CN112987356B - 液晶面板底部异物滤除装置 - Google Patents

Abstract

本申请是关于一种液晶面板底部异物滤除装置。该装置能够执行以下方法：从液晶面板底部采集显示区域的图像并对其进行灰度检测，检出底部异物的位置信息；读取液晶面板的缺陷检测结果，将其中位置信息与底部异物位置信息相匹配的结果剔除掉，即可将底部异物误检为液晶面板缺陷的检测结果剔除，从而得到真实准确的缺陷检测结果。本申请提供的方案，能够防止液晶面板缺陷检测中过检现象发生，避免良品被当作不良品检出，导致检测的准确性受到影响以及造成生产成本浪费。

Description

液晶面板底部异物滤除装置

技术领域

本申请涉及计算机视觉技术领域，尤其涉及液晶面板底部异物滤除装置。

背景技术

在现有的液晶屏幕视觉检测中，液晶面板的缺陷检测会将底部表面的异物作为液晶面板的缺陷检测出来，导致底部表面存在异物的液晶面板被当作不良品检出，导致合格品被报废，造成过度检测的情况，降低了液晶面板检测的合格率，还会造成生产成本的浪费。因此，对液晶面板底部异物进行滤除是机器视觉检测中是一大检测难题。

相关技术中，公告号为CN207992608U的专利文件公开了一种液晶玻璃屏表面灰尘与内部异物区分的成像机构，该机构采用两组平行光源模组平行照射液晶玻璃屏的上下表面，若平行光线照射到表面灰尘，则会发生反射被成像相机检测出，避免了光源模组发射出的光线照射到液晶玻璃屏内部的异物上，避免将液晶玻璃屏内部的异物误判为液晶玻璃屏表面灰尘。

上述技术方案由于无法确定表面灰尘所在位置，因此无法对某一位置检出的缺陷是否属于表面灰尘作出判断，因此无法避免将底部表面的异物作为液晶面板的缺陷的误检问题。

发明内容

为克服相关技术中存在的问题，本申请提供一种液晶面板底部异物滤除装置，该装置能够避免了底部异物造成合格的液晶面板被当作不良品检出，提高了液晶面板缺陷检测的合格率和准确性。

本申请第一方面提供一种液晶面板底部异物滤除装置，包括：相机（41）、白光发射模块（42）、处理模块（46）、红外光发射模块（43）和漫射板机构（44）；

所述相机（41）设置在液晶面板（45）的正下方，用于采集所述液晶面板（45）的目标区域图像；

所述白光发射模块（42）设置在所述液晶面板（45）与所述相机（41）之间，在所述相机采集图像时提供环状白色光源；

所述红外光发射模块（43）设置在所述液晶面板（45）与所述相机（41）之间，在所述相机采集图像时提供环状红外光源；

所述漫射板机构（44），包括：四块长条状漫射板；所述四块长条状漫射板均设置在所述红外光发射模块（43）和所述相机（41）之间，分别与所述液晶面板（45）的四边对齐，使得所述四块长条状漫射板形成所述液晶面板（45）的成像背景；

所述处理模块（46）用于接收所述相机（41）传输的目标区域图像，并对所述目标区域图像执行以下方法：采集液晶面板底部的目标区域图像；所述目标区域图像为白光照射下所述液晶面板显示区域的图像；

