KR20230165105A - 빛번짐 저감 광학 필름 및 그 제작 방법 - Google Patents

빛번짐 저감 광학 필름 및 그 제작 방법 Download PDF

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Abstract

기라츠키에 의한 시인성의 저하가 충분히 방지되는 안티글레어 필름과 그 제작 방법을 제공한다. 랜덤 요철 형상면을 갖는 광학 필름에 있어서, 랜덤 요철 형상의 구면상 볼록면의 높이 h가 0.5㎛보다 크고 1㎛ 미만, 경사각 θ가 50°보다 크고 75°미만이며, 지름 d가 8㎛ 미만이다. 지름 d는, 3㎛ 미만인 것이 바람직하다. 높이 h는 0.6㎛보다 크고 0.9㎛ 미만인 것이 바람직하다. 경사각 θ는 50°보다 크고 60° 미만인 것이 바람직하다.

Description

빛번짐 저감 광학 필름 및 그 제작 방법
본 발명은 빛번짐(기라츠키, dazzle)를 저감시킬 수 있는 광학 필름과 그 제작 방법에 관한 것이다.
퍼스널 컴퓨터나 액정 텔레비전 등의 액정 패널의 표시면 측에는 편광판이 있어서, 편광판은 편광 필름과 그것을 지지하는 TAC(Triacetyl cellulose) 필름으로 구성되어 있다. TAC 필름의 표면에는 액정 패널의 시인(눈으로 확인, 視認)성 향상을 위해 여러가지 코팅 처리가 되어 있고, 특히 눈부심을 방지하는 방현(防眩) 처리 기술인 AG(Anti-glare, 안티글레어) 코팅이 필수로 여겨지고 있다.
종래의 방현 처리의 AG 코팅에서는, TAC 필름의 표면에 코로나 처리나 플라즈마 처리를 실시하고, 이어서, 필러(실리카) 등의 미립자를 혼합한 아크릴 수지 및 유기 용제를, TAC 필름의 표면에 도포·건조하는 공정을 수차례 반복하여, 요철 형상을 TAC 필름 표면 상에 형성하여, 방현 효과를 얻고 있다. 하지만, 종래의 AG 코팅에서는, 건조로(爐)의 설치나 도포·건조 공정의 반복이 필요해지기 때문에, 대규모의 제조 설비가 필요하고, 또한 처리 공수(工數)가 많다는 코스트 면의 과제가 있다. 또한 다량의 유기 용제의 사용이나, 필러 응집에 의한 불균일(non-uniformity)이나 결점의 발생 등 환경면이나 품질면에서 많은 과제가 있다.
한편, 종래부터, 금형 표면에 요철을 형성하고, 자외선 경화 수지나 열가소성 수지를 사용하여 TAC 필름 상에 금형의 요철을 전사(轉寫) 성형하고, AG 코팅을 행하는 방법도 알려져 있지만(예를 들면, 특허문헌 1∼3을 참조.), 하얗게 빛나 보이는 스폿 결점이나 얼룩 등의 외관 결점이 많아서 문제를 안고 있는 것이 현실이다.
본 발명자는, 이미 기라츠키(레인보우 현상)에 의한 시인성의 저하(低下)가 충분히 방지된 안티글레어 필름을 제안했지만(특허문헌 4를 참조), 기존의 각종 안티글레어 필름의 표면 상태에 대하여, 표면 거칠기 파라미터를 측정해본 결과, 필름의 외관과의 사이에 특정한 상관 관계(상관)가 있음을 발견하고, 본 발명을 완성하였다.
특허문헌 1: 일본 특허 공개 2010-224427호 공보 특허문헌 2: 일본 특허 공개 2006-53371호 공보 특허문헌 3: 일본 특허 공개 2007-187952호 공보 특허문헌 4: 일본 특허 공개 2016-12095호 공보
상기 상황을 감안하여, 본 발명은 기라츠키에 의한 시인성의 저하가 충분히 방지되는 안티글레어 필름이나 확산 시트와 그 제작 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기 과제를 해결하기 위해서, 본 발명의 기라츠키 저감 안티글레어 필름 및 확산 시트는, 랜덤 요철 형상면을 갖고, 랜덤 요철 형상면에서의 구면상(球面狀) 볼록면의 높이 h가 0.5㎛보다 크고 1㎛ 미만, 경사각 θ가 50°보다 크고 75°미만이고, 직경 d가 8㎛ 미만인 것을 특징으로 한다.
이러한 구성으로 함으로써, 효과적으로 기라츠키를 저감할 수 있다. 또한, 높이 h는 최대 산 높이(Rp)를 나타내며, 기준 길이에서의 윤곽 곡선 중에서 가장 높은 산의 높이를 나타낸 것이다.
본 발명의 기라츠키 저감 안티글레어 필름 및 확산 시트는, 직경(지름, 徑) d가 3㎛ 미만인 것이 바람직하다. 블라스트 입자경(粒子徑)을 10㎛ 미만으로 함으로써, 기라츠키를 더욱 억제할 수 있고, 그 경우에는, 직경 d가 3㎛ 미만이 된다.
본 발명의 기라츠키 저감 안티글레어 필름 및 확산 시트는, 높이 h가 0.6㎛보다 크고 0.9㎛ 미만인 것이 바람직하다.
백그라운드 반사(원하지 않는 상(像)이나 광원(光源)의 비침)와 흑도(黑度, blackness)는 트레이드오프의 관계이기 때문에, 높이 h를 상기 범위로 함으로써, 백그라운드 반사를 억제하면서, 흑도를 향상시킨 구성으로 할 수 있다.
본 발명의 기라츠키 저감 안티글레어 필름 및 확산 시트는, 경사각 θ가 50°보다 크고 60°미만인 것이 바람직하다.
백그라운드 반사와 흑도는 트레이드오프의 관계이기 때문에, 경사각 θ를 상기 범위로 함으로써, 백그라운드 반사를 억제하면서, 흑도를 향상시킨 구성으로 할 수 있다.
