TW201508288A

TW201508288A - 檢測裝置

Info

Publication number: TW201508288A
Application number: TW103128645A
Authority: TW
Inventors: Tadashi Takahashi
Original assignee: Nidec Read Corp
Priority date: 2013-08-27
Filing date: 2014-08-20
Publication date: 2015-03-01
Also published as: JP2015045542A; KR102215841B1; JP6229877B2; CN104422859A; CN104422859B; TWI636263B; KR20150024773A

Abstract

本發明提供一種通過簡單構成能檢測出絕緣檢測時發生的電火花和部分放電的檢測裝置。所述檢測裝置包括：電流源，向正極側圖形供給電流，所述正極側圖形是檢測物件的配線圖形中的一個；電流測定部，測定流過所述檢測物件的配線圖形的電流；以及判定部，基於所述電流測定部測定的電流的時間變化，判定所述檢測物件的配線圖形中是否發生了電火花或部分放電。

Description

檢測裝置

本發明主要涉及電路基板的檢測裝置。具體來說，涉及一種用於檢測出在檢測物件的配線圖形間發生的電火花以及部分放電的構成。

通過檢測形成在電路基板的多個配線圖形間的絕緣狀態(是否確保充分的絕緣性)來判斷該電路基板是否為良品的檢測裝置已被周知。通過向檢測物件的一組配線圖形施加所定的電壓進而測定該配線圖形間的電阻值來進行絕緣狀態的檢測。

由於在上述絕緣檢測時向配線圖形施加電壓，因此在該配線圖形間會發生電火花。當這種電火花發生時，電路基板上發生某種損傷的可能性則高。因此，優選地，將在檢測中發生電火花的電路基板區別為不良品。

與此相關，專利文獻1揭示了一種在檢測出向配線圖形所施加電壓波形的下降(當前電壓相比前次電壓變小的部位)時，檢測出電火花發生的構成。據專利文獻1，由此能確實防止因絕緣檢測而發生電火花的電路基板所混入。

但近來，印刷基板的圖形間隙(pitch)逐年變窄，且鑒於此，絕緣檢測時配線圖形間發生部分放電的情況逐漸增多。發生部分放電時電路基板也會發生損傷。因此，優選地，與檢測中發生電火花的電路基板一樣，也應將發生部分放電的電路基板區別為不良品。

但，部分放電時，由於配線圖形間流動的電流小，因此不能觀測到如同電火花發生時的電壓下降。因此，按專利文獻1的構成不能檢測出絕緣檢測時發生的部分放電。

與此相關，專利文獻2揭示了一種通過檢測出發生了部分放電時所產生的電磁波來計算部分放電發生次數的構成。但由於專利文獻2的構成需要用於接收上述電磁波的天線等，因此存在裝置複雜化的問題。

[現有技術文獻]

[專利文獻1]日本專利第3546046號公報

[專利文獻2]日本專利公開第2010-32457號公報

本發明提供了一種按簡單構成可檢測出絕緣檢測時發生的電火花和部分放電的檢測裝置。

根據本發明的一個觀點，如下提供了一種檢測裝置的構成，以用於檢測形成在電路基板上的配線圖形的絕緣性，所述檢測裝置包括：電流源，向正極側圖形供給電流，所述正極側圖形是檢測物件的配線圖形中的一個；電流測定部，測定流過所述檢測物件的配線圖形的電流；以及判定部，基於所述電流測定部測定的電流的時間變化，判定所述檢測物件的配線圖形中是否發生了電火花或部分放電。

優選地，在所述的檢測裝置中，所述電流測定部測定流過負極側圖形的電流，所述負極側圖形是所述檢測物件的配線圖形中的另一個。

優選地，所述的檢測裝置按如下進行構成。即，所述檢測裝置包括用於測定結束時間的結束時間測定部，所述結束時間是自開始向所述正極側圖形供給電流後，所述電流測定部測定的電流直至小於預設的第一閾值時為止所需的時間。所述判定部，在所述結束時間超過規定時間時，判定發生了電火花或部分放電。

優選地，所述的檢測裝置包括控制部，以用於自開始向所述正極側圖形供給電流後，當所述電流測定部測定的電流在不小於預設的第二閾值的狀態下超過預設的限定期限時，判定所述檢測物件的配線圖形間的絕緣性為不充分。

根據本發明，在檢測物件的配線圖形間發生電火花或部分放電時，流過該配線圖形的電流的時間變化比正常時變慢。因此，基於流過配線圖形的電流的時間變化，可判定電火花和部分放電的發生與否。

