TWI311895B - - Google Patents

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TWI311895B
TWI311895B TW094106283A TW94106283A TWI311895B TW I311895 B TWI311895 B TW I311895B TW 094106283 A TW094106283 A TW 094106283A TW 94106283 A TW94106283 A TW 94106283A TW I311895 B TWI311895 B TW I311895B
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Taiwan
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vacuum
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holding
processing chambers
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TW094106283A
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TW200539740A (en
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Susumu Kamikawa
Hirohiko Morisaki
Kozo Wada
Takashi Yoshitake
Masahiko Gohda
Etsuro Hirai
Toshiro Kobayashi
Mitsuo Kato
Tatsuya Hirano
Original Assignee
Mitsubishi Hitachi Metals
Mitsubishi Heavy Ind Ltd
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Description

13 H 895 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種連續地搬運基板,蒸鍍有機材料等蒸 發材料,而形成有機電激發光(以下簡稱為el)元件之線内 式有機EL製造裝置。 【先前技術】 圖10顯示目前一般使用之有機EL製造震置。 圖1〇所示之裝置係稱為簇團(cluster)型之裝置,且係將具 有機器手臂之搬運室形成多角形形狀,並在搬運室周圍設 置數個處理室者。如圖10所示,為有機£[製造裝置4〇時, 成膜步驟單元41具有:將基板搬運至各處理室之搬運室 42 ’進行基板搬入之基板搬入口 43,進行基板洗淨之洗淨 室44 ’及在基板上進行成膜之成膜室45, ",47,並經由數 個閘閥48,在搬運室42之周圍配置此等處理室。由於有機 EL元件包含電極層,並藉由數個薄膜構成,因此有機el製 造裝置40中設有成為各薄膜處理室之成膜室45,46,47(出 自「談有機EL」,日刊工業新聞社,p98,圖53)。 在基板上進行成膜情況下,係打開閘門48,將搬入基板 搬入口 43之基板搬至處理室(如成膜室45),關閉閘門料,並 調整真空度後’在基板上進行第一層之成膜。而後,第一 層之成膜結束後’再度打開閘門48,自成膜室45搬出基板, 將基板搬至下一個處理室(如成膜室46),同樣地進行第二層 之成膜。如此成膜之基板通過送交室49,而搬運至步驟單 元50’並與藉由步驟單元51,52進行下處理之覆蓋玻璃貼 99762.doc 1311895 合’來製作成為FPD(平面板顯示裝置)之有機EL元件之成 品。 專利文獻1 :特開2002-348659號公報 .專利文獻2 :特開2003-157973號公報 【發明内容】 使用有機EL元件之FPD中,降低製造成本係今後之重大 課題。因而縮短每一片基板之製造時間及提高材料之利用 .效率成為必要事項。然而,在圖1〇所示之簇團型之有機 製造裝置中,每薄膜具有獨立之處理室,不但每間處理室 需要進行基板之搬入、搬出,且每間處理室均須調整真空 度’因此存在每片基板之製造時間長之問題。 ,另外,為了縮短製造時間,提出有稱為線内式之有機el 製造裝置(如專利文獻1、專利文獻2)。 綠内式之有機EL製造裝置具有有機EL元件用之數個成 膜室直線地配置於同一個真空容器内,而排除此等成膜室 • 間之閘閥之構造。於成膜時,係藉由將基板連續地搬運至 =個成膜至之上方進行成膜,縮短用於基板搬運及真空度 調整之時間,來謀求縮短製造時間者。 、& 之=是,有機EL製造裝置除進行有機EL元件成膜之成膜室 之外,遇有環境氣體(真空度)不同之數個處理室(如圖1〇中 .=洗⑦至4 4及電極成膜室4 7等),即使僅將進行有機E L元件 6臈用之成臈室配置於同一個真空容器内,在與其他處理 • 依然、需要閘閥。因此,在此等處理室間進行基板之 ’月况下,每次搬運均須要開關閘閥,且在每次開關閘 99762.doc 1311895 閥時,各個處理室中需要調整真空度。其中亦有設置直空 度調整室’並以真空度調整室調整真空度後,搬運基板至 處理室者’不但實質上係無法連續搬運之狀態,且因真空 度調整費時,因此縮短製造時間有限,無法期待提高生產 效率。
