TWI722469B - 筆輸入裝置用表面材料及筆輸入裝置 - Google Patents
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Abstract
本發明之筆輸入裝置用表面材料具備片狀之基底構件、及被覆基底構件之一面之塗層,塗層具有配置於與基底構件側相反側之凹凸面,於凹凸面形成有利用掃描式白色干涉顯微鏡測定時之絕對高度為1.0 μm以上之凹凸,且利用掃描式白色干涉顯微鏡測定時之凹凸面之於絕對高度未達1.0 μm之範圍內之表面粗糙度Sa之值係設定為0.10以上且0.16以下之範圍之值。
Description
本發明係關於一種筆輸入裝置用表面材料及筆輸入裝置。
於藉由觸控筆(接觸件)輸入之筆輸入裝置之顯示器面,例如配置有筆輸入裝置用膜,其為了實現如利用筆於紙上書寫之情形類似之書寫感。
要求筆輸入裝置用膜之輸入面相對於筆具有適度之阻力。因此,例如如專利文獻1中所揭示般,正在開發一種筆輸入裝置用膜,其藉由使具有一定程度之粒徑之粒子分散於基底部,從而於輸入面形成凹凸。
[專利文獻1]日本特開2014-232277號公報
且說,若於具有高清像素之顯示器等之表面安裝如上述膜之類之筆輸入裝置用表面材料,則顯示器之出射光由於膜之輸入面之凹凸而發生折射,或者顯示器之像素由於因凹凸而產生之透鏡效應而看起來被放大等,因而有時會發生顯示器之眩光,導致圖像變得看不清。
作為抑制該眩光之方法,例如,認為有使輸入面之凹凸變小,從而降低透鏡效應之方法,但有筆輸入裝置用表面材料之書寫感降低之虞。
因此,本發明之目的在於能夠提供一種筆輸入裝置用表面材料、及筆輸入裝置,該筆輸入裝置用表面材料能夠抑制安裝於顯示器時所發生之眩光,並具有優異之書寫感,且該筆輸入裝置能夠抑制眩光,並具有優異之書寫感。
為了解決上述課題,本發明之一態樣之筆輸入裝置用表面材料具有藉由觸控筆輸入之凹凸面,於上述凹凸面形成有利用掃描式白色干涉顯微鏡測定時之絕對高度為1.0μm以上之凹凸,且利用上述顯微鏡測定時之上述凹凸面之於上述絕對高度未達1.0μm之範圍內之表面粗糙度Sa之值設定為0.10以上且0.16以下之範圍之值。
根據上述構成,藉由於凹凸面形成有利用掃描式白色干涉顯微鏡測定時之絕對高度為1.0μm以上之凹凸,從而於凹凸面形成適度之大小之凹凸。因此,當藉由觸控筆於凹凸面輸入時,觸控筆之振動及加速度變得接近於利用筆於紙上書寫時之筆之振動及加速度,能夠獲得接近於紙之書寫感之優異之書寫感。
又,藉由使利用掃描式白色干涉顯微鏡測定時之凹凸面之於絕對高度未達1.0μm之範圍內之表面粗糙度Sa之值設定為0.10以上且0.16以下之範圍之值,從而於凹凸面形成微小之凹凸,降低因凹凸面之凹凸而產生之透鏡效應。藉此,於將表面材料安裝於顯示器之情形時,抑制因凹凸面之凹凸而產生之透鏡效應使得像素被放大,從而發生顯示器之眩光之現象。
亦可為,筆輸入裝置用表面材料具備片狀之基底構件、及被覆上述基底構件之一面之塗層,配置於上述塗層之與上述基底構件側相反側之面
為上述凹凸面。
根據上述構成,例如藉由一面使用共通之基底構件,一面變更塗層,從而可容易地形成所需之表面形狀之凹凸面。又,可容易地發揮基底構件與塗層分別具有之功能。
亦可為,上述塗層具有沿著上述基底構件之上述一面延伸之基底部、及分散於上述基底部中之第1粒子與第2粒子,上述第1粒子之平均粒徑設定為10μm以上且15μm以下之範圍之值,上述第2粒子之平均粒徑設定為0.4μm以上且未達0.6μm之範圍之值。又,亦可為,上述第1粒子係丙烯酸粒子,上述第2粒子係二氧化矽粒子。又,亦可為上述塗層之霧度值設定為8%以上且39%以下之範圍之值。
藉由進行該等各設定,從而可容易地形成具有優異之書寫感且能夠抑制顯示器之眩光之塗層之凹凸面。又,藉由塗層具有第2粒子,從而可向凹凸面賦予不易誘發顯示器之眩光之微小之凹凸,並可良好地防止凹凸面之外界光之反射,可向凹凸面賦予防眩性。
