形成。參照第5圖描述於上之第二儲存電容器極板127及初始化電壓線124可設置於第二絕緣層142上。第二儲存電容器極板127及初始化電壓線124可統稱為第二閘極線。
介層絕緣層160設置於第二閘極線上。介層絕緣層160可由矽氮化物、矽氧化物或矽氮氧化物所形成。
已參照第6圖描述於上之資料線171、驅動電壓線172、連接單元174、初始化連接線78以及發射控制汲極電極177f，可被設置於介層絕緣層160上。資料線171、驅動電壓線172、連接單元174、初始化連接線78以及發射控制汲極電極177f可統稱為資料線路。如上所述，資料線171、驅動電壓線172、連接單元174、初始化連接線78以及發射控制汲極電極177f可透過形成於第一絕緣層 141、第二絕緣層142及介層絕緣層160之至少一部分上之接觸孔洞161至168，電性耦接於下部半導體層或電極。
保護膜或平坦化膜設置於資料線路上，且有機發光裝置之像素電極可被設置於保護膜或平坦化膜上。像素電極可透過形成於保護膜或平坦化膜上之接觸孔洞181，耦合於發射控制汲極電極177f。
與此同時，如第2圖、第5圖及第7圖所示，第二儲存電容器極板127可包括於一側邊之第一屏蔽層SD1。如第2圖及第5圖所示，第一屏蔽層SD1可為突出於第二儲存電容器極板127之一部分。第一屏蔽層SD1可被理解為係第二儲存電容器極板127之部分，其延伸於資料線171及補償薄膜電晶體T3之第一補償閘極電極125c1及第二補償閘極電極125c2之間的至少一部份之間。
作為參考，第2圖係為一個(子)像素之示意圖，且具有相同或相似結構之(子)像素可設置於該(子)像素之上下左右。於第7圖中，(子)像素P1對應至第2圖之(子)像素，且描繪於第2圖之+x方向上設置鄰近於(子)像素P1之(子)像素P2之一部分。(子)像素P2亦可包括資料線171，且藉此，(子)像素P1之第一屏蔽層SD1可被理解為係第二儲存電容器極板127之一部分，其延伸於(子)像素P2之資料線171及補償薄膜電晶體T3之第二補償閘極電極125c2及第一補償閘極電極125c1間之至少一部份之間。
若第一屏蔽層SD1不存在，則補償薄膜電晶體T3之第一補償閘極電極125c1及第二補償閘極電極125c2之間之構件，例如補償半導體層之部分131c2，會受到資料線171之影響。
資料線171傳輸資料訊號至於+x方向上設置鄰近於(子)像素P1之(子)像素P2，且亦傳輸資料訊號至於+y及-y方向上設置鄰近於(子)像素P2之複數 個(子)像素。於此，被傳輸之資料訊號可根據待於+y及-y方向上設置鄰近於(子)像素P2之複數個(子)像素實現之亮度而變化，且藉此，鄰近於(子)像素P1之補償半導體層之部分131c2之資料線171可根據(子)像素P1發光時之時間傳輸不同之電子訊號。
若第一屏蔽層SD1不存在，則寄生電容可發生於(子)像素P2之資料線171及(子)像素P1之補償薄膜電晶體T3之部分131c2之間，且藉此，(子)像素P1之補償薄膜電晶體T3之部分131c2之電位可被根據(子)像素P1發光之時間，由(子)像素P2之資料線171傳輸之不同電子訊號影響。因為補償薄膜電晶體T3係電性耦接於驅動薄膜電晶體T1，若(子)像素P1之補償薄膜電晶體T3之部分131c2之電位被由(子)像素P2之資料線171傳輸之不同電子訊號影響，則由驅動薄膜電晶體T1所決定之有機發光裝置OLED之亮度可能變得與初始意向不同，且因此藉由有機發光顯示設備所顯示之影像之品質可能會惡化。
然而，根據一些實施例之有機發光顯示設備，因為第一屏蔽層SD1係設置於(子)像素P2之資料線171及(子)像素P1之補償薄膜電晶體T3之部分131c2之間，所以(子)像素P1之補償薄膜電晶體T3之部分131c2可不被(子)像素P2之資料線171影響或可較少地被(子)像素P2之資料線171影響，且藉此有機發光顯示設備可以顯示具有較精確之亮度及相對較高之品質之影像。舉例而言，若第一屏蔽層SD1係為第二儲存電容器極板127之部分，則第二儲存電容器極板127透過接觸孔洞168連接於總是具有均勻之電位之驅動電壓線172，且藉此第一屏蔽層SD1也可總是具有均勻之電位。因此，可降低於補償薄膜電晶體T3之部分131c2上之相鄰電子訊號之影響。