다음으로, 본 발명의 광학 필름의 제작 방법에 대하여 설명한다. 여기서 광학 필름은, 안티글레어 필름 또는 확산 시트를 의미한다. 본 발명의 광학 필름의 제작 방법은, 하기 a) ~ d)의 스텝을 구비하는 방법에 있어서, 블라스트 입자의 중심 입자경 D을 소정값 이하가 되도록 작게 함으로써, 투명 기재(基材) 표면의 기라츠키를 저감하는 것을 특징으로 한다.
a) 투명 기재 표면에 자외선 경화 수지를 도포하는 스텝.
b) 블라스트 입자를 충격(衝打)시켜 표면이 요철 형상의 롤(roll)상(狀) 금형을 제작하는 스텝.
c) 상기 롤상 금형을 사용하여 투명 기재 표면에 도포한 자외선 경화 수지를 전사 성형하는 스텝.
d) 전사 성형한 자외선 경화 수지에 자외선을 조사(照射)하여 경화시켜, 투명 기재 표면에 미세한 요철 형상을 형성시키는 스텝.
본 발명의 광학 필름의 제작 방법은, 블라스트 입자의 중심 입자경 D가 45㎛ 이하인 것이 바람직하고, 20㎛ 미만인 것이 더욱 바람직하다.
　블라스트 입자의 중심 입자경 D이 20㎛ 미만이 됨으로써, 금형 표면의 오목부의 직경이 작고 불균일이 적은 오목부를 형성할 수 있고, 오목부의 경사 정도(勾配)가 커져, 기라츠키가 저감된다.
본 발명의 광학 필름의 제작 방법에 있어서, 상기 b)의 스텝에서 제작되는 롤상 금형은, 요철 형상의 구면상 오목면의 직경 d가 8㎛ 미만, 깊이 h가 0.5㎛보다 크고 1㎛ 미만, 경사각 θ이 50°보다 크고 75°미만인 것이 바람직하다.
또한, 본 발명의 광학 필름의 제작 방법은, 직경 d가 3㎛ 미만이고, 깊이 h의 범위가 0.6㎛보다 크고 0.9㎛ 미만이며, 경사각 θ의 범위가 50°보다 크고 60° 미만인 것이 바람직하다.
본 발명의 광학 필름의 제작 방법에 있어서, 투명 기재 표면에서의 최대 산 높이(Rp), 최대 높이(Rz), 최대 단면 높이(Rt), 제곱(2승) 평균 제곱근(평방근) 경사(RΔq) 중 적어도 어느 하나의 표면 거칠기 파라미터를 제어하여, 투명 기재 표면의 헤이즈(haze)를 높이고, 백그라운드 반사를 저감시킬 수 있다.
본 발명의 광학 필름의 제작 방법에 있어서, 투명 기재 표면에서의 산술 평균 거칠기(Ra), 제곱 평균 제곱근 높이(Rq), 평균 높이(Rc), 윤곽 곡선의 절단 레벨차(Rδc) 중 적어도 어느 하나의 표면 거칠기 파라미터를 제어하여, 투명 기재 표면의 백그라운드 반사를 저감시킬 수 있다.
본 발명의 광학 필름의 제작 방법에 있어서, 투명 기재 표면에서의 산술 평균 거칠기(Ra), 평균 높이(Rc), 윤곽 곡선의 절단 레벨차(Rδc)의 3개의 표면 거칠기 파라미터를 제어하여, 투명한 기재 표면의 헤이즈, 흑도, 백그라운드 반사를 조절할 수 있다.
본 발명의 안티글레어 필름과 확산 시트, 및 이들의 광학 필름의 제작 방법에 의하면, 기라츠키에 의한 시인성의 저하가 충분히 방지되는 효과를 갖는다.
[도 1] 구형 비드(spherical beads)의 원호면에 관한 설명도
[도 2] 안티글레어 필름의 요철 단면의 모식도
[도 3] 안티글레어 필름의 제작 프로세스의 개념도
[도 4] 블라스트 입자경과 롤상 금형에서의 구면상 오목면의 직경 d의 상관 그래프
[도 5] 블라스트 입자경과 롤상 금형에서의 구면상 오목면의 깊이 h의 상관 그래프
[도 6] 블라스트 입자경과 경사각 θ의 상관 그래프
[도 7] 제곱 평균 제곱근 경사(RΔq)와 외관의 관계를 나타내는 그래프
[도 8] 경사각과 외관의 관계를 나타내는 그래프
[도 9] 최대 산 높이(Rp)와 외관의 관계를 나타내는 그래프
[도 10] 입자경과 외관의 관계를 나타내는 그래프
[도 11] 상이한 블라스트 입자를 사용한 경우의, 외관과 표면 거칠기 파라미터의 상관성을 나타내는 그래프
[도 12] 실시예 2의 시료의 표면 사진과 표면 거칠기 파라미터(Ra)
이하, 본 발명의 실시 형태에 대하여, 도면을 참조하면서 상세히 설명한다. 또한, 본 발명의 범위는, 이하의 실시예나 도시예에 한정되는 것은 아니며, 다수의 변경 및 변형이 가능하다.
기존의 AG 시트의 표면 상태를 표면 거칠기 파라미터로 정량화하고, 외관과의 상관을 검증하였다. 표면 거칠기에 대한 측정에는, 미쓰토요에서 만든 표면 거칠기 측정기(CS-H5000CNC)를 사용하였다. 또한, 측정 기준은 JIS B 0601-2001에 준거하였다. 외관 기준에 대해서는, "흑도", "백그라운드 반사", "기라츠키"에 대해서, 표 1에 나타내는 바와 같이, 1~10의 기준을 설정하였다.
표 1에 나타낸 바와 같이, "흑도"에 대해서는, "하얗게 반사하는" 경우를 1, "약간 하얗게 반사하는" 경우를 4, "정면의 흑도이 약간 저하"하는 경우를 6, "비스듬히 보면 약간 흰빛을 띠는" 경우를 8, "화면과 동등한 흑도"의 경우를 10으로 했다. 또한, 1과 4 사이에 2, 3의 기준을 마련하고, 이들 중, 비교적 하얗게 반사하는 경우를 2, 비교적 검게 반사하는 경우를 3으로 하였다. 또한, "4와 6 사이"의 경우를 5, "6과 8 사이"의 경우를 7, "8과 10 사이"의 경우를 9로 하였다.
