TW301050B - - Google Patents
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Description
經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 _____B7__ 五、發明説明(1 ) 發明背景 1 .發明領域 本發明係關於一種半導體記憶裝置,尤指一種具有藉 由共同連接個別地連接至相鄰墊層之電晶體而能減小晶片 尺寸之墊層佈局之半導體記憶裝置。 本發明具有能減小晶片尺寸之墊層佈局之半導體記憶 裝置係立基於韓國第7 9 7 0 / 1 9 9 5號申請案,於此合倂爲參 考資料。 2 .相關習知技術描述 近來,隨著半導體記憶體工業之快速成長,達成高 速,高積體化以及低製造成本的半導體記憶裝置已持續地 被硏發。因此,達成低製造成本之半導體記憶裝置之縮小 化已成爲製造商主要的關切點。然而,既然接腳(pin)的 數目隨記憶晶片容量的增加而增加,於使用習知墊層佈局 時,晶粒(d i e )尺寸必需增加。 參照圖一,表示靜電放電ESD保護電晶體連接至習知的 位址墊層之佈局,可以看出E S D保護電晶體1 , 2係個別連接 至位址墊層9,10。ESD保護電晶體1具有N型主動區域 (active region)3,4,該二主動區域於垂直方向相隔 一預定的間隔T1,而源極區域S1至S4係形成於N型主動區 2 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝. \va 線 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A 7 B7 五、發明説明(2 ) 域3,4之中。汲極區域01,02分別形成於源極區域51與52 與S3與S4之間,而閛極區域G1係形成於一通道區域上位於 汲極區域D1與D2之間以及源極區域S1到S4之間。爲了在 經由連接至位址墊層之汲極區域D1,D2施加高電壓的情況 下立即放電大量電流,閘極G 1被設計爲具有大寬度。然 而,爲了達到較佳的效率,二主動區域3, 4被互相分隔一預 定間距T1。而汲極區域M,D2及源極區域S1至S4將被注 入高密度雜質離子,而其閛極將對稱地形成於D1,D1的中 央。 另一方面,ESD保護電晶體2係同ESD保護電晶體1的 方式形成,而已形成得閘極係以參考符號G2表示》ESD保 護電晶體1被一 P型主動導線5所遮蔽以防止栓鎖(1 a t c h up),而P型主動導線5隨後被一 N型主動導線6所遮蓋。同 樣地,ESD保護電晶體2被一 P型主動導線7所遮蔽以防止栓 鎖(latch-up),而P型主動導線7隨後被一 N型主動導線8 所遮蓋。如上所述,每一ESD保護電晶體1,2被相對應的P 型主動導線5 - 8遮蓋,並分別具有-源極區域的主動區域。 因此,此種佈局產生半導體記憶裝置的大部份區域被大量 墊層所佔據的缺失》 發明綜合說明 因此,本發明之一目的在於提供一種具有能減小晶粒 尺寸之墊層佈局之半導體記憶裝置。 3 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -3 丁 __B7 五、發明説明(3 ) 本案之另一S的在於藉由使形成於靜電放電保護電晶 體以及被靜電放電保護電晶體所共用之N型主動區域之上 的主動導線相鄰而提供一種具有能減小晶粒尺寸之墊層佈 局之半導體記憶裝置。 爲達成上述及其它目的,一種半導體記憶裝置,具有 複數個輸入/輸出墊層,包括:第一及第二拉高電晶體,做 爲資料輸入/輸出驅動器使用,其包括第一端分別連接至該 複數個墊層中之二相鄰墊層並做爲第一主動區域使用,經 過鄰近該第一主動區域之第一及第二通道上之隔離薄膜而 設置的第二端,以及一共用第三端,位於該第一與第二通 道區域之間並定義出一共同第二主動區域;以及第一及第 二拉低電晶體,做爲資料輸入/输出驅動器使用,其包括第 一端分別連接至該複數個墊層中之二相鄰墊層並做爲第三 主動區域使用,經過鄰近該第三主動區域之第三及第四通 道上之隔離薄膜而設置的第二端,以及一共用第三端,位 於該第三與第四通道區域之間並定義出一共同第二源極區 域。 