对所述目标区域图像进行灰度检测，得到所述目标区域图像中底部异物的第一位置信息；

读取所述液晶面板缺陷的检测结果集合；所述检测结果包括：缺陷的第二位置信息；

将所述检测结果集合中，所述第二位置信息与所述第一位置信息匹配的检测结果剔除，得到缺陷结果集合。

在一种实施方式中，所述对所述目标区域图像进行灰度检测，得到所述目标区域图像中底部异物的第一位置信息，包括：

对所述目标区域图像进行灰度校正，得到灰度校正图像；

对所述灰度校正图像中像素点进行阈值判定，得到所述底部异物的第一位置信息。

在一种实施方式中，所述对所述目标区域图像进行灰度校正，得到灰度校正图像，包括：

对所述目标区域图像进行灰度校正，使得所述目标区域图像中的灰度值最小值为a，得到所述灰度校正图像；

所述a的取值范围为15至25。

在一种实施方式中，所述对所述灰度校正图像中像素点进行阈值判定，得到所述底部异物的第一位置信息，包括：

读取所述像素点的灰度值m；

判断所述m是否大于第一灰度阈值，若是，则读取所述像素点的坐标信息加入所述第一位置信息；

所述第一灰度阈值的取值范围为60至150。

在一种实施方式中，所述采集液晶面板底部的目标区域图像，包括：

采集所述液晶面板的底部图像；所述底部图像为白光照射下所述液晶面板的图像；

采集所述液晶面板的定位图像；所述定位图像为红外光照射下所述液晶面板的图像；

基于所述定位图像进行阈值判定，得到所述目标区域信息；

基于所述目标区域信息对所述底部图像进行分割，得到所述目标区域图像。

在一种实施方式中，所述基于所述定位图像进行阈值判定，得到所述目标区域信息，包括：

读取所述定位图像中像素点的灰度值n；

判断所述n是否大于第二灰度阈值，若是，则记录所述像素点的坐标信息加入所述目标区域信息；

所述第二灰度阈值的取值范围为120至180。

在一种实施方式中，所述红外光发射模块43包括：四个条状红外光发射器；

所述四个条状红外光发射器分别平行于所述液晶面板设置在所述液晶面板的四边的外侧斜下方位置。

在一种实施方式中，所述白光发射模块42包括：四个条状白光发射器；

所述四个条状白光发射器分别平行于所述液晶面板设置在所述液晶面板的四边的外侧斜下方位置。

本申请提供的技术方案可以包括以下有益效果：

本方案对采集到的液晶面板的液晶显示区域的图像进行底部异物的检测，得到底部异物的位置信息，若液晶面板检测到的缺陷位置信息与底部异物位置信息匹配，即缺陷位置坐标与底部异物位置坐标一致，则说明针对液晶面板的显示区域上某一位置既检测出缺陷又检测出底面异物，则表示该缺陷实际上应为底部异物造成的误检，而非液晶面板的真实缺陷，将其从液晶面板顶面缺陷检测的结果中剔除，从而得到真实准确的缺陷检测结果，避免了底部异物造成合格的液晶面板被当作不良品检出，提高了液晶面板缺陷检测的合格率和准确性，避免了生产成本的浪费。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。

附图说明

通过结合附图对本申请示例性实施方式进行更详细的描述，本申请的上述以及其它目的、特征和优势将变得更加明显，其中，在本申请示例性实施方式中，相同的参考标号通常代表相同部件。

图1是本申请实施例示出的液晶面板底部异物滤除方法的流程示意图；

图2是本申请实施例示出的图像采集方法的流程示意图；

图3是本申请实施例示出的图像灰度检测方法的流程示意图；

图4是本申请实施例示出的液晶面板底部异物滤除装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本申请的优选实施方式。虽然附图中显示了本申请的优选实施方式，然而应该理解，可以以各种形式实现本申请而不应被这里阐述的实施方式所限制。相反，提供这些实施方式是为了使本申请更加透彻和完整，并且能够将本申请的范围完整地传达给本领域的技术人员。

在本申请使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本申请。在本申请和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。

应当理解，尽管在本申请可能采用术语“第一”、“第二”、“第三”等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本申请范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，类似地，第二信息也可以被称为第一信息。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在现有的液晶屏幕视觉检测中，液晶面板的缺陷检测会将底部表面的异物作为液晶面板的缺陷检测出来，导致底部表面脏污的液晶面板被当作不良品检出，导致合格品被报废，造成过度检测的情况，降低了液晶面板检测的合格率，还会造成生产成本的浪费。

实施例一

针对上述问题，本申请实施例提供一种液晶面板底部异物滤除方法，能够将底部异物的造成的缺陷误检结果从缺陷检测结果中剔除，从而提高检测的准确度。

以下结合附图详细描述本申请实施例的技术方案。

图1是本申请实施例示出的液晶面板底部异物滤除方法的流程示意图。

参见图1，所述液晶面板底部异物滤除方法，包括：

101、采集液晶面板底部的目标区域图像；

在本申请实施例中，目标区域图像为白光照射下所述液晶面板显示区域的图像。

在本申请实施例中，由于液晶面板存在两个区域，其中一个区域为产品用于显示的区域，即上述的液晶面板显示区域，该区域是缺陷检测的关键区域，而在液晶面板显示区域的四周，存在另一区域，用于上下面板之间进行粘合，被定义为非发光区域。因为非发光区域仅起到提供粘合空间的作用，该区域的缺陷和异物并不会对产品实际使用产生影响，因此，对于该区域的缺陷检测和底部异物滤除是非必要的。