"백그라운드 반사"에 대해서는 "형광등이 선명하게 비치는" 경우를 1, "형광등의 엣지가 약간 흐릿해지는" 경우를 2, "형광등의 엣지가 흐릿해지는" 경우를 4, "형광등 전체가 흐려지지만, 전체상을 알 수 있는" 경우를 6, "형광등의 윤곽을 알 수 없는" 경우를 8, "전혀 비치지 않는" 경우를 10으로 하였다. 또한, "2와 4 사이"의 경우를 3, "4와 6 사이"의 경우를 5, "6과 8 사이"의 경우를 7, "8과 10 사이"의 경우를 9로 했다.
"기라츠키"에 대해서는, "현저한 기라츠키를 확인할 수 있는" 경우를 1, "한번 보는 것으로 기라츠키를 확인할 수 있는" 경우를 2, "기라츠키를 확인할 수 있는" 경우를 4, "약간 기라츠키를 확인할 수 있는" 경우를 6, "거의 기라츠키를 확인할 수 없는" 경우를 8, "기라츠키 없음"의 경우를 10으로 했다. 또한, "2와 4 사이"의 경우를 3, "4와 6 사이"의 경우를 5, "6과 8 사이"의 경우를 7, "8과 10 사이"의 경우를 9로 했다.
검증에 이용된 표면 거칠기 파라미터는 표 2~4에 나타내는 총 13종류이다.
하기 표 2에 나타내는 바와 같이, "높이 방향의 산, 계곡의 파라미터"로서는, "최대 산 높이(Rp)", "최대 계곡 깊이(Rv)", "최대 높이(Rz)", "평균 높이(Rc)", " 최대 단면 높이(Rt)", " 산술 평균 거칠기(Ra)"의 6개를 검증에 사용하였다. 하기 표 3에 나타내는 바와 같이, "높이 방향의 진폭 평균 파라미터"로서는, "제곱 평균 제곱근 높이(Rq)", "높이 방향의 특징 평균 파라미터"로서는, "스큐니스(skewness, 왜도)(Rsk)", "쿠르토시스(Kurtosis, 첨도)(Rku)"의 2개, "횡방향의 파라미터"로서는, "요소의 평균 길이(Rsm)", "복합 파라미터"로서는, "제곱 평균 제곱근 경사(RΔq)"를 검증에 사용했다. 또한, 하기 표 4에 나타내는 바와 같이, "부하 곡선·확률 밀도 함수의 파라미터"로서는, "부하 길이율(Rmr(c))", "윤곽 곡선의 절단 레벨차(Rδc)"의 2개를 검증에 사용하였다.
상기 표 2에 있어서, "최대 산 높이(Rp)"란, 기준 길이에서의 윤곽 곡선 중에서, 가장 높은 산의 높이를 나타낸 것이다. "최대 계곡 깊이(Rv)"란, 기준 길이에서의 윤곽 곡선 중에서, 가장 깊은 계곡의 깊이를 나타낸 것이다. "최대 높이(Rz)"란, 기준 길이에서의 윤곽 곡선 중에서, 가장 높은 산의 높이와 가장 깊은 계곡의 깊이의 합을 구하여, 나타낸 것이다. "평균 높이(Rc)"란, 기준 길이에서의 윤곽 곡선 요소의 높이의 평균값을 나타낸 것이다. 윤곽 요소란 이웃하는 산과 계곡을 한 그룹으로 한 것이다. "최대 단면 높이(Rt)"란, 평가 길이에서의 윤곽 곡선의 산 높이의 최대치와 계곡 깊이의 최대치의 합을 구하여, 나타낸 것이다. 또한, "산술 평균 거칠기(Ra)"란, 기준 길이에서의 Z(x) 절대치의 평균을 나타낸 것이다.
상기 표 3에 나타내는 바와 같이, "제곱 평균 제곱근 높이(Rq)"란, 기준 길이에서의 제곱 평균 제곱근을 나타낸 것이며, 표면 거칠기의 표준 편차를 의미한다. "스큐니스(Rsk)"란, 제곱 평균 제곱근 높이의 세제곱(3승)에 의해 무차원화된 기준 길이에서의 Z(x)의 세제곱 평균을 나타낸 것으로서, 스큐니스는 마찰과 관계가 깊은 파라미터이다. 왜곡도를 나타내고 있으며, 정규 분포라면 0, 마모면이라면 마이너스가 된다. 또한, "쿠르토시스(Rku)"란, 제곱 평균 제곱근 높이의 네제곱(4승)에 의해 무차원화된 기준 길이에서의 Z(x)의 네제곱 평균을 나타내는 것으로서, 쿠르토시스도 마찰과 관계가 깊은 파라미터이다. 뾰족도를 나타내고 있으며, 정규 분포라면 3이 된다. "요소의 평균 길이(Rsm)"란, 기준 길이에 윤곽 곡선 요소의 길이의 평균을 나타낸 것이다. "제곱 평균 제곱근 경사(RΔq)"란, 기준 길이에서의 국부 경사의 제곱 평균 제곱근을 나타낸 것이다.
또한, 상기 표 4에 나타내는 바와 같이, "부하 길이율(Rmr(c))"이란, 절단 레벨에서의 윤곽 곡선 요소의 부하 길이의 평가 길이에 대한 비율을 나타낸 것이다. "윤곽 곡선의 절단 레벨 차(Rδc)"란, 주어진 두 개의 부하 길이 비율과 일치하는 높이 방향의 절단 레벨의 차이를 나타내는 것이다.
다음으로, 검증에 사용한 평가 시료에 대하여 설명한다. 하기 표 5는, 검증에 사용한 평가 시료를 열거한 것이다. 하기 표 5에 나타내는 바와 같이, 34종류의 평가 시료(No.1∼34)를 사용하여, 각각 표면 거칠기의 평가를 실시하였다. 기재는 PET(폴리에틸렌·테레프탈레이트)와 TAC(트리아세틸셀룰로오스)의 2종류를 사용했다. 또한 블라스트재(材)에는 유리와 알루미나의 2종류를 사용하였다.
