CN110618141B - 一种玻璃缺陷检测的方法、系统、装置 - Google Patents

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Abstract

本申请涉及一种玻璃缺陷检测的方法，所述方法包括：获取同一缺陷在多个相机的成像时间点；计算两两相机之间的成像时间差；根据所述成像时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置。该方法可以精确定位缺陷时位于玻璃的上表面、下表面或是玻璃内部的具体位置，有效的提高玻璃产线的生产良率。此外，还提出了一种玻璃缺陷检测的系统、装置、计算机设备及存储介质。

Description

一种玻璃缺陷检测的方法、系统、装置
技术领域
本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种玻璃缺陷检测的方法、系统及装置。
背景技术
目前随着手机以及大屏电视等产品的大规模产品化，对玻璃面板需求越来越高，而玻璃面板的表面检测的需求也越来越高，在通常的表面检测中，对于玻璃这种透明的被检测物，是不能通过背光或者正面打光确定缺陷是在玻璃内部还是在玻璃表面，所以亟需一种可以确定缺陷位置的检测方法。
发明内容
基于此，有必要针对上述问题，提供一种准确确定缺陷位置的玻璃缺陷检测方法、装置、系统、计算机设备及存储介质。
第一方面，本发明实施例提供一种玻璃缺陷检测的方法，所述的方法包括：
获取同一缺陷在多个相机的成像时间点；
计算两两相机之间的成像时间差；
根据所述成像时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置。
在其中一个实施例中，所述根据所述成像时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置，还包括：获取两两相机对应的预设时间差；根据所述成像时间差与所述预设时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置。
在其中一个实施例中，所述预设时间差包括：第一预设时间差和第二预设时间差、所述第一预设时间差小于所述第二预设时间差；所述根据所述成像时间差与所述预设时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置，包括：当所述两两相机之间的成像时间差等于所述两两相机对应的所述第二预设时间差时，确定所述缺陷在所述玻璃的第一表面；当所述两两相机之间的成像时间差等于所述两两相机对应的所述第一预设时间差时，确定所述缺陷在所述玻璃的第二表面；当所述所述两两相机之间的成像时间差大于所述第一预设时间差且小于所述第二预设时间差时，确定所述缺陷在所述玻璃的内部。
在其中一个实施例中，所述当所述两两相机之间的成像时间差大于所述第一预设时间差且小于所述第二预设时间差时，确定所述缺陷在所述玻璃的内部，包括：计算所述第二预设时间差与所述成像时间差之间的比例值；获取所述玻璃的厚度；根据所述比例值和所述厚度计算所述缺陷在所述玻璃的缺陷位置。
在其中一个实施例中，所述当所述两两相机之间的成像时间差大于所述第一预设时间差且小于所述第二预设时间差时，确定所述缺陷在所述玻璃的内部，包括：获取所述玻璃的厚度；根据所述第一预设时间差、第二预设时间差和所述玻璃的厚度生成函数图像；根据所述成像时间差和所述函数图像确定所述缺陷在所述玻璃的缺陷位置。
在其中一个实施例中，在获取同一缺陷在多个相机的成像时间点之前，还包括：获取每个相机拍摄得到的缺陷图像；将所述缺陷图像进行比对，得到不同相机中同一缺陷的成像时间点。
第二方面，本发明实施例提供一种玻璃缺陷检测的系统，所述系统包括：多个光源、多个相机和采集设备，所述光源和相机一一对应；所述光源位于玻璃面板的一侧，用于照射所述玻璃面板；所述相机位于所述玻璃面板的另一侧，用于接收对应的光源透过所述玻璃面板发射的光线并成像；所述多个光源分别和对应相机之间的连线有且只有一个交点，且所述交点位于所述玻璃面板靠近光源的一侧的表面。所述采集设备用于与所述多个相机连接，用于接收每个相机采集到的图像数据。
