KR101707546B1

KR101707546B1 - 인터페이스 프로브 핀

Info

Publication number: KR101707546B1
Application number: KR1020160171687A
Authority: KR
Inventors: 박해정; 노정현
Original assignee: 주식회사 에스알테크
Priority date: 2016-12-15
Filing date: 2016-12-15
Publication date: 2017-02-27

Abstract

본 발명은 커넥터, 집 커넥터 또는 IC chip을 테스트하기 위한 프로브 핀에 관한 것으로서, 일단이 테스트 PCB의 검사접점과 접촉 가능한 기저 플런저; 상기 기저 플런저의 타단 주변의 적어도 일부 영역이 수용되어 전기적으로 상기 기저 플런저와 연결되는 프로브 바디; 일단에는 상기 프로브 바디에 수용되어 상기 프로브 바디와 전기적으로 연결되는 연결부가 형성되고, 타단에는 피검사 전자부품의 피검사단자에 삽입되어 접촉 가능하고 상기 피검사단자에 선단이 접촉 가능한 팁이 형성되는 탑 플런저; 및 상기 탑 플런저 및 상기 기저 플런저에 연결되어 상기 탑 플런저 및 상기 기저 플런저를 요동 가능하게 지지하는 탄성체를 포함하되, 상기 팁은 상기 프로브 바디로부터 멀어지는 방향으로 복수의 단차를 갖는 테이퍼(taper) 형상으로 될 수 있다.

Description

인터페이스 프로브 핀 {Interface probe pin}

본 발명은 커넥터(Connector), 집 커넥터(Zip connector), IC chip을 테스트하기 위한 테스트 소켓에 사용되는 프로브 핀(Probe pin)에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 팁의 형상을 구체화한 인터페이스 프로브 핀에 관한 것이다.

최근 모바일 디바이스 시장의 성장에 따라, 외부 커넥터, 집 커넥터, IC(Integrated Circuit) chip 등의 전자부품이 소형화되고, 사용 목적에 따라 그 구성 및 형태가 다양화되는 추세에 있다. 이와 같은 전자부품이 올바르게 작동하는지 알기 위해 후공정에서 테스트에 사용되는 장치가 테스트 소켓(Test socket)이다. 테스트 소켓은 검사하고자 하는 전자부품이 안착될 수 있는 부재와 해당 부재에 형성된 통공에 삽입된 금속성의 프로브 핀을 이용해 타방에 접촉하는 테스트 회로를 통해 전자부품을 검사하는 장치이다. 상기 테스트 소켓이 포함하는 프로브 핀을 기준으로 일측에는 IC chip 등 부품의 단자가 위치하고, 타측에는 테스트 PCB(Printed Circuit Board)가 위치한다. 이 때, 상기 부품의 단자와 상기 테스트 PCB는 테스트 소켓이 포함하는 인터페이스 프로브 핀에 의해 전기적으로 연결되어 전기적 신호가 양방으로 교환 가능하게 된다. 이 경우에, 부품과 테스트 PCB는 일대일로 연결되어야 하므로, 연결될 부품의 부위, 부품의 모양에 따라 테스트 소켓의 모양이 다양하게 결정된다. 따라서 목적이 상이하거나 테스트하고자 하는 부품의 모양이 다를 경우 이에 적합한 서로 다른 테스트 소켓 및 인터페이스 프로브 핀이 사용되어야 한다.

도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 피검사 전자부품의 단자(101, 102)가 소켓형으로 형성되는 경우, 일반적인 팁 형상을 가지는 프로브 핀으로는 효과적으로 접촉하기 힘들다. 따라서 도면에 도시된 프로브 핀(100)과 같이 팁(103, 104)의 형상을 소켓형 단자의 형상에 대응되도록 형성하여 접촉면을 넓게 하고, 안정적으로 접촉하게 하는 종래기술이 존재한다.

그러나 도면에 도시된 바와 같이 종래기술의 프로브 핀(100)은 팁(103, 104)의 형상이 단자(101, 102)의 외관에 대응되도록 형성되어 접촉이 효과적으로 이루어 질 수는 있으나, 팁(103, 104) 전체가 삽입되지 않고 단자(101, 102)에 닿아있는 정도로 그치며 프로브 핀(100)의 장방향을 축으로 하는 회전이 일어날 경우 효과적으로 단자(101, 102)에 대한 접촉이 일어나지 않을 수 있다.