安裝於顯示器之表面時之上述顯示器之亮度分佈之標準偏差亦可設定為0以上且10以下之範圍之值。此處,顯示器之亮度分佈之標準偏差之值表示顯示器上之亮點之不均之程度,其成為可定量地評價顯示器之眩光之客觀之指標。因此,根據上述構成,藉由將標準偏差之值設定為0以上且10以下之範圍之值,從而可良好地抑制因筆輸入裝置用表面材料引起之顯示器之眩光。
利用表面粗糙度形狀測定機測定時之上述凹凸面之滾動圓最大起伏WEM亦可設定為8.0以上且12.0以下之範圍之值。藉由如此般設定凹凸面之滾動圓最大起伏WEM,從而當利用筆於筆輸入裝置用表面材料輸入時,筆劃過並離開各保持區域時因筆之振動所產生之筆之振動的振幅及筆之加速度,會近
似於利用筆於紙上書寫時之因筆之振動而產生之筆之振動的振幅及筆之加速度,從而能夠獲得更接近於紙之書寫感之書寫感。由此,能夠獲得具有更優異之書寫感之筆輸入裝置用表面材料。
光頻梳寬度為0.5mm之穿透圖像清晰度亦可設定為45%以上且100%以下之範圍之值。藉此,可實現具有優異之書寫感且可抑制顯示器之眩光,並能夠使顯示器之出射光良好地穿透之筆輸入裝置用表面材料。
又,本發明之一態樣之筆輸入裝置係具備顯示器、及於與上述顯示器之顯示區域重疊之位置藉由筆輸入之輸入面者,且上述輸入面之動摩擦係數設定為0.24以上且0.26以下之範圍之值,上述顯示器之亮度分佈之標準偏差設定為0以上且10以下之範圍之值。
根據上述構成,筆輸入裝置能夠獲得藉由筆於輸入面輸入時優異之書寫感,並可良好地抑制顯示器之眩光。
根據本發明之各態樣,可提供一種筆輸入裝置用表面材料及筆輸入裝置,該筆輸入裝置用表面材料能夠抑制安裝於顯示器時所發生之眩光,並具有優異之書寫感,且該筆輸入裝置能夠抑制眩光,並具有優異之書寫感。
1、101:筆輸入裝置用表面材料
2:基底構件
2a:上表面
3:塗層
3a、101a、119a:凹凸面
4:基底部
5:第1粒子
6:第2粒子
16、116、216:筆輸入裝置
19、119:顯示器
圖1係第1實施形態之筆輸入裝置之示意性之剖面圖。
圖2係眩光檢查機之概略圖。
圖3係第2實施形態之筆輸入裝置之示意性之剖面圖。
圖4係第3實施形態之筆輸入裝置之示意性之剖面圖。
以下,參照各圖對各實施形態進行說明。
(第1實施形態)
[筆輸入裝置用表面材料]
圖1係第1實施形態之筆輸入裝置16之示意剖面圖。如圖1所示,筆輸入裝置16具備:裝置單元7、及筆輸入裝置用表面材料1(以下,簡稱為表面材料1)。裝置單元7具有顯示器19。作為裝置單元7之一例,為智慧型手機,但並不限定於此。
作為表面材料1之一例,具備片狀之基底構件2、及被覆基底構件2之一面之塗層3。表面材料1具有透光性,作為全光線穿透率之一例,設定為88%以上且100%以下之範圍之值。表面材料1於此處為膜,其厚度無特別限定。因此,表面材料1例如亦可為板構件。
基底構件2係透明構件,其一面支持塗層3,且另一面側安裝於裝置單元7之顯示器19中之顯示器面19a。作為基底構件2之材質之一例,為聚對苯二甲酸乙二酯(PET),但並不限定於此。基底構件2於此處為膜,其厚度無特別限定。因此,基底構件2例如亦可為板構件。
塗層3係透明層,且以覆蓋基底構件2之一面(為於與顯示器面19a相反側之上表面2a)之方式配置。塗層3具有配置於與基底構件2側相反側之凹凸面3a。凹凸面3a係藉由筆輸入裝置用之筆輸入之輸入面。該筆之前端部分之材質能夠適當設定,作為其一例,為聚縮醛(POM)。塗層3之厚度無特別限定。
表面材料1中,利用掃描式白色干涉顯微鏡測定時之絕對高度為1.0μm以上之凹凸形成於凹凸面3a,且利用上述顯微鏡測定時之凹凸面3a之於絕對高度未達1.0μm之範圍內之表面粗糙度(算術平均粗糙度)Sa之值設定為
0.10以上且0.16以下之範圍之值。
