TWI330253B - - Google Patents

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TWI330253B
TWI330253B TW095103457A TW95103457A TWI330253B TW I330253 B TWI330253 B TW I330253B TW 095103457 A TW095103457 A TW 095103457A TW 95103457 A TW95103457 A TW 95103457A TW I330253 B TWI330253 B TW I330253B
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Description

1330253 v 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關於端面部份被研磨為略圓的圓弧狀,或 具有接合部的玻璃基板的端面’以及研磨面和玻璃面間的 境界線部份的各種的缺陷,特別是被稱為瑕疵、蛤狀的破 片(以下稱為蛤狀邊緣缺陷[η γ ])、破片、研磨殘餘、未 研磨、或燒傷缺陷之測出裴置及測出方法。 【先前技術】 被成形以帶(ribbon)狀被搬送的玻璃板係在以矩形 狀切斷為所需要的尺寸的狀態下,藉由盤(plate)等的保 管谷器被保管、或被出貨。此時,根據使用用途目的,將 切斷後的玻璃板的端面邊緣部藉由鑽石輪(diam〇nd wheei) 作去角加工(接合),或端面的剖面成為圓弧狀般作研磨加 工,以成為半透明的磨砂玻璃狀的方式研磨端面。此結果 使玻璃板的處理作業時的傷害的發生被防止,安全被確 保’又,根據玻璃板的端面的強度降低造成的破損和商品 價值降低被防止。 進行此接合加工和端面加工時,在玻璃板的端緣部 伤’有因為藉由鑽石輪的損耗造成的研磨不良和由於缺點 造成的瑕疫和破片的發生。 特別是液晶顯示器用玻璃基板和電漿顯示器用玻璃 基板、場放射(field emissi〇n)顯示器基板、有機el等 的平面顯示器面板等的顯示用基板等的玻璃基板的製造 7042-7711-PF 5 1330253 ’將該玻璃基板作南溫加熱處理時 理時’存在玻璃板的 會有玻璃基板破損的 製程中 面接合部的微細的瑕疲或破片時、 問題發生。 作為此玻璃板的端面部的缺陷的測出方法,各種的方
在邊緣的缺陷照明,將此藉由照相機拍攝,處理此影像, 調查缺陷的有無的玻璃板的邊緣缺陷測出方法被揭露。上 述光源由於係在照相機的視野之外,自照相機所見,在玻 璃板的陰暗處被配置。在上述影像中,在玻璃板的表面並 列的邊緣的一般面係變暗,在邊緣存在的缺陷變亮般,藉 由將自光源到照相機的光量縮小調整,光學地測出破片。 又’在由本申請人申請的曰本特開平6_258 231號公 報中,在將邊緣部份被去角且具有接合面的玻璃以水平載 置的狀‘4下,將該邊緣部份的缺陷測出的裝置被揭露。此 測出裝置係具有在該邊緣部份,自將和板玻璃相反側的上 下傾斜方向的兩方向照射光的光源,以及在玻璃邊緣被照 射的光路的延長領域的範圍之外’將板玻璃面以及接合面 的光源側的角落部份自和光的照射方向相反側,經由板玻 璃透明部份’拍攝邊緣部份的至少兩台照相機。根據該照 相機拍攝的影像信號的亮信號的大小,邊緣部份的缺點被 識別。 又’在日本特開2003-247953號公報中,液晶面板的 7042-7711-PF 6 1330253 v 外觀檢查方法、和裝置被揭露。在液晶面板的外觀檢查裝 置方面,較液晶面板的外型大的口徑的環狀照明燈在該液 晶面板的外週被配置。又,液晶面板的外觀檢查方法係包 括:在該液晶面板的正上方配置拍攝裝置的製程;將亮燈 . 的環狀照明燈的照明光向液晶面板的端面照射,將以照明 光被照射的液晶面板的侧面的反射光藉由拍攝裝置拍攝 的製程;影像處理裝置將藉由拍攝裝置拍攝的影像放入作 為二值化,由在影像中呈現的框狀的白影像測出液晶面板 φ 的外形形狀,由此以外的白影像的有無測出液晶面板的端 面的破片、破損的製程。 在上述日本特開2001-153816號的缺陷測出方法中, 對於玻璃板的略圓的端面,藉由自傾斜下方的照明,玻璃 板下面被照射,只有在玻璃板的邊緣出現的破片會發生, 玻璃板的其他部份全變暗。因此,各種缺陷中,雖然可測 出有關發光的破片,但有無法測出稱為瑕疵、未研磨、和 燒傷的其他缺陷的問題點。 ® 又,在日本特開平6-258231號的裝置中,將板玻璃 的表裏兩面的邊緣的稜線部份傾斜,對於研削切割的接合 部’照明光係自斜上方、和斜下方的兩方向被照射。因此, 可測出某程度玻璃板的接合部的瑕疵、燒傷。然而,在玻 璃板的端面為略圓的液晶顯示器用玻璃基板和電漿顯示 器用玻璃基板等的平面顯示器面板等的玻璃基板的製造 製程中’由於該玻璃基板被高溫加熱處理,即使在玻璃板 的端面和接合部具有微細的瑕疵和破片時,玻璃板的破裂 7
7042-7711-PF 1330253 發生的疑慮大。因此,在電漿顯示器面板等的玻璃基板的 製造製程中,必須較包含以瑕疵和燒傷為宜,破片、未研 磨等的缺陷以較曰本特開平6-258231號的裝置更高性能 的方式進行微細的缺陷的檢測。 又’在日本特開2〇〇 3-247953號的裝置和方法中,較 液晶面板的外型大口徑的環狀照明燈在該液晶面板的外 週被配置,照相機僅被設置在液晶面板的中心部的上方, 同時地檢查液晶面板表面的瑕疫、破裂、破片以及端面的 破裂、破片的兩方。因此,對應液晶面板的尺寸變化,環 狀照明燈也必須變更。 且,液SS面板通常為矩形狀,由於在其外週部配置環 狀的照明光,液晶面板和環狀照明間的間隔不是一定,在 液晶面板的端面被照射的照度不是一定。 又,因為伴隨著液晶面板的大型化,環狀照明也大型 化,所以設備的大型化無法避免,因為照相機也僅在液晶 面板的中心部的上方設置,拍攝端面部的角度會變化而有 籲端面的微細的瑕疲、研磨殘留、未研磨、燒傷等高精度的 缺陷檢測恐怕不行的問題點。 其他在玻璃基板的端面全週藉由圓形狀以略圓的形 狀被研磨加工的情形中,例如,將環狀照明在玻璃基板的 一面側配置,自其中心拍攝端面部的影像的話,端面表面 係部份地變得很亮,使端面的照度均勻而一定化係困難, 又,將端面的缺陷、以及研磨面和玻璃面的境界線部的缺 陷,以同一光學系統測出係困難。 、 7042-7711-PF 8 1330253 本發明的一或一以上的實施例係有關於在液晶顯示 器用玻璃基板和電毁顯示器用玻璃基板、場放射顯示器基 板、有機EL等的平面顯示器面板等的顯示用基板等的玻 .璃基板的略圓的端面部’提供將瑕疫、破片、研磨殘留、 . 未研磨、以及燒傷等的各種缺陷,且藉由上述研削或研磨 將略圓的端面和玻璃板的上下兩面之間的境界線部份的 給狀邊緣缺陷和破片,可同時且確實地高精度地測出的玻 • 璃板之缺陷測出裝置及測出方法。 根據本發明的一或一以上的實施例,玻璃板之端面缺 ’則出裝置係包括:拍攝裝置’包括較玻璃板的端面外側 且由表裡兩面的傾斜兩方向將玻璃板的端面部份拍攝的 至少兩台的CCD照相機;照明裂置,其中至少包括藉由在 中〜軸方向可照射照明光,且具有狹縫狀的缺口部的約略
C子形狀的環照明;以及影像處理裝置,處理藉由上述CCD ·’、’、相機拍攝的拍攝信號以判定該端面部的良否。玻璃板的 上述端面以和上述環照明的中心轴-致般,在上述開口狹 2 内被可移動地插入’上述照明裝置係在上述端面照射 射光,上述端面藉由上述拍攝裝置被拍攝得到的影像信 號藉由上述影像處理裝置處理’以測出上述端面的缺陷。 *又,根據本發明的一或一以上的實施例,上述玻璃板 的端面被去角’具有由圓弧狀的端面或平滑的稜線部構成 的端面也可。 又,根據本發明的一或一以上的實施例上述照明裝
