KR101500609B1

KR101500609B1 - 검사장치

Info

Publication number: KR101500609B1
Application number: KR20140039436A
Authority: KR
Inventors: 김희철
Original assignee: 리노공업주식회사
Priority date: 2014-04-02
Filing date: 2014-04-02
Publication date: 2015-03-19

Abstract

본 발명은 피검사체의 피검사접점과 검사회로의 검사접점을 전기적으로 연결하기 위한 검사장치용 프로브에 관한 것이다.
프로브는 상기 프로브는 검사 시 피검사접점에 접촉하는 제1 플런저, 검사회로의 검사접점에 접촉하는 제2플런저 및 상기 제1, 제2 플런저를 검사방향에 따라 신축시키는 탄성체를 포함하며, 상기 제1플런저는 피검사접점을 향해 연장하는 몸체, 상기 몸체에 결합되는 연결부 및 상기 연결부로부터 반경방향 외측으로 연장하다가 팁(tip)을 향해 수렴하는 확장접촉부를 포함하며, 상기 피검사체의 피검사접점은 소정 간격을 두고 떨어진 2개의 면접점을 포함하며, 상기 확장접촉부는 상기 2개의 면접점에 대응하는 2개의 면접촉부를 포함한다.

Description

검사장치{A TEST DEVICE}

본 발명은 피검사체의 전기적 특성을 검사하기 위한 검사장치용 프로브, 더욱 상세하게는 피검사체의 피검사접점, 예를 들면 카메라모듈의 소켓형 단자에 대해 테스트를 용이하게 하기 위한 검사장치용 프로브에 관한 것이다.

반도체 칩과 같은 피검사체는 미세한 전자회로가 고밀도로 집적되어 형성되어 있으며, 제조공정 중에 각 전자회로의 정상 여부를 테스트한다.

도 1에 나타낸 바와 같은 종래의 검사장치용 프로브(10)는 원통형 배럴(12), 일측에 팁(tip)을 갖고 타측은 원통형 배럴(12)에 부분 삽입되는 상부플런저, 일측에 팁(tip)을 갖고 타측이 상기 배럴(12)에 부분 삽입되는 하부 플런저(13), 및 상기 배럴(12) 내에 위치하고 상하 플런저(11,13) 사이에 배치되는 스프링(14)을 포함하여 구성한다.

일반적으로 피검사체의 피검사접점은 범프(bump), 패드(pad), 판상 리드 단자, 플러그 소켓 단자 형상 등 다양한 형상을 가질 수 있다.

예를 들면 카메라모듈과 같은 피검사체의 소켓형 단자(1)는 검사장치용 프로브(10)의 상부 플런저 팁(tip)에 의해 접촉한다. 소켓형 단자(1)는 평면이 아닌 곡면을 형상을 이루고 재질 또한 경질의 금속 재질로 이루어져 테스트 시에 정확하게 플런저(11)의 팁이 소켓형 단자에 접촉하지 못하는 문제가 발생하고 있다.

본 발명의 목적은 상술한 문제를 해결하기 위한 것으로, 피검사체의 피검사접점의 형상과 관계없이 검사를 정확히 할 수 있는 검사장치용 프로브를 제공함에 있다.

본 발명의 다른 목적은 검사의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 검사장치용 프로브를 제공함에 있다.

상술한 본 발명의 과제를 달성하기 위한 피검사체의 피검사접점과 검사회로의 검사접점을 전기적으로 연결하기 위한 검사장치용 프로브에 있어서, 상기 프로브는 검사 시 피검사접점에 접촉하는 제1 플런저, 검사회로의 검사접점에 접촉하는 제2플런저 및 상기 제1, 제플런저를 검사방향에 따라 신축시키는 탄성체를 포함하며, 상기 제1플런저는 피검사접점을 향해 연장하는 몸체, 상기 몸체에 결합되는 연결부 및 상기 연결부로부터 반경방향 외측으로 연장하다가 팁(tip)을 향해 수렴하는 확장접촉부를 포함하며, 상기 피검사체의 피검사접점은 소정 간격을 두고 떨어진 2개의 면접점을 포함하며, 상기 확장접촉부는 상기 2개의 면접점에 대응하는 2개의 면접촉부를 포함한다.

상기 제1플런저는 화살표 형상을 포함할 수 있다.

상기 2개의 면접점은 각각 볼록 곡면을 포함하며, 상기 2개의 면접촉부는 각각 상기 볼록 곡면에 상응하는 오목 곡면을 포함할 수 있다.

상기 2개의 면접촉부는 각각 하나의 오목곡면과 평면을 포함할 수 있다.

