TW201312139A - 薄片狀電池之評價裝置及評價方法 - Google Patents

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Abstract

本發明係評價以正電極及負電極之層來夾持蓄電層而成之薄片狀電池。本發明之特徵為：使電極用探針接觸於正電極或負電極之至少一方的外表面之測量部位，並測量該測量部位之電量，而評價上述薄片狀電池。例如，將充電源及電壓計連接於電極用探針，並根據電壓計之測量電壓的變化，來對於使薄片狀電池從無充電狀態變化成滿充電狀態的充電特性作掌握而加以評價。此外，例如，將放電源及電壓計連接於電極用探針，並根據電壓計之測量電壓的變化，來對於使薄片狀電池從滿充電狀態變化成無充電狀態的放電特性作掌握而加以評價。進而，例如，將充電源及電壓計連接於電極用探針，並對於薄片狀電池之滿充電狀態時的電壓計之測量電壓作掌握而加以評價。

Description

薄片狀電池之評價裝置及評價方法
本發明係關於薄片狀電池之評價裝置及評價方法，例如，能適用於根據利用金屬氧化物之光激勵結構變化，而在能帶間隙中形成新的能階而捕獲電子的動作原理之二次電池的評價。本說明書中之「評價」的用語，係為包含了「試驗」、「檢查」、「測量」的用語。
以往的二次電池，係為藉由因化學反應所致之離子(帶電的物質)的移動，來積蓄電或取出電流之化學型者。另一方面，作為物理型之電池已知有太陽能電池或原子電池。最近，逐漸發展使用鋰之二次電池的技術(參照專利文獻1)。
先前技術文獻 專利文獻
專利文獻1：日本特開2002-42863
物理型之電池，係皆無充電功能，而無法構成二次電池。
於化學型之二次電池中，係由於利用化學反應，因此會使充放電性能劣化或壽命降低。在此，於使用電解液的 情況中，係常常伴隨有液洩漏的風險。
於鋰離子型之二次電池中，係因過充電、充放電而使信賴性降低或當電極間短路時引發起火的危險。雖然藉由將電解質作成聚合物或予以固體化會使因短路所導致之起火的可能性降低，但於目前的二次電池中，能量密度係設限於500~800Whr/L。雖然以更加高容量化為目標，並嘗試將負極的金屬鋰與各種的正極作組合，但為了利用電解質，反而使電極短路的危險纏身。此外，由於使用鋰等之稀少金屬，因此在籌措材料成本方面會有困難。
因而，專利申請人，係進行薄片狀(平行平板狀)之二次電池的研究、開發，該薄片狀(平行平板狀)之二次電池，並不會有因液洩漏或發熱、電極間之短路所導致之起火等的危險，且於一般使用中並無讓壽命劣化的因子，而具有較以往之化學型更高的能量密度。然而，目前作為薄片狀電池而在市面上流通者較少，且很難說對於薄片狀電池作怎樣的評價是確立的。
因此，期望有適於薄片狀電池之評價的薄片狀電池之評價裝置及評價方法。
為了解決該課題，第1之本發明係一種薄片狀電池之評價方法，其係評價以正電極及負電極之層來夾持蓄電層而成的薄片狀電池，該薄片狀電池之評價方法，其特徵為：使電極用探針接觸於上述正電極或上述負電極之至少 一方的外表面之測量部位，並測量該測量部位之電量，而評價上述薄片狀電池。
第2之本發明，係一種薄片狀電池之評價裝置，其係評價以正電極及負電極之層來夾持蓄電層而成的薄片狀電池，該薄片狀電池之評價裝置，其特徵為具有：電極用探針，係接觸於上述正電極或上述負電極之至少一方的外表面之測量部位、和測量評價部，係透過上述電極用探針，來測量上述測量部位之電量，而評價上述薄片狀電池。
若依據本發明，則可評價以正電極及負電極之層來夾持蓄電層而成的薄片狀電池。
(A)主要實施形態
以下，一邊參照附圖一邊說明本發明之薄片狀電池的評價裝置及評價方法之一實施形態。
(A-1)能成為評價對象的薄片狀電池之說明
第1圖，係將身為實施形態的評價裝置及評價方法之評價對象的薄片狀電池之層積結構作展示的說明圖。
評價對象之薄片狀電池，並不限於作為二次電池而被實用化者，亦可為作為一次電池而被實用化者。以下，係將薄片狀電池設為二次電池而進行說明。此外，評價對 象，係只要為薄片狀(平行平板狀)之電池即可。例如，如第1圖所示，只要是由以正電極4及負電極3之層來夾持發揮蓄電功能的蓄電層2而成的固體所形成之薄片狀電池1，即可設為評價對象。進而，例如，可將固體鋰電池設為評價對象。此外，例如，可將具有利用光激勵結構變化的蓄電層之薄片狀電池設為評價對象。進而，可將下述二者設為評價對象，即：將如第1圖所示之薄片狀電池1全體作複數層積成串聯而使充電電壓提高者，或將如第1圖所示之薄片狀電池1全體作複數層積成並聯而使充電容量提高者。
以下，簡單地說明能成為評價對象之具有利用光激勵結構變化的蓄電層之薄片狀電池(以下，亦稱為量子電池)。鑑於其特質而將於量子電池中之蓄電層稱為充電層。
充電層，係被形成為藉由充電動作來積蓄電子，並藉由放電動作來釋放蓄電電子，而在無充放電的狀態下將電子作保持(蓄電)之層，且適用光激勵結構變化技術。
光激勵結構變化，係身為國際專利申請JP2006-322011之發明者的中澤明氏所發現的現象(技術)。亦即，中澤明氏係發現：若具有特定值以上的能帶間隙之半導體且具有透光性之金屬氧化物，在絕緣被覆的狀態下被賦予有效的激勵能量，則於能帶間隙內會多數發生電子不在的能階。量子電池，係藉由於此等之能階中捕獲電子而進行充電，且藉由使所捕獲的電子釋出而進行放電者。
於量子電池的情況中，正電極4，係具有電極本體層、和以接觸於充電層2的方式而形成的p型金屬氧化物半導體層。p型金屬氧化物半導體層，係為了防止電子從電極本體層注入充電層2而被設置。
負電極3及正電極4之電極本體層，係只要作為導電層而被形成者即可。
充電層2，係改變成：將以絕緣被膜所覆蓋的n型金屬氧化物半導體之微粒子，呈薄片狀地附著於負電極3，且n型金屬氧化物半導體會藉由紫外線照射而產生光激勵結構變化，而可積蓄電子者。
(A-2)習知技術對於評價對象的薄片狀電池之延長上的評價方法及課題
如上所述之第1圖，係將評價對象之薄片狀電池1的基本結構作了展示。第2圖，係將二次電池裝置10作展示，該二次電池裝置10，係將薄片狀電池1設置於作為支撐體而被使用的基板7上，並且，將負極端子5、正極端子6，分別安裝於薄片狀電池1之負電極3及正電極4而成。
如後所詳細敘述的實施形態之評價方法及裝置，主要是意圖適用來作為製造工程內之檢查者。實施形態之評價方法及裝置，係為即使未安裝負極端子5及正極端子6也能夠檢查者，且為即使在安裝有負極端子5及正極端子6之後也能夠檢查者。