通過測定負極側圖形的電流，由於不容易受到正極側各構成的影響，因此能高精密度地測定流過配線圖形的電流。從而能高精密度地檢測出電火花或部分放電。

在檢測物件的配線圖形間發生電火花或部分放電時，流過負極側圖形的電流的時間變化變慢而造成的結果是，該電流直至變穩定為止所需的時間變長。因此，如上所述，當結束時間長於規定時間時，可判定發生了電火花或部分放電。

基於流過負極側圖形的電流，可檢測配線圖形間的絕緣性。因此，根據上述構成的檢測裝置，可使用共同的構成(電流源、電流測定部等)來實現絕緣檢測、電火花和部分放電的檢測，從而可簡化檢測裝置。

1‧‧‧檢測裝置

11‧‧‧恆定電流源

16‧‧‧電流測定部

22‧‧‧判定部

P1‧‧‧正極側圖形

P2‧‧‧負極側圖形

圖1是示出本發明一個實施形態的檢測裝置整體構成的模式電路圖。

圖2是示出根據檢測裝置檢測配線圖形之狀態的簡略化電路圖。

圖3是基於檢測裝置的絕緣檢測的流程圖。

圖4A是示出正常時的正極側圖形的電壓V之時間變化的圖表，圖4B是示出正常時的流過負極側圖形的電流I之時間變化的圖表。

圖5A是示出發生電火花時的正極側圖形的電壓V之時間變化的圖表，圖5B是示出發生電火花時的流過負極側圖形的電流I之時間變化的圖表。

圖6A是示出發生部分放電時的正極側圖形的電壓V之時間變化的圖表，圖6B是示出發生部分放電時的流過負極側圖形的電流I之時間變化的圖表。

圖7A是示出充電期間結束後發生部分放電時的正極側圖形的電壓V之時間變化的圖表，圖7B是示出充電期間結束後發生部分放電時的流過負極側圖形的電流I之時間變化的圖表。

接下來，參考附圖對本發明的實施形態進行說明。圖1所示的本實施形態的檢測裝置1用於對形成在電路基板2的配線圖形間的絕緣狀態進行不良與否的判定。雖然在實際的電路基板中形成有多個複雜的配線圖形，但在圖1將其簡單化，進而示出了在電路基板2形成有四個簡單的配線圖形P1至P4的狀態。

檢測裝置1包括控制部10、恆定電流源11、電壓測定部12、限幅電路(Limiter circuit)13、探針14、開關電路15和電流測定部16。

控制部10是包括作為運算裝置的CPU、作為記憶裝置的ROM或RAM等硬體的電腦。並且，控制部10在上述ROM等中維持著用於控制檢測裝置1各部的程式等軟體。控制部10通過上述硬體和上述軟體的協作來控制檢測裝置1的各部。

檢測裝置1包括多個探針14。各探針14是由棒狀乃至針狀形成的導電性部件，且能與電路基板2上的配線圖形P1至P4中的任意一個相接觸。

恆定電流源11包括正極側端子和負極側端子，且向正極側端子和負極側端子間供給恆定的電流。並且，恆定電流源11的負極側端子接地。

限幅電路13用於保護恆定電流源11的正極側端子和負極側端子間的電位差不超過所定的上限電壓。

電流測定部16包括正極側端子和負極側端子，且用於檢測出從正極側端子向負極側端子流動的電流的大小。電流測定部16的測定結果被輸入至控制部10。並且，電流測定部16的負極側端子接地。

開關電路15用於將各探針14在與恆定電流源11的正極側端子相接觸的狀態、與電流測定部16的正極側端子相接觸的狀態、與恆定電流源11和電流測定部16均不相接觸的狀態中任意切換狀態。控制部10控制開關電路15。

控制部10通過適當地控制開關電路15，可使任意的探針14與恆定電流源11的正極側端子相接觸。據此，對相應探針14所接觸的配線圖形，可供給來自恆定電流源11的恆定電流。在本說明書中將供給了來自恆定電流源11的恆定電流的配線圖形稱為“正極側圖形”。並且，控制部10通過適當地控制開關電路15，可使任意的探針14與電流測定部16的正極側端子相接觸。據此，基於電流測定部16可測定相應探針14所接觸的配線圖形中流動的電流。在本說明書中將基於電流測定部16而進行電流測定的配線圖形稱為“負極側圖形”。