替代地，第一屏蔽層SD1可延伸於(子)像素P2之資料線171下，如為根據本發明之一些實施例之有機發光顯示設備之剖面圖之第8圖所示。據此，補償薄膜電晶體T3之部分131c2可進一步被屏蔽。於此，補償薄膜電晶體T3之部分131c2可進一步藉由延伸第一屏蔽層SD1於補償薄膜電晶體T3之第一補償閘極電極125c1及第二補償閘極電極125c2之間之至少一部分之部分131c2之上方而屏蔽。
第9圖係為沿著第2圖之線IX-IX截取之剖面圖。如第2圖、第5圖及第9圖所示，初始化電壓線124可包括第二屏蔽層SD2。
如第2圖及第5圖所示，第二屏蔽層SD2可為初始化電壓線124之部分，其沿著x軸延伸。第二屏蔽層SD2可被理解為係初始化電壓線124之部分，其延伸於資料線171及初始化薄膜電晶體T4之第一初始化閘極電極125d1及第二初始化閘極電極125d2間之至少一部分之間。
於第2圖及第5圖中，初始化電壓線124延伸於初始化薄膜電晶體T4之第一初始化閘極電極125d1及第二初始化閘極電極125d2之間之部分之上方，但實施例並不局限於此。若初始化電壓線124具有其他位置或其他形狀，例如於+y方向、-y方向或其他方向移動或被彎曲，則初始化電壓線124可具有突出物，且該突出物可延伸於資料線171及初始化薄膜電晶體T4之第一初始化閘極電極125d1及第二初始化閘極電極125d2間之至少一部分之間，以運作為第二屏蔽層SD2。換言之，於第2圖及第5圖中，初始化電壓線124可沿著x軸方向延伸並通過資料線171及初始化薄膜電晶體T4之第一初始化閘極電極125d1及第二初始化閘極電極125d2間之至少一部分之間，使得初始化電壓線124之位置被指定無須包括突出物。
若第二屏蔽層SD2不存在，則初始化薄膜電晶體T4之第一初始化閘極電極125d1及第二初始化閘極電極125d2之間之構件，例如初始化半導體層131d1、131d2及131d3之部分131d2可受到資料線171影響。
資料線171傳輸資料訊號至第2圖之(子)像素P2，且亦傳輸資料訊號至於+y及-y方向上設置相鄰於第2圖之(子)像素之複數個(子)像素。因此被傳輸之資料訊號可根據待於+y及-y方向上設置鄰近於(子)像素P2之複數個(子)像素實現之亮度而變化，且藉此，相鄰於第2圖之(子)像素之初始化半導體層131d1、131d2及131d3之部分131d2之資料線171根據第2圖之(子)像素發光之時間傳輸不同之電子訊號。
若第二屏蔽層SD2不存在，則寄生電容可發生於資料線171及初始化薄膜電晶體T4之初始化半導體層131d1、131d2及131d3之部分131d2之間，且藉此，初始化薄膜電晶體T4之初始化半導體層131d1、131d2及131d3之部分131d2之電位可被根據第2圖之(子)像素發光之時間，由資料線171傳輸之不同電子訊號影響。因為初始化薄膜電晶體T4係電性耦接於驅動薄膜電晶體T1，若初始化薄膜電晶體T4之初始化半導體層131d1、131d2及131d3之部分131d2之電位被由資料線171傳輸之不同電子訊號影響，則由驅動薄膜電晶體T1決定之有機發光裝置OLED之亮度可能會變得與初始意向不同，且因此藉由有機發光顯示設備所顯示之影像之品質可能會惡化。
然而，根據一些實施例之有機發光顯示設備，因為第二屏蔽層SD2係設置於資料線171及初始化薄膜電晶體T4之初始化半導體層131d1、131d2及131d3之部分131d2之間，所以初始化薄膜電晶體T4之初始化半導體層131d1、131d2及131d3之部分131d2可不被資料線171影響或可較少地被資料線171影 響，且藉此有機發光顯示設備可以顯示具有較精確之亮度及相對較高之品質之影像。舉例而言，若第二屏蔽層SD2為初始化電壓線124之部分，則第二屏蔽層SD2可藉由總是具有均勻之電位之初始化電壓線124而總是具有均勻之電位。因此，可降低初始化薄膜電晶體T4之初始化半導體層131d1、131d2及131d3之部分131d2上相鄰電子訊號之影響。