한국등록특허 제10-1500609호 (2015.03.19)

본 발명이 해결하고자 하는 과제는, 피검사 전자부품의 피검사단자 내로 삽입될 수 있는 테스트 소켓용 인터페이스 프로브 핀을 제공하는 것이다.

본 발명의 과제들은 이상에서 언급한 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.

상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 프로브 핀은, 일단이 테스트 PCB의 검사접점과 접촉 가능한 기저 플런저; 상기 기저 플런저의 타단 주변의 적어도 일부 영역이 수용되어 전기적으로 상기 기저 플런저와 연결되는 프로브 바디; 일단에는 상기 프로브 바디에 수용되어 상기 프로브 바디와 전기적으로 연결되는 연결부가 형성되고, 타단에는 피검사 전자부품의 피검사단자에 삽입되어 접촉 가능하고 상기 피검사단자에 선단이 접촉 가능한 팁이 형성되는 탑 플런저; 및 상기 탑 플런저 및 상기 기저 플런저에 연결되어 상기 탑 플런저 및 상기기저 플런저를 요동 가능하게 지지하는 탄성체를 포함하되, 상기 팁은 상기 프로브 바디로부터 멀어지는 방향으로 복수의 단차를 갖는 테이퍼(taper) 형상으로 될 수 있다.

상기 팁의 복수의 단차는, 나선을 형성하며 이어지는 스크류 나사산에 의해 형성될 수 있다.

상기 팁은, 외주 방향을 따라서 복수의 단차가 더 형성됨으로써 널링(knurling) 구조를 가질 수 있다.

상기 팁의 선단은 상기 팁의 길이 방향에 직교하는 평면으로 형성될 수 있다.

상기 팁의 프로파일 전부가 상기 피검사단자에 삽입될 수 있다.

상기 팁은 상기 팁의 길이 방향에 직교하는 복수의 평판 및 상기 복수의 평판과 나란하지 않은 복수의 측벽이 반복적으로 교차되어 배치됨으로써 복수의 단차를 가질 수 있다.

상기 복수의 측벽은, 상기 프로브 바디로부터 멀어지는 방향으로 테이퍼질 수 있다.

상기 복수의 측벽은, 상기 복수의 평판에 직교할 수 있다.

상기 복수의 측벽은, 상기 복수의 평판에 직교하는 하부 측벽; 및 상기 프로브 바디로부터 멀어지는 방향으로 테이퍼지는 상부 측벽을 포함할 수 있다.

상기 프로브 핀의 길이 방향에 직교하는 평면에 대한 상기 팁의 단면은 원형일 수 있다.

실시예에 따른 테스트 소켓은, 프로브 핀이 삽입될 수 있는 통공이 형성되고, 상기 탑 플런저가 노출되는 상면에는 상기 피검사 전자부품이 안착 가능하다.

본 발명의 기타 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.

본 발명의 실시예들에 의하면 적어도 다음과 같은 효과가 있다.

탑 플런저가 일체형 결합부를 가져 파손이 최소화된다.

피검사단자에 팁 전체가 삽입됨으로써 보다 안정적으로 컨택트가 이루어질 수 있다.

이물질이 발생하더라도 팁의 요철이 있는 형상으로 인해 간섭 없이 컨택트가 가능하다.

본 발명에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 명세서 내에 포함되어 있다. 언급되지 않은 또 다른 효과들은 청구범위의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.

도 1은 종래기술의 프로브 핀과 단자가 접촉하기 전의 형상을 표현한 사시도이다.
도 2는 종래기술의 프로브 핀과 단자가 접촉한 상태의 형상을 정면에서 표시한 정면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 핀의 정면도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 핀의 내부 구조를 나타낸 정면도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 핀의 팁 형상을 나타낸 사시도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 핀의 팁 형상을 나타낸 정면도이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 프로브 핀의 팁 형상을 나타낸 정면도이다.
도 8은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 프로브 핀의 팁 형상을 나타낸 정면도이다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 핀이 피검사단자에 삽입되기 전상황을 나타낸 측단면도이다.
도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 핀이 피검사단자에 삽입된 후상황을 확대하여 나타낸 측단면도이다.
도 11는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 핀이 피검사단자에 삽입된 후 상황을 나타낸 측단면도이다.
도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 핀의 팁이 피검사단자에 접한상황을 나타낸 측단면도이다.
도 13는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 핀이 평판형 전극에 접하는 상황을 나타낸 측단면도이다.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.

