JP3595226B2 - ガラス板のエッジ欠陥検出方法及び同検出装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明はガラス板のエッジに発生する欠陥、特にカケを能率よく検出することのできる検出技術に関する。
【0002】
【従来の技術】
ガラス板(例えば自動車用ガラス、磁気ディスクのガラス基板)は、製造過程で切断し、エッジを研磨して出荷するものがある。エッジにカケなどの欠陥があってはいけないので、前記出荷前に製品検査を実施する。
従来は、検査員による目視検査が主流であったが、能率が悪く、見落しの危険もあるので、検査の自動化の研究が進み、実用技術が確立されつつある。
【0003】
例えば、特開平4−236343号公報「ガラスエッジの欠点検出方法」が知られており、この検出方法は、同公報の図1(A)に示される通りに、CCDカメラ1でガラスエッジ研磨面3を撮影し、それを画像処理することを特徴とし、具体的には図1(B)において、エッジの幅Ci−1を測定し、幅Ci−1が所定値より大きければ「カケ」、0なら「未研磨」と識別することで、検査の自動化を達成したものである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
上記検出方法では、図1(B)において512画素×512画素からなる2値化画像を、矢印X及び矢印Yのごとく白から黒へ情報が反転する点を探さなければならないこと、並びにガラスエッジの全長にわたって画像処理をしなければならないので、同公報図2に示す演算を膨大な量実行しなければならず、その為には高速で大容量の画像処理電算システムが必要となり、この様なシステムは極めて高価であるから、設備導入、すなわち検査の自動化の妨げになっている。
そこで、本発明の目的はより安価な画像処理電算システムで済ませることのできるエッジ欠陥検出技術を提供し、検査の迅速化並びに自動化を促すことにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明者等は、検査対象物であるガラス板のエッジを詳細に観察した。先ず、研磨面は研磨砥石で研磨したために極微小の疵の集合体であり、結果として半透明のすりガラス状態にあること、一方、カケはクリア(透明)状態にあることが確認できた。
【0006】
ところで、顕微鏡で物を観察するときに、顕微鏡の視野外に光源を置くと、視野が全体的に暗くなり、光で照された微粒や微生物のみが光ってみえることがある。この様な方法を暗視野照明法と言う。ガラス板は透明体であるから、この様な暗視野照明法を直接的に使用することはできないと考えられてきたため、ガラス板を対象に暗視野照明法を試みることは従来行われていなかった。
【0007】
本発明者等は、顕微鏡をカメラ、微粒をカケに置き換えることにより、カケを光らせることができるのではないかとの発想から、ガラス板の上にカメラを置き、ガラス板の下に光源を置き、この光源でガラス板を照したところ、ガラス板の上表面及びこの上表面に付着している指紋などの汚れが、光ってしまい、カケなどの欠陥を検出するに至らなかった。しかし、暗視野照明法の特徴は捨て難い。そこで、種々の研究を進め、透光体であるガラス板を、黒色化(具体的にはカメラに達する光量を絞ることで達成)すれば、暗視野照明法をガラス板に適用することができることを見出した。
【0008】
以上の知見に基づいて完成した発明は次の通りである。
請求項1は、光源とカメラとの間に、切断後に研磨したガラス板のエッジを介在させ、このエッジへ光源から光を入射し、この入射光線でエッジに存在する欠陥を明るくし、これをカメラで撮影し、この画像を処理して欠陥の有無を調べるガラス板のエッジ欠陥検出方法であって、
前記ガラス板は一定方向へ搬送し、前記カメラは前記ガラス板に対し垂直に配置し、
前記光源は、ガラス板の前縁を照らす第1光源及びガラス板の後縁を照らす第2光源で構成し、
これらの第1光源及び第2光源は、前記カメラから垂直に下ろした軸を挟んで前記ガラス板の搬送方向に対称な位置に、カメラの視野の中心線から外して互いに平行に配置し且つガラス板の搬送方向に直交する方向に延びる光源であって、
