TWI253456B - A composition containing a cross-linkable matrix precursor and a poragen, and a porous matrix prepared therefrom - Google Patents

A composition containing a cross-linkable matrix precursor and a poragen, and a porous matrix prepared therefrom Download PDF

Info

Publication number
TWI253456B
TWI253456B TW088120449A TW88120449A TWI253456B TW I253456 B TWI253456 B TW I253456B TW 088120449 A TW088120449 A TW 088120449A TW 88120449 A TW88120449 A TW 88120449A TW I253456 B TWI253456 B TW I253456B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
patent application
ether
crosslinked
matrix
composition
Prior art date
Application number
TW088120449A
Other languages
English (en)
Inventor
Dennis W Smith Jr
Kenneth J Bruza
James P Godschalx
Edward O Shaffer
Paul H Townsend
Original Assignee
Dow Global Technologies Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dow Global Technologies Inc filed Critical Dow Global Technologies Inc
Application granted granted Critical
Publication of TWI253456B publication Critical patent/TWI253456B/zh

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08JWORKING-UP; GENERAL PROCESSES OF COMPOUNDING; AFTER-TREATMENT NOT COVERED BY SUBCLASSES C08B, C08C, C08F, C08G or C08H
    • C08J9/00Working-up of macromolecular substances to porous or cellular articles or materials; After-treatment thereof
    • C08J9/26Working-up of macromolecular substances to porous or cellular articles or materials; After-treatment thereof by elimination of a solid phase from a macromolecular composition or article, e.g. leaching out
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02107Forming insulating materials on a substrate
    • H01L21/02109Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates
    • H01L21/02112Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer
    • H01L21/02123Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer the material containing silicon
    • H01L21/02126Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer the material containing silicon the material containing Si, O, and at least one of H, N, C, F, or other non-metal elements, e.g. SiOC, SiOC:H or SiONC
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08LCOMPOSITIONS OF MACROMOLECULAR COMPOUNDS
    • C08L65/00Compositions of macromolecular compounds obtained by reactions forming a carbon-to-carbon link in the main chain; Compositions of derivatives of such polymers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02107Forming insulating materials on a substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02107Forming insulating materials on a substrate
    • H01L21/02109Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates
    • H01L21/02112Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer
    • H01L21/02118Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer carbon based polymeric organic or inorganic material, e.g. polyimides, poly cyclobutene or PVC
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02107Forming insulating materials on a substrate
    • H01L21/02109Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates
    • H01L21/02203Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates the layer being porous
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02107Forming insulating materials on a substrate
    • H01L21/02225Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer
    • H01L21/0226Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process
    • H01L21/02282Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process liquid deposition, e.g. spin-coating, sol-gel techniques, spray coating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/31Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to form insulating layers thereon, e.g. for masking or by using photolithographic techniques; After treatment of these layers; Selection of materials for these layers
    • H01L21/312Organic layers, e.g. photoresist
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08JWORKING-UP; GENERAL PROCESSES OF COMPOUNDING; AFTER-TREATMENT NOT COVERED BY SUBCLASSES C08B, C08C, C08F, C08G or C08H
    • C08J2365/00Characterised by the use of macromolecular compounds obtained by reactions forming a carbon-to-carbon link in the main chain; Derivatives of such polymers
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08LCOMPOSITIONS OF MACROMOLECULAR COMPOUNDS
    • C08L25/00Compositions of, homopolymers or copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and at least one being terminated by an aromatic carbocyclic ring; Compositions of derivatives of such polymers
    • C08L25/02Homopolymers or copolymers of hydrocarbons
    • C08L25/04Homopolymers or copolymers of styrene
    • C08L25/06Polystyrene
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08LCOMPOSITIONS OF MACROMOLECULAR COMPOUNDS
    • C08L2666/00Composition of polymers characterized by a further compound in the blend, being organic macromolecular compounds, natural resins, waxes or and bituminous materials, non-macromolecular organic substances, inorganic substances or characterized by their function in the composition
    • C08L2666/02Organic macromolecular compounds, natural resins, waxes or and bituminous materials
    • C08L2666/04Macromolecular compounds according to groups C08L7/00 - C08L49/00, or C08L55/00 - C08L57/00; Derivatives thereof

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Polymers & Plastics (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
  • Formation Of Insulating Films (AREA)
  • Manufacture Of Porous Articles, And Recovery And Treatment Of Waste Products (AREA)
  • Organic Insulating Materials (AREA)
  • Solid-Sorbent Or Filter-Aiding Compositions (AREA)
  • Addition Polymer Or Copolymer, Post-Treatments, Or Chemical Modifications (AREA)