第三方面，本发明实施例提供一种玻璃缺陷检测的装置，所述装置包括：
获取模块，用于获取同一缺陷在多个相机的成像时间点；
计算模块，用于计算两两相机之间的成像时间差；
确定模块，用于根据所述成像时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置。
第四方面，本发明实施例提供一种计算机设备，所述设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如下步骤：获取同一缺陷在多个相机的成像时间点；计算两两相机之间的成像时间差；根据所述成像时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置。
第五方面，本发明实施例提供一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行如下步骤：获取同一缺陷在多个相机的成像时间点；
计算两两相机之间的成像时间差；
根据所述成像时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置。
上述玻璃缺陷检测的方法、装置、计算机设备及存储介质，通过获取同一缺陷在多个相机的成像时间点，计算两两相机之间的成像时间差，根据所述成像时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置。通过多个相机对同一缺陷检测的成像时间点的测量，计算两两相机之间的成像时间点的差值，根据确定成像时间差，可精确确定缺陷在玻璃中的位置。
上述玻璃缺陷检测的系统，通过光源与相机对玻璃中的缺陷成像，所述光源在玻璃的一侧，所述相机在玻璃的另一侧，光源与相机一一对应，多个光源分别和对应相机之间的连线有且只有一个交点，且所述交点位于所述玻璃面板靠近光源的一侧的表面，由采集设备采集每个相机的成像数据。通过改变光源与对应相机的数量和位置，提高了玻璃缺陷检测的效率和准确率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为一个实施例中玻璃缺陷检测系统的架构图；
图2为一个实施例中玻璃缺陷检测方法的流程图；
图3A为一个实施例中预设时间差的示意图；
图3B为另一个实施例中预设时间差的示意图；
图4为一个实施例中确定缺陷在所述玻璃的内部的位置的流程图；
图5为一个实施例中确定缺陷在玻璃内部位置的流程图；
图6A为一个实施例中生成函数图像确定缺陷在玻璃内部位置的流程图；
图6B根据函数图像确定缺陷在玻璃内部位置的示意图；
图7为一个实施例中玻璃缺陷检测装置的结构框图；
图8为一个实施例中计算机设备的结构框图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
如图1所示，在一个实施例中，玻璃缺陷检测方法应用于玻璃缺陷检测系统10，该系统10包括：多个光源102、多个相机104和采集设备106，光源和相机一一对应；光源位于玻璃面板的一侧，用于照射所述玻璃面板；相机位于所述玻璃面板的另一侧，用于接收对应的光源透过所述玻璃面板发射的光线并成像；多个光源分别和对应相机之间的连线有且只有一个交点，且所述交点位于所述玻璃面板靠近光源的一侧的表面。采集设备用于与所述多个相机连接，用于接收每个相机采集到的图像数据，然后根据采集得到的图像数据获取同一缺陷在多个相机的成像时间点，计算两两相机之间的成像时间差，根据成像时间差确定缺陷在玻璃中的位置。
图2提出了一种玻璃缺陷检测方法，该检测方法既可以应用于终端，也可以应用于服务器，本实施例中以应用于终端为例说明，该玻璃缺陷检测方法具体包括以下步骤：
步骤202，获取同一缺陷在多个相机的成像时间点。
其中，成像时间点是指相机拍摄到缺陷的时间点。由于不同相机是分布在玻璃一侧的不同位置，所以拍摄到同一缺陷的时间点可能不同。对不同相机拍摄到缺陷的图像进行一一比对，得到不同相机拍摄到的同一缺陷的成像时间点。时间点可以精确到秒，也可以精确得到微秒。
步骤204，计算两两相机之间的成像时间差。