前記第1光源及び第2光源からは、前記ガラス板を上から見て描くエッジの法線に対して、±45°の範囲から出射させて、前記カメラで画像を得るようにし、
この画像においてガラス板の表面並びにエッジの一般面が暗くなり、エッジに存在するカケが明るくなるように、光源からカメラに至る光量を絞り調整することで、カケを光学的に検出するようにし、
前記画像の処理は、画像中にカケに対応した輝点が無ければ欠陥無し、輝点があるときには輝点の大きさを演算してそれがしきい値を超えたときに欠陥有りと判定する如くに、処理を自動化したことを特徴とする。
【0009】
エッジに出現するカケのみを光らせ、ガラス板の他の部分は全て暗くすることにより、カケの検出を図る。
そして、カケに対応する輝点のみを演算対象とすることで、演算時間を大幅に短縮し、自動化をより容易にする。
【0010】
請求項2では、前記光源は、線光源又は面光源であることを特徴とする。
【0011】
点光源であればカケから得られる光量は比較的少く、線光源での光量はそれより多く、面光源であれば大きな光量が得られる。従って、カケの検出性能を重視するのであれば面光源を採用すればよく、線光源であれば設備コストを抑えつつ検出精度を維持することができる。
【0012】
請求項3では、光源は、カメラの視野の中心線とエッジとが重なったときのエッジを中心点とし、カメラの視野の中心線に対して3゜〜60゜の範囲に配置することを特徴とする。
【0013】
角度が3゜未満であれば、光源がエッジからはみ出す虞れがある。また、角度が60゜を超えると光源の配置は難しくなる。そして、3゜〜60゜の範囲に光源を配置すれば、ほぼ全てのカケに対応できることが実験的に確認できている。
【0014】
請求項4は、光源とカメラとの間に、切断後に研磨したガラス板のエッジを介在させ、このエッジへ光源から光を入射し、この入射光線でエッジに存在する欠陥を明るくし、これをカメラで撮影し、この画像を処理して欠陥の有無を調べるガラス板のエッジ欠陥検出装置であって、
前記カメラは、一定方向へ搬送されるガラス板に対し垂直に配置し、
前記光源は、ガラス板の前縁を照らす第1光源及びガラス板の後縁を照らす第2光源で構成し、
これらの第1光源及び第2光源は、前記カメラから垂直に下ろした軸を挟んで前記ガラス板の搬送方向に対称な位置に、カメラの視野の中心線から外して互いに平行に配置し且つガラス板の搬送方向に直交する方向に延びる光源であって、且つ前記第1光源及び第2光源は、前記ガラス板を上から見て描くエッジの法線に対して、±45°の範囲に配置し、
前記ガラス板のエッジ欠陥検出装置に、カメラの映像を表示する画像表示装置を備えるとともに、この画像表示装置の画像においてガラス板の表面並びにガラス板のエッジの一般面が暗くなりエッジに存在するカケが明るくなるように光源からカメラに至る光量を絞り調整する光量調整部を備え、
前記画像表示装置に、画像中にカケに対応した輝点が無ければ欠陥無し、輝点があるときには輝点の大きさを演算してそれがしきい値を超えたときに欠陥有りと判定する欠陥判別装置を付属させたことを特徴とする。
【0015】
暗視野に光源を配置し且つ光量調整部で光量を絞ることにより、カケのみを輝点として検出することができる。そのための装置構成は、光源、カメラ、画像表示装置及び光量調整部という簡単なもので済ませることができ、エッジ欠陥検出装置の低コスト化を達成することができる。
加えて、カケに対応する輝点を欠陥判別装置で識別させることにより効率よくカケを検出する。カケの検出が自動化できたので、ガラス板の検査を迅速に行うことができる。
【0016】
請求項5では、光源は、線光源又は面光源であることを特徴とする。
請求項6では、光源は、カメラの視野の中心線とエッジとが重なったときのエッジを中心点とし、カメラの視野の中心線に対して3゜〜60゜の範囲に配置することを特徴とする。
【0017】
請求項5に関しては、点光源であればカケから得られる光量は比較的少く、線光源での光量はそれより多く、面光源であれば大きな光量が得られる。従って、カケの検出性能を重視するのであれば面光源を採用すればよく、線光源であれば設備コストを抑えつつ検出精度を維持することができる。
