CN105277748A - 用于测试的接触装置和测试插座 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种用于测试的接触装置和电力测试插座。所述接触装置用于将测试目标装置的终端电连接到检查设备的垫片。所述接触装置包含第一板部件、第二板部件和弹簧，所述弹簧以相对可滑动的方式支撑第一板部件和第二板部件。本发明的接触装置和电力测试插座能够被外壳的内壁最低限度地磨损并且具有长使用期限。

Description

用于测试的接触装置和测试插座

相关申请案的交叉参考

本发明主张2014年7月17日在韩国知识产权局递交的第10-2014-0090347号韩国专利申请案的权益，所述申请案的揭示内容以引用的方式全文并入本文中。

技术领域

本发明的一或多个示例性实施例涉及一种用于测试的接触装置和电力测试插座，并且更确切地说涉及一种经配置以被外壳的内壁最低限度地磨损的并且因此具有长使用期限的用于测试的接触装置和电力测试插座。

背景技术

一般来说，装置与检查设备之间的稳定电连接在检查装置的电力特征时是必要的。为此目的，电力测试插座通常用于将检查设备连接到待检查的装置。

此类电力测试插座的功能是将装置的终端连接到检查设备的垫片以允许装置与检查设备之间的电信号的双向传输。电力测试插座的实例包含使用导电橡胶部分作为触点的导电橡胶类型插座以及使用金属顶针和弹簧作为接触单元的弹簧式顶针类型插座。此类导电橡胶类型插座的弹性导电部分连接到待检查的装置的终端。此类弹簧式顶针类型插座的金属顶针连接到待检查的装置的终端，并且当装置连接到弹簧式顶针类型插座时弹簧吸收机械冲击。

在现有技术的此类电力测试插座当中，由安置在圆筒中的金属顶针和弹簧构成弹簧式顶针类型插座是相对昂贵的。因此，已经研发出使用便宜的板类型金属顶针的插座，如图1到图5中所示。

使用此类便宜的板类型金属顶针的电力测试插座的一个实例在图1和图2中说明。参考图1和图2，示例性电力插座包含两个相同的接触顶针2和一个螺旋弹簧3。接触顶针2中的每一个包含钩状突出物4、挂钩孔5、凸缘6和顶针尖端2A。钩状突出物4的数目是两个并且面向彼此，并且支撑杆4A支撑钩状突出物4。两个钩状突出物4位于接近彼此处但是彼此分开。挂钩孔5形成用于与钩状突出物4耦合。为此目的，挂钩孔5具有对应于钩状突出物4的宽度的矩形形状。因此，如果两个接触顶针2以其间的90°的扭转角在相互面对的方向上耦合在一起，那么两对钩状突出物4钩在彼此上并且因此不会彼此分离。凸缘6与螺旋弹簧3接触。由于两个接触顶针2以90°的扭转角在螺旋弹簧3中耦合到彼此，螺旋弹簧3的两端接触凸缘6。以此方式，接触单元1以堆叠方式形成。顶针尖端2A形成于接触单元1的两端上，其中两个接触顶针2以堆叠方式耦合在一起，并且可以使例如电极等部分与顶针尖端2A接触以用于形成电连接。

另外，现有技术的示例性电力测试插座公开于第10-1310672号韩国专利中，如图3到图5中所说明。具体来说，所公开的电力测试插座主要包含电路板15、下部外壳16、上部外壳17、框架(未示出)、导向板19和接触单元20。

接触单元20中的每一个包含：第一柱塞，其具有板形状并且与部件接触；第二柱塞63，其具有板形状，第二柱塞63与第一柱塞重叠并且与具有较大接触面积的另一部件接触使得所述部件可以通过第一柱塞和第二柱塞63电连接；压缩盘簧64，其以某种状态组合第一柱塞和第二柱塞63，其中第一柱塞和第二柱塞63的接触截面(用于接触的区域)面向相反方向，压缩盘簧64围绕第一柱塞和第二柱塞63的耦合部分并且与第一柱塞和第二柱塞63的弹簧支撑部分接触以便允许第一柱塞和第二柱塞63相对于彼此滑动。

第一柱塞是单个的，并且第二柱塞63的数目是两个(相反的情况也是可能的)。具有板形状的第一柱塞的耦合部分安置在具有板形状的第二柱塞63的耦合部分之间。第一柱塞的耦合部分比第二柱塞63的耦合部分更宽，并且压缩盘簧64的两端的内径等于或小于彼此重叠的第一柱塞和第二柱塞63的耦合部分的截面的外切圆的直径。