其中，成像时间差是指不同相机拍摄到的同一缺陷成像的时间点的差值。因不同相机拍摄到的同一缺陷的时间点可能不相同，所以多个相机对同一缺陷成像的时间点之间会存在差值。
由于玻璃的一侧分布有多个相机，而多个相机成像的时间差不能同时计算，所以计算两两相机之间的成像时间差。在一个实施例中，比如，玻璃一侧分布有三台相机，同一缺陷在三台相机成像的时间点分别为T1、T2和T3，则两两相机之间的成像时间差为：T1和T2差值Δt1、T2和T3的差值Δt2以及T1和T3差值Δt3。
步骤206，根据所述成像时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置。
在一个实施例中，缺陷在玻璃中的位置可以简单地分为表面位置和内部位置。由于缺陷在玻璃表面，则可以进行二次处理变成良品，而缺陷在内部则会是废品，所以确定缺陷在玻璃的表面还是内部可以有效地提高生产良率。
在另一个实施例中，缺陷在所述玻璃中的位置是指缺陷在玻璃中的具体位置，比如，可以是在玻璃中的比例高度，比例高度可以通过缺陷成像时间差和预设时间差的比例关系得到的。由于缺陷成像时间差与预设时间差存在比例关系，所以，可根据时间差的比例关系，得到缺陷在玻璃中的高度与玻璃厚度的比例关系，从而得到缺陷在玻璃中的高度。在一个实施例中，比如，玻璃的一侧分布有两台相机，预设时间差为两台相机与光源的连线在靠近相机一侧的交点的时间差Δt，获取的缺陷成像时间差为Δt0，玻璃厚度可测得为d，则缺陷在玻璃中的高度为h，可得：(Δt0/Δt)＝(h/d),从而h＝d(Δt0/Δt)，可得到缺陷在玻璃中的比例高度。
上述玻璃缺陷检测的方法，通过多个相机对同一缺陷检测的成像时间点的测量，计算两两相机之间的成像时间差，根据确定成像时间差，确定缺陷在玻璃中的位置，针对性地解决无法准确定位玻璃缺陷的问题。
在一个实施例中，根据所述成像时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置，包括：获取两两相机对应的预设时间差；根据所述成像时间差与所述预设时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置。
其中，获取两两相机对应的预设时间差，还包括：获取两两相机对应的第一预设时间差和第二预设时间差。获取的第一预设时间差为成像时间差的最小值，获取的第二预设时间差为成像时间差的最大值。上述第一预设时间差，如图3A所示，当缺陷在玻璃底面成像时，成像时间差最小，将最小值设为第一预设时间差；上述第二预设时间差如图3B所示，当缺陷在玻璃上表面成像时，成像时间差最大，将最大值设为第二预设时间差。由于相机分布与玻璃面板的位置是已知的，则可获取两两相机对应的预设时间差。
其中，根据所述成像时间差与所述预设时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置，还包括：比对成像时间差与预设时间差，当成像时间差等于第一预设时间差或第二预设时间差时，缺陷在玻璃的表面位置；当成像时间差大于第一预设时间差并小于第二预设时间差时，缺陷在玻璃的内部位置。在一个实施例中，如图3A、图3B所示，当缺陷在玻璃底面成像时，成像时间差最小，将最小值设为第一预设时间差；当缺陷在玻璃上表面成像时，成像时间差最大，将最大值设为第二预设时间差。当成像时间差等于最小值或最大值，缺陷在玻璃的底面或者上表面，当成像时间差大于最小值且小于最大值，缺陷在玻璃的内部。
如图4所示，在其中一个实施例中，预设时间差包含第一预设时间差和第二预设时间差，第一预设时间差小于第二预设时间差；根据所述成像时间差与所述预设时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置：
步骤402，设置第一预设时间差和第二预设时间差，第一预设时间差小于第二预设时间差。
其中，第一预设时间差为缺陷成像时间差的最小值，第二预设时间差为缺陷成像时间差的最大值。所以第一预设时间差小于第二预设时间差。由于第一预设时间差与第二预设时间差均可直接获取，所以预设时间差包括成像时间差的最小值、最大值。