102、对所述目标区域图像进行灰度检测；

具体的：对所述目标区域图像进行灰度检测，得到所述目标区域图像中底部异物的第一位置信息。

在本申请实施例中，由于底部异物与正常液晶面板底部对白光的反射程度不同，因此，相机接收到的底部异物与正常液晶面板底部反射光的强度不同，造成采集图像中存在像素点之间的灰度差异，因此，通过对像素点的灰度值进行比较，可以找出反射光强度大的位置，相对应的，该位置即为底部异物所在位置。

需要说明的是，在实际生产过程中，可以遍历上述目标区域图像中的像素点进行灰度检测以达到全面检测的效果，或采用对底部异物高发区域进行灰度检测的方式提高检测效率，本申请实施例并没有严格限定目标区域图像进行灰度检测的范围，即上述对于灰度检测的描述不应该作为对本发明的限定。

103、读取所述液晶面板缺陷的检测结果集合；

在本申请实施例中，所述检测结果包括：缺陷的第二位置信息。

进一步地，检测结果还可以包括：缺陷类型；通过将历史数据中液晶面板底部异物滤除结果与缺陷检测结果进行对比，可以得到底部异物被误检为各类缺陷的概率，从而针对高概率误检的缺陷类型的结果进行底部异物滤除，提高滤除的效率。

需要说明的是，上述对于检测结果的描述是本申请实施例中示出的一种实施方案，不必作为对本发明的限定。

在本申请实施例中，上述第二位置信息与上述第一位置信息是采用同一平面坐标系作为基准，进行坐标采集得到的。

104、剔除所述检测结果集合中的误检结果，得到缺陷结果集合。

具体的：将所述检测结果集合中，所述第二位置信息与所述第一位置信息匹配的检测结果剔除，得到缺陷结果集合。

在本申请实施例中，第二位置信息与第一位置信息匹配的检测结果可以理解为：第二位置信息与第一位置信息一致的检测结果。在实际检测过程中，第二位置信息与第一位置信息一致说明液晶面板同一位置上，其顶面检测出了缺陷，其底部检测出了异物，说明顶面检测把底部异物误检为缺陷，将该位置的位置信息加入了检测结果集合中，因此，需将该结果进行剔除。

本申请实施例中示出的方案对采集到的液晶面板的液晶显示区域的图像进行底部异物的检测，得到底部异物的位置信息，若液晶面板检测到的缺陷位置信息与底部异物位置信息匹配，即缺陷位置坐标与底部异物位置坐标一致，则说明针对液晶面板的显示区域上某一位置既检测出缺陷又检测出底面异物，则表示该缺陷实际上应为底部异物造成的误检，而非液晶面板的真实缺陷，将其从液晶面板顶面缺陷检测的结果中剔除，从而得到真实准确的缺陷检测结果，避免了底部异物造成合格的液晶面板被当作不良品检出，提高了液晶面板缺陷检测的合格率和准确性，避免了生产成本的浪费。

实施例二

针对上述实施例一中的步骤101，本申请实施例进行了设计。

图2为本申请实施例示出的图像采集方法的流程示意图。

参见图2，所述图像采集方法，包括：

201、采集所述液晶面板的底部图像；

在本申请实施例中，所述底部图像为白光照射下所述液晶面板的图像。

利用相机接收液晶面板底部反射的白光，能够得到液晶面板的底部图像。由于底部异物与正常液晶面板底部反射光的强度不同，因此，底部图像中的灰度差异可以表征液晶面板底部异物的情况。

202、采集所述液晶面板的定位图像；

在本申请实施例中，所述定位图像为红外光照射下所述液晶面板的图像。

在本申请实施例中，利用四块漫射板设置在液晶面板的四边，使得红外打光时，液晶面板四个角度的反射光成像均是以漫射板作为成像背景的，使得液晶面板显示区域与非发光区的边界得以凸显，在红外图像上显现为白线。

