JPS5840703B2 - 非破壊絶縁試験装置 - Google Patents
非破壊絶縁試験装置Info
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- JPS5840703B2 JPS5840703B2 JP51017021A JP1702176A JPS5840703B2 JP S5840703 B2 JPS5840703 B2 JP S5840703B2 JP 51017021 A JP51017021 A JP 51017021A JP 1702176 A JP1702176 A JP 1702176A JP S5840703 B2 JPS5840703 B2 JP S5840703B2
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- current
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
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- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は各種電気機器の絶縁の状態又は性能を直流高
圧印加によって非破壊的に試験する装置に関する。
圧印加によって非破壊的に試験する装置に関する。
電カケープル鶴との電気設備の絶縁状態を検査するのに
、種々の非破壊試験法が開発され、実施されているがそ
の一つである直流高電圧法は、電流一時間特性（成極指
数）あるいは絶縁抵抗−電圧特性（弱点比）などから絶
縁の性状とくに乾燥、吸湿状態あるいは絶縁劣化状態を
判定するものである。
、種々の非破壊試験法が開発され、実施されているがそ
の一つである直流高電圧法は、電流一時間特性（成極指
数）あるいは絶縁抵抗−電圧特性（弱点比）などから絶
縁の性状とくに乾燥、吸湿状態あるいは絶縁劣化状態を
判定するものである。
成極指数Ｐ、１．は被試験物に直流電圧を印加したとき
に流れる変位電流Ｉｄ（充電電流）、吸収電流Ｉａ、及
び漏洩電流Ｉｒのうち特に吸収電流と漏洩電流の合成電
流を電圧印加１分後とｎ分後（被試験時の形状、材質等
によって異なり、３分後、５分後、７分後、１０分後な
どに決定される。
に流れる変位電流Ｉｄ（充電電流）、吸収電流Ｉａ、及
び漏洩電流Ｉｒのうち特に吸収電流と漏洩電流の合成電
流を電圧印加１分後とｎ分後（被試験時の形状、材質等
によって異なり、３分後、５分後、７分後、１０分後な
どに決定される。
）に測定してその結果から求めるものであり、
より算出する。
この１分後及びｎ分後の電流（あるいは絶縁抵抗）を測
定するときには印加電圧が試験のための規定電圧に昇圧
していなげればならないとされ、したがって少なくとも
１分以内に被試験物への充電を終了し、印加電圧を規格
電圧まで上昇させなげればならない。
定するときには印加電圧が試験のための規定電圧に昇圧
していなげればならないとされ、したがって少なくとも
１分以内に被試験物への充電を終了し、印加電圧を規格
電圧まで上昇させなげればならない。
従来試験装置においては第１図に示すように印加開始時
に被試験物Ｒｘ（図においては等価回路を示す）の容量
Ｃａの突入充電電流から試験装置を保護する目的などの
ため、試験装置の内部抵抗Ｒが大きく、このため、印加
電圧ＶＯは内部抵抗Ｒと容量Ｃａで定まる時定数によっ
て徐々に上昇することになり、被試験物の仕様により電
流工〇が大きく変動するばかりか、電圧印加１分後に印
加電圧を規格値まで昇圧せることか不可能でありまた１
分後にも充電電流が流れ続いて、正確な吸収電流と漏洩
電流を測定することができず、したがって確実且つ信頼
のおける成極指数を求めることは全く不可能であった。
に被試験物Ｒｘ（図においては等価回路を示す）の容量
Ｃａの突入充電電流から試験装置を保護する目的などの
ため、試験装置の内部抵抗Ｒが大きく、このため、印加
電圧ＶＯは内部抵抗Ｒと容量Ｃａで定まる時定数によっ
て徐々に上昇することになり、被試験物の仕様により電
流工〇が大きく変動するばかりか、電圧印加１分後に印
加電圧を規格値まで昇圧せることか不可能でありまた１
分後にも充電電流が流れ続いて、正確な吸収電流と漏洩
電流を測定することができず、したがって確実且つ信頼
のおける成極指数を求めることは全く不可能であった。
即ち、従来装置による電圧印加曲線は第５図ｂの如くで
あり被測定物の容量Ｃａが大きい場合は１分間を経過し
ても印加電圧が規定電圧に達せず従って成極指数の正確
な測定は不可能であった。
あり被測定物の容量Ｃａが大きい場合は１分間を経過し