Description

1253456 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 _____B7____ 五、發明說明(1 ) 本發明係有關於一組成物,它包含一可交聯基質前驅 物和一孔化劑,以及由該組成物製得之多孔基質。 由於半導體裝置越來越小,相對的晶片裝配密度增加 ’不希望的電容相關的遲延和金屬互連之間的cr〇SS-talk 更劇烈顯示。因電容相關的遲延和Cr〇ss_talk與絕緣體之 介電常數有關,注意力集中於創造超低介電常數的材料( 即,介電材料之介電常數$2.0)。這些努力包括創造多孔 的無機材料(例如,二氧化矽)或熱塑性聚合材料(例如, 聚亞胺)。 過去40年中,二氧化矽是最重要的中間層介電材料 (ILD) ’以發展甚佳的溶膠-凝膠技術將它製成多孔的,如 揭露於Proc. Mat. Res. Soc. 261 (1995); Pr〇c. Mat. Res. Soc· 443,91 (1997);和 Proc· Mat. Res· Soc· 443: 99 ( 1997) 。雖然向一軋化石夕引入孔導致其介電常數從4 · 2降至低於 2.0,結果之多性材料明顯變弱。為此,多孔的二氧化矽 作為低介電常數材料是不切實際的。 多孔的熱塑性聚合物,特別是熱穩定的聚合物,諸如 聚亞胺’也曾被研究用作超低介電材料。參考,例如,us. 專利5,895,263和5,776,990。雖然這些多孔熱塑材料可製 成有能被接納的介電常數,但在以後的高溫處理中,孔易 於縮’因此排除了這些材料使用於有關方面之應用。 有鑑於在技術中之不足,希望能有一超低介電材料, 它在製造半導體所要求的嚴苛處理條件中是穩定的。 本發明針對前有技術之難題提供一組成物,包括a)_ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) 11 11------ ·丨丨 11 丨 丨tf·丨丨丨丨-- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 4 I253456 A7 B7 五、 發明說明( 含烴基質前驅物;和b)—孔化劑;其中基質前驅物之選擇 疋當固化一交聯的含烴材料時所形成的材料之Tg大於300 C °交聯的含烴材料較佳地具熱穩定性至少為400。(:。 本發明在第二具體例中是一低介電常數材料,包括一 多孔的交聯含烴基質,其Tg大於3〇〇<t。材料較佳地是在 一底材上的薄膜形式。 本發明在第三具體例中是在一底材上製一多孔膜的一 方法,包括: 在一底材上塗覆一溶液,它包括一基質前驅物、一孔 化劑和一溶劑,基質前驅物固化成為一基質材料,其Tg 至少為300°C ; 除去溶劑; 使基質前驅物作用形成基質材料;和 使孔化劑降解形成基質中的孔。此除去、作用和降解 步驟疋由一或多加熱步驟來進行,以下有更詳細之敘述。 本發明在第四具體例中是一積體電路物件,包括含電 晶體的-活性底材和含囷案金屬線的電互連結構,圖案金 屬物是被-多孔介電材料層或區域至少是部分隔開的,其 中介電材料包括一交聯的含烴基質,其Tg大於3〇吖。 本發明解決了技術中的一難題,它提供_低介電常數 的多孔基質材料,它適用於微電子應用中作為層間介電材 料並對超過3〇〇。(:的處理溫度是穩定的。 B-階段的:指部分聚合的—單體或單趙與部分聚合的 單體之-混合物。—b·階段的產品通常與“預聚物,,或“ i纸張尺度剌帽S家鮮(CNSM4規袼( x 297公髮
--------------裝—— (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ,I I — - 訂_ · 線 1253456 A7 ______ B7 五、發明說明(3 ) 低聚物”是同義的。 可交聯的··指一基質前驅物,它能不可逆地固化成一 不能重新成形或重造的材料。可藉助於uv、微波、。光 或e-光束照射來交聯。當交聯以熱完成時,通常與 “可熱 固化”互換使用。 基質前驅物:一單體、預聚物、或聚合物、或其混合 物,它們固化時生成一交聯的基質材料。 單體:可聚合的化合物或可聚合的化合物之混合物。 官能度:指在單體中有效可聚合的基團之數目。例如 雙環戊二烯酮和一雙乙炔各有官能度為2,而單體丨,^•三 (4-三氟乙烯基氧苯基)乙烷之官能度為3。 含烴:指一基質或基質前驅物,它含碳和氫,但也可 月匕含其匕元素。基質或基質前驅物較佳地不含超過5〇%重 量的矽,更佳地不超過30%重量矽,而最佳地不超過2〇0/〇 重量矽。 孔化劑:一固態、液態、或氣態材料,它可從部分的 或完全交聯的基質中除去並在後續完全固化的基質中創造 多孔或空隙,藉以降低樹脂的有效介電常數。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 熱穩定性溫度:試樣能保持的最高溫度τ,在該溫度 的試樣在一惰性大氣中,每小時的重量損失是低於1%。 基質:包圍一明顯組成物的分散區域之一連續相。在 最終物件中,基質是包圍分散空隙或孔的一固相。 本發明的多孔基質是從一孔化劑與一可交聯的含烴基 質前驅物的混合物製得。孔化基可以是可作用的,所以孔 本紙張關家標準(CNS)A4規格⑽x 297公釣 1253456 A7 B7
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(4 化劑能以化學鍵接入聚合物基質内,或它也可以是不作用 的。 適宜之基質前驅物是那些能生成Tg大於300°C的交聯 樹脂,而更佳的是Tg大於350°C。 較佳地,基質前驅物之另外特徵在於固化時,它們不 經歷模量之降低或僅相當小的降低。若材料在固化時經歷 模量大降,特別是當低模量的發生溫度在接近孔化劑的降 解溫度時,可能發生孔的.陷縮。 基質前驅物的一種較佳類包括可熱固的苯并環丁烯 (BCBs)或其b-階段的產物,諸如那些述於US專利第 4,540,763號和US專利第4,812,588號。一特別較佳的BCB 是 1,3-雙(2-二環[4,2,0]辛-1,3,5_三烯-3-乙炔基)-1,1,3,3-四 甲基二矽氧烷(以DVS-雙BCB表示),其b-階段樹脂在市面 上是 CYCLOTENE™ 樹脂(可購自 Dow Chemical Company) 另外第二較佳類的基質材料包括聚芳烯類。本文所用 的聚芳烯類包括其主鏈是由重覆芳烯單位製成的化合物, 和在其主鏈上有芳烯重覆單位和其它聯結單位的化合物, 例如在聚芳烯醚中的氧。市面上有的聚芳烯組成物之例包 括SiLK™半導體介電質(可得自Dow化學公司),Fiare™介 電質(可得自 Allied Signal,Inc·),和 Velox™(聚(芳烤醚))( 可得自Air Products/Shumacher)。一較佳類的聚芳烯基質 前驅物是一可熱固的混合物或聚環戊二烯酮和聚乙炔的b-階段產物,諸如述於WO 9 8/111 49中的那些。能用於本發 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -------------裝--------訂· (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 1253456 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(5 ) 明組成物中的熱固化組成物或可交聯的聚芳烯之例包括單 體,諸如以乙炔基團在芳環上彼此以鄰位取代的芳族化合 物’如示於W0 97/10193中的;環戊二稀裥官能化合物與 芳族乙炔化合物結合的,如示於WO 98/11 149 ;和US專利 編號 5,Γ15,082 ; 5,155,175 ; 5,179,188和 5,874,516 和在 PCT WO 91/09081 ; WO 97/01593 和 ΕΡ 0755957-81 中的聚芳稀 謎。更佳地,熱固化組成物包括上述單體的部分聚合的反 •應產物(即,b-階段的低聚物)(參考例,w〇 98/11149,WO 97/10193) 〇 較佳地,聚芳烯前驅物之特徵在於其模量輪廓,當以 扭力浸潰布分析(TIC A)測量時,其特徵在於當加熱組成物 時’在溫度範圍從3〇0至400°C,觀察到一極小量度的模量 發生於溫度Tmin,而該最小量度的模量比當組成物加熱至 一極大溫度再冷卻到Tmin後所測量的固化模量之值的2〇0/〇 以上,更佳為50%以上^ “量得的加熱模量,,是對測試組 成物在模量對溫度圖上測量其加熱相中偵測得在一給定溫 度下之模量。最小量得的加熱模量,,是在翠度範圍在3〇〇 至450°C中發生的最小的測得的加熱模量。“量得的固化 模量疋對測試组成物在冷卻相中一給定溫度之模量。在 此TICA技術中,一織成的玻璃布(較佳的是例如,〇.3mm 厚、15mm寬和35mm長,ΤΑ儀器編號980228.902)張架在 一動力的機械分析儀上,諸如DuPont 983 DMA,較佳地 配以一低質量垂直夾配件(Low Mass Vertical Clamp Accessory)或有相當功能的來提昇靈敏度。布瑞以鋁箔包 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格咖χ 297公髮) -— — — III — — — — ·11111.11 ·11111 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) I253456
五、 發明說明(6 )
經濟部智慧財產局員工消費合阼Fi印製 裹,留出10mm長度是曝露的。然後將布張架至動力機械 分析儀的垂直失上,它們之間距離為1〇mm。用轉矩扳手 將夾子旋轉至12吋(34.48cm)磅。藉一吸量管將布浸潰於 含有10至30%前驅物化合物固體之溶液中。以溶液將布完 全溼透,用吸量管將過量的溶液除去。連接一熱偏流器和 烘相’使之建立每小時3標準立方呎的氮氣流。位移幅度 設在1.00mm,而頻率為丨!^。試樣以每分鐘加熱至5〇〇 C ’然後使之冷卻。在加熱階段和冷卻階段皆收集數據。 進行數據分析來獲得玻璃組合及配方之溫度對彎曲模量值 。可以使用現成的軟體程式,諸如Dupont的DMA標準數 據分析4.2版本或ta instruments的視窗95/98/NT的 Universal分析版本2·5Η來進行數據分析。模量值本身對測 試的配方並非是絕對值,由於在玻璃布上的分佈和在載樣 中不可避免的變化。然而,當固化後的組成物加熱至一模 量並冷卻至某一致的溫度,在該點模量值之比例可得一值 ,它能用作比較不同的配方。也可參考共審查中,共擁有 的US申請案第^_— 號,其代理人案件編號為44528。 較佳的聚务烯型基質前驅物包括下列化合物,或更佳 的是下列化合物的部分聚合的(b-階段的)反應產物: (a)—雙環戊二烯酮,其化學式為:
本纸張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 9 I I — — — — — — - — 111— — — ^ ·1111!111 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 1253456
(b)一多官能度的乙炔,其化學式為·· (C)和’選擇性地為一二.乙炔,其化學式為: /、中R和R分別為Η或一未取代的或被惰性·取代的芳 屬部分,而Ar1、Ar2和Ar3分別為一未取代的芳屬部分, 或被惰性取代的芳屬部分,而y是3或3以上的一整數。另 外指出的,最佳的基質前驅物材料包括一可固化的聚合物 ,其化學式為: [A]w[B]2[EG]v 其中A的結構為: 經濟部智慧財產局員工消費合作社印制衣
本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 10 — —— !%1 丨^--訂-------- ·# (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) I253456
發明說明(8
端基EG分別由下列化學式中任一個代表 EG = _
Jy-1 經 濟 部 智 慧 財 產 局 員 工 消 費 合 h 社* 印 製 其中R1和R2分別為Η或-未取代的或被隋性取代的 屬部分,而Ar1、Ar2和Ar3分別為一未取代的芳屬部分 或被惰性取代的芳屬部分,而Μ是一鍵,yS3或3以上〜 一整數,p是在給定物單位中未作用的炔基之數目,r是在 給定物單位中未作用的炔基之數目減1,*p+r=y-:l,z是 從1至1000的一整數;w是從0至1000的一整數而V是2或 芳 的
本纸張尺度適用中國國家標準(CNSM4 _規格⑵〇 X 297公髮) 11 A7 B7 1253456 1、發明說明( 2以上的一整數。 當基質前驅物包括一聚環戊二烯酮和一聚乙炔的可熱 固化混合物或b-階段的產物時,較佳的前驅物之特徵在於 在固化過.程中’分枝在較早期發生,。在固化過程的早期生 成一分技的基質使基質的模量降減至最小,並幫助可能的 孔陷縮降至最低,在固化過程中,和/或容許使用孔化劑 疋在較低溫度能分解或降解的。獲此的一個方法是在前驅 物組成物中使用的環戊二烯酮官能度對乙炔官度之比例要 大於3:4 ’較佳地小於2:1,更佳地為ι:ι。包括3份3,3,_(氧 二1,4-苯烯)雙(2,4,5-三苯基環戊二烯酮)和三(笨 乙炔基)苯(莫爾比例)的基質前驅物是這類體系的一例。 另外’可加入能交聯可熱固的聚環戊二烯酮和聚乙炔之混 合物或b-階段產物的附加試劑,當固化過程中可消減基質 的模量降。適用試劑之例包括雙鄰二乙炔,例如在w〇 97/10193所揭露的;單鄰二乙炔;雙三氮氮烯;四氮烯, 諸如1,3-二苯基四氮烯;雙疊氮,諸如雙磺基疊氮;和過 乳化物’包括二過氧化物。試劑載量可以從基於固鱧的<1% 重量至基於固體的>30%重量。 適用於製備本發明的多孔基質之基質前驅物的第三個 例子是一可熱固的全氟乙烤單體(其官能度為3或3以上)或 其b-階段產物,可以在us專利5,023,380(第四欄,第38行 開始)和US專利5,540,997(第三欄,第4-46行)找到其揭露 和製備。較佳的可熱固的全氟乙婦是1,1,1-三(4-三氟乙稀 基氧苯基)乙烷。也可以方便地將可熱固的全氟乙稀單體 — rliif 0 ί ί I I n ϋ n 0 n ϋ n n a— I fli I (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
1253456 A7 B7
五、發明說明(l〇 ) 與有g邊度為2的全乳乙烯單體共聚合,其製備述於專 利 5,021,602 ; 5,037,917 ;和 5,246,782 中。
其它聚芳烯基質前驅物是一可熱固的雙_鄰_二乙炔或 其b-階段產物,如述於貿〇 97/1〇193。依據此具體例,前 驅物包括一化合物,其化學式為 (R-CsC^Ar-LfArfCsOR)二 其中各Air是一芳族基或惰性取代的芳族基,且各Ar包括 至少一個芳香環;各R分別為氫、一烷基、芳基或惰性取 代的烷基或芳基;L是一共價鍵或一基團,它將_Ar與至 少另一 Ar鍵連;較佳地,一取代的或未取代的烷基,η和 m是至少為2的整數;而q是至少為丨的一整數;且其中在 一個芳香環上的至少二個乙炔基團是彼此在鄰位上。 匕劑和生,成多孔交聯的介雷皙夕古,土 孔化劑材料是在基質或基質前驅物中能形成領域(或 不連續區域)。較佳地,領域不大於最終所欲之孔尺寸。 許多聚合的材料能用作孔化劑。然而一孔化劑在第一 基質體系中能有良好功能,未必在其它基質體系中能有良 好力月b、孔化劑與基質趙系之相容性必須高到不形成十分 大的領域,但也不至於不形成領域。 適用於本發明的孔化劑,較佳地是那些在低於基質材 料的熱穩定溫度的溫度中能熱降解的(即燒毀)。降解溫度 範圍能與固化溫度範圍重昼,只要固化發生比降解發生( 或在之前)得更快,以至在孔化劑基本上除去之前基質已 固化。這些材料較佳地主要分解成低分子量物種,因此在 1253456 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(11 ) 多孔基質中基本上不會留下“焦物,,。 孔化劑之例和它們能與基質前驅物共用形成多孔交聯 的基質材料之方法詳述於下。 孔化劑可以是一嵌段共聚物(例如,二嵌段共聚物)。 這類材料可以自組合,如述於Physics Today, 1999年2月, P.32 ’若嵌段是不互溶,在毫微米尺寸範圍内不能得到分 離的領域。此一嵌段共聚物能加至可交聯的基質前驅物中 ,用或不用溶劑,來獲得適於處理的一配方。在處理中, 嵌段共聚物能自組合(例如,旋轉塗覆後,但在基質形成 前)。一個或多個嵌段可能與基質起作用,或嵌段是不起 作用的。一個或多個嵌段可能與基質,或其前驅物相容的 ,但較佳的是至少一個喪段是與基質不相容的。適用的聚 合物嵌段能包括基質前驅物的一低聚物、聚乙烯芳香族, 諸如聚苯乙稀、聚乙稀基吨变、氫化的聚乙稀芳香族、聚 丙稀氰、聚烯化氧,諸如聚環氧乙烧和聚氧化丙烯、聚乙 烯、聚乳酸、聚矽氧烷、聚己内酯、聚己内醯胺、聚胺曱 酸酯、聚甲基丙烯酸酯,諸如聚甲基丙烯酸甲酯或聚甲基 呙烯酸、聚丙烯酸酯,諸如聚甲基丙烯酸酯和聚丙烯酸、 聚二烯,諸如聚丁二烯和聚異戊二烯、聚氯乙烯、聚縮醛 、和胺罩蓋的烯化氧(通常可購自Huntsman Corp.的 Jeffamine™聚醚胺)。例如以聚苯乙烯和聚甲基丙烯酸甲 酯為主的二嵌段聚合物能加至C YCLOTENE樹脂在適當溶 劑的溶劑中,諸如菜,其樹脂對二嵌段聚合物的較佳重量 :重量比例不小於1:1,而更佳的是不小於2:1,而最佳是 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) I mmamm ammmw n I Bn n MmKmg ϋ 1 §§ i i IB1 imt t— ^ β ϋ ϋ ί ϋ eammm mmm§ emmmm I (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 14 1253456 A7 B7 五、發明說明(l2
(請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 不小於3.1。總固體含量依賴於其應用,但較佳的是不小 於1%,較佳是不小於5%,而最佳是不小於1〇%重量,較 佳的是不大於70%,更佳是不大於50%,而最佳是不大於 30%重量。然後將溶液以旋轉塗覆至一矽晶圓上,留下一 薄膜,它包含在OVS-雙BCB的一連續相中二嵌段聚合物 的一分散相。然後薄膜經熱固化,留下一交聯的聚合物系 統’它包含聚(笨乙烯-b-甲基丙烯酸甲酯)在交聯的DVS-雙BCB的連續相中的一分散相。然後使二嵌段聚合物分解 或除去,留下一多孔交聯的DVS-雙BCB聚合物。相似地 ’將以聚苯乙烯和聚丁二烯為主的二嵌段聚合物加至二環 戊二烯網(例如,3,3,-(氧二-1,4·苯基撐)雙(2,4,5-三苯基環 戊二烯酮))和三乙炔(例如,1,3,5-三苯基乙炔基)苯)的b-階段溶液中。 熱塑的同元聚合物和無規(相反於嵌段)的共聚物也可 用作孔化劑。在本文所用的“同元聚合物,,意指包括從一 單一單體重覆單位的化合物。適用的熱塑材料包括聚苯乙 烯、聚丙烯酸酯、聚甲基丙烯酸酯、聚丁二烯、聚異戊二 烯、聚苯烯氧、聚丙烯氧、聚乙烯氧、聚(二甲基矽氧烷) 、聚四氫呋喃、聚乙烯、聚環己基乙烯、聚乙基of唑啉、 聚乙婦基吨咬、聚己内醋、聚乳酸、這些材料的共聚物, 和這些材料的混合物。熱塑材料其本質可以是線型的、分 枝的、超分枝的、樹枝狀的、或星狀的® 發現了聚苯乙烯特別適用於聚環戊二烯酮和聚乙炔的 可熱固的混合物或b-階段產物,諸如那些述於W0 98/11149 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 15 1253456
五、發明說明(I3 ) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 ,因為它在高溫(例如,約4坑至45〇。〇分解,也主要分 解成單體,,然後它們擴散出基質外。任何已知的聚苯乙稀 都可用作孔化劑。例如’陰離子聚合的聚苯乙烯、間規的 聚苯乙稀、未取代的和取代的聚笨乙婦(例如,聚切_甲 基苯乙婦))也都能用作孔化劑。特別佳的是未取代的聚苯 乙烯。 例如,數均分子量為8,5〇〇的陰離子聚合的聚苯乙烯 能與聚環戊二烯酮和聚乙炔的聚芳烯^階段反應產物摻合 。然後此溶液能以旋轉塗覆至一石夕晶圓上來創造含聚苯乙 婦在5婦基質刖驅物中的分散相之一薄膜。塗覆的晶圓 在一熱板上固化形成基質,然後經在一烘箱中熱處理除去 聚苯乙烤孔化劑來形成一多孔的聚芳烤基質。 也能將孔化劑設計成在b-階段或繼b-階段後與可交聯 的基質前驅物作用來生成聚合物鏈中的嵌段或垂懸取代物 。因此,含有例如反應基團諸如乙烯基、丙烯酸酯、甲基 丙烯酸酯、烯丙基、乙烯基醚、馬來亞醯胺基、苯乙烯基 、乙炔基、腈基、呔喃基、環戊二烯酮、全氟乙烯、BCB 、哌_、丙炔酸酯、或鄰二乙炔基的熱塑聚合物能與可交 聯的基質前驅物生成化學鍵,然後熱塑物可被除去而留下 孔。熱塑聚合物可以是聚笨乙烯、聚丙烯酸酯、聚甲基丙 烯酸酯、聚丁二烯、聚異戊二烯、聚苯烯氧、聚丙烯氧、 聚乙烯氧、聚(二甲基矽氧烷)、聚四氫呋喃、聚乙烯、聚 環己基乙烯、聚乙基噚唑啉、聚己内酯、聚乳酸、和聚乙 烯基吡啶或其混合物之同元聚合物或共聚物。在熱塑物上 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -16 - I--· I------ ^--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 1253456 A7 B7
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(14 可出現單一反應基或許多反應基。反應基的數目和種類會 決定此熱塑孔化劑以垂懸材料或以嵌段結合入基質内。熱 塑材料之本質可以是線型的、分枝的、超分枝的、樹枝狀 或星狀。 例如,一低分子量(<10,000Mn)的聚丙二醇低聚物能 以桂皮酸酯罩蓋,如此使一純DVS-雙BCB單體重量增加10 至30%。然後此混合物能藉加熱成b-階段,然後以一適當 溶劑稀釋,諸如莱,並將之旋轉塗覆至一矽晶圓上來創造 含有聚丙二醇低聚物化學鍵接至b-階段的DVS-雙BCB之 分散相的一薄膜。然後能將分散的聚丙二醇低聚物分解, 留下一多孔交聯的DVS-雙BCB聚合物。 -聚合的孔化劑之預期分子量受多種因素而改變,諸如 它們與基質前驅物和固化的基質之相容性,預期的孔大小 ,等。然而,通常孔化劑的數均分子量大於2000,但小於 100,000。更佳的分子量在5000至50,000的範圍内,而最 佳是小於35,000。孔化劑聚合物也較佳地有窄分子量分布 孔化劑也可以是一材料,其平均直徑為1至50nm。這 類材料之例包括樹枝狀聚合物(聚醯胺基胺(PAMAM),樹 枝狀聚合物可購自Dendritech,Inc.,並由Tomalia等人述於 Polymer J·(東京),17卷,117頁(1985);聚丙基亞胺聚胺 (DAB-Am)樹枝狀聚合物,可購自DSM Corporation ; ?^〇1^1:型聚醚的樹枝狀聚合物(由?“〇1^1:等人述於]\八111· Chem. Soc·,Vol. 112, 7638 (1990),Vol· 113, 4252 (1991)) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -------------·1111111 ^ ·11111111 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 17 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1253456 7 _ B7 五、發明說明(15 ) ;Percec 型液晶 monodendrons,dendronized聚合物及其自 組合的巨分子(由Percec等人述於Nature,Vol. 391,161 (1998),J. Am· Chem. Soc·,Vol. 119, 1539 (1997));超分枝 的聚合物體系’諸如Boltron H系列樹脂狀聚酯(可購自 Perstorp AB),和乳膠顆粒,特別是含交聯的聚苯乙烯之 乳膠。這些材料可能是與可交聯的基質前驅物是不作用的 ,或如上述是能作用的。例如,得自Dentritech Inc.的一 第二代PAMAM(聚醯胺基胺)可以乙烯基苄基氨使之官能 化,將在樹枝狀聚合物表面的胺基轉變成乙烯基苄基團。 然後,此官能化的樹枝狀聚合物能加至在茱中b-階段DVS-雙BCB的溶液中,然後將混合物旋轉塗覆至一矽晶圊上來 獲得PAMAM樹枝狀聚合物在DVS-雙BCB低聚物中之一分 散相。此膜能熱固,獲得一交聯的聚合物體系,它含有 PAMAM樹枝狀聚合物化學鍵接至交聯DVS-雙BCB的一連 續相之分散相。然後使樹枝狀聚合物熱分解來獲得多孔交 聯的DVS-雙BCB聚合物。另外,得自perstorp AB的一第4 代Boltro樹脂狀聚合物(H40)能以苯甲醯氯在其周界改質 ,將樹枝狀聚合物表面上的羥基轉變成苯基酯基團。然後 此官能化的樹枝狀聚合物能加至聚環戊二烯化合物和聚乙 炔化合物的部分聚合的(即,b-階段的)反應產物之前驅物 溶液中,溶劑混合物是7 - 丁内酯和環己酮。然後將混合 物旋轉塗覆至一矽晶圓上來得到Boltron H40苯甲酸酯樹 脂狀聚合物在前驅物低聚物中的一分散相。將膜熱固化可 得一交聯的聚合物體系,它含樹枝狀聚合物化學鍵接至交 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4·'規格(210 X 297公® ) 18 ►裝----- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