在一个实施例中，根据所述成像时间差与所述预设时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置：
步骤404，将两两相机之间的成像时间差与所述第一预设时间差和所述第二预设时间差进行比对，当所述两两相机之间的成像时间差等于所述两两相机对应的所述第一预设时间差时，进入步骤204；当所述两两相机之间的成像时间差等于所述两两相机对应的所述第二预设时间差时，进入步骤206；当两两相机之间的成像时间差大于所述第一预设时间差且小于所述第二预设时间差时，进入步骤208。
步骤406，确定所述缺陷在所述玻璃的第一表面。
其中，由于第一预设时间差为最小值，当缺陷成像时间差等于最小值时，缺陷所在的位置为最小值所在的第一表面。例如，设定玻璃靠近光源的一侧表面为第一表面，当相机在该第一表面成像时，时间差最小，最小值设为第一预设时间差Δt1。当检测到的成像时间差等于Δt1时，缺陷在玻璃的第一表面。
步骤408，确定所述缺陷在所述玻璃的第二表面。
其中，由于第二预设时间差为最大值，当缺陷成像时间差等于最大值时，缺陷所在的位置为最大值所在的第二表面。例如，设定玻璃远离光源的一侧表面为第二表面，当相机在该第一表面成像时，时间差最小，最小值设为第一预设时间差Δt2。当检测到的成像时间差等于Δt2时，缺陷在玻璃的第二表面。
步骤410，确定所述缺陷在所述玻璃的内部。
其中，由于上述第一预设时间差和第二预设时间差分别对应玻璃的第一表面和第二表面，当缺陷成像时间差等于第一预设时间差时，缺陷在玻璃的第一表面；当缺陷成像时间差等于第二预设时间差时，缺陷在玻璃的第二表面。所以，当缺陷成像时间差大于第一预设时间差且小于第二预设时间差时，缺陷在玻璃的内部位置。
如图5所示，在一个实施例中，提出了一种当缺陷在玻璃内部时，确定缺陷在玻璃的内部位置的方法，具体包含下列步骤：
步骤502，计算所述成像时间差与所述第二预设时间差之间的比例值。
其中，成像时间差是指缺陷在玻璃内部时，两两相机对缺陷成像的时间点的差值，第二预设时间差为缺陷成像时间差的最大值。由于缺陷在相机的成像时间点的差值成比例关系，所以，获取成像时间差与第二预设时间差的比例值，用于下一步计算缺陷的具体位置。
步骤504，获取所述玻璃的厚度。
其中，所述玻璃的厚度是指待检测的存在缺陷的玻璃厚度。由于缺陷在玻璃内部的高度与玻璃厚度的比值，等于成像时间差与第二预设时间差的比例值，所以，获取玻璃厚度后，可通过计算得到缺陷在玻璃内部的具体位置。
步骤506，根据所述比例值和所述厚度计算所述缺陷在所述玻璃的缺陷位置。
其中，根据缺陷在玻璃内部的高度与玻璃厚度成的比值等于计算得到成像时间差与第二预设时间差的比例值的关系，计算得到缺陷在玻璃内部的高度，即得到缺陷内部位置。
在一个实施例中，例如，玻璃的一侧分布有两台相机，获取的缺陷成像时间差为Δt0，第二预设时间差Δt，获取玻璃厚度为d，则缺陷在玻璃中的高度为h，可得：(Δt0/Δt)＝(h/d),从而h＝d(Δt0/Δt)，可得到缺陷在玻璃内部的高度，即为缺陷在玻璃内部的具体位置。
在一个实施例中，当所述两两相机之间的成像时间差大于所述第一预设时间差且小于所述第二预设时间差时，确定所述缺陷在所述玻璃的内部，如图6A所示：
步骤602：获取待测玻璃的厚度。
由于缺陷成像时间差与预设时间差的比例值等于缺陷在玻璃内部的高度与玻璃厚度的比例值，所以，获取待测玻璃的厚度，再根据成像时间差与预设时间差的比例值，可得缺陷在玻璃内部的高度。
步骤604：根据所述第一预设时间差、第二预设时间差和所述玻璃的厚度生成函数图像。
例如，第一预设时间差t1与第二预设时间差t2分别对应缺陷在玻璃两侧表面位置。当缺陷成像时间差为t1时，缺陷在玻璃内部高度值为h1；当缺陷成像时间差为t2时，缺陷在玻璃内部高度为d，即等于玻璃厚度。根据所述第一预设时间差、第二预设时间差和所述玻璃的厚度生成的函数图像，当待测缺陷成像时间差为t时，得到对应的函数值h，即缺陷在玻璃内部的位置。
步骤606：根据所述成像图像和所述函数图像确定所述缺陷在所述玻璃的缺陷位置。
其中，由于成像时间差与预设时间差的比例值等于缺陷在玻璃内部的高度与玻璃厚度的比例值相等，所以缺陷在玻璃内部的高度与成像时间差构成函数关系，根据该函数关系绘制函数图像，则可根据成像时间差直观判断缺陷在玻璃内部的缺陷位置。