ても印加電圧が規定電圧に達せず従って成極指数の正確
な測定は不可能であった。
この発明は上述した従来技術の欠点を解消し成極比の真
値を求めることを目的とするものであり、絶縁試験を行
なうために被試験物へ直流高電圧を印加するに際し、被
試験物への供給電流が一定値を越えないように印加電圧
を制御して、被試験物の有する容量に充分な電荷が供給
されるまで一定値の充電電流が供給できるように印加電
圧を上昇させ、充電時における試験装置の内部インピー
ダンスが実質的にほぼゼロとみなし得るようにし、印加
電圧の上昇を速めることができるようにしたことを特徴
とするものであり、１分以内に印加電圧を規格値まで確
実に上昇できるようにしたものである。
値を求めることを目的とするものであり、絶縁試験を行
なうために被試験物へ直流高電圧を印加するに際し、被
試験物への供給電流が一定値を越えないように印加電圧
を制御して、被試験物の有する容量に充分な電荷が供給
されるまで一定値の充電電流が供給できるように印加電
圧を上昇させ、充電時における試験装置の内部インピー
ダンスが実質的にほぼゼロとみなし得るようにし、印加
電圧の上昇を速めることができるようにしたことを特徴
とするものであり、１分以内に印加電圧を規格値まで確
実に上昇できるようにしたものである。
以下に本発明を図面に基いて説明する。
１は電池、２は電源スィッチ、３は発振回路であって、
この実施例においてはトランジスタＱ１− Ｑ２コンデ
ンサＣ１ｓＣ２ｍ抵抗Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３゜Ｒ４からなる
マルチバイブレータによって構成されているが、これに
限定されるものではなく、その他の発振回路によって構
成してもよいことは勿論である。
この実施例においてはトランジスタＱ１− Ｑ２コンデ
ンサＣ１ｓＣ２ｍ抵抗Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３゜Ｒ４からなる
マルチバイブレータによって構成されているが、これに
限定されるものではなく、その他の発振回路によって構
成してもよいことは勿論である。
４は直流−交流変換回路であって、発振回路３の出力の
受け、またその出力端は昇圧トランス５の一次側に接続
されている。
受け、またその出力端は昇圧トランス５の一次側に接続
されている。
昇圧トランス５の二次側は整流回路６に接続されている
。
。
整流回路６は半導体整流素子Ｄ１．Ｄ２ とコンデンサ
Ｃ３、Ｃ４とからなる倍電圧整流回路であるが、その他
多段式整流回路で形成してもよい。
Ｃ３、Ｃ４とからなる倍電圧整流回路であるが、その他
多段式整流回路で形成してもよい。
整流回路６の出力端には直流高電圧が発生する。
整流回路６の負側出力端は測定端子７に接続され、また
正側出力端は後述する特殊な用途を果す抵抗Ｒ７、Ｒ８
及び切換スイッチＳ１ ”Ｉ Ｍ Ｓ １−２を介して
他方の測定端子８に接続されている。
正側出力端は後述する特殊な用途を果す抵抗Ｒ７、Ｒ８
及び切換スイッチＳ１ ”Ｉ Ｍ Ｓ １−２を介して
他方の測定端子８に接続されている。
この測定端子８は接地されている。
１０は電圧安定化回路であって、トランジスタＱ７及び
Ｑ８を有する差動増幅回路で形成されている。
Ｑ８を有する差動増幅回路で形成されている。
トランジスタＱ７のコレクタは電池１の負端ライン１１
に、またエミッタは抵抗Ｒ０゜を介して電池１の止端ラ
イン１２ にそれぞれ接続されている。
に、またエミッタは抵抗Ｒ０゜を介して電池１の止端ラ
イン１２ にそれぞれ接続されている。
電池１０両極間には定電圧ダイオードＤ３と抵抗Ｒ１、
が直列に配され、またＤ３とＲ１１の接続点はトランジ
スタＱ７のベースと接続される。
が直列に配され、またＤ３とＲ１１の接続点はトランジ
スタＱ７のベースと接続される。
トランジスタＱ８のエミッタは後述する切換スイッチ５
１−８及び抵抗Ｒ１ｏを介してライン１２に接続され、
またコレクタは電圧調整用トランジスタＱ、のベースに
接続されている。
１−８及び抵抗Ｒ１ｏを介してライン１２に接続され、
またコレクタは電圧調整用トランジスタＱ、のベースに
接続されている。
トランジスタＱ、のコレクタはライン１１ に、またエ
ミッタは昇圧トランス５の一次側に接続され、このトラ
ンジスタＱ、のコレクタ・エミッタ間電圧を制御するこ
とによって出力電圧ＶＯを制御することができる。
ミッタは昇圧トランス５の一次側に接続され、このトラ
ンジスタＱ、のコレクタ・エミッタ間電圧を制御するこ
とによって出力電圧ＶＯを制御することができる。
トランジスタＱ８のベースは抵抗Ｒ１□を介してライン
１２に接続され、更に抵抗Ｒ１３を介して、整流回路６