7042-7711-PF 9 1330253 置係具有在上述玻璃板的端面的缺陷檢查對象部份的左 右兩側附近位置被配置的兩個c字狀的環照明也可。各環 照明係照射上述缺陷檢查對象部份。 又,根據本發明的一或一以上的實施例,上述照明裝 置係又方*7具有自上述玻璃板的在表裏兩面的傾斜兩方 向在玻璃板的端面部份照射照射光的擴散透過光源。 又’根據本發明的一或一以上的實施例,上述環照明 係亦可具有以同心圓狀被配設的複數的LED元件。 又,根據本發明的一或一以上的實施例,玻璃板之端 面缺陷測出裝置更包括以玻璃板的側邊與搬送方向平行 的方式搬送玻璃板的搬送裝置也可。上述照明裝置和上述 拍攝裝置係在上述玻璃板的兩側邊的各端面附近位置分 別被配置也可〇 又根據本發明的一或一以上的實施例,上述照明裝 置和上述拍攝裝置係在機器人(robot)的把手(handle)被 文裝也可使上述把手沿著玻璃板的外周端面順序移動, 將玻璃板的端面部份順序拍攝,將拍攝的影像信號藉由影 像處理裝置順序處理也可。 又,根據本發明的一或一以上的實施例,玻璃板之端 面缺陷測出裝置包括:第一缺陷檢查裝置,將和搬送中的 玻璃板的搬送方向平行的側邊的端面檢查,對於搬送被固 疋,以及第二缺陷檢查裝置,將和搬送中的玻璃板的上述 搬送方向正交的側邊的端面檢查’對於玻璃板可移動。上 述第缺^檢查裝置和上述第二缺陷檢查裝置係分別具
7042-7711-PF 10 1330253 備上述照明裝置和上述拍攝裝置。 根據本發明的-或—以上的實施例,玻璃板之端面缺 陷測出方法,在c字形狀的環照明的開口狹縫部内,可移 動地插入於玻璃板的端部,將上述端面部的位置和環照明 的中心軸的位置重疊的端面位置作為檢查對象部份,照射 :照明的照射光’將上述端面部藉由兩台⑽照相機拍 攝,將拍攝的影像信號的濃淡水準與上限和下限的兩個設 =水準比較’藉由上端水準以上、或下端水準以下的影像 仏號的位置以下的晝素作妹 旦京^虎的位置'大小、形狀,以測出 缺陷的有無種別的步驟。 又,根據本發明的一或—以上的實施例’玻璃板之端 =陷測出方法更包括:藉由搬送裝置,以玻璃板的側邊 ”搬送方向平行的方式搬送玻璃板,在該玻璃板的兩側邊 的各端面附近位置至少具有C字狀的環照明的照明裝置, 字藉由…、明裝置被照射的端面拍攝的拍攝裝置分別配 將藉由拍攝裝置拍攝的端面㈣像藉由料處理裝置 理’测出缺陷的有無的步驟也可。 又,根據本發明的一或一以上的實施例,玻璃板之端 :缺陷树出方法更包括:將至少具有c字形狀的環照明的 上述,明裝置和拍攝藉由照明裝置被照射的端面的拍攝 裝置女裝在機器人的抵手’使上述把手沿著玻璃板的外周 :面順序:動,將玻璃板的端面部份順序拍攝,將拍攝的 號藉由衫像處理裝置順序處理,測出缺 步驟也可。 …、的 7042-7711-pp 11 丄330253 又,根據本發明#-或一以上的實施你!,玻璃板之端 面缺陷測出方法可包括:藉由對於搬送被固定的第一缺陷 檢查裝置檢查與搬送中的玻璃&的搬送方向平行的側邊 端面,藉由對於玻璃板可移動的第二缺陷檢查裝置檢查 與搬运中的玻璃板的上述搬送方向平行的側邊以外的侧 邊的端面的步驟。上述第一缺陷檢查裝置和上述第二缺陷 檢查裝置係分別包括C字型狀的環照明和兩台ccd照相 機。 根據本發明的一或一以上的實施例,作為在玻璃板的 端面照射的光源的配置,將藉由如習知般,玻璃板端面的 外周側方向、或端面的斜上方、或斜下方的限定角度照射 的光源的配置取代,因為將玻璃板的端部以正交在C字形 狀的裱照明的開口狹縫部内的方式可移動地插入,玻璃板 的端部成為該環照明的中心軸上般配置,所以自玻璃板的 端面的上面至下面,成為可均等地沒有亮暗帶地照射光源 在,剖面為圓弧狀的端面因為在此照明配置,自玻璃板的 斜上方和斜下方的兩處以CCD照相機,將上述照明光以沒 有亮暗帶被照射的端部的影像拍攝,可使該端部的瑕疵、 破片、研磨殘餘、未研磨、燒傷等的各缺陷的測出精度提 1¾ 0 又’且,將透過照明比玻璃板的上部和下部朝向上述 端部配置各一組,因為該透過照明的光學系統和上述環照 明的光學系統作為不給予相互影響的配置,即使有關藉由 研削和研磨’在剖面成為圓弧狀的端面、玻璃板的上面、 12 7042-7711-pf 丄分0253 下面之間的境界線部發生的破片和蛤狀邊緣缺陷,因為藉 由測出上述端面的CCD照相機可同時測出,所以檢查裝置 的δ又置空間以最小限度也可。 其他特徵和效果係可由實施例的記載和所附的申請 專利範圍而了解β 【實施方式】 本發明的實施例係將玻璃板的端面部份研削或研 磨’將稜線部份作為平滑的玻璃板2、或將端面部份的剖 面形狀作為圓弧狀的玻璃板2作為水平姿勢的狀態,提供 測出該端面部份的缺陷的裝置。 特別是液晶顯示器用玻璃基板和電漿顯示器用玻璃 基板等的顯示用玻璃基板等係,在其製造製程中,用以防 止根據加熱、冷卻等的過酷的條件的自爆,將玻璃板的端 面與通常的端面相比’作為略圓的剖面圓弧狀的端面的情 況多’照射與端面為圓的剖面形狀配合的形狀的照明光, 在略圓的端面部,均一地照射照明光,不遺漏缺陷的測出 係為必要。 根據本發明的缺陷檢查裝置1的測出對象缺陷係為在 玻璃板略圓的端面部發生的”瑕疵”、”破片”、,,研磨 殘留、未研磨、和燒傷等的表面缺陷8,且為 藉由上述研削或研磨,在略圓的端面和玻璃板的上下 的境界線附近發生的”蛤狀邊緣缺陷,,和”破片,,的邊 緣缺陷9。 7042-7711-PF 13 1330253 該缺陷8、9中,”破片”係如文字了解,邊緣部2b 為缺口狀態的邊緣缺陷9,在邊緣部2b發生,形狀不拘。 又,被稱為蛤狀邊緣缺陷”的缺陷係同樣發生在缺陷部 2b,缺口形狀係以蛤狀的同心半圓狀的圓弧狀缺口的邊緣 缺陷9,藉由照明裝置1〇照射照明光的話,在該部份全體 為發白光的缺陷(參考第1〇圖)。 又,瑕疵,係由擦傷和細線條的瑕疵構成的表面缺 陷8,稱為”燒傷,,的缺陷係在玻璃板2的端面部份的不 透明部份,藉由研磨時的研削具和玻璃板的摩擦熱,玻璃 板的研磨面熔融產生的看起來白白的表面缺陷8,這些的 缺陷係在玻璃板2的端面2a的表面發生。 又,有關”研磨殘餘,,、”未研磨,,的缺陷係為,研 磨不足、或由於未圖示的研磨裝置等的問題而未被研磨的 -P伤即使照射照明光,不會發生白光,相反地,反而以 照相機3拍攝的影像為拍成黑的缺陷,僅在端面部份產生 的表面缺陷8(參考第12圖)。
如第1圖所不般,在較玻璃板2的端面的外側方向, :在玻璃板2的上面、和下面的傾斜方向的兩方向分別配 。又至》由一台的CCD照相機3構成的拍攝裝置,在該上下 兩方向叹置的上述CCD照相機3、3係將玻璃& 2的端面 部份的約略同-部份拍攝的方式配置。 如此第1圖所示般,在使用兩台CCD照相機的情形 中,該CCD照相换ς认— 文裝角度係將玻璃板面在外側延县 的方向作為基準,在砉直工 仕衣義兩面侧以30〜45度程度的角度配 7042-7711-pf 14 1330253 ,希的亦即,將玻璃板以水平載置的情形係,自 水平面在上下兩方向為3〇〜45度程度或為所希望的角度。 如第5圖所示般,將具有在上述照相機3所拍攝 璃板的4^部的略圓的端面2a可照射照明光的狹縫 .·狀的缺口部的約略C字形狀的環照明11配置,將上述玻 璃板2的端面2a藉由研削或研磨作為圓弧狀的端面^、 和上述環”、、明1 1的中心轴約略一致般,在上述環照明1 1 的開口狹縫部12内使玻璃板2的端面2a可移動地插入, •自與該端面2&的剖面圓弧狀部對應的環照明11的各部份 照射照射光,在破璃板2的端部中,玻璃板2的面和環照 明11係為正交的狀態。 