KR20070101669A

KR20070101669A - 마운팅 플레이트 어셈블리의 비전 검사장치 및 검사방법

Info

Publication number: KR20070101669A
Application number: KR1020060033023A
Authority: KR
Inventors: 김태철; 손종성; 하수영; 구본석; 양정민
Original assignee: 아진산업(주); 주식회사 우신산업; 학교법인 선목학원
Priority date: 2006-04-12
Filing date: 2006-04-12
Publication date: 2007-10-17

Abstract

본 발명은 마운팅 플레이트 어셈블리의 비전 검사장치 및 검사방법에 관한 것이다. 본 발명의 비전 검사장치는 검사대상물을 선택하여 검사를 수행하기 위한 키입력부와, 검사결과를 출력하기 위한 디스플레이부와, 검사대상물의 양품이미지를 기 저장하는 양품이미지저장부와, 카메라로부터 획득된 검사대상 이미지를 입력받기 위한 이미지입력부와, 양품이미지와 상기 검사대상 이미지를 비교하여 이미지를 검사하는 이미지검사부와, 이미지 검사결과를 저장하는 검사결과저장부, 및 각 구성을 제어하여 검사대상물이 양품인지 불량품인지의 여부를 상기 디스플레이부로 출력하도록 하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 따라서, 본 발명의 장치는 복잡한 부품의 결합으로 이루어진 어셈블리를 이미지를 비교하여 간편하게 비전검사를 수행할 수 있어 시간이 절약되며 검사결과의 정확성을 높일 수 있는 효과를 제공한다.

비전검사, 마운팅 플레이트,

Description

마운팅 플레이트 어셈블리의 비전 검사장치 및 검사방법{Apparatus and mathod for vision inspecting of mounting plate assembly}

도 1은 일반적인 마운팅 플레이트 어셈블리를 설명하기 위한 도면,

도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 비전 검사장치의 구성도,

도 3은 도 2장치로 획득된 마운팅 플레이트 어셈블리의 화면상태도,

도 4는 본 발명에 따른 비전 검사장치의 상세블록도,

도 5는 본 발명의 비전검사에 의해 불량상태를 검출한 화면상태도,

도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 비전 검사방법을 설명하기 위한 흐름도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

10 : 마운팅 플레이트 20 : 중앙컨트롤러

30, 40 : 카메라 50, 60 : 조명

21 : 제어부 22 : 카메라 및 조명제어부

23 : 캡처이미지입력부 24 : 키입력부

25 ; 디스플레이부 26 : 양품이미지저장부

27 : 이미지검사부 28 : 검사결과저장부

본 발명은 비전 검사장치 및 검사방법에 관한 것으로, 특히 자동차부품인 마운팅 플레이트 어셈블리의 검사를 위한 비전 검사장치 및 그 방법에 관한 것이다.

도 1은 일반적인 마운팅 플레이트 어셈블리를 설명하기 위한 도면이다.

도 1을 참고하면, 마운팅 플레이트 어셈블리(10)는 운전석 드라이브 에어백(drive air bag) 하단에 부착되는 부품이다. 마운팅 플레이트 어셈블리(10)는 에어백의 베이스(base)를 구성하고 경음기 작동을 위한 접점 역할을 수행 한다. 도 1에서는 핸들의 에어백에 장착된 마운팅 플레이트 어셈블리(10)의 위치를 알 수 있다. 마운팅 플레이트 어셈블리(10)는 프레스 스탬핑 파트(press stamping part)인 혼 플레이트(horn plate)와 마운팅 플레이트(mounting plate) 등 두 개의 플레이트로 구성된다. 그리고 각 플레이트에는 조립을 위한 여러 가지의 각 기능 조립물로 구성된다.