の出力端に配された分割抵抗Ｒ０４゜Ｒ１，に接続され
ている。
１２に接続され、更に抵抗Ｒ１３を介して、整流回路６
の出力端に配された分割抵抗Ｒ０４゜Ｒ１，に接続され
ている。
１２は電流制限回路であって、トランジスタＱ１ｏと抵
抗Ｒ７及び切換スイッチ５１−１とからなり、トランジ
スタＱＩＯのエミッタはライン１２（整流回路６の正側
出力端）に、またコレクタは（タイオードＤ４を介して
）電圧調整トランジスタＱ、のベースに接続されている
。
抗Ｒ７及び切換スイッチ５１−１とからなり、トランジ
スタＱＩＯのエミッタはライン１２（整流回路６の正側
出力端）に、またコレクタは（タイオードＤ４を介して
）電圧調整トランジスタＱ、のベースに接続されている
。
ベース・エミッタ間にはスイッチ５１−１を介して抵抗
Ｒ７が接続され、またベースは抵抗Ｒ８を介して測定端
子８に接続されている。
Ｒ７が接続され、またベースは抵抗Ｒ８を介して測定端
子８に接続されている。
この電流制限回路１２＆Ｌ出力電流■０を所定値以下に
制限する機能を有し、出力電流値が所定値に達したとき
トランジスタＱＩＯをほぼ飽和状態とするエミッタ・ベ
ース間電圧（即ち抵抗Ｒ７における電圧降下値）が発生
するように抵抗Ｒ７の値が定められている。
制限する機能を有し、出力電流値が所定値に達したとき
トランジスタＱＩＯをほぼ飽和状態とするエミッタ・ベ
ース間電圧（即ち抵抗Ｒ７における電圧降下値）が発生
するように抵抗Ｒ７の値が定められている。
したがって出力電流Ｉｏが所定値に達するとトランジス
タＱＩＯが飽和状態となり、電圧制御用トランジスタＱ
、の作動点を移動させて、出力電圧ＶＯを低くおさえる
方向に制御する。
タＱＩＯが飽和状態となり、電圧制御用トランジスタＱ
、の作動点を移動させて、出力電圧ＶＯを低くおさえる
方向に制御する。
このように出力電流値を所定値以下に制限するために、
従来のように大きな出力抵抗を用いるのではなく、出力
電圧Ｖｏをコントロールしている。
従来のように大きな出力抵抗を用いるのではなく、出力
電圧Ｖｏをコントロールしている。
出力電流Ｉｏが所定値以下に低下すると、トランジスタ
Ｑ１ｏノベース エミッタ間電圧が下るのでエミッタ・
コレクタ間電圧が上昇し、その結果、トランジスタＱ。
Ｑ１ｏノベース エミッタ間電圧が下るのでエミッタ・
コレクタ間電圧が上昇し、その結果、トランジスタＱ。
の作用により出力電圧Ｖｏは上昇することになる。
このことは測定端子７．８に接続した被測定物Ｒｘ（又
は負荷）に供給する電流Ｉｏが一定値を越えないよ５に
印加電圧Ｖｏをコントロールしていることを意味する。
は負荷）に供給する電流Ｉｏが一定値を越えないよ５に
印加電圧Ｖｏをコントロールしていることを意味する。
なお出力電圧−電流特性については後に詳述する。
この実施例においては、出力定格電圧を数段階、例えば
１００ＯＶ、２０００Ｖ、３０００Ｖ。
１００ＯＶ、２０００Ｖ、３０００Ｖ。
４０００Ｖ５０００Ｖ、６０００Ｖの６段階に得ること
ができる。
ができる。
切換スイッチ５１−１ ＃ ５１−２１Ｓ１−３は出力
定格電圧を切換えるためのスイッチであって、各々連動
作動する。
定格電圧を切換えるためのスイッチであって、各々連動
作動する。
各切換スイッチのａ端子が１０００Ｖ用端子であり、ｆ
端子が６０００Ｖ用端子である。
端子が６０００Ｖ用端子である。
また前述した電流制限回路１２内の切換スイッチ５１−
１のａ −ｆ端子間に配設される抵抗Ｒ７（＝ｒ１＋ｒ
２＋ｒ３ ＋ｒ、 ＋ｒ、＋ｒ６）は電流制限値が例え
ば定格出力１０００Ｖのとき０．２ｍＡ 、 ２０００
Ｖのとき０．４ｍＡ、３０００Ｖのとき０．６ｍＡ、４
０００■のとき０．８ｍＡ、５０００Ｖのとき１ｍＡｓ
６０００Ｖのとき１．２ｍＡで一定となるように、各抵
抗値が決定される。
１のａ −ｆ端子間に配設される抵抗Ｒ７（＝ｒ１＋ｒ
２＋ｒ３ ＋ｒ、 ＋ｒ、＋ｒ６）は電流制限値が例え
ば定格出力１０００Ｖのとき０．２ｍＡ 、 ２０００
Ｖのとき０．４ｍＡ、３０００Ｖのとき０．６ｍＡ、４
０００■のとき０．８ｍＡ、５０００Ｖのとき１ｍＡｓ
６０００Ｖのとき１．２ｍＡで一定となるように、各抵
抗値が決定される。
出力定格電圧及び各々の電流制限値は任意に設計変更可
能であることは勿論である。
能であることは勿論である。
１５．１６は増幅器、１７は絶縁抵抗指示計であって、
抵抗Ｒ８における電圧降下値を検出することによって絶
縁抵抗値を測定する。
抵抗Ｒ８における電圧降下値を検出することによって絶
縁抵抗値を測定する。
増幅器１５は高入力インピーダンスを有し、また増幅器
１６の利得は、電圧の低域では抵抗Ｒ１□とＲ１８の比