需要说明的是，本申请实施例对于步骤201与步骤202并没有严格的时序限定，即上述步骤202可以先于步骤201执行，或两者并行。

可以理解的是，上述对于步骤201与步骤202的时序描述仅是本申请实施例的一种示例，不应该作为对本发明的限定。

203、基于所述定位图像进行阈值判定，得到所述目标区域信息；

在本申请实施例中，基于所述定位图像进行阈值判定的过程为：

读取所述定位图像中像素点的灰度值n；

判断所述n是否大于第二灰度阈值，若是，则记录所述像素点的坐标信息加入所述目标区域信息。

在本申请实施例中，所述第二灰度阈值的取值范围为120至180。

优选的，本申请实施例中，所述第二灰度阈值取值为165。

需要说明的是，在实际应用过程中，可以依据实际检测需求对第二灰度阈值的取值进行调整，即上述对于第二灰度阈值的描述不必作为对本发明的限定。

进一步地，为了提高定位的准确率，在判定得到上述目标区域信息后，即红外图像中的白线区域信息，本申请实施例还可以采用骨架提取算法提取上述红外图像中白线的轮廓线作为液晶面板显示区域与非发光区的边界线。

需要说明的是，上述对于骨架提取算法的引入仅是本申请实施例示出的一种实施方案，在实际应用过程中可以对其进行删减，即骨架提取算法不构成对本发明的限定。

204、基于所述目标区域信息对所述底部图像进行分割，得到所述目标区域图像。

在本申请实施例中，根据步骤203中得到的目标区域信息，即液晶面板显示区域与非发光区的边界线，将底部图像中位于边界线之内的图像分割出来，形成目标区域图像。

本申请实施例示出的方案通过红外打光获取液晶面板的定位图像，定位图像上液晶面板显示区域与非发光区的边界线以白线的形式显现，通过对定位图像进行灰度检测，即可得到白线区域的位置信息，从而得到目标区域信息；根据目标区域信息对底部图像进行分割得到目标区域信息，可以消除液晶面板非发光区对检测的干扰，同时也减轻了底部异物检测的计算量，提高了底部异物检测的效率。

实施例三

针对上述实施例一中的步骤102，本申请实施例进行了设计。

图3为本申请实施例示出的图像灰度检测方法的流程示意图。

参见图3，所述图像灰度检测方法，包括：

301、对所述目标区域图像进行灰度校正，得到灰度校正图像；

具体的：对所述目标区域图像进行灰度校正，使得所述目标区域图像中的灰度值最小值为a，得到所述灰度校正图像。

在本申请实施例中，所述a的取值范围为15至25。

优选的，本申请实施例中，a的取值为20。

需要说明的是，在实际应用过程中，可以依据实际检测需求对a的取值进行调整，即上述对于灰度值最小值的描述不必作为对本发明的限定。

本申请实施例对于采用的灰度校正方法并没有严格的限定，可以依据实际情况对采用的灰度校正方法进行调整，例如，利用灰度校正算法将目标区域图像的对比度展宽，使得底部异物与正常的液晶面板底部的对比度增强；或对目标区域图像的灰度级进行修正，锐化目标区域图像中的细节；或利用直方图均衡化提高目标区域图像的清晰度。

需要说明的是，上述的灰度校正方法可以择一种单独使用或择多种配合使用，即上述对于灰度校正方法的描述不必作为对本发明的限定。

302、对所述灰度校正图像中像素点进行阈值判定，得到所述底部异物的第一位置信息。

具体的：

读取所述灰度校正图像中像素点的灰度值m；

判断所述m是否大于第一灰度阈值，若是，则读取所述像素点的坐标信息加入所述第一位置信息。

在本申请实施例中，所述第一灰度阈值的取值范围为60至150。

优选的，本申请实施例中第一灰度阈值的取值为120。

需要说明的是，在实际应用过程中，可以依据实际检测需求对第一灰度阈值的取值进行调整，即上述对于第一灰度阈值的描述不必作为对本发明的限定。

在本申请实施例中，遍历灰度校正图像中各个像素点进行阈值判定，若某一像素点的灰度值高于第一灰度阈值，说明该像素点对应的液晶面板位置上存在底部异物，将该像素点的位置信息加入底部异物的第一位置信息中。

进一步地，当通过历史数据分析得到底部异物易被误检为P类缺陷时，可以针对液晶面板上P类缺陷所在位置进行像素点阈值判定，从而判断该位置的缺陷检测结果是误判结果还是正确结果。通过针对误判高发区域进行针对性的底部异物检测，能够提高底部异物滤除的效率。

