CN113587809A - 一种平板玻璃边部面幅自动检测系统及其检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种平板玻璃边部面幅自动检测系统及其检测方法,涉及平板玻璃制造技术领域。本发明的一种平板玻璃边部面幅自动检测系统及其检测方法,包括水平设置的旋转台,所述旋转台安装在机械设备上,所述旋转台的上方水平放置有玻璃,所述旋转台的一侧设置有边部面幅检测装置,以检测磨削后的玻璃边部面幅尺寸,通过计算可得出边部上下面的面幅尺寸差值,以判断研磨设备的磨边质量是否合格;靠近边部面幅检测装置一侧的所述玻璃的上下表面通过测量支撑块支撑固定,以保证其边部平面度的要求;所述边部面幅检测装置包括上下对称设置的上、下CCD探头,其发射的光源为多光源组合光的平行同轴光,以通过玻璃的反射特性来确定磨边的特征。
Description
技术领域
本发明涉及平板玻璃制造技术领域,更具体地说是一种平板玻璃边部面幅自动检测系统及其检测方法。
背景技术
平板玻璃研磨技术是一种综合性学科技术,磨边后边部上下面研磨质量和差异涉及的因素较多,如果在研磨过程中边部面幅及面幅差控制不好,易造成产品掉片、烧伤等不良,间接会污染生产线和增加清洗成本,在客户端使用时碎板发生几率增加,最严重时会造成客户停用的后果。
平板玻璃对磨边后的边部面幅及边部上下面的面幅差有着非常严苛的品质要求,例如G8.5/G8.6基板玻璃的外形尺寸:G8.5 2500*2200mm,G8.6 2600*2250mm,厚度0.5mm,边部研磨后四个边任一点上下面的面幅均要满足0.1-0.5μm,同时同一点的上下面的面幅差小于等于80μm。如果在不裁切玻璃边部的条件下,通过图像对平板玻璃磨边后边部上下面的面幅进行自动实时检测,通过计算上下面的面幅差来判断,并能在短时间内给出相应的检测结果,同时告知有问题的研磨点位,还能对有疑意的图片进行复检做进一步确认,这是一项非常复杂的工作,光学检测要求精度高,需精确到微米级,干扰因素比较复杂。
在平板玻璃制造过程中,半成品的玻璃经切割后,要进行研磨,研磨是指对玻璃边部和角部按照一定的尺寸规格进行磨削。边部的面幅和面幅差主要是用来衡量边部上下面磨削质量及稳定性的一项关键指标,常规方法是采用人工切割边部取样,用显微镜(5X或10X)进行人工取点测量,该方法存在的缺陷是:1、由于是破坏性取样检测,受生产成本的限制,检测频度不能频繁(否则会增加产品损失),同时,这样频度的管理无法监控研磨质量并及时进行调整;2、检测方法是用显微镜(5X或10X)的人工取点测量,检测效率低,检测结果受人为因素干扰大;3、人工检测时需要停机,待检测完成后方能继续开机生产,生产效率低;4、由于是破坏性检测,因此无论是检测合格或不合格,玻璃均被废弃,这对产线的良率有很大的影响。
随着平板玻璃生产线的逐步升级,急需研究一种在不增加生产运行成本的前提下,在研磨过程中对边部面幅及面幅差进行实时准确地自动检测系统,进而及时进行调整,达到提高玻璃边部磨削品质,满足客户的需要。
发明内容
1.发明要解决的技术问题
针对上述现有技术缺点,本发明提出一种平板玻璃边部面幅自动检测系统及其检测方法,水平安装在机械设备上的旋转台的上方水平放置有玻璃,所述旋转台的一侧设置有边部面幅检测装置,以用于检测磨削后的玻璃边部面幅尺寸,其测量范围包含该玻璃各边边部的上下面的面幅尺寸,通过计算可得出边部上下面的面幅尺寸差值,以此来判断研磨设备的磨边质量是否达到产品规格。
2.技术方案
为达到上述目的,本发明提供的技术方案为:
一种平板玻璃边部面幅自动检测系统,包括水平设置的旋转台,所述旋转台安装在机械设备上,所述旋转台的上方水平放置有玻璃,所述旋转台的一侧设置有边部面幅检测装置,所述玻璃的外侧边能够跟随旋转台的移动延伸进入边部面幅检测装置中,以通过边部面幅检测装置自动检测出所述玻璃的边部面幅,其测量范围包含该玻璃各边部的上、下面的面幅尺寸以及边部上下面的面幅尺寸差值,以此来判断研磨设备的磨边质量是否达到产品规格,并能实时反馈研磨设备当前是否处于正常工作状态的信息;另外能够自由定义所需检测玻璃的边部任意点位和点位个数,亦可根据需要增减其点位个数,并重复多次测试该玻璃。