於此，若各種線路或半導體層之布置不同於第2圖中所示者，則第二屏蔽層SD2可為延伸於至少於初始化薄膜電晶體T4之第一初始化閘極電極125d1及第二初始化閘極電極125d2之間之初始化半導體層131d1、131d2及131d3之部分131d2上方之部分，或延伸於資料線171下方之部分。
第10圖係為沿著第2圖之線X-X截取之剖面圖。如第2圖、第5圖及第10圖所示，第二儲存電容器極板127可包括第三屏蔽層SD3。
如第2圖及第5圖所示，第三屏蔽層SD3可為第二儲存電容器極板127之部分。第三屏蔽層SD3可被理解為係第二儲存電容器極板127之部分，其延伸於資料線171及驅動薄膜電晶體T1之驅動閘極電極125a之間。舉例而言，第二儲存電容器極板127可具有一(虛擬)端點於-x方向中，其大致匹配於-x方向中之於第二儲存電容器極板127之下方之第一儲存電容器極板之一端點，且第三屏蔽層SD3可存在於資料線171及驅動薄膜電晶體T1之驅動閘極電極125a之間，於從(虛擬)端點之-x方向，其中第三屏蔽層SD3可被理解為與第二儲存電容器極板127一體成形。
替代地，不像第2圖及第5圖中所示的，由於第三屏蔽層SD3不存在，且第二儲存電容器極板127於-x方向中之端點可大致匹配第一儲存電容器極板於-x方向中之端點，第二儲存電容器極板127可不延伸於資料線171所位於之-x 方向中。於此例子中，驅動薄膜電晶體T1之驅動閘極電極125a會受到資料線171所影響。
資料線171傳輸資料訊號至第2圖之(子)像素，且亦傳輸資料訊號至設置於該(子)像素之+y及-y方向中之複數個(子)像素。於此，被傳輸之資料訊號可根據待於設置於第2圖之(子)像素之+y及-y方向中之複數個(子)像素實現之亮度而變化，且藉此，第2圖之(子)像素之始化半導體層131d1、131d2及131d3之部分131d2附近之資料線171，可根據第2圖之(子)像素發光之時間傳輸不同之電子訊號。
若第三屏蔽層SD3不存在，且因此第二儲存電容器極板127不延伸於資料線171所在之-x方向中且第二儲存電容器極板127於-x方向中之端點大致匹配第一儲存電容器極板於-x方向中之端點，則寄生電容存在於資料線171及驅動薄膜電晶體T1之驅動閘極電極125a之間，且因此，驅動薄膜電晶體T1之驅動閘極電極125a之電位會被根據第2圖之(子)像素發光之時間，由資料線171傳輸之不同電子訊號影響。因此，由驅動薄膜電晶體T1所決定之有機發光裝置OLED之亮度會變得與初始意向不同，且因此藉由有機發光顯示設備所顯示之影像之品質可能會惡化。
然而，根據目前實施例之有機發光顯示設備，因為第三屏蔽層SD3存在於資料線171及驅動薄膜電晶體T1之驅動閘極電極125a之間，所以驅動薄膜電晶體T1之驅動閘極電極125a可不被資料線171影響或可較少地被資料線171影響，且藉此有機發光顯示設備可以顯示具有較精確之亮度及相對較高之品質之影像。舉例而言，若第三屏蔽層SD3係為第二儲存電容器極板127之部分，則第二儲存電容器極板127透過接觸孔洞168耦合於總是具有均勻之電位之驅動 電壓線172，且藉此，第三屏蔽層SD3亦可總是具有均勻之電位。因此，可降低驅動薄膜電晶體T1之驅動閘極電極125a上相鄰電子訊號之影響。
當然，第三屏蔽層SD3可不只設置於資料線171及驅動閘極電極125a之間，其也可延伸於資料線171之下方，如第10圖所示。因此，驅動薄膜電晶體T1之驅動閘極電極125a可進一步被屏蔽。
如上，有機發光顯示設備可包括第一屏蔽層SD1、第二屏蔽層SD2及第三屏蔽層SD3，但替代地，有機發光顯示設備可僅包括第一至第三屏蔽層SD1至SD3中的一些。換言之，有機發光顯示設備可包括第一至第三屏蔽層SD1至SD3之至少任一者。
