TWI574461B - 用於測試的接觸裝置和測試插座 - Google Patents

Description

用於測試的接觸裝置和測試插座

本申請案主張2014年7月17日在韓國智慧財產權局遞交的第10-2014-0090347號韓國專利申請案的權益，所述申請案的揭示內容以引用的方式全文併入本文中。

一或多個示例性實施例涉及一種用於測試的接觸裝置和電力測試插座，並且更確切地說涉及一種經配置以被外殼的內壁最低限度地磨損的並且因此具有長使用期限的用於測試的接觸裝置和電力測試插座。

一般來說，裝置與檢查設備之間的穩定電連接在檢查裝置的電力特徵時是必要的。為此目的，電力測試插座通常用於將檢查設備連接到待檢查的裝置。

此類電力測試插座的功能是將裝置的終端連接到檢查設備的墊片以允許裝置與檢查設備之間的電信號的雙向傳輸。電力測試插座的實例包含使用導電橡膠部分作為觸點的導電橡膠類型插座以及使用金屬頂針和彈簧作為接觸單元的彈簧式頂針類型插座。此類導電橡膠類型插座的彈性導電部分連接到待檢查的裝置的終端。此類彈簧式頂針類型插座的金屬頂針連接到待檢查的裝置的終端，並且當裝置連接到彈簧式頂針類型插座時彈簧吸收機械衝擊。

在現有技術的此類電力測試插座當中，由安置在圓筒中的金屬頂針和彈簧構成彈簧式頂針類型插座是相對昂貴的。因此，已經研發出使用便宜的板類型金屬頂針的插座，如圖1到圖5中所示。

使用此類便宜的板類型金屬頂針的電力測試插座的一個實例在圖1和圖2中說明。參考圖1和圖2，示例性電力插座包含兩個相同的接觸頂針2和一個螺旋彈簧3。接觸頂針2中的每一個包含鉤狀突出物4、掛鉤孔5、凸緣6和頂針尖端2A。鉤狀突出物4的數目是兩個並且面向彼此，並且支撐杆4A支撐鉤狀突出物4。兩個鉤狀突出物4位於接近彼此處但是彼此分開。掛鉤孔5形成用於與鉤狀突出物4耦合。為此目的，掛鉤孔5具有對應於鉤狀突出物4的寬度的矩形形狀。因此，如果兩個接觸頂針2以其間的90°的扭轉角在相互面對的方向上耦合在一起，那麼兩對鉤狀突出物4鉤在彼此上並且因此不會彼此分離。凸緣6與螺旋彈簧3接觸。由於兩個接觸頂針2以90°的扭轉角在螺旋彈簧3中耦合到彼此，螺旋彈簧3的兩端接觸凸緣6。以此方式，接觸單元1以堆疊方式形成。頂針尖端2A形成於接觸單元1的兩端上，其中兩個接觸頂針2以堆疊方式耦合在一起，並且可以使例如電極等部分與頂針尖端2A接觸以用於形成電連接。

另外，現有技術的示例性電力測試插座公開於第10-1310672號韓國專利中，如圖3到圖5中所說明。具體來說，所公開的電力測試插座主要包含電路板15、下部外殼16、上部外殼17、框架（未示出）、導向板19和接觸單元20。

接觸單元20中的每一個包含：第一柱塞，其具有板形狀並且與部件接觸；第二柱塞63，其具有板形狀，第二柱塞63與第一柱塞重疊並且與具有較大接觸面積的另一部件接觸使得所述部件可以通過第一柱塞和第二柱塞63電連接；壓縮磁碟簧64，其以某種狀態組合第一柱塞和第二柱塞63，其中第一柱塞和第二柱塞63的接觸截面（用於接觸的區域）面向相反方向，壓縮磁碟簧64圍繞第一柱塞和第二柱塞63的耦合部分並且與第一柱塞和第二柱塞63的彈簧支撐部分接觸以便允許第一柱塞和第二柱塞63相對於彼此滑動。

