CN110208269B - 一种玻璃表面异物与内部异物区分的方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种玻璃表面异物与内部异物区分的方法及系统，所述方法包括获取玻璃的缺陷S1；判断所述缺陷是否为所述玻璃的表面异物或者内部异物S2。根据本发明的技术方案，可以快速准确的判断玻璃缺陷是否为表面异物或者内部异物，降低人力物力成本；通过亮色缺陷和暗色缺陷的对比等方法，即可以判断出玻璃表面异物或内部异物，方案简单直观，误判率低；系统结构简单，配置成本低；不仅可以区分玻璃的表面异物和内部异物，还可以区分表面异物中区别于灰尘的大面积异物。

Description

一种玻璃表面异物与内部异物区分的方法及系统

技术领域

本发明总体涉及玻璃检测领域，更具体地，涉及一种玻璃表面异物与内部异物区分的技术。

背景技术

玻璃的用途十分广泛，例如用于液晶屏、显示屏、显示窗等，因此对玻璃的透明度、分辨率等质量要求也越来越严格。在玻璃质量检测的过程中，通常要对玻璃内部异物进行检测，而由于玻璃表面的脏污可能对玻璃检测过程中造成误判，从而导致过检现象的发生。合格玻璃产品可能被废弃造成浪费，或者需要人工再次进行甄别，造成人力物力的浪费。即使在对玻璃进行检测前彻底清洗玻璃表面，也难以彻底避免检测过程中玻璃表面再次吸附灰尘。因此有效的区分玻璃的表面异物和内部异物，变得尤为重要。

申请号为201820130500.0，发明名称为“液晶玻璃屏表面灰尘与内部异物区分的成像机构”的中国专利描述了一种液晶玻璃屏表面灰尘与内部异物区分的成像机构，该方案包括定位治具、光源模组及成像相机。定位治具上设置有定位区，定位治具位于定位区的两侧分别设置有过光区。光源模组包括上平行光源组件及下平行光源组件，上平行光源组件包括上平行光源，上平行光源分别用于向过光区发出上平行光；下平行光源组件包括下平行光源，且下平行光源分别用于向过光区发出下平行光。所述液晶玻璃屏的缺陷成像机构通过设置定位治具、光源模组及成像相机。光源模组发射的平行光线遇到在液晶玻璃屏表面的灰尘发生反射，从而被成像相机检测出来，避免了光源模组发射出的光线照射到液晶玻璃屏内部的异物上，避免将液晶玻璃屏内部的异物误判为液晶玻璃屏表面灰尘。

该方案通过上平行光和下平行光的设置，避免了液晶玻璃内部异物成像，从而可以区分液晶玻璃表面灰尘和内部异物。但是该方法只能检测出液晶玻璃表面的灰尘，无法检出液晶玻璃的内部异物。

发明内容

针对以上问题，本发明的目的在于克服现有技术中难以区分玻璃表面异物与内部异物的缺陷，提供一种玻璃表面异物与内部异物区分的方法及系统。

根据本发明的第一方面，提供一种玻璃表面异物与内部异物区分的方法，包括，获取玻璃的缺陷S1；判断所述缺陷是否为所述玻璃的表面异物或者内部异物S2。

可选地，所述获取玻璃的缺陷S1包括，分别采集所述玻璃的明场图片和暗场图片；获取所述明场图片的明场缺陷；获取所述暗场图片的暗场缺陷。

可选地，所述判断所述缺陷是否为所述玻璃的表面异物或者内部异物S2包括，对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷，以确定所述缺陷是否为所述玻璃的表面异物或者内部异物。

可选地，例如，所述明场缺陷为灰度值与所述明场图片的平均灰度值不同的部分，包括灰度值大于所述明场图片平均灰度值的亮色缺陷、灰度值小于所述明场图片平均灰度值的暗色缺陷；所述暗场缺陷为灰度值与所述暗场图片的平均灰度值不同的部分。

可选地，还包括，对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷的位置是否相同；如果位置相同，判断所述明场缺陷为亮色缺陷还是暗色缺陷；如果所述明场缺陷为亮色缺陷，确定所述缺陷为所述玻璃的内部异物；如果所述明场缺陷为暗色缺陷，确定所述缺陷为所述玻璃的表面异物。