进一步的技术方案,所述旋转台上等间距安装有防震装置,通过械手将玻璃水平放置在防震装置的上表面,以解决因周围环境震动对检测结果的影响,保证检测结果的真实性。
进一步的技术方案,靠近边部面幅检测装置一侧的所述玻璃的上下表面通过测量支撑块支撑固定,所述测量支撑块包括分别在上下表面对称设置的上支撑块和下支撑块,以用来承载和压紧待检测玻璃的边部,保证测量时对玻璃边部平面度的要求。
进一步的技术方案,所述边部面幅检测装置包括上下对称设置的上CCD探头和下CCD探头,所述上CCD探头和下CCD探头之间预留间隙,所述玻璃外端能够延伸进入其二者之间的间隙中;所述上CCD探头和下CCD探头相对面上均固定安装有光源,所述光源为多光源组合光的平行同轴光,由于玻璃对光路的复杂度很高,光学系统相对比较复杂,包含有反射,折射,散射和穿透性,所以采用平行同轴光的打光方式,通过玻璃的反射特性来确定磨边的特征,在没磨的玻璃上,光是镜面反射,在上CCD探头和下CCD探头中的特征是高亮特征;而经过研磨的玻璃上的光是属于漫反射,在上CCD探头和下CCD探头中的特征是非高亮的特征。
进一步的技术方案,所述上CCD探头和下CCD探头的芯片像元尺寸为3.45μm,重复测量精度为10微米,并选用0.5mm景深的1倍率的远心镜头;在设备的运行和检测过程中,由于检测的玻璃边部较长,且上CCD探头和下CCD探头的景深比较短,对检测台水平和稳定性有很高的要求,由于上CCD探头和下CCD探头景深为0.5mm,要检测的玻璃最大厚度为0.7mm,因此要求在上CCD探头和下CCD探头拍摄区域,所有相关点的累计误差都要控制在0.15mm之内,特别是检测台的水平度。
进一步的技术方案,所述上CCD探头和下CCD探头的一侧上下对称设置有上激光传感测距系统和下激光传感测距系统,所述上激光传感测距系统和下激光传感测距系统设置在靠近玻璃中部的一侧,所述上激光传感测距系统和下激光传感测距系统均包括CMOS图象传感器和半导体激光发射器;为了能更好的控制累计误差,在上CCD探头和下CCD探头的侧边安装了激光传感测距系统,该系统的灵敏度可达0.001mm,通过激光传感器感知距离来调整上CCD探头和下CCD探头的上下移动,确保到玻璃的距离在上CCD探头和下CCD探头的景深范围之内。
进一步的技术方案,所述上激光传感测距系统和下激光传感测距系统均为正反射型高功能激光位移传感器,其激光发射器发射出的激光束的波长为655nm,光束直径0.1*0.1mm,上CCD探头和下CCD探头可分别对玻璃的边部上面和下面进行拍照,上激光传感测距系统和下激光传感测距系统对玻璃边部的上面和下面进行测距,以保证玻璃能在上CCD探头和下CCD探头的景深范围内,完成对玻璃的上边部面幅和下边部面幅进行检测。
进一步的技术方案,所述上CCD探头和下CCD探头上分别安装有上防水气刀和下防水气刀,所述上防水气刀和下防水气刀设置在远离玻璃外端的一侧,从而把湿润状态下的玻璃边部吹干,避免水迹对测量结果的影响。
一种平板玻璃边部面幅自动检测系统的检测方法,包括如下步骤:
步骤一、所述旋转台能够以其中心点水平旋转,且每次旋转角度为90°,通过旋转台前移带动其上的玻璃同步移动,所述玻璃的前端进入边部面幅检测装置的检测区域内,同时使用上支撑块和下支撑块将玻璃的上下面压紧;
步骤二、调整上CCD探头和下CCD探头位置,将其移动至玻璃的外端部,并分别位于玻璃的上下方,使得玻璃在上CCD探头和下CCD探头的景深范围内;
步骤三、上CCD探头和下CCD探头分别相对发出上输出光和下输出光,以照射在玻璃外端磨边后的上下两个面上,同时启动上防水气刀和下防水气刀,然后通过激光传感测距系统和下激光传感测距系统对玻璃的上边部面幅和下边部面幅进行测量;