於上述實施例中，補償薄膜電晶體T3及初始化薄膜電晶體T4包括雙重閘極電極。然而，實施例並不局限於此，且有機發光顯示設備可包括設置於資料線171以及部分之補償薄膜電晶體T3及/或初始化薄膜電晶體T4之間之第一或第二屏蔽層SD1或SD2，即使補償薄膜電晶體T3及初始化薄膜電晶體T4包括單閘極電極。
與此同時，第一至第三屏蔽層SD1至SD3全部被包括於第二閘極線路中，如第2圖及第5圖所示，但實施例並不局限於此。換言之，第一至第三屏蔽層SD1至SD3可為部分之第二儲存電容器極板127或部分之初始化電壓線124。
第11圖係為根據本發明之另一實施例，顯示有機發光顯示設備之(子)像素中之電容器及複數個薄膜電晶體位置之示意圖，且第12圖係為沿著第11圖之線XII-XII截取之剖面圖。第2圖及第11圖之有機發光顯示設備之差異在於前掃描線122、初始化電壓線124及初始化薄膜電晶體T4之形狀。
參照第11圖及第12圖，初始化電壓線可設置於與第二儲存電容器極板127相同之層中，或於與像素電極相同之層中。初始化電壓線可透過接觸孔洞162耦合於初始化薄膜電晶體T4之初始化源極電極176d。如參照第2圖描述於上者，初始化薄膜電晶體T4之初始化汲極電極177d電性耦接至補償薄膜電晶體T3之補償汲極電極177c及驅動薄膜電晶體T1之驅動閘極電極125a。
可設置於與驅動閘極電極125a、掃描線121及發射控制線123相同之層中之前掃描線122，可包括對應於初始化薄膜電晶體T4之位置之二突出物。於此，該二突出物可為初始化薄膜電晶體T4之第一初始化閘極電極125d1及第二初始化閘極電極125d2。至少一部分之第二初始化閘極電極125d2可為第二屏蔽層SD2。
雙重閘極電極可具有重疊半導體層之二個部分。舉例而言，參照第11圖，初始化薄膜電晶體T4之第二初始化閘極電極125d2可為沿著x軸延伸而不具有來自前掃描線122之突出物之前掃描線122之部分，且於-x方向中第一初始化閘極電極125d1之部分125d2’，其交錯於初始化源極電極176d附近之半導體層，可運作為第二閘極電極。然而，於此例子中，對應於部分125d2’之半導體層之部分以及對應於第一初始化閘極電極125d1之半導體層之部分之間之部分係設置於相鄰資料線171且未被屏蔽，且藉此可能受到資料線171之影響。
然而，根據一些實施例之有機發光顯示設備，前掃描線122包括二個突出物，其中突出物中的一個運作為第一初始化閘極電極125d1，而突出物中的另一個突出於前掃描線122之部分125d2’且運作為第二初始化閘極電極125d2。於此，第二初始化閘極電極125d2屏蔽對應於部分125d2’之半導體層之部分以及對應於第一初始化閘極電極125d1之半導體層之部分之間之部分與資料 線171，且藉此，可有效阻隔或降低資料線171對於初始化薄膜電晶體T4之不想要的效應。
根據具有這樣的結構之初始化薄膜電晶體T4，初始化薄膜電晶體T4包括第一初始化閘極電極125d1及第二初始化閘極電極125d2，且第一初始化閘極電極125d1及第二初始化閘極電極125d2之至少任一係部分地設置於資料線171及初始化半導體層之部分131d2之間，初始化半導體層之部分131d2係初始化薄膜電晶體T4之第一初始化閘極電極125d1及第二初始化閘極電極125d2之間之部分。在第11圖及第12圖中，第二初始化閘極電極125d2係至少部分地設置於資料線171及初始化半導體層之部分131d2，即，初始化薄膜電晶體T4之第一初始化閘極電極125d1及第二初始化閘極電極125d2之間之部分之間，且藉此，屏蔽初始化半導體層之部分131d2與資料線171。換言之，第二初始化閘極電極125d2係顯示為第二屏蔽層SD2。於此，第二初始化閘極電極125d2可不只設置於資料線171及初始化半導體層之部分131d2之間，如第11及12圖所示，而是也可以於-x方向中延伸於資料線171之下方。於第12圖中，資料線171設置於第二初始化閘極電極125d2之上方，但若資料線171被設置於初始化半導體層之部分131d2之下方且第二初始化閘極電極125d2被設置於資料線171及初始化半導體層之部分131d2之間，則第二初始化閘極電極125d2可延伸於資料線171之上方。