另外,線内式之有機紅製造裝置在進行有機肛元件成膜 用之成膜室中,由於連續搬運基板,而連續受到成膜室之 蒸發源溫度之影響,基板溫度容易上昇。基板溫度上昇導 致薄膜再度蒸發,係使薄膜之品質惡化之原因。特別是為 了提高成膜速度’可減少無效蒸汽,因此須使蒸發源接近 基板,如此基板溫度更容易受到蒸發源之影響,而無法兼 顧成膜速度之提高與成臈品質之提高。另夕卜,欲將蒸發源 離開基板’而適切維持基板溫度時,雖然成膜品質提高, 但是無效蒸汽增加,㈣速度變慢,仍然無法兼顧成膜速 度之提高與成膜品質之提高。亦即,上述線内式之有機虹 製造裝置在謀求成膜品質之提高之同時,不易縮短製造時 間’而無法期待生產效率之提高。 此外,上述線内式之有機EL製造裝置在進行有機el元件 成膜用之成膜室中,如在皮帶式之搬運裝置上,由於係連 續搬運基板來成膜,因此容易引起基板位置之位置偏差, 特別疋大型基板時,亦有基板本身翹曲之問題,而容易引 起成膜不良。 如上所述’上述線内式之有機EL製造裝置中,考慮量產 性時,存在成膜品質及生產效率等許多有待解決之問題。 99762.doc 1311895 曰$鑑於上述問題,本發明之目的在提供—種使成膜品質 提同,並且生產效率高之線内式有機EL製造裝置。 解決上述問題之本發明請求項1之線内式有機EL製造裝 置之特徵為具有: 數個處理室’其係可獨立控制環境氣體及真空度;及 搬運機構,其係連續搬運基板至前述數個處理室;
,-二過别述數個處理室中之特定處理,而在前述基板上形 成有機EL元件, +且具有料機構,其係具備形成有在前述基板上成膜之 薄膜圖案之遮罩’並且防止翹曲來保持前述基板, &前述搬運機構使用前述保持機構,連續搬運前述基板至 前述數個處理室。 藉由一體化構成圖案化用之遮罩與保持基板之保持機 可使保持機構具備基板之遮罩功能, 運遮罩單體至製造裝置,及在製造裝置安裝遮罩至基板 等’可縮短關於遮罩之步驟時間。另夕卜,由於係藉由保持 機構來保持基板,因此可防止因本身重量等造成基板之魅 曲。 、上述問題之本發明請求項2之線内式有機eL製造裳 置之特徵為具有: 數個處理至,其係可獨立控制環境氣體及真空度;及 搬運機構,其係連續搬運基板至前述數個處理室; 經過前述數個處理室中之特定處理 成有機EL元件, 而在前述基板上形 99762.doc 1311895 成機Γ保持機構,其係具備形成有在前述基板上 第二佯拉嫌膜圖案之遮罩,防止翹曲來保持前述基板; 極薄膜ώ 備开/成有在則述基板上成膜之電 μ之遮罩,防止翹曲來保持前述基板;及 更換機構,苴係在梦w 述基板至… 部自前述第一保持機構更換前 极至則述第二保持機構; 鈿述搬運機構使用前述一二 構,遠績地〇 帛保持機構或則述第二保持機 連續搬運别述基板至前述數個處理室。 有機薄膜成膜之處理室與將電極薄膜成膜之處理 機構更換基板至第二保持機構。 保持 解決上述問題之本發明請求項3之線内式有機EL製造裝 置之特徵為具有: 數個處理至,其係可獨立控制環境氣體及真空度;及 搬運機構,其係連續搬運基板至前述數個處理室; ㈣前述數個處理室中之特定處理,而在前述基板上形 成有機EL元件, 有差動排氣。卩,其係設於彼此真空度不同之處理室 間’可獨立控制各處理冑中之真空度中間之真空度, 前述搬運機構在前述真空度不同之處理室間,經由前述 差動排氣部連續搬運前述基板。 如藉由在將有機薄膜成膜之處理室與將電極薄膜成膜之 處理室間設置差動排氣部,$需要閘閥,無須使基板停止 即可連續進行搬運,可有效進行基板之搬運。另外,由於 99762.doc -10- 1311895 係經由差動排氣部來連接各處理室 度不影響彼此之處理室。 纟處理室之真空 解決上述問題之本發明請 置之特徵為具有: 項4之線内式有機EL製造裝 數個處理室,其係可獨立 搬運機構,其传、… 希“境氣體及真空度;及 基板至前述數個處理室; 成有機EL元件,_之特疋處理’而在前述基板上形 亡=抑制前述基板之溫度上昇之冷卻構件, 月】达搬運機構連同前述 述數個處理室。 卩構件連續搬運則述基板至前 構件係散熱性佳者或熱容量大者,“自基❹ 搬=::Γ,抑制基板溫度上昇,即使在提高基板: =度狀態下,仍可對基板連續成膜,可謀求生產效率 解決上述問題之本發明請求項 置之特徵為具有差動排氣部:内:有機:… 處理室間,可獨立控制各處理室中 前述搬運機構在前试吉* 、二又間之真空度, 述差動排、 U不同之處理室之間,經由前 動排使用前述保持機構 -述第二保持機構連續搬運前述基板。'料機構成 置問題之本發明請求項6之線内式有機EL製造裝 置t特徵為·•將前述抑 述保持機構幵之冷卻構件設於前 別攻第一保持機構或前述第二保持機構, 99762.doc 1311895 則述搬運機構使用前述保 • 冑述第二保持機構連續搬運此則述第-保持機構或 • 解決上述問題之本發明抹+ 4数個處理至。 4之特徵為.將前、十]…項7之線内式有機EL製造裝 ' + 述抑制基板溫度上昇之… 述保持機構、前述第_ 昇之冷部構件設於前 前述搬運機構在前述真〜或前述第二保持機構, 述差動排氣部,使用前述之f理室之間,經由前 •二保持機構連續搬運前述基板。《料機構或 解決上述問題之本發 -f之特徵為:設置洗淨機二:之線二式有機EL製造裳 •述第-保持機構或前述第二保持::…持機構、前 而可再利用前述保持機 二保持機構。 別述第—保持機構或前述第 解決上述問題之本發 置之特徵為· H 明求項9之線内式有機EL製造裝 ⑩㈣機構、前述第—保持機構或前:其係進-别述 因此,即使進行連續搬’ ’、寺機構之定位。 機構、第-保持機構 之搬運機構中,仍可提高保持 亦可提高基板本身之定&精確度,因此 料上㈣t 確度,而可防止成臈不良。 解’、上:s4問通之本發 士主 置之特徵為:具有内式有機虹製造裝 前述第-保持機構Γ/、係可收容數個前述保持機構、 、機構或則述第二保持機構, 使用前述匣各,太杖^ _ 並且一十、/ 疋之處理室令進行真空度大之變更, 並且别述搬運機構於直* 笑尺 真工度變更後’自前述Ε盒連續搬 99762.doc •12· 1311895 運則述保持機構、前述第— 如扁 呆持機構或如述第二保持機構。 收容數個,、封用之處理室間之處理室,將 收夺數個基板之匣盒周圍之一 切換。 具二度進仃南真空度/大氣壓 解决上述問題之本發明請 置之辟μ — 項11之線内式有機EL製造裝 特徵為.前述差動排氣部 排氣部。 筒更阿真工度之其他差動 由在將有機薄膜成膜之處理室與將電極薄膜成模之 二::間等’彼此不欲影響環境氣體之處理室間,除設 八 間真二度之差動排氣部之外,另外設置更高真空 度之差動排氣部,久處_ 「又置更同具工 各處理至之環境氣體不致影響彼此之處 理室。 ^上述問題之本發明請求項12之線内式有機此製造裝 ,為在別述基板與舸述冷卻構件之間設置熱傳導 ^件’其係將來自前述基板之熱傳導、擴散至前述冷卻構 件。 熱傳導構件如使用具有熱傳導性,且可適應接觸面之表 面粗度之柔性素材。 解決上述問題之本發明請求項13之線内式有機肛製造裝 置之特徵為:前述冷卻構件可再利用。 \述問題之本發明凊求項丨4之線内式有機製造裝 f之特徵為··設置輻射熱吸收機構,其係吸收前述基板及 J述V部構件,或是來自前述基板或前述冷卻構件之輻射 熱。 99762.doc -13- 1311895 如賴射熱吸收機構藉由使用氦冷凍機之冷凍面,吸收來 自基板、冷卻構件之輻射熱,抑制基板之溫度上昇,即使 在提局基板之搬運速度狀態下,仍可對基板連績成膜,而 可謀求生產效率之提高。 解決上述問題之本發明請求項i 5之線内式有機el製造裝 置之特徵為:前述搬運機構係搬運速度一定者, 並且分別控制數個處理室中之薄膜之成膜速度。
