TWI249657B - Method for reducing precipitation of developing reactant by lowering a sudden change in ph and apparatus for reducing fluid impingement force on a polymer to be developed on a substrate thereby improving yield and line width control performance - Google Patents

Method for reducing precipitation of developing reactant by lowering a sudden change in ph and apparatus for reducing fluid impingement force on a polymer to be developed on a substrate thereby improving yield and line width control performance Download PDF

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TWI249657B
TWI249657B TW088115847A TW88115847A TWI249657B TW I249657 B TWI249657 B TW I249657B TW 088115847 A TW088115847 A TW 088115847A TW 88115847 A TW88115847 A TW 88115847A TW I249657 B TWI249657 B TW I249657B
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fluid
developer
nozzle
flushing
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Ed C Lee
Murthy Krishna
Reese Reynolds
John Salois
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Description

1249657 A7 ------ B7 五、發明說明(1 ) 扭_關申請案交互參i (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本申請案是接續自1 9 9 8年9月共同待審之美國專 利60/100,738,目前待審中,該申請案的內容 ’倂入本文參考,如同本文完整的宣告。 1明背景 1 ·發明領域 廣義言之’本發明與微電子製造的領域有關,更明確 地說’本發明與增進液體聚合物之產率及線寬性能有關。 2 ·相關技術討論 製版術在持續進步的半導體工業中是主要驅策力之一 ’以獲致更小的特徵尺寸及增進產率◦更明確地說,增進 關鍵尺寸(C D )控制與減少製程-引入之瑕疵及微粒數 量兩者需要同時滿足。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在製作線覓更小的圖案方面,顯影液模組法扮演了重 要角色。在光阻膜上製造高及低溶解液的區域,經過一連 串光學製版處理步驟後進行顯影處理,在顯影期間,經由 一濕式法,將轉移到光阻膜上的影像顯影成3維結構。接 下來的蝕刻處理(大多數是乾蝕)將此影像轉移成基底( 矽、二氧化矽、複矽等)。 目前已有多種很好的顯影方法。一般來說,典型的顯 影處理包括兩主要部分。第一部分,在低速旋轉的晶圓上 噴灑顯影液,接著靜態攪拌成形,並經過長時間的靜止或 -4- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1249657 A7 B7 五、發明說明(2 ) 振盪步驟,高溶解率的區域即被蝕去,在膜上產生一 3 -維的影像。所製作之圖案影像的品質,側壁角及C D控制 的値,全都受顯影處理之第一部分的極大影響◦在化學濕 •式鈾刻後立刻以去離子(D I )水沖洗,主要功用是洗去 被溶解的光阻及混有極少顆粒的顯影液,並計算在已製作 圖案之晶圓上瑕疵數。自然,淸洗步驟在增進製版處理之 產率上極爲重要。 直到現在,尙未完全滿足上述對關鍵尺寸之控制、減 少製程造成之瑕疵數、減少製程造成之微粒數等的要求。 吾人所需的是針對所有這些問題同時解決的答案。 發明槪述 本發明的主要目的是增進產率。本發明另一個主要目 的是增進C D控制能力。本發明提供一種解決晶圓軌跡工 具(wafer track tool)之顯影液模組(developer fluid module )中這些問題的方法。 在實施例中實施的本發明第一種態樣是根據一種藉降 低p Η的突然改變以使顯影作用物之沈澱物減至最少的方 法,該方法的步驟包括:以添加之顯影液對基底上至少〜 部分的聚合物層顯影;接著允許至少部分該添加之顯影液 駐留在該聚合物上,以便將後續之ρ Η的突然改變控制在 最小:並接著以另一種添加之流體沖洗該聚合物。在實施 例中實施的本發明第二種態樣是根據一種藉降低ρ Η的突 然改變以使顯影作用物之沈澱物減至最少的方法,該方法 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ---------訂---- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -5- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1249657 Α7 Β7 五、發明說明(3 ) 的步驟包括:以最初添加之顯影液對基底上至少一部分的 聚合物顯影;接著以另外添加之顯影液沖洗該聚合物以便 將後續之P Η的突然改變控制在最小;並接著以另一種添 •加之流體沖洗該聚合物。在實施例中實施的本發明第三種 態樣是根據一種藉降低Ρ Η的突然改變以使顯影作用物之 沈澱物減至最少的方法,該方法的步驟包括:以添加之顯 影液對基底上至少一部分的聚合物層顯影;接著將該基底 與添加的緩衝液接觸,藉以使至少部分的該顯影液與至少 部分該添加的緩衝液混合,以便將後續之Ρ Η的突然改變 控制在最小;並接著以另一種添加之流體沖洗該聚合物。 在實施例中實施的本發明第四種態樣是根據一種基底 上要被顯影之聚合物層之流體沖擊力最小的裝置,藉以增 進產率及線寬控制性能,該裝置包括:一噴嘴包括:一適 合供應流體的歧管;與該歧管耦合的許多流體導管;以及 位於該許多流體導管內的許多管狀插入物。在實施例中實 施的本發明第五種態樣是根據一種對基底上要被顯影之聚 合物層之流體沖擊力最小的裝置,藉以增進產率及線寬控 制性能,該裝置包括:一噴嘴包括:一適合供應顯影液的 顯影液歧管;與與該顯影歧管耦合的許多顯影液導管;一 適合供應沖洗液的沖洗歧管;以及與沖洗液歧管耦合的許 多沖洗液導管,其中,該顯影液歧管及該沖洗歧管是錯置 的,以縮小該噴嘴的外部寬度。在實施例中實施的本發明 第六種態樣是根據一種對基底上要被顯影之聚合物層之流 體沖撃力最小的裝置,藉以增進產率及線寬控制性能,該 --------訂--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -6- 1249657 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(4 ) 裝置包括:一噴嘴包括:一適合供應顯影液的顯影液歧管 ;與顯影歧管耦合的許多顯影液出口; 一適合供應沖洗液 的沖洗歧管·,以及與沖洗歧管耦合的許多沖洗液出口,且 •該許多沖洗液出口的配置定義一條沖洗液軸,其中該噴嘴 連接到一托架’適合相對於該基底升降該噴嘴,並重新定 位該至少一條沖洗軸,以使實質上與該基底之中心垂線共 平面。 從以下的描述並配合附圖,將可更明瞭本發明這些及 其它目的及態樣◦不過,必須瞭解,以下的描述雖然說明 本發明的較佳實施例及許多特定細節,但這些只是用於說 明並非用於限制。在本發明的範圍內可做許多改變及修改 ,不會偏離本發明的精神,且本發明將包括所有這類修改 〇 圖式簡單說明 參考構成本說明書之一部分的非限制用實施例及附圖 ,將可很容易明瞭本發明之構想的優點及特徵,以及本發 明所提供之組件及模型系統的操作,其中相同的參考編號 (如果出現於一幅以上的圖)指不相同部分。必須注意, 圖中所說明的特徵並非按比例繪製。 圖1說明表示本發明之實施例之多孔噴嘴的底部斜視 圖; 圖2說明表示本發明之實施例之多孔噴嘴的頂部斜視 圖; 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ---------訂------— 1249657