によって定まり、また電圧の高域では抵抗Ｒ１□とＲ１
，比によって定まる。
１６の利得は、電圧の低域では抵抗Ｒ１□とＲ１８の比
によって定まり、また電圧の高域では抵抗Ｒ１□とＲ１
，比によって定まる。
Ｄ５は定電圧ダイオードである。
またＲ１８）Ｒ１，である。この抵抗Ｒ１８゜Ｒ１，及
び定電圧ダイオードＤ５によって、絶縁抵抗指示計１７
の目盛の高域部の間隔を拡大し、絶縁抵抗値の低域から
高域に至る全域にわたって目盛の読み取りを正確且つ容
易としている。
び定電圧ダイオードＤ５によって、絶縁抵抗指示計１７
の目盛の高域部の間隔を拡大し、絶縁抵抗値の低域から
高域に至る全域にわたって目盛の読み取りを正確且つ容
易としている。
抵抗Ｒ８は、分流器として作用し、切換スイッチ５１−
２を切換えることによって、その抵抗値が可変し、測定
端子７．８間の出力定格電圧を順次１ｏｏｏｖ〜６００
０Ｖに切換えた場合でも、絶縁抵抗指示計１７の目盛を
一重目盛とすることができる。
２を切換えることによって、その抵抗値が可変し、測定
端子７．８間の出力定格電圧を順次１ｏｏｏｖ〜６００
０Ｖに切換えた場合でも、絶縁抵抗指示計１７の目盛を
一重目盛とすることができる。
以上に述べた各回路を作動させて成極指数を求めること
ができる。
ができる。
まず電源スィッチ２を投入して、次に印加電圧（出力定
格電圧）設定スイッチＳ、（Ｓｌ−１，Ｓｌ 、、、５
ｌ−３）を１０００ＶＫセツトすると、出力電圧Ｖｏは
上昇を開始する。
格電圧）設定スイッチＳ、（Ｓｌ−１，Ｓｌ 、、、５
ｌ−３）を１０００ＶＫセツトすると、出力電圧Ｖｏは
上昇を開始する。
このとき被試験物Ｒｘの容量Ｃｏに流入する充電電流は
電流制限回路１２０作用によって所定値Ｉｃ（例えば０
．２ｍＡ）に制限され、以後、容量Ｃｏの充電がほぼ終
了するまで、出力電圧Ｖｏは電流制限回路１２及びトラ
／ジスタＱ９の作用によって出力電流ＩＯが所定値Ｉｃ
で一定となるように上昇する。
電流制限回路１２０作用によって所定値Ｉｃ（例えば０
．２ｍＡ）に制限され、以後、容量Ｃｏの充電がほぼ終
了するまで、出力電圧Ｖｏは電流制限回路１２及びトラ
／ジスタＱ９の作用によって出力電流ＩＯが所定値Ｉｃ
で一定となるように上昇する。
したがってこの試験装置は、被試験物Ｒｘの容量Ｃｏに
、その充電が終了するまで一定電流を供給する能力を有
し、充電時には試験装置の内部インピーダンスを実質的
にほぼゼロとみなすことができるから、充電時間を極め
て短かくすることができ、また充電終了時には出力電圧
ＶＯもほぼ定格値（１００ＯＶ）まで上昇している。
、その充電が終了するまで一定電流を供給する能力を有
し、充電時には試験装置の内部インピーダンスを実質的
にほぼゼロとみなすことができるから、充電時間を極め
て短かくすることができ、また充電終了時には出力電圧
ＶＯもほぼ定格値（１００ＯＶ）まで上昇している。
このようにして被試験物Ｒｘへの印加電圧（出力電圧Ｖ
ｏ）を１分以内に確実に定格値まで上昇させることが可
能となった。
ｏ）を１分以内に確実に定格値まで上昇させることが可
能となった。
容量Ｃｏに充分な電荷の供給が終了すると出力電流■０
は急激に減少し、その値は吸収電流と漏洩電流の和とな
る。
は急激に減少し、その値は吸収電流と漏洩電流の和とな
る。
印加１分後及び３分後（又は５分、７分、１０分後など
で被試験物の仕様によって決められる。
で被試験物の仕様によって決められる。
）には印加電圧も定格電圧一定となっているので、それ
ぞれの時間における絶縁抵抗値を指示計１１によって読
み取り、式（２）に仕入して成極指数を求める。
ぞれの時間における絶縁抵抗値を指示計１１によって読
み取り、式（２）に仕入して成極指数を求める。
前述した如く、印加１分以内に充電が完了し、１分後に
は吸収電流と漏洩電流のみとなるので、極めて信頼性の
高い成極比を求めることができるのである。
は吸収電流と漏洩電流のみとなるので、極めて信頼性の
高い成極比を求めることができるのである。
測定が終了すると放電用スイッチ５２−１を投入して、
被試験物Ｒｘ内の電荷を放電させる。
被試験物Ｒｘ内の電荷を放電させる。
このときスイッチ５２−１と連動のスイッチ５２−２に
よって昇圧トランス５の一次側が開路となる。
よって昇圧トランス５の一次側が開路となる。
次に切換スイッチＳ□を２０００Ｖ端子に切換えて、前
述同様に試験を行なう。
述同様に試験を行なう。
このようにして印加電圧をステップ状に上昇させて直流
高圧試験を行なう。
高圧試験を行なう。
なお端子９はガード端子である。
さて、絶縁物の漏れ電流は低電界ではオームの法則に従
い、電圧に対して絶縁抵抗は一定であるが、高電界にな
るとオームの法則からはずれ、絶縁抵抗は電圧に比例し