在如上述般配置環照明11和玻璃板2的狀態下,設 置處理以上述兩台CCD照相機3拍攝玻璃板2的端面的影 像信號,以檢測該端面2a的缺陷的有無而判定良否的影 像處理裝置4(參考第9圖)。 如第3圖所示般,將上述約略c字形狀的環照明u 籲只在玻璃板2的端面2a的一處配設,在環照明丨丨的中心 軸上,在自環照明11僅偏差些許的位置照射環照明丨丨的 照明光’將以該照明光照射的端面部份作為以CCD照相機 3拍攝的方式,如第2圖所示般,在上述玻璃板2的端面 2a的缺陷檢查對象部份的左右兩側附近位置的兩處可移 動地插入,使根據該兩處的環照明丨丨、丨丨的照射光的照 射位置約略一致,成為根據CCD照相機的拍攝對象部份般 被配置的話,玻璃板2的端面部2a的照度亮暗帶係消失 7042-7711-PF 15 1330253 疋更佳地。此情形’兩個環照明的設置間隔係由確保照相 機的視野角度’從上方為60~90mm程度的範圍是所希望的。 如上述Ac’因為在玻璃板2的略圓的端面部2a,可移 動地插入在c字形狀的環照明u的開口狹縫部12,使端 •. 面部2a的位置和環照明11的中心軸的位置約略一致,即 使該端面2a的剖面形狀係為圓弧狀,在該端面2a以沒有 亮暗帶的照明光被照射(參考第卜6圖)。 在此狀態中’上述水平姿勢的玻璃板2的上下的面、 籲和作為縱姿勢的環照明i i的圓形的假想面、亦即與藉由 環照明11的LED照明安裝側的外徑被形成的面係為正交 的位置關係,且,玻璃板2的端面部的接線和環照明i】 的圓形的假想面也為正交狀態。 藉由根據上述環照明丨丨的照明系統,有關根據在玻 璃板2的端面2a的圓弧狀面發生的研磨的缺陷,照明光 係大致均等被充分照射,可測出瑕疵、破片、研磨殘留、 未研磨、燒傷等的缺陷,有關在藉由研削和研磨,剖面成 ® 為圓弧狀的端面2a、作為玻璃板2的上面、下面之間的境 界線的稜線部2b發生的破片和蛤狀邊緣缺陷(蛤狀的破 片),照明光不旎充分被照射,測出遺漏係可能會發生。 因此,因為有關該稜線部2b的缺陷也確實地測出, 如第1、2圖所示般,在上述環照明加上,在上述玻璃板2 的上方、下方位置,且自上述玻璃板2的端部位置看,在 上下傾斜的兩方向位置設置擴散透過照明丨3、丨3,將該擴 政透過照明13、13的光軸和上述(XD照相機3的光轴作
7042-7711-PF 1330253 為若干偏移角度位置,在玻璃板的圓弧狀端面和上下兩面 的境界部份’自擴散透過照明13、13的光源被照射般配 設。 上述擴散透過照明13係如第1〜3圖所示般,在自玻 璃板2的表裏兩面分離的方向傾斜的方向,使擴散透過照 明13的照明光入射,在玻璃板2的圓弧狀的端面、以 及該端面2a和玻璃面之間的境界線部份(稜線部份)2b作 為被照射般’在擴散透過照明13的發光面分別在玻璃板2 的相反面側被配置的照相機3的視野内,以佔據1 /5〜丨/4 程度的面積的方式被設定。 作為此範圍的理由係上述擴散透過照明1 3的發光面 進入照相機3的視野的面積比1 / 4大的話,稜線部的蛤狀 邊緣缺陷和破片係和擴散透過照明同化而變得沒有區 別’又’在搬送玻璃板進行缺陷的測出的情形中,也有玻 璃板多少也有蛇行被搬送的可能性。 又’上述擴散透過照明13的發光面進入照相機3的 視野的面積比1/5少的話,稜線部2b的蛤狀邊緣缺陷和 破片係不會發光,無法測出同一缺陷。 且’藉由將玻璃板作為水平姿勢的情形詳述的話,例 如,根據在比玻璃板2上方設置的擴散透過照明丨3的照 明光係作為主要被照射在玻璃板2的端面2a、以及該端面 2a和玻璃板2的下面2c之間的境界線部份的方式,根據 在比玻璃板2下方設置的擴散透過照明1 3的照明光係作 為主要被照射在玻璃板2的端面2a、以及該端面23和玻
7042-7711-PF 1330253 璃板2的上面之間的境界線部份的方式。 —上述擴散透過照日月13係利用將遍元件(發光二極體 -件)複數個一—人元的縱橫地配列,在擴散透過照明13的 照相機側面對的寬度’亦即,在端面平行的邊係希望呈有 照相機的視野的兩倍以上的寬度,又,高度係自上述擴散 透過照明13的發光面分別在玻璃板的相反面側被配置的 照相機3的視野内,以佔據1/5〜1/4程度的面積般的關係 的大小也可。 、又,上述C字形狀的環照日月n的光源部份係跨越刚 度以上的角度的半圓以上的形狀也可,較佳的是玻璃板2 的端部可移動地插人的狹縫狀部12之外的其他部份作為 光源的廣範圍。
又,上述環照明11係將高周波螢光燈等作為C字狀 也可’考慮製作的容易性 ' 壽命、破損等的話,如第5、6 圖所示般,將多數的LED元件lla、Ua..1複數列同心圓 狀酉^各LED το件1 ia、Ua...的照射方向係作為可照射 在衣‘、’、月11 @中心軸上的大致同一部份般配列的。字形 狀的照明即可。此情形,根據多數的LED元件lla、lla··. 的各光軸的形狀成為圓錐形狀。 該環照明11的LED元件的安裝角度係使兩個環照明 11相對之時,考慮兩個環照明11、11間的所希望間 隔60 90mm的話,自水平方向作為1〇〜45度為所希望的。 如上述,如第1〜3圖所示般,藉由根據在破璃板2的 端面2a配置的環照明u的照明系統、以及根據自玻璃面
7042-7711-PF 18 1330253 2C的上下傾斜方向的擴散透過照明13的照明系統 ^ 統的照明系統,將被照射的略圓的端面部份、以、兩系 板的上面、下® 2c之間的境界附近部份同時以至坡璃 ⑽照相機3、3拍攝’將分別被得到 二兩台 理裝置料考第9圖)處理,判別缺陷的J像1^像處 又,在上述玻璃板2的傾斜上部側設置的照相機^係 將玻璃板2的端部的被研磨的略圓的端面部份、以’: 端面部份2a和玻璃板2的上面之間的境界附近部份= 部份作為拍攝對象,有關端面部份2a和玻璃板2的下面 :間的境界附近部份,因為由於略圓的端φ 2a的研磨部 份’視野被遮住而拍攝困難。 又,和上述同樣,在玻璃板2的傾斜下部側設置的照 機3係將玻璃板2的端部的被研磨的略圓的端面部份 2a、以及該端面部份2a和玻璃板2的下面之間的境界附 近部份的兩部份作為拍攝對象,有關端面部份2a和玻璃 板2上面之間的境界附近部份,因為由於略圓的端面仏 的研磨部份,視野被遮住而拍攝困難。 藉由上述CCD照相機3被拍攝的影像係如下述般被處 理。 藉由玻璃板2的端部的研削和研磨而略圓的端面2a 係,藉由研磨材的微小的磨砂瑕疵的集合體,成為磨砂玻 螭狀,以照相機3拍攝的影像係被拍出帶有灰色感。將該 端面2a以CCJ)照相機3拍攝的原影像,作為例如,以256 匕調的濃淡水準中最暗的濃淡水準為〇 ,最亮的濃淡水準 7〇42-7711-pf 19 1330253 給狀透緣缺陷 為255的話,有關,,瑕疵 y,’ ,, la 、燒傷,’等的缺陷’如第10圖所示般 水準為’,亮”側的水準“上的”亮,, 成仏 从” 土 儿乜號而破拍出白白 、’研磨”、和”研磨殘留”的缺陷係如第12圖所 示般,成為濃淡水準為”暗”侧的水準“下的”二: 號而被拍出黑黑的。 9 ° 因此’將拍攝的原影像(參考第!◦圖)藉由設定的上 限的濃淡水準作為二值化,將缺陷部份作為,,明” β伤作為冑,對於被得到的:值化影像(參考第η 圖),進行標記uabeling),藉由作為缺陷部份的,,明” :,畫素的位置、大小,判別,’瑕疵、燒傷,,的,,表面缺 陷、以及”蛤狀邊緣缺陷、破片,,μ” j从 、 類。 您%研陷破片的邊緣缺陷,,的種 亦即,由標記後的,,” 幻月仏唬的位置以及端面加工部 的邊緣之間的距離,可分 J刀別判別缺陷的種類。例如,缺陷 係在端面加工部被包含的情 的,,表面缺陷8”,跨越端二/作瑕"傷” 跨越端面加工部的邊緣,或在比邊緣 外側的情形係,視作,,&纟$ #㈣邊緣缺陷、破片”的”邊緣缺 ra 9 〇 同樣地,將拍攝的原影像(參考第12圖)藉由設定的 下限的遺淡水準而二值化之後作反轉處理,將下限水準以 下的缺陷部份作為,,明,,,正常部份作為,,暗,,,對於被 得到的二值化影像(春者笛 考第13圖),進行標記,藉由作為 缺fc部份的”明,,的當去 —素的位置、大小,判別,,未研