圖式簡要說明 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 (請先閱讀背面之注意事項再填艿本頁) 發明較完整的應用及其所伴隨之益處將藉由參照下列 結合圖式之細部描述而明白且更易被了解,圖式中相同的 符號指示相同或相似之元件,其中: 第一圖:表示習知位址墊層之佈局圖; 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 ______B7 五、發明説明(4 ) 第二圖:表示本發明第一較佳實施例之位址墊層之佈 局圖; 第三圖:係相對於圖二之等效電路圖; 第四圖:係習知输入/輸出墊層之-佈局圖,其中設置 ―拉高(P U 1 1 - u p ) P型電晶體; 第五圖:表示本發明第二較佳實施例之輸入/輸出墊層 之一佈局圖,其中設置一拉高(pull- up)P型電晶體; 第六圖:係相對於圖a之等效電路圖; 第七圖:係習知輸入/輸出墊層之一佈局圖,其中設置 一拉高(pull up)N型電晶體; 第八圖:表示本發明第三較佳實施例之輸入/輸出墊層 之一佈局圖,其中設置-拉高(p u 1 1 - u p ) N型電晶體; 第九圖:係相對於圖八之等效電路圖; 第十圖:依據本發明原理所設計之半導晶片之圖式。 較佳實施例詳細說明 第二圖:表示本發明第一較佳實施例之位址墊層之佈 局圖。在圖二中,爲了降低個別連接於位址墊層9, 10之間 的ESD保護電晶體1,2所佔據的區域,ESD保護電晶體1,2 共同維持做爲源極區域之N型主動區域S 5 , S 6以及主動導線 13,14。前述ESD保護電晶體1,2之閘極及源極連接於-接地電位Vss,而其汲極連接於位址墊層9, 10。此處,防 止栓鎖的P型主動導線13係形成於ESD保護電晶體1,2的週 5 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) .裝- 、νβ 線 B7 五、發明説明(5 ) 圍,而ESD保護電晶體1,2係由N型主動區域S5,S6而連接 在--起,而P型主動導線13隨後被N型主動導體14所遮蓋。 因此,依據圖二所示之佈局而被ESD保護電晶體所佔據之區 域比依據圖一所示之佈局而佔用的區域小。 另一方面,連接至位址墊層9,1 0之E S D保護電晶體在 本發明中是當做NKOS電晶體使用。然而,在可以達成等效 的範圍之下,可以用PMOS電晶體或其它元件做爲實施例說 明。 參照圖三,圖三表示一電路圖,其中ESD保護電晶體連 接至位址墊層,ESD保護電晶體1,2之閘極與源極連接至接 地電壓Vss,而其汲極分別連接至位址墊層9, 10。 經濟部中央標隼局員工消費合作社印製 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 圖四表示一拉高(pull up)P型電晶體及一拉低 (pull - do*n)N型電晶體連接至習知的I/O墊層。在圖 四,PMOS電晶體15係一拉高電晶體,而N Μ 0 S電晶體係一 拉低電晶體,其二者分別連接至I / 0墊層1 7,】8 , 1 9。 PMOS電晶體15係由三個分離的主動區域27, 28, 29所形 成,而NM0S電晶體16係由二個分離的主動區域20 ,21所 形成。此外,源極區域S6,S11係形成於主動區域 17, 18, 19之內,而汲極區域D3係分別形成於源極區域 S6,S7之間,S8,S9之間,以及S10,S11之間。一閘極 G3A(G3B)係形成於汲極區域D3與源極區域S6 S11之間 的通道(channel)區域之上。 同時,源極區域sl2 - sl5係於形成NH0S電晶體16之 主動區域20, 21之內形成,而汲極區域D4係分別型成於源 6 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7五、發明説明(6 ) 極區域S12,S13之間及S14,S15之間,而閘極G4係形成 於汲極區域D4與源極區域S14-S15之間的通道區域之上。 