對於安裝有電極端子5及6的二次電池裝置10，係推測有執行與對於其他之二次電池的檢查相同地，對於其充放電特性作掌握之檢查者。
例如，如第3圖所示，設為可透過開關13，而將供給充電電流的電壓源(或者是電流源)11、和引出放電電流的電流源12，擇一性地連接至正極端子6及負極端子5之間，並且，設有檢測其充電時或放電時之端子間電壓的電壓計(例如，數位電壓計(DVM))14。另外，亦可另外設有檢測充電電流的電流計或檢測放電電流的電流計。接著，如第4圖所示般，藉由檢查從無充電狀態到滿充電狀態所需要的充電時間CC+CV(在此，CC係以定電流充電所致之充電時間，CV係以定電壓充電所致之充電時間)或從滿充電狀態到無充電狀態所需要的放電時間，來進行測量，而評價二次電池裝置10(亦即薄片狀電池1)。
二次電池裝置10(亦即薄片狀電池1)，係形成為層積結構，而實際上被構成為平板狀者。若形成這樣的層積結構，則當充放電特性發生異常之際，在其原因沒有顯現在表面或外側的情況下，係有必要將對象之薄片狀電池1進行分解(或者是，予以破壞)，來分析、觀察內部。若缺陷存在於內部，則只要電極不是透明電極，要光學性地觀察內部就會有困難，此外，要在非破壞下觀察內部，就必須利用有X射線或β射線等之特別的手段。亦即，要特定異常部位係有困難，或者是，為了加以特定，而必須有特別的手段等。
實施形態之評價裝置及評價方法，係有鑑於上述之觀點而完成者。
(A-3)於實施形態之評價
於本實施形態之評價方法，係將探針接觸於薄片狀電池1之正電極4的表面之任意部位，而測量電特性值(例如電壓)，且依據該測量結果，若有缺陷等之異常則將異常部位特定出來者。本實施形態，係以正電極4之表面的探測為要件，故薄片狀電池1，係為能適用於在正電極4之任意部位處於能探測的狀態者。在此，所謂探測，係指將探針電接觸至接觸部位者。
以下，雖對將探針接觸於薄片狀電池1之正電極4的表面之任意部位，而測量電特性值而加以評價的情況進行說明，但於將薄片狀電池1從基板取下後的狀態等之薄片狀電池1之負電極3的表面露出至外部的情況下，係亦可將探針接觸於負電極3之表面的任意部位來測量電特性值而加以評價，且，亦可將探針接觸於正電極4及負電極3之表面的任意部位來測量電特性值而加以評價。
第5圖，係將實施形態之評價裝置的要部構造作展示之說明圖，且對於與第3圖相同、相對應的構造，係標示相同、相對應的符號來作展示。以實施形態之評價裝置來檢查的薄片狀電池，係亦可為設有正極端子及負極端子之後者，此外，亦可為未設有正極端子及負極端子者。如第5圖所示之薄片狀電池1，係將未設有正極端子及負極端 子者作展示。
實施形態之評價裝置20，係除了上述之電壓源(或者是電流源)11、和電流源12、和開關13以及電壓計14之外，具有：第1探針21，係接觸於負電極3、和第2探針22，係接觸於正電極4之任意的部位、和探針移動機構23，係使此等探針21及22移動而成為接觸或非接觸狀態、以及控制部(例如，由電腦構成)24，係執行：電壓源11之電源供給或由定電流源所致之電流引出或開關13之切換或來自電壓計14之計測值的取得或探針移動機構23之移動控制等。
另外，負電極3，例如，係於上部存在如能連接負極端子般地並未設有蓄電層2的部分(參照第2圖)，而使第1探針21能接觸於該部分。只要是在於評價對象之薄片狀電池1未安裝於基板7的情況下，也能設為將第1探針21連接至負電極3之任意的部位。
於第5圖中，雖將僅設置有1個連接於正電極4的第2探針22者作了展示，但依據正電極4之複數個部位選擇性地形成充電或放電路徑的探針之設置方法，並不限定於第5圖所示者。例如，以與正電極4之不同的部位相連接的方式來設置複數之第2探針，且從該等複數之探針當中，選擇一個探針來形成充電或放電路徑亦可。針對本變形實施形態，係在後述之「其他實施形態」的項目中進行詳細敘述。
於充放電特性之檢查中，控制部24，首先，係透過開 關13，而使電壓源(或者是電流源)11連接於負電極3及正電極4，並以使兩端電壓成為一定的方式隨時間經過而成為滿充電狀態。接著，控制部24，係在此狀態下，使開關13連接於電流源12，且以使電流在與充電時相反的方向流通的方式一邊放電一邊測量兩端的電壓。亦即，可實行與以往相同的充放電特性之檢查者。例如，藉由檢查從無充電狀態至滿充電狀態所需的充電時間或從滿充電狀態至無充電狀態所需的放電時間，來進行測量，而評價薄片狀電池1。評價，係亦可由評價者來進行。取而代之，控制部24，係亦可對於所測量出的充電時間是否在預先設定之正常範圍內或所測量的放電時間是否在預先設定之正常範圍內作判別，而評價充放電特性。
亦可僅在正電極4上之任意的1點(例如，輪廓重心)進行充放電特性之檢查，亦可在正電極4上的複數點分別進行。於後者的情況中，亦可在針對所有的點評價為正常的情況下，將評價對象之薄片狀電池1判別為正常。
可適用如第5圖所示之評價構造而將異常部位作特定者。第6圖，係為可特定出異常部位的原理之說明圖。在此，用以將異常部位作特定的評價，係亦可在充放電特性之評價結果成為NG時實行，此外，亦可無關於充放電特性之評價結果而均作實行。
如第6圖(A)所示，若於充電後，將開關13開放，於無負載下，在正電極4上之任意的二點m1、m2測量電壓，則只要薄片狀電池1未理想的動作，便會被測量出不 同的電壓Vm1、Vm2。第6圖(B)，係將對2點進行探測之際的薄片狀電池1之等效電路作展示。任意的點m1、m2之電壓，係經由電壓V1、V2和內部電阻R1、R2來展現；該等電壓V1、V2，係從該點m1、m2來窺視薄片狀電池1側(負電極3側)時之充電後的電壓(有時亦稱為起電壓；但，起電壓，係藉由放電等而隨時間經過產生變化)。第6圖之點m1之測量電壓Vm1，係如式(1)所示，透過起電壓V1和內部電阻R1，而經由正電極4上之等效電阻Rc而予以分壓來展現，點m2之測量電壓Vm2，係如式(2)所示，透過起電壓V2和內部電阻R2，而經由正電極4上之等效電阻Rc而予以分壓來展現。但，為了簡化，相較於正電極4之電阻值或內部電阻，負電極3之電阻值，係較小且近似於可無視者。
Vm1={(Rc+R2)×V1+R1×V2}/(R1+Rc+R2)………(1)
Vm2={(Rc+R1)×V2+R2×V1}/(R1+Rc+R2)………(2)