7042-7711-PF 20 1330253 磨、和研磨殘留,’的缺陷和判別、缺陷的有無和種類。 上述叹疋的上限水準、下限水準係每玻璃板2的品種 經驗地設定,可對應必要自由地設定變更。 又’在上述”表面缺陷8”和”邊緣缺陷9”的判定 *基準以外,每以各⑽照相機拍攝的玻璃板的端面的影像 -@視野進行玻璃板的研磨面的粗度等的畫質的檢查。此情 形將視野内的輝度的積算值以視野内的畫素(面積值)除 算,求得平均濃度,將該平均濃度和設定輸入的基準值比 籲較,配合將基準以上作為缺陷的判定基準以進行。 此情形’研磨面的紋理而照出白白的情形,因為畫質 不佳而作為缺陷處理,研磨面的紋理照 形,畫質在基準值内,判定為良品。 … 上述CCD照相機3係至少設置兩台,將在各CCD照相 機3拍攝的原影像放入在影像處理装置4,有關該放入的 原影像,分別對於,,明”側的上限水準、以及,,暗,,側的 下限水準的兩個設定水準個別地作二值化處理以判別缺 癱陷的有無。 >濃淡水準為由下限水準至上限水準内的中間的畫素 係認知為沒有缺陷的正常範圍,即使在超過上限水準的情 形、成為下限水準以下的情形中,也有藉由位置、大小, 而視為在正常範圍,基於在每一品種預先設定的上限水 準、下限水準、以及其他的判定基準,判別良否即可。 上述CCD照相機3係作為二次元的區域(area)照相 機’也可使用線照相機。此情形,必要的話,藉由線照相 7042-7711-pp 21 1330253 機使掃描的影像資料在演算處理裝置5 (參考第9圖)記 憶,在二次元的區域組裝處理般也可。 成為上述對象的玻璃板2係將在端緣部施加去角加工 和端面研磨的玻璃板全體作為對象,特別是對於端面略圓 的剖面形狀的液晶顯示器用玻璃基板和電漿顯示器用玻 璃基板、場放射顯示器基板、有機EL等的平板顯示器等 的矩形狀的各種顯示器基板為有效,且,車輛用的窗玻璃 板般的不同形狀的玻璃板也可。
又’作為將玻璃板2的端面2a的缺陷檢查在全周圍 橫跨進行的方法係如第8圖所示般,在和被搬送的玻璃板 2的搬送方向平行的兩邊的各位置,將至少上述環照明】】 和至少兩個CCD照相機3、3構成的缺陷測出裝置!夾持 玻璃板2般固設,玻璃板2通過該缺陷測出裝置!時,將 玻璃板2的兩邊的端面2a順序檢查之後,玻璃板2的未 檢查的兩邊和搬送方向平行般,將搬送方向變換9〇度,
在該未檢查的兩邊的各位置,將由和上述同樣的照明系統 以及照相冑3構成的缺陷測出裝置1分別配設,玻璃板2 通過該缺陷測出裝f i之時,將玻璃板的兩邊的端面h 順序檢查即可。 或者,將由具備上述至少環照明u的照明裝置1〇和 二相冑3構成的拍攝裝置在未圖示的多關節機器人的 圖丁把手女裝’使該把手沿著玻璃板2的外周端面順序 :動’將玻璃板2的端面全周順序拍攝,將各拍攝的影像 號藉由々像處理裝置4進行端面部2a的缺陷的判別即 7042-7711-pf 22 1330253 tfj- 〇 > 0S HH ifct ,、,、月裝置和拍攝裝置係為可使照明裝置和拍攝裝 置移動的方式的話,即使不是多關節機器人的把手也可, 即使在通常的機器人(例如,直動系統)把手安裝也可。 又,將破螭板搬送中與搬送方向平行的兩邊的端面藉 由第缺陷測出裝置檢查,在玻璃板停止時,將和上述兩 邊正乂的殘留的兩邊的端面藉由第二缺陷測出裝置檢查 般也可* ~
邊將上述玻璃板搬送一邊進行缺陷的測出的情形 係希望將搬送線上以水平姿勢搬送,但—邊將傾斜輸送機 ( yer)上以傾斜姿勢搬送一邊進行缺陷的測出也可。 又在上述詳細的說明中,在將玻璃板以水平姿勢搬 送的情形’關於玻璃板的上下位置、上下方向的記載,在 以傾斜姿勢搬送的情形中,換讀為玻璃板的表裏位置、表 裏方向、或前後位置、前後方向。 又,作為拍攝裝置,將CCD照相機3配置三台的情形 方面’如第4 ®所示般’以將玻璃板以水平載置的例子說 明的話’一台CCD照相機3係配置在外側延長玻璃板面的 角度0的水平方向、且在和玻璃板2的檢查對象邊正交的 方向以拍攝端面的檢查對象部份,其他兩台亦可在玻璃板 面的該端部的正上方向、和正下方向配置。 向配置的CCD照相機3進行玻 的檢查,藉由在上下配置的兩 此情形係藉由在水平方 璃板的圓弧狀的端面的缺陷 台CCD照相機3、3分別推a ★九山τ* * 刀別進仃在端面部2a和玻璃板面之間 的境界線部2b的附近的缺陷的檢查即可。
7042-7711-PF 23 丄)观53 以下說明有關本發明的作用。 如第5、6圖所示般,將環照明u的一部份作為切開 為開縫狀的c字狀的環照明,藉由在該開縫㈣12内, 將上述玻璃;2 @端面告p 2a 4乍為可移動地插入,自配列 為圓弧狀的各LED元件lla的照明光以比較同一條件均等 地照射在將剖面形狀作為約略圓弧狀的端面形狀的各部 份0 亦即,如第6圖所示般,因為上述環照明丨丨係如圓 錐形狀般’朝由環照明U的中心軸偏移一些方向,根據 LED元件11 a的照明光集中照射的方式,所以藉由lED元 件11 a被照射的端面部份2a係沒有照射亮暗帶,在良好 的照明條件下,因為可將該部份以CCD照相機3拍攝,缺 陷的測出遺漏少的檢查為可能。 又’環照明11的照射位置方向係在環照明丨丨的中心 軸上,自環照明11的中心照射在偏移一些的位置也可, 作為環照明11的中心位置也可。此情形係迴避照相機的 %照明,自傾斜橫向看的方式,將端面自傾斜方向拍攝的 話即可。 又’此照明的照射位置有必要和CCD照相機3的拍攝 的視野作為一致的位置。又,因為該位置使玻璃板2端部 的剖面成為圓弧狀的端面2a位置,在玻璃板2的圓弧狀 的端面2a方面’可藉由環狀照明u均等地照射照明。 又’如第2、3圖所示般,自環照明u的中心偏移一 些的上述端面2a位置照射光源的話,因為可將照相機3 7042-7711-PF 24 1330253 對於玻璃板的端面部2a的接線方向自直角方向拍攝,所 以測出精度局而較佳。 在成為環照明u的大致中心的上述端面2讀置照射 光源的情形’因為將玻璃板2的端面部2a藉由環照明11 的安裝構件遮蔽,不可對於端面部2a的接線方向在直角 方向配置照相機3’必須迴避環照明u,自傾斜橫向看的 方式’將端面自傾斜方而:½姐 AtL· % 計方向拍攝,所以測出條件下降而不佳。 如第3圖所示般’即使在玻璃板2的端面部23將上 述環照明11只在一個場所s 政古、… %所配狄的情形’可將端面2a的缺 陷充分測出’如第2圖所示炉,你甘 面的缺陷檢杳對象的左右兩,, 在上述玻璃板的端 插入… 的左右兩侧附近位置的兩處可移動地 插,該兩處的各環照明的照射光的 陷檢查對象約略一致般使昭 …、’、和上述缺 m 3 ^ ^ 、、、先…、射,成為根據CCD照相 機3的拍攝對象部份般配置 的照度亮暗帶更加沒有而較佳。為朝玻璃板2的端部 中,:與:第二3圖所示般,在本發明的缺陷測出裝置1 中,由與至少藉由C字形狀的環 扣衮罝1 的端面邊緣邻正夺的古1破照射的板玻璃2 _透緣。p正乂的方向朝向⑽照 面邊緣部和玻璃面2c之間的境 在上述端 照明光照射,藉由上述⑽照相使根據透過光的 中沒有缺陷的話,因為研磨部份為攝’在拍攝的影像 射在照相冑3的光亮降低,成為灰色明部份而散亂,入 陷的話,表示稜鏡(lens)效果,哀有破片,,等的缺 捕捉,可進行良否的判別。 〜光,作為亮信號可 7042-7711-pp 25 1330253 [第一實施例] 檢查對象的玻璃板2係為自小尺.寸的玻璃板到大尺寸 的玻璃板,例如,一邊的尺寸為300ππη程度到2000mm程 度的矩形狀的玻璃板,玻璃板2的端面部2a係被端面加 工為略圓的剖面圓弧形狀。 如第8圖所示般,在玻璃板的搬送線26的兩側,設 置如第7圖所示般的玻璃板的端面檢查裝置作為拍攝 裝置的照相機3係使用兩台二次元的CCD區域照相機,各 照相機3的視野係具有自20mn] x 20mm到5〇mni χ 5〇mm程 度的視野尺寸,照相機3的安裝角度係自水平面在上下兩 方向為3 0 4 5度,照相機3係將基板的邊緣作為視野的中 心般,在縱框20經由安裝構件21定位(setting),安裝 角度自由調整。