可选地，例如，所述对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷的位置是否相同包括，对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷在相同的图像坐标系中的位置是否相同，包括：调整所述暗场图片和所述明场图片中的至少一个的尺寸，以使所述明场图片和所述暗场图片的图像坐标系相同。

可选地，例如，所述对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷的位置是否相同还包括，对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷的面积和形状中的至少一项是否相同；如果相同，判断所述明场缺陷为亮色缺陷还是暗色缺陷。

可选地，还包括，如果所述暗场缺陷的面积大于所述明场缺陷的面积时，判断所述明场缺陷是否有倒影；如果是，判断所述明场缺陷为亮色缺陷还是暗色缺陷。

可选地，例如，所述明场图片是通过成像相机在明场光路上对所述玻璃拍照而采集的图片；所述暗场图片是通过所述成像相机在暗场光路下对所述玻璃拍照而采集的图片。

可选地，例如，所述明场光路的线光为蓝色线光；所述暗场光路的线光为多角度线光。

根据本发明的第二方面，提供一种玻璃表面异物与内部异物区分的设备，包括，第一装置，用于获取玻璃的缺陷；第二装置，用于判断所述缺陷是否为所述玻璃的表面异物或者内部异物。

可选地，所述第一装置配置为，分别采集所述玻璃的明场图片和暗场图片；获取所述明场图片的明场缺陷；获取所述暗场图片的暗场缺陷。

可选地，所述第二装置配置为，对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷，以确定所述缺陷是否为所述玻璃的表面异物或者内部异物。

可选地，例如，所述明场缺陷为灰度值与所述明场图片的平均灰度值不同的部分，包括灰度值大于所述明场图片平均灰度值的亮色缺陷、灰度值小于所述明场图片平均灰度值的暗色缺陷；所述暗场缺陷为灰度值与所述暗场图片的平均灰度值不同的部分。

可选地，所述第二装置还配置为，对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷的位置是否相同；如果位置相同，判断所述明场缺陷为亮色缺陷还是暗色缺陷；如果所述明场缺陷为亮色缺陷，确定所述缺陷为所述玻璃的内部异物；如果所述明场缺陷为暗色缺陷，确定所述缺陷为所述玻璃的表面异物。

可选地，所述第二装置还配置为，对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷在相同的图像坐标系中的位置是否相同，包括：调整所述暗场图片和所述明场图片中的至少一个的尺寸，以使所述明场图片和所述暗场图片的图像坐标系相同。

可选地，所述第二装置还配置为，对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷的面积和形状中的至少一项是否相同；如果相同，判断所述明场缺陷为亮色缺陷还是暗色缺陷。

可选地，所述第二装置还配置为，如果所述暗场缺陷的面积大于所述明场缺陷的面积时，判断所述明场缺陷是否有倒影；如果是，判断所述明场缺陷为亮色缺陷还是暗色缺陷。

根据本发明的第三方面，提供一种玻璃表面异物与内部异物区分的系统，包括图像采集设备、光源发射设备、检测设备，所述光源发射设备配置为，向玻璃表面发射线光，所述线光在所述玻璃表面发生反射；所述图像采集设备配置为，在不同位置采集所述玻璃的图像；所述检测设备，与所述图像采集设备相连，并配置为，获取所述图像采集设备采集的图片，并获取所述图片的缺陷，以及判断所述缺陷是否为所述玻璃的表面异物或者内部异物。

可选地，所述图像采集设备还配置为，位于反射后的所述线光的照射路径上，使反射后的所述线光进入所述图像采集设备，以采集所述玻璃的明场图片；位于所述玻璃的上方，以采集所述玻璃的暗场图片。