五、發明說明(5 圖3說明圖2所示多孔噴嘴的剖面圖; 圖4說明表示本發明之實施例之多孔噴嘴 的頂視圖; 圖5說明圖 圖6說明圖 圖7說明圖 圖8說明圖 圖9說明圖 圖1 0說明 圖1 1說明 圖1 2 A說 視圖; 圖1 2 B說 的剖面圖; 圖1 3 A說 視圖; 圖1 3 B說 面的剖面圖; 圖1 4說明 4所示多孔噴嘴的端視圖; 4所示多孔噴嘴沿A - A線的剖面圖; 4所示多孔噴嘴的底視圖; 4所示多孔噴嘴的頂部斜視圖; 4所示多孔噴嘴沿B - B線的剖面圖; 圖4所示多孔噴嘴沿C - C線的剖面圖; 圖4所示多孔噴嘴沿D — D線的剖面圖; 明表示本發明之實施例之噴嘴插入物的端 明圖1 2 A所示之噴嘴插入物沿F — F線 明表示本發明之實施例之噴嘴插入物的端 明圖1 3 A所示之噴嘴插入物沿E 一 E剖 -------------------訂--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經 濟 部 智 慧 財 產 局 員 工 消 費 合 作 社 印 製 圖4所示多孔噴嘴A - A線的斜視剖面圖 圖1 5說明本發明之實施例的顯影速率是 之距離的函數,其顯影液軸偏離〇毫米。 圖1 6說明本發明之實施例的顯影速率是 之距離的函數,其顯影液軸偏離5毫米。 圖1 7說明本發明之實施例的顯影速率是 與基底中心 與基底中心 與基底中心 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -8 - 1249657 A7 B7 五、發明說明 之距離的函 圖1 8 之距離的函 • 圖1 9 基底上空間 圖2〇 基底上空間 圖2 1 基底上空間 圖2 2 基底上空間 (6 ) 數,其 說明本 數,其 A - 1 位置的 A - 2 位置的 A - 2 位置的 A — 2 位置的 顯影液 發明之 顯影液 9 D說 函數, 0 D說 函數, 1 D說 函數, 2 D說 函數, 軸偏離 實施例 軸偏離 明本發 其顯影 明本發 其顯影 明本發 其顯影 明本發 其顯影 1 0毫米。 的顯影速率是與基底中心 2 0毫米。 明之實施例的顯影速率是 液軸偏離0毫米; 明之實施例的顯影速率胃 液軸偏離5毫米; 明之實施例的顯影速$胃 液軸偏離1 0毫米; 明之實施例的顯影速率胃 液軸偏離2 0毫米; 主要元件對照表 1 〇 〇 多 孔 噴 嘴 1 〇1 出 □ 1 〇 5 刖 端 面 1 1〇 主 臂 1 1 5 底 面 部 1 3〇 進 □ 歧管 2 〇 〇 多 孔 噴 嘴 2 0 5 刖 端 面 2 1 〇 第 一 臂 2 2 0 第 __ 臂 --------訂--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 3 0 進口歧管 3〇1 35 隔板 340 42 曲道 345 60 第二入口通道 62 曲道 365 8 0 底部面 400 出口 第一入口通道 導管 第二管狀插入物 多孔噴嘴 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -9- 1249657 A7 B7 五、發明說明( 4 0 5 4 15 4 2 5 5 1〇 5 2 0 6 5 5 6 6 5 6 7 0 7〇1 7 10 8 10 8 2 0 10 0 5 10 10 10 15 12 10 14 10 14 3 0
第一入口 第三入口 頂表面 第二歧管 端表面 外部端 歧管底表面 導管 出口 第二歹[J 4 1〇 4 2 0 5 0 5 5 15 6 5 0 6 6 0 6 8 0 7 0 5 7 15 入口 頭
第一歧管 第三歧管 管狀插入物 內部端 底表面 中央歹ij 第三歹[J 可旋轉固定托架 第一縱向端 第一入口室 第二入口室 第三入口室 圓形橫截面 室 1 高度 420 膛孔段 ---------------------訂--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 較佳實施例描述 以下將參考非限制的實施例更完整地解釋本發明及其 各種特徵及優點的細節。對於習知組件及處理技術的描述 將予省略,以免枝節模糊了本發明的細節。 本發明包括微結構(例如微電子結構)的光學製版處 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -10- 1249657 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(8 ) 理。典型上,這些結構要被蝕刻,聚合物的功能是做爲冪 罩,以遮蔽結構中要保留的部分,至少不受蝕劑的影響。 聚合物是可以被顯影的負或/及正光阻。本發明也可以使 ’用資料處理法,將描述聚合物處理狀態的特性轉換成信號 ’以促使各獨立硬體單元的交互連接;例如,重新定位噴 嘴或改變旋轉速率。 本發明包括藉使用新式的多孔輸送裝置(噴嘴)以減 少光學製版步驟中所使用之液體聚合物在顯影處理期間的 瑕疵密度。多孔輸送裝置的重要態樣是減小液滴的衝擊。 輸送系統在顯影液模組中,存在均勻之空氣層流場乃首要 事物。此裝置由於極佳的沖洗動作,可大幅降低瑕疵密度 。此外,此多孔噴嘴系統可以支援兩種不同化性的顯影液 (除了化學沖洗液外),不會有任何交叉污染。此輸送系 統可降低顯影液及去離子水之液體的衝擊力,因此避免圖 案摺疊,這是小特徵尺寸之產率管理的嚴重問題。 本發明可以晶圓軌跡工具之顯影液模組中的一部分。 在本申請案中,本發明可以被分類成包括1 )支援噴灑2 種不同顯影液流體的多孔噴嘴系統,之間沒有任何串擾, 2 )幾何形狀相同或類同的第二多孔噴嘴系統,在沖洗步 驟期間用於噴灑去離子水,3 )實施1 )或2 )部分以支 援雙化性顯影液以及在整個顯影過程中低沖擊力的要求。 本發明包括經由在曝光之晶圓上均勻散布顯影液,以降低 因顯影液模組所造成之關鍵尺寸(C D )的變異。當晶圓 軌跡系統的顯影液模組中包括了此裝置,即可增進整體的 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -11 - --------訂--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) A7
1249657 五、發明說明(9 ) C D控制能力。軌跡系統可與縮小投影曝光裝置耦合。本 文中所使用的、'耦合〃這個名詞意指連接,不一定直接連 接’也不定是機械連接。 本發明有助於防止已顯影之光阻結構的摺疊,它也包 括降低p Η的突然改變。、、突然〃這個名詞,在本文中是 用來描述ρ Η改變的特徵,其定義是兩折曲點間ρ η相對 於時間之改變,兩點間的時間周期大約小於1秒,小於大 約0 · 1秒較佳,小於大約〇 · 〇 1秒更佳。此種兩折曲 點幾乎同時發生的情況稱之爲階梯函數。 本發明包括許多多孔噴嘴的設計,可以將顯影液及去 離子水輸送到基底上要被顯影的聚合物層上。噴嘴之出口 所排列成的幾何形狀可提供最佳的空間液體流率,同時使 滴落物最少。本發明包括經由減弱液體對膜的沖搫力以有 助於防止已顯影的光阻結構因沖撃而摺疊。本發明提供的 多孔噴嘴,至少在一個孔中有噴嘴插入物。此插入物可以 由相對於噴嘴之工作流體之摩擦係數(包括靜態與動態) 低的材料製成。 本發明之插入物的材料可延伸越過其所在位置。此延 伸可向內’藉以使插入物延伸進入輸入的歧管。此延伸也 可向外,藉以使插入物延伸超過噴嘴本體的底部。 插入物向內延伸的優點是在歧管內部的功用如同一空 氣均衡補充器,藉以影響相對於孔之靜態壓力的均衡。插 入物向外延伸的優點是避免殘餘的工作流體累積於噴嘴本 體的底表面,雖然有以反向壓力將工作流體吸回以減少此 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) --------訂--------- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -12- 1249657 A7 --------- B7___ 五、發明說明(10 ) 種殘餘累積的嘗試。 本發明包括將工作流體歧管錯置,可將歧管的主軸相 互拉近。錯置歧管的優點是可使多孔噴嘴的整體寬度變窄 。即使是只有兩支歧管,錯置都很有用,特別是當孔間靜 態壓力均衡的功能要求而使得歧管之範圍所定義的體積增 加時。 本發明包括一個噴嘴頭經由策略地配置數排孔,可噴 灑具有不同化性的2種顯影液,以及1種沖洗用的去離子 水(D I ) ’因此,所有的噴灑都可在一個位置完成。此 允許使用旋轉汽缸致動器將頭排放位置移動到單一的噴灑 位置。不需要使用伺服定位控制。D I的排孔位於中央, 以沖洗整個晶圓。化學顯影液的排孔最小偏移5毫米,因 爲從以下更詳細討論的製程資料顯示,5毫米的偏移量確 實可增進製程結果。噴灑孔內可以壓入小半徑端的管子。 這些管子至少具有兩項優點。第一,小半徑端沒有表面可 供液體黏附。有任何液體黏附於此底表面會導致噴灑流被 拉離中心。此外,在低部水平表面如有液體,會致使兩流 合一成爲一較大的液流。當頭上兩不同化學品間無污染是 關鍵時,此特別是個問題。第二,當壓成管子,尖端形成 徑向緣或端,可以有非常光滑的內表面,以避免因流體黏 附造成的行差。微小的表面行差會致使液流偏向。粗糙表 面會導致無法控制的液體黏附,此將導致化學品乾涸及污 染。氣泡被吸回的機會減少,因爲液體-空氣介面形狀被 控制得很多。孔的位置交錯,以允許顯影液保持5毫米的 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ---------訂--------- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -13- 1249657 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(11 ) 偏離,並允許3列孔在1 . 5吋寬的頭內。所有的孔都策 略性配置,以使噴灑頭是一單構件。 圖1說明噴灑一種化學流體的多孔噴嘴1 0 0的實施 •例。噴嘴1 0 0從前端面1 0 5到背端面的最大寬度等於 晶圓接受液體的半徑。噴嘴1 0 0包括主臂1 1 0,具有 許多導管沿著噴嘴1 〇 〇之底表面1 1 5縱軸排列。流體 從入口歧管1 3 0進入,接著流體通過噴嘴經由許多出口 1 0 1散布於旋轉的晶圓上。本本實施例中,出口 1 0 1 橫過主臂1 1 〇的寬度直線排列。噴嘴1 0 0的寬度允許 晶圓旋轉完整一圏後,噴灑的流體完全覆蓋整個晶圓。如 此’噴嘴1 0 0提供均勻且快速的流體散布,是增進C D 控制的重要要求。 圖2顯示本發明的另一種實施例,其中多孔噴嘴 2 0 0包括進口歧管2 3 0,用以接收1或2種不同化性 的流體。