第一柱塞是單個的，並且第二柱塞63的數目是兩個（相反的情況也是可能的）。具有板形狀的第一柱塞的耦合部分安置在具有板形狀的第二柱塞63的耦合部分之間。第一柱塞的耦合部分比第二柱塞63的耦合部分更寬，並且壓縮磁碟簧64的兩端的內徑等於或小於彼此重疊的第一柱塞和第二柱塞63的耦合部分的截面的外切圓的直徑。

然而，在如圖1到圖5中所示的此類電力測試插座中，板形狀柱塞與外殼的穿孔的內壁摩擦接觸，由此造成外殼的磨損。也就是說，由於具有矩形截面的板形狀柱塞安置在外殼的圓形穿孔中，而板形狀柱塞豎直地滑動，所以板形狀柱塞的銳緣可以接觸並且損壞外殼的穿孔的內壁。

為了解決這一點，具有矩形截面形狀的穿孔可以形成於外殼中。然而，在外殼中形成矩形孔比在外殼中形成圓形孔成本更高，由此增加了製造成本。

此外，如果矩形孔形成於外殼中以用於便宜的板形狀柱塞，那麼外殼可能無法連同現有彈簧式頂針一起使用。 [現有技術文檔] （專利文檔1）第10-1310672號韓國專利

一或多個示例性實施例包含用於測試的接觸裝置和電力測試插座，當接觸裝置在外殼的穿孔中豎直地滑動時所述接觸裝置並不會過度地磨損或損壞外殼。

另外的方面將部分地在以下描述中得到闡述，並且部分地將從描述中顯而易見，或者可以通過對所呈現的實施例的實踐習得。

根據一或多個示例性實施例，提供用於測試的接觸裝置，所述接觸裝置經配置以插入到形成於對應於測試目標裝置的終端的位置處的外殼的圓形穿孔中的一個中以用於將測試目標裝置的終端電連接到檢查設備的墊片，所述接觸裝置包含： 第一板部件，其包含第一探針部分以及從所述第一探針部分中向上延伸的第一接觸部分，其中探針形成於第一探針部分的下端上； 一對第二板部件，所述第二板部件與安置在其間的第一板部件彼此分開，所述第二板部件中的每一個包含第二探針部分以及從所述第二探針部分向下延伸並且與第一接觸部分表面接觸的第二接觸部分，其中探針形成於第二探針部分的上端上，並且所述第二探針部分具有預定寬度並且向下延伸；以及 彈簧，其圍繞第一接觸部分以及第二接觸部分的重疊區域並且以相對可滑動的方式支撐第一板部件以及第二板部件， 其中第二突出部分形成於第二探針部分的一側上面向穿孔的內壁，以便填充穿孔的內壁與第二探針部分的側面之間的間隙的至少一部分，並且 第二突出部分的水平截面具有由矩形形狀的圓化轉角所形成的圓頂形狀，並且圓化轉角接觸穿孔的內壁，使得第二突出部分與穿孔的內壁在至少兩個位置處接觸。

第二突出部分的寬度可以比第二探針部分的寬度更窄。

第二探針部分的轉角可以是圓化的。

可以使第二探針部分與測試目標裝置的終端接觸。

根據一或多個示例性實施例，電力測試插座包含：接觸裝置；以及外殼，其在對應於測試目標裝置的終端處包含穿孔，其中所述穿孔一個圓形截面。

如上文所述，根據示例性實施例，由於接觸裝置的第二板部件具有對應於外殼的圓形穿孔的形狀，所以當接觸裝置在外殼的穿孔中豎直地滑動時，接觸裝置可以最低限度地磨損外殼。

現在將詳細參考實施例，所述實施例的實例在附圖中圖示出，其中在全文中相同的參考標號指代相同的元件。就這一點而言，本實施例可以具有不同形式並且不應被解釋為限於本文中所闡述的描述。因此，示例性實施例僅通過參考圖式在下文中進行描述以說明本說明書的各方面。如本文中所使用，術語“和/或”包含相關聯的所列專案中的一或一個以上的任何和所有組合。例如“中的至少一個”等表述當在元件列表之前時修飾元件的整個列表而不是修飾列表的個體元件。