步骤四、当上CCD探头和下CCD探头分别接收到由玻璃反射回的上反射光和下反射光后,自动调整用于固定上CCD探头和下CCD探头的CCD探头移动支架,进而给出起点位置;
步骤五、CCD探头移动支架自动移动至指定的测量位置后,调整激光传感测距系统和下激光传感测距系统至合适位置,沿着玻璃边长方向每移动到一个点,上防水气刀和下防水气刀就工作一次,当所述上CCD探头接收到上反射光信号后进行拍照,然后下激光传感测距系统进行位置微调;当下CCD探头接收到下反射光信号后进行拍照取图,并给出结果信息;
步骤六、测量结束后随即进入沿玻璃边长方向的下一个点的测量,并重复依此进行步骤一至五,直到检测任务完成。
3.有益效果
采用本发明提供的技术方案,与现有技术相比,具有如下有益效果:
(1)本发明的一种平板玻璃边部面幅自动检测系统及其检测方法,水平安装在机械设备上的旋转台的上方水平放置有玻璃,所述旋转台的一侧设置有边部面幅检测装置,,所述玻璃的外侧边能够跟随旋转台的移动延伸进入边部面幅检测装置中,通过传感器进行信号传递,当玻璃进入了检测范围,以通过边部面幅检测装置自动检测出所述玻璃的边部面幅,其测量范围包含该玻璃各边部的上、下面的面幅尺寸以及边部上下面的面幅尺寸差值,以此来判断研磨设备的磨边质量是否达到产品规格,并能实时反馈研磨设备当前是否处于正常工作状态的信息;
(2)本发明的一种平板玻璃边部面幅自动检测系统及其检测方法,靠近边部面幅检测装置一侧的所述玻璃的上下表面通过测量支撑块支撑固定,所述测量支撑块包括分别在上下表面对称设置的上支撑块和下支撑块,以用来承载和压紧待检测玻璃的边部,保证测量时对玻璃边部平面度的要求;
(3)本发明的一种平板玻璃边部面幅自动检测系统及其检测方法,所述上CCD探头和下CCD探头相对面上均固定安装有光源,所述光源为多光源组合光的平行同轴光,通过玻璃的反射特性来确定磨边的特征,在没磨的玻璃上,光是镜面反射,在上CCD探头和下CCD探头中的特征是高亮特征,以通过一定的算法完美的进行分割,形成算法有效的特征图片;
(4)本发明的一种平板玻璃边部面幅自动检测系统及其检测方法,上防水气刀和下防水气刀设置在远离玻璃外端的一侧,从而把湿润状态下的玻璃边部吹干,避免水迹对测量结果的影响;
(5)本发明的一种平板玻璃边部面幅自动检测系统及其检测方法,为了能更好的控制累计误差,上CCD探头和下CCD探头的侧边安装了上激光传感测距系统和下激光传感测距系统,该系统的灵敏度可达0.001mm,通过上激光传感测距系统和下激光传感测距系统感知距离来调整上CCD探头和下CCD探头的上下移动,确保到玻璃的距离在上CCD探头和下CCD探头的景深范围之内。
附图说明
图1为本发明的自动检测系统工作状态结构示意图;
图2为本发明的自动检测系统中的CCD探头光源示意图。
图中:1-旋转台;2-玻璃;3-防震装置;4-边部面幅检测装置;5-测量支撑块;21-上边部面幅;22-下边部面幅;41-上CCD探头;42-下CCD探头;43-上激光传感测距系统;44-下激光传感测距系统;45-上防水气刀;46-下防水气刀;51-上支撑块;52-下支撑块;411-上输出光;412-上反射光;421-下输出光;422-下反射光。
具体实施方式
为进一步了解本发明的内容,结合附图对发明作详细描述。
实施例1
本实施例的一种平板玻璃磨边自动检测系统,如图1所示,包括水平设置的旋转台1,所述旋转台1安装在机械设备上,所述旋转台1的上方水平放置有玻璃2,所述旋转台1的一侧设置有边部面幅检测装置4,所述玻璃2的外侧边能够跟随旋转台1的移动延伸进入边部面幅检测装置4中,通过传感器进行信号传递,当玻璃2进入了检测范围,以通过边部面幅检测装置4自动检测出所述玻璃2的边部面幅,其测量范围包含该玻璃2各边部的上、下面的面幅尺寸以及边部上下面的面幅尺寸差值,以此来判断研磨设备的磨边质量是否达到产品规格,并能实时反馈研磨设备当前是否处于正常工作状态的信息;另外能够自由定义所需检测玻璃2的边部任意点位和点位个数,亦可根据需要增减其点位个数,并重复多次测试该玻璃2。