藉由以上所述之2點的充電電壓測量動作，而能夠得知在測量點之起電壓或內部電阻之特性或異常。例如，於薄片狀電池1之各層，被正常且均勻地形成時，如依據(1)式及(2)式所得知般，任意之2點m1及m2的測量電壓Vm1及Vm2，係大略相等，而且，得到對應於安定時之等效電阻Rc的值。正電極4，一般而言，係利用均勻的金屬膜來形成，而等效電阻Rc係為安定，但例如，若在測量點m1、m2間發生裂痕，則等效電阻Rc之值會等效地增大，且於測量電壓Vm1、Vm2中以異常值來 展現。此外，若在任意之2點m1及m2充電層2之生成狀態為不同，且起電壓V1及V2具有較大的差異，則於測量電壓Vm1及Vm2中亦展現較大的差異。但是，當薄片狀電池為被完全破壞的狀態(死亡狀態)時，測量電壓Vm1及Vm2係相等且皆為0(測量電壓Vm1及Vm2係成為相同)。
另外，於可將(1)式及(2)式針對起電壓V1及V2加以整理，而設為適用該整理過之式子的情況中，得知：可根據2點之測量電壓Vm1及Vm2，而計算出起電壓V1、V2。此乃意味著：可從測量電壓Vm1及Vm2，來讀取充電電壓V1、V2之狀態者。
在此，於負電極3側未設有基板7的情況，係與正電極4相同地，只要進行電探測，便可適用與上述相同的動作原理(參照後述之第8圖)。
藉由在多點來執行如上所述之任意的每個點之充放電特性的評價或根據針對於複數的點中之起電壓(充電電壓)的測量電壓的關係之評價，而能於薄片狀電池1之全面，進行特性評價或異常之檢測。本實施形態，係意欲進行如此多點之檢查。
以下，係一邊參照第7圖~第9圖，一邊根據模擬的結果來證明可根據任意部位之測量電壓(Vm1、Vm2)來評價薄片狀電池1一事。
假設：將評價對象之薄片狀電池1，如第7圖所示，在縱方向等分割成N個，並且，在橫方向等分割成M 個，而分割成總計N×M個相同結構的元件。換句話說，即假設：將總計N×M個相同結構的元件合體，而形成評價對象之薄片狀電池1。接著，假設：各元件之正電極4及負電極3之中心，為連接探針的部位。於如此的假設下，係可利用第8圖來將各元件之等效電路作展現。
於第8圖中，VBS、RBS，係分別為在該元件之起電壓(充電電壓)、內部電阻。RCU、RCB，係分別表示從正電極4之中心起縱方向的內側、前方側之正電極的電阻成分，且RCL、RCR，係分別表示從正電極4之中心起橫方向的左側、右側之正電極的電阻成分。此外，RBU、RBB，係分別表示從負電極3之中心起縱方向的內側、前方側之負電極的電阻成分，且RBL、RBR，係分別表示從負電極3之中心起橫方向的左側、右側之負電極的電阻成分。
適用上述之元件的等效電路(電路模式)，而進行將薄片狀電池1之異常部位作特定的模擬。
第9圖，係對於當在薄片狀電池1產生了缺陷之情況下，將各元件之正電極4之測量電壓會如何變化一事作了模擬的結果作展示。第9圖，係將薄片狀電池1為量子電池，薄片狀電池1之縱方向的長度L為36mm、橫方向之長度W為37mm，且於縱方向及橫方向，分別分割成9份的情況作展示。此外，第9圖，係將負電極3之材質為銅，且層的厚度為0.3μm，正電極4之材質為銅，且層的厚度為0.3μm的情況作展示。進而，將於各元件之蓄電 層(充電層)2的內部電阻PBS為81Ω(由於總計81個之內部電阻為並聯連接，故在蓄電層2之全體的內部電阻為1Ω)，且於各元件之蓄電層2的充電電壓VBS為2.0V(理想值)之情況作展示。但，將X(橫方向)為6、Y(縱方向)為4之位置的元件之充電電壓VBS係為0V(大缺陷)，且X(橫方向)為3、Y(縱方向)為6之位置的元件之充電電壓VBS係為1V(小缺陷)之情況作展示。
第9圖，係在上述之前提下，在正電極4的上面，將計算出各元件之電壓的結果，以灰階之範圍(白~黑)相當1mV來展現。對應於存在大缺陷或小缺陷的部位(元件)電壓會降低，此外，周邊部的電壓也會被缺陷部位拉低，而得到依據使用第6圖所說明的動作原理而成之計算結果。此計算結果之電壓，係相當於在評價裝置中，於特定點之測量電壓者。亦即，可接觸探針而測量特定點之電壓，並根據與該測量電壓之理想值相異或測量電壓的分佈來將異常部位作特定者。
於上述內容中，係將在著眼於充電電壓VBS，且於蓄電層2之各元件之內部電阻RBS不存在異常的情況下之計算結果作了說明。如根據上述(1)式及(2)式所得知般，即使於蓄電層2之各元件的內部電阻RBS(對應各式中之R1、R2)存在異常的情況中，亦與上述相同地，其影響會顯現在各元件之正電極4的上面之電壓(測量電壓)中。
使用具有實際尺寸30mm×30mm的量子電池之試作品作為薄片狀電池1，並將縱橫分割成6×6，而執行電壓測量。此試作品，係具有完全短路(內部電阻為0Ω)之缺陷，且電力容量亦小，因而從外部賦予約1V之電壓，而對各元件進行探測，以執行電壓測量。若利用灰階來表示36個部位之測量電壓的平均值與各元件之測量值的差異，則形成如第10圖所示般。在此，可知：若將測量電壓顯示為較低的部位，與實際之試作品相比較，則與推測為短路的場所(以虛線所包圍的部分)相符。
再者，只要得知與所測量出之2點間的距離與電位差，便可計算出流通於其間的電流。
作為於實施形態之評價裝置中的檢查結果之輸出方法，例如，係可適用如以下所例示的方法者。
將每個元件之測量值或測量加工值(例如，測量值之與平均值間之差)，直接顯示或者是予以印刷輸出。將每個元件之測量值或測量加工值，轉換成其測量值或測量加工值所屬之階級，而得到如第9圖或第10圖所示的灰階影像，而將該灰階影像作顯示或者是予以印刷輸出。將每個元件之測量值或測量加工值，與臨限值等相比較，而得到表示正常、異常的2值影像，而將2值影像作顯示或者是予以印刷輸出。
(A-4)實施形態之效果
若依據上述實施形態，則由於是設為使探針接觸於正 電極來測量電量而進行評價，故不將評價對象之薄片狀電池破壞便可容易地評價，並且，於存在異常的情況下，也能將異常部位作特定。
(B)其他實施形態
(B-1)於上述實施形態中，係將在評價對象之薄片狀電池1之任意的2點測量電壓，而進行評價的情況作了說明(參照第6圖)。取而代之，或者是，除此之外，亦可將電流計連接於評價對象之薄片狀電池1之任意的2點，而進行評價。
第11圖(A)，係將電流計之連接方法作展示的說明圖。使2個探針30、31，連接於薄片狀電池1的正電極4之任意的2點m1、m2。此等探針30及31之基端側，係透過電流計32(將內部電阻值設為Ri)，而被串聯地連接。於這樣的連接狀態之等效電路，係利用第11圖(B)來展現。另外，於第11圖(B)中之V1、V2、R1、R2、Rc，係分別與上述之第6圖(B)中所示者相同。流過電流計32的電流值Im，係利用(3)式來展現。
Im={Rc//Ri/(R1+Rc//Ri+R2)}×{(V1-V2)/ri}