此處,所謂表面粗糙度Sa係被定義為使JIS B 0601所規定之算術平均粗糙度Ra三維地擴展,將由形成表面形狀之曲面與平均表面所包圍之部分之體積除以測定面積而求出之值。又,根據掃描式白色干涉顯微鏡,可非接觸地確認凹凸面3a之表面形狀,並可測定其表面粗糙度Sa。
又,表面材料1中,利用表面粗糙度形狀測定機測定時之凹凸面3a之滾動圓最大起伏WEM設定為8.0以上且12.0以下之範圍之值。又,表面材料1中,安裝於顯示器19之表面時之顯示器19之亮度分佈之標準偏差設定為0以上且10以下之範圍之值。該測定例如可依據JIS B 0610測定。
本實施形態之塗層3具有沿著基底構件2之上表面2a延伸之基底部4、及分散於基底部4中之第1粒子5與第2粒子6。作為一例,基底部4由樹脂材料所構成。又,作為一例,第1粒子5係丙烯酸粒子,第2粒子6係二氧化矽粒子(二氧化矽奈米粒子)。第1粒子5之平均粒徑設定為10μm以上且15μm以下之範圍之值。第2粒子6之平均粒徑設定為0.4μm以上且未達0.6μm之範圍之值。第2粒子6之平均粒徑於此處設定為0.5μm。
再者,本說明書中所謂平均粒徑係指庫爾特計數器法中之50%體積平均粒徑。又,塗層3之霧度值設定為8%以上且39%以下之範圍之值。
粒子5、6以相互地分散於基底部4之內部且覆蓋於基底部4之狀態被基底部4保持。基底部4係一面被覆粒子5、6一面於與粒子5、6對應之位置在與基底構件2側相反側部分地突出。
具體而言,基底部4具有突出部3b、3c。突出部3b於與第1粒子5對應之位置,自該位置之周邊區域向與基底構件2相反側突出。突出部3c於與第2粒子6對應之位置,自該位置之周邊區域向與基底構件2相反側突出。突出部3b大於突出部3c。
表面材料1中,沿著塗層3之凹凸面3a分散配置有多個突出部3b、3c。換言之,塗層3之凹凸面3a中,於相鄰之一對突出部3b之間配置有至少1個突出部3c。
筆輸入裝置16中,表面材料1之與顯示器19側相反側之面(凹凸面3a)之動摩擦係數設定為0.24以上且0.26以下之範圍之值。又,如上所述,於顯示器19之表面(顯示器面19a)安裝表面材料1時之顯示器19之亮度分佈之標準偏差設定為0以上且10以下之範圍之值。
如上所述,表面材料1具有藉由筆輸入之凹凸面3a。並且,利用掃描式白色干涉顯微鏡測定時之絕對高度為1.0μm以上之凹凸形成於凹凸面3a,且利用上述顯微鏡測定時之凹凸面3a之於絕對高度未達1.0μm之範圍內之表面粗糙度Sa之值設定為0.10以上且0.16以下之範圍之值。
如此,藉由利用上述顯微鏡測定時之絕對高度為1.0μm以上之凹凸形成於凹凸面3a,從而於凹凸面3a形成有適度之大小之凹凸。因此,當藉由筆於凹凸面3a輸入時,筆之振動及加速度變得接近於利用筆於紙上書寫時之筆之振動及加速度,能夠獲得接近於紙之書寫感之優異之書寫感。
又,表面材料1中,利用上述顯微鏡測定時之凹凸面3a之於絕對高度未達1.0μm之範圍內之表面粗糙度Sa之值設定為0.10以上且0.16以下之範圍之值,藉此於凹凸面3a形成有微小之凹凸,降低因凹凸面3a之凹凸而產生之透鏡效應。藉此,於將表面材料1安裝於顯示器19之情形時,抑制因凹凸面3a之凹凸而產生之透鏡效應使得像素被放大,從而發生顯示器19之眩光之現象。
此處,根據發明人等之研究,可知於顯示器19之解析度為200ppi以上之情形時,顯示器19之眩光相對地變大。因此,藉由使表面材料1應用於具備具有此種高清像素之顯示器19之裝置單元7,從而可進一步較佳地抑制顯示器19之眩光。
又,本實施形態之表面材料1具備片狀之基底構件2、及被覆基底構件2之一面之塗層3,配置於塗層3之與基底構件2側相反側之面係凹凸面3a。藉此,例如藉由一面使用共通之基底構件2,一面變更塗層3,從而可容易地形成所需之表面形狀之凹凸面3a。又,可容易地發揮基底構件2與塗層3分別具有之功能。