在下文中，將參考附圖根據示例性實施例詳細地描述用於測試的接觸裝置。

参考图6和图7。根據一個示例性實施例，用於測試的接觸裝置110用於將測試目標裝置（未示出）的終端電連接到檢查設備（未示出）的襯墊。為此目的，接觸裝置110可以插入到在對應於測試目標裝置的終端處形成於外殼（未示出）中的穿孔（未示出）中。術語“測試目標裝置”可以指半導體裝置，例如，具有積體電路的裝置。舉例來說，術語“測試目標裝置”可以指具有佈置在其下表面上的多個球形終端的半導體裝置。然而，術語“測試目標裝置”並不限於此。舉例來說，術語“測試目標裝置”可以指任何種類的半導體裝置。

接觸裝置110包含第一板部件120、一對第二板部件130和彈簧140。

第一板部件120包含：第一探針部分121，其具有位於其一端上的探針；以及第一接觸部分122，其從第一探針部分121向上延伸。可以使第一板部件120的一端與檢查設備的墊片接觸。然而，本發明的實施例並不限於此。舉例來說，可以使第一板部件120與測試目標裝置的終端接觸。第一板部件120安置在第二板部件130的對之間。

第一板部件120可以由導電材料通過研磨過程、按壓過程或使用微機電系統（microelectromechanical system，MEMS）和光刻的過程形成。舉例來說，第一板部件120可以由鎳合金或具有較高程度的導電率的任何其它材料形成。

第一探針部分121包含：位於其一端上的尖的舌部；具有預定寬度（大於彈簧140的內徑）的從舌部向上延伸的區域；以及形成於上端上以支撐彈簧140的鄂部。

第一接觸部分122從第一探針部分121向上延伸。第一接觸部分122安置在第二板部件130之間與第二板部件130接觸。也就是說，第一接觸部分122的兩側與第二板部件130的側面接觸使得第一接觸部分122可以電連接到第二板部件130。彈簧140圍繞第一接觸部分122安置。為此目的，第一接觸部分122的寬度可以小於彈簧140的內徑。

第二板部件130提供為一對並且通過安置在其間的第一板部件120彼此分開。第二板部件130中的每一個包含：第二探針部分131，其具有位於其一端上的探針；第二探針部分131具有預定寬度並且向下延伸；以及第二接觸部分133，其從第二探針部分131向下延伸並且與第一接觸部分122表面接觸。

類似於第一板部件120，第二板部件130可以由導電材料通過研磨過程、按壓過程或使用MEMS和光刻的過程形成。舉例來說，第二板部件130可以由鎳合金或具有較高程度的導電率的任何其它材料形成。

第二板部件130中的每一個的第二探針部分131包含：形成於其上端上的多個尖的部分；以及具有預定寬度（大於彈簧140的內徑）並且從尖的部分向下延伸的主體。

第二突出部分132提供在第二探針部分131的側面上面向外殼的穿孔的內壁以便填充外殼的穿孔的內壁與第二探針部分131的側面之間的間隙的至少部分。第二突出部分132的寬度比第二探針部分131的寬度更窄。第二突出部分132的水平截面可以具有半圓形形狀、或由矩形形狀的圓化轉角所形成的圓頂形狀。尖的舌部可以從第二突出部分132中的每一個的上端向上延伸以用於與測試目標裝置的終端接觸。