이처럼, 마운팅 플레이트 어셈블리를 포함하는 자동차는 제작 기술의 급속한 발달로 인해 자동차 부품들은 점점 더 복잡하고 정교한 구성으로 진화되고 있다. 이에 따라 부품들의 제조 공정 및 검사 장비가 가져야 할 정확도와 신뢰도의 수준도 함께 높아졌다. 하지만 국내 중소기업 규모의 생산업체에서는 고가의 장비를 도입하기가 어렵기 때문에 아직까지도 세밀한 검사가 요구되는 부품들 중 다수를 사람이 육안으로 판별하고 있는 실정이다.

그러나, 이러한 육안 검사를 대체하는 비전 검사장치가 제어, 계측, 인식 및 자료 입력 등의 분야에서 널리 쓰이고 있으나 비전 기술이 가장 광범위하고 사용되고 있는 곳은 검사 분야이다. 검사 공정에서 인간 시력보다 훨씬 더 높은 정확성과 속도가 필요한 미세 부품들이 계속 등장하고 있기 때문에 검사 분야는 다른 응용 분야에 비해서 더 높은 기술 수준이 요구되는 분야라 할 수 있다. 간단하게는 구멍의 존재여부를 감별하는 단순 검사로부터 웨이퍼(wafer) 표면의 흠집유무의 판단, 이물의 검사, 라벨이 원하는 위치에 부착되어 있는지의 감별, 그리고 제품의 색깔 상태의 확인 작업 등과 같이 다양다종의 자동 검사 작업에 비전 기술이 도입되어 사용되고 있다. 국내에서는 주로 정밀 제품 생산 공정에서 비전을 이용한 검사가 적용되고 있다.

예를 들면 반도체 분야에서는 웨이퍼 검사, 평판 디스플레이(Flat Panel Display) 검사, 등이 있고 표면 실장 분야에서는 MLGA 칩 장착 시스템, FIC 부품 인식 등이 있다. 이밖에도 용접 공정에서의 부재 위치 인식, 파이프 불량 검사, 인서트(insert) 자동 검사 등에서 비전 기술이 응용되었다.

이러한 비전 검사 장비 기술의 발전에도 불구하고 자동차 부품용 검사 장비의 개발은 아직까지 크게 활발하지는 못한 실정이다. 자동차 부품들은 그 종류와 공정이 매우 다양하고 각 부품마다 검사 환경이 달라지므로 비전을 이용한 검사 알고리즘이 정형화되지 못하고 부품의 특성에 맞게 알고리즘을 따로 개발해야 하는 문제점이 있다.

따라서, 본 발명의 목적은 전술한 문제점을 해결할 수 있도록 비전 시스템을 이용하여 자동차 부품 검사 모듈을 구현하여 공정의 신뢰성을 높이고, 검사 공정도 자동화하여 전체 공정의 소요시간을 줄일 수 있는 마운팅 플레이트 어셈블리의 비전 검사장치 및 그 방법을 제공함에 있다.

이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 카메라 및 조명을 사용해 획득된 영상으로 양품 및 불량품을 검사하기 위한 비전 검사장치에 있어서, 검사대상물을 선택하여 검사를 수행하기 위한 키입력부와, 검사결과를 출력하기 위한 디스플레이부와, 검사대상물의 양품이미지를 기 저장하는 양품이미지저장부와, 카메라로부터 획득된 검사대상 이미지를 입력받기 위한 이미지입력부와, 양품이미지와 상기 검사대상 이미지를 비교하여 이미지를 검사하는 이미지검사부와, 이미지 검사결과를 저장하는 검사결과저장부, 및 각 구성을 제어하여 검사대상물이 양품인지 불량품인지의 여부를 상기 디스플레이부로 출력하도록 하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.

또한 본 발명에 따르면, 검사대상물은 마운팅 플레이트 어셈블리인 것을 특징으로 한다.

또한 본 발명에 따르면, 비전 검사장치는 카메라 및 조명을 제어하기 위한 카메라 및 조명제어부를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.

또한 본 발명에 따르면, 이미지입력부는 검사대상물의 캡처이미지를 입력받는 것을 특징으로 한다.

또한 본 발명에 따르면, 이미지검사부는 템플레이트 정합에 의해 양품이미지와 검사대상 이미지를 비교하는 것을 특징으로 한다.

