JP2982236B2 - 半導体集積回路の試験回路 - Google Patents
半導体集積回路の試験回路Info
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体集積回路の試験回路に関し、特にコ
ンデンサーの充放電特性を利用する試験回路に関する。
ンデンサーの充放電特性を利用する試験回路に関する。
〔従来の技術〕 従来、定バイアスの回路、例えば直流電源の交流成分
の除去等を目的とするコンデンサーを付加した回路にお
いて電気的特性の測定試験を短時間で行う場合、接続す
る容量は測定値に大きな影響を及ぼさない範囲でできる
限り小さい容量値を選択し、さらに試験を行う前に、例
えば第３図，第４図に示すようにコンデンサー22又は26
に電流バッファ20、あるいはバイアス用可変電源25を切
換器21又は24を通して接続して急速にコンデンサー22又
は26を充電し、試験時には切換器21又は24にてコンデン
サー22又は26を充電回路より切り放すことにより、コン
デンサー22又は26の過渡現象による出力応答の立ち上が
りの遅延を小さくして試験時間の短縮を図るという方法
がとられている。図中、18,23は試験回路端子、19はコ
ンデンサー22を端子18に切替接続する切替器である。と
ころで、コンデンサーの充放電特性を利用している回路
においてはこのような方法は適用することができない。
そのため、コンデンサーの充放電特性を利用している回
路については効果的な方法は示されていない。
の除去等を目的とするコンデンサーを付加した回路にお
いて電気的特性の測定試験を短時間で行う場合、接続す
る容量は測定値に大きな影響を及ぼさない範囲でできる
限り小さい容量値を選択し、さらに試験を行う前に、例
えば第３図，第４図に示すようにコンデンサー22又は26
に電流バッファ20、あるいはバイアス用可変電源25を切
換器21又は24を通して接続して急速にコンデンサー22又
は26を充電し、試験時には切換器21又は24にてコンデン
サー22又は26を充電回路より切り放すことにより、コン
デンサー22又は26の過渡現象による出力応答の立ち上が
りの遅延を小さくして試験時間の短縮を図るという方法
がとられている。図中、18,23は試験回路端子、19はコ
ンデンサー22を端子18に切替接続する切替器である。と
ころで、コンデンサーの充放電特性を利用している回路
においてはこのような方法は適用することができない。
そのため、コンデンサーの充放電特性を利用している回
路については効果的な方法は示されていない。
電気回路において短時間で電気的特性を試験する場
合、接続されているコンデンサーの充放電による過渡現
象により入力信号に対する出力信号の応答が遅くなる。
その結果として試験時間の伸長を招く。従来ではこのよ
うな欠点を改善すべく、前述のような方法が用いられて
いるが、コンデンサーの充放電特性を利用する回路、例
えばフィルター回路などについては従来のコンデンサー
を強制的に充電する方法は用いることができないため、
試験時間短縮の効果的な方法は示されていない。
合、接続されているコンデンサーの充放電による過渡現
象により入力信号に対する出力信号の応答が遅くなる。
その結果として試験時間の伸長を招く。従来ではこのよ
うな欠点を改善すべく、前述のような方法が用いられて
いるが、コンデンサーの充放電特性を利用する回路、例
えばフィルター回路などについては従来のコンデンサー
を強制的に充電する方法は用いることができないため、
試験時間短縮の効果的な方法は示されていない。
本発明の目的はコンデンサーの充放電特性を利用する
回路においても短時間での測定試験を可能にした半導体
集積回路の試験回路を提供することにある。
回路においても短時間での測定試験を可能にした半導体
集積回路の試験回路を提供することにある。
前記目的を達成するため、本発明に係る半導体集積回
路の試験回路においては、容量の異なるコンデンサーの
対と、切換器とを有する半導体集積回路の試験回路であ
って、 大容量のコンデンサーは、回路特性上本来接続すべき
コンデンサーとして用いるものであり、 小容量のコンデンサーは、大容量のコンデンサーに並
列に配置され、試験時に付加するものであり、 切換器は、大容量のコンデンサーと小容量のコンデン
サーとを任意に切替えるものである。
路の試験回路においては、容量の異なるコンデンサーの
対と、切換器とを有する半導体集積回路の試験回路であ
って、 大容量のコンデンサーは、回路特性上本来接続すべき
コンデンサーとして用いるものであり、 小容量のコンデンサーは、大容量のコンデンサーに並
列に配置され、試験時に付加するものであり、 切換器は、大容量のコンデンサーと小容量のコンデン
サーとを任意に切替えるものである。
本発明について添付図面を参照して説明する。
（実施例１） 第１図は本発明の実施例１を示すブロック図である。
第１図の回路ブロック２は、入力端子１から入力され