て増大するがある電圧ｆ直以上になると逆に反比例（低
下）してくる。
い、電圧に対して絶縁抵抗は一定であるが、高電界にな
るとオームの法則からはずれ、絶縁抵抗は電圧に比例し
て増大するがある電圧ｆ直以上になると逆に反比例（低
下）してくる。
したがって絶縁抵抗−電圧特性曲線は山型（凸型）を示
すが、絶縁状態が良好な場合（乾燥）は山型が高くなり
、吸湿劣化すると平坦化してくる。
すが、絶縁状態が良好な場合（乾燥）は山型が高くなり
、吸湿劣化すると平坦化してくる。
このような絶縁抵抗−電圧特性、すなわち絶縁抵抗の電
圧に対する変化の程度から絶縁状態の良否を判定するこ
とができるが、それを表わす指数として次式に示す弱点
比が用いられる。
圧に対する変化の程度から絶縁状態の良否を判定するこ
とができるが、それを表わす指数として次式に示す弱点
比が用いられる。
この弱点比は、前記切換スイッチを切換えて印加電圧を
可変とし、そのときの絶縁抵抗を読取って式（３）に代
入することにより容易に求めることができる。
可変とし、そのときの絶縁抵抗を読取って式（３）に代
入することにより容易に求めることができる。
図示した試験装置には部分放電試験を行なう機能を有す
。
。
絶縁材料中にボイドなどが在存するとこの部分に部分放
電（ボイド放電）が発生し、絶縁材料の劣化の大きな原
因となる。
電（ボイド放電）が発生し、絶縁材料の劣化の大きな原
因となる。
この部分放電を測定することによって被試験物の破壊を
未然に防ぐことができる。
未然に防ぐことができる。
部分放電は印加電圧ＶＯの上昇時に発生し、第４図に示
す如く印加電圧特性曲線の上昇部にパルスＰとして観察
される。
す如く印加電圧特性曲線の上昇部にパルスＰとして観察
される。
図示した回路においては部分放電パルス信号は増幅器１
６の出力に出現するので、これを直流分除去用コンデン
サＣ６を介して増幅器２０へ入力する。
６の出力に出現するので、これを直流分除去用コンデン
サＣ６を介して増幅器２０へ入力する。
増幅器２０の出力側にはパルスメータ２１及びイヤーホ
ーン２２が配設されており、部分放電の発生状況を視覚
的及び聴覚的に監視することができるようになっている
。
ーン２２が配設されており、部分放電の発生状況を視覚
的及び聴覚的に監視することができるようになっている
。
またＲ２２はレベル設定抵抗であり部分放電パルスのレ
ベルがある値に達したときにフリップクロップ２３がセ
ットされて、発振回路３の出力信号がゲート回路２４を
経由して増幅器２５に人力され、イヤーホーン２６かも
連続音が発音する。
ベルがある値に達したときにフリップクロップ２３がセ
ットされて、発振回路３の出力信号がゲート回路２４を
経由して増幅器２５に人力され、イヤーホーン２６かも
連続音が発音する。
このイヤーホーン２６からの連続音は部分放電状況が危
険状態に近すいたことを示せる警報信号となる。
険状態に近すいたことを示せる警報信号となる。
この警報信号が発せられたときに絶縁試験を直ちに停止
することにより被試験物を破壊に至らしめるのを未然に
防ぐことができる。
することにより被試験物を破壊に至らしめるのを未然に
防ぐことができる。
イヤーホーン２２及び２６をステレオヘッドホーンで構
成シ、２種の信号を左右の耳で聞くようにするとよい。
成シ、２種の信号を左右の耳で聞くようにするとよい。
なお、イヤホーン２２をスピーカーにまたイヤホーン２
６をブザーあるいはランプ等に置換することも当然に可
能である。
６をブザーあるいはランプ等に置換することも当然に可
能である。
部分放電発生状況を確実に測定するためには、印加電圧
ＶＯの上昇勾配を多少縁やかにする必要がある。
ＶＯの上昇勾配を多少縁やかにする必要がある。
３０は電圧上昇制御回路であって、トランジスタＱ１５
と抵抗Ｒ３０ｘ Ｒ３、ｓ及びコンデンサＣｔＯで形成
され、トランジスタＱ１５のエミッタは（ダイオードＤ
、を介して）電圧調整用トランジスタＱ、のベースに接
続されている。
と抵抗Ｒ３０ｘ Ｒ３、ｓ及びコンデンサＣｔＯで形成
され、トランジスタＱ１５のエミッタは（ダイオードＤ
、を介して）電圧調整用トランジスタＱ、のベースに接
続されている。
スイッチＳ３は切換スイッチＳ１ と同期して作動し
、また５２−３は５２−１及び５２−２と連動作動する
。
、また５２−３は５２−１及び５２−２と連動作動する
。
トランジスタＱ１５はコンデンサＣ１ｏの充電特性に応
答して作動し、トランジスタＱ、の作動点を制御して、
印加電圧特性曲線をほぼランプ波形とする。
答して作動し、トランジスタＱ、の作動点を制御して、
印加電圧特性曲線をほぼランプ波形とする。
第３図の印加電圧特性曲線はこの電圧上昇制御回路３０