流體從進口歧管2 3 0進入,可以在第一臂 210及第二臂220間分配。每一臂210、 220的 出口 3 0 1的排列可以不同,也可以相同(如圖3所示) ’視噴嘴2 0 〇的應用而定。噴嘴2 0 〇也具有介於前端 面2 0 5與背端面間的寬度,等於晶圓的直徑,藉以晶圓 旋轉完整一圈後,顯影液可以覆蓋整個晶圓。 圖3是噴嘴2 0 0的橫剖面圖,顯示進口歧管2 3〇 被分割以適合接收具有不同化性的兩種流體,如顯影液及 去離子水。隔板3 3 5分隔進口歧管2 3 0內的流體流。 圖2顯示進口歧管2 3 0導引一種流體流進入第一入口通 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇 x 297公釐) -14- (請先閱讀背面之注音3事項再填寫本頁) tr---------MW. 1249657 δ7 Β7 五、發明說明(12) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 道340。第一入口通道340包括一曲道342,與第 一臂2 1 0內的導管3 4 5連接。歧管導引另一種流體流 進入第二入口通道3 6 0。入口通道3 6 〇包括一曲道 •362,與第二臂220內的第二管狀插入物365連接 。噴嘴2 0 0底部面3 8 0上的出口 3 0 1以直線排列橫 跨噴嘴2 0 0的寬度爲佳,雖然也有其它種排列方式,將 進一步描述。噴嘴2 0 〇的結構,適合使用2種不同化性 的顯影液,具有溫度控制,在噴灑期不會有任何交叉污染 。噴嘴2 0 0也適合噴灑去離子水,可與顯影液一起或分 開噴灑。不過,相同型式的噴嘴2 0 0也可以整合單或雙 化性型的顯影液。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本發明的另一重要特徵是此噴嘴的沖擊力比單孔噴嘴 小很多,這是因爲多孔的緣故。C D尺寸較小傾向深寬比 高,衝撃力降低對其而言非常重要。由於流體的沖擊力容 易使得圖案摺疊。本發明的實施例降低顯影液及去離子水 的沖擊力。整個顯影液過程的沖擊力可降至最小,因此確 保較小特徵尺寸之圖案製作法的可靠度,且比習知技術的 產率提筒。多孔噴嘴使用顯影液及去離子水的另一重要優 點是可增加製程的自由。此外,多孔噴嘴增進了液體輸送 及散布能力,確保整體製程中機械過程改變的順應性,例 如旋轉速率及流體噴灑率。因此,本發明所提供之其它附 加優點是可縮短顯影液處理的總時間,同時保持C D控制 及良好的瑕疵及微粒性能。 圖4說明本發明的另一種實施例,其多孔噴嘴4〇〇 15 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公羞) (131249657 A7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明 可噴灑1或 可以噴灑2 定位在一個 包括一頂表 收要噴灑的 置是第一入 去離子水, 4 2 5上的 噴嘴4 ◦〇 二入口 4 1 入口 4 1 5 頭4 2 0的 端表面5 2 4〇5連接 口 4 1〇連 4 1 5連接 ,在端表面 最好位於端 管5 1 5以 側。 圖6是 5 1 5及許 2種 種顯 位置 面4 顯影 □ 4 第三 2或 的整 5錯 的中 端表 0最 ,供 接, ,供 2或 表面 顯影液及 影液及去 完成所有 2 5,具 液或/及 0 5供第 入口 4 1 多個入口 體尺寸。 置,第二 央及/或 面5 2 0 /或去 離子水 的噴灑 有3個 去離子 一種顯 5供第 以錯置 在圖4 入口位 偏離。 离隹子水°由於噴嘴4〇〇 ’医I此’噴嘴4 〇 〇可以 。噴嘴4〇〇的頭4 2〇 入〇或入口歧管,用以接 水。在圖4中,較佳的配 影液’第二入口 4 1 0供 二種顯影液。在頂表面 胃佳’以節省空間及縮小 中’第一入口405與第 於第一入口 4 0 5及第三 示具有內部歧管之 圖5顯 顯示開有孔室,與入口對應 好是包括第一歧管5 第二 5與第一入口 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 第一種顯 供去離子 第二種顯 多個歧管 5 2 0的 影液, 水,第 影液。爲進一 最好相 中央, 對稱分 歧管 互錯置 第二歧 配於第 管5 1 〇與第二入 515與第三入口 步縮小噴嘴的尺寸 。第一歧管5 0 5 管5 1 〇及第三歧 一歧管5 0 5的兩 沿著圖4之A - A線的橫剖面,顯示第二歧管 多導管6 7 0的例子,導管6 7 〇沿著縱軸垂 直開孔通過底表面6 8 0。第三歧管 的結構最好與 第一及/或第二歧管505、 510相同’姐對其做非常 私紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 16- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1249657 A7 B7 五、發明說明(14) 詳細的說明,以代表整個實施例。如第三歧管5 1 5的示 例,每一個導管670都包括一管狀插入物650 ’具有 一內部端6 6 0及外部v而6 5 5。每一*個管狀插入物 .6 5 0的內部端6 6 0最好延伸進入第三歧管5 1 5內部 一個高度。進入到第三歧管5 1 5內的流體不會被排放’ 直到第三歧管5 1 5內的液面高度超過內部端6 6 0的高 度。如此,內部端6 6 0定義一個貯儲器’其所定義的深 度從管狀插入物6 5 0的內部端6 6 0到歧管底表面 6 6 5。按此方法’內部_ 6 6 0的局度可以用來保持第 三歧管5 1 5內固定或等於對應之流體導管6 7 0的靜壓 力。同樣地,管狀插入物6 5 0的外部端6 6 5也延伸超 過噴嘴4 0 0的底表面6 8 0。 管狀插入物6 5 0具有非常光滑的內表面,以使表面 沒有疵痕或減至最少,否則顯影液或去離子水流會偏向。 表面光滑的管狀插入物6 5 0也可避免氣泡的回吸,因爲 管狀插入物6 5 0內的液體一空氣介面受到控制。管狀插 入物6 5 0在歧管內側及噴嘴外側也具有很薄的徑向緣, 如此可以減少管狀插入物與流過之流體間相互接觸的面積 。此能使噴嘴4 0 0避免發生顯影液及/或去離子水之流 體流與導管接觸的相關問題,如流體黏附或其他致使液流 偏離中心的其它問題。此外,延伸超過噴嘴4 0 0的外部 端6 6 5可避免液流在底表面6 8 0糾合在一起。 圖7說明出口在噴嘴4 0 0之底表面6 8 0上的較佳 排列方式。出口可按圖所示般直線排列,或錯置排列以節 ----------看------- —訂--------- MW (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -17- 1249657 A7 B7 五、發明說明(15) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 省所佔面積。在實施例中,出口 7 0 1的中央列7 0 5散 布去離子水,因此整個晶圓可被沖洗。出口 7 0 1的第二 及第三列7 1 0及7 1 5分別耦合到第二歧管5 1 0及第 •三歧管5 1 5,用以噴灑至少一種,最好是兩種顯影液。 圖8說明噴嘴4 0 0的斜視圖,其中入口 4 0 5、 4 10、4 1 5錯置或偏離。噴嘴4 0 0包括在第一縱向 端8 2 0上的可旋轉固定托架8 1 0,用以將噴嘴固定到 晶圓上方的支臂或台架上。噴嘴很小,從頂表面4 2 5到 底表面680的較佳垂直高度1·5吋。 圖9是圖4之噴嘴4 0 0沿B — B線的剖面圖。如圖 9所示的噴嘴4 0 0,包括第一歧管5 0 5,與許多第一 管狀插入物6 5 0 a耦合。同樣地,第二歧管5 1 0與許 多第二管狀插入物6 5 0 b耦合,第二歧管5 1 5與許多 弟二管狀插入物6 5 0 c親合。每一^個第一*、第二及第二 管狀插入物650a、 650b、 65〇c最好分別向各 自的第一、第二及第三歧管505、 510、 515內部 延伸,因此,每一個管狀插入物的向內延伸端6 6 0 a、 660b、 660c在各自對應的歧管內定義一貯儲器。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 每一個歧管5 0 5、5 1 0、5 1 5內部貯儲器的高度可 由向內延伸端660a、 66〇b、 66〇c的長度分別 定義,如圖12、 13及隨附文字的描述。 圖1 0是圖4之噴嘴4 0 0沿C 一 C線的剖面圖。如 圖1 0所示,每一個入口使用與歧管相關或成形爲歧管一 部分的一或多個室與歧管耦合。特別是,圖1 0顯示第一 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -18- 1249657 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7______ 五、發明說明(16 ) 入口 4 0 5以第一入口室1 〇 〇 5與第一歧管5 0 5耦合 ,第三入口以第三入口室1〇15與第三歧管515耦合 。圖1 1是圖4之噴嘴4 0 〇沿D - D線的剖面圖。如同 .其它入口及歧管,圖1 1顯示第二入口 4 1 〇以第二入口 室1 1 1 0與第二歧管管5 1 〇耦合。在其它實施例中’ 再增加的入口可以使用相同的結構與對應的室及歧管耦合 。圖10及11也提供管狀插入物650a、 65〇b、 6 5 0 c的另一種透視圖,從噴嘴4 〇 〇的底表面6 8 0 延伸,以避免不同歧管的液流糾合在一起。 圖1 2 A及1 2 B說明本發明所使用之管狀插入物 6 5 0的一種實施例。如圖1 2 A所示,管狀插入物包括 一圓形橫截面1 2 1 0。不過,本發明的其它實施例可以 使用非圓形橫截面,包括方形或多邊形。