상기 표 5에 나타낸 34종류의 평가 시료와, 표 2~4에 나타낸 표면 거칠기 파라미터를 이용하여, 표면 거칠기의 평가를 실시한 결과, 하기 표 6에 나타내는 바와 같이, 표면 거칠기 파라미터와 외관 레벨의 상관 계수가 산출되었다. 하기 표 6에서는, 외관과, 입자경 및 13종류의 표면 거칠기 파라미터, 즉, "산술 평균 거칠기(Ra)", "제곱 평균 제곱근 높이(Rq)", "스큐니스(Rsk)", "쿠르토시스(Rku)", "최대 산 높이(Rp)", "최대 계곡 깊이(Rv)", "최대 높이(Rz)", "최대 단면 높이(Rt)", "평균 높이(Rc )", "요소의 평균 길이(Rsm)", "제곱 평균 제곱근 경사(RΔq)" "부하 길이율(Rmr(c))", "윤곽 곡선의 절단 레벨 차(Rδc)"의 상관 계수를 나타내고 있다.
또한, 하기 표 6 또는 7에서의 셀의 강조(색칠) 부분은, 비교적 상관성이 높은 것을 나타내고 있다.
상기 표 6에 나타내는 바와 같이, "최대 산 높이(Rp)"에 대해서는, Hz는 0.73, 흑도는 -0.7, 백그라운드 반사는 0.721로서, 모두 상관성이 높은 것으로 나타났다. 또한, "최대 단면 높이(Rt)"에 대해서는, Hz는 0.715, 흑도는 -0.7, 백그라운드 반사는 0.778, "제곱 평균 제곱근 경사(RΔq)"에 대해서는, Hz는 0.873, 흑도는 -0.744, 백그라운드 반사는 0.852로서, 모두 상관성이 높은 것으로 나타났다. 또한, "제곱 평균 제곱근 경사(RΔq)"는 경사각의 인자이며 경사각 θ와 상관 관계가 있다.
이상으로부터, 흑도와 백그라운드 반사(Hz)는 트레이드오프의 관계에 있고, 쌍방에 영향이 큰 RΔq와 Rp에서 밸런스를 취할 필요가 있다. 또한, Hz와 백그라운드 반사에는 강한 상관 관계가 있음을 알 수 있다. 그리고, 기라츠키에 대해서는, 블라스트 입자경과만 상관 관계가 나타났다.
도 7은 제곱 평균 제곱근 경사(RΔq)와 외관의 관계를 나타내는 그래프이고, (1)은 백그라운드 반사, (2)는 흑도에 관한 그래프를 나타내고 있다. 어느 것이든 세로축은 표 1에서 설명한 외관 기준이며, 가로축은 제곱 평균 제곱근 경사(RΔq)를 나타내고 있다.
도 7의 (1)에 나타낸 바와 같이, 제곱 평균 제곱근 기울기(RΔq)가 증가함에 따라, 백그라운드 반사가 감소하는 것을 알 수 있다. 또한, 도 7(2)에 나타내는 바와 같이, 제곱 평균 제곱근 경사(RΔq)의 증가에 따라, 흑도가 낮아지고 있는 것을 알 수 있다.
도 8은, 경사각과 외관의 관계를 나타내는 그래프이고, (1)은 백그라운드 반사, (2)는 흑도에 관한 그래프를 나타낸다. 어느 것이든 세로축은 표 1에서 설명한 외관 기준이며, 가로축은 경사각(°)을 나타내고 있다.
　도 8(1)에 나타난 바와 같이, 경사각의 증가에 따라, 백그라운드 반사가 감소하고 있는 것을 알 수 있다. 또한, 도 8(2)에 나타난 바와 같이, 경사각의 증가에 따라, 흑도가 저하하고 있는 것을 알 수 있다. 이와 같이, RΔq는 경사각의 인자이며, 경사각 θ와 상관이 있다.
도 9는, 최대 산 높이(Rp)와 외관의 관계를 나타내는 그래프이고, (1)은 백그라운드 반사, (2)는 흑도에 관한 그래프를 나타내고 있다. 어느 것이든 세로축은 표 1에서 설명한 외관 기준이며, 가로축은 최대 산 높이(Rp)를 나타내고 있다.
도 9(1)에 도시한 바와 같이, 최대 산 높이(Rp)의 증가에 따라, 백그라운드 반사가 감소하고 있는 것을 알 수 있다. 또한, 도 9(2)에 나타난 바와 같이, 최대 산 높이(Rp)의 증가에 따라, 흑도가 저하하고 있는 것을 알 수 있다.
도 10은, 입자경과 외관의 관계를 나타내는 그래프이고, (1)은 기라츠키, (2)는 흑도, (3)은 백그라운드 반사에 관한 그래프를 나타내고 있다. 어느 것이든 세로축은 표 1에서 설명한 외관 기준을 나타내고 있다.
도 10(1)에 나타난 바와 같이, 기라츠키에 대해서는, 입자경이 작아질수록 기라츠키가 저하되는 것을 알 수 있다. 이에 대해, 도 10(2) 또는 (3)에 도시된 바와 같이, 흑도나 백그라운드 반사에 관해서는, 기라츠키 정도의 입자경과의 상관성은 보이지 않는 것을 알 수 있다.
도 11은, 상이한 블라스트 입자를 사용한 경우의, 외관과 표면 거칠기 파라미터의 상관성을 나타내는 그래프이며, (1)은 흑도와 경사각, (2)는 백그라운드 반사와 경사각, (3)은 흑도와 최대 산 높이(Rp), (4)는 백그라운드 반사와 최대 산 높이(Rp)의 관계를 나타내고 있다. 사용한 블라스트 입자는, 어느 것이든 유리와 알루미나의 2종류이다.
도 11(2)에 나타낸 바와 같이, 백그라운드 반사와 경사각의 관계는, 사용한 블라스트 입자가 유리와 알루미나 중 어느 경우라도 거의 동등한 결과가 되었다. 또한, 도 11(4)에 나타난 바와 같이, 백그라운드 반사와 최대 산 높이(Rp)의 관계에 대해서도, 사용한 블라스트 입자가 유리와 알루미나 중 어느 경우라도 거의 동등한 결과가 되었다.
이에 대해, 도 11(1)에 나타낸 바와 같이, 흑도와 경사각의 관계는, 블라스트 입자로서 유리를 사용한 경우 쪽이, 알루미나를 사용한 경우보다도, 더 검다는 결과가 되었다. 또한, 도 11(3)에 나타낸 바와 같이, 흑도와 최대 산 높이 (Rp)의 관계는, 블라스트 입자로서 유리를 사용한 경우 쪽이, 알루미나를 사용한 경우보다, 더 검다는 결과가 되었다. 이는, 블라스트 입자에 따라 비중이 다르기 때문에 들어가는 깊이에 의한 차이가 있는 것으로 짐작된다. 이 경우, 유리와 알루미나에서는 유리 쪽이 깊게 들어가기 때문에 검게 보인다고 생각된다.