請求項6に関しては、角度が3゜未満であれば、光源がエッジからはみ出す虞れがある。また、角度が60゜を超えると光源の配置は難しくなる。そして、3゜〜60゜の範囲に光源を配置すれば、ほぼ全てのカケに対応できる。
【0018】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の形態を添付図に基づいて以下に説明する。
図1は本発明に係るガラス板のエッジ欠陥検出装置の原理図であり、エッジ欠陥検出装置10は、ガラス板11を挟む形でガラス板11の一側(上方)に配置する撮像手段としてのカメラ12と、ガラス板11の他側(下方)に且つカメラ12の視野から外すためにガラス板11の陰に配置する第1光源13並びに第2光源14と、カメラ12の映像信号を画像として表示する表示装置15と、この画像表示装置15の画像においてガラス板11の表面並びにガラス板11のエッジ16の一般面が暗くなりエッジ16に存在するカケが明るくなるように光源13,14からカメラ12に至る光量を絞り調整する光量調整部17と、画像中にカケに対応した輝点が無ければ欠陥無し、輝点があるときには輝点の大きさを演算してそれがしきい値を超えたときに欠陥有りと判定する欠陥判別装置18と、からなる。
【0019】
前記ガラス板11は、切断したエッジ16を研磨処理したものである。このため、エッジ16は微細なカケの集合面となり、すりガラスに近似した半透明な面となる。
カメラ12は、CCD(固体撮像デバイス)カメラが好適である。
光源13,14はスポットライトに代表される点光源、蛍光管若しくは一列に並べた複数個のスポットライト群に代用される線光源、複数個のランプを碁盤目上に配置した面光源の何れであってもよい。
【0020】
光量調整部17は、カメラ12に付属した「絞り」がその代表例であるが、光源13,14に投入する電流を増減して光源13,14から射出する光(射出光)の光量を調節するもの、又は画像表示装置15でコントラストを調整するものであっても差支えない。要は、光源13,14からカメラ12に至る光量を実質的に絞り調整することのできる手段であればよい。
【0021】
図2(a),(b)は第1・第2光源の配置説明図であり、ガラス板11を矢印のとおり水平に移動するときに、(a)に示す通りに第1光源13でガラス板11の前縁を照し、(b)に示す通りに第2光源14でガラス板11の後縁を照す。
【0022】
以下、第1光源13について説明するが、第2光源も同様であるから、その説明は省略する。
【0023】
次に、上記エッジ欠陥検出装置10のカケ検出原理を説明する。
図3は健全なガラス板をエッジ欠陥検出装置でモニターしたときの画像の説明図であり、下からの光21はガラス板11を通過した後にカメラ12に到達する。
ガラス板11は透光体であるため、カメラの絞りを開放気味にしている場合、ガラス板11の上面又は下面に指紋などの汚れがあると、下面側の暗視野照明からの光がその汚れで散乱され、それが輝点となる。このままでは本発明は実施できない。
【0024】
そこで、本発明では、光量調整部17にて、画像23が全体的に暗くなるように光量を絞っておく。なお、微細なカケの集りであるエッジはガラス板の一般面に比較して明るくなる。しかし、この明るさは欠陥に基づくカケに比べれば十分に暗い。そこで、光量を絞ってガラス板の一般面は背景と同様の黒色、エッジは灰色となるようにする。この様に一般面を灰色ないし黒色にすることを画像23を全体的に暗くすると表現した。
【0025】
図4はカケのあるエッジをエッジ欠陥検出装置でモニターしたときの画像の説明図であり、前記の通りに絞り調整した結果、ガラス板11の上面22は黒色の面、エッジ16の一般面は灰色になる。一方、エッジ16にカケ26があるときには、このカケ26は透明な面(すなわちエッジの研磨面は粗面であるがカケは綺麗な面が現れるため透明な面)となり、そこへ光の一部が通過し、屈折してカメラ12に至る。
この結果、カケ26を通過した十分に大きな光量がカメラ12に到達し、画像表示装置15の画像中に輝点27として現れる。
【0026】
次に、光源の好ましい配置位置を説明する。