を作動させた場合のもので、傾斜部３３はコンデンサＣ
ＩＯの充電特性が緩やかなほどその勾配が緩やかになり
、また回路３０を作動させない場合は勾配は更に急とな
る。
を作動させた場合のもので、傾斜部３３はコンデンサＣ
ＩＯの充電特性が緩やかなほどその勾配が緩やかになり
、また回路３０を作動させない場合は勾配は更に急とな
る。
ここで重要なことは、部分放電を測定するために印加電
圧ＶＯの上昇カーブを緩やかにしたとしても、その程度
は、印加１分後には定格電圧まで上昇できるようなもの
でなげればならない。
圧ＶＯの上昇カーブを緩やかにしたとしても、その程度
は、印加１分後には定格電圧まで上昇できるようなもの
でなげればならない。
このようにすることは設計上可能であり、最適状態は実
験上窓められる。
験上窓められる。
このように直流高圧法と部分放電検出法による試験を併
せて行なうことにより、絶縁物を破壊に至らしめること
なく種々の絶縁試験が可能となる。
せて行なうことにより、絶縁物を破壊に至らしめること
なく種々の絶縁試験が可能となる。
以上のように本発明によれば、被試験物への印加電圧を
１分以内に確実に定格値まで上昇させることができるの
で、信頼性の高い成極指数及び弱点比を求めることがで
きる。
１分以内に確実に定格値まで上昇させることができるの
で、信頼性の高い成極指数及び弱点比を求めることがで
きる。
また仕様の異なる被試験物を試験する場合でも、それら
の容量によって印加電圧特性が大きな影響を受けること
が少ないから、試験対象物を広くすることができ、適用
範囲の広い試験装置を実現できる。
の容量によって印加電圧特性が大きな影響を受けること
が少ないから、試験対象物を広くすることができ、適用
範囲の広い試験装置を実現できる。
なお絶縁抵抗指示計１７を直読することによりメガ−試
験を行なうことができることは勿論である。
験を行なうことができることは勿論である。
第１図は従来例の回路図、第２図は本発明を摘要した非
破壊絶縁試験装置の一例を示す回路図、第３図は電流一
時間特性及び電圧一時間特性図、第４図は部分放電特性
図、第５図は充電時間の比較を示すグラフである。 １・・・・・・電池、３・・・・・・発振回路、５・・
・・・・昇圧トランス、６・・・・・・整流回路、１０
・・・−・・電圧制御回路、１２・・・・・・電流制限
回路、１７・・・−・・絶縁抵抗指示計、２２．２６・
・・・・・ヘッドホーン、３０・・・・・・電圧上昇制
御回路。
破壊絶縁試験装置の一例を示す回路図、第３図は電流一
時間特性及び電圧一時間特性図、第４図は部分放電特性
図、第５図は充電時間の比較を示すグラフである。 １・・・・・・電池、３・・・・・・発振回路、５・・
・・・・昇圧トランス、６・・・・・・整流回路、１０
・・・−・・電圧制御回路、１２・・・・・・電流制限
回路、１７・・・−・・絶縁抵抗指示計、２２．２６・
・・・・・ヘッドホーン、３０・・・・・・電圧上昇制
御回路。
Claims (1)
- １ 直流高電圧を段階的に切替えて絶縁抵抗を測定する
装置において、直流高電圧発生回路と、被測定物に印加
する出力電圧を制御する電圧安定化回路と、各出力電圧
に対応して出力電流が一定値を超えないように前記電圧
安定化回路を制御する電流制限回路と、出力電圧を切換
えるスイッチと、規定電圧印加後の定常状態における絶
縁抵抗を求めて表示する絶縁抵抗指示手段とを有し、更
に印加電圧の上昇時に発生する部分放電を表示する手段
とを具備し、部分放電を観察しつ＼出力電圧を順次切換
えて印加することを特徴とする非破壊絶縁試験装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51017021A JPS5840703B2 (ja) | 1976-02-20 | 1976-02-20 | 非破壊絶縁試験装置 |
| US05/739,137 US4117397A (en) | 1976-02-20 | 1976-11-05 | Non-destructive insulation test apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51017021A JPS5840703B2 (ja) | 1976-02-20 | 1976-02-20 | 非破壊絶縁試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS52101083A JPS52101083A (en) | 1977-08-24 |
| JPS5840703B2 true JPS5840703B2 (ja) | 1983-09-07 |
Family
ID=11932331