이상으로부터, 기라츠키에 대해서는, 요철 형상과의 상관성이 없고, 블라스트 입자경만 상관 관계가 보였다. 표면 거칠기의 파라미터 중에는 요철의 피치를 나타내는 파라미터로서 요소의 평균 길이(Rsm)가 존재하지만, 블라스트 후의 표면은 요철 형상이 몇층이나 겹쳐져 있기 때문에, Rsm이 블라스트 입자경을 단적으로 나타내지 않은 것으로 짐작된다.
또한, 흑도와 백그라운드 반사는, 거의 트레이드오프의 관계에 있고, 특히 표면 거칠기의 높이 방향 파라미터(경사각과 깊이)와의 상관 관계가 강하고, 입자경이 커질수록 흑도의 레벨이 향상되는 것을 알 수 있었다.
도 1은, 블라스트재(블라스트 재료)가 구형 비드라고 가정한 경우의 모식도이다. 도 2는, 본 발명의 안티글레어 필름의 요철 단면의 모식도이다. 블라스트 입자의 중심 입자경 D는 직경이며, D = 2R이다. 또한, 도 1 및 도 2에서, 지름 d, 깊이 h, 경사각 θ는 동일하다. 베이스 필름(기재) 상의 볼록면 수지층(AG층)은, 자외선 경화 수지를 사용하여 금형 표면의 요철이 전사 성형된 것이다.
　볼록면 수지층(AG층)의 랜덤 요철 형상의 구면상 볼록면의 직경 d의 범위는 8㎛ 미만, 깊이 h의 범위가 0.5㎛보다 크고 1㎛ 미만, 경사각 θ의 범위가 50°보다 크고 75° 미만의 범위가 되도록 제작하고 있다.
이하의 실시예에서는, 본 발명의 안티글레어 필름의 제작 방법의 일 실시형태에 대해 상세하게 설명한다.
[실시예 1]
도 3은, 안티글레어 필름의 제작 프로세스의 개념도를 나타내고 있다.
안티글레어 필름의 제작 프로세스에서는, 도시하지 않은 권출(卷出) 롤로부터 권출된 베이스 필름(10a)에 대하여, 상면을 롤(12), 하면을 롤(11)로 협지(挾持, sandwiched holding)함으로써, 롤(13)의 표면에서 롤(12)의 표면으로 반송(搬送)한 자외선 경화 수지를, 베이스 필름(10a)의 상면에 도포한다. 도포된 자외선 경화 수지는, 롤(11)과 롤상 금형(14)의 협지 부분에서 베이스 필름(10a)이 압압(押壓)되어, 롤상 금형(14)의 표면에 형성된 요철의 패턴과 동일한 패턴이 베이스 필름(10a)의 상면에 도포한 자외선 경화 수지에 형성된다. 롤상 금형(14) 표면의 패턴과 동일한 패턴이 형성된 자외선 경화 수지는, 베이스 필름(10a)의 하면에 형성된 UV 램프로부터 조사되는 자외선에 의해 경화된다. 이와 같이 하여 얻어진 베이스 필름(10a)은, 롤(15)에 의해 롤상 금형(14)으로부터 릴리스되고, 베이스 필름 상에 안티글레어층(AG층)이 형성된 코팅 필름(10b)이 된다.
여기서, 베이스 필름은, PET(폴리에틸렌·테레프탈레이트) 필름, TAC(트리아세틸셀룰로오스) 필름, COP(시클로올레핀 폴리머) 필름, 아크릴 수지 필름, 폴리카보네이트 수지 필름이 적절하게 사용될 수 있다.
이와 같이, 안티글레어 필름의 제작 프로세스는, 롤상 금형(14)을 이용하여, 투명 기재의 베이스 필름 표면에 도포한 자외선 경화 수지를 전사 성형하고, 전사 성형한 자외선 경화 수지에 자외선을 조사하여 경화시켜서, 베이스 필름 표면에 미세한 요철 형상의 수지층을 형성시킨다.
롤상 금형(14)은, 블라스트 입자를 충격하여 제작된다.
롤상 금형에 블라스트 입자를 충격할 때의 블라스트 입자는, 금속 산화물 입자(예를 들면 SiO2 나 Al2O3 등)로, 거의 진구(眞球)인 것을 사용하고, 그 중심 입자경 D는 20㎛ 미만으로 조제(調劑)한다. 블라스트 입자의 중심 입자경 D가 20㎛ 이상이면, 롤상 금형 표면의 구형 요철면의 지름이 8㎛보다 커지기 쉬운 경향이 있어서, 목적으로 하는 안티글레어 필름 표면의 구상 요철면의 지름을 작고 균일하게 하기가 어렵다.
도 4~6은, 블라스트 입자경과 롤상 금형에 있어서의 구면상 오목면의 직경 d의 상관 관계, 깊이 h의 상관 관계, 경사각 θ의 상관 관계를 나타내는 그래프를 각각 나타내고 있다. 각각의 그래프에서는, 헤이즈(Hz)가 10%, 30%인 것을 플롯(plot)하고 있다. 헤이즈는 블라스트의 압력, 노즐 지름, 블라스트 입자의 종류에 따라 조정하고 있다.
각종 측정에 이용한 측정 장치의 정보를 이하에 나타낸다.
상(像) 선명도의 측정에는, 스가 시험기의 사상성(寫像性) 측정기(모델 넘버: ICM-1T) 슬릿 폭 1mm를 사용하였다. 또한, 헤이즈의 측정에는, 스가 시험기의 헤이즈 미터(모델 넘버 Hz-2)를 이용했다. 또한, 기라츠키의 평가는, 육안으로 확인을 수행했다.
블라스트 입자 지름을 20㎛ 미만으로 하여 롤상 금형을 제작하고, 상술한 제작 방법을 이용하여, 헤이즈(Hz)값이 10%, 30%의 2종류인 필름이고, 또한, 기라츠키가 저감된 필름을 제작하고, 그들의 특성을 측정한 결과를 도 4~6 에 나타낸다.