如第2圖所示般,作為上述照明裝置1〇的環照明u 係將市售的環照明11的一部份以開縫狀加工,作為c字 形狀的物品,藉由將複數個LED元件Ua、ιι&、…以2d 列,等間距並列為同心圓狀’各LED元件的照射方向係對 於中心軸,例如,傾斜15度,各LED元件lla、lla、... 的光軸成為圓錐形狀…將兩個環照明n、u間的間 隔,例如’作為80mm。 又’如第7圖所示般,將和上述縱框20正交、在水 :方向延伸的兩個橫框23、23在破璃板的上下兩場所固 定,上述環照明11係經由安 23安裝。 女裝構件24,在上方側的橫框 7 04 2-7711-pp 26 在上述玻璃板2的端部略圓的端面2a方向,配置具 有可均一地照射根據環照明丨丨的照明光的開縫狀的缺口 部的約略C字形狀的環照明U,將上述玻璃板2的端面 2 a在上述環照明11的開縫狀部12内可移動地插入,作為 端面部2 a在環照明11的中心轴上被配置。 如第8圖所示般,玻璃板2係一邊藉由搬送線26被 搬送’一面以端面部可移動插入方式通過在搬送線26的 兩側部設置的上述環照明11的開口開縫部12内,在可移 動地插入時,將藉由環照明11的各LED元件11 a、11 a、... 被照射的玻璃板2的端部藉由CCD照相機3拍攝,在每一 台照相機處理影像’基於濃淡水平,進行缺陷的判別。 又’將擴散透過照明13在玻璃板2的上下兩方向, 在自水平面15度的角度,作為透過照明光的照明在玻璃 板的圓弧狀的端面、以及該端面和玻璃板之間的邊界線部 份被照射的方式’擴散透過照明13的發光面佔據照相機3 的視野的1/5〜1/4程度般配置。 又’如第7圖所示般,上述擴散透過照明13、13係 分別經由安裝構件25、25在玻璃板2的端部的上下設置 的橫框23、23被安裝。 上述擴散透過照明13係在將LED元件以二次元縱橫 地複數個配列的物件上,為了防止照明亮暗帶,又安裝乳 白色的擴散板。又’並不限定LED元件,營光燈等的照明 也可。 又’該玻璃板2係將搬送線2 6上,例如,以一定速 7042-7711-PF 27 度破搬送,將玻璃板2的端部以對應於照相機的視野寬度 的間距單位區隔,藉由CCD照相機3拍攝,在每一拍攝= 各影像進行缺陷檢查》 又,因為在本實施例中使用區域照相機3,拍攝的視 野係在作為上述被區隔的領域的每一間距寬度拍攝,照相 機^拍攝的領域係作為比間距寬度大—些的領域,將得到 的影像的境界附近重S ’不會發生檢查遺漏般進行連 端面檢查。 以下具體說明有關玻璃板2的檢查流程。 首先,如第8圖所示般,矩形狀的玻璃板2係藉由 送線26被搬送,接近該缺陷測出裝置1的話,由未圖示 的控制裝置使照明裝置J 〇的環照明"和擴散透過照明13 點燈。玻璃板2係被搬入在CCD照相機3所拍攝的視野, 測出破㈣2的端面2a的前端角落部的話,將該角落部 作為端面2a的檢查區域的起始位置,自角落部偏移些許 的位置,將影像放入於影像處理裝置4。 如第9圖所示般,對於自CCD照相機被放入在影像處 裝置4的衫像,由預先設定登錄的玻璃板2的板厚情報 和一個的照相機3所拍攝的邊緣2b的一側,將另一方的 邊緣2b算出’將量測對象區域決定。對於該量測對象區 域的原影像的濃淡256階調的影像,預先被設定輸入的” 壳側的上限水準,例如,藉由濃淡水準的上限水準,對 於將拍攝的原%像作為二值化的影冑,進行標富己,自被寫 出的π “號的位置和端面加工部2a的邊緣2b之間的 7042-7711-PF 28 1330253 距離,判別缺陷種類。 例如,缺陷被包含在端面加工部2a的情形係,視作” 瑕疵、燒傷”的”表面缺陷8” ,跨越端面加工部23的邊 緣2b,或在比邊緣2b外側的情形係’視作,,蛤狀邊緣缺 • 陷、破片”的”邊緣缺陷9” ,在演算處理裝置(電腦)5 記憶。 同樣地,設定的下限水準,例如,在濃淡水準的下端 水準,將拍攝的原影像二值化後作反轉處理,將下限水準 _ 以下的缺陷部份作為”明,,,將正常部份作為”暗,,,而 被得到的二值化影像進行標記,藉由作為缺陷部份的” 明”的畫素的位置、大小,判別為,,未研磨”、和”研磨 殘餘”的缺陷,將缺陷的有無和種類判別。 即使有關在另一方設置的照相機3,進行和上述相同 的處理。 又,上述玻璃板2係在搬送線26上以一定速度被搬
送,將玻璃板2的端部以照相機的視野寬度的間距單位區 隔,以CCD照相機3拍攝檢查给狀邊緣缺陷,使拍攝的各 影像的前端、後端的境界附近重疊—些,直到後端側的端 面角落被測出,進行檢查。 玻璃板2的兩邊的端面的檢查終了的話,玻璃板2的 未檢查的兩邊和搬送方向成為平行般,將搬送方向變換90 度’在該未檢查的兩邊的各位置分別配設和上述相同的照 明系統以及照相機3構成的缺陷測出裝置1,玻璃板2 一 邊通過缺陷測出裝置 ’ 一面依序檢查玻璃板2的兩邊的
7042-7711-PF 29 1330253 端面2a即可。 措此,3隹圾埤板的四邊進杆 仃缺陷的測出,使被得到 的資料在上位電腦記憶,管理容易。 [第二實施例] 第二實施例係使照明裝置和拍攝裝置等的檢杳裝置 沿著玻璃板的全周圍驅動,將固定的玻璃板2的外周端面 的缺陷的檢查連續進行般的點係和第一實施例不同。 對於玻璃板2的照明裝置1〇和拍攝裝置的方
等的配置條件等係作為和第一實摊 X 實施例相同條件般,有關被 得到的影像的處理裝置等的其他,和第_實施例幾 相同。 沿著玻璃板的全周圍被驅動的裝置係將照明裝置和 拍攝裝置在未圖示的多關節機器人的未圖示把手上安 裝,使該把手沿著玻璃板的外周端面順序移動,以拍攝玻 璃板的端面部份,將拍攝的影像藉由影像處理裝置作判別 處理,以測出缺陷的有無。 又,在搬送線的途卜進行檢查的情形’使玻璃板暫 時靜止’由於在玻璃板的全周圍’上述照明裝置和拍攝裝 置等的檢查裝置有確保可移動空間的必要,在玻璃板的中 心附近,設置支持上升等的機構即可。 [第三實施例] 第14圖表示有關第三實施例的玻璃板的端面的缺陷 測出裝置。缺陷測出裝置係具備用以檢查移動的玻璃板 102的第一邊和第三邊的端面而被固定的第一缺陷檢查裝
7042-7711-PF 30 1330253 安裝’可平行地移動在玻璃板102的第二邊和第四邊。第 二缺陷檢查裝置201R、201L係沿著玻璃板102的第二邊 和第四邊移動’檢查第二邊和第四邊的端面。又,玻璃板 102以傾斜姿勢被搬送,以傾斜姿勢停止的情形係,對應 於第二邊為右邊,第四邊為左邊,第二檢查裝置2〇1R、2〇1L 係在傾斜方向的上下移動。又,搬送終了時,將玻璃板1 〇2 自搬送裝置120朝具備第二缺陷檢查裝置201R、201L的 檢查裝置上移動也可。 又’在第三實施例中,照明裝置1 i i、211和拍攝裝 置103、203係和第一實施例、第二實施例的照明裝置u、 拍攝裝置3相同,和第一實施例、第二實施例相同,使用 照明裝置111、211和拍攝裝置1〇3、203,測出玻璃板的 端面的缺陷。 雖然將本發明參照詳細且特定的實施態樣說明,在不 脫離本發明的精神和範圍下,可加入各種的變更和修正係 為熟習此技藝者所熟知。 本申請係基於2005年2月10日申請的日本專利申請 (特願2005-034238) ’其内容在此作為參考被放入。 本發明的一或一個以上的實施例的缺陷測出裝置、和 缺陷測出方法係’測出端面部分被研磨且具有圓弧狀的端 面或接合面的玻璃板的端面部份的缺陷。 【圖式簡單說明】 第1圖係表示照明裝置和拍攝裝置的配置的概略側面 7042-7711-pp 32 1330253 圖 置的配置,配設兩個 置的配置,將環照明 配設三個CCD照相機 第2圖係表示照明裝置和拍攝襞 環照明的概略平面圖; 第3圓係表示照明裝置和拍攝裝 作為一個的概略平面圖; 第4圖係表示照明裝置的配置, 的概略側面圖; 第5圖係為環照明的平面圖;