如此一來，第二屏蔽層SD2可被形成為第二閘極線路，如參照第2圖、第5圖及第9圖描述於上者，但可替代地被形成為第一閘極線路，如參照第11圖及第12圖所述者。若第一或第三屏蔽層SD1或SD3被包括並包括第二屏蔽層SD2，則第一或第三屏蔽層SD1或SD3可被形成為第一閘極線路。於此例子中， 第一或第三屏蔽層SD1或SD3可不電性耦接至第二儲存電容器極板127，但可具有島狀及電氣浮動(electrically float)。
如上，其描述屏蔽部分之驅動薄膜電晶體T1、補償薄膜電晶體T3及初始化薄膜電晶體T4與資料線171，但實施例並不局限於此。換言之，若有機發光顯示設備之(子)像素之薄膜電晶體於資料線171附近，則屏蔽層可設置於資料線171及至少一部分之薄膜電晶體之間，使得有機發光顯示設備顯示具有高品質之影像。屏蔽層可設置於資料線171及薄膜電晶體之源極電極之間、資料線171及薄膜電晶體之汲極電極之間以及資料線171及薄膜電晶體之閘極電極之間之至少一者。
與此同時，如上，其描述屏蔽層被設置於資料線171及部分之薄膜電晶體之間，但實施例並不局限於此。舉例而言，有機發光顯示設備可包括：薄膜電晶體，其包括源極電極、汲極電極及閘極電極；控制訊號線，其被設置於與源極電極、汲極電極及閘極電極不同之層中；且傳輸控制訊號，以及屏蔽層，其被設置於控制訊號線及至少一部分之薄膜電晶體之間。於此，控制訊號線可為上述之複數個訊號線之至少任一者。換言之，控制訊號線可為掃描線121、前掃描線122、發射控制線123、資料線171、驅動電壓線172或初始化電壓線124。屏蔽層可屏蔽至少一部分之薄膜電晶體與控制訊號線，藉以阻擋或降低薄膜電晶體上從控制訊號線傳輸之控制訊號之影響。
本發明之實施例並不局限於有機發光顯示設備。只要包括有薄膜電晶體及資料線於(子)像素中之顯示設備以與上述相同或相似之方式具有屏蔽層，即可顯示具有高品質之影像。
如上所述，根據本發明之一或多個實施例，可實現能夠防止顯示之影像品質惡化之顯示設備。
雖然已參照圖式描述本發明之一或多個實施例，本發明所屬技術領據中具有通常知識者將理解的是，可對其進行形式及細節上的多種變化，而不脫離如由下述申請專利範圍所定義之本發明之精神及範疇，以及其均等物。
121:掃描線
122:前掃描線
123:發射控制線
124:初始化電壓線
125a:驅動閘極電極
125b:切換閘極電極
125c1:第一補償閘極電極
125c2:第二補償閘極電極
125d1:第一初始化閘極電極
125d2:第二初始化閘極電極
125e:運作控制閘極電極
125f:發射控制閘極電極
127:第二儲存電容器極板
161、162、163、164、165、166、167、168、181:接觸孔洞
171:資料線
172:驅動電壓線
174:連接單元
176a:驅動源極電極
176b:切換源極電極
176c:補償源極電極
176d:初始化源極電極
176e:運作控制源極電極
176f:發射控制源極電極
177a:驅動汲極電極
177b:切換汲極電極
177c:補償汲極電極
177d:初始化汲極電極
177e:運作控制汲極電極
177f:發射控制汲極電極
27:儲存開口
78:初始化連接線
T1:驅動薄膜電晶體
T2:切換薄膜電晶體
T3:補償薄膜電晶體
T4:初始化薄膜電晶體
T5:運作控制薄膜電晶體
T6:發射控制薄膜電晶體
SD1:第一屏蔽層
SD2:第二屏蔽層
SD3:第三屏蔽層

Claims (21)