由於本發明係將保持基板之保持機構(托架)與基板用之 遮罩予以一體化,並使用托架來保持基板,因此可以簡單 之構造防止基板翹曲,並且可使托架具備遮罩功能。藉由 防止基板翹曲,可減少因基板翹曲造成成膜不良,另外, 藉由使托架具備遮罩功能,可縮短關於遮罩之步驟時間, 可謀求生產效率之提高。此外,依成膜之薄膜,預先將形 成有不同圖案之遮罩安裝於托架上,#由在製造裝置内更 換托架,可在基板上形成不同圖案之薄膜。 由於本發明在不同真空度 之中間壓力室,因此無須在不同真空度之處理室間設置 閥’此外亦不需要壓力調整,不使基板停止即可進行連 搬運。因而搬運速度之高速化容[而可提高生產效率 由於本發明使用經由熱傳導構件之冷卻構件及吸收輕 熱之輻射熱吸收機構等,因此可抑制基板之溫度上昇田 以高速之搬運速度連續進行成膜,可提高生產效 n 藉由抑制基板之溫度上昇,可拉近基板與蒸發源之距離 可減少無效之蒸汽量,而減少蒸發材料之浪費。 99762.doc 1311895 由於本發明在搬運機構中設置托架之定位構件,因此可 提高進行成膜之處理室之定位精確度,可防止發生成膜不 良,而提南生產效率。 由於本發明除裝置之搬入部及搬出部之外,亦可於裝置 内部之壓力變化大之處理室間使用可收容數個托架之匣 盒’因此藉由一起變更匣盒及數個基板與托架周圍之真空 度’可縮短真空度變更時之調整時間,減少多餘之等待時 間,充分發揮成膜用之處理室及密封用之處理室等之處理 能力,而謀求生產效率之提高。 【實施方式】 本發明之線内式有機el製造裝置係為了提高其量產性, 著眼於成膜臈質及生產效率,而著力於基板搬運相關之部 分及基板溫度相關之部分者。圖丨至圖9顯示其具體之數種 實施形態,特別是將基板搬運效率相關部分顯示於圖丨〜圖 4,將基板溫度相關部分顯示於圖5〜圖8,並將裝置全體之 構造顯示於圖9 ’來進行詳細說明。 圖1及圖2顯示本發明之線内式有機EL製造裝置使用之托 架之實施形態例。 另外,圖1(a)、圖2(a)係基板及托架之立體圖,圖1(b)、 圖2(b)分別係Ε1⑷之A_A線箭頭方向❹_,及圖2⑷之 B-B線箭頭方向剖面圖。 如圖1所示,托架1A(保持機構)係具有:L字形剖面之框 架3a’其係自其下方側㈣矩形狀之基板以之周緣部;及 保持構件4a,其係在框架3&之中央部配置成十字狀,並自 99762.doc -15- 1311895 其下方側保持基板2a;在形成框架3a與十字狀之保持構件 4a之開口部分’配置形成有成膜之薄膜圖案之遮罩5a者。 . 另外,保持構件乜並不限定於十字狀,如在中央亦可為j - 條,亦可為多數條之組合。托架1A自托架1A之上方設置i 片基板2a在圖1中之基板2 a之下面側形成遮罩“之圖案, 圖1之例係在1片基板2a上形成4片部分之有機£1^元件之薄 膜保持構件4a及遮罩5a之圖案藉由有機EL元件之大小來 • 決定,並自1片基板2a,依其大小而形成4片、6片、8片· · · 之有機EL元件。亦即,托架1A係對應si片基板^者且 藉由框架3a與保持構件4a而保持i片基板“之周緣部,防止 目本身重量等而翹曲’並且藉由遮罩5a提供成膜至基板2& 之圖案之遮罩功能者。另外,遮罩5a與保持構件4&成為一 體,而位於與基板2a接觸側。 另外,如圖2所示,托架1B(保持機構)係平面配置數個(圖 2中為4個)自#下方側保持矩形狀之基板2b周緣部之L字形 φ剖面之框架3b而予以一體化者,且係在各框架卿成之開 口部分配置形成有成膜之薄膜圖案之遮㈣者。托架喝 自托架之上方設置4片基板2b,在圖2中之基㈣之下面 1成遮罩5b之圖案,4片基板2b分別形成有機EL元件之薄 膜。亦即,托架1B係對應於切割之基板以者,並藉由框架 3b保持切割之基板2b之周緣部,防止因本身重量等造成之 2曲’並且藉由遮㈣提供對基板2b成膜之圖案之遮罩功 月b者。 另外,為了更有效抑制基板2&,21)之翹曲,亦可設置自基 9V762.doc -16- 1311895 板2a,2b之上方側擠壓基板2a,2b之擠壓構件,不過圖}及圖 2中並未顯示。如後述之圖7中之冷卻板13係亦發揮擠壓構 件之功能者。另外,亦可使用靜電卡盤、磁鐵卡盤,在框 架3a,3b與擠壓構件之間,以夾著基板2a,2b之方式保持。 本發明之線内式有機EL製造裝置(以下簡稱為本製造裝 置)係搬運基板而進行成膜者。藉由使用上述托架ia,1B搬 運基板’可防止基板之鍾曲來搬運而進行成膜,可防止因
基板翹曲造成之成膜不良。另外,依薄膜之圖案,預先準 備具有形成有不同圖案之遮罩之托架時,可形成各個不同 之薄膜圖t 〇如本製造裝置藉由分別使用具有有機薄膜用 t遮罩之托架保持機構)’與具有電極薄膜用之遮罩 之托架B(第二保持機構),可形成各個不同之薄膜圖案。另 外,如後述之圖9所示,藉由設置進行托架洗淨之洗淨室24, 29(洗淨機構)’洗淨制後之托架並使其巡迴,可再利用托 架可謀求生產效率之提高。另外,藉由將托架與遮罩予 以-體化,可省略遮罩單體之個別搬運,+需要另外設置 遮罩用之搬運裝置等。 托架1在圖3所示之g各6中收交愈·伽. ι甲收谷數個,並連同匣盒ό設置 (如參妝圖9之搬入部El)等。匣盒6係在具有 開口部之箱狀框體之内邦μ菩細冲上丈 體之内。卩6又置相對配置之數個溝部6a,藉 由在一對溝部6a中插入1個托牟央μ 幻托朱1來δ又置,而將數個托架【收 容於1個S盒6内去。