然而，在如图1到图5中所示的此类电力测试插座中，板形状柱塞与外壳的穿孔的内壁摩擦接触，由此造成外壳的磨损。也就是说，由于具有矩形截面的板形状柱塞安置在外壳的圆形穿孔中，而板形状柱塞竖直地滑动，所以板形状柱塞的锐缘可以接触并且损坏外壳的穿孔的内壁。

为了解决这一点，具有矩形截面形状的穿孔可以形成于外壳中。然而，在外壳中形成矩形孔比在外壳中形成圆形孔成本更高，由此增加了制造成本。

此外，如果矩形孔形成于外壳中以用于便宜的板形状柱塞，那么外壳可能无法连同现有弹簧式顶针一起使用。

[现有技术文献]

专利文献1：第10-1310672号韩国专利

发明内容

本发明的一或多个示例性实施例包含用于测试的接触装置和电力测试插座，当接触装置在外壳的穿孔中竖直地滑动时所述接触装置并不会过度地磨损或损坏外壳。

另外的方面将部分地在以下描述中得到阐述，并且部分地将从描述中显而易见，或者可以通过对所呈现的实施例的实践习得。

根据一或多个示例性实施例，提供用于测试的接触装置，所述接触装置经配置以插入到形成于对应于测试目标装置的终端的位置处的外壳的圆形穿孔中的一个中以用于将测试目标装置的终端电连接到检查设备的垫片，所述接触装置包含：

第一板部件，其包含第一探针部分以及从所述第一探针部分中向上延伸的第一接触部分，其中探针形成于第一探针部分的下端上；

一对第二板部件，所述第二板部件与安置在其间的第一板部件彼此分开，所述第二板部件中的每一个包含第二探针部分以及从所述第二探针部分向下延伸并且与第一接触部分表面接触的第二接触部分，其中探针形成于第二探针部分的上端上，并且所述第二探针部分具有预定宽度并且向下延伸；以及

弹簧，其围绕第一接触部分以及第二接触部分的重叠区域并且以相对可滑动的方式支撑第一板部件以及第二板部件，

其中第二突出部分形成于第二探针部分的一侧上面向穿孔的内壁，以便填充穿孔的内壁与第二探针部分的侧面之间的间隙的至少一部分，并且

第二突出部分的水平截面具有由矩形形状的圆化转角所形成的圆顶形状，并且圆化转角接触穿孔的内壁，使得第二突出部分与穿孔的内壁在至少两个位置处接触。

第二突出部分的宽度可以比第二探针部分的宽度更窄。

第二探针部分的转角可以是圆化的。

可以使第二探针部分与测试目标装置的终端接触。

根据一或多个示例性实施例，电力测试插座包含：接触装置；以及外壳，其在对应于测试目标装置的终端处包含穿孔，其中所述穿孔一个圆形截面。

如上文所述，根据示例性实施例，由于接触装置的第二板部件具有对应于外壳的圆形穿孔的形状，所以当接触装置在外壳的穿孔中竖直地滑动时，接触装置可以最低限度地磨损外壳。

附图说明

通过结合附图对实施例进行的以下描述，这些和/或其他方面将变得显而易见并且更加容易了解，在所述附图中：

图1和图2是说明现有技术的示例性板形状测试装置的视图。

图3到图5是说明现有技术的另一示例性板形状测试装置的视图。

图6是说明根据一个示例性实施例用于测试的板形状接触装置的透视图。

图7是沿着图6的线VII-VII获取的截面图。

图8是说明根据另一示例性实施例用于测试的板形状接触装置的放大视图。

图9是说明根据另一示例性实施例用于测试的板形状接触装置的截面图。

附图标记说明

1、20：接触单元

2：接触顶针

2A：顶针尖端

3：螺旋弹簧

4：钩状突出物

4A：支撑杆

5：挂钩孔

6：凸缘

15：电路板

16：下部外壳

17：上部外壳

19：导向板

63：第二柱塞

64：压缩盘簧

110：接触装置

120：第一板部件

121：第一探针部分

122：第一接触部分

130：第二板部件

131、231、331：第二探针部分

132、232、332：第二突出部分

133：第二接触部分

140：弹簧

VII：线

具体实施方式

现在将详细参考实施例，所述实施例的实例在附图中图示出，其中在全文中相同的参考标号指代相同的元件。就这一点而言，本实施例可以具有不同形式并且不应被解释为限于本文中所阐述的描述。因此，示例性实施例仅通过参考附图在下文中进行描述以说明本说明书的各方面。如本文中所使用，术语“和/或”包含相关联的所列项目中的一或一个以上的任何和所有组合。例如“中的至少一个”等表述当在元件列表之前时修饰元件的整个列表而不是修饰列表的个体元件。