— II « — — — — — — I— 1253456
五、發明說明(l6 )
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 聯的聚方婦連、_相的-分散相。然後將樹枝狀聚合物在400 C熱分解,可得多孔交聯的聚芳烯。 卜孔化劑也可以是一溶劑,例如,一 b-階段的預 聚物或部分交聯的聚合物先在一適當之溶劑或氣體之存在 下,脹。然後潤脹的材料能進—步交聯來增加結構的完整 、真'^或熱可除去其上的溶劑或氣體。適用的溶劑 匕括茱、咣啶、三乙基胺、N_甲基咄咯烷酮(NMp)、苯甲 酸甲酯、”酸乙酯、苯甲酸丁酯、環戊酮、環己酮、環 庚酮、環辛酮、環己基咣咯烷酮和醚或烴基醚,諸如二苄 土趟雙(2_甲乳乙)趟、三(2·曱氧乙)謎、二甘醇乙趟、 一甘醇甲醚、二丙二醇甲醚、二丙二醇二甲醚、丙二醇苯 醚、丙二醇甲醚、三丙二醇甲醚、甲苯、二甲苯、苯、二 丙二醇單曱基醚乙酸酯、二氣苯、碳酸丙烯酯、萘、二苯 趟、丁内醋、二甲基乙醯胺、二甲基甲醯胺、和其混合物 〇 在多孔基質中孔的濃度是高到足以降低基質的介電常 數’但低到足以使基質能承受在製造所欲之微電子裝置( 例如’ 一積體電路、一多晶片組件、或一控電板顯示裝置) 所需之處理步驟。較佳地,孔的密度是足以降低基質的介 電常數至小於2.5,更佳地,是小於2.0。較佳地,孔的濃 度在基於多孔基質的總體積之至少5 %艘積,更佳地至少 為10%體積,而最佳是至少20%體積,而較佳地是不大於 70%體積,較佳為不大於60%體積。 孔的平均直徑是較佳地小於400nm;更佳是小於100nm 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) — —— —— — It----- ! ·線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 19 1253456 A7 B7 - 一 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(17 ) ;繼續較佳地不大於50nm。甚至更佳不大於2〇nm ;而最 佳是不大於10nm。 1備一多孔基質層之方法 雖不受制於理論,會認為以下情況會發生於含基質前 驅物和一孔化劑的溶液之處理中。將基質前驅物和孔化劑 之溶液施加至一底材上’方法是諸如旋轉塗覆。在施加中 ,一些溶劑蒸發在底材上留下較濃的溶液。然後將塗覆的 底材在一熱板上加熱除去大部分餘留的溶劑,留下孔化劑 分散在基質前驅物中。在除去溶劑過程中和/或當後續的 熱處理過程中,孔化劑相與基質前驅物分開。因溶劑損失 驅動此相分離(溶液之濃度效應和/或溶解度參數之改變) ’增加了基質前驅物之分子量,在一特定部位有足量孔化 劑組合或集結,或其結合。進一步熱處理時,基質更完全 固化。在升溫中,孔化劑開始分解成片段,它能漫散出塗 覆膜,留下一孔,如此形成一多孔的基質。 基質前驅物、孔化劑和溶劑結合並混合,形成一光學 上透明的溶液。相對於孔化劑之量,基質前驅物之量可調 整至所欲之多孔性。然而,較佳的孔化劑之重量百分率, 基於孔和基質之重量,至少是5%,更佳是至少10%,而 最佳是至少20〇/〇。孔化劑的最大量由在最終產物中所欲的 機械性能和電性質來決定。較佳地,孔化劑之重量百分率 是不超過80%,更佳是不超過70%,而最佳是不超過6〇% 〇 應當用足量的溶劑來提供一光學上透明的溶液。另外 -----------·丨丨—丨丨P丨訂i丨丨丨丨丨丨 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
20 I253456
五、發明說明(l8 )
經濟部智慧財產局員X消費合阼Fi印製 甲 環 苄 ,可改變溶劑之量使可得各種塗層厚度。使用的溶劑越多 ,最終膜的厚度越薄。較佳地,溶劑用量範圍是總溶液的 重量之50-95%。 可採甩任何已知的塗覆方法將前驅物/孔化劑/溶劑組 成物施加至底材上。特別適用的旋轉塗覆能提供預期的十 分薄的膜層。較佳的膜厚度是小於1〇微米,對中間層介電 膜,較佳地小於5微米。組成物可施加至任希望有一薄的 多孔膜之底材上。較佳的底材是包括一矽晶圓。底材上可 進一步包括其它層或形態,諸如在積體電路上發現的,( 例如,閘、金屬互連線,其它絕緣材料,等)。 所用的溶劑可以是任何溶劑,或溶劑之組合,孔化劑 和基質前驅物之組合在其中形成一溶液。適用的溶劑之例 包括茱、吡啶、三乙基胺、N-甲基吡咯烷酮(NMp)、苯 酸甲酯、苯甲酸乙酯、苯曱酸丁酯、環戊酮、環己酮、 庚嗣、環辛酮、環己基吡咯烷酮和醚或烴基醚,諸如二 基醚、雙(2-甲氧乙)醚、三(2-甲氧乙)醚、二甘醇乙醚、 二甘醇甲醚、二丙二醇甲醚、二丙二醇二甲醚、丙二醇笨 醚、丙二醇甲醚、三丙二醇甲醚、甲笨、二甲笨、笨、一 丙二醇單甲基醚乙酸酯、二氣苯、碳酸丙烯酯、萘、二笨 醚、丁内酯、二甲基乙醯胺、二甲基甲醯胺、和其混合物 孔化劑和基質前驅物在使用前可簡單地混合或它們可 以在將溶液施加至所欲的底材前部分作用或經過皆段。 孔化劑可按所希望的加至在基質前驅物階段過程中的+ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) — — — — — — — — — — — — — ·1111111 ·1111111· (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 21 1253456 A7 五、發明說明(19 部 智 慧 員 工 消 費 社 同階段中。 基質前驅物膜生成後,可以在足以除去溶劑的條件下 烘烤膜,並導致基質前驅物進一步聚合。烘烤溫度是具體 系依賴性,可由技術中一般性技巧無需過度的實驗來決定 。後續生成的基質前驅物或基質材料之塗層,它通常是〇 1 至5微米厚,若希望,可經化學機械打磨(CMP)而變光滑 。孔化劑可在CMP處理前或後除去。 較佳地,孔化劑熱分解成低分子量物種,在基質中不 留下實質的殘餘。組成物施加至底材後,除去溶劑;典型 地加熱至中專溫度。然後組成物迅速加熱到至少溢度足 以使基質前驅物交聯並生成基質。藉加熱至溫度足以使孔 化劑分解來除去孔化劑。當使用含聚苯乙烯的孔化劑時, 較佳的加熱是在無氧中發生。雖然乾燥(除去溶劑)、固北 、和分解步驟能以分別的加熱步驟使之發生,也可能採用 單一加熱步驟,而必須承認,即使採用多重加熱階段,任 何給定的加熱步驟中都可使多於一傭步驟發生。 較佳地,至少80%的孔化劑被除去,更佳是至少9〇% ,而最佳是至少95%。孔化劑之除去可由一些技術來測定 ,諸如紅外光譜、穿透電子顯微術、等。除去孔化劑可發 生於當孔化劑降解成低分子量物種而從膜中擴散。較佳地 ,至少80%孔化劑降解成低分子量物種,更佳是至少9〇% ’而最佳是至少95%。較佳地至少80%,更佳是至少9〇0/〇 ,而最佳是至少95%的熱塑孔化劑降解成其單體單元或 小單元。
訂 更 本紙張尺度國家標準(CNS)A4規格⑵〇 χ挪公 22 1253456 五、發明說明(2〇 ) 二 依據一個較佳具體例,塗覆後,塗覆的底材加熱至一 /孤度疋足以引起迅速固化,但低於孔化劑的分解溫度。〆 行這類快速加熱步驟的適宜方法包括在熱板上烘烤,並在 - 紅外燈下快速熱退火。較佳的基質材料,諸如在冒〇 98/ 11149中指出的,是將組成物較佳地升溫至3〇〇。〇以上,更 佳是35(TC,速率至少為每秒2〇t,更佳是至少為每秒5〇 °C。此開始的固化步驟不需導致完全固化,只要基質固化 到足以“鎖住’’孔化劑和基質之結構。然後若需要,執行 至少一個附加加熱步驟來完全完成固體,並分解孔化劑。 此後續的加熱步驟較佳地發生在溫度高於4〇(rc ,更佳地 高於420°C,而較佳地低於5〇〇t,更佳是低於47(rc。 依照另一具體例,可採用單一快速加熱步驟,速率較 佳地至少為每秒2〇t,更佳為至少每秒5(rc,至一溫度足 以導致固化和孔化劑分解。在此具體例中,或在乾燥後, 或不用一分別的加熱步驟,溫度是迅速升高的。較佳的基 質材料,諸如在WO 98/11149中所指出的那些,溫度是升 至4〇〇°C以上,而更佳的是42〇°c以上。 若希望有多層膜,可重覆以上步驟。也可以在形成有 孔的膜後,以已知方法蝕刻膜或在膜上成像來形成溝、道 、或洞,如在生產積體電路物件和其它微電子裝置中所欲 的。 選擇交聯的含烴的基質/孔化劑體系,使在孔化劑降 解前形成基質,而在基質降解前,孔化劑完全降解或基本 上完全降解。較佳地,基質從交聯至降解的溫度窗是寬的 297公釐) 訂 線
本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
1253456 ,因此對孔化劑的選擇有最大的伸縮性。 可由一些方法除去孔化劑,包括以上討論的較佳的熱 燃除方法。此熱燃除法可發生於無氧或有氧中,或甚至加 入氧來加速孔化劑的去除。當熱固的基質對熱氧化是相對 穩定時,此第二方法特別理想。孔化劑也能藉濕溶解來除 去,其中孔化劑以一適宜的溶劑從熱固物中有效地溶解除_ 去,或藉乾燥或電漿除去,其中所用的電漿化學能具選擇 性除去孔化劑。例如,一溶劑或超臨界氣體,諸如以上列 出的那些,可用作溶解並除去一分散的第二相。第二相可 以是一熱塑材料、一二嵌段聚合物、一無機材料、或任何 可以毫微量分散並能溶於一溶劑,它可以擴散入和出一聚 合物體系的一材料。 可使用本發明的多孔交聯的基質於積體電路、多晶片 組件或控電板顯示中的單層或多層電互連結構之·一個或多 種絕緣或介電層。本發明的聚合物可在這些應用中作為僅 ^的介電質或與無機介電質,諸如二氧化矽、氮化矽、或 氧氮化矽一起使用,或與其它有機聚合物一起使用。 本發明多孔的含烴基質材料特別適用於在積體電路, 諸如那些與砷化矽或砷化鎵製成的,作為互連結構中的低 "電常數絕緣材料。多孔的含烴基質材料也可用於製造積 體電路裝配過程中,如揭露於us專利5,55〇,4〇5和5,591,677 以下諸例僅作闡明目的,非限制本發明之範疇。 本戒尺度朝中國國家標準(CNs)削規格⑽X观公爱)
24 1253456 A7 ----- B7 五、發明說明(22 ) j列1二製多孔的茉并環丁嬌篡晳 用-二.可的熱塑低聚物來製備聚二醇)雙袪古醢酯 在裝有一磁擾拌器、一平衡加料漏斗、和有一氮輸入 &的迴流冷凝管之一 2 5 OmL圓底燒瓶内,在授拌中加入 • 數均分子量為8000的聚(丙二醇)(38 21克,4 78mm〇1)和氣 仿(40mL)。然後向攪拌中的溶液加入呲啶(〇 6〇克,7 64 私 mmol)。在15分鐘内向溶液滴加入桂皮醯氣(〇64克,3 82 mmol)。滴加完畢,在迴流下加熱反應混合物18小時。然 後使反應物冷卻至室溫。溶液以1q%HC1(3 X25mL)洗務, 然後以水(1 X 50mL),然後以iM NaOH(2 X 25mL),然後 再以水(lX50mL),然後以鹽水(lx5〇mL)洗滌。然後有機 物在硫酸鎂上乾燥,除去溶劑可得產物(37·5克),其結構 以質子和碳NMR譜確定。 黃二乙烯基碎氧烧-替-苇并環丁烯和聚r丙二薛)蝥枯由 酸酯之共聚物 在玻璃反應器中置入二乙烯基矽氧烧_雙_苯并環丁烯 (CAS#124221-30-3)(4.0 克,和聚(丙二醇) 雙桂皮酸S曰(1.0克,1.22 X 10_4m〇i) 形成單一相的混合物 加熱至200°C 18小時,其間材料變為白色並硬化。材料在 氮氣中加熱至325°C 50小時可提供一多孔物體,其孔大小( 以穿透電子顯微術測定)範圍為10至5〇11111。 M2 -製備笨并環丁嫌之一多$.辞择 使用一可作用的熱塑低聚物之基皙 低聚合的二乙烯基矽氧烷·雙苯并環丁烯,Mw 496〇〇 --------t-------- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
25 1253456 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(23 ) ’在茱中的溶液80份與20份從聚(丙二醇)Mw 4000製備的 聚(丙二醇)雙桂皮酸S旨結合。溶液在氮氣下加熱至165充 4.5小時來.進一步增加分子量。冷卻至室溫,藉加入適當 量的莱’使溶液之總固體含量調整至20%。 上述溶液10毫升搜濁在一 4叶(10.16cm)的石夕晶圓上, 第一次以50〇rpm旋轉3秒,繼而以2,000rpm旋轉30秒。然 後使晶圓經受下列熱條件:熱板2〇〇°C5分鐘;250°C6分鐘 ,350C10分鐘。將晶圓轉移至有氮大氣的一烘箱中,保 持在300°C 9小時。穿透電子顯微術指出所出現的孔大小之 範圍從20至1〇〇奈米,平均值為60-70奈米。 -用一可作用的聚苯乙烯孔化劑製備一多孔的聚关埽 薄膜 製備3,5-替f茉乙炔基)笨醯氯 a) 製備3,5-二溴苯甲酸甲酯 向裝有一冷凝管和氮氣輸入管之250mL圓底燒瓶中加 入3,5-二溴苯甲酸(30.06克,0.1074莫爾),甲醇(60克,1.87 莫爾),和濃硫酸(1.8mL)。混合物加熱至迴流23小時,混 合物:冷卻至室溫,其時沉澱出一固體。在一冰浴中冷卻混 合物,藉過濾分離固體。固體以冷甲醇冲洗,並在40°C真 空中乾燥。以GC分析反應和最終產物來監控反應進行並 評估產品之純度。 b) 3,5-二溴苯甲酸甲酯與苯基乙炔之偶合 向配有氮輸入管之1升圓底燒瓶加入3,5-二溴笨甲酸 甲酯(26.4克’ 0.08981mole),氣化鈀雙(三笨基膦)(6.258 適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) • (n n ϋ n n ϋ 1 n n n · 1-·-· —.1 em— I ϋ an eut 一· §t am— (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 1253456 A7 _;_B7_ 五、發明說明(24 ) 克,0.008916mole),三苯基膦(1.18 克,0.004504mole), 苯基乙炔(27.40克,0.2682111〇卜),三乙胺(36.13克,0.35 69 mole),和四氫吱喃(THF)(500mL)。混合物在室溫中授拌20 分鐘。然後加入碘化銅(1)(0.428克,0.00225111〇4),混合 物在室溫中攪拌95小時。以GC隨著反應。在真空中除去 溶劑。殘留物以甲醇製成淤漿,並藉過濾分離。固體溶於 _ 二氣甲烷中,並在一過濾漏斗中透過一矽膠塞來過濾。在 P 真空中除去溶劑得一棕色固體。. c) 製備3,5_雙(苯乙炔基)苯甲酸 在一圓底燒瓶中加入3,5-雙(苯乙炔基)苯曱酸甲酯 (32·7克,0.0972mole)和異丙醇(261毫升)。混合物加熱至 迴流直至所有固體溶解。加入氫氧化鉀(24.24克45%KOH 水溶液,0.1944mole),混合物維持熱4小時。使混合物冷 卻,然後以濃HC1酸化直至固體沉澱。以過濾分離固體並 在80°C真空中乾燥過夜,得一灰色固體(22克)。固體在甲 • 苯中以脫色活性炭迴流,藉過濾之助趁熱過瀘,冷卻中沉 澱出一固體。藉過濾分離固體,在真空中乾燥過夜。藉高 — 性能液相層析儀(HPLC)分析,顯示是純的材料。材料以 iH-NMR和nC-NMR進一步分析。光譜與所預期的結構一 致。 d) 製備3,5-雙(苯乙炔基)苯并氣 3,5-雙(苯乙炔基)苯甲酸(2.7982克,0.008680莫爾)、 草醯氯(2.2ΝΠ,0.02521莫爾),和曱苯(7mL)加至一 50毫升 圓底燒瓶中。混合物加熱至50°C直至所有固體溶解後再保 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 27 -------------裝--------訂---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) I253456 A7
五、發明說明(25 ) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 持加熱1小時。藉使用真空除去溶劑和過量的草醯氣。固 體在室溫中再溶於甲苯中,然後藉使用真空除去溶劑。以 後使用固體時無需進一步純化。 雙(笨乙块某1笨曱酸的茉乙烯)酯 1.5升玻璃聚合反應器以迴流甲苯清潔並在真空中乾 燥後,入料700毫環己烷(通過活性氧化鋁)^反應器加 熱至55°C,加入103·3克苯乙烯(通過活性氧化鋁,使用前 從氫化鈣和二丁基鎂蒸餾)。藉加入9 0毫升(3.456mrn〇le) 〇·384M妁仲丁基鋰溶液來引發聚合作用。攪拌!小時後, 加入0.60克環氧乙烷(在氫化鈣上乾燥),使橙色溶液變為 無色。30分鐘後’加入1.778克(3.4561!11]1〇16,1.0當量)的3,5-雙(笨乙炔基)苯并氯在lOmL四氫咬喃中(通過活性氧化紹) 。30分鐘後冷卻溶液並從反應器中取出。以1 5升甲醇沉 澱分離出聚合物,並在80°C真空中乾燥過夜。產物是可定 量的。以窄分子量苯乙烯標準作GPC分析,聚合物之 Mn=39,353,Mw=41,303和Mw/Mn=1.050。類似地製備有 Mn 值為46,500和50,000的官能化聚苯乙烯。 從4,4’-雙(2,4,5-三苯基環戊二烯-3-酮)二笨醚,:ί,3·5彳革 乙炔基)苯和3,5-雙(苯乙炔基)笨甲酸之聚笨乙嬌酯來製備 低聚物溶液 在一 500mL 3頸圓底燒瓶中加入4,4’-雙(2,4,5-三苯基 環戊二烯酮)二苯醚(45.38克,0.0580mole)、1,3,5-三(苯乙 炔基)苯(14.62克,0.0386莫爾)、3,5-雙(苯炔基)苯甲酸的 聚苯乙烯酯(Μη=39,353)(15·00 克,0.000375mole)和 r - 丁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 零裝----- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
—訂--- # 28 1253456 A7
B7 五、發明說明(26 ) 内酯(140克)。燒瓶連接於一氮/真空輸入口。以磁子擾掉 的溶液藉施以真空來脫氣,並以氮充氣5次。然後溶液加 熱至内部溫度為200°〇加熱55.5小時後,使溶液冷卻至145 — °C,然後以環己酮(205克)稀釋。然後使溶液冷卻至室溫 — 。以凝膠透過層析儀分析最終溶液,指出相應於聚笨乙烯 才示準,Mn - 5362和Mw-34022。用其它分子量的活性聚苯 乙婦類似地製備相似的溶液。 皇孔薄膜的製備和評估 從4,4’-雙(2,4,5-三苯基環戊二烯3-酮)二苯醚和含有 ^^-雙彳苯乙炔基丨苯甲酸的聚苯乙烯醚之^弘三丨苯乙炔 基)苯(Mn=46,500)作為孔化劑,照上述製備成一樹脂溶液 。蔣溶液施加至一石夕晶圓上,並藉旋轉塗覆塑製成一 厚之塗層。膜在一 MTI熱板上,以320°C在氮氣中烘 烤2分鐘,然後在400°C,在氮中10分鐘。在晶圓上的塗層 在一 Blue Μ烤箱中,在45(TC氮氣中再加熱20分鐘。基於 目視檢察膜的TEM,孔的直徑為120nm。折射率為ι·58。 M_4 -用不作用的%苯乙烯孔化劑製備多孔聚芳烯薄膜 從莫爾比例為3:2的4,4,-雙(2,4,5-三笨基環成二烯3-酮)二 蓋Μ和1,3,5-三(笑乙炔基)笨製備低聚物溶潘 在一 500mL 3-頸圓底燒瓶中加入4,4,·雙(2,4,5-三苯基 環戊二烯酮)二苯醚(60.00 克,〇.〇7662mole),1,3,5-三(苯 乙炔基)苯(19.34 克,0.051 lmole),和 7-丁内酯(185克)。 燒瓶連於一氮/真空輸入口。以磁子攪拌的溶液藉施以真 空來脫氣,並以氮充氣5次。然後溶液加熱至内部溫度為2〇〇 泰,我浪尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇 x.297公釐) -----------I I · I I----I ^---I--I-- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員X.消費全阼F±印製 29 1253456 A7 B7 五、發明說明(27 ) C °加熱48小時後,使溶液冷卻至145°C,然後以環己酮(132 克)稀釋。然後使溶液冷卻至室溫。以凝膠透過層析儀分 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 析最終溶液’指出當相應於聚苯乙烯標準,Mn=5550和 Mw=30500 〇 I 一備H子n的聚茉乙烯 1.5升玻璃聚合反應器以迴流環己烷清潔並在真空中 乾燥後’入料750毫升環己烷(通過活性氧化鋁)。反應器 加熱至55t,加入103.22克苯乙婦(通過活性氧化鋁和Q5 .觸媒床)。藉加入7.8毫升1.32M的仲丁基鋰溶液來引發聚 合作用。攪拌1小時後,加入lmL曱醇來淬熄聚合反應。 當反應器冷卻時再繼續攪拌溶液3〇分鐘。以2升甲醇來沉 澱分離聚合物,並在9〇t:真空中乾燥過夜。收集到總量為 101.96克(產率為99%)。以窄分子量聚苯乙烯為標準,聚 合物之 GPC 分析得 m,8,296,Mw=8,679,ftMw/Mn=1.046 。類似地製備其它分子量的聚苯乙烯。 製備羥基終止的陰離+聚合的聚笼乙坪 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在裝有磁授拌棒、有隔膜的隔膜口、和一氮輸入應接 管的一 1升一頸圓底燒瓶中,入料208克環己烷(通過活性 氧化紹),和52.64克笨乙烯(通過活性氧化鋁,從氫化鈣 和二丁基鎂蒸館)。在室溫下加入5.6毫升0.624M的仲丁基 鋰溶液來引發聚合作用,得一橙色溶液。攪拌2小時後, 加入2.31克環氧乙烧(在氫化妈上乾燥),得一無色溶液。 30分鐘後,加入2mL甲醇(MeOH)來終止聚合反應。藉在 甲醇中沉殿來分離聚合物,並在90。(3真空中乾燥過夜。產 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 30 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1253456 A7 --- Β7_ 五、發明說明(28 ) 物是可定量的。以窄分子量苯乙烯標準作Gpc分析,聚合 物之 M,14,960 ’ Mw=16,035 和 Mw/Mn=l:072。類似地製備 其它分子量的羥基終止之聚苯乙烯。 - 製備一星狀聚苯乙烯 在裝以Dean Stark阱/冷凝管/氮輸入管之250mL圓底 燒瓶中加入羥基終止的聚苯乙烯(Mn=4837)(1〇 〇〇克, 齡 0.0207m〇le)和甲苯(150mL)。攪摔混合物直至固體溶解。 『 混合物加熱至迴流2小時以共沸除去任何水。使溶液冷卻 至室溫,然後燒瓶以一橡膠隔膜封口。以針筒加入四氯化 矽(59微升,〇.〇〇〇517mole),混合物攪拌5分鐘。以針筒 加入吡啶(50微升),混合物在室溫下攪拌48小時。然後將 混合物加熱至迴流1 ·5小時。-然後在真空中除去溶劑。殘 餘物溶入二氣甲烧中,以HCl(aq.)和NaCl(sat.)洗滌,然後 乾燥(MgS〇4),在真空中除去溶劑。以凝膠透過層析術分 析材料,相應於聚苯乙烯標準,得到Mn=16876*Mw=17222 b 8700 聚苯乙婦配方、形成薄膜、淦评纖 . 在依上述以莫爾比例為3:2製備的4,4,-雙(2,4,5-三苯 基環戊二烯-3-酮)二苯醚和1,3,5-三(笨乙炔基)苯的低聚物 溶液中加入陰離子聚合的Mn為8700之聚苯乙婦,相對於 固體之重量為20%。溶液是光學上透明的淡淡的深紅色, 表示聚苯乙烯溶解進入b-階段的樹脂。將溶液施加至一石夕 晶圓上,並藉旋轉塗覆塑製成一 3 ·5ν m厚之塗層。膜在 一 MTI熱板上,在320°C,在氮氣中烘烤2分鐘,然後在4〇0 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -------------^--------^---------^ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 31 I253456
32 1253456 A7