又,本實施形態之塗層3具有沿著基底構件2之上表面2a延伸之基底部4、及分散於基底部4中之第1粒子5與第2粒子6,第1粒子5之平均粒徑設定為10μm以上且15μm以下之範圍之值,第2粒子6之平均粒徑設定為0.4μm以上且未達0.6μm之範圍之值。又,第1粒子5係丙烯酸粒子,第2粒子6係二氧化矽粒子。又,塗層3之霧度值設定為8%以上且39%以下之範圍之值。
藉由進行該等設定,從而可容易地形成具有優異之書寫感且能夠抑制顯示器19之眩光之塗層3之凹凸面3a。又,藉由塗層3具有第2粒子6,從而可向凹凸面3a賦予不易誘發顯示器之眩光之微小之凹凸,並可良好地防止凹凸面3a之外界光之反射,可向凹凸面3a賦予防眩性。
又,表面材料1中,安裝於顯示器19之表面時之顯示器19之亮度分佈之標準偏差設定為0以上且10以下之範圍之值。此處,顯示器19之亮度分佈之標準偏差之值表示顯示器19上之亮點之不均之程度,其成為可定量地評價顯示器19之眩光之客觀之指標。因此,藉由將標準偏差之值設定為0以上且10以下之範圍之值,從而可良好地抑制因表面材料1引起之顯示器19之眩光。
又,表面材料1中,利用掃描式白色干涉顯微鏡測定時之凹凸面3a之滾動圓最大起伏WEM設定為8.0以上且12.0以下之範圍之值。藉由如此般設定凹凸面3a之滾動圓最大起伏WEM,從而當藉由筆於表面材料1輸入時,筆劃過並離開各保持區域時,因筆之振動而產生之筆之振動的振幅及筆之加速度,近似於利用筆於紙上書寫時之因筆之振動而產生之筆之振動的振幅及筆之加速
度,從而能夠獲得更接近於紙之書寫感之書寫感。因此,能夠獲得具有更優異之書寫感之表面材料1。
又,表面材料1中,光頻梳寬度為0.5mm之穿透圖像清晰度設定為45%以上且100%以下之範圍之值。藉此,可實現具有優異之書寫感且可抑制顯示器19之眩光,並能夠使顯示器19之出射光良好地穿透之表面材料1。
再者,於第1粒子5之平均粒徑未達10μm之值之情形時,有時凹凸面3a之書寫感會降低,於超過15μm之值之情形時,有時耐擦傷性會降低,故需注意。又,於第2粒子6之平均粒徑未達0.4μm之值之情形時,有抑制顯示器19之眩光之效果、與因防眩性帶來之效果變低之虞,故需注意。又,於第2粒子6之平均粒徑為0.6μm以上之值之情形時,有顯示器19之眩光變大之虞,故需注意。
又,於塗層3之霧度值未達8%之情形時,有因顯示器19之防眩性帶來之效果變低之虞,故需注意。又,於塗層3之霧度值超過39%之情形時,有顯示器19之視認性變低(發生文字模糊等)之虞,故需注意。又,於表面材料1之光頻梳寬度為0.5mm之穿透圖像清晰度未達45%之情形時,有經由表面材料1之顯示器19之圖像顯示性能變低之虞,故需注意。
又,第1粒子5對顯示器19之眩光所造成之影響相對較小。因此,即便塗層3含有第1粒子5,亦可忽視由於第1粒子5而產生之顯示器19之眩光之增大之虞。
又,筆輸入裝置16係具備顯示器19、及於與顯示器19之顯示區域重疊之位置藉由筆輸入之輸入面(凹凸面3a)者,且輸入面(凹凸面3a)之動摩擦係數設定為0.24以上且0.26以下之範圍之值,顯示器19之亮度分佈之標準偏差設定為0以上且10以下之範圍之值。
因此,筆輸入裝置16能夠獲得藉由筆於輸入面輸入時優異之書
寫感,並可良好地抑制顯示器19之眩光。以下,依序對用於檢查及評價表面材料1之眩光檢查機與眩光評價方法進行說明。
[眩光檢查機]
圖2係眩光檢查機10之概略圖。眩光檢查機10係用來評價於表面安裝有表面材料1等筆輸入裝置用表面材料之筆輸入裝置16中之顯示器19之眩光之裝置。眩光檢查機10具備:殼體11、拍攝裝置12、保持部13、拍攝裝置用座架14、裝置用座架15、及圖像處理裝置17。作為市售之眩光檢查機10,可列舉小松NTC(股份有限公司)製造之「膜眩光檢查機」。
殼體11具有用於藉由拍攝裝置12拍攝顯示器19之暗室。於殼體11內收容有拍攝裝置12、保持部13、拍攝裝置用座架14、裝置用座架15、及評價對象之筆輸入裝置16。