^ 此,精由在裝置搬入口等需要大幅 切換環境氣體(真空卢)轟 ^琢所使用可收容數個托架1之匣盒 6’可以-次之壓力控制對數個托架,亦即對數個基板調整 99762.doc -17- 1311895 至希望之環境氣體(壓力),可噂、卡 J 了謀求縮知環境氣體(壓力)調整 時間。另外,一旦切換成希望厭 取可1之壓力(環境氣體)時,不致影 響成膜室等之環境氣體(真空声、, 、 沒)而可自匣盒ό依序取出托 架1,進行連續搬運,並進形成 心成膜處理’因此可減少多餘之 搬運時間及環境氣體(真空度)之調整時間等,可提高生產效 率。如在圖9中,於空氣/真空切換室仏,咖(空氣/真空之 切換)、真空/氮(n2)切換室31(真空/氮之切換)及氣/空氣切 換室35a’35b(氮/空氣之切換)等使用£盒6,可使數個托㈣ 連同匣盒6通過不同環境氣體(真空度)之處理室間。 圖4顯示本製造裂置使用4搬運裝置之一種實施形態。 另外,圖4(a)係自側面方向觀察成膜室中之搬運裝置之概 略圖’圖4(b)係圖4⑷之c_c線箭頭方向剖面圖。 托架1A係具有防艇曲功能及遮罩功能者,#錢用設於 搬運裝置7(搬運機構)之定位構件8a,❿進行搬運,亦起作 用作為提高搬運裝置7上之位置精確度之導引(guide)者。具 體而言,搬運裝置7具有:直線狀配置之2條皮帶乃,及驅 動皮帶7a之數個滾筒7b,並在2條皮帶7a上之特定位置配置 定位構件8a,8b。定位構件8a係進行托架丨八之行進方向定位 者,定位構件8b係進行與托架1A之行進方向垂直之方向定 位者。皮帶7a及滾筒7b配置於不影響基板之成膜部分之位 置’具體而§係配置於耗架1A之框架3a之部分,而可連同 托架1A搬運基板而支撐者。而後,於進行成膜時,係以成 膜之薄膜膜厚沿著基板之搬運方向均一地形成之方式,以 一定之特定速度使托架丨八移動。 99762.doc -18- 1311895 如此,藉由定位構件8a,8b正確進行搬運時之托架以之 定位,亦正確進行托架1A具有之基板之定位。亦即,即使 . 對配置於托架1A之下方側而供給蒸發材料之蒸發源9,成膜 之定位精確度亦提高,而可減少因位置偏差造成成膜不 良。另外,本實施例中之構造,僅在皮帶乃側設置凸狀之 定位構件8a,8b,不過,亦可在托架1A侧設置定位構件8a,8b 對應之凹部,藉由彼此嵌合來進行定位,反之,亦可在皮 • 帶7a側設置凹部,在托架丨八侧設置凸部,藉由彼此嵌合來 進行定位。另外,適切配置滾筒,且不使托架1A滑動,可 保持滾筒與托架丨人間之摩擦力時,亦可以滾筒式輸送機, 而非皮帶式輸送機來搬運托架1A。 線内式有機EL製造裝置為了提高生產效率,係構成在】 個真空室内直線狀配置供給薄膜之蒸發材料之蒸發源,在 各瘵發源之上方連續搬運基板而成膜。先前之線内式有機 EL製造裝置因採上述構造,基板溫度容易上昇,生產效率 φ 與成膜品質存在權衡選擇(trade off)之關係。因此,本製造 裝置即使在連續搬運基板進行成膜之狀態下,藉由抑制基 板之溫度上昇,而形成良好之成膜狀態,使生產效率提高。 其具體之實施形態例顯示於圖5及圖7。 圖5係顯示配置有數個蒸發源9之真空容器内部之概略 圖0 •如圖5所示’本製造裝置為了抑制基板温度之上昇,而具 .備吸收來自基板及後述之冷卻板12(參照圖7)之輻射熱之低 溫面板10a,10b(輻射熱吸收機構)。低溫面板10a,10b係以 99762.doc -19- 1311895 #、托架1兩面之方式平行配置於不妨礙自蒸發源9供給之 祭發:料蒸鑛之空間中者,並依蒸發源9數量,而沿著搬運 、置《又置數個。低溫面板i 〇a,係與低溫《等之内部使用 之低温面板相同者’且錢料錢等之冷㈣之低溫面 者。 一 在一二谷器之内部,由於基板之周圍係真空,因此幾乎 不存在媒介來自基板之熱傳導之氣體。因&,本發明使用 可低溫(-2(TC〜_200t )維持之低溫面板丨〇a,丨⑽,藉由積極 吸收來自基板等之輻射熱(冷輻射)來防止基板之溫度上昇。 圖6 .、肩示不使用與使用低溫面板時之基板溫度變化。 其係玻璃基板之初期溫度為25<t,低溫面板1〇a, 1〇b之溫 為20〇C,蒸發源9之溫度為3〇〇亡,基板之搬運速度為 5.8 mm/sec,而成膜次數連續進行12次者。 攸圖6(a)之不使用低溫面板時與圖6(b)之使用低溫面板 比較可知藉由低溫面板之冷卻,而大幅抑制基板溫 度之上昇。 圖7係顯示在圖1所示之托架1A上設置熱傳導構件及冷卻 構件之構造剖面圖。 圖7所示之托架’係在圖1所示之托架1A上設置:柔性構 ls•物11(熱傳導構件)及冷卻板12(冷卻構件)者。具體而言, 係構成在托架丨A保持之基板2a上配置柔性構造物丨丨,進一 步在柔性構造物丨丨上配置冷卻板12。此等柔性構造物 冷卻板12配置於與基板2a之成膜面相反側之面。另外,如 可充刀確保自基板2a至冷卻板12之熱傳導性時,則無須設 99762.doc -20- 1311895 置柔性構造物11 ^ 上述構造係藉由積極對 … 板2側進行來自基板2a之熱 傳導及熱擴散,來抑制其 师削基板2a之溫度上昇者。呈, A ^ , 枓構成冷卻板丨2,使基板2a與 冷部板12接觸,而藉由勒屑 ^ β L 由熱傳導及熱擴散散發基板2a之溫 度,防止基板2a本身之溫度上 , 又上丹另外,亦可形成將冷卻 板12本身之體積擴大箄, • 而擴大冷部板丨2本身熱容量之構 以’使包含冷郃板12之基板2a側之溫度不易上昇。再者, 為了進-步提高冷卻板12與基板2a之熱傳導性,亦可將彼 此接觸面之密合性佳之柔性構造物u夾在冷卻板Η與基板 2a之間。柔性構造物1Un使用謂、石墨板及碳板等。另 外,即使熱傳導率約為〇·2 w/(m· κ),只要係在真空中脫 氣1少,而與基板之密合性佳者,亦可用作柔性構造物, 如亦可使用凝膠狀者。 本製造裝置於搬入基板2a之前,預先將冷卻板12安裝於 基板2a上’進行基板2a之成膜及密封處理後,於搬出時, 自基板2a上取下。此時’曾使用過之冷卻板12冷卻至約2〇 °C ’而可再利用。另外’亦可在本製造裝置之内部,於成 膜前將冷卻板12安裝於基板2a上,於成膜後自基板2a上取 下冷卻板12。此時,只要曾使用過之冷卻板12可在本製造 裝置内冷卻,亦可使冷卻板12在裝置内巡迴再利用。 