本発明はガラス板11を灰色ないし黒色の面にすることにより暗視野照明法を採用することに成功したものであり、暗視野照明法であるから半透明体化したガラス板11の陰に光源を配置することでカケを検出することはできる。しかし、ガラス板11のエッジの形状からカケの発生には一定の傾向が見られるので、この発生傾向から好ましい光源の配置位置を決めることにする。
【0027】
図5(a)〜(b)はガラス板のエッジの形状及びカケの形状を説明する図である。
(a)は、磁気ディスク用ガラス板11のエッジを拡大したものであり、エッジ16には上下に45゜の面取り28,28を施す。この図のb部やc部にカケが発生する場合がある。
(b)は、上面22と面取り28との間にカケ26が発生した例を示し、上向きの光21は下面24で屈折し、更にカケ26で屈折し、カメラに向う。このときの下面24における入射角度をθ1とすれば、この角度θ1は、カケ26がごく水平に近いため3゜程度となる。
【0028】
(c)は、エッジ16と面取り28との間にカケ26が発生した例を示し、上向きの光21は下面24で屈折し、更にカケ26で屈折し、カメラに向う。このときの下面24における入射角度をθ2とすれば、この角度θ2は、カケ26がごく鉛直に近いため60゜程度となる。
上記角度θ1,θ2はカケ26を屈折点としたものであるが、カケ26はどの部位に発生するかは不明である。そこで、次図の様に近似させて汎用性を高める。
【0029】
図6は本発明に係る光源の配置説明図であり、31をカメラ12の視野の中心線とし、33をエッジの中心点とする。この中心点33はエッジの高さ中心であってもよい。
このエッジの中心点33を回転中心として、ガラス板11の陰の領域にて、カメラの視野の中心31から角度(ψ1〜ψ2)の範囲に光源を置く。ψ1は前記θ1、ψ2は前記θ2に近似し、光源はカメラの視野の中心線31に対して3゜〜60゜の範囲に配置すればよい。
【0030】
なお、上記説明ではカケ26は平坦な面としたが、多くのカケは貝殻模様の多面体である。とすれば、3゜〜60゜の範囲で射出すれば、この光は前記多角面の何れかの面で屈折してカメラに達することになり、このことからも、点光源を3゜〜60゜の範囲の何処かに配置すればよいことになる。
【0031】
ただし、点光源であればカケから得られる光量は比較的少く、線光源での光量はそれより多く、面光源であれば大きな光量が得られる。従って、設備コストを重視するのであれば点光源、カケの検出性能を重視するのであれば面光源を採用すればよく、図1,2で述べたような線光源であれば設備コストを抑えつつ検出精度を維持することができるという双方の特長を併せ持つと看做すことができる。
【0032】
図7は図6の7−7矢視図であり、エッジ16に直交する法線35を引いたときに、この法線35に対して±45゜の範囲に光源を配置すれば、ほぼ全てのカケを検出することができることが実験で確認できた。
【0033】
次に、本発明に係るカケの自動検出技術を説明する。
図8(a),(b)は画像表示装置の映像イメージ図を示し、(a)において、ガラスの一般面が黒色でエッジの一般面が灰色であり、画面の殆どが灰色ないし黒色であり、カケに相当する部分のみが輝点27となっていることを示す。
(b)は(a)のb部拡大図であり、画像が画素36の集合体であるから、輝点27の画素36をカウントすることで、カケの大きさを推定することができることを示す。
【0034】
図9は本発明に係るガラス板のエッジ欠陥検出フロー図である。ST××はステップ番号を示す。
ST01:先ず、カメラでエッジを撮影する。
ST02:この画像を、先ず電算機にて輝点が有るか否かを調べる。輝点の有無だけであるから、画面を大雑把に区画して、画面が白くなっているか否かを調べればよく、白い部分を含む区画が有れば、その区画のみを細分化して再度輝点の有無を調べる。この様に段階的に判別することで、判別所要時間を従来よりも大幅に短縮することができる。
【0035】
ST03:輝点があれば、図8(b)の要領で画素の数をカウントする。
ST04:カウントした画素数をN、予め定めた「しきい値」をnとし、Nがしきい値nを上回っている否かを調べる。
なお、輝点はごく小さなものであれば実用上問題無いとすれば、許容されるべき輝点の大きさは予め定めることができる。これをしきい値nとすればよい。