管狀插入物 6 5 0的長度可以由保持管狀插入物之歧管的垂直位置決 定,或由管狀插入物之內部端6 6 0所定義之貯儲器之所 欲深度來定義。圖1 2 A顯示的管狀插入物6 5 0較短, 適用於較靠近底表面6 8 0的歧管,例如用於第一歧管 5 0 5或第二歧管5 1 5。另者,圖1 2A之管狀插入物 也可用來在第二歧管5 1 0中定義一較淺的貯儲器。 圖1 3 A及1 3 B說明另一種管狀插入物的實施例。 如同前一個實施例,圖1 3 A的管狀插入物包括一圓形橫 截面。圖1 3 B所示的管狀插入物較長,適合用於較其它 歧管距底表面6 8 0遠的歧管。因此,圖1 3 A的管狀插 入物6 5 0適合用於第二歧管5 1 0。圖1 3 B的管狀插 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 19 --------^--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) A7 1249657 ___B7____ 五、發明說明(17 ) 入物也可以在第一歧管5 0 5或第三歧管5 1 5內產生較 深的貯儲器。噴嘴的深度以1 · 5吋最佳,管狀插入物 6 5〇的範圍在0 · 3 2 5吋到0 · 6 6 5吋之間,如圖 • 1 2B及1 3B所示。 圖1 4是噴嘴4 0 0的橫剖面斜視圖。第一入口 4 0 5及第二入口 4 1 0在噴嘴4 0 0的頂表面4 2 5上 是偏離中央或錯置排列。端面5 2 0包括第一^歧管5〇5 及第二歧管5 1 0。在本實施例中以第二歧管5 1 0例示 本實施例中的其它歧管,並詳細描述之。第二歧管5 1 0 包括一加大的室1 4 1 0,與構成第二歧管5 1 0其餘部 分的膛孔段1 4 2 0結合。第二入口室1 〇 1 〇耦合第二 入口 4 1 0及第二歧管5 1 0。管狀插入物6 5 0 b延伸 通過導管6 7 0,以使外部端6 5 5延伸超過底表面 6 8 0。同樣地,內部端6 6 0形成超過第二歧管底表面 6 6 5的一高度1 4 3 0,當第二歧管5 1 0接收流體時 ,它定義一貯儲器的深度。按此方法,諸如去離子水的流 體經由第二入口 4 1 0接收並經第二歧管5 1 0的膛孔段 1 4 2 0散布。在流體的位準未超過過度1 4 3 0前,流 體使第二歧管5 1 0形成一貯儲器。一旦流體超過高度 1 4 3 0,流體從內部端6 6 0進入並通過管狀插入物 6 5 0 b,從外部端6 5 5流出。流出噴嘴4 0 0的的流 體,例如去離子水提供一柔順的沖洗流體。 雖然並未限制任何特定的性能指示器或診斷鑑定器, 但本發明之較佳實施例可以經由測定出現於橫過晶圓表面 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) --------訂--------- (請先閱讀背面之注音?事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -20 - 1249657 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(18) 之實質均勻的顯影速率加以鑑定。以簡單且習知的 I P E C Awmap速率圖或旋轉速率測試執行出現實質均 勻的顯影速率的測試不會有過度的實驗。 • 執行旋轉速率測試以決定在顯影液噴灑期間,旋轉之 晶圓的中心與最接近之顯影流間可容許的偏離。所使用的 標準是增加偏離量直到顯影出現不均勻。在絕大多數噴灑 噴嘴的設計中,知道此種固有偏離對顯影模組是非常重要 的。 圖1 5 — 1 8提供在晶圓上的所做的顯影測試,以偏 離0、5、 1 0及2 0毫米之噴嘴,同時在噴灑期間改變 旋轉速率(6 0到2 5 0 〇 r m p )。測試發現,偏離至 少要大於5毫米,才不會對整個晶圓的顯影均勻性造成不 良影響。假設噴嘴的設計是偏離5毫米或更小不會造成晶 圓中心的顯影不均勻。在5到1 0毫米之間的某點,流體 不再浸濕晶圓的中央,且顯影受到大幅抑制。晶圓的旋轉 速率與偏離間多少有些交互作用,且在1 〇毫米的偏離邊 界最明顯。 本發明的較佳實施例包括在一條長度等於晶圓半徑的 棒上有3列平行的孔。此單噴嘴可以噴灑去離子水及顯影 液。由於臂的徑向位置在晶圓上方以氣壓缸完成,因此, 無論是噴灑何種流體,相對於晶圓只需配置一個噴嘴。因 此,在晶圓正中央上方僅只有一組孔,且去離子水的噴灑 是要最接近晶圓中央的流體。典型的顯影程序是在旋轉的 晶圓上噴灑流體,因此,如果噴灑太靠外,離心力將有礙 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -21 - --------------------訂---------^A__w (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 1249657 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(19) 流體到達中央。此項測試是決定噴灑的顯影液偏離中央多 遠就會影響顯影速率的均勻性。 顯影液從偏離中央0、 5、 10及20毫米等固定處 •噴灑。噴灑期間初始的旋轉會改變,離心力的差會與中心 偏離父互作用用致影響顯影液到達晶圓中心。使用的旋轉 速率爲60、 600、 120 0 (標準)及2500 r p m 。 現請參閱圖1 9 A - 2 2 D,選擇副顯影(sub-develop )技術測試顯影品質的數項理由包括:(丄)副顯 影技術較線寬測定快速;(2 )副顯影技術較線寬或E。 測定的解析度高,且較E °測定的主觀性較差;(3 )相 對於只有少數幾個不連續的位置,副顯影技術可以使用整 個晶圓區域;以及(4 )曝光及顯影速率遠高於E ° ,且 顯影過程對顯影速率的影響,遠比其它因子重要,例如擺 動曲線(swing curve )、Microscan 強度一致性、P E B — 致性等。當光阻膜接近完全失去保護,顯影趨勢朝向單純 的蝕刻處理。除了定性測試顯影後整個晶圓之顏色的一致 性外,還以I P E C Acumap厚度測定系統整個晶圓之光 阻移除的差異。雖然此項工具可在整個晶圓上每隔1毫米 測定一次厚度(多於3 0,0 0 0個位置),但在此報告 中實際上只使用中心1 2 1個曝光場計算。 測試使用基線化學,T〇K 9 ’及方法。顯影法經過 修改以在噴灑顯影液及去離子水期間不必移動。使用較佳 實施例的噴嘴做顯影噴灑。它經過調整以最中心的孔在晶 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -22- --------訂--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 1249657 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(20) 圓中心上方0偏離。在顯影程序的攪拌部分,從6 0 . 5 秒縮短到5 · 5秒。曝光劑量使用1 2毫焦耳/公分( E °的劑量大約6 · 5 - 7 · 0毫焦耳/公分)。顯影液 •流量計設定在大約3 · 8,雖然沒有核對體積,但根據過 去的經驗,使用此種流量計大約在5 0毫升左右。對所有 晶圓的處理是一次全部P E B,接著分批顯影,按隨意的 順序改變每一片晶圓的顯影參數。 決定顯影速率的方法,首先測定P E B後顯影前之晶 圓中2片的厚度,減去顯影後1 2 1的位置的光阻厚度。 在方法中,假設顯影前晶圓與晶圓間的厚度差可略之不計 ,且代表的晶圓做爲顯影前晶圓,用來計算所有的速率。 被移去的光阻除以顯影時間(噴灑+攪拌+恢復),在本 測試中所有晶圓的顯影時間都是1 0秒。 測定p E B與顯影間之初始厚度很重要的理由有二。 第二,很多習知的顯影速率計算法是使用曝光前的厚度完 成。由於厚度會從原本8500A中損失1000A,此 可更精確地估算出顯影速率。第二,曝光區域淸晰可見, 且在每一片晶圓上都能看到橫過晶圓上的特徵圖案。這對 做爲橫過晶圓之相對去保護(deprotecUon)的測量很有用 處,且某些報告中也注意到此點。它具有與顯影方法無關 的良好特性。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 23- --------------------訂--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) A7 1249657 B7 五、發明說明(21 ) 顯影部分所使用的方法如下: 操作 時間(秒) 速率(rpm) 臂長X(毫米) 旋轉 1.0 60-2500 0-20 顯影噴灑 1.0 同上 同上 顯影噴灑 2.0 20 同上 旋轉 6.5 0 同上 旋轉 0.5 1200 同上 --------------------訂--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -24- 1249657 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(22) 此項測試的結果綜述如下表’· 臂位置速率平均速率速率標%均勻性%均勻性最大速最小速範圍速 準差 率 率 率 毫米 rpm A/秒 A/秒 (σ /ave) (mg/ave) A/秒 A/秒 A/秒 以下各列對應於各個晶圓 〇 60 610.9 28.2 4.6% 20.5% 679.8 554.6 125.2 0 600 639.3 2406 3.8% 16.6% 698.7 592.6 106.1 0 1200 608.9 21.9 3.6% 14.4% 660.7 572.8 87.9 0 1200 611.2 24.1 3.9% 17.6% 677.0 569.6 107.4 0 2500 646.6 26.4 4.1% 20.6% 728.3 595.1 133.2 5 60 610.0 31.1 5.1% 20.6% 685.7 560.3 125.4 5 600 622.7 28.9 4.6% 20.8% 707.1 577.8 129.3 5 1200 638.8 24.4 3.8% 16.8% 698.0 590.8 107.2 5 2500 647.7 23.4 3.6% 17.1% 711.9 600.8 111.1 10 60 582.6 29.2 5.0% 21.1% 656.3 533.6 122.7 10 600 639.9 25.9 4.0% 20.2% 724.3 595.1 129.2 10 1200 606.3 30.7 5.1% 42.0% 690.4 435.9 254.5 10 2500 639.8 32.7 5.1% 46.7% 712.4 413.4 299.0 20 60 607.9 63.8 10.5% 112.9% 686.8 0.7 686.1 20 600 593.8 60.0 10.1% 113.4% 672.5 -10. 