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP51017021A Expired JPS5840703B2 (ja) | 1976-02-20 | 1976-02-20 | 非破壊絶縁試験装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4117397A (ja) |
| JP (1) | JPS5840703B2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4254374A (en) * | 1979-04-02 | 1981-03-03 | Trihus Axicor T | Cable tester |
| ATE21562T1 (de) * | 1981-12-14 | 1986-09-15 | Biddle Co James G | Isolierungsanalysiergeraet und verfahren zur verwendung. |
| US4663585A (en) * | 1984-01-31 | 1987-05-05 | Baur Pruf-und Messtechnik K.G. | Apparatus for testing dielectric strength of materials |
| US4697137A (en) * | 1986-01-24 | 1987-09-29 | Acqua-Tronics, Inc. | Method of nondestructively establishing an earth gradient for cable fault locating |
| HU214419B (hu) * | 1989-11-09 | 1998-04-28 | B és C DIAGNOSTICS Kft | Eljárás és készülék szigetelési rendszer állapotának vizsgálatára |
| US5087885A (en) * | 1990-04-16 | 1992-02-11 | Electron Instruments | Lighting arrester tester |
| CA2032912C (en) * | 1990-12-21 | 1994-06-28 | Bryan M. Latta | Nonintrusive gas-level measurement apparatus |
| US5132629A (en) * | 1991-02-25 | 1992-07-21 | Clinton Instrument Company | Apparatus for testing the insulation of an electrical conductor passing through an electrode |
| US5266902A (en) * | 1991-09-16 | 1993-11-30 | George Kovacich | High or low voltage electrical resistance tester |
| US5515038A (en) * | 1993-11-15 | 1996-05-07 | Camco International Inc. | Data transmission system |
| JP3642456B2 (ja) * | 1998-02-24 | 2005-04-27 | 株式会社村田製作所 | 電子部品の検査方法および装置 |
| US6396415B1 (en) | 1999-06-14 | 2002-05-28 | Wood Group Esp, Inc. | Method and system of communicating in a subterranean well |
| DE102009031572A1 (de) * | 2009-06-30 | 2011-03-10 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zum Prüfen einer Kabelverbindung |
| EP2333568A1 (en) * | 2009-12-10 | 2011-06-15 | Johnson Controls Saft Advanced Power Solutions LLC | Determination of insulation resistance of an electric DC circuit |