其中，Rc//Ri=Rc×Ri/(Rc+Ri)………(3)
只要電流計32之內部電阻值Ri為已知，則如(3)式所示般，測量電流值Im、與各點m1、m2之內部電阻R1、R2、以及起電壓(充電電壓)V1、V2便會有所關 連。亦即，藉由測量電流，而能進行特性試驗或內部檢查。特別是，藉由適用如檢流計(galvanometer)之類的高感度之電流計，而可正確得知流過正電極4面上的電流之方向。
(B-2)第12圖，係將著眼於電流之方向而易於檢測出缺陷或異常的評價裝置33之概略構造作展示，且於與第11圖相同、對應部分，係標示相同的符號來展示。
於測量部位係接觸探針30，並且，於以該探針30之接觸點為中心的距離為相等的4個方向之各點，係分別接觸探針31-N、31-E、31-S、31-W。探針31-N、31-E、31-S及31-W之基端，係連接於探針選擇電路34。探針選擇電路34，係在控制器24之控制下，僅選擇探針31-N、31-E、31-S或31-W當中的1個者。於電流計(例如，檢流計)32之一端處，係連接探針30之基端，且於電流計32之另一端處，係連接探針選擇電路34之共通端子。控制部24，係可藉由擇一性且巡迴性的選擇探針31-N、31-E、31-S、31-W，而測量在探針30與其周圍之探針31-N、31-E、31-S、31-W中任一者之間所流通的電流者，且可根據電流測量值，而最準確地得知通過中央的探針30之點的電流方向者。
在此，為了防止基於探針30、31-N、31-E、31-S、31-W之電位與周圍構件等之電位的差異而使誤差電流之值混入電流測定值中，以作成透過緩衝放大器36等來將特定電位Vref2(例如，探針30所能取得之理想的電位) 施加於探針30、31-N、31-E、31-S、31-W之周圍構件35等，而設為避免由於與測量外之周圍構件35的電位之差異所造成的電流(誤差電流)流入電流計32者較為理想。亦即，以執行保護(Gurding)者較為理想。
依據第12圖之構造，亦能增加方向數，而更加提昇空間分解能而執行者。
(B-3)於在上述實施形態中之評價動作的原理說明中，係針對在充電後的狀態中之電壓測量作了陳述(參照第6圖)。於實際之薄片狀電池(在此係設為量子電池)1中，若從充電後起隨著時間經過，則各部位之起電壓會逐漸收斂成最低的起電壓(起電壓之均一性)。此乃由於於薄片狀電池1之內部多數存在有不同的起電壓，故電流會從電壓較高處流到電壓較低處，而在內部發生放電直至成為最低之電壓點為止的緣故。於利用有限的探針數來測量複數點的情況中，係如第13圖所示，只要反覆實行滿充電→點A之測量→滿充電→點B之測量...即可，通常，只要在尚未進行如上所述之內部性相互放電的剛滿充電後之狀態下進行測量即可。測量間之充電，係由於並非從空充電開始之充電，故並不需要很多的時間，且即使設為執行了用以在測量前成為滿充電狀態之充電，也不會徒增測量時間。
(B-4)亦可利用由負載連接所致之電壓測量，來取代上述之剛滿充電之後的電壓測量，以避免：起電壓隨著時間經過而成為均一，而造成難以檢測出原本隨著測量部 位不同而電壓有所差異者的缺陷。亦即，即使藉由內部放電而暫時收斂成最低起電壓之後，也可如第14圖所示般，藉由將已知的負載(電流源或定電阻)40連接於薄片狀電池1，而開始放電至外部負載40，而破壞薄片狀電池1之內部的平衡，並藉由於任何場所進行探測而測量電壓，而與上述之剛滿充電後的測量之情況相同地，可對於由測量部位所導致之電壓的差異作掌握。
(B-5)進而，由於可藉由探針或者是薄片狀電池1之移動功能，或藉由多點探測，而得知所測量出之電壓為異常(例如，缺陷)的薄片狀電池1之部位，故藉由將該位置資訊(附加缺陷的辨識資訊亦可)，輸入至修復裝置(例如，雷射修復機)50，而能進行自動檢測與自動修復(第15圖)。例如，於因局部性的異物而使負電極3及正電極4間短路的情況中，若利用雷射來將該部位施以惰性化，則在該部位的起電壓會消失，而電力密度會稍稍降低，但就電池整體而言係獲得拯救，故能使整體性的產率提昇。
(B-6)第16圖，係將適用測量於任意部位之電壓的多點探測之評價裝置的實施形態作展示，對於與上述之第5圖相同、相對應部分，係標示相同、對應符號來展示。
於如第16圖所示之評價裝置60中，將複數之探針21-1~21-T，以等間隔來配置於縱橫。前端為接觸於薄片狀電池1之正電極4之不同的部位之複數探針21-1~21-T的基端，係被連接於探針選擇電路61。另外，薄片狀電池 1之負電極3，係以成為固定電位的方式來設置(例如，接地)。探針選擇電路61，係藉由多數之開關等來構成，且選擇1個探針21-t或選擇所有的探針21-1~21-T，或在控制部24之控制下，選擇在該時間點發揮功能的探針者。探針選擇電路61之共通的輸出輸入端子，係透過開關62，而連接至開關13之共通端子。開關13，係與第5圖之情況相同地，選擇電壓源(或者是電流源)11或電流源12者，當電壓源11被選擇時，係設為對薄片狀電池1進行充電，當電流源12被選擇時，係設為從薄片狀電池1進行放電。開關62，係在控制部24之控制下，選擇開關13或差分電路63者。差分電路63，係被設為：從透過開關62所賦予的任一之探針21-t的拾取電壓而刪減特定電壓Vref1，並利用電壓計(DVM)14，來測量該減算後的電壓。
以將特定電壓Vref1減算後之電壓進行測量的方式，乃是為了有效地使用電壓計14之動態範圍，而提昇測量分解能的緣故。於將電壓之測量部位設為複數部位的情況，藉由在各個部位，將特定電壓Vref1進行校準，也能夠使因在測量部位間之位置的不同所導致之誤差成為最小。
雖於第16圖中將圖示予以省略，但可藉由探針21-1~21-T之安裝體，或者是使載置被測量薄片電池1的台移動之機構，而達成較探針間之節距更小的空間分解能，此外，也可使檢查的輸出量提昇。
於第16圖之例中，並未實行對負電極3之任意點的探測，負電極3，係固定地且安定地與評價裝置相連接。但，負電極3側，也能設為對任意點進行探測。
於第16圖之例中，雖設為從探針群21-1~21-T中選擇1個探針21-t而測量電壓，但為了使輸出量提昇，亦可設為：設有複數個差分電路63或電壓計(DVM)14，而將複數之探針拾取後的電壓同時地進行測量者。
(B-7)亦可設為：使根據如第16圖所示之電壓測量的評價構造與根據如第12圖所示之電流測量的評價構造合體，而構成1個評價裝置。