本申请实施例示出的方案利用灰度校正方法处理目标区域图像，使其图像质量在清晰度和对比度上得到提升，为底部异物检测提供高质量的图像数据，从而提高底部异物检测的准确性；基于第一灰度阈值对像素点灰度值进行阈值判定，判定过程简单快速，计算量小，分析速度快，能够高效地检测出底部异物的位置。

实施例四

与前述应用功能实现方法实施例相对应，本申请还提供了一种液晶面板底部异物滤除装置及相应的实施例。

图4是本申请实施例示出的液晶面板底部异物滤除装置的结构示意图。

参见图4，所述液晶面板底部异物滤除装置，包括：

相机41、白光发射模块42和处理模块46；

所述相机41设置在液晶面板45的正下方，用于采集所述液晶面板45的目标区域图像；

所述白光发射模块42设置在所述液晶面板45与所述相机41之间，在所述相机采集图像时提供环状白色光源；

所述处理模块46用于接收所述相机41传输的目标区域图像，并对所述目标区域图像执行如上所述的方法。

进一步地，为了定位出液晶面板显示区域，消除液晶面板非发光区对检测的干扰，该装置还可以包括：红外光发射模块43和漫射板机构44。

所述红外光发射模块43设置在所述液晶面板44与所述相机41之间，在所述相机采集图像时提供环状红外光源。

所述漫射板机构44，包括：四块长条状漫射板；所述四块长条状漫射板均设置在所述红外光发射模块43和所述相机41之间，分别与所述液晶面板45的四边对齐，使得所述四块长条状漫射板形成所述液晶面板45的成像背景。

进一步地，本申请实施例中，所述红外光发射模块43包括：四个条状红外光发射器；所述四个条状红外光发射器分别平行于所述液晶面板设置在所述液晶面板的四边的外侧斜下方位置。

需要说明的是，在实际应用过程中，所述红外光发射模块43也可以是环形的红外光发射器。

进一步地，本申请实施例中，所述白光发射模块42包括：四个条状白光发射器；所述四个条状白光发射器分别平行于所述液晶面板设置在所述液晶面板的四边的外侧斜下方位置。

需要说明的是，在实际应用过程中，所述白光发射模块也可以是环形的白光发射器。

需要说明的是，本申请实施例中，白光发射模块42、红外光发射模块43、漫射板机构44和相机41依次设置在液晶面板45的下方。在实际应用过程中，白光发射模块42和红外光发射模块43的位置可以对调，即红外光发射模块43、白光发射模块42、漫射板机构44和相机41依次设置在液晶面板45的下方的位置关系亦适用于本方案。

可以理解的是，上述对于白光发射模块和红外光发射模块相对位置的描述不应该作为对本发明的限定。

关于上述实施例中的装置，其中各个模块执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述，此处将不再做详细阐述说明。

上文中已经参考附图详细描述了本申请的方案。在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详细描述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。本领域技术人员也应该知悉，说明书中所涉及的动作和模块并不一定是本申请所必须的。另外，可以理解，本申请实施例方法中的步骤可以根据实际需要进行顺序调整、合并和删减， 本申请实施例装置中的模块可以根据实际需要进行合并、划分和删减。

此外，根据本申请的方法还可以实现为一种计算机程序或计算机程序产品，该计算机程序或计算机程序产品包括用于执行本申请的上述方法中部分或全部步骤的计算机程序代码指令。

或者，本申请还可以实施为一种非暂时性机器可读存储介质或计算机可读存储介质、或机器可读存储介质），其上存储有可执行代码或计算机程序、或计算机指令代码），当所述可执行代码或计算机程序、或计算机指令代码）被电子设备或电子设备、服务器等）的处理器执行时，使所述处理器执行根据本申请的上述方法的各个步骤的部分或全部。

本领域技术人员还将明白的是，结合这里的申请所描述的各种示例性逻辑块、模块、电路和算法步骤可以被实现为电子硬件、计算机软件或两者的组合。

附图中的流程图和框图显示了根据本申请的多个实施例的系统和方法的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或代码的一部分，所述模块、程序段或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现中，方框中所标记的功能也可以以不同于附图中所标记的顺序发生。例如，两个连续的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。