673.4 20 1200 629.4 66.6 10.6% 114.9% 723.1 -0.3 723.4 20 2500 639.0 64.9 10.2% 112.0% 717.1 1.2 716.0 以下各列是由上述資料按臂位置或旋轉速率組合而成 All 60 602.8 42.4 7.0% 113.8% 686.8 0.7 686.1 All 600 623.9 42.1 6.7% 116.2% 724.3 -1.0 725.2 All 1200 618.9 39.5 6.4% 116.9% 723.1 -0.3 723.4 All 2500 643.3 40.4 6.3% 113.0% 728.3 1.2 727.2 〇 all 623.4 29.8 4.8% 27.9% 728.3 554.6 173.7 5 all 629.8 30.7 4.9% 24.1% 711.9 560.3 151.6 10 all 617.2 38.3 6.2% 50.4% 724.3 413.4 310.9 20 all 617.5 66.1 10.7% 117.2% 723.1 -1.0 724.1 以下各列是由上段組成,但移除中心點的資料 All 60 604.1 32.4 5.4% 30.1% 686.6 505.0 181.8 All 600 625.1 30.8 4.9% 37.8% 724.3 487.7 236.6 All 1200 620.3 29.6 4.8% 33.7% 723.1 513.9 209.2 All 2500 645.1 26.0 4.0% 33.2% 728.3 514.0 214.3 〇 all 623.4 29.9 4.8% 27.9% 728.3 554.6 173.7 5 all 629.9 30.8 4.9% 24.1% 711.9 560.3 151.6 10 all 617.9 35.9 5.8% 30.9% 724.3 533.6 190.7 20 all 622.7 34.6 5.6% 37.8% 723.1 487.7 235.4 ----------看------- —訂--------- §. (請先閱讀背面之注音?事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -25- 經 濟 部 智 慧 財 產 局 員 工 消 費 合 作 社 印 製 離5到 0最差 旋轉速 中心的 毫米。 對均一 心的傾 配穿過 中有相 對高速 料,0 ,偏離 ,圖1 視器上 放大) 較晶圓 看出, ,'、孔 顯影速 液噴灑 離5到 體停止 ,毫無 影響加 1249657 五、發明說明(23 就整體來說,在偏 中斷。5稍優於0 ; 2 但在噴灑期間也可看出 •毫米者。可預知,位在 任,特別是1 0及2 0 間的差異,在此,範圍 它1 2 0個點的稀釋中 第二階的多項線適 轉速率間做比較,資料 實表中所看到的趨勢: 在中心與其它部分的資 的一致,在1 0毫米處 除了 一個重複之外 的I P E C圖。(在監 。監視圖的優點是可以 保持固定,因此可以比 是在刻度之外。在此可 ,從偏離1 0慧米開始 顯影液接觸到晶圓,且 測試證實,對顯影 受到5毫米。從中心偏 最靠近的顯影液流,流 的顯影速率被大幅抑制 大損失。較大的偏離使 A7 B7 1 〇毫米的之間的資料明顯 ◦臂的位置是主要的影響, 率的影響,特別是偏離1〇 單點要爲不均一負大部分責 爲捕捉晶 性的測定 向。 資料可以 當的散射 而言,主 及毫米顯 與速率間 9 A - 2 所看的效 。跨過不 間的相對 也可以很 〃在中心 率非常低 而言,偏 1 0毫米 接觸晶圓 疑問會對 劇。流體 圓中心與其餘部分 比標準差有用,其 很容易 。圖1 要的不 然比更 有交互 2 D顯 果遠優 同顏色 一致性 明顯在 形成, 地在不同旋 5 — 1 8 證 一致是發生 大的偏離來 作用。 示所有晶圓 於印出的圖 的速率範圍 。灰及白區 晶圓上看到 很少或沒有 離中心至少可以忍 之間的某些點以及 中心,造成一區域 晶圓的產率造成重 首度接觸晶圓與旋 ----------------訂--------- 暴 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -26- 1249657 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(24) 轉速率交互作用較輕,很明顯主要出現在1 0毫米偏離的 邊界條件。對一致性實際的量測,5毫米偏離稍優於〇, 但在本測試中並無重大差異。 • 這些結果顯示,噴嘴的設計不會導致在晶圓中心顯影 速率的不一致,只要最中心的液流離間中心不超過5毫米 良[1可。 發明優點 代表本發明的實施例是一種具成本效益及優點的方法 或/及噴嘴,至少具有以下的理由。本發明增進了顯影液 模組的C D控制能力。本發明減少了顯影處理期間的瑕疵 及微粒,藉以增進最終元件產率。本發明結合了用於製程 中顯影及沖洗部分的低沖擊力噴嘴,使得對已顯影之特徵 的沖擊力減到最小,必然使得圖案的摺疊最小,因此增進 兀件的產率。本發明具有很寬的製程自由度,且因此降低 了對製程變化的敏感度。本發明包括改良沖洗動作,使得 顯影處理的總時間縮短,因此使產出量增加。噴嘴的優點 包括整體的設計:在單個頭上有3列孔,如有需要,其中 2列供顯影液1列供去離子水。噴嘴的優點包括體積小, 例如’ 3重頭之噴嘴寬度僅1 · 5吋。噴嘴的優點還包括 成本低。噴嘴的優點還包括整體的設計,很容易製造。噴 嘴的優點還包括具有光滑內表面的管狀插入物,用以增進 顆粒性能。 本發明在本文中所揭示的所有實施例不需要過度的實 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) -27- —--------------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1249657 Δ7 Α7 Β7 五、發明說明(25) 驗就可實現及實用。雖然以上揭示了發明人爲發明硏討所 完成的最佳模式,但本發明的實用並不限於此。因此,熟 悉此方面技術的人士應瞭解,本發明可以實用於本文特定 •描述以外的其它方面。 例如,各個組件不需要製造成所揭示的形狀或按所揭 示的結構組合,事實上可以是任何形狀,事實上可以任何 結構組合。此外,各個組件也不需要以所揭示的材料製造 ,事實上可以任何適合的材料製造。此外,雖然本文所描 述的多孔噴嘴與模組實體上分離,將可證明多孔噴嘴也可 與使用它的裝置結合爲一體。此外,所揭示之每一實施例 中揭示的所有單元及特徵,都可以與所揭示之其它實施例 中揭示的所有單元及特徵相結合或取代,除非這些單元或 特徵互斥。 將可證明,本發明之特徵的各種附加、修改、及重新 配置都不偏離本發明基本構想的的精神與範圍。本發明所 附申請專利範圍所定義的範圍及它們的相等物,將涵蓋所 有此類的附加、修改、及重新配置。所附申請專利範圍不 能解釋成包括裝置-加-功能的限制,除非某項申請專利 範圍項中使用 ''裝置-用於〃字眼做明確限定。本發明的 權宜實施例由所附申請專利範圍附屬項加以區別。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) •28- ----------看------- 訂--------- i (請先閱讀背面之注咅?事項再填寫本頁)

Claims (1)