本实施例中,靠近边部面幅检测装置4一侧的所述玻璃2的上下表面通过测量支撑块5支撑固定,所述测量支撑块5包括分别在2上下表面对称设置的上支撑块51和下支撑块52,以用来承载和压紧待检测玻璃2的边部,保证测量时对玻璃边部平面度的要求。通过械手将玻璃2水平放置在防震装置3的上表面,以解决因周围环境震动对检测结果的影响,保证检测结果的真实性。
实施例2
本实施例的一种平板玻璃磨边自动检测系统,基本结构同实施例1,不同和改进之处在于:如图1所示,所述边部面幅检测装置4包括上下对称设置的上CCD探头41和下CCD探头42,所述上CCD探头41和下CCD探头42之间预留间隙,所述玻璃2外端能够延伸进入其二者之间的间隙中;所述上CCD探头41和下CCD探头42相对面上均固定安装有光源,所述光源为多光源组合光的平行同轴光,由于玻璃2对光路的复杂度很高,光学系统相对比较复杂,包含有反射,折射,散射和穿透性,所以采用平行同轴光的打光方式,通过玻璃2的反射特性来确定磨边的特征,在没磨的玻璃2上,光是镜面反射,在上CCD探头41和下CCD探头42中的特征是高亮特征;而经过研磨的玻璃2上的光是属于漫反射,在上CCD探头41和下CCD探头42中的特征是非高亮的特征。如图2所述,表示了上CCD探头41和下CCD探头光源示意图,平行同轴光的光路为平行输出,上CCD探头41和下CCD探头42分别相对发出上输出光411和下输出光421照射至上边部面幅21和下边部面幅22上,所述玻璃2边部经研磨后的上边部面幅21和下边部面幅22相应反射回的上反射光412和下反射光422,反射回上CCD探头41和下CCD探头42的光路在图片中显示为亮,不进入相机的光路在图片中显示为暗,所以在玻璃2边部研磨开始处上CCD探头41和下CCD探头42取到的图片为从亮到暗的递变过程,该特征可以通过一定的算法完美的进行分割,如果光源的光路是发散的,在CCD的成像系统中,无法形成算法有效的特征图片。
本实施例中,所述上CCD探头41和下CCD探头42的芯片像元尺寸为3.45μm,重复测量精度为10微米,在测试过程中,通过亚像素理论并且行业内3个点确定一个物理点的法则,测量精度可达10微米,用远心镜头来减少镜头来带的畸变影响,提高精度;玻璃2的厚度尺寸在0.4mm~0.7mm,要满足清晰取像的要求,选用0.5mm景深的1倍率的远心镜头;在设备的运行和检测过程中,由于检测的玻璃2边部较长,且上CCD探头41和下CCD探头42的景深比较短,对检测台水平和稳定性有很高的要求,由于上CCD探头41和下CCD探头42景深为0.5mm,要检测的玻璃2最大厚度为0.7mm,因此要求在上CCD探头41和下CCD探头42拍摄区域,所有相关点的累计误差都要控制在0.15mm之内,特别是检测台的水平度。
进一步的,所述上CCD探头41和下CCD探头42上分别安装有上防水气刀45和下防水气刀46,所述上防水气刀45和下防水气刀46设置在远离玻璃2外端的一侧,从而把湿润状态下的玻璃2边部吹干,避免水迹对测量结果的影响。
实施例3
本实施例的一种平板玻璃磨边自动检测系统,基本结构同实施例2,不同和改进之处在于:如图1所示,所述上CCD探头41和下CCD探头42的一侧上下对称设置有上激光传感测距系统43和下激光传感测距系统44,所述上激光传感测距系统43和下激光传感测距系统44设置在靠近玻璃2中部的一侧,所述上激光传感测距系统43和下激光传感测距系统44均包括CMOS图象传感器和半导体激光发射器;为了能更好的控制累计误差,在上CCD探头41和下CCD探头42的侧边安装了上激光传感测距系统43和下激光传感测距系统44,该系统的灵敏度可达0.001mm,通过上激光传感测距系统43和下激光传感测距系统44感知距离来调整上CCD探头41和下CCD探头42的上下移动,确保到玻璃的距离在上CCD探头41和下CCD探头42的景深范围之内。