た交流信号が多少変動しても出力端子３に現われる交流
信号はある一定の周波数に固定されるという回路であ
る。抵抗４には大きな容量値を持つ回路特性上本来接続
しておくべきコンデンサー７と、コンデンサー７より小
さい容量値を持つ試験付加用コンデンサー６が切換器５
を通して接続される。本実施例では、測定上、１μＦ以
上のコンデンサーを大容量のコンデンサー７とする。８
はコンデンサーである。第１図の回路においては、どの
位の周波数の変動まで出力が固定されるかは、コンデン
サー７の値によって決まる。他のブロック測定の際には
発振周波数の正確な発振器を使用するため、この回路の
入力信号の周波数のずれはほとんどない。したがって、
入力信号に対する出力周波数の調整範囲は狭くてよく、
切換器５は容量値の小さいコンデンサー６側に切り換え
ておくことにより過渡応答による出力応答の遅れを、コ
ンデンサー７を接続したときよりも短くすることがで
き、測定時間の短縮が図れる。また、この回路ブロック
２の入力信号に対する出力周波数の調整範囲を測定する
ときには、切換器５をコンデンサー７側に切り換えてお
くことにより本来の特性を特性することができる。
た交流信号が多少変動しても出力端子３に現われる交流
信号はある一定の周波数に固定されるという回路であ
る。抵抗４には大きな容量値を持つ回路特性上本来接続
しておくべきコンデンサー７と、コンデンサー７より小
さい容量値を持つ試験付加用コンデンサー６が切換器５
を通して接続される。本実施例では、測定上、１μＦ以
上のコンデンサーを大容量のコンデンサー７とする。８
はコンデンサーである。第１図の回路においては、どの
位の周波数の変動まで出力が固定されるかは、コンデン
サー７の値によって決まる。他のブロック測定の際には
発振周波数の正確な発振器を使用するため、この回路の
入力信号の周波数のずれはほとんどない。したがって、
入力信号に対する出力周波数の調整範囲は狭くてよく、
切換器５は容量値の小さいコンデンサー６側に切り換え
ておくことにより過渡応答による出力応答の遅れを、コ
ンデンサー７を接続したときよりも短くすることがで
き、測定時間の短縮が図れる。また、この回路ブロック
２の入力信号に対する出力周波数の調整範囲を測定する
ときには、切換器５をコンデンサー７側に切り換えてお
くことにより本来の特性を特性することができる。
（実施例２） 第２図は本発明の実施例２を示すブロック図である。
第２図の回路はよく使われる増幅器である。増幅器
は、演算増幅器16と、前記演算増幅器16の非反転入力端
子に接続された抵抗15と、前記演算増幅器16の反転入力
端子と入力端子９の間に接続された抵抗10と、出力端子
17と前記演算増幅器16の反転入力端子の間に接続された
帰還抵抗14で構成され、前記帰還抵抗14には、並列に接
続された特性上必要とされる容量値を持つコンデンサー
13と、これに並列に接続された小さい容量値を持つコン
デンサー12と、切換器11とを有する。本実施例では、測
定上、１μＦ以上のコンデンサーを大容量のコンデンサ
ー13とする。第２図の増幅回路の周波数特性は、帰還抵
抗14の抵抗値と、帰還抵抗14に接続されたコンデンサー
の容量値によって決定される。周波数特性に関係する試
験以外では、切換器11を容量値の小さいコンデンサー12
側にして試験を行うことによりコンデンサーの過渡応答
による出力応答の遅れを小さくし試験時間を短縮するこ
とができる。周波数特性に関係する試験においては、切
換器11を本来特性上必要とされる容量値を持つコンデン
サー13側に切り換えることにより本来の特性を試験する
ことが可能となる。
は、演算増幅器16と、前記演算増幅器16の非反転入力端
子に接続された抵抗15と、前記演算増幅器16の反転入力
端子と入力端子９の間に接続された抵抗10と、出力端子
17と前記演算増幅器16の反転入力端子の間に接続された
帰還抵抗14で構成され、前記帰還抵抗14には、並列に接
続された特性上必要とされる容量値を持つコンデンサー
13と、これに並列に接続された小さい容量値を持つコン
デンサー12と、切換器11とを有する。本実施例では、測
定上、１μＦ以上のコンデンサーを大容量のコンデンサ
ー13とする。第２図の増幅回路の周波数特性は、帰還抵
抗14の抵抗値と、帰還抵抗14に接続されたコンデンサー
の容量値によって決定される。周波数特性に関係する試
験以外では、切換器11を容量値の小さいコンデンサー12
側にして試験を行うことによりコンデンサーの過渡応答
による出力応答の遅れを小さくし試験時間を短縮するこ
とができる。周波数特性に関係する試験においては、切
換器11を本来特性上必要とされる容量値を持つコンデン
サー13側に切り換えることにより本来の特性を試験する
ことが可能となる。
以上説明したように本発明によれば、コンデンサーの
充放電特性を利用する回路においても短時間での測定試
験が可能であり、かつ試験回路も簡単な構成の付加回路
を有する回路で構成できるという効果を有する。