可选地，例如，所述线光为蓝色线光或多角度线光。

本发明的优点在于：

1)根据本发明的技术方案，可以快速准确的判断玻璃缺陷是否为表面异物或者内部异物，降低人力物力成本；

2)根据本发明的技术方案，通过亮色缺陷和暗色缺陷的对比等方法，即可以判断出玻璃表面异物或内部异物，方案简单直观，误判率低；

3)根据本发明的技术方案，系统结构简单，配置成本低；

4)根据本发明的技术方案，不仅可以区分玻璃的表面异物和内部异物，还可以区分表面异物中区别于灰尘的大面积异物。

附图说明

图1示出了根据本发明的一种玻璃表面异物与内部异物区分的系统的示意图。

图2示出了根据本发明的明场光路和暗场光路的系统示意图。

图3示出了根据本发明的一种玻璃表面异物与内部异物区分的方法流程图。

图4示出了根据本发明的一种玻璃表面异物与内部异物区分的方法的一种实施方式流程图。

图5示出了根据本发明的玻璃内部异物的明场与暗场对比图片。

图6示出了根据本发明的玻璃表面异物的明场与暗场对比图片。

图7示出了根据本发明的判断玻璃表面大面积异物的明场和暗场对比图片。

图8示出了根据本发明的一种玻璃表面异物与内部异物区分的设备框图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的较佳实施例进行详细阐述，参考标号是指本发明中的组件、技术，以便本发明的优点和特征在适合的环境下实现能更易于被理解。下面的描述是对本发明权利要求的具体化，并且与权利要求相关的其它没有明确说明的具体实现也属于权利要求的范围。

图1示出了根据本发明的一种玻璃表面异物与内部异物区分的系统的示意图。

如图1所示，提供一种玻璃表面异物与内部异物区分的系统，可以包括图像采集设备10、光源发射设备20、检测设备30，所述光源发射设备20可以配置为，向玻璃表面发射线光，所述线光在所述玻璃表面发生反射；所述图像采集设备10可以配置为，在不同位置采集所述玻璃的图像；所述检测设备30，与所述图像采集设备10相连，并可以配置为，获取所述图像采集设备10采集的图片，并获取所述图片的缺陷，以及判断所述缺陷是否为所述玻璃的表面异物或者内部异物。

所述图像采集设备10可以用于采集图像，形成图片，例如可以是成像相机、摄像头等。所述图像采集设备10可以移动，可以在所述玻璃的不同方向上对其进行拍照等，例如在所述玻璃的正上方、侧上方、侧方、下方等。所述图像采集设备10可以设置为一个或多个。所述光源发射设备20可以根据需要发射多种线光，例如不同颜色、不同波长的线光，还可以改变线光的发射方向，或者可以通过移动所述光源发射设备20改变线光的发射方向。所述线光可以是一种线性传播的光，也可以是生活中常见的光或者光束。所述线光可以是例如红外线光、紫外线光、蓝色线光等。所述线光在传播到所述玻璃表面时可以发生反射。所述光源发射设备20可以设置为一个或多个。

所述检测设备30可以通过对获得的所述图片进行检测，以找到所述图片上的缺陷，并分析判断所述缺陷是所述玻璃的表面异物还是内部异物，或者既不是表面异物也不是内部异物从而放弃判断，保证判断的准确性，以及确保误判最低。所述表面异物包括表面灰尘、表面脏污等，例如可以通过擦拭去除的异物。所述内部异物包括玻璃内层的颗粒、灰尘、杂质等缺陷，例如不易去除的异物。

所述检测设备30可以直接或者间接与所述图像采集设备10相连，可以通过有线或者无线的方式与所述图像采集设备10相连。所述检测设备30还可以配置为，控制所述图像采集设备10的移动和方向，以及图像采集操作等。所述检测设备30也可以与所述光源发射设备20相连，以控制所述光源发射设备20的移动和方向，以及控制所述光源发射设备20发射线光的操作。即，可以实现本系统的自动化控制和运行。

图2示出了根据本发明的明场光路和暗场光路的系统示意图。其中，图2中的(a)示出了根据本发明的明场光路的一种实施方式示意图；图2中的(b)示出了根据本发明的暗场光路的一种实施方式示意图。

如图2所示，所述图像采集设备10还可以配置为，例如，位于反射后的所述线光的照射路径上，使反射后的所述线光进入所述图像采集设备10，以采集所述玻璃的明场图片；例如，位于所述玻璃的上方，以采集所述玻璃的暗场图片。