우선, 롤상 금형에서의 구면상 오목면의 지름 d는, 도 4의 그래프에 나타낸 바와 같이, 블라스트 입자의 중심 입자경 D가 20㎛ 미만인 경우, 헤이즈(Hz) 10%에서는 6㎛ 미만이며, 헤이즈(Hz) 30%에서는 7㎛ 미만이다.
이로부터, 블라스트 입자경이 20㎛ 미만인 경우, 기라츠키가 저감된 필름 제작에 적합한 롤상 금형에 있어서의 구면상 오목면의 직경 d의 범위는 8㎛ 미만인 것을 알 수 있다.
다음으로, 롤상 금형에서의 구면상 오목면의 깊이 h는, 도 5의 그래프에 나타낸 바와 같이, 블라스트 입자의 중심 입자경 D가 20㎛ 미만인 경우, 헤이즈(Hz) 10%에서는 2㎛ 미만이고, 헤이즈(Hz) 30%에서는 2.7㎛ 미만이다.
이로부터, 블라스트 입자경이 20㎛ 미만인 경우, 기라츠키가 저감된 필름 제작에 적합한 롤상 금형에 있어서의 구면상 오목면의 깊이 h의 범위는 2.7㎛ 미만인 것을 알 수 있다.
또한, 롤상 금형에서의 구면상 오목면의 경사각 θ는, 도 6의 그래프에 나타난 바와 같이, 블라스트 입자의 중심 입자경 D가 20㎛ 미만인 경우, 헤이즈(Hz) 10%에서는 34°이상이고, 헤이즈(Hz) 30%에서는 38°이상으로 되어 있다.
블라스트 입자경이 20㎛ 미만인 경우, 기라츠키가 저감된 필름 제작에 적합한 롤상 금형에서의 구면상 오목면의 경사각 θ의 범위는 33°이상인 것을 알 수 있다. 구면상 오목면의 경사각 θ의 범위는 35°보다 큰 것을 알 수 있다.
[실시예 2]
다음으로, 하기 표 7에 나타난 No. 35~No. 43의 9개의 시료를 사용하여, 시료 표면의 휘도 측정을 수행하고, 기라츠키의 평가를 수행하였다. 도 12는, 각 시료의 1000배의 표면 사진 화상과 Ra(산술 평균 거칠기)를 나타내고 있다. 또한, 하기 표 7은, 각 시료의 상세 데이터를 나타내고 있고, No. 35~No. 43의 9개의 시료의 기재로서는, 모두 PET를 사용하고, 블라스트재로서, 유리 입자, 세라믹 입자, 알루미나 입자의 3종류를 사용하였다. 또한, 블라스트재의 품번(品番)에 관해서는, 유리는 주식회사 유니온제(製, made by), 세라믹은 산고반 주식회사제, 알루미나는 닛테츠 케미컬·머티리얼 주식회사제이다.
또한, 도 12에 No. 35~No. 43의 9개의 시료에서의 표면의 확대 사진(1000배로 확대)과 Ra(산술 평균 거칠기)를 나타낸다.
No. 35의 시료는, 중심 입자경이 82㎛인 유리 입자를 블라스트재로서 사용한 것이며, Ra(산술 평균 거칠기)가 0.38㎛, 헤이즈(Hz)가 75%이다.
No. 36의 시료는, 중심 입자경이 84㎛인 유리 입자를 블라스트재로서 사용한 것이며, Ra(산술 평균 거칠기)가 1.09㎛, 헤이즈(Hz)가 74%이다.
No. 37의 시료는 중심 입자경이 45㎛인 유리 입자를 블라스트재로서 사용한 것이며, Ra(산술 평균 거칠기)가 0.79㎛, 헤이즈(Hz)가 5%이다.
No. 38의 시료는 중심 입자경이 45㎛인 유리 입자를 블라스트재로서 사용한 것이며, Ra(산술 평균 거칠기)가 0.40㎛, 헤이즈(Hz)가 50%이다.
No. 39의 시료는 중심 입자경이 94㎛인 세라믹 입자를 블라스트재로서 사용한 것이며, Ra(산술 평균 거칠기)가 1.36㎛, 헤이즈(Hz)가 79%이다.
No. 40의 시료는 중심 입자경이 46㎛인 세라믹 입자를 블라스트재로서 사용한 것이며, Ra(산술 평균 거칠기)가 0.38㎛, 헤이즈(Hz)가 52%이다.
No. 41의 시료는 중심 입자경이 17㎛인 알루미나 입자를 블라스트재로서 사용한 것이며, Ra(산술 평균 거칠기)가 0.18㎛, 헤이즈(Hz)가 34%이다.
No. 42의 시료는 중심 입자경이 20㎛인 알루미나 입자를 블라스트재로서 사용한 것이며, Ra(산술 평균 거칠기)가 0.35㎛, 헤이즈(Hz)가 68%이다.
No. 43의 시료는 중심 입자경이 35㎛인 알루미나 입자를 블라스트재로서 사용한 것이며, Ra(산술 평균 거칠기)가 0.32㎛, 헤이즈(Hz)가 68%이다.
하기 표 8~12는, 화면 사이즈나 화소 밀도가 상이한 액정 패널을 이용한 경우에 있어서의 각각의 액정 패널 상에 No. 35~No. 43의 각 시료를 겹쳐 놓았을 때의 기라츠키 정도의 평가 결과를 나타내고 있다. 상술한 No. 35~No. 43의 각 시료를 액정 패널 상에 설치하고, 휘도를 측정하여 기라츠키의 평가를 실시하였다. 평가는, No. 35~No. 43개의 9개의 시료에 대해, 각각으 측정마다 측정 장소를 바꾸어, 1~9의 총 9회의 휘도 측정을 행하고, 그 휘도치(cd：칸델라)의 평균이 합격 기준내인지 아닌지로 기라츠키의 평가를 실시했다. 휘도치는, 값이 클수록 기라츠키가 강하고, 값이 작을수록 기라츠키가 약하다고 할 수 있다. "기라츠키"의 항목에 대해서는, 합격 기준인 2cd를 초과하는 것을 NG라고 판정하고, 2cd 이하인 것을 OK라고 판정했다.