다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있을 것이다. 또 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백하게 특별히 정의되어 있지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다.

본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 및/또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소 외에 하나 이상의 다른 구성요소의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.

또한, 본 명세서에서 기술하는 실시예들은 본 발명의 이상적인 예시도인 단면도 및/또는 개략도들을 참고하여 설명될 것이다. 따라서, 제조 기술 및/또는 허용 오차 등에 의해 예시도의 형태가 변형될 수 있다. 또한 본 발명에 도시된 각 도면에 있어서 각 구성 요소들은 설명의 편의를 고려하여 다소 확대 또는 축소되어 도시된 것일 수 있다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭하며, "및/또는"은 언급된 아이템들의 각각 및 하나 이상의 모든 조합을 포함한다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예의 구성을 상세히 설명하기로 한다.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 핀(1)의 정면도이다. 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 핀(1)의 내부 구조를 나타낸 정면도이다.

도 3 및 도 4를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 핀(1)은, 기저 플런저(40), 프로브 바디(30), 탑 플런저(20) 및 탄성체(31)로 구성됨을 확인할 수 있다.

프로브 핀(1)은 전기적으로 연결될 수 있는 전도성 소재로 형성된다. 따라서 프로브 핀(1)은 전도성이 있는 금속성의 소재로 형성될 수 있으나 그 소재는 이에 제한되는 것은 아니다.

기저 플런저(40)는 프로브 핀(1)의 가장 하방에 위치하여 테스트 PCB와 접촉하는 구성요소이다. 기저 플런저(40)의 하측 일단은 테스트 PCB와 접촉하여 전기적으로 연결될 수 있고, 기저 플런저(40)에 전기적으로 연결된 프로브 바디(30)를 통해 전기적 신호가 전달될 수 있으며 그 역도 가능하다. 기저 플런저(40)의 하측 일단의 형상은 본 발명의 일 실시예에서는 단차지도록 구성하였으나, 그 형상은 이에 제한되지 않는다.

기저 플런저(40)의 상측 일단 및 상기 일단에 인접한 일부 영역은 프로브 바디(30)의 내부로 삽입되어 수용된다. 따라서 기저 플런저(40)는 프로브 바디(30)보다 직경이 작게 형성된다. 상기 상측 일단을 기저 연결부(41)라고 칭한다. 프로브 바디(30) 내에 기저 연결부(41)가 삽입되어 수용될 때 탄성체(31)에 연결되어 프로브 핀(1)의 길이 방향으로 요동 가능하게 지지된다. 따라서 기저 연결부(41)가 프로브 바디(30) 내에서 프로브 바디(30)의 내측면에 접촉됨과 동시에 길이 방향으로 슬라이딩 가능하여야 한다. 이 때, 기저 플런저(40)가 프로브 바디(30) 외부로 이탈되지 않도록, 기저 연결부(41)에는 반경 방향으로 돌출부(미도시)가 형성되어 프로브 바디(30)에 형성된 걸림턱(미도시)에 걸려 이동이 규제되도록 할 수 있다.

프로브 바디(30)는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 핀(1)의 중심이 되는 구성요소이다. 프로브 핀(1)은 일 방향으로 연장되어, 동일한 방향으로 중공이 뚫린 파이프와 같은 형태로 형성될 수 있다. 따라서 그 내측면에 기저 플런저(40)의 일부, 탑 플런저(20)의 일부 및 탄성체(31)를 수용한다. 본 발명의 일 실시예에서는 원환체가 축 방향으로 연장되어 형성된 원형 파이프의 형태로 프로브 바디(30)를 표현하였으나 프로브 바디(30)의 형태는 이에 제한되지 않는다.