또한 본 발명에 따르면, 이미지검사부는 에지추출법에 의해 양품이미지와 검사대상 이미지를 비교하는 것을 특징으로 한다.

본 발명에 따른 카메라 및 조명을 사용해 획득된 영상으로 양품 및 불량품을 검사하기 위한 비전 검사방법에 있어서, 카메라에 의해 촬상된 검사대상물의 영상을 입력받아 캡처이미지를 획득하는 제 1단계와, 캡처이미지가 획득되면, 기 저장된 양품이미지를 독출하는 제 2단계와, 독출된 양품이미지와 획득된 캡처이미지를 비교하여 이미지검사를 수행하는 제 3단계와, 이미지 검사가 완료되면, 양품인지 불량품인지를 판단하는 제 4단계, 및 판단결과를 출력하는 제 5단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

또한 본 발명에 따르면, 제 5단계는 불량품인 경우 불량상태를 검출하여 함께 출력하는 것을 특징으로 한다.

이하, 첨부한 도 2 내지 도 6을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 기술하기로 한다.

도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 비전 검사장치의 구성도이다.

도 2를 참고하면, 비전 검사 대상인 마운팅 플레이트 어셈블리(10)가 고정되 어 있고, 그 마운팅 플레이트 어셈블리(10)의 앞면과 뒷면의 촬영을 위한 카메라(30, 40)와 각 카메라(30, 40)에 대응되게 연결된 조명(50, 60)을 포함하며, 카메라(30, 40) 및 조명(50, 60)을 제어하며 카메라(30, 40)의 촬영에 의해 획득된 영상을 이용해 비전검사를 수행하기 위한 중앙콘트롤러(20)를 포함한다.

도 2에서, 마운팅 플레이트 어셈블리(10)는 앞면과 뒷면에 각각 설치된 카메라에 의해 영상이 획득되어 중앙컨트롤러(20)에 저장된다. 중앙컨트롤러(20)는 하기에서 도 2를 참고하여 하기에서 상세히 설명한다. 중앙컨트롤러(20)는 마운팅플레이트 어셈블리(10)의 앞면과 뒷면을 촬상한 영상을 입력받아 디스플레이부(미도시)를 통해 화면출력한다.

이때, 화면출력된 상태는 도 3에 도시한다.

도 3을 참고하면, 마운팅 플레이트 어셈블리(10)의 앞면과 뒷면을 각각 촬영하여 획득된 영상을 출력한 상태이다. 이처럼 화면에 출력하기 위해서는 카메라(30, 40)를 이용해 마운팅 플레이트 어셈블리(10)를 촬영해야 하는데 촬영하기에 앞서 조명(50, 60)을 세팅하고 카메라(30, 40)의 초점을 맞추는 작업이 선행되어야 한다. 이러한 카메라(30, 40) 및 조명(50, 60)은 중앙컨트롤러(20)에 의해 제어하며, 정중앙의 위치에 마운팅 플레이트 어셈블리(10)가 위치할 때 촬영한다. 이러한 획득된 영상을 이용해 양품의 이미지를 기 저장하고, 검사대상의 마운팅 플레이트 어셈블리의 이미지를 촬영하여 서로 비교하는 과정을 이용하여 비전 검사를 수행한다. 이러한 이미지를 이용하여 양품과 검사대상을 비교하여 불량품과 양품을 구별하게 된다. 또한, 현재 검사대상인 마운팅 플레이트 어셈블리가 불량품인 경 우, 부품이 누락되어 있는 부분들을 알려주는 표시도 화면에 함께 출력한다. 이때의 검사결과도 저장하여 누적된 검사결과를 산출하는 기능도 제공한다. 또한, 내수용과 수출용 등의 제품의 종류에 따라 그 영상을 판독하여 구별하고 그에 따른 양품이미지를 독출하여 대응하여 비교가 가능하다.

이하, 중앙컨트롤러에 대한 상세구성 블록도인 도 4를 참고하여 좀 더 상세히 설명한다.