ST05:N>nであれば、輝点が許容できぬほど大きいので「カケ有り」と看做し、そのことを表示するとともに、警報(例えばブザー吹奏)を発する。
【0036】
ST06:ST02で輝点が発見できなかったとき、並びにST04でN≦nのときには「カケ無し」と看做して、検査対象のガラス板はエッジに欠陥は認められなかったとする。
【0037】
従来は、健全なエッジをも画像処理で欠陥がないことをいちいち識別していたため、その処理に膨大な演算が必要であった。これに対して本発明は輝点のみを見出し、無ければ欠陥無しとするため、画像処理がごく簡略化でき、カケが有る場合であっても輝点のみを処理対象とするため、同様に画像処理がごく簡略化できる。
【0038】
尚、実施例ではガラス板を水平搬送し、ガラス板の上方にカメラ、下方に光源を配置したが、ガラス板の姿勢は任意であり、これに伴なってカメラと光源はガラス板の一側と他側にあれば、本発明は実施できる。
【0039】
【発明の効果】
本発明は上記構成により次の効果を発揮する。
請求項1のガラス板のエッジ欠陥検出方法によれば、エッジに出現するカケのみを光らせ、ガラス板の他の部分は全て暗くすることができ、カケの検出を容易に且つ効率よく行うことができる。従って、カケなどの欠陥を検出するためのコストを削減することができる。
加えて、請求項1のガラス板のエッジ欠陥検出方法では、画像の処理は、画像中にカケに対応した輝点が無ければ欠陥無し、輝点があるときには輝点の大きさを演算してそれがしきい値を超えたときに欠陥有りと判定する如くに、処理を自動化したことを特徴とし、カケに対応する輝点のみを演算対象とすることで、演算時間を大幅に短縮し、自動化をより容易にする。
【0040】
請求項2のガラス板のエッジ欠陥検出方法では、光源は、線光源又は面光源である。
仮に、点光源であればカケから得られる光量は比較的少く、線光源での光量はそれより多く、面光源であれば大きな光量が得られる。従って、カケの検出性能を重視するのであれば面光源を採用すればよく、線光源であれば設備コストを抑えつつ検出精度を維持することができる。
【0041】
請求項3のガラス板のエッジ欠陥検出方法では、光源は、カメラの視野の中心線とエッジとが重なったときのエッジを中心点とし、カメラの視野の中心線に対して3゜〜60゜の範囲に配置することを特徴とし、角度が3゜未満であれば、光源がエッジからはみ出す虞れがある。また、角度が60゜を超えると光源の配置は難しくなる。そして、3゜〜60゜の範囲に光源を配置すれば、ほぼ全てのカケに対応できる。
【0042】
請求項4のガラス板のエッジ欠陥検出装置は、カメラ、光源、画像表示装置、光量調整部で構成した簡単なものであり、暗視野に光源を配置し且つ光量調整部で光量を絞ることにより、カケのみを輝点として検出することができる。そのための装置構成は、光源、カメラ、画像表示装置及び光量調整部という簡単なもので済ませることができ、エッジ欠陥検出装置の低コスト化を達成することができる。
加えて、請求項4のガラス板のエッジ欠陥検出装置は、画像表示装置に、画像中にカケに対応した輝点が無ければ欠陥無し、輝点があるときには輝点の大きさを演算してそれがしきい値を超えたときに欠陥有りと判定する欠陥判別装置を付属させたことを特徴とし、カケに対応する輝点を欠陥判別装置で識別させることにより効率よくカケを検出する。カケの検出が自動化できたので、ガラス板の検査を迅速に行うことができる。
【0043】
請求項5に関しては、点光源であればカケから得られる光量は比較的少く、線光源での光量はそれより多く、面光源であれば大きな光量が得られる。従って、カケの検出性能を重視するのであれば面光源を採用すればよく、線光源であれば設備コストを抑えつつ検出精度を維持することができる。
請求項6に関しては、角度が3゜未満であれば、光源がエッジからはみ出す虞れがある。また、角度が60゜を超えると光源の配置は難しくなる。そして、3゜〜60゜の範囲に光源を配置すれば、ほぼ全てのカケに対応できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るガラス板のエッジ欠陥検出装置の原理図
【図2】第1・第2光源の配置説明図
【図3】健全なガラス板をエッジ欠陥検出装置でモニターしたときの画像の説明図