包括PMOS電晶體15及NMOS電晶體16的電路可以是做 爲資料輪入/輸出驅動器的電晶體,並連接至每- I/O墊 層。此外,防止栓鎖的N型主動導線22係形成於NMOS電晶 體15的週圍,然後P型主動導線23被形成以便遮蓋P型主動 導線22。然後N型主動導線24被形成以便遮蓋P型主動導線 23。此外,P型主動導線25係形成於NMOS電晶體16的週 圍,然後N型主動導線26被形成以便遮蓋P型主動導線25。 圖五表示I/O墊層之佈局,其中拉高P型電晶體係依據 本發明之第二實施例而設置。在圖五,爲了降低電晶體在 I/O墊層27, 28, 29之間所佔用的區域,圖四所示之共同 連接於相鄰二I/O墊層27, 28之間的電晶體15A,15B的源 極被當做相同的主動區域S19,S20。這挂?1108電晶體 15A,15B的源極係連接至供應電壓VCC,而其汲極係連接 至位址墊層27, 28。防止栓鎖的N型主動導線22係形成於 PMOS電晶體15A,15B的周圍,其二者藉由主動區域S16 S18而連接在一起,P型主動導線23被形成以便遮蓋N型主 動導線22,而N型主動導線24被形成以便遮蓋P型主動導線 23。所以,上述之I/O墊層佈局之區域比習知三重遮蓋每 一個電晶體15A,15B的I/O墊層佈局區域小。此外,與上 述PMOS電晶體15A,15B相同的方式,NMOS電晶體 16A,16B共同維持主動區域S19,S10及主動導線 2 5,2 6,因而降低晶片區域》 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝 • i 線 ____7 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐) 經濟部中央標準局員工消費合作社印裝 A7 B7 五、發明説明(7 ) 圖六係圖五之等效電路圖。PMOS電晶體15A,15B係 連接至供應電壓源,而其閘極則連接至一NAND閘L1之輸出 端。其汲極連接至墊層2 7,2 8 , 2 9。相同地,N Μ 0 S電晶體 的源極係連接至地,其閛極則連接至-反相器L3之-輸出 端,而其汲極則連接至墊層2 7 , 2 8 , 2 9。 NAND閘L1之第一输入端Α接收第一資料輸出,而其第 二輸入端C則接收一驅動NAMD閘L1的訊號。另一方面, NAMD L2之第一输入端B接收一第二資料輸出,而其第二 輸入端與第一 NAND閘L1共用。第二NAND閘L2的輸出端係 接於反相器L 3之一輸入端。這些邏輯結構被當成驅動電晶 體15, 16的控制電路來使用。 圖七表示圖四所示之被當做拉高電晶體之PMOS電晶體 1 5被修改爲N Μ 0 S電晶體3 0。 參照圖七,做爲拉高電晶體的NIIOS電晶體30分別連接 至I/O墊層27-29,並各具有主動區域32-34。源極區域 S21-S26係形成於主動區域32 34,而汲極區域D5係分別 形成於源極區域S21,S22之間,源極區域S23,S24,源極 區域S25,S26。一閘極G5形成於汲極區域D5之間及源極 區域S21- S26之間的通道區域之上。NMOS電晶體30也被 當做資料輸入/輸出驅動器,並分別連接至I/O墊層。此 外,爲了防止栓鎖,P型主動導線35係形成於每一 NMOS電 晶體30之周圍,而N型主動導線36被形成以便遮蓋P型主動 導線35。 8 ^張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2!OX297公釐) -------ι' I裝------:訂丨,----丨-線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準扃員工消費合作社印製 A7 ____ B7 五、發明説明(8 ) 同時,每一連接至當做拉高電晶體使用並完成拉低操 作之NIIOS電晶體30的NMOS電晶體16係具有同圖四所示之 結構。這種結構佔用較大之空間。 