도 4를 참고하면, 비전검사장치는 중앙컨트롤러(20)에 의해 제어되는 카메라(30, 40)와 조명(50, 60)이 연결되어 있다. 여기서, 중앙컨트롤러(20)는 도 2에 도시된 마운팅 플레이트 어셈블리(10)를 촬영하기 위한 카메라(30, 40)와 조명(50, 60)을 제어하기 위한 카메라 및 조명제어부(22)와, 카메라(30, 40)로부터의 캡처이미지를 획득하기 위한 캡처이미지입력부(23)와, 각 구성을 제어하여 비전검사를 수행하도록 하는 제어부(21)와, 마운팅 플레이트 어셈블리(10)의 비전검사를 위한 키입력을 수행하는 키입력부(24)와 비전검사결과 및 마운팅 플레이트 어셈블리의 영상을 출력하기 위한 디스플레이부(25)와, 마운팅 플레이트 어셈블리의 양품 이미지를 기 저장하는 양품이미지저장부(26)와, 양품 이미지와 검사대상 이미지를 비교하여 검사하는 이미지검사부(27), 및 검사결과를 저장하는 검사결과저장부(28)를 포함한다.

도 4에서, 검사자는 키입력부(24)를 이용해 현재 검사대상인 마운팅 플레이트 어셈블리가 내수용인지 수출용인지 등의 종류를 입력하고 해당하는 검사모드를 설정한다. 카메라 및 조명제어부(22)는 제어부(21)의 제어에 따라 비전 검사를 시 작하기 위한 카메라(30, 40)와 조명(50, 60)을 제어한다. 카메라(30, 40) 및 조명의 세팅이 완료되면, 카메라(30, 40)는 검사대상의 마운팅 플레이트 어셈블리의 앞쪽과 뒤쪽의 영상을 캡처하여 촬영한다. 캡처이미지입력부(23)는 캡처한 이미지를 입력받아 제어부(21)로 출력한다. 제어부(21)는 검사대상인 마운팅 플레이트 어셈블리의 캡처이미지를 이미지검사부(27)로 출력한다. 그리고, 양품이미지저장부(26)에 저장된 양품이미지를 독출하여 이미지검사부(27)로 출력한다. 이미지검사부(27)는 양품이미지와 검사대상 캡처이미지를 비교하여 양품 또는 불량품을 검사한다. 이러한 이미지 검사방법은 템플레이트 정합(template matching)에 의한 패턴 인식 및 에지추출법(edge detection) 등이 있다.

우선, 템플레이트 정합은 검사할 영상이 주어졌을 때 미리 주어진 템플레이트 영상을 이용하여 검사할 영상 내부에 있는 유사한 영상패턴을 찾아내는 방법이다. 템플레이트는 일종의 모델 영상으로서 불량품 추출 시에는 양품의 이미지가 템플레이트가 된다. 템플레이트 정합을 수행하기 전에 검사할 영상 부분의 위치를 결정해야 하며, 검사할 영상의 모든 영역에서 비교 기준치를 저장한 후 이 값이 가장 최적인 위치에 모델이 놓여져 있다고 가정한다. 템플레이트 정합에서 고려해야 하는 비교 기준치 결정 요소는 영상 잡음(image noise) 및 밝기 변화(intensity variation)에 둔감해야 하고 계산량이 적어야한다. 즉, 검사할 영상은 여러 가지 환경 요인으로 영상 잡음이 나타나게 되는데 이러한 잡음에 별 영향을 받지 않는 기준치가 좋은 기준치이다. 또한 조명의 변화로 인해 밝기의 변화가 검사 영상에 나타날 때도 기준치에 이러한 영향이 적으면 좋다. 또 기준치를 계산할 때 과도한 연산량이 요구되면 고속 영상처리가 힘들 수도 있다. 따라서, 검사할 영상의 겹쳐진 부분과 템플레이트 영상을 서로 비교하려고 할 때 어떤 기준치를 사용해야 하는가를 결정해야 하는데 일반적으로 아래와 같은 MAD(Mean Absolute Difference)과 MSE(Mean Square Error)를 많이 사용한다.