在其中一个实施例，如图6B所示，第一预设时间差为t1,第二预设时间差为t2，则令x轴为横坐标，缺陷在玻璃内部高度h为纵坐标，纵坐标最大值为玻璃厚度d，根据t1和t2两点确定函数图像。当成像时间差等于t1，缺陷在玻璃的第一表面；当成像时间差等于t2，缺陷在玻璃的第二表面；当成像时间差大于t1且小于t2，缺陷位于玻璃内部，且根据函数图像，可根据横坐标时间差的值，找到图像上对应的纵坐标的缺陷高度值，即确定缺陷的具体位置。
在一个实施例中，获取同一缺陷的成像时间点之前，获取每个相机拍摄到的同一缺陷成像图像。
由于相机处于连续拍摄状态，且玻璃中可能存在多处缺陷，相机对缺陷的成像图像会存在不同。所以，要获取同一缺陷在多个相机的成像时间点之前，需要比对多个相机对缺陷的成像图像，当成像图像均为拍摄同一缺陷在多个相机终成像的图像时，获取每个相机拍摄到的同一缺陷成像图像的成像时间点，计算成像时间差，进而判断缺陷在玻璃中的位置。
在一个实施例中，提出了一种玻璃缺陷检测的系统，该系统包括：多个光源、多个相机和采集设备，参照图1和图3A、图3B，所述光源和相机一一对应。所述多个光源分别和对应相机之间的连线有且只有一个交点，且所述交点位于所述玻璃面板靠近光源的一侧的表面。所述采集设备用于与所述多个相机连接，用于接收每个相机采集到的图像数据。
其中，所述相机位于玻璃面板的一侧，光源位于玻璃面板的另一侧，所述光源和相机一一对应。由于相机要对缺陷一一成像，一个光源照射并透过玻璃面板中的缺陷后，有且仅有一个相机接收其透过的光线并对其成像，保证每个成像时间点的唯一性。
其中，所述多个光源分别和对应相机之间的连线有且只有一个交点，且所述交点位于所述玻璃面板靠近光源的一侧的表面，由于照射光线从光源发出，并与相机一一对应，则光源与对应相机的连线有且只有一个交点，用于设置第一预设时间差，从而判断缺陷在玻璃中的位置。
其中，采集设备用于接收每个相机采集到的图像数据，采集设备接收每个相机对缺陷的成像图像、成像时间点等数据，用于对同一缺陷成像的图像进行比对及成像时间差的计算。
如图7所示，在一个实施例中，提出了一种玻璃缺陷检测的装置，该装置包括：
获取模块702，用于获取同一缺陷在多个相机的成像时间点；
计算模块704，用于计算两两相机之间的成像时间差；
确定模块706，用于根据所述成像时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置。
在一个实施例中，获取模块702还用于获取的同一缺陷在多个相机的成像时间点的输入，得到缺陷成像时间差的值。所述同一缺陷在多个相机的成像时间点为多个相机拍摄到的同一缺陷的图像的时间点。计算模块704还用于计算两两相机之间的成像时间差。其中，成像时间差是指两两相机之间的成像时间点的差值，多个两两相机的成像时间点用于进行多组成像时间差的计算。确定模块706还用于根据所述成像时间差确定所述玻璃中的位置。其中，确定模块706根据计算模块704的计算的时间差，与预设时间差进行比对，根据比对结果，确定缺陷在玻璃的位置。
在一个实施例中，获取模块702和计算模块704还用于获取并计算两两相机对应的预设时间差。其中，预设时间差包括第一预设时间差和第二预设时间差；确定模块706还用于根据缺陷成像时间差与预设时间差的比对，判断缺陷在玻璃的位置。所述比对是指将两两相机之间的成像时间差与预设时间差进行比对，得到比对结果，判断所述缺陷是在玻璃的表面位置或者内部位置。
在一个实施例中，确定模块706还用于根据所述成像时间差与所述预设时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置。当成像时间差等于第一预设时间差时，缺陷在玻璃的表面位置；当成像时间差不等于预设时间差时，缺陷在玻璃的内部位置。
在一个实施例中，当两两相机之间的成像时间差大述第一预设时间差且小于第二预设时间差时，确定所述缺陷在所述玻璃的内部。其中，计算模块704还用于计算所述成像时间差与所述第二预设时间差之间的比例值；获取模块702还用于获取所述玻璃的厚度；确定模块706还用于通过计算模块得到的两两相机之间的成像时间差与预设时间差的比例值，确定缺陷在玻璃的位置。