電壓測定部12用於測定正極側圖形的電壓。電壓測定部12的測定結果被輸入至控制部10。

在此，參考圖2更具體地進行說明。圖2舉例說明了將一組配線圖形P1、P2作為檢測物件的情況。圖2在檢測物件的配線圖形P1、P2中，將一個配線圖形P1作為正極側圖形，而將另一個配線圖形P2作為負極側圖形。並且，在圖2中，為了方便說明，適當地省略了不必要構成的圖示。

如圖2所示，一組配線圖形P1、P2具有寄生電容C。因此，根據恆定電流源11向正極側圖形P1供給恆定的電流I₀，使寄生電容C得以充電。隨此，正極側圖形P1的電壓V上升。

在此，針對正極側圖形P1的電壓V的變化，結合圖4A進行簡單說明。圖4A是模式化舉例示出自開始向正極側圖形P1供給電流後的該正極側圖形P1的電壓V的時間變化的圖表。並且，圖4A和圖4B是不發生電火花或部分放電時(正常時)的圖表。如上所述，根據電壓測定部12測定電壓V。

通過給寄生電容C充電，如圖4A所示，正極側圖形P1的電壓V慢慢上升。並且，在開始向正極側圖形P1供給電流前的狀態中，寄生電容C完全放電，因此該正極側圖形P1的電壓V為零。因此，在圖4A中，示出正極側圖形P1的電壓V從零慢慢上升的狀態。如此，在本說明書中將正極側圖形P1的電壓V上升的期間(寄生電容C充電的期間)稱為“充電期間”。

並且如上所述，限幅電路13設置在檢測裝置1中，因此用於保護恆定電流源11的正極側端子和負極側端子間的電位差不超過上限電壓。如圖4A所示，若正極側圖形P1的電壓V增大至上限電壓，則限幅電路13開始工作，從而電壓V恆定於上限電壓。即，在寄生電容C截止至上限電壓進行充電的時點，該寄生電容C的充電結束。

接下來，針對流過負極側圖形P2的電流I，結合圖4B進行說明。圖4B是示出在正極側圖形P1的電壓V如圖4A變化時流過負極側圖形P2的電流I的時間變化的圖表。如上所述，根據電流測定部16測定電流I。

如圖2所示，認為在配線圖形P1、P2之間存在電阻R。該電阻R理想值為無限大，但實際上具有有限的值。因此，在電阻R中可流過電流Ir。並且，在充電期間，如圖2所示，用於給寄生電容C充電的電流(I₀-Ir)流過負極側圖形P2。因此，在充電期間中，用於給寄生電容C充電的電流(I₀-Ir)與流過電阻R的電流Ir流過負極側圖形P2。此時流過負極側圖形P2的電流合計為I₀。其結果是，充電期間中，在負極側圖形P2中流過恆定的電流I₀。

由於在寄生電容C的充電結束後不再流過用於該充電的電流，因此在負極側圖形P2中流過的則只是流過電阻R的電流Ir。因此，充電期間結束後如圖4B所示，流過負極側圖形P2的電流I劇減，進而逐漸接近Ir。

因此，在充電期間結束且流過負極側圖形P2的電流I穩定後，若能確認該電流I變得足夠小，則能保證流過電阻R的電流Ir足夠小(電阻R足夠大)。

接下來，針對本實施形態的檢測裝置1的電路基板檢測方法，參考圖3的流程圖進行說明。

首先，控制部10在形成于電路基板的多個配線圖形中，選擇將要檢測絕緣性的一組配線圖形(步驟S101)。控制部10通過適當地控制開關電路15，將作為檢測物件所選擇的一組配線圖形中的一個作為正極側圖形，而將另一個作為負極側圖形。在此，如前述圖2，將配線圖形P1作為正極側圖形且將配線圖形P2作為負極側圖形進行說明。據此，對正極側圖形P1，開始供給來自恆定電流源11的電流(步驟S102)。並且，控制部10開始進行對正極側圖形P1開始供給電流起所經過時間的計測(步驟S103)。

控制部10，在步驟S103中開始測定後的所經過時間在超過預設的限定期限時為止的期間中(步驟S104的判斷)，根據電流測定部16測定流過負極側圖形P2的電流I(步驟S105)。