Β7 五、發明說明(3〇 ) 二烯-3-酮)二苯醚和1,3,5·三(苯乙炔基)苯的低聚物溶液中 。加入莱使總固體含量為20%。將溶液施加至一矽晶圓上 ,並藉旋轉塗覆塑製成一 1·85//m厚之塗層。膜在一熱板 - 上’在320°C氮氣中烘烤2分鐘,然後在400°C氮氣中10分 鐘。在晶圓上的塗層在一烤箱中,在45〇t氮氣中再加熱20 分鐘。估計的平均孔大小為2〇〇nm。用TEM顯微照相的影 像分析,測得體積份數為11%和15%之間。用0.25吋(0.635 cm)直徑的平行板電容器測定的介電常數為23。 里Jg,4〇〇 Mn_^聚苯乙烯配方、形成薄膜並評鑑 從 Scientific Polymer Products Inc·購得的 Mn為 12,400 之陰離子聚合的聚苯乙烯,加至(相對於固體的重量為2〇0/〇) 依上述以莫爾比例為3:2製備的4,4,-雙(2,4,5-三笨基環戊 二烯-3-嗣)二苯鰱和丨,3,5-三(苯乙炔基)苯的低聚物溶液中 。總固體含量以環己酮調整至15%。將溶液施加至四個近 乎完全相同的200mm矽晶圓上,並藉旋轉塗覆塑製在一 MTI 200 mm徑跡塗覆器上形成〇·9 # m厚的塗層。在徑跡 上的膜在熱板上,在氮熱中以l5(rc烘烤2分鐘。繼而,二 個膜在接觸徑跡塗覆器的一熱板組件上,在7 psi氮氣冲 洗下’在320°C烘烤。其餘的晶圓在相似於接觸徑跡塗覆 器的熱板之沒有支持組件的熱板上,在55 psi氮氣冲洗下 ’在320°C烘烤。然後,所有四個膜都在55 psi氮氣冲洗 下在400°C烤1〇分鐘,最後在一 45〇〇c烘箱中,在氮氣中加 熱20分鐘來除去聚苯乙烯。在7 psi氮氣冲洗中,在320°C 熱板上烘烤的晶圓遭受到膜損失是正比於孔化劑含量,其 界a放尺度週用甲國國豕;f示準(CNS)A4規格(21〇 χ 297公釐) ---II---1111· ^^ · I I I I II I 訂· — — — — 1 — — . (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 J3 1253456 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(31 ) 最終厚度為0.68/zm和折射率為1.63 ;表示由於孔的形成 使膜陷縮。在55 psi冲洗中烘烤的晶圓之最終厚度為〇·83 和折射率為ι·55 ;指出在450°C加熱步驟中有孔形成 〇 1莫爾比例3 :2的4,4,-雙(2,4,5-三苯基環戊二烯4酮)二茉 1 和173,5-三(苯乙炔基)笨的低聚物溶液之f狀聚芏厂焊 S配方、形成薄膜,並評鑑 將以上的星形聚苯乙烯以相對於固體量為2〇〇/。重量加 至如上述的莫爾比例為3:2的4,4,-雙(2,4,5-三苯基環戊二 烯-3-酮)二苯醚和l,3,5-三(苯乙炔基)苯的低聚物溶液中。 將溶液施加至一矽晶圓上,並藉旋轉塗覆塑製成一 2.2 # m厚之塗層。膜在一MTI熱板上,在32(TC,在氮氣中烘 烤2分鐘,然後在400°C氮氣中10分鐘。在晶圚上的塗層在 一 Blue Μ烤箝中,在425°C氮氣中再加熱60分鐘。用目視 檢察膜的TEM,估計的平均孔大小為I20nm。多孔塗層之 折射率為1.56〇 姓g -用一可作,的聚醯胺孔化劑製備一多孔的聚若嬌薄 里_從癸二醯二氮和2,5-二甲基咄畊來激備聚醯胺 在一 1升圓底燒瓶中加入2,5-二甲基咕併(從丙酮中重 結晶的)(10.0000克’0.08757111〇16)和氣仿(4001111^)。由針 筒加入三乙胺(23· lmL,0· 1656mole)。在一燒杯中稱出癸 二醯氣(19.799克,0.08279111〇^),溶入氣仿中(3001111〇, 並轉移入連於1升圓底燒瓶的一滴液漏斗中。酸氣化物的 溶液快速加入二胺的溶液中^以氣仿(5〇mL)冲洗滴液漏 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 x 297公釐)
It!! 丨訂------- !.# (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 34 經濟部智慧时產咼員1-消費^咋^中段 1253456 A7 _;_B7 _ 五、發明說明(32 ) 斗,並將之加入反應混合物中。在室溫中攪拌混合物1〇分 鐘。然後將混合物倒入己烷(2L)中沉澱出一白色固體。加 入水(1L)並搜拌混合物。從白色固體中將液層傾潷。固體 - 以氣仿吸收,除去上層水層並棄之。在真空中除去溶劑。 殘留物以二甲基甲酿胺吸收,然後以水沉殿。結果之固體 藉過濾分離,並在100°c真空中乾燥過夜。 翁 災癸二醯二氯和2,5_二甲基处啡之聚醯胺輿3·5-雙(笨乙炔 『 基)笨甲醯氮之作用 在25mL圓底燒瓶内稱量3,5-雙(苯乙炔基)笨甲酸 (0.3224克,O.OOlmole)。加入亞磺醯氣(10niL),混合物在 室溫下携:拌2小時。藉蒸顧然後使用真空除去過量的亞確 - 醯氯。結果的固體溶於氯仿,並以二次真空除去溶劑。然 後固體溶入氣仿。如上述製備的聚醯胺(5.0克,〇.〇〇〇5m〇le) 稱入一 100mL圓底燒瓶内並溶入氣仿中(5〇mL)。繼而在酸 氣化物溶液中加入三乙胺(0.5mL)。在室溫中搜拌混合物17 儀| 小時。反應混合物從1微米過濾器中濾過,然後以己烧稀 釋,沉殺出一淺黃色固體。從固鱧傾潷溶劑,並再加入己 _ 烷。再傾潷除去溶劑,固體在室溫真空中乾燥。以凝膠透 過層析術分析一試樣,指出Mn=24100,而Mw=43803。 製備從4,4’-雙(2,4,5-三苯基環戊二嫌-3-酮)二笨謎、1,3,5· 三(苯乙炔基)笨和以3,5-雙(笨乙块基)笨酿胺某罩蕞的聚 醯胺的低聚物溶液 在一 500mL 3頸圚底燒瓶中加入4,4’-雙(2,4,5-三苯基 環戊二烯酮)二苯醚(10.0000克,0.01277莫爾),1,3,5-三( 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) --------------裝--------訂---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 35 A7 1253456 ———__;_ B7___ 五、發明說明(33 ) 苯乙炔基)苯(4.8340克,0.01277mole),從以上以3,5-雙( 笨乙炔基)苯醯胺基罩蓋的聚醯胺(3.7085克,0.000154mole) ,和r -丁内酯(43.27克)。燒瓶連接於一氮/真空輸入口。 以磁子攪拌的溶液藉施以真空來脫氣,並以氮充氣5次。 然後溶液加熱至内部溫度為200°C。加熱48小時後,使溶 液冷卻至145°C,然後以環己酮(30.89克)稀釋。然後使溶 液冷卻至室溫。以凝膠透過層析儀分析最終溶液,指出相 應於聚苯乙烯標準,Mn=5071和Mw=14378。將溶液施加 至一矽晶圓上,並藉旋轉塗覆塑製成一 1.5 # m厚之塗層 。膜在一 MTI熱板上,在320°C,在氮氣中烘烤2分鐘,然 後在400°C氮氣中10分鐘。在晶圓上的塗層在一 Blue Μ烤 箱中,在450°C氮氣中再加熱20分鐘。用目視檢察膜的ΤΕΜ ,發現孔的大小是有250nm直徑的較大的孔和30nm較小的 孔之雙形態。 魁6 -用乳塍顆粒作為孔化劑來製備一多孔聚关嬌蒎眩 在莫爾比例為3:2的4,4,-雙(2,4,5-三茉基環/¾•二坪細、- I—驗和1,3,5-三(笨乙炔基)苯的低聚物溶浚中乳勝顆般的 配方 將交聯的乳膠溶液(諸如那些可購自Dow Chemical Company的)以基於固體對固體的20%重量加至如上述以莫 爾比例為3:2的4,4,-雙(2,4,5-三笨基環戊二烯-3·酮)二苯醚 和1,3,5·三(苯乙炔基)苯之低聚物溶液中,它經過水中沉 殿、乾燥、並再溶入Dowanol ΡΜ乙酸醋中。溶液在配裝Dean Stark阱/冷凝管/氮輸入管之一圓底燒瓶内加熱至迴流以共 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公复) ------- -36 · --------------------訂— (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1253456 A7 B7
經齊郭智慧时產咼員X-消費合阼Fi印裂 五、發明說明(34 沸蒸餾除去隨乳膠顆粒引入之水。冷卻結果的溶液並用於 以後過程中。如上述製備含DW-11ONA乳膠(得自Dow Chemical Company)的樹脂溶液作為孔化劑。將溶液施加 至一矽晶圓上,並藉旋轉塗覆塑製成一2.7 # m厚之塗層 。膜在一 MTI熱板上,以320°C在氮氣中烘烤2分鐘,然後 在400°C,在氮中10分鐘。在晶圓上的塗層在一 Blue Μ烤 箱中,在450°C氮氣中再加熱20分鐘。基於目視檢察膜的 TEM,孔是橢圓形,長軸在膜平面上。長軸直徑為150nm ,短柏為50nm。 例7 -用一樹枝形聚酯作孔化劑來製備一多孔聚芳烯薄膜 製備Boltron H40笨曱酸酯 在裝有一磁攪拌器、平衡加料漏斗、和有一氮輸入管 的一迴流冷凝管之一 250mL圓底燒瓶内,在攪拌中加入理 論分子量為每莫爾7,3 16克的Boltron H40樹枝狀聚酯聚合 物(5.0 克,每克 8.75mmole OH,44mmole)和 THF(70mL)。 然後向搜拌中的溶液加入σ比淀(7mL)。在15分鐘内向溶液 滴加入苯甲酿氣(7.03克,50mmol)。滴加完畢,在迴流下 加熱反應混合物2小時。然後使反應物冷卻至室溫。過濾 溶液,以200mL二氣甲烷稀釋,以10%HCl(3X25mL)洗滌 ,然後以水(1 X50mL),然後以 1M NaOH(2 X 25mL),然 後再以水(lX50mL),然後以鹽水(lX50mL)洗滌。然後有 機物在硫酸鎂上乾燥,除去溶劑可得粗產物,它再以沉澱 入甲醇中純化,得7.4克產物(77%);其結構以質子和碳NMR 譜確定。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -------------^--------^---------^ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 37 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1253456 A7 B7 五、發明說明(35 ) 合成1,2,3,4-四個(笨乙炔基)茉 在一 250mL燒瓶内放入 11.81 克(0.030mole) 1,2,3,4-四 溴苯(Collins,I.,Suschitzky,H·,J· Chem. Soc·,C,1969, 2337),27·0 克(0_267mole)三乙胺,13.6 克(0.132mole)苯基 乙炔,和60mL N,N-二甲基甲醯胺。反應混合物以氮冲洗 15分鐘,然後加入0.945克(〇.〇〇36mole)三苯基膦和0.13 5 克(0.0006mole)乙酸把。反應.混合物在氮大氣中在80°C加 熱20小時後,使燒瓶冷卻至室溫,加入水(100mL)和甲苯 (100mL)。結果的有機層以100%HC1、水和飽和的NaCl洗 ,然後以Na2S04乾燥。除去溶劑並從己烷/甲苯混合物中 重結晶後獲得純產物(5·4克,3 8%)。β NMR (CDC13, 300 MHz) (5 7.37 (m,12H),7·50 (s,2H),7.62 (m,8H) 〇 13C NMR (CDC13,75 MHz) 5 87.3,88.1,95.5,98.2,123.1,123.4, 125.7, 128.4, 128.5, 128.8, 130.9, 13 1.8, 13 1.9。
Boltron H40笨曱酸SI + 1,2,3,4-四個(茉乙炔基)笨在莫爾 比例1:1的4,4’-雙(2,4,5-三笨基環成二烯-3-酮)二笨醚和 1,3,5-三(笨乙炔基)笨的低聚物溶液中之配方、形成薄膜 。並評鑑 如上製備Boltron H40苯甲酸S旨,相對於固體之重量 為25%,和1,2,3,4-四個(苯乙炔基)笨,相對於固體之重量 為20%,加至莫爾比例1:1的4,4、雙(2,4,5-三苯基環戊二烯 -3-酮)二苯醚和1,3,5-三(笨乙炔基)苯在丁内酯和環己 綱的低聚物溶液中,如述於WO 9 8/11149中。溶液是光學 上透明的淡淡的深紅色,Boltron Η40苯甲酸酯和1,2,3,4- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 x 297公釐) — l· — ——----ΦΚ——!1* 訂.i (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
-JO 1253456 A7 B7
經濟部智慧財產局員工消費合作钍印製 五、發明說明(36 四個(苯乙炔基)苯溶解進入b-階段的樹脂。將溶液施加至 一矽晶圓上,並藉旋轉塗覆塑製成一 l.6/zm厚之塗層。 膜在一 ΜΊΓΙ熱板上,在320°C,在氮氣中烘烤2分鐘,然後 在400 °C氮氣中10分鐘。在晶圓上的塗層在一 Biue μ烤箱 中’在42 5Cll氣中再加熱60分鐘。基於目測來觀察膜的 TEM ’估計的平均孔大小為300nm。大小在5nm至10nm的 較小孔結構也是可見的。 Μ 8 -用散段共聚物作孔化劑製備一多孔聚芳締薄膜 重備聚(苯乙細-喪段-甲基丙烤酸甲g旨)(PS-b-PMMA) 在裝有磁攪拌棒、有隔膜的隔膜口、和有隔膜及氮輸 入口的一加料漏斗之一 500mL單頸圓底燒瓶中加料,加入 193克四氫呋喃(通過活性氧化鋁)。瓶冷卻至_78t:,並加 入12.73克苯乙烯(通過活性氧化鋁和Q5觸觸床)。藉加入 1.15mL(0.84mmole) 0.733M仲丁基鋰溶液來引發聚合反應 ,結果是一橙色溶液。2小時後,取出一整液份作為聚(苯 乙烯)(PS)嵌段之試樣,將它加至甲醇(MeOH)中,並加入 0.19克(1.05mmoles,1.25當量)二苯乙烯(從二笨基庚基鋰 中蒸餾),得一暗紅色。25分鐘後,經加液漏斗在2〇分鐘 内滴加入13·18克甲基丙烯酸甲酯(MMA)(從氩化鈣和三乙 基鋁中蒸餾)。加入頭幾滴ΜΜΑ後,紅色消失。1小時後 ,藉加入0.2mL MeOH終止聚合反應。使溶液溫熱至室溫 ,藉沉澱於600mL MeOH來分離聚合物,並藉過濾來收集 。二種聚合物在60°C真空中乾燥數小時。一共收集到24.69 克(95%產率)PS-b-PMMA。GPC分析,以窄分子量聚笨乙 ^紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) II----I---I I · I — I I 1 I I ^ ·11111111 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 1253456 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(37 ) 烯為標準,得PS嵌段Mn=14,567, MW=15,821*MW/Mn=1.0 86 ;PS-b-PMMA 共聚物 Mn=26,825,Mw=28,893,*MW/Mn= 1077。嵌段共聚物的NMR分析顯示PMMA嵌段Mn=15,364 ,得知共聚物Mn=29,913。 . 1備聚(丁二烯-嵌段-ε-己内酯KPB-b-PCL) 1·5升玻璃聚.合反應器以迴流甲苯清潔並在真空中乾 燥後,入料650毫升環己烷(通過活性氧化鋁)^反應器加 熱至50°C,加入32.55克1,3-丁二烯(通過活性氧化鋁和Q5 觸媒床)。藉加入7.0毫升(9.1mmole) 1.3M的仲丁基經溶液 來引發聚合反應。攪拌2.5小時後,藉取出一整份液並加 至甲醇(MeOH)中作為聚(丁二烯)(PB)嵌段之試樣,並加入 L58克(3.59mmoles,3.9當量)之環氧乙烷(在氫化鈣上乾 燥)。反應器溫度升至70eC。20分鐘後,加入9.1mL (9.1mmoles,1·0當量)1·〇Μ氣化二乙基鋁和〇.lmL四氫決 喃(通過活性氧化紹),得一混濁溶液。反應器冷卻至6〇。〇 ,加入34.81克ε-己内酯(從氫化鈣蒸餾2次),得一乳狀溶 液。90分鐘後加入0.5mL MeOH終止聚合反應。溶液再授 拌30分鐘以確定完全終止,然後加入〇75克2,6-二叔丁基_ 4-甲基酚。藉在1.2L甲醇中沉澱來分離聚合物,並在5〇艺 真空中乾燥數小時。一共收集得48.1克(71 %產率)之PB-b-PCL。GPC分析,以窄分子量聚(丁二烯)作標準,得1^嵌 段Mn=4,890,Mw=5,080 ’ 和 Mw/Mn=l.〇39 ;得PB-b-PCL共 聚物 Mn=5,655 , Mw=6,629,和 Mw/Mn=1.172。嵌段共聚物 之NMR分析顯示PCL嵌段有Mn=4,794,使共聚物之 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 x 297公爱) ------------------^丨訂·--------線. (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 40 A7 1253456 _—__B7_ 五、發明說明(38 )
Mn=9,685。 聚(茇乙嬌-嵌段-甲基丙烯酸甲酯(PS-b-PMMA)在莫爾比例 為3:2的4.4’-雙(2,4,5-三笨基環成二烯-3-酮)二笨醚和 ▼ 1,3,5-三(笨乙炔基)苯低聚物溶液中之配方、形成薄膜、 並評鑑 如上述的苯乙烯和PMMA嵌段共聚物(相對於固體的 重量為20%)加至如上述莫爾比例為3:2的4,4’-雙(2,4,5-三 W 苯基環戊二烯-3-酮)二苯醚和1,3,5-三(苯乙炔基)苯的低聚 物溶液中。溶液是光學上透明的淡淡的深紅色,表示嵌段 共聚物溶解進入b-階段的樹脂。將溶液施加至一矽晶圓上 ’並藉旋轉塗覆塑製成一 1.94/zm厚之塗層。膜在一 MTI 熱板上,在400 °C,在氮氣中烘烤1〇分鐘。在晶圓上的塗 層在一Blue Μ烤箱中,在450°C氮氣中再加熱20分鐘。基 於目測來觀察膜的TEM ’估计的平均孔大小為2〇〇nm。 聚(丁二烯-喪段.,I内醋)(PB-b-PCL)在葸礙比例盍的 φ 4,4’-雙(2,4,5-三苯基環戊二烯-3-酮)二笨醚和芄 乙炔基)苯的低聚物溶液中之配方,彬成薄膜、並評錄 • 如上述的苯乙烯和聚己内酯嵌段共聚物(相對於固體 的重量為20%)加至如上述莫爾比例為3:2的4,4,-雙(2,4,5-二笨基環戊二稀-3-_)二笨鍵和ι,3,5-三(苯乙炔基)苯的低 聚物溶液中。溶液是光學上透明的淡淡的深紅色,表示嵌 段共聚物溶解進入b-階段的樹脂。將溶液施加至一矽晶園 上’並藉旋轉塗覆塑製成一 2.85// m厚之塗層。膜在一 MTI 熱板上,在320 C,在氮氣中烘烤2分鐘,然後在4〇〇。〇氮 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) -------------裝--------訂---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印制衣 41 1253456 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(39 ) 氣中10分鐘。在晶圓上的塗層在一 Blue Μ烤箱中,在450 C氮氣中再加熱20分鐘。基於目測來觀察膜的ΤΕΜ,估 計的平均孔大小為2〇nm。 [匕的樹枝狀聚合物作為孔化劑製備一多孔的 蓋并環丁嬌膜 一第二代的聚醯胺基胺樹枝狀聚合物,購自 Denddtech,Inc·,以笨基丙炔酸官能化來提供在周界上有 16個本基丙块酿胺的樹枝狀聚合物。官能化的丙炔酿胺 (〇·3克)加至6.0克低聚的二乙烯基矽氧烷-雙-苯并環丁稀 在N-環庚基。比洛烧調的2 5%重量之溶液中。.混合物溫熱至 60°C,然後冷卻至室溫,並使靜置48小時。樹枝狀聚合物 對苯并環丁烯低聚物之重量比例為16·7:83·3,而總固體百 分率為28·6%。預聚物溶液進一步以2.7克Ν-環庚基吡洛燒 酮稀釋提供最終溶液之固體為20%重量。溶液旋轉至一4 吋(10.16cm)的矽晶圓上(500rpm 3秒,然後2000rpm 30秒) ,然後經受下列的熱處理:5分鐘200°C ; 6分鐘250°C ;熱 板350°C 10分鐘;和300°C烤箱9小時。膜稍呈霧狀,當以 穿透電子顯微鏡(TEM)觀察,顯示圓形的封閉小穴孔,直 徑範圍從5至200nm之分佈。 例10 -用不作用的星形聚乙二醇作孔化劑製備一多孔 烯薄膜 製備8臂聚(乙二醇)笨甲酸酷 在裝有一磁搜拌器、平衡加料漏斗、和有一氣輸入管 的一迴流冷凝管之一 250mL圓底燒瓶内,在攪拌中加入分 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 42 —------------------訂 h— (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) S. 1253456 A7 _____ 五、發明說明(4〇 ) ----— — — — — — — — — · I I (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 子量每莫爾10,000克的分枝的PEG(8臂,得自Shearwater Polymers)聚合物(5.0克,4mmol OH)和二氣甲烧(40mL)。 然後向攪拌中的溶液加入三乙胺(5mL)。在15分鐘内向溶 液滴加入苯酿氯(1.69克,12mmol)。在20mL二氣甲烧中 。滴加完畢,在迴流下加熱反應混合物2小時。然後使反 應物冷卻至室溫。溶液以10%HCl(3X25mL)洗滌,然後以 水(lX50mL),然後以1M NaOH(2X25mL),然後再以水(1 X50mL),然後以鹽水(ix5〇mL)洗滌。然後有機物在硫 酸鎮上乾燥,除去溶劑可得粗產物,它再沉澱入乙醚中純 化’得4.4克產物(81%)。其結構以質子和碳NMR譜確定。 臂星形聚(乙二醇)笨甲酸酯在莫爾比例為3:2的4 4,_够 三苯基環戊二烯_3_酮)二笨醚和L3 5-三(笨乙炔某) 蓋_的低聚物溶濠中之配方、开彡成薄膜、並評鑑 -線 如上述的8-臂星形聚(乙二醇)苯甲酸酯相對於固體重 量的20%加至如上述莫爾比例為3:2的4,4、雙(2,4,5•三苯基 環戊二烯-3-酮)二苯醚和丨,3,弘三(苯乙炔基)苯的低聚物溶 /夜中。/谷液疋光學上透明的淡淡的深紅色,表示孔化劑溶 解進入b-階段的樹脂。將溶液施加至一矽晶圓上,並藉旋 轉塗覆塑製成一 2.5/z m厚之塗層。膜在一 MTI熱板上,在 400°C,在氮氣中烘烤2分鐘,然後在晶圓上的塗層在一 Biue Μ烤箱中,在450 C氮氣中再加熱20分鐘。基於目測來觀 察膜的ΤΕΜ ’估計的平均孔大小為丨8〇nm。 製備·多孔聚关 製備矢蒌乙炔表差聚苯乙烯酯 43 1253456 A7
五、發明說明) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在裝有一磁攪拌器、一平衡加料漏斗、和有一氮輸入 官的一迴流冷凝管之一 250mL圓底燒瓶内,在攪拌中加入 聚苯乙烯、分子量為每莫爾10,000克的單羥基終止的聚苯 乙烯得自 Scientific Polymer Products(10.0克,i.〇mrn〇l)和 THF(50mL)。然後向搜拌中的溶液加入响咬(5mL)。在15 分鐘内向溶液滴加入4-苯乙炔基苯醯氯(0·96克,4mm〇1) 在10mL THF中。在迴流下加熱反應混合物2小時。然後冷 卻至室溫。過濾溶液,以200mL氣仿稀釋,並以i〇%HCl (25mL)洗滌,然後以水(5〇mL),然後以1M NaOH(25mL) ’然後再以水(50mL),然後以鹽水(5〇mL)洗務。然後有 機物在硫酸鎮上乾燥,除去溶劑可得粗產物,它再從甲醇 中沉澱純化得9.3克產物。 4,4’-雙(2,4,5-三苯基環戊二嫌-3-洞)二笨鍵,ι,3,5-三(笨 快基)苳和4-苯乙炔基苯甲酸的聚笨乙烯酯之低聚物溶 瘦的製備和薄膜形成並評鑑 在一 250mL 3頸圓底燒瓶中加入4,4、雙(2,4,5-三苯基 環戊二烯酮)二苯醚(8·〇克,〇.〇i〇2m〇ie)、i,3,5-三(苯乙炔 基)苯(3.71克,0.0098莫爾)、4-苯乙炔基苯甲酸的聚苯乙 烯酯(Mw=10,000克每莫爾)(3·0克,相對於其它固體為20%) 和7 - 丁内酯(37.3克)。燒瓶連接於一氮/真空輸入口。以 磁子攪拌的溶液藉施以真空來脫氣,並以氮充氣5次。然 後溶液加熱至内部溫度為200°C。加熱46小時後,使溶液 冷卻至145 °C,然後以環己酮(19·6克)稀釋。然後使溶液 冷卻至室溫。將溶液施加至一矽晶圓上,並藉旋轉塗覆塑 本纸張尺度適用由國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) . r -----III ^ ---I----- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 44 1253456 A7 五、發明說明(42 製成-4,7“m厚之塗層。膜在一 MTI熱板上,以贿在 氮氣中烘烤2分鐘’然後在·t ’在氮中1()分鐘。在晶圓 上的塗層在-Blue M烤箱中,在425t氮氣中再加熱财 鐘。基於目測來檢視膜的TEM,估計的平均孔大小是⑽咖 I參 瘦齊郎fe»曰慧忖轰0{?員11肖費乂 〇乍ί£,··ρΝΰί 査L12 里」二凝膠-潤脹-囡仆, KM m mm 在此例中,我們採用溶於茱的全氟環丁烯樹脂的低聚 合溶液。樹脂以3000rpm旋轉塗覆於4吋(1〇 16cm)的矽晶 圓上使其居度接近1微米。然後將晶圓放入在1 6 1 π閒置著 的烘箱中使樹脂作用通過它的凝膠點;烘箱溫度在5分鐘 内斜升至175°c,然後維持在175°C46分鐘。冷卻至室溫後 ,晶圓曝露至不潤脹的溶液;溶液含90%重量茱和10%重 1苯乙烯基-苯并環丁烯;或一溶液是含90%重量茱和 重量笨乙烯基-苯并環丁烯的溶液。曝露之完成是將溶液 攪混在晶圓上1分鐘為使網體潤脹。然後在3〇〇〇卬瓜旋轉 晶圓45秒以除去過量的溶劑。旋轉後,晶圓置入以氮冲洗 的325 c熱板上1分鐘使膜固化。在以上過程中各不同點作 晶圓取樣,用橢圓偏光計在5個不同點測量折射率,然後 平均。結果列於下表中。
Ik的全氟環 ^--------^---------^ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
(210 x 297 公爱) 45 - 1253456 A7 B7 五、發明說明(43 ) 凝膠-溶脹-固化實驗結果之表 晶圓 處理程序 溶服溶液 折射率 1 凝膠 無 1.547±0·009 2 凝膠+固化(無潤脹) 無 1.521±0.006 3 凝膠+潤脹+固化 10%苯乙烯基-BCB 1.490±0.004 4 凝膠+潤脹+固化 25%苯乙烯基-BCB 1.447±0·019 丨!疇 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) •訂----------線· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 46