在一个实施例中，当两两相机之间的成像时间差大于所述第一预设时间差且小于所述第二预设时间差时，确定缺陷在所述玻璃的内部。获取模块702还用于获取所述玻璃的厚度，确定模块706还用于根据成像时间差和玻璃厚度生成的函数图像确定所述缺陷在玻璃的缺陷位置。通过确定模块706，确定缺陷在玻璃的内部位置。
在一个实施例中，获取模块702还用于获取每个相机拍摄得到的缺陷图像，并根据每个相机拍摄到同一缺陷的成像图像，得到不同相机中同一缺陷的成像时间点。
图8示出了一个实施例中计算机设备的内部结构图。该计算机设备具体可以是服务器和终端设备，所述服务器包括但不限于高性能计算机和高性能计算机集群；所述终端设备包括但不限于移动终端设备和台式终端设备，所述移动终端设备包括但不限于手机、平板电脑、智能手表和笔记本电脑，所述台式终端设备包括但不限于台式电脑和车载电脑。如图8所示，该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和网络接口。其中，存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该计算机设备的非易失性存储介质存储有操作系统，还可存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，可使得处理器实现玻璃缺陷检测方法。该内存储器中也可储存有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，可使得处理器执行玻璃缺陷检测方法。本领域技术人员可以理解，图8中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中，本申请提供的玻璃缺陷检测方法可以实现为一种计算机程序的形式，计算机程序可在如图8所示的计算机设备上运行。计算机设备的存储器中可存储组成玻璃缺陷检测装置的各个程序模板。比如，获取模块702，计算模块704，确定模块706。
一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如下步骤：获取同一缺陷在多个相机的成像时间点；计算两两相机之间的成像时间差；根据所述成像时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置。
在一个实施例中，所述获取同一缺陷在多个相机的成像时间点，所述计算两两相机之间的成像时间差，根据所述成像时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置，包括：根据多个相机对缺陷成像时间的不同，每个相机对每个缺陷都有一个成像时间点，获取每个相机对同一缺陷的成像并获取缺陷成像的时间点；将两两相机之间对同一缺陷成像时间点进行差值计算，得到缺陷在两两相机之间的成像时间差；根据成像时间差与预设时间差的比例值，确定缺陷在玻璃中的表面位置或内部位置。
在一个实施例中，所述获取两两相机对应的预设时间差，所述根据所述成像时间差与所述预设时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置，包括：根据两两相机对应的预设时间差，包括第一预设时间差和第二预设时间差，将成像时间差与预设时间差进行比对，得到比对结果；根据成像时间差与预设时间差的比对结果，确定缺陷在玻璃中的位置。
在一个实施例中，所述预设时间差包含第一预设时间差和第二预设时间差，所述第一预设时间差小于第二预设时间差，所述根据所述成像时间差与所述预设时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置，包括：第一预设时间差为成像时间差的最小值，第二预设时间差为成像时间差的最大值，第一预设时间差小于第二预设时间差。其中，第一预设时间差对应缺陷在玻璃的第一表面，第二预设时间差对应缺陷在玻璃的第二表面；根据成像时间差与预设时间差的比对，当成像时间差等于第一预设时间差时，确定缺陷在玻璃的第一表面，当成像时间差等于第二预设时间差时，确定缺陷在玻璃的第二表面；当成像时间差大于第一预设时间差并小于第二预设时间差时，确定缺陷在玻璃的内部。