所述光源发射设备20发射的线光不同、所述图像采集设备10的位置不同，因此可以对同一物体采集到不同的照片。所述明场图片可以是通过所述图像采集设备10在明场光路上对所述玻璃拍照而采集的图片；所述暗场图片可以是通过所述图像采集设备10在暗场光路下对所述玻璃拍照而采集的图片。所述明场光路可以是指线光反射后进入所述图像采集设备10。所述暗场光路可以是指线光反射后未直接进入所述图像采集设备10，或者有少量光进入所述图像采集设备10，或者有散射光等进入所述图像采集设备10。

根据本发明的一种实施方式，例如如图2中的(a)所示，所述图像采集设备10可以设置在反射后的所述线光的照射路径上，使反射后的所述线光可以进入到所述图像采集设备10的镜头中，即为明场光路。在此明场光路上，所述图像采集设备10拍摄的图片即为明场图片。例如如图2中的(b)所示，所述图像采集设备10还可以设置在所述玻璃的正上方，所述图像采集设备10的镜头垂直于所述玻璃进行拍摄，或者所述图像采集设备10可以设置在所述玻璃的上方，可以倾斜一定角度，所述图像采集设备10的镜头可以与所述玻璃呈一定角度进行拍摄，所述光源发射设备20在所述图像采集设备10的侧面，倾斜于所述玻璃表面的位置向所述玻璃表面发射线光，反射线光未进入所述镜头，即为暗场光路。在此暗场光路下，所述图像采集设备10拍摄的图片即为暗场图片。

根据本发明的一种实施方式，所述光源发射设备20发射的线光可以为但不限于蓝色线光、多角度线光等。例如所述明场光路时，所述线光可以采用蓝色线光；所述暗场光路时，所述线光可以采用多角度线光，即所述线光与所述玻璃表面成角度照射，也可以多束线光与所述玻璃表面成多角度照射。

图3示出了根据本发明的一种玻璃表面异物与内部异物区分的方法流程图。

如图3所示，可以提供一种玻璃表面异物与内部异物区分的方法，可以包括，获取玻璃的缺陷S1；判断所述缺陷是否为所述玻璃的表面异物或者内部异物S2。

根据本发明的技术方案，可以先获取玻璃的缺陷，再对所述缺陷进行判断的方法来实现本发明的目的。具体的，获取缺陷的方式可以包括多种，例如人工寻找、采集图像进行分析处理、显微镜识别定位等方式或者其组合，只要可以实现找出缺陷的目的即可。然后对找到的缺陷进行判断，包括判断所述缺陷是否是存在的缺陷，以及所述缺陷是属于所述玻璃的表面异物还是内部异物。判断的方式也可以包括多种，例如人工观察和触摸进行判断，对采集的图片进行识别、对比等判断，在线进行显微镜观察等方式或者其组合，只要可以实现判断所述缺陷的目的即可。或者也可以通过软件等方式实现。如果玻璃上有电路，还可以在所述获取玻璃的缺陷S1中包括排除电路纹理影响的步骤，例如，可以通过形态学运算处理电路纹理，通过腐蚀和膨胀的不同组合方式进行处理，可根据实际情况具体处理。

根据本发明的一种实施方式，所述获取玻璃的缺陷S1可以包括，分别采集所述玻璃的明场图片和暗场图片；获取所述明场图片的明场缺陷；获取所述暗场图片的暗场缺陷。可以提取所述明场图片的特征信息，以找到所述明场图片上的所有明场缺陷。可以提取所述暗场图片的特征信息，以找到所述暗场图片上的所有暗场缺陷。所述特征信息包括灰度值、尺寸、位置、面积、形状等中的至少一种，所述特征信息既可以包括图片本身的特征信息，也可以包括图片内容的特征信息，例如图片上所述缺陷的特征信息。

根据本发明的一种实施方式，所述明场图片可以是通过成像相机在明场光路上对所述玻璃拍照而采集的图片；所述暗场图片可以是通过所述成像相机在暗场光路下对所述玻璃拍照而采集的图片。所述明场光路的线光可以为蓝色线光；所述暗场光路的线光可以为多角度线光。通过对同一玻璃，或者可以是同一玻璃上的同一位置，进行不同光路下的图像采集，可以得到不同的图片。例如，根据本实施方式，通过对同一玻璃表面分别采集明场光路和暗场光路下的图片，可以得到的明场图片和暗场图片具有不同的特征信息。