以上已经描述了本申请的各实施例，上述说明是示例性的，并非穷尽性的，并且也不限于所披露的各实施例。在不偏离所说明的各实施例的范围和精神的情况下，对于本技术领域的普通技术人员来说许多修改和变更都是显而易见的。本文中所用术语的选择，旨在最好地解释各实施例的原理、实际应用或对市场中的技术的改进，或者使本技术领域的其它普通技术人员能理解本文披露的各实施例。

Claims (8)

1.一种液晶面板底部异物滤除装置，其特征在于，包括：

相机（41）、白光发射模块（42）、处理模块（46）、红外光发射模块（43）和漫射板机构（44）；

所述相机（41）设置在液晶面板（45）的正下方，用于采集所述液晶面板（45）的目标区域图像；

所述白光发射模块（42）设置在所述液晶面板（45）与所述相机（41）之间，在所述相机采集图像时提供环状白色光源；

所述红外光发射模块（43）设置在所述液晶面板（45）与所述相机（41）之间，在所述相机采集图像时提供环状红外光源；

所述漫射板机构（44），包括：四块长条状漫射板；所述四块长条状漫射板均设置在所述红外光发射模块（43）和所述相机（41）之间，分别与所述液晶面板（45）的四边对齐，使得所述四块长条状漫射板形成所述液晶面板（45）的成像背景；

所述处理模块（46）用于接收所述相机（41）传输的目标区域图像，并对所述目标区域图像执行以下方法：

采集液晶面板底部的目标区域图像；所述目标区域图像为白光照射下所述液晶面板显示区域的图像；

对所述目标区域图像进行灰度检测，得到所述目标区域图像中底部异物的第一位置信息；

读取所述液晶面板缺陷的检测结果集合；所述检测结果包括：缺陷的第二位置信息；

将所述检测结果集合中，所述第二位置信息与所述第一位置信息匹配的检测结果剔除，得到缺陷结果集合。

2.根据权利要求1所述的液晶面板底部异物滤除装置，其特征在于，所述对所述目标区域图像进行灰度检测，得到所述目标区域图像中底部异物的第一位置信息，包括：

对所述目标区域图像进行灰度校正，得到灰度校正图像；

对所述灰度校正图像中像素点进行阈值判定，得到所述底部异物的第一位置信息。

3.根据权利要求2所述的液晶面板底部异物滤除装置，其特征在于，所述对所述目标区域图像进行灰度校正，得到灰度校正图像，包括：

对所述目标区域图像进行灰度校正，使得所述目标区域图像中的灰度值最小值为a，得到所述灰度校正图像；

所述a的取值范围为15至25。

4.根据权利要求2所述的液晶面板底部异物滤除装置，其特征在于，所述对所述灰度校正图像中像素点进行阈值判定，得到所述底部异物的第一位置信息，包括：

读取所述像素点的灰度值m；

判断所述m是否大于第一灰度阈值，若是，则读取所述像素点的坐标信息加入所述第一位置信息；

所述第一灰度阈值的取值范围为60至150。

5.根据权利要求1所述的液晶面板底部异物滤除装置，其特征在于，所述采集液晶面板底部的目标区域图像，包括：

采集所述液晶面板的底部图像；所述底部图像为白光照射下所述液晶面板的图像；

采集所述液晶面板的定位图像；所述定位图像为红外光照射下所述液晶面板的图像；

基于所述定位图像进行阈值判定，得到所述目标区域信息；

基于所述目标区域信息对所述底部图像进行分割，得到所述目标区域图像。

6.根据权利要求5所述的液晶面板底部异物滤除装置，其特征在于，所述基于所述定位图像进行阈值判定，得到所述目标区域信息，包括：

读取所述定位图像中像素点的灰度值n；

判断所述n是否大于第二灰度阈值，若是，则记录所述像素点的坐标信息加入所述目标区域信息；

所述第二灰度阈值的取值范围为120至180。

7.根据权利要求1所述的液晶面板底部异物滤除装置，其特征在于，

所述红外光发射模块（43）包括：四个条状红外光发射器；

所述四个条状红外光发射器分别平行于所述液晶面板设置在所述液晶面板的四边的外侧斜下方位置。

8.根据权利要求1所述的液晶面板底部异物滤除装置，其特征在于，

所述白光发射模块（42）包括：四个条状白光发射器；

所述四个条状白光发射器分别平行于所述液晶面板设置在所述液晶面板的四边的外侧斜下方位置。

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