在一个实施例中，所述计算所述成像时间差与所述第二预设时间差之间的比例值，所述获取所述玻璃的厚度，所述根据所述比例值和所述厚度计算所述缺陷在所述玻璃的缺陷位置，包括：第二预设时间差时成像时间差的最大值，根据成像时间差与第二预设时间差的比例值，等于缺陷在玻璃内部位置与获取的玻璃厚度的比例值，确定缺陷在玻璃的缺陷位置。
在一个实施例中，所述获取所述玻璃的厚度，所述根据所述第一预设时间差、第二预设时间差和所述玻璃的厚度生成函数图像，所述根据所述成像时间差和所述函数图像确定所述缺陷在所述玻璃的缺陷位置，包括：获取玻璃的厚度，玻璃厚度为缺陷在玻璃内部位置的最大值；根据第一预设时间差、第二预设时间差和玻璃厚度，生成函数图像，其中，函数图像中横、纵坐标的最小值对应第一预设时间差及其缺陷位置，函数图像中横坐标的最大值对应第二预设时间差及其缺陷位置。根据函数图像，当缺陷成像时间差等于第一预设时间差、等于第二预设时间差或是大于第一预设时间差并小于第二预设时间差时，确定缺陷在玻璃的缺陷位置。
在一个实施例中，所述获取每个相机拍摄得到的缺陷图像，所述将所述缺陷图像进行比对，得到不同相机中同一缺陷的成像时间点，包括：根据每个相机对每个缺陷的成像，获取每个相机拍摄到的缺陷图像；将缺陷图像进行比对，当不同相机的缺陷图像为同一缺陷的成像图像时，获取不同相机的成像时间点。
一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如下步骤：获取同一缺陷在多个相机的成像时间点；计算两两相机之间的成像时间差；根据所述成像时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置。
在一个实施例中，所述获取同一缺陷在多个相机的成像时间点，所述计算两两相机之间的成像时间差，根据所述成像时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置，包括：根据多个相机对缺陷成像时间的不同，每个相机对每个缺陷都有一个成像时间点，获取每个相机对同一缺陷的成像并获取缺陷成像的时间点；将两两相机之间对同一缺陷成像时间点进行差值计算，得到缺陷在两两相机之间的成像时间差；根据成像时间差与预设时间差的比例值，确定缺陷在玻璃中的表面位置或内部位置。
在一个实施例中，所述获取两两相机对应的预设时间差，所述根据所述成像时间差与所述预设时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置，包括：根据两两相机对应的预设时间差，包括第一预设时间差和第二预设时间差，将成像时间差与预设时间差进行比对，得到比对结果；根据成像时间差与预设时间差的比对结果，确定缺陷在玻璃中的位置。
在一个实施例中，所述预设时间差包含第一预设时间差和第二预设时间差，所述第一预设时间差小于第二预设时间差，所述根据所述成像时间差与所述预设时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置，包括：第一预设时间差为成像时间差的最小值，第二预设时间差为成像时间差的最大值，第一预设时间差小于第二预设时间差。其中，第一预设时间差对应缺陷在玻璃的第一表面，第二预设时间差对应缺陷在玻璃的第二表面；根据成像时间差与预设时间差的比对，当成像时间差等于第一预设时间差时，确定缺陷在玻璃的第一表面，当成像时间差等于第二预设时间差时，确定缺陷在玻璃的第二表面；当成像时间差大于第一预设时间差并小于第二预设时间差时，确定缺陷在玻璃的内部。
在一个实施例中，所述计算所述成像时间差与所述第二预设时间差之间的比例值，所述获取所述玻璃的厚度，所述根据所述比例值和所述厚度计算所述缺陷在所述玻璃的缺陷位置，包括：第二预设时间差时成像时间差的最大值，根据成像时间差与第二预设时间差的比例值，等于缺陷在玻璃内部位置与获取的玻璃厚度的比例值，确定缺陷在玻璃的缺陷位置。