Claims (1)

1253456 A8: B8 C8j D8 Ί〇 申請專利範圍 第88 120449號發明專利申請案申請專利範圍修正本 修正日期:90年12月 一種組成物,包括:a) —含烴的基質前驅物;和b) 一 孔化劑,其中基質前驅物之選擇是當固化時生成一交 聯的、含烴材料,其Tg大於300°C,且該含烴的基質 前驅物係選自聚芳撐醚前驅物與可交聯的聚芳撐醚, 苯并環丁烯;苯并環丁烯的b-階段產物;聚環戊二烯 酉同官能化合物和聚乙炔官能化合物之混合物,該化合 物中至少有一部分具有三或更多之反應性官能基;聚 環戊二烯酮和聚乙炔混合物的b-階段產物,其中至少 部分有三或更多之反應性官能基;官能度為三或以上 的全氟乙烯化合物;官能度為三或以上的全氟乙稀化 合物之b-階段產物;雙-鄰_二乙炔芳香化合物;及雙_ 鄰-二乙块芳香化合物之b-階段反應產物。 2·依據申請專利範圍第丨項之組成物,其中交聯的、含烴 材料的熱穩定性至少為400°C。 3 ·依據申請專利範圍第丨項之組成物,其中基質前驅物包 括二乙烯基矽氧烷-雙-苯并環丁烯的b-階段反應產物 1· 4·依據申請專利範圍第丨項之組成物,其中基質前驅物包 括部分聚合的反應產物,反應物包括··(a)雙環戊—婦 酮,其化學式為: 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格(210Χ297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填窝本頁) ·、τ 47 1253456 申請專利範圍 ,0 ^Ar1 Rl R1 (b)—多官能度的乙炔,其化學式為 (c)及,選 卜二乙块,其化學式為 R r—AT: j^2 其二㈣分別為H或一未取代的或被惰性取代的芳Ί:ΑΓ、Ar2和Ar3分別為—未取代的芳族部分 ,或被惰性取代的芳族部分,而⑴或3以上的-整數 依據申請專利範圍第〗項之組成物,其中該孔化 聚合物。 、~ 劑是 6.依據申請專利範圍第2項之組成物,其中該孔化劑是一 聚合物,其在温度低於交聯的含烴材料之熱穩定溫度 時會降解。 又 依據申請專利範圍第5項之組成物,其中該孔化 甘欠段共聚物。 劑是 8. 依據申請專利範圍第6項之组成物,其中該孔化劑是一 同元聚合物 9. 依據中請專利範圍第8項之組成物,其中該孔化劑是一 本紙張尺度適用中國國緖A^T^297公釐)
48 1253456 A8 B8 C8 ______ D8 六、申請專利範圍 聚苯乙烯,且該交聯的含烴材料是一聚芳烯。 10.依據申請專利範圍第丨項之組成物’其中該孔化劑與該 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 基質前驅物作用生成的基團是從交聯的含烴材料上的 垂懸物。 11 ·依據申請專利範圍第丨項之組成物,其中該孔化劑是一 顆粒,其平均直徑是從丨至50nm,該顆粒乃選自樹枝 狀聚合物、超分枝的聚合物、和乳膠顆粒。 12.依據申請專利範圍第i項之組成物,其Tg至少為35〇。〇 ’其中該孔化劑是一反應性或非反應性:a)二嵌段聚 合物’其中嵌段之一是與交聯的聚合物基質掛脂相容 的,而另一嵌段中是與之不相容的;b)樹枝狀聚合物 ;C)乳膠顆粒;d)溶劑;e)氣體;f)熱塑低聚物或幻可 溶於一溶劑或超臨界氣體的材料。 13·依據申請專利範圍第1項之組成物,進一步包括一溶劑 〇 14·依據申請專利範圍第13項之組成物,其中的溶劑選自 莱、吡啶、三乙基胺、N-甲基吡咯烷酮(NMP)、苯甲 酸甲酯、苯甲酸乙酯、苯甲酸丁酯、環戊酮、環己酮 、環庚酮、環辛酮、環己基吡咯烷酮,及醚或羥基醚 ,諸如二苄基醚、雙甲氧乙)醚、三甲氧乙)醚、 二甘醇乙_、二甘醇甲謎、二丙二醇甲醚、二丙二醇 二甲醚、丙二醇苯醚、丙二醇甲醚、三丙二醇曱醚、 甲苯、二甲苯、苯、二丙二醇單甲基醚乙酸酯、二氣 笨、碳酸丙烯酯、萘、二苯醚、丁内酯、二甲基乙醯 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) 49 六、申請專利範圍 胺、二甲基甲醯胺、和其混合物。 15.依據申請專利範圍第3項之組成物,其中胎孔化劑選自 聚(伸烷基二醇)、其中伸烷基有2至5個碳原子,聚伸 烷二醇之嵌段共聚物、聚醯胺基胺樹枝狀聚合物、和 聚己内酯。 16·依據申請專利範圍第4項之組成物,其中該孔化劑是選 自含反應性和非反應性聚苯乙烯聚合物,超分枝的聚 酯、交聯的聚苯乙烯乳膠、脂族聚醯胺、聚伸烷二醇 聚合物,其中伸烷基有2至5個碳原子,苯乙烯和丙烯 酸或甲基丙烯酸酯之嵌段共聚物,和丁二烯與己内酯 之嵌段共聚物。 17. —種在一底材上製一多孔膜之方法,包括: 提供一底材; 在底材上塗覆包括依據申請專利範圍第2項的組成 , 物和一溶劑的一溶液; ”除去溶劑,固化基質前驅物來生成交聯的含烴材 料和藉加熱至一溫度是低於交聯的含烴材料之熱穩定 溫度來降解孔化劑。 18. 依據申請專利範圍第17項的方法,其中除去、反應和 降解步驟發生在單一加熱步驟中。 19·依據申請專利範圍第17項的方法,其中降解步驟包括 從塗層中除去至少8〇%的熱塑料。 20.依據申請專利範圍第17項的方法’其中交聯的含烴材 料是一聚芳烯,而該孔化劑是聚苯乙烯。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297^^一^ -~'— -50 - Ϊ253456 —-----、申請專利範圍 21. 種在底材上製一多孔膜之方法,包括: 提供一底材; 在底材上塗覆包括依據申請專利範圍第丨5項的 成物和一溶劑的一溶液;. 組 除去溶劑,固化基質前驅物來形成交聯的含烴材 料’並藉加熱來降解孔化劑。 22 _ 種在一底材上製一多孔膜之方法,包括: 提供一底材; 在底材上塗覆包括依據申請專利範圍第15項的組 成物和溶劑的一溶液; 除去溶劑,固化基質前驅物來形成交聯的含烴材 料,並藉加熱來降解該孔化劑。 A-種低介電常數材料’包括一多孔的交聯的含煙基 ,具有Tg高於30(rc,其中該含烴基質包含有選自 列群組之物質:聚芳_、已交聯的笨并環丁稀吳基 礎之聚合物;具有聚環戊二烯酮與乙炔官能性之交聯 反應產物,其中至少部分化合物具有3個此類官能基; 雙-鄰-二乙炔化合物之交聯反應產物;全氟乙烯化合 物之交聯反應產物。 24.依據申請專利範圍第23項之㈣,其介電常數小於η 質 下 f請先閲讀背面之注意事项再塡、寫本頁) f r、可~ 25·依據申請專利範圍第23項之材料,其介電常數小 於2.2 26.依射請專利範圍第23項之材料,其中孔的平均直徑 51 1253456 、申請專利範園 小於400nm。 27·依據申請專利範圍第23項 -一 一 貝之材科,其中該孔的平均直 徑小於20nm。 28. 依據申請專利職第23項之㈣,該孔至少佔據材料 體積的10%。 29. 依據申請專利範圍第23項之材料,其為一厚度至少㈣ 微米之膜。 3〇.依據申請專利範圍第23項之材料,其為一聚芳婦。 31. -種物件,其包括—底材和依據中請專利範圍第%項 的材料。 、 32·依據申請專利範圍第31項之物件,其中材料是一聚芳 烯。 33· —積體電路物件,包括含電晶體的一主動基材和含圖 案的金屬線之電互連結構,金屬線係以如申請專利範 圍第23項之該多孔介電材料層或區域隔離,至少是部 分隔離。 34·依據申请專利範圍第33項之物件,其中交聯的樹脂是 一聚環戊二烯酮官能化合物和一聚乙炔官能化合物的 一固化產物。 35·依據申請專利範圍第31項之物件,其為一液晶顯示裝 置。 、 36.依據申請專利範圍第4項之組成物,其中該孔化劑是交 聯的聚苯乙烯乳膠顆粒。 37·依據申請專利範圍第34項之組成物,其中該孔化劑係 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X:297公釐) 52 1253456 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 共價鍵結至該基質前驅物。 3 8·依據申請專利範圍第17項之方法,其中在該孔化劑被 移除前該基質係已被固化。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) 53 ---------------------υ 訂------------------ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
TW088120449A 1998-11-24 2000-02-16 A composition containing a cross-linkable matrix precursor and a poragen, and a porous matrix prepared therefrom TWI253456B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10971098P 1998-11-24 1998-11-24