프로브 바디(30)의 하방에서는 기저 플런저(40)의 일부가 삽입 및 수용되고, 상방에서는 탑 플런저(20)의 일부가 삽입 및 수용된다. 동시에 프로브 바디(30)의 내부에는 탄성체(31)가 수용되어 탑 플런저(20) 및 기저 플런저(40)를 길이 방향으로 요동 가능하도록 지지한다. 따라서 프로브 바디(30)의 내측면은 탑 플런저(20)와 기저 플런저(40)를 접촉된 채로 길이 방향으로 슬라이딩 가능하도록 지지한다. 또한 프로브 바디(30)의 내측면은 탑 플런저(20)와 기저 플런저(40)가 길이 방향을 따라 프로브 바디(30) 바깥으로 이탈되지 않도록 하기 위해 걸림턱(미도시)을 양 단에 구비하여, 탑 플런저(20)와 기저 플런저(40)에서 반경 방향으로 형성된 돌출부(미도시)가 걸려 이탈되지 않도록 할 수 있다.

탑 플런저(20)는 프로브 핀(1)의 가장 상방에 위치하여 피검사 전자부품(50)의 피검사단자(52)와 접촉하는 구성요소이다. 탑 플런저(20)의 상측 일단에는 팁(21)이 형성되어, 피검사단자(52)와 접촉하여 전기적으로 연결될 수 있고, 탑 플런저(20)에 전기적으로 연결된 프로브 바디(30)를 통해 전기적 신호가 전달될 수 있으며 그 역도 가능하다.

탑 플런저(20)의 하측 일단 및 상기 일단에 인접한 일부 영역은 프로브 바디(30)의 내부로 삽입되어 수용된다. 따라서 탑 플런저(20)의 직경은 프로브 바디(30)에 비해 작게 형성된다. 또한 내부로 수용되므로 파손의 위험이 줄어든다. 상기 하측 일단을 연결부(22)라고 칭한다. 프로브 바디(30) 내에 연결부(22)가 삽입되어 수용될 때 연결부(22)는 탄성체(31)에 연결되어 프로브 핀(1)의 길이 방향으로 요동 가능하게 지지된다. 따라서 연결부(22)가 프로브 바디(30) 내에서 프로브 바디(30)의 내측면에 접촉됨과 동시에 길이 방향으로 슬라이딩 가능하여야 한다. 이 때, 탑 플런저(20)가 프로브 바디(30) 외부로 이탈되지 않도록, 연결부(22)에는 반경 방향으로 돌출부(미도시)가 형성되어 프로브 바디(30)에 형성된 걸림턱(미도시)에 걸려 이동이 규제되도록 할 수 있다.

탑 플런저(20)의 상단에 위치한 팁(21)은 피검사 전자부품(50)의 피검사단자(52)에 접촉하거나 삽입되어 접촉되는 탑 플런저(20)의 일부분으로, 피검사단자(52)에 접촉함으로써 피검사 전자부품(50)과 전기적으로 연결된다.

팁(21)은 프로브 바디(30)에서 멀어지는 방향으로 갈수록 직경이 작아지는 형태의 테이퍼(taper) 형상을 가지며, 동시에 길이 방향으로 복수의 단차를 가지도록 형성된다. 팁(21)의 다양한 형상과 피검사단자(52)와 접촉하는 과정에 대해서는 후술한다.

탄성체(31)는 일단에 탑 플런저(20)가, 타단에 기저 플런저(40)가 연결되는 탄성을 가진 구성요소로, 탑 플런저(20) 및 기저 플런저(40)를 프로브 핀(1)의 길이 방향으로 요동 가능하게 지지한다. 따라서 탄성체로는 탄성을 가지는 스프링 등의 부재를 사용할 수 있으나 그 종류는 이에 제한되지 않는다.

동시에 탄성체(31)는 프로브 바디(30)의 내부에 수용된다. 따라서 외부로 노출되지 않고, 프로브 바디(30)의 내부에서 탑 플런저(20)와 기저 플런저(40)에 대해 길이 방향으로 압력이 가해질 경우 이에 반대되는 방향으로 탄성력을 작용하는 역할을 한다. 탑 플런저(20)나 기저 플런저(40)에 접촉한 피검사 전자부품(50) 또는 테스트 PCB에 의해 프로브 핀(1)에 대해 압력이 가해지더라도, 탄성체(31)에 의해 파단이나 변형이 일어나지 않고 요동됨과 동시에 전기적인 연결을 유지할 수 있는 것이다.