在一个实施例中，所述获取所述玻璃的厚度，所述根据所述第一预设时间差、第二预设时间差和所述玻璃的厚度生成函数图像，所述根据所述成像时间差和所述函数图像确定所述缺陷在所述玻璃的缺陷位置，包括：获取玻璃的厚度，玻璃厚度为缺陷在玻璃内部位置的最大值；根据第一预设时间差、第二预设时间差和玻璃厚度，生成函数图像，其中，函数图像中横、纵坐标的最小值对应第一预设时间差及其缺陷位置，函数图像中横坐标的最大值对应第二预设时间差及其缺陷位置。根据函数图像，当缺陷成像时间差等于第一预设时间差、等于第二预设时间差或是大于第一预设时间差并小于第二预设时间差时，确定缺陷在玻璃的缺陷位置。
在一个实施例中，所述获取每个相机拍摄得到的缺陷图像，所述将所述缺陷图像进行比对，得到不同相机中同一缺陷的成像时间点，包括：根据每个相机对每个缺陷的成像，获取每个相机拍摄到的缺陷图像；将缺陷图像进行比对，当不同相机的缺陷图像为同一缺陷的成像图像时，获取不同相机的成像时间点。
需要说明的是，上述玻璃缺陷检测方法、玻璃缺陷检测装置、计算机设备及计算机可读存储介质属于一个总的发明构思，玻璃缺陷检测方法、玻璃缺陷检测装置、计算机设备及计算机可读存储介质实施例中的内容可相互适用。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (5)

1.一种玻璃缺陷检测的方法，其特征在于，应用于玻璃缺陷检测的系统，所述系统包括多个光源和多个相机，所述光源和相机一一对应，所述光源位于玻璃面板的一侧，用于照射所述玻璃面板，所述相机位于所述玻璃面板的另一侧，用于接收对应的光源透过所述玻璃面板发射的光线并成像，所述多个光源分别和对应相机之间的连线有且只有一个交点，且所述交点位于所述玻璃面板靠近光源的一侧的表面；所述的方法：
获取同一缺陷在所述多个相机的成像时间点；
计算两两相机之间的成像时间差；
获取两两相机对应的预设时间差；
根据所述成像时间差与所述预设时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置；所述预设时间差包括：第一预设时间差和第二预设时间差、所述第一预设时间差小于所述第二预设时间差；
所述根据所述成像时间差与所述预设时间差确定所述缺陷在所述玻璃中的位置，包括：
当所述两两相机之间的成像时间差等于所述两两相机对应的所述第一预设时间差时，确定所述缺陷在所述玻璃的第一表面；当所述两两相机之间的成像时间差等于所述两两相机对应的所述第二预设时间差时，确定所述缺陷在所述玻璃的第二表面；当所述所述两两相机之间的成像时间差大于所述第一预设时间差且小于所述第二预设时间差时，确定所述缺陷在所述玻璃的内部；
所述当所述两两相机之间的成像时间差大于所述第一预设时间差且小于所述第二预设时间差时，确定所述缺陷在所述玻璃的内部，包括：计算所述成像时间差与所述第二预设时间差之间的比例值；获取所述玻璃的厚度；根据所述比例值和所述厚度计算所述缺陷在所述玻璃的缺陷位置。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述所述当所述两两相机之间的成像时间差大于所述第一预设时间差且小于所述第二预设时间差时，确定所述缺陷在所述玻璃的内部，包括：
获取所述玻璃的厚度；
根据所述第一预设时间差、第二预设时间差和所述玻璃的厚度生成函数图像；
根据所述成像时间差和所述函数图像确定所述缺陷在所述玻璃的缺陷位置。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在获取同一缺陷在多个相机的成像时间点之前，还包括：
获取每个相机拍摄得到的缺陷图像；
将所述缺陷图像进行比对，得到不同相机中同一缺陷的成像时间点。
4.一种计算机设备，其特征在于，所述设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如权利要求1至3中任一项所述方法的步骤。
5.一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行如权利要求1至3中任一项所述方法的步骤。
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