另外，第二突出部分132和第二探針部分131可以位於假想的圓形內部，並且第二突出部分132或第二探針部分131的至少一部分可以觸碰假想圓形。也就是說，當第二突出部分132和第二探針部分131安置在外殼內部時，第二突出部分132和第二探針部分131可以其間的較大接觸面積或在盡可能多的位置處接觸外殼。具體來說，第二突出部分132的圓化轉角接觸外殼的穿孔的內壁，使得第二突出部分132中的每一個的至少兩個位置（圓化轉角）可以與外殼的穿孔的內壁接觸。另外，第二探針部分131的轉角可以接觸外殼的穿孔的內壁。以此方式，由於第二突出部分132和第二探針部分131與外殼的內壁表面接觸或與外殼的內壁的許多位置接觸，所以施加到外殼的力可以最佳地分佈。也就是說，力可以不局部地施加到外殼。類似於第二突出部分132，第二探針部分131的轉角可以是圓化的。

第二接觸部分133從第二探針部分131向下延伸並且與第一接觸部分122的側面接觸以用於與第一接觸部分122電連接。第二接觸部分133插入到彈簧140中。為此目的，第二接觸部分133的寬度可以小於彈簧140的內徑。

彈簧140圍繞第一接觸部分122和第二接觸部分133的重疊區域使得第一板部件120和第二板部件130可以相對可滑動的方式得到支撐。在彈簧140的上端和下端由第二探針部分131和第一探針部分121支撐的狀態下，彈簧140圍繞第一接觸部分122和第二接觸部分133使得第一探針部分121和第二探針部分131可以在後退方向上彈性地偏置。

示例性實施例的接觸裝置110可以具有以下可操作效應。

首先，接觸裝置110安置在檢查設備上，並且測試目標裝置移動到接觸裝置110以使測試目標裝置的終端與接觸裝置110接觸。

具體來說，測試目標裝置移動以使測試目標裝置的終端與第二板部件130的對接觸。當測試目標裝置移動並且使第二板部件130與測試目標裝置的終端接觸時，第二板部件130向下滑動，並且彈簧140彈性地支撐第二板部件130。當第二板部件130如上文所述滑動時，第二板部件130在盡可能多的部分處與外殼的穿孔的內壁接觸，並且因此外殼的穿孔的內壁可以較少地被擦傷或損壞。

舉例來說，即使外殼的穿孔具有圓形形狀，由於與外殼的穿孔的內壁接觸的第二板部件130的部分是圓化的，所以外殼可以最低限度地被損壞。

如上文所述，根據所述示例性實施例，即使外殼的穿孔具有圓形形狀，外殼的穿孔的內壁也可能被第一板部件120和第二板部件130最低限度地磨損。

一個示例性實施例可以提供電力測試插座100，所述電力測試插座包含接觸裝置110和外殼，在所述外殼中穿孔形成於測試目標裝置的對應的終端的位置處。

接觸裝置110是一個實例。也就是說，本發明的實施例不限於接觸裝置110。舉例來說，接觸裝置110可以如圖8和圖9中所示得到修改。

在上述示例性實施例中，第二突出部分132中的每一個的上端具有單個尖的舌部。然而，本發明的實施例並不限於此。舉例來說，如圖8中所示，多個尖的舌片可以形成於第二突出部分232的上端上，並且第二突出部分232可以放置在第二探針部分231的一側上。

另外，如圖9中所示，具有橢圓形形狀的第二突出部分332可以形成於第二探針部分331的一側上並且可以從第二探針部分331的兩個橫向邊緣中突出。

在上述示例性實施例中，第二突出部分132、232或332形成於第二探針部分131、231或331上。然而，本發明的實施例並不限於此。舉例來說，第一突出部分可以形成於第一探針部分121上。

應理解，本文中所描述的示例性實施例應該被認為僅具有描述性意義，而非出於限制的目的。每個示例性實施例內的特徵或方面的描述應通常被視為可用於其它示例性實施例中的其它相似特徵或方面。

儘管已參考圖式描述了一或多個示例性實施例，但所屬領域的技術人員應理解，可以在不脫離如所附申請專利範圍所界定的發明概念的精神和範圍的情況下在其中在形式和細節上做出各種改變。