圖8顯示在基板與冷卻板之間不夾著與夹著柔性構造物 時之基板之溫度變化。 其係玻璃基板之初期溫度為25 °C,柔性構造物11(矽膠) 99762.doc •21 1311895 之厚度為1 mm,冷卻板12(銅)之厚度為5 mm,蒸發源之溫 度為300°C,基板之搬運速度為5.8 mm/sec,而成膜次數連 續進行12次者。 從比較圖8(a)之不夹著柔性構造物時,與圖8(b)之夾著柔 性構造物時之比較,可知經由接觸性佳之柔性構造物丨丨進 行自基板2a至冷卻板12之熱傳導及熱擴散,而大幅抑制基 板恤度之上昇。另外,藉由併用圖5所示之低溫面板丨〇a, l〇b,如圖8(c)所示,可更有效地抑制基板溫度之上昇。 如此,藉由熱輻射之吸收及使用熱傳導之基板之冷卻, 可抑制基板之溫度上昇,因此即使基板之搬運速度在高速 狀態下,仍可連續進行成膜,可提高生產效率。另外,由 於可抑制基板之溫度上昇,因此可縮短基板與蒸發源之距 離’而在減少無效蒸汽量狀態下進行成膜,而可減少蒸發 材料之浪費。 圖9顯示本製造裝置之概略平面圖。 另外圖中之「P」表示真空泵,「N2」表示氮之供給線。 如圖9所示’本製造裝置係為了在線内形成FpD中之有機 ELtl件而構成者,且係具有:可獨立控制環境氣體及真空 度之數個處理室’及連續搬運基板至數個處理室之搬運裝 置,而在各處理室中,於不同條件下,可依各個目的執行 特定處理之構造者。 本製造裝置藉由儘量減少閘門2 1之設置位置,可減少開 關閑門21之時間,並減少真空度之調整時間,因而不使基 板停止’仍可連續搬運基板至各處理室。具體而言,藉由 99762.doc -22- 1311895 僅在與大幅改變環境氣體(真空度)之處理室之連接部分設 置間門21 ’其他部分設置為了形成中間壓力而進行差動排 氣之差動排氣部D1〜D4,來保持各處理室間之壓力差。 閘門21設於環境氣體(真空度)大幅改變之處理室前後, 差動排氣部D1〜D4對於連續搬運基板者,在設有閘門21之 處理室前後,於變更成特定之環境氣體(真空度)之前,停止 基板之搬運。因此,本製造裝置藉由使用可收容數片保持 基板之托架之匣盒6’可連同匣盒6切換數片托架丨及基板之 周圍環境氣體。g盒6周圍之環境氣體在特定之處理室中進 行空氣/真空、真空/氮、氮/空氣等變更。另外,藉由使用 匿盒6,可連續搬運環境氣體切換後之基板,可謀求提高生 產效率。特別是藉由在裝置内部之密封室33前後之處理室 中使用匣盒6,可一起變更環境氣體,一起移動托架丨及基 板,縮短環境氣體變更用之調整時間,減少多餘之等待時 間’而防止成膜步驟及密封步驟之處理能力降低。 差動排氣部D1〜D4之空間藉由具有可通過托架之開口部 之隔牆而形成。為了保持鄰接於差動排氣部Dl,D2, D4,而 具有不同真空度之各處理室間之壓力差,差動排氣部D1, 2, D4中之真空度控制在各處理室之真空度中間之真空 度。差動排氣部D1,D2, 〇4之真空度,藉由使用將差動排氣 部Dl,D2, D4予以排氣之真空泵及圖上未顯示之平衡用之 氮,而控制在適切之真空度。差動排氣部D3係基於與差動 排氣部Dl,D2, D4不同目的而設置者,具體而言,係為了避 免各處理至間之環境氣體彼此影響,而控制在比鄰接之各 99762.doc -23 - 1311895 處理室之真空度更高真空度之壓力。 本製造裝置藉由在電漿洗淨室24-有機EL成膜室25間,及 電漿洗淨室24-托架搬運室27間設置差動排氣部D1,D2,來 ,保持兩處理室間之真空度之壓力差。如電漿洗淨室24之壓 力為P1,有機EL成膜室25之壓力為P3,於P1>P3時,藉由 設置成為PI > P2> P3之壓力P2之差動排氣部D1,容易保持 Pl,P3之壓力,而不需要處理室間之閘閥。同樣地,由於托 B 架搬運室27之壓力係與有機EL成膜室25之壓力相同之壓力 P3,因此藉由設置成為ρι>Ρ4>Ρ3之壓力P4之差動排氣部 D2,容易保持pi, P3之壓力,而不需要處理室間之閘閥。 另外’藉由在有機EL成膜室25-電極成膜室28間設置比兩 處理室之真空度高真空度之差動排氣部D3,可避免兩處理 室之無效蒸汽彼此進入。如電極成膜室28之壓力為P7,藉 由設置成為P7> P3 > P5之壓力P5之差動排氣部D3,不影響 彼此處理室之環境氣體’而不需要處理室間之閘閥。再者, • P7與P5之壓力差大情況下’將成為P7 > P6 > P5之壓力P6之 差動排氣部D4,亦即將鄰接之電極成膜室28及差動排氣部 D3之各真空度中間之壓力p6之差動排氣部串聯於差動 排氣部D3來設置,則容易保持兩處理室間之真空度之壓力 差。 如此,藉由设置差動排氣部D1〜D4,不需要設置閘門21, . 不使基板停止而可連續搬運,生產效率提高。 . 以下說明本製造裝置中之基板移動S1〜S3,匣盒6之移動 K1~K3及托架1之移動H1,H2。 99762.doc -24- 1311895 另外,係將預先安裝形成有有機EL元件圖案之遮單之托 架设為托架A(第一保持機構),將預先安裝形成有電極圖案 之遮罩之托架設為托架B(第二保持機構),來進行以下之說 明。 基板本身依Sl,S2, S3之順序移動,在其移動之過程中, 在有機EL成膜室25中形成有機EL元件之薄臈,在電極成膜 室28中形成電極,並在密封室33中進行密封,來製造有機 EL元件之FPD。