體圖 第6圖係為環照明的縱剖面圖; 置的正面圖; 裝置的概要的全 第7圖係為第一實施例的缺陷測出裝 第8圖係說明第一實施例的缺陷測出 第9圖係表示本發明的缺陷測出裝置的全體構成的概 要圖; 第10圖係為藉由CCD照相機被拍攝的,,破片,,缺陷 的原影像;
第11圖係為將藉由CCD照相機被拍攝的”破片”缺 陷的影像藉由”明,,信號側的上限水準作為二值化的影 像; 第12圖係為藉由ccD照相機被拍攝的”研磨殘留” 缺陷的原影像; 第13圖係為將藉由CCD照相機被拍攝的,,研磨殘 留缺陷的影像藉由”暗,,信號側的下限水準作為二值 化的影像;以及 33
7042-7711-PF 1330253 第14圖係為第三實施例的缺陷測出裝置的側面圖。 【主要元件符號說明】 1缺陷測出裝置、 . 2玻璃板、 2a端面部、 2b稜線部(邊緣部)、 2c玻璃面、 # 3 CCD照相機、 4影像處理裝置、 5演算處理裝置(電腦)、 6上位電腦、 8表面缺陷、 9邊緣缺陷、 1 0照明裝置、 11環照明、 Φ 11a LED 元件、 1 2狹縫部、 13擴散透過照明、 20縱框、 21安裝構件、 22、23橫框、 24、25安裝構件、 26搬送線。 7042-7711-PF 34

Claims (1)

1330253 第095103457號中文申請專利範圍修正本 修正日 年月日修正替換頁 十、申請專利範園: 1 _ 一種破璃板之端面缺陷測出裝置,包括: 拍攝裝置,其中具有較玻璃板的端面外側且由表裡兩 面的傾斜兩方向將破璃板的端面部份拍攝的至少兩台的 • CCD照相機; • 照明裝置,在中心軸方向可照射照明光,且至少包括 具有開口狹縫部的約略c字形狀的環照明;以及 φ 影像處理裝置,處理藉由上述CCD照相機拍攝的拍攝 信號以判定上述端面部的良否; 玻璃板的上述端面以和上述環照明的中心軸一致 般’在上述開口狹縫部内被可移動地插入; 上述照明裝置係在上述端面照射照射光; . 上述端面藉由上述拍攝裝置被拍攝得到的影像信號 藉由上述影像處理装置處理,以測出上述端面的缺陷。 2. 如申請專利範圍第1項所述之玻璃板之端面缺陷測 Φ 出裝置’其中上述玻璃板的端面被去角,具有由圓弧狀的 端面或平滑的稜線部構成的端面。 3. 如申請專利範圍第1項所述之玻璃板之端面缺陷測 出裝置’其中上述照明裝置係具有在上述玻璃板的端面的 缺陷檢查對象部份的左右兩側附近位置被配置的兩個C字 狀的環照明; 各環照明係照射上述缺陷檢查對象部份。 4·如申請專利範圍第1項所述之玻璃板之端面缺陷測 出裝置’其中上述照明裝置更具有自上述玻璃板的表襄兩 7042-7711-PF1 35 1330253 面的傾斜兩方向在玻璃板的端面部份照射照射光的擴散 透過光源。 5 ·如申請專利範圍第3項所述之玻璃板之端面缺陷測 出裝置’其中上述照明裝置更具有自上述玻璃板的表裏兩 面的傾斜兩方向在玻璃板的端面部份照射照射光的擴散 透過光源》 6.如申請專利範圍第1項所述之玻璃板之端面缺陷測 出裝置’其中上述環照明係具有被配設為同心圓狀的複數 的LED元件。 7·如申請專利範圍第3項所述之玻璃板之端面缺陷測 出裝置’其中上述環照明係具有被配設為同心圓狀的複數 的L.ED元件。 8. 如申請專利範圍第1項所述之玻璃板之端面缺陷測 出裝置’更包括使玻璃板的侧邊在搬送方向成為平行般搬 送玻璃板的撤送裝置; 上述照明裝置和上述拍攝裝置係在上述玻璃板的兩 側邊的各端面附近位置分別被配置。 9. 如申請專利範圍第1項所述之玻璃板之端面缺陷測 出裝置’其中上述照明裝置和上述拍攝裝置係在機器人的 把手被安裝; 上述把手沿著玻璃板的外周端面順序移動,玻璃板的 端面部份被順序拍攝,拍攝的影像信號藉由影像處理裝置 被順序處理。 10_如申請專利範圍第1項所述之玻璃板之端面缺陷 7042-7711-PF1 36 1330253 測出裝置,更包括: 第一缺陷檢查裝置,檢查和搬送_的玻璃板的搬送方 向平行的侧邊的端面,對於搬送被固定;以及 第二缺陷檢查裝置,檢查和搬送中的玻璃板的上述搬 送方向正交的侧邊的端面,對於玻璃板可移動; 上述第一缺陷檢查裝置和上述第二缺陷檢查裝置係 分別具備上述照明裝置和上述拍攝裝置。 11. 一種玻璃板之端面缺陷測出方法,在c字形狀的 環照明的開口狭缝部内,可將玻璃板的端部移動地插入; 將上述端面部的位置和環照明的中心軸的位置重疊 的端面位置作為檢查對象部份’照射環照明的照射光; 將上述端面部藉由兩台CCD照相機拍攝; 拍攝的影像信號的濃淡水準與上限和下限的兩個設 定水準比較; 藉由上端水準以上、或下端水準以下的晝素信號的位 置、大小、形狀,測出缺陷的有無種別。 12. 如申請專利範圍第丨丨項所述之玻璃板之端面缺陷 測出方法,其中藉由搬送裝置,玻璃板的側邊與搬送方向 成為平行般搬送玻璃板; 在該破璃板的兩側邊的各端面附近位置至少具有c字 狀的環照明的照明裝置,及將藉由照明裝置被照射的端面 分別配設拍攝的拍攝裝置; 將藉由拍攝裝置拍攝的端面的影像藉由影像處理裝 置處理,測出缺陷的有無。 7042-7711-PF1 37 1330253 13. 如申請專利範圍第u項所述之玻璃板之端面缺陷 測出方法,其中將至少具有c字形狀的環照明的上述照明 裝置、和將藉由照明裝置照射的端面拍攝的拍攝裝置在機 器人的把手安裝; 使上述把手沿著玻璃板的外周端面順序移動; 將玻璃板的端面部份順序拍攝; 將拍攝的影像信號藉由影像處理裝置順序處理,測出 缺陷的有無。 14. 如申請專利範圍第〗〗項所述之破璃板之端面缺陷 測出方法,其中藉由對於搬送被固定的第一缺陷檢查裝置 檢查和搬送中的破璃板的搬送方向平行的側邊的端面; 藉由對於破璃板可移動的第二缺陷檢查裝置檢查和 搬送中的玻璃板的上述搬送方向正交的侧邊的端面; 上述第一缺陷檢查裝置和上述第二缺陷檢查裝置係分 別包括c字形狀的環照明和兩台cCD照相機。 刀
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Families Citing this family (48)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100791277B1 (ko) 2006-09-12 2008-01-04 주식회사 케이엔제이 평판 디스플레이 패널 검사장치
JP5160993B2 (ja) * 2008-07-25 2013-03-13 株式会社荏原製作所 基板処理装置
JP5268740B2 (ja) * 2009-03-30 2013-08-21 株式会社日本製鋼所 角形基板の4角割れ欠け検出装置
KR20110110041A (ko) * 2010-03-31 2011-10-06 아사히 가라스 가부시키가이샤 광 투과성 직사각형 판상물의 단부면 검사 방법 및 단부면 검사 장치