根据本发明的一种实施方式，可以根据灰度值分别找到所述明场图片和所述暗场图片中的缺陷。所述明场缺陷可以为灰度值与所述明场图片的平均灰度值不同的部分，即在所述明场图片上可以找出灰度值不同于所述明场图片本身的部分，例如包括灰度值大于所述明场图片平均灰度值的亮色缺陷、以及灰度值小于所述明场图片平均灰度值的暗色缺陷。从视觉上可以看到，所述亮色缺陷的颜色可以比所述明场图片本身的颜色浅，例如可以是白色；而所述暗色缺陷的颜色可以比所述明场图片本身的颜色深，例如可以是黑色或者灰色。所述暗场缺陷可以为灰度值与所述暗场图片的平均灰度值不同的部分，即在所述暗场图片上找到灰度值大于或者小于所述暗场图片本身的平均灰度值的部分。例如，所述暗场缺陷的灰度值大于所述暗场图片本身的平均灰度值，视觉上感受所述暗场缺陷颜色会比所述暗场图片本身的颜色浅，例如白色。由于所述暗场图片本身可能颜色较暗，灰度值较小，因此也可以只获取灰度值大于所述暗场图片本身的平均灰度值的部分作为暗场缺陷。

根据本发明的一种实施方式，所述判断所述缺陷是否为所述玻璃的表面异物或者内部异物S2可以包括，对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷，以确定所述缺陷是否为所述玻璃的表面异物或者内部异物。通过对同一玻璃表面采集的不同图片，即明场图片和暗场图片，进行对比来判断所述缺陷是否为所述玻璃的表面异物或者内部异物。所述缺陷既可以包括所述明场缺陷，也可以包括所述暗场缺陷。所述对比可以包括对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷的特征信息等。例如，如果所述明场缺陷和所述暗场缺陷的所有特征信息相同，可以判断所述缺陷为内部异物；如果所述明场缺陷和所述暗场缺陷的部分特征信息相同，部分特征信息不同，可以根据不同的特征信息判断所述缺陷为表面异物或者内部异物；如果所述明场缺陷和所述暗场缺陷的所有特征信息均不相同，则可以放弃对该缺陷的判断，以免发生误判。

根据本发明的一种实施方式，例如，对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷的位置是否相同；如果位置相同，判断所述明场缺陷为亮色缺陷还是暗色缺陷；如果所述明场缺陷为亮色缺陷，确定所述缺陷为所述玻璃的内部异物；如果所述明场缺陷为暗色缺陷，确定所述缺陷为所述玻璃的表面异物。如果位置不同，可以不做判断，即放弃对所述明场缺陷或所述暗场缺陷的判断，以免误判。

对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷的位置是否相同，可以包括直接对比所述明场缺陷在所述明场图片中以及所述暗场缺陷在所述暗场图片中的相对位置，也可以对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷在相同的图像坐标系中的位置是否相同。例如，如果所述明场图片和所述暗场图片的尺寸和/或分辨率不同，可以调整所述暗场图片和所述明场图片中的至少一个的尺寸，使所述明场图片和所述暗场图片的尺寸相同，以使所述明场图片和所述暗场图片的图像坐标系一致，从而保证相同的缺陷在所述明场图片和所述暗场图片中的位置一致，以方便对比，避免误判。所述图像坐标系可以是以图像左上角为原点建立以像素为单位的直接坐标系u-v，以及以物理单位(如毫米)表示的图像坐标系x-y。其中，像素的横坐标u与纵坐标v分别是在其图像数组中所在的列数与所在行数，以及x轴与u轴平行，y轴与v轴平行。

如果所述明场缺陷和所述暗场缺陷的位置相同，可以判定该位置的缺陷是存在的，可以通过判断所述明场缺陷为亮色缺陷还是暗色缺陷来确定所述缺陷是玻璃表面异物还是内部异物。如果所述明场缺陷为亮色缺陷，确定所述缺陷为所述玻璃的内部异物；如果所述明场缺陷为暗色缺陷，确定所述缺陷为所述玻璃的表面异物。也可以通过同时判断所述明场缺陷和所述暗场缺陷的类型来确定所述缺陷是玻璃表面异物还是内部异物。例如，如果所述明场缺陷和所述暗场缺陷均为亮色，确定所述缺陷为所述玻璃的内部异物；如果所述明场缺陷为暗色，所述暗场缺陷为亮色，确定所述缺陷为所述玻璃的表面异物。