위 식에서 M과 N은 템플레이트의 가로 및 세로 픽셀 크기를 말하고 T는 템플레이트 영상의 밝기, I는 검사할 영상의 겹쳐진 영상의 밝기를 각각 의미한다. 위 식에서 알 수 있듯이 MAD는 두 영상의 차이의 절대값을 더하고 MSE는 차이의 제곱값을 더하는 것이다. 템플레이트와 겹쳐진 부분의 영상 밝기값이 서로 비슷하다면 MSE나 MAD이 0에 가까운 값이 나올 것이고 서로 다르다면 두 값은 커질 것이다. 본 실시예에서도 누락된 부품의 특성에 따라서 위 두 가지 기준치 중 하나를 선택해서 사용할 수 있다.

다음으로 에지추출법은 어떤 영상의 에지(edge)는 물체의 위치, 모양, 크기, 표면의 무늬 등 그 영상에 대한 많은 정보들을 가지고 있다. 에지는 영상의 밝기가 낮은 값에서 높은 값으로, 또는 높은 값에서 낮은 값으로 변하는 부분을 말한다. 에지 검출법을 이용하는 많은 영상 처리 응용들이 있으며 다양한 특수 효과들을 위해 사용되기도 한다. 또한 에지 검출기의 출력은 에지를 강조하기 위하여 원래 영상과 더해질 수 있다. 에지 검출은 영상 분할의 첫 단계이기도 하며 이러한 영상 분할은 영상의 구성을 결정하기 위해서 화소들을 하나의 영역으로 만들기 위해 사용된다. 에지는 영상 안에서 상당한 밝기의 차이가 있는 곳이고 이것은 대개 물체의 윤곽선에 해당하는 곳이므로 대개 픽셀 값의 불연속점이나 픽셀 미분값의 불연속점에 존재한다. 영상의 불연속점은 다음과 같이 분류할 수 있다.

- 스텝(Step) 불연속점 : 영상의 밝기가 갑자기 변하는 곳

- 라인(Line) 불연속점 : 영상의 밝기가 갑자기 변화하나 조금 지나면 다시 돌아오는 곳

스텝 불연속점에 해당하는 에지를 스텝 에지라고 하고 라인 불연속점에 해당하는 에지를 라인 에지라고 한다. 흔히 에지 검출 연산을 하기 전에 잡음을 제거하기 위하여 평활화 연산(equalization)을 시행하는 경우가 많은데 이럴 경우 평활화 연산의 영향으로 픽셀의 값의 변화가 둔화된다. 즉 픽셀값의 급격한 변화가 완만한 변화로 바뀌게 된다. 이럴 경우 스텝 에지는 램프(Ramp) 에지로 변하고 라인 에지는 루프(Roof) 에지로 변한다. 이러한 네 가지 에지의 종류를 1차원적인 그림으로 보면 아래와 같다.

에지에 해당하는 픽셀을 구하는 방법을 에지 검출이라고 하며 현재까지 여러 가지 방법이 제안되어 있다. 에지 검출 기법도 에지의 종류에 따라 달라진다. 각 에지 검출 방법은 나름대로의 장단점을 가지고 있으며 어떤 에지 검출법은 한 응용 분야 에서는 잘 작동하지만 다른 응용에서는 동작하지 않는 경우도 있다. 특정 응용을 위하여 어떤 에지 검출 방법이 제일 좋은지는 실험과 실행 오차를 통하여 밝혀야 한다. 에지 검출은 오래전부터 활발히 연구된 분야이지만 모든 종류의 영상에 대하여 완벽하게 에지를 검출하는 방법은 아직은 없다. 본 실시예에서도 누락 부품의 종류에 따라서 에지 검출법을 사용할 것인지를 결정하고 그 부품의 기하학적 특성에 맞도록 여러 가지 에지 검출 방법을 사용할 수 있다.