本实施例中,所述上激光传感测距系统43和下激光传感测距系统44均为正反射型高功能激光位移传感器,其激光发射器发射出的激光束的波长为655nm,光束直径0.1*0.1mm,上CCD探头41和下CCD探头42可分别对玻璃2的边部上面和下面进行拍照,上激光传感测距系统43和下激光传感测距系统44对玻璃边部的上面和下面进行测距,以保证玻璃2能在上CCD探头41和下CCD探头42的景深范围内,完成对玻璃2边部上、下面面幅的检测。所述上激光传感测距系统43和下激光传感测距系统44的激光发射器发出的激光束对应反射光变化,就可对应测量距离上激光传感测距系统43和下激光传感测距系统44的激光发射器同时发射出激光束,计算出激距离平板玻璃2边部上表面及下表面的中心距离,根据两个测距值,计算出基准面(上表面)距离上CCD探头41最下端的距离,作为上CCD探头41自动聚焦初始基准值,同理,计算出基准面(下表面)距离下CCD探头42最上端的距离,作为下CCD探头42自动聚焦初始基准值。
实施例4
本实施例的一种平板玻璃边部面幅自动检测系统的检测方法,基本结构同实施例3,不同和改进之处在于:包括如下步骤:
步骤一、所述旋转台1能够以其中心点水平旋转,且每次旋转角度为90°,通过旋转台1前移带动其上的玻璃2同步移动,所述玻璃2的前端进入边部面幅检测装置4的检测区域内,同时使用上支撑块51和下支撑块52将玻璃2的上下面压紧;
步骤二、调整上CCD探头41和下CCD探头42位置,将其移动至玻璃2的外端部,并分别位于玻璃2的上下方,使得玻璃2在上CCD探头41和下CCD探头42的景深范围内;
步骤三、上CCD探头41和下CCD探头42分别相对发出上输出光411和下输出光421,以照射在玻璃2外端磨边后的上下两个面上,同时启动上防水气刀45和下防水气刀46,然后通过激光传感测距系统43和下激光传感测距系统44对玻璃2的上边部面幅21和下边部面幅22进行测量;
步骤四、当上CCD探头41和下CCD探头42分别接收到由玻璃2反射回的上反射光412和下反射光422后,自动调整用于固定上CCD探头41和下CCD探头42的CCD探头移动支架,进而给出起点位置;
步骤五、CCD探头移动支架自动移动至指定的测量位置后,调整激光传感测距系统43和下激光传感测距系统44至合适位置,沿着玻璃2边长方向每移动到一个点,上防水气刀45和下防水气刀46就工作一次,当所述上CCD探头41接收到上反射光412信号后进行拍照,然后下激光传感测距系统44进行位置微调;当下CCD探头42接收到下反射光422信号后进行拍照取图,并给出结果信息;
步骤六、测量结束后随即进入沿玻璃2边长方向的下一个点的测量,并重复依此进行步骤一至五,直到检测任务完成。
本实施例中,完成一个边的检测任务后,旋转台1会沿着玻璃2边长方向退出检测范围,并旋转90°后在沿着玻璃2边长进入检测范围,按照上述步骤完成检测,直到玻璃2的四条边全部检测完毕,并根据检测结果自动判定玻璃2的流向。
以上示意性的对本发明及其实施方式进行了描述,该描述没有限制性,附图中所示的也只是本发明的实施方式之一,实际的结构并不局限于此。所以,如果本领域的普通技术人员受其启示,在不脱离本发明创造宗旨的情况下,不经创造性的设计出与该技术方案相似的结构方式及实施例,均应属于本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种平板玻璃边部面幅自动检测系统,其特征在于:包括水平设置的旋转台(1),所述旋转台(1)安装在机械设备上,所述旋转台(1)的上方水平放置有玻璃(2),所述旋转台(1)的一侧设置有边部面幅检测装置(4),所述玻璃(2)的外侧边能够跟随旋转台(1)的移动延伸进入边部面幅检测装置(4)中,以通过边部面幅检测装置(4)自动检测出所述玻璃(2)的边部面幅。
2.根据权利要求1所述的一种平板玻璃边部面幅自动检测系统,其特征在于:所述旋转台(1)上等间距安装有防震装置(3),通过械手将玻璃(2)水平放置在防震装置(3)的上表面。
3.根据权利要求2所述的一种平板玻璃边部面幅自动检测系统,其特征在于:靠近边部面幅检测装置(4)一侧的所述玻璃(2)的上下表面通过测量支撑块(5)支撑固定,所述测量支撑块(5)包括分别在(2)上下表面对称设置的上支撑块(51)和下支撑块(52)。