이하, 도 5 내지 도 6을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 핀(1)의 팁(21) 형상에 대해서 확대된 도면과 함께 설명한다.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 핀(1)의 팁(21) 형상을 나타낸 사시도이다. 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 핀(1)의 팁(21) 형상을 나타낸 정면도이다.

도면을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 핀(1)의 팁(21)은 그 선단으로 향할수록 테이퍼지고, 복수의 단차가 진 다단 구조로 형성됨을 알 수 있다.

복수의 단차는 프로브 핀(1)의 길이방향에 직교하는 평면으로 형성되는 복수의 평판(213), 상기 평판(213)과 나란하지 않은 방향으로 형성되는 복수의 측벽(211, 212)이 반복적으로 서로 번갈아가면서 배치되어 형성된다. 즉, 복수의 측벽(211, 212)과 평판(213)이 반복적으로 교차되어 배치됨으로써 마치 복수의 계단과 같은 다단 구조로 형성이 되고, 삽입이 용이하도록 선단부(210)로 갈수록 그 직경이 좁아지도록 해서 테이퍼 구조가 형성되는 것이다.

복수의 측벽(211, 212)은 복수의 평판(213)에 직교하는 방향으로 배치되어 마치 넓이가 작아지는 순서대로 복수의 플레이트를 쌓아 올린 것과 같은 형태로 형성될 수 있다. 본 발명의 일 실시예에서는 직경이 작아지는 순서대로 복수의 원판을 동일한 중심 축을 공유하도록 쌓아올린 것과 같은 형태로 팁(21)의 형태를 도시하였으며, 이로 인해 길이 방향에 대해 직교하는 평면에 의한 팁(21)의 단면은 원형이 될 것이나, 그 형태는 이에 제한되지 않는다.

또한 복수의 측벽(211, 212)은 상대적으로 상방에 위치한 상부 측벽(212) 및 상대적으로 하방에 위치한 하부 측벽(211)을 포함하여, 그 중 어느 하나는 평판(213)에 직교하는 방향으로 배치되고, 다른 하나는 복수의 평판(213)과 다른 측벽(211, 212)에 나란하지 않되 선단부(210)를 향해, 즉 프로브 바디(30)로부터 멀어지는 방향으로 테이퍼지도록 형성될 수 있다. 본 발명의 일 실시예에서는 하부 측벽(211)이 평판(213)에 직교하는 방향으로 배치되도록 하였고, 상부 측벽(212)이 하부 측벽(211)과 평판(213)에 나란하지 않은 방향으로 배치되되, 선단부(210)로 갈수록 테이퍼지도록 형성되도록 해서 반복적으로 번갈아가며 배치되도록 해 복수의 단차가 형성되도록 한다. 그러나 그 형상은 이에 제한되지 않는다.

팁(21)의 선단부(210)는 뾰족하게 형성되지 않고 길이 방향에 직교하는 평면으로 형성될 수 있다. 따라서 프로브 핀(1)이 피검사단자(52)에 삽입되는 경우뿐 아니라 삽입되지 않고 피검사단자(52)의 외관 일부에 접촉할 때에도 평평한 선단부(210)의 평면이 접촉되어 안정적으로 프로브 핀(1)을 피검사단자(52)의 외관에 접촉하도록 한다. 본 발명의 일 실시예에서는 팁(21)의 선단부(210)를 원형의 평면으로 도시하였으나 평면의 형상은 이에 제한되지 않는다.

팁(21)의 측벽(211, 212) 및 평판(213)의 경계는 삽입시의 마찰을 줄이기 위해 라운드 처리 될 수 있다.

프로브 핀(1)의 팁(21)이 복수의 단차를 가지는 테이퍼 구조로 형성됨에 따라, 이물질이 있다 하더라도 이는 측벽(211, 212)과 평판(213) 사이의 영역에 위치하게 되어 팁(21)의 다른 영역이 피검사단자(52)에 접하여 전기적인 접촉이 원활하게 이루어질 수 있다. 또한 연속적으로 피검사단자(52) 내로 프로브 핀(1)이 삽입되는 것이 아니라, 불연속적으로 각 단에 걸리며 삽입될 수 있다. 또한 이와 같은 형상을 가짐으로써, 가공성 및 조립성이 용이하다.