充放電特性を利用する回路においても短時間での測定試
験が可能であり、かつ試験回路も簡単な構成の付加回路
を有する回路で構成できるという効果を有する。
第１図は本発明の実施例１を示すブロック図、第２図は
本発明の実施例２を示すブロック図、第３図及び第４図
は従来例を示すブロック図である。 1,9……入力端子、２……回路ブロック 3,17……出力端子、4,10,15……抵抗 5,11,19,21,24……切換器 6,12……小容量の試験用付加コンデンサー 7,13,22,26……回路特性上必要な容量値のコンデンサー ８……コンデンサー、14……帰還抵抗 16……演算増幅器、18,23……試験回路端子 20……電流バッファ、25……バイアス用可変電源
本発明の実施例２を示すブロック図、第３図及び第４図
は従来例を示すブロック図である。 1,9……入力端子、２……回路ブロック 3,17……出力端子、4,10,15……抵抗 5,11,19,21,24……切換器 6,12……小容量の試験用付加コンデンサー 7,13,22,26……回路特性上必要な容量値のコンデンサー ８……コンデンサー、14……帰還抵抗 16……演算増幅器、18,23……試験回路端子 20……電流バッファ、25……バイアス用可変電源
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01R 31/28 - 31/3193
Claims (1)
- 【請求項１】容量の異なるコンデンサーの対と、切換器
とを有する半導体集積回路の試験回路であって、 大容量のコンデンサーは、回路特性上本来接続すべきコ
ンデンサーとして用いるものであり、 小容量のコンデンサーは、大容量のコンデンサーに並列
に配置され、試験時に付加するものであり、 切換器は、大容量のコンデンサーと小容量のコンデンサ
ーとを任意に切替えるものであることを特徴とする半導
体集積回路の試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2182378A JP2982236B2 (ja) | 1990-07-10 | 1990-07-10 | 半導体集積回路の試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2182378A JP2982236B2 (ja) | 1990-07-10 | 1990-07-10 | 半導体集積回路の試験回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0469581A JPH0469581A (ja) | 1992-03-04 |
| JP2982236B2 true JP2982236B2 (ja) | 1999-11-22 |
Family
ID=16117267
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2182378A Expired - Fee Related JP2982236B2 (ja) | 1990-07-10 | 1990-07-10 | 半導体集積回路の試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2982236B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4107010B2 (ja) * | 2002-08-26 | 2008-06-25 | 株式会社村田製作所 | 直流増幅回路の直流電圧測定方法 |
| JP3949562B2 (ja) * | 2002-10-31 | 2007-07-25 | シャープ株式会社 | 半導体装置の検査方法および装置 |
| JP5223702B2 (ja) | 2008-07-29 | 2013-06-26 | 株式会社リコー | 画像処理装置、ノイズ低減方法、プログラム、記憶媒体 |
| JP6820094B2 (ja) * | 2016-10-04 | 2021-01-27 | ローム株式会社 | 半導体集積回路装置及びそのスクリーニング方法並びにオペアンプ |
| CN107861042A (zh) * | 2017-10-25 | 2018-03-30 | 北京国联万众半导体科技有限公司 | 一种用于宽禁带半导体功率器件的测试方法 |
-
1990
- 1990-07-10 JP JP2182378A patent/JP2982236B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0469581A (ja) | 1992-03-04 |
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|---|---|---|---|
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