  1. 一種顯示設備，包括：一第一薄膜電晶體，該第一薄膜電晶體包含一第一半導體，該第一半導體包含一源極區、一汲極區及一通道區；一第一電極，位於該第一半導體上方，並與該第一半導體的該通道區重疊；一第二電極，位於該第一電極上方，該第二電極與該第一電極重疊；一資料線，位於該第二電極上方，在一第一方向上延伸且連接至該第一薄膜電晶體；以及其中，該第二電極的一部分在與該第一方向交叉的一第二方向上延伸，且位於該資料線與該第一電極之間的層中。
  2. 如請求項1所述之顯示設備，其中該資料線與該第二電極重疊，且該第二電極與該資料線之重疊部分沿著該第一方向的長度係大於該第一電極沿著該第一方向的長度。
  3. 如請求項1所述之顯示設備，其中該第二電極與該資料線之重疊部分沿著該第一方向的長度係大於該第一半導體之該通道區的寬度。
  4. 如請求項1至3中任一項所述之顯示設備，更包含一第二薄膜電晶體，該第二薄膜電晶體包含一第二半導體，該第二半導體的一端連接至該第一半導體的一端，且該第二半導體的另一端連接至該第一電極，以及其中，該第二薄膜電晶體包含至少兩個閘極電極。
  5. 如請求項4所述之顯示設備，更包含：一第三電極，與位於該第二薄膜電晶體的該至少兩個閘極電極之間的該第二半導體重疊。
  6. 如請求項5所述之顯示設備，其中該第三電極位於與該第二電極相同的層中。
  7. 如請求項5所述之顯示設備，其中該第三電極接收驅動電壓(ELVDD)。
  8. 如請求項5所述之顯示設備，其中，該第三電極與該第二電極為一體成形。
  9. 如請求項1至3中任一項所述之顯示設備，更包含：一初始化電壓線，在該第二方向上延伸，以及一第三薄膜電晶體，連接至該初始化電壓線並用於向該第一電及提供一初始化電壓。
  10. 如請求項9所述之顯示設備，其中，該初始化電壓線位於與該第二電極相同的層中。
  11. 如請求項9所述之顯示設備，其中該第三薄膜電晶體包含至少兩個閘極電極，以及其中，該初始化電壓線與位於該第三薄膜電晶體的該至少兩個閘極電極之間的一第三半導體重疊。
  12. 如請求項1所述之顯示設備，更包含：一第四薄膜電晶體，該第四薄膜電晶體包含一第四半導體，該第四半導體的一端連接至該第一半導體的一端，且該第四半導體的另一端連接至該資料線。
  13. 如請求項1所述之顯示設備，更包含：一驅動電壓線，該驅動電壓線位於與該資料線相同的層中且連接至該第二電極並用於提供驅動電壓(ELVDD)。
  14. 如請求項4所述之顯示設備，其中該第二薄膜電晶體的該至少兩個閘極電極包含位於相同層中的一第一閘極電極及一第二閘極電極，該第一閘極電極與該第二半導體的一第一通道區重疊，且該第二閘極電極與該第二半導體的一第二通道區重疊，以及其中，該第二薄膜電晶體的該第一閘極電極及該第二閘極電極係為與該資料線交叉之掃描線的一部份且位於與該第一電極相同的層中。
  15. 如請求項4所述之顯示設備，更包含：一連接線，連接該第二半導體的另一端與該第一電極，且位於與該資料線相同的層中。
  16. 如請求項13所述之顯示設備，更包含一第五薄膜電晶體，包含一第五半導體，該第五半導體的一端連接至該第一半導體的一端，且該第五半導體的另一端連接至該驅動電壓線。
  17. 如請求項16所述之顯示設備，其中，該第二電極與該資料線的重疊部分與該第一半導體的該通道區及該第五半導體的通道區之間的半導體的一部份重疊。
  18. 如請求項1所述之顯示設備，更包含一電容器，包含一第一電容器極板及一第二電容器極板， 其中，該第一電容器極板為該第一電極的一部分，且該第二電容器極板為該第二電極的一部分。
  19. 如請求項1所述之顯示設備，其中，該第二電極與該第一半導體的該源極區及該汲極區中的其一完全重疊。
  20. 如請求項1所述之顯示設備，其中，在一平面上觀看時，該第二電極及該資料線與該第一電極之間的空間重疊。
  21. 如請求項20所述之顯示設備，其中，在一平面上觀看時，該第二電極及該資料線與該第一電極之間的全部空間重疊。
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