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TWI253456B true TWI253456B (en) 2006-04-21

Family

ID=22329136

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW088120449A TWI253456B (en) 1998-11-24 2000-02-16 A composition containing a cross-linkable matrix precursor and a poragen, and a porous matrix prepared therefrom

Country Status (10)

Country Link
US (4) US6630520B1 (zh)
EP (1) EP1141128B1 (zh)
JP (2) JP2002530505A (zh)
KR (1) KR100699712B1 (zh)
CN (1) CN1325560C (zh)
AT (1) ATE323132T1 (zh)
DE (1) DE69930874T2 (zh)
IL (1) IL143207A0 (zh)
TW (1) TWI253456B (zh)
WO (1) WO2000031183A1 (zh)

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8372295B2 (en) 2007-04-20 2013-02-12 Micron Technology, Inc. Extensions of self-assembled structures to increased dimensions via a “bootstrap” self-templating method
US8394483B2 (en) 2007-01-24 2013-03-12 Micron Technology, Inc. Two-dimensional arrays of holes with sub-lithographic diameters formed by block copolymer self-assembly
US8404124B2 (en) 2007-06-12 2013-03-26 Micron Technology, Inc. Alternating self-assembling morphologies of diblock copolymers controlled by variations in surfaces
TWI391992B (zh) * 2008-03-21 2013-04-01 Micron Technology Inc 具有受限於以均等優先濕潤兩嵌段之上介面之嵌段共聚物膜的熱退火
US8409449B2 (en) 2007-03-06 2013-04-02 Micron Technology, Inc. Registered structure formation via the application of directed thermal energy to diblock copolymer films
US8425982B2 (en) 2008-03-21 2013-04-23 Micron Technology, Inc. Methods of improving long range order in self-assembly of block copolymer films with ionic liquids
US8445592B2 (en) 2007-06-19 2013-05-21 Micron Technology, Inc. Crosslinkable graft polymer non-preferentially wetted by polystyrene and polyethylene oxide
US8455082B2 (en) 2008-04-21 2013-06-04 Micron Technology, Inc. Polymer materials for formation of registered arrays of cylindrical pores
US8518275B2 (en) 2008-05-02 2013-08-27 Micron Technology, Inc. Graphoepitaxial self-assembly of arrays of downward facing half-cylinders
US8551808B2 (en) 2007-06-21 2013-10-08 Micron Technology, Inc. Methods of patterning a substrate including multilayer antireflection coatings
US8557128B2 (en) 2007-03-22 2013-10-15 Micron Technology, Inc. Sub-10 nm line features via rapid graphoepitaxial self-assembly of amphiphilic monolayers
US8642157B2 (en) 2008-02-13 2014-02-04 Micron Technology, Inc. One-dimensional arrays of block copolymer cylinders and applications thereof
US8956713B2 (en) 2007-04-18 2015-02-17 Micron Technology, Inc. Methods of forming a stamp and a stamp
US8999492B2 (en) 2008-02-05 2015-04-07 Micron Technology, Inc. Method to produce nanometer-sized features with directed assembly of block copolymers
US9087699B2 (en) 2012-10-05 2015-07-21 Micron Technology, Inc. Methods of forming an array of openings in a substrate, and related methods of forming a semiconductor device structure
US9177795B2 (en) 2013-09-27 2015-11-03 Micron Technology, Inc. Methods of forming nanostructures including metal oxides
US9229328B2 (en) 2013-05-02 2016-01-05 Micron Technology, Inc. Methods of forming semiconductor device structures, and related semiconductor device structures
US9431605B2 (en) 2011-11-02 2016-08-30 Micron Technology, Inc. Methods of forming semiconductor device structures
US9768021B2 (en) 2007-04-18 2017-09-19 Micron Technology, Inc. Methods of forming semiconductor device structures including metal oxide structures
TWI666229B (zh) * 2016-12-05 2019-07-21 Rohm And Haas Electronic Materials Llc 用於底層之芳族樹脂