본 실시예에서 사용한 에지 검출법 중 가장 단순하고 빠른 에지 방법은 일련의 화소들을 감산한 값에서 최대값을 결정하는 것이다. 유사 연산자(Homogeneity operator)는 3ㅧ 3 중심 픽셀로부터 주변의 8 픽셀들을 각각 감산한다. 연산자의 출력은 각 차이의 절대값 중에서 가장 큰 값이 된다. 예를 들어 아래의 회선 윈도우에서 각 중심 픽셀의 주변 픽셀에 대하여 Value = Max [|0-1|, |0-2|, |0-3|, |0-4|, |0-5|, |0-6|, |0-7|, |0-8|]를 수행하게 된다.

1	2	3
8	0	4
7	6	5

유사 연산자와 비슷한 것으로 차연산(difference arithmetic) 에지 검출이 있다. 이것은 유사 연산자가 픽셀 당 8개의 감산이 필요한 데 반하여 픽셀 당 4개의 감산을 요구하기 때문에 좀 더 빠른 연산을 수행한다. 감산은 그림 2의 회선 윈도우에서 픽셀값은 Value = Max [|1-5|, |8-4|, |7-3|, |2-6|]를 수행하여 얻는다.

에지 검출 방법을 나눌 때 흔히 1차 미분법, 2차 미분법, 나머지로 나누고 있다. 1차 미분을 이용한 에지 검출 방법에는 차분(Difference) 필터, Sobel 필터, Roberts 필터, Kirsch 필터, Robinson 필터, Prewitt 필터 등으로 볼 수 있다. 이러한 에지 검출 연산은 모두 픽셀 밝기의 기울기(gradient)를 기초로 한다. 이 기울기는 명도의 변화량을 의미하며 에지의 밝기 변화량이 곧 기울기이다. 2차 미분을 이용한 에지 검출 방법의 대표적인 것은 라플라시안 에지 필터(Laplacian edge filter)이다. 픽셀의 밝기값을 2차 미분하면 에지 부근에서 영점 통과(zero crossing) 현상이 나타난다. 따라서 2차 미분값을 조사하여 영점 통과한 지점만을 표시하면 이것이 에지가 된다. 본 실시예에서는 주로 1차 미분법에 의한 에지 검출법들을 주로 사용할 수 있다.

전술한 이미지검사방법을 사용하여 이미지검사부(27)는 양품이미지와 검사대상 캡처이미지를 검사하여 그 결과를 제어부(21)로 출력한다.

제어부(21)는 그 결과를 검사결과저장부(28)로 출력하고, 키입력부(24)의 입력에 의해 금일 처리수량과 검사제품의 양품의 누계 및 불량품의 개수 등을 디스플레이부(25)를 통해 출력한다. 따라서, 검사자는 디스플레이부(25)를 통해 검사대상인 마운팅 플레이트 어셈블리의 검사결과를 한눈에 확인이 가능하다.

또한, 디스플레이부(25)는 이미지검사를 완료하고 검사대상 캡처이미지상에 불량상태를 표시하여 화면상에 출력하는 것도 가능하다.

도 5는 본 발명의 비전검사에 의해 불량상태를 검출한 화면상태도이다.

도 5를 참고하면, 디스플레이부(25)에 검사대상 마운팅 플레이트 어셈블리의 이미지가 출력되며, 이때 볼트 미장착 불량상태가 표시된다. 도 5의 우측 상단에 사각박스로 표시된 부분에 볼트가 미장착되어 불량상태를 보여준다. 이처럼, 양품이미지와 검사대상 캡처이미지를 비교하여 볼트 미장착인 불량상태를 화면에 표시할 수 있는데, 볼트 미장착불량은 불량 부위가 다른 부품에 비해서 비교적 크고 명확하기 때문에 검출하기 쉽다. 이러한 볼트 미장착 불량 검출하기 위한 이미지검사방법은 에지검출법 및 템플레이트 정합법 모두 가능하다. 볼트 미장착 불량인 경우 템플레이트 정합법을 사용하여 볼트 중심부와 투명 고무링이 있는 부분을 중심으로 밝은 영역이 얼마나 있는지의 비율로 검출할 수 있다.