如上所述，在充電期間結束後若能確認電流I足夠小，則能保證檢測物件的配線圖形P1、P2間的電阻R足夠大。因此，控制部10判定在步驟S105中測定的電流I是否小於預設的檢測結束閾值(參考圖4B)(步驟S106)。當電流I的測定結果小於檢測結束閾值時，由於電阻R足夠大，因此控制部10判定檢測物件的配線圖形P1、P2間的絕緣性被充分確保(步驟S107)。此時，控制部10，獲得自步驟S103起至步驟S107為止的經過時間(開始向正極側圖形P1供給電流後至流過負極側圖形P2的電流I小於檢測結束閾值時為止所需的時間)(步驟S108)。將此時獲得的經過時間作為“絕緣檢測結束時間”(參考圖4B)。如上，本實施形態的控制部10具有作為測定絕緣檢測結束時間的結束時間測定部21的功能。

另外，雖然經過了充分的時間，但流過負極側圖形P2的電流I不小於檢測結束閾值時，認為電阻R小於規定值(配線圖形P1、P2間的絕緣性未被充分確保)。因此，控制部10，在電流I不小於檢測結束閾值的狀態下，超過了限定期限時(步驟S104的判斷)，判定檢測物件的配線圖形P1、P2間的絕緣性未被充分確保(步驟S109)。此時，控制部10將電路基板判定為不良品(步驟S113)，且結束流程。

如上所述，根據步驟S104至步驟S106的迴圈，可對檢測物件的配線圖形P1、P2間的絕緣性進行檢測。

但，在上述的絕緣檢測(步驟S104至步驟S016)中，由於處於向正極側圖形P1施加電壓的狀態，因此在檢測物件的配線圖形P1、P2間可能會發生電火花或部分放電。因此本實施形態的控制部10，在基於上述絕緣檢測判斷配線圖形P1、P2間的絕緣性為充分時(步驟S107)，判定在該絕緣檢測中在配線圖形P1、P2間是否發生電火花或部分放電(步驟S110)。針對用於判定是否發生了電火花和部分放電的構成在後面進行說明。控制部10，當判定在絕緣檢測中發生了電火花或部分放電時，將電路基板判定為不良品(步驟S113)，且結束流程。

在步驟S110中，當判定在絕緣檢測中沒有發生電火花和部分放電時，控制部10針對預定要進行檢測的所有一組配線圖形，判定絕緣檢測是否結束(步驟S111的判斷)，當未結束時，針對下一組配線圖形繼續進行絕緣檢測。當針對所有的一組配線圖形結束絕緣檢測時，控制部將電路基板判定為良品，且結束流程(步驟S112)。

根據上述檢測方法，可僅將能充分確保配線圖形間的絕緣性的電路基板判定為良品。並且，由於可將在絕緣檢測中發生電火花或部分放電的電路基板區別為不良品，因此可提高判定為良品的電路基板的可靠性。

接下來，針對在上述步驟S110中，用於檢測出電火花和部分放電的方法進行說明。

圖5A和圖5B示出了在充電期間在檢測物件的配線圖形P1、P2間發生電火花時之正極側圖形P1的電壓V的時間變化(圖5A)以及流過負極側圖形P2的電流I的時間變化(圖5B)。

電火花發生的瞬間，由於正極側圖形P1的電荷流向負極側圖形P2，因此如圖5A所示，正極側圖形P1的電壓V暫時下降。即，給寄生電容C充電的一部分電荷放電。其結果是，由於完成該寄生電容C充電所需的時間(充電期間)比正常時變長，因此電流I開始減少的時間相比正常時變慢。結果是，如圖5B所示，絕緣檢測結束時間相比正常時變長。並且，在本發明書中，“正常時”指的是未發生電火花或部分放電之狀態。

如上所述，當充電期間中發生電火花時，充電期間相比正常時變長，其結果是，絕緣檢測結束時間比正常時變長。

接下來，針對發生部分放電之情況進行說明。圖6A和圖6B示出了在充電期間在檢測物件的配線圖形P1、P2間發生部分放電時之正極側圖形P1的電壓V的時間變化(圖6A)以及流過負極側圖形P2的電流I的時間變化(圖6B)。

當發生部分放電時，正極側圖形P1的電荷也流向負極側圖形P2。部分放電時，由於並非是如電火花那樣的急劇電荷流出，因此從正極側圖形P1的電荷流出份額可用恆定電流源11供給的電流進行補充。因此，如圖6A所示，在發生部分放電的過程中，正極側圖形P1的電壓V雖然不下降(不發生來自寄生電容C的放電)，但電壓V的上升速度(寄生電容C的充電速度)降低。因此，寄生電容C充電所需的時間(充電時間)比正常時變長。