또한, 휘도 측정에는 코니카 미놀타 주식회사제의 이미징 휘도계 ProMetric 을 사용하였다.
하기 표 8은, 태블릿 단말의 액정 패널을 사용한 경우의 기라츠키의 평가 결과를 나타내고 있다. 여기서 사용한 태블릿 단말의 액정 패널은, 화면 사이즈 10.1인치, 화면 해상도는 800×1280픽셀, 화소 밀도(ppi: pixel per inch)는 149ppi이다.
상기 표 8에 나타낸 바와 같이, No. 35의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 1.6cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 36의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 1.8cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 37의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 1.1cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 38의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 1.0cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 39의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 0.9cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 40의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 1.3cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 41의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 1.0cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 42의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 0.7cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 43의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 0.7cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다.
이상으로부터, 액정 패널의 화면 사이즈가 약 10 인치이고, 화소 밀도(ppi )가 약 150인 경우에는, 모든 시료(No.35~No.43)에 대해, 기라츠키 평가는 OK인 것을 알 수 있었다.
다음으로, 액정 패널의 장면 사이즈를 더 작게 하고, 화면 밀도를 높인 경우에, 시료(No.35∼No.43)의 기라츠키 평가가 어떻게 되는지를 조사했다.
하기 표 9는 태블릿 단말기의 액정 패널을 사용한 경우의 기라츠키의 평가 결과를 나타내고 있다. 평가에 사용한 태블릿 단말의 액정 패널은, 화면 사이즈 7.0인치, 화면 해상도는 600×1024픽셀, 화소 밀도는 170ppi이다.
상기 표 9에 나타낸 바와 같이, No. 35의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 2.7cd이며, 기라츠키 평가는 NG로 판정되었다. No. 36의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 3.2cd이며, 기라츠키 평가는 NG로 판정되었다. No. 37의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 2.0cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 38의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 1.6cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 39의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 1.3cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 40의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 1.9cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 41의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 1.2cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 42의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 1.3cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 43의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 1.4cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다.
이상으로부터, 액정 패널의 화면 사이즈가 약 7 인치이고, 화소 밀도(ppi)가 약 170인 경우에는, No. 35 및 No. 36의 시료에 대해서는 기라츠키 평가가 NG이고, 기라츠키가 저감하지 않았지만, No. 37~No. 43의 시료에 대해서는 기라츠키 평가가 OK이고, 기라츠키가 저감한 것을 알 수 있었다.
다음으로, 액정 패널의 장면 사이즈가 더 크고, 화소 밀도(ppi)가 작은 경우에, 시료(No.35∼No.43)의 기라츠키 평가가 어떻게 되는지를 조사했다.
하기 표 10은, 노트북 PC 단말의 액정 패널을 사용한 경우의 기라츠키의 평가 결과를 나타낸다. 여기서 사용한 노트북 PC의 액정 패널은, 화면 사이즈 15.6인치, 화면 해상도는 1080×1920픽셀, 화소 밀도는 141ppi이다.
상기 표 10에 나타낸 바와 같이, No. 35의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 4.8cd이며, 기라츠키 평가는 NG로 판정되었다. No. 36의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 5.1cd이며, 기라츠키 평가는 NG로 판정되었다. No. 37의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 1.5cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 38의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 2.0cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 39의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 4.6cd이며, 기라츠키 평가는 NG로 판정되었다. No. 40개의 시료에 대해, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 2.4cd이며, 기라츠키 평가는 NG로 판정되었다. No. 41의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 1.1cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 42의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 1.2cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 43의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 1.4cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다.
이상으로부터, 액정 패널의 화면 사이즈가 약 15인치로 크고, 화소 밀도(ppi)가 약 140으로 작은 경우에는, No. 35, No. 36, No. 39 및 No. 40의 시료에 대해서는 기라츠키 평가가 NG이고, 기라츠키가 저감하지 않았지만, No. 37, No. 38, No. 41~No. 43의 시료에 대해서는 기라츠키 평가가 OK이고, 기라츠키가 저감한 것을 알 수 있었다.
이로부터, 액정 패널의 화면 사이즈와 픽셀 밀도에 따르지만, No. 37, No. 38, No. 41~No. 43개의 시료가 기라츠키 특성이 우수하고, 공통되는 점은, 블라스트재로서 사용한 입자의 중심 입자경이 다른 것과 비교하여 작은 것이다. 구체적으로는, 중심 입자경이 45㎛ 이하로 되어 있었다. 또한, 도 12에 나타내는 시료의 Ra(산술 평균 거칠기)의 대소(大小)와 기라츠키의 상관관계는 보이지 않고, 이 점은, 상술한 표 6에 나타나는 내용과 일치하고 있는 것을 확인할 수 있었다.
다음으로, 액정 패널이 투명 편광판을 구비하는 경우(표 11)와 터치 패널을 구비하는 경우(표 12)에 대해서, 마찬가지로, 액정 패널 상에 No. 35~No. 43의 각 시료를 겹쳐 놓았을 때의 기라츠키 정도를 조사하였다.
하기 표 11은 노트북 PC 단말의 액정 패널을 사용한 경우의 기라츠키의 평가 결과를 나타내고 있다. 여기서 사용된 노트북 PC 단말의 액정 패널은, 화면 사이즈 15.6 인치, 편광판 클리어로 되어 있다.
상기 표 11에 나타낸 바와 같이, No. 35의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균치는 4.6cd이며, 기라츠키 평가는 NG로 판정되었다. No. 36의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 4.7cd이며, 기라츠키 평가는 NG로 판정되었다. No. 37의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 1.3cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 38의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 2.1cd이고, 기라츠키 평가는 NG로 판정되었다. No. 39개의 시료에 대해, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 4.3cd이며, 기라츠키 평가는 NG로 판정되었다. No. 40개의 시료에 대해, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 2.4cd이며, 기라츠키 평가는 NG로 판정되었다. No. 41의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 1.0cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 42의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 1.2cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 43의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 1.5cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다.
이상으로부터, No. 35, No. 36, No. 38~No. 40의 시료에 대해서는 기라츠키 평가가 NG였지만, No. 37, No. 41~No. 43의 시료에 대해서는 기라츠키 평가가 OK이고, 기라츠키가 저감한 것을 알 수 있었다. 또한, No. 38의 시료에 대해서는, 기라츠키 평가가 NG로 판정되어 있지만, 이것은 합격 기준을 2.0cd 이하로 했기 때문이며, 합격 기준에 가까운 측정 결과가 나와있다고 할 수 있다.