在托架A上設置基板。而後,將具有基板之數個托架a收 容於匣盒6中,並設置於搬入部E1。本製造裝置啟動時,打 開閘閥21a’移動£盒6至空氣/真空切換室$關%閘闊仏 後’在空氣/真空切換室22a中藉由真线自空氣排氣至特 定真空度。達到特定真空度時,打開閘閥加,移動匿盒6 至E盒待機室23。托架歧同基板自難盒待機室23連續搬 運至遮罩托架更換室26,自£盒6搬出全部之托架A後,將 使用後之托架A ’ 將無基板之空㈣A送回空的匣盒 6,而後,匣盒6連同空的托架A移動至空氣/真空切換室 透。而後,關閉閘閥21c後,空氣/真空切換室咖恢復成 大氣壓’打開閘閥21愤’搬出g盒6至搬出部E2。 如圖9之®盒移動範圍幻所示,由於使用於基板及托架a 匣现6以僅在特定區域内巡迴之方式移動,因此使 用至^兩個以上之數個匣盒6時,纟空氣/真空切換室 22b中肖由獨立進行空氣/真空之切換,可減少空氣/真空 切換之時間’而提高生產效率。#外,在自匣盒待機室23 99762.doc 1311895 連續搬運數個托架A之間,於空氣/真空切換室22a中,將其 次之匣盒6之環境氣體切換成真空時,可自空氣/真空切換 室22a至昆盒待機室23依序移動昆盒6,而可將收容於不同 匣盒6之數個托架A連續地搬運至本製造裝置内部之處理室 内。 從移動至E盒待機室23之£盒6,依序搬運托架a至本製 造製置内部之處理室。首先,移動至電漿洗淨室24(洗淨機 • 構),基板之成膜面連同安裝於托架A之遮罩使用氧電漿洗 淨。洗淨後之托架A通過差動排氣部〇1,依序搬運至有機 成膜至25,而形成數層之有機薄膜。由於有機£[成膜室 25具有如圖4所示之搬運裝置,如圖$所示之低溫面板及如 圖7所不之冷部板等,因此可在無位置偏差情況下搬運托架 A,並且可將基板之溫度上昇抑制在特定範圍内而進行成 膜。有機EL成膜室25藉由將搬運裝置之搬運速度設定在一 定之特定速度,而適切設定各個有機薄膜之成膜速度,來 籲形成特定厚度之有機薄膜。另外,有機EL成膜室25依成膜 之薄膜疊層數及其目的而設有數個蒸發源等。 在有機EL成膜室25中形成有機薄膜後,具有基板之托架 A依序搬運至遮罩托架更換室26(更換機構),此時僅基板自 托架A取出,而更換成托”。亦,將保持基板之托架自 有機EL元件用之托架A而更換成電極用之托架B。 Μ之托架A通過托架搬運室2 7,並經由差動排氣部 ,D2,在電衆洗淨室24中洗淨後,依序送回以待機室以之 匡盒6中。送回各最大搭載數之托架八至£盒6時,昆盒6移 99762.doc -26- 1311895 動至空氣/真空切換室22b,於切換成空氣後搬出至搬出部 E2。如此,托架A如圖9之托架之移動軌跡m所示,連同匣 盒6自搬入部E1搬入,經過數個處理室後,在電漿洗淨室24 中洗淨,並連同匣盒6送回搬出部E2。由於托架A在電漿洗 淨至24中洗淨,因此可再利用,如以匣盒待機室23等構成 可僅將基板設置於托架A時,只須僅將基板設置於本製造裝 置之搬入部E1即可。 另外,電極用托架B在不設置基板狀態下,數個收容於匣 盒6中,而設置於搬入部E3。本製造裝置啟動時,打開閘閥 21 g ’將匣盒6移動至空氣/真空/氮切換室35a,並關閉閘閥 而後,在工氣/真空/亂切換室35a中,藉由真空果自空 氣至特定真空度地進行排氣,達到特定真空度時,供給氮, 而切換成氮環境氣體。而後,打開閘閥21h,移動匣盒6至 閘盒待機室34。自匣盒6搬出全部之托架8後,將使用後之 托架B送回空的匣盒6中。此時,在托架B上形成有機EL元 件,而設置有經過密封處理之基板。而後,匣盒6連同基板 及托架B移動至空氣/真空/氮切換室3 5b,關閉閘閥2丨丨後, 空氣/真空/氮切換室35b恢復成大氣壓。空氣/真空/氮切換 室35b恢復成大氣壓後,打開閘閥21』,匣盒6連同基板及托 架B搬出至搬出部E4。 如圖9之ϋ盒移動範圍K3所示,使用於托架b之搬入之匣 盒6亦以僅巡迴特定區域内之方式移動。因此,使用至少兩 個以上之數個匣盒6時,於空氣/真空/氮切換室35a,35b中, 藉由獨立地進行空氣/真空之切換,可減少空氣/真空/氮之 99762.doc -27- 1311895 切換時間,可提高生產效率。另外,自閘盒待機室34連續 搬運數個托架B之間,於空氣/真空/氮切換室35a中,將其次 之匣盒6之環境氣體切換成氮時,可自空氣/真空/氮切換室 35a依序移動匣盒6至閘盒待機室34,可將收容於不同匣盒6 之數個托架B連續地搬運至本製造裝置内部之處理室内。 托架B如圖9之托架之移動轨跡H2所示,自搬入部E3連同 匣盒6搬入,自移動至閘盒待機室34之匣盒6依序搬運至處 理至内,而後,連同匣盒6送回搬出部E4。本製造裝置内部, 托架B自移動至開盒待機室μ之匡盒6通過密封處理室μ, 而移動至匣盒待機室32之匣盒6。而後,打開閘閥2if,連 同匣盒6將托架B移動至真空/氮切換室31,關閉閘閥2打 後,使用真空泵自氮環境氣體切換成特定真空度。到達特 定之真空度後,打開閘閥21 e,連同匣盒6將托架B移動至匣 盒待機室30。而後,托架B自移動至匣盒待機室3〇之匣盒6 依序搬運,於托架洗淨室29(洗淨機構)中與遮罩一起洗淨, 通過差動排氣部D4,D3,而搬運至托架更換室%。 於托架更換室26中,更換成托架B之基板連同托架6通過 差動排氣部D3, D4,依序搬運至電極成膜室28。電極成臈 室28形成有機El元件配線之金屬箔膜。形成有金屬薄臈之 基板連同托架B依序送回匣盒待機室3〇之匣盒6。最大搭載 數之托架B送回g盒6時,打開閘閥21e,連同g盒6將托架b 移動至真空/氮切換室31,關閉閘閥21e後供給氮,自真空 環境氣體切換成氮環境氣體。而後,打開閘閥21f,連同匣 盒6將托架B移動至匡盒待機室32,並關閉閘閥2if。而後, 99762.doc • 28- 1311895 自移動至匣盒待機室32之匣盒6 ’將托架B依序搬運至密封 處理室33,使用密封材料,進行有機EL元件之密封。密封 後’托架B依序搬運至閘盒待機室34之匣盒6,最大搭載數 之托架B送回匣盒6時,打開閘閥2 1 i,連同匣盒6將托架b 移動至空氣/真空/氮切換室3 5b。關閉閘閥2 1 i後,將空氣/ 真空/氮切換室35b恢復成大氣壓,而後,打開閘閥2u,連 同匿盒ό將托架B搬出至搬出部E4。此時,連同托架b形成 有機EL兀件,進行過密封處理之基板,亦即在有機El元件 之FPD完成狀態下搬出基板。 【圖式簡單說明】 圖l(a)-(b)顯示本發明之線内式有機el製造裝置使用之 托架一種實施形態之圖。 圖2(a)-(b)顯示本發明之線内式有機El製造裝置使用之 托架其他實施形態之圖。 圖3係顯示收容圖丨,2所示之托架之匣盒之圖。 圖4(a)-(b)顯示本發明之線内式有機EL·製造裝置使用之 搬運裝置一種實施形態之圖。 圖5係顯示本發明之線内式有機el製造裝置使用之輻射 熱吸收機構一種實施形態之圖。 圖6(a)-(b)係比較圖5所示之輻射熱吸收機構效果之圖。 圖7係顯示本發明之線内式有機EL製造裝置使用之冷卻 構件、熱傳導構件一種實施形態之圖。 圖8(a)_(c)係比較圖7所示之熱傳導構件效果之圖。 圖9係顯示本發明之線内式有機EL製造裝置一種實施形 99762.doc •29- 1311895 邊之平面圖。 圖10係先前之簇團型之有機EL製造裝置之概略圖 【主要元件符號說明】