【図4】カケのあるエッジをエッジ欠陥検出装置でモニターしたときの画像の説明図
【図5】ガラス板のエッジの形状及びカケの形状を説明する図
【図6】本発明に係る光源の配置説明図
【図7】図6の7−7矢視図
【図8】画像表示装置の映像イメージ図
【図9】本発明に係るガラス板のエッジ欠陥検出フロー図
【符号の説明】
10…ガラス板のエッジ欠陥検出装置、11…ガラス板、12…カメラ、13…光源(第1光源)、14…光源(第2光源)、15…画像表示装置、16…エッジ、17…光量調整部、18…欠陥判別装置、23…画像、26…カケ、27…輝点、31…カメラの視野の中心線、33…エッジの中心点。
Claims (6)
- 光源とカメラとの間に、切断後に研磨したガラス板のエッジを介在させ、このエッジへ光源から光を入射し、この入射光線でエッジに存在する欠陥を明るくし、これをカメラで撮影し、この画像を処理して欠陥の有無を調べるガラス板のエッジ欠陥検出方法であって、
前記ガラス板は一定方向へ搬送し、前記カメラは前記ガラス板に対し垂直に配置し、
前記光源は、ガラス板の前縁を照らす第1光源及びガラス板の後縁を照らす第2光源で構成し、
これらの第1光源及び第2光源は、前記カメラから垂直に下ろした軸を挟んで前記ガラス板の搬送方向に対称な位置に、カメラの視野の中心線から外して互いに平行に配置し且つガラス板の搬送方向に直交する方向に延びる光源であって、
前記第1光源及び第2光源からは、前記ガラス板を上から見て描くエッジの法線に対して、±45°の範囲から出射させて、前記カメラで画像を得るようにし、
この画像においてガラス板の表面並びにエッジの一般面が暗くなり、エッジに存在するカケが明るくなるように、光源からカメラに至る光量を絞り調整することで、カケを光学的に検出するようにし、
前記画像の処理は、画像中にカケに対応した輝点が無ければ欠陥無し、輝点があるときには輝点の大きさを演算してそれがしきい値を超えたときに欠陥有りと判定する如くに、処理を自動化したことを特徴とするガラス板のエッジ欠陥検出方法。 - 前記光源は、線光源又は面光源であることを特徴とする請求項1記載のガラス板のエッジ欠陥検出方法。
- 前記光源は、カメラの視野の中心線とエッジとが重なったときのエッジを中心点とし、カメラの視野の中心線に対して3゜〜60゜の範囲に配置することを特徴とした請求項1又は請求項2記載のガラス板のエッジ欠陥検出方法。
- 光源とカメラとの間に、切断後に研磨したガラス板のエッジを介在させ、このエッジへ光源から光を入射し、この入射光線でエッジに存在する欠陥を明るくし、これをカメラで撮影し、この画像を処理して欠陥の有無を調べるガラス板のエッジ欠陥検出装置であって、
前記カメラは、一定方向へ搬送されるガラス板に対し垂直に配置し、
前記光源は、ガラス板の前縁を照らす第1光源及びガラス板の後縁を照らす第2光源で構成し、
これらの第1光源及び第2光源は、前記カメラから垂直に下ろした軸を挟んで前記ガラス板の搬送方向に対称な位置に、カメラの視野の中心線から外して互いに平行に配置し且つガラス板の搬送方向に直交する方向に延びる光源であって、且つ前記第1光源及び第2光源は、前記ガラス板を上から見て描くエッジの法線に対して、±45°の範囲に配置し、
前記ガラス板のエッジ欠陥検出装置に、前記カメラの映像を表示する画像表示装置を備えるとともに、この画像表示装置の画像においてガラス板の表面並びにガラス板のエッジの一般面が暗くなりエッジに存在するカケが明るくなるように光源からカメラに至る光量を絞り調整する光量調整部を備え、
前記画像表示装置に、画像中にカケに対応した輝点が無ければ欠陥無し、輝点があるときには輝点の大きさを演算してそれがしきい値を超えたときに欠陥有りと判定する欠陥判別装置を付属させたことを特徴とするガラス板のエッジ欠陥検出装置。 - 前記光源は、線光源又は面光源であることを特徴とする請求項4記載のガラス板のエッジ欠陥検出装置。