1、20‧‧‧接觸單元
2‧‧‧接觸頂針
2A‧‧‧頂針尖端
3‧‧‧螺旋彈簧
4‧‧‧鉤狀突出物
4A‧‧‧支撐杆
5‧‧‧掛鉤孔
6‧‧‧凸緣
15‧‧‧電路板
16‧‧‧下部外殼
17‧‧‧上部外殼
19‧‧‧導向板
63‧‧‧第二柱塞
64‧‧‧壓縮磁碟簧
110‧‧‧接觸裝置
120‧‧‧第一板部件
121‧‧‧第一探針部分
122‧‧‧第一接觸部分
130‧‧‧第二板部件
131、231、331‧‧‧第二探針部分
132、232、332‧‧‧第二突出部分
133‧‧‧第二接觸部分
140‧‧‧彈簧
VII‧‧‧線

通過結合附圖對實施例進行的以下描述，這些和/或其他方面將變得顯而易見並且更加容易瞭解，在所述附圖中：圖1和圖2是說明現有技術的示例性板形狀測試裝置的視圖。

圖3到圖5是說明現有技術的另一示例性板形狀測試裝置的視圖。

圖6是說明根據一個示例性實施例用於測試的板形狀接觸裝置的立體圖。

圖7是沿著圖6的線VII-VII獲取的截面圖。

圖8是說明根據另一示例性實施例用於測試的板形狀接觸裝置的放大視圖。

圖9是說明根據另一示例性實施例用於測試的板形狀接觸裝置的截面圖。

110‧‧‧接觸裝置

120‧‧‧第一板部件

121‧‧‧第一探針部分

122‧‧‧第一接觸部分

130‧‧‧第二板部件

131‧‧‧第二探針部分

132‧‧‧第二突出部分

133‧‧‧第二接觸部分

140‧‧‧彈簧

VII‧‧‧線

Claims (5)

1. 一種用於測試的接觸裝置，所述接觸裝置經配置以插入到形成於對應於測試目標裝置的終端的位置處的外殼的圓形穿孔中的一個中以用於將所述測試目標裝置的終端電連接到檢查設備的墊片，所述接觸裝置包括： 第一板部件，其包括第一探針部分以及從所述第一探針部分中向上延伸的第一接觸部分，其中探針形成於所述第一探針部分的下端上； 一對第二板部件，所述第二板部件與安置在其間的所述第一板部件彼此分開，所述第二板部件中的每一個包括第二探針部分以及從所述第二探針部分向下延伸並且與所述第一接觸部分表面接觸的第二接觸部分，其中探針形成於所述第二探針部分的上端上，並且所述第二探針部分具有預定寬度並且向下延伸；以及 彈簧，其圍繞所述第一接觸部分以及所述第二接觸部分的重疊區域並且以相對可滑動的方式支撐所述第一板部件以及所述第二板部件， 其中第二突出部分形成於所述第二探針部分的一側上面向所述穿孔的內壁，以便填充所述穿孔的所述內壁與所述第二探針部分的側面之間的間隙的至少一部分，並且 所述第二突出部分的水平截面具有由矩形形狀的圓化轉角所形成的圓頂形狀，並且所述圓化轉角接觸所述穿孔的所述內壁，使得所述第二突出部分與所述穿孔的所述內壁在至少兩個位置處接觸。
2. 如申請專利範圍第1項所述的接觸裝置，其中所述第二突出部分的寬度比所述第二探針部分的寬度更窄。
3. 如申請專利範圍第1項所述的接觸裝置，其中所述第二探針部分的轉角是圓化的。
4. 如申請專利範圍第1項所述的接觸裝置，其中使所述第二探針部分與所述測試目標裝置的所述終端接觸。
5. 一種電力測試插座，其包括： 如申請專利範圍第1項所述的接觸裝置；以及 外殼，其包括在對應於測試目標裝置的終端的位置處的穿孔， 其中所述穿孔具有圓形截面。