作為拍攝裝置12之一例,為具有透鏡18、及拍攝元件之面陣相機,其拍攝顯示於顯示器19之圖像。拍攝裝置12連接於圖像處理裝置17,且以透鏡18與顯示器19對向之方式被保持部13保持。藉由拍攝裝置12所拍攝之圖像資料被發送至圖像處理裝置17。
保持部13於上下方向上延伸,其下端固定於拍攝裝置用座架14,且保持拍攝裝置12。保持部13藉由使拍攝裝置12相對於筆輸入裝置16於鉛直方向上相對移動,從而以能夠變更顯示器19與透鏡18之間之相對距離之方式保持拍攝裝置12。
筆輸入裝置16以使安裝有表面材料之顯示器19與拍攝裝置12對向之狀態載置於裝置用座架15之上表面。裝置用座架15以使安裝有表面材料之顯示器19之表面與拍攝裝置12對向,且呈水平面之方式來支持,並使筆輸入裝置16相對於拍攝裝置12於鉛直方向上相對移動。
眩光檢查機10中,藉由調整拍攝裝置12與顯示器19之間之相對
距離,從而以拍攝裝置12之拍攝元件之每單位像素(例如1像素)進行拍攝,調整顯示於顯示器19之圖像之像素尺寸。
圖像處理裝置17對藉由拍攝裝置12所拍攝之圖像資料進行資料處理。具體而言,圖像處理裝置17根據藉由拍攝裝置12所拍攝之圖像資料,求出顯示器19之亮度之標準偏差。
圖像處理裝置17具備:輸入部,其輸入藉由拍攝裝置12所拍攝之圖像資料;圖像處理部,其對所輸入之圖像資料進行圖像處理;及輸出部,其將經圖像處理部處理之結果輸出至顯示裝置或印字裝置等。
利用拍攝裝置12拍攝顯示於顯示器19之圖像時之拍攝元件之每單位像素(例如1像素)所拍攝之圖像之像素尺寸,作為該像素尺寸之調整方法,除變更拍攝裝置12與顯示器19之間之相對距離之方法以外,於拍攝裝置12所具備之透鏡18為變焦透鏡之情形時,亦可採用改變拍攝裝置12之焦距之方法。
[眩光評價方法]
以下,對使用眩光檢查機10之顯示器19之眩光評價方法進行說明。該眩光評價方法中,為了方便評價,預先使於筆輸入裝置16之顯示器面19a安裝有表面材料1等筆輸入裝置用表面材料之顯示器19以一種顏色(例如綠色)地均勻發光顯示。
其次,進行調節步驟,該調節步驟係調整以拍攝裝置12之拍攝元件之每單位像素所拍攝之安裝有表面材料之顯示器19之像素尺寸。於調整步驟中,根據拍攝裝置12之拍攝元件之有效像素數,以拍攝裝置12所拍攝之圖像中,無因像素而產生之明線,或者即便有因像素而產生之明線亦不會對顯示器19之眩光之評價造成影響之程度,調整拍攝裝置12、與安裝有表面材料之顯示器19之間之相對距離。
再者,較理想為考慮到筆輸入裝置16之使用態樣(例如,使用者之眼睛與顯示器19之表面之間之相對距離)而設定拍攝裝置12與筆輸入裝置16之間之相對距離。
於進行調整步驟後,進行設定步驟,該設定步驟係設定對安裝有表面材料之顯示器19之眩光進行評價之測定區域。於設定步驟中,測定區域例如根據顯示器19之尺寸等較佳地設定。
於進行調整步驟後,進行拍攝步驟,該拍攝步驟係藉由拍攝裝置12對安裝有表面材料之顯示器19之測定區域進行拍攝。作為該情形時之一例,以能夠獲得圖像資料作為8位元灰階顯示且平均亮度為170灰階之灰度圖像之方式,來調整拍攝裝置12之曝光時間或顯示器19之全像素之亮度之至少任意一個。拍攝步驟中所拍攝之圖像資料被輸入至圖像處理裝置17。圖像處理裝置17中,作為一例,圖像資料以灰度圖像之狀態被進行圖像處理。
拍攝步驟後,進行運算步驟,即圖像處理裝置17使用圖像資料,求出安裝有表面材料之顯示器19之測定區域中之亮度之不均。該運算步驟中,亮度之不均作為亮度分佈之標準偏差被數值化。
此處,安裝有表面材料之顯示器19之亮度之不均越大,則安裝有表面材料之顯示器19之眩光越大。藉此,可定量地評價為亮度分佈之標準偏差之值越小,則顯示器19之眩光越小。