根据本发明的一种实施方式，当所述明场缺陷和所述暗场缺陷的位置相同时，还可以进一步对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷的面积和形状中的至少一项是否相同。如果相同，判断所述明场缺陷为亮色缺陷还是暗色缺陷；如果所述明场缺陷为亮色缺陷，确定所述缺陷为所述玻璃的内部异物；如果所述明场缺陷为暗色缺陷，确定所述缺陷为所述玻璃的表面异物。

如果不相同，可以根据具体情况再做进一步判断，也可以放弃判断，避免误判。进一步判断可以包括例如，如果所述暗场缺陷的面积大于所述明场缺陷的面积时，判断所述明场缺陷是否有倒影；如果是，判断所述明场缺陷为亮色缺陷还是暗色缺陷；如果所述明场缺陷为暗色缺陷，确定所述缺陷为所述玻璃的表面异物。由于玻璃表面大面积脏污可能会产生倒影，从而导致该缺陷的暗场缺陷面积大于明场缺陷的面积。因此，根据本实施方式的技术方案，不仅可以区分玻璃的表面异物和内部异物，还可以区分玻璃表面异物中的表面灰尘和大面积脏污。

图4示出了根据本发明的一种玻璃表面异物与内部异物区分的方法的一种实施方式流程图。

如图4所示，根据本实施方式，可以包括如下步骤：分别采集玻璃表面的明场图片和暗场图片S11，例如可以通过拍照的方式分别在明场光路和暗场光路下进行拍照获得；分别提取所述明场图片和所述暗场图片中的特征信息S12，例如提取灰度值信息，以方便分别找到所述明场图片和所述暗场图片中的所有缺陷S13，所述明场图片中的所述缺陷为明场缺陷，所述暗场图片中的所述缺陷为暗场缺陷；确定所述明场图片和所述暗场图片的图像坐标系，并通过调整所述明场图片或者所述暗场图片的方式确保所述明场图片和所述暗场图片的图像坐标系一致，确认明场缺陷在所述图像坐标系中的位置，以及确认所述暗场缺陷在所述图像坐标系中的位置S21；依次对比并判断所有所述明场缺陷和所述暗场缺陷的位置是否相同S22，如果不同，可以丢弃此缺陷，不做判断，或者认为该缺陷不是实际存在的缺陷，以避免误判；如果相同，进行下一步骤的判断，即判断所述明场图片中的明场缺陷是亮色缺陷还是暗色缺陷S23；如果所述明场缺陷是亮色缺陷S24，则确定所述明场缺陷所对应的玻璃上的缺陷为内部异物，需要检出，判定为不合格产品或者后续需要进一步加工以排除缺陷的影响；如果所述明场缺陷是暗色缺陷S24，则确定所述明场缺陷所对应的玻璃上的所述缺陷为表面异物，可以认定为合格产品，只需要进一步清洁等。

图5示出了根据本发明的玻璃内部异物的明场与暗场对比图片。其中，图5中的(a)是明场图片，图5中的(b)是同位置的暗场图片。

如图5所示，图5中的(a)所示的明场图片中的明场缺陷为白色，即为亮色缺陷；图5中的(b)所示的暗场图片中的暗场缺陷也为白色，所述明场缺陷和所述暗场缺陷的位置相同，根据上述方法中的判断标准，例如根据图4所示的技术方案，可以确定该缺陷为玻璃的内部异物。根据本发明的技术方案，可以直观便捷的判断玻璃缺陷。