하기 표 12는, 노트북 PC 단말의 액정 패널을 사용한 경우의 기라츠키의 평가 결과를 나타낸다. 여기서 사용된 노트북 PC의 액정 패널은, 화면 크기가 13.0 인치이고, 터치 패널이 부착된 것이다.
상기 표 12에 나타낸 바와 같이, No. 35의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 3.2cd이며, 기라츠키 평가는 NG로 판정되었다. No. 36의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 3.5cd이며, 기라츠키 평가는 NG로 판정되었다. No. 37의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 1.2cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 38의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 1.4cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 39의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 1.8cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 40의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 1.9cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 41의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 0.9cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 42의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 1.0cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다. No. 43의 시료에 대해서, 총 9회의 휘도 측정의 평균값은 1.1cd이며, 기라츠키 평가는 OK로 판정되었다.
이상으로부터, 액정 패널이 터치 패널을 구비하는 경우에 대해서는, No. 35, No. 36의 시료에 대해서는 기라츠키 평가가 NG였지만, No. 37~No. 43의 시료에 대해서는 기라츠키 평가가 OK인 것을 알 수 있었다.
이상의 결과를 정리하면, No. 35, No. 36, No. 39 및 No. 40의 시료 이외의 No. 37, 38, 41~43의 시료에서는, 중심 입자경이 45㎛ 이하인 블라스트 입자를 이용하고 있고, 그 결과, 기라츠키 평가가 OK이며, 기라츠키의 개선을 도모하고 있는 것을 알 수 있다. 즉, 블라스트재나 헤이즈가 동일한 경우, 블라스트 입경이 작은 쪽이 어떤 액정 패널에 있어서도 기라츠키는 작게 되어 개선되는 경향이 있다고 할 수 있다.
본 발명은 방현 필름으로서 유용하다.
10a 베이스 필름
10b 코팅 필름
11,12,13,15 롤
14 롤상 금형

Claims (13)

  1. 랜덤 요철 형상면을 갖고, 상기 랜덤 요철 형상면에 있어서의 구면상 볼록면의 높이 h가 0.5㎛보다 크고 1㎛ 미만, 경사각 θ가 50°보다 크고 75° 미만이며, 지름 d가 8㎛ 미만인 것을 특징으로 하는 안티글레어 필름.
  2. 제1항에 있어서, 상기 지름 d가 3㎛ 미만인 것을 특징으로 하는 안티글레어 필름.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 높이 h가 0.6㎛보다 크고 0.9㎛ 미만인 것을 특징으로 하는 안티글레어 필름.
  4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 경사각 θ가 50°보다 크고 60°미만인 것을 특징으로 하는 안티글레어 필름.
  5. 랜덤 요철 형상면을 갖고, 상기 랜덤 요철 형상면에 있어서의 구면상 볼록면의 높이 h가 0.5㎛보다 크고 1㎛ 미만, 경사각 θ가 50°보다 크고 75° 미만이며, 지름 d가 8㎛ 미만인 것을 특징으로 하는 확산 시트.
  6. 투명 기재 표면에 자외선 경화 수지를 도포하는 스텝과,
    블라스트 입자를 충격시켜서 표면이 요철 형상인 롤상 금형을 제작하는 스텝과,
    상기 롤상 금형을 이용하여 상기 투명 기재 표면에 도포한 자외선 경화 수지를 전사 성형하는 스텝과,
    전사 성형한 자외선 경화 수지에 자외선을 조사하여 경화시켜서, 상기 투명 기재 표면에 미세한 요철 형상을 형성시키는 스텝,
    을 포함하는 방법에 있어서,
    상기 블라스트 입자의 중심 입자경 D를 소정값 이하로 함으로써, 상기 투명 기재 표면의 기라츠키를 저감하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 제작 방법.
  7. 제6항에 있어서, 상기 블라스트 입자의 중심 입자경 D가 45㎛ 이하인 것을 특징으로 하는 광학 필름의 제작 방법.
  8. 제6항에 있어서, 상기 블라스트 입자의 중심 입자경 D가 20㎛ 미만인 것을 특징으로 하는 광학 필름의 제작 방법.
  9. 제6항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 롤상 금형은,
    상기 요철 형상의 구면상 오목면의 지름 d가 8㎛ 미만, 깊이 h가 0.5㎛보다 크고 1㎛ 미만, 경사각 θ가 50°보다 크고 75° 미만인 것을 특징으로 하는 광학 필름의 제작 방법.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 지름 d가 3㎛ 미만이며,
    상기 깊이 h의 범위가 0.6㎛보다 크고 0.9㎛ 미만이며,
    상기 경사각 θ의 범위가 50°보다 크고 60°미만인,
    것을 특징으로 하는 광학 필름의 제작 방법.
  11. 제6항 내지 제10항 중의 어느 한 항에 있어서,
    상기 투명 기재 표면에 있어서의 최대 산 높이(Rp), 최대 높이(Rz), 최대 단면 높이(Rt), 제곱 평균 제곱근 경사(RΔq) 중 적어도 어느 하나의 표면 거칠기 파라미터를 제어하여, 상기 투명 기재 표면의 헤이즈를 높이고, 백그라운드 반사를 저감한 것을 특징으로 하는 광학 필름의 제작 방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 투명 기재 표면에 있어서의 산술 평균 거칠기(Ra), 제곱 평균 제곱근 높이(Rq), 평균 높이(Rc), 윤곽 곡선의 절단 레벨차(Rδc) 중 적어도 어느 하나의 표면 거칠기 파라미터를 제어하여, 상기 투명 기재 표면의 백그라운드 반사를 저감 한 것을 특징으로 하는 광학 필름의 제작 방법.
  13. 제11항에 있어서,
    상기 투명 기재 표면에 있어서의 산술 평균 거칠기(Ra), 평균 높이(Rc), 윤곽 곡선의 절단 레벨차(Rδc)의 3가지 표면 거칠기 파라미터를 제어하여, 상기 투명 기재 표면의 헤이즈, 흑도, 백그라운드 반사를 조절하는 것을 특징으로 하는 광학 필름의 제작 방법.
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