1249657 8 8 8 8 ABCD 六、申請專利範圍 附件4A : 第881丨5 847號專利申請案 中文申請.專利範圍替換本 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 民國94年1 1月23日修正 1 · 一種用於降低對基底上要被顯影之聚合物層之流 體沖擊力的裝置’藉以增進產率及線寬控制性能,該裝置 包括= 一噴嘴包括: 一適合供應流體的流體歧智與第二岐管,其中該流體 歧管與第二歧·管錯置以使該噴嘴的外部寬度較該噴嘴可達 到的標稱(nominal )外部寬度縮小,且前題爲該流體歧管 與該第二歧管不交叉或該流體歧管與該第二歧管不交錯; 與該歧管耦合的多個流體導管;以及 位於該多個流體導管內的多個管狀插入物。 2 · —種用於降低基底上要被顯影之聚合物層之流體 沖擊力的裝置,藉以增進產率及線寬控制性能,該裝置包 括: 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 一噴嘴包括: 一適合供應顯影液的顯影液歧管; 與該顯影歧管耦合的多個顯影液導管;‘ 一適合供應沖洗液的沖洗歧管; 該沖洗液歧管耦合的多個沖洗液導管, 其中,該顯影液歧管及沖洗歧管是錯置的’以使該噴 嘴的外部寬度較該噴嘴可達到的標稱外部寬度縮小,且前 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格( 210X297公釐)-1 - 1249657 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 ^ __ P8_________六、申請專利範圍 題爲該流體歧管與該另一條歧管不交叉或該流體歧管與該 另〜條歧管不交錯;以及 多個管狀插入物,其位於i )該多個顯影液導管及 i i )該多個沖洗液導管的至少一者之中。 3 . —種用於降低對基底上要被顯影之聚合物層之流 體沖擊力的裝置,藉以增進產率及線寬控制性,該裝置包 括: 一噴嘴包括: 一適合供應顯影液的顯影液歧管; 與顯影歧管耦合的多個顯影液導管; 一適合供應沖洗液的沖洗歧管; 與沖洗歧管耦合的多個沖洗液導管, 其中該顯影液歧管與該沖洗歧管錯置,以使該噴嘴白勺 外部寬度該噴嘴可達到的標稱外部寬度縮小,且前題舄_ 流體歧管與該另一條歧管不交叉或該流體歧管與該另〜# 歧管不交錯;以及 多個管狀插入物,其位於i )該多個顯影液導管及 i i )該多個沖洗液導管之一或二者之中,其中該多個管 狀插入物向外延伸超過該噴嘴的底部。 4 . 一種用於降低基底上要被顯影之聚合.物層之流體 沖擊力的裝置,藉以增進產率及線寬控制性能,該裝置包 括: 一噴嘴包括: 一適合供應顯影液的顯影液歧管; 本^:尺度適用中國國家標準(〇奶)八4規格(21(^297公釐) ', ^^ (請先閲讀背面、V注意事項再填寫本頁) 丨« 裝 訂 1249657 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 與該顯影歧管耦合的多個顯影液導管; 一適合供應沖洗液的沖洗歧管; 該沖洗液歧管耦合的多個沖洗液導管, 其中,該顯影液歧管及沖洗歧管是錯置的,以使該噴 嘴的外部寬度較該噴嘴可達到的標稱外部寬度縮小,且前 題爲該流體歧管與該另一條歧管不交叉或該流體歧管與該 另一條歧管不交錯;以及 多個管狀插入物,其位於i )該多個顯影液導管及 i i )該多個沖洗液導管之一或二者之中,其中該多個管 狀插入物向內延#進:Λ該流體歧管,以定義一貯儲器,使 該貯儲器保持與該多個流體導管大致上相同的靜壓。 5 · —種用於降低流體沖擊力之多孔噴嘴,包括: 一單一入口歧管,其被形成具有分流(partition)以供 應多個分立的液流; 與該歧管分流供應的多個液流耦合的多個流體導管; 以及 位於各個該多個流體導管內的多個管狀插入物以降低 的流體沖擊力方式來分散多種流體。 6 ·如申請專利範圍第5項之多孔噴嘴,其中該多個 管狀插入物向外延伸超過該噴嘴的底部。 . 7 .如申請專利範圍第5項之多孔噴嘴,其中該多個 管狀插入物向內延伸進入該流體歧管,以定義一貯儲器, 使該貯儲器保持與該多個流體導管大致上相同的靜壓。 8 .如申請專利範圍第5項之多孔噴嘴,其中該多個 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -3- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 、1T -1¾ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1249657 A8 B8 C8 D8 ______ 六、申請專利範圍 流體導管延著一定義的流體導管軸排列。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 9 ·如申請專利範圍第5項之多孔噴嘴,進一步包括 一與該噴嘴耦合的室,該室適合提供一空氣層流場。 1 0 ·如申請專利範圍第1項的裝置,其中該噴嘴包 括另一入口歧管。 1 1 . 一種於分散多種流體之晶圓顯影液模組中降低 流體沖擊力的裝置,包括: 一用於分散流體之多孔噴嘴,包括: 一形成於該多孔噴嘴中而適合供應顯影液的顯影液歧 管; · 與該顯影歧管耦合的多個顯影液噴嘴; 一形成於該多孔噴嘴中而適合供應沖洗液的沖洗歧管 ;其中該顯影液歧管及沖洗歧管是錯置的,以使該噴嘴的 外部寬度較該噴嘴可達到的標稱外部寬度縮小,且前提爲 該顯影液歧管與該沖洗歧管不交叉或該顯影液歧管與該沖 洗歧管不交錯; 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 與該沖洗歧管耦合的多個沖洗液噴嘴,且該多個沖洗 液噴嘴延著一沖洗液軸排列;以及 多個管狀插入物,其位於i )該多個顯影液噴嘴及 i i)該多個沖洗液噴嘴之一或二者之中/ . 其中該多孔噴嘴以降低的流體沖擊力方式來供應顯影 液與沖洗液之個別分散。 1 2 ·如申請專利範圍第1 1項的裝置,其中該多個 管狀插入物向外延伸超過該噴嘴的底部。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -4 - 1249657 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 1 3 ·如申請專利範圍第1 1項的裝置,其中該多個 管狀插入物向內延伸進入該流體歧管,以定義一貯儲器, 使該貯儲器保持與該多個噴嘴大致上相同的靜壓。 1 4 .如申請專利範圍第1 1項的裝置,進一步包括 一與該噴嘴耦合的室,該室適合提供一空氣層流場。 1 5 ·如申請專利範圍第1 1項的裝置,其中該多個 顯影液噴嘴延著一顯影液液軸排列,且該顯影液軸基本上 與該沖洗液軸共平面。 1 6 ·如申請專利範圍第1 5項的裝置,其中該顯影 液軸基本上與該沖洗液軸平行。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -5 -
TW088115847A 1998-09-17 1999-09-14 Method for reducing precipitation of developing reactant by lowering a sudden change in ph and apparatus for reducing fluid impingement force on a polymer to be developed on a substrate thereby improving yield and line width control performance TWI249657B (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112965347A (zh) * 2020-11-12 2021-06-15 重庆康佳光电技术研究院有限公司 晶圆显影装置、方法和晶圆

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6689215B2 (en) 1998-09-17 2004-02-10 Asml Holdings, N.V. Method and apparatus for mitigating cross-contamination between liquid dispensing jets in close proximity to a surface
US6248171B1 (en) * 1998-09-17 2001-06-19 Silicon Valley Group, Inc. Yield and line width performance for liquid polymers and other materials
US6746826B1 (en) * 2000-07-25 2004-06-08 Asml Holding N.V. Method for an improved developing process in wafer photolithography
ATE359600T1 (de) * 2001-10-03 2007-05-15 Silicon Valley Group Verfahren und vorrichtung zur vermeidung von kreuz-kontamination zwischen flüssigkeitsdüsen inoberflächennähe
US7389783B2 (en) * 2002-09-30 2008-06-24 Lam Research Corporation Proximity meniscus manifold
US6770424B2 (en) 2002-12-16 2004-08-03 Asml Holding N.V. Wafer track apparatus and methods for dispensing fluids with rotatable dispense arms
KR100562302B1 (ko) * 2003-12-27 2006-03-22 동부아남반도체 주식회사 멀티 화학액 처리 단계를 이용한 랜덤 폴리머 제거 방법
EP1950584B1 (de) 2007-01-26 2009-04-22 Sick Ag Optoelektronischer Sensor und Empfangsverfahren mit Störlichtkorrektur
TWI409597B (zh) * 2010-08-06 2013-09-21 Inotera Memories Inc 用於減少顯影劑用量之顯影劑噴灑裝置
US9120190B2 (en) 2011-11-30 2015-09-01 Palo Alto Research Center Incorporated Co-extruded microchannel heat pipes