이하, 도 7 및 도 8을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 프로브 핀(1)의 팁(21) 형상을 설명한다.

도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 프로브 핀(1)의 팁(23) 형상을 나타낸 정면도이다.

도 7을 참조하면, 프로브 핀(1)의 팁(23) 형상은 복수의 단차를 가지는 테이퍼 형상으로 형성되되, 나선을 형성하며 이어져 스크류 나사산을 형성함을 확인할 수 있다.

프로브 핀(1)의 팁(23) 형상을 나사와 같이 구성함으로써, 프로브 핀(1)은 프로브 핀(1)이 삽입되어야 할 피검사단자(52)의 내부로 진입하면서 팁(23)의 나사산을 따라 회전하면서 삽입될 수 있다. 따라서 그렇지 않은 경우보다 원활하게 피검사단자(52)의 내부로 삽입될 수 있다. 피검사단자(52)로부터 이탈되어야 하는 반대의 경우에도 마찬가지이다.

도 8은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 프로브 핀(1)의 팁(24) 형상을 나타낸 정면도이다.

도 8을 참조하면, 프로브 핀(1)의 팁(24) 형상은 복수의 단차를 가지는 테이퍼 형상으로 형성되되, 외주 방향을 따라서 복수의 단차가 더 형성됨으로써 널링(knurling) 구조를 형성함을 확인할 수 있다. 따라서 프로브 핀(1)의 팁(24)의 외측면에는 마치 격자무늬와 같이 융기된 돌기(53, 54)가 복수로 형성됨을 확인할 수 있다.

프로브 핀(1)의 팁(24)이 널링 구조로 형성됨으로써, 복수의 단차를 가짐으로써 얻는 이물질 제거 효과를 외주 방향에 대해서도 얻을 수 있게 된다.

이하, 도 9 내지 도 11을 참조하여 프로브 핀(1)이 피검사단자(52)에 삽입되어 접촉되는 과정을 설명한다.

도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 핀(1)이 피검사단자(52)에 삽입되기 전상황을 나타낸 측단면도이다.

도 9를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 핀(1)은 테스트 소켓(60)에형성된 통공(61)에 삽입되고, 테스트 소켓(60)의 상면에는 피검사 전자부품(50)이 안착되어, 전자부품 본체(51)로부터 테스트 소켓(60) 방향으로 돌출된 피검사단자(52)가 위치하게 된다. 또한 통공(61)이 2개 형성되어 2개의 프로브 핀(1)이 삽입되는 것으로 표현하였으나 테스트 소켓(60)에는 복수의 통공(61)이 형성되어 복수의 프로브 핀(1)이 사용될 수 있고, 그 개수는 이에 제한되지 않는다.

통공(61)은 프로브 핀(1)이 삽입되어야 하므로 프로브 바디(30)의 직경보다 그 직경이크도록 형성되나, 통공(61)의 상단에 위치한 상부 통공(62)은 직경이 이보다 작아지도록 형성되어 프로브 바디(30)는 통과하지 못하나 탑 플런저(20)만은 통과하여 테스트 소켓(60)의 상면으로부터 상방으로 노출되어 팁(21)이 피검사단자(52)에 접촉 및 삽입되도록 할 수 있다.

피검사단자(52)는 본 발명의 일 실시예에서는 상방으로 오목하게 파인 내부 공간을 형성하도록 형성되어 상기 내부 공간으로 프로브 핀(1)의 팁(21)이 삽입될 수 있다. 또한 내부 공간의 입구에는 내부 공간의 안쪽에 비해서 입구의 폭이 좁도록 만드는 돌기(53, 54)가 형성되고, 이는 탄성을 가져 프로브 핀(1)의 팁(21)이 삽입될 때 프로브 핀(1)의 팁(21)에 대해 변형 방향의 반대로 탄성력을 가할 수 있다.

피검사단자(52)는 도전성의 소재로 이루어져 팁(21)과 접촉하거나 삽입되어 접촉될 시 서로 전기적으로 연결될 수 있다.

도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 핀(1)이 피검사단자(52)에 삽입된 후상황을 확대하여 나타낸 측단면도이다. 도 11는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 핀(1)이 피검사단자(52)에 삽입된 후 상황을 나타낸 측단면도이다.