又,調整步驟中,因以安裝有表面材料之顯示器19之明線不會對顯示器19之眩光之評價造成影響之程度進行調整,故抑制因明線而產生之亮度不均,可進行顯示器19之準確之眩光之評價。藉由經過以上之各步驟,從而求出於表面安裝表面材料時之顯示器19之亮度分佈之標準偏差(眩光σ),可根據該值評價顯示器19之眩光。以下,以與第1實施形態之差異為中心,對其他實施形態進行說明。
(第2實施形態)
圖3係第2實施形態之筆輸入裝置116之示意性之剖面圖。筆輸入裝置116具備筆輸入裝置用表面材料101,其具有與顯示器19重疊配置之單一構造。該表面材料101具有凹凸面101a,其作為藉由筆輸入之輸入面。凹凸面101a具有與凹凸面3a同樣之表面形狀。
此種表面材料101例如如下述般形成:於被支持構件所支持之片狀之未硬化材料(例如樹脂材料)之表面,使用成形滾筒等成形構件轉印出凹凸形狀後,使該材料硬化,並且自支持構件剝離。或者,表面材料101藉由於片材構件之表面實施噴砂處理等表面處理而形成。
圖4係第3實施形態之筆輸入裝置216之示意性之剖面圖。筆輸入裝置216之裝置單元107所具有之顯示器119具有凹凸面119a,該凹凸面係作為藉由筆輸入之輸入面。本實施形態中,顯示器119之最表層部分兼具筆輸入裝置用表面材料。凹凸面119a具有與凹凸面3a同樣之表面形狀。作為顯示器119之最表層部分之一例,由玻璃材料所構成。
(確認試驗)
[試驗1]
製作具有以下之表1、2所表示之組成之實施例1~5及比較例1~6之各筆輸入裝置用表面材料。表1、2中之「丙烯酸粒子」相當於第1粒子5。又,表1、2中之「CAP」係醋酸丙酸纖維素,「表面粗糙度Sa」指凹凸面之絕對高度未達1.0μm之範圍。
實施例1~5相當於塗層3具有第1粒子5(丙烯酸粒子)及第2粒子6(二氧化矽奈米粒子)之第1實施形態之表面材料1。比較例1、2相當於塗層未具有第1粒子5以外之粒子之表面材料。比較例3、4相當於塗層未具有第1粒子5與平均粒徑0.6μm之二氧化矽奈米粒子以外之粒子之表面材料。比較例
5、6相當於塗層未具有粒子之表面材料。
作為表1、2中之「AG液1」,使用含有二氧化矽奈米粒子(平均粒徑0.6μm),固形物成分濃度為54.5%,且含有甲氧基丙醛(PGM)、乙酸丁酯、及聚乙二醇甲醚乙酸酯(PGMEA)作為溶劑者。
作為表1、2中之「AG液2」,使用含有作為第2粒子6之二氧化矽奈米粒子(平均粒徑0.5μm),固形物成分濃度為50.0%,且含有甲氧基丙醛(PGM)、乙酸丁酯、及聚乙二醇甲醚乙酸酯(PGMEA)作為溶劑者。
作為表1、2中之「霧度調整液」,使用固形物成分濃度為59.5%,且含有甲氧基丙醛(PGM)、乙酸丁酯、及聚乙二醇甲醚乙酸酯(PGMEA)作為溶劑者。
各表面材料之霧度值及全光線穿透率係依據JIS K7105,使用HAZE METER(日本電色(股份有限公司)製造,NDH-5000W)測定。各表面材料之穿透清晰性(穿透圖像清晰度)係依據JIS K7105,使用圖像清晰度測定器(Suga Test Instruments(股份有限公司)製造,ICM-1T)測定。
又,使用小松NTC(股份有限公司)製造之「膜眩光檢查機」作為眩光檢查機10,根據上述之眩光評價方法,測定將各表面材料安裝於顯示器19時之眩光σ。使用解析度441ppi之智慧型手機(三星電子公司製造之「Galaxy S4」)作為具備顯示器19之筆輸入裝置16。當進行該測定時,以能夠獲得圖像資料作為8位元灰階顯示且平均亮度為170灰階之灰度圖像之方式,調整拍攝裝置12之曝光時間或顯示器19之全像素之亮度之至少任意一個。
其次,使用Trinity-Lab(股份有限公司)製造之靜、動摩擦測定機「Handy TriboMaster TL201Ts」,測定各表面材料之動摩擦係數。當進行該測定時,使用筆尖之材質為聚縮醛之筆(筆尖直徑0.8mm),將筆之相對於各表面材料之凹凸面(輸入面)之角度設定為45°,從筆尖向表面材料之塗層中
之凹凸面(輸入面)施加200g之荷重之狀態下,以移動速度50mm/sec使筆與凹凸面(輸入面)相對移動,藉此進行測定。