US10371468B2 (en) 2011-11-30 2019-08-06 Palo Alto Research Center Incorporated Co-extruded microchannel heat pipes
US8875653B2 (en) * 2012-02-10 2014-11-04 Palo Alto Research Center Incorporated Micro-extrusion printhead with offset orifices for generating gridlines on non-square substrates
JP6235843B2 (ja) 2012-09-20 2017-11-22 花王株式会社 皮膚又は毛髪用洗浄剤組成物
JP6300477B2 (ja) 2012-09-20 2018-03-28 花王株式会社 皮膚又は毛髪用洗浄剤組成物
US9573144B2 (en) * 2014-05-30 2017-02-21 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Coating apparatus and method of forming coating film
KR101593019B1 (ko) 2015-11-05 2016-02-11 고진우 불빛이 나오는 인테리어 장식판
US10203606B1 (en) * 2017-11-22 2019-02-12 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Apparatus and method for dispensing developer onto semiconductor substrate
US11747729B2 (en) * 2021-03-19 2023-09-05 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Semiconductor developer tool and methods of operation
CN113772246A (zh) * 2021-09-10 2021-12-10 贵州聚材科技有限公司 可以同时多点涂布储光与反光涂层的装置及其使用方法
US20230415204A1 (en) * 2022-06-23 2023-12-28 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Wet cleaning tool and method

Family Cites Families (75)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US341418A (en) * 1886-05-04 Button
US2295522A (en) * 1940-09-12 1942-09-08 Linde Air Prod Co Blowpipe head
US2501725A (en) * 1945-04-09 1950-03-28 Otto A Knopp Instrument structure for portable testing voltmeters
US2501724A (en) * 1946-02-15 1950-03-28 Air Reduction Apparatus for thermochemically cutting metal
US3204682A (en) * 1963-08-26 1965-09-07 American Gas Furnace Co Oxy-gas blowpipe
US3516607A (en) * 1968-08-02 1970-06-23 Westvaco Corp Steam application system
US4326553A (en) 1980-08-28 1982-04-27 Rca Corporation Megasonic jet cleaner apparatus
JPS57198457A (en) 1981-06-01 1982-12-06 Nec Corp Developing method for photoresist
JPS5888749A (ja) 1981-11-24 1983-05-26 Hitachi Ltd 現像装置
JPS58111318A (ja) 1981-12-25 1983-07-02 Hitachi Ltd 現像方法
JPS597949A (ja) 1982-07-06 1984-01-17 Nec Corp 現像方法
JPS5950440A (ja) 1982-09-16 1984-03-23 Fujitsu Ltd レジスト膜の現像方法
US4564280A (en) 1982-10-28 1986-01-14 Fujitsu Limited Method and apparatus for developing resist film including a movable nozzle arm
US4507333A (en) * 1982-11-22 1985-03-26 International Business Machines Corporation Biphenylene end-capped quinoxaline polymers and their use as insulating coatings for semiconductor devices
US4457259A (en) 1983-03-14 1984-07-03 Rca Corporation Apparatus for spraying a liquid on a spinning surface
DE3346979A1 (de) * 1983-12-24 1985-07-04 Merck Patent Gmbh, 6100 Darmstadt Entwickler fuer positivfotoresists
US4721252A (en) * 1985-02-22 1988-01-26 Slautterback Corporation Hot-melt sputtering apparatus
JPS6211570A (ja) * 1985-07-05 1987-01-20 Honda Motor Co Ltd 自動塗布装置
US4747541A (en) * 1986-08-21 1988-05-31 Morine Richard L Dispensing apparatus
US5094934A (en) * 1987-04-06 1992-03-10 Morton International, Inc. Method of developing a high contrast, positive photoresist using a developer containing alkanolamine
US4938994A (en) 1987-11-23 1990-07-03 Epicor Technology, Inc. Method and apparatus for patch coating printed circuit boards
US5094884A (en) 1990-04-24 1992-03-10 Machine Technology, Inc. Method and apparatus for applying a layer of a fluid material on a semiconductor wafer
JP2892476B2 (ja) 1990-09-14 1999-05-17 東京エレクトロン株式会社 帯状液体ノズル及び液処理装置及び液処理方法
KR100230753B1 (ko) 1991-01-23 1999-11-15 도꾜 일렉트론 큐슈리미티드 액도포 시스템
JP2816510B2 (ja) 1991-01-23 1998-10-27 東京エレクトロン株式会社 液体供給ノズル
USD341418S (en) 1991-02-22 1993-11-16 Tokyo Electron Limited Supply nozzle for applying liquid resist to a semiconductor wafer
US5127984A (en) 1991-05-02 1992-07-07 Avantek, Inc. Rapid wafer thinning process
US5342738A (en) 1991-06-04 1994-08-30 Sony Corporation Resist film developing method and an apparatus for carrying out the same
JPH0645244A (ja) 1991-07-30 1994-02-18 Mitsumi Electric Co Ltd Ic製造における現像方法
JPH0734890B2 (ja) 1991-10-29 1995-04-19 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション スピン・コーティング方法
US5234161A (en) * 1992-05-08 1993-08-10 Baltimore Aircoil Company Counterflow spray nozzle
US5426164A (en) * 1992-12-24 1995-06-20 The Dow Chemical Company Photodefinable polymers containing perfluorocyclobutane groups