도면을 참조하면, 피검사 전자부품(50)에 대해 하방으로 외력이 가해지면서 테스트 소켓(60)에 대해서도 하방으로 압력이 가해지고, 테스트 소켓(60)의 몸체가 하방으로 이동하면서 프로브 핀(1)은 상대적으로 상방으로 이동하게 되고, 프로브 핀(1)의 팁(21)이 테스트 소켓(60)의 상면으로부터 상방으로 돌출되게 된다. 따라서 피검사단자(52)와 팁(21)이 만나게 되고, 서로 가까워지는 방향으로 이동한다.

팁(21)은 피검사단자(52)의 내부 공간으로 삽입되게 된다. 이 과정에서 피검사단자(52)의 입구에 형성된 돌기(53, 54)는 삽입되는 팁(21)에 의해 반경 방향으로 밀려나게 되고, 탄성을 가진 돌기(53, 54)는 팁(21)에 대해 반대 방향으로 탄성력을 작용하게 된다. 탄성력의 작용 방향에 대해서는 도 10에서 화살표로 표시하였다.

피검사단자(52)의 돌기(53, 54)는 팁(21)의 다단 구조에 의해 불연속적으로 힘을 받는다. 사용자는 따라서 팁(21)이 피검사단자(52)에 삽입되는 도중 적절한 위치에서 팁(21)의 삽입을 멈출 수 있다.

팁(21)의 프로파일 전부가 피검사단자(52)에 삽입될 수 있으며, 이와 같이 팁(21)의 프로파일 전부가 삽입된 경우 피검사단자(52)의 돌기(53, 54)가 팁(21)에 대해 탄성력을 가하며 압박하고 있으므로 단단하게 잡아줘 보다 안정적으로 컨택트가 이루어져 피검사단자(52)와 프로브 핀(1) 간의 전기적 연결이 유지된다.

기저 플런저(40)에는 테스트 PCB의 검사접점이 접촉 및 연결되며, 이로 인해 테스트 PCB와 피검사 전자부품(50)이 프로브 핀(1)을 통해 전기적으로 연결된다. 이와 같은 과정을 통해 테스트 소켓(60)에 포함된 프로브 핀(1)을 이용해 피검사 전자부품(50)의 테스트가 이루어질 수 있다.

도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 핀(1)의 팁(21)이 피검사단자(52)에 접한상황을 나타낸 측단면도이다.

도 12를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 핀(1)의 팁(21)은 피검사단자(52)의 내부 공간으로 삽입될 수도 있으나, 피검사단자(52)의 내부 공간으로 진입 가능하게 하는 입구와 프로브 핀(1)의 위치가 대응되지 않는 경우가 발생할 수 있다. 복수의 프로브 핀(1)이 테스트 소켓(60)에 배치된 경우, 프로브 핀(1)이 배치된 간격이 피검사단자(52)의 복수의 내부 공간 입구가 배치된 간격과 일치하지 않을 수 있기 때문이다. 이와 같은 경우, 프로브 핀(1)은 피검사단자(52)의 내부 공간에 삽입되지 않고 입구 영역에서 단순히 선단부(210)가 접촉되는 방식으로 전기적 연결을 유지할 수도 있다. 팁(21)의 선단부(210)를 평면으로 형성한 경우, 보다 이러한 피검사단자(52)의 외관에 대해서 컨택트를 안정적으로 유지할 수 있다.

도 12에서는 하나의 프로브 핀(1)의 팁(21)이 피검사단자(52)에 접촉하고, 다른 하나의 프로브 핀(1)의 팁(21)이 피검사단자(52)의 도시되지 않은 다른 내부 공간으로 삽입된 것으로 도시하였다.

도 13는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 핀(1)이 평판(213)형 전극에 접하는 상황을 나타낸 측단면도이다.

도 13을 참조하면, 내부 공간이 형성되는 피검사단자(52)를 가지는 피검사 전자부품(50)이 아닌, 평판전극식의 피검사접점을 가져 전체적으로 평평하게 형성되는 피검사 전자부품(70)에 대해서 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 소켓(60) 및 프로브 핀(1)을 사용하는 상황을 확인할 수 있다.