상기 확장접촉부는 테스트 시에 상기 볼록곡면과 오목곡면이 접촉한 상태에서, 상기 2개의 면접촉부 사이의 최단 거리가 이격된 2개의 면접점 사이의 거리보다 항상 같거나 작은 것이 바람직하다.

본 발명에 의한 검사장치용 프로브는 피검사체의 피검사접점의 형상에 상관없이 정확한 검사를 수행할 수 있을 뿐만 아니라 검사 시에 접촉저항을 낮출 수 있어 검사 신뢰성을 높일 수 있다.

도 1은 종래의 검사장치용 프로브를 나타내는 도,
도 2 내지 4는 본 발명의 실시예에 따른 검사장치용 프로브를 나타내는 도이다.

이하에서는 첨부도면을 참조하여 본 발명에 대해 상세히 설명한다. 이하 실시예는 본 발명의 사상과 직접적인 관련이 있는 구성들에 관해서만 설명하며, 그 외의 구성에 관해서는 설명을 생략한다. 그러나, 본 발명의 사상이 적용된 장치 또는 시스템을 구현함에 있어서, 이와 같이 설명이 생략된 구성이 불필요함을 의미하는 것이 아님을 밝힌다. 설명의 편의상 본 발명과 직접적으로 관련이 없는 부분은 생략하였고, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 부여하였다.

도 2 내지 4에 나타낸 바와 같이 본 발명에 따른 검사장치용 프로브(100)는 검사 시 피검사접점(1-1,1-2)에 접촉하는 제1 플런저(110), 검사회로의 검사접점(미도시)에 접촉하는 제2플런저(130) 및 상기 제1, 제2플런저(110,130)를 검사방향에 따라 신축시키는 탄성체(미도시)를 수용하는 원통형의 배럴(120)을 포함하여 구성할 수 있다.

카메라모듈과 같은 피검사체의 전기적 특성을 검사하기 위해서는 도 2에 나타낸 바와 같은 단자(1-1,1-2)에 프로브(100)를 접촉시켜야 한다. 즉, 상기 카메라모듈의 피검사접점(1-1,1-2)은 판상 부재를 절곡하여 형성한 리?터클 소켓 형상으로 구성되어 있다. 따라서, 본 발명에 따른 검사장치용 프로브(100)는 이러한 피검사접점(1-1,1-2)에 적합하도록 제작한 것이다.

상기 제1플런저(110)는 피검사접점(1-1,1-2)을 향해 연장하는 몸체(112), 상기 몸체(112)에 결합되는 연결부(114) 및 상기 연결부(114)로부터 반경방향 외측으로 연장하다가 팁(tip)을 향해 수렴하는 확장접촉부(116)를 포함할 수 있다. 즉, 상기 제1플런저(110)는 화살표 형상을 포함할 수 있다.

상기 피검사체의 피검사접점(1-1,1-2)은 소정 간격을 두고 떨어진 2개의 판재로서 각각 면접점(S1,S3)을 포함할 수 있다.

상기 확장접촉부(116)는 상기 2개의 면접점(S1,S3)에 대응하는 2개의 면접촉부(S2,S4)를 포함수 있다.

결과적으로, 테스트 시에 확장접촉부(116)의 2개 면접촉부(S2,S4)는 피검사접점(1-1,1-2)의 면접점(S1,S3)에 면접촉함으로써 확실하게 접촉을 보증할 수 있을 뿐만 아니라 접촉저항을 낮출 수 있어 검사 신뢰성을 향상시킬 수 있다.

도 3 및 4에 나타낸 바와 같이, 상기 2개의 면접점(S1,S3)은 각각 볼록 곡면을 포함하고, 상기 2개의 면접촉부(S2,S4)는 각각 상기 볼록 곡면에 상응하는 오목 곡면을 포함하는 것이 바람직하다.

특히, 상기 2개의 면접촉부(S2,S4)는 각각 하나의 오목곡면(R1,R2)과 평면을 포함하는 것이 바람직하다. 따라서, 테스트 시에 확장접촉부(116)는 소켓 단자형 피검사접접(1-1,1-2) 사이에 끼이는 것이 방지될 수 있다. 즉, 상기 확장접촉부(116)는 테스트 시에 상기 볼록곡면(S1,S3)과 오목곡면(S2,S4)이 접촉한 상태에서, 상기 2개의 면접촉부(S2,S4) 사이의 최단 거리가 이격된 2개의 면접점(S1,S3) 사이의 거리보다 항상 같거나 작아야 확장접촉부(116)가 소켓 단자형 피검사접접(1-1,1-2) 사이에 끼이지 않는다.