CN1059967C (zh) 1993-03-25 2000-12-27 东京电子株式会社 形成涂膜的方法和装置
US5429912A (en) 1993-08-02 1995-07-04 Chartered Semiconductor Manufacturing Pte Ltd. Method of dispensing fluid onto a wafer
JPH07142344A (ja) 1993-11-12 1995-06-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd フォトレジストの現像方法
JPH07256189A (ja) 1994-03-25 1995-10-09 Tdk Corp 押出し塗布ヘッド
KR0164007B1 (ko) 1994-04-06 1999-02-01 이시다 아키라 미세 패턴화된 레지스트막을 가지는 기판의 건조처리방법 및 장치
JPH07282476A (ja) 1994-04-12 1995-10-27 Sony Corp 現像液塗布方法及び装置
JPH07284715A (ja) 1994-04-15 1995-10-31 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 処理液塗布装置及び処理液塗布方法
TW293039B (zh) * 1994-07-29 1996-12-11 Tozen Kk
JP3099054B2 (ja) 1994-09-09 2000-10-16 東京エレクトロン株式会社 塗布装置及びその方法
US5625433A (en) 1994-09-29 1997-04-29 Tokyo Electron Limited Apparatus and method for developing resist coated on a substrate
JPH08142534A (ja) 1994-11-17 1996-06-04 Konica Corp 平版印刷版用処理剤及びそれを用いた製版方法
US6033475A (en) 1994-12-27 2000-03-07 Tokyo Electron Limited Resist processing apparatus
JPH08274014A (ja) 1995-03-29 1996-10-18 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd 塗布ノズル、この塗布ノズルを用いた塗布方法及びこの塗布ノズルを組み込んだ塗布装置
JPH08272083A (ja) 1995-03-31 1996-10-18 Konica Corp 平版印刷版の製版方法
US5853961A (en) * 1995-04-19 1998-12-29 Tokyo Electron Limited Method of processing substrate and apparatus for processing substrate
JPH08293452A (ja) 1995-04-25 1996-11-05 Mitsubishi Electric Corp レジスト塗布装置
US5902399A (en) 1995-07-27 1999-05-11 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for improved coating of a semiconductor wafer
JP3227642B2 (ja) 1995-10-13 2001-11-12 東京エレクトロン株式会社 塗布装置
US5788773A (en) 1995-10-25 1998-08-04 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Substrate spin treating method and apparatus
US5824155A (en) 1995-11-08 1998-10-20 Ford Motor Company Method and apparatus for dispensing viscous material
US5897982A (en) * 1996-03-05 1999-04-27 Kabushiki Kaisha Toshiba Resist develop process having a post develop dispense step
KR0175048B1 (ko) 1996-03-19 1999-04-01 김광호 포토레지스트 분사장치
JP3599474B2 (ja) * 1996-03-25 2004-12-08 株式会社荏原製作所 洗浄液用ノズル装置
JPH09297403A (ja) 1996-05-08 1997-11-18 Nittetsu Semiconductor Kk フォトレジストの現像方法
JP3280883B2 (ja) 1996-05-08 2002-05-13 東京エレクトロン株式会社 現像処理方法及び現像処理装置
TW359854B (en) 1996-06-21 1999-06-01 Tokyo Electron Ltd Processing apparatus and processing method
JP3254574B2 (ja) 1996-08-30 2002-02-12 東京エレクトロン株式会社 塗布膜形成方法及びその装置
TW535216B (en) 1996-09-13 2003-06-01 Tokyo Electron Ltd Photoresist processing method and photoresist processing system
JP2817728B2 (ja) 1996-09-20 1998-10-30 日本電気株式会社 塗布装置
JP3300624B2 (ja) 1997-01-24 2002-07-08 東京エレクトロン株式会社 基板端面の洗浄方法
KR100249309B1 (ko) 1997-02-28 2000-03-15 윤종용 반도체 제조용 포토 레지스트 코팅 장치
DE69814710T2 (de) 1997-03-03 2004-03-18 Tokyo Electron Ltd. Beschichtungs-Vorrichtung und Verfahren
JPH10303106A (ja) 1997-04-30 1998-11-13 Toshiba Corp 現像処理装置およびその処理方法
JP3265238B2 (ja) 1997-08-01 2002-03-11 東京エレクトロン株式会社 液膜形成装置及びその方法
US6062240A (en) 1998-03-06 2000-05-16 Tokyo Electron Limited Treatment device
KR20010013818A (ko) 1998-04-15 2001-02-26 게스레이 마크 포토레지스트 현상액 및 현상 방법
JPH11307433A (ja) 1998-04-23 1999-11-05 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 現像装置および現像方法
JP3665715B2 (ja) 1998-09-09 2005-06-29 東京エレクトロン株式会社 現像方法及び現像装置
US6689215B2 (en) * 1998-09-17 2004-02-10 Asml Holdings, N.V. Method and apparatus for mitigating cross-contamination between liquid dispensing jets in close proximity to a surface
US6248171B1 (en) * 1998-09-17 2001-06-19 Silicon Valley Group, Inc. Yield and line width performance for liquid polymers and other materials
US6159662A (en) 1999-05-17 2000-12-12 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Photoresist development method with reduced cycle time and improved performance
US6384894B2 (en) * 2000-01-21 2002-05-07 Tokyo Electron Limited Developing method and developing unit
US6746826B1 (en) * 2000-07-25 2004-06-08 Asml Holding N.V. Method for an improved developing process in wafer photolithography

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112965347A (zh) * 2020-11-12 2021-06-15 重庆康佳光电技术研究院有限公司 晶圆显影装置、方法和晶圆
CN112965347B (zh) * 2020-11-12 2023-11-03 重庆康佳光电科技有限公司 晶圆显影装置、方法和晶圆

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