도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 비전 검사방법을 설명하기 위한 흐름도이다.

도 6을 참고하면, 제어부(21)는 검사대상의 마운팅 플레이트 어셈블리의 영상이 입력받아 캡처이미지를 획득한다(S10). 캡처이미지가 획득되면, 제어부(21)는 양품이미지저장부(26)에 저장된 양품이미지를 독출한다. 그리고 제어부(21)는 양품이미지와 캡처이미지를 비교하여 이미지검사가 수행되도록 제어한다(S30). 이미지 검사가 완료되면, 제어부(21)는 양품인지를 판단한다(S40). 판단결과, 양품이 아닌 경우, 불량상태를 검출하여(S60), 불량상태검출결과를 출력한다(S70). 즉, 불량상태를 검사대상 캡처 이미지와 함께 화면에 표시하거나 문자 등으로 표시하여 그 결과를 출력한다. 한편, 판단결과, 양품인 경우는 양품으로 판정하여 검사결과를 출력한다(S50).

따라서, 본 발명의 장치는 복잡한 부품의 결합으로 이루어진 어셈블리를 이미지를 비교하여 간편하게 비전검사를 수행할 수 있어 시간이 절약되며 검사결과의 정확성을 높일 수 있는 효과를 제공한다.

Claims

카메라 및 조명을 사용해 획득된 영상으로 양품 및 불량품을 검사하기 위한 비전 검사장치에 있어서,

검사대상물을 선택하여 검사를 수행하기 위한 키입력부;

상기 검사결과를 출력하기 위한 디스플레이부;

검사대상물의 양품이미지를 기 저장하는 양품이미지저장부;

상기 카메라로부터 획득된 검사대상 이미지를 입력받기 위한 이미지입력부;

상기 양품이미지와 상기 검사대상 이미지를 비교하여 이미지를 검사하는 이미지검사부;

상기 이미지 검사결과를 저장하는 검사결과저장부; 및

상기 각 구성을 제어하여 검사대상물이 양품인지 불량품인지의 여부를 상기 디스플레이부로 출력하도록 하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 비전 검사장치.
제 1항에 있어서,

상기 검사대상물은

마운팅 플레이트 어셈블리인 것을 특징으로 하는
제 1항 또는 2항에 있어서,

상기 비전 검사장치는

상기 카메라 및 조명을 제어하기 위한 카메라 및 조명제어부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 비전 검사장치.
제 3항에 있어서,

상기 이미지입력부는

검사대상물의 캡처이미지를 입력받는 것을 특징으로 하는 비전 검사장치.
제 3항에 있어서,

상기 이미지검사부는

템플레이트 정합에 의해 양품이미지와 검사대상 이미지를 비교하는 것을 특징으로 하는 비전 검사장치.
제 3항에 있어서,

상기 이미지검사부는

에지추출법에 의해 양품이미지와 검사대상 이미지를 비교하는 것을 특징으로 하는 비전 검사장치.
카메라 및 조명을 사용해 획득된 영상으로 양품 및 불량품을 검사하기 위한 비전 검사방법에 있어서,

상기 카메라에 의해 촬상된 검사대상물의 영상을 입력받아 캡처이미지를 획득하는 제 1단계;

상기 캡처이미지가 획득되면, 기 저장된 양품이미지를 독출하는 제 2단계;

상기 독출된 양품이미지와 획득된 캡처이미지를 비교하여 이미지검사를 수행하는 제 3단계;

상기 이미지 검사가 완료되면, 양품인지 불량품인지를 판단하는 제 4단계; 및

상기 판단결과를 출력하는 제 5단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 비전 검사방법.
제 7항에 있어서,

상기 제 5단계는

불량품인 경우 불량상태를 검출하여 함께 출력하는 것을 특징으로 하는 비전 검사방법.