例如，亦可設為：利用多點探測，而測量多處部位的電壓(電位)，並對能夠判斷出測量電位為異常的部位，適用可將方向等作特定的電流測量，而高精度地探索異常部位。
(B-8)針對上述實施形態之說明，係將發揮作為具有如第1圖所示之結構的二次電池的功能之薄片狀電池1進行評價的情況作了說明。具有如第1圖所示之結構的電池，為即使在適用作為一次電池的情況中，亦可適用如上所述之評價方法或評價裝置者。
1‧‧‧薄片狀電池
2‧‧‧蓄電層
3‧‧‧負電極
4‧‧‧正電極
5‧‧‧負極端子
6‧‧‧正極端子
7‧‧‧基板
10‧‧‧二次電池裝置
11‧‧‧電壓源(電流源)
12‧‧‧電流源
13‧‧‧開關
14‧‧‧電壓計
20‧‧‧評價裝置
21‧‧‧第1探針
22‧‧‧第2探針
23‧‧‧探針移動機構
24‧‧‧控制部
30‧‧‧探針
31、31-N、31-E、31-S、31-W、21-1~21-T‧‧‧探針
32‧‧‧電流計
33‧‧‧評價裝置
34‧‧‧探針選擇電路
35‧‧‧周圍構件
36‧‧‧緩衝放大器
40‧‧‧負載
50‧‧‧修復裝置
60‧‧‧評價裝置
61‧‧‧探針選擇電路
62‧‧‧開關
63‧‧‧差分電路
〔第1圖〕係將身為實施形態的評價裝置及評價方法之評價對象的薄片狀電池之基本結構作展示的說明圖。
〔第2圖〕係將安裝有正極端子及負極端子的評價對 象之薄片狀電池作展示的說明圖。
〔第3圖〕係為對於第2圖之薄片狀電池，適用由以往之評價裝置所進行之以往的評價方法的情況之說明圖。
〔第4圖〕係為評價薄片狀電池之充放電特性的一般性方法之說明圖。
〔第5圖〕係將實施形態之評價裝置的概略構造作展示的說明圖。
〔第6圖〕係為實施形態的評價裝置中之根據利用探針來測量2個部位之電壓的評價方法之說明圖。
〔第7圖〕係將評價對象之薄片狀電池分割成假想的元件之方法的說明圖。
〔第8圖〕係將第7圖中之假想的元件之等效電路作展示的說明圖。
〔第9圖〕係將適用第8圖的等效電路之存在充電電壓缺陷時的每個元件之測量電壓的模擬結果作展示的說明圖。
〔第10圖〕係以灰階來將對於存在內部電阻缺陷的試作品之每個元件的測量電壓作展示之說明圖。
〔第11圖〕係為實施形態的評價裝置中之根據流過2個探針間的電流之評價方法的說明圖。
〔第12圖〕係將對於電流流動之方向作掌握的第11圖之變形例的評價裝置作展示的說明圖。
〔第13圖〕係為於實施形態之評價裝置中，用以從複數之測量電壓部位適當地檢測出缺陷部位的方法(其中 之1)之說明圖。
〔第14圖〕係為於實施形態之評價裝置中，用以從複數之測量電壓部位適當地檢測出缺陷部位的方法(其中之2)之說明圖。
〔第15圖〕係為實施形態之評價裝置的評價結果之利用方法的說明圖。
〔第16圖〕係將實施形態之評價裝置擴張成多點探測而成的變形實施形態作展示的說明圖。
11‧‧‧電壓源(電流源)
12‧‧‧電流源
13‧‧‧開關
14‧‧‧電壓計
20‧‧‧評價裝置
21‧‧‧第1探針
22‧‧‧第2探針
23‧‧‧探針移動機構
24‧‧‧控制部

Claims (20)

  1. 一種薄片狀電池之評價方法，其係評價以正電極及負電極之層來夾持蓄電層而成之薄片狀電池，該薄片狀電池之評價方法，其特徵為：使電極用探針接觸於上述正電極或上述負電極之至少一方的外表面之測量部位，並測量該測量部位之電量，而評價上述薄片狀電池。
  2. 如申請專利範圍第1項所記載之薄片狀電池之評價方法，其中，上述電極用探針，係接觸於上述正電極或上述負電極之其中一方的外表面，且將固定電位施加於上述正電極或上述負電極之另一方的電極全體。
  3. 如申請專利範圍第2項所記載之薄片狀電池之評價方法，其中，將充電源及電壓計連接於上述電極用探針，並根據上述電壓計之測量電壓的變化，來對於使上述薄片狀電池從無充電狀態變化成滿充電狀態的充電特性作掌握，而評價上述薄片狀電池。
  4. 如申請專利範圍第2項所記載之薄片狀電池之評價方法，其中，將放電源及電壓計連接於上述電極用探針，並根據上述電壓計之測量電壓的變化，來對於使上述薄片狀電池從滿充電狀態變化成無充電狀態的放電特性作掌握，而評價上述薄片狀電池。
  5. 如申請專利範圍第2項所記載之薄片狀電池之評價方法，其中，將充電源及電壓計連接於上述電極用探針，並對於上述薄片狀電池之滿充電狀態時之上述電壓計 的測量電壓作掌握，而評價上述薄片狀電池。
  6. 如申請專利範圍第2項所記載之薄片狀電池之評價方法，其中，設有2個以上測量部位為不同的上述電極用探針，並使用被設置於每個上述各電極用探針的放電源及電壓計，或者是，使用被切換而連接至上述各電極用探針之上述各電極用探針共通的放電源及電壓計，透過上述各電極用探針來測量從上述各測量部位充電之後的電壓，且根據2個以上之測量電壓的大小關係，而評價上述薄片狀電池。
  7. 如申請專利範圍第2項所記載之薄片狀電池之評價方法，其中，設有2個測量部位為不同的上述電極用探針，並以電流計來測量流過2個上述電極用探針之間的電流，且根據測量電流，而評價上述薄片狀電池。
  8. 如申請專利範圍第1項所記載之薄片狀電池之評價方法，其中，藉由上述電極用探針及上述薄片狀電池之至少一方的移動，而設為能夠變更上述測量部位，且在複數之測量部位測量電量而加以評價。
  9. 如申請專利範圍第1項所記載之薄片狀電池之評價方法，其中，具備有：複數之電極用探針，係接觸於上述正電極或上述負電極之外表面；和探針選擇電路，係選擇上述複數之電極用探針而作為測量電路之電路要素，且藉由上述電極用探針的選擇，而在複數之測量部位測量電量而加以評價。
  10. 如申請專利範圍第8項或第9項所記載之薄片狀 電池之評價方法，其中，將在上述複數之測量部位的測量、評價結果一併輸出。
  11. 一種薄片狀電池之評價裝置，其係評價以正電極及負電極之層來夾持蓄電層而成之薄片狀電池，該薄片狀電池之評價裝置，其特徵為具有：電極用探針，係接觸於上述正電極或上述負電極之至少一方的外表面之測量部位；和測量評價部，係透過上述電極用探針，來測量上述測量部位之電量，而評價上述薄片狀電池。
  12. 如申請專利範圍第11項所記載之薄片狀電池之評價方法，其中，上述電極用探針，係接觸於上述正電極或上述負電極之其中一方的外表面，且將固定電位施加於上述正電極或上述負電極之另一方的電極全體。
  13. 如申請專利範圍第12項所記載之薄片狀電池之評價裝置，其中，具備有：連接於上述電極用探針的充電源，且上述測量評價部，係根據所內藏的電壓計之測量電壓的變化，來對於使上述薄片狀電池從無充電狀態變化成滿充電狀態的充電特性作掌握，而評價上述薄片狀電池。