图6示出了根据本发明的玻璃表面异物的明场与暗场对比图片。其中，图6中的(a)是明场图片，图6中的(b)是同位置的暗场图片。

如图6所示，图6中的(a)所示的明场图片中的明场缺陷为黑色，即为暗色缺陷；图6中的(b)所示的暗场图片中的暗场缺陷也7为白色，所述明场缺陷和所述暗场缺陷的位置相同，根据上述方法中的判断标准，例如根据图4所示的技术方案，可以确定该缺陷为玻璃的表面异物，例如是灰尘。根据本发明的技术方案，可以直观便捷的判断玻璃缺陷。

图7示出了根据本发明的判断玻璃表面大面积异物的明场和暗场对比图片。其中，图7中的(a)是明场图片，图7中的(b)是同位置的暗场图片。

根据本发明的一个实施例，如图7所示，图7中的(a)所示的明场图片中的明场缺陷为黑色，即为暗色缺陷；图7中的(b)所示的暗场图片中的暗场缺陷7为白色，所述明场缺陷和所述暗场缺陷的位置相同，但是通过进一步对比发现，二者的面积不同，形状也不完全相同，可以看出图7的(a)所示的明场图片中的明场缺陷具有明显的倒影，因此，根据上述方法中的判断标准，可以确定该缺陷为玻璃的表面异物，而且是大面积脏污。因此，根据本发明的技术方案，可以判断出玻璃表面的大面积脏污，判断更为精确。

图8示出了根据本发明的一种玻璃表面异物与内部异物区分的设备框图。

如图8所示，提供一种玻璃表面异物与内部异物区分的设备，可以包括，第一装置，用于获取玻璃的缺陷；第二装置，用于判断所述缺陷是否为所述玻璃的表面异物或者内部异物。

根据本发明的一种实施方式，所述第一装置配置为，分别采集所述玻璃的明场图片和暗场图片；获取所述明场图片的明场缺陷；获取所述暗场图片的暗场缺陷。

根据本发明的一种实施方式，所述第二装置配置为，对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷，以确定所述缺陷是否为所述玻璃的表面异物或者内部异物。

根据本发明的一种实施方式，例如，所述明场缺陷为灰度值与所述明场图片的平均灰度值不同的部分，包括灰度值大于所述明场图片平均灰度值的亮色缺陷、灰度值小于所述明场图片平均灰度值的暗色缺陷；所述暗场缺陷为灰度值与所述暗场图片的平均灰度值不同的部分。

根据本发明的一种实施方式，所述第二装置还配置为，对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷的位置是否相同；如果位置相同，判断所述明场缺陷为亮色缺陷还是暗色缺陷；如果所述明场缺陷为亮色缺陷，确定所述缺陷为所述玻璃的内部异物；如果所述明场缺陷为暗色缺陷，确定所述缺陷为所述玻璃的表面异物。

根据本发明的一种实施方式，所述第二装置还配置为，对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷在相同的图像坐标系中的位置是否相同，包括：调整所述暗场图片和所述明场图片中的至少一个的尺寸，以使所述明场图片和所述暗场图片的图像坐标系相同。

根据本发明的一种实施方式，所述第二装置还配置为，对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷的面积和形状中的至少一项是否相同；如果相同，判断所述明场缺陷为亮色缺陷还是暗色缺陷。

根据本发明的一种实施方式，所述第二装置还配置为，如果所述暗场缺陷的面积大于所述明场缺陷的面积时，判断所述明场缺陷是否有倒影；如果是，判断所述明场缺陷为亮色缺陷还是暗色缺陷。

本发明的设备在上文中已经结合方法进行了详细的描述和解释，这里将不再赘述。上述方法或设备可以通过软件等方式实现。

本发明的优点在于：

1)根据本发明的技术方案，可以快速准确的检出玻璃的所有缺陷，降低人力物力成本；

2)根据本发明的技术方案，通过亮色缺陷和暗色缺陷的对比等方法，即可以判断出玻璃表面异物或内部异物，以及所述缺陷是否存在，方案简单直观，误判率低；内部异物的准确检出有利于产品质量的判别，有利于后续生产工艺的处理；内部异物和外部异物的区分有利于后续的分别处理，避免过检或者误判的情况发生；