又,各表面材料之凹凸面(輸入面)中之滾動圓最大起伏WEM係依據JIS B 610,使用表面粗糙度形狀測定機(東京精密(股份有限公司)製造,「Surfcom 1400G」)測定。又,各表面材料之凹凸面(輸入面)之於絕對高度未達1.0μm之範圍內之凹凸面(輸入面)之表面粗糙度Sa係使用掃描式白色干涉顯微鏡(日立高新技術(股份有限公司)製造,「VertScan」)測定。
此處,當測定各表面材料之凹凸面(輸入面)之表面粗糙度Sa時,利用掃描式白色干涉顯微鏡所拍攝之表面材料之凹凸面(輸入面)之圖像中,選擇絕對高度未達1.0μm之凹凸面之區域進行測定。
又,作為各表面材料之官能評價,以藉由鉛筆(三菱鉛筆(股份有限公司)製造之「uni HB」)於紙(Kaunet(股份有限公司)製造之「影印紙標準類型」)上書寫時之感覺為基準,將試驗者藉由筆於表面材料之塗層中之凹凸面(輸入面)進行輸入時之感覺接近於上述感覺之書寫感者評價為「OK」,將與上述感覺差距較遠之書寫感者評價為「NG」。將該等測定結果及評價結果合併示於表1、2。
如表1、2所示,可知實施例1~5具有與比較例1~4相同之官能
評價,具有與比較例1~4相同之優異之書寫感。認為其原因在於:實施例1~5之塗層與比較例1~4之塗層相同地具有丙烯酸粒子(第1粒子5)。
即,認為實施例1~5中,由於上述丙烯酸粒子,當利用掃描式白色干涉顯微鏡測定時,絕對高度為1.0μm以上之凹凸形成於凹凸面3a,藉此滾動圓最大起伏WEM之值設定為與比較例1~4之值大致相同之值,藉由筆於凹凸面3a輸入時之感覺變得與比較例1~4大致相同。
又,可知實施例1~5相較於比較例1~4而言眩光σ值降低,可抑制顯示器19之眩光。認為其原因在於:實施例1~5之塗層3藉由含有第2粒子6,並凹凸面3a之於絕對高度未達1.0μm之範圍內之表面粗糙度Sa相較於比較例1~4之該表面粗糙度Sa而言得到了抑制,從而使得將顯示器19之像素放大之凹凸面3a之透鏡效應降低。又,可知實施例1~5具有與比較例1~6相同之全光線穿透率,可使顯示器19之圖像良好地穿透。
可知比較例1、2係相當於習知之筆輸入裝置表面材料者,藉由塗層具有第1粒子5從而使得輸入面之書寫感優異,但由於塗層未具有第2粒子6,故有發生顯示器19之眩光之虞。又,可知比較例3、4之塗層具有除第1粒子5以外平均粒徑為0.6μm之二氧化矽奈米粒子,但即便藉由此種二氧化矽奈米粒子亦無法充分地抑制顯示器19之眩光。
又,可知比較例5、6相較於實施例1~5及比較例1~4而言雖眩光σ值大幅地變小,但滾動圓最大起伏WEM之值大幅地變小,官能評價亦不優異。認為其原因在於:因比較例5、6之塗層未含有任何之粒子,故雖可抑制顯示器19之眩光,但與筆接觸之輸入面之凹凸被大幅地抑制,從而使得書寫感降低。
根據以上之試驗結果,確認了根據實施例1~5,可形成具有優異之書寫感且能夠抑制顯示器19之眩光之塗層3之凹凸面3a。
根據本試驗結果、及發明人等所進行之其他研究結果,可知利用掃描式白色干涉顯微鏡測定時之絕對高度為1.0μm以上之凹凸形成於凹凸面3a,且利用上述顯微鏡測定時之凹凸面3a之於絕對高度未達1.0μm之範圍內之表面粗糙度Sa之值必須設定為0.10以上且0.16以下之範圍之值。
又,可知為了經由表面材料1獲得顯示器19之良好之圖像顯示性能,較理想為光頻梳寬度為0.5mm之穿透圖像清晰度設定為45%以上且100%以下之範圍之值。
又,可知為了獲得適度之書寫感並防止外界光向凹凸面3a之映入,較理想為塗層3之霧度值設定為8%以上且39%以下之範圍之值。又,可知為了獲得更優異之書寫感,較理想為利用上述顯微鏡測定時之凹凸面3a之滾動圓最大起伏WEM設定為8.0以上且12.0以下之範圍之值。
[試驗2]
製作第1實施形態之筆輸入裝置16作為實施例裝置。使用解析度441ppi之智慧型手機(三星電子公司製造之「Galaxy S4」)作為裝置單元7,使用實施例1之表面材料1作為表面材料1。