상기 제1플런저(110)의 몸체(112)는 일측이 배럴(120)에 부분 삽입되고 타측은 상기 연결부(114)에 결합될 수 있다. 상기 몸체(112)와 연결부(114)는 억지끼워 맞춤, 나사결합, 용접, 접착제 중 적어도 하나를 이용하여 결합될 수 있다.

확장접촉부(116)는 원통형 부재에 단부를 화살표 모양으로 가공함으로써 제조될 수 있다.

상기 2개의 면접촉부(S2,S4)는 피검사접점(1-,1-2)의 형상에 따라 다양하게 형성될 수 있다. 즉, 상기 2개의 면접촉부(S2,S4)는 서로 비대칭으로 서로 다른 위치에 서로 다른 곡률(R1,R2)을 오목 곡면을(S2,S4)을 포함할 수 있다. 물론 상기 2개의 면접촉부(S2,S4)는 필요에 따라 서로 동일한 형상으로 제조하는 것도 가능하다.

상부 플런저(110)에서 몸체(112)와 확장접촉부(116)는 분리되어 제조된 후 서로 결합하는 것이 바람직하나, 단일 원통형 부재를 이용하여 단일체로 제조하는 것도 가능하다. 만일 분리 제작되어 결합할 경우, 피검사체의 피검사접점(1-1,1-2)의 형상과 관계 없이 상부 플런저의 몸체(112), 배럴(120), 하부 플런저(110) 및 스프링(미도시)으로 구성되는 프로브(100)를 제작한 후, 피검사체의 피검사접점(1-1,1-2)에 맞는 형상의 확장접촉부(116)를 별도로 제작하여 필요 시 조립하여 사용하는 것이 가능하다. 결과적으로 다양한 형태의 피검사접점에 맞는 확장접촉부만을 별도로 제작하고 나머지 부분은 공용으로 사용함으로써 프로브 비용을 줄일 수 있다. 특히, 프로브(100)의 수명 중 피검사체에 접촉하는 부분의 수명이 가장 짧기 때문에 손상 시에 확장접촉부(116)만을 교체하여 사용함으로써 비용을 절감할 수 있다.

또한, 확장접촉부(116)의 구성을 상부 플런저(110)에만 적용하는 것으로 설명하였지만 필요에 따라 하부 플런저(130)에도 적용할 수 있다. 즉 검사회로의 검사접점(미도시) 형상에 따라 적용하는 것도 가능하다.

상기한 실시예는 예시적인 것에 불과한 것으로, 당해 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 하기의 특허청구범위에 기재된 발명의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.

100: 검사장치용 프로브
110: 상부 플런저
112: 몸체
114: 결합부
116:확장접촉부
120: 배럴
130: 하부 플런저

Claims

피검사체의 피검사접점과 검사회로의 검사접점을 전기적으로 연결하기 위한 검사장치용 프로브에 있어서,
상기 프로브는 검사 시 피검사접점에 접촉하는 제1 플런저, 검사회로의 검사접점에 접촉하는 제2플런저 및 상기 제1, 제2 플런저를 검사방향에 따라 신축시키는 탄성체를 포함하며,
상기 제1플런저는 피검사접점을 향해 연장하는 몸체, 상기 몸체에 결합되는 연결부 및 상기 연결부로부터 반경방향 외측으로 연장하다가 팁(tip)을 향해 수렴하는 확장접촉부를 포함하며,
상기 피검사체의 피검사접점은 소정 간격을 두고 떨어진 2개의 면접점을 포함하며, 상기 확장접촉부는 상기 2개의 면접점에 대응하는 2개의 면접촉부를 포함하는 것을 특징으로 하는 검사장치용 프로브.
제 1항에 있어서,
상기 제1플런저는 화살표 형상을 포함하는 것을 특징으로 하는 검사장치용 프로브.
제2항에 있어서,
상기 2개의 면접점은 각각 볼록 곡면을 포함하며,
상기 2개의 면접촉부는 각각 상기 볼록 곡면에 상응하는 오목 곡면을 포함하는 것을 특징으로 하는 검사장치용 프로브.
제3항에 있어서,
상기 2개의 면접촉부는 각각 하나의 오목곡면과 평면을 포함하는 것을 특징으로 하는 검사장치용 프로브.
제3항에 있어서,
상기 확장접촉부는 테스트 시에 상기 볼록곡면과 오목곡면이 접촉한 상태에서, 상기 2개의 면접촉부 사이의 최단 거리가 이격된 2개의 면접점 사이의 거리보다 항상 같거나 작은 것을 특징으로 하는 검사장치용 프로브.