1,1A,1B 托架 6 匣盒 8a, 8b 定位構件 10a, 10b 低溫面板 11 柔性構造物 12 冷卻板 Dl, D2, D3, D4 差動排氣部 21a、21b、21b、21d、21e 、閘閥 21f、21h、21i、21j 22a ' 22b 空氣/真空切換室 23 、 30 、 32 、 34 匣盒待機室 24 > 29 洗淨室 25 有機EL成膜室 26 ' 27 托架更換室 28 電極成膜室 31 真空/氮(N2)切換室 33 密封室 35a、35b 氮/空氣切換室 ΚΙ、K2、K3 昆盒移動範圍 E3 搬入部 E4 搬出部 SI 〜S3 基板移動範圍 HI、H2 托架之移動軌跡 99762.doc • 30·

Claims (1)

  1. 修(更 1311895 ”「眼 ^^06283號專利申請案|98七4 • 十文申凊專利範圍替換本(98年1 了- 十、申請專利範圍·· 種線内式有機電激發光製造裝置’其特徵為具有: 數個處理至’其係可獨立控制環境氣體及真空度;及 搬運機構,其係連續搬運基板至前述數個處理室; / 經過前述數個處理室中之特定處理,*在前述基板上 形成有機電激發光元件, 且。有保持機構,其係具備形成有在前述基板上成膜 之=膜圖案之遮罩,並且防止輕曲來保持前述基板, 月J述搬運機構使用剛述保持機構,連續搬運前述基板 至前述數個處理室。 2. 鑛 一種線内式有機電激發光製造褒置,其特徵為具有: 數個處理室,其係可獨立控制環境氣體及真空度;及 搬運機構,其係連續搬運基板至前述數個處理室; 經過前述數個處理室令之特定處理,而在前述基板上 形成有機電激發光元件, 上=有:Γ持機構,其係具備形成有在前述基板 板; ’膜圖案之遮罩,防幼曲來保持前述基 第二保持機構,其係具備形成 電極薄臈圖案之遮罩,防止翹 月板上成膜之 更換機構,其係在裝置内部自 扳’及 前述基板至前述第二保持機構;L呆持機構更換 :述機構使用前述第—保持機構 機構’連續搬運前述基板至前述數個處理室。第-保持 99762-980117.doc 1311895 1311895 3. 一種線内式有機電激發光製造裝置,其特徵為具有·· 個處理室’其係可獨立控制環境氣體及真空度;及 運機構’其係連續搬運基板至前述數個處理室,· ::前述數個處理室中之特定處理,而在前述基板上 形成有機電激發光元件, 一:具有差動排氣部,其係設於彼此真空度不同之處理 —可獨立控制各處理室中之真空度中間之真空度, 4. :迷搬運機構在前述真空度不同之處理室間,經由前 逋差動排氣部連續搬運前述基板。 一種線内式有機電激發光製造裝置,其特徵為具有: 數個處理室,其係可獨立控制環境氣體及真空度·及 搬運機構’其係連續搬運基板至前述數個處理室; 形I,:,個處理室中之特定處理,而在前述基板上 死/成有機電激發光元件, f具有抑制前述基板之溫度上昇之冷卻構件, =搬運機構連同前料卻構件連續搬運前述 前述數個處理室。 至 5. 如μ求項1或2之線内式有機電激發光製造裝置,其中 2動排氣部’其係設於彼此真空度不同之處理i間:、 °立控制各處理室中之真空度中間之真空度, 6. 別述搬運機構在前述真空度不同之處理室 别述差動排氣部,使用前述保持機構、前述第—^由 構:前述第二保持機構連續搬運前述基板。’、夺機 如明求項1或2之線内式有機電激發光製造裴置,其中將 99762-980117.doc 丄311895 前:: 卩制:::度上昇之冷卻構件設於前述保持機構、 κ第-保持機構或前述第二保持機構, # =述搬運機構㈣前述保持機構、前 或-述第二保持機構連續搬運前述 :持機構 室。 丞取至則述數個處理 θ求項5之線内式有機電激發光製造裝置, 抑制基柘、,田电Θ ^中將刖述 板/皿度上昇之冷卻構件設於前述保持機槿A 第二保持機構或前述第二保持機構, Η述 A則述搬運機構在前述真空度不同之處理- :::動排氣部,使用前述保持機構、前述第—保持: 8 5别述第二保持機構連續搬運前述基板。 、 如1求項1或2之線内式有機電激發光製造裝置, 置洗淨機構,其係洗淨前述保持機構、前述第一:括設 構或前述第二保持機構, 保持機 而可再利用前述保持機#、前述第 第二保持機構。 弟#持機構或前述 如叫求項1或2之線内式有機電激發光製造裴 述搬運機構具有定位構件,其係進行前述 椹中= 述第一保持機構或前述第二保持機構之定位。、、别 如叫求項1或2之線内式有機電激發光製造 有匣盒,伤?ΓΙΑ·Α& 置其中具 ”係了收谷數個前述保持機構、 機構或前述第二保持機構, ㈣第-保持 使用前述匿金方姓 更, 纟特疋之處理室中進行真空度大之變 99762-9801I7.doc 1311895 並且别述搬運機構係於真 續搬運前述保持機構、前述第構:述E盒連 持機構。 寻機構或别述第二保 月求項3之線内式有機電激發光 、’、備更两真空度之其他差動排氣部。 • 式有機電激發光 =前述冷卻構件之間設置熱傳導構件,其= 則述基板之熱傳導擴散至前述冷卻構件。 13n^4之線内式有機電激發光製造襄置’其中前述冷 卻構件可再利用。 士明求項1至4中任_項之線内式有機電激發光製造褒 置’其中設置輻射熱吸收機構’其係吸收前述基板及前 述冷卻構件之輻射熱,或是來自前述基板或前述冷卻構 件之輻射熱。
    15 如請求項1至4中任—項之線内式有機電激發光製造裝 置,其中前述搬運機構係搬運速度一定者, 並且分別控制數個處理室中之薄臈之成膜速度。 99762-980117.doc
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI398533B (zh) * 2009-12-29 2013-06-11 Au Optronics Corp 蔭罩及其製作方法