如上所述，充電期間中發生部分放電時，充電期間比正常時也變長。因此，此時，電流I開始減少的時間比正常時也變慢。結果是，如圖6B所示，絕緣檢測結束時間比正常時變長。

接下來，參考圖7A和圖7B，針對充電期間結束後發生部分放電之示例進行說明。圖7示出了在充電期間結束後在檢測物件的配線圖形P1、P2間發生部分放電時之正極側圖形P1的電壓V的時間變化(圖7A)以及流過負極側圖形P2的電流I的時間變化(圖7B)。

如上所述，在發生部分放電的過程中，正極側圖形P1的電壓V不下降(不發生來自寄生電容C的放電)。因此，當充電期間結束後發生部分放電時，電壓V的圖表(圖7A)與正常時的電壓V的圖表(圖5A)幾乎相同。因此，只通過電壓V的時間變化不能判斷充電期間結束後是否發生了部分放電。

但即便此時，電流I的圖表也能示出部分放電的影響。具體來說，如圖7B所示，充電期間結束後，在發生部分放電的期間中，電流I減少的速度比正常時變慢。因此，絕緣檢測結束時間比正常時變長。

如上所述，在絕緣檢測中，檢測物件的配線圖形P1、P2間發生部分放電或電火花時，流過負極側圖形P2的電流I的時間變化(電流I開始減少的時間，或該電流I的減少速度)比正常時變慢。

因此，本實施形態的控制部10，具有作為基於電流I 的時間變化來判定絕緣檢測中是否發生電火花以及部分放電的判定部22的功能。

具體來說，本實施形態的判定部22，判定在圖3的步驟S108中獲得的絕緣檢測結束時間是否超過規定時間。並且，上述“規定時間”基於正常時的絕緣檢測結束時間預先設定。

判定部22，在絕緣檢測結束時間超過規定時間時，判斷該絕緣檢測結束時間比正常時變長。此時，由於說明電流I開始減少的時間和該電流I的減少速度中的至少一個比正常時變慢，因此判定部22判定在絕緣檢測中發生了電火花或部分放電(步驟S110中“是”)。

另外，判定部22，在絕緣檢測結束時間不超過規定時間時，判斷該絕緣檢測結束時間與正常時無變化。此時，由於電流I開始減少的時間和該電流I的減少速度兩者全都被認為正常，因此判定部22判斷在絕緣檢測中沒有發生電火花和部分放電(步驟S110中“否”)。

根據如此構成的本實施形態的檢測裝置1，除了以往能檢測的電火花(圖5A和圖5B)之外，還能檢測出以往難以進行檢測的部分放電(圖6A和圖6B)的發生。

尤其，當充電期間結束後發生部分放電時(圖7A和圖7B之情況)，電壓V的圖表與正常時(圖5A)沒有變化。因此，利用電壓V的變化來檢測電火花的專利文獻1的構成不能檢測出如圖7A和圖7B之情況。與此相關，在本實施形態中，由於利用流過負極側圖形P2的電流I 的時間變化，因此在圖7A和圖7B之情況中也能檢測出部分放電。

並且本實施形態的檢測裝置1，在絕緣檢測(步驟S104至步驟S106的迴圈)以及電火花和部分放電的檢測中，可利用共同的構成(恆定電流源11、電流測定部16等)。據此，在本實施形態的檢測裝置1中，不需要用於檢測電火花或部分放電的特殊感測器(sensor)等。因此，可簡化檢測裝置1的構成。

如上述說明的，本實施形態的檢測裝置1包括恆定電流源11、電流測定部16以及判定部22。恆定電流源11向檢測物件的配線圖形的一個即正極側圖形P1供給電流。電流測定部16測定流過檢測物件的配線圖形的電流I。判定部22，基於電流測定部16測定的電流I的時間變化，判定檢測物件的配線圖形P1、P2間是否發生了電火花或部分放電。

即，檢測物件的配線圖形P1、P2間發生電火花或部分放電時，流過該配線圖形的電流I的時間變化比正常時變慢。因此，基於流過配線圖形的電流I的時間變化，可判定是否發生電火花和部分放電。