| JP6219074B2 (ja) * | 2013-06-27 | 2017-10-25 | 日置電機株式会社 | 絶縁検査装置 |
| JP6219073B2 (ja) * | 2013-06-27 | 2017-10-25 | 日置電機株式会社 | 絶縁検査装置 |
| JP6229877B2 (ja) * | 2013-08-27 | 2017-11-15 | 日本電産リード株式会社 | 検査装置 |
| GB2530716A (en) * | 2014-09-09 | 2016-04-06 | Robert William Moore | Cascade circuit tester |
| CN108627744A (zh) * | 2018-05-29 | 2018-10-09 | 四川蓝芯微电子科技有限公司 | 一种igbt芯片的pn结击穿电压测试系统及方法 |
| CN115792522B (zh) * | 2022-12-08 | 2023-07-28 | 青岛艾测科技有限公司 | 一种容性负载绝缘检测方法、装置和设备 |
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|---|---|---|---|---|
| US2837714A (en) * | 1954-03-31 | 1958-06-03 | Hill George Leslie | Method of testing electrical insulation |
| US2920270A (en) * | 1958-05-14 | 1960-01-05 | Tyer & Co Ltd | Apparatus for detecting flaws in protective coatings |
| US3259893A (en) * | 1962-07-24 | 1966-07-05 | Rayburn M Ramsey | Holiday detector |
| US3510763A (en) * | 1967-07-05 | 1970-05-05 | Henry H Clinton | Apparatus for testing the insulation of electrical wire or cable by high voltage impulses |
| GB1240263A (en) * | 1967-07-10 | 1971-07-21 | British Insulated Callenders | Improvements in or relating to testing insulated conductors |
| US3491290A (en) * | 1967-10-27 | 1970-01-20 | Hipotronics | Quick-response high voltage test system for locating and resolving faults in insulation of electrical cables |
| US3823370A (en) * | 1969-11-14 | 1974-07-09 | Anaconda Wire & Cable Co | Wire insulation testing apparatus with means indicating insulation faults per predetermined incremental length |
| US3789294A (en) * | 1972-07-19 | 1974-01-29 | Chubu Seiki Kk | Apparatus for measuring insulating and voltage resistant characteristics of articles |
| GB1495939A (en) * | 1974-01-19 | 1977-12-21 | Edgcumbe Peebles Ltd | Electrical test equipment |
-
1976
- 1976-02-20 JP JP51017021A patent/JPS5840703B2/ja not_active Expired
- 1976-11-05 US US05/739,137 patent/US4117397A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4117397A (en) | 1978-09-26 |
| JPS52101083A (en) | 1977-08-24 |
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