  14. 如申請專利範圍第12項所記載之薄片狀電池之評價裝置，其中，具備有：連接於上述電極用探針的放電源，且上述測量評價部，係根據所內藏的電壓計之測量電壓的變化，來對於使上述薄片狀電池從滿充電狀態變化成無充電狀態的放電特性作掌握，而評價上述薄片狀電池。
  15. 如申請專利範圍第12項所記載之薄片狀電池之評價裝置，其中，具備有：連接於上述電極用探針的充電 源，且上述測量評價部，係對於上述薄片狀電池之滿充電狀態時之所內藏的電壓計之測量電壓作掌握，而評價上述薄片狀電池。
  16. 如申請專利範圍第12項所記載之薄片狀電池之評價裝置，其中，具備有：2個以上測量部位為不同的上述電極用探針，且上述測量評價部，係使用被設置於每個上述各電極用探針的放電源及所內藏的電壓計，或者是，使用被切換而連接至上述各電極用探針之上述各電極用探針共通的放電源及所內藏的電壓計，透過上述各電極用探針來測量從上述各測量部位充電之後的電壓，且根據2個以上之測量電壓的大小關係，而評價上述薄片狀電池。
  17. 如申請專利範圍第12項所記載之薄片狀電池之評價裝置，其中，具備有：2個測量部位為不同的上述電極用探針，且上述測量評價部，係以電流計來測量流過2個上述電極用探針之間的電流，且根據測量電流，而評價上述薄片狀電池。
  18. 如申請專利範圍第11項所記載之薄片狀電池之評價裝置，其中，具備有：將上述電極用探針及上述薄片狀電池之至少一方移動的相對移動機構，而設為能夠變更上述測量部位，且上述測量評價部，係在複數之測量部位測量電量而加以評價。
  19. 如申請專利範圍第11項所記載之薄片狀電池之評價裝置，其中，具備有：複數之電極用探針，係接觸於上述正電極或上述負電極之外表面；和探針選擇電路，係 選擇上述複數之電極用探針而作為測量電路之電路要素，上述測量評價部，係藉由上述電極用探針的選擇，而在複數之測量部位測量電量而加以評價。
  20. 如申請專利範圍第18項或第19項所記載之薄片狀電池之評價裝置，其中，將在上述複數之測量部位的測量、評價結果一併輸出。
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Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2858102B1 (en) * 2012-05-31 2020-04-22 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics Semiconductor probe for testing quantum cell, test device, and test method
CN106463677B (zh) 2014-05-27 2020-03-13 苹果公司 用于减少电池缺陷部的设备和方法
JP6266462B2 (ja) * 2014-07-31 2018-01-24 株式会社日本マイクロニクス シート状電池試験装置及びシート状電池試験方法
US20170131361A1 (en) * 2014-07-31 2017-05-11 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics Testing device and testing method for sheet-shaped cell
JP6358920B2 (ja) * 2014-10-20 2018-07-18 日置電機株式会社 接触状態判別装置、二次電池の検査装置、および接触状態判別方法
JP6502200B2 (ja) * 2015-07-22 2019-04-17 株式会社日本マイクロニクス 二次電池用中間構造体、及び二次電池の製造方法
JP2017054871A (ja) 2015-09-08 2017-03-16 株式会社日本マイクロニクス 二次電池、及び二次電池の製造方法
JP6753510B2 (ja) * 2017-03-03 2020-09-09 日産自動車株式会社 二次電池および二次電池の制御方法
TWI648947B (zh) * 2017-09-01 2019-01-21 英穩達科技股份有限公司 太陽能電池片的檢測設備及方法
JP7001700B2 (ja) * 2017-10-04 2022-01-20 株式会社エンビジョンＡｅｓｃジャパン バッテリパックの検査方法および検査装置
JP6791104B2 (ja) * 2017-11-29 2020-11-25 トヨタ自動車株式会社 蓄電デバイスの評価方法、蓄電デバイスの製造方法、および試験システム
KR102204699B1 (ko) * 2018-01-31 2021-01-18 주식회사 엘지화학 이차전지 안전성 평가 방법 및 장치
JP7275842B2 (ja) * 2019-05-16 2023-05-18 トヨタ自動車株式会社 電池システム及び車両、並びに電池システムの制御方法
KR20210072313A (ko) 2019-12-09 2021-06-17 주식회사 엘지에너지솔루션 전극 합제층 내 바인더 분산성 평가 방법 및 평가 장치
CN217181168U (zh) * 2022-01-07 2022-08-12 宁德时代新能源科技股份有限公司 电池测试组件、电池组件、充电组件及用电设备

Family Cites Families (58)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4702564A (en) * 1985-04-15 1987-10-27 Robert Parker Battery tester including flexible substrate and polyacetilynic material
JPH02206043A (ja) * 1989-02-03 1990-08-15 Olympus Optical Co Ltd 記憶装置
US5130658A (en) * 1990-02-28 1992-07-14 Display Matrix Corporation Apparatus and method for indicating state of charge of a battery