參照圖八,做爲拉低電晶體用之NMOS電晶體16與圖五 所示之NMOS電晶體相同,而做爲拉高電晶體使用之NMOS 電晶體30與圖五所示之PMOS電晶體15結構相同。 換句話說,NMOS電晶體30A,30B的源極係共同做爲 相同的主動區域S 2 7 - S 2 9使用。N Μ 0 S電晶體3 0 A,3 0 B的 源極係連接至供應電壓源VCC,而其汲極係連接至位址墊層 27, 28。此外,防止栓鎖的P型主動導線35係形成於NMOS 電晶體30A,30B之周圍,而其二者係由主動區域S27 S29 而連接一起,且N型主動導線3 6被形成以遮蓋P型主動倒襖 線35。因此,上述之I/O墊層佈局的區域比習知三重遮蓋 N Μ 0 S電晶體3 0 A,3 0 B的I / 0墊層佈局區域小。 圖九連接於I/O墊層M31控制上述電晶體用之等效電路 之間的電晶體,等效電路表示於虛線所示之方格內。 圖九,拉高及拉低電晶體30, 16與圖六所解釋之拉高/ 低電晶體相同。然而,既然拉高電晶體30包括NMOS電晶 體,一反相器L4被施加於拉高電晶體30之NAND閘L1之输 出端與拉高電晶體30之閘極之間,藉此控制拉高及拉低電 晶體30,1 6。
圖十表示依據本發明原理所設計的半導體晶片的圖 式,也就是,位址墊層(D1,D2,D3,D4,....DN)及I/O 9 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 1裝 ^訂 線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ^〇t 0〇Q A7 ____ B7 五、發明説明(9 ) 墊層(£1,£2,£3,£4,....£~),包括上述的位址墊層 9,1 0及I / 0墊層(2 7 , 2 8,2 9 )的排列。 在依據本發明原理之具有相鄰墊層間之ESD保護電晶體 的半導體記憶裝置中可以預防接腳數的增加所產生的晶粒 尺寸的增加。此外,本發明仍具有在半導體晶片製程中可 以彈性地使用本發明之佈局的優點。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝·
、1T 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐)
Claims (1)
- 經濟部中央搮準局貞工消費合作社印裝 申請專利範圍 1. 一種半導體記憶裝置,具有複數個接收外來訊號之墊 層’包括第一及第二靜電放電保護電晶體,其包括第-端 分別連接至該複數個墊層中之二相鄰墊層並做爲第一主動 區域使用,經過鄰近該第一主動區域之第一及第二通道上 之隔離薄膜而設置的第二端,以及一共用第三端,位於該 第一與第二通道區域之間並定義出一第二主動區域,且於 該第二端及該等電晶體之共同第三端連接至單一電源供 rrfff 應。 2. 如申請專利範圍第1項之裝置,更包括第一主動導電導 線遮蓋於該第一及第二電晶體,以及一第二主動導電導線 遮蓋該第一主動導電導線。 3·如申請專利範圍第2項之裝置,其中該第一及第二電晶 體分別爲N形型MOS電晶體》 4 .如申請專利範圍第3項之裝置,其中於該第一及第二電 晶體之第一端爲其汲極之情況下,該第一及第二電晶體之 共同的第三端係其共同源極》 5. 如申請專利範圍第2項之裝置,其中於該第一主動導電 導線爲P型主動導線的情況下,該第二主動導電導線爲N型 主動導線。 6. 如申請專利範圍第I項之裝置,其中該複數個墊層至少 包括位址墊層。 7. 如申請專利範圍第3項之裝置,其中該第一及第二主動 區域係被注入高密度N型雜質離子之區域。 本紙張尺度適用中國國家梂準(CNS)A4规格(210x297公釐) --------J 裝------訂-----_|球 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 r D8 六、申請專利範圍 8.如申請專利範圍第1項之裝置,其中該第二端對稱地形 成於該第一主動區域之中央。 