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007149482A (ja) * 2005-11-28 2007-06-14 Konica Minolta Holdings Inc 有機el素子の製造方法
KR101200593B1 (ko) * 2006-02-17 2012-11-12 황창훈 유기소자 양산용 증착용 기판 이송용 롤러장치
JP2007328999A (ja) * 2006-06-07 2007-12-20 Tokyo Electron Ltd 発光素子の製造装置および発光素子の製造方法
JP5051869B2 (ja) * 2006-06-14 2012-10-17 東京エレクトロン株式会社 発光素子および発光素子の製造方法
JP5051870B2 (ja) * 2006-06-14 2012-10-17 東京エレクトロン株式会社 発光素子の製造装置および発光素子の製造方法
JP5280667B2 (ja) * 2007-11-08 2013-09-04 株式会社ジャパンディスプレイ 有機el表示装置の製造方法及び蒸着マスクのクリーニング方法
JP5185678B2 (ja) * 2008-03-31 2013-04-17 芝浦メカトロニクス株式会社 スパッタリング装置及び方法
TWI527145B (zh) 2009-11-19 2016-03-21 尼康股份有限公司 Guide member, substrate, substrate cassette, substrate processing device, guide connecting method, manufacturing method of display element, and manufacturing device of display element
JP2011127190A (ja) * 2009-12-18 2011-06-30 Showa Denko Kk インライン式成膜装置、磁気記録媒体の製造方法、及びゲートバルブ
JP5602483B2 (ja) * 2010-04-23 2014-10-08 パナソニック株式会社 発光モジュール及びそのモジュールを用いた照明器具
JP2015511989A (ja) * 2011-12-23 2015-04-23 ソレクセル、インコーポレイテッド 生産性の高い半導体の金属被覆及び相互接続の噴霧処理
JP2013159841A (ja) * 2012-02-08 2013-08-19 Tokyo Electron Ltd 成膜装置
JP6196078B2 (ja) * 2012-10-18 2017-09-13 株式会社アルバック 成膜装置
KR101341850B1 (ko) * 2012-10-24 2013-12-16 주식회사 선익시스템 유기 증착 마스크의 플라즈마 건식세정을 위한 시스템
JP5968770B2 (ja) * 2012-11-30 2016-08-10 長州産業株式会社 真空成膜装置
JP6814998B1 (ja) * 2019-12-25 2021-01-20 株式会社プラズマイオンアシスト プラズマ処理装置
KR20210083082A (ko) * 2019-12-26 2021-07-06 캐논 톡키 가부시키가이샤 성막 시스템 및 성막 방법
US20240057462A1 (en) * 2020-12-25 2024-02-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Manufacturing equipment of display device

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06173002A (ja) * 1992-02-26 1994-06-21 Nkk Corp イオンプレ−ティング装置
JP2001007507A (ja) * 1999-06-25 2001-01-12 Fujitsu Ltd リフロー装置
JP3683788B2 (ja) * 1999-08-11 2005-08-17 東京エレクトロン株式会社 加熱処理装置の冷却方法及び加熱処理装置
JP4343480B2 (ja) * 2001-02-08 2009-10-14 株式会社半導体エネルギー研究所 成膜装置及び発光装置の作製方法
JP4704605B2 (ja) * 2001-05-23 2011-06-15 淳二 城戸 連続蒸着装置、蒸着装置及び蒸着方法
JP2003171763A (ja) * 2001-12-07 2003-06-20 Sony Corp インライン式真空成膜装置およびその冷却制御方法
JP2003309167A (ja) * 2002-04-16 2003-10-31 Canon Inc 基板保持装置
US20030221620A1 (en) * 2002-06-03 2003-12-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Vapor deposition device
JP2005281784A (ja) * 2004-03-30 2005-10-13 Mitsubishi-Hitachi Metals Machinery Inc 基板の冷却構造

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI398533B (zh) * 2009-12-29 2013-06-11 Au Optronics Corp 蔭罩及其製作方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2005285576A (ja) 2005-10-13
TW200539740A (en) 2005-12-01
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