4.根据权利要求1至3任一所述的一种平板玻璃边部面幅自动检测系统,其特征在于:所述边部面幅检测装置(4)包括上下对称设置的上CCD探头(41)和下CCD探头(42),所述上CCD探头(41)和下CCD探头(42)之间预留间隙,所述玻璃(2)外端能够延伸进入其二者之间的间隙中;所述上CCD探头(41)和下CCD探头(42)相对面上均固定安装有光源,所述光源为多光源组合光的平行同轴光。
5.根据权利要求4所述的一种平板玻璃边部面幅自动检测系统,其特征在于:所述上CCD探头(41)和下CCD探头(42)的芯片像元尺寸为3.45μm,重复测量精度为10微米,并选用0.5mm景深的1倍率的远心镜头。
6.根据权利要求5所述的一种平板玻璃边部面幅自动检测系统,其特征在于:所述上CCD探头(41)和下CCD探头(42)的一侧上下对称设置有上激光传感测距系统(43)和下激光传感测距系统(44),所述上激光传感测距系统(43)和下激光传感测距系统(44)设置在靠近玻璃(2)中部的一侧,所述上激光传感测距系统(43)和下激光传感测距系统(44)均包括CMOS图象传感器和半导体激光发射器。
7.根据权利要求6所述的一种平板玻璃边部面幅自动检测系统,其特征在于:所述上激光传感测距系统(43)和下激光传感测距系统(44)均为正反射型高功能激光位移传感器,其激光发射器发射出的激光束的波长为655nm,光束直径0.1*0.1mm。
8.根据权利要求7所述的一种平板玻璃边部面幅自动检测系统,其特征在于:所述上CCD探头(41)和下CCD探头(42)上分别安装有上防水气刀(45)和下防水气刀(46),所述上防水气刀(45)和下防水气刀(46)设置在远离玻璃(2)外端的一侧。
9.一种平板玻璃边部面幅自动检测系统的检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤一、通过旋转台(1)前移带动其上的玻璃(2)同步移动,所述玻璃(2)的前端进入边部面幅检测装置(4)的检测区域内,同时使用上支撑块(51)和下支撑块(52)将玻璃(2)的上下面压紧;
步骤二、调整上CCD探头(41)和下CCD探头(42)位置,将其移动至玻璃(2)的外端部,并分别位于玻璃(2)的上下方,使得玻璃(2)在上CCD探头(41)和下CCD探头(42)的景深范围内;
步骤三、上CCD探头(41)和下CCD探头(42)分别相对发出上输出光(411)和下输出光(421),以照射在玻璃(2)外端磨边后的上下两个面上,同时启动上防水气刀(45)和下防水气刀(46),然后通过激光传感测距系统(43)和下激光传感测距系统(44)对玻璃(2)的上下面幅进行测量;
步骤四、当上CCD探头(41)和下CCD探头(42)分别接收到由玻璃(2)反射回的上反射光(412)和下反射光(422)后,自动调整用于固定上CCD探头(41)和下CCD探头(42)的CCD探头移动支架,进而给出起点位置;
步骤五、CCD探头移动支架自动移动至指定的测量位置后,调整激光传感测距系统(43)和下激光传感测距系统(44)至合适位置,沿着玻璃(2)边长方向每移动到一个点,上防水气刀(45)和下防水气刀(46)就工作一次,当所述上CCD探头(41)接收到上反射光(412)信号后进行拍照,然后下激光传感测距系统(44)进行位置微调;当下CCD探头(42)接收到下反射光(422)信号后进行拍照取图,并给出结果信息;
步骤六、测量结束后随即进入沿玻璃(2)边长方向的下一个点的测量,并重复依此进行步骤一至五,直到检测任务完成。
10.根据权利要求9所述的一种平板玻璃边部面幅自动检测系统的检测方法,其特征在于:步骤一中,所述旋转台(1)能够以其中心点水平旋转,且每次旋转角度为90°。
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