在下文中，将参考附图根据示例性实施例详细地描述用于测试的接触装置。

参考图6和图7。根据一个示例性实施例，用于测试的接触装置110用于将测试目标装置(未示出)的终端电连接到检查设备(未示出)的衬垫。为此目的，接触装置110可以插入到在对应于测试目标装置的终端处形成于外壳(未示出)中的穿孔(未示出)中。术语“测试目标装置”可以指半导体装置，例如，具有集成电路的装置。举例来说，术语“测试目标装置”可以指具有布置在其下表面上的多个球形终端的半导体装置。然而，术语“测试目标装置”并不限于此。举例来说，术语“测试目标装置”可以指任何种类的半导体装置。

接触装置110包含第一板部件120、一对第二板部件130和弹簧140。

第一板部件120包含：第一探针部分121，其具有位于其一端上的探针；以及第一接触部分122，其从第一探针部分121向上延伸。可以使第一板部件120的一端与检查设备的垫片接触。然而，本发明的实施例并不限于此。举例来说，可以使第一板部件120与测试目标装置的终端接触。第一板部件120安置在第二板部件130的对之间。

第一板部件120可以由导电材料通过研磨过程、按压过程或使用微机电系统(microelectromechanicalsystem，MEMS)和光刻的过程形成。举例来说，第一板部件120可以由镍合金或具有较高程度的导电率的任何其它材料形成。

第一探针部分121包含：位于其一端上的尖的舌部；具有预定宽度(大于弹簧140的内径)的从舌部向上延伸的区域；以及形成于上端上以支撑弹簧140的鄂部。

第一接触部分122从第一探针部分121向上延伸。第一接触部分122安置在第二板部件130之间与第二板部件130接触。也就是说，第一接触部分122的两侧与第二板部件130的侧面接触使得第一接触部分122可以电连接到第二板部件130。弹簧140围绕第一接触部分122安置。为此目的，第一接触部分122的宽度可以小于弹簧140的内径。

第二板部件130提供为一对并且通过安置在其间的第一板部件120彼此分开。第二板部件130中的每一个包含：第二探针部分131，其具有位于其一端上的探针；第二探针部分131具有预定宽度并且向下延伸；以及第二接触部分133，其从第二探针部分131向下延伸并且与第一接触部分122表面接触。

类似于第一板部件120，第二板部件130可以由导电材料通过研磨过程、按压过程或使用MEMS和光刻的过程形成。举例来说，第二板部件130可以由镍合金或具有较高程度的导电率的任何其它材料形成。

第二板部件130中的每一个的第二探针部分131包含：形成于其上端上的多个尖的部分；以及具有预定宽度(大于弹簧140的内径)并且从尖的部分向下延伸的主体。

第二突出部分132提供在第二探针部分131的侧面上面向外壳的穿孔的内壁以便填充外壳的穿孔的内壁与第二探针部分131的侧面之间的间隙的至少部分。第二突出部分132的宽度比第二探针部分131的宽度更窄。第二突出部分132的水平截面可以具有半圆形形状、或由矩形形状的圆化转角所形成的圆顶形状。尖的舌部可以从第二突出部分132中的每一个的上端向上延伸以用于与测试目标装置的终端接触。

另外，第二突出部分132和第二探针部分131可以位于假想的圆形内部，并且第二突出部分132或第二探针部分131的至少一部分可以触碰假想圆形。也就是说，当第二突出部分132和第二探针部分131安置在外壳内部时，第二突出部分132和第二探针部分131可以其间的较大接触面积或在尽可能多的位置处接触外壳。具体来说，第二突出部分132的圆化转角接触外壳的穿孔的内壁，使得第二突出部分132中的每一个的至少两个位置(圆化转角)可以与外壳的穿孔的内壁接触。另外，第二探针部分131的转角可以接触外壳的穿孔的内壁。以此方式，由于第二突出部分132和第二探针部分131与外壳的内壁表面接触或与外壳的内壁的许多位置接触，所以施加到外壳的力可以最佳地分布。也就是说，力可以不局部地施加到外壳。类似于第二突出部分132，第二探针部分131的转角可以是圆化的。

第二接触部分133从第二探针部分131向下延伸并且与第一接触部分122的侧面接触以用于与第一接触部分122电连接。第二接触部分133插入到弹簧140中。为此目的，第二接触部分133的宽度可以小于弹簧140的内径。