WO2012005019A1 (ja) * 2010-07-08 2012-01-12 旭硝子株式会社 ガラス基板端面の評価方法及びガラス基板端面の加工方法並びにガラス基板
DE102010037788B4 (de) * 2010-09-27 2012-07-19 Viprotron Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Anzeige von automatisiert ermittelten Fehlerstellen
WO2012056858A1 (ja) * 2010-10-26 2012-05-03 東レエンジニアリング株式会社 観察対象物の端部観察装置及び端部検査装置
JP2012111003A (ja) * 2010-11-25 2012-06-14 Disco Corp 切削ブレード検出機構
JP2014077637A (ja) * 2011-02-01 2014-05-01 Asahi Glass Co Ltd 光透過性板状物検査システム
JP5618209B2 (ja) * 2011-02-03 2014-11-05 日本電気硝子株式会社 ガラス板の端面撮像装置およびその撮像方法
KR101182822B1 (ko) * 2011-03-29 2012-09-13 삼성전자주식회사 발광소자 검사장치 및 방법
JP5982738B2 (ja) * 2011-04-15 2016-08-31 株式会社リコー 画像処理プログラム、画像処理装置、及び記憶媒体
JP5796430B2 (ja) * 2011-09-15 2015-10-21 日本電気硝子株式会社 板ガラス検査装置、板ガラス検査方法、板ガラス製造装置、及び板ガラス製造方法
CN104704350B (zh) 2012-05-30 2019-05-10 康宁股份有限公司 用于检查柔性玻璃带的设备和方法
JP5923172B2 (ja) * 2012-08-13 2016-05-24 川崎重工業株式会社 板ガラスの検査ユニット及び製造設備
KR101452781B1 (ko) 2013-06-13 2014-10-22 주식회사 라미넥스 디스플레이 패널의 열가공 면취 절단면 검사 방법
TW201514471A (zh) * 2013-09-18 2015-04-16 Automation Tooling Syst 透明介質上之裝飾的檢查系統與方法
JP6486050B2 (ja) 2014-09-29 2019-03-20 株式会社Screenホールディングス 検査装置および検査方法
KR20220103199A (ko) * 2014-12-05 2022-07-21 케이엘에이 코포레이션 워크 피스들에서의 결함 검출을 위한 장치, 방법 및 컴퓨터 프로그램 제품
US10613007B2 (en) 2015-03-13 2020-04-07 Corning Incorporated Edge strength testing methods and apparatuses
US9933251B2 (en) 2015-06-26 2018-04-03 Glasstech, Inc. Non-contact gaging system and method for contoured glass sheets
US9851200B2 (en) 2015-06-26 2017-12-26 Glasstech, Inc. Non-contact gaging system and method for contoured panels having specular surfaces
US9841276B2 (en) 2015-06-26 2017-12-12 Glasstech, Inc. System and method for developing three-dimensional surface information corresponding to a contoured glass sheet
US9952037B2 (en) 2015-06-26 2018-04-24 Glasstech, Inc. System and method for developing three-dimensional surface information corresponding to a contoured sheet
US9470641B1 (en) 2015-06-26 2016-10-18 Glasstech, Inc. System and method for measuring reflected optical distortion in contoured glass sheets
US9952039B2 (en) 2015-06-26 2018-04-24 Glasstech, Inc. System and method for measuring reflected optical distortion in contoured panels having specular surfaces
CN105044119A (zh) * 2015-08-27 2015-11-11 李明英 一种基于灰度均值分析的玻璃瑕疵分类方法
JP6614978B2 (ja) * 2016-01-14 2019-12-04 株式会社荏原製作所 研磨装置及び研磨方法
JP6088679B1 (ja) * 2016-02-19 2017-03-01 ファナック株式会社 カメラの画像により故障を判定するロボットシステムの故障診断装置
CN105572144B (zh) * 2016-03-07 2018-11-20 凌云光技术集团有限责任公司 玻璃边角图像采集装置及系统
JP6668959B2 (ja) * 2016-06-07 2020-03-18 日本電気硝子株式会社 管ガラス用検査装置、管ガラスの検査方法、管ガラスの加工装置、及び管ガラスの製造方法
CN107894859B (zh) * 2016-10-04 2021-02-19 禾瑞亚科技股份有限公司 触控处理装置、电子系统与其触控处理方法
KR20180116154A (ko) * 2017-04-14 2018-10-24 코닝 인코포레이티드 커버 글라스 검사 장치
KR102368169B1 (ko) * 2017-04-18 2022-03-02 코닝 인코포레이티드 기판 엣지부 검사 장치, 시스템 및 검사 방법
JP6937647B2 (ja) * 2017-09-28 2021-09-22 日東電工株式会社 光学表示パネルの損傷検査方法
JP6963725B2 (ja) * 2017-10-13 2021-11-10 日本電気硝子株式会社 ガラス板の検査方法及び検査装置並びにガラス板の製造方法
KR102580389B1 (ko) * 2018-02-13 2023-09-19 코닝 인코포레이티드 유리 시트 검사 장치 및 방법
KR102625796B1 (ko) * 2018-03-22 2024-01-16 코닝 인코포레이티드 유리 시트를 검사하는 방법, 유리 시트를 제조 하는 방법 및 유리 제조 장치
TWI838367B (zh) * 2018-05-01 2024-04-11 日商奈米系統解決股份有限公司 檢查裝置
CN109191558B (zh) 2018-07-27 2020-12-08 深圳市商汤科技有限公司 图像打光方法和装置