並且，在本實施形態的檢測裝置1中，電流測定部16測定流過檢測物件的配線圖形的另一個即負極側圖形P2的電流。

即，通過測定負極側圖形的電流，由於不容易受到正極側各構成的影響，因此能高精密度地測定流過配線圖形的電流。從而，能高精密度地檢測出電火花或部分放電。

並且，如上所述，本實施形態的檢測裝置1，包括用於測定電流測定部16所測定的電流I直至小於檢測結束閾值時為止所需的時間即絕緣檢測結束時間的結束時間測定部21。判定部22，在絕緣檢測結束時間超過規定時間時，判定發生了電火花或部分放電。

即，檢測物件的配線圖形P1、P2間發生了電火花或部分放電時，流過負極側圖形P2的電流I的時間變化變慢，其結果是，至該電流I穩定時為止所需的時間變長。因此，如上所述，當絕緣檢測結束時間比規定時間變長時，可判定發生了電火花或部分放電。

並且，如上所述，本實施形態的檢測裝置1，包括控制部10，以用於自開始向正極側圖形P1供給電流後，電流測定部16所測定的電流在不小於預設的檢測結束閾值的狀態下超過預設的限定期限時，判定檢測物件的配線圖形P1、P2間的絕緣性不充分。

如此，基於流過負極側圖形P2的電流I，可檢測配線圖形間的絕緣性。因此，根據上述構成的檢測裝置1，利用共同的構成(恆定電流源11、電流測定部16等)可實現絕緣檢測以及電火花和部分放電的檢測，從而可簡化檢測裝置1。

以上雖然對本發明的優選實施形態進行了說明，但上述構成例如可按下述進行變形。

在上述實施形態中，即使電火花或部分放電發生一次，也將其判定為不良品，但也可容許數次的電火花(或部分放電)。

在上述實施形態中，並不使用基於電壓測定部12的電壓V的測定結果。因此，電壓測定部12可被省略。

在以往的方法(專利文獻1)中，雖然不能檢測出部分放電的發生，但能檢測出電火花的發生。由此，通過組合以往的方法和本案發明的方法，可以區分電火花的發生和部分放電的發生而進行檢測。因此，在電火花發生時和在部分放電發生時，根據需要可進行不同的處理。

在上述實施形態中，將第一閾值(檢測出電火花和部分放電時使用的閾值)和第二閾值(判斷絕緣性充分與否時使用的閾值)作為相同值(檢測結束閾值)。但第一閾值和第二閾值也可不同。

並且，上述實施形態雖然是在電流測定部中測定流過負極側圖形P2的電流的構成，但從測定流過配線圖形P1、P2的電流的觀點來看，也可構成為在電流測定部中測定流入正極側圖形P1的電流。但，當採取測定流入正極側圖形P1的電流之構成時，由於容易受到正極側的各構成的影響，因此難以準確檢測出流過配線圖形的電流。因此，從電火花和部分放電的檢測精密度這點來看，應優選採取如上述實施形態之測定流過負極側圖形P2的電流的構成。

11‧‧‧恆定電流源

12‧‧‧電壓測定部

13‧‧‧限幅電路

16‧‧‧電流測定部

P1‧‧‧正極側圖形

P2‧‧‧負極側圖形

C‧‧‧寄生電容

R‧‧‧電阻

I、I₀、Ir‧‧‧電流

Claims

一種檢測裝置，檢測形成在電路基板上的配線圖形的絕緣性，所述檢測裝置包括：電流源，向正極側圖形供給電流，所述正極側圖形是檢測物件的配線圖形中的一個；電流測定部，測定流過所述檢測物件的配線圖形的電流；以及判定部，基於所述電流測定部測定的電流的時間變化，判定所述檢測物件的配線圖形中是否發生了電火花或部分放電。
根據申請專利範圍第1項所述的檢測裝置，其中所述電流測定部測定流過負極側圖形的電流，所述負極側圖形是所述檢測物件的配線圖形中的另一個。
根據申請專利範圍第1或2項所述的檢測裝置，其中進一步包括用於測定結束時間的結束時間測定部，所述結束時間是自開始向所述正極側圖形供給電流後，所述電流測定部測定的電流直至小於預設的第一閾值時為止所需的時間，所述判定部，在所述結束時間超過規定時間時，判定發生了電火花或部分放電。
根據申請專利範圍第3項所述的檢測裝置，其中進一步包括控制部，以用於自開始向所述正極側圖形供給電流後，當所述電流測定部測定的電流在不小於預設的第二閾值的狀態下超過預設的限定期限時，判定所述檢測物件的配線圖形間的絕緣性為不充分。