9 . -種半導體記憶裝置,具有複數個接收外來訊號之墊 層,包括: 第一及第二靜電放電保護MOS電晶體,其包括分別連 接至該複數個墊層中之二相鄰墊層並做爲第一主動區域使 用之汲極端,經過鄰近該第一主動區域之第一及第二通道 上之隔離薄膜而設置的閘極端,以及一共用源極端,位於 該第一與第二通道區域之間並定義出一第二主動區域,且 於該閘極端及該等電晶體之共同源極端連接至單-電源供 應; 一 P型主動導線遮蓋該第一及第二電晶體之周圍;以 及 一N型主動導線遮蓋該P型主動導線。 10. 如申請專利範圍第9項之裝置,其中該閘極端係對稱地 形成於該第一區域上之中央。 11. 一種半導體記憶裝置,具有複數個輸入/輸出墊層,包 括· 第一及第二拉高電晶體,做爲資料輸入/輸出驅動器 使用,其包括第一端分別連接至該複數個墊層中之二相鄰 墊層並做爲第一主動區域使用,經過鄰近該第一主動區域 之第一及第二通道上之隔離薄膜而設置的第二端,以及· 共用第三端,位於該第一與第二通道區域之間並定義出一 共同第二主動區域;以及 12 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Μ規格(210X297公釐) ---------裝------訂-----、線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局貝工消费合作社印製 3〇1〇ό〇 ?ξ D8 、申請專利範圍 第一及第二拉低電晶體,做爲資料輸入/輸出驅動器 使用,其包括第一端分別連接至該複數個墊層中之二相鄰 墊層並做爲第三主動區域使用,經過鄰近該第三主動區域 之第三及第四通道上之隔離薄膜而設置的第二端,以及一 共用第三端,位於該第三與第四通道區域之間並定義出一 共同第二源極區域。 12. 如申請專利範圍第11項之裝置,於該第一及第二拉低 電晶體爲PMOS電晶體之情況下,該第一及第二拉高電晶體 爲NMOS電晶體。 13. 如申請專利範圍第12項之裝置,更包括一第一主動導 電導線遮蓋該第一及第二拉高電晶體,一第二主動導電導 線遮蓋該第一主動導電導線,以及一第一主動導電導線遮 蓋該第二主動導電導線。 14. 如申請專利範圍第13項之裝置,於該第一及第二拉高 電晶體之第一端爲其汲極之情況下,該第一及第二拉高電 晶體之共同的第三端係其共同源極端。 15. 如申請專利範圍第丨3項之裝置,於該第一主動導電導 線爲Ν型主動導線的情況下,該第二主動導電導線爲Ρ型主 動導線。 16. 如申請專利範圍第11項之裝置,於該第一及第二拉高 電晶體爲NMOS電晶體的情況下,該第一及第二拉低電晶體 爲NMOS電晶體。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐) --------.裝------訂-----"線 (請先閲讀背面之注意Ϋ項再填寫本頁) A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 17. 如申請專利範圍第16項之裝置,更包括一第一主動導 電導線遮蓋該第一及第二拉高電晶體,以及一第二主動導 電導線遮蓋該第一主動導電導線。 18. 如申請專利範圍第17項之裝置,於該第一及第二拉高 電晶體之第一端爲其汲極之情況下,該第一及第二拉低電 晶體之共同的第三端係其共同源極端。 19. 如申請專利範圍第17項之裝置,於該第一主動導電導 線爲P型主動導線的情況下,該第二主動導電導線爲N型主 動導線。 20. 如申請專利範圍第1丨項之裝置,其中該複數個墊層至 少包括一輸入/輸出墊層。 --------i-- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 錁· 經濟部中央標準局貝工消费合作社印製 14 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) A4规格(210X297公釐)
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