CN109490311B (zh) * 2018-10-25 2021-09-10 武汉精立电子技术有限公司 基于多角度拍摄的背光面板缺陷检测系统及方法
CN109540918B (zh) * 2018-11-28 2021-04-16 鞍钢集团自动化有限公司 一种热轧卷边部缺陷检测装置及方法
CN110000665B (zh) * 2019-04-22 2020-03-24 福建省元诚机车部件有限公司 一种刹车片外弧的智能磨床
CN110726733A (zh) * 2019-11-15 2020-01-24 湖南讯目科技有限公司 一种板材边缘缺陷检测装置、系统和方法
CN111024706B (zh) * 2019-11-22 2022-08-12 北京航天控制仪器研究所 一种多自由度铁氧体元件无损检测装置及方法
US11399108B2 (en) * 2020-05-21 2022-07-26 Kyocera Document Solutions Inc. Image reading apparatus capable of determining whether missing part of document image occurs based on edge shape of at least one of leading and trailing edges of document image
CN113146427A (zh) * 2020-05-29 2021-07-23 浙江大学 一种钢轨表面缺陷检测方法
JP2022051056A (ja) 2020-09-18 2022-03-31 日本電気硝子株式会社 検査結果表示装置、製造システム、検査結果表示方法、製造方法、及びプログラム

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS556214A (en) * 1978-06-28 1980-01-17 Toshiba Corp Rod selection
JPH0299806A (ja) * 1988-10-07 1990-04-11 Hitachi Metals Ltd 表面欠陥の検査方法
CH681748A5 (en) 1990-10-30 1993-05-14 Eisai Co Ltd Optical sorting device for filled glass ampoules beams - uses 2 intersecting light beams with evaluation of both transmitted and reflected light components.
JP3013903B2 (ja) * 1991-01-31 2000-02-28 セントラル硝子株式会社 板ガラスの欠点検出装置
FI98757C (fi) * 1995-05-31 1997-08-11 Tamglass Eng Oy Menetelmä taivutetun lasilevyn taipumisasteen mittaamiseksi
JPH09311109A (ja) * 1996-05-22 1997-12-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光を使用した欠陥検査方法、およびその装置
US6118524A (en) * 1997-02-26 2000-09-12 Acuity Imaging, Llc Arc illumination apparatus and method
US6154561A (en) * 1997-04-07 2000-11-28 Photon Dynamics, Inc. Method and apparatus for detecting Mura defects
US6091488A (en) * 1999-03-22 2000-07-18 Beltronics, Inc. Method of and apparatus for automatic high-speed optical inspection of semi-conductor structures and the like through fluorescent photoresist inspection
US6359686B1 (en) * 1999-06-29 2002-03-19 Corning Incorporated Inspection system for sheet material
JP3595226B2 (ja) * 1999-11-25 2004-12-02 日本板硝子株式会社 ガラス板のエッジ欠陥検出方法及び同検出装置
US6501546B1 (en) * 2000-05-05 2002-12-31 Photon Dynamics Canada Inc. Inspection system for edges of glass
JP2002062267A (ja) * 2000-08-21 2002-02-28 Asahi Glass Co Ltd 欠点検査装置
JP4599507B2 (ja) * 2000-08-23 2010-12-15 旭硝子株式会社 ガラス板の形状測定方法及び形状測定装置
WO2002018980A2 (en) * 2000-09-01 2002-03-07 Applied Process Technologies Optical system for imaging distortions in moving reflective sheets
US7113313B2 (en) * 2001-06-04 2006-09-26 Agilent Technologies, Inc. Dome-shaped apparatus for inspecting a component or a printed circuit board device
JP2003098122A (ja) * 2001-09-21 2003-04-03 Toshiba Ceramics Co Ltd ガラス基板の外観検査装置
KR100565413B1 (ko) * 2001-11-20 2006-03-30 미쓰보시 다이야몬도 고교 가부시키가이샤 취성재료기판의 모서리 검사방법 및 그 장치
JP2003247953A (ja) * 2002-02-25 2003-09-05 Seiko Epson Corp 液晶パネル外観検査方法及び検査装置
KR100798320B1 (ko) * 2002-03-06 2008-01-28 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정 패널의 검사 장치 및 그 방법
EP1816466B1 (en) * 2004-11-24 2010-06-23 Asahi Glass Company, Limited Method and device for inspecting defect of transparent plate body
WO2006095519A1 (ja) * 2005-03-07 2006-09-14 Nippon Sheet Glass Company, Limited 光透過性パネルの透視歪検査装置および検査方法

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