US5059895A (en) * 1990-04-04 1991-10-22 Eastman Kodak Company Battery voltmeter
US5107206A (en) * 1990-05-25 1992-04-21 Tescon Co., Ltd. Printed circuit board inspection apparatus
JP3371146B2 (ja) * 1992-08-18 2003-01-27 ソニー株式会社 バッテリとバッテリ課金方法
US5483068A (en) * 1994-01-07 1996-01-09 Moulton; Russell D. Use of IR (thermal) imaging for determining cell diagnostics
JP2992464B2 (ja) * 1994-11-04 1999-12-20 キヤノン株式会社 集電電極用被覆ワイヤ、該集電電極用被覆ワイヤを用いた光起電力素子及びその製造方法
US5755831A (en) * 1995-02-22 1998-05-26 Micron Communications, Inc. Method of forming a button-type battery and a button-type battery with improved separator construction
US5596278A (en) * 1995-09-08 1997-01-21 Duracell Inc. Condition tester for a battery
JPH09288155A (ja) * 1996-04-23 1997-11-04 Bell Techno:Kk バッテリーチェック方法及びバッテリーチェッカー
US5966014A (en) * 1997-10-17 1999-10-12 Zhang; Chaojiong System for simultaneously testing a plurality of batteries for multiple operating specifications
US5903154A (en) * 1997-04-08 1999-05-11 Zhang; Chaojiong Battery test contact assembly
JP3720555B2 (ja) * 1997-12-15 2005-11-30 ソニー株式会社 電池セル検査方法及び電池セル検査装置
JP3364677B2 (ja) * 1998-07-14 2003-01-08 ジャパンシステムエンジニアリング株式会社 二次電池の検査装置
CA2242497A1 (en) * 1998-08-19 2000-02-19 Enersafe Technologies, Inc. Method and apparatus for the continuous performance monitoring of a lead acid battery system
US6517967B1 (en) * 1998-12-15 2003-02-11 Electric Fuel Limited Battery pack design for metal-air battery cells
JP2002162652A (ja) * 2000-01-31 2002-06-07 Fujitsu Ltd シート状表示装置、樹脂球状体、及びマイクロカプセル
WO2001073865A2 (en) * 2000-03-24 2001-10-04 Cymbet Corporation Continuous processing of thin-film batteries and like devices
JP3531866B2 (ja) 2000-07-28 2004-05-31 独立行政法人 科学技術振興機構 薄膜固体リチウムイオン二次電池
AU2001290608A1 (en) * 2000-08-31 2002-03-13 Rytec Corporation Sensor and imaging system
US6906523B2 (en) * 2000-09-14 2005-06-14 Midtronics, Inc. Method and apparatus for testing cells and batteries embedded in series/parallel systems
JP2003215190A (ja) * 2001-11-16 2003-07-30 Hioki Ee Corp ショート検出装置
JP4041313B2 (ja) * 2002-01-18 2008-01-30 キヤノンマシナリー株式会社 電池検査方法及び電池検査装置
DE60307750T2 (de) * 2002-05-08 2006-12-14 Nissan Motor Co., Ltd., Yokohama Sekundärzellenmodul und Verfahren zu dessen Herstellung
CN1679123B (zh) * 2002-07-01 2010-04-28 罗尔夫·艾塞霖 超级电容器及其制造方法
US6828053B2 (en) * 2002-07-26 2004-12-07 General Motors Corporation In-situ resistive current and temperature distribution circuit for a fuel cell
US7179553B2 (en) * 2002-09-06 2007-02-20 General Motors Corporation Method for detecting electrical defects in membrane electrode assemblies
US6989758B2 (en) * 2003-03-03 2006-01-24 Pentax Corporation Electronic device in which different types of batteries can be selectively used as a power source
