CN206557123U - 一种高光表面缺陷检测系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种高光表面缺陷检测系统；具有面阵相机和检测光源，所述检测光源由高角度入射光源、低角度入射光源以及明暗条纹光源组成；所述高角度入射光源和和检测面的切平面的夹角为60°‑90°之间；所述低角度入射光源和检测面的切平面的夹角为10°‑45°之间，所述明暗条纹光源和检测面的切平面的夹角为10°‑90°之间。实现快速准确检测高光表面缺陷之目的。

Description

一种高光表面缺陷检测系统

技术领域

本实用新型涉及一种表面检测系统，建立在光学检测的基础上，尤其涉及一种高光表面缺陷的检测系统。

背景技术

随着制造业的发展，高光工艺在各行各业产品上应用越来越广泛，诸如高光漆、电镀等，实现美观的效果，同时由于工艺的特殊性，表面容易出现缺陷带给用户不良感观体验，另外由于工艺的复杂性导致良品率难以提升，所以高光产品表面缺陷检测显得相当重要和必要。

目前对于高光表面缺陷主要由人工在特定角度光照下通过观察，移动产品对比表面反光效果来判断表面是否有缺陷以及平整度，由于人主观性，难以达到严格的判断标准要求，而且效率不高，观察时间长会有视觉疲劳等状况，容易出现误判、漏判等不受控的情况。

对于传统机器视觉检测高光表面，尤其是不规则曲面，用一般打光方式很难把缺陷特征强调出来，而且高光表面就像镜子一样反光，拍得图片会有各种眩光、倒影等，对视觉判断造成极大影响，目前还没有一种合适光源能把有效有各种高光表面缺陷都打出来。

基于以上，迫切需要有一种有效的检测系统对各种类型的高光表面缺陷进行检测，替代传统靠人眼观察的作坊模式，提高效率、稳定性及准确率。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种高光表面缺陷检测系统，实现快速准确检测高光表面缺陷之目的。

为了达成本实用新型的上述目的，本实用新型的技术方案如下。

一种高光表面缺陷检测系统，具有面阵相机和检测光源，所述检测光源由高角度入射光源、低角度入射光源以及明暗条纹光源组成；所述高角度入射光源和和检测面的切平面的夹角为60°-90°之间；所述低角度入射光源和检测面的切平面的夹角为10°-45°之间，所述明暗条纹光源和检测面的切平面的夹角为10°-90°之间。

优选地，所述检测光源采用激光光源。

优选地，所述检测高角度入射光源和和检测面的切平面的夹角为75°。

优选地，所述低角度入射光源和检测面的切平面的夹角为30°。

采用了本实用新型的技术方案后，利用光学原理，根据高光面的反光特性，分别用不同的光源检测不同类型的缺陷特征。高角度入射光源可以用于专门检测表面平整或者高度甚微的缺陷，如异色点，灰尘等，以高亮度辨析缺陷的异样特性；用低角度入射光源检测高度有明显凹凸突变的缺陷，如尘点，凹坑等，利用光线角度产生阴影把缺陷强调出轮廓效果以便识别；用明暗条纹光源检测表面有一定粗糙度但变化曲率较小的缺陷，如橘皮，流挂等；由于此类缺陷不能通过低角度入射光源打出轮廓，用高角度入射光源会形成完全镜面反光的光亮效果，因此明暗条纹光源可以检测此类缺陷；明暗条纹提供了一种可辨识的图案内容，方便视觉检测，由于明暗条纹的交界线经过凹凸不平表面反射会形成曲率变化的线条，通过一系列的条纹交界线反光效果就能得出整片区域的平整度。

本发明人已经在此实用新型内容章节总地描述了本实用新型的精神；以下实施例的举例是为了方便本领域普通技术人员进一步了解本实用新型的实施过程所进行的描述，不能理解为对本实用新型精神具体化的限制。

附图说明

图1是采用高角度入射光源检测表面平整或高度甚微的缺陷示意图；

图2是采用低角度入射光源检测高度有明显凹凸突变的缺陷示意图；

图3是采用明暗条纹光源检测具有粗糙度表面缺陷的示意图；

图4是图3明暗条纹光源图案效果示意图。

附图标号说明：

10高角度入射光源 20低角度入射光源 30明暗条纹光源 40法线

50面阵相机 60检测面

具体实施方式

如图1至4所述，本实施例一种高光表面缺陷检测系统，具有面阵相机50和检测光源，所述检测光源由高角度入射光源10、低角度入射光源20以及明暗条纹光源30组成。

根据本实用新型的精神，高角度入射光源10和检测面的切平面的夹角α为60°-90°之间；如图1所示，本实施例优选为75°。

根据本实用新型的精神，低角度入射光源20和检测面的切平面的夹角α为10°-45°之间；如图2所述，本实施例优选为30°。

根据本实用新型的精神，明暗条纹光源30和检测面的切平面的夹角α为10°-90°之间；如图3所示，本实施例的明暗条纹光源为能够在10°-90°之间变动过的可动光源。

当要检测的高光表面60较为平整或者具有高度甚微的缺陷，如异色点，灰尘等，此时，选择高角度入射光源10能分辨出缺陷特征。

当要检测的高光表面60有明显凹凸突变的缺陷，如尘点，凹坑等，此时，选择低角度入射光源20的光线角能够产阴影把缺陷强调出轮廓效果以便识别。

当要检测的高光表面60为有一定粗糙度但变化曲率较小的缺陷，如橘皮，流挂等；明暗条纹光源40提供了一种可辨识的图案内容，条纹交界线反光效果就能得出整片区域的平整度，能够明显低区别出缺陷特征。

通过以上实施举例，本实用新型之精神对于本领域普通技术人员而言已经能够清楚地掌握，所以，在本实用新型中未明确给出的另外的特征、优点和实施方案对于查看了本实用新型的本领域普通技术人员来说都是清楚的，因此，应该理解，吸取了本实用新型之后对本实用新型所作出的修饰和改进都在本专利的保护范围之内，对于在本实用新型的基础上作出的变劣性技术方案也属于本专利的保护范围内。

Claims (4)

1.一种高光表面缺陷检测系统，具有面阵相机和检测光源，其特征在于，所述检测光源由高角度入射光源、低角度入射光源以及明暗条纹光源组成；所述高角度入射光源和检测面的切平面的夹角为60°-90°之间；所述低角度入射光源和检测面的切平面的夹角为10°-45°之间，所述明暗条纹光源和检测面的切平面的夹角为10°-90°之间。

2.如权利要求1所述的一种高光表面缺陷检测系统，其特征在于，所述检测光源采用激光光源。

3.如权利要求1所述的一种高光表面缺陷检测系统，其特征在于，所述检测高角度入射光源和检测面的切平面的夹角为75°。

4.如权利要求1所述的一种高光表面缺陷检测系统，其特征在于，所述低角度入射光源和检测面的切平面的夹角为30°。