3)根据本发明的技术方案，系统结构简单，配置成本低；适用于玻璃的缺陷检测，例如透明玻璃、液晶屏、显示屏等的检测；

4)根据本发明的技术方案，不仅可以区分玻璃的表面异物和内部异物，还可以区分表面异物中区别于灰尘的大面积异物，判断更加精确，有利于后续处理。

应该注意的是，上述实施例对本发明进行说明而不是对本发明进行限制，并且本领域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情况下可设计出替换实施例。在权利要求中，不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。

Claims (6)

1.一种玻璃表面异物与内部异物区分的方法，包括，

获取玻璃的缺陷(S1)；

判断所述缺陷是否为所述玻璃的表面异物或者内部异物(S2)，

所述获取玻璃的缺陷(S1)包括：分别采集所述玻璃的明场图片和暗场图片；获取所述明场图片的明场缺陷；获取所述暗场图片的暗场缺陷，

所述判断所述缺陷是否为所述玻璃的表面异物或者内部异物(S2)包括：对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷，以确定所述缺陷是否为所述玻璃的表面异物或者内部异物，

所述明场缺陷为灰度值与所述明场图片的平均灰度值不同的部分，包括灰度值大于所述明场图片平均灰度值的亮色缺陷、灰度值小于所述明场图片平均灰度值的暗色缺陷；所述暗场缺陷为灰度值与所述暗场图片的平均灰度值不同的部分，

对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷的位置是否相同；如果位置相同，对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷的面积和形状中的至少一项是否相同；

如果相同，判断所述明场缺陷为亮色缺陷还是暗色缺陷；如果所述明场缺陷为亮色缺陷，确定所述缺陷为所述玻璃的内部异物；如果所述明场缺陷为暗色缺陷，确定所述缺陷为所述玻璃的表面异物；

如果所述暗场缺陷的面积大于所述明场缺陷的面积，判断所述明场缺陷是否有倒影；如果是，判断所述明场缺陷为亮色缺陷还是暗色缺陷，以区分玻璃表面异物中的表面灰尘和大面积脏污。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷的位置是否相同包括，

对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷在相同的图像坐标系中的位置是否相同，包括：

调整所述暗场图片和所述明场图片中的至少一个的尺寸，以使所述明场图片和所述暗场图片的图像坐标系相同。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，

所述明场图片是通过成像相机在明场光路上对所述玻璃拍照而采集的图片；

所述暗场图片是通过所述成像相机在暗场光路下对所述玻璃拍照而采集的图片。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，

所述明场光路的线光为蓝色线光；

所述暗场光路的线光为多角度线光。

5.一种玻璃表面异物与内部异物区分的设备，包括，

第一装置，用于获取玻璃的缺陷；

第二装置，用于判断所述缺陷是否为所述玻璃的表面异物或者内部异物，

所述第一装置配置为：分别采集所述玻璃的明场图片和暗场图片；获取所述明场图片的明场缺陷；获取所述暗场图片的暗场缺陷，

所述第二装置配置为：对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷，以确定所述缺陷是否为所述玻璃的表面异物或者内部异物，

所述明场缺陷为灰度值与所述明场图片的平均灰度值不同的部分，包括灰度值大于所述明场图片平均灰度值的亮色缺陷、灰度值小于所述明场图片平均灰度值的暗色缺陷；所述暗场缺陷为灰度值与所述暗场图片的平均灰度值不同的部分，

所述第二装置还配置为：对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷的位置是否相同；如果位置相同，对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷的面积和形状中的至少一项是否相同；

如果相同，判断所述明场缺陷为亮色缺陷还是暗色缺陷；如果所述明场缺陷为亮色缺陷，确定所述缺陷为所述玻璃的内部异物；如果所述明场缺陷为暗色缺陷，确定所述缺陷为所述玻璃的表面异物；

如果所述暗场缺陷的面积大于所述明场缺陷的面积，判断所述明场缺陷是否有倒影；如果是，判断所述明场缺陷为亮色缺陷还是暗色缺陷，以区分玻璃表面异物中的表面灰尘和大面积脏污。

6.根据权利要求5所述的设备，其中，所述第二装置还配置为，

对比所述明场缺陷和所述暗场缺陷在相同的图像坐标系中的位置是否相同，包括：

调整所述暗场图片和所述明场图片中的至少一个的尺寸，以使所述明场图片和所述暗场图片的图像坐标系相同。

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