- 前記光源は、カメラの視野の中心線とエッジとが重なったときのエッジを中心点とし、カメラの視野の中心線に対して3゜〜60゜の範囲に配置することを特徴とした請求項4又は請求項5記載のガラス板のエッジ欠陥検出装置。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101800019B1 (ko) | 2010-02-26 | 2017-11-21 | 아사히 가라스 가부시키가이샤 | 직사각형 판상물의 깨짐 검사 방법 및 검사 장치 |
Families Citing this family (18)
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---|---|---|---|---|
KR100573561B1 (ko) * | 2001-12-24 | 2006-04-25 | 주식회사 포스코 | 에지필터를 이용한 핀홀 검출기 |
JP2006098101A (ja) * | 2004-09-28 | 2006-04-13 | Canon Chemicals Inc | 板状体の欠陥検出方法及び欠陥検出装置 |
JP4626982B2 (ja) * | 2005-02-10 | 2011-02-09 | セントラル硝子株式会社 | ガラス板の端面の欠陥検出装置および検出方法 |
KR100642500B1 (ko) | 2005-03-02 | 2006-11-06 | (주)쎄미시스코 | 유리기판의 에지 결함 및 디스컬러 검사장치 |
JP2006300663A (ja) * | 2005-04-19 | 2006-11-02 | Asahi Glass Co Ltd | 欠点検出システム |
KR100725748B1 (ko) | 2005-06-20 | 2007-06-08 | (주)미래컴퍼니 | 유리기판의 에지 검사용 테이블 |
KR100927956B1 (ko) * | 2007-12-03 | 2009-11-24 | 씨케텍주식회사 | 유리기판의 파단 검사장치 |
KR100902709B1 (ko) * | 2008-12-18 | 2009-06-15 | (주)제노정보시스템 | 유리기판의 진행 방향측 에지면의 결함 검출장치 |
CN102985386B (zh) * | 2010-07-08 | 2015-09-02 | 旭硝子株式会社 | 玻璃基板端面的评价方法及玻璃基板端面的加工方法以及玻璃基板 |
JP2014077637A (ja) * | 2011-02-01 | 2014-05-01 | Asahi Glass Co Ltd | 光透過性板状物検査システム |
JPWO2012153718A1 (ja) * | 2011-05-12 | 2014-07-31 | コニカミノルタ株式会社 | ガラスシートの端面検査方法、及びガラスシートの端面検査装置 |
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JP6576664B2 (ja) * | 2015-03-31 | 2019-09-18 | 株式会社ミツトヨ | エッジ検出偏り補正値計算方法、エッジ検出偏り補正方法、及びプログラム |
KR20180116154A (ko) * | 2017-04-14 | 2018-10-24 | 코닝 인코포레이티드 | 커버 글라스 검사 장치 |
CN106990119A (zh) * | 2017-04-27 | 2017-07-28 | 中科慧远视觉技术(洛阳)有限公司 | 一种自动检测白玻表面缺陷的视觉检测系统及检测方法 |
CN110146514A (zh) * | 2019-04-19 | 2019-08-20 | 广州超音速自动化科技股份有限公司 | 板料封边缺陷检测装置及使用方法 |
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1999
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101800019B1 (ko) | 2010-02-26 | 2017-11-21 | 아사히 가라스 가부시키가이샤 | 직사각형 판상물의 깨짐 검사 방법 및 검사 장치 |
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