Families Citing this family (125)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100699712B1 (ko) * 1998-11-24 2007-03-27 다우 글로벌 테크놀로지스 인크. 가교결합성 매트릭스 전구체와 포라겐을 함유하는 조성물및 이로부터 제조된 다공성 매트릭스
JP4159199B2 (ja) * 1999-09-16 2008-10-01 日東電工株式会社 多孔質体及び多孔質体の製造方法
US6420441B1 (en) 1999-10-01 2002-07-16 Shipley Company, L.L.C. Porous materials
US6359091B1 (en) 1999-11-22 2002-03-19 The Dow Chemical Company Polyarylene compositions with enhanced modulus profiles
JP4940499B2 (ja) * 2000-03-17 2012-05-30 東レ株式会社 低誘電率重合体
JP2001348451A (ja) * 2000-06-07 2001-12-18 Toray Ind Inc 低誘電率重合体
US6271273B1 (en) 2000-07-14 2001-08-07 Shipley Company, L.L.C. Porous materials
US6559215B2 (en) * 2000-07-19 2003-05-06 Dow Global Technologies Inc. Spin-on-dielectric compositions with coating enhancer
US20020022708A1 (en) * 2000-07-19 2002-02-21 Honeywell International Inc. Compositions and methods for thermosetting molecules in organic compositions
US6391932B1 (en) 2000-08-08 2002-05-21 Shipley Company, L.L.C. Porous materials
US7115531B2 (en) 2000-08-21 2006-10-03 Dow Global Technologies Inc. Organosilicate resins as hardmasks for organic polymer dielectrics in fabrication of microelectronic devices
JP4951831B2 (ja) * 2000-08-31 2012-06-13 住友ベークライト株式会社 絶縁膜用樹脂組成物及びこれを用いた絶縁膜
JP2004509468A (ja) 2000-09-13 2004-03-25 シップレーカンパニー エル エル シー 電子デバイスの製造
US20020132496A1 (en) * 2001-02-12 2002-09-19 Ball Ian J. Ultra low-k dielectric materials
US6685983B2 (en) * 2001-03-14 2004-02-03 International Business Machines Corporation Defect-free dielectric coatings and preparation thereof using polymeric nitrogenous porogens
US6998148B1 (en) * 2001-03-28 2006-02-14 Shipley Company, L.L.C. Porous materials
KR100432152B1 (ko) * 2001-04-12 2004-05-17 한국화학연구원 다분지형 폴리알킬렌 옥시드 포로젠과 이를 이용한저유전성 절연막
US20030006477A1 (en) * 2001-05-23 2003-01-09 Shipley Company, L.L.C. Porous materials
JP2003131001A (ja) 2001-05-25 2003-05-08 Shipley Co Llc 多孔性光学物質
US7141188B2 (en) * 2001-05-30 2006-11-28 Honeywell International Inc. Organic compositions
US6740685B2 (en) * 2001-05-30 2004-05-25 Honeywell International Inc. Organic compositions
WO2003064495A2 (en) * 2001-11-07 2003-08-07 Dow Global Technologies Inc. Planarized microelectronic substrates
US6933586B2 (en) 2001-12-13 2005-08-23 International Business Machines Corporation Porous low-k dielectric interconnects with improved adhesion produced by partial burnout of surface porogens
WO2003060979A2 (en) * 2002-01-15 2003-07-24 Honeywell International Inc. Organic compositions for low dielectric constant materials
US20030152693A1 (en) * 2002-02-12 2003-08-14 Su Kai C. Methods of applying a coating to an optical surface
AU2003215182A1 (en) * 2002-02-15 2003-09-04 Dow Global Technologies Inc. Multifunctional monomers and their use in making cross-linked polymers and porous films
US20030165625A1 (en) * 2002-02-15 2003-09-04 So Ying Hung Method of making a nanoporous film
US7635741B2 (en) 2002-02-15 2009-12-22 Dow Global Technologies Inc. Multifunctional monomers and their use in making cross-linked polymers and porous films
US6890703B2 (en) * 2002-03-06 2005-05-10 International Business Machines Corporation Preparation of crosslinked particles from polymers having activatible crosslinking groups
AU2003233470A1 (en) 2002-04-02 2003-10-20 Dow Global Technologies Inc. Process for making air gap containing semiconducting devices and resulting semiconducting device
US7060204B2 (en) * 2002-04-29 2006-06-13 Honeywell International Inc. Organic compositions
US20040017698A1 (en) * 2002-07-25 2004-01-29 Micron Technology, Inc. Refined gate coupled noise compensation for open-drain output from semiconductor device
US7470564B2 (en) * 2002-10-28 2008-12-30 Intel Corporation Flip-chip system and method of making same
US20060252906A1 (en) * 2003-02-20 2006-11-09 Godschalx James P Method of synthesis of polyarylenes and the polyarylenes made by such method
US20040191417A1 (en) * 2003-03-28 2004-09-30 Dorie Yontz Method of integrating a porous dielectric in an integrated circuit device
WO2004090018A1 (en) * 2003-04-02 2004-10-21 Dow Global Technologies Inc. Multifunctional substituted monomers and polyarylene compositions therefrom
US7381850B2 (en) 2003-04-02 2008-06-03 Dow Global Technologies Inc. Multifunctional unsymmetrically substituted monomers and polyarylene compositions therefrom
US6855738B2 (en) * 2003-06-06 2005-02-15 Dow Global Technologies Inc. Nanoporous laminates
US20040253442A1 (en) * 2003-06-11 2004-12-16 Ervin Mubarekyan Method of forming a nanoporous film and compositions useful in such methods
US7030167B2 (en) * 2003-06-25 2006-04-18 Agilent Technologies, Inc. Nanoporous structures produced from self-assembling molecules
KR100510915B1 (ko) * 2003-07-18 2005-08-26 매그나칩 반도체 유한회사 반도체 소자의 절연막 형성 방법
US7071539B2 (en) 2003-07-28 2006-07-04 International Business Machines Corporation Chemical planarization performance for copper/low-k interconnect structures
US20070037894A1 (en) * 2003-09-19 2007-02-15 Hahnfeld Jerry L Multifunctional menomers and polyarylene compsotions therefrom
JP2007505976A (ja) * 2003-09-19 2007-03-15 ダウ グローバル テクノロジーズ インコーポレイティド 結合ポラゲン含有多官能性モノマー及びそれからのポリアリーレン組成物
KR100612079B1 (ko) * 2003-10-09 2006-08-11 주식회사 엘지화학 방사형 다분지 고분자 및 이를 이용한 다공성 막
US7585928B2 (en) 2003-10-21 2009-09-08 Dow Global Technologies Multifunctional monomers containing bound mesogenic poragen forming moieties and polyarylene compositions therefrom
US7626059B2 (en) 2003-10-21 2009-12-01 Dow Global Technologies Inc. Multifunctional ethynyl substituted monomers and polyarylene compositions therefrom
US8053159B2 (en) 2003-11-18 2011-11-08 Honeywell International Inc. Antireflective coatings for via fill and photolithography applications and methods of preparation thereof
CA2554163A1 (en) 2004-01-23 2005-08-11 The Trustees Of The University Of Pennsylvania Facially amphiphilic polyaryl and polyarylalkynyl polymers and oligomers and uses thereof
KR101123436B1 (ko) * 2004-06-10 2012-03-28 다우 글로벌 테크놀로지스 엘엘씨 나노다공질 유전체 필름의 형성 방법
JP4878779B2 (ja) 2004-06-10 2012-02-15 富士フイルム株式会社 膜形成用組成物、絶縁膜及び電子デバイス
CN100482734C (zh) * 2004-08-10 2009-04-29 巴斯福股份公司 具有改进流动性和改进脱模性的热塑性模塑组合物
US7678682B2 (en) * 2004-11-12 2010-03-16 Axcelis Technologies, Inc. Ultraviolet assisted pore sealing of porous low k dielectric films
JP2006176466A (ja) * 2004-12-24 2006-07-06 Sumitomo Chemical Co Ltd 芳香族の化合物
TWI261915B (en) * 2005-01-07 2006-09-11 Ind Tech Res Inst Phase change memory and fabricating method thereof
US7754818B2 (en) * 2005-01-11 2010-07-13 Brewer Science Inc. Gap fill materials and bottom anti-reflective coatings comprising hyperbranched polymers
US8535702B2 (en) * 2005-02-01 2013-09-17 Boston Scientific Scimed, Inc. Medical devices having porous polymeric regions for controlled drug delivery and regulated biocompatibility
US7960442B2 (en) 2005-04-20 2011-06-14 International Business Machines Corporation Nanoporous media templated from unsymmetrical amphiphilic porogens
US7482389B2 (en) * 2005-04-20 2009-01-27 International Business Machines Corporation Nanoporous media with lamellar structures
US7723438B2 (en) * 2005-04-28 2010-05-25 International Business Machines Corporation Surface-decorated polymeric amphiphile porogens for the templation of nanoporous materials
US7459183B2 (en) * 2005-07-27 2008-12-02 International Business Machines Corporation Method of forming low-K interlevel dielectric layers and structures
JP4788415B2 (ja) * 2006-03-15 2011-10-05 ソニー株式会社 半導体装置の製造方法
WO2007134160A2 (en) * 2006-05-12 2007-11-22 Massachusetts Institute Of Technology Temperature-jump dynamic nuclear polarization
US8053375B1 (en) * 2006-11-03 2011-11-08 Advanced Technology Materials, Inc. Super-dry reagent compositions for formation of ultra low k films
US8642246B2 (en) 2007-02-26 2014-02-04 Honeywell International Inc. Compositions, coatings and films for tri-layer patterning applications and methods of preparation thereof
WO2008115848A1 (en) * 2007-03-19 2008-09-25 University Of Massachusetts Method of producing nanopatterned templates
JP2009079137A (ja) * 2007-09-26 2009-04-16 Fujifilm Corp 膜形成用組成物及び膜の製造方法
EP2231760A1 (en) * 2007-12-28 2010-09-29 Dow Global Technologies Inc. Small scale functional materials
CN101960364A (zh) * 2007-12-28 2011-01-26 陶氏环球技术公司 包含吸收有液晶物质的聚合物纳米粒子的相位补偿膜
JP2009212260A (ja) * 2008-03-04 2009-09-17 Fujifilm Corp
JP2009242440A (ja) * 2008-03-28 2009-10-22 Fujifilm Corp 絶縁膜形成用組成物
EP2316876B1 (en) * 2008-08-19 2016-11-16 DIC Corporation Organic polymer porous material and method for producing the same
US8211737B2 (en) 2008-09-19 2012-07-03 The University Of Massachusetts Method of producing nanopatterned articles, and articles produced thereby
US8247033B2 (en) 2008-09-19 2012-08-21 The University Of Massachusetts Self-assembly of block copolymers on topographically patterned polymeric substrates
US8518837B2 (en) 2008-09-25 2013-08-27 The University Of Massachusetts Method of producing nanopatterned articles using surface-reconstructed block copolymer films
JP2012061599A (ja) * 2009-01-21 2012-03-29 Nissan Chem Ind Ltd ベンゾシクロブテン樹脂のインプリント技術への適用及び当該技術によるパターン形成方法
US9138308B2 (en) 2010-02-03 2015-09-22 Apollo Endosurgery, Inc. Mucosal tissue adhesion via textured surface
CA2799201C (en) 2010-05-11 2016-09-20 Allergan, Inc. Porogen compositions, methods of making and uses
US9156682B2 (en) 2011-05-25 2015-10-13 The University Of Massachusetts Method of forming oriented block copolymer line patterns, block copolymer line patterns formed thereby, and their use to form patterned articles
US8864898B2 (en) 2011-05-31 2014-10-21 Honeywell International Inc. Coating formulations for optical elements
US9120898B2 (en) 2011-07-08 2015-09-01 Baker Hughes Incorporated Method of curing thermoplastic polymer for shape memory material
US8939222B2 (en) 2011-09-12 2015-01-27 Baker Hughes Incorporated Shaped memory polyphenylene sulfide (PPS) for downhole packer applications
US8829119B2 (en) 2011-09-27 2014-09-09 Baker Hughes Incorporated Polyarylene compositions for downhole applications, methods of manufacture, and uses thereof
US9144925B2 (en) 2012-01-04 2015-09-29 Baker Hughes Incorporated Shape memory polyphenylene sulfide manufacturing, process, and composition
CN102658037B (zh) * 2012-04-26 2014-02-26 青岛科技大学 一种聚偏氟乙烯平板微孔膜的制备方法
WO2014022657A1 (en) 2012-08-02 2014-02-06 Allergan, Inc. Mucosal tissue adhesion via textured surface
KR101394396B1 (ko) * 2012-08-06 2014-05-13 광주과학기술원 공유결합 망상구조를 가지는 다공성 고분자 분리막 및 그 제조방법
WO2014052724A1 (en) 2012-09-28 2014-04-03 Allergan, Inc. Porogen compositions, methods of making and uses
CA2889002C (en) 2012-10-22 2022-07-12 Delsper LP Cross-linked organic polymer compositions and methods for controlling cross-linking reaction rate and of modifying same to enhance processability
US9269623B2 (en) 2012-10-25 2016-02-23 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Ephemeral bonding
US9273215B2 (en) 2012-10-30 2016-03-01 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Adhesion promoter
US9707642B2 (en) 2012-12-07 2017-07-18 Baker Hughes Incorporated Toughened solder for downhole applications, methods of manufacture thereof and articles comprising the same
JP6272908B2 (ja) 2013-01-28 2018-01-31 デルスパー リミテッド パートナーシップ シーリングおよび耐摩耗性構成部材のための抗押出性組成物
CA2906858C (en) 2013-03-15 2021-09-21 Delsper LP Cross-linked organic polymers for use as elastomers
US9551680B2 (en) 2013-06-28 2017-01-24 Verily Life Sciences Llc Chemically reactive enzyme immobilization
US9750445B2 (en) 2013-06-28 2017-09-05 Verily Life Sciences Llc Porous polymeric formulation prepared using porogens
US9828620B2 (en) 2013-06-28 2017-11-28 Verily Life Sciences Llc Porous polymeric formulation prepared using monomer
US9441258B2 (en) 2013-06-28 2016-09-13 Verily Life Sciences LLP Enzyme immobilization by crosslinking
US9763605B2 (en) 2013-11-27 2017-09-19 Verily Life Sciences Llc Adjustment of sensor sensitivity by controlling copolymer film thickness through a controlled drying step
US9617578B2 (en) 2013-12-06 2017-04-11 Verily Life Sciences Llc Sensor membrane with low temperature coefficient
US9855359B2 (en) 2013-12-23 2018-01-02 Verily Life Sciences Llc Analyte sensors with ethylene oxide immunity
US9834805B2 (en) 2013-12-23 2017-12-05 Verily Life Sciences Llc Two-layer analyte sensor
US9739746B1 (en) 2013-12-23 2017-08-22 Google Inc. Analyte sensor incorporating negatively charged moieties
US9153357B1 (en) 2014-03-27 2015-10-06 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Adhesion promoter
US10369248B2 (en) 2014-07-29 2019-08-06 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Porous polymer composites
US9868820B2 (en) * 2014-08-29 2018-01-16 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Polyarylene materials
US9481810B2 (en) * 2014-12-15 2016-11-01 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Silylated polyarylenes
WO2016137445A1 (en) 2015-02-24 2016-09-01 South Dakota Board Of Regents Polycarbonates having superior dielectric properties suitable for energy dense capacitors
US9486685B2 (en) 2015-02-25 2016-11-08 Jay Rambo Apparatus for providing swing technique feedback
US9296915B1 (en) 2015-04-10 2016-03-29 Dow Global Technologies Llc Toughened arylcyclobutene polymers
WO2016167892A1 (en) 2015-04-13 2016-10-20 Honeywell International Inc. Polysiloxane formulations and coatings for optoelectronic applications
US20170009006A1 (en) * 2015-07-06 2017-01-12 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Polyarylene materials
US10340182B2 (en) 2015-11-30 2019-07-02 International Business Machines Corporation Enhanced via fill material and processing for dual damscene integration
US10190100B1 (en) 2015-12-28 2019-01-29 Verily Life Sciences Llc Chemical modification of glucose oxidase and its application to biosensors
US10790146B2 (en) 2016-12-05 2020-09-29 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Aromatic resins for underlayers
US20180171069A1 (en) * 2016-12-19 2018-06-21 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Polyarylene resins
CN107903436A (zh) * 2017-11-28 2018-04-13 烟台史密得机电设备制造有限公司 一种涂覆多孔环氧树脂泡沫的制备方法
EP3623136B1 (en) 2018-09-14 2023-11-29 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Method for producing three-dimensional hydrogel structures and device for the layerwise building-up of such hydrogel structures
CN111362587B (zh) * 2020-04-28 2022-05-24 东莞南玻太阳能玻璃有限公司 一种高硬度防潮增透太阳能玻璃及其制备方法
US20240199918A1 (en) 2021-03-30 2024-06-20 Nissan Chemical Corporation Adhesive composition, laminate, method of manufacturing laminate, and method of manufacturing processed substrate
WO2022210262A1 (ja) 2021-03-31 2022-10-06 日産化学株式会社 積層体、剥離剤組成物及び加工された半導体基板の製造方法
CN117157738A (zh) 2021-03-31 2023-12-01 日产化学株式会社 层叠体、剥离剂组合物以及经加工的半导体基板的制造方法
KR20230164088A (ko) 2021-03-31 2023-12-01 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 적층체, 박리제 조성물 및 가공된 반도체 기판의 제조 방법
KR20240105389A (ko) 2021-10-29 2024-07-05 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 적층체, 박리제 조성물 및 가공된 반도체 기판의 제조 방법
US11982377B1 (en) * 2021-11-08 2024-05-14 Meta Platforms Technologies, Llc Fluidic devices