弹簧140围绕第一接触部分122和第二接触部分133的重叠区域使得第一板部件120和第二板部件130可以相对可滑动的方式得到支撑。在弹簧140的上端和下端由第二探针部分131和第一探针部分121支撑的状态下，弹簧140围绕第一接触部分122和第二接触部分133使得第一探针部分121和第二探针部分131可以在后退方向上弹性地偏置。

示例性实施例的接触装置110可以具有以下可操作效应。

首先，接触装置110安置在检查设备上，并且测试目标装置移动到接触装置110以使测试目标装置的终端与接触装置110接触。

具体来说，测试目标装置移动以使测试目标装置的终端与第二板部件130的对接触。当测试目标装置移动并且使第二板部件130与测试目标装置的终端接触时，第二板部件130向下滑动，并且弹簧140弹性地支撑第二板部件130。当第二板部件130如上文所述滑动时，第二板部件130在尽可能多的部分处与外壳的穿孔的内壁接触，并且因此外壳的穿孔的内壁可以较少地被擦伤或损坏。

举例来说，即使外壳的穿孔具有圆形形状，由于与外壳的穿孔的内壁接触的第二板部件130的部分是圆化的，所以外壳可以最低限度地被损坏。

如上文所述，根据所述示例性实施例，即使外壳的穿孔具有圆形形状，外壳的穿孔的内壁也可能被第一板部件120和第二板部件130最低限度地磨损。

一个示例性实施例可以提供电力测试插座100，所述电力测试插座包含接触装置110和外壳，在所述外壳中穿孔形成于测试目标装置的对应的终端的位置处。

接触装置110是一个实例。也就是说，本发明的实施例不限于接触装置110。举例来说，接触装置110可以如图8和图9中所示得到修改。

在上述示例性实施例中，第二突出部分132中的每一个的上端具有单个尖的舌部。然而，本发明的实施例并不限于此。举例来说，如图8中所示，多个尖的舌片可以形成于第二突出部分232的上端上，并且第二突出部分232可以放置在第二探针部分231的一侧上。

另外，如图9中所示，具有椭圆形形状的第二突出部分332可以形成于第二探针部分331的一侧上并且可以从第二探针部分331的两个横向边缘中突出。

在上述示例性实施例中，第二突出部分132、232或332形成于第二探针部分131、231或331上。然而，本发明的实施例并不限于此。举例来说，第一突出部分可以形成于第一探针部分121上。

应理解，本文中所描述的示例性实施例应该被认为仅具有描述性意义，而非出于限制的目的。每个示例性实施例内的特征或方面的描述应通常被视为可用于其它示例性实施例中的其它相似特征或方面。

尽管已参考附图描述了一或多个示例性实施例，但所属领域的技术人员应理解，可以在不脱离如所附权利要求所界定的发明概念的精神和范围的情况下在其中在形式和细节上做出各种改变。

Claims (5)

1.一种用于测试的接触装置，所述接触装置经配置以插入到形成于对应于测试目标装置的终端的位置处的外壳的圆形穿孔中的一个中以用于将所述测试目标装置的终端电连接到检查设备的垫片，所述接触装置包括：

第一板部件，其包括第一探针部分以及从所述第一探针部分中向上延伸的第一接触部分，其中探针形成于所述第一探针部分的下端上；

一对第二板部件，所述第二板部件与安置在其间的所述第一板部件彼此分开，所述第二板部件中的每一个包括第二探针部分以及从所述第二探针部分向下延伸并且与所述第一接触部分表面接触的第二接触部分，其中探针形成于所述第二探针部分的上端上，并且所述第二探针部分具有预定宽度并且向下延伸；以及

弹簧，其围绕所述第一接触部分以及所述第二接触部分的重叠区域并且以相对可滑动的方式支撑所述第一板部件以及所述第二板部件，

其中第二突出部分形成于所述第二探针部分的一侧上面向所述穿孔的内壁，以便填充所述穿孔的所述内壁与所述第二探针部分的侧面之间的间隙的至少一部分，并且

所述第二突出部分的水平截面具有由矩形形状的圆化转角所形成的圆顶形状，并且所述圆化转角接触所述穿孔的所述内壁，使得所述第二突出部分与所述穿孔的所述内壁在至少两个位置处接触。

2.根据权利要求1所述的接触装置，其中所述第二突出部分的宽度比所述第二探针部分的宽度更窄。

3.根据权利要求1所述的接触装置，其中所述第二探针部分的转角是圆化的。

4.根据权利要求1所述的接触装置，其中使所述第二探针部分与所述测试目标装置的所述终端接触。

5.一种电力测试插座，其包括：

权利要求1所述的接触装置；以及

外壳，其包括在对应于测试目标装置的终端的位置处的穿孔，

其中所述穿孔具有圆形截面。