EP1571438A1 (en) * 2004-03-01 2005-09-07 MetriCorr ApS A method and a system of diagnosing corrosion risk of a pipe or a pipeline in soil
US7633267B2 (en) * 2004-07-02 2009-12-15 Farasis Energy, Inc. Apparatus for combinatorial screening of electrochemical materials
US8288046B2 (en) * 2004-09-29 2012-10-16 GM Global Technology Operations LLC Integrated current sensors for a fuel cell stack
US7811707B2 (en) * 2004-12-28 2010-10-12 Boston-Power, Inc. Lithium-ion secondary battery
US7524577B2 (en) * 2005-09-06 2009-04-28 Oak Ridge Micro-Energy, Inc. Long life thin film battery and method therefor
JP5092387B2 (ja) * 2006-03-09 2012-12-05 日産自動車株式会社 電池
CN101454929B (zh) * 2006-03-31 2011-05-25 日本瑞翁株式会社 锂离子二次电池
JP4645514B2 (ja) * 2006-04-14 2011-03-09 日産自動車株式会社 二次電池の容量調整方法及び装置
JP5040154B2 (ja) * 2006-04-14 2012-10-03 日産自動車株式会社 二次電池の容量調整方法及び装置
JP2006322011A (ja) 2006-07-31 2006-11-30 Daikin Ind Ltd テトラフルオロエチレンの乳化重合方法
KR101354889B1 (ko) * 2006-11-02 2014-01-22 구엘라 테크놀로지 가부시키가이샤 전계 감응 소자 및 그것을 이용한 표시 디바이스
US9013139B2 (en) * 2007-03-26 2015-04-21 The Gillette Company Adaptive charger device and method
US7554346B2 (en) 2007-04-19 2009-06-30 Oerlikon Trading Ag, Trubbach Test equipment for automated quality control of thin film solar modules
JP5236247B2 (ja) * 2007-10-19 2013-07-17 パナソニック株式会社 超音波プローブ、充電器、超音波診断装置及び超音波診断システム
JP5323375B2 (ja) 2008-03-25 2013-10-23 株式会社Ｋｒｉ 蓄電デバイスの電圧分布評価方法
CN101933154B (zh) 2008-03-31 2012-06-20 株式会社爱发科 太阳能电池的制造方法、太阳能电池的制造装置以及太阳能电池
WO2009129030A2 (en) 2008-04-14 2009-10-22 Applied Materials, Inc. Solar parametric testing module and processes
US8877367B2 (en) * 2009-01-16 2014-11-04 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University High energy storage capacitor by embedding tunneling nano-structures
JP2010257750A (ja) * 2009-04-24 2010-11-11 Sanyo Electric Co Ltd バッテリモジュール、バッテリシステムおよび電動車両
KR101023920B1 (ko) * 2009-05-06 2011-03-22 주식회사 엘지화학 전지셀 전압 밸런싱 장치
WO2010135321A2 (en) 2009-05-19 2010-11-25 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for solar cell production line control and process analysis
IT1395561B1 (it) * 2009-09-03 2012-09-28 Applied Materials Inc Apparato di collaudo e relativo procedimento
JP5633227B2 (ja) * 2009-10-14 2014-12-03 ソニー株式会社 電池パックおよび電池パックの劣化度検出方法
KR101250901B1 (ko) * 2010-01-19 2013-04-05 에낙스 가부시키가이샤 시트형상 이차전지 및 그 제조방법
JP5448914B2 (ja) 2010-02-22 2014-03-19 三菱重工業株式会社 二次電池モジュールの診断装置
CN101853902B (zh) * 2010-06-11 2012-11-21 深圳市创益科技发展有限公司 一种消除太阳能电池缺陷的设备与方法
TWI536702B (zh) * 2010-07-15 2016-06-01 Ｚ動力能源有限責任公司 用於將電池組再充電之方法及裝置
JP5924314B2 (ja) * 2013-08-06 2016-05-25 株式会社デンソー 組電池
JP2015109422A (ja) * 2013-10-22 2015-06-11 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の評価方法

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