當製作該實施例裝置時,藉由將Panac(股份有限公司)製造之黏著膜「PX38T02G50/PDS1T」(構成:OCA層(透明光學黏著層:厚度25μm)/PET層(厚度38μm)/矽黏著層(厚度50μm)之3層構造)之黏著面(OCA層側)貼附於實施例1之表面材料1中之基底構件2,從而構成表面材料1作為黏著膜。將該表面材料1之另一黏著面(矽黏著層側)貼合於顯示器19之表面。藉此,將表面材料1安裝於裝置單元7。
其次,使用Trinity-Lab(股份有限公司)製造之靜、動摩擦測定機「Handy TriboMaster TL201Ts」測定凹凸面3a之平均動摩擦係數。進行該測定時,使用筆尖之材質為聚縮醛之筆(筆尖直徑0.8mm),將筆之相對於凹
凸面3a之角度設定為45°,自筆尖向表面材料之塗層中之凹凸面3a施加50g之荷重之狀態下,以移動速度50mm/sec、移動距離50mm使筆與凹凸面3a相對移動3次,將此時所測定之動摩擦係數之平均值作為平均動摩擦係數。
根據該測定結果而獲得之實施例裝置之平均動摩擦係數係與實施例1之動摩擦係數之測定值相同之值。又,與試驗1同樣地進行實施例裝置之書寫感特性之官能評價,結果為獲得與實施例1~5之評價幾乎同樣之優異之評價。
本發明並非受上述各實施形態所限定,於不脫離本發明之主旨之範圍內可對其構成進行變更、追加、或刪除。
1:筆輸入裝置用表面材料
2:基底構件
2a:上表面
3:塗層
3a:凹凸面
3b、3c:突出部
4:基底部
5:第1粒子
6:第2粒子
7:裝置單元
16:筆輸入裝置
19:顯示器
19a:顯示器面
Claims (9)
- 一種筆輸入裝置用表面材料,其具有藉由筆輸入之凹凸面,於上述凹凸面形成有利用掃描式白色干涉顯微鏡測定時之絕對高度為1.0μm以上之凹凸,且利用上述顯微鏡測定時之上述凹凸面之於上述絕對高度未達1.0μm之範圍內之表面粗糙度Sa之值設定為0.10以上且0.16以下之範圍之值。
- 如請求項1所述之筆輸入裝置用表面材料,其具備片狀之基底構件、及被覆上述基底構件之一面之塗層,且配置於上述塗層之與上述基底構件側相反側的面係上述凹凸面。
- 如請求項2所述之筆輸入裝置用表面材料,其中,上述塗層具有沿著上述基底構件之上述一面延伸之基底部、及分散於上述基底部中之第1粒子與第2粒子,且上述第1粒子之平均粒徑設定為10μm以上且15μm以下之範圍之值,上述第2粒子之平均粒徑設定為0.4μm以上且未達0.6μm之範圍之值。
- 如請求項3所述之筆輸入裝置用表面材料,其中,上述第1粒子係丙烯酸粒子,上述第2粒子係二氧化矽粒子。
- 如請求項2至4中任一項所述之筆輸入裝置用表面材料,其中,上述塗層之霧度值設定為8%以上且39%以下之範圍之值。
- 如請求項1至4中任一項所述之筆輸入裝置用表面材料,其安裝於顯示器之表面時之上述顯示器之亮度分佈之標準偏差設定為0以上且10以下之範圍之值。
- 如請求項1至4中任一項所述之筆輸入裝置用表面材料,其中,利用表面粗糙度形狀測定機測定時之上述凹凸面之滾動圓最大起伏WEM設定為8.0以上且12.0以下之範圍之值。
- 如請求項1至4中任一項所述之筆輸入裝置用表面材料,其中,光頻梳寬度為0.5mm之穿透圖像清晰度設定為45%以上且100%以下之範圍之值。
- 一種筆輸入裝置,其係具備顯示器、及於與上述顯示器之顯示區域重疊之位置藉由筆輸入之輸入面者,且上述輸入面之動摩擦係數設定為0.24以上且0.26以下之範圍之值,於上述顯示器為解析度441ppi之有機EL顯示器之情形,以能夠獲得圖像資料作為8位元灰階顯示且平均亮度為170灰階之灰度圖像之方式調整時之上述顯示器其亮度分佈之標準偏差設定為0以上且10以下之範圍之值。
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