Family Cites Families (63)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US588329A (en) * 1897-08-17 Rotary blower
US554305A (en) * 1896-02-11 Sash-fastener
GB154644A (en) 1919-06-05 1920-12-06 British Thomson Houston Co Ltd Improvements in and relating to driving mechanism for paper making machines
US3705118A (en) 1971-01-11 1972-12-05 Ibm Process for forming a microporous cellular polyimide
US4201820A (en) 1973-05-03 1980-05-06 Exxon Research & Engineering Co. Microcellular heterocyclic polymer structures
GB1473946A (en) 1973-05-03 1977-05-18 Exxon Research Engineering Co Cellular heterocyclic polymer structures
US4272467A (en) 1975-12-22 1981-06-09 Exxon Research & Engineering Co. Method for producing an essentially gas and liquid impermeable low density, closed-cell, microcellular polyparabanic acid article
US4400865A (en) 1980-07-08 1983-08-30 International Business Machines Corporation Self-aligned metal process for integrated circuit metallization
US4426769A (en) 1981-08-14 1984-01-24 Amp Incorporated Moisture getter for integrated circuit packages
US4859715A (en) 1984-05-18 1989-08-22 Raychem Corporation Microporous poly (arylether ketone) article
US4540763A (en) 1984-09-14 1985-09-10 The Dow Chemical Company Polymers derived from poly(arylcyclobutenes)
JPS61137711A (ja) 1984-12-10 1986-06-25 Asahi Chem Ind Co Ltd 多孔質プラスチツク成形品及びその製造方法
JPS6211617A (ja) 1985-07-09 1987-01-20 Fuji Photo Film Co Ltd 微孔性膜の製造方法
US4812588A (en) * 1987-12-14 1989-03-14 The Dow Chemical Company Polyorganosiloxane-bridged bisbenzocyclobutene monomers
JPH0756763B2 (ja) 1988-04-01 1995-06-14 株式会社潤工社 超電導ケーブル
JPH01254758A (ja) 1988-04-01 1989-10-11 Junkosha Co Ltd 低誘電率複合材料
US5246782A (en) 1990-12-10 1993-09-21 The Dow Chemical Company Laminates of polymers having perfluorocyclobutane rings and polymers containing perfluorocyclobutane rings
US5037917A (en) 1989-06-09 1991-08-06 The Dow Chemical Company Perfluorocyclobutane ring-containing polymers
US5021602A (en) 1989-06-09 1991-06-04 The Dow Chemical Company Reactive compounds containing perfluorocyclobutane rings
US5023380A (en) 1989-06-09 1991-06-11 The Dow Chemical Company Perfluorovinyl compounds
US5155175A (en) 1989-12-08 1992-10-13 Intellectual Property Law Dept. Crosslinkable fluorinated polyarylene ether composition
US5227103A (en) 1990-02-07 1993-07-13 E. I. Du Pont De Nemours And Company High speed insulated conductors
US5115082A (en) 1990-04-17 1992-05-19 Raychem Corporation Fluorinated poly(arylene ether)
US5179188A (en) 1990-04-17 1993-01-12 Raychem Corporation Crosslinkable fluorinated aromatic ether composition
JP2802172B2 (ja) 1990-12-06 1998-09-24 松下電工株式会社 複合誘電体およびプリント回路用基板
US5714243A (en) 1990-12-10 1998-02-03 Xerox Corporation Dielectric image receiving member
US5155082A (en) * 1991-04-12 1992-10-13 Allied-Signal Inc. Catalyst for the manufacture of chlorofluorocarbons, hydrochlorofluorocarbons and hydrofluorocarbons
JPH0799646B2 (ja) 1991-05-03 1995-10-25 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション 分子的多孔性エーロゲルで充填された低誘電率複合積層品
JP2531906B2 (ja) * 1991-09-13 1996-09-04 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション 発泡重合体
JPH05168880A (ja) 1991-12-20 1993-07-02 Mitsubishi Kasei Corp 複合分離膜
US5235044A (en) 1992-09-09 1993-08-10 Raychem Corporation Compounds having oxadiazole and triazene moieties, crosslinkable polymers therefrom, and methods therefor
FR2700883B1 (fr) 1993-01-26 1995-02-24 Thomson Csf Procédé d'obtention de polymère à permittivité réduite.
CA2115334A1 (en) 1993-02-10 1994-08-11 Isao Tomioka Film forming solution, porous film obtained therefrom and coated material with the porous film
FR2701602B1 (fr) 1993-02-12 1995-03-31 Thomson Csf Détecteur thermique comprenant un isolant thermique en polymère expansé.
US5290820A (en) 1993-07-29 1994-03-01 Shell Oil Company Process for preparing low density porous crosslinked polymeric materials
JPH07182291A (ja) 1993-12-22 1995-07-21 Casio Comput Co Ltd データバンク装置
US5486493A (en) 1994-02-25 1996-01-23 Jeng; Shin-Puu Planarized multi-level interconnect scheme with embedded low-dielectric constant insulators
US5422377A (en) 1994-04-06 1995-06-06 Sandia Corporation Microporous polymer films and methods of their production
US5449427A (en) 1994-05-23 1995-09-12 General Electric Company Processing low dielectric constant materials for high speed electronics
US5785787A (en) 1994-05-23 1998-07-28 General Electric Company Processing low dielectric constant materials for high speed electronics
US5550405A (en) 1994-12-21 1996-08-27 Advanced Micro Devices, Incorporated Processing techniques for achieving production-worthy, low dielectric, low interconnect resistance and high performance ICS
US5540997A (en) 1995-03-13 1996-07-30 The Dow Chemical Company Alignment layer for a liquid crystal in a liquid crystal display device
US5986045A (en) 1995-06-26 1999-11-16 Alliedsignal Inc. Poly(arylene ether) compositions and the method for their manufacture
US5874516A (en) 1995-07-13 1999-02-23 Air Products And Chemicals, Inc. Nonfunctionalized poly(arylene ethers)
JP4260882B2 (ja) 1995-09-12 2009-04-30 ダウ グローバル テクノロジーズ インコーポレイティド エチニル置換芳香族化合物、それらの合成、ポリマーおよび使用
JP3115215B2 (ja) 1995-10-05 2000-12-04 松下電器産業株式会社 低誘電率プラスチック絶縁フィルムおよびその製造方法
US5726211A (en) 1996-03-21 1998-03-10 International Business Machines Corporation Process for making a foamed elastometric polymer
US5700844A (en) 1996-04-09 1997-12-23 International Business Machines Corporation Process for making a foamed polymer
US5965679A (en) * 1996-09-10 1999-10-12 The Dow Chemical Company Polyphenylene oligomers and polymers
US5767014A (en) 1996-10-28 1998-06-16 International Business Machines Corporation Integrated circuit and process for its manufacture
US5895263A (en) 1996-12-19 1999-04-20 International Business Machines Corporation Process for manufacture of integrated circuit device
US5883219A (en) 1997-05-29 1999-03-16 International Business Machines Corporation Integrated circuit device and process for its manufacture
US6110649A (en) 1997-11-19 2000-08-29 International Business Machines Corporation Process for manufacture of integrated circuit device
CN1171290C (zh) 1998-06-05 2004-10-13 佐治亚技术研究公司 多孔性绝缘材料及其制备方法
US6093636A (en) 1998-07-08 2000-07-25 International Business Machines Corporation Process for manufacture of integrated circuit device using a matrix comprising porous high temperature thermosets
US6114458A (en) 1998-09-23 2000-09-05 International Business Machines Corporation Highly branched radial block copolymers
US6313185B1 (en) 1998-09-24 2001-11-06 Honeywell International Inc. Polymers having backbones with reactive groups employed in crosslinking as precursors to nanoporous thin film structures
KR100699712B1 (ko) * 1998-11-24 2007-03-27 다우 글로벌 테크놀로지스 인크. 가교결합성 매트릭스 전구체와 포라겐을 함유하는 조성물및 이로부터 제조된 다공성 매트릭스
US6172128B1 (en) 1999-04-09 2001-01-09 Honeywell International Inc. Nanoporous polymers crosslinked via cyclic structures
US6156812A (en) 1999-04-09 2000-12-05 Honeywell International Inc. Nanoporous material fabricated using polymeric template strands
US6420441B1 (en) 1999-10-01 2002-07-16 Shipley Company, L.L.C. Porous materials
US6107357A (en) 1999-11-16 2000-08-22 International Business Machines Corporatrion Dielectric compositions and method for their manufacture
US6359091B1 (en) 1999-11-22 2002-03-19 The Dow Chemical Company Polyarylene compositions with enhanced modulus profiles

Cited By (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8394483B2 (en) 2007-01-24 2013-03-12 Micron Technology, Inc. Two-dimensional arrays of holes with sub-lithographic diameters formed by block copolymer self-assembly
US8512846B2 (en) 2007-01-24 2013-08-20 Micron Technology, Inc. Two-dimensional arrays of holes with sub-lithographic diameters formed by block copolymer self-assembly
US8409449B2 (en) 2007-03-06 2013-04-02 Micron Technology, Inc. Registered structure formation via the application of directed thermal energy to diblock copolymer films
US8753738B2 (en) 2007-03-06 2014-06-17 Micron Technology, Inc. Registered structure formation via the application of directed thermal energy to diblock copolymer films
US8557128B2 (en) 2007-03-22 2013-10-15 Micron Technology, Inc. Sub-10 nm line features via rapid graphoepitaxial self-assembly of amphiphilic monolayers
US8784974B2 (en) 2007-03-22 2014-07-22 Micron Technology, Inc. Sub-10 NM line features via rapid graphoepitaxial self-assembly of amphiphilic monolayers
US9768021B2 (en) 2007-04-18 2017-09-19 Micron Technology, Inc. Methods of forming semiconductor device structures including metal oxide structures
US8956713B2 (en) 2007-04-18 2015-02-17 Micron Technology, Inc. Methods of forming a stamp and a stamp
US9142420B2 (en) 2007-04-20 2015-09-22 Micron Technology, Inc. Extensions of self-assembled structures to increased dimensions via a “bootstrap” self-templating method
US8372295B2 (en) 2007-04-20 2013-02-12 Micron Technology, Inc. Extensions of self-assembled structures to increased dimensions via a “bootstrap” self-templating method
US8404124B2 (en) 2007-06-12 2013-03-26 Micron Technology, Inc. Alternating self-assembling morphologies of diblock copolymers controlled by variations in surfaces
US8609221B2 (en) 2007-06-12 2013-12-17 Micron Technology, Inc. Alternating self-assembling morphologies of diblock copolymers controlled by variations in surfaces
US8513359B2 (en) 2007-06-19 2013-08-20 Micron Technology, Inc. Crosslinkable graft polymer non preferentially wetted by polystyrene and polyethylene oxide
US8445592B2 (en) 2007-06-19 2013-05-21 Micron Technology, Inc. Crosslinkable graft polymer non-preferentially wetted by polystyrene and polyethylene oxide
US8785559B2 (en) 2007-06-19 2014-07-22 Micron Technology, Inc. Crosslinkable graft polymer non-preferentially wetted by polystyrene and polyethylene oxide
US8551808B2 (en) 2007-06-21 2013-10-08 Micron Technology, Inc. Methods of patterning a substrate including multilayer antireflection coatings
US10005308B2 (en) 2008-02-05 2018-06-26 Micron Technology, Inc. Stamps and methods of forming a pattern on a substrate
US8999492B2 (en) 2008-02-05 2015-04-07 Micron Technology, Inc. Method to produce nanometer-sized features with directed assembly of block copolymers
US11560009B2 (en) 2008-02-05 2023-01-24 Micron Technology, Inc. Stamps including a self-assembled block copolymer material, and related methods
US10828924B2 (en) 2008-02-05 2020-11-10 Micron Technology, Inc. Methods of forming a self-assembled block copolymer material
US8642157B2 (en) 2008-02-13 2014-02-04 Micron Technology, Inc. One-dimensional arrays of block copolymer cylinders and applications thereof
US9315609B2 (en) 2008-03-21 2016-04-19 Micron Technology, Inc. Thermal anneal of block copolymer films with top interface constrained to wet both blocks with equal preference
US8425982B2 (en) 2008-03-21 2013-04-23 Micron Technology, Inc. Methods of improving long range order in self-assembly of block copolymer films with ionic liquids
US8426313B2 (en) 2008-03-21 2013-04-23 Micron Technology, Inc. Thermal anneal of block copolymer films with top interface constrained to wet both blocks with equal preference
US8641914B2 (en) 2008-03-21 2014-02-04 Micron Technology, Inc. Methods of improving long range order in self-assembly of block copolymer films with ionic liquids
US9682857B2 (en) 2008-03-21 2017-06-20 Micron Technology, Inc. Methods of improving long range order in self-assembly of block copolymer films with ionic liquids and materials produced therefrom
TWI391992B (zh) * 2008-03-21 2013-04-01 Micron Technology Inc 具有受限於以均等優先濕潤兩嵌段之上介面之嵌段共聚物膜的熱退火
US11282741B2 (en) 2008-03-21 2022-03-22 Micron Technology, Inc. Methods of forming a semiconductor device using block copolymer materials
US10153200B2 (en) 2008-03-21 2018-12-11 Micron Technology, Inc. Methods of forming a nanostructured polymer material including block copolymer materials
US8455082B2 (en) 2008-04-21 2013-06-04 Micron Technology, Inc. Polymer materials for formation of registered arrays of cylindrical pores
US8993088B2 (en) 2008-05-02 2015-03-31 Micron Technology, Inc. Polymeric materials in self-assembled arrays and semiconductor structures comprising polymeric materials
US8518275B2 (en) 2008-05-02 2013-08-27 Micron Technology, Inc. Graphoepitaxial self-assembly of arrays of downward facing half-cylinders
US9431605B2 (en) 2011-11-02 2016-08-30 Micron Technology, Inc. Methods of forming semiconductor device structures
US9087699B2 (en) 2012-10-05 2015-07-21 Micron Technology, Inc. Methods of forming an array of openings in a substrate, and related methods of forming a semiconductor device structure
US9229328B2 (en) 2013-05-02 2016-01-05 Micron Technology, Inc. Methods of forming semiconductor device structures, and related semiconductor device structures
US10049874B2 (en) 2013-09-27 2018-08-14 Micron Technology, Inc. Self-assembled nanostructures including metal oxides and semiconductor structures comprised thereof
US9177795B2 (en) 2013-09-27 2015-11-03 Micron Technology, Inc. Methods of forming nanostructures including metal oxides
TWI666229B (zh) * 2016-12-05 2019-07-21 Rohm And Haas Electronic Materials Llc 用於底層之芳族樹脂

Also Published As

Publication number Publication date
KR20010107984A (ko) 2001-12-07
EP1141128A1 (en) 2001-10-10
US6630520B1 (en) 2003-10-07
IL143207A0 (en) 2002-04-21
US6653358B2 (en) 2003-11-25
US7109249B2 (en) 2006-09-19
DE69930874D1 (de) 2006-05-24
ATE323132T1 (de) 2006-04-15
CN1328589A (zh) 2001-12-26
US20050014855A1 (en) 2005-01-20
US20030083392A1 (en) 2003-05-01
JP2002530505A (ja) 2002-09-17
EP1141128B1 (en) 2006-04-12
DE69930874T2 (de) 2006-11-02
CN1325560C (zh) 2007-07-11
WO2000031183A1 (en) 2000-06-02
US6887910B2 (en) 2005-05-03
US20030092785A1 (en) 2003-05-15
JP5209679B2 (ja) 2013-06-12
KR100699712B1 (ko) 2007-03-27
JP2011012272A (ja) 2011-01-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI253456B (en) A composition containing a cross-linkable matrix precursor and a poragen, and a porous matrix prepared therefrom
US6890703B2 (en) Preparation of crosslinked particles from polymers having activatible crosslinking groups
US6391932B1 (en) Porous materials
Lee et al. Low-dielectric, nanoporous polyimide films prepared from PEO–POSS nanoparticles
Yang et al. Molecular templating of nanoporous ultralow dielectric constant (≈ 1.5) organosilicates by tailoring the microphase separation of triblock copolymers
CN1165564C (zh) 具有增强的模量分析数据的聚芳撑组合物
TW384295B (en) 2,7-substituted fluorene compounds, compositions comprising fluorene oligomers or polymers
US6399666B1 (en) Insulative matrix material
JP2007238696A (ja) 有機絶縁材料、それを用いた絶縁膜用ワニス、絶縁膜及びその製造方法並びに半導体装置
EP1953181A1 (en) Resin composition, varnish, resin film and semiconductor device
Dai et al. Synthesis of fullerene-and fullerol-containing polymers
JP2004504455A (ja) 有機組成物における熱硬化性分子の組成物および方法
EP1476500A4 (en) PROCESS FOR MANUFACTURING NANOPOROUS FILM
TW200906875A (en) Organic insulating material, varnish for resin film using the same, resin film and semiconductor device
JP3681106B2 (ja) 有機絶縁膜材料および有機絶縁膜
Yoshida et al. Micelle formation of poly (vinyl phenol)‐block‐polystyrene by α, ω‐diamines
TW492981B (en) Oligomer, uncured polymer or cured polymer, a process for forming an uncured polymer or a cured polymer, and an integrated circuit article
CN112028746A (zh) 硬掩模用化合物、包含所述化合物的硬掩模组合物及利用其的半导体元件精细图案形成方法
West et al. Ethynylene-disilanylene copolymers
WO2005030848A1 (en) Multifunctional monomers and polyarylene compositions therefrom
Gatsouli et al. Hybrid materials based on CdS and CdSe nanoparticles in glassy block copolymers
JP2008063451A (ja) 芳香族エチニル化合物、樹脂組成物、ワニス、樹脂膜、半導体装置
Jones III Etching of silicon dioxide thin films and synthesis of novolac resins in supercritical carbon dioxide

Legal Events

Date Code Title Description
MK4A Expiration of patent term of an invention patent