피검사접점이 평면으로 형성되고 별도의 돌출된 피검사단자가 존재하지 않으므로, 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 핀(1)의 선단부(210)가 피검사접점에 직접 접촉하여 피검사부품과 프로브 핀(1)을 전기적으로 연결시킨다.

도 13에서는 하나의 프로브 핀(1)의 팁(21)이 피검사접점에 접촉하고, 다른 하나의 프로브 핀(1)의 팁(21)이 피검사 전자부품(70)의 도시되지 않은 내부 공간으로 삽입된 것으로 도시하였다.

본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.

비록 본 발명이 상기 언급된 바람직한 실시예와 관련하여 설명되었지만, 발명의 요지와 범위로부터 벗어남이 없이 다양한 수정이나 변형을 하는 것이 가능하다. 따라서 첨부된 특허청구의 범위에는 본 발명의 요지에 속하는 한 이러한 수정이나 변형을 포함할 것이다.

1 : 프로브 핀 20 : 탑 플런저
21, 23, 24 : 팁 22 : 연결부
30 : 프로브 바디 31 : 탄성체
40 : 기저 플런저 41 : 기저 연결부
50, 70 : 피검사 전자부품 51 : 전자부품 본체
52 : 피검사단자 53, 54 : 돌기
60 : 테스트 소켓 61 : 통공
62 : 상부 통공 101, 102 : 종래기술의 단자
100 : 종래기술의 프로브 핀 103, 104 : 종래기술의 프로브 핀 팁
210 : 선단부 211 : 하부 측벽
212 : 상부 측벽 213 : 평판

Claims

일단이 테스트 PCB의 검사접점과 접촉 가능한 기저 플런저;
상기 기저 플런저의 타단 주변의 적어도 일부 영역이 수용되어 전기적으로 상기 기저 플런저와 연결되는 프로브 바디;
일단에는 상기 프로브 바디에 수용되어 상기 프로브 바디와 전기적으로 연결되는 연결부가 형성되고, 타단에는 피검사 전자부품의 피검사단자에 삽입되어 접촉 가능하고 상기 피검사단자에 선단이 접촉 가능한 팁이 형성되는 탑 플런저; 및
상기 탑 플런저 및 상기 기저 플런저에 연결되어 상기 탑 플런저 및 상기 기저 플런저를 요동 가능하게 지지하는 탄성체를 포함하되,
상기 팁은, 상기 팁의 길이 방향에 직교하는 복수의 평판 및 상기 복수의 평판과 나란하지 않은 복수의 측벽이 반복적으로 교차되어 배치됨으로써, 상기 프로브 바디로부터 멀어지는 방향으로 복수의 단차를 갖는 테이퍼(taper) 형상으로 된 프로브 핀.
제1항에 있어서,
상기 팁의 복수의 단차는, 나선을 형성하며 이어지는 스크류 나사산에 의해 형성되는 프로브 핀.
제1항에 있어서,
상기 팁은, 외주 방향을 따라서 복수의 단차가 더 형성됨으로써 널링(knurling) 구조를 갖는 프로브 핀.
제1항에 있어서,
상기 팁의 선단은 상기 팁의 길이 방향에 직교하는 평면으로 형성되는 프로브 핀.
제1항에 있어서,
상기 팁의 프로파일 전부가 상기 피검사단자에 삽입되는 프로브 핀.
삭제
제1항에 있어서,
상기 복수의 측벽은,
상기 프로브 바디로부터 멀어지는 방향으로 테이퍼지는 프로브 핀.
제1항에 있어서,
상기 복수의 측벽은,
상기 복수의 평판에 직교하는 프로브 핀.
제1항에 있어서,
상기 복수의 측벽은,
상기 복수의 평판에 직교하는 하부 측벽; 및
상기 프로브 바디로부터 멀어지는 방향으로 테이퍼지는 상부 측벽을 포함하는 프로브 핀.
제1항에 있어서,
상기 프로브 핀의 길이 방향에 직교하는 평면에 대한 상기 팁의 단면은 원형인 프로브 핀.
제1항의 프로브 핀이 삽입될 수 있는 통공이 형성되고,
상기 탑 플런저가 노출되는 상면